JPH0587973U - Optical semiconductor device module - Google Patents

Optical semiconductor device module

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JPH0587973U
JPH0587973U JP027339U JP2733992U JPH0587973U JP H0587973 U JPH0587973 U JP H0587973U JP 027339 U JP027339 U JP 027339U JP 2733992 U JP2733992 U JP 2733992U JP H0587973 U JPH0587973 U JP H0587973U
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optical semiconductor
semiconductor element
cap
window glass
fixed
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猛 中村
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光半導体素子内部で反射した後面光による前
面光出力の誤差を低減できる光半導体素子を得ることで
ある。 【構成】 黒色のメッキをした金属のインナーキャップ
106は、一方の外径がキャップ4の内径より小さい円
筒形であり、端面に直径0.7mmの穴が形成されてお
り、他方の外径がキャップ4の内径より1μmから10
μm大きい円筒形となっている。インナーキャップ10
6の一方がキャップ4の内側に圧入され、キャップ4の
内側に固定されている。 【効果】 光半導体素子チップから出射した後面光が光
半導体素子内部で反射するのを繰返してキャップの窓ガ
ラスから出射することを減少できる。このため、前面光
出力の測定精度を向上でき、光ファイバとの結合効率を
誤差すくなく評価できるとともに、光半導体素子の信頼
性の算出の誤差を少なくできる。
(57) [Abstract] [Purpose] To obtain an optical semiconductor element capable of reducing an error in front light output due to rear surface light reflected inside the optical semiconductor element. [Structure] The black plated metal inner cap 106 has a cylindrical shape in which one outer diameter is smaller than the inner diameter of the cap 4, a hole having a diameter of 0.7 mm is formed in the end surface, and the other outer diameter is From the inner diameter of the cap 4 to 1 μm to 10
It has a cylindrical shape that is larger by μm. Inner cap 10
One side of 6 is press-fitted inside the cap 4 and is fixed inside the cap 4. [Effect] The rear surface light emitted from the optical semiconductor element chip can be repeatedly reflected inside the optical semiconductor element and emitted from the window glass of the cap can be reduced. Therefore, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

この考案は、光ファイバを伝送路として用いる通信用装置に使用される、気密 パッケージに封止した、半導体レーザ、発光ダイオード等の光半導体素子チップ と光ファイバとを結合した光半導体モジュールに関するものである。 The present invention relates to an optical semiconductor module which is used in a communication device using an optical fiber as a transmission line and which is formed by sealing an optical semiconductor element chip such as a semiconductor laser or a light emitting diode with an optical fiber, which is sealed in an airtight package. is there.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior Art]

図5は例えば、伊藤良一・中村道治共著「半導体レーザ」(培風館)に示され た従来の光半導体素子に組み込まれている光半導体素子を示す斜視図であり、図 において、1は半導体レーザ等の光半導体素子チップ、2はホトダイオードチッ プ、3はステム、4はキャップ、5はガラス製の窓ガラス、6は窓ガラス5をキ ャップ4に固定するための窓ガラス固定用低融点ガラス、7a、7b、7c、7 dは電極端子、8は電極端子7a、7b、7cをステム3に固定するための端子 固定用低融点ガラス、9aは光半導体素子チップ1の一方の電極と電極端子7a を接続する金線、9b、9cはホトダイオードチップ2の2つの電極と電極端子 7b、7cとを接続する各々の金線である。光半導体素子チップ1の他方の電極 はステムを介して電極端子7dに接続されている。なお、図において、ステム3 とキャップ4は一部を省略して示している。電極端子7dはステム3に溶接によ り固定されてる。光半導体素子チップ1とホトダイオードチップ2はステム3に ハンダで固定されている。光半導体素子チップ1とホトダイオードチップ2は、 窓ガラス5、キャップ4、ステム3、電極端子7a、7b、7c、窓ガラス固定 用低融点ガラス6、及び、端子固定用融点ガラス8で気密封止されている。光半 導体チップ1の一方の出力光はホトダイオードチップ2に入射し、光半導体チッ プ1の他方の出力光はキャップ4から光半導体素子の外部に出射する。半導体素 子チップからキャップ4側に出射する光を前面光、ホトダイオード2側に出射す る光を後面光とすると、通常の半導体レーザの場合、前面光と後面光との光出力 の比は1対1から3対1程度である。前面光はレンズ等で集光されて光ファイバ に結合する光である。後面光の一部はホトダイオード2に入射し、電流に変換さ れる。以下、この電流を光電流とする。通常、この光電流は前面光出力を推定す るために用いられる。 FIG. 5 is a perspective view showing an optical semiconductor device incorporated in a conventional optical semiconductor device shown in “Semiconductor Laser” (Baifukan) by Ryoichi Ito and Michiharu Nakamura, for example. Opto-semiconductor element chip, such as 2 is a photodiode chip, 3 is a stem, 4 is a cap, 5 is a window glass made of glass, 6 is a low melting point glass for fixing the window glass 5 to the cap 4. , 7a, 7b, 7c, 7d are electrode terminals, 8 is a terminal fixing low melting glass for fixing the electrode terminals 7a, 7b, 7c to the stem 3, 9a is one electrode and electrode of the optical semiconductor element chip 1 Gold wires 9b and 9c for connecting the terminal 7a are gold wires for connecting the two electrodes of the photodiode chip 2 and the electrode terminals 7b and 7c. The other electrode of the optical semiconductor element chip 1 is connected to the electrode terminal 7d via the stem. In addition, in the figure, the stem 3 and the cap 4 are shown with a part thereof omitted. The electrode terminal 7d is fixed to the stem 3 by welding. The optical semiconductor element chip 1 and the photodiode chip 2 are fixed to the stem 3 with solder. The optical semiconductor element chip 1 and the photodiode chip 2 are hermetically sealed with a window glass 5, a cap 4, a stem 3, electrode terminals 7a, 7b, 7c, a low melting point glass 6 for fixing the window glass, and a melting point glass 8 for fixing the terminal. Has been done. One output light of the optical semiconductor chip 1 is incident on the photodiode chip 2, and the other output light of the optical semiconductor chip 1 is emitted from the cap 4 to the outside of the optical semiconductor element. When the light emitted from the semiconductor device chip to the cap 4 side is the front light and the light emitted to the photodiode 2 side is the rear light, the ratio of the optical output of the front light to the rear light is 1 in the case of a normal semiconductor laser. It is about 1 to 3 to 1. The front light is light that is condensed by a lens or the like and is coupled to the optical fiber. A part of the rear surface light enters the photodiode 2 and is converted into an electric current. Hereinafter, this current is referred to as photocurrent. This photocurrent is usually used to estimate the front light output.

