JPH0573587U - シンクロトロン放射光測定装置 - Google Patents
シンクロトロン放射光測定装置Info
- Publication number
- JPH0573587U JPH0573587U JP1180392U JP1180392U JPH0573587U JP H0573587 U JPH0573587 U JP H0573587U JP 1180392 U JP1180392 U JP 1180392U JP 1180392 U JP1180392 U JP 1180392U JP H0573587 U JPH0573587 U JP H0573587U
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- synchrotron radiation
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- electron beam
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 シンクロトロン放射光を測定するシンクロト
ロン放射光測定装置を得る。 【構成】 電子銃5から発生する電子線6とシンクロト
ロン放射光3を衝突させコンプトン錯乱による電子8を
測定する検出器4を設ける。
ロン放射光測定装置を得る。 【構成】 電子銃5から発生する電子線6とシンクロト
ロン放射光3を衝突させコンプトン錯乱による電子8を
測定する検出器4を設ける。
Description
【0001】
この考案は、シンクロトロン放射光を測定するシンクロトロン放射光測定装置 に関するものである。
【0002】
図5は従来の放射光測定装置を示す概念図であり、図において、1は電磁石、 2は電子、3はシンクロトロン放射光、4は放射光の検出器である。
【0003】 次に動作について説明する。高エネルギーに加速された電子2は、電磁石1中 を通過する時、半径Rで円形に曲げられ、その接線方向にシンクロトロン放射光 3を発生する。このシンクロトロン放射光3の強度などの測定は、検出器4で直 接測定されていた。
【0004】 シンクロトロン放射光3の特性エネルギーEc(KeV) は、電子軌道半径をR( m)、エネルギーをE(GeV) とすると、 Ec(KeV) =2.218 E3(GeV)/R(m) となる。また、シンクロトロン放射光の全出力P(KW)は、電子ビームの平均電流 をI(A)とすると、 P(KW)=88.47 E4(GeV)I(A)/R(m) となる。
【0005】
従来の放射光測定装置は以上のように構成されているので、シンクロトロン放 射光3によって、検出器4が損傷を受け、シンクロトロン放射光3を測定できな くなるなどの問題があった。
【0006】 この考案は上記のような問題点を解消するためになされたもので、シンクロト ロン放射光を間接的に測定するシンクロトロン放射光測定装置を得ることを目的 とする。
【0007】
この考案に係る放射光測定装置は、電子蓄積リングから取り出されたシンクロ トロン放射光を電子銃で発生させた電子と衝突させてコンプトン錯乱をさせて、 錯乱電子を測定するものである。
【0008】
この考案におけるシンクロトロン放射光測定装置は、シンクロトロン放射光を 電子線と衝突させ、コンプトン錯乱をさせることにより、錯乱電子を測定して、 シンクロトロン放射光を測定する。
【0009】
実施例1. 以下、この考案の実施例1を図について説明する。図1はこの考案の実施例1 によるシンクロトロン放射光測定装置を示す概念図であり、図において、1は電 磁石、2は電子、3はシンクロトロン放射光、4は放射光の検出器、5は電子銃 、6は電子銃5から発生した電子線、8はコンプトロン錯乱された電子である。
【0010】 シンクロトロン放射光3は、電子銃5から発生した電子6とコンプトン錯乱し て、検出器4によって測定される。
【0011】 以下、この装置の動作について説明する。 シンクロトロン放射光3と電子の電磁的相互作用には、光電効果、コンプトン 散乱電子対発生の3過程があるが、本装置は、コンプトン錯乱による電子を測定 することにより、シンクロトロン放射光3の測定を行う。 自由電子はエネルギー運動量の保存則から光子を吸収できないので、可能な過 程は自由電子による光子の錯乱、すなわちコンプトン錯乱である。錯乱後の光子 および電子のエネルギーは、エネルギー運動量保存則から簡単に求まり
【0012】
【数1】
【0013】 となる。mは電子の静止質量、Eoは反跳電子の運動エネルギーである。
【0014】 実施例2. また、上記実施例1では電子銃5から発生した細い線束をシンクロトロン放射 光3をコンプトン錯乱させていたが、図2に示すように、電子線6の通過する軌 道の両側に一対の電極7を置き、これに図3に示すような交流電流を流して、交 流電界を発生させて、電子線6を一方方向に振らせることができる。
【0015】 なお、上記実施例では、一方向にしか電子線6を振れなかったが、電子2の軌 道上に図3に示す90°の角度を持つ、2組の相対向する電極板を置き、それらに 90°位相のずれた交流電場(図4)を発生させることにより電子2を円形に走査 することが出来て、電子線6の線束を太くすることができる。
【0016】 実施例3. なお、上記実施例では、電極7を使って、ビームを偏向していたが、電磁石1 でも良く、図4に示すような磁場Bx、Byを発生することにより同様な効果が ある。
【0017】
以上のように、この考案によれば、電子ビームと放射光の衝突によるコンプト ン錯乱による電子を測定するので、検出器を痛めることなく、また、放射光に干 渉しない、非破壊型の装置を得る効果がある。
【0018】 また、電子ビームの軌道上に偏向装置を設けることにより、線束を太くする効 果がある。
【図1】この考案の実施例1によるシンクロトロン放射
光測定装置を示す概念図である。
光測定装置を示す概念図である。
【図2】この考案の実施例2によるシンクロトロン放射
光測定装置を示す概念図である。
光測定装置を示す概念図である。
【図3】この考案の実施例3によるシンクロトロン放射
光測定装置を示す概念図である。
光測定装置を示す概念図である。
【図4】この考案の実施例2、3によるシンクロトロン
放射光測定装置の電子ビーム偏向のための交流電場(磁
場)の位相関係を示す波形図である。
放射光測定装置の電子ビーム偏向のための交流電場(磁
場)の位相関係を示す波形図である。
【図5】従来のシンクロトロン放射光測定装置を示す概
念図である。
念図である。
1 電磁石 2 電子銃 3 シンクロトロン放射光 4 検出器 5 電子銃 6 電子線 7 電極 8 電子
Claims (3)
- 【請求項1】 電子線を発生する電子銃と電子線とシン
クロトロン放射光が衝突して、コンプトン散乱による電
子を検出する検出器とを備え、放射光の強度を測定する
ことを特徴とするシンクロトロン放射光測定装置。 - 【請求項2】 電子銃から発生する電子線を交流電場間
を通過させて、電子を偏向させて電子線を拡げることを
特徴とするシンクロトロン放射光測定装置。 - 【請求項3】 電子銃から発生する電子線を交流磁場間
を通過させて、電子を偏向させ、電子線を拡げることを
特徴とするシンクロトロン放射光測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1180392U JPH0573587U (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | シンクロトロン放射光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1180392U JPH0573587U (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | シンクロトロン放射光測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0573587U true JPH0573587U (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=11788016
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1180392U Pending JPH0573587U (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | シンクロトロン放射光測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0573587U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005073681A1 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | ストリーク装置 |
-
1992
- 1992-03-10 JP JP1180392U patent/JPH0573587U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005073681A1 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | ストリーク装置 |
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