JPH0577148A - Retract mechanism for grinding machine - Google Patents
Retract mechanism for grinding machineInfo
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- JPH0577148A JPH0577148A JP26538591A JP26538591A JPH0577148A JP H0577148 A JPH0577148 A JP H0577148A JP 26538591 A JP26538591 A JP 26538591A JP 26538591 A JP26538591 A JP 26538591A JP H0577148 A JPH0577148 A JP H0577148A
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- semiconductor wafer
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- power
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- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウエハを研削す
る自動平面研削盤に関するもので、詳しくは、仕上面の
高精度化、拡径化、極薄化が要求される半導体ウエハを
研削加工中に電力の供給が停止した場合であってもダメ
ージを残留させることなく回収できるリトラクト機構に
関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic surface grinder for grinding a semiconductor wafer, and more specifically, it grinds a semiconductor wafer which requires a highly accurate surface finish, a large diameter and an extremely thin surface. The present invention relates to a retract mechanism capable of recovering damage without remaining even when power supply is stopped.
【0002】[0002]
【従来技術とその問題点】この種の半導体ウエハは製品
の歩留まりの関係から、仕上面の高精度化、加えて、極
薄化、拡径化も要求されており、其れに伴って半導体ウ
エハを研削加工する自動平面研削盤も仕上面の高精度
化、極薄化、拡径化に対応できる機構が求められてお
り、その対応が急務である。2. Description of the Related Art Semiconductor wafers of this type are required to have a highly accurate finished surface as well as to be extremely thin and have a large diameter due to the yield of products. An automatic surface grinder that grinds wafers is also required to have a mechanism capable of achieving high precision, ultra-thinning, and diameter expansion of the finished surface, which is an urgent task.
【0003】従来から、半導体ウエハを研削する自動平
面研削盤は設定された削り代を研削砥石を降下させて研
削加工しているが、研削中に何らかの原因によって電力
の供給が停止されると、つまり、停電になると、研削砥
石が半導体ウエハの上面を押圧した状態で停止し、従来
の小径で厚みを有した半導体ウエハでは殆どダメージが
残留しなかったが、昨今要求される高精度化、極薄化、
拡径化された脆性の半導体ウエハにはその押圧によって
亀裂が入ったり、割れたり、傷付く等のダメージがあ
り、既に回路を印刷した高価な半導体ウエハが使いもの
に成らなくなっていた。Conventionally, an automatic surface grinder for grinding a semiconductor wafer grinds a set cutting allowance by lowering a grinding wheel, but if power supply is stopped for some reason during grinding, In other words, when a power failure occurs, the grinding wheel stops in a state of pressing the upper surface of the semiconductor wafer, and almost no damage remains in the conventional semiconductor wafer having a small diameter and a thickness. Thinning,
The brittle semiconductor wafer whose diameter has been enlarged has damages such as cracks, cracks, and scratches due to the pressure, and an expensive semiconductor wafer on which a circuit has already been printed cannot be used.
【0004】本発明は前述の事由に鑑みて、前述の問題
点を解決すべく鋭意研鑽の結果、半導体ウエハの高品質
化、極薄化、拡径化に充分に対処できるもので、特に、
停電時においても研削加工中の半導体ウエハにダメージ
を残留させることなく回収できる機構に創達し、これを
供する目的のものである。In view of the above-mentioned reasons, the present invention has been made as a result of intensive studies to solve the above-mentioned problems, and as a result, it is possible to sufficiently deal with high quality, ultra-thinning and diameter expansion of semiconductor wafers.
The purpose of the present invention is to provide a mechanism for recovering a semiconductor wafer that is being ground without damage even during a power failure.
