JPH0590862A - Semiconductor composite element and its production - Google Patents

Semiconductor composite element and its production

Info

Publication number
JPH0590862A
JPH0590862A JP24974891A JP24974891A JPH0590862A JP H0590862 A JPH0590862 A JP H0590862A JP 24974891 A JP24974891 A JP 24974891A JP 24974891 A JP24974891 A JP 24974891A JP H0590862 A JPH0590862 A JP H0590862A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
diamond layer
semiconductor substrate
semiconductor
diamond
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24974891A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinichi Shikada
真一 鹿田
Hideaki Nakahata
英章 中幡
Akihiro Yagou
昭広 八郷
Naoharu Fujimori
直治 藤森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP24974891A priority Critical patent/JPH0590862A/en
Publication of JPH0590862A publication Critical patent/JPH0590862A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a device provided with surface acoustic wave elements and their peripheral circuits and that can be miniaturized. CONSTITUTION:The present semiconductor composite element is formed of a semiconductor substrate 1, a diamond layer 2 which is prepared on a predetermined area A on the semiconductor substrate 1, a conductive layer 4 which is prepared over the diamond layer 2 and the semiconductor substrate 1 and at least on the diamond layer 2, formed to interdigital electrodes 5a and 5b, and a piezoelectric body layer 7 which is prepared on the diamond layer 2 so as to hold interdigital electrodes 5a and 5b therebetween. Further, a semiconductor circuit (not shown in the attached drawing) is provided which is prepared in the neighborhood B of the area A where the diamond layer 2 is prepared on the semiconductor substrate 1 and which is electrically connected to the interdigital electrode 5b via a wiring layer 6.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、高周波フィルタなど
に用いられる表面弾性波素子とその周辺回路を備える半
導体複合素子およびその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor composite device including a surface acoustic wave device used for a high frequency filter and its peripheral circuits and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】表面弾性波素子は、弾性体表面を伝播す
る表面波を利用した電気−機械変換素子であり、たとえ
ば、図2に示すような一般的構造を有する。表面弾性波
素子20において、表面波の励振には圧電体21による
圧電現象が利用される。圧電体21に設けられた一方の
くし型電極22に電気信号を印加すると、圧電体21に
歪が生じ、これが表面弾性波となって圧電体21を伝播
し、もう一方のくし型電極23で電気信号として取出さ
れる。この素子の周波数特性は、図に示すように、くし
型電極における電極の周期をλ0 、表面弾性波の速度を
νとすれば、f0 =ν/λ0 で定められる周波数f0
中心とした帯域通過特性となる。
2. Description of the Related Art A surface acoustic wave element is an electromechanical conversion element utilizing surface waves propagating on the surface of an elastic body, and has a general structure as shown in FIG. In the surface acoustic wave element 20, the piezoelectric phenomenon by the piezoelectric body 21 is used for exciting the surface wave. When an electric signal is applied to one of the comb-shaped electrodes 22 provided on the piezoelectric body 21, distortion is generated in the piezoelectric body 21, which becomes a surface acoustic wave and propagates through the piezoelectric body 21. It is taken out as an electric signal. Frequency characteristics of the device, as shown in FIG, 0 the period of the electrode in the interdigital electrode lambda, if the velocity of the surface acoustic wave [nu, center frequency f 0 defined by f 0 = [nu / lambda 0 The bandpass characteristics are as follows.

【0003】表面弾性波素子は部品点数が少なく、小型
にすることができ、しかも表面波の伝播経路上において
信号の出入れが容易である。この素子は、フィルタ、遅
延線、発振器、共振器、コンボルバおよび相関器等に応
用することができる。特に、表面弾性波フィルタは、早
くからテレビの中間周波数フィルタとして実用化され、
さらにVTRおよび各種の通信機器用フィルタに応用さ
れてきている。
The surface acoustic wave device has a small number of parts, can be made compact, and can easily send and receive signals on the propagation path of the surface wave. This element can be applied to filters, delay lines, oscillators, resonators, convolvers, correlators, and the like. In particular, surface acoustic wave filters have been put to practical use as an intermediate frequency filter for television from early on,
Furthermore, it has been applied to filters for VTRs and various communication devices.

