JPH0581697U - Appearance inspection device - Google Patents
Appearance inspection deviceInfo
- Publication number
- JPH0581697U JPH0581697U JP2718392U JP2718392U JPH0581697U JP H0581697 U JPH0581697 U JP H0581697U JP 2718392 U JP2718392 U JP 2718392U JP 2718392 U JP2718392 U JP 2718392U JP H0581697 U JPH0581697 U JP H0581697U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspected
- distribution
- article
- image sensor
- defective
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 物品の被検査面を画像センサによって撮像
し、この画像センサの画像情報から得られた被検査面の
明度分布に基づいて、物品の外観不良を検査する外観検
査装置において、透明包装体等の外観検査を内容物表面
に影響を受けないように行なう。
【構成】 光源２３から物品Ｗの透明フィルムの被検査
面Ｗａに所定角度θで入射される光は、被検査面Ｗａを
一様に光らせ、その正反射光は、画像センサ２４に入射
される。画像センサ２４で撮像された画像データはメモ
リ３２に記憶され、明度分布演算手段３４によって、そ
の画像データの明度分布が算出され、この明度分布の分
散が算出される。明度分布および分散が良品の分布パタ
ーンおよび良品範囲内にあれば、この物品の被検査面Ｗ
ａは良品と判定され、分布パターンが異なるか、分散が
良品範囲内にない場合には、被検査面Ｗａに外観不良が
あると判定される。
(57) [Abstract] [Purpose] Visual inspection for inspecting defective appearance of an article based on the brightness distribution of the inspected surface obtained by imaging the inspected surface of the article with an image sensor. Appearance inspection of transparent packaging etc. shall be conducted in the device so that the surface of the contents is not affected. A light incident from a light source 23 onto a surface to be inspected Wa of a transparent film of an article W at a predetermined angle θ uniformly illuminates the surface to be inspected Wa, and the specularly reflected light is incident on an image sensor 24. . The image data picked up by the image sensor 24 is stored in the memory 32, the lightness distribution calculation means 34 calculates the lightness distribution of the image data, and the variance of the lightness distribution is calculated. If the lightness distribution and dispersion are within the good product distribution pattern and good product range, the surface W to be inspected of this product
It is determined that a is a non-defective product, and if the distribution pattern is different or the dispersion is not within the non-defective range, it is determined that the inspected surface Wa has a poor appearance.
Description
【０００１】[0001]
本考案は、例えばライン搬送される物品を画像センサで撮像し、この画像情報 に基づいて、物品の外観不良を検査する外観検査装置に関する。 The present invention relates to an appearance inspection device that takes an image of an article conveyed in a line with an image sensor and inspects the appearance of the article based on the image information.
【０００２】[0002]
例えば、工場等の製品ラインでは、製品表面にキズや汚れあるいは欠損や欠品 等の外観上の不良がないか否かを、製品搬送中に自動判別するために従来より図 １４に示す外観検査装置１０が用いられている。 For example, in a product line of a factory or the like, a visual inspection shown in FIG. 14 has been conventionally performed in order to automatically determine whether or not there is a defect on the surface of the product such as scratches, stains, defects or missing items during the product transportation. The device 10 is used.
【０００３】 この外観検査装置１０は、コンベア１の両側に対向配置された投光器１１、受 光器１２と、ＣＣＤカメラ等の画像センサ１３と、物品Ｗが投受光器間を通過し て、その被検査面Ｗａが画像センサ１３の前に達するタイミングに、画像センサ １３の画像データを取込んでデータ処理を行なうデータ処理部１４と、データ処 理部１４からの処理結果に基づいて、物品Ｗの被検査面Ｗａに外観不良があるか 否かを判定する判定部１５とを有している。The appearance inspection apparatus 10 includes a light projector 11 and a light receiver 12, which are arranged on opposite sides of the conveyor 1, facing each other, an image sensor 13 such as a CCD camera, and an article W passing between the light emitter and the light receiver. At the timing when the surface Wa to be inspected reaches the front of the image sensor 13, the data processing unit 14 that takes in the image data of the image sensor 13 and performs data processing, and the product W based on the processing result from the data processing unit 14. And a determination unit 15 that determines whether or not the surface Wa to be inspected has an appearance defect.
【０００４】 データ処理部１４は、取込んだ画像データの各画素の２値判定（例えば所定の 明るさより明るい画素には“１”、暗い画素には“０”のデータを割当てる）を 行ない、その“１”のデータ数を処理結果として判定部１５へ出力する。The data processing unit 14 performs binary determination of each pixel of the captured image data (for example, assigns “1” data to pixels brighter than a predetermined brightness and “0” data to dark pixels), The number of data of "1" is output to the determination unit 15 as a processing result.
