JPH0566353A - 光減衰器 - Google Patents
光減衰器Info
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- JPH0566353A JPH0566353A JP3230331A JP23033191A JPH0566353A JP H0566353 A JPH0566353 A JP H0566353A JP 3230331 A JP3230331 A JP 3230331A JP 23033191 A JP23033191 A JP 23033191A JP H0566353 A JPH0566353 A JP H0566353A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 必要とする光減衰量に簡単に設定できる光減
衰器を提供する。 【構成】 光減衰器の入力光ＯＰＴinは光分岐器（Ｈ
Ｍ）１を通過し、光減衰媒体（ＯＡＴ）２で所定の減衰
を受けた後、光ＯＰＴout として出力される。一方、入
力光ＯＰＴinの一部ＯＰＴ１は光検出器（ＤＥＴ）４
で、光減衰媒体（ＯＡＴ）２の透過光ＯＰＴ３は光検出
器（ＤＥＴ）５でそれぞれ電気信号に変換される。比較
回路（ＤＩＦ）６はこれら電気信号に基づいて光減衰媒
体（ＯＡＴ）２の光減衰量を算出し、表示器（ＤＳＰ）
７に表示させる。
衰器を提供する。 【構成】 光減衰器の入力光ＯＰＴinは光分岐器（Ｈ
Ｍ）１を通過し、光減衰媒体（ＯＡＴ）２で所定の減衰
を受けた後、光ＯＰＴout として出力される。一方、入
力光ＯＰＴinの一部ＯＰＴ１は光検出器（ＤＥＴ）４
で、光減衰媒体（ＯＡＴ）２の透過光ＯＰＴ３は光検出
器（ＤＥＴ）５でそれぞれ電気信号に変換される。比較
回路（ＤＩＦ）６はこれら電気信号に基づいて光減衰媒
体（ＯＡＴ）２の光減衰量を算出し、表示器（ＤＳＰ）
７に表示させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光通信用の光減衰器に関
するものである。
するものである。
【０００２】
【従来の技術】光通信の分野では、光強度に一定の減衰
を与える可変光減衰器を用いることが多い。この可変光
減衰器にはステップ可変減衰器と連続可変減衰器がある
（例えば副島俊雄，貝淵俊二「新版・光ファイバ通信」
（昭５６−１２−１２）電気通信技術ニュース社Ｐ．３
０４−３０６）。
を与える可変光減衰器を用いることが多い。この可変光
減衰器にはステップ可変減衰器と連続可変減衰器がある
（例えば副島俊雄，貝淵俊二「新版・光ファイバ通信」
（昭５６−１２−１２）電気通信技術ニュース社Ｐ．３
０４−３０６）。
【０００３】ステップ可変減衰器は光強度に一定量の減
衰を与える減衰素子を入れ替えて減衰量を段階的に可変
するものである。また、連続可変減衰器は金属膜の膜厚
を連続的に変えた減衰板と一定量の減衰を段階的に与え
る減衰板とを縦続に配置し、減衰量を広い範囲で連続的
に可変するものである。
衰を与える減衰素子を入れ替えて減衰量を段階的に可変
するものである。また、連続可変減衰器は金属膜の膜厚
を連続的に変えた減衰板と一定量の減衰を段階的に与え
る減衰板とを縦続に配置し、減衰量を広い範囲で連続的
に可変するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記ス
テップ可変減衰器では減衰量を連続的に可変することが
できないので任意の減衰量を得ることができないという
問題点があった。
テップ可変減衰器では減衰量を連続的に可変することが
できないので任意の減衰量を得ることができないという
問題点があった。
【０００５】また、上記連続可変減衰器では任意の減衰
量を得ることができるものの、連続的に減衰量を可変す
る減衰板の減衰量と段階的に減衰を与える減衰板の減衰
量との和が現在の減衰量となるので、現在の減衰量を一
目で読み取れないという問題点があった。
量を得ることができるものの、連続的に減衰量を可変す
