JPH0566073U - Board holder - Google Patents
Board holderInfo
- Publication number
- JPH0566073U JPH0566073U JP707792U JP707792U JPH0566073U JP H0566073 U JPH0566073 U JP H0566073U JP 707792 U JP707792 U JP 707792U JP 707792 U JP707792 U JP 707792U JP H0566073 U JPH0566073 U JP H0566073U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- holder
- crystal
- component
- opening
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 液相エピタキシャル成長させた後に結晶成長
用基板が簡単に取外せる基板用ホルダーを提供するこ
と。
【構成】 この基板用ホルダー1は、略中央に基板より
僅かに大きな開口部31を備えその厚みが基板の厚みよ
り大きいホルダー部品3と、このホルダー部品3の開口
部31に摺動可能に嵌合され上記基板が保持される凹部
10を形成する凸部21を備えたホルダー本体2とでそ
の主要部が構成されている。そしてこの基板用ホルダー
1から基板を取外すには、ホルダー部品3から結晶形成
面とは反対側の方向へホルダー本体2を引抜いて基板底
面を露出させ、この基板を結晶形成面側へ押出して上記
開口部31から取外すものである。このとき、形成され
た結晶に触れることなく基板が取出されるため結晶の損
傷を最小限に抑えることが可能となる。
(57) [Summary] [Objective] To provide a substrate holder for easily removing a substrate for crystal growth after liquid phase epitaxial growth. [Structure] This substrate holder 1 is provided with an opening 31 slightly larger than the substrate at substantially the center thereof, and a holder component 3 having a thickness larger than that of the substrate, and slidably fitted in the opening 31 of the holder component 3. A main part of the holder main body 2 is provided with a convex portion 21 that is joined to form the concave portion 10 for holding the substrate. Then, in order to remove the substrate from the substrate holder 1, the holder body 2 is pulled out from the holder part 3 in the direction opposite to the crystal forming surface to expose the bottom surface of the substrate, and the substrate is extruded to the crystal forming surface side. It is to be removed from the opening 31. At this time, since the substrate is taken out without touching the formed crystal, it is possible to minimize crystal damage.
Description
【0001】[0001]
本考案は、液相エピタキシャル成長法における結晶成長用基板を保持するため の基板用ホルダーに係り、特に、エピタキシャル成長させた後に上記ホルダーか ら基板を容易に取外せる基板用ホルダーの改良に関するものである。 The present invention relates to a substrate holder for holding a substrate for crystal growth in a liquid phase epitaxial growth method, and more particularly to an improvement of a substrate holder for easily removing the substrate from the holder after epitaxial growth.
【0002】[0002]
近年、赤外線の利用技術が急速に進歩している。 In recent years, infrared technology has rapidly advanced.
【0003】 この赤外線検出素子材料として、エネルギーバンドギャップが狭い水銀・カド ミウム・テルル(Hg1-x Cdx Te)より成る三元化合物半導体結晶がその高 感度、高速性から最も注目されている。また、物体が放射している赤外線を画像 として得るためのイメージセンサは、微小な赤外線検出素子(ピクセル)をフォ トリソグラフィー処理により平面上に二次元的に多数配列することによって作ら れている。そして、これ等のピクセルは赤外線に対し全て同じ特性を備えている ことが必要なため、従来、このピクセルについては、特性が均一で大面積かつ結 晶表面が平滑な上記三元化合物半導体結晶を製造し、かつ、これを小割りにして 求められている。A ternary compound semiconductor crystal made of mercury, cadmium, tellurium (Hg 1-x Cd x Te), which has a narrow energy band gap, has attracted the most attention as a material for the infrared detection element because of its high sensitivity and high speed. .. An image sensor for obtaining infrared rays emitted by an object as an image is made by arranging a large number of minute infrared detecting elements (pixels) two-dimensionally on a plane by photolithography. Since it is necessary for these pixels to have the same characteristics for all infrared rays, conventionally, for this pixel, the ternary compound semiconductor crystal with uniform characteristics, large area, and smooth crystal surface was used. It is required to manufacture and divide it into small pieces.
