JPH0561589B2 - - Google Patents

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JPH0561589B2
JPH0561589B2 JP62294153A JP29415387A JPH0561589B2 JP H0561589 B2 JPH0561589 B2 JP H0561589B2 JP 62294153 A JP62294153 A JP 62294153A JP 29415387 A JP29415387 A JP 29415387A JP H0561589 B2 JPH0561589 B2 JP H0561589B2
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distance
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Yasuo Tanaka
Eiki Izumi
Shigenori Aoki
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超音波探傷器において、表示部に表示
された反射波のうちの特定のものにマークを付与
する超音波探傷器のマーク表示装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a mark display device for an ultrasonic flaw detector that attaches a mark to a specific reflected wave displayed on a display unit in an ultrasonic flaw detector. Regarding.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

超音波探傷器は、物体内部の傷の存在の有無を
当該物体を破壊することなく検査する装置として
良く知られている。この超音波探傷器を図により
説明する。
Ultrasonic flaw detectors are well known as devices that inspect the presence or absence of flaws inside an object without destroying the object. This ultrasonic flaw detector will be explained using figures.

第19図は従来の超音波探傷器のブロツク図で
ある。図で、1は被検査物体、1fは被検査物体
1内に存在する欠陥を示す。2は被検査物体1内
に超音波を放射するとともに、反射してきた超音
波に比例した電気信号を出力する超音波探触子で
ある。3は超音波探傷器であり、超音波探触子2
に対して超音波発生パルスを出力し、かつ、超音
波探触子2からの信号を受信し、この信号の波形
を表示する。
FIG. 19 is a block diagram of a conventional ultrasonic flaw detector. In the figure, 1 indicates the object to be inspected, and 1f indicates a defect existing in the object to be inspected 1. 2 is an ultrasonic probe that emits ultrasonic waves into the object to be inspected 1 and outputs an electric signal proportional to the reflected ultrasonic waves. 3 is an ultrasonic flaw detector, and ultrasonic probe 2
It outputs an ultrasonic generation pulse to the ultrasonic probe 2, receives a signal from the ultrasonic probe 2, and displays the waveform of this signal.

超音波探傷器3は次の各要素で構成されてい
る。即ち、4は超音波探傷器3の動作に時間的規
制を与える信号電圧を発生する同期回路、5は同
期回路4の信号により超音波探触子2に超音波発
生のためのパルスの出力する送信部である。6′
は超音波探触子2からの信号を受信する受信部で
あり、抵抗器で構成される分圧器の組合せより成
る減衰回路6a、および増幅回路6b′で構成され
る。7は増幅回路6b′からの信号を整流する検波
回路、8は垂直軸増幅回路である。
The ultrasonic flaw detector 3 is composed of the following elements. That is, 4 is a synchronous circuit that generates a signal voltage that temporally regulates the operation of the ultrasonic flaw detector 3, and 5 is a synchronous circuit that outputs pulses for generating ultrasonic waves to the ultrasonic probe 2 based on the signal from the synchronous circuit 4. This is the transmitter. 6'
A receiving section receives signals from the ultrasonic probe 2, and is composed of an attenuation circuit 6a consisting of a combination of voltage dividers made up of resistors, and an amplification circuit 6b'. 7 is a detection circuit for rectifying the signal from the amplifier circuit 6b', and 8 is a vertical axis amplifier circuit.

9は同期回路4からの同期信号により三角波を
発生する掃引回路、10は掃引回路9の三角波信
号を増幅する増幅回路である。11は超音波探触
子2からの信号波形を表示する表示部であり、横
軸は増幅回路10から出力される三角波で定まる
時間軸とされ、縦軸は垂直軸増幅回路8から出力
される信号の大きさとされる。表示部11として
は陰極線管が用いられ、その表面にはスケールが
表示されている。12は被検査物体1において、
その表面からの検査すべき範囲(測定範囲)を設
定する測定範囲設定部である。13は掃引開始信
号に遅れ時間をもたせて表示部11に表示される
波形の位置を平行移動させる遅延時間設定部であ
る。
Reference numeral 9 represents a sweep circuit that generates a triangular wave based on the synchronization signal from the synchronization circuit 4, and reference numeral 10 represents an amplifier circuit that amplifies the triangular wave signal from the sweep circuit 9. 11 is a display unit that displays the signal waveform from the ultrasound probe 2, the horizontal axis is the time axis determined by the triangular wave output from the amplifier circuit 10, and the vertical axis is the vertical axis output from the amplifier circuit 8. It is considered to be the magnitude of the signal. A cathode ray tube is used as the display section 11, and a scale is displayed on its surface. 12 is the object to be inspected 1,
This is a measurement range setting section that sets the range to be inspected (measurement range) from the surface. Reference numeral 13 denotes a delay time setting section that adds a delay time to the sweep start signal and moves the position of the waveform displayed on the display section 11 in parallel.

次に、上記従来の超音波探傷器の動作の概略を
説明する。同期回路4からの信号電圧により送信
部5からパルスが出力されると、超音波探触子2
はこのパルスにより励起されて被検査物体1に対
して超音波を放射する。放射された超音波の一部
は被検査物体1の表面から直ちに超音波探触子2
に戻り、他は被検査物体1内を伝播し、被検査物
体1の底部に達し、ここで反射されて超音波探触
子2に戻る。一方、被検査物体1に欠陥1fが存
在すると、超音波は当該欠陥1fにおいても反射
されて超音波探触子2に戻る。これら超音波探触
子2に戻つた超音波は超音波探触子2をその大き
さに比例して励起し、超音波探触子2からはこれ
に応じた電気信号が出力される。
Next, an outline of the operation of the conventional ultrasonic flaw detector described above will be explained. When a pulse is output from the transmitter 5 due to the signal voltage from the synchronous circuit 4, the ultrasonic probe 2
is excited by this pulse and emits ultrasonic waves to the object 1 to be inspected. A part of the emitted ultrasonic waves is immediately transmitted to the ultrasonic probe 2 from the surface of the object to be inspected 1.
, and the others propagate within the object to be inspected 1 , reach the bottom of the object to be inspected 1 , where they are reflected and return to the ultrasound probe 2 . On the other hand, if a defect 1f exists in the object to be inspected 1, the ultrasonic waves are also reflected from the defect 1f and return to the ultrasonic probe 2. The ultrasonic waves returned to the ultrasonic probe 2 excites the ultrasonic probe 2 in proportion to its magnitude, and the ultrasonic probe 2 outputs an electric signal corresponding to this.

この信号は減衰回路6aに入力され、処理に適
した大きさに調節され、増幅回路6b′を経て検波
回路7に入力される。検波回路7は表示部11の
表示を片振り指示とするため、入力信号を整流す
る。この際、当該信号に混入している雑音成分も
除去される。検波回路7の出力信号は垂直軸増幅
回路8を経て表示部11に入力され、その大きさ
が表示部11の縦軸に表される。一方、掃引回路
9は同期回路4の同期信号により三角波電圧を発
生し、この電圧は増幅回路10を経て表示部11
(陰極線管)の偏向電極に印加され、電子ビーム
を掃引する。この掃引と前記垂直軸増幅回路8か
らの入力信号により、表示部11には超音波探触
子2に戻つた反射波の波形が表示される。
This signal is input to the attenuation circuit 6a, adjusted to a size suitable for processing, and input to the detection circuit 7 via the amplifier circuit 6b'. The detection circuit 7 rectifies the input signal so that the display unit 11 displays a one-sided swing instruction. At this time, noise components mixed in the signal are also removed. The output signal of the detection circuit 7 is input to the display section 11 via the vertical axis amplifier circuit 8, and its magnitude is displayed on the vertical axis of the display section 11. On the other hand, the sweep circuit 9 generates a triangular wave voltage based on the synchronization signal from the synchronization circuit 4, and this voltage passes through the amplifier circuit 10 to the display section 11.
Applied to the deflection electrode of a cathode ray tube (cathode ray tube), it sweeps the electron beam. Due to this sweep and the input signal from the vertical axis amplifier circuit 8, the waveform of the reflected wave returned to the ultrasound probe 2 is displayed on the display section 11.