【0004】この表面弾性波素子は、LiNbO3 やL
iTaO3 等の圧電体単結晶上にくし型電極を形成する
ことによって製造されてきたが、近年、ZnO等の圧電
体薄膜をガラス等の基板上にスパッタ等の技術で成膜し
たものが用いられるようになってきている。しかしなが
ら、ガラス上に成膜したZnO等の圧電体薄膜は通常配
向性のある多結晶質であり、散乱により損失が多く、ま
た100MHz以上の高周波帯で使用するには適してい
なかった。
This surface acoustic wave device is composed of LiNbO 3 and L
It has been manufactured by forming a comb-shaped electrode on a piezoelectric single crystal such as iTaO 3 , but in recent years, a piezoelectric thin film such as ZnO formed on a substrate such as glass by a technique such as sputtering is used. Is becoming available. However, a piezoelectric thin film such as ZnO formed on glass is usually polycrystalline with orientation, has a large loss due to scattering, and is not suitable for use in a high frequency band of 100 MHz or more.

【0005】一方、上記表面弾性波素子に関して、たと
えば、移動通信等の分野に用いられる表面弾性波フィル
タなどは、より高い周波数域で使用できる素子が望まれ
ている。上式で示されるように、電極の周期λ0 がより
小さくなるか、または表面波の速度νがより大きくなれ
ば、素子の周波数特性はより高い中心周波数f0 を有す
るようになる。
On the other hand, regarding the surface acoustic wave element, for example, a surface acoustic wave filter used in the field of mobile communication and the like is desired to be an element that can be used in a higher frequency range. As shown in the above equation, when the period λ 0 of the electrode becomes smaller or the velocity ν of the surface wave becomes larger, the frequency characteristic of the element has a higher center frequency f 0 .

【0006】そこで、弾性波がより速く伝播される材料
(たとえばサファイアおよびダイヤモンド等)上に圧電
体膜を積層させた表面弾性波素子が開発されてきている
(たとえば、特開昭54−38874および特開昭64
−62911)。
Therefore, a surface acoustic wave device has been developed in which a piezoelectric film is laminated on a material (for example, sapphire, diamond, etc.) through which an elastic wave propagates faster (for example, Japanese Patent Laid-Open No. 54-38874 and Japanese Patent Laid-Open No. 38874/1979). JP-A-64
-62911).

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上述したより高い周波
数域で使用できる素子に関して、特にダイヤモンドを用
いる素子はf0 をより大きくする点で優れている。この
ダイヤモンドを用いる素子において、たとえば表面弾性
波フィルタは増幅回路等に接続されて用いられる。この
場合、たとえば増幅回路となる半導体集積回路と表面弾
性波フィルタは従来、それぞれ単独で作製され、機器に
組込まれてきた。また、最近では移動体通信デバイスに
おいて、表面弾性波フィルタはダウンサイジングのため
デバイス内に表面実装されてきている。しかしながら、
このような形態で半導体回路および表面弾性波素子を備
えるデバイスをより小型化するには限界があった。
Among the above-mentioned devices that can be used in the higher frequency range, the devices using diamond are excellent in that f 0 is increased. In the element using this diamond, for example, the surface acoustic wave filter is used by being connected to an amplifier circuit or the like. In this case, for example, a semiconductor integrated circuit as an amplifier circuit and a surface acoustic wave filter have hitherto been manufactured independently and incorporated into a device. Recently, in mobile communication devices, surface acoustic wave filters have been surface-mounted in devices for downsizing. However,
There is a limit to further downsizing a device including a semiconductor circuit and a surface acoustic wave element in such a form.