【0004】 ところで、このような大面積の化合物半導体結晶薄膜を得る方法として液相エ ピタキシャル成長法が一般的に用いられている。それは、この方法に必要とされ る装置が比較的簡単であり、得られる結晶薄膜の組成を容易に制御できるためで あった。しかし、この様な利点を有する反面、例えば、得られた結晶薄膜の膜内 での厚さの均一性や組成の均一性に難があり、均一な特性を持つ素子を得るため に利用できる部分が限られてしまうため、その生産効率を高める上で支障がある ことも指摘されている。By the way, as a method for obtaining such a large area compound semiconductor crystal thin film, a liquid phase epitaxial growth method is generally used. The reason is that the apparatus required for this method is relatively simple and the composition of the obtained crystal thin film can be easily controlled. However, on the other hand, although it has such advantages, for example, there is a problem in the uniformity of the thickness and the composition of the obtained crystal thin film within the film, and therefore it can be used to obtain an element with uniform characteristics. It is also pointed out that there is a hindrance to improving the production efficiency because the production capacity is limited.
【0005】 この様な技術的背景の下、最近、上記欠点を解消した改良型のデッピング法が 提案されている。Under such a technical background, recently, an improved depping method that solves the above drawbacks has been proposed.
【0006】 すなわち、この方法は図6(A)に示すようにアンプルa内に基板bと化合物 半導体結晶材料cとを封入し、このアンプルaを図示外の電気炉内で加熱すると 共に化合物半導体結晶材料cを融解させて原料融液c’を求めた後、アンプルa を電気炉ごと180度回転して図6(B)に示すようにアンプルaの上下を反転 させ、かつ、基板b表面を水平にしてこの表面と原料融液c’とを接触させる。 そして、上記原料融液c’を液相エピタキシャル成長させた後、再度、上記アン プルaの上下を反転させて原料融液c’と基板bとの分離を行う方法である。That is, according to this method, a substrate b and a compound semiconductor crystal material c are enclosed in an ampoule a as shown in FIG. 6 (A), and the ampoule a is heated in an electric furnace (not shown) to produce a compound semiconductor. After the crystalline material c is melted to obtain the raw material melt c ′, the ampoule a is rotated 180 degrees together with the electric furnace to turn the ampoule a upside down as shown in FIG. 6 (B), and the surface of the substrate b. Is made horizontal and the raw material melt c ′ is brought into contact with the surface. Then, after the raw material melt c'is subjected to liquid phase epitaxial growth, the upper and lower sides of the ampoule a are inverted again to separate the raw material melt c'and the substrate b.
【0007】 この方法において上記基板bを保持するための従来の基板用ホルダーdとして は、図7に示すように石英板等から成る円柱形状の本体d1と、この本体d1の上面 略中央に設けられ適用する基板(図示せず)の厚さと同一の深さでかつ上記基板 より僅かに大きな面積を有する凹部d2とでその主要部が構成されており、この凹 部d2内に基板を嵌合させて保持するものであった。As a conventional substrate holder d for holding the substrate b in this method, as shown in FIG. 7, a cylindrical main body d1 made of a quartz plate or the like and an upper surface of the main body d1 provided substantially at the center thereof are provided. The main part is composed of a recess d2 having the same depth as the thickness of the applicable substrate (not shown) and having a slightly larger area than the above-mentioned substrate, and the substrate is fitted into this recess d2. It was something to hold.
【0008】 尚、この基板用ホルダーdにおいては、上記基板表面と本体d1上面とが同一平 面を構成するよう適宜調整し、原料融液の動きに影響を及ぼさないように工夫が 施されていた。The substrate holder d is appropriately adjusted so that the substrate surface and the upper surface of the main body d1 form the same plane, and is devised so as not to affect the movement of the raw material melt. It was
【0009】[0009]
ところで、この改良型ディッピング法においては上述したようにアンプルを回 転させ上記基板表面を上向きかつ水平にしてからこの表面と原料融液とを接触さ せてエピタキシャル成長させているが、このとき、図8に示すように基板用ホル ダーdの凹部d2と基板bとの間に隙間eがあると、これ等隙間eに原料融液c’ が侵入してしまい基板bの側面や底面側で固化することになる。 By the way, in this improved dipping method, as described above, the ampoule is rotated to make the substrate surface upward and horizontal, and then the surface and the raw material melt are brought into contact with each other for epitaxial growth. As shown in FIG. 8, if there is a gap e between the recess d2 of the substrate holder d and the substrate b, the raw material melt c ′ enters these gaps e and solidifies on the side surface or bottom surface side of the substrate b. Will be done.