このような超音波探傷器3を用いた探傷におい
て、表示部11に表示される反射波の波形は、被
検査物体1と超音波探触子2との接触状態の如何
によつて変化する。これを避けるため、通常、水
浸法が採用されている。第20図は当該水浸法を
説明する断面図である。図で、1は被検査物体、
1fは欠陥、2は超音波探触子であり、これらは
第19図に示すものと同じである。15は水槽、
16は水槽15内の水を示す。被検査物体1は水
槽15に沈められ、超音波探触子2は被検査物体
1と水16を介して対向せしめられる。超音波探
触子2からの超音波は水16を経て被検査物体1
に射入し、被検査物体1の各部からの反射波は水
16を経て超音波探触子2に入力されるので、表
示部11には安定した波形が表示されることにな
る。
In flaw detection using such an ultrasonic flaw detector 3, the waveform of the reflected wave displayed on the display section 11 changes depending on the state of contact between the object to be inspected 1 and the ultrasonic probe 2. To avoid this, a water immersion method is usually adopted. FIG. 20 is a sectional view illustrating the water immersion method. In the figure, 1 is the object to be inspected,
1f is a defect and 2 is an ultrasonic probe, which are the same as those shown in FIG. 15 is an aquarium,
16 indicates water in the water tank 15. The object to be inspected 1 is submerged in a water tank 15, and the ultrasonic probe 2 is opposed to the object to be inspected 1 with water 16 in between. The ultrasonic waves from the ultrasonic probe 2 pass through the water 16 and reach the object 1 to be inspected.
Since the reflected waves from various parts of the object to be inspected 1 are input to the ultrasonic probe 2 via the water 16, a stable waveform is displayed on the display section 11.

第21図は表示された反射波の波形図である。
図で、横軸は時間、縦軸は反射波の大きさを示
す。Tは超音波探触子2から超音波が送信される
送信波、Sは被検査物体1の表面からの反射波、
Fは欠陥1fからの反射波、Bは被検査物体1の
底面からの反射波、Bsは水槽15の底面からの
反射波である。なお、被検査物体1内における超
音波の音速は一定であるので、横軸(時間軸)は
距離を表すことになり、この波形図から欠陥1f
の位置が判明する。
FIG. 21 is a waveform diagram of the displayed reflected waves.
In the figure, the horizontal axis shows time and the vertical axis shows the magnitude of reflected waves. T is a transmitted wave of ultrasonic waves transmitted from the ultrasonic probe 2, S is a reflected wave from the surface of the object to be inspected 1,
F is a reflected wave from the defect 1f, B is a reflected wave from the bottom of the object to be inspected 1, and Bs is a reflected wave from the bottom of the water tank 15. Note that since the sound speed of the ultrasonic wave within the object to be inspected 1 is constant, the horizontal axis (time axis) represents the distance, and from this waveform diagram, the defect 1f
The location of is revealed.

ところで、一般に、被検査物体1を探傷する場
合、必ずしもその表面から底面まで全体を検査す
る必要はなく、被検査物体1内のある深さ範囲
(測定範囲)を表示部11に表示し、この範囲を
検査すればよい場合が多い。この場合には、測定
範囲設定部12の粗調用つまみおよび微調用つま
みを操作して波形の拡張、縮小を行い、又、遅延
時間設定部13のつまみを操作して波形の移動を
行うことにより第21図に示す波形図のうちの所
望の測定範囲を表示部11に表示する。これによ
り検査者は注意して検査すべき領域を明確かつ容
易に観察することができ、検査に要する時間や労
力を軽減することができ、より正確な検査を実施
することができる。
By the way, in general, when inspecting the object to be inspected 1, it is not necessarily necessary to inspect the entire object from the surface to the bottom, but a certain depth range (measurement range) within the object to be inspected 1 is displayed on the display section 11, and this In many cases, it is sufficient to inspect the range. In this case, expand or reduce the waveform by operating the coarse adjustment knob and fine adjustment knob of the measurement range setting section 12, and move the waveform by operating the knob of the delay time setting section 13. A desired measurement range in the waveform diagram shown in FIG. 21 is displayed on the display section 11. This allows the inspector to clearly and easily observe the area to be carefully inspected, reducing the time and effort required for inspection, and enabling more accurate inspection.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

ところで、上記超音波探傷器においては、前述
のように測定範囲設定部12および遅延時間設定
部13を操作することにより表示部11に所定の
測定範囲を表示するが、その測定範囲が表面の近
傍、又は底面の近傍である場合、表示部11に常
時反射波S又は反射波Bを表示して欠陥1fの位
置を正確に認識する手段が用いられる。しかしな
がら、観測が一時中断された後再開されたり、観
測中途で観測者が交替するような場合、表示部1
1に表示されている反射波が反射波Sであるのか
反射波SBであるのか、判断できなくなり混乱を
生じる場合がある。このような混乱は、例えば欠
陥1fが複数であり、それらの位置をより正確に
観測するため表示範囲を狭くして表示部11から
反射波S又は反射波Bが外れた場合、波形を移動
させて再び反射波S又は反射波Bを表示したとき
にも生じ、この場合には観測者は被検査物体1の
どの部分を観測しているのか判らなくなる。
By the way, in the above-mentioned ultrasonic flaw detector, a predetermined measurement range is displayed on the display unit 11 by operating the measurement range setting unit 12 and the delay time setting unit 13 as described above. , or in the vicinity of the bottom surface, means is used to constantly display the reflected wave S or the reflected wave B on the display unit 11 to accurately recognize the position of the defect 1f. However, if the observation is resumed after being temporarily interrupted, or if the observer is changed midway through the observation, the display unit
It may become impossible to determine whether the reflected wave displayed in 1 is the reflected wave S or the reflected wave SB, which may cause confusion. Such confusion may occur, for example, if there are multiple defects 1f and the display range is narrowed to more accurately observe their positions, and the reflected wave S or reflected wave B is removed from the display section 11, the waveform may be moved. This also occurs when the reflected wave S or reflected wave B is displayed again. In this case, the observer cannot tell which part of the object 1 to be inspected is being observed.

さらに、誤つてゲインを小さくしてしまい、こ
のため、反射波が表示されるべき位置に表示され
なくなつたような場合、観測者は超音波探傷器に
故障が発生したものと誤認し故障個所を探傷する
ための手間と時間を浪費することになる。
Furthermore, if the gain is reduced by mistake and the reflected wave is no longer displayed at the position where it should be displayed, the observer may mistakenly think that a failure has occurred in the ultrasonic flaw detector and locate the failure location. It would be a waste of time and effort to detect the flaws.

さらに又、探傷が上記水浸法によらず、探触子
2を直接被検査物体1に接触して行なわれた場
合、探傷子2の接触が不良であつたり、その接触
面が粗い場合、反射波が得られなくなる場合があ
り、この場合、観測者は接触が良好でないのか、
ゲインが不足しているのか、又は誤つた個所を探
傷しているのか、あるいは超音波探傷器が故障し
ているのか判断できなくなる。
Furthermore, when flaw detection is carried out by directly contacting the probe 2 with the object to be inspected 1 without using the above-mentioned water immersion method, if the contact of the flaw probe 2 is poor or the contact surface is rough, In some cases, reflected waves may not be obtained, and in this case, the observer must check whether the contact is not good or not.
It becomes impossible to determine whether the gain is insufficient, whether the wrong location is being detected, or whether the ultrasonic flaw detector is malfunctioning.

以上のような欠点は、すべて反射波S,Bを確
認できないことに起因するものであり、これを確
認できれば解消されるものと考えられる。
The above-mentioned drawbacks are all due to the inability to confirm the reflected waves S and B, and it is thought that they can be resolved if this can be confirmed.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、上記従来技術の問題点を解
決し、所定の反射波を確実に認識することがで
き、かつ、当該所定の反射波が表示されていない
ときこれを容易に表示することができる超音波探
傷器を提供するにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to solve the problems of the prior art described above, to be able to reliably recognize a predetermined reflected wave, and to be able to recognize the predetermined reflected wave. The goal is to provide an ultrasonic flaw detector that can easily display this when it is not visible.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記の目的を達成するため、本発明は、反射波
S,B等に所望の符号を付与するものであり、そ
のために、受信部で得られた信号をデイジタル的
に処理する構成とされる。即ち、本発明は、超音
波探触子に対して所定のパルスを出力する送信部
と、前記超音波探触子からの信号を受信する受信
部と、この受信部で受信された信号に基づいて当
該信号の波形を表示する表示部とを備えた超音波
探傷器において、前記受信部で受信された入力信
号を所定のサンプリング周期で順次アドレスに記
憶する波形メモリと、前記表示部に表示するデー
タを記憶する表示メモリと、前記表示部に表示す
べき測定範囲に応じて前記波形メモリのアドレス
を選択する選択手段と、この選択手段により選択
されたアドレスのデータを対応する前記表示メモ
リのアドレスに移送するデータ移送手段と、前記
表示メモリのデータを前記表示部に表示する波形
表示手段と、表示された反射波のうち所定の反射
波を選択する反射波選択手段と、選択された反射
波の距離を演算する演算手段と、演算された距離
に対応する前記表示メモリのアドレスを決定する
アドレス決定手段と、決定されたアドレスに対応
する前記表示部の位置に所定のマークを表示する
マーク表示手段と、前記マークが前記表示部に表
示されていないとき前記測定範囲の始点を変更し
て前記マークを前記表示部に表示させるマークサ
ーチ手段とを設けたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention assigns a desired code to the reflected waves S, B, etc., and is configured to digitally process the signal obtained by the receiving section. That is, the present invention includes a transmitter that outputs a predetermined pulse to an ultrasound probe, a receiver that receives a signal from the ultrasound probe, and a transmitter that outputs a predetermined pulse to an ultrasound probe. In an ultrasonic flaw detector, the ultrasonic flaw detector includes a waveform memory that sequentially stores the input signal received by the receiving section in addresses at a predetermined sampling period, and a display section that displays the waveform of the signal on the display section. a display memory for storing data; a selection means for selecting an address of the waveform memory according to a measurement range to be displayed on the display section; and an address of the display memory corresponding to the data at the address selected by the selection means. a waveform display means for displaying the data in the display memory on the display section; a reflected wave selection means for selecting a predetermined reflected wave from among the displayed reflected waves; a calculation means for calculating a distance of , an address determination means for determining an address of the display memory corresponding to the calculated distance, and a mark display for displaying a predetermined mark at a position on the display section corresponding to the determined address. and mark search means for changing the starting point of the measurement range and displaying the mark on the display when the mark is not displayed on the display.