【0003】 ところで、光半導体素子チップ1からの出射光が半値全角で20度から45度 程度の画角を持つ広がった光であること、光半導体素子チップ1とホトダイオー ド2とが構造上密着していないこと、ホトダイオード2の受光面の大きさに電気 的特性の制約等があること等により、光半導体素子チップ1から出射された後面 光の全光量はホトダイオードの受光面に入射しない。このため、後面光の光出力 のうち、20%から50%しかホトダイオード2の受光面に入射しない。従って 、後面光の光出力のうち、80%から50%は、ホトダイオード2の受光部以外 の部分やステム3等に入射し、これらの部分とキャップ4の内面等で反射を繰返 す。これら光半導体素子内部で反射した光は、一部はホトダイオード2に入射し 、他のほとんどはキャップ4の窓ガラス5より出射される。この光半導体素子内 部で反射した後面光はレンズで集光できず、このため、光ファイバに結合できな い。By the way, the emitted light from the optical semiconductor element chip 1 is spread light having a field angle of about 20 to 45 degrees in full width at half maximum, and the optical semiconductor element chip 1 and the photo diode 2 are structurally closely attached. The total amount of the rear surface light emitted from the optical semiconductor element chip 1 does not enter the light receiving surface of the photodiode due to the fact that the size of the light receiving surface of the photodiode 2 is restricted in terms of electrical characteristics and the like. Therefore, only 20% to 50% of the light output of the rear surface light is incident on the light receiving surface of the photodiode 2. Therefore, 80% to 50% of the light output of the rear surface light is incident on the portion other than the light receiving portion of the photodiode 2, the stem 3, etc., and is repeatedly reflected by these portions and the inner surface of the cap 4, etc. A part of the light reflected inside the optical semiconductor element enters the photodiode 2, and most of the other light is emitted from the window glass 5 of the cap 4. The rear surface light reflected inside the optical semiconductor element cannot be condensed by the lens and therefore cannot be coupled to the optical fiber.

【0004】 一般に、半導体レーザ等の光半導体素子では、ある定格の前面光出力時のホト ダイオードの光電流を基準として光半導体素子を駆動する。このため、光半導体 素子の検査で全面光出力とホトダイオードの光電流とを測定するが、上記の光半 導体素子内部で反射した後面光のために、前面光出力のみを正しく測定すること ができない。このため、前面光出力と光ファイバ内光出力の比である、光ファイ バとの結合効率を正しく評価できない。この光半導体素子内部で反射した後面光 のための前面光出力の測定誤差は、光半導体素子チップからの出射光の広がり角 が個々の光半導体素子チップにより違うために、光半導体素子チップごとで違う 。また、光半導体素子の信頼性は光半導体素子チップ単体での前面光出力のみを 測定した試験をもとに算出されており、前面光出力の測定誤差は光半導体素子の 信頼性の算出の誤差要因となる。In general, in an optical semiconductor element such as a semiconductor laser, the optical semiconductor element is driven with reference to the photocurrent of the photodiode at the time of outputting front light of a certain rating. For this reason, the optical output of the entire surface and the photocurrent of the photodiode are measured in the inspection of the optical semiconductor element, but it is not possible to correctly measure only the optical output of the front surface due to the back surface light reflected inside the optical semiconductor element. .. Therefore, it is not possible to correctly evaluate the coupling efficiency with the optical fiber, which is the ratio of the optical output in the front surface to the optical output in the optical fiber. The measurement error of the front light output due to the back surface light reflected inside the optical semiconductor element is different for each optical semiconductor element chip because the spread angle of the light emitted from the optical semiconductor element chip is different for each optical semiconductor element chip. Wrong . Also, the reliability of the optical semiconductor element is calculated based on the test in which only the front light output of the optical semiconductor element chip alone is measured, and the measurement error of the front light output is the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element. It becomes a factor.

【0005】 図7は例えば特公昭60−136387号公報に示された従来の光半導体素子 モジュールであり、20はレンズ、21はレンズホルダ、22は光ファイバ、2 3はフェルール、24はフェルールホルダである。レンズ20はレンズホルダ2 1に接着剤で固定されており、光ファイバ22はフェルール23に接着剤で固定 されている。光半導体素子チップ1の前面光がレンズ20で集光されて光ファイ バ22に入射するように、レンズ20、フェルール23の位置が調整されている 。キャップ4とレンズホルダ21、および、レンズホルダ21とフェルールホル ダ24とはレーザ溶接で固定されている。また、フェルール23とフェルールホ ルダ24とはハンダ等により固定されている。FIG. 7 shows a conventional optical semiconductor element module disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 60-136387, in which 20 is a lens, 21 is a lens holder, 22 is an optical fiber, 23 is a ferrule, and 24 is a ferrule holder. Is. The lens 20 is fixed to the lens holder 21 with an adhesive, and the optical fiber 22 is fixed to the ferrule 23 with an adhesive. The positions of the lens 20 and the ferrule 23 are adjusted so that the front light of the optical semiconductor element chip 1 is condensed by the lens 20 and enters the optical fiber 22. The cap 4 and the lens holder 21, and the lens holder 21 and the ferrule holder 24 are fixed by laser welding. The ferrule 23 and the ferrule holder 24 are fixed by solder or the like.

