JPH056580A - Abnormal pit detection method and detection device - Google Patents

Abnormal pit detection method and detection device

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Publication number
JPH056580A
JPH056580A JP3185689A JP18568991A JPH056580A JP H056580 A JPH056580 A JP H056580A JP 3185689 A JP3185689 A JP 3185689A JP 18568991 A JP18568991 A JP 18568991A JP H056580 A JPH056580 A JP H056580A
Authority
JP
Japan
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circuit
abnormal
address
abnormal pit
rotation angle
Prior art date
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Pending
Application number
JP3185689A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Miyata
弘幸 宮田
Toshiyuki Muto
敏之 武藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH056580A publication Critical patent/JPH056580A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To count the number of abnormal pits on the entire surface of an optical disk by comparing the tracking error(TE) signal disturbance amplitude against a reference value. CONSTITUTION:When laser beams from a light pickup 2 are scanning the center of a pit, a TE signal becomes zero and when the beams move out of the center, it becomes light zero. By setting equation I, an abnormal pit is detected by the existence of a TE signal disturbance which is larger than a TE standard value. By doing this, the number of abnormal pits on the entire surface of the optical disk is counted. In the equation I, TE stands for an amplitude by a normal pit, TE' stands for an amplitude by an abnormal pit and TEref stands for a TE signal standard value.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【技術分野】本発明は、異常ピット検出方法及び検出装
置に関し、より詳細には、光ディスクの成形基板をチェ
ックするための異常ピット検出方法及び検出装置に関す
る。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method and a device for detecting abnormal pits, and more particularly to a method and a device for detecting abnormal pits for checking a molded substrate of an optical disc.

【0002】[0002]

【従来技術】光ディスクは、マスタリングによってでき
たスタンパの形状を、プラスチックなどの基板上に転写
し、基板上に記録材料の層を形成するという順序で生成
される。スタンパ上にはプリフォーマットピット列が存
在するが、大きさが1μm程度と微細なため、基板上に
正しく形状が転写されず異常ピットとなってしまう場合
がある。図6にはその様子が示されている。すなわち壁
面ダレやピット端めくれなどの異常ピットが発生してい
る。プリフォーマット部分の異常ピットは、光ディスク
の信号品質に直接影響するため、何らかの方法でこれら
異常ピットが存在する基板をチェックしなければならな
いが、従来異常ピットの検出方法は明らかにされていな
かった。
2. Description of the Related Art An optical disk is produced by transferring a stamper shape formed by mastering onto a substrate such as plastic and forming a layer of recording material on the substrate. Although there is a pre-format pit row on the stamper, since the size is as small as about 1 μm, the shape may not be correctly transferred onto the substrate, which may result in an abnormal pit. This is shown in FIG. That is, abnormal pits such as wall sagging and pit edge turning have occurred. Abnormal pits in the pre-formatted portion directly affect the signal quality of the optical disc, so it is necessary to check the substrate on which these abnormal pits exist by some method, but a method for detecting abnormal pits has not been clarified in the past.

【0003】さらに、図15に示すように、異常ピット
の特徴として、ピット形状の異常部分に方向(ディスク
の内周方向か外周方向か)がある場合が多く、これらの
異常ピットの方向について、ディスク上での発生分布を
調べることは、異常ピットの発生原因を知る手がかりを
得ることになる。
Further, as shown in FIG. 15, as a characteristic of abnormal pits, there are many cases where the abnormal portion of the pit shape has a direction (inward or outward direction of the disc). Examining the occurrence distribution on the disk will give clues as to the cause of the occurrence of abnormal pits.

【0004】[0004]

【目的】本発明は、上述のごとき実情に鑑みてなされた
もので、光ディスクから得られるトラッキングエラー信
号(以下TE信号)を利用した異常ピット検出方法及び
検出装置を提供すること、また、検出した異常ピットの
角度を精度良く検出し、その異常ピットの光ディスク上
での位置を特定するようにすること、さらに、異常ピッ
トの方向を判別することを目的としてなされたものであ
る。
An object of the present invention is to provide an abnormal pit detection method and a detection device using a tracking error signal (hereinafter referred to as a TE signal) obtained from an optical disk, and to detect the abnormal pit. The purpose is to accurately detect the angle of the abnormal pit, specify the position of the abnormal pit on the optical disc, and further determine the direction of the abnormal pit.

【0005】[0005]