【0008】この発明の目的は、表面弾性波素子および
その周辺回路を備えるデバイスにおいて、より小型化が
可能なデバイスを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a device including a surface acoustic wave element and its peripheral circuit, which can be further miniaturized.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】第1の発明に従う半導体
複合素子は、少なくとも表面弾性波素子を備える素子で
あって、半導体基板と、半導体基板上の所定の領域に設
けられるダイヤモンド層と、ダイヤモンド層上では少な
くともくし型電極にされ、かつダイヤモンド層上および
半導体基板にわたって設けられる導電層と、ダイヤモン
ド層上にくし型電極と密着して設けられる圧電体層と、
半導体基板でダイヤモンド層が設けられた領域の近傍に
設けられ、導電層を介してくし型電極と電気的に接続さ
れる半導体集積回路とを備える。
A semiconductor composite element according to a first invention is an element including at least a surface acoustic wave element, and comprises a semiconductor substrate, a diamond layer provided in a predetermined region on the semiconductor substrate, and a diamond. At least a comb-shaped electrode on the layer, and a conductive layer provided over the diamond layer and the semiconductor substrate, and a piezoelectric layer provided on the diamond layer in close contact with the comb-shaped electrode,
The semiconductor integrated circuit is provided in the vicinity of the region where the diamond layer is provided on the semiconductor substrate, and is electrically connected to the comb electrode through the conductive layer.

【0010】第2の発明に従う半導体複合素子の製造方
法は、少なくとも表面弾性波素子を備える素子の製造方
法であって、半導体基板を準備する工程と、半導体基板
の所定の領域にダイヤモンド層を設ける工程と、ダイヤ
モンド層および半導体基板を覆う導電層を形成する工程
と、少なくともダイヤモンド層上にくし型電極を形成す
るため、導電層をパターニングする工程と、ダイヤモン
ド層上にくし型電極と密着する圧電体層を設ける工程
と、半導体基板でダイヤモンド層が設けられた領域の近
傍に導電層を介してくし型電極と電気的に接続される半
導体回路を形成する工程とを備える。
A method of manufacturing a semiconductor composite element according to a second aspect of the present invention is a method of manufacturing an element including at least a surface acoustic wave element, which comprises a step of preparing a semiconductor substrate and providing a diamond layer in a predetermined region of the semiconductor substrate. A step of forming a conductive layer that covers the diamond layer and the semiconductor substrate, a step of patterning the conductive layer to form a comb-shaped electrode on at least the diamond layer, and a piezoelectric layer that adheres to the comb-shaped electrode on the diamond layer. The method includes a step of providing a body layer, and a step of forming a semiconductor circuit electrically connected to a comb electrode via a conductive layer in the vicinity of a region where a diamond layer is provided on a semiconductor substrate.

【0011】第1および第2の発明において、半導体基
板は、SiおよびGe等の半導体基板、GaAsおよび
InP等のIII−V族化合物半導体基板、ならびにC
dTe等のII−VI族化合物半導体基板等を用いるこ
とができる。
In the first and second inventions, the semiconductor substrate is a semiconductor substrate such as Si and Ge, a III-V group compound semiconductor substrate such as GaAs and InP, and C.
A II-VI group compound semiconductor substrate such as dTe can be used.

【0012】第1の発明に従うダイヤモンド層は、単結
晶および多結晶のいずれであってもよい。また、ダイヤ
モンド層は、たとえば、炭化水素等を原料ガスとする気
相合成によって形成することができるほか、温度差法に
より超高圧下で合成した単結晶ダイヤモンドを加工して
準備することができる。
The diamond layer according to the first invention may be either single crystal or polycrystalline. The diamond layer can be formed, for example, by vapor phase synthesis using hydrocarbon or the like as a raw material gas, or can be prepared by processing a single crystal diamond synthesized under ultrahigh pressure by a temperature difference method.