【0005】本発明の構成は、チャック機構と、半導体
ウエハと、カップホイール型研削砥石と、昇降手段を介
設させて昇降自在に基体へ担持されスピンドル軸とを備
え、チャック機構の回転軸芯とスピンドル軸の回転軸芯
とを略平行状態で且つカップホイール型研削砥石の研削
面は半導体ウエハの中心点を通過する一定間隔を有して
配設された自動平面研削盤において、昇降手段はモータ
ーを駆動源としてカップホイール型研削砥石を降下させ
て半導体ウエハを研削し、スピンドル軸の回転はモータ
ーを駆動源として回転しており、夫々のモーターと夫々
の電源との間の電源回路にコンデンサを介装し、停電時
に夫々のモーターを逆回転させる構成である。The structure of the present invention comprises a chuck mechanism, a semiconductor wafer, a cup wheel type grinding wheel, and a spindle shaft movably supported on a base body through an elevating means, and the axis of rotation of the chuck mechanism is provided. In the automatic surface grinding machine in which the spindle and the rotation axis of the spindle shaft are substantially parallel to each other, and the grinding surface of the cup wheel type grinding wheel passes through the center point of the semiconductor wafer at a constant interval, A motor is used as a drive source to lower a cup wheel type grinding wheel to grind a semiconductor wafer, and the spindle shaft is rotated using the motor as a drive source, and a condenser is provided in the power supply circuit between each motor and each power supply. The configuration is such that each motor is reversely rotated in the event of a power failure.
【0006】斯る目的を達成せしめた本発明の半導体ウ
エハのリトラクト機構を実施例の図面によって説明す
る。A retracting mechanism for a semiconductor wafer according to the present invention, which has achieved the above object, will be described with reference to the drawings of an embodiment.
【0007】図1は本発明の実施例のロータリーテーブ
ルを用いた自動平面研削盤を説明するための概要平面説
明図であり、図2は本発明の概要側面説明図であり、図
3はコンデンサを介設したモーターの概要図である。FIG. 1 is a schematic plan view for explaining an automatic surface grinder using a rotary table according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic side view for explaining the present invention, and FIG. 3 is a condenser. FIG. 3 is a schematic view of a motor provided with
【0008】本発明は、半導体ウエハWを研削する自動
平面研削盤に関するもので、詳しくは、仕上面の高精度
化、拡径化、極薄化が要求される半導体ウエハWにおい
て、研削加工中に電力の供給が停止した場合、つまり、
停電に成った場合研削加工中の半導体ウエハWにダメー
ジを残留させることなく回収できる機構に関するもので
あり、テーブル1へ嵌着され且つ自回転するチャック機
構2と、該チャック機構2へバキューム吸着される半導
体ウエハWと、該半導体ウエハWの上面を研削するため
に上方に配設されたカップホイール型研削砥石3と、該
カップホイール型研削砥石3を下端へ固定し昇降手段4
を介設させて昇降自在に基体5へ担持され且つ自回転す
るスピンドル軸6とを備え、前記チャック機構2の回転
軸芯aと前記スピンドル軸6の回転軸芯bとを略平行状
態で且つカップホイール型研削砥石3の研削面は少なく
とも半導体ウエハWの中心点を通過する一定間隔を有し
て配設された自動平面研削盤において、前記昇降手段4
はモーター7を駆動源として一定微速度でカップホイー
ル型研削砥石3を降下させて半導体ウエハWの上面の設
定量の削り代を研削し、前記スピンドル軸6の回転はモ
ーター7を駆動源として回転しており、前記夫々のモー
ター7と夫々の電源8との間の電源回路9に蓄電用のコ
ンデンサ9aを介装し、停電時にコンデンサ9aに蓄電
された電力でモーター7の極性を切換えモーター7を逆
回転させるものである。The present invention relates to an automatic surface grinder that grinds a semiconductor wafer W. More specifically, during grinding of a semiconductor wafer W which requires a highly accurate finished surface, a large diameter, and an extremely thin surface. If the power supply to the
The present invention relates to a mechanism capable of recovering a semiconductor wafer W during grinding without causing any damage to the semiconductor wafer W during the grinding process. The chuck mechanism 2 is fitted to the table 1 and rotates by itself, and the chuck mechanism 2 is vacuum-adsorbed. Semiconductor wafer W, a cup wheel type grinding wheel 3 disposed above for grinding the upper surface of the semiconductor wafer W, and a lifting means 4 for fixing the cup wheel type grinding wheel 3 to the lower end.
