JPH0583591A - Frame timing detecting circuit - Google Patents

Frame timing detecting circuit

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Publication number
JPH0583591A
JPH0583591A JP3243234A JP24323491A JPH0583591A JP H0583591 A JPH0583591 A JP H0583591A JP 3243234 A JP3243234 A JP 3243234A JP 24323491 A JP24323491 A JP 24323491A JP H0583591 A JPH0583591 A JP H0583591A
Authority
JP
Japan
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circuit
signal
value
timing
frame pulse
Prior art date
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Pending
Application number
JP3243234A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tadashi Oguma
忠志 小熊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba AVE Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba AVE Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba AVE Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH0583591A publication Critical patent/JPH0583591A/en
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Abstract

PURPOSE:To make it hard for the frame pulse detection performance to be influenced by the fluctuation of the C/N of a transmitting signal and to improve the stability. CONSTITUTION:A coarse detecting circuit 12 detects the prescribed pattern of a frame pulse (FP) signal. An integration counter in an FP gate generating circuit 19, while the frame pulse is detected, counts a clock, a comparator compares an integration counter value and a set value and at the time of the constant relation, outputs a detecting signal. Based on the detecting signal, in the system in which the subsequent timing signal generating means generated various kinds of the timing signal of the system, a set value control circuit 100 for comparison responds to the timing of immediately before and after the frame pulse signal starts, latches the above-mentioned integration counted value, prepares the integrated value monitoring data, switches the above- mentioned set value set to a comparator in accordance with the value of the integrated value monitoring data and in accordance with the C/N, the set value is adaptively switched.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、テレビジョン信号等
のフレームタイミングを検出するフレームタイミング検
出回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a frame timing detection circuit for detecting the frame timing of a television signal or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】我国における高品位テレビジョン放送方
式の1つとして、MUSE(multiplesub-Nyquist samp
ling encoding )方式がある。MUSE方式の信号伝
送フォーマットは、図6に示すようなフォーマットであ
り、同期信号としては、HD信号、フレームパルスがあ
る。図7はそのうちのフレームパルスを部分を取り出し
てその波形を示している。フレームパルス(FP)信号
は、第1ライン及び第2ラインの後半部に挿入されてお
り、映像信号振幅に等しい2値の変化をとる信号であ
る。フレームパルスは、4クロック毎にハイレベル
“H”とローレベル“L”を繰り返すパターンであり、
第1ラインと第2ラインでは反転した関係にある。HD
信号は水平同期をとる信号であり映像信号の前半部でか
つ各ラインに台形波の形で挿入されている。但し、ライ
ン間では反転した関係にある。さらに送信側と受信側の
信号レベルの基準を与えるものとして、MUSE信号の
各フィールドの終りのラインには、クランプレベル信号
が挿入されている。このクランプレベル信号により設定
されたレベルは、映像信号の中点振幅を示している。次
に、MUSE信号を受信して映像や音声を再生する場合
は、上述したような同期信号の位置を検出してシステム
の同期をかける必要がある。次に、上記したフレームパ
ルス信号を検出する回路を説明する。
2. Description of the Related Art As one of the high-definition television broadcasting systems in Japan, MUSE (multiple sub-Nyquist sampling)
ling encoding) method. The signal transmission format of the MUSE system is a format as shown in FIG. 6, and the sync signal includes an HD signal and a frame pulse. FIG. 7 shows the waveform by extracting a part of the frame pulse. The frame pulse (FP) signal is a signal that is inserted in the latter half of the first line and the second line and takes a binary change equal to the video signal amplitude. The frame pulse is a pattern in which a high level “H” and a low level “L” are repeated every 4 clocks.
The first line and the second line have an inverted relationship. HD
The signal is a signal for horizontal synchronization and is inserted in the first half of the video signal and in the form of a trapezoidal wave in each line. However, there is an inverted relationship between the lines. Further, a clamp level signal is inserted in the line at the end of each field of the MUSE signal to give a reference for the signal levels of the transmitting side and the receiving side. The level set by the clamp level signal indicates the midpoint amplitude of the video signal. Next, when receiving a MUSE signal and reproducing video and audio, it is necessary to detect the position of the synchronization signal as described above and synchronize the system. Next, a circuit for detecting the above frame pulse signal will be described.