【0006】 レンズ20で集光された光半導体素子チップ1の前面光ほとんどは光ファイバ 22に入射するが、一部は光ファイバ22端面でフレネル反射し、また、他の一 部はレンズ20に収差があるためにフェルール23に入射してフェルール23の 端面で反射される。光ファイバ22の端面でフレネル反射した光とフェルール2 3の端面で反射した光とは、レンズ20に再度入射するが、フェルール23と光 ファイバ22の端面がレンズ20の光軸に垂直な面に対し8度程度の角度になる ように斜め研磨されているために、レンズ20の中央部を通過せず、そのほとん どがレンズ20の側面で乱反射等をしながら、再度光半導体素子に入射する。こ れらの光は、レンズ20の側面で反射しているために、光半導体素子チップ1に 結合しない。しかしながら、これらの光の一部は、光半導体素子のステム3やキ ャップ4の内面等で乱反射を繰返してホトダイオード2に入射する。このため、 ホトダイオード2の光電流を増やし、ある定格の前面光出力時のホトダイオード 2の光電流を基準として光半導体素子を駆動する場合、前面光出力が減少する。 従って、前述の光半導体素子内部で反射した後面光による前面光出力の誤差に加 え、光ファイバ端面でフレネル反射した光とフェルール端面で反射した光とによ る前面光出力の測定誤差により、光ファイバとの結合効率を正しく評価できない 。また、光半導体素子の信頼性は光半導体素子チップ単体での前面光出力のみを 測定した試験をもとに算出されており、前面光出力はホトダイオードの光電流を 基準に推定するため、光半導体素子の信頼性の算出の誤差要因となる。Most of the front light of the optical semiconductor element chip 1 collected by the lens 20 is incident on the optical fiber 22, part of which is Fresnel reflected by the end face of the optical fiber 22, and the other part of which is reflected by the lens 20. Because of the aberration, the light enters the ferrule 23 and is reflected by the end surface of the ferrule 23. The light reflected by the end face of the optical fiber 22 and the light reflected by the end face of the ferrule 23 re-enter the lens 20, but the end faces of the ferrule 23 and the optical fiber 22 are perpendicular to the optical axis of the lens 20. Since it is obliquely polished to an angle of about 8 degrees, it does not pass through the central portion of the lens 20, and most of it re-enters the optical semiconductor element while being diffusely reflected by the side surface of the lens 20. .. Since these lights are reflected by the side surface of the lens 20, they are not coupled to the optical semiconductor element chip 1. However, a part of the light is repeatedly reflected diffusely by the stem 3 of the optical semiconductor element, the inner surface of the cap 4, etc., and is incident on the photodiode 2. Therefore, when the photocurrent of the photodiode 2 is increased and the optical semiconductor element is driven with the photocurrent of the photodiode 2 at the time of the front light output of a certain rating as a reference, the front light output decreases. Therefore, in addition to the error of the front light output due to the back surface light reflected inside the optical semiconductor element described above, the measurement error of the front light output due to the light reflected at the end face of the optical fiber and the light reflected at the end face of the ferrule causes The coupling efficiency with the optical fiber cannot be evaluated correctly. The reliability of optical semiconductor elements is calculated based on a test in which only the front light output of a single optical semiconductor element chip is measured.The front light output is estimated based on the photocurrent of the photodiode. It causes an error in the calculation of the reliability of the element.

【0007】[0007]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

従来の光半導体素子モジュールは以上のように構成されているので、光半導体 素子内部で反射した後面光のために、前面光出力のみを正しく測定することがで きない。また、光ファイバ端面でフレネル反射した光とフェルール端面で反射し た光の一部がホトダイオードに入射してホトダイオードの光電流を増加させる。 これらのため、光ファイバとの結合効率を正しく評価できず、また、光半導体素 子の信頼性は半導体素子チップ単体での前面光出力のみを測定した試験をもとに 算出されており、前面光出力はホトダイオードの光電流を基準に推定するため、 半導体素子の信頼性の算出の誤差要因となるなどの課題があった。 Since the conventional optical semiconductor device module is configured as described above, it is not possible to correctly measure only the front light output due to the back surface light reflected inside the optical semiconductor device. In addition, a part of the light reflected by the end face of the optical fiber and the light reflected by the end face of the ferrule enters the photodiode and increases the photocurrent of the photodiode. For these reasons, the coupling efficiency with the optical fiber cannot be evaluated correctly, and the reliability of the optical semiconductor element is calculated based on a test in which only the front light output of the semiconductor element chip alone is measured. Since the light output is estimated based on the photocurrent of the photodiode, there were problems such as an error factor in the calculation of the reliability of the semiconductor element.