【0010】 この結果、上記基板bが固化した原料を介し基板用ホルダーdに固着されてし まうため、エピタキシャル成長させた後において上記基板用ホルダーdから基板 bを取外すことが困難となる場合があった。As a result, since the substrate b is fixed to the substrate holder d via the solidified raw material, it may be difficult to remove the substrate b from the substrate holder d after the epitaxial growth. It was
【0011】 そして、基板用ホルダーdの背面側から固化した原料を取除くことはできない ため、基板用ホルダーdの上面側から、基板bと基板用ホルダーeとの隙間eに 存在する固化した原料を彫って上記基板bを取出さざるを得なくなり、その取出 しの際に形成された結晶を痛め易い問題点があった。Since the solidified raw material cannot be removed from the rear surface side of the substrate holder d, the solidified raw material existing in the gap e between the substrate b and the substrate holder e from the upper surface side of the substrate holder d. There was a problem that the substrate b had to be carved out and the substrate b had to be taken out, and the crystals formed at the time of taking out were likely to be damaged.
【0012】 この場合、基板用ホルダーdにおける凹部d2の加工精度を高めることによりそ の改善を図る方法も考えられるが、上記凹部d2の底面や内壁面の加工には困難が 伴うため上記隙間eをなくすことは実際上難しかった。In this case, a method of improving the accuracy by processing the concave portion d2 of the substrate holder d may be considered, but it is difficult to process the bottom surface and the inner wall surface of the concave portion d2, and thus the gap e It was actually difficult to get rid of.
【0013】 そして、基板bの面積が大きくなるに伴い基板用ホルダーdの加工精度が低下 し上記基板bと基板用ホルダーdの凹部d2との整合性は悪化するため、上記問題 が更に顕著になってしまう問題点があった 本考案はこの様な問題点に着目してなされたもので、その課題とするところは 、基板との整合性の向上が図れると共にエピタキシャル成長させた後において上 記基板を容易に取外すことのできる基板用ホルダーを提供することにある。Further, as the area of the substrate b increases, the processing accuracy of the substrate holder d decreases, and the matching between the substrate b and the recess d2 of the substrate holder d deteriorates. The present invention has been made by paying attention to such a problem, and the problem is that the above-mentioned substrate can be formed after the epitaxial growth is performed while improving the compatibility with the substrate. It is to provide a substrate holder that can be easily removed.
【0014】[0014]
すなわち請求項1に係る考案は、 封管内の上方側に配置され、かつ、その凹部に基板を保持すると共に、上記封 管の上下が反転されたときに封管内の下方側に配置された原料融液と上記基板と を接触させて液相エピタキシャル成長させる基板用ホルダーを前提とし、 その略中央に上記基板より僅かに大きな開口部を備えその厚みが基板の厚みよ り大きいホルダー部品と、 このホルダー部品の開口部に摺動可能に嵌合されて上記基板が保持される凹部 を形成する凸部を備えたホルダー本体、 とで構成されることを特徴とするものである。 That is, the invention according to claim 1 is a raw material which is arranged on the upper side in the sealed tube, holds the substrate in the recess, and is arranged on the lower side in the sealed tube when the sealed tube is turned upside down. Assuming a substrate holder for performing liquid phase epitaxial growth by bringing the melt into contact with the substrate, a holder part having a slightly larger opening than the substrate in the substantial center thereof, and a holder part having a thickness larger than the thickness of the substrate, and this holder And a holder main body having a convex portion that is slidably fitted in the opening of the component to form a concave portion for holding the substrate.
【0015】 この請求項1に係る基板用ホルダーにおいては上記ホルダー部品の開口部とこ の開口部に摺動可能に嵌合されたホルダー本体の凸部とで凹部を形成し、この凹 部内に基板を嵌込んでこれを保持するものである。In the substrate holder according to the present invention, a recess is formed by the opening of the holder component and the projection of the holder body slidably fitted in the opening, and the substrate is placed in the recess. Is inserted and held.
【0016】 この場合、基板用ホルダーの凹部を直接加工する従来方式に較べて上記開口部 の内壁面や凸部上面の加工は比較的容易なため、その加工精度が従来より高くな り基板と凹部との整合性の向上が図れる。In this case, since the inner wall surface of the opening and the upper surface of the convex portion are relatively easy to process as compared with the conventional method in which the recess of the substrate holder is directly processed, the processing accuracy becomes higher than that of the conventional method. It is possible to improve the matching with the recess.