〔作用〕[Effect]

受信部で受信された信号はデイジタル信号とし
て波形メモリに記憶される。そして、測定範囲に
応じて波形メモリに記憶されたデータのうちの所
定のデータが表示メモリに移され、表示メモリの
データが波形表示手段により表示部に表示され
る。次いで、表示された反射波のうちの所定のも
のを選択し、その反射波のピーク値の距離を演算
する。そして、この距離に基づいて表示メモリの
当該距離に該当するアドレスを求め、このアドレ
スに対応する表示部の表示面に所定のマークを表
示する。測定中において、マークが付与された反
射波が表示されていない場合、これを表示したい
ときには、マークサーチ手段によりマークを上記
反射波とともに表示面に表示する。
The signal received by the receiver is stored in a waveform memory as a digital signal. Then, predetermined data of the data stored in the waveform memory is transferred to the display memory according to the measurement range, and the data in the display memory is displayed on the display section by the waveform display means. Next, a predetermined one is selected from among the displayed reflected waves, and the distance of the peak value of the reflected wave is calculated. Then, based on this distance, an address corresponding to the distance in the display memory is determined, and a predetermined mark is displayed on the display surface of the display section corresponding to this address. During measurement, if the reflected wave with a mark is not displayed and it is desired to display it, the mark is displayed on the display screen together with the reflected wave by the mark search means.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明す
る。
Hereinafter, the present invention will be explained based on illustrated embodiments.

第1図は本発明の実施例に係る超音波探傷器の
ブロツク図である。図で、第19図に示す部分と
同一部分には同一符号を付して説明を省略する。
なお、超音波探傷器においては、反射波を検波し
て表示する場合と、検波せずに表示する場合とが
あるが、いづれの場合でも本発明は適用可能であ
る。したがつて、以下では、第19図での増幅器
6b′と検波回路7とを合せたものを増幅回路6b
として受信部6を構成し、検波を行なつた実施例
を示す。21は本実施例の超音波探傷器を示す。
この超音波探傷器21は次の各要素により構成さ
れている。即ち、22は受信部6の出力信号をデ
イジタル値に変換するA/D変換部、23はA/
D変換部22で変換された値を記憶する波形メモ
リ、24は波形メモリ23の各アドレスを順に指
定してゆくアドレスカウンタである。25はタイ
ミング回路であり、送信部5、A/D変換部およ
びアドレスカウンタ24へそれぞれ起動信号を与
える。このタイミング回路25の発振には水晶発
振子が用いられる。
FIG. 1 is a block diagram of an ultrasonic flaw detector according to an embodiment of the present invention. In the figure, the same parts as those shown in FIG. 19 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.
In addition, in the ultrasonic flaw detector, there are cases where reflected waves are detected and displayed, and cases where reflected waves are displayed without detection, and the present invention is applicable in either case. Therefore, in the following, the combination of the amplifier 6b' and the detection circuit 7 in FIG. 19 will be referred to as the amplifier circuit 6b.
An example will be shown in which the receiving section 6 is configured as follows and detection is performed. Reference numeral 21 indicates an ultrasonic flaw detector of this embodiment.
This ultrasonic flaw detector 21 is composed of the following elements. That is, 22 is an A/D converter that converts the output signal of the receiver 6 into a digital value, and 23 is an A/D converter.
A waveform memory 24 stores the values converted by the D converter 22, and an address counter 24 sequentially designates each address of the waveform memory 23. Reference numeral 25 denotes a timing circuit, which provides activation signals to the transmitter 5, the A/D converter, and the address counter 24, respectively. A crystal oscillator is used for oscillation of this timing circuit 25.

26は所要の演算、制御を行うCPU(中央処理
装置)、27は演算のためのパラメータやデータ
等を一時記憶するRAM(ランダム・アクセス・
メモリ)、28はCPU26の処理手順を記憶する
ROM(リード・オンリ・メモリ)である。30
は被検査物体1内に超音波が伝播する速度(音
速)その他の値を入力するキーボード入力部であ
る。31は液晶表示部、32はCPU26の演算、
制御の結果得られたデータに基づいて液相表示部
31の表示を制御する表示部コントローラであ
る。32mは表示部コントローラ32に設けられ
た表示メモリであり、この表示メモリ32mには
液晶表示部31に表示するデータが格納される。
表示メモリ32mのアドレスの数は、液晶表示部
31における横方向に配列された液晶ドツトの数
と同数である。33はマーク設定部であり、反射
波にマークを付するために用いられる。このマー
ク設定部は第2図を用いてさらに後述する。34
は表示部31にカーソルを表示する場合、当該カ
ーソルの始点位置を定めるカーソル始点設定部、
35は当該カーソルの幅を指示するカーソル幅設
定部である。36は表示部31に波形を表示する
場合の表示始点を設定する表示始点設定部、37
は測定範囲を定める測定範囲設定部である。
26 is a CPU (central processing unit) that performs necessary calculations and control, and 27 is a RAM (random access memory) that temporarily stores parameters and data for calculations.
memory), 28 stores the processing procedure of the CPU 26
It is ROM (read only memory). 30
is a keyboard input section for inputting the speed at which ultrasonic waves propagate within the object 1 to be inspected (sound velocity) and other values. 31 is the liquid crystal display section, 32 is the calculation of the CPU 26,
This is a display unit controller that controls the display of the liquid phase display unit 31 based on data obtained as a result of control. 32m is a display memory provided in the display unit controller 32, and data to be displayed on the liquid crystal display unit 31 is stored in this display memory 32m.
The number of addresses in the display memory 32m is the same as the number of liquid crystal dots arranged in the horizontal direction in the liquid crystal display section 31. 33 is a mark setting section, which is used to mark the reflected wave. This mark setting section will be further described later with reference to FIG. 34
is a cursor starting point setting section that determines the starting point position of the cursor when displaying a cursor on the display section 31;
35 is a cursor width setting section that specifies the width of the cursor. 36 is a display start point setting section for setting a display start point when displaying a waveform on the display section 31; 37;
is a measurement range setting section that determines the measurement range.

第2図は第1図に示すマーク設定部33におけ
るキースイツチの配置図である。本実施例におい
て、マーク設定部33のキースイツチは、0〜9
までの10個の数字キースイツチ33a、A〜Zま
での26個のアルフアベツトの文字キースイツチ3
3d、「マーク」の表示があるマークキースイツ
チ33b、「セツト」の表示があるセツトキース
イツチ33c、および「サーチ」の表示があるサ
ーチキースイツチ33eで構成されている。マー
クキースイツチ33bはマークを設定する処理動
作を起動する機能を有し、セツトキースイツチ3
3cは入力終了の信号を出力する機能を有し、
又、サーチキースイツチ33eはマークを付した
反射波を液晶表示部31に表示する機能を有す
る。
FIG. 2 is a layout diagram of key switches in the mark setting section 33 shown in FIG. 1. In this embodiment, the key switches of the mark setting section 33 are 0 to 9.
10 numeric key switches 33a, 26 alphanumeric key switches 3 from A to Z
3d, a mark key switch 33b with a "mark" display, a set key switch 33c with a "set" display, and a search key switch 33e with a "search" display. The mark key switch 33b has a function of starting a processing operation for setting a mark, and
3c has a function of outputting an input end signal,
Further, the search key switch 33e has a function of displaying the reflected waves with marks on the liquid crystal display section 31.