る減衰板の減衰量と段階的に減衰を与える減衰板の減衰
量との和が現在の減衰量となるので、現在の減衰量を一
目で読み取れないという問題点があった。
【０００６】更には、長期安定性を有する光減衰素子を
得ることが困難であるため、たびたび減衰量を校正しな
ければならないという煩しさもあった。
得ることが困難であるため、たびたび減衰量を校正しな
ければならないという煩しさもあった。
【０００７】本発明は以上述べた問題点を解決するため
になされたものであって、簡単に短時間で任意の減衰量
を得ることのできる光減衰器を提供することを目的とす
る。
になされたものであって、簡単に短時間で任意の減衰量
を得ることのできる光減衰器を提供することを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、光減衰量を変えることのできる光減衰媒体
と、前記光減衰媒体の入射光の一部を電気信号に変換す
る変換手段と、前記光減衰媒体の透過光の一部を電気信
号に変換する変換手段と、前記両電気信号に基づき前記
光減衰媒体の光減衰量を算出して表示する手段とを備え
たものである。
するため、光減衰量を変えることのできる光減衰媒体
と、前記光減衰媒体の入射光の一部を電気信号に変換す
る変換手段と、前記光減衰媒体の透過光の一部を電気信
号に変換する変換手段と、前記両電気信号に基づき前記
光減衰媒体の光減衰量を算出して表示する手段とを備え
たものである。
【０００９】また、本発明は光減衰量を変えることので
きる光減衰媒体と、前記光減衰媒体の入射光の一部を電
気信号に変換する変換手段と、前記光減衰媒体の透過光
の一部を電気信号に変換する変換手段と、前記両電気信
号に基づき前記光減衰媒体の光減衰量を算出する算出手
段と、必要な光減衰量を設定する設定手段と、前記算出
手段で算出する光減衰量が前記設定手段で設定する光減
衰量に等しくなるように前記光減衰媒体を駆動してその
光減衰量を変える駆動手段とを備えたものである。
きる光減衰媒体と、前記光減衰媒体の入射光の一部を電
気信号に変換する変換手段と、前記光減衰媒体の透過光
の一部を電気信号に変換する変換手段と、前記両電気信
号に基づき前記光減衰媒体の光減衰量を算出する算出手
段と、必要な光減衰量を設定する設定手段と、前記算出
手段で算出する光減衰量が前記設定手段で設定する光減
衰量に等しくなるように前記光減衰媒体を駆動してその
光減衰量を変える駆動手段とを備えたものである。
【００１０】
【作用】光減衰器の入力光は光減衰媒体で減衰を受け、
該光減衰器から出力される。このとき、上記光減衰媒体
の光減衰量は表示手段で表示されるので、この表示を見
ることにより上記光減衰媒体を必要とする光減衰量に容
易に設定することができる。
該光減衰器から出力される。このとき、上記光減衰媒体
の光減衰量は表示手段で表示されるので、この表示を見
ることにより上記光減衰媒体を必要とする光減衰量に容
易に設定することができる。
【００１１】また、光減衰媒体に対する駆動手段は、算
出した該光減衰媒体の光減衰量が設定手段で設定した光
減衰量に等しくなるように該光減衰媒体を駆動するの
で、設定手段で必要とする光減衰量を設定することによ
り上記光減衰媒体を必要とする光減衰量に自動的に設定
することができる。
出した該光減衰媒体の光減衰量が設定手段で設定した光
減衰量に等しくなるように該光減衰媒体を駆動するの
で、設定手段で必要とする光減衰量を設定することによ
り上記光減衰媒体を必要とする光減衰量に自動的に設定
することができる。
【００１２】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例を示す構成図で
ある。図１において、１，３は入射光の一部を分岐する
光分岐器（ＨＭ），２は入射光に減衰を与える光減衰媒
体（ＯＡＴ）である。
ある。図１において、１，３は入射光の一部を分岐する
光分岐器（ＨＭ），２は入射光に減衰を与える光減衰媒
体（ＯＡＴ）である。
【００１３】この光減衰媒体（ＯＡＴ）の光減衰量は外