【０００５】 判定部１５は、この判定結果が、予め記憶されている良品の“１”のデータ数 と等しいか、あるいは良品範囲内にあれば、この物品Ｗを良品と判定し、良品デ ータ数と異なる場合、あるいは良品範囲外の場合には、不良と判定する。If the determination result is equal to the number of data of “1” of the non-defective product stored in advance or within the range of the non-defective product, the determination unit 15 determines the product W as the non-defective product and determines the non-defective product data. If it is different from the number of data, or if it is out of the non-defective range, it is determined as defective.
【０００６】 判定部１５で不良と判定された物品は、後続ラインの選別機（図示せず）によ ってライン上から排除される。The article determined to be defective by the determination unit 15 is removed from the line by a sorting machine (not shown) in the subsequent line.
【０００７】 ところが、このような各画素の２値判定処理では、外光の変動を受けやすく、 正確な判別が困難である。However, in such a binary determination process of each pixel, it is difficult to make an accurate determination because the variation of external light is likely to occur.
【０００８】 このため、データ処理部１４において画素の明度分布とその分散を求め、得ら れた分散値を良品の分散値と比較することによって良否の判定を行なう外観処理 装置（特開平３−２８０１６５）も本願出願人によって提案されている。Therefore, the data processing unit 14 obtains the brightness distribution of pixels and the variance thereof, and compares the obtained variance value with the variance value of a non-defective product to determine whether the appearance is good or bad (Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 3- 280165) has also been proposed by the applicant.
【０００９】 この方法は、外光変動（図１５では外光量の低化変動）があっても、画像デー タの明度分布特性Ｇは、図１５に示すように平行にシフトするだけで、その分散 値が変化しないことを利用したものであり、外光変動に左右されない正確な良否 判別を行なうことができる。According to this method, even if there is an external light fluctuation (lowering fluctuation of the external light amount in FIG. 15), the brightness distribution characteristic G of the image data is simply shifted in parallel as shown in FIG. The fact that the dispersion value does not change is used, and accurate pass / fail judgment can be performed without being affected by changes in outside light.
【００１０】[0010]
しかしながら、このような明度分布の分散によって物品の被検査面の外観の良 否を判定する外観検査装置であっても、透明フィルムで包装された物品の透明フ ィルム自身のキズや破れ等を検査することは困難であった。 However, even with an appearance inspection device that determines the quality of the appearance of the inspected surface of an article by such dispersion of the brightness distribution, it is possible to inspect the transparent film itself for scratches and tears of the transparent film packaged article. It was difficult to do.
【００１１】 即ち、従来装置では、透明フィルムに破れや穴等があっても、その内容物表面 の画像データに対する影響が極めて少ないため、明度分布の変化が認められず良 品と判定してしまう。That is, in the conventional device, even if the transparent film has a tear or a hole, the influence on the image data on the surface of the content is extremely small, and therefore the change in the lightness distribution is not recognized and it is determined as a good product. ..
【００１２】 このため、このような物品に対するフィルム包装の検査は、人手による目視検 査にたよっているのが現状であった。For this reason, the present situation is that the inspection of the film packaging for such articles is performed by visual inspection by hand.
【００１３】 本考案は、この課題を解決した外観検査装置を提供することを目的としている 。An object of the present invention is to provide a visual inspection device that solves this problem.
【００１４】[0014]
前記課題を解決するために、本考案の外観検査装置は、 物品の被検査面を画像センサによって撮像し、該画像センサからの画像情報か ら得られた前記被検査面の明度分布に基づいて、前記物品の外観不良を検査する 外観検査装置において、 前記被検査面に光を所定角度で照射する光源を有し、 前記画像センサを、前記光源による前記被検査面からの正反射光を受ける位置 に配置している。 In order to solve the above-mentioned problems, the appearance inspection apparatus of the present invention takes an image of a surface to be inspected of an article by an image sensor, and based on the brightness distribution of the surface to be inspected obtained from image information from the image sensor. In the appearance inspection device for inspecting the appearance defect of the article, the device includes a light source that irradiates the surface to be inspected with light at a predetermined angle, and the image sensor receives specular reflection light from the surface to be inspected by the light source. It is located in the position.