【0013】第1および第2の発明に従う導電層は、耐
熱性金属で形成することが好ましく、たとえば、WA
l、W、WNまたはWSi等で導電層を形成することに
よって、熱拡散やイオン注入後のアニール等、高温下で
のプロセスが可能になる。
The conductive layer according to the first and second inventions is preferably formed of a refractory metal, for example, WA.
By forming the conductive layer with l, W, WN, WSi, or the like, a process under high temperature such as thermal diffusion or annealing after ion implantation can be performed.

【0014】第1および第2の発明に従う圧電体層は、
ZnO、AlN、Pb(Zr,Ti)O3 、(Pb,L
a)(Zr,Ti)O3 、LiTaO3 、LiNb
3 、SiO2 、Ta2 5 、Nb2 5 、BeO、L
2 4 7 、KNbO3 、ZnS、ZnSeおよびC
dSからなる群から選択された1つまたは2つ以上の化
合物を主成分とすることができる。圧電体層は単結晶お
よび多結晶のいずれであってもよいが、素子をより高周
波域で使用するためには、表面波の散乱が少ない単結晶
がより好ましい。
The piezoelectric layer according to the first and second inventions comprises:
ZnO, AlN, Pb (Zr, Ti) O 3 , (Pb, L
a) (Zr, Ti) O 3 , LiTaO 3 , LiNb
O 3 , SiO 2 , Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 , BeO, L
i 2 B 4 O 7 , KNbO 3 , ZnS, ZnSe and C
The main component can be one or more compounds selected from the group consisting of dS. The piezoelectric layer may be either single crystal or polycrystal, but in order to use the device in a higher frequency range, a single crystal with less scattering of surface waves is more preferable.

【0015】一方、第2の発明に従う半導体複合素子の
製造方法において、半導体基板の所定の領域にダイヤモ
ンド層を設ける工程では、たとえば、半導体基板の所定
の領域を傷つけ処理し、気相合成法により傷つけ処理し
た領域にのみ選択的にダイヤモンド層を堆積させる方
法、または、基板の所定の領域にダイヤモンド結晶体を
接着させる方法等を用いることができる。上記気相合成
法は、電子放射材を加熱して原料ガスを活性化する方
法、プラズマにより原料ガスを励起する方法、光により
原料ガスを分解励起する方法およびイオン衝撃により原
料ガスから多結晶ダイヤモンドを成長させる方法等を含
む。一方、ダイヤモンド結晶体を準備する方法は、たと
えば、温度差法により超高圧下で合成した単結晶ダイヤ
モンドを加工する方法等がある。
On the other hand, in the method of manufacturing a semiconductor composite element according to the second aspect of the invention, in the step of providing the diamond layer in a predetermined region of the semiconductor substrate, for example, a predetermined region of the semiconductor substrate is scratched and processed by a vapor phase synthesis method. A method of selectively depositing a diamond layer only on the scratched region, a method of adhering a diamond crystal body to a predetermined region of the substrate, or the like can be used. The vapor-phase synthesis method includes a method of activating a raw material gas by heating an electron emitting material, a method of exciting the raw material gas by plasma, a method of decomposing and exciting the raw material gas by light, and a method of polycrystalline diamond from the raw material gas by ion bombardment. Including the method of growing the. On the other hand, as a method of preparing a diamond crystal body, for example, there is a method of processing a single crystal diamond synthesized under an ultrahigh pressure by a temperature difference method.