And a spindle shaft 6 which is supported by a base body 5 so as to be able to move up and down and rotates by itself, and a rotation axis a of the chuck mechanism 2 and a rotation axis b of the spindle shaft 6 are substantially parallel to each other. In the automatic surface grinder in which the grinding surface of the cup wheel type grinding wheel 3 is arranged with a constant interval passing at least the center point of the semiconductor wafer W, the elevating means 4 is used.
Uses a motor 7 as a drive source to lower the cup wheel type grinding wheel 3 at a constant fine speed to grind a set amount of cutting allowance on the upper surface of the semiconductor wafer W, and the spindle shaft 6 rotates using the motor 7 as a drive source. Therefore, a power storage circuit 9 between each of the motors 7 and each of the power supplies 8 is provided with a capacitor 9a for storing electricity, and the polarity of the motor 7 is switched by the electricity stored in the capacitor 9a during a power failure. To rotate in reverse.
【0009】通常、この種の自動平面研削盤の被研削物
である半導体ウエハWの作動状態を具体的に説明する
と、図1に図示の如く、先ず、多数枚の半導体ウエハW
を単品毎に梯子形仕切り枠で集積格納され昇降可動かつ
前面が開放されている送出側カセット11の直前の下方
辺に設けられた送出側搬送ベルト12によって、半導体
ウエハWが該送出側搬送ベルト12上へ案内載置され、
送出側搬送ベルト12の上の半導体ウエハWは下方に位
置し反転可能な送出側反転アーム13の先端に設けた吸
着パット14へ吸着され、該送出側反転アーム13が反
転することによって、プリポジション15に載置され、
次ぎに、半導体ウエハWは昇降自在で且つ水平方向へ回
動機構を有するウエハ移送アーム16の先端へ設けた吸
着パット17の下面にバキューム吸着されて、研削盤の
ロータリーテーブル1上に移送されるものである。Usually, the operating state of the semiconductor wafer W, which is the object to be ground of this type of automatic surface grinder, will be specifically described. First, as shown in FIG.
The semiconductor wafer W is transferred to the delivery side transfer belt 12 by the delivery side transfer belt 12 provided immediately below the delivery side cassette 11 which is stored and stored in a ladder type partition frame and is movable up and down and the front surface is open. 12 is placed on the guide,
The semiconductor wafer W on the delivery-side transfer belt 12 is adsorbed to the suction pad 14 provided at the tip of the delivery-side inversion arm 13 located below and reversible, and the delivery-side inversion arm 13 is inverted to preposition. Placed on 15,
Next, the semiconductor wafer W is vacuum-sucked to the lower surface of the suction pad 17 provided at the tip of the wafer transfer arm 16 which is vertically movable and has a horizontally rotating mechanism, and is transferred onto the rotary table 1 of the grinder. It is a thing.
【0010】そして、前記ロータリーテーブル1には夫
々に自回転する円形状のバキューム吸着する複数のチャ
ック機構2を備え、ロータリーテーブル1は自動的に回
転、停止を間欠的に繰返しており、停止位置で夫々のチ
ャック機構2の上方から先端へカップホイール型研削砥
石3を固定したスピンドル軸6が下降して、各チャック
機構2上で予め設定された削り代の研削を半導体ウエハ
Wの上面に施すものである。The rotary table 1 is provided with a plurality of chuck mechanisms 2 each of which is self-rotating and which attracts a circular vacuum, and the rotary table 1 automatically and intermittently repeats rotation and stop at a stop position. Then, the spindle shaft 6 to which the cup wheel type grinding wheel 3 is fixed descends from the upper side of each chuck mechanism 2 to the tip thereof, and the upper surface of the semiconductor wafer W is ground by a preset cutting allowance on each chuck mechanism 2. It is a thing.