【００１５】[0015]
このように構成したため、本考案の外観検査装置では、物品の被検査体面に照 射された光源からの正反射光が画像センサで撮像されるため、被検査面が透明体 であっても、その外観の良否を判定することができる。 With such a configuration, in the visual inspection apparatus of the present invention, since the specularly reflected light from the light source illuminated on the surface of the article to be inspected is imaged by the image sensor, even if the surface to be inspected is a transparent body, The quality of the appearance can be determined.
【００１６】[0016]
以下、図面に基づいて本考案の一実施例を説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【００１７】 図１は、一実施例の外観検査装置２０の正面図、図２はその側面図を示してい る。FIG. 1 is a front view of a visual inspection apparatus 20 of one embodiment, and FIG. 2 is a side view thereof.
【００１８】 この外観検査装置２０は、例えば透明フィルムで包装された物品Ｗの上面側を 被検査面Ｗａとし、そのフィルムのキズや破れ等の有無を判別するためのもので あって、コンベア１の側方に筐体２１の前面２１ａが近接するように配置されて いる。The appearance inspection apparatus 20 is used to determine the presence or absence of scratches, tears, or the like on the upper surface of an article W packaged with a transparent film as a surface to be inspected Wa, and the conveyor 1 The front surface 21a of the housing 21 is disposed on the side of the box so as to be close to it.
【００１９】 筐体２１の搬入側の側面２１ｂには、物品Ｗの通過を検出するための反射型の 通過センサ２２が取付けられている。A reflection-type passage sensor 22 for detecting passage of the article W is attached to the side surface 21 b on the carry-in side of the housing 21.
【００２０】 コンベア１の上方へ僅かに突出された上部前面２１ｃには、光源２３と、ＣＣ Ｄカメラ等の画像センサ２４が取付けられている。A light source 23 and an image sensor 24 such as a CCD camera are attached to an upper front surface 21c slightly protruding above the conveyor 1.
【００２１】 光源２３は、コンベア１上を搬送して筐体２１の正面のほぼ中央に達した物品 Ｗの被検査面Ｗａに対し、所定角度θで光を一様に照射する位置に予め固定され ている。The light source 23 is preliminarily fixed at a position where the light is uniformly irradiated at a predetermined angle θ with respect to the inspected surface Wa of the article W which has been conveyed on the conveyor 1 and has reached almost the center of the front surface of the housing 21. Has been done.
【００２２】 一方、画像センサ２４は、この物品Ｗの被検査面Ｗａから同一角度θで反射す る光（正反射光）を受ける位置に予め固定されている。On the other hand, the image sensor 24 is fixed in advance at a position where it receives light (regularly reflected light) reflected from the surface Wa to be inspected of the article W at the same angle θ.
【００２３】 したがって、物品Ｗが良品の場合、図３に示すように、被検査面Ｗａに照射さ れる光は、ほぼ均一に反射されるため、画像センサ２４側からみた被検査面Ｗａ は、フィルムの高い反射率によって全体が一様に光った状態となる。また、光源 ２３からの光の照射範囲は、被検査面Ｗａより広い範囲に設定され、画像センサ ２４の撮像範囲も、図４に示すように被検査面Ｗａより広く設定されている。Therefore, when the article W is a non-defective article, as shown in FIG. 3, the light irradiated on the surface Wa to be inspected is reflected almost uniformly, so that the surface Wa to be inspected viewed from the image sensor 24 side is Due to the high reflectance of the film, the entire surface is in a uniformly lit state. Further, the irradiation range of the light from the light source 23 is set wider than the inspected surface Wa, and the imaging range of the image sensor 24 is also set wider than the inspected surface Wa as shown in FIG.
【００２４】 画像センサ２４の画像信号は、図５に示すように、通過センサ２２の出力とと もにデータ処理部３０へ入力される。The image signal of the image sensor 24 is input to the data processing unit 30 together with the output of the passage sensor 22, as shown in FIG.
【００２５】 データ処理部３０は、１つの被検査面の画像信号をＡ／Ｄ変換器３１によって ディジタル値に変換して、１画素単位の画像データとして、メモリ３２へ記憶さ せる。このデータの記憶はデータ取込み制御手段３３によって、物品Ｗが通過セ ンサ２２を通過してから筐体前面のほぼ中央位置に達したタイミングになされる 。The data processing unit 30 converts an image signal of one surface to be inspected into a digital value by the A / D converter 31 and stores it in the memory 32 as image data of one pixel unit. This data is stored by the data fetching control means 33 at the timing when the article W reaches the substantially central position on the front surface of the housing after passing through the passing sensor 22.