【0017】 また、エピタキシャル成長させた後において上記基板を基板用ホルダーから取 外すには、まず、上記ホルダー部品から結晶が形成されている面とは反対側の方 向へホルダー本体を引抜いて上記基板を露出させる。このとき、基板と上記凹部 との整合性が改善されて基板の底面側とホルダー本体の凸部上面との間に存在す る固化した結晶原料は従来より少ないため上記ホルダー本体の引抜き操作が妨げ られることはない。次に、露出された基板をその背面側から結晶形成面側へ押出 し、ホルダー部品の開口部から基板を取出して分離するものである。このとき、 基板側面と上記開口部内壁間に存在する固化した結晶材料も従来より少ないため 上記同様基板の取出し操作が妨げられることはない。Further, in order to remove the substrate from the substrate holder after the epitaxial growth, first, the holder body is pulled out from the holder component in a direction opposite to the surface on which crystals are formed, and the substrate is removed. Expose. At this time, the alignment between the substrate and the concave portion is improved, and the solidified crystal raw material existing between the bottom surface side of the substrate and the upper surface of the convex portion of the holder body is smaller than in the conventional case, so that the pulling operation of the holder body is hindered. It will not be done. Next, the exposed substrate is extruded from the back surface side to the crystal formation surface side, and the substrate is taken out from the opening of the holder component and separated. At this time, since the amount of solidified crystal material existing between the side surface of the substrate and the inner wall of the opening is smaller than in the conventional case, the operation of taking out the substrate is not hindered as in the above.
【0018】 このように、形成された結晶に触れることなく上記基板用ホルダーから基板を 簡単に取外すことができ、取外しの際の結晶の損傷を最小限に抑えることが可能 になるため結晶の生産効率が高められる利点を有している。In this way, the substrate can be easily removed from the substrate holder without touching the formed crystal, and damage to the crystal at the time of removal can be minimized. It has the advantage of increased efficiency.
【0019】 次に、請求項2に係る考案は請求項1に係る基板用ホルダーを前提とし、 上記ホルダー本体がその基端側に凸部側面より外方へ突出する突状基部を備え 、上記ホルダー部品と嵌合されたときにこのホルダー部品と突状基部との間に隙 間が形成されていることを特徴とするものである。Next, the invention according to claim 2 is premised on the substrate holder according to claim 1, wherein the holder main body is provided with a projecting base portion projecting outward from the side surface of the convex portion on the base end side thereof, It is characterized in that a gap is formed between the holder component and the projecting base when fitted with the holder component.
【0020】 この請求項2に係る基板用ホルダーにおいてはホルダー部品を上記隙間が狭ま る方向へ移動させることにより、ホルダー本体の凸部が相対的に上昇しこの凸部 面上に載置された基板をホルダー部品の開口部から突き出すことができるため、 基板用ホルダーから更に簡便に基板を取出すことが可能になる利点を有する。In the substrate holder according to the second aspect, by moving the holder component in the direction in which the gap is narrowed, the convex portion of the holder main body relatively rises and is placed on the convex surface. Since the substrate can be projected from the opening of the holder component, there is an advantage that the substrate can be taken out from the substrate holder more easily.
【0021】 尚、請求項2に係る基板用ホルダーにおいては、上記ホルダー部品をその隙間 が狭まる方向へ急激に移動させた場合、その力の入れ方が悪いと形成された結晶 に負荷がかかり過ぎてこの結晶を損傷させてしまう恐れがある。In the substrate holder according to the second aspect, when the holder component is rapidly moved in a direction in which the gap is narrowed, if the force is not applied well, the formed crystal is overloaded. It may damage the lever crystal.
【0022】 請求項3に係る考案はこれを防止するもので請求項2に係る基板用ホルダーを 前提とし、 上記ホルダー本体の突状基部とホルダー部品間に形成された隙間にスプリング 等の弾性部材が介在されていることを特徴とするものである。The invention according to claim 3 prevents this, and is based on the substrate holder according to claim 2, wherein an elastic member such as a spring is provided in a gap formed between the protruding base portion of the holder body and the holder component. Is intervening.
【0023】 すなわち、上記弾性部材を介在させることにより、この弾性部材が上記ホルダ ー部品に加わった力の一部を吸収して結晶への負荷を低減するため、結晶の損傷 を最小限に抑えることが可能となる。That is, by interposing the elastic member, the elastic member absorbs part of the force applied to the holder component and reduces the load on the crystal, so that damage to the crystal is minimized. It becomes possible.
【0024】 また、請求項4に係る考案は請求項1〜3に係る基板用ホルダーを前提とし、 上記ホルダー部品とホルダー本体が、石英、カーボン、又は、セラミックのい ずれかの材料で構成されていることを特徴とするものである。The invention according to claim 4 is premised on the substrate holder according to claims 1 to 3, wherein the holder component and the holder body are made of any one of quartz, carbon and ceramic materials. It is characterized by that.