【0003】図8において、入力端子11にはMUSE
信号(デジタル化されている)の最上位ビット(MS
B)が入力される。この最上位ビットは、フレームパル
ス粗検出回路12内部の1H遅延器12a、イクスクル
ーシブオア回路12c、12dの一端、4クロック遅延
器12bに入力される。イクスクルーシブオア回路12
c、12dの他端には、1H遅延器12a、4クロック
遅延器12bの出力が供給されている。なお1Hは1水
平走査期間である。次に、イクスクルーシブオア回路1
2c、12dの出力は、アンド回路12eに入力され
る。
In FIG. 8, the input terminal 11 is provided with MUSE.
Most significant bit (MS) of signal (which is digitized)
B) is input. The most significant bit is input to the 1H delay unit 12a inside the frame pulse coarse detection circuit 12, one end of the exclusive OR circuits 12c and 12d, and the 4-clock delay unit 12b. Exclusive or circuit 12
The outputs of the 1H delay device 12a and the 4 clock delay device 12b are supplied to the other ends of c and 12d. Note that 1H is one horizontal scanning period. Next, the exclusive OR circuit 1
The outputs of 2c and 12d are input to the AND circuit 12e.

【0004】フレームパルス信号は、図7に示すよう
に、他の映像等のラインと明確に区別できるように4ク
ロック分の“H”レベルと“L”レベルが交互に17ペ
ア繰り返しており、しかも1ライン目と2ライン目では
極性が反転している。この特徴(逆相関)を利用してフ
レームパルス信号の到来が検知される。即ち、フレーム
パルス信号が到来している間は、イクスクルーシブオア
回路12c、12dの出力は“H”レベルとなり、アン
ド回路12eの出力が“H”レベルとなり、フレームパ
ルス信号が到来しているらしいという粗検出が行われ
る。
In the frame pulse signal, as shown in FIG. 7, 17 pairs of "H" level and "L" level for 4 clocks are alternately repeated so that it can be clearly distinguished from other video lines. Moreover, the polarities of the first and second lines are reversed. The arrival of the frame pulse signal is detected by utilizing this feature (inverse correlation). That is, while the frame pulse signal arrives, the outputs of the exclusive OR circuits 12c and 12d become "H" level, the output of the AND circuit 12e becomes "H" level, and the frame pulse signal arrives. Rough detection is performed.

【0005】アンド回路12eの出力は、オア回路1
5、16を介してFPゲート発生回路19内の積分カウ
ンタ19aのクリア端子(CLR)に供給されるように
なっている。また、オア回路15の出力は積分カウンタ
19aのイネーブル入力端子(E)にも供給される。積
分カウンタ19aは、アンド回路12eの出力がローレ
ベルになるとクリアされ、ハイレベルになるとイネーブ
ルとなりカウントを介しする。アンド回路12eの出力
は、アンド回路17に入力されるとともに、2段接続さ
れたラッチ回路13、14群にも入力される。そしてラ
ッチ回路13、14の出力はまたアンド回路17に入力
されている。従ってアンド回路12eの出力が2クロッ
ク期間続くと、アンド回路17の出力はハイレベルとな
り、FP信号到来を示し、後で説明するアンド回路20
に入力される。まず、FPゲート発生回路19から説明
する。
The output of the AND circuit 12e is the OR circuit 1
The signal is supplied to the clear terminal (CLR) of the integration counter 19a in the FP gate generation circuit 19 via 5 and 16. The output of the OR circuit 15 is also supplied to the enable input terminal (E) of the integration counter 19a. The integration counter 19a is cleared when the output of the AND circuit 12e becomes low level, and is enabled when it becomes high level, and the counting is performed. The output of the AND circuit 12e is input to the AND circuit 17 and also to the group of latch circuits 13 and 14 connected in two stages. The outputs of the latch circuits 13 and 14 are also input to the AND circuit 17. Therefore, when the output of the AND circuit 12e continues for 2 clock periods, the output of the AND circuit 17 becomes high level, indicating the arrival of the FP signal, and the AND circuit 20 described later.
Entered in. First, the FP gate generation circuit 19 will be described.