【００２６】 明度分布演算手段３４は、メモリ３２に記憶された１画像分のデータのうち、 例えば図４に点線で示した範囲（データ処理範囲）の画像データを読出し、その 明度分布、即ち、各明度レベル毎の画素数を算出する。分散演算手段３５は、算 出された明度分布の分散（標準偏差）σを算出する。The brightness distribution calculating means 34 reads out image data in a range (data processing range) shown by a dotted line in FIG. 4 from the data of one image stored in the memory 32, and the brightness distribution, that is, The number of pixels for each brightness level is calculated. The variance calculator 35 calculates the variance (standard deviation) σ of the calculated lightness distribution.
【００２７】 図３に示したように被検査面Ｗａに異常が無い場合、この明度分布Ｇ0 は、図 ６に示すように、高い明度レベルの位置に集中した分布となり、その分散σ0 も 小さい。[0027] If there is no abnormality in the inspection surface Wa as shown in FIG. 3, the brightness distribution G 0, as shown in FIG. 6, it is focused on the position of the high brightness level distribution, also the variance sigma 0 small.
【００２８】 判定部３６の分布比較手段３７（図５参照）は、明度分布算出手段３４によっ て算出され明度分布データと、予め記憶されている良品明度分布データ（図６） とをパターン比較し、算出された分布データのパターンが良品明度分布データと に対して異なる場合（例えば分布の集中箇所が複数ある場合等）、この物品Ｗと 不良と判定する。The distribution comparing means 37 (see FIG. 5) of the judging section 36 compares the lightness distribution data calculated by the lightness distribution calculating means 34 with the previously stored non-defective lightness distribution data (FIG. 6). If the calculated distribution data pattern differs from the non-defective lightness distribution data (for example, if there are a plurality of distribution concentration points), it is determined that this article W is defective.
【００２９】 また、分散比較手段３８は、分散演算手段３５で算出された分散σを、予め決 められた上限値σU および下限σL と比較し、この範囲内にあれば良品と判定し 、範囲外にあれば不良品と判定する（σU ＞σ0 ＞σL ）。Further, the variance comparing means 38 compares the variance σ calculated by the variance calculating means 35 with a predetermined upper limit value σ U and a lower limit value σ L, and if it is within this range, it is determined as a good product. , Out of the range, it is determined as a defective product (σ U > σ 0 > σ L ).
【００３０】 総合判定手段３９は、分布比較手段３７と分散比較手段３８の両方で良品と判 定されたとき、物品Ｗを良品と判定し、いずれか一方または両方が不良と判定さ れたとき、物品Ｗを不良と判定し、不良品を選別するための選別信号を後続ライ ンの選別機（図示せず）へ出力する。When the distribution comparing unit 37 and the variance comparing unit 38 both determine that the product W is a non-defective product, the comprehensive determination unit 39 determines that the article W is a non-defective product, and when one or both of them is determined to be defective. , W is determined to be defective, and a sorting signal for sorting defective products is output to a sorting machine (not shown) in the subsequent line.
【００３１】 次に、この外観検査装置２０の動作について説明する。Next, the operation of the appearance inspection device 20 will be described.
【００３２】 透明フィルムＦで包装された物品Ｗが、通過センサ２２を通過して、筐体２１ の中央正面に達したとき、被検査面Ｗａで透明フィルムＦによって反射された光 は、画像センサ２４で撮像され、その１画像分のデータがメモリ３２に記憶され る。When the article W packaged with the transparent film F passes through the passage sensor 22 and reaches the front of the center of the housing 21, the light reflected by the transparent film F on the surface Wa to be inspected is detected by the image sensor. An image is captured at 24, and the data for one image is stored in the memory 32.
【００３３】 この物品Ｗの被検査面Ｗａに異常がなければ、データ処理範囲の明度分布は、 前述の図６に示した良品明度分布Ｇ0 とほぼ一致し、分散σも上限値σU と下限 値σL の範囲に入いるため、その物品Ｗは良品と判定されそのまま後続ラインへ 送られる。If there is no abnormality on the surface Wa to be inspected of the article W, the lightness distribution in the data processing range substantially agrees with the non- defective lightness distribution G 0 shown in FIG. 6, and the variance σ is also the upper limit value σ U. Since the product W is within the range of the lower limit value σ L , the product W is determined to be a good product and is sent to the subsequent line as it is.