部駆動により変えることが可能であり、例えば光減衰量
に２進の重みを付けた複数の光減衰素子（例えば減衰量
がそれぞれ１ｄＢ，２ｄＢ，４ｄＢ，８ｄＢの光減衰素
子）を光の通路に縦続的に配置し、所定の光減衰素子を
上記通路から除去したり、挿入したりすることにより所
望の光減衰量（上記の例では、光減衰量を０ｄＢ〜１５
ｄＢの範囲で１ｄＢステップで可変することができる）
を得る構成にしたもの、金属膜の膜厚を連続的に変えた
減衰板を回転することにより光減衰量を連続的に変える
構成にしたもの、あるいはこれらを組合せたもの等が考
えられる。
部駆動により変えることが可能であり、例えば光減衰量
に２進の重みを付けた複数の光減衰素子（例えば減衰量
がそれぞれ１ｄＢ，２ｄＢ，４ｄＢ，８ｄＢの光減衰素
子）を光の通路に縦続的に配置し、所定の光減衰素子を
上記通路から除去したり、挿入したりすることにより所
望の光減衰量（上記の例では、光減衰量を０ｄＢ〜１５
ｄＢの範囲で１ｄＢステップで可変することができる）
を得る構成にしたもの、金属膜の膜厚を連続的に変えた
減衰板を回転することにより光減衰量を連続的に変える
構成にしたもの、あるいはこれらを組合せたもの等が考
えられる。
【００１４】４，５は入射光を電気信号に変換する光検
出器（ＤＥＴ），６は光検出器（ＤＥＴ）４，５からの
電気信号に基づき光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰量を
計算する比較回路（ＤＩＦ），７は上記の光減衰量を表
示する表示器（ＤＳＰ），８はテンキー，ダイヤル，表
示器等で構成され、必要とする光減衰量を設定するため
の光減衰量設定部（ＡＳＴ），９は光減衰量設定部（Ａ
ＳＴ）８の出力に基づいて光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光
減衰素子等を駆動する駆動回路（ＤＲＶ）である。
出器（ＤＥＴ），６は光検出器（ＤＥＴ）４，５からの
電気信号に基づき光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰量を
計算する比較回路（ＤＩＦ），７は上記の光減衰量を表
示する表示器（ＤＳＰ），８はテンキー，ダイヤル，表
示器等で構成され、必要とする光減衰量を設定するため
の光減衰量設定部（ＡＳＴ），９は光減衰量設定部（Ａ
ＳＴ）８の出力に基づいて光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光
減衰素子等を駆動する駆動回路（ＤＲＶ）である。
【００１５】上記駆動回路（ＤＲＶ）９としては種々の
構成が考えられる。例えば図２に示すように、スイッチ
Ｓ1 〜Ｓn により電磁駆動回路ＭＤ1 〜ＭＤn を動作さ
せ、光減衰素子ＡＴＴ1〜ＡＴＴn を光の通路に挿入あ
るいは除去することにより光ＯＰＴに減衰を与える構成
のものや、図３に示すように可変抵抗器ＶＲの出力電圧
Ｖc をＡ／Ｄ変換器Ａ／Ｄによりディジタル信号に変換
し、電磁駆動回路ＤＲＣを動作させて光減衰素子ＡＴＴ
1 〜ＡＴＴ4 を光の通路に挿入あるいは除去することに
より光ＯＰＴに減衰を与える構成のもの等が考えられ
る。なお、図２，図３においてＳＬ1 ，ＳＬ2 はロッド
レンズである。
構成が考えられる。例えば図２に示すように、スイッチ
Ｓ1 〜Ｓn により電磁駆動回路ＭＤ1 〜ＭＤn を動作さ
せ、光減衰素子ＡＴＴ1〜ＡＴＴn を光の通路に挿入あ
るいは除去することにより光ＯＰＴに減衰を与える構成
のものや、図３に示すように可変抵抗器ＶＲの出力電圧
Ｖc をＡ／Ｄ変換器Ａ／Ｄによりディジタル信号に変換
し、電磁駆動回路ＤＲＣを動作させて光減衰素子ＡＴＴ
1 〜ＡＴＴ4 を光の通路に挿入あるいは除去することに
より光ＯＰＴに減衰を与える構成のもの等が考えられ
る。なお、図２，図３においてＳＬ1 ，ＳＬ2 はロッド
レンズである。
【００１６】次に本実施例の動作について説明する。
【００１７】図１において、光減衰器に入力した入力光