【構成】本発明は、上記目的を達成するために、(1)
TE信号の振幅を基準値と比較し、該TE信号の振幅が
基準値を上まわる場合に異常ピットとみなすこと、更に
は、(2)前記(1)において、アドレス部とデータ部
を区別し、該アドレス部のみ異常ピット検出の対象とす
ること、更には、(3)前記(1)において、アドレス
部を解読する機能を有し、異常ピット検出と同時に異常
ピットが存在するアドレスも検出すること、更には、
(4)光ディスクの回転角度とアドレスを解読する機能
を有し、異常ピット検出と同時に異常ピットが存在する
光ディスク上の角度とアドレスを検出すること、更に
は、(5)光ディスクの回転角度と光ピックアップの位
置を解読する機能を有し、異常ピット検出と同時に異常
ピットが存在する光ディスク上の角度と半径を検出する
こと、或いは、(6)トラッキングエラー信号の極性を
判断する機能を有し、異常ピツト検出と同時に、異常ピ
ットの方向を判別すること、或いは、(7)光ディスク
上の情報を光ピックアップにより取り出し、該光ピック
アップからの信号を受け、TE信号を発生するTE信号
発生回路と、該TE信号発生回路からのTE信号と比較
するためのTE信号基準値を発生するTE信号基準値発
生回路と、前記TE信号と、前記TE信号基準値とを比
較する比較回路とから成ること、更には、(8)前記
(7)において、前記光ピックアップからの信号を受
け、アドレス部とデータ部とを区別するアドレス部・デ
ータ部識別回路と、前記比較回路の出力を入力するパル
ス発生回路と、該パルス発生回路からの異常ピット検出
パルスと前記アドレス部・データ部識別回路によるアド
レス部ゲート信号とのアンドをとるアンドゲート回路と
から成ること、更には、(9)前記(7)において、前
記光ピックアップからの信号を受け、アドレス部を解読
するアドレス部解読回路と、前記比較回路の出力を入力
するパルス発生回路と、該パルス発生回路からの異常ピ
ット検出パルスを書き込み信号として、前記アドレス部
解読回路により解読されたアドレスを記憶するメモリと
から成ること、更には、(10)前記(7)において、
前記光ピックアップからの信号を受け、アドレス部を解
読するアドレス部解読回路と、光ディスク回転角度解読
回路と、前記比較回路の出力を入力するパルス発生回路
と、該パルス発生回路からの異常ピット検出パルスによ
って、前記アドレス部解読回路と光ディスク回転角度解
読回路により解読されたアドレスおよび回転角度を記録
するメモリとから成ること、更には、(11)前記
(7)において、前記光ピックアップからの信号を受
け、アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、光デ
ィスク回転角度解読回路と、分割された光ディスク上の
領域に対応する複数のカウンタと、前記比較回路の出力
を入力するパルス発生回路と、前記アドレス部解読回路
と光ディスク回転角度解読回路によって解読されたアド
レスと回転角度により前記カウンタ中から適切なカウン
タを選択するカウンタ選択回路とから成り、該パルス発
生回路からの異常ピット検出パルスを、該カウンタ選択
回路により選択されたカウンタに計数すること、更に
は、(12)前記(7)において、光ピックアップ半径
位置解読回路と、光ディスク回転角度解読回路と、前記
比較回路の出力を入力するパルス発生回路と、該パルス
発生回路からの異常ピット検出パルスによって、前記光
ピックアップ半径位置解読回路と光ディスク回転角度解
読回路により解読された半径位置および回転角度を記録
するメモリとから成ること、更には、(13)前記
(7)において、光ピックアップ半径位置解読回路と、
光ディスク回転角度解読回路と、分割された光ディスク
上の領域に対応する複数のカウンタと、前記比較回路の
出力を入力するパルス発生回路と、前記光ピックアップ
半径位置解読回路と光ディスク回転角度解読回路によっ
て解読された半径位置と回転角度により前記カウンタ中
から適切なカウンタを選択するカウンタ選択回路とから
成り、該パルス発生回路からの異常ピット検出パルス
を、該カウンタ選択回路により選択されたカウンタに計
数することを特徴としたものである。以下、本発明の実
施例に基づいて説明する。
In order to achieve the above object, the present invention provides (1)
The amplitude of the TE signal is compared with a reference value, and when the amplitude of the TE signal exceeds the reference value, it is regarded as an abnormal pit. Further, (2) in (1), the address part and the data part are distinguished from each other. , Only the address part is the target of the abnormal pit detection, and further, (3) the function of decoding the address part in the above (1) has a function to detect the address where the abnormal pit exists at the same time when the abnormal pit is detected. And even,
(4) It has a function of decoding the rotation angle and address of the optical disk, and at the same time as detecting the abnormal pit, detecting the angle and address on the optical disk where the abnormal pit exists, and (5) the rotation angle and the light of the optical disk. It has a function of decoding the position of the pickup, and at the same time as detecting the abnormal pit, detecting the angle and radius on the optical disc where the abnormal pit exists, or (6) having the function of determining the polarity of the tracking error signal, Simultaneously with the detection of the abnormal pit, the direction of the abnormal pit is determined, or (7) a TE signal generating circuit for extracting information on the optical disk by an optical pickup and receiving a signal from the optical pickup to generate a TE signal, A TE signal reference value generating circuit for generating a TE signal reference value for comparison with a TE signal from the TE signal generating circuit; And a comparison circuit for comparing the TE signal reference value with each other, and (8) in (7), an address for receiving a signal from the optical pickup and for distinguishing an address section from a data section. Section / data section identification circuit, a pulse generation circuit for inputting the output of the comparison circuit, an abnormal pit detection pulse from the pulse generation circuit, and the address section gate signal by the address section / data section identification circuit An AND gate circuit, and (9) in (7), an address section decoding circuit for receiving the signal from the optical pickup and decoding the address section, and a pulse generation for inputting the output of the comparison circuit. Circuit and the address decoded by the address decoding circuit is stored using the abnormal pit detection pulse from the pulse generation circuit as a write signal. That it consists of a memory, and further, in (10) (7),
An address section decoding circuit that receives a signal from the optical pickup and decodes an address section, an optical disk rotation angle decoding circuit, a pulse generation circuit that inputs the output of the comparison circuit, and an abnormal pit detection pulse from the pulse generation circuit By the address section decoding circuit and a memory for recording the address and the rotation angle decoded by the optical disk rotation angle decoding circuit. Further, (11) in (7), the signal from the optical pickup is received. An address section decoding circuit for decoding the address section, an optical disk rotation angle decoding circuit, a plurality of counters corresponding to the divided areas on the optical disk, a pulse generation circuit for inputting the output of the comparison circuit, and the address section Decoding circuit and optical disc rotation angle Before the address and rotation angle decoded by the decoding circuit A counter selection circuit that selects an appropriate counter from the counters, and counts the abnormal pit detection pulse from the pulse generation circuit to the counter selected by the counter selection circuit; and (12) above ( In 7), the optical pickup radial position decoding circuit, the optical disk rotation angle decoding circuit, a pulse generation circuit for inputting the output of the comparison circuit, and an abnormal pit detection pulse from the pulse generation circuit are used to decode the optical pickup radial position. And a memory for recording the radial position and the rotation angle decoded by the optical disk rotation angle decoding circuit, and (13) the optical pickup radial position decoding circuit in (7) above,
Optical disc rotation angle decoding circuit, a plurality of counters corresponding to the divided areas on the optical disc, a pulse generation circuit for inputting the output of the comparison circuit, the optical pickup radial position decoding circuit and the optical disc rotation angle decoding circuit A counter selection circuit that selects an appropriate counter from the counters according to the selected radial position and rotation angle, and counts an abnormal pit detection pulse from the pulse generation circuit in the counter selected by the counter selection circuit. It is characterized by. Hereinafter, description will be given based on examples of the present invention.