【0006】図9はフレームパルス信号検出回路の動作
上のタイミングチャートである。今、同図(A)に示す
入力データがあり、同図(B)、(C)に示すように積
分カウンタ19aがイネーブルされ、一定期間後にクリ
アされるものとする。すると積分カウンタ19aのカウ
ント値は、同図(D)に示すようになる。ここで積分カ
ウンタ19aの出力は、比較器19bに入力され、所定
の値と比較される。積分カウンタ19aの出力が、所定
値を越えると、比較器19bの出力は、同図(E)に示
すように論理出力“H”となり、3クロック遅延器19
c、イクスクルーシブオア回路19dに入力される。イ
クスクルーシブオア回路19dには、3クロック遅延器
19cの出力も供給されている。そしてイクスクルーシ
ブオア回路19dの出力と、3クロック遅延器19cの
出力とはアンド回路19eに入力されている。このアン
ド回路19eの出力は遅延器19fにより遅延されて出
力される。この遅延器19fの出力は、図9(F)のよ
うに遅らされて出力され、アンド回路20に入力され
る。
FIG. 9 is a timing chart of the operation of the frame pulse signal detection circuit. Now, it is assumed that there is input data shown in (A) of the figure, the integration counter 19a is enabled as shown in (B) and (C) of the figure, and is cleared after a fixed period. Then, the count value of the integration counter 19a becomes as shown in FIG. Here, the output of the integration counter 19a is input to the comparator 19b and compared with a predetermined value. When the output of the integration counter 19a exceeds a predetermined value, the output of the comparator 19b becomes a logical output "H" as shown in FIG.
c, input to the exclusive OR circuit 19d. The output of the 3-clock delay unit 19c is also supplied to the exclusive OR circuit 19d. The output of the exclusive OR circuit 19d and the output of the 3-clock delay device 19c are input to the AND circuit 19e. The output of the AND circuit 19e is delayed by the delay device 19f and output. The output of the delay device 19f is delayed and output as shown in FIG. 9 (F), and input to the AND circuit 20.

【0007】アンド回路回路20には、前述したアンド
回路17からの出力が供給されている。アンド回路17
の出力は、図9(G)のようなタイミングである。この
結果、アンド回路20からは、2クロック幅のパルスが
得られる。このパルスは、エッジ検出回路21に入力さ
れる。これによりエッジ検出回路21からは、図9
(H)に示すようなエッジ検出パルスが出力される。
The output from the above-mentioned AND circuit 17 is supplied to the AND circuit 20. AND circuit 17
Is output at the timing shown in FIG. 9 (G). As a result, a pulse having a width of 2 clocks is obtained from the AND circuit 20. This pulse is input to the edge detection circuit 21. As a result, the edge detection circuit 21 outputs from FIG.
An edge detection pulse as shown in (H) is output.

【0008】なお、ラッチ回路13、14を設けている
のは、積分カウンタ19aのイネーブル状態や、クリア
動作がノイズなどの入力エラーに影響されないようにす
るためである。つまり、C/Nが低下してもFP粗検出
回路19の動作が正確に得られるようにしている。
The latch circuits 13 and 14 are provided in order to prevent the enable state of the integration counter 19a and the clear operation from being affected by an input error such as noise. That is, the operation of the FP coarse detection circuit 19 can be accurately obtained even if the C / N decreases.