ＯＰＴinは光分岐器（ＨＭ１）１に入射する。入射した
光の大部分は光分岐器（ＨＭ）１を通過し、光ＯＰＴ２
として光減衰媒体（ＯＡＴ）２に入射し、所定の減衰を
受けて光ＯＰＴ３として出射する。なお、光減衰媒体
（ＯＡＴ）２の光減衰量は光減衰量設定部（ＡＳＴ）８
で変えることができる。上記光ＯＰＴ３は光分岐器（Ｈ
Ｍ）３に入射し、その大部分は光分岐器（ＨＭ）３を通
過し、光ＯＰＴoutとして光減衰器から出力する。
ＯＰＴinは光分岐器（ＨＭ１）１に入射する。入射した
光の大部分は光分岐器（ＨＭ）１を通過し、光ＯＰＴ２
として光減衰媒体（ＯＡＴ）２に入射し、所定の減衰を
受けて光ＯＰＴ３として出射する。なお、光減衰媒体
（ＯＡＴ）２の光減衰量は光減衰量設定部（ＡＳＴ）８
で変えることができる。上記光ＯＰＴ３は光分岐器（Ｈ
Ｍ）３に入射し、その大部分は光分岐器（ＨＭ）３を通
過し、光ＯＰＴoutとして光減衰器から出力する。
【００１８】また、入力光ＯＰＴinの一部は光分岐器
（ＨＭ）１で分岐され光ＯＰＴ１として光検出器（ＤＥ
Ｔ）４に入射し、光ＯＰＴ３の一部は光分岐器（ＨＭ）
３で分岐され光ＯＰＴ４として光検出器（ＤＥＴ）５に
入射する。光検出器（ＤＥＴ）４は光ＯＰＴ１を、光検
出器（ＤＥＴ）５は光ＯＰＴ４をそれぞれ電気信号に変
換し、比較回路（ＤＩＦ）６に出力する。ここで、光検
出器（ＤＥＴ）４の電気信号は光減衰器に入力する入力
光ＯＰＴinの光パワーに比例し、光検出器（ＤＥＴ）５
の電気信号は光減衰器から出力する光ＯＰＴout の光パ
ワーに比例する。
（ＨＭ）１で分岐され光ＯＰＴ１として光検出器（ＤＥ
Ｔ）４に入射し、光ＯＰＴ３の一部は光分岐器（ＨＭ）
３で分岐され光ＯＰＴ４として光検出器（ＤＥＴ）５に
入射する。光検出器（ＤＥＴ）４は光ＯＰＴ１を、光検
出器（ＤＥＴ）５は光ＯＰＴ４をそれぞれ電気信号に変
換し、比較回路（ＤＩＦ）６に出力する。ここで、光検
出器（ＤＥＴ）４の電気信号は光減衰器に入力する入力
光ＯＰＴinの光パワーに比例し、光検出器（ＤＥＴ）５
の電気信号は光減衰器から出力する光ＯＰＴout の光パ
ワーに比例する。
【００１９】比較回路（ＤＩＦ）６は上記電気信号の差
を求め、光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰量を算出す
る。上記電気信号のレベル差は光減衰媒体（ＯＡＴ）２
の光減衰量に比例するから、あらかじめ光減衰量の値と
電気信号のレベル差との関係を調べておくことにより、
そのレベル差から光減衰量を求めることができる。算出
した光減衰量は表示器（ＤＳＰ）７に表示される。従っ
て、この表示器（ＤＳＰ）７の表示を見ながら光減衰量
設定部（ＡＳＴ）８のテンキー，ダイヤル等を操作する
ことにより、光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰量を所望
の値に容易に設定することができる。なお、比較回路
（ＤＩＦ）６は光減衰量の計算過程において光分岐器
（ＨＭ）１および光分岐器（ＨＭ）３の挿入損失を織り
込むものとする。
を求め、光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰量を算出す
る。上記電気信号のレベル差は光減衰媒体（ＯＡＴ）２
の光減衰量に比例するから、あらかじめ光減衰量の値と
電気信号のレベル差との関係を調べておくことにより、
そのレベル差から光減衰量を求めることができる。算出
した光減衰量は表示器（ＤＳＰ）７に表示される。従っ
て、この表示器（ＤＳＰ）７の表示を見ながら光減衰量
設定部（ＡＳＴ）８のテンキー，ダイヤル等を操作する
ことにより、光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰量を所望
の値に容易に設定することができる。なお、比較回路
（ＤＩＦ）６は光減衰量の計算過程において光分岐器
（ＨＭ）１および光分岐器（ＨＭ）３の挿入損失を織り
込むものとする。
【００２０】また、本実施例の光減衰媒体（ＯＡＴ）２