次に、本実施例の動作を説明する。本実施例に
おいては、第1図およびその説明からも判るよう
に、受信部6で受信された超音波信号波形はデイ
ジタル的に処理されて波形メモリ23へ入力され
(波形メモリ入力手段)、入力された信号は測定始
点設定部36および測定範囲設定部37により所
望の範囲の信号が選択されて液晶表示部31に表
示され(測定範囲表示手段)、表示された信号波
形のうちの所定の反射波をカーソル始点設定部3
4、カーソル幅設定部35を操作してカーソルで
選択し(カーソル表示手段)、選択された反射波
にマーク設定部33により所望のマークを付与す
る(マーク付与手段)とともにマークを付与した
波形を表示部に表示させる(マークサーチ手段)
という動作が実行される。以下、上記波形メモリ
入力手段、測定範囲表示手段、カーソル表示手
段、マーク付与手段およびマークサーチ手段につ
いて説明する。
Next, the operation of this embodiment will be explained. In this embodiment, as can be seen from FIG. 1 and its explanation, the ultrasonic signal waveform received by the receiving section 6 is digitally processed and input to the waveform memory 23 (waveform memory input means). The measurement start point setting section 36 and the measurement range setting section 37 select a signal in a desired range and display it on the liquid crystal display section 31 (measurement range display means), and a predetermined reflection of the displayed signal waveform is selected. Wave cursor start point setting section 3
4. Operate the cursor width setting unit 35 to make a selection with the cursor (cursor display means), and add a desired mark to the selected reflected wave by the mark setting unit 33 (marking unit), and display the waveform to which the mark has been added. Display it on the display (mark search means)
This operation is executed. The waveform memory input means, measurement range display means, cursor display means, mark adding means and mark search means will be explained below.

() 波形メモリ入力手段 まず最初に波形メモリ23へのデータの格納
動作を第3図に示す反射波の波形図、第4図に
示す波形メモリ23のブロツク図を参照しなが
ら説明する。タイミング回路25から送信部5
へトリガ信号が出力されると、送信部5は超音
波探触子2にパルスを出力し、超音波探触子2
から被検査物体1内に超音波が放射される。こ
の超音波の反射波は超音波探触子2により電気
信号に変換され、この信号は受信部6で受信さ
れる。受信部6は、受信した反射波信号を以後
の処理に適した値として出力する。この出力さ
れた反射波信号は、所定のサンプリング周期毎
にA/D変換部22においてデイジタル値に変
換され、この変換された値は順次波形メモリ2
3に記憶される。この記憶は、アドレスカウン
タ24が波形メモリ23のアドレスを順次指定
することによりなされる。反射波信号のサンプ
リング、波形メモリ23のアドレス指定はタイ
ミング回路25から出力される起動信号により
実行される。このような反射波信号のサンプリ
ングと、そのデイジタル値の波形メモリ23へ
の収容を第3図および第4図により説明する。
() Waveform Memory Input Means First, the operation of storing data in the waveform memory 23 will be explained with reference to the waveform diagram of the reflected wave shown in FIG. 3 and the block diagram of the waveform memory 23 shown in FIG. From the timing circuit 25 to the transmitter 5
When the trigger signal is output, the transmitter 5 outputs a pulse to the ultrasound probe 2, and
Ultrasonic waves are radiated into the object 1 to be inspected. This reflected ultrasound wave is converted into an electrical signal by the ultrasound probe 2, and this signal is received by the receiver 6. The receiving unit 6 outputs the received reflected wave signal as a value suitable for subsequent processing. This output reflected wave signal is converted into a digital value in the A/D converter 22 at every predetermined sampling period, and the converted value is sequentially stored in the waveform memory 22.
3 is stored. This storage is performed by the address counter 24 sequentially specifying the addresses of the waveform memory 23. Sampling of the reflected wave signal and addressing of the waveform memory 23 are executed by a start signal output from the timing circuit 25. The sampling of such a reflected wave signal and the storage of its digital value in the waveform memory 23 will be explained with reference to FIGS. 3 and 4.

第3図は反射波信号の波形図である。図で、
横軸には時間が、縦軸には反射波信号の大きさ
(電圧)がとつてある。T,Fは第21図に示
すものと同じ反射波を示す。なお、第3図では
横軸のみが極端に拡大して描かれている。次
に、第4図は波形メモリ23のブロツク図であ
る。縦列に並べて示された各ブロツクは波形メ
モリ23におけるデータの収容部を意味し、各
収容部に記載されたD(0),D(1),……D(o-1)
D(o),D(o+1)……はA/D変換部22でデイジ
タル値に変換された反射波信号のデータであ
る。これらデータを一般形としてD(i)で表わす。
又、各収容部の左側に記載された符号AM(0)
AM(1),……AM(o-1)、AM(o)、AM(o+1)……は対応
する収容部のアドレスを示す。これらアドレス
を一般形としてAM(i)で表わす。
FIG. 3 is a waveform diagram of the reflected wave signal. In the figure,
The horizontal axis shows time, and the vertical axis shows the magnitude (voltage) of the reflected wave signal. T and F indicate the same reflected waves as shown in FIG. In addition, in FIG. 3, only the horizontal axis is extremely enlarged. Next, FIG. 4 is a block diagram of the waveform memory 23. Each block shown in a column means a data storage section in the waveform memory 23, and D (0) , D (1) , ... D (o-1) , written in each storage section.
D (o) , D (o+1) . . . are reflected wave signal data converted into digital values by the A/D converter 22. These data are expressed as D (i) in general form.
In addition, the code A M (0) written on the left side of each storage section,
A M(1) , ...A M(o-1) , A M(o) , A M(o+1) ...indicate the addresses of the corresponding storage units. These addresses are expressed as A M(i) in general form.

今、第3図に示す時刻t0において、タイミン
グ回路25からA/D変換部22およびアドレ
スカウンタ24に起動信号が出力されると、
A/D変換部22ではそのときの反射波Tの電
圧をA/D変換してデータD(0)を得る。又、ア
ドレスカウンタ24は波形メモリ23のアドレ
スAM(0)を指定する。この結果、データD(0)は波
形メモリ23のアドレスAM(0)に収容される。
次いで、時間τs経過後の時刻t1において、タイ
ミング回路25から再びA/D変換部22およ
びアドレスカウンタ24に起動信号が出力され
ると、同じくそのときの反射波Tの電圧がA/
D変換部22で変換されてデータD(1)が得ら
れ、アドレスカウンタ24は次のアドレス
AM(1)を指定するので、波形メモリ23のアド
レスAM(1)にデータD(1)が収容される。この場
合、時間τsがサンプリング時間(例えば50ns)
となる。以下、同様にして反射波T,S,F,
Bs……のデータが波形メモリ23に記憶され
ることになる。
Now, at time t 0 shown in FIG. 3, when a start signal is output from the timing circuit 25 to the A/D converter 22 and the address counter 24,
The A/D converter 22 A/D converts the voltage of the reflected wave T at that time to obtain data D (0) . Further, the address counter 24 specifies address A M (0) of the waveform memory 23. As a result, data D (0) is stored at address A M (0) of waveform memory 23.
Next, at time t 1 after time τ s has elapsed, when the timing circuit 25 outputs the activation signal to the A/D converter 22 and address counter 24 again, the voltage of the reflected wave T at that time also becomes A/D.
Data D (1) is obtained through conversion by the D converter 22, and the address counter 24 reads the next address.
Since A M(1) is specified, data D (1) is stored at address A M(1) of the waveform memory 23. In this case, the time τ s is the sampling time (e.g. 50ns)
becomes. Similarly, the reflected waves T, S, F,
B s ... data will be stored in the waveform memory 23.

() 測定範囲表示手段 上記のようにして波形メモリ23に記憶され
た波形のデータは、それらのすべての表示に用
いられるのではなく、所望の範囲のデータのみ
が表示に用いられる。即ち、当該データのうち
の所要のデータが選択されて表示部コントロー
ラ32の表示メモリ32mに入力され、これら
入力されたデータに基づいて表示が行なわれる
ことになる。
() Measurement Range Display Means The waveform data stored in the waveform memory 23 as described above is not used for displaying all of them, but only data within a desired range is used for displaying. That is, desired data from among the data is selected and input into the display memory 32m of the display unit controller 32, and a display is performed based on these input data.