【0006】TE信号は、光ピックアップからのレーザ
ビームがピットの中心を走査している場合にゼロとな
り、中心からずれた場合には非ゼロとなるように設計さ
れている。光ピックアップのトラッキングサーボ回路
は、TE信号を常にゼロにするべくレーザビームの位置
を制御するが、サーボ回路特性や光ディスクの傾きなど
により、残留誤差が生じ、ごくわずかであるがレーザビ
ームはピットの中心からずれている。このわずかのレー
ザビーム位置ずれのために、正常なピットに対して正し
くトラッキングサーボが行なわれた場合にも、レーザビ
ームがピットエッジ部を通過する際にはTE信号が乱れ
て振幅がゼロでなくなる。図4にこの様子を示す。ま
た、前記TE信号の乱れは、正常ピット(形状がスタン
パから正しく転写されている)に比べ、異常ピット(形
状がスタンパから正しく転写されていない)において著
しく大きく、実験的には数倍から10倍程度観察され
た。図5にこの様子を示す。
The TE signal is designed to be zero when the laser beam from the optical pickup scans the center of the pit, and nonzero when it is deviated from the center. The tracking servo circuit of the optical pickup controls the position of the laser beam so that the TE signal is always zero. However, a residual error occurs due to the characteristics of the servo circuit and the tilt of the optical disk. It is off center. Due to this slight displacement of the laser beam, even if the tracking servo is correctly performed on the normal pit, the TE signal is disturbed when the laser beam passes through the pit edge portion, and the amplitude is not zero. . This is shown in FIG. Further, the disturbance of the TE signal is significantly larger in the abnormal pit (the shape is not correctly transferred from the stamper) than in the normal pit (the shape is correctly transferred from the stamper), and is experimentally several times to 10 times as large as the normal pit. It was observed about twice. This is shown in FIG.

【0007】図1は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の一実施例を説明するための構成図で、1
は光ディスク、2は光ピックアップ、3はTE信号発生
回路、4はTE信号基準値発生回路、5は比較回路であ
る。前記TE信号の乱れの振幅に着目し、基準値TEr
ef.として TE<TEref<TE′ (TE:正常ピットによる振幅、TE′:異常ピットに
よる振幅)を設定し、TE基準値より大のTE信号乱れ
の存在により異常ピットを検出するものである。異常ピ
ット検出信号を利用して種々の測定が可能となる。例え
ば、異常ピット検出信号をパルス化して計数することに
より、光ディスク全面における異常ピットの数がわかる
ようにすることも可能である。
FIG. 1 is a block diagram for explaining an embodiment of an abnormal pit detection method and detection apparatus according to the present invention.
Is an optical disc, 2 is an optical pickup, 3 is a TE signal generation circuit, 4 is a TE signal reference value generation circuit, and 5 is a comparison circuit. Focusing on the amplitude of the disturbance of the TE signal, the reference value TEr
ef. Then, TE <TEref <TE '(TE: amplitude due to normal pit, TE': amplitude due to abnormal pit) is set, and an abnormal pit is detected by the presence of a TE signal disturbance larger than the TE reference value. Various measurements can be performed using the abnormal pit detection signal. For example, it is possible to know the number of abnormal pits on the entire surface of the optical disc by converting the abnormal pit detection signal into pulses and counting.

【0008】図2は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の他の実施例を示す図で、図中、6はパル
ス発生回路、7はアドレス部・データ部識別回路、8は
ANDゲート、9はカウンタで、その他、図1と同じ作
用をする部分は同一の符号を付してある。図1に示した
実施例に加えてアドレス部・データ部識別回路7を有
し、アドレス部においてのみTE信号の振幅比較を有効
とするものである。比較回路5の出力はパルス発生回路
6に入力されており、異常ピットを検出した場合に異常
ピット検出パルスを発生する。一方、アドレス部・デー
タ部識別回路7からは、アドレス部ゲート信号が出力さ
れる。これら2つの信号のAND出力は、アドレス部中
の異常ピット検出パルスであり、種々の測定に利用でき
る。本発明の実施例では、ANDの出力パルスをカウン
タ9で数えることにより、アドレス部中の異常ピットの
みを計数できる。
FIG. 2 is a diagram showing another embodiment of the method and apparatus for detecting abnormal pits according to the present invention. In the figure, 6 is a pulse generating circuit, 7 is an address part / data part identifying circuit, and 8 is an AND gate. , 9 are counters, and other parts having the same functions as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. In addition to the embodiment shown in FIG. 1, an address part / data part identification circuit 7 is provided, and the amplitude comparison of the TE signal is made effective only in the address part. The output of the comparison circuit 5 is input to the pulse generation circuit 6, and when an abnormal pit is detected, an abnormal pit detection pulse is generated. On the other hand, the address part / data part identification circuit 7 outputs an address part gate signal. The AND output of these two signals is an abnormal pit detection pulse in the address part and can be used for various measurements. In the embodiment of the present invention, by counting the output pulses of AND with the counter 9, only the abnormal pits in the address portion can be counted.

【0009】図3は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の更に他の実施例を示す図で、図中、10
はアドレス部解読回路、11はメモリで、その他、図2
と同じ作用をする部分は同一の符号を付してある。図1
の実施例に加えて、アドレス部解読手段10を有し、異
常ピットが存在するアドレスも検出するものである。比
較回路5の出力は、パルス発生回路6に入力されてお
り、異常ピットを検出した場合にメモリ11にパルスW
Rが出力される。一方、アドレス部解読回路10からは
解読したアドレスがメモリ11に出力されており、WR
を書き込み信号としてアドレス出力をメモリ11に書き
込むことにより、異常ピットが存在するアドレスを記憶
してゆくことができる。
FIG. 3 is a diagram showing still another embodiment of the abnormal pit detection method and detection apparatus according to the present invention, in which 10
2 is an address decoding circuit, 11 is a memory, and the others are shown in FIG.
The same reference numerals are attached to the parts having the same functions as. Figure 1
In addition to the above embodiment, the address section decoding means 10 is provided to detect an address where an abnormal pit exists. The output of the comparison circuit 5 is input to the pulse generation circuit 6, and when an abnormal pit is detected, a pulse W is output to the memory 11.
R is output. On the other hand, the decoded address is output from the address decoding circuit 10 to the memory 11,
By writing the address output to the memory 11 as a write signal, the address at which the abnormal pit exists can be stored.

