JPH0561591B2 - - Google Patents

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JPH0561591B2
JPH0561591B2 JP62289864A JP28986487A JPH0561591B2 JP H0561591 B2 JPH0561591 B2 JP H0561591B2 JP 62289864 A JP62289864 A JP 62289864A JP 28986487 A JP28986487 A JP 28986487A JP H0561591 B2 JPH0561591 B2 JP H0561591B2
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JP
Japan
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circuit
signal
clock signal
counter
time counting
Prior art date
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JP62289864A
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Japanese (ja)
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Inventor
Hiroyasu Nakamura
Junichi Kajiwara
Yoshiaki Suzuki
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、超音波測定装置用の較正装置に関
し、さらに詳しくは、超音波探傷装置の基準器と
して使用することができるような較正装置に関す
る。
Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a calibration device for an ultrasonic measuring device, and more particularly, to a calibration device that can be used as a reference device for an ultrasonic flaw detection device. .

[従来の技術] 超音波測定装置の1つである超音波探傷装置で
は、エコー受信信号のAスコープ像をCRTデイ
スプレイ等に表示して、その表示映像上の位置情
報から欠陥までの距離とか板厚を求めているが、
このような超音波探傷装置では、測定に際して、
エコー受信信号の表示の位置と実際の測定距離と
の関係を正確に維持するために装置の較正が行わ
れる。
[Prior Art] In an ultrasonic flaw detection device, which is one type of ultrasonic measurement device, an A-scope image of the received echo signal is displayed on a CRT display, etc., and the distance to the defect and the board are determined from the position information on the displayed image. I'm looking for thickness, but
In this kind of ultrasonic flaw detection equipment, during measurement,
The device is calibrated to maintain an accurate relationship between the displayed position of the echo received signal and the actual measured distance.

すなわち、デイスプレイの表示画像により測定
を行うような超音波測定装置では、その測定値に
対して横軸情報を与える時間発生回路が一般にト
ランジスタ、IC等のアナログ回路で構成されて
いるために、温度ドリフトとか、電圧変動による
ドリフト等のドリフト現像が生じ、正確に板厚と
が距離を測定するには、事前に標準試験片で較正
し、必要により、可変抵抗器などで微調整してお
くことが必要となるからである。
In other words, in ultrasonic measurement devices that perform measurements using images displayed on a display, the time generation circuit that provides horizontal axis information for the measured value is generally constructed of analog circuits such as transistors and ICs, so temperature In order to accurately measure the distance between the plate thickness and the plate thickness due to drift development such as drift due to voltage fluctuations, it is necessary to calibrate in advance with a standard test piece and, if necessary, make fine adjustments using a variable resistor, etc. This is because it is necessary.

この較正は、例えば、第3図に示すように、板
厚dmmが正確に分かつている標準試験片1に探触
子2を接触させ、超音波探傷装置3の超音波探傷
器4aから探触子2に送信パス信号Tを加えて、
探触子2で受信されるエコーに対し、そのエコー
受信信号を得て、そのエコー受信信号からAスコ
ープ像の情報を発生し、これを表示装置4bに加
えて、表示装置4bにてそのAスコープ像を表示
し、そのときの映像を観測し、調製することで行
われる。このときの表示装置4bの映像は、例え
ば、第4図に示すようなものとなる。
For example, as shown in FIG. 3, this calibration is carried out by bringing the probe 2 into contact with a standard test piece 1 whose plate thickness dmm is accurately known, and using the ultrasonic flaw detector 4a of the ultrasonic flaw detector 3 to detect the Adding the transmission path signal T to child 2,
For the echo received by the probe 2, an echo reception signal is obtained, information on the A scope image is generated from the echo reception signal, and this is added to the display device 4b. This is done by displaying a scope image, observing and adjusting the image at that time. The image on the display device 4b at this time is, for example, as shown in FIG. 4.

同図において、Tは送信パルス信号(の波形)
であり、B1は第1回目の底面でのエコー(一次
反射波)の受信信号(の波形)、B2は第2回目の
底面でのエコー(二次反射波)の受信信号(の波
形)である。このような一次、二次の反射波につ
いてそれぞれのエコー受信信号を表示すれば、こ
の時のエコー受信信号B1とエコー受信信号B2
の距離がdmmに対応することになり、このときの
表示関係を距離dmmに対応させることで、超音波
探傷装置3を正確に較正することができる。
In the same figure, T is the transmission pulse signal (waveform)
, B 1 is the received signal (waveform) of the first echo (primary reflected wave) at the bottom surface, and B 2 is the received signal (waveform of the second echo (secondary reflected wave)) at the bottom surface. ). If we display the respective echo reception signals for such primary and secondary reflected waves, the distance between the echo reception signal B 1 and the echo reception signal B 2 at this time corresponds to dmm, and at this time By making the display relationship correspond to the distance dmm, the ultrasonic flaw detection device 3 can be accurately calibrated.

[解決しようとする問題点] しかし、このような較正方式では、試験する対
象が大きくなると、それに応じた大きさの試験片
を用いなければ較正誤差が大きくなり、十分な較
正ができない。そこで、試験対象の大きさに対応
するような大きな標準試験片が必要となる。ま
た、多種の試験を行う場合には、それに応じて多
数の標準試験片を準備しなければならないという
不便がある。
[Problems to be Solved] However, in such a calibration method, when the object to be tested becomes large, unless a test piece of a corresponding size is used, the calibration error becomes large and sufficient calibration cannot be performed. Therefore, a large standard test piece that corresponds to the size of the test object is required. Furthermore, when performing various tests, there is an inconvenience in that a large number of standard test pieces must be prepared accordingly.

一方、測定対象となる物品の一次反射波の相違
により、その物品の特性等の試験も行われるが、
このような場合、一次反射波の位置が接近して現
れるのでより正確な較正が必要となる。
On the other hand, due to differences in the primary reflected waves of the object to be measured, tests are also conducted on the characteristics of the object.
In such a case, the positions of the primary reflected waves appear close to each other, so more accurate calibration is required.

例えば、機械部品としてのボルトの軸力の測定
について考えてみると、第5図に示すように、ボ
ルト5の頭部に接触させた探触子2からの超音波
がボルトの底部から反射して帰つてくるエコーを
受信して、この伝播時間が応力によつて、わずか
に変化することを利用してその軸力の測定が行わ
れるが、この場合、そのAスコープ像は、第6図
に示すように、送信パルス信号Tから受信エコー
信号B1までの伝播時間をtとすれば、ボルトの
長さを50mmのときの超音波の伝播時間tは約17μs
程度となる。しかし、このボルト5にある量の応
力を加えた場合には、そのエコー受信信号B1
エコー受信信号B1′の位置に変化するが、その時
間変化量Δtは、最大でも、約0.3μs程度のもので
しかない。この0.3μsを表示画面上で観測した場
合には1mm程度にしかならない。
For example, considering the measurement of the axial force of a bolt as a mechanical component, as shown in Figure 5, the ultrasonic wave from the probe 2 that is in contact with the head of the bolt 5 is reflected from the bottom of the bolt. The axial force is measured using the fact that the propagation time changes slightly due to stress.In this case, the A scope image is shown in Figure 6. As shown in , if the propagation time from the transmitted pulse signal T to the received echo signal B1 is t, the propagation time t of the ultrasonic wave when the bolt length is 50 mm is approximately 17 μs.
It will be about. However, when a certain amount of stress is applied to this bolt 5, the echo reception signal B 1 changes to the position of the echo reception signal B 1 ′, but the time change Δt is about 0.3 μs at maximum. It's only a matter of degree. When this 0.3 μs is observed on a display screen, it becomes only about 1 mm.