【0009】エッジ検出回路21の出力は、同期判定回
路25及びナンド回路22に入力される。同期判定回路
25は、タイミング発生回路24で発生している内部F
P信号(先のエッジ検出パルスと同じようなパルス)と
の位相比較を行う。両者の位相が一致している場合は、
ローレベルを出力し、ナンド回路22に入力している。
従って、ナンド回路22の出力は、同期状態のときは、
常にハイレベルである。しかし、非同期状態のときは、
同期判定回路25の出力は、ハイレベルとなる。すると
ナンド回路22は、エッジ検出パルス(負)が得られた
ときにクリアパルスを出力する。これにより、システム
カウンタ23はクリアされ強制的にエッジ検出パルスの
タイミングでリセットされることになる。これによりシ
ステムカウンタ23の出力でアドレスが指定され各種タ
イミングパルスを発生しているタイミング発生回路24
のパルス出力タイミングもエッジ検出パルスに同期して
所定のパターンモードで出力されることになる。なお、
システムの安定化を図るために同期判定回路25では、
内部FP信号と、エッジ検出パルスとの同期ずれが15
フレーム続いた場合に、非同期状態として判定するよう
にしている。
The output of the edge detection circuit 21 is input to the synchronization determination circuit 25 and the NAND circuit 22. The synchronization determination circuit 25 uses the internal F generated by the timing generation circuit 24.
A phase comparison is performed with the P signal (a pulse similar to the above edge detection pulse). If the phases of both are the same,
The low level is output and input to the NAND circuit 22.
Therefore, the output of the NAND circuit 22 is
Always high level. However, in the asynchronous state,
The output of the synchronization determination circuit 25 becomes high level. Then, the NAND circuit 22 outputs a clear pulse when the edge detection pulse (negative) is obtained. As a result, the system counter 23 is cleared and forcibly reset at the timing of the edge detection pulse. As a result, the timing generation circuit 24, in which an address is designated by the output of the system counter 23 and various timing pulses are generated,
The pulse output timing of is also output in a predetermined pattern mode in synchronization with the edge detection pulse. In addition,
In order to stabilize the system, the synchronization determination circuit 25
The synchronization deviation between the internal FP signal and the edge detection pulse is 15
When a frame continues, it is determined as an asynchronous state.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上記した従来のフレー
ムタイミング検出回路によると、積分カウンタ19aの
出力が供給される比較器19bに設定されている所定値
は、常に固定の値である。しかし、このために伝送C/
N値の変動によっては、積分カウンタ19aのスタート
タイミングにずれが生じることがある。とくにカウンタ
イネーブル信号の前縁にエラーが複数生じたような場合
にこの影響が大きい。このために、従来の回路である
と、伝送信号のC/N値変動に対するフレームパルス検
出精度が劣っている。そこでこの発明は、伝送信号のC
/Nの変動によりフレームパルス検出性能に影響を受け
にくいフレームタイミング検出回路を提供することを目
的とする。
According to the conventional frame timing detection circuit described above, the predetermined value set in the comparator 19b to which the output of the integration counter 19a is supplied is always a fixed value. However, because of this, the transmission C /
The start timing of the integration counter 19a may deviate depending on the change of the N value. This effect is particularly great when multiple errors occur at the leading edge of the counter enable signal. Therefore, the conventional circuit is inferior in the frame pulse detection accuracy with respect to the C / N value fluctuation of the transmission signal. Therefore, the present invention uses the C
It is an object of the present invention to provide a frame timing detection circuit that is unlikely to be affected by the frame pulse detection performance due to a change in / N.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】この発明は、フレームパ
ルス信号の所定のパターンを検出する粗検出手段と、こ
の粗検出手段がフレームパルスを検出している期間にク
ロックをカウントする積分カウンタ手段と、この積分カ
ウンタ手段の出力カウント値と設定値を比較することに
より、この設定値に対して前記積分値が所定の関係にな
ったかどうかを判定した比較結果信号を出力する比較手
段と、この比較手段から得られる前記比較結果信号に基
づいてシステムの各種タイミング信号を生成するタイミ
ング信号生成手段とを備えたフレームタイミング検出回
路において、前記タイミング信号生成手段により前記フ
レームパルス信号の開始直前と、終りのタイミングに対
応するクリアパルス、ラッチパルスを生成し、このクリ
アパルス、ラッチパルスに応答して前記積分値をラッチ
する積分値監視データを作成する手段と、前記積分値監
視データの値に応じて、前記比較手段に設定する前記設
定値を切り換える手段とを備えるものである。
According to the present invention, there is provided coarse detection means for detecting a predetermined pattern of a frame pulse signal, and integral counter means for counting a clock while the coarse detection means is detecting a frame pulse. Comparing means for comparing the output count value of the integration counter means with a set value to output a comparison result signal for determining whether the integrated value has a predetermined relationship with the set value; In a frame timing detection circuit having timing signal generating means for generating various timing signals of the system based on the comparison result signal obtained from the means, the timing signal generating means allows the timing of immediately before and at the end of the frame pulse signal. Generate a clear pulse and a latch pulse corresponding to the timing. And a means for generating integrated value monitoring data for latching the integrated value in response to a loss, and a means for switching the set value set in the comparing means in accordance with the value of the integrated value monitoring data. ..