【0025】 尚、このような技術的手段において基板を保持する凹部の形状については基板 の形状に合わせて任意であり、例えば、矩形状、円形状、楕円形状等がある。ま た凹部の深さについては、従来と同様、基板の厚さと同一に設定し、基板表面と ホルダー部品の上面とが同一面を構成するように調整することが望ましい。The shape of the recess for holding the substrate in such technical means is arbitrary according to the shape of the substrate, and may be, for example, a rectangular shape, a circular shape, an elliptical shape, or the like. Further, it is desirable that the depth of the recess is set to be the same as the thickness of the substrate as in the conventional case, and that the surface of the substrate and the upper surface of the holder component are flush with each other.
【0026】 また、本考案に係る基板用ホルダーに保持される基板としては、液相エピタキ シャル成長法により求められる半導体結晶の種類により適宜選定され、例えば、 従来技術において説明した水銀・カドミウム・テルル(Hg1-x Cdx Te)よ り成る三元化合物半導体結晶の場合には、カドミウム・テルルあるいはカドミウ ム・テルルに亜鉛、マンガン、セレンの内の少なくとも一種以上を添加した化合 物半導体結晶基板が挙げられる。Further, the substrate held by the substrate holder according to the present invention is appropriately selected according to the type of semiconductor crystal required by the liquid phase epitaxial growth method. For example, the mercury-cadmium-tellurium described in the prior art is used. In the case of a ternary compound semiconductor crystal composed of (Hg 1-x Cd x Te), a compound semiconductor crystal substrate obtained by adding at least one of zinc, manganese, and selenium to cadmium tellurium or cadmium tellurium. Is mentioned.
【0027】 また、これ等技術的手段において上記ホルダー本体やホルダー部品の材質を適 当な熱伝導度のものに変更することにより結晶の膜厚制御を容易にすることも可 能である。Further, in these technical means, it is possible to easily control the film thickness of the crystal by changing the material of the holder body or the holder component to one having an appropriate thermal conductivity.
【0028】[0028]
請求項1〜4に係る考案によれば、 基板を保持する基板用ホルダーが、その略中央に上記基板より僅かに大きな開 口部を備えその厚みが基板の厚みより大きいホルダー部品と、このホルダー部品 の開口部に摺動可能に嵌合されて上記基板が保持される凹部を形成する凸部を備 えたホルダー本体とで構成されている。 According to the inventions according to claims 1 to 4, a substrate holder for holding a substrate is provided with an opening portion slightly larger than the substrate at substantially the center thereof, and a holder component having a thickness larger than that of the substrate, and this holder. The holder body is provided with a convex portion that is slidably fitted in the opening of the component and forms a concave portion for holding the substrate.
【0029】 そして、上記開口部の内壁面や凸部上面の加工処理は凹部を直接加工する従来 方式に較べて容易なため、その加工精度が高まって開口部と凸部とで構成される 凹部と基板との整合性の向上が図れる。Since the processing of the inner wall surface of the opening and the upper surface of the convex portion is easier than the conventional method of directly processing the concave portion, the processing accuracy is increased and the concave portion composed of the opening portion and the convex portion is formed. It is possible to improve the matching between the substrate and the substrate.
【0030】 また、エピタキシャル成長させた後において上記ホルダー部品から結晶が形成 されている面とは反対側の方向へホルダー本体を引抜いて上記基板を露出させ、 かつ、この基板をその背面側から結晶形成面側へ押出すことによりホルダー部品 の開口部から簡単に取外すことができる。After the epitaxial growth, the holder body is pulled out in the direction opposite to the surface on which the crystal is formed from the holder component to expose the substrate, and the substrate is crystallized from the rear side. It can be easily removed from the opening of the holder part by pushing it to the surface side.
【0031】 あるいは、上記ホルダー本体又はホルダー部品の一方を移動させてホルダー本 体の凸部を相対的に上昇させ、この凸部面上に載置された基板をホルダー部品の 開口部から突き出させることによっても簡単に取外すことが可能となる。Alternatively, one of the holder main body and the holder component is moved to relatively raise the convex portion of the holder main body, and the substrate placed on the convex portion surface is projected from the opening of the holder component. By doing so, it is possible to easily remove it.
【0032】 従って、形成された結晶に触れることなく基板用ホルダーから上記基板を簡単 に取外せるため、基板取外しの際の結晶の損傷を最小限に抑えることが可能とな る。Therefore, since the substrate can be easily removed from the substrate holder without touching the formed crystal, it is possible to minimize damage to the crystal when the substrate is removed.