そこで、このような試験を行う超音波測定装置
では、この1mmの差を判別できるような正確な較
正を行う必要がある。そのために、標準試験片と
して、例えば、50mmの厚さのものと、51mmの厚さ
のものと用意して較正するようなことが行われ
る。したがつて、用意する試験片もボルトの長さ
に応じて多数必要となる。したがつて、その較正
の手間も大変である。
Therefore, the ultrasonic measuring device that performs such tests needs to be accurately calibrated to be able to distinguish this 1 mm difference. For this purpose, standard test pieces, for example, one with a thickness of 50 mm and one with a thickness of 51 mm are prepared and calibrated. Therefore, a large number of test pieces are required depending on the length of the bolt. Therefore, the time and effort required for calibration is also great.

この発明は、このような従来技術の問題点を解
決するものであり、標準試験片を用いずに超音波
測定装置の較正ができるような超音波測定装置用
の較正装置を提供することを目的とする。
The present invention solves the problems of the prior art, and aims to provide a calibration device for an ultrasonic measuring device that can calibrate the ultrasonic measuring device without using a standard test piece. shall be.

[問題点を解決するための手段] このような目的を達成するためのこの発明の超
音波測定装置用の較正装置の構成は、超音波測定
装置の探触子が接続される端子に接続される接続
端子と、クロツク信号を発生するクロツク信号発
生回路と、クロツク信号を受け、超音波測定装置
から接続端子に送出された送信パルス信号に応じ
てクロツク信号を第1の目標値までカウントして
第1の出力信号を発生する第1の時間カウント回
路と、この第1の出力信号又は送信パルス信号に
応じてクロツク信号を第2の目標値までカウント
して第2の出力信号を発生する第2の時間カウン
ト回路と、第1及び第2の出力信号のそれぞれに
応じて超音波測定装置に対するエコー受信信号に
相当するパルス信号を接続端子に送出するパルス
信号発生回路とを備えていて、第1の目標値及び
第2の目標値がそれぞれ設定することができるも
のである。
[Means for Solving the Problems] The configuration of the calibration device for an ultrasonic measuring device according to the present invention to achieve such an object is such that a calibration device for an ultrasonic measuring device is connected to a terminal to which a probe of the ultrasonic measuring device is connected. a clock signal generation circuit that receives the clock signal and counts the clock signal up to a first target value in response to a transmission pulse signal sent from the ultrasonic measuring device to the connection terminal. a first time counting circuit that generates a first output signal; and a first time counting circuit that counts the clock signal to a second target value and generates a second output signal in response to the first output signal or the transmitted pulse signal. a second time counting circuit; and a pulse signal generating circuit that sends a pulse signal corresponding to an echo reception signal to the ultrasonic measuring device to the connection terminal in accordance with each of the first and second output signals, and The first target value and the second target value can be set respectively.

[作用] このように較正装置として超音波測定装置から
発生する送信パルス信号に応じて設定された時間
をカウントする複数の時間カウント回路と、設定
された時間が来たときに複数の時間カウント回路
により駆動されて超音波測定装置にエコー受信信
号に対応するようなパルス信号を発生するパルス
信号発生回路とを設けることにより、超音波測定
装置側からの送信パルス信号に応じて較正装置側
から標準試験片を測定する状態に対応させた複数
の疑似的エコー受信信号を任意のタイミングで発
生させることができる。
[Function] As described above, the calibration device includes a plurality of time count circuits that count the set time according to the transmission pulse signal generated from the ultrasonic measuring device, and a plurality of time count circuits that count the set time when the set time comes. By providing a pulse signal generation circuit that is driven by the ultrasonic measuring device to generate a pulse signal corresponding to the echo reception signal, the calibration device side can generate a standard signal in response to the transmitted pulse signal from the ultrasonic measuring device side. A plurality of pseudo echo reception signals corresponding to the state in which the test piece is measured can be generated at any timing.

その結果、超音波探傷等のために、標準試験片
を持ち歩く必要がなく、アナログ回路特有の時間
軸ドリフトを検出して補正することをはじめとし
て、測定範囲を較正することなどが容易にでき、
さらに、長尺物とか巨大な被検体などを測定する
際にも、大きな較正用試験片を用いなくても済
む。
As a result, there is no need to carry around standard test pieces for ultrasonic flaw detection, etc., and it is easy to detect and correct the time axis drift peculiar to analog circuits and calibrate the measurement range.
Furthermore, there is no need to use large calibration test pieces when measuring long objects or large objects.

[実施例] 以下、この発明の一実施例について図面を参照
して詳細に説明する。
[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は、この発明を適用した一実施例の超音
波測定装置用の較正装置のブロツク図、第2図
は、その出力信号の時間関係を示す表示波形の説
明図である。なお、第3図に示すものと同等の構
成要素は同一の符号で示す。
FIG. 1 is a block diagram of a calibration device for an ultrasonic measuring device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an explanatory diagram of display waveforms showing the time relationship of its output signals. Note that components equivalent to those shown in FIG. 3 are designated by the same reference numerals.

6は、超音波測定装置3に対する較正装置であ
つて、超音波測定装置3の超音波探傷器4aにお
ける探触子接続端子3aに接続され、超音波探傷
装置3から送信パルス信号を受けて、疑似的に標
準試験片と同様な超音波受信エコー信号を発生す
る。入/出力端子7は、この接続のための端子で
ある。
6 is a calibration device for the ultrasonic measurement device 3, which is connected to the probe connection terminal 3a of the ultrasonic flaw detector 4a of the ultrasonic measurement device 3, and receives a transmission pulse signal from the ultrasonic flaw detection device 3; Generates a pseudo-ultrasonic reception echo signal similar to that of a standard test piece. Input/output terminal 7 is a terminal for this connection.

この較正装置6は、送信パルス信号を減衰させ
る減衰器8と、減衰された波形を検波して一定レ
ベルのゲート論理レベルのパルス信号を発生する
検波回路9、所定の単位時間ごとにクロツク信号
(時間パルス信号)を発生するクロツク信号発生
回路11、クロツク信号発生回路11からのクロ
ツク信号をそのゲート回路を介してそれぞれ受
け、受けたクロツク信号をそのカウンタによりカ
ウンタする第1、第2、第3の時間カウント回路
21,22,23とを備えている。
This calibration device 6 includes an attenuator 8 that attenuates the transmitted pulse signal, a detection circuit 9 that detects the attenuated waveform and generates a pulse signal of a constant gate logic level, and a clock signal ( a clock signal generating circuit 11 that generates a time pulse signal; time counting circuits 21, 22, and 23.