【００３４】 ところが、図７の（ａ）および（ｂ）に示すように、透明フィルムＦに穴４０ があったり、汚れ４１があると、被検査面Ｗａからの反射光は、一様でなくなる 。However, as shown in FIGS. 7A and 7B, when the transparent film F has holes 40 or dirt 41, the reflected light from the surface Wa to be inspected is not uniform. ..
【００３５】 例えば穴４０から露出している物品Ｗの表面や汚れの（不良箇所）の反射率が 比較的低く一様であるとすると、その明度分布Ｇ1 は、図８に示すように、透明 フィルムＦの反射による高い明度レベルの位置と不良箇所の反射による低い明度 レベルの位置にピークのある分布となる。For example, assuming that the reflectance of the surface of the article W exposed from the hole 40 and the stain (defective portion) is relatively low and uniform, the brightness distribution G 1 thereof is as shown in FIG. The distribution has a peak at a position of high brightness level due to reflection of the transparent film F and at a position of low brightness level due to reflection of a defective portion.
【００３６】 このため、この物品は、たとえ分布Ｇ1 の分散σ1 が良品範囲内であっても、 判定部３６の分布比較手段３７によって不良品と判定される。[0036] Therefore, the article, even if the variance sigma 1 is non-defective range of the distribution G 1, is determined to be defective by distribution comparison means 37 of the judging unit 36.
【００３７】 また、不良箇所の反射率が透明フィルムＦの反射率に比較的近い場合の明度分 布Ｇ2 は、図９に示すように、不良箇所の反射光の明度のバラツキの分拡がるた め、たとえ分布パターン比較で良品と同一パターンと判定されても、分散比較に よって不良品と判定される。Further, as shown in FIG. 9, the lightness distribution G 2 in the case where the reflectance of the defective portion is relatively close to the reflectance of the transparent film F is spread by the variation of the lightness of the reflected light of the defective portion. Therefore, even if the distribution pattern comparison determines that the pattern is the same as the non-defective product, the dispersion comparison determines that the product is defective.
【００３８】 このようにして、コンベア１上を通過する物品Ｗの包装に異常がないか否かが 次々と正確に判定され、不良品と判定された物品はライン上から排除される。In this way, whether or not there is any abnormality in the packaging of the articles W passing on the conveyor 1 is accurately determined one after another, and the articles determined to be defective are removed from the line.
【００３９】 なお、前記説明は、透明フィルムＦで包装された物品の包装不良を検出する場 合について説明したが、不透明なフィルムは勿論、ガラス表面や金属表面等のよ うに、比較的反射率の高い被検査面に対しても同様の検査を行なうことができる 。In the above description, the case of detecting the packaging failure of the article packaged with the transparent film F has been explained. However, not only the opaque film but also the glass surface or the metal surface has a relatively high reflectance. The same inspection can be performed on the surface to be inspected with a high degree.
【００４０】 例えば、図１０に示すようなアンプルビン５０の頭部５０ａの欠損の有無を検 査する場合、光源２３から頭部５０ａの綾線Ｐに対して入射角θで光を照射し、 その正反射光を画像センサ２４で受けるように構成する。For example, when inspecting the head 50a of the ampoule bin 50 for defects as shown in FIG. 10, light is emitted from the light source 23 to the traverse line P of the head 50a at an incident angle θ, The image sensor 24 receives the specularly reflected light.
【００４１】 頭部５０ａが欠損していない場合、その綾線Ｐ部分のみが明るくなり、他の部 分は曲面に応じて暗くなるため、その明度分布Ｇ3 は、そのデータ処理範囲を図 １１に点線で囲んだ範囲に限定した場合、図１２の（ａ）に示すように、非常に 広い分散σ3 をもつ。When the head 50a is not missing, only the crosshair P portion becomes bright and the other portions become dark according to the curved surface, so that the lightness distribution G 3 shows the data processing range in FIG. When limited to the range surrounded by the dotted line in FIG. 12, as shown in (a) of FIG. 12, it has a very wide dispersion σ 3 .
【００４２】 逆に頭部５０ａが欠損していると、ほぼ反射率が一様な搬送面等の反射光が画 像センサ２４に入射されるため、その明度分布Ｇ4 の分散σ4 は、図１２の（ｂ ）に示すように小さくなる。[0042] Conversely, if the head 50a is missing, because the reflected light, such as approximately reflectance uniform conveying surface is incident on the images sensor 24, variance sigma 4 of the lightness distribution G 4 are It becomes smaller as shown in FIG.
【００４３】 したがって、分散比較によって頭部５０ａの欠損の有無を正確に判定すること ができる。Therefore, the presence / absence of a defect in the head 50a can be accurately determined by variance comparison.