ここで、まず波形メモリ23、液晶表示部3
1、コントローラ32、表示メモリ32mの関
係の概略について説明する。液晶表示部31は
横方向において、ある数の液晶ドツトが配列さ
れており、又、表示部コントローラ32には前
述のように当該配列の数と同数のアドレスを有
する表示メモリ32mが設けられている。今、
仮に液晶ドツトの配列の数を200とすると、表
示メモリ32mのアドレス{これをAL(j)の数
は、アドレスAL(0)からアドレスAL(199)までの
200となる。又、波形メモリ23のアドレス
AM(i)のうち、反射波T,S,F,B,Bsまで
が格納されているアドレスの数を例えば1000と
する。一方、表示メモリの数は200であるので、
全ての領域を表示するためには、表示するデー
タを間引く必要がある。そこで、上記1000のア
ドレス{アドレスAM(0)〜AM(999)}のうち5番
目毎のアドレス{アドレスAM(0),AM(5)
AM(10),……AM(999)}を表示メモリ32mのア
ドレスAL(j)に対応させ、そのデータを表示メモ
リ32mの当該アドレスに転送し、表示部コン
トローラ32によりこれらのデータを液晶表示
部31に表示すれば各反射波T〜Bsを表示す
ることができる。
Here, first, the waveform memory 23 and the liquid crystal display section 3
1. An overview of the relationship between the controller 32 and the display memory 32m will be explained. The liquid crystal display section 31 has a certain number of liquid crystal dots arranged in the horizontal direction, and the display section controller 32 is provided with a display memory 32m having the same number of addresses as the number of the arrangement, as described above. . now,
Assuming that the number of liquid crystal dot arrays is 200, the address of the display memory 32m {this is the number of A L(j) from address A L(0) to address A L(199)
It will be 200. Also, the address of the waveform memory 23
The number of addresses in which reflected waves T, S, F, B, and Bs are stored in A M(i) is, for example, 1000. On the other hand, the number of display memories is 200, so
In order to display all areas, it is necessary to thin out the data to be displayed. Therefore, among the above 1000 addresses {addresses A M(0) to A M(999) }, every fifth address {addresses A M(0) , A M(5) ,
. _ _ By displaying on the liquid crystal display section 31, each reflected wave T to Bs can be displayed.

さて、以上の関係を基にして、次に所望の測
定範囲の波形表示の動作を第5図に示す波形図
および第6図に示すフローチヤートを参照しな
がら説明する。第5図で、T,S,F,B,
Bsは第21図に示すものと同じ反射波の波形
である。一点鎖線で囲まれている部分31Aは
液晶表示部31に表示されるべき所望の測定範
囲である。又、測定範囲31Aは液晶表示部3
1のうち波形表示をする領域である。さらに、
CS,CEはそれぞれ液晶表示部31に表示され
る前カーソルおよび後カーソルである。31B
はこれら前のカーソルCSと後カーソルCEと挟
まれる領域を示し、測定範囲31A内において
選択される。X1,X2,X3は後述する距離lS
lR,lEとを画面上に表示する位置を示す。これ
ら前カーソルCSおよび後カーソルCEについて
後述する()カーソル表示手段の項において
説明する。第5図に示される状態は、両カーソ
ルCS,CEに挟まれた領域31Bをはさんでそ
の両側近辺の部分の測定範囲lRの領域が液晶表
示部31に表示されている状態を模式的に示し
たものである。ここで、図示されている寸法
(距離)について述べる。
Now, based on the above relationship, the operation of displaying the waveform of a desired measurement range will be explained next with reference to the waveform diagram shown in FIG. 5 and the flowchart shown in FIG. 6. In Figure 5, T, S, F, B,
B s is the same waveform of the reflected wave as shown in FIG. A portion 31A surrounded by a dashed line is a desired measurement range to be displayed on the liquid crystal display section 31. In addition, the measurement range 31A is the liquid crystal display section 3.
1, this is the area for displaying waveforms. moreover,
C S and C E are a front cursor and a back cursor displayed on the liquid crystal display section 31, respectively. 31B
indicates an area sandwiched between the front cursor C S and the rear cursor C E , and is selected within the measurement range 31A. X 1 , X 2 , and X 3 are distances l S and
Indicates the position where l R and l E are displayed on the screen. The previous cursor C S and the subsequent cursor C E will be explained in the section ( ) cursor display means described later. The state shown in FIG. 5 is a state in which the area of measurement range l R on both sides of the area 31B sandwiched between the cursors C S and CE is displayed on the liquid crystal display section 31. It is shown schematically. Here, the illustrated dimensions (distances) will be described.

lS:始点(本例では、表面からの反射波Sのピ
ーク位置)から測定範囲31A左端までの距
離 lR:測定範囲31Aの幅と対応する距離 lCS:測定範囲31Aの左端から前記前カーソ
ルCSまでの距離 lCE:測定範囲31Aの左端から後カーソルCE
までの距離 lW:前カーソルCSと後カーソルCEとの間の領域
31Bの幅(カーソル幅) ここで、距離lSの始点について説明する。こ
の始点(lS=0)は本実施例では波形メモリ2
3にデータの格納を開始した時点(送信パルス
出力とデータ格納開始を同時に行なうものと想
定する。)からの経過時間と音速(既知)とか
ら計算により求める手法がとられる。なお、こ
のような距離計測の始点は、本実施例のような
反射波Sの位置に限ることはなく、任意の位置
に設定することができる。その場合には、対応
する波形メモリ23のアドレスを本実施例の表
示メモリ32mの先頭アドレスに対応させれば
よい。以下の説明では、波形メモリ23の先頭
アドレスに対応する位置が距離0とされてい
る。
l S : Distance from the starting point (in this example, the peak position of the reflected wave S from the surface) to the left end of the measurement range 31A l R : Distance corresponding to the width of the measurement range 31A l CS : From the left end of the measurement range 31A to the front Distance to cursor C S l CE : From left end of measurement range 31A to rear cursor C E
Distance l W : Width of the area 31B between the front cursor C S and the rear cursor C E (cursor width) Here, the starting point of the distance l S will be explained. This starting point (l S =0) is the waveform memory 2 in this embodiment.
In step 3, a method is used to calculate the speed of sound from the elapsed time from the time when data storage is started (assuming that the transmission pulse output and data storage start are performed at the same time) and the speed of sound (known). Note that the starting point of such distance measurement is not limited to the position of the reflected wave S as in this embodiment, and can be set at any position. In that case, the address of the corresponding waveform memory 23 may be made to correspond to the start address of the display memory 32m of this embodiment. In the following explanation, the position corresponding to the start address of the waveform memory 23 is assumed to have a distance of 0.

次いで、液晶表示部31に上記第5図に示す
ような波形表示を行う場合の動作を以下に説明
する。最初に、キーボード入力部30に被検査
物体1内を超音波が伝播する音速(この音速を
VSとする)を入力し、又、測定始点設定部3
6および測定範囲設定部37により、それぞれ
始点から測定領域左端までの距離lS、及び測定
範囲31Aの幅lRを入力する。又、前記表示メ
モリ32mのアドレスAL(j)の数は液晶表示部3
1に応じて定められた値であり、予め記憶され
ている。このアドレスAL(j)の数(前記原点設定
の説明では200個として例示されている)をKL
で表す。
Next, the operation when displaying a waveform as shown in FIG. 5 on the liquid crystal display section 31 will be described below. First, the sound speed at which the ultrasonic wave propagates inside the object to be inspected 1 (this sound speed is
VS ), and also input the measurement start point setting section 3.
6 and the measurement range setting section 37, the distance l S from the starting point to the left end of the measurement area and the width l R of the measurement range 31A are input, respectively. Also, the number of addresses A L(j) of the display memory 32m is
1, and is stored in advance. The number of addresses A L(j) (200 in the explanation of the origin setting) is set to K L
Expressed as

上記測定始点設定部36および測定範囲設定
部37はそれぞれロータリスイツチで構成され
ており、一方向、例えば時計方向(正方向)の
単位角度の回動により定められた単位数値Δl
が現在値に加算され、逆方向(負方向)の単位
角度の回動により減算される。このような加
算、減算は各ロータリスイツチの操作量を
CPU26が読込むことにより行なわれ、これ
により測定始点設定部36に距離lSが、又、測
定範囲設定部37に距離lRがそれぞれ設定さ
れ、これらの値lS,lRにより始点から測定範囲
終点までの距離lE(lE=lS+lR)が決定される。
これらの数値lS,lR,lEは第5図に示す位置X1
X2,X3にそれぞれ表示される。
The measurement start point setting section 36 and the measurement range setting section 37 are each composed of a rotary switch, and the unit value Δl is determined by rotation of a unit angle in one direction, for example, clockwise (positive direction).
is added to the current value and subtracted by rotation of unit angle in the opposite direction (negative direction). Such addition and subtraction will affect the operating amount of each rotary switch.
This is done by reading the data into the CPU 26, which sets the distance l S in the measurement start point setting section 36 and the distance l R in the measurement range setting section 37, and uses these values l S and l R to measure from the starting point. The distance l E (l E =l S +l R ) to the end of the range is determined.
These values l S , l R , l E are at the positions X 1 ,
Displayed in X 2 and X 3 respectively.