【0008】 この考案は上記のような課題を解消するためになされたもので、光半導体素子 内部で反射した後面光による前面光出力の誤差を低減でき、さらに、光半導体素 子内部で反射した後面光による前面光出力の誤差、及び、光ファイバ端面でフレ ネル反射した光とフェルール端面で反射した光による前面光出力の誤差を低減で きる光半導体素子モジュールを得ることを目的とする。The present invention has been made to solve the above problems, and can reduce the error in the front light output due to the rear surface light reflected inside the optical semiconductor element, and further, it can be reflected inside the optical semiconductor element. An object of the present invention is to obtain an optical semiconductor element module capable of reducing the error in the front light output due to the rear surface light and the error in the front light output due to the light reflected by the end face of the optical fiber and the light reflected by the end face of the ferrule.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

この考案に係る光半導体素子モジュールは、窓ガラスとキャップとステムを備 え、窓ガラスの中央部の直径0.6mm以外の部分に反射膜を付け、窓ガラスを キャップに固定し、窓ガラスを固定したキャップの金属部分に黒色のメッキをし たものである。 The optical semiconductor device module according to the present invention is provided with a window glass, a cap and a stem, a reflective film is attached to a portion other than a diameter of 0.6 mm at the center of the window glass, and the window glass is fixed to the cap. The metal part of the fixed cap is black plated.

【0010】 また、この考案に係る別の光半導体素子モジュールは、窓ガラスとキャップと ステムと金属製のインナーキャップを備え、窓ガラスをキャップに固定し、窓ガ ラスを固定したキャップの内側にインナーキャップを固定し、インナーキャップ に黒色メッキをしたものである。Another optical semiconductor device module according to the present invention includes a window glass, a cap, a stem, and a metal inner cap. The window glass is fixed to the cap, and the window glass is fixed inside the cap. The inner cap is fixed, and the inner cap is black plated.

【0011】 さらに、この考案に係る別の光半導体素子モジュールは、窓ガラスとキャップ とステムと金属製のレンズホルダを備え、窓ガラスの中央部の直径0.6mm以 外の部分に反射膜を付け、窓ガラスをキャップに固定し、窓ガラスを固定したキ ャップの金属部分に黒色のメッキをし、レンズホルダの内面を黒色にし、レンズ ホルダにレンズを固定したものである。Further, another optical semiconductor element module according to the present invention is provided with a window glass, a cap, a stem, and a lens holder made of metal, and a reflective film is provided on a portion of the central portion of the window glass other than 0.6 mm in diameter. The lens is fixed to the lens holder by attaching the window glass to the cap, plating the metal part of the cap to which the window glass is fixed with black plating, making the inner surface of the lens holder black.

【0012】 さらに、この考案に係る別の光半導体素子モジュールは、窓ガラスとキャップ とステムと金属製のインナーキャップと金属製のレンズホルダを備え、窓ガラス をキャップに固定し、窓ガラスを固定したキャップの内側にインナーキャップを 固定し、インナーキャップに黒色メッキをし、レンズホルダの内面を黒色にし、 レンズホルダにレンズを固定したものである。Further, another optical semiconductor element module according to the present invention includes a window glass, a cap, a stem, a metal inner cap, and a metal lens holder, and fixes the window glass to the cap and fixes the window glass. The inner cap is fixed to the inside of the cap, the inner cap is black-plated, the inner surface of the lens holder is black, and the lens is fixed to the lens holder.

【0013】[0013]

【作用】[Action]

この考案における光半導体素子モジュールは、窓ガラスを固定したキャップの 金属部分を黒色のメッキにしたので、光半導体素子チップから出射された後面光 が光半導体素子内部で反射することを減少することができ、窓ガラスの中央部の 直径0.6mm以外の部分に反射膜を付けたので、光半導体素子内部で反射した 後面光がキャップに固定した窓ガラスから出射することを減少できる。このため 、前面光出力の測定精度を向上でき、光ファイバとの結合効率を誤差すくなく評 価できるとともに、光半導体素子の信頼性の算出の誤差を少なくできる。 In the optical semiconductor device module according to this invention, the metal part of the cap to which the window glass is fixed is plated with black, so that it is possible to reduce the reflection of the rear surface light emitted from the optical semiconductor device chip inside the optical semiconductor device. Since the reflection film is attached to the central portion of the window glass other than the diameter of 0.6 mm, it is possible to reduce the emission of the rear surface light reflected inside the optical semiconductor element from the window glass fixed to the cap. Therefore, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0014】 また、この考案の別の光半導体素子モジュールは、黒色のメッキをした金属製 のインナーキャップを窓ガラスを固定したキャップの内側に固定したので、半導 体素子チップから出射された後面光が光半導体素子内部で反射することを減少す ることができ、光半導体素子内部で反射した後面光によるホトダイオードの光電 流の増加を減少できる。このため、前面光出力の測定精度を向上でき、光ファイ バとの結合効率を誤差すくなく評価できるとともに、光半導体素子の信頼性の算 出の誤差を少なくできる。In addition, in another optical semiconductor device module of the present invention, a black plated metal inner cap is fixed inside the cap to which the window glass is fixed, so that the rear surface emitted from the semiconductor device chip is fixed. It is possible to reduce the reflection of light inside the optical semiconductor element, and to reduce the increase in the photocurrent of the photodiode due to the back surface light reflected inside the optical semiconductor element. Therefore, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in calculating the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0015】 さらに、この考案の別の光半導体素子モジュールは、窓ガラスを固定したキャ ップの金属部分に黒色のメッキをしているので、半導体素子チップから出射され た後面光が光半導体素子内部で反射することを減少することができ、窓ガラスの 中央部の直径0.6mm以外の部分に反射膜を付けたので、光半導体素子内部で 反射した後面光がキャップに固定した窓ガラスから出射することを減少できる。 また、レンズを固定する金属製のレンズホルダの内面を黒色にしたので、光ファ イバ端面でフレネル反射した光とフェルール端面で反射した光をレンズホルダの 内面で減少することができ、これらの光がホトダイオードに入射してホトダイオ ードの光電流を増加させることを抑制することができる。これらのために、前面 光出力の測定精度を向上でき、光ファイバとの結合効率を誤差すくなく評価でき 、光半導体素子の信頼性の算出の誤差を少なくできる。Further, in another optical semiconductor element module of the present invention, since the metal portion of the cap to which the window glass is fixed is black-plated, the rear surface light emitted from the semiconductor element chip is the optical semiconductor element. It is possible to reduce internal reflection, and since a reflection film is attached to the central part of the window glass other than the diameter of 0.6 mm, the rear surface light reflected inside the optical semiconductor element can be emitted from the window glass fixed to the cap. The emission can be reduced. In addition, since the inner surface of the metal lens holder that fixes the lens is black, the light that is Fresnel-reflected by the end face of the optical fiber and the light that is reflected by the end face of the ferrule can be reduced on the inner surface of the lens holder. It is possible to suppress the incident on the photodiode to increase the photocurrent of the photodiode. For these reasons, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0016】 さらに、この考案の別の光半導体素子モジュールは、黒色のメッキをした金属 製のインナーキャップを窓ガラスを固定したキャップの内側に固定したので、光 半導体素子チップから出射された後面光が光半導体素子内部で反射することを減 少することができ、また、レンズを固定する金属製のレンズホルダの内面を黒色 にしたので、光ファイバ端面でフレネル反射した光とフェルール端面で反射した 光をレンズホルダの内面で減少することができ、これらの光がホトダイオードに 入射してホトダイオードの光電流を増加させることを抑制することができる。こ れらのために、前面光出力の測定精度を向上でき、光ファイバとの結合効率を誤 差すくなく評価できるとともに、光半導体素子の信頼性の算出の誤差を少なくで きる。Further, in another optical semiconductor element module of the present invention, the inner cap made of black-plated metal is fixed inside the cap fixed with the window glass, so that the rear surface light emitted from the optical semiconductor element chip is Light inside the optical semiconductor element can be reduced, and since the inner surface of the metal lens holder that fixes the lens is black, the light reflected by the end face of the optical fiber and the end face of the ferrule are reflected. Light can be reduced on the inner surface of the lens holder, and it is possible to prevent these lights from entering the photodiode and increasing the photocurrent of the photodiode. Because of these, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0017】[0017]