さらに、較正装置6は、これら第1、第2、第
3のの時間カウンタ回路21,22,23のカウ
ンタにそれぞれカウント目標値(以下目標値)を
送出して、設定する演算処理装置19と、演算処
理装置19に対し、採用する標準試験片の指定と
か、各種測定条件を設定する、キーボード等を有
する入力装置20、前記指定された標準試験片の
内容と入力された測定条件等を表示するデイスプ
レイ24、そして、第1、第2、第3の時間カウ
ント回路21,22,23からの出力信号をOR
回路17を介して受けるパルス発生回路18とを
備えている。
Furthermore, the calibration device 6 sends and sets count target values (hereinafter referred to as target values) to the counters of the first, second, and third time counter circuits 21, 22, and 23, respectively. , an input device 20 having a keyboard, etc., for specifying the standard test piece to be adopted and setting various measurement conditions for the arithmetic processing unit 19; and displaying the contents of the specified standard test piece and input measurement conditions, etc. The output signals from the display 24 and the first, second, and third time counting circuits 21, 22, and 23 are ORed.
The pulse generation circuit 18 receives the pulses via the circuit 17.

ここで、第1の時間カウント回路21は、ゲー
ト回路10とカウンタ12から構成されていて、
ゲート回路10は、そのゲート信号を検波回路9
から受けてそのゲートを開き、第2の時間カウン
ト回路22は、ゲート回路13とカウンタ14と
から構成されていて、ゲート回路12は、そのゲ
ート信号をカウンタ12から受けてそのゲートを
開く。また、第3の時間カウント回路23は、ゲ
ート回路15とカウンタ16とから構成されてい
て、ゲート回路15は、そのゲート信号をカウン
タ14から受けてそのゲートを開く。なお、ゲー
ト回路10,13,15は、それぞれのカウンタ
12,14,16からの出力によりそれぞれその
ゲートが閉じられる。
Here, the first time count circuit 21 is composed of a gate circuit 10 and a counter 12,
The gate circuit 10 transmits the gate signal to the detection circuit 9.
The second time counting circuit 22 is composed of a gate circuit 13 and a counter 14, and the gate circuit 12 receives the gate signal from the counter 12 and opens its gate. Further, the third time count circuit 23 is composed of a gate circuit 15 and a counter 16, and the gate circuit 15 receives the gate signal from the counter 14 and opens its gate. Note that the gates of the gate circuits 10, 13, and 15 are closed by the outputs from the respective counters 12, 14, and 16, respectively.

パルス発生回路18は、カウンタ12,14,
16からのそれぞれの出力により駆動され、これ
らの出力を受けて探触子2が発生するエコー受信
信号に対応するエコー受信信号を疑似的にパルス
信号として発生し、それを入/出力端子7を経て
超音波測定装置3の超音波探傷器4aに探触子2
からの受信エコー信号として出力する。
The pulse generation circuit 18 includes counters 12, 14,
In response to these outputs, the probe 2 generates a pseudo echo reception signal corresponding to the echo reception signal generated by the probe 2 as a pulse signal, and sends it to the input/output terminal 7. Then, the probe 2 is attached to the ultrasonic flaw detector 4a of the ultrasonic measurement device 3.
Output as received echo signal from.

カウンタ12,14,16は、プリセツトカウ
ンタ又は通常のカウンタで構成されていて、目標
値がプリセツトされ、それがデクリメントされて
行くタイプものである。すなわち、それぞれのカ
ウンタ12,14,16は、ダウンカンウント状
態にされて、入力信号によつて、設定値が減算さ
れ、そのカウント数がゼロになつたときにカウン
ト終了信号を出力する。なお、前記各カウントに
セツトされる各目標値は、演算装置19によりカ
ウント数として設定される。
The counters 12, 14, and 16 are composed of preset counters or ordinary counters, and are of the type in which a target value is preset and then decremented. That is, each of the counters 12, 14, and 16 is placed in a down-count state, and the set value is subtracted by the input signal, and when the count reaches zero, a count end signal is output. Note that each target value set in each of the counts is set as a count number by the arithmetic unit 19.

この場合、カウンタ12,14,16をそれぞ
れ目標値カウンタとクロツク信号をカウントする
パルスカウンタとこれら各カウンタの値を比較す
る比較回路とからなるカウンタ回路としてもよ
い。その場合には、各目標値カウンタに演算処理
装置19から目標値がセツトされ、パルスカウン
タがゲート回路を介して入力されるクロツク信号
をカウントし、これら2つのカウンタの値を比較
してその一致を比較回路により検出して、その一
致信号を出力信号とすることになる。
In this case, the counters 12, 14, and 16 may each be configured as a counter circuit consisting of a target value counter, a pulse counter for counting a clock signal, and a comparison circuit for comparing the values of each of these counters. In that case, a target value is set in each target value counter from the arithmetic processing unit 19, the pulse counter counts the clock signal input through the gate circuit, and the values of these two counters are compared to find a match. is detected by a comparison circuit, and the matching signal is used as an output signal.

演算装置19は、マイクロプロセツサとメモリ
とインタフエース等を備えていて、入力装置20
から送出される目標値等の情報と、斜角探傷か垂
直探傷かを選択するデータ、標準試験片を指定す
るデータ、そして現在温度とか音速等とを前記イ
ンタフエースを介して受けて、それぞれの目標値
を算出して各カウンタ12,14,16に指定さ
れた目標値を設定する。
The arithmetic device 19 includes a microprocessor, a memory, an interface, etc., and an input device 20.
Receives information such as target values sent from the A target value is calculated and each counter 12, 14, 16 is set to the designated target value.

次に、その全体的な動作を説明すると、まず、
演算装置19からある目標値のなるカウント数が
その信号j,k,lとして出力され、各カウンタ
12,14,16に設定される。この状態で、
入/出力端子7を介して超音波探傷器4aから送
信パルス信号が較正装置6に入力されると、入力
された信号パルス信号は、高入力インピーダンス
の減衰器8により減衰されて探傷に影響がない。
減衰器8の出力が検波回路9に加えられると、送
信パルス信号の存在が検出され、検波回路9の検
出出力はゲート回路10に加えられる。
Next, to explain its overall operation, first,
The count number corresponding to a certain target value is output from the arithmetic unit 19 as signals j, k, l, and set in each counter 12, 14, 16. In this state,
When a transmission pulse signal is input from the ultrasonic flaw detector 4a to the calibration device 6 via the input/output terminal 7, the input signal pulse signal is attenuated by the attenuator 8 with high input impedance, thereby affecting the flaw detection. do not have.
When the output of the attenuator 8 is applied to the detection circuit 9, the presence of the transmission pulse signal is detected, and the detection output of the detection circuit 9 is applied to the gate circuit 10.