上記各数値vS,lS,lR,KLが定まると、CPU
26はROM28に記憶されている手順にした
がつてこれら数値を順次読込む(第6図に示す
手順P11)。
Once each of the above values v S , l S , l R , and K L are determined, the CPU
26 sequentially reads these numerical values according to the procedure stored in the ROM 28 (procedure P 11 shown in FIG. 6).

次いで、液晶表示部31の測定範囲31Aの
範囲に波形を表示するには、波形メモリ23に
記憶されているデータをどのようにとり出せば
よいかが演算により求められる(手順P12)。以
下、この演算について説明する。
Next, in order to display the waveform within the measurement range 31A of the liquid crystal display section 31, it is calculated how to retrieve the data stored in the waveform memory 23 (step P 12 ). This calculation will be explained below.

波形メモリ23には、前述のような反射波T
以下の反射波のデータが記憶されている。しか
し、前述のようにこの中で必要とされるのはこ
れら測定範囲31A内のデータであり、これら
測定範囲31A内のデータを液晶表示部31に
表示すればよいことになる。そこで、上記演算
は、測定範囲31A内のデータを液晶表示部3
1に表示するには、波形メモリ23における測
定範囲内のデータを記憶するアドレスをどのよ
うに選択すればよいかを決定するための演算で
あるということになる。
The waveform memory 23 stores the reflected wave T as described above.
The following reflected wave data is stored. However, as described above, what is needed is the data within these measurement ranges 31A, and it is sufficient to display the data within these measurement ranges 31A on the liquid crystal display section 31. Therefore, in the above calculation, data within the measurement range 31A is displayed on the liquid crystal display section 3.
1, this calculation is for determining how to select an address in the waveform memory 23 to store data within the measurement range.

例えば、被検査物体1の表面と底面との距離
即ち反射波Sと反射波Bとの距離をLSB、その
間のデータを格納する波形メモリ23のアドレ
スの数をΔK、反射波Sが受信されてから反射
波Bが受信されるまでの時間をtとする次式が
成立する。
For example, L SB is the distance between the surface and the bottom of the object to be inspected 1, that is, the distance between the reflected waves S and B, ΔK is the number of addresses in the waveform memory 23 that stores data between them, and the reflected wave S is received. The following equation holds true, where t is the time from when the reflected wave B is received.

2LSB=vS・t=vS・ΔK・τS ……(1) ΔK=2LSB/vS・τS ……(2) 即ち、被検査物体1の距離LSBのデータを格
納する波形メモリ23のアドレスの数ΔKは上
記(2)式で表されることになる。したがつて、距
離lRの測定範囲31Aにおけるアドレスの数
ΔK′は ΔK′=2lR/vS・τS ……(3) となる。この(3)式で、2/vS・τS=βとする
と、 ΔK′=βlR ……(4) となる。
2L SB = v S・t=v S・ΔK・τ S ...(1) ΔK=2L SB /v S・τ S ...(2) In other words, store the data of the distance L SB of the object to be inspected 1. The number ΔK of addresses in the waveform memory 23 is expressed by the above equation (2). Therefore, the number ΔK' of addresses in the measurement range 31A of distance l R is ΔK'=2l R /v S ·τ S (3). In this equation (3), if 2/v S・τ S =β, then ΔK'=βl R ...(4).

測定範囲31Aを液晶表示部31いつぱいに
表示するには、波形メモリ23における上記ア
ドレスの数ΔK′を構成する各アドレスから表示
メモリ23mのアドレスの数KLだけ選択して
表示メモリ23mのアドレスAL(j)に対応させて
やればよい。そこで、数ΔK′と数KLの比率α
をとると、 α=KL/ΔK′=vS・τS/2lRKL ……(5) となる。即ち、波形メモリ23のアドレスAM(i)
から1/α毎に選択して表示メモリ32mのア
ドレスAL(j)に対応させればよい。
To display the measurement range 31A on the entire liquid crystal display 31, select the number KL of addresses in the display memory 23m from each address constituting the number ΔK' of addresses in the waveform memory 23, and select the address A of the display memory 23m. Just make it correspond to L(j) . Therefore, the ratio α of the number ΔK′ and the number K L
Taking α=K L /ΔK′=v S・τ S /2l R K L ……(5). That is, the address A M(i) of the waveform memory 23
It is only necessary to select the address A L(j) of the display memory 32m by selecting it every 1/α from the address A L(j) .

一方、反射波Sのピーク点(始点)から距離
lSにある測定領域の左端の波形メモリ23のア
ドレスは、当該ピーク点のアドレスがAM(S)
あること、および距離lS間にあるアドレスの数
が(4)式よりβlSであることから、AM(S+dlS)であ
ることが判る。したがつて、測定範囲31Aを
表示するためには、波形メモリ23のアドレス
AM(S+dlS)から1/α毎にアドレスを選択すれば
よい(手順P13)。即ち、波形メモリ23のアド
レスAM(i)において、選択すべきアドレスの番号
iは次式で表される。
On the other hand, the distance from the peak point (starting point) of the reflected wave S is
The address of the waveform memory 23 at the left end of the measurement area at l S is determined by the fact that the address of the peak point is A M(S) and that the number of addresses between distance l S is βl S from equation (4). From this, we know that A M(S+ dl S) . Therefore, in order to display the measurement range 31A, the address of the waveform memory 23 must be
Addresses may be selected from A M(S+ dl S) every 1/α (step P 13 ). That is, in the address A M(i) of the waveform memory 23, the address number i to be selected is expressed by the following equation.

i=s+βlS+j/α ……(6) (6)式でjは表示メモリ32mのアドレスの番
号であり、KL=200の場合、j=0〜199であ
る。
i=s+βl S +j/α (6) In equation (6), j is the address number of the display memory 32m, and when K L =200, j=0 to 199.

(6)式の演算において、数j/αは整数でない
場合が生じるので、この場合には4捨5入等の
適宜の手法により数iは整数化される(手順
P14)。このようにして波形メモリ23のアドレ
スのうち上記手段により選択したアドレスを表
示メモリ32mの各アドレスに対応させ、前者
に記憶されているデータを後者に転送する(手
順P15)。そして、表示部コントローラ32によ
り表示メモリ32mの各アドレスのデータを表
示部11に表示する(手順P16)ことにより所
望の測定範囲31Aを表示させることができ
る。
In the calculation of formula (6), the number j/α may not be an integer, so in this case, the number i is converted to an integer by an appropriate method such as rounding to the nearest 50 (procedure).
P14 ). In this way, the addresses selected by the above means among the addresses of the waveform memory 23 are made to correspond to each address of the display memory 32m, and the data stored in the former is transferred to the latter (step P 15 ). Then, the display unit controller 32 displays the data at each address in the display memory 32m on the display unit 11 (step P 16 ), thereby making it possible to display the desired measurement range 31A.

このように、測定始点設定部35および測定
範囲設定部37を操作することにより、反射波
形の任意の部分を拡大又は縮小して表示するこ
とが可能となる。
In this way, by operating the measurement start point setting section 35 and the measurement range setting section 37, it is possible to enlarge or reduce any part of the reflected waveform and display it.

() カーソル表示手段 次に、液晶表示部31にカーソルを表示させ
る動作を、さきの第5図に示した波形図および
第7図に示すフローチヤートを参照しながら説
明する。カーソル表示は前述したように被検査
物体1において、その測定範囲31A内におけ
る注意して観察すべき領域31Bを明確にする
ために用いられる表示である。今、第5図に示
すような形態の表示がなされる場合、上記領域
31Bは前カーソルCSの位置(lS+lCS)〜後カ
ーソルCEの位置(lS+lCE)である。以下、この
ようなカーソル表示を行う場合について述べ
る。
() Cursor Display Means Next, the operation of displaying a cursor on the liquid crystal display section 31 will be described with reference to the waveform diagram shown in FIG. 5 and the flowchart shown in FIG. 7. As described above, the cursor display is a display used to clarify the area 31B within the measurement range 31A of the object 1 to be inspected that should be observed carefully. Now, when a display as shown in FIG. 5 is performed, the area 31B is from the position of the previous cursor C S (l S +l CS ) to the position of the next cursor C E (l S +l CE ). A case in which such a cursor display is performed will be described below.