【0012】[0012]

【作用】上記の手段は、積分カウンタ手段のカウント値
がC/Nの状態に応じて変わることを利用している。つ
まり、積分カウンタの値は、フレームパルス期間におい
てノイズの影響でリセットが生じたりすると、本来ある
べき値から狂ってくる。そこで、積分値監視データから
その狂いを判定し、本来の値分の検出タイミングを補正
すべく前記設定値を切り換えものである。これにより、
伝送信号のC/Nの悪化(ノイズの影響等)で積分カウ
ンタの積分値が所定時間内に設定値に到達しなくても、
FPゲートパルスを発生するタイミングが遅れるような
ことはない。
The above means utilizes the fact that the count value of the integral counter means changes depending on the state of C / N. In other words, the value of the integration counter deviates from the original value when reset occurs due to noise during the frame pulse period. Therefore, the deviation is determined from the integrated value monitoring data, and the set value is switched to correct the detection timing of the original value. This allows
Even if the integral value of the integral counter does not reach the set value within a predetermined time due to the deterioration of the C / N of the transmission signal (effect of noise, etc.),
There is no delay in the timing of generating the FP gate pulse.

【0013】[0013]

【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照して説
明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0014】図1はこの発明の一実施例であり、図2に
は、この実施例の要部となる比較用設定値制御回路10
0の構成を詳しく示している。また、図3には図1及び
図2に示した回路のタイミングチャートを示している。
図1おいて、図8の回路と同じ機能の部分には、同一符
号を付している。従って、図8の回路と異なる部分につ
いて説明することにする。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a comparison set value control circuit 10 which is an essential part of this embodiment.
The configuration of 0 is shown in detail. Further, FIG. 3 shows a timing chart of the circuits shown in FIGS.
In FIG. 1, parts having the same functions as those of the circuit of FIG. 8 are designated by the same reference numerals. Therefore, only the parts different from the circuit of FIG. 8 will be described.

【0015】まずオア回路16の出力(FPゲート発生
回路19内の積分カウンタ19aのクリアパルス)は、
ラッチ回路18を介してFPゲート発生回路19に供給
されている。またオア回路16の出力が、比較用設定値
制御回路100に入力されている。
First, the output of the OR circuit 16 (clear pulse of the integration counter 19a in the FP gate generation circuit 19) is
It is supplied to the FP gate generation circuit 19 via the latch circuit 18. The output of the OR circuit 16 is input to the comparison set value control circuit 100.

【0016】比較用設定値制御回路100は、入力信号
のC/N状態をFPゲート発生回路19内の積分カウン
タ19a内容から判断し、FPゲート発生回路19内部
の比較器19bに与える設定値を切り換えることができ
る。C/N状態は悪い場合には、設定値(スレッショー
ルド値)を低下させ、C/N状態が良い場合は標準の値
にする方向へ切り換え制御する。
The comparison set value control circuit 100 judges the C / N state of the input signal from the contents of the integral counter 19a in the FP gate generation circuit 19, and sets the set value to be given to the comparator 19b in the FP gate generation circuit 19. It can be switched. When the C / N state is bad, the set value (threshold value) is lowered, and when the C / N state is good, the control is switched to the standard value.

【0017】従って比較用設定値制御回路100には、
FPゲート発生回路19から積分カウンタ19aのカウ
ント値が入力される。比較用設定値制御回路100内部
には、図2でも説明するように、プリセット回路、ラッ
チ回路等が含まれる。このため比較用制御回路100の
動作タイミングを制御するために、端子101からはパ
ワーオンリセット信号、タイミング発生回路24からの
クリア信号、クロック信号等が入力されている。
Therefore, the comparison set value control circuit 100 includes
The count value of the integration counter 19a is input from the FP gate generation circuit 19. Inside the comparison set value control circuit 100, a preset circuit, a latch circuit, and the like are included as described in FIG. Therefore, in order to control the operation timing of the comparison control circuit 100, a power-on reset signal, a clear signal from the timing generation circuit 24, a clock signal, etc. are input from the terminal 101.