【0011】前記半導体ウエハWはウエハ移送アーム1
6で前記チャック機構2上に正確にセットされると共
に、該チャック機構2にバキューム吸着されるものであ
り、半導体ウエハWはチャック機構2と共にロータリー
テーブル1の回動によって、次の加工位置へと移行し、
夫々の加工位置で所定の求められる厚さに研削が施され
加工が完了するとスピンドル軸6を上昇させて、再び、
ロータリーテーブル1の回転によって次停止位置まで運
ばれ、該停止位置で別のスピンドル軸6が降下して順次
研削が施され、そして、洗浄位置で洗浄され、ロータリ
ーテーブル1は一定の停止時間を保ちながら間欠的に且
つエンドレス的に回転しているものである。The semiconductor wafer W is transferred to the wafer transfer arm 1
6 is accurately set on the chuck mechanism 2 and is vacuum-adsorbed to the chuck mechanism 2. The semiconductor wafer W is moved to the next processing position by rotating the rotary table 1 together with the chuck mechanism 2. Migrated,
Grinding to a predetermined required thickness at each processing position, and when the processing is completed, the spindle shaft 6 is raised and again,
When the rotary table 1 is rotated, it is carried to the next stop position, another spindle shaft 6 descends at the stop position, is sequentially ground, and is cleaned at the cleaning position. The rotary table 1 keeps a constant stop time. While rotating intermittently and endlessly.
【0012】半導体ウエハWは最終の仕上研削加工を施
され、洗浄された後に、前述のウエハ移送アーム16と
逆の作用によってウエハ移送アーム18の吸着パット1
9吸着され、洗浄乾燥装置20で洗浄乾燥されて格納側
反転アーム21に設けられた吸着パット22で格納側搬
送ベルト23へ載置され、格納側カセット24内の側壁
部に設けられた梯子形仕切り枠へ該カセット24の昇降
によって単品毎に再び集積格納されているものである。The semiconductor wafer W is finally subjected to finish grinding and cleaned, and thereafter, the suction pad 1 of the wafer transfer arm 18 is operated by the action opposite to that of the wafer transfer arm 16 described above.
9 Adsorbed, washed and dried by the washing / drying device 20, placed on the storage-side transport belt 23 by the suction pad 22 provided on the storage-side reversing arm 21, and a ladder type provided on the side wall of the storage-side cassette 24. The cassettes 24 are lifted up and down in the partition frame, and are individually stored again for each individual product.
【0013】本発明を実施する平面自動研削盤はこの様
に構成されており、前述の作動が自動的かつ規則的に繰
り返され、送出側カセット11から送出された半導体ウ
エハWは、順次可動位置へ案内され、研削され、洗浄さ
れ、格納される仕組と成るものである。The surface automatic grinding machine for carrying out the present invention is configured in this way, and the above-described operation is automatically and regularly repeated so that the semiconductor wafers W delivered from the delivery side cassette 11 are successively moved to movable positions. To be guided, ground, cleaned and stored.
【0014】即ち、自動平面研削盤のロータリーテーブ
ル1は間欠的に回転及び停止を繰り返しているものであ
り、複数のチャック機構2は頂面を突出させた状態で複
数個が夫々嵌着されているもので、該夫々のチャック機
構2はロータリーテーブル1の回転駆動源と共有して夫
々が独自に自回転しているものであり、そして、前記ロ
ータリーテーブル1を貫通させた通気系によって真空ポ
ンプ等のバキューム機構へ連繋され、半導体ウエハWは
バキューム機構によってチャック機構2の上面へ確りと
バキューム吸着されると、チャック機構2の上方よりス
ピンドル軸6の下端へ固定したカップホイール型研削砥
石3が降下して研削を開始するものである。That is, the rotary table 1 of the automatic surface grinder is intermittently rotated and stopped repeatedly, and a plurality of chuck mechanisms 2 are fitted to each other with their top surfaces projected. The chuck mechanisms 2 are shared by the rotary drive source of the rotary table 1 and rotate independently of each other, and a vacuum pump is provided by a ventilation system penetrating the rotary table 1. When the semiconductor wafer W is securely vacuum-adsorbed to the upper surface of the chuck mechanism 2 by the vacuum mechanism, the cup wheel type grinding wheel 3 fixed to the lower end of the spindle shaft 6 from above the chuck mechanism 2 is connected to the vacuum mechanism. It descends and starts grinding.