その結果、ゲート回路10が開かれ、ゲート回
路10に加えられているクロツク信号発生器11
のクロツク信号出力aを通過させ、クロツク信号
出力cがゲート回路10からカウンタ12に加え
られる。そこで、カウンタ12でクロツク信号の
数がカウントされる。カウンタ12には、演算処
理装置19からの信号jによつて、あらかじめカ
ウント数の目標値が設定されているので、それが
デクリメントされ、設定値(目標値)のカウント
数がゼロになると、カウント終了信号dが出力さ
れる。
As a result, the gate circuit 10 is opened and the clock signal generator 11 applied to the gate circuit 10
The clock signal output a of the gate circuit 10 is passed through, and the clock signal output c is applied to the counter 12 from the gate circuit 10. Therefore, the counter 12 counts the number of clock signals. The target value of the count number is set in advance in the counter 12 by the signal j from the arithmetic processing unit 19, so when it is decremented and the count number of the set value (target value) becomes zero, the count is stopped. A termination signal d is output.

カウンタ12のカウント終了信号dは、ゲート
回路10に加えられ、そのゲートが閉じられ、同
時に次のゲート回路13にも加えられて、ゲート
回路13のゲートが開く。ゲート回路13には、
クロツク信号発生器11のクロツク信号出力aが
加えているので、ゲート回路13のゲートが開く
と、ゲート回路13からクロツク信号eがカウン
タ14に加えられ、演算装置19からの設定値k
のカウント数だけカウントダウンした時に前記と
同様にカウント終了信号fが出力される。
The count end signal d of the counter 12 is applied to the gate circuit 10 to close its gate, and simultaneously applied to the next gate circuit 13 to open the gate of the gate circuit 13. In the gate circuit 13,
Since the clock signal output a of the clock signal generator 11 is applied, when the gate of the gate circuit 13 is opened, the clock signal e is applied from the gate circuit 13 to the counter 14, and the set value k from the arithmetic unit 19 is applied.
When the count has been counted down by the number of counts, the count end signal f is outputted in the same manner as described above.

カウンタ14のカウント終了信号fは、ゲート
回路13に加えられて、そのゲートを閉じられる
とともに、ゲート回路15に加えられる。そこ
で、ゲート回路15のゲートが開かれ、ゲート回
路15にもクロツク信号発生器11のクロツク信
号出力aが加えられているので、このゲートが開
いている間だけ、ゲート回路15にクロツク信号
gの出力が現れ、カウンタ16に加えられて演算
装置19からの設定値lのカウント数だけカウン
トダウンした時に、カウント終了信号hが出力さ
れる。そして、それがゲート回路15に加えられ
てそのゲートが閉じられる。
The count end signal f of the counter 14 is applied to the gate circuit 13, which closes the gate, and is also applied to the gate circuit 15. Therefore, the gate of the gate circuit 15 is opened, and the clock signal output a of the clock signal generator 11 is also applied to the gate circuit 15, so that the clock signal g is applied to the gate circuit 15 only while this gate is open. When the output is added to the counter 16 and counted down by the set value l from the arithmetic unit 19, a count end signal h is output. Then, it is applied to the gate circuit 15 and the gate is closed.

このようにして、送信パルス信号が入/出力端
子7に加えられると、カウンタ12がカウンタを
始め、クロツク信号発生器11のクロツク周波数
と、設定信号jの設定カウント数とから定まる時
間の後に、カウント終了信号dが出力される、同
様にして、次に、次の設定信号kの設定カウント
数とから定まる時間の後にカウント終了信号fが
出力され、続いて次の設定信号lの設定カウント
数とから定まる時間のカウント終了信号hが出力
される。
In this way, when the transmission pulse signal is applied to the input/output terminal 7, the counter 12 starts counting, and after a time determined from the clock frequency of the clock signal generator 11 and the set count number of the setting signal j, A count end signal d is output.Similarly, a count end signal f is output after a time determined from the set count number of the next setting signal k, and then the set count number of the next setting signal l is output. A count end signal h for a time determined from is output.

各カウンタ12,14,16のカウント終了信
号d,f,hは、OR回路17に加えられ、OR
回路17の出力がパルス発生回路18に加えられ
て、所定のパルス信号が前記のカウント終了信号
d,f,hの発生タイミングに対応して入/出力
端子7に加えられる。そして、これらが入/出力
端子7を介して超音波探傷器4aに伝達され、超
音波探傷器4aがそれをエコー受信信号として受
信して、これらをAスコープ像として表示装置4
bが表示する。
Count end signals d, f, h of each counter 12, 14, 16 are applied to an OR circuit 17,
The output of the circuit 17 is applied to a pulse generating circuit 18, and a predetermined pulse signal is applied to the input/output terminal 7 in accordance with the generation timing of the count end signals d, f, h. Then, these are transmitted to the ultrasonic flaw detector 4a via the input/output terminal 7, the ultrasonic flaw detector 4a receives them as echo reception signals, and displays them as an A scope image on the display device 4.
b displays.

ここで、最後のカウント終了信号hは、演算処
理装置19にも加えられる。演算処理装置19
は、この信号を受けると、カウンタ12,14,
16がすべてカウントを終了したものとして、各
カウンタ12,14,16に各目標値を再び設定
する。なお、カウンタ12,14,16をプリセ
ツトカウンタ或いはクロツク信号をカウントする
パルスカウンタと目標値カウンタと比較回路によ
るカウンタ回路として構成する場合には、目標値
の再設定は不要である。
Here, the final count end signal h is also applied to the arithmetic processing unit 19. Arithmetic processing unit 19
When receiving this signal, counters 12, 14,
Assuming that all counters 16 have finished counting, each target value is set again for each counter 12, 14, and 16. Note that when the counters 12, 14, and 16 are constructed as a preset counter or a counter circuit consisting of a pulse counter for counting a clock signal, a target value counter, and a comparison circuit, it is not necessary to reset the target value.

以上の結果、超音波探傷装置3の送信パルス信
号から第1の設定カウント値(信号j)で決まる
時間後に第1の較正用の最初のパルス信号がパル
ス発生回路18から出力され、引き続き第2の設
定カウント値(信号k)で決まる時間後に第2の
較正用の次のパルス信号がパルス発生回路18か
ら出力され、引き続き、第3の設定カウント値
(信号l)で決まる時間後に第3の較正用のパル
ス信号がパルス発生回路18から出力される。
As a result of the above, the first pulse signal for the first calibration is output from the pulse generation circuit 18 after a time determined by the first set count value (signal j) from the transmission pulse signal of the ultrasonic flaw detection device 3, and subsequently the second pulse signal is output from the pulse generation circuit 18. The next pulse signal for second calibration is output from the pulse generation circuit 18 after a time determined by the set count value (signal k), and subsequently, the third pulse signal is output after a time determined by the third set count value (signal l). A calibration pulse signal is output from the pulse generation circuit 18.