は光減衰量が既知の光減衰素子を含んでいる。従って、
光減衰量設定部（ＡＳＴ）８でこの光減衰素子を選択す
ることにより、光減衰量表示の校正が可能となる。
は光減衰量が既知の光減衰素子を含んでいる。従って、
光減衰量設定部（ＡＳＴ）８でこの光減衰素子を選択す
ることにより、光減衰量表示の校正が可能となる。
【００２１】図４は本発明の第２の実施例を示す構成図
である。本実施例は第１の実施例を示す図１の入力側に
光スイッチ（ＯＳＷ）１０と校正用の光源（ＯＳ）８を
追加したもので、この光源（ＯＳ）８を用いて光減衰量
を校正することができる。すなわち、光スイッチ（ＯＳ
Ｗ）１０を切替えて光源（ＯＳ）１１の出射光ＯＰＴ５
を光分岐器（ＨＭ）１に入射させ、光減衰量設定部（Ａ
ＳＴ）８を操作して光減衰媒体（ＯＡＴ）２に含まれる
光減衰量が既知の光減衰素子を選択する。このとき、表
示器（ＤＳＰ）５に表示される光減衰量が上記既知の光
減衰量と等しくなるように光検出器（ＤＥＴ）４，５，
比較回路（ＤＩＦ）６等を調整する。
である。本実施例は第１の実施例を示す図１の入力側に
光スイッチ（ＯＳＷ）１０と校正用の光源（ＯＳ）８を
追加したもので、この光源（ＯＳ）８を用いて光減衰量
を校正することができる。すなわち、光スイッチ（ＯＳ
Ｗ）１０を切替えて光源（ＯＳ）１１の出射光ＯＰＴ５
を光分岐器（ＨＭ）１に入射させ、光減衰量設定部（Ａ
ＳＴ）８を操作して光減衰媒体（ＯＡＴ）２に含まれる
光減衰量が既知の光減衰素子を選択する。このとき、表
示器（ＤＳＰ）５に表示される光減衰量が上記既知の光
減衰量と等しくなるように光検出器（ＤＥＴ）４，５，
比較回路（ＤＩＦ）６等を調整する。
【００２２】このように、校正用の光源（ＯＳ）８を内
蔵しているので、光減衰器の使用直前に、該光減衰器自
身で簡単に光減衰量を校正することができる。
蔵しているので、光減衰器の使用直前に、該光減衰器自
身で簡単に光減衰量を校正することができる。
【００２３】なお、光スイッチ（ＯＳＷ）１０を切替え
て入力光ＯＰＴinが光分岐器（ＨＭ）１に入射する状態
にすれば、図１の場合と同様に光減衰器として動作す
る。
て入力光ＯＰＴinが光分岐器（ＨＭ）１に入射する状態
にすれば、図１の場合と同様に光減衰器として動作す
る。
【００２４】図５は本発明の第３の実施例を示す構成図
である。図５において、１，３は光分岐器（ＨＭ），２
は光減衰媒体（ＯＡＴ），４，５，は光検出器（ＤＥ
Ｔ），６は比較回路（ＤＩＦ），８は光減衰量設定部
（ＡＳＴ）であり、いずれも図１において同一符号を付
したものと同様のものである。９は駆動回路（ＤＲＶ）
であり、図１の駆動回路（ＤＲＶ）９と同様な光減衰媒
体（ＯＡＴ）２の光減衰素子を駆動する機能を有するほ
か、光減衰量設定部（ＡＳＴ）８で設定された光減衰量
と比較回路（ＤＩＦ）６で算出された光減衰媒体（ＯＡ
Ｔ）２の光減衰量とを比較し、光減衰媒体（ＯＡＴ）２
の光減衰量が設定された光減衰量に一致するようにその
光減衰素子を駆動すると共に、設定された光減衰量と現
在の光減衰量とを表示器（ＤＳＰ）７に出力する機能を
も有している。
である。図５において、１，３は光分岐器（ＨＭ），２
は光減衰媒体（ＯＡＴ），４，５，は光検出器（ＤＥ
Ｔ），６は比較回路（ＤＩＦ），８は光減衰量設定部
（ＡＳＴ）であり、いずれも図１において同一符号を付
したものと同様のものである。９は駆動回路（ＤＲＶ）
であり、図１の駆動回路（ＤＲＶ）９と同様な光減衰媒
体（ＯＡＴ）２の光減衰素子を駆動する機能を有するほ
か、光減衰量設定部（ＡＳＴ）８で設定された光減衰量
と比較回路（ＤＩＦ）６で算出された光減衰媒体（ＯＡ
Ｔ）２の光減衰量とを比較し、光減衰媒体（ＯＡＴ）２
の光減衰量が設定された光減衰量に一致するようにその
光減衰素子を駆動すると共に、設定された光減衰量と現
在の光減衰量とを表示器（ＤＳＰ）７に出力する機能を
も有している。
【００２５】次に本実施例の動作について説明する。
【００２６】図５において、光減衰器に入力した入力光
