JPH056429A - 画像読取り装置 - Google Patents
画像読取り装置Info
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- JPH056429A JPH056429A JP3317045A JP31704591A JPH056429A JP H056429 A JPH056429 A JP H056429A JP 3317045 A JP3317045 A JP 3317045A JP 31704591 A JP31704591 A JP 31704591A JP H056429 A JPH056429 A JP H056429A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、小型で、かつ実時間で読取りおよ
び画像処理を行うことのできる画像読取装置を提供する
ことを目的とする。 【構成】 本発明の第１では、複数の光検出手段で同時
に異なる領域の光検出を行い、この複数の光検出手段の
出力を四則演算によって合成して、所定画素の特徴抽出
を実時間で行い、これを当該画素の画情報として出力す
るようにしている。また本発明の第２では、複数の磁気
検出手段で同時に異なる領域の磁気検出を行い、この複
数の磁気検出手段の出力を四則演算によって合成して、
所定画素の特徴抽出を実時間で行い、これを当該画素の
画情報として出力するようにしている。
び画像処理を行うことのできる画像読取装置を提供する
ことを目的とする。 【構成】 本発明の第１では、複数の光検出手段で同時
に異なる領域の光検出を行い、この複数の光検出手段の
出力を四則演算によって合成して、所定画素の特徴抽出
を実時間で行い、これを当該画素の画情報として出力す
るようにしている。また本発明の第２では、複数の磁気
検出手段で同時に異なる領域の磁気検出を行い、この複
数の磁気検出手段の出力を四則演算によって合成して、
所定画素の特徴抽出を実時間で行い、これを当該画素の
画情報として出力するようにしている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画像読取り装置に係
り、特に複数の領域の読取り出力から画素の特徴抽出を
実時間で行い、これを当該画素の画情報として出力する
画像処理機能を備えた画像読取り装置に関する。
り、特に複数の領域の読取り出力から画素の特徴抽出を
実時間で行い、これを当該画素の画情報として出力する
画像処理機能を備えた画像読取り装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ホトダイオードアレイ等の光検出
手段を用いて画像の読取りを行い、特徴抽出を行うに際
し、ホトダイオードアレイ等の光検出手段の出力を一旦
メモリに蓄積した後情報を処理しやすい形に特徴抽出す
るための前処理を行い、その加工されたデータを認識ア
ルゴリズムにかけ必要な結果を得るようにしている。
手段を用いて画像の読取りを行い、特徴抽出を行うに際
し、ホトダイオードアレイ等の光検出手段の出力を一旦
メモリに蓄積した後情報を処理しやすい形に特徴抽出す
るための前処理を行い、その加工されたデータを認識ア
ルゴリズムにかけ必要な結果を得るようにしている。
【０００３】すなわち、例えばこの従来の画像読取り方
式を用いた画像認識の一例を図１４に示すように、ＣＣ
Ｄカメラ、ホトダイオードアレイ等の光検出手段１を用
いて被写体を読取り、この信号を一旦第１の画像メモリ
２に入れ、画像メモリから所定の領域の読取り出力を読
みだし、ロビンソンオペレータ等を用いて処理を行い
（画像処理３）、この出力を第２の画像メモリ４に格納
し、この信号から画像認識５を行うようになっている。
式を用いた画像認識の一例を図１４に示すように、ＣＣ
Ｄカメラ、ホトダイオードアレイ等の光検出手段１を用
いて被写体を読取り、この信号を一旦第１の画像メモリ
２に入れ、画像メモリから所定の領域の読取り出力を読
みだし、ロビンソンオペレータ等を用いて処理を行い
（画像処理３）、この出力を第２の画像メモリ４に格納
し、この信号から画像認識５を行うようになっている。
【０００４】この画像処理による特徴抽出方法の１つで