カーソル表示の実施はカーソル始点設定部3
4およびカーソル幅設定部35を操作して行わ
れる。これらカーソル始点設定部34、カーソ
ル幅設定部35はいずれも0点が定められたロ
ータリスイツチで構成され、その正方向の回動
により数値(距離)が連続的に加算され、負方
向の回動により連続的に減算される。
The cursor display is performed by the cursor starting point setting section 3.
4 and the cursor width setting section 35. Both the cursor start point setting section 34 and the cursor width setting section 35 are composed of rotary switches with a fixed 0 point, and when they are rotated in the positive direction, a numerical value (distance) is continuously added, and when they are rotated in the negative direction, the numeric value (distance) is continuously added. is continuously subtracted by

ところで、カーソルも液晶表示部31に表示
されるのであるから、当然、波形を表示する場
合と同様に位置(lS+lCS),(lS+lCE)を表示メ
モリ32mのアドレスAL(i)と対応させることが
必要である。以下、この対応について説明す
る。今、カーソルに始点設定部34で距離(lS
+lCS)が、又カーソル幅設定部35で距離lW
(lW=lCE−lCS)が指示されている場合、距離lS
は既知であるから、まず距離lCSが演算される
(第7図に示す手順P21)。次に値lCS,lW,lR,lL
が読込まれ(手順P22)、表示メモリ32mにお
ける距離lCSに該当するアドレス、即ち前カー
ソルCSのアドレスと、距離lCEに該当するアド
レス、即ち後カーソルCEのアドレスが演算に
より求められる(手順P23)。これらのアドレス
は、表示メモリ32mにおけるアドレスの総数
KLに対する両カーソルのアドレスの比を、距
離lRに対する両カーソルの距離の比に等しくす
ることにより得られる。即ち、前カーソルCS
アドレスAL(CS)、後カーソルCEのアドレスを
AL(CE)とすると、これら各アドレスは、AL(CS) *
AL(CE) *を用いて AL(CS) *=lCS/lR×KL ……(7) AL(CE) *=lCE/lR×KL =lCS+lw/lR×KL ……(8) で表される(7)、(8)式のAL(CS) *,AL(CE) *を整数化
し(手順P24)、これにより表示メモリ23mに
おける前カーソルCSのアドレスAL(CS)および後
カーソルCEのアドレスAL(CE)が決定する。これ
ら各アドレスには、既に波形データが記憶され
ているが、このデータはカーソルを意味する破
線表示のデータに変更される(手順P25)。次い
で、表示部コントローラ32を駆動して、アド
レスAL(CS),AL(CE)のデータを表示する(手順
P26)と、液晶表示部31に第5図に示すカー
ソルCSEが表示されることになる。
By the way, since the cursor is also displayed on the liquid crystal display section 31, it is natural that the positions (l S +l CS ) and (l S +l CE ) are displayed at the address A L (i ) . This response will be explained below. Now, set the distance (l S
+l CS ), but also the distance l W in the cursor width setting section 35
If (l W = l CE −l CS ) is indicated, then the distance l S
Since is already known, the distance l CS is first calculated (step P 21 shown in FIG. 7). Then the values l CS , l W , l R , l L
is read (step P 22 ), and the address corresponding to the distance l CS in the display memory 32m, that is, the address of the previous cursor C S , and the address corresponding to the distance l CE , that is, the address of the next cursor C E , are calculated by calculation. (Step P 23 ). These addresses are the total number of addresses in the display memory 32m.
It is obtained by making the ratio of the addresses of both cursors to K L equal to the ratio of the distance of both cursors to distance l R. In other words, the address A L(CS) of the previous cursor C S and the address of the next cursor C E are
If A L(CE) , then each of these addresses is A L(CS) * ,
Using A L(CE) * , A L(CS) * =l CS /l R ×K L ……(7) A L(CE) * =l CE /l R ×K L =l CS +l w / l R ×K L ...(8) Convert A L(CS) * and A L(CE) * in equations (7) and (8) to integers (step P 24 ), and as a result, the display memory will be 23 m The address A L (CS) of the previous cursor C S and the address A L (CE) of the next cursor C E are determined. Although waveform data has already been stored in each of these addresses, this data is changed to data displayed with a broken line indicating a cursor (step P25 ). Next, the display unit controller 32 is driven to display data at addresses A L(CS) and A L(CE) (procedure).
P 26 ) and cursors C S and E shown in FIG. 5 are displayed on the liquid crystal display section 31.

以上、カーソル表示の動作を説明したが、本
来、カーソルは注意して観察したい領域を見易
くするものであり、一方、観察したい個所は同
一個所に限定されないのが一般的であるので、
通常の使用態様においてはカーソル表示はカー
ソル始点設定部34およびカーソル幅設定部3
5のロータリスイツチを連続的に回動させて移
動させることが多い。そこで、以下、このよう
なカーソル表示の移動について、第8図、第1
0図に示すフローチヤート、および第9図a〜
e、第11図a〜cに示す波形図を参照しなが
ら説明する。
The operation of the cursor display has been explained above, but the cursor is originally intended to make it easier to see the area that you want to carefully observe.On the other hand, the area you want to observe is generally not limited to the same area, so
In normal usage, the cursor is displayed in the cursor start point setting section 34 and the cursor width setting section 3.
It is often moved by continuously rotating the rotary switch No. 5. Therefore, below, we will explain the movement of the cursor display in Figure 8 and Figure 1.
Flowchart shown in Figure 0, and Figures 9a to 9
e, will be explained with reference to the waveform diagrams shown in FIGS. 11a to 11c.

最初に前カーソルCSと後カーソルCEの幅
(lW)は変化せず、この幅を保持しながら両カ
ーソルCS,CEを左右に移動させる場合の動作
について説明する。この場合には、カーソル始
点設定部34のロータリスイツチが操作され
る。CPU26はこのロータリスイツチが操作
されたか否かを監視し(第8図の手順P31)、操
作されていない場合には、距離lS,lCS,lW,lCE
を現在のままの値とし(手順P32)、さきに第7
図に示すフローチヤートを用いて説明したカー
ソル表示処理を実行する(手順P33)。なお、第
8図および第10図に示すフローチヤートにお
いて、カーソル位置処理を実行する前の各距離
はダツシユを付して(lS′,lCS′,lW′,lCE′)表
し、前記処理を実行した後の各距離はダツシユ
を付さずに(lS,lCS,lW,lCE)表す。以下で
は、カーソル幅設定部35、測定範囲設定部3
7は操作されていないので、lW=lW′,lR=lR
である。
First, we will explain the operation when the widths (l W ) of the front cursor C S and the rear cursor C E do not change, and both cursors C S and C E are moved left and right while maintaining these widths. In this case, the rotary switch of the cursor starting point setting section 34 is operated. The CPU 26 monitors whether or not this rotary switch has been operated (step P 31 in Fig. 8), and if it has not been operated, the distances l S , l CS , l W , l CE
Let the value remain as it is (step P 32 ), and first set the seventh
The cursor display process explained using the flowchart shown in the figure is executed (step P33 ). In the flowcharts shown in FIGS. 8 and 10, each distance before executing the cursor position processing is expressed with a dash (l S ′, l CS ′, l W ′, l CE ′), Each distance after performing the above processing is expressed as (l S , l CS , l W , l CE ) without a dash. In the following, the cursor width setting section 35, the measurement range setting section 3
7 is not operated, so l W = l W ′, l R = l R
It is.

カーソル始点設定部34のロータリスイツチ
が操作されると、手順P31でこれが判断される。
次いで、当該ロータリスイツチが正方向に回動
されたか負方向に回動されたかが判断される
(手順P34)。ロータリスイツチが正方向に回動
された場合、即ち、カーソルCS,CEを第5図
で右方向に移動させう場合、ロータリスイツチ
の操作量が読込まれる(手順P35)。以下、いず
れの方向の操作量もカーソルCS,CEを距離Δl1
移動させる量として説明する。この距離Δl1
現在の距離lCE′に加算(lCE′+Δl1)され、幅lR
と比較される(手順P36)。
When the rotary switch of the cursor start point setting section 34 is operated, this is determined in step P31 .
Next, it is determined whether the rotary switch has been rotated in the positive direction or in the negative direction (step P34 ). When the rotary switch is rotated in the positive direction, that is, when the cursors C S and CE are moved to the right in FIG. 5, the operating amount of the rotary switch is read (step P 35 ). Below, the operation amount in any direction is determined by moving the cursors C S and C E by the distance Δl 1
This will be explained as the amount of movement. This distance Δl 1 is added to the current distance l CE ′ (l CE ′ + Δl 1 ) and the width l R
(Step P 36 ).