【0010】以上説明したような異常ピット検出方法で
は異常ピットが存在する光ディスク上の位置を特定する
ために、存在アドレスから計算により位置推定を行な
う。しかし計算による位置指定は特に角度方向の分解能
が1アドレス分しかないため観察・解析行為に対して精
度が足りないことがある。すなわち、1アドレス中のど
の部位に異常ピットがあるかは不明である。これは、一
般に1アドレスは10度〜数10度の円弧となるためで
ある(これに対し半径方向は1トラック中に数〜数十ア
ドレス存在することから計算によっても十分な精度が得
られている)。この点に着目して改良された実施例につ
いて以下に説明する。
In the abnormal pit detection method described above, in order to specify the position on the optical disk where the abnormal pit exists, the position is estimated from the existing address by calculation. However, the position specification by calculation may not have sufficient accuracy for observation / analysis because the resolution in the angular direction is only one address. That is, it is unknown which part of one address has the abnormal pit. This is because one address is generally a circular arc of 10 degrees to several tens of degrees. On the other hand, since there are several to several tens of addresses in one track in the radial direction, sufficient accuracy can be obtained by calculation. Exist). An embodiment improved in view of this point will be described below.

【0011】図7は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の他の実施例を示す図で、図中、21は光
ディスク、22は光ピックアップ、23はロータリーエ
ンコーダ、24はTE信号発生回路、25はTE信号基
準値発生回路、26aはアドレス解読回路、27は回転
角度解読回路、28は比較回路、29はパルス発生回
路、30aはメモリ回路である。図1の実施例に加え
て、アドレス解読回路26aとロータリーエンコーダ2
3と回転角度解読回路27とを有し、異常ピットが存在
するアドレスと光ディスク上の角度も検出するものであ
る。アドレス解読回路26aは、光ピックアップが走査
している光ディスクのアドレスを解読してメモリ30a
に出力する。ロータリーエンコーダ23は光ディスク2
1と共に回転して回転中はパルスを出力する。ロータリ
ーエンコーダでは0.1°程度の角度分解能が得られ
る。回転角度解読回路27は、ロータリーエンコーダ2
3からのパルスを計数して光ディスクの回転角度をメモ
リ30aに出力する。
FIG. 7 is a diagram showing another embodiment of the method and apparatus for detecting abnormal pits according to the present invention. In the figure, 21 is an optical disk, 22 is an optical pickup, 23 is a rotary encoder, and 24 is a TE signal generating circuit. , 25 is a TE signal reference value generation circuit, 26a is an address decoding circuit, 27 is a rotation angle decoding circuit, 28 is a comparison circuit, 29 is a pulse generation circuit, and 30a is a memory circuit. In addition to the embodiment of FIG. 1, the address decoding circuit 26a and the rotary encoder 2
3 and a rotation angle decoding circuit 27, and detects an address where an abnormal pit exists and an angle on the optical disk. The address decoding circuit 26a decodes the address of the optical disk being scanned by the optical pickup and stores it in the memory 30a.
Output to. The rotary encoder 23 is the optical disc 2
It rotates with 1 and outputs a pulse during rotation. A rotary encoder can obtain an angular resolution of about 0.1 °. The rotation angle decoding circuit 27 includes a rotary encoder 2
The pulses from 3 are counted and the rotation angle of the optical disc is output to the memory 30a.

【0012】比較回路28の出力は、パルス発生回路2
9に入力されており、図1と同じ方法で異常ピットを検
出した場合にメモリ30aにパルスWRが出力される。
異常ピットを検出した場合、WRを書き込み信号として
アドレス出力と回転角度出力をメモリ30aに書き込む
ことにより、異常ピットが存在するアドレスとその光デ
ィスク上の角度を記憶してゆく。メモリ30aに記憶さ
れたデータのうち、アドレスから光ディスク上の半径位
置を計算し、図11に示すように、角度データと合わせ
て使うことで、異常ピットが存在する光ディスク上の位
置を特定できる。
The output of the comparison circuit 28 is the pulse generation circuit 2
9 and the pulse WR is output to the memory 30a when an abnormal pit is detected by the same method as in FIG.
When the abnormal pit is detected, the address output and the rotation angle output are written in the memory 30a by using WR as a writing signal to store the address where the abnormal pit exists and the angle on the optical disk. By calculating the radial position on the optical disk from the address among the data stored in the memory 30a and using it together with the angle data as shown in FIG. 11, the position on the optical disk where the abnormal pit exists can be specified.

【0013】図8は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の更に他の実施例を示す図で、図中、30
bはカウンタ選択回路、C1〜Cnはカウンタで、その
他、図7と同じ作用をする部分は同一の符号を付してい
る。この実施例は、図12のように光ディスク全面がn
分割されている場合に各領域中の異常ピットの数を知る
ためのものである。アドレス解読回路26と回転角度解
読回路27とパルス発生回路29の出力先が、カウンタ
選択回路30bとなっており、該カウンタ選択回路30
bはアドレス出力と回転角度出力を解読してカウントア
ップすべきカウンタを選択する。カウンタnは領域nに
対応する。異常ピットを検出した場合、カウンタ選択回
路30bによって選択されているカウンタCnに対して
パルス発生回路29からの異常ピット検出パルスUPが
出力される。
FIG. 8 is a view showing still another embodiment of the abnormal pit detection method and detection apparatus according to the present invention, in which 30 is shown.
b counter selection circuit, C 1 to Cn in a counter, and other portions of the same functions as Figure 7 are denoted by the same reference numerals. In this embodiment, as shown in FIG.
This is for knowing the number of abnormal pits in each area when divided. The output destinations of the address decoding circuit 26, the rotation angle decoding circuit 27, and the pulse generation circuit 29 are the counter selection circuit 30b.
b decodes the address output and the rotation angle output and selects the counter to be counted up. The counter n corresponds to the area n. When the abnormal pit is detected, the abnormal pit detection pulse UP is output from the pulse generation circuit 29 to the counter Cn selected by the counter selection circuit 30b.