【実施例】【Example】

実施例1. 以下、この考案の一実施例を図について説明する。図1において、104はコ バールに黒色のメッキをした黒色キャップ、105は中央の直径0.6mm以外 の部分にニッケルクロム合金の反射膜が蒸着されている反射膜付窓ガラスである 。反射膜付窓ガラス105は黒色キャップ104に窓ガラス固定用低融点ガラス 6で固定されている。黒色キャップ104はステム3にジュール熱溶接で固定さ れている。光半導体素子チップ1とホトダイオードチップ2は、黒色キャップ1 04、反射膜付窓ガラス105、ステム3、電極端子7a、7b、7c、窓ガラ ス固定用低融点ガラス6、及び、端子固定用融点ガラス8で気密封止されている 。光半導体素子1と反射膜付窓ガラス105の間隔は0.2mm以下である。光 半導体素子チップ1の取付精度0.05mm以下と黒色キャップ105の取付精 度0.15mm以下を考慮しても、光半導体素子チップ1から出射した全角53 度以上の前面光が反射膜付窓ガラスを透過できる。なお、図中、前述の従来例に 示す同一符号は同一、または、相当部分を示している。 Example 1. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, reference numeral 104 is a black cap plated with black on Kovar, and reference numeral 105 is a window glass with a reflection film in which a reflection film of nickel-chromium alloy is vapor-deposited on portions other than the central diameter of 0.6 mm. The window glass 105 with a reflection film is fixed to the black cap 104 with a low melting point glass 6 for fixing the window glass. The black cap 104 is fixed to the stem 3 by Joule heat welding. The optical semiconductor element chip 1 and the photodiode chip 2 include a black cap 104, a window glass 105 with a reflection film, a stem 3, electrode terminals 7a, 7b and 7c, a low melting point glass 6 for fixing the window glass, and a melting point for fixing the terminal. It is hermetically sealed with glass 8. The interval between the optical semiconductor element 1 and the window glass 105 with a reflective film is 0.2 mm or less. Even if the mounting accuracy of the optical semiconductor element chip 1 is 0.05 mm or less and the mounting accuracy of the black cap 105 is 0.15 mm or less, the front light emitted from the optical semiconductor element chip 1 with a full angle of 53 degrees or more is reflected by the window with a reflection film. Can penetrate glass. In the drawings, the same reference numerals as those in the above-mentioned conventional example indicate the same or corresponding portions.