【0016】ダイヤモンド層を気相合成により形成する
場合、気相合成直後の層はしばしば表面抵抗が低い、こ
のような層をそのまま使用して、その上に電極や圧電体
を形成すると電極または圧電体に印加される電圧に損失
が生じる。そこで、気相合成直後の層を酸化処理するこ
によって高抵抗化させることが望ましい。酸化処理は、
たとえばダイヤモンド層を0.01Torr以上、特に
好ましくは10Torr以上の酸素含有雰囲気中で15
0℃以上に加熱する方法、または上記層を酸素分圧が1
×10-5Torr以上の酸素含有プラズマにさらす方法
等により達成することができる。このような酸化処理を
行なうことによって、抵抗値を105 〜1010倍上げる
ことができる。なお、このときたとえばSi基板を用い
る場合、基板表面にSiO2 膜を形成することができ
る。
When the diamond layer is formed by vapor phase synthesis, the layer immediately after vapor phase synthesis often has low surface resistance. If such a layer is used as it is and an electrode or a piezoelectric body is formed thereon, the electrode or the piezoelectric layer is formed. There is a loss in the voltage applied to the body. Therefore, it is desirable to increase the resistance by oxidizing the layer immediately after the vapor phase synthesis. The oxidation treatment is
For example, the diamond layer may be formed in an oxygen-containing atmosphere of 0.01 Torr or more, particularly preferably 10 Torr or more.
Method of heating above 0 ° C or oxygen partial pressure of above layer is 1
It can be achieved by a method of exposing to oxygen-containing plasma having a pressure of × 10 -5 Torr or more. By performing such an oxidation treatment, the resistance value can be increased 10 5 to 10 10 times. At this time, for example, when a Si substrate is used, a SiO 2 film can be formed on the surface of the substrate.

【0017】また、ダイヤモンド結晶体を基板上に接着
する方法には、たとえば、接着剤を用いる方法およびろ
う付けを行なう方法がある。接着剤としては、耐熱性お
よび耐薬品性を備えるものが好ましく、たとえば、エポ
キシ樹脂系接着剤および無機接着剤等がある。また、芳
香族ポリアミド、ポリイミド、ポリフェニルスルホンお
よびポリベンズイミダゾール等の耐熱性樹脂も接着剤と
して使用できるであろう。
Further, as a method for adhering the diamond crystal body onto the substrate, there are, for example, a method using an adhesive and a brazing method. The adhesive preferably has heat resistance and chemical resistance, and examples thereof include an epoxy resin-based adhesive and an inorganic adhesive. Also heat resistant resins such as aromatic polyamides, polyimides, polyphenyl sulfones and polybenzimidazoles could be used as adhesives.

【0018】ダイヤモンド層は、基板上において所定の
箇所に所望の数だけ形成することができる。それぞれの
ダイヤモンド層について表面弾性波素子およびその周辺
回路を形成することによって、同一基板上に複数の半導
体複合素子を形成することができる。なお、基板上に設
けられたダイヤモンド層は、必要に応じてその表面を研
磨することが好ましい。
The desired number of diamond layers can be formed on a substrate at predetermined locations. By forming a surface acoustic wave element and its peripheral circuit for each diamond layer, a plurality of semiconductor composite elements can be formed on the same substrate. The surface of the diamond layer provided on the substrate is preferably polished as needed.

【0019】ダイヤモンド層および半導体基板を覆う導
電層を形成する工程では、蒸着法、スパッタ法、イオン
プレーティング法およびCVD法等、半導体素子の製造
における通常の方法を用いればよい。また、導電層をパ
ターニングする工程では、たとえばエッチング法を用い
ればよい。
In the step of forming the diamond layer and the conductive layer which covers the semiconductor substrate, a usual method for manufacturing a semiconductor element such as a vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method and a CVD method may be used. In the step of patterning the conductive layer, for example, an etching method may be used.

【0020】第2の発明において圧電体層を形成する工
程では、たとえばZnO、AlNおよびPb(Zr,T
i)O3 等の圧電体層はCVD法またはスパッタリング
法によって形成することができる。また、半導体回路を
構成する工程では、通常の半導体デバイスの製造方法を
用いればよい。
In the step of forming the piezoelectric layer in the second invention, for example, ZnO, AlN and Pb (Zr, T
i) The piezoelectric layer such as O 3 can be formed by the CVD method or the sputtering method. Further, in the step of forming the semiconductor circuit, a usual method for manufacturing a semiconductor device may be used.