なお、入力装置20からは、それぞれの目標値
に対応する時間情報或いは厚さ情報と、斜角探傷
か垂直探傷かの選択データ、標準試験片を指定す
るデータ、現在温度、音速等の情報等が入力さ
れ、これら情報を受けた演算処理装置19は、メ
モリに記憶されたテーブルから標準温度における
標準試験片の斜角探傷又は垂直探傷のうち選択さ
れた探傷についての時間情報等を検索して、これ
を入力された温度に従つて温度補正し、さらにク
ロツク信号発生回路11のパルス発生周期からパ
ルスカウント数を算出する。こうして算出した値
を目標値を対応するそれぞれのカウンタ12,1
4,16にセツトする。一方、これらの入力され
たデータと時間情報等は、液晶或いはCRTのデ
イスプレイ24に表示される。
In addition, from the input device 20, time information or thickness information corresponding to each target value, selection data of oblique flaw detection or vertical flaw detection, data specifying a standard test piece, information such as current temperature, sound speed, etc. is input, and the arithmetic processing unit 19, which receives this information, searches the table stored in the memory for time information, etc. for the selected oblique flaw detection or vertical flaw detection of the standard test piece at the standard temperature. , the temperature is corrected according to the input temperature, and the pulse count number is calculated from the pulse generation period of the clock signal generation circuit 11. The value calculated in this way is transferred to the corresponding counter 12, 1 as the target value.
Set to 4,16. On the other hand, these input data, time information, etc. are displayed on a liquid crystal or CRT display 24.

ここで、送信パルス信号Tが発生してから各ゲ
ート回路が開きかつ閉じるタイミングは、各カウ
ンタ12,14,16に設定される目標値で決定
され、各目標値は、入力装置20にて指定される
標準試験片或いはキーボードからの入力値に対応
し選択的に設定することができる。
Here, the timing at which each gate circuit opens and closes after the transmission pulse signal T is generated is determined by the target value set in each counter 12, 14, 16, and each target value is specified by the input device 20. It can be selectively set according to the standard test piece used or the input value from the keyboard.

そこで、較正装置6は、その入力装置20によ
り各目標値に対応する時間設定を行なえば送信パ
ルス信号Tが発生してから任意の時間後に較正用
パルス信号を順次受信エコー信号として発生させ
ることができ、これを受けて超音波測定装置3の
測定画面を較正することができる。しかも、超音
波探傷器4aから較正装置6に送信パルス信号が
周期的に加えられれば、パルス発生回路18から
は、送信パルス信号Tの発生周期に対応して周期
的に疑似的なエコー受信信号が超音波探傷装置3
へ送られることになる。
Therefore, by setting the time corresponding to each target value using the input device 20, the calibration device 6 can sequentially generate calibration pulse signals as received echo signals at an arbitrary time after the transmission pulse signal T is generated. In response to this, the measurement screen of the ultrasonic measuring device 3 can be calibrated. Moreover, if the transmission pulse signal is periodically applied from the ultrasonic flaw detector 4a to the calibration device 6, the pulse generation circuit 18 periodically generates a pseudo echo reception signal corresponding to the generation cycle of the transmission pulse signal T. is ultrasonic flaw detection device 3
will be sent to.

ここで、演算処理装置19は、入力装置20で
設定された条件で前記の各目標値を演算すること
になるが、これは、例えば、カウンタ12の設定
値をxとすれば、設定する各目標値と時間との関
係は、次の式にようになる。
Here, the arithmetic processing device 19 calculates each of the target values described above under the conditions set by the input device 20. For example, if the set value of the counter 12 is x, each of the set values The relationship between the target value and time is expressed by the following equation.

x=(入力装置からの設定距離値)×2
/(入力部の設定音速)×(クロツク信号周波数) したがつて、入力装置20によりカウンタ1
2,14,16に対応する設定距離を3個と音速
とを設定すれば済む。
x = (set distance value from input device) x 2
/(Sound speed set at the input section) x (clock signal frequency) Therefore, the input device 20 causes the counter 1 to
It is sufficient to set three set distances corresponding to 2, 14, and 16 and the sound speed.

第2図に見るように、送信パルス信号Tに対し
てパルス発生回路18から発生する最初のパルス
信号をC1とし、その時間設定値をx1、次のパル
ス信号をC2とし、その時間設定値をx2、次のパ
ルス信号をC3とし、その時間設定値をx3とする
と、これらの値が各カウンタのカウント終了信号
d,f,hの発生タイミングとなる。
As shown in Fig. 2, the first pulse signal generated from the pulse generation circuit 18 in response to the transmission pulse signal T is C1 , its time setting value is x1 , the next pulse signal is C2 , and the time Assuming that the set value is x 2 , the next pulse signal is C 3 , and the time set value is x 3 , these values become the timing at which the count end signals d, f, and h of each counter are generated.

そこで、第5図に示すボルトを設定する場合に
対し、これを当てはめれば、パルス信号C1は送
信パルス信号がボルト頭部において反射した信号
(表面反射波)のエコー受信信号に対応させるこ
とができ、パルス信号C2はボルトに応力をかけ
ない状態におけるボルト底面での反射波のエコー
受信信号に対応させることができ、パルス信号
C3はボルトに応力をかけた状態におけるボルト
底面での反射波のエコー受信信号に対応させるこ
とができ、各パルス信号C1,C2,C3を発生させ
ることで、超音波測定装置3を測定状態に近い状
態で較正することができる。
Therefore, if we apply this to the case of setting the bolt shown in Fig. 5, the pulse signal C1 will correspond to the echo reception signal of the signal (surface reflected wave) in which the transmitted pulse signal is reflected at the bolt head. The pulse signal C 2 can be made to correspond to the echo reception signal of the reflected wave at the bottom of the bolt when no stress is applied to the bolt, and the pulse signal
C 3 can be made to correspond to the echo reception signal of the reflected wave at the bottom of the bolt when stress is applied to the bolt, and by generating each pulse signal C 1 , C 2 , C 3 , the ultrasonic measuring device 3 can be calibrated under conditions close to the measurement conditions.

なお、この場合、パルス信号C2は、実際のボ
ルト底面からのエコーの位置より少し手前に設定
してあり、パルス信号C3は、実際のボルト底面
からのエコーの位置より少し後ろに設定してあ
る。そこで、これら少し前から少し後ろまでの波
形が表示装置4bのCRTデイスプレイの画面上
に表示されてその間の時間目盛り(又は距離目盛
り)を正確に較正することができる。
In this case, pulse signal C 2 is set slightly before the position of the echo from the actual bottom of the bolt, and pulse signal C 3 is set slightly after the position of the echo from the actual bottom of the bolt. There is. Therefore, the waveforms from a little earlier to a little later are displayed on the screen of the CRT display of the display device 4b, and the time scale (or distance scale) between them can be accurately calibrated.

このように較正時間を与える時間設定値x1
x2,x3を測定対象に応じて自由選択し、発生する
パルス信号C1,C2,C3の位置を、測定対象に応
じて最適な較正位置となるように設定して、装置
を較正し、測定することができる。
The time setting value x 1 which gives the calibration time in this way,
Freely select x 2 and x 3 according to the object to be measured, set the positions of the generated pulse signals C 1 , C 2 , and C 3 to the optimal calibration positions according to the object to be measured, and then start the device. Can be calibrated and measured.