【００４４】 また、頭部５０ａにキズがあって異常に明るい部分が生じると、その明度分布 Ｇ5 は、図１２の（ｃ）に示すように、良品の分布パターンＧ3 と異なるため、 欠損だけでなくキズの有無も判定できる。Further, when the head 50a has a flaw and an abnormally bright portion is generated, the brightness distribution G 5 is different from the non-defective distribution pattern G 3 as shown in (c) of FIG. Not only can the presence or absence of scratches be determined.
【００４５】[0045]
なお、前記実施例では、画像センサ２４を、光源２３の正反射光を受ける位置 のみに配置していたが、図１３に示すように、この正反射光を受けない位置に別 の画像センサ５４を配置し、前述したようにフィルム包装の外観不良を検査する 場合には、正反射位置の画像センサ２４を用い、他の物品あるいは内容物の検査 には正反射位置にない画像センサ５４を用いるようにしてもよい。 Although the image sensor 24 is arranged only at the position that receives the specularly reflected light of the light source 23 in the above-described embodiment, as shown in FIG. 13, another image sensor 54 is provided at the position that does not receive the specularly reflected light. The image sensor 24 at the regular reflection position is used to inspect the appearance of the film packaging as described above, and the image sensor 54 not at the regular reflection position is used to inspect other articles or contents. You may do it.
【００４６】 また、このように２つの画像センサ２４、５４を設けておけば、良品表面と不 良箇所の反射率の差に応じた使い分けも可能となる。Further, if the two image sensors 24 and 54 are provided in this way, it is possible to use them properly according to the difference in reflectance between the non-defective product surface and the defective portion.
【００４７】 例えば、鏡面のように極めて反射率の高い被検査面の極く小さなキズを検査す る場合、正反射位置の画像センサ２４では、センサレンズの収差等によって、小 さなキズによる不良箇所の明度レベルが極端に明るい正常箇所からの反射光にマ スクされてしまい、不良箇所による明度分布をほとんど識別できなくなることが ある。For example, in the case of inspecting a very small flaw on a surface to be inspected having an extremely high reflectance such as a mirror surface, the image sensor 24 at the regular reflection position has a defect due to a small flaw due to the aberration of the sensor lens. In some cases, the light level of a spot is masked by the reflected light from a normal spot where the brightness is extremely bright, and the brightness distribution due to a defective spot may be almost unrecognizable.
【００４８】 このような物品の場合、正反射位置にない画像センサ５４を用いれば、正常箇 所から画像センサ５４への入射される光の明度レベルは大きく低下するため、キ ズによる不良箇所の明度分布を識別でき、不良判定を行なうことができる。In the case of such an article, if the image sensor 54 that is not in the specular reflection position is used, the lightness level of the light that is incident on the image sensor 54 from a normal position is greatly reduced. It is possible to identify the brightness distribution and make a defect determination.
【００４９】 また、このような明度の比較的高いキズだけでなく、明度が低い汚れ等の外観 をともに検査する場合には、２つの画像センサ２４、５４の画像情報をともに用 いるようにすればよい。Further, when not only such a flaw having a relatively high lightness but also an appearance such as a stain having a low lightness is inspected, the image information of the two image sensors 24 and 54 may be used together. Good.
【００５０】 また、前記実施例では、被検査面の明度分布の判定のみによって物品の外観検 査を行なう場合について説明したが、例えば前記した２つの画像センサを用いて 、従来の２値判定（面積判定）や重心判定等を同時に行なって、物品のフィルム 包装だけでなく、内容物の表面を検査するようにしてもよい。Further, in the above-described embodiment, the case where the appearance inspection of the article is performed only by the determination of the lightness distribution of the surface to be inspected has been described. However, for example, by using the two image sensors described above, the conventional binary determination ( Area determination) and center of gravity determination may be performed simultaneously to inspect not only the film packaging of the article but also the surface of the content.
【００５１】 また、コンベア１の間欠駆動によって、物品が停止している状態で外観検査を 行なえる場合には、画像センサ２４を正反射位置から非正反射位置へ移動できる ように移動機構を設け、包装や内容物の外観検査１つの画像センサ２４によって 行なうようにしてもよく、逆に光源側を移動機構によって移動させてもよい。In addition, when the appearance inspection can be performed while the article is stopped by the intermittent drive of the conveyor 1, a moving mechanism is provided so that the image sensor 24 can be moved from the regular reflection position to the non-regular reflection position. The visual inspection of the packaging and contents may be performed by one image sensor 24, or conversely, the light source side may be moved by a moving mechanism.