あるロビンソンオペレータの動作について説明する。
あるロビンソンオペレータの動作について説明する。
【０００５】これはイメージセンサやホトダイオードア
レイ等のラインセンサを用いて時間軸−座標軸平面のｍ
×ｎ配列のデータを第１の画像メモリ２にストックし、
順次読み出して３×３データのロビンソンオペレーティ
ングを実行し、図１５(a) 乃至図１５(c) に示すように
濃度勾配とその方向を各座標ごとに決定していくように
なっている。
レイ等のラインセンサを用いて時間軸−座標軸平面のｍ
×ｎ配列のデータを第１の画像メモリ２にストックし、
順次読み出して３×３データのロビンソンオペレーティ
ングを実行し、図１５(a) 乃至図１５(c) に示すように
濃度勾配とその方向を各座標ごとに決定していくように
なっている。
【０００６】図１５(a) は第１の画像メモリ２の注目画
素のまわりの２次元データを示し、図１５(b) に示すよ
うにこの注目画素のまわりの画素をａｂｃｄｅｆｇｈと
し、図１５(c) に示すように重み付け演算処理を行い、
最も大きいベクトルを注目画素の濃度勾配データとして
採用するようにしている。
素のまわりの２次元データを示し、図１５(b) に示すよ
うにこの注目画素のまわりの画素をａｂｃｄｅｆｇｈと
し、図１５(c) に示すように重み付け演算処理を行い、
最も大きいベクトルを注目画素の濃度勾配データとして
採用するようにしている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この方
式では、センサの出力が認識アルゴリズムにかけられる
までに、メモリへの蓄積、読みだし等の前処理を必要と
するため、システムが複雑となり処理に時間がかかるう
え、多大なメモリ領域が必要となり装置が大形化すると
いう問題があった。
式では、センサの出力が認識アルゴリズムにかけられる
までに、メモリへの蓄積、読みだし等の前処理を必要と
するため、システムが複雑となり処理に時間がかかるう
え、多大なメモリ領域が必要となり装置が大形化すると
いう問題があった。
【０００８】本発明は、前記実情に鑑みてなされたもの
で、小型で、かつ実時間で読取りおよび画像処理を行う
ことのできる画像読取装置を提供することを目的とす
る。
で、小型で、かつ実時間で読取りおよび画像処理を行う
ことのできる画像読取装置を提供することを目的とす
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】そこで本発明の第１で
は、複数の光検出手段で同時に異なる領域の光検出を行
い、この複数の光検出手段の出力を四則演算によって合
成して、所定画素の特徴抽出を実時間で行い、これを当
該画素の画情報として出力するようにしている。また本
発明の第２では、複数の磁気検出手段で同時に異なる領
域の磁気検出を行い、この複数の磁気検出手段の出力を
四則演算によって合成して、所定画素の特徴抽出を実時
間で行い、これを当該画素の画情報として出力するよう
にしている。
は、複数の光検出手段で同時に異なる領域の光検出を行
い、この複数の光検出手段の出力を四則演算によって合
成して、所定画素の特徴抽出を実時間で行い、これを当
該画素の画情報として出力するようにしている。また本
発明の第２では、複数の磁気検出手段で同時に異なる領
域の磁気検出を行い、この複数の磁気検出手段の出力を
四則演算によって合成して、所定画素の特徴抽出を実時
間で行い、これを当該画素の画情報として出力するよう
にしている。
【００１０】
【作用】上記構成によれば、複数の光または磁気検出手
段の出力を四則演算によって合成して、所定画素の特徴
抽出を実時間で行い、これを当該画素の画情報として出
力するようにしているため、メモリを必要とせず、極め
て容易にかつ実時間で特徴抽出を行うことが可能とな
る。
段の出力を四則演算によって合成して、所定画素の特徴
抽出を実時間で行い、これを当該画素の画情報として出
力するようにしているため、メモリを必要とせず、極め
て容易にかつ実時間で特徴抽出を行うことが可能とな
る。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