例えば、探触子2の振動板から探触子2の表
面、すなわち、被検体の表面までの超音波伝播時
間をx1(不感帯時間)とし、ボルト長さに対応す
るエコー受信信号の発生位置の手前に対応して超
音波伝播時間x2を設定し、ボルトに応力を加えた
時の超音波伝播時間の変化量に対応して超音波伝
播時間x3がそのすぐ後になるようにこれを決定す
ることで、ボルトに応力を加えた時の前記変化量
に対応するような正確な較正ができ、その下での
測定が可能となる。
For example, let x 1 (dead band time) be the ultrasonic propagation time from the diaphragm of probe 2 to the surface of probe 2, that is, the surface of the object, and then calculate the generation position of the echo reception signal corresponding to the bolt length. Set the ultrasonic propagation time x 2 corresponding to the front of By determining this, accurate calibration can be made to correspond to the amount of change when stress is applied to the bolt, and measurements can be made under that amount.

また、この場合、パルス信号C1,C2,C3の3
つの出力信号が較正装置6から送出されるように
なつているが、不感帯時間を無視して、パルス信
号C1を出力させないようにしてもよい。このよ
うな場合には、時間設定値x1とx2との合計の設定
時間でパルス信号C2を出力することになる。そ
れには、カウンタ12、ゲート回路13を省略
し、或いはその動作を停止させて、ゲート回路1
0のクロツク信号出力cをカウンタ14に入力
し、クロツク信号をカウントさせる。このときの
カウンタ14の設定値は、x1+x2である。また、
各カウンタ12,14,16の時間設定値はその
ままとして単にカウンタ12のカウンタ終了信号
jがOR回路17に入力されないようにするだけ
でもよい。
In addition, in this case, three of the pulse signals C 1 , C 2 , and C 3
Although one output signal is sent out from the calibration device 6, it is also possible to ignore the dead zone time and not output the pulse signal C1 . In such a case, the pulse signal C2 will be output for a set time that is the sum of the time set values x1 and x2 . To do this, the counter 12 and the gate circuit 13 may be omitted or their operation may be stopped, and the gate circuit 1
The clock signal output c of 0 is input to the counter 14, and the clock signal is counted. The set value of the counter 14 at this time is x 1 +x 2 . Also,
It is also possible to simply prevent the counter end signal j of the counter 12 from being input to the OR circuit 17 while leaving the time setting values of the counters 12, 14, and 16 as they are.

なお、前記のように第1の時間カウント回路2
1のカウントと第2の時間カウント回路22のゲ
ート回路13を設けずに、ゲート回路10のクロ
ツク信号出力を第2の時間カウト回路22のカウ
ンタ14に加えてカウント終了信号fで第1の時
間カウント回路21のゲート回路10のゲートを
閉じるようにしてもよいが、このほか、第3の時
間カウント回路23を省略して、第1の時間カウ
ント回路21をそのまま第2の時間カウント回路
22として利用し、そのカウンタ12にx1+x2
値の時間設定を行い、第2の時間カウント回路2
2をそのまま第3の時間カウント回路23として
利用し、そのカウンタ14にx3の値の時間設定を
行つても同様である。
Note that, as described above, the first time count circuit 2
1 count and without providing the gate circuit 13 of the second time counting circuit 22, the clock signal output of the gate circuit 10 is added to the counter 14 of the second time counting circuit 22, and the count end signal f is used to count the first time. Although the gate of the gate circuit 10 of the count circuit 21 may be closed, it is also possible to omit the third time count circuit 23 and use the first time count circuit 21 as it is as the second time count circuit 22. The counter 12 is used to set the time to the value x 1 + x 2 , and the second time count circuit 2
The same effect can be obtained by using the circuit 2 as is as the third time counting circuit 23 and setting the time to the value of x 3 in the counter 14.

ここで、時間設定値x1は非常に短い距離に対応
しているのでクロツク信号の周波数が高いほどよ
いが、設定時間値x2,x3については、クロツク信
号の周波数が高くなくてもよい。そこで、クロツ
ク信号の周波数を高いものと低いものと2つ使用
することができる。これは、周波数の高いクロツ
ク信号をデバイダ(又は分周器)で分割すること
で容易に得られ、ゲート回路10には高い周波数
のクロツク信号を、ゲート回路13,15には低
い周波数のクロツク信号を加えて、それぞれのク
ロツク信号の周波数を選択することで実現でき
る。このときゲート回路15側にも高い周波数の
クロツク信号を加えてもよい。
Here, since the time setting value x 1 corresponds to a very short distance, the higher the frequency of the clock signal, the better; however, for the setting time values x 2 and x 3 , the frequency of the clock signal does not need to be high. . Therefore, two clock signal frequencies, one high and one low, can be used. This can be easily obtained by dividing a high frequency clock signal with a divider (or frequency divider), so that the gate circuit 10 receives a high frequency clock signal, and the gate circuits 13 and 15 receive a low frequency clock signal. This can be achieved by adding the following and selecting the frequency of each clock signal. At this time, a high frequency clock signal may also be applied to the gate circuit 15 side.

このように、取扱う周波数を低くすると、使用
する回路、特に使用するICの数も少なくて済み、
また低速で安価なICを使用できる利点がある。
しかも、このように第1の時間カウント回路21
を、第2及び第3の時間カウント回路22,23
よりも早いクロツク信号でカウントするようにす
れば、探触子の不感帯の部分の距離を細かく設定
することができる。
In this way, by lowering the frequency handled, the number of circuits used, especially the number of ICs used, can be reduced.
It also has the advantage of being able to use low-speed and inexpensive ICs.
Moreover, in this way, the first time count circuit 21
, the second and third time counting circuits 22 and 23
By counting using a faster clock signal, the distance of the dead zone of the probe can be set more precisely.

実施例では、入力装置20を設けいるので、こ
の入力装置20により第1の設定値、第2の設定
値、第3の設定値を長さの単位で入力し、あらか
じめ設定され又は入力された音速設定値を用いて
時間の単位に演算処理装置で変換し、それぞれ第
1、第2、及び第3の時間カウント回路21,2
2,23のそれぞれの設定値を算出することがで
きるが、さらに、第1の設定値だけを時間の単位
として入力し、第2の設定値、第3の設定値を長
さの単位で入力し、そのときの音速の設定値を入
力し、この音速の設定値を用いて長さの単位の設
定値を時間の単位に演算処理装置で変換してそれ
ぞれ第1、第2、第3の時間カウント回路21,
22,23に設定値するようにもできる。
In the embodiment, since an input device 20 is provided, the first set value, the second set value, and the third set value are inputted in units of length using this input device 20, and the input device 20 is used to input the first set value, the second set value, and the third set value in length units. The sonic speed setting value is used to convert into a unit of time by an arithmetic processing unit, and the first, second, and third time counting circuits 21 and 2 respectively
It is possible to calculate the respective setting values of 2 and 23, but in addition, only the first setting value is input as a unit of time, and the second setting value and the third setting value are input as a unit of length. Then, input the set value of the sound speed at that time, use this set value of the sound speed to convert the set value of the length unit into the unit of time, and calculate the first, second, and third values, respectively. time count circuit 21,
It can also be set to 22 or 23.