【0021】[0021]

【発明の作用効果】第1および第2の発明によって提供
される複合素子では、ダイヤモンド層、くし型電極およ
び圧電体層から構成される表面弾性波素子と半導体回路
とが導電層を介して電気的に接続され、かつ同一半導体
基板上に作りこまれている。このように表面弾性波素子
と半導体回路をモノリシック化することによって、表面
弾性波素子を介する電気信号の処理をワンチップで行な
う複合素子が実現される。このような複合素子は、モノ
リシック化のためより小型化が可能であり、小型化に従
って伝送損失も低減される。さらに、モノリシック化す
ることで素子のコストも低減される。
In the composite device provided by the first and second inventions, the surface acoustic wave device composed of the diamond layer, the comb-shaped electrode and the piezoelectric layer and the semiconductor circuit are electrically connected via the conductive layer. Connected to each other and built on the same semiconductor substrate. By monolithicizing the surface acoustic wave element and the semiconductor circuit in this manner, a composite element that processes an electric signal via the surface acoustic wave element with one chip is realized. Such a composite element can be further miniaturized because it is monolithic, and the transmission loss is reduced as the size is reduced. Further, the cost of the device is reduced by making it monolithic.

【0022】[0022]

【実施例】図1(a)を参照して、まず10×10×1
mmのSi単結晶基板を準備し、その表面の所定の領域
Aに傷つけ処理を施した。
EXAMPLE Referring to FIG. 1A, first, 10 × 10 × 1
A Si single crystal substrate of mm was prepared, and a predetermined region A on its surface was scratched.

【0023】次に、基板1をマイクロ波プラズマCVD
装置に設置し、反応室を排気するとともに反応室内にC
4 :H2 =1:200の混合ガスを約20sccmで
導入した。反応室内の圧力を約40mTorrに維持
し、基板温度を850℃に設定して電力密度0.8W/
cm2 で放電してプラズマ状態とし、基板1の所定の領
域Aにのみ選択的に厚さ25μmのダイヤモンド層2を
成長させた(図1(b))。
Next, the substrate 1 is subjected to microwave plasma CVD.
It is installed in the equipment, the reaction chamber is evacuated, and C
A mixed gas of H 4 : H 2 = 1: 200 was introduced at about 20 sccm. The pressure in the reaction chamber was maintained at about 40 mTorr, the substrate temperature was set at 850 ° C., and the power density was 0.8 W /
A plasma layer was formed by discharging at cm 2 , and a diamond layer 2 having a thickness of 25 μm was selectively grown only in a predetermined region A of the substrate 1 (FIG. 1 (b)).

【0024】次いで、大気中に450℃で10分間放置
してダイヤモンド層の抵抗値を高めるとともに、基板1
の表面にSiO2 膜3を形成した(図1(c))。
Then, the substrate is left in the atmosphere at 450 ° C. for 10 minutes to increase the resistance value of the diamond layer, and the substrate 1
A SiO 2 film 3 was formed on the surface of the substrate (FIG. 1 (c)).

【0025】ダイヤモンド層の表面を研磨した後、スパ
ッタリングによりダイヤモンド層2および基板1上にW
Al層4を形成した(図1(d))。
After polishing the surface of the diamond layer, W is deposited on the diamond layer 2 and the substrate 1 by sputtering.
The Al layer 4 was formed (FIG.1 (d)).

【0026】次に、フォトリソグラフィを用いてレジス
トパターンを形成し、エッチングの後レジストを除去し
て、ダイヤモンド層2上にくし型電極5aおよび5b、
基板1上に必要な配線パターン6を形成した(図1
(e))。
Next, a resist pattern is formed using photolithography, the resist is removed after etching, and the comb-shaped electrodes 5a and 5b are formed on the diamond layer 2.
The necessary wiring pattern 6 was formed on the substrate 1 (see FIG.
(E)).

