JPH0573587U - シンクロトロン放射光測定装置 - Google Patents

シンクロトロン放射光測定装置

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JPH0573587U
JPH0573587U JP1180392U JP1180392U JPH0573587U JP H0573587 U JPH0573587 U JP H0573587U JP 1180392 U JP1180392 U JP 1180392U JP 1180392 U JP1180392 U JP 1180392U JP H0573587 U JPH0573587 U JP H0573587U
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JP
Japan
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synchrotron radiation
electron
electron beam
electrons
measuring apparatus
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Pending
Application number
JP1180392U
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進 西原
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 シンクロトロン放射光を測定するシンクロト
ロン放射光測定装置を得る。 【構成】 電子銃５から発生する電子線６とシンクロト
ロン放射光３を衝突させコンプトン錯乱による電子８を
測定する検出器４を設ける。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この考案は、シンクロトロン放射光を測定するシンクロトロン放射光測定装置 に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図５は従来の放射光測定装置を示す概念図であり、図において、１は電磁石、 ２は電子、３はシンクロトロン放射光、４は放射光の検出器である。
【０００３】 次に動作について説明する。高エネルギーに加速された電子２は、電磁石１中 を通過する時、半径Ｒで円形に曲げられ、その接線方向にシンクロトロン放射光 ３を発生する。このシンクロトロン放射光３の強度などの測定は、検出器４で直 接測定されていた。
【０００４】 シンクロトロン放射光３の特性エネルギーＥｃ(KeV) は、電子軌道半径をＲ（ ｍ）、エネルギーをＥ(GeV) とすると、 Ｅｃ(KeV) ＝2.218 Ｅ3(GeV)／Ｒ（ｍ） となる。また、シンクロトロン放射光の全出力Ｐ(KW)は、電子ビームの平均電流 をＩ（Ａ）とすると、 Ｐ(KW)＝88.47 Ｅ4(GeV)Ｉ（Ａ）／Ｒ（ｍ） となる。
【０００５】
【考案が解決しようとする課題】
従来の放射光測定装置は以上のように構成されているので、シンクロトロン放 射光３によって、検出器４が損傷を受け、シンクロトロン放射光３を測定できな くなるなどの問題があった。
【０００６】 この考案は上記のような問題点を解消するためになされたもので、シンクロト ロン放射光を間接的に測定するシンクロトロン放射光測定装置を得ることを目的 とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
この考案に係る放射光測定装置は、電子蓄積リングから取り出されたシンクロ トロン放射光を電子銃で発生させた電子と衝突させてコンプトン錯乱をさせて、 錯乱電子を測定するものである。
【０００８】
【作用】
この考案におけるシンクロトロン放射光測定装置は、シンクロトロン放射光を 電子線と衝突させ、コンプトン錯乱をさせることにより、錯乱電子を測定して、 シンクロトロン放射光を測定する。
【０００９】
【実施例】
実施例１． 以下、この考案の実施例１を図について説明する。図１はこの考案の実施例１ によるシンクロトロン放射光測定装置を示す概念図であり、図において、１は電 磁石、２は電子、３はシンクロトロン放射光、４は放射光の検出器、５は電子銃 、６は電子銃５から発生した電子線、８はコンプトロン錯乱された電子である。
【００１０】 シンクロトロン放射光３は、電子銃５から発生した電子６とコンプトン錯乱し て、検出器４によって測定される。
【００１１】 以下、この装置の動作について説明する。 シンクロトロン放射光３と電子の電磁的相互作用には、光電効果、コンプトン 散乱電子対発生の３過程があるが、本装置は、コンプトン錯乱による電子を測定 することにより、シンクロトロン放射光３の測定を行う。 自由電子はエネルギー運動量の保存則から光子を吸収できないので、可能な過 程は自由電子による光子の錯乱、すなわちコンプトン錯乱である。錯乱後の光子 および電子のエネルギーは、エネルギー運動量保存則から簡単に求まり
【００１２】
【数１】
【００１３】 となる。ｍは電子の静止質量、Ｅｏは反跳電子の運動エネルギーである。
【００１４】 実施例２． また、上記実施例１では電子銃５から発生した細い線束をシンクロトロン放射 光３をコンプトン錯乱させていたが、図２に示すように、電子線６の通過する軌 道の両側に一対の電極７を置き、これに図３に示すような交流電流を流して、交 流電界を発生させて、電子線６を一方方向に振らせることができる。
【００１５】 なお、上記実施例では、一方向にしか電子線６を振れなかったが、電子２の軌 道上に図３に示す90°の角度を持つ、２組の相対向する電極板を置き、それらに 90°位相のずれた交流電場（図４）を発生させることにより電子２を円形に走査 することが出来て、電子線６の線束を太くすることができる。
【００１６】 実施例３． なお、上記実施例では、電極７を使って、ビームを偏向していたが、電磁石１ でも良く、図４に示すような磁場Ｂｘ、Ｂｙを発生することにより同様な効果が ある。
【００１７】
【考案の効果】
以上のように、この考案によれば、電子ビームと放射光の衝突によるコンプト ン錯乱による電子を測定するので、検出器を痛めることなく、また、放射光に干 渉しない、非破壊型の装置を得る効果がある。
【００１８】 また、電子ビームの軌道上に偏向装置を設けることにより、線束を太くする効 果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】この考案の実施例１によるシンクロトロン放射
光測定装置を示す概念図である。
【図２】この考案の実施例２によるシンクロトロン放射
光測定装置を示す概念図である。
【図３】この考案の実施例３によるシンクロトロン放射
光測定装置を示す概念図である。
【図４】この考案の実施例２、３によるシンクロトロン
放射光測定装置の電子ビーム偏向のための交流電場（磁
場）の位相関係を示す波形図である。
【図５】従来のシンクロトロン放射光測定装置を示す概
念図である。
【符号の説明】
１ 電磁石 ２ 電子銃 ３ シンクロトロン放射光 ４ 検出器 ５ 電子銃 ６ 電子線 ７ 電極 ８ 電子

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 電子線を発生する電子銃と電子線とシン
    クロトロン放射光が衝突して、コンプトン散乱による電
    子を検出する検出器とを備え、放射光の強度を測定する
    ことを特徴とするシンクロトロン放射光測定装置。
  2. 【請求項２】 電子銃から発生する電子線を交流電場間
    を通過させて、電子を偏向させて電子線を拡げることを
    特徴とするシンクロトロン放射光測定装置。
  3. 【請求項３】 電子銃から発生する電子線を交流磁場間
    を通過させて、電子を偏向させ、電子線を拡げることを
    特徴とするシンクロトロン放射光測定装置。
JP1180392U 1992-03-10 1992-03-10 シンクロトロン放射光測定装置 Pending JPH0573587U (ja)

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JP1180392U JPH0573587U (ja) 1992-03-10 1992-03-10 シンクロトロン放射光測定装置

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JP1180392U JPH0573587U (ja) 1992-03-10 1992-03-10 シンクロトロン放射光測定装置

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JPH0573587U true JPH0573587U (ja) 1993-10-08

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JP1180392U Pending JPH0573587U (ja) 1992-03-10 1992-03-10 シンクロトロン放射光測定装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005073681A1 (ja) * 2004-01-30 2005-08-11 Hamamatsu Photonics K.K. ストリーク装置

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WO2005073681A1 (ja) * 2004-01-30 2005-08-11 Hamamatsu Photonics K.K. ストリーク装置

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