【0033】[0033]
以下、本考案の実施例について図面を参照して詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
【0034】 すなわち、この実施例に係る基板用ホルダー1は、図1に示すようにホルダー 本体2と、ホルダー部品3とでその主要部が構成されるものである。That is, in the substrate holder 1 according to this embodiment, as shown in FIG. 1, the holder main body 2 and the holder component 3 constitute the main part.
【0035】 まず、ホルダー本体2は、図2(A)に示すように基板サイズの30×30mm に対応した厚さ2mmの凸部21と、この凸部21側面より外方へ突出する外形4 8mmの円盤形状の突状基部22とで構成されており、かつ、これ等凸部21と突 状基部22は共に石英材にて形成されている。First, as shown in FIG. 2A, the holder main body 2 has a protrusion 21 having a thickness of 2 mm corresponding to a substrate size of 30 × 30 mm, and an outer shape 4 protruding outward from the side surface of the protrusion 21. It is composed of a disk-shaped protruding base portion 22 having a diameter of 8 mm, and both the protruding portion 21 and the protruding base portion 22 are made of a quartz material.
【0036】 一方、ホルダー部品3は、上記ホルダー本体2の突状基部22と同一形状の石 英材から成っており、かつ、図2(B)に示すようにホルダー本体2の凸部21 に対応した位置にこれと対応する形状の開口部31が設けられている。また、こ のホルダー部品3の厚さは3.5mmに設定されており、図1に示すように上記ホ ルダー本体2の凸部21と開口部31とを嵌合させたときに形成される凹部10 の深さが基板の厚さと一致するようになっている。On the other hand, the holder component 3 is made of an English material having the same shape as the protruding base portion 22 of the holder body 2, and is provided on the convex portion 21 of the holder body 2 as shown in FIG. 2B. An opening 31 having a shape corresponding to this is provided at a corresponding position. The thickness of this holder component 3 is set to 3.5 mm, and it is formed when the protrusion 21 and the opening 31 of the holder body 2 are fitted to each other as shown in FIG. The depth of the recess 10 is made to match the thickness of the substrate.
【0037】 そして、図3に示すようにホルダー本体2の凸部21とホルダー部品3の開口 部31とを嵌合させて形成される凹部10に基板4を嵌込んでこれを保持するも のである。Then, as shown in FIG. 3, the substrate 4 is fitted in the concave portion 10 formed by fitting the convex portion 21 of the holder main body 2 and the opening portion 31 of the holder component 3 to hold it. is there.
【0038】 このとき、上記凸部21上面や開口部31の内壁面等の加工処理については凹 部を直接加工していた従来方式に較べて容易なため、その加工精度が高まって開 口部31と凸部21とで構成された凹部10と基板4との整合性は良好な状態に なっている。At this time, the processing of the upper surface of the convex portion 21 and the inner wall surface of the opening 31 is easier than the conventional method in which the concave portion is directly processed. Consistency between the concave portion 10 constituted by the convex portion 31 and the convex portion 21 and the substrate 4 is in a good state.
【0039】 また、エピタキシャル成長後においてこの実施例に係る基板用ホルダー1から 基板4を取外すには、上記ホルダー部品3から結晶(図示せず)が形成されてい る面とは反対側の方向へホルダー本体2を引抜いて基板4底面を露出させ、次い でこの基板4を結晶形成面側へ押出してホルダー部品3の開口部31から取出す ものである。In order to remove the substrate 4 from the substrate holder 1 according to this embodiment after the epitaxial growth, the holder component 3 is moved in the direction opposite to the surface on which crystals (not shown) are formed. The main body 2 is pulled out to expose the bottom surface of the substrate 4, and then the substrate 4 is extruded to the crystal formation surface side and taken out from the opening 31 of the holder component 3.
【0040】 このとき、上記基板4と凹部10との整合性が良好な状態にあるため、基板4 底面と上記凸部21上面との間あるいは基板4側面と上記開口部31の内壁間に は固化した結晶原料がほとんど存在しないことから上記基板4の取出し操作が妨 げられることはない。At this time, since the alignment between the substrate 4 and the recess 10 is in a good state, there is a gap between the bottom of the substrate 4 and the top of the protrusion 21 or between the side of the substrate 4 and the inner wall of the opening 31. Since there is almost no solidified crystal raw material, the operation of taking out the substrate 4 is not hindered.