ＯＰＴinは光分岐器（ＨＭ）１を通過し、光減衰媒体
（ＯＡＴ）２で所定の減衰を受け、光分岐器（ＨＭ）３
を通過して、光減衰器から出力される。
ＯＰＴinは光分岐器（ＨＭ）１を通過し、光減衰媒体
（ＯＡＴ）２で所定の減衰を受け、光分岐器（ＨＭ）３
を通過して、光減衰器から出力される。
【００２７】入力光ＯＰＴinの一部は光分岐器（ＨＭ）
１で分岐され、光ＯＰＴ１として光検出器（ＤＥＴ）４
に入射し、一方光減衰媒体（ＯＡＴ）２から出射した光
ＯＰＴ３の一部は光分岐器（ＨＭ）３で分岐され、光Ｏ
ＰＴ４として光検出器（ＤＥＴ）５に入射し、それぞれ
光パワーに比例した電気信号に変換されて比較回路（Ｄ
ＩＦ）６に入力する。比較回路（ＤＩＦ）６は上記２つ
の電気信号に基づいて光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰
量を算出し、駆動回路（ＤＲＶ）９に出力する。なお、
比較回路（ＤＩＦ）６は光減衰量の計算過程で光分岐器
（ＨＭ）１および光分岐器（ＨＭ）２の挿入損失を織り
込んでいる。
１で分岐され、光ＯＰＴ１として光検出器（ＤＥＴ）４
に入射し、一方光減衰媒体（ＯＡＴ）２から出射した光
ＯＰＴ３の一部は光分岐器（ＨＭ）３で分岐され、光Ｏ
ＰＴ４として光検出器（ＤＥＴ）５に入射し、それぞれ
光パワーに比例した電気信号に変換されて比較回路（Ｄ
ＩＦ）６に入力する。比較回路（ＤＩＦ）６は上記２つ
の電気信号に基づいて光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰
量を算出し、駆動回路（ＤＲＶ）９に出力する。なお、
比較回路（ＤＩＦ）６は光減衰量の計算過程で光分岐器
（ＨＭ）１および光分岐器（ＨＭ）２の挿入損失を織り
込んでいる。
【００２８】駆動回路（ＤＲＶ）９は比較回路（ＤＩ
Ｆ）６で算出された光減衰量と光減衰量設定部（ＡＳ
Ｔ）８で設定された光減衰量とを比較し、算出された現
在の光減衰量が設定された光減衰量に近づく方向に光減
衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰素子を駆動する。従って、
光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰量は光減衰量設定部
（ＡＳＴ）８で設定された光減衰量に等しくなるように
自動調整される。現在の光減衰量と設定された光減衰量
は、表示器（ＤＳＰ）７に表示され、その光減衰量を目
視により確認することができる。
Ｆ）６で算出された光減衰量と光減衰量設定部（ＡＳ
Ｔ）８で設定された光減衰量とを比較し、算出された現
在の光減衰量が設定された光減衰量に近づく方向に光減
衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰素子を駆動する。従って、
光減衰媒体（ＯＡＴ）２の光減衰量は光減衰量設定部
（ＡＳＴ）８で設定された光減衰量に等しくなるように
自動調整される。現在の光減衰量と設定された光減衰量
は、表示器（ＤＳＰ）７に表示され、その光減衰量を目
視により確認することができる。
【００２９】また、本実施例の光減衰媒体（ＯＡＴ）２
は光減衰量が既知の光減衰素子を含んでおり、第１の実
施例や第２の実施例と同様にして光減衰量表示の校正を
することができる。
は光減衰量が既知の光減衰素子を含んでおり、第１の実
施例や第２の実施例と同様にして光減衰量表示の校正を
することができる。
【００３０】このように、本実施例によれば光減衰量設
定部（ＡＳＴ）８で所望の光減衰量を設定することによ
り、光減衰器をその光減衰量に自動的に設定することが
可能となる。
定部（ＡＳＴ）８で所望の光減衰量を設定することによ
り、光減衰器をその光減衰量に自動的に設定することが
可能となる。
【００３１】図６は本発明の第４の実施例を示す構成図
である。本実施例は第３の実施例を示す図５の入力側に
光スイッチ（ＯＳＷ）１０と校正用の光源（ＯＳ）８と
を追加したもので、上記光源（ＯＳ）８を用いて光減衰