【0018】 半導体素子チップ1から出射された後面光のうち、ホトダイオード2の受光部 以外の部分やステム3等に入射し、これらの部分反射した光は、黒色キャップ1 04の内面に入射するが、黒色キャップ104の内面が黒色であるので、黒色キ ャップ104の内面にほとんどが吸収される。また、反射膜付窓ガラス105の 周辺部に反射膜が形成されているので、黒色キャップ104の内面で反射された 光が反射膜付窓ガラス105より出射されることを減少できる。このため、前面 光出力の測定精度を向上でき、光ファイバとの結合効率を誤差すくなく評価でき るとともに、光半導体素子の信頼性の算出の誤差を少なくできる。Of the rear surface light emitted from the semiconductor element chip 1, the light is incident on the portion other than the light receiving portion of the photodiode 2, the stem 3, etc., and the light reflected partially is incident on the inner surface of the black cap 104. Since the inner surface of the black cap 104 is black, most of it is absorbed by the inner surface of the black cap 104. Further, since the reflective film is formed on the peripheral portion of the window glass 105 with the reflective film, it is possible to reduce the emission of the light reflected by the inner surface of the black cap 104 from the window glass 105 with the reflective film. Therefore, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0019】 実施例2. 次に、この考案の別の実施例を図について説明する。図2において、106は 黄銅に黒色のメッキをしたインナーキャップである。インナーキャップ106の 一方は外径がキャップ4の内径より小さい円筒形であり、端面に直径0.7mm の穴が形成されている。インナーキャップ106の他方は外径がキャップ4の内 径より1μmから10μm大きい円筒形となっている。キャップ4にインナーキ ャップ106を挿入すると、インナーキャップ106の一方がキャップ4の内側 に圧入され、キャップ4の内側に固定される。光半導体素子チップ1とインナー キャップ106の間隔0.1mm以下であり、光半導体素子チップ1の取付精度 0.05mm以下とキャップ105の取付精度0.15mm以下とインナーキャ ップ106の取付精度0.1mm以下を考慮しても、光半導体素子チップ1から 出射した全角53度以上の前面光が窓ガラス5を透過できる。なお、図中、前述 の従来例に示す同一符号は同一、または、相当部分を示している。Example 2. Next, another embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 2, 106 is an inner cap made of brass plated with black. One of the inner caps 106 has a cylindrical shape with an outer diameter smaller than the inner diameter of the cap 4, and has a hole with a diameter of 0.7 mm formed on the end surface. The other of the inner caps 106 has a cylindrical shape whose outer diameter is 1 μm to 10 μm larger than the inner diameter of the cap 4. When the inner cap 106 is inserted into the cap 4, one of the inner caps 106 is press-fitted inside the cap 4 and fixed inside the cap 4. The distance between the optical semiconductor element chip 1 and the inner cap 106 is 0.1 mm or less, the mounting accuracy of the optical semiconductor element chip 1 is 0.05 mm or less, the mounting accuracy of the cap 105 is 0.15 mm or less, and the mounting accuracy of the inner cap 106 is 0. Even if the thickness is less than 0.1 mm, front light emitted from the optical semiconductor element chip 1 and having a full angle of 53 degrees or more can pass through the window glass 5. In the figure, the same reference numerals as those in the above-mentioned conventional example indicate the same or corresponding portions.

【0020】 光半導体素子チップ1から出射した後面光でホトダイオード2の受光部以外の 部分やステム3等に入射し、これらの部分反射した光は、インナーキャップ10 6の内面に入射するが、インナーキャップ106の内面が黒色であることより、 インナーキャップ106の内面に吸収される。また、インナーキャップ106の 上部に穴が形成されているために、インナーキャップ106の内面で反射された 光が窓ガラス5より出射されることを減少できる。このため、前面光出力の測定 精度を向上でき、光ファイバとの結合効率を誤差すくなく評価できるとともに、 光半導体素子の信頼性の算出の誤差を少なくできる。The rear surface light emitted from the optical semiconductor element chip 1 is incident on a portion other than the light receiving portion of the photodiode 2, the stem 3, and the like, and the partially reflected light is incident on the inner surface of the inner cap 106. Since the inner surface of the cap 106 is black, it is absorbed by the inner surface of the inner cap 106. Further, since the hole is formed in the upper portion of the inner cap 106, it is possible to reduce the emission of the light reflected by the inner surface of the inner cap 106 from the window glass 5. Therefore, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0021】 実施例3. 次に、この考案の別の実施例を図について説明する。図3において、121は 全体を黒色のメッキをしたステンレス製の黒色レンズホルダである。レンズ20 はレンズホルダ121に透明な接着剤で固定されている。なお、図中、前述の実 施例と従来例に示す同一符号は同一、または、相当部分を示している。Example 3. Next, another embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 3, reference numeral 121 denotes a stainless black lens holder which is entirely plated with black. The lens 20 is fixed to the lens holder 121 with a transparent adhesive. In the drawings, the same reference numerals in the above-described embodiment and the conventional example indicate the same or corresponding portions.

【0022】 前述の実施例1と同様に、光半導体素子チップ1から出射した後面光のうちホ トダイオード2の受光部以外の部分やステム3等で反射した光は、黒色キャップ 104の内面が黒色であるので、ほとんどが吸収される。また、反射膜付窓ガラ ス105の周辺部に反射膜が形成されているために、黒色キャップ104の内面 で反射された光が反射膜付窓ガラス105より出射されることを減少できる。こ のため、前面光出力の測定精度を向上でき、光ファイバとの結合効率を誤差すく なく評価でき、光半導体素子の信頼性の算出の誤差を少なくできる。Similar to the above-described first embodiment, in the rear surface light emitted from the optical semiconductor element chip 1, the light reflected by the portion other than the light receiving portion of the photodiode 2, the stem 3, etc. is reflected by the inner surface of the black cap 104. Since it is black, most of it is absorbed. Further, since the reflective film is formed around the reflective glass window glass 105, the light reflected by the inner surface of the black cap 104 can be reduced from being emitted from the reflective film window glass 105. Therefore, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0023】 光半導体素子チップ1から出射された前面光うち、光ファイバ22の端面でフ レネル反射した光とフェルール23の端面で反射した光は、レンズ20に再入射 するが、フェルール23と光ファイバ22の端面がレンズ20の光軸に垂直な面 に対し8度程度の角度になるように斜め研磨されているので、レンズの中央部を 通過せず、そのほとんどがレンズ20の側面に入射する。レンズ20の側面に入 射した光は、レンズ20を黒色レンズホルダに固定している接着剤を透過して黒 色レンズホルダ121の内面に入射する。この光は、黒色レンズホルダ121の 内面が黒色であるために、黒色レンズホルダ121の内面に吸収される。このた め、光ファイバ22の端面でフレネル反射した光とフェルール23の端面で反射 した光がホトダイオードに入射することにより生じるホトダイオードの光電流の 増加を抑制することができる。このため、前面光出力の測定精度を向上でき、光 ファイバとの結合効率を誤差すくなく評価できるとともに、光半導体素子の信頼 性の算出の誤差を少なくできる。Of the front light emitted from the optical semiconductor element chip 1, the light that has been Fresnel-reflected by the end face of the optical fiber 22 and the light that has been reflected by the end face of the ferrule 23 re-enters the lens 20. Since the end face of the fiber 22 is obliquely polished so as to form an angle of about 8 degrees with respect to the surface perpendicular to the optical axis of the lens 20, most of it does not pass through the center of the lens and is incident on the side surface of the lens 20. To do. The light incident on the side surface of the lens 20 passes through the adhesive agent that fixes the lens 20 to the black lens holder and enters the inner surface of the black color lens holder 121. This light is absorbed by the inner surface of the black lens holder 121 because the inner surface of the black lens holder 121 is black. For this reason, it is possible to suppress an increase in the photocurrent of the photodiode caused by the light reflected by the end surface of the optical fiber 22 and the light reflected by the end surface of the ferrule 23 entering the photodiode. Therefore, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0024】 実施例4. 次に、この考案の別の実施例を図について説明する。図4において、106は 黄銅に黒色のメッキをしたインナーキャップ、121は全体を黒色のメッキをし たステンレス製のレンズホルダである。レンズ20はレンズホルダ121に透明 な接着剤で固定されている。なお、図中、前述の実施例と従来例に示す同一符号 は同一、または、相当部分を示している。Example 4. Next, another embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 4, 106 is an inner cap made of brass plated with black, and 121 is a stainless steel lens holder entirely plated with black. The lens 20 is fixed to the lens holder 121 with a transparent adhesive. In the drawings, the same reference numerals as those in the above-described embodiment and the conventional example indicate the same or corresponding portions.