【0018】図2において、比較用設定値制御回路10
0の内部について説明する。パワーオンリセット信号
は、ラッチ回路26cのプリセット端子/PRに供給さ
れる。するとラッチ回路26cは、出力データがオール
“0”となる、8ビットであるから“FFH ”となる。
この値は、データ変換回路26dにアドレスとして与え
られる。データ変換回路26dから読み出されたデータ
は、2ビットであり、ラッチ回路26eにシステムクロ
ックのタイミングでラッチされる。ラッチ回路26eの
出力は、セレクタ26fに制御信号として与えられる。
この制御信号が与えられると、セレクタ26fは比較器
19bに対する設定値(初期設定スレッショルド値)を
与える。
In FIG. 2, the comparison set value control circuit 10 is shown.
The inside of 0 will be described. The power-on reset signal is supplied to the preset terminal / PR of the latch circuit 26c. Then, the latch circuit 26c becomes "FFH" because the output data is all "0" and it is 8 bits.
This value is given to the data conversion circuit 26d as an address. The data read from the data conversion circuit 26d has 2 bits and is latched by the latch circuit 26e at the timing of the system clock. The output of the latch circuit 26e is given to the selector 26f as a control signal.
When this control signal is given, the selector 26f gives a set value (initial setting threshold value) to the comparator 19b.

【0019】この後、フレームパルスが検出され、シス
テムの同期がかかるまでは、同期判定回路25の出力
は、“L”レベルとなっており、従って、アンド回路2
7(図1)からはラッチパルスは得られない。よって初
期設定スレッショルド値が維持される。同期がロックす
ると、フレームパルス期間の直前で、タイミング発生回
路24からクリアパルスが得られる。このクリアパルス
は、ラッチ回路26bをクリアする。これは、フレーム
パルス信号の直前のタイミングである。次に、オア回路
16から、反転器26gを通してラッチパルスが与えら
れる。
After that, until the frame pulse is detected and the system is synchronized, the output of the synchronization determination circuit 25 is at the "L" level, and therefore the AND circuit 2 is used.
No latch pulse is obtained from 7 (FIG. 1). Therefore, the initial setting threshold value is maintained. When the synchronization is locked, a clear pulse is obtained from the timing generation circuit 24 immediately before the frame pulse period. This clear pulse clears the latch circuit 26b. This is the timing immediately before the frame pulse signal. Next, a latch pulse is applied from the OR circuit 16 through the inverter 26g.

【0020】すると、ラッチ回路26bには積分カウン
タ19aのカウント値がラッチされる。オア回路16の
出力にエラーが無い場合は、フレームパルス期間の終り
に積分カウンタ19aの値をラッチすることになる。し
かし、オア回路16の出力にエラーが会った場合、つま
りアンド回路12e(図8参照)の出力が連続して3ク
ロック以上“L”の場合、フレームパルス信号期間の途
中で積分カウンタ19aがクリアされるので、フレーム
パルス信号期間の終りでの積分カウント値は、エラーの
ない場合に比べて小さい。従って、フレームパルス期間
において、エラーがあると積分カウンタ19aはクリア
される可能性があるために、フレームパルス期間でトー
タル幾つカウントされたかを加算する必要がある。この
ために、ラッチ回路26bの入力側には加算器26aが
設けられている。そしてこの加算器26aの出力がラッ
チ回路26bに入力されるようになっている。すると、
エラーが生じた場合は、積分カウンタ19aはリセット
され、再度積分を介しするが、エラーが生じる前のカウ
ント値はラッチ回路26bにラッチされ、次の積分値が
加算器26aにて加算されるようになる。従って、積分
カウンタ19aがエラーのためにリセットされたとして
も、今までの積分値が無駄になることはなく、フレーム
パルスの終りではこれを初期値とした値がラッチ回路2
6bでラッチされることになる。しかし、先にも説明し
たように、正常な場合の最終的なラッチデータに比べ
て、エラーが生じた場合のラッチデータはその値が小さ
くなる。従って、このシステムでは、このような現象
は、C/Nが悪化しているものとして判定し、比較器1
9bにおける設定値を切り換えるようにし、積分カウン
ト値が低くてもエッジ検出が得られるようにしている。
図3は、この実施例の各部のタイミング信号である。各
信号の発生位置は、図2の各部に示した通りである。
Then, the latch circuit 26b latches the count value of the integral counter 19a. If there is no error in the output of the OR circuit 16, the value of the integration counter 19a will be latched at the end of the frame pulse period. However, when an error is encountered in the output of the OR circuit 16, that is, when the output of the AND circuit 12e (see FIG. 8) is continuously "L" for 3 clocks or more, the integration counter 19a is cleared in the middle of the frame pulse signal period. Therefore, the integrated count value at the end of the frame pulse signal period is smaller than that in the case where there is no error. Therefore, if there is an error in the frame pulse period, the integration counter 19a may be cleared, so it is necessary to add the total number of counts in the frame pulse period. Therefore, the adder 26a is provided on the input side of the latch circuit 26b. The output of the adder 26a is input to the latch circuit 26b. Then,
When an error occurs, the integral counter 19a is reset and the integration is performed again. However, the count value before the error occurs is latched by the latch circuit 26b, and the next integral value is added by the adder 26a. become. Therefore, even if the integration counter 19a is reset due to an error, the integration value so far is not wasted, and at the end of the frame pulse, a value having this as an initial value is used as the latch circuit 2.
It will be latched at 6b. However, as described above, the value of the latch data when an error occurs is smaller than the final latch data when the error is normal. Therefore, in this system, such a phenomenon is judged as the C / N being deteriorated, and the comparator 1
The set value in 9b is switched so that edge detection can be obtained even if the integrated count value is low.
FIG. 3 is a timing signal of each part of this embodiment. The generation position of each signal is as shown in each part of FIG.