つつ詳細に説明する。
つつ詳細に説明する。
【００１２】図１は本発明の第１の実施例の画像読取装
置を用いた画像認識装置を示すブロック図である。
置を用いた画像認識装置を示すブロック図である。
【００１３】ここでは、複数のホトセンサからなる光検
出手段を用いて被写体を読取り、この信号を図２に示す
４画素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの読取り出力から、図３に示すよ
うに変形ロビンソン演算を行い、実時間でＡ，Ｂ，Ｃ，
Ｄからなる２×２画素に対する出力をＯＮ−ＯＦＦのス
イッチングと差動増幅器からなる加減演算回路とを備
え、注目画素の特徴抽出を行い、特徴情報として出力す
る画像読取り装置１１と、この出力を格納する画像メモ
リ１４とを具備し、この画像メモリの出力から画像認識
１５を行うようになっている。
出手段を用いて被写体を読取り、この信号を図２に示す
４画素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの読取り出力から、図３に示すよ
うに変形ロビンソン演算を行い、実時間でＡ，Ｂ，Ｃ，
Ｄからなる２×２画素に対する出力をＯＮ−ＯＦＦのス
イッチングと差動増幅器からなる加減演算回路とを備
え、注目画素の特徴抽出を行い、特徴情報として出力す
る画像読取り装置１１と、この出力を格納する画像メモ
リ１４とを具備し、この画像メモリの出力から画像認識
１５を行うようになっている。
【００１４】そしてこの画像処理装置１１は、図４に概
念図を示すように、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４画素の読取りを
行う第１乃至第４のホトセンサ１６Ａ〜１６Ｄとこれら
の出力のスイッチングを行う第１および第２のスイッチ
ング回路１７，１８と、第１と第３のホトセンサ１６
Ａ，１６Ｃの減算を行う第１の減算回路１９と、これら
の加算を行う第１の加算回路２０と、第２と第４のホト
センサ１６Ｂ，１６Ｄの減算を行う第２の減算回路２１
と、これらの加算を行う第２の加算回路２２とから構成
されている。
念図を示すように、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４画素の読取りを
行う第１乃至第４のホトセンサ１６Ａ〜１６Ｄとこれら
の出力のスイッチングを行う第１および第２のスイッチ
ング回路１７，１８と、第１と第３のホトセンサ１６
Ａ，１６Ｃの減算を行う第１の減算回路１９と、これら
の加算を行う第１の加算回路２０と、第２と第４のホト
センサ１６Ｂ，１６Ｄの減算を行う第２の減算回路２１
と、これらの加算を行う第２の加算回路２２とから構成
されている。
【００１５】具体的には図５に示すように例えば２つの
オペアンプＯＰ１，ＯＰ２と、これらオペアンプＯＰ
１，ＯＰ２の前段に設けられたスイッチング回路１７，
１８で、第１の減算回路１９、第１の加算回路２０、第
２の減算回路２１、第２の加算回路２２を構成する。こ
の場合、接点がＸ側にある場合は、両入出力信号の和Ａ
＋ＣおよびＢ＋Ｄが出力される。また接点がＹ側にある
場合は、両入出力信号の差Ａ−ＣおよびＢ−Ｄが出力さ
れる。
オペアンプＯＰ１，ＯＰ２と、これらオペアンプＯＰ
１，ＯＰ２の前段に設けられたスイッチング回路１７，
１８で、第１の減算回路１９、第１の加算回路２０、第
２の減算回路２１、第２の加算回路２２を構成する。こ
の場合、接点がＸ側にある場合は、両入出力信号の和Ａ
＋ＣおよびＢ＋Ｄが出力される。また接点がＹ側にある
場合は、両入出力信号の差Ａ−ＣおよびＢ−Ｄが出力さ
れる。
【００１６】さらに、接点Ｘ，Ｙは必要に応じてどちら
か一方に固定して用いても良い。この図５の回路におけ
るスイッチング回路１７，１８の接点をＹに固定し濃度
勾配のデータを求める回路例を図６に示す。この場合、
オペアンプＯＰ１，ＯＰ２の出力はそれぞれＸ＝Ｒ（ia
-ic ）＝Ａ−Ｃ，Ｙ＝Ｒ（ib-id ）＝Ｂ−Ｄとなる。そ
してこれらの出力をそれぞれＸ，Ｙ＜０でオンとなるダ
イオードＩ1,Ｉ2 およびＸ，Ｙ＞０でオンとなるダイオ
ードＩ3,Ｉ4 および抵抗Ｒを介して第３のオペアンプＯ