量を校正することができる。すなわち、光スイッチ（Ｏ
ＳＷ）１０を切替えて光源（ＯＳ）８の出射光ＯＰＴ５
を光分岐器（ＨＭ）１に入射させ、光減衰量設定部（Ａ
ＳＴ）８を操作して光減衰媒体（ＯＡＴ）２に含まれる
光減衰量が既知の光減衰素子を強制的に選択する。この
とき、比較回路（ＤＩＦ）６で算出された光減衰量が上
記光減衰素子の光減衰量と一致するように光検出器（Ｄ
ＥＴ）４，５，比較回路（ＤＩＦ）６等を調整する。
である。本実施例は第３の実施例を示す図５の入力側に
光スイッチ（ＯＳＷ）１０と校正用の光源（ＯＳ）８と
を追加したもので、上記光源（ＯＳ）８を用いて光減衰
量を校正することができる。すなわち、光スイッチ（Ｏ
ＳＷ）１０を切替えて光源（ＯＳ）８の出射光ＯＰＴ５
を光分岐器（ＨＭ）１に入射させ、光減衰量設定部（Ａ
ＳＴ）８を操作して光減衰媒体（ＯＡＴ）２に含まれる
光減衰量が既知の光減衰素子を強制的に選択する。この
とき、比較回路（ＤＩＦ）６で算出された光減衰量が上
記光減衰素子の光減衰量と一致するように光検出器（Ｄ
ＥＴ）４，５，比較回路（ＤＩＦ）６等を調整する。
【００３２】なお、光スイッチ（ＯＳＷ）１０を切替え
て入力光ＯＰＴinが光分岐器（ＨＭ）１に入射する状態
にすれば、図５の場合と同様に光減衰器として動作す
る。
て入力光ＯＰＴinが光分岐器（ＨＭ）１に入射する状態
にすれば、図５の場合と同様に光減衰器として動作す
る。
【００３３】また、上記光分岐器（ＨＭ）１，３は光ス
イッチに置換え可能であり、上記光スイッチ（ＯＳＷ）
１０は光分岐器に置換え可能である。
イッチに置換え可能であり、上記光スイッチ（ＯＳＷ）
１０は光分岐器に置換え可能である。
【００３４】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように本発明によ
れば、光減衰器内部に光パワー検出手段と光減衰量表示
手段を有しているので、以下の効果が期待できる。
れば、光減衰器内部に光パワー検出手段と光減衰量表示
手段を有しているので、以下の効果が期待できる。
【００３５】１．任意の減衰量が簡単に得られる。
【００３６】２．可変光減衰器の長期安定性は不要。
【００３７】３．現状の減衰量が一目で読み取れる。
【００３８】また、本発明は設定された減衰量と現在の
減衰量を比較しながら設定された減衰量に自動調整する
手段を設けているので以下のような効果が得られる。
減衰量を比較しながら設定された減衰量に自動調整する
手段を設けているので以下のような効果が得られる。
【００３９】１．簡単で短時間に任意の減衰量が得られ
る。
る。
【００４０】２．可変光減衰素子に不安定性があっても
減衰量は自動調整される。
減衰量は自動調整される。
【００４１】３．現状の減衰量が一目で読み取れる。
【図１】本発明の第１の実施例を示す構成図である。
【図２】駆動回路（ＤＲＶ）の実施例を示す構成図であ
る。
る。
【図３】駆動回路（ＤＲＶ）の実施例を示す構成図であ
る。
る。
【図４】本発明の第２の実施例を示す構成図である。
【図５】本発明の第３の実施例を示す構成図である。
【図６】本発明の第４の実施例を示す構成図である。
１，３ 光分岐器（ＨＭ） ２ 光減衰媒体（ＯＡＴ） ４，５ 光検出器（ＤＥＴ） ６ 比較回路（ＤＩＦ） ７ 表示器（ＤＳＰ） ８ 光減衰量設定部（ＡＳＴ） ９ 駆動回路（ＤＲＶ） １０ 光スイッチ（ＯＳＷ） １１ 光源（ＯＳ）
Claims (5)
- 【請求項１】 光減衰量を変えることのできる光減衰媒
体と、 前記光減衰媒体の入射光の一部を電気信号に変換する変
換手段と、 前記光減衰媒体の透過光の一部を電気信号に変換する変
換手段と、 前記両電気信号に基づき前記光減衰媒体の光減衰量を算
出して表示する手段と、を有することを特徴とする光減
衰器。 - 【請求項２】 光を出射する内部光源と、 前記内部光源の出射光又は入力光を選択して前記光減衰
媒体へ出射する手段と、を入力側に設けたことを特徴と