【0027】基板をマグネトロンスパッタリング装置に
移し、ダイヤモンド層2以外の部分をマスクして、スパ
ッタ出力150W、基板温度380℃の条件下、ZnO
多結晶体をAr:O2 =1:1の混合ガスでスパッタす
るマグネトロンスパッタリングにより、くし型電極5a
および5b上にZnO膜7を堆積させた(図1
(f))。その後、図1(f)に示すB領域に、通常の
半導体集積回路製造プロセスを用い、WAl層4を介し
てくし型電極と電気的に接続される増幅回路(図示省
略)を作製した。
The substrate was transferred to a magnetron sputtering apparatus, the portion other than the diamond layer 2 was masked, and ZnO was used under the conditions of a sputtering output of 150 W and a substrate temperature of 380 ° C.
Comb-shaped electrode 5a is formed by magnetron sputtering in which a polycrystalline body is sputtered with a mixed gas of Ar: O 2 = 1: 1.
ZnO film 7 was deposited on and 5b (FIG. 1).
(F)). Then, in the region B shown in FIG. 1F, an amplifier circuit (not shown) electrically connected to the comb-shaped electrode via the WAl layer 4 was manufactured by using a normal semiconductor integrated circuit manufacturing process.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明に従う半導体複合素子の製造工程につ
いて、その概略を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross sectional view schematically showing a manufacturing step of a semiconductor composite element according to the present invention.

【図2】表面弾性波素子の一般的構成を示す斜視図であ
る。
FIG. 2 is a perspective view showing a general configuration of a surface acoustic wave device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 ダイヤモンド層 3 SiO2 4 WAl層 5a、5b くし型電極 7 ZnO膜1 substrate 2 diamond layer 3 SiO 2 4 WAl layer 5a, 5b comb electrode 7 ZnO film

フロントページの続き (72)発明者 藤森 直治 兵庫県伊丹市昆陽北一丁目1番1号 住友 電気工業株式会社伊丹製作所内Continued Front Page (72) Inventor Naoji Fujimori 1-1-1 Kunyokita, Itami City, Hyogo Prefecture Sumitomo Electric Industries, Ltd. Itami Works

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも表面弾性波素子を備える半導
体複合素子であって、 半導体基板と、 前記半導体基板上の所定の領域に設けられるダイヤモン
ド層と、 前記ダイヤモンド層上では少なくともくし型電極にさ
れ、かつ前記ダイヤモンド層上および前記半導体基板上
にわたって設けられる導電層と、 前記ダイヤモンド層上に前記くし型電極と密着して設け
られる圧電体層と、 前記半導体基板で前記ダイヤモンド層が設けられた領域
の近傍に設けられ、前記導電層を介して前記くし型電極
と電気的に接続される半導体回路とを備える、 半導体複合素子。
1. A semiconductor composite device comprising at least a surface acoustic wave device, comprising a semiconductor substrate, a diamond layer provided in a predetermined region on the semiconductor substrate, and at least a comb-shaped electrode on the diamond layer, And a conductive layer provided over the diamond layer and the semiconductor substrate, a piezoelectric layer provided on the diamond layer in close contact with the comb-shaped electrode, and a region of the semiconductor substrate where the diamond layer is provided. A semiconductor composite device, comprising: a semiconductor circuit which is provided in the vicinity and is electrically connected to the comb-shaped electrode through the conductive layer.
【請求項2】 少なくとも表面弾性波素子を備える半導
体複合素子の製造方法であって、 半導体基板を準備する工程と、 前記半導体基板上の所定の領域にダイヤモンド層を設け
る工程と、 前記ダイヤモンド層および前記半導体基板を覆う導電層
を形成する工程と、 少なくとも前記ダイヤモンド層上にくし型電極を形成す
るため、前記導電層をパターニングする工程と、 前記ダイヤモンド層上に前記くし型電極と密着する圧電
体層を設ける工程と、 前記半導体基板で前記ダイヤモンド層が設けられた領域
の近傍に前記導電層を介して前記くし型電極と電気的に
接続される半導体回路を形成する工程とを備える、半導
体複合素子の製造方法。
2. A method of manufacturing a semiconductor composite device including at least a surface acoustic wave device, comprising: preparing a semiconductor substrate; providing a diamond layer in a predetermined region on the semiconductor substrate; A step of forming a conductive layer covering the semiconductor substrate; a step of patterning the conductive layer so as to form a comb-shaped electrode on at least the diamond layer; and a piezoelectric body in close contact with the comb-shaped electrode on the diamond layer. A semiconductor composite including a step of providing a layer, and a step of forming a semiconductor circuit electrically connected to the comb-shaped electrode via the conductive layer in the vicinity of a region of the semiconductor substrate where the diamond layer is provided. Manufacturing method of device.
JP24974891A 1991-09-27 1991-09-27 Semiconductor composite element and its production Pending JPH0590862A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24974891A JPH0590862A (en) 1991-09-27 1991-09-27 Semiconductor composite element and its production