【0041】 このように基板用ホルダー1から基板4を取出す際、形成された結晶に触れる ことなく簡単に上記基板4を取出すことができるため、取出しの際の結晶の損傷 を最小限に抑えることが可能となる利点を有している。As described above, when the substrate 4 is taken out from the substrate holder 1, the substrate 4 can be easily taken out without touching the formed crystal, and therefore the crystal damage at the time of taking out can be minimized. Has the advantage that
【0042】 また、上記ホルダー部品3の厚さ寸法は目的とする凹部10の深さ寸法や上記 凸部21の高さ寸法等を考慮して適宜設定されるが、ホルダー部品3の厚さを大 きく設定することにより機械的強度を高めることが可能となる。The thickness dimension of the holder component 3 is appropriately set in consideration of the depth dimension of the intended concave portion 10 and the height dimension of the convex portion 21. It is possible to increase the mechanical strength by setting a large value.
【0043】 尚、図4に示すようにホルダー本体2における凸部21の高さ寸法を大きく設 定してホルダー部品3と上記ホルダー本体2の突状基部22との間に隙間5が形 成される構造を採ってもよい。As shown in FIG. 4, the height dimension of the convex portion 21 of the holder body 2 is set to be large so that a gap 5 is formed between the holder component 3 and the protruding base portion 22 of the holder body 2. The structure may be adopted.
【0044】 この様な構造にした場合、ホルダー部品3を下方側へ押し下げてホルダー本体 2の凸部21を相対的に上昇させることにより、上記基板4をより簡単に取出す ことが可能となる。In the case of such a structure, the substrate 4 can be taken out more easily by pushing down the holder part 3 to relatively raise the convex portion 21 of the holder body 2.
【0045】 また、上記隙間5に図5に示すようにスプリング等の弾性部材50を介在させ た構造にしてもよい。Further, as shown in FIG. 5, an elastic member 50 such as a spring may be interposed in the gap 5 as described above.
【0046】 この様な構造にした場合、上記ホルダー部品3が下方側へ押し下げられた際に このホルダー部品3に加わった力の一部を上記弾性部材50にて吸収させること ができるため、形成されている結晶に急激な負荷が加わり難くなってその損傷を 最小限に抑えることが可能となる。With this structure, a part of the force applied to the holder part 3 when the holder part 3 is pushed down can be absorbed by the elastic member 50. It becomes difficult for a sudden load to be applied to the crystals that are formed, and the damage can be minimized.
【0047】[0047]
請求項1〜4に係る考案によれば、 形成された結晶に触れることなく基板用ホルダーから基板を簡単に取外せるた め、基板取外しの際の結晶の損傷を最小限に抑えることが可能となる。 According to the inventions according to claims 1 to 4, since the substrate can be easily removed from the substrate holder without touching the formed crystal, it is possible to minimize damage to the crystal when the substrate is removed. Become.
【0048】 従って、液相エピタキシャ成長法における生産効率の向上が図れる効果を有し ている。Therefore, there is an effect that the production efficiency in the liquid phase epitaxy growth method can be improved.
【図1】実施例に係る基板用ホルダーの斜視図。FIG. 1 is a perspective view of a substrate holder according to an embodiment.
【図2】(A)はホルダー本体の斜視図、(B)はホル
ダー部品の斜視図。FIG. 2A is a perspective view of a holder main body, and FIG. 2B is a perspective view of holder parts.
【図3】実施例に係る基板用ホルダーの断面図。FIG. 3 is a sectional view of a substrate holder according to an embodiment.
【図4】変形例に係る基板用ホルダーの断面図。FIG. 4 is a cross-sectional view of a substrate holder according to a modified example.
【図5】変形例に係る基板用ホルダーの断面図。FIG. 5 is a sectional view of a substrate holder according to a modification.
【図6】(A)及び(B)は液相エピタキシャル成長法
における改良型のディッピング法の説明図。6A and 6B are explanatory views of an improved dipping method in a liquid phase epitaxial growth method.
【図7】従来例に係る基板用ホルダーの斜視図。FIG. 7 is a perspective view of a substrate holder according to a conventional example.
【図8】従来例に係る基板用ホルダーの使用状態を示す
説明図。FIG. 8 is an explanatory view showing a usage state of a substrate holder according to a conventional example.