【0021】以上の構成により、C/Nが高い状態で
は、データのエラーが少ないためにFP信号の誤り検出
の防止を強化でき、動作の安定を増すことができる。伝
送C/Nが低い状態では、データのエラーが多く、FP
信号の検出が困難であるが、設定値(スレッョルド値)
を低く設定することによりFP信号の検出限界を下げる
ことができた。よって伝送信号のC/N変動に対するフ
レームパルス信号検出の動作の性能を改善できた。この
発明は上記の実施例に限定されるものではない。
With the above configuration, when the C / N is high, the error detection of the FP signal can be strengthened because the data error is small, and the stability of the operation can be increased. When the transmission C / N is low, there are many data errors and FP
Signal detection is difficult, but set value (threshold value)
It was possible to lower the detection limit of the FP signal by setting a low value. Therefore, the operation performance of the frame pulse signal detection with respect to the C / N fluctuation of the transmission signal can be improved. The present invention is not limited to the above embodiments.

【0022】図4はこの発明の他の実施例における要部
のみを示している。基本的な構成は、図1、図2の回路
と同じであるから同一符号を付して、異なる部分のみを
説明する。この実施例では、制御信号を得る場合、デー
タ変換回路26dの出力をラッチ回路26eでラッチし
たのち、データ変換回路26dの上位のアドレスに戻す
ようにしている。このようにすると、データ変換回路2
6dの出力特性に、図4に示すようなヒステリシス特性
を持たせることができる。このような特性であると、デ
ータ変換回路26dの出力の変化点付近で振動したとし
ても安定したデータ変換を実現できる。
FIG. 4 shows only the essential parts of another embodiment of the present invention. Since the basic configuration is the same as that of the circuits of FIGS. 1 and 2, the same reference numerals are given and only different portions will be described. In this embodiment, when the control signal is obtained, the output of the data conversion circuit 26d is latched by the latch circuit 26e and then returned to the higher address of the data conversion circuit 26d. In this way, the data conversion circuit 2
The output characteristic of 6d can have a hysteresis characteristic as shown in FIG. With such a characteristic, stable data conversion can be realized even if vibration occurs near the change point of the output of the data conversion circuit 26d.

【0023】図5を参照して説明する。ラッチ回路26
eのラッチ出力値が、例えば0からBに変化したとする
と、データ変換回路26dの出力が0から1に変わり、
それが上位のアドレスにフィードバックされるために、
データ変換回路26dの入力アドレスに対する出力デー
タの関係が切り替わり、次に検出されたラッチ回路26
cの出力がBからAまで下がらないと出力が1から0へ
変化しないことになる。従ってラッチ回路26cの出力
が、A,B,…F点の付近で振動したとしてもデータ変
換回路26dの出力は安定することになる。これによ
り、FP検出動作の安定性を一層高めることができる。
Description will be made with reference to FIG. Latch circuit 26
If the latch output value of e changes from 0 to B, for example, the output of the data conversion circuit 26d changes from 0 to 1,
In order for it to be fed back to higher addresses,
The relationship of the output data with respect to the input address of the data conversion circuit 26d is switched, and the latch circuit 26 detected next is detected.
If the output of c does not drop from B to A, the output does not change from 1 to 0. Therefore, even if the output of the latch circuit 26c vibrates near points A, B, ... F, the output of the data conversion circuit 26d will be stable. Thereby, the stability of the FP detection operation can be further enhanced.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上説明したようにこの発明は、伝送信
号のC/Nの変動によりフレームパルス検出性能に影響
を受けにくく、安定性を向上することができる。
As described above, according to the present invention, the frame pulse detection performance is hardly affected by the fluctuation of the C / N of the transmission signal, and the stability can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例を示す回路図。FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1の回路の要部を取り出して示す回路図。FIG. 2 is a circuit diagram showing an essential part of the circuit of FIG.