する請求項１記載の光減衰器。 - 【請求項３】 光減衰量を変えることのできる光減衰媒
体と、 前記光減衰媒体の入射光の一部を電気信号に変換する変
換手段と、 前記光減衰媒体の透過光の一部を電気信号に変換する変
換手段と、 前記両電気信号に基づき前記光減衰媒体の光減衰量を算
出する算出手段と、 必要な光減衰量を設定する設定手段と、 前記算出手段で算出する光減衰量が前記設定手段で設定
する光減衰量に等しくなるように前記光減衰媒体を駆動
してその光減衰量を変える駆動手段と、を有することを
特徴とする光減衰器。 - 【請求項４】 光を出射する内部光源と、 前記内部光源の出射光又は入力光を選択して前記光減衰
媒体へ出射する手段と、を入力側に設けたことを特徴と
する請求項３記載の光減衰器。 - 【請求項５】 前記光減衰媒体に減衰量が既知の光減衰
素子を設けたことを特徴とする請求項１、２、３又は４
記載の光減衰器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3230331A JPH0566353A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 光減衰器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3230331A JPH0566353A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 光減衰器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0566353A true JPH0566353A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=16906166
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3230331A Pending JPH0566353A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 光減衰器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0566353A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0837499A (ja) * | 1994-07-25 | 1996-02-06 | Anritsu Corp | 光信号受信装置 |
| JP2004297790A (ja) * | 2003-03-10 | 2004-10-21 | Nec Corp | 光ノード装置、光ネットワークシステムおよびその制御方法 |
| US7274880B2 (en) | 2000-11-16 | 2007-09-25 | Tyco Telecommunications (Us) Inc. | Raman assisted EDFA system and method |
-
1991
- 1991-09-10 JP JP3230331A patent/JPH0566353A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0837499A (ja) * | 1994-07-25 | 1996-02-06 | Anritsu Corp | 光信号受信装置 |
| US7274880B2 (en) | 2000-11-16 | 2007-09-25 | Tyco Telecommunications (Us) Inc. | Raman assisted EDFA system and method |
| JP2004297790A (ja) * | 2003-03-10 | 2004-10-21 | Nec Corp | 光ノード装置、光ネットワークシステムおよびその制御方法 |
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