【0015】前記スピンドル軸6は基体5へ昇降手段4
を介して昇降自在に担持され、電動機7の駆動源によっ
て自回転をしているものであり、カップホイール型研削
砥石3もそれに伴って回転しているものであり、前記昇
降手段4は図2に図示の如く駆動源の電動機7を基体5
に組設し、該電動機7の回転軸4aに回転調整機構4b
を介設して棒状の螺条4cを設け、該螺条4cと螺合す
る雌螺子を有するガイド4dを設けたスピンドル軸6で
あり、脆性の半導体ウエハWに研削によるダメージが加
わらない微速度調整が可能なものである。The spindle shaft 6 is moved up and down to the base body 4
2 is supported by the drive source of the electric motor 7 to rotate by itself, and the cup wheel type grinding wheel 3 is also rotated accordingly. As shown in FIG.
Installed on the rotary shaft 4a of the electric motor 7 and the rotation adjusting mechanism 4b.
Is a spindle shaft 6 provided with a rod-shaped thread 4c interposed therebetween and having a guide 4d having a female screw threadedly engaged with the thread 4c, and a minute speed at which a brittle semiconductor wafer W is not damaged by grinding. It can be adjusted.
【0016】前記チャック機構2の回転軸芯aとスピン
ドル軸6の回転軸芯bとを略平行状態に維持させたもの
で、つまり、半導体ウエハWの上面とカップホイール型
研削砥石3の研削面とも略平行状態となるものであり、
略平行状態とはカップホイール型研削砥石3の研削面と
半導体ウエハWの上面とは僅かに傾斜させて、研削抵抗
を低下させると共に、半導体ウエハWの回転の中芯へ小
突起を残さないようにスピンドル軸6を微揺動させてい
るものであり、そして、カップホイール型研削砥石3の
研削面は少なくとも半導体ウエハWの中心点を通過する
ように夫々の回転軸芯a.bは一定間隔を有して配設さ
れ、カップホイール型研削砥石3の研削面と研削される
半導体ウエハWの上面との研削時の干渉領域での周速度
を一定化しているものである。The axis of rotation a of the chuck mechanism 2 and the axis of rotation b of the spindle shaft 6 are maintained in a substantially parallel state, that is, the upper surface of the semiconductor wafer W and the grinding surface of the cup wheel type grinding wheel 3. Both are in a substantially parallel state,
The substantially parallel state means that the grinding surface of the cup wheel type grinding wheel 3 and the upper surface of the semiconductor wafer W are slightly tilted to reduce the grinding resistance, and that small protrusions are not left on the center of rotation of the semiconductor wafer W. The spindle shaft 6 is slightly oscillated, and the grinding surface of the cup wheel type grinding wheel 3 passes through at least the center point of the semiconductor wafer W. Symbol b is arranged at a constant interval to make the peripheral speed constant in the interference region during grinding between the ground surface of the cup wheel type grinding wheel 3 and the upper surface of the semiconductor wafer W to be ground.
【0017】本発明に用いられている前記各モーター7
へは夫々の電源8との電源回路9に夫々蓄電用のコンデ
ンサ9aを介装しているものであり、実施例では図3に
図示の如く、モーター7自体にコンデンサ9aを予め組
み込んだコンデンサモーター7を用いたものであり、交
流電源8より電力を得る電源回路9へ開閉器9bとヒュ
ーズ9cと電磁接触器9dとサーマルリレー9eを介装
し、加えて、蓄電用のコンデンサ9aを介装したもので
あり、何らかの原因によって電力の供給が停止されると
コンデンサ9aに蓄電された電力をサーマルリレー9e
によってモーター7の極性を切り換えてスピンドル軸6
を逆転させると共に、昇降機構4のモーター7も逆転し
スピンドル軸6が上昇すると下端に固定されたカップホ
イール型研削砥石3を半導体ウエハWの上面から離脱す
るものであり、不意に停電に成ったとしても拡径化、極
薄化された半導体ウエハWの研削加工にダメージを残留
させることなく対処できるものであり、前記コンデンサ
9aの蓄電容量は半導体ウエハWの上面からカップホイ
ール型研削砥石3が離脱できる程度のもので構わないも
のである。Each of the motors 7 used in the present invention
In this embodiment, a power storage circuit 9 for each power source 8 is provided with a storage capacitor 9a, respectively. In the embodiment, as shown in FIG. 3, the motor 7 itself has a capacitor 9a incorporated in advance. 7, a switch 9b, a fuse 9c, an electromagnetic contactor 9d, and a thermal relay 9e are installed in a power supply circuit 9 which obtains electric power from an AC power supply 8, and in addition, a capacitor 9a for storing electricity is installed. When the power supply is stopped for some reason, the power stored in the capacitor 9a is transferred to the thermal relay 9e.