Ｐ3 に接続することにより、濃度勾配＝｜Ｘ｜＋｜Ｙ｜
がオペアンプＯＰ3 の出力として出力される。
か一方に固定して用いても良い。この図５の回路におけ
るスイッチング回路１７，１８の接点をＹに固定し濃度
勾配のデータを求める回路例を図６に示す。この場合、
オペアンプＯＰ１，ＯＰ２の出力はそれぞれＸ＝Ｒ（ia
-ic ）＝Ａ−Ｃ，Ｙ＝Ｒ（ib-id ）＝Ｂ−Ｄとなる。そ
してこれらの出力をそれぞれＸ，Ｙ＜０でオンとなるダ
イオードＩ1,Ｉ2 およびＸ，Ｙ＞０でオンとなるダイオ
ードＩ3,Ｉ4 および抵抗Ｒを介して第３のオペアンプＯ
Ｐ3 に接続することにより、濃度勾配＝｜Ｘ｜＋｜Ｙ｜
がオペアンプＯＰ3 の出力として出力される。
【００１７】かかる画像処理装置１１によって、読取り
および特徴抽出が実時間で行われ、極めて容易に短時間
で画像認識を行うことができる。
および特徴抽出が実時間で行われ、極めて容易に短時間
で画像認識を行うことができる。
【００１８】また、画像処理に際して一旦メモリにいれ
ておく必要がないため、メモリ領域が小さくて済み、装
置の小形化をはかることが可能である。
ておく必要がないため、メモリ領域が小さくて済み、装
置の小形化をはかることが可能である。
【００１９】また、相対する２つのホトダイオードの差
分をとっているため、暗電流の影響を相殺することがで
きる。
分をとっているため、暗電流の影響を相殺することがで
きる。
【００２０】また、図３に示した式の右辺の第２項は誤
差成分である。しかし、その方向が真の場合に、真であ
ることを強調する方向に誤差が最大となるので、方向を
誤ることはないと考えられる。
差成分である。しかし、その方向が真の場合に、真であ
ることを強調する方向に誤差が最大となるので、方向を
誤ることはないと考えられる。
【００２１】なお、この例で用いた画情報読取り方法の
他、同じ２×２画素に分割する場合でも図７(a) および
図７(b) に示すように、対角線で分割してもよい。
他、同じ２×２画素に分割する場合でも図７(a) および
図７(b) に示すように、対角線で分割してもよい。
【００２２】また、図８(a) および図８(b) に示すよう
に、１画素を８分割するようにしてもよい。この場合
は、図８(b) に示すように誤差成分なしにロビンソンオ
ペレーティングの演算を行うことができ、演算精度は向
上し、この場合もホトダイオードの差分データと加減算
回路で構成することができるが、装置構成が複雑とな
る。 次に、本発明の第２の実施例として、紙幣識別装
置に適用した例について説明する。
に、１画素を８分割するようにしてもよい。この場合
は、図８(b) に示すように誤差成分なしにロビンソンオ
ペレーティングの演算を行うことができ、演算精度は向
上し、この場合もホトダイオードの差分データと加減算
回路で構成することができるが、装置構成が複雑とな
る。 次に、本発明の第２の実施例として、紙幣識別装
置に適用した例について説明する。
【００２３】図９(a) および図９(b) は本発明の第２の
実施例の紙幣識別装置を示す図である。図９(b) はセン
サ部の側面図を示す。
実施例の紙幣識別装置を示す図である。図９(b) はセン
サ部の側面図を示す。
【００２４】ここでは、４このホトセンサを１組とした
センサアレイからなる光検出手段１６を用いて、図示し
ない搬送手段によって矢印Ｐ方向に搬送される被写体と
しての紙幣Ｏを読取り、１組の４画素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ毎
の読取り出力から、図３に示したような変形ロビンソン
演算を行い、実時間でＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄからなる２×２画
素に対する出力信号をシフトレジスタ６を介して各セン
サの出力毎に電流電圧変換回路７で電流信号から電圧信
号に変換され、各特徴量計算回路８に入力され、各特徴
量を識別回路９に出力するように構成されている。
センサアレイからなる光検出手段１６を用いて、図示し
ない搬送手段によって矢印Ｐ方向に搬送される被写体と