したがつて、入力装置20には、時間設定値
x1,x2,x3用の設定と、超音波の音速を設定する
キー等が設けられることになるが、例えば、測定
対象を鋼鉄に限れば、音速の設定は省略して5900
m/s一定として演算することもできる。また、
他のものでもの音速一定として測定するものもあ
るので、音速を一定値とし、これを入力しないよ
うにすることができる。このような場合には、第
2の設定値、第3の設定値を長さの単位で与え、
あらかじめ設定してある音速の設定値を用いて時
間の単位に演算処理装置で変換し、それぞれ第
1、第2、第3の時間カウント回路に設定しても
よい。
Therefore, the input device 20 has a time setting value.
There will be settings for x 1 , x 2 , x 3 and a key to set the ultrasonic sound speed, but for example, if the measurement target is limited to steel, the sound speed setting can be omitted and the sound speed set to 5900.
Calculation can also be performed assuming that m/s is constant. Also,
Since there are other types of measurement that assume the speed of sound is constant, it is possible to set the speed of sound to a constant value and not input it. In such a case, give the second setting value and the third setting value in units of length,
A preset value of the sound speed may be used to convert into a unit of time by an arithmetic processing device and set in the first, second, and third time counting circuits, respectively.

さらに、ボルト応力の測定が異なつた周囲温度
の下で行われる場合のように温度が関係するとき
には、そのときの温度とか、温度係数を入力し
て、温度によるボルトの伸びを補正するように演
算処理装置で処理することもできる。すなわち、
被試験体の温度が標準試験片の温度と異なると、
温度による伸びにより、測定誤差が生ずるが、温
度と温度係数を設定すれば、補正計算して較正で
きるので正しく測定できる。
Furthermore, when temperature is involved, such as when bolt stress is measured at different ambient temperatures, the temperature at that time or a temperature coefficient can be input to calculate the bolt elongation due to temperature. It can also be processed with a processing device. That is,
If the temperature of the test object is different from that of the standard specimen,
Measurement errors occur due to elongation due to temperature, but by setting the temperature and temperature coefficient, correction calculations can be made and calibration can be performed to ensure accurate measurements.

以上説明してきたが、実施例における演算処理
装置は、マイクロプロセツサを用いずに、他の
IC等の部品によつて構成してもよい。
As explained above, the arithmetic processing device in the embodiment does not use a microprocessor, but instead uses other processors.
It may also be composed of parts such as ICs.

各時間カウント回路のカウントは、設定カウン
ト数だけカウントすると、カウント終了信号を出
力する方式であればよく、カウントダウン或いは
カウントアツプ等の種々の回路が容易に構成でき
る。なお、カウンタを設定値からカウントダウン
してゼロのときに出力を発生することも、この発
明における目標値までカウントすることに相当す
ることはもちろんである。
The counting of each time counting circuit may be any method that outputs a count end signal after counting a set count number, and various circuits such as countdown or countup can be easily configured. It goes without saying that counting down the counter from a set value and generating an output when it reaches zero also corresponds to counting up to the target value in the present invention.

入力装置の設定は、長さの設定から時間を演算
するものでもよく、直接時間を設定し、逆に長さ
を演算して表示するようにしてもよい。特に第1
のカウンタの設定値は、探触子内の伝搬時間とし
て利用できるので、被試験体の音速にかかわらず
一定であるから、時間設定の方がよい場合があ
る。
The setting of the input device may be such that the time is calculated from the length setting, or the time may be directly set and the length may be calculated and displayed. Especially the first
Since the set value of the counter can be used as the propagation time within the probe, it is constant regardless of the sound speed of the test object, so it may be better to set the time.

また、実施例では、一探触子法の場合について
説明し、送信タイミングの入力と較正用の信号出
力を同一端子としたが、二探触子法の場合にはこ
れを別々の端子とし、超音波探傷器の送信用端子
と送信タイミングの接続端子を接続し、超音波探
傷器の受信用端子と較正用の信号出力端子とを接
続してもよい。
In addition, in the example, the case of the one-probe method was explained, and the input of the transmission timing and the signal output for calibration were made into the same terminal, but in the case of the two-probe method, these were made into separate terminals, The transmitting terminal of the ultrasonic flaw detector may be connected to the transmission timing connection terminal, and the receiving terminal of the ultrasonic flaw detector may be connected to the signal output terminal for calibration.

実施例では、3つの時間カウント回路を設け
て、それぞれゲート回路とカウンタとで構成し、
第1の時間カウント回路のカウンタの出力信号を
第2の時間カウント回路のゲート回路に供給され
るようにし、第2のカウントの出力信号を第3の
ゲート回路に供給されるようにして順次接続して
いるが、第1、第2及び第3のゲート回路のゲー
ト信号を送信パルス信号に対応して得るようにし
て、これらをパラレルに配置して並列にカウント
処理するようにしてもよい。このような場合の時
間設定値は、第1の時間カウント回路のカウンタ
がx1であれば、第2の時間カウント回路のカウン
タをx1+x2とし、第3では、x1+x2+x3とすれば
よい。
In the embodiment, three time counting circuits are provided, each consisting of a gate circuit and a counter,
The output signal of the counter of the first time counting circuit is supplied to the gate circuit of the second time counting circuit, and the output signal of the second counting circuit is supplied to the third gate circuit, so that they are sequentially connected. However, the gate signals of the first, second, and third gate circuits may be obtained in correspondence with the transmission pulse signal, and these may be arranged in parallel and counted in parallel. The time setting value in such a case is that if the counter of the first time counting circuit is x 1 , the counter of the second time counting circuit is x 1 + x 2 , and in the third, x 1 + x 2 + x 3 And it is sufficient.

なお、実施例のように、第1の時間カウント回
路のカウンタの出力で第2及び/又は第3のゲー
ト回路をゲートするようにすれば、不感帯の設定
をするときに便利である。
Note that, as in the embodiment, if the second and/or third gate circuit is gated by the output of the counter of the first time counting circuit, it is convenient when setting the dead zone.

[発明の効果] 以上の説明から理解できるように、この発明に
あつては、較正装置として超音波測定装置から発
生する送信パルス信号に応じて設定された時間を
カウントする複数の時間カウント回路と、設定さ
れた時間が来たときに複数の時間カウンタ回路に
より駆動されて超音波測定装置にエコー受信信号
に対応するようなパルス信号を発生するパルス信
号発生回路とを設けることにより、超音波測定装
置側からの送信パルス信号に応じて較正装置側か
ら標準試験片を測定する状態に対応させた複数の
疑似的エコー受信信号を任意のタイミングで発生
させることができる。
[Effects of the Invention] As can be understood from the above description, the present invention includes a plurality of time counting circuits that count time set according to a transmission pulse signal generated from an ultrasonic measurement device as a calibration device. Ultrasonic measurement is possible by providing a pulse signal generation circuit that is driven by a plurality of time counter circuits and generates a pulse signal corresponding to the echo reception signal in the ultrasonic measurement device when a set time comes. A plurality of pseudo echo reception signals corresponding to the state in which a standard test piece is measured can be generated from the calibration device side at an arbitrary timing in response to a transmission pulse signal from the device side.

