JPH0571754U - 熱疲労試験装置 - Google Patents

熱疲労試験装置

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JPH0571754U
JPH0571754U JP019154U JP1915492U JPH0571754U JP H0571754 U JPH0571754 U JP H0571754U JP 019154 U JP019154 U JP 019154U JP 1915492 U JP1915492 U JP 1915492U JP H0571754 U JPH0571754 U JP H0571754U
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JP
Japan
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test piece
cooling
test
load
thermal fatigue
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Pending
Application number
JP019154U
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English (en)
Inventor
修一 原口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP019154U priority Critical patent/JPH0571754U/ja
Publication of JPH0571754U publication Critical patent/JPH0571754U/ja
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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 試験片に熱サイクルと機械的負荷を与えるこ
とのできる試験装置を用いて熱疲労試験を行う場合、試
験中に試験片の標点以外の部分にバルジングが生じて破
断する事故を防止する。 【構成】 つかみ具3で保持した試験片2の標点間を加
熱する加熱装置5と、該標点間を冷却する冷却装置9
と、試験片2に荷重を負荷する負荷装置とを備え、試験
片2に熱サイクルと機械的負荷を与えるようにした熱疲
労試験装置1において、前記試験片2の標点間以外の部
分を冷却することのできる標点外冷却装置を設けた。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、試験片に熱サイクルと機械的負荷を与える熱疲労試験装置に関する ものである。
【0002】
【従来の技術】
つかみ具で保持した試験片の標点間を加熱する加熱装置と、該標点間を冷却す る冷却装置と、試験片に荷重を負荷する負荷装置を備え、試験片に熱サイクルと 機械的負荷を与えることができるようにした熱疲労試験装置が使用されている。 この種の試験装置を用いて、試験片に熱サイクルと機械的負荷を重畳して与える 熱疲労試験を行う場合、試験中に試験片の標点以外の部分にバルジングが生じて 破断することがあった。これは、試験片の温度が下がってくる冷却過程において 、標点外の温度が標点間よりも高くなる等の原因で、標点外の応力が局部的に高 くなるためと思われる。
【0003】 上記のような問題を避けるため、従来は、試験片の標点外の形状を段付き状に 大きくして、標点外の断面積を増すことにより、上記バルジングの発生を防止し ていた。しかしながら、試験片の形状が、機械加工により容易に加工できるもの はこのような寸法増大によって対応できるが、例えば、試験片がパイプである場 合等には、断面積を増加させる溶接加工等が非常に面倒であり、このような対応 策をとるのは非能率的であった。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
そこで本考案は、上記熱サイクルと機械的負荷を試験片に与える熱疲労試験に おいて、試験片の標点外のバルジング、破断の発生を防止することを課題として いる。
【0005】
【課題を解決するための手段】 上記課題を解決するため、本考案は次のような構成を採用した。すなわち、本 考案にかかる熱疲労試験装置は、つかみ具で保持した試験片の標点間を加熱する 加熱装置と、該標点間を冷却する冷却装置と、試験片に荷重を負荷する負荷装置 とを備え、試験片に熱サイクルと機械的負荷を与えるようにした熱疲労試験装置 において、前記試験片の標点間以外の部分を冷却することのできる標点外冷却装 置を設けたことを特徴としている。
【0006】
【作用】
標点外冷却装置によって試験片の標点間以外の部分を冷却することができるの で、標点間の温度を高くすることができるとともに、標点外の温度を低くして応 力を低く抑えることができる。
【0007】
【実施例】
以下、図面に表された実施例について説明すると、この熱疲労試験装置1は、 試験片2をつかんで保持する上下のつかみ具3,3を備え、試験片2は、このつ かみ具3に図2に示すようにボルト4で締めつけるようになっている。試験片に は、これらつかみ具3,3を介して軸方向の荷重が負荷される。