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24974891A JPH0590862A (en) 1991-09-27 1991-09-27 Semiconductor composite element and its production

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0590862A true JPH0590862A (en) 1993-04-09

Family

ID=17197634

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24974891A Pending JPH0590862A (en) 1991-09-27 1991-09-27 Semiconductor composite element and its production

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0590862A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5872415A (en) * 1996-08-16 1999-02-16 Kobe Steel Usa Inc. Microelectronic structures including semiconductor islands
US5907768A (en) * 1996-08-16 1999-05-25 Kobe Steel Usa Inc. Methods for fabricating microelectronic structures including semiconductor islands

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5872415A (en) * 1996-08-16 1999-02-16 Kobe Steel Usa Inc. Microelectronic structures including semiconductor islands
US5907768A (en) * 1996-08-16 1999-05-25 Kobe Steel Usa Inc. Methods for fabricating microelectronic structures including semiconductor islands

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5390401A (en) Method for producing a surface acoustic wave device
JP3163606B2 (en) Surface acoustic wave device
US6046656A (en) Elastic boundary wave device and method of its manufacture
US7224101B2 (en) Elastic boundary wave device and method of manufacturing the same
JP3205976B2 (en) Surface acoustic wave device
US5401544A (en) Method for manufacturing a surface acoustic wave device
JP2002268645A (en) Bulk acoustic wave filter having different center frequencies on single substrate and method for providing the same
US5936329A (en) Surface acoustic wave device, substrate therefor, and method of manufacturing the substrate
US5320865A (en) Method of manufacturing a surface acoustic wave device
US5838089A (en) Acoustic wave devices on diamond with an interlayer
US5463901A (en) Stacked piezoelectric surface acoustic wave device with a boron nitride layer in the stack
KR20010110779A (en) Method of manufacturing a piezoeletric filter with an acoustic resonator situated on an acoustic reflector layer formed on a carrier substrate
JPH0590862A (en) Semiconductor composite element and its production
JP3132515B2 (en) Method for manufacturing surface acoustic wave device
JP3248258B2 (en) Surface acoustic wave device
US5521454A (en) Surface wave filter element
JPH08316782A (en) Surface acoustic wave element
JP2009147818A (en) Elastic wave device, filter device, communication module and communication apparatus
JPH1131942A (en) Surface acoustic wave module element and its production
JP7551371B2 (en) Wafer manufacturing method, acoustic wave device and manufacturing method thereof
JPH0818388A (en) Surface wave filter element and its manufacture
JPH0583068A (en) Surface acoustic wave element
JPH10163802A (en) Surface acoustic wave device
JP3468203B2 (en) Surface acoustic wave device and method of manufacturing the same
JPH0590874A (en) Surface acoustic wave element