しての紙幣Ｏを読取り、１組の４画素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ毎
の読取り出力から、図３に示したような変形ロビンソン
演算を行い、実時間でＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄからなる２×２画
素に対する出力信号をシフトレジスタ６を介して各セン
サの出力毎に電流電圧変換回路７で電流信号から電圧信
号に変換され、各特徴量計算回路８に入力され、各特徴
量を識別回路９に出力するように構成されている。
【００２５】紙幣Ｏの通過が紙幣通過検出装置２３，２
４によって検出されると、光検出手段１６は読取りを開
始し、光検出手段１６の下を紙幣Ｏが通過し終わるまで
に、シフトレジスタは何度も光検出手段１６の読取りを
繰り返させる。光検出手段１６で読み取ったデータは各
特徴量に変換されてリアルタイムで順次識別回路９に出
力され、金種判別、真偽判定、正損判定を行うようにな
っている。
４によって検出されると、光検出手段１６は読取りを開
始し、光検出手段１６の下を紙幣Ｏが通過し終わるまで
に、シフトレジスタは何度も光検出手段１６の読取りを
繰り返させる。光検出手段１６で読み取ったデータは各
特徴量に変換されてリアルタイムで順次識別回路９に出
力され、金種判別、真偽判定、正損判定を行うようにな
っている。
【００２６】このように、本発明実施例の紙幣識別装置
によれば、極めて容易に紙幣の識別を行うことが可能と
なる。
によれば、極めて容易に紙幣の識別を行うことが可能と
なる。
【００２７】なお、シフトレジスタの前段に電流電圧変
換回路を設けたり、ピークホールド回路を設けるなど適
宜変形可能である。
換回路を設けたり、ピークホールド回路を設けるなど適
宜変形可能である。
【００２８】また、前記実施例では四則演算として加
算、減算のみを用いたが乗算、除算等を用いるようにし
てもよい。
算、減算のみを用いたが乗算、除算等を用いるようにし
てもよい。
【００２９】さらに、前記実施例では光検出手段によっ
て情報の読取りを行ったが、本発明の第３の実施例とし
て磁気検出手段を用いた画像認識装置について説明す
る。
て情報の読取りを行ったが、本発明の第３の実施例とし
て磁気検出手段を用いた画像認識装置について説明す
る。
【００３０】ここでは、図１０にブロック図を示すよう
に、複数の磁気抵抗素子からなる磁気検出手段を用いて
被検出体の存在による磁気変化を読取り、この信号から
注目画素の特徴抽出を行い実時間で、濃度勾配方向パタ
ーンを検出し、特徴情報として出力する画像読取り装置
３１と、この出力を格納する画像メモリ３４とを具備
し、この画像メモリの出力から画像認識３５を行うよう
になっている。
に、複数の磁気抵抗素子からなる磁気検出手段を用いて
被検出体の存在による磁気変化を読取り、この信号から
注目画素の特徴抽出を行い実時間で、濃度勾配方向パタ
ーンを検出し、特徴情報として出力する画像読取り装置
３１と、この出力を格納する画像メモリ３４とを具備
し、この画像メモリの出力から画像認識３５を行うよう
になっている。
【００３１】そしてこの画像処理装置３１は、図１１に
示すように、磁気抵抗素子からなる磁気検出手段を用い
て被検出体の存在による磁気変化を読取るラインセンサ
から構成されており、この信号を図１２に示す４個の微
小画素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応させ第１乃至第４の磁気検
出手段ＭＲ1 〜ＭＲ4 の読取り出力から、図１３に示す
ように変形ロビンソン演算を行い、実時間でＡ，Ｂ，
Ｃ，Ｄからなる２×２微小画素に対する出力を順次シフ
トレジスタを介して読みだし、バッファ３２を介して４
つのコンパレータ３３Ａ〜３３ＤからＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの
４画素の濃度勾配方向パターンとして出力するようにな
っている。
示すように、磁気抵抗素子からなる磁気検出手段を用い
て被検出体の存在による磁気変化を読取るラインセンサ
から構成されており、この信号を図１２に示す４個の微