【0014】図9は、本発明による異常ピット検出方法
及び検出装置の更に他の実施例を示す図で、図中、26
bは半径位置解読回路、31はリニアエンコーダで、そ
の他、図7と同じ作用をする部分は同一の符号を付して
ある。ロータリーエンコーダ23は光ディスク21と共
に回転し、回転中はパルスを出力する。リニアエンコー
ダ31は光ピックアップ22と一体に移動し、移動中は
パルスを出力する。リニアエンコーダで0.5〜1.0μ
m程度の分解能が得られる。半径位置解読回路26b
は、リニアエンコーダからのパルスを計数して光ピック
アップの(光ディスク上での)半径位置をメモリ30a
に出力する。回転角度解読回路27は、ロータリーエン
コーダ23からのパルスを計数して光ディスクの回転角
度をメモリ30aに出力する。
FIG. 9 is a diagram showing still another embodiment of the abnormal pit detection method and detection apparatus according to the present invention, in which 26 is shown.
Reference numeral b is a radial position decoding circuit, reference numeral 31 is a linear encoder, and other parts having the same functions as those in FIG. The rotary encoder 23 rotates together with the optical disk 21, and outputs a pulse during rotation. The linear encoder 31 moves integrally with the optical pickup 22, and outputs a pulse while moving. 0.5-1.0μ with linear encoder
A resolution of about m can be obtained. Radial position decoding circuit 26b
Counts the pulses from the linear encoder and stores the radial position (on the optical disk) of the optical pickup in the memory 30a.
Output to. The rotation angle decoding circuit 27 counts the pulses from the rotary encoder 23 and outputs the rotation angle of the optical disc to the memory 30a.

【0015】比較回路28の出力は、パルス発生回路2
9に入力されており、図1と同じ方法で異常ピットを検
出した場合にメモリ30aにパルスWRが出力される。
異常ピットを検出した場合、WRを書き込み信号として
半径位置出力と回転角度出力をメモリ30aに書き込む
ことにより、異常ピットが存在する光ディスク上の半径
と角度を記憶してゆく。メモリ30aに記憶されたデー
タから異常ピットが存在する光ディスク上の位置を特定
できる。
The output of the comparison circuit 28 is the pulse generation circuit 2
9 and the pulse WR is output to the memory 30a when an abnormal pit is detected by the same method as in FIG.
When the abnormal pit is detected, the radius position output and the rotation angle output are written in the memory 30a by using WR as a writing signal to store the radius and the angle on the optical disc in which the abnormal pit exists. The position on the optical disc where the abnormal pit exists can be specified from the data stored in the memory 30a.

【0016】図10は、本発明による異常ピット検出方
法及び検出装置の更に他の実施例を示す図で、30bは
カウンタ選択回路、C1〜Cnはカウンタで、その他、
図7と同じ作用をする部分は同一の符号を付している。
リニアエンコーダ31を光ピックアップ22に設け、半
径位置解読回路26bを介して半径位置出力を行ってい
る。その他の動作は図8と同様にn分割されている光デ
ィスク全面の、各領域中の異常ピットの数を知るための
ものである。
[0016] Figure 10 is a diagram showing still another embodiment of the abnormality pit detecting method and detecting apparatus according to the present invention, 30b counter selection circuit, C 1 to Cn in the counter, other,
The parts having the same functions as those in FIG. 7 are designated by the same reference numerals.
The linear encoder 31 is provided in the optical pickup 22, and the radial position is output via the radial position decoding circuit 26b. The other operation is to know the number of abnormal pits in each area on the entire surface of the optical disk divided into n as in FIG.

【0017】図13は、本発明による異常ピット検出方
法の更に他の実施例を示す図で、図中、41は光ディス
ク、42は光ピックアップ、43はロータリーエンコー
ダ、44はリニアエンコーダ、45aはTEref
(+)発生回路、45bはTEref(−)発生回路、
46はTE信号発生回路、47は半径位置解読回路、4
8は回転角度解読回路、49は比較回路、50aはパル
ス発生回路(+)、50bはパルス発生回路(−)、5
1はマスク信号発生回路、52a,52bはアンドゲー
ト回路、53はデータ処理回路である。
FIG. 13 is a diagram showing still another embodiment of the abnormal pit detection method according to the present invention. In the figure, 41 is an optical disk, 42 is an optical pickup, 43 is a rotary encoder, 44 is a linear encoder, and 45a is TEref.
(+) Generation circuit, 45b is a TEref (-) generation circuit,
46 is a TE signal generating circuit, 47 is a radial position decoding circuit, 4
8 is a rotation angle decoding circuit, 49 is a comparison circuit, 50a is a pulse generation circuit (+), 50b is a pulse generation circuit (-), 5
Reference numeral 1 is a mask signal generation circuit, 52a and 52b are AND gate circuits, and 53 is a data processing circuit.

【0018】回転角度解読回路48は、ピックアップ4
2の焦点角度位置をロータリーエンコーダ43より解読
して、データ処理回路54へ回転角度信号を出力する。
半径位置解読回路47は、ピックアップ42の焦点半径
位置をリニアエンコーダ44より解読して、データ処理
回路54へ半径位置信号を出力する。TE信号発生回路
46は、光ピックアップ42からの信号を受けてTE信
号を出力し、TEref発生回路45a,45bは、異
常ピット検出のためのTE信号基準値を出力する。比較
回路49a,49bは、両者の比較結果をパルス発生回
路50a,50bに出力するが、比較の結果、TE信号
がTErefを超えると、パルス発生回路50a,50
bは異常ピット検出パルスを出力する。
The rotation angle decoding circuit 48 includes the pickup 4
The focal angle position of No. 2 is decoded by the rotary encoder 43, and the rotation angle signal is output to the data processing circuit 54.
The radial position decoding circuit 47 decodes the focal position of the pickup 42 from the linear encoder 44 and outputs a radial position signal to the data processing circuit 54. The TE signal generation circuit 46 receives a signal from the optical pickup 42 and outputs a TE signal, and the TEref generation circuits 45a and 45b output a TE signal reference value for detecting an abnormal pit. The comparison circuits 49a and 49b output the comparison results of the both to the pulse generation circuits 50a and 50b. However, when the TE signal exceeds TEref as a result of the comparison, the pulse generation circuits 50a and 50b.
b outputs an abnormal pit detection pulse.