【図3】図1の回路の動作を説明するために示したタイ
ミングチャート。
FIG. 3 is a timing chart shown to explain the operation of the circuit of FIG.

【図4】この発明の他の実施例における要部を示す図。FIG. 4 is a diagram showing a main part in another embodiment of the present invention.

【図5】図4の回路の動作特性を説明するために示した
図。
5 is a diagram shown for explaining the operating characteristics of the circuit of FIG. 4;

【図6】MUSE信号の伝送フォーマットを説明するた
めに示した図。
FIG. 6 is a diagram shown for explaining a transmission format of a MUSE signal.

【図7】フレームパルス信号の波形を示す図。FIG. 7 is a diagram showing a waveform of a frame pulse signal.

【図8】従来のフレームタイミング検出回路を示す図。FIG. 8 is a diagram showing a conventional frame timing detection circuit.

【図9】図8の回路の動作を説明するために示したタイ
ミングチャート。
9 is a timing chart shown for explaining the operation of the circuit of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12…FP(フレームパルス)粗検出回路、13、1
4、18、20…ラッチ回路、15、16…オア回路、
17、20、27…アンド回路、19…FPゲート発生
回路、21…エッジ検出回路、22…ナンド回路、23
…システムカウンタ、24…タイミング発生回路、25
…同期判定回路、100…比較用設定値制御回路。
12 ... FP (frame pulse) coarse detection circuit, 13, 1
4, 18, 20 ... Latch circuit, 15, 16 ... OR circuit,
17, 20, 27 ... AND circuit, 19 ... FP gate generation circuit, 21 ... Edge detection circuit, 22 ... NAND circuit, 23
... system counter, 24 ... timing generation circuit, 25
... synchronization determination circuit, 100 ... comparison set value control circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】フレームパルス信号の所定のパターンを検
出する粗検出手段と、この粗検出手段がフレームパルス
を検出している期間にクロックをカウントする積分カウ
ンタ手段と、この積分カウンタ手段の出力カウント値と
設定値を比較することにより、この設定値に対して前記
積分値が所定の関係になったかどうかを判定した比較結
果信号を出力する比較手段と、この比較手段から得られ
る前記比較結果信号に基づいてシステムの各種タイミン
グ信号を生成するタイミング信号生成手段とを備えたフ
レームタイミング検出回路において、 前記タイミング信号生成手段により前記フレームパルス
信号の開始直前と、終りのタイミングに対応するクリア
パルス、ラッチパルスを生成し、このクリアパルス、ラ
ッチパルスに応答して前記積分値をラッチする積分値監
視データを作成する手段と、 前記積分値監視データの値に応じて、前記比較手段に設
定する前記設定値を切り換える手段とを具備したことを
特徴とするフレームタイミング検出回路。
1. A coarse detection means for detecting a predetermined pattern of a frame pulse signal, an integration counter means for counting a clock during a period during which the coarse detection means detects a frame pulse, and an output count of the integration counter means. Comparing means for outputting a comparison result signal for judging whether or not the integrated value has a predetermined relationship with the set value by comparing the value with the set value; and the comparison result signal obtained from the comparing means. In a frame timing detection circuit including timing signal generating means for generating various timing signals of the system based on the above, a clear pulse corresponding to the timing of the start and end timing of the frame pulse signal by the timing signal generating means, a latch Pulse is generated, and the integrated value is calculated in response to the clear pulse and latch pulse. A frame timing detection circuit comprising: means for generating integrated value monitoring data to be latched; and means for switching the set value set in the comparing means in accordance with the value of the integrated value monitoring data.
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