【００５２】[0052]
以上説明したように、本考案の外観検査装置は、光源から所定角度で被検査面 に照射された光をその正反射位置に配置した画像センサで受け、この画像情報の 明度分布に基づいて、物品の外観に不良があるか否かを判定している。 As described above, the visual inspection apparatus of the present invention receives the light emitted from the light source on the surface to be inspected at a predetermined angle by the image sensor arranged at the regular reflection position, and based on the brightness distribution of the image information, It is determined whether or not the appearance of the article is defective.
【００５３】 このため、フィルム包装された物品の包装不良等を内容物表面に左右されず正 確に検査することができる。Therefore, it is possible to accurately inspect the packaging failure of the film-wrapped article without being influenced by the surface of the content.
【図１】本考案の実施例の正面図である。FIG. 1 is a front view of an embodiment of the present invention.
【図２】一実施例の側面図である。FIG. 2 is a side view of one embodiment.
【図３】良品に対する一実施例の光の反射状態を示す図
である。FIG. 3 is a diagram showing a light reflection state of an example for a non-defective product.
【図４】一実施例の撮像範囲と、データ処理領域の関係
を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a relationship between an imaging range and a data processing area according to an embodiment.
【図５】一実施例のデータ処理部および判定部の構成を
示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram illustrating a configuration of a data processing unit and a determination unit according to an embodiment.
【図６】正常な検査面の明度分布を示す分布図である。FIG. 6 is a distribution diagram showing a lightness distribution of a normal inspection surface.
【図７】不良品に対する光の反射状態を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a light reflection state of a defective product.
【図８】不良品の明度分布を示す分布図である。FIG. 8 is a distribution diagram showing a lightness distribution of a defective product.
【図９】不良品の明度分布を示す分布図である。FIG. 9 is a distribution diagram showing the lightness distribution of defective products.
【図１０】他の物品を検査するときの光源と画像センサ
の位置関係を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a positional relationship between a light source and an image sensor when inspecting another article.
【図１１】他の物品の被検査面と、データ処理範囲との
関係を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a relationship between a surface to be inspected of another article and a data processing range.
【図１２】他の物品の被検査面の良否に応じた明度分布
を示す分布図である。FIG. 12 is a distribution diagram showing a lightness distribution according to the quality of the surface to be inspected of another article.
【図１３】本考案の他の実施例の概略図である。FIG. 13 is a schematic view of another embodiment of the present invention.
【図１４】従来装置の構成を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing a configuration of a conventional device.
【図１５】従来装置の動作を説明するための分布図であ
る。FIG. 15 is a distribution diagram for explaining the operation of the conventional device.
１ コンベア ２０ 外観検査装置 ２１ 筐体 ２２ 通過センサ ２３ 光源 ３０ データ処理部 ３２ メモリ ３４ 明度分布演算手段 ３５ 分散演算手段 ３６ 判定部 ３７ 分布比較手段 ３８ 分散比較手段 ３９ 総合判定手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Conveyor 20 Appearance inspection device 21 Case 22 Pass sensor 23 Light source 30 Data processing unit 32 Memory 34 Brightness distribution calculation means 35 Dispersion calculation means 36 Judgment part 37 Distribution comparison means 38 Dispersion comparison means 39 Overall judgment means
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｆ 15/62 ４００ 9287−5Ｌ 15/64 Ｊ 9073−5Ｌ ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI Technical display location G06F 15/62 400 9287-5L 15/64 J 9073-5L
Claims (1)
し、該画像センサからの画像情報から得られた前記被検
査面の明度分布に基づいて、前記物品の外観不良を検査
する外観検査装置において、 前記被検査面に光を所定角度で照射する光源を有し、 前記画像センサを、前記光源による前記被検査面からの
正反射光を受ける位置に配置したことを特徴とする外観
検査装置。1. A visual inspection apparatus for imaging an inspected surface of an article by an image sensor, and inspecting an appearance defect of the article based on a lightness distribution of the inspected surface obtained from image information from the image sensor. In the appearance inspection device, a light source that irradiates the surface to be inspected with light at a predetermined angle is provided, and the image sensor is arranged at a position for receiving specular reflection light from the surface to be inspected by the light source. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2718392U JPH0581697U (en) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | Appearance inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2718392U JPH0581697U (en) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | Appearance inspection device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0581697U true JPH0581697U (en) | 1993-11-05 |
Family
ID=12213967
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2718392U Pending JPH0581697U (en) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | Appearance inspection device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0581697U (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003010525A1 (en) * | 2001-07-27 | 2003-02-06 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Method for evaluating contamination of object surface and imaging box used for this method |