【0019】ところで、図16に異常ピット部分のTE
信号を示したが、異常部分の方向、すなわち、内周向き
と外周向きのものとではTE信号の極性が異なるため、
異常ピット突入部分bで検出される異常ピット検出パル
スを区別することにより、異常ピットの異常方向が内向
きか外向きか判別できる。なお、図16において、基準
値TEref(+),TEref(−)をそれぞれ TE(+)<TEref(+)<TE(+)′ TE(−)>TEref(−)>TE(−)′ に設定する。異常ピット脱出部分cでも異常ピット検出
パルスが出力されるが、この実施例では検出パルスを区
別する方法としてマスク信号発生回路51を設け、ピッ
ト突入時の異常ピット検出パルスが立つと同時にマスク
信号を出力し、ピット脱出部分での異常ピット検出パル
スをアンドゲート回路52a,52bにより打ち消せる
ようにしている。
By the way, FIG. 16 shows the TE of the abnormal pit portion.
Although the signal is shown, since the polarity of the TE signal is different in the direction of the abnormal portion, that is, in the inner peripheral direction and the outer peripheral direction,
By distinguishing the abnormal pit detection pulse detected at the abnormal pit entry portion b, it is possible to determine whether the abnormal direction of the abnormal pit is inward or outward. In FIG. 16, the reference values TEref (+) and TEref (−) are respectively set to TE (+) <TEref (+) <TE (+) ′ TE (−)> TEref (−)> TE (−) ′. Set. The abnormal pit detection pulse is output even at the abnormal pit escape portion c, but in this embodiment, a mask signal generation circuit 51 is provided as a method of distinguishing the detection pulse, and the mask signal is output at the same time when the abnormal pit detection pulse at the time of pit entry occurs. The AND gate circuits 52a and 52b can output and output the abnormal pit detection pulse at the pit escape portion.

【0020】異常ピットが検出されると、異常ピット検
出パルスは、異常方向が内周向きか外周向きかが区別さ
れた状態でそれぞれデータ処理回路53へ出力され、上
記回転角度信号、半径位置信号とあわせてメモリへ書き
込まれ、かつ、異常ピット数もカウントされる。本発明
の実施例(図13)による検査の結果例を説明するため
に簡略化したものを、図14に示す。このように、ディ
スク上での異常ピットの正確な位置と数がわかるだけで
なく、異常ピットの方向とディスク上でのそれらの分布
状況を把握することができる。
When an abnormal pit is detected, the abnormal pit detection pulse is output to the data processing circuit 53 in a state in which the abnormal direction is discriminated between the inner peripheral direction and the outer peripheral direction, and the rotation angle signal and the radial position signal are output. At the same time, it is written in the memory and the number of abnormal pits is also counted. FIG. 14 shows a simplified diagram for explaining an example of the result of the inspection according to the embodiment of the present invention (FIG. 13). In this way, not only the exact position and number of abnormal pits on the disc can be known, but also the direction of the abnormal pits and their distribution on the disc can be grasped.

【0021】[0021]

【効果】以上の説明から明らかなように、本発明による
と、以下のような効果がある。 (1)請求項1,7に対応する効果:TE信号を利用し
て異常ピットの検出を実現することができ、光ディスク
全面にわたる異常ピットの計数などが可能となる。 (2)請求項2,8に対応する効果:一度だけ書けるラ
イトワンス(WO;Write Once)型あるいは再書込みで
きるリライタブル(RW;Rewritable)型の光ディスク
では、アドレス部とデータ部が区別されており、プリフ
ォーマットピットはアドレス部にのみ存在するのが一般
である。このタイプでは異常ピットを検出する領域はア
ドレス部のみで必要十分であり、データ部においても異
常ピットの検出機能が働いていると、欠陥によるTE信
号の振幅の乱れを異常ピットとして誤検出する可能性が
ある。また、アドレス部とデータ部を識別し、アドレス
部においてのみTE信号の振幅比較を実施するので、W
O/RWタイプの光ディスクの異常ピットを欠陥の影響
を受けることなく安定して検出することができる。 (3)請求項3,9に対応する効果:異常ピット検出と
同時にその存在アドレスも特定することができるので、
異常ピットの観察や分布などの解析が容易に行なえると
いう効果がある。 (4)請求項4,10,11に対応する効果:異常ピッ
トが存在する角度を精度良く検出することができ、かつ
半径位置も知ることができるので、異常ピットの光ディ
スク上存在位置を精度良く特定できる。このため異常ピ
ットの観察や分布などの解析が精密に行なえるという効
果がある。 (5)請求項5,12,13に対応する効果:異常ピッ
トが存在する角度を精度良く検出することに加え、アド
レスの有無にかかわらず異常ピットが存在する半径位置
を知ることができるので、アドレスが存在していない/
あるいは解説できない光ディスクの異常ピット存在位置
を精度良く特定できる。このため異常ピットの観察や分
布などの解析が精密に行なえるという効果がある。 (6)請求項6に対応する効果:TE信号の極性を判断
する機能を有し、異常ピット検出と同時に異常ピツトの
方向が判別できるので、異常ピット発生原因などの解析
が効果的に行なえる。
As is apparent from the above description, the present invention has the following effects. (1) Effects corresponding to claims 1 and 7: Abnormal pits can be detected by using the TE signal, and it becomes possible to count the abnormal pits over the entire surface of the optical disc. (2) Effects corresponding to claims 2 and 8: In the write once (WO; Write Once) type that can be written only once or the rewritable (RW) type that can be rewritten, the address part and the data part are distinguished. Generally, the pre-format pit exists only in the address part. In this type, the area for detecting abnormal pits is necessary and sufficient only in the address section, and if the abnormal pit detection function works in the data section as well, it is possible to erroneously detect irregularity in the amplitude of the TE signal due to defects as abnormal pits. There is a nature. Further, since the address part and the data part are identified and the amplitude comparison of the TE signal is performed only in the address part, W
An abnormal pit of an O / RW type optical disc can be detected stably without being affected by defects. (3) Effects corresponding to claims 3 and 9: Since the existence address can be specified at the same time when the abnormal pit is detected,
This has an effect that observation and distribution of abnormal pits can be easily performed. (4) Effects corresponding to claims 4, 10 and 11: Since the angle at which the abnormal pit exists can be detected accurately and the radial position can also be known, the position where the abnormal pit exists on the optical disc can be accurately measured. Can be specified. Therefore, there is an effect that the abnormal pits can be observed and analyzed accurately. (5) Effects corresponding to claims 5, 12, and 13: In addition to accurately detecting the angle at which the abnormal pit exists, the radial position at which the abnormal pit exists can be known regardless of the presence or absence of an address. Address does not exist /
Alternatively, it is possible to accurately specify the abnormal pit existence position on the optical disc that cannot be explained. Therefore, there is an effect that the abnormal pits can be observed and analyzed accurately. (6) Effect corresponding to claim 6: The function of judging the polarity of the TE signal is provided, and since the direction of the abnormal pit can be judged at the same time as the abnormal pit is detected, the cause of the abnormal pit can be effectively analyzed. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の一実施例を説明するための構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram for explaining an embodiment of a method and a device for detecting abnormal pits according to the present invention.