To switch the polarity of the motor 7
When the motor 7 of the elevating mechanism 4 is also rotated in reverse and the spindle shaft 6 is raised, the cup wheel type grinding wheel 3 fixed to the lower end is detached from the upper surface of the semiconductor wafer W, resulting in an unexpected power failure. Also, it is possible to deal with the grinding process of the semiconductor wafer W whose diameter has been expanded and ultrathin without leaving any damage, and the storage capacity of the capacitor 9a is from the upper surface of the semiconductor wafer W to the cup wheel type grinding wheel 3 It does not matter if it can be separated.
【0018】そして、前述の説明は回転式のロータリー
テーブルについて本発明のリトラクト機構を説明した
が、これに限定されることなく割り出し式のインデック
ステーブル等のチャック機構にも適応できるものであ
る。In the above description, the retract mechanism of the present invention has been described for the rotary type rotary table, but the present invention is not limited to this and can be applied to a chuck mechanism such as an index type index table.
【0019】[0019]
【発明の効果】本発明の効果は、前述の構成によって、
自動平面研削盤で半導体ウエハを研削加工中に停電に成
っても夫々のモーターの電極を切り換えてコンデンサに
蓄電された電力によって、モーターを逆回転させ、半導
体ウエハの上面にかかるカップホイール型研削砥石の押
圧から開放されるために、拡径化、極薄化が要望され、
且つ、脆性の特性を有する半導体ウエハにダメージを残
留させることなく回収又は再度研削加工を続行でき画期
的な機構であり、信頼度も高く、極めて有意義な効果を
奏することができるものである。The effects of the present invention are as follows.
Even if a power failure occurs while grinding a semiconductor wafer with an automatic surface grinder, each motor electrode is switched and the electric power stored in the capacitor causes the motor to rotate in the reverse direction and the cup wheel type grinding wheel applied to the upper surface of the semiconductor wafer. In order to be released from the pressure of, the diameter expansion and ultra thinning are required,
In addition, it is an epoch-making mechanism that can continue the recovery or the grinding process again without leaving any damage on the semiconductor wafer having the brittle property, has a high reliability, and can exhibit a very significant effect.
【0020】[0020]
【図1】図1は本発明の実施例のロータリーテーブルを
用いた自動平面研削盤を説明するための概要平面説明図
である。FIG. 1 is a schematic plan view for explaining an automatic surface grinder using a rotary table according to an embodiment of the present invention.
【図2】図2は本発明の概要側面説明図である。FIG. 2 is a schematic side view of the present invention.
【図3】図3はコンデンサを介設したモーターの概要図
である。FIG. 3 is a schematic diagram of a motor including a capacitor.