1 基板用ホルダー 2 ホルダー本体 3 ホルダー部品 4 基板 5 隙間 6 封管 10 凹部 21 凸部 22 突状基部 31 開口部 50 弾性部材 1 Substrate holder 2 Holder body 3 Holder parts 4 Substrate 5 Gap 6 Sealed tube 10 Recessed portion 21 Convex portion 22 Projected base portion 31 Opening portion 50 Elastic member
Claims (4)
部に基板を保持すると共に、上記封管の上下が反転され
たときに封管内の下方側に配置された原料融液と上記基
板とを接触させて液相エピタキシャル成長させる基板用
ホルダーにおいて、 その略中央に上記基板より僅かに大きな開口部を備えそ
の厚みが基板の厚みより大きいホルダー部品と、 このホルダー部品の開口部に摺動可能に嵌合されて上記
基板が保持される凹部を形成する凸部を備えたホルダー
本体、 とで構成されることを特徴とする基板用ホルダー。1. A raw material melt, which is arranged on the upper side in a sealed tube and holds a substrate in the recess thereof, and which is arranged on the lower side in the sealed tube when the sealed tube is turned upside down. In a substrate holder for performing liquid phase epitaxial growth by contacting with a substrate, a holder part having a slightly larger opening than the above-mentioned substrate at substantially the center thereof and a holder part having a thickness larger than that of the substrate and sliding on the opening part of the holder part A holder main body provided with a convex portion that is fitted so as to form a concave portion for holding the substrate, and a holder for a substrate.
より外方へ突出する突状基部を備え、上記ホルダー部品
と嵌合されたときにこのホルダー部品と突状基部との間
に隙間が形成されていることを特徴とする請求項1記載
の基板用ホルダー。2. The holder main body is provided with a projecting base portion projecting outward from the side surface of the projecting portion on the base end side thereof, and between the holder component and the projecting base portion when fitted to the holder component. The substrate holder according to claim 1, wherein a gap is formed.
品間に形成された隙間に弾性部材が介在されていること
を特徴とする請求項2記載の基板用ホルダー。3. The substrate holder according to claim 2, wherein an elastic member is interposed in a gap formed between the protruding base portion of the holder body and the holder component.
英、カーボン、又は、セラミックのいずれかの材料で構
成されていることを特徴とする請求項1〜3記載の基板
用ホルダー。4. The substrate holder according to claim 1, wherein the holder component and the holder body are made of any one of quartz, carbon, and ceramic materials.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP707792U JP2547187Y2 (en) | 1992-02-20 | 1992-02-20 | PCB holder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP707792U JP2547187Y2 (en) | 1992-02-20 | 1992-02-20 | PCB holder |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0566073U true JPH0566073U (en) | 1993-08-31 |
JP2547187Y2 JP2547187Y2 (en) | 1997-09-10 |
Family
ID=11656025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP707792U Expired - Lifetime JP2547187Y2 (en) | 1992-02-20 | 1992-02-20 | PCB holder |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2547187Y2 (en) |
-
1992
- 1992-02-20 JP JP707792U patent/JP2547187Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2547187Y2 (en) | 1997-09-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0566073U (en) | Board holder | |
JPH0625955Y2 (en) | Liquid phase epitaxial growth system | |
JPS6046019A (en) | Noncrystal substrate with single crystal silicon thin film and its manufacture | |
JPS5913697A (en) | Liquid phase epitaxial growth device | |
JPS5918644A (en) | Liquid phase epitaxial growth apparatus | |
JPH0569174U (en) | Board holder | |
JPH02748U (en) | ||
JPH0278233A (en) | Liquid-phase epitaxial growth method and device therefor | |
JPH0516222Y2 (en) | ||
JPS647654A (en) | Image reader and manufacture thereof | |
JP3330655B2 (en) | Manufacturing method of microlens / microlens array | |
JPH0129242Y2 (en) | ||
JPH0376273A (en) | Semiconductor substrate of solar cell | |
JP4870859B2 (en) | Liquid phase epitaxial growth apparatus and growth method | |
JPH0247436B2 (en) | EKISOEPITAKISHARUSEICHOSOCHI | |
JPS63137436A (en) | Liquid phase epitaxial growing system | |
JPS647655A (en) | Image reader and manufacture thereof | |
JPS58212142A (en) | Liquid phase epitaxially growth method | |
JPS6273625A (en) | Liquid-phase epitaxial growth device | |
JPH0575086A (en) | Solid state image pickup device and its manufacture | |
JPS5834925A (en) | Liquid phase epitaxial growth device | |
JPH043101B2 (en) | ||
JPS5976433A (en) | Liquid phase epitaxial growth apparatus | |
JPH0551963U (en) | Substrate holder for liquid phase epitaxial growth | |
JPS63236788A (en) | Production of melt for epitaxial growth |