【図2】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の他の実施例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing another embodiment of the abnormal pit detection method and detection device according to the present invention.

【図3】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の更に他の実施例を示す図である。
FIG. 3 is a view showing still another embodiment of the abnormal pit detection method and detection device according to the present invention.

【図4】 トラッキングエラー信号の乱れを説明するた
めの図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining a disorder of a tracking error signal.

【図5】 正常ピットと異常ピットを説明するための図
である。
FIG. 5 is a diagram for explaining normal pits and abnormal pits.

【図6】 異常ピットの様子を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a state of abnormal pits.

【図7】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の更に他の実施例を示す図である。
FIG. 7 is a view showing still another embodiment of the abnormal pit detection method and detection device according to the present invention.

【図8】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の更に他の実施例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing still another embodiment of the abnormal pit detection method and detection device according to the present invention.

【図9】 本発明による異常ピット検出方法及び検出装
置の更に他の実施例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing still another embodiment of the abnormal pit detection method and detection device according to the present invention.

【図10】 本発明による異常ピット検出方法及び検出
装置の更に他の実施例を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing still another embodiment of the abnormal pit detection method and detection device according to the present invention.

【図11】 異常ピットが存在する光ディスク上の位置
を特定することを説明するための図である。
FIG. 11 is a diagram for explaining specifying a position on an optical disc where an abnormal pit exists.

【図12】 光ディスク全面がn分割された各領域中の
異常ピットの数を説明するための図である。
FIG. 12 is a diagram for explaining the number of abnormal pits in each area where the entire surface of the optical disc is divided into n.

【図13】 本発明による異常ピット検出方法の更に他
の実施例を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing still another embodiment of the abnormal pit detection method according to the present invention.

【図14】 検査の結果例を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing an example of a result of inspection.

【図15】 異常ピットの形状を示す図である。FIG. 15 is a diagram showing a shape of an abnormal pit.

【図16】 異常ピットにおけるTE信号を示す図であ
る。
FIG. 16 is a diagram showing a TE signal in an abnormal pit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…光ディスク、2…光ピックアップ、3…トラッキン
グエラー信号(TE信号)発生回路、4…トラッキング
エラー信号(TE信号)基準値発生回路、5…比較回
路。
1 ... Optical disc, 2 ... Optical pickup, 3 ... Tracking error signal (TE signal) generation circuit, 4 ... Tracking error signal (TE signal) reference value generation circuit, 5 ... Comparison circuit.