【0021】[0021]
W 半導体ウエハ a チャック機構の回転軸芯 b スピンドル軸の回転軸芯 1 テーブル 2 チャック機構 3 カップホイール型研削砥石 4 昇降手段 4a 回転軸 4b 回転調整機構 4c 螺条 4d ガイド 5 基体 6 スピンドル軸 7 電動機 8 電源 9 電源回路 9a コンデンサ 9b 開閉器 9c ヒューズ 9d 電磁接触器 9e サーマルリレー 11 送出側カセット 12 送出側搬送ベルト 13 送出側反転アーム 14 吸着パット 15 プリポジション 16 ウエハ移送アーム 17 吸着パット 18 ウエハ移送アーム 19 吸着パット 20 洗浄乾燥装置 21 格納側反転アーム 22 吸着パット 23 格納側搬送ベルト 24 格納側カセット W Semiconductor wafer a Rotating shaft core of chuck mechanism b Spindle shaft rotating shaft core 1 Table 2 Chuck mechanism 3 Cup wheel type grinding wheel 4 Lifting means 4a Rotating shaft 4b Rotation adjusting mechanism 4c Screw 4d Guide 5 Base 6 Spindle shaft 7 Electric motor 8 power supply 9 power supply circuit 9a capacitor 9b switch 9c fuse 9d electromagnetic contactor 9e thermal relay 11 delivery side cassette 12 delivery side transfer belt 13 delivery side reversing arm 14 suction pad 15 preposition 16 wafer transfer arm 17 suction pad 18 wafer transfer arm 19 Suction pad 20 Washing / drying device 21 Storing side reversing arm 22 Suction pad 23 Storing side conveyor belt 24 Storing side cassette
Claims (1)
ク機構と、該チャック機構へバキューム吸着される半導
体ウエハと、該半導体ウエハの上面を研削するために上
方に配設されたカップホイール型研削砥石と、該カップ
ホイール型研削砥石を下端へ固定し昇降手段を介設させ
て昇降自在に基体へ担持され且つ自回転するスピンドル
軸とを備え、前記チャック機構の回転軸芯と前記スピン
ドル軸の回転軸芯とを略平行状態で且つカップホイール
型研削砥石の研削面は少なくとも半導体ウエハの中心点
を通過する一定間隔を有して配設された自動平面研削盤
において、 前記昇降手段はモーターを駆動源として一定微速度でカ
ップホイール型研削砥石を降下させて半導体ウエハの上
面の設定量の削り代を研削し、前記スピンドル軸の回転
はモーターを駆動源として回転しており、前記夫々のモ
ーターと夫々の電源との間の電源回路に蓄電用のコンデ
ンサを介装し、停電時にコンデンサに蓄電された電力で
モーターの極性を切換えモーターを逆回転させることを
特徴とする研削盤のリトラクト機構。1. A chuck mechanism that is fitted to a table and rotates by itself, a semiconductor wafer that is vacuum-sucked to the chuck mechanism, and a cup-wheel type grinding device provided above to grind an upper surface of the semiconductor wafer. A grindstone, and a spindle shaft which is fixed to the lower end of the cup wheel type grinding grindstone and is rotatably supported by a base body through an elevating means, and which rotates on its own axis; and a rotary shaft core of the chuck mechanism and the spindle shaft. In an automatic surface grinder in which the rotation axis is substantially parallel to each other and the grinding surface of the cup wheel type grinding wheel is arranged with a constant interval passing at least the center point of the semiconductor wafer, the elevating means includes a motor. As a drive source, a cup wheel type grinding wheel is moved down at a constant fine speed to grind a set amount of cutting allowance on the upper surface of the semiconductor wafer, and the spindle shaft is rotated by a motor. The motor is rotating with the power source as a drive source, and a capacitor for storing electricity is inserted in the power supply circuit between each of the motors and each of the power sources, and the polarity of the motor is switched by the electric power stored in the capacitor during a power failure. A retractor mechanism for a grinding machine characterized by reverse rotation.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26538591A JPH0577148A (en) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | Retract mechanism for grinding machine |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26538591A JPH0577148A (en) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | Retract mechanism for grinding machine |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0577148A true JPH0577148A (en) | 1993-03-30 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP26538591A Pending JPH0577148A (en) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | Retract mechanism for grinding machine |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0577148A (en) |
Cited By (4)
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JP2000173961A (en) * | 1998-12-01 | 2000-06-23 | Sharp Corp | Method and apparatus for manufacturing semiconductor device |
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CN105081975A (en) * | 2014-05-15 | 2015-11-25 | 株式会社迪思科 | Processing apparatus |
JP2021010950A (en) * | 2019-07-03 | 2021-02-04 | 株式会社ディスコ | Processing apparatus |
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1991
- 1991-09-18 JP JP26538591A patent/JPH0577148A/en active Pending
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