【0025】 前述の実施例2と同様に、光半導体素子チップ1から出射した後面光でホトダ イオード2の受光部以外の部分やステム3等で反射した光は、インナーキャップ 106の内面が黒色であることより、インナーキャップ106の内面に吸収され る。また、インナーキャップ106の一方に穴が形成されているために、インナ ーキャップ106の内面で反射された光がキャップの窓ガラスより出射されるこ とを減少できる。このため、前面光出力の測定精度を向上でき、光ファイバとの 結合効率を誤差すくなく評価できるとともに、光半導体素子の信頼性の算出の誤 差を少なくできる。Similar to the above-described second embodiment, the rear surface light emitted from the optical semiconductor element chip 1 and reflected by the portion other than the light receiving portion of the photodiode 2 or the stem 3 has a black inner surface of the inner cap 106. As a result, it is absorbed by the inner surface of the inner cap 106. Further, since the hole is formed in one side of the inner cap 106, it is possible to reduce the amount of light reflected by the inner surface of the inner cap 106 being emitted from the window glass of the cap. Therefore, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0026】 また、前述の実施例3と同様に、光半導体素子チップ1から出射した前面光で 光ファイバ22の端面でフレネル反射した光とフェルール23の端面で反射した 光は、レンズホルダ121の内面が黒色であるために、レンズホルダ121の内 面に吸収される。このため、これらの光は減少し、ホトダイオード2に入射して ホトダイオード2の光電流を増加させることを抑制することができる。このため 、前面光出力の測定精度を向上でき、光ファイバとの結合効率を誤差すくなく評 価できるとともに、光半導体素子の信頼性の算出の誤差を少なくできる。Further, as in the case of the above-described third embodiment, the light that is Fresnel-reflected by the end face of the optical fiber 22 and the light that is reflected by the end face of the ferrule 23 by the front face light emitted from the optical semiconductor element chip 1 of the lens holder 121 Since the inner surface is black, it is absorbed by the inner surface of the lens holder 121. Therefore, these lights are reduced and can be suppressed from entering the photodiode 2 and increasing the photocurrent of the photodiode 2. Therefore, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0027】[0027]

【考案の効果】[Effect of the device]

以上のように、この考案によれば光半導体素子チップから出射した後面光が光 半導体素子内部で反射するのを繰返してキャップの窓ガラスから出射することを 減少できる。このため、前面光出力の測定精度を向上でき、光ファイバとの結合 効率を誤差すくなく評価できるとともに、光半導体素子の信頼性の算出の誤差を 少なくできる。 As described above, according to the present invention, the rear surface light emitted from the optical semiconductor element chip is repeatedly reflected inside the optical semiconductor element, and the emission from the window glass of the cap can be reduced. Therefore, the measurement accuracy of the front light output can be improved, the coupling efficiency with the optical fiber can be evaluated without error, and the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element can be reduced.

【0028】 また、光ファイバ端面でフレネル反射した光とフェルール端面で反射した光を 金属のホルダの内面で減少することができ、これらの光がホトダイオードに入射 してホトダイオードの光電流を増加させることを抑制することができる。これら のために、前面光出力の測定精度を向上でき、光ファイバとの結合効率を誤差す くなく評価できるとともに、光半導体素子の信頼性の算出の誤差を少なくできる 。Further, the light reflected on the end face of the optical fiber and the light reflected on the end face of the ferrule can be reduced on the inner face of the metal holder, and these lights are incident on the photodiode to increase the photocurrent of the photodiode. Can be suppressed. Because of these, it is possible to improve the measurement accuracy of the front light output, evaluate the coupling efficiency with the optical fiber without error, and reduce the error in the calculation of the reliability of the optical semiconductor element.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この考案の一実施例による光半導体素子モジュ
ールを示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing an optical semiconductor device module according to an embodiment of the present invention.

【図2】この考案の別の実施例による光半導体素子モジ
ュールを示す断面図である。
FIG. 2 is a sectional view showing an optical semiconductor device module according to another embodiment of the present invention.