| JP2011112572A (en) * | 2009-11-27 | 2011-06-09 | Nagoya Electric Works Co Ltd | Quality determination device, quality determination method, and quality determination program |
| JP2013073452A (en) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | Boxed article inspection method and boxed article inspection device |
| JP2020046270A (en) * | 2018-09-18 | 2020-03-26 | 株式会社イシダ | Packaging and inspection system |
| JPWO2019112040A1 (en) * | 2017-12-08 | 2020-11-26 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | Inspection system, inspection method, program, and storage medium |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52129545A (en) * | 1976-04-23 | 1977-10-31 | Nippon Steel Corp | Method and apparatus for measurement of uniformity in surface roughnes s |
| JPH03280165A (en) * | 1990-03-29 | 1991-12-11 | Anritsu Corp | Appearance inspection device |
-
1992
- 1992-03-31 JP JP2718392U patent/JPH0581697U/en active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52129545A (en) * | 1976-04-23 | 1977-10-31 | Nippon Steel Corp | Method and apparatus for measurement of uniformity in surface roughnes s |
| JPH03280165A (en) * | 1990-03-29 | 1991-12-11 | Anritsu Corp | Appearance inspection device |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003010525A1 (en) * | 2001-07-27 | 2003-02-06 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Method for evaluating contamination of object surface and imaging box used for this method |
| JPWO2003010525A1 (en) * | 2001-07-27 | 2004-11-18 | 日本板硝子株式会社 | Method for evaluating contamination on the surface of an object and a photographing box used for the method |
| US7343038B2 (en) | 2001-07-27 | 2008-03-11 | Nippon Sheet Glass Company, Limited | Method for evaluating contamination on surface of object and imaging box used for the method |
| JP2011112572A (en) * | 2009-11-27 | 2011-06-09 | Nagoya Electric Works Co Ltd | Quality determination device, quality determination method, and quality determination program |
| JP2013073452A (en) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | Boxed article inspection method and boxed article inspection device |
| JPWO2019112040A1 (en) * | 2017-12-08 | 2020-11-26 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | Inspection system, inspection method, program, and storage medium |
| JP2023085360A (en) * | 2017-12-08 | 2023-06-20 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | inspection system |
| US11727554B2 (en) | 2017-12-08 | 2023-08-15 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Inspection system, inspection method, program, and storage medium |
| JP2020046270A (en) * | 2018-09-18 | 2020-03-26 | 株式会社イシダ | Packaging and inspection system |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH01199139A (en) | Circuit used for method of inspecting object by contrast of transparency of object | |
| US5444237A (en) | Apparatus for inspecting a bottom border portion of transparent glass vessel for a foreign article | |
| JP2005017004A (en) | System for inspecting foreign matter in glass bottle | |
| JP4361156B2 (en) | Appearance inspection equipment for articles | |
| JPH0736004B2 (en) | Inspection method and device | |
| JP3904981B2 (en) | Wrapping / unfolding determination method and apparatus for wrapping paper | |
| JPH0581697U (en) | Appearance inspection device | |
| JP3155106B2 (en) | Bottle seal appearance inspection method and apparatus | |
| JP2005017003A (en) | Vial inspection system | |
| JPH03231144A (en) | Apparatus for inspecting flaw of packed article | |
| JPH02257044A (en) | Device for inspecting bottle | |
| JPH04216445A (en) | Device for inspecting bottle | |
| JPH06118026A (en) | Method for inspecting vessel inner surface | |
| JP2000214101A (en) | Surface defect-inspecting device | |
| US7321679B2 (en) | Machine for inspecting glass bottles | |
| JP2723983B2 (en) | Cap tightening angle inspection device | |
| JPH01297503A (en) | Automatic inspecting device for coating surface | |
| JP3557372B2 (en) | Can winding sorter | |
| JP2735964B2 (en) | Label inspection device | |
| JPH04270951A (en) | Method for inspecting bottle | |
| JPH0843048A (en) | Method and apparatus for compensating inspection accuracy of inspecting system for appearance of article | |
| JPS5927859B2 (en) | Glass bottle body defect inspection device | |
| JPH11248644A (en) | Defect inspecting method and device for container | |
| JP3609136B2 (en) | Semiconductor device inspection method and apparatus | |
| JPH0571934A (en) | Surface defect inspection device |