小画素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応させ第１乃至第４の磁気検
出手段ＭＲ1 〜ＭＲ4 の読取り出力から、図１３に示す
ように変形ロビンソン演算を行い、実時間でＡ，Ｂ，
Ｃ，Ｄからなる２×２微小画素に対する出力を順次シフ
トレジスタを介して読みだし、バッファ３２を介して４
つのコンパレータ３３Ａ〜３３ＤからＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの
４画素の濃度勾配方向パターンとして出力するようにな
っている。
【００３２】具体的には図１３に示すように、第１乃至
第４の磁気検出手段ＭＲ1 〜ＭＲ4によって分割された
２点の電圧を比較するもので、それぞれの点の電圧がＶ
／２＋αよりも大きいか否かとＶ／２−αよりも大きい
か否かを検出することにより濃度勾配方向パターンが実
時間で容易に得られる。ここでαは濃度勾配の無い範囲
を設定するのに用いている。
第４の磁気検出手段ＭＲ1 〜ＭＲ4によって分割された
２点の電圧を比較するもので、それぞれの点の電圧がＶ
／２＋αよりも大きいか否かとＶ／２−αよりも大きい
か否かを検出することにより濃度勾配方向パターンが実
時間で容易に得られる。ここでαは濃度勾配の無い範囲
を設定するのに用いている。
【００３３】このようにして端子Ａ1 〜Ａ4 の出力とし
て濃度勾配方向パターンが出力される。
て濃度勾配方向パターンが出力される。
【００３４】かかる画像処理装置３１によって、読取り
および特徴抽出が実時間で行われ、極めて容易に短時間
で画像認識を行うことができる。
および特徴抽出が実時間で行われ、極めて容易に短時間
で画像認識を行うことができる。
【００３５】また、画像処理に際して一旦メモリにいれ
ておく必要がないため、メモリ領域が小さくて済み、装
置の小形化をはかることが可能である。
ておく必要がないため、メモリ領域が小さくて済み、装
置の小形化をはかることが可能である。
【００３６】なお、この場合も、同じ２×２画素に分割
する場合図７(a) および図７(b) に示したのと同様、対
角線で分割してもよい。
する場合図７(a) および図７(b) に示したのと同様、対
角線で分割してもよい。
【００３７】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、複数の光、または磁気検出手段で同時に異なる領域
の光または磁気の検出を行い、この複数の光または磁気
検出手段の出力を加減算等によって合成して、所定画素
の特徴抽出を実時間で行い、これを当該画素の画情報と
して出力するようにしているため、メモリを必要とせ
ず、極めて容易にかつ実時間で特徴抽出を行うことが可
能となる。
ば、複数の光、または磁気検出手段で同時に異なる領域
の光または磁気の検出を行い、この複数の光または磁気
検出手段の出力を加減算等によって合成して、所定画素
の特徴抽出を実時間で行い、これを当該画素の画情報と
して出力するようにしているため、メモリを必要とせ
ず、極めて容易にかつ実時間で特徴抽出を行うことが可
能となる。
【図１】本発明実施例の画像認識装置を示す図
【図２】同装置での読取りに際しての画素分割を示す図
【図３】同装置での特徴抽出での演算式を示す説明図
【図４】同演算を実行するための同装置の画像読取り装
置を示す図
置を示す図
【図５】同演算を実行するための回路例を示す図
【図６】同演算を実行するための回路の変形例を示す
図、
図、
【図７】本発明の他の実施例の装置での読取りに際して
の画素分割および同装置における特徴抽出での演算式を
示す説明図
の画素分割および同装置における特徴抽出での演算式を
示す説明図
【図８】本発明のさらに他の実施例の装置での読取りに
際しての画素分割および同装置での特徴抽出での演算式
を示す説明図
際しての画素分割および同装置での特徴抽出での演算式
を示す説明図
【図９】本発明の第２の実施例の紙幣識別装置を示す図
【図１０】本発明の第３の実施例の画像認識装置を示す
図
図
【図１１】同演算を実行するための回路例を示す図
【図１２】同装置での読取りに際しての画素分割を示す
図
図
【図１３】同装置での特徴抽出を示す説明図
【図１４】従来例の画像認識装置を示す図