【0008】 上記試験片2の標点間の部分2aの外周部には、高周波誘導加熱装置5のコイ ル7と冷却装置9のリング状冷却ノズル10が配置されている。加熱装置のコイ ル7はパイプで形成され、その中空の内部には冷却水が流通させられる。また、 冷却装置9のリング状冷却ノズル10は、図3に示すように、冷却ガス分配用の マニホ−ルド12と配管13,…で接続されている。マニホ−ルド12には、冷 却ガスコントロ−ル弁16を介して図示しない冷却ガス供給源から冷却ガスが供 給される。リング状の冷却ノズル10の内周面には多数の吐出孔10a,…が設 けられており、マニホ−ルド12から分配供給される冷却ガスをこれら吐出孔か ら試験片の標点間外周部に吹きつけるようになっている。なお、図中の15は、 試験片の温度を検出する熱電対温度計である。この温度計は図示しない制御装置 と接続されており、その検出結果に基ずいて熱サイクルの制御が行われる。
【0009】 この熱疲労試験装置1には、上記冷却装置9に加えて標点外冷却装置20が設 けられている。標点外冷却装置20は、前記マニホ−ルド12と配管21で接続 されたリング状ノズル22を試験片の標点間部分2aよりも上方及び下方の標点 外部分2bに設けてなり、当該リング状ノズルの内周面には上記と同様の多数の 吐出孔23,…が設けられている。この上下のリング状ノズル22,22には、 前記マニホ−ルド12からコントロ−ル弁24を介して冷却ガスが供給され、こ のガスが試験片の標点外部分2b,2bの外周部に向かって噴出される。
【0010】 この熱疲労試験装置1を用いて試験片2の熱疲労試験を行う場合は、つかみ具 3を介して試験片に荷重を負荷するとともに、加熱装置5と冷却装置9によって 試験片に加熱、冷却の熱サイクルを与える。この間必要に応じて標点外冷却装置 20による標点外部分2b,2bの冷却が行われるので、標点間の温度を十分に 高温にすることができる。また、標点外部分が冷却されるので、この部分に局部 的な高応力が生じることが防がれる結果、上記のようなバルジ破断の問題が生じ ない。
【0011】 なお、上記実施例では、加熱装置として高周波誘導加熱装置を使用したが、抵 抗炉、赤外線炉等、他の適当な加熱装置を採用することができる。また、標点外 冷却装置のノズル22は、冷却装置9のマニホ−ルド12から分岐して設けられ ているが、独立の冷却装置として設けておくこともできる。さらに、標点外冷却 装置の冷却手段として冷却ガスが使用されているが、これを例えば水冷ジャケッ トで冷却するようにしてもよい。
【0012】
【考案の効果】
以上の説明から明らかなように、本考案にかかる熱疲労試験装置は、試験片の 標点外の部分を冷却する標点外冷却装置を備えているので、標点間の加熱温度を 高くすることができるとともに、試験片の標点外部分の形状寸法を特別に補強し なくても、試験中に標点外の部分にバルジング、破断等が生じなくなった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を表す構成説明図である。
【図2】そのA−A矢視図である。
【図3】冷却装置の説明図である。
【符号の説明】
1 熱疲労試験装置 2 試験片 3 つかみ具 5 加熱装置 9 冷却装置 10 ノズル 20 標点外冷却装置 22 ノズル

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 つかみ具で保持した試験片の標点間を加
    熱する加熱装置と、該標点間を冷却する冷却装置と、試
    験片に荷重を負荷する負荷装置とを備え、試験片に熱サ
    イクルと機械的負荷を与えるようにした熱疲労試験装置
    において、前記試験片の標点間以外の部分を冷却するこ
    とのできる標点外冷却装置を設けたことを特徴とする熱
    疲労試験装置。
JP019154U 1992-02-28 1992-02-28 熱疲労試験装置 Pending JPH0571754U (ja)

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JP019154U JPH0571754U (ja) 1992-02-28 1992-02-28 熱疲労試験装置

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JP019154U JPH0571754U (ja) 1992-02-28 1992-02-28 熱疲労試験装置

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JPH0571754U true JPH0571754U (ja) 1993-09-28

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ID=11991506

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JP019154U Pending JPH0571754U (ja) 1992-02-28 1992-02-28 熱疲労試験装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100920102B1 (ko) * 2008-10-31 2009-10-01 한국항공대학교산학협력단 길이 방향 열피로 균열 형성장치

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6250639A (ja) * 1985-08-29 1987-03-05 Shimadzu Corp 高温・低温引張り試験機

Patent Citations (1)

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