その結果、超音波探傷等のために、標準試験片
を持ち歩く必要がなく、アナログ回路特有の時間
軸ドリフトを検出して補正することをはじめとし
て、測定範囲を較正することなどが容易にでき、
さらに、長尺物とか巨大な被検体などを測定する
際にも、大きな較正用試験片を用いなくても済
む。
As a result, there is no need to carry around standard test pieces for ultrasonic flaw detection, etc., and it is easy to detect and correct the time axis drift peculiar to analog circuits and calibrate the measurement range.
Furthermore, there is no need to use large calibration test pieces when measuring long objects or large objects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明を適用した一実施例の超音
波測定装置用の較正装置のブロツク図、第2図
は、その出力信号の時間関数を示す表示波形の説
明図、第3図は、従来の標準試験片を使用した較
正方法を示す概念図、第4図は、従来の標準試験
片を使用して較正時の超音波探傷装置の表示状態
の説明図、第5図は、ボルト内における超音波の
伝播の状況を示す説明図、第6図は、ボルトに応
力を加えない場合と加えた場合の超音波エコー信
号の時間関係を示す説明図である。 1……標準試験片、2……探触子、3……超音
波測定装置、4a……超音波探傷装置、4b……
表示装置、5……ボルト、6……較正装置、7…
…入/出力端子、8……減衰器、9……検波回
路、10,13,15……ゲート回路、12,1
4,16……カウンタ、17……OR回路、18
……パルス発生回路、19……演算処理装置、2
0……入力装置、21……第1の時間カウント回
路、22……第2の時間カウント回路、23……
第3の時間カウント回路、24……デイスプレ
イ。
FIG. 1 is a block diagram of a calibration device for an ultrasonic measurement device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of a display waveform showing a time function of the output signal, and FIG. A conceptual diagram showing the calibration method using a conventional standard test piece. Figure 4 is an explanatory diagram of the display state of the ultrasonic flaw detector during calibration using a conventional standard test piece. Figure 5 is FIG. 6 is an explanatory diagram showing the state of propagation of ultrasonic waves in FIG. 6. FIG. 6 is an explanatory diagram showing the time relationship of ultrasonic echo signals when no stress is applied to the bolt and when stress is applied to the bolt. 1...Standard test piece, 2...Probe, 3...Ultrasonic measuring device, 4a...Ultrasonic flaw detection device, 4b...
Display device, 5... Volt, 6... Calibration device, 7...
...Input/output terminal, 8...Attenuator, 9...Detection circuit, 10,13,15...Gate circuit, 12,1
4, 16...Counter, 17...OR circuit, 18
... Pulse generation circuit, 19 ... Arithmetic processing unit, 2
0...Input device, 21...First time counting circuit, 22...Second time counting circuit, 23...
Third time counting circuit, 24...display.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 超音波測定装置の探触子が接続される端子に
接続される接続端子と、クロツク信号を発生する
クロツク信号発生回路と、前記クロツク信号を受
け、前記超音波測定装置から前記接続端子に送出
された送信パルス信号に応じて前記クロツク信号
を第1の目標値までカウントして第1の出力信号
を発生する第1の時間カウント回路と、この第1
の出力信号又は前記送信パルス信号に応じて前記
クロツク信号を第2の目標値までカウントして第
2の出力信号を発生する第2の時間カウント回路
と、第1及び第2の出力信号のそれぞれに応じて
前記超音波測定装置に対するエコー受信信号に相
当するパルス信号を前記接続端子に送出するパル
ス信号発生回路とを備え、第1の目標値及び第2
の目標値がそれぞれ設定可能であることを特徴と
する超音波測定装置用の較正装置。 2 第1及び第2の目標値は、それぞれ指定され
た標準試験片に対応する値として演算処理装置に
より設定されることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の超音波測定装置用の較正装置。 3 第1及び第2の時間カウント回路は、それぞ
れゲート回路と目標値までカウントするカウンタ
とを備えていて、それぞれのゲート回路は、クロ
ツク信号発生回路からクロツク信号を受け、第1
の時間カウント回路のゲート回路は、送信パルス
信号の検出に応じてゲートを開いて第1の時間カ
ウント回路のカウンタに前記クロツク信号を供給
し、第2の時間カウント回路のゲート回路は、第
1の時間カウント回路のカウンタが目標値までカ
ウントしたときの出力信号に応じてゲートを開い
て第2の時間カウント回路のカウンタにクロツク
信号を供給することを特徴とする特許請求の範囲
第2項記載の超音波測定装置用の較正装置。 4 第2の時間カウント回路は、それぞれゲート
回路と目標値までカウントするカウンタとを備え
る複数の時間カウント回路からなり、前記カウン
タのそれぞれに目標値が設定され、前記複数の時
間カウント回路のうちのある時間カウント回路の
カウンタの出力信号が他の時間カウント回路のゲ
ート回路にゲート信号として供給され、各ゲート
回路がクロツク信号を受けて対応するそれぞれの
前記時間カウント回路のカウンタにクロツク信号
をそれぞれ供給し、それぞれの前記時間カウント
回路のカウンタの出力信号のそれぞれがパルス信
号発生回路に送出されてエコー受信信号に相当す
るパルス信号を発生することを特徴とする特許請
求の範囲第3項記載の超音波測定装置用の較正装
置。
[Scope of Claims] 1. A connection terminal connected to a terminal to which a probe of an ultrasonic measuring device is connected, a clock signal generation circuit that generates a clock signal, and a clock signal generating circuit that receives the clock signal and connects the ultrasonic measuring device. a first time counting circuit that counts the clock signal up to a first target value and generates a first output signal in response to a transmission pulse signal sent to the connection terminal from the clock signal;
a second time counting circuit that counts the clock signal up to a second target value and generates a second output signal according to the output signal of the clock signal or the transmission pulse signal; and a first and second output signal, respectively. a pulse signal generating circuit that sends a pulse signal corresponding to an echo reception signal to the ultrasonic measuring device to the connection terminal in accordance with the first target value and the second target value.
A calibration device for an ultrasonic measuring device, characterized in that target values of can be set respectively. 2. The first and second target values are set by an arithmetic processing device as values corresponding to designated standard test pieces, respectively. Calibration device. 3. The first and second time counting circuits each include a gate circuit and a counter that counts up to a target value, and each gate circuit receives a clock signal from the clock signal generation circuit and
The gate circuit of the time counting circuit opens the gate in response to the detection of the transmission pulse signal and supplies the clock signal to the counter of the first time counting circuit; Claim 2, characterized in that the gate is opened in response to an output signal when the counter of the second time counting circuit counts up to a target value, and a clock signal is supplied to the counter of the second time counting circuit. Calibration device for ultrasonic measurement equipment. 4. The second time counting circuit is composed of a plurality of time counting circuits each including a gate circuit and a counter that counts up to a target value, and a target value is set for each of the counters, and one of the plurality of time counting circuits is The output signal of the counter of one time counting circuit is supplied as a gate signal to the gate circuit of another time counting circuit, and each gate circuit receives the clock signal and supplies the clock signal to the counter of the corresponding time counting circuit. and wherein each of the output signals of the counter of each of the time counting circuits is sent to a pulse signal generation circuit to generate a pulse signal corresponding to an echo reception signal. Calibration device for sonic measuring devices.
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