【図１５】従来例のロビンソンオペレータを用いた画像
認識の説明図
認識の説明図
１ 光検出手段
２ 第１の画像メモリ
３ 画像処理
４ 第２の画像メモリ
５ 画像認識
６ シフトレジスタ
７ 電流電圧変換回路、
８ 特徴量計算回路
９ 識別回路
Ｏ 紙幣
１１ 画像読取り装置
１４ 画像メモリ
１５ 画像認識
１６ ホトセンサ
１７ 第１のスイッチング回路
１８ 第２のスイッチング回路
１９ 第１の減算回路
２０ 第１の加算回路
２１ 第２の減算回路
２２ 第２の加算回路、
２３，２４ 紙幣通過検出装置、
ＯＰ1 〜ＯＰ3 オペアンプ
Ｉ1 〜Ｉ4 ダイオード
３１ 画像読取り装置
３２ バッファ
３３Ａ〜３３Ｄ 磁気抵抗素子
３４ 画像メモリ
３５ 画像認識
Claims (2)
- 【請求項１】 同時に異なる領域の光検出を行うように
構成された複数の光検出手段と、前記光検出手段に接続
され、前記複数の光検出手段の出力を四則演算によって
合成して、所定画素の特徴抽出を実時間で行い、これを
当該画素の画情報として出力する演算処理手段と、を具
備したことを特徴とする画像読取り装置。 - 【請求項２】 同時に異なる領域の磁気画像の検出を行
うように構成された複数の磁気検出手段と、前記磁気検
出手段に接続され、前記複数の磁気検出手段の出力を四
則演算によって合成して、所定画素の特徴抽出を実時間
で行い、これを当該画素の画情報として出力する演算処
理手段と、を具備したことを特徴とする画像読取り装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-334257 | 1990-11-30 | ||
| JP33425790 | 1990-11-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH056429A true JPH056429A (ja) | 1993-01-14 |
Family
ID=18275316
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3317045A Pending JPH056429A (ja) | 1990-11-30 | 1991-11-29 | 画像読取り装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH056429A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20210172686A1 (en) * | 2018-08-14 | 2021-06-10 | Sanhua (Hangzhou) Micro Channel Heat Exchanger Co., Ltd. | Heat exchange tube, heat exchanger, and manufacturing method for heat exchange tube |
-
1991
- 1991-11-29 JP JP3317045A patent/JPH056429A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20210172686A1 (en) * | 2018-08-14 | 2021-06-10 | Sanhua (Hangzhou) Micro Channel Heat Exchanger Co., Ltd. | Heat exchange tube, heat exchanger, and manufacturing method for heat exchange tube |
| US11920875B2 (en) * | 2018-08-14 | 2024-03-05 | Sanhua (Hangzhou) Micro Channel Heat Exchanger Co., Ltd. | Heat exchange tube, heat exchanger, and manufacturing method for heat exchange tube |
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