【図3】この考案の別の実施例による光半導体素子モジ
ュールを示す断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing an optical semiconductor device module according to another embodiment of the present invention.

【図4】この考案の別の実施例による光半導体素子モジ
ュールを示す断面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing an optical semiconductor device module according to another embodiment of the present invention.

【図5】従来の光半導体素子を示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing a conventional optical semiconductor element.

【図6】従来の光半導体素子モジュールを示す断面図で
ある。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a conventional optical semiconductor device module.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光半導体素子チップ 3 ステム 4 キャップ 5 窓ガラス 104 黒色キャップ 105 反射膜付窓ガラス 106 インナーキャップ 121 黒色レンズホルダ 1 Optical Semiconductor Element Chip 3 Stem 4 Cap 5 Window Glass 104 Black Cap 105 Window Glass with Reflective Film 106 Inner Cap 121 Black Lens Holder

Claims (4)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 光半導体素子チップを気密パッケージに
封止し、レンズを介して光半導体素子チップと光ファイ
バとを光学的に結合、または、結合できるようにした光
半導体素子モジュールにおいて、窓ガラスとキャップと
ステムを備え、少なくとも窓ガラスとキャップとステム
とで光半導体素子チップを気密封止し、窓ガラスの中央
部の直径0.6mm以外の部分に反射膜を付け、上記窓
ガラスをキャップに固定し、窓ガラスを固定したキャッ
プの金属部分に黒色のメッキをしたことを特徴とする光
半導体素子モジュール。
1. An optical semiconductor element module in which an optical semiconductor element chip is sealed in an airtight package, and the optical semiconductor element chip and an optical fiber are optically coupled or can be coupled via a lens. The optical semiconductor element chip is hermetically sealed with at least the window glass, the cap and the stem, and a reflection film is attached to the central portion of the window glass other than the diameter of 0.6 mm to cap the window glass. An optical semiconductor element module characterized in that a metal part of a cap fixed to a window glass is fixed to the metal plate and black plating is applied thereto.
【請求項2】 光半導体素子チップを気密パッケージに
封止し、レンズを介して光半導体素子チップと光ファイ
バとを光学的に結合、または、結合できるようにした光
半導体素子モジュールにおいて、窓ガラスとキャップと
ステムと金属製のインナーキャップを備え、少なくとも
窓ガラスとキャップとステムとで光半導体素子チップを
気密封止し、上記窓ガラスをキャップに固定し、窓ガラ
スを固定したキャップの内側にインナーキャップを固定
し、上記インナーキャップに黒色メッキをしたことを特
徴とする光半導体素子モジュール。
2. An optical semiconductor element module in which an optical semiconductor element chip is sealed in an airtight package, and the optical semiconductor element chip and an optical fiber are optically coupled or can be coupled via a lens, in a window glass. And a cap, a stem and an inner cap made of metal, at least an optical semiconductor element chip is hermetically sealed with the window glass, the cap and the stem, the window glass is fixed to the cap, and the inside of the cap fixing the window glass is fixed. An optical semiconductor element module, wherein an inner cap is fixed, and the inner cap is plated with black.
【請求項3】 光半導体素子チップを気密パッケージに
封止し、レンズを介して光半導体素子チップと光ファイ
バとを光学的に結合、または、結合できるようにした光
半導体素子モジュールにおいて、窓ガラスとキャップと
ステムと金属製のレンズホルダを備え、少なくとも窓ガ
ラスとキャップとステムとで光半導体素子チップを気密
封止し、窓ガラスの中央部の直径0.6mm以外の部分
に反射膜を付け、上記窓ガラスをキャップに固定し、窓
ガラスを固定したキャップの金属部分に黒色のメッキを
し、レンズホルダの内面を黒色にし、レンズホルダにレ
ンズを固定したことを特徴とする光半導体素子モジュー
ル。
3. An optical semiconductor element module in which an optical semiconductor element chip is sealed in an airtight package, and the optical semiconductor element chip and an optical fiber are optically coupled or can be coupled via a lens. And a cap, a stem and a metal lens holder are provided, the optical semiconductor element chip is hermetically sealed with at least the window glass, the cap and the stem, and a reflection film is attached to the central portion of the window glass other than the diameter 0.6 mm An optical semiconductor element module characterized in that the window glass is fixed to a cap, the metal portion of the cap to which the window glass is fixed is plated with black, the inner surface of the lens holder is made black, and the lens is fixed to the lens holder. ..
【請求項4】 光半導体素子チップを気密パッケージに
封止し、レンズを介して光半導体素子チップと光ファイ
バとを光学的に結合、または、結合できるようにした光
半導体素子モジュールにおいて、窓ガラスとキャップと
ステムと金属製のインナーキャップと金属製のレンズホ
ルダを備え、少なくとも窓ガラスとキャップとステムと
で光半導体素子チップを気密封止し、上記窓ガラスをキ
ャップに固定し、窓ガラスを固定したキャップの内側に
インナーキャップを固定し、上記インナーキャップに黒
色メッキをし、レンズホルダの内面を黒色にし、レンズ
ホルダにレンズを固定したことを特徴とする光半導体素
子モジュール。
4. An optical semiconductor element module in which an optical semiconductor element chip is sealed in an airtight package, and the optical semiconductor element chip and an optical fiber are optically coupled or can be coupled via a lens. And a cap, a stem, a metal inner cap, and a metal lens holder are provided, and the optical semiconductor element chip is hermetically sealed with at least the window glass, the cap, and the stem, and the window glass is fixed to the cap. An optical semiconductor element module, wherein an inner cap is fixed inside the fixed cap, the inner cap is black-plated, the inner surface of the lens holder is black, and the lens is fixed to the lens holder.
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