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 トラッキングエラー信号の振幅を基準値
と比較し、該トラッキングエラー信号の振幅が基準値を
上まわる場合に異常ピットとみなすことを特徴とする異
常ピット検出方法。
1. A method for detecting abnormal pits, which comprises comparing the amplitude of a tracking error signal with a reference value, and if the amplitude of the tracking error signal exceeds the reference value, it is regarded as an abnormal pit.
【請求項2】 アドレス部とデータ部を区別し、該アド
レス部においてのみ異常ピット検出の対象とすることを
特徴とする請求項1記載の異常ピット検出方法。
2. The abnormal pit detection method according to claim 1, wherein the address part and the data part are distinguished from each other, and the abnormal pit detection is performed only in the address part.
【請求項3】 アドレス部を解読する機能を有し、異常
ピット検出と同時に異常ピットが存在するアドレスも検
出することを特徴とする請求項1記載の異常ピット検出
方法。
3. The abnormal pit detection method according to claim 1, wherein the abnormal pit detection method has a function of decoding the address portion, and simultaneously detects an abnormal pit and also detects an address where the abnormal pit exists.
【請求項4】 光ディスクの回転角度とアドレスを解読
する機能を有し、異常ピット検出と同時に異常ピットが
存在する光ディスク上の角度とアドレスを検出すること
を特徴とする請求項1記載の異常ピット検出方法。
4. The abnormal pit according to claim 1, which has a function of decoding the rotation angle and the address of the optical disk, and detects the angle and the address on the optical disk where the abnormal pit exists at the same time when the abnormal pit is detected. Detection method.
【請求項5】 光ディスクの回転角度と光ピックアップ
の位置を解読する機能を有し、異常ピット検出と同時に
異常ピットが存在する光ディスク上の角度と半径を検出
することを特徴とする請求項1記載の異常ピット検出方
法。
5. The optical disc according to claim 1, which has a function of reading the rotation angle of the optical disc and the position of the optical pickup, and at the same time detecting the abnormal pit, detecting the angle and the radius on the optical disc where the abnormal pit exists. Abnormal pit detection method.
【請求項6】 トラッキングエラー信号の極性を判断す
る機能を有し、異常ピツト検出と同時に、異常ピットの
方向を判別することを特徴とした請求項1記載の異常ピ
ット検出方法。
6. The abnormal pit detection method according to claim 1, which has a function of determining the polarity of the tracking error signal and determines the direction of the abnormal pit at the same time when the abnormal pit is detected.
【請求項7】 光ディスク上の情報を光ピックアップに
より取り出し、該光ピックアップからの信号を受け、ト
ラッキングエラー信号を発生するトラッキングエラー信
号発生回路と、該トラッキングエラー信号発生回路から
のトラッキングエラー信号と比較するためのトラッキン
グエラー信号基準値を発生するトラッキングエラー信号
基準値発生回路と、前記トラッキングエラー信号と、前
記トラッキングエラー信号基準値とを比較する比較回路
とから成ることを特徴とする異常ピット検出装置。
7. A tracking error signal generating circuit for extracting information on an optical disk by an optical pickup, receiving a signal from the optical pickup and generating a tracking error signal, and comparing the tracking error signal from the tracking error signal generating circuit. For detecting the tracking error signal reference value, and a comparison circuit for comparing the tracking error signal with the tracking error signal reference value. .
【請求項8】 前記光ピックアップからの信号を受け、
アドレス部とデータ部とを区別するアドレス部・データ
部識別回路と、前記比較回路の出力を入力するパルス発
生回路と、該パルス発生回路からの異常ピット検出パル
スと前記アドレス部・データ部識別回路によるアドレス
部ゲート信号とのアンドをとるアンドゲート回路とから
成ることを特徴とする請求項7記載の異常ピット検出装
置。
8. A signal from the optical pickup is received,
Address part / data part identifying circuit for distinguishing the address part from the data part, a pulse generating circuit for inputting the output of the comparing circuit, an abnormal pit detection pulse from the pulse generating circuit, and the address part / data part identifying circuit 8. An abnormal pit detection device according to claim 7, further comprising an AND gate circuit for ANDing the gate signal of the address portion by the AND gate circuit.
【請求項9】 前記光ピックアップからの信号を受け、
アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、前記比較
回路の出力を入力するパルス発生回路と、該パルス発生
回路からの異常ピット検出パルスによって、前記アドレ
ス部解読回路により解読されたアドレスを記憶するメモ
リとから成ることを特徴とする請求項7記載の異常ピッ
ト検出装置。
9. A signal from the optical pickup is received,
An address section decoding circuit for decoding the address section, a pulse generation circuit for inputting the output of the comparison circuit, and a memory for storing the address decoded by the address section decoding circuit by an abnormal pit detection pulse from the pulse generation circuit. 8. The abnormal pit detection device according to claim 7, comprising:
【請求項10】 前記光ピックアップからの信号を受
け、アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、光デ
ィスク回転角度解読回路と、前記比較回路の出力を入力
するパルス発生回路と、該パルス発生回路からの異常ピ
ット検出パルスによって、前記アドレス部解読回路と光
ディスク回転角度解読回路により解読されたアドレスお
よび回転角度を記録するメモリとから成ることを特徴と
する請求項7記載の異常ピット検出装置。
10. An address section decoding circuit that receives a signal from the optical pickup and decodes an address section, an optical disk rotation angle decoding circuit, a pulse generation circuit that inputs the output of the comparison circuit, and the pulse generation circuit. 8. The abnormal pit detection device according to claim 7, wherein the abnormal pit detection pulse comprises a memory for recording the address and the rotation angle decoded by the address section decoding circuit and the optical disk rotation angle decoding circuit.
【請求項11】 前記光ピックアップからの信号を受
け、アドレス部を解読するアドレス部解読回路と、光デ
ィスク回転角度解読回路と、分割された光ディスク上の
領域に対応する複数のカウンタと、前記比較回路の出力
を入力するパルス発生回路と、前記アドレス部解読回路
と光ディスク回転角度解読回路によって解読されたアド
レスと回転角度により前記カウンタ中から適切なカウン
タを選択するカウンタ選択回路とから成り、該パルス発
生回路からの異常ピット検出パルスを、該カウンタ選択
回路により選択されたカウンタに計数することを特徴と
する請求項7記載の異常ピット検出装置。
11. An address section decoding circuit which receives a signal from the optical pickup and decodes an address section, an optical disk rotation angle decoding circuit, a plurality of counters corresponding to divided areas on the optical disk, and the comparison circuit. And a counter selection circuit for selecting an appropriate counter from the counters according to the address and the rotation angle decoded by the address section decoding circuit and the optical disk rotation angle decoding circuit. The abnormal pit detection device according to claim 7, wherein the abnormal pit detection pulse from the circuit is counted by a counter selected by the counter selection circuit.
【請求項12】 光ピックアップ半径位置解読回路と、
光ディスク回転角度解読回路と、前記比較回路の出力を
入力するパルス発生回路と、該パルス発生回路からの異
常ピット検出パルスによって、前記光ピックアップ半径
位置解読回路と光ディスク回転角度解読回路により解読
された半径位置および回転角度を記録するメモリとから
成ることを特徴とする請求項7記載の異常ピット検出装
置。
12. An optical pickup radial position decoding circuit,
The optical disk rotation angle decoding circuit, the pulse generation circuit for inputting the output of the comparison circuit, and the radius read by the optical pickup radius position decoding circuit and the optical disk rotation angle decoding circuit by the abnormal pit detection pulse from the pulse generation circuit. 8. The abnormal pit detection device according to claim 7, further comprising a memory for recording a position and a rotation angle.
【請求項13】 光ピックアップ半径位置解読回路と、
光ディスク回転角度解読回路と、分割された光ディスク
上の領域に対応する複数のカウンタと、前記比較回路の
出力を入力するパルス発生回路と、前記光ピックアップ
半径位置解読回路と光ディスク回転角度解読回路によっ
て解読された半径位置と回転角度により前記カウンタ中
から適切なカウンタを選択するカウンタ選択回路とから
成り、該パルス発生回路からの異常ピット検出パルス
を、該カウンタ選択回路により選択されたカウンタに計
数することを特徴とする請求項7記載の異常ピット検出
装置。
13. An optical pickup radial position decoding circuit,
Optical disc rotation angle decoding circuit, a plurality of counters corresponding to the divided areas on the optical disc, a pulse generation circuit for inputting the output of the comparison circuit, the optical pickup radial position decoding circuit and the optical disc rotation angle decoding circuit A counter selection circuit that selects an appropriate counter from the counters according to the selected radial position and rotation angle, and counts an abnormal pit detection pulse from the pulse generation circuit in the counter selected by the counter selection circuit. The abnormal pit detection device according to claim 7.
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