ここで、比較後の処理を第9図a〜cに示す
波形図により説明する。各図{第9図d,eも
含む、}は液晶表示部31の表示面を示し、第
5図に示す部分と同一部分には同一符号が付さ
れている。第9図aはカーソルCS,CEが第5
図に示す位置と同じ位置にある状態を示し、こ
れが現在位置とされ、以後の説明はこの位置か
らのカーソルCS,CEの移動の説明となる。
Here, the processing after the comparison will be explained with reference to the waveform diagrams shown in FIGS. 9a to 9c. Each figure {including FIGS. 9 d and 9 e} shows the display surface of the liquid crystal display section 31, and the same parts as shown in FIG. 5 are given the same reference numerals. In Figure 9a, the cursors C S and C E are at the 5th position.
The state is shown in the same position as shown in the figure, and this is considered the current position, and the following explanation will be about the movement of the cursors C S and C E from this position.

手順P36で{(lCE′+Δl)<lR}と判断された場
合は、カーソルCS,CEが第9図bに示す位置
となる場合であり、又{(lCE′+Δl1)=lR}と判
断された場合は、カーソルCS,CEが第9図c
に示す位置、即ち後カーソルCEが測定範囲3
1Aの右端と一致する位置となる場合である。
これらの場合、距離lS,lWはそのままであり、
又、距離lCSは距離(lCE′+Δl1)に変更され、
距離lCEは距離(lCE′+Δl1)に変更される(手
順P37)。これらの距離に基づいてカーソル表示
処理がなされ(手順P33)、カーソルCS,CEは右
方向へ移動して第9図b,cに示すようなカー
ソル表示が現れる。
If it is determined in step P36 that {(l CE ′+Δl)<l R }, the cursors C S and CE are at the positions shown in FIG. 9b, and {(l CE ′+Δl 1 )=l R }, the cursors C S and C E will move to c in Figure 9.
The position shown in , that is, the rear cursor C E is measurement range 3.
This is a case where the position coincides with the right end of 1A.
In these cases, the distances l S , l W remain the same,
Also, the distance l CS is changed to the distance (l CE ′+Δl 1 ),
The distance l CE is changed to the distance (l CE ′+Δl 1 ) (step P 37 ). Cursor display processing is performed based on these distances (step P33 ), and the cursors C S and C E move to the right, and cursor displays as shown in FIGS. 9b and 9c appear.

手順P36で{(lCE′+Δl1)>lR}と判断された
場合、後カーソルCEが測定範囲31Aの右端
からさらに右方へ外れる場合である。この場合
には、後カーソルCEが第9図cに示すように
右端の位置で停止したままとなる。即ち、距離
lCEはlCE=lR′、距離lCSはlCS=lR−(lCE′−lCS′)
−lR
−lWとされる(手順P38)。
If it is determined in step P36 that {(l CE ′+Δl 1 )>l R }, this is a case where the rear cursor C E deviates further to the right from the right end of the measurement range 31A. In this case, the rear cursor C E remains stopped at the right end position as shown in FIG. 9c. i.e. distance
l CE is l CE = l R ′, distance l CS is l CS = l R − (l CE ′−l CS ′)
−l R
-l W (Step P 38 ).

さて、手順P34ではロータリスイツチが負方
向に回動された場合、即ちカーソルCS,CE
第5図で左方向に移動させる場合、ロータリス
イツチの操作量(距離Δl1)が読込まれ(手順
P39)、値(lCS′−Δl1)の正負が判断される(手
順P40)。ここで値(lCS′−Δl1)が正であると判
断される場合は、カーソルCS,CEが第9図d
に示す位置となる場合であり、値(lCS′−Δl1
が0であると判断される場合は、カーソルCS
CEが第9図eに示す位置、即ち前カーソルCS
が測定範囲の左端と一致する位置となる場合で
ある。これらの場合、距離lS,lWはそのままで
あり、距離lCSは距離(lCS′−Δl1)に、距離lCE
は距離(lCE′−Δl1)に変更(手順P41)された
後、手順P33の処理がなされ、カーソルCS,CE
は左方へ移動して第9図d,eに示すようなカ
ーソル表示が現れる。
Now, in step P34 , when the rotary switch is rotated in the negative direction, that is, when the cursors C S and C E are moved to the left in Fig. 5, the operation amount (distance Δl 1 ) of the rotary switch is read. (procedure
P 39 ), and whether the value (l CS ′−Δl 1 ) is positive or negative is determined (step P 40 ). If the value (l CS ′−Δl 1 ) is determined to be positive, the cursors C S and C E are
The position is as shown in , and the value (l CS ′−Δl 1 )
is determined to be 0, the cursor C S ,
C E is at the position shown in Figure 9 e, i.e. the previous cursor C S
This is the case where the position coincides with the left end of the measurement range. In these cases, the distances l S and l W remain the same, the distance l CS becomes the distance (l CS ′−Δl 1 ), and the distance l CE
is changed to the distance (l CE ′−Δl 1 ) (step P 41 ), and then the process of step P 33 is performed, and the cursors C S , C E
moves to the left, and a cursor display as shown in FIG. 9d and e appears.

手順P40で{(lCE′−Δl)<0}と判断された
場合は、前カーソルCSが測定範囲31Aの左端
からさらに左方へ外れる場合である。この場合
には、距離lCSは0に、又、距離lCEはlCE=lCE′−
lCS′=lWに変更(手順P42)された後、手順P33
の処理がなされ、前カーソルCSが表示面の左端
と一致してカーソルは停止する。以上のような
処理により、カーソル幅を変えずにカーソル
CS,CEを移動することができる。
If it is determined in step P40 that {( lCE' -Δl)<0}, this means that the previous cursor C S is further leftward from the left end of the measurement range 31A. In this case, the distance l CS becomes 0, and the distance l CE becomes l CE = l CE ′−
After changing to l CS ′=l W (step P 42 ), step P 33
is processed, the previous cursor C S matches the left edge of the display screen, and the cursor stops. The above process allows you to move the cursor without changing the cursor width.
C S and C E can be moved.

次に、前カーソルCSと後カーソルCEの幅
(測定範囲の幅)を変更する場合の動作につい
て説明する。この場合には、カーソル幅設定部
35のロータリスイツチが操作される。CPU
26はこのロータリスイツチが操作されたか否
かを監視し(第10図の手順P51)、操作されて
いない場合には、距離lCS,lW,lCEを現在の値の
ままとし(手順P52)、カーソル表示処理を行う
(手順P53)。
Next, the operation when changing the width of the front cursor C S and the rear cursor C E (width of the measurement range) will be explained. In this case, the rotary switch of the cursor width setting section 35 is operated. CPU
26 monitors whether or not this rotary switch has been operated (step P 51 in Figure 10), and if it has not been operated, the distances l CS , l W , l CE remain at their current values (step P 51 in Figure 10). P52 ), and performs cursor display processing (step P53 ).

カーソル幅設定部35のロータリスイツチが
操作されると、手順P51でこれが判断され、次
いでその操作方向が判断される(手順P54)。カ
ーソル幅を正方向に拡げるべくロータリスイツ
チが正方向に回動された場合、ロータリスイツ
チの操作量が読込まれる(手順P55)、以下、い
ずれの方向の操作量もカーソル幅を距離Δl2
化させる量として説明する。次に、距離lCE′に
距離Δl2を加算した値と距離lRとが比較される
(手順P56)。この比較は、後カーソルCEを右方
向に移動させることによりカーソル幅を右方向
に拡げた場合、後カーソルCEが測定範囲31
Aの右端から外れるか否かを判断するためのも
のである。距離(lCE′+Δl2)が距離lR以下、即
ち後カーソルCEが測定範囲31Aの右端から
外れない場合には、距離lCE(lCE′+Δl2)にそれ
ぞれ変更する(手順P57)。この場合が第11図
b,cの波形図に示されている。第11図bの
波形図は距離(lCE′+Δl2)が距離lR未満の場
合、第11図cの波形図は距離(lCE′+Δl2
が距離lRと等しい場合の波形図である。なお、
第11図aは第9図aと同じ波形図である 手順P56において、後カーソルCEが測定範囲
31Aの右端から外れると判断された場合に
は、距離lCEをlCE=lRとし(手順P56)、カーソル
表示処理を行ない(手順P53)、さらにロータリ
スイツチを操作しても第11図cに示す状態で
カーソルを停止せしめる。
When the rotary switch of the cursor width setting section 35 is operated, this is determined in step P51 , and then the direction of the operation is determined (step P54 ). When the rotary switch is rotated in the positive direction to widen the cursor width, the operating amount of the rotary switch is read (step P 55 ).Hereafter, the operating amount in any direction is calculated by dividing the cursor width by a distance Δl 2 This will be explained as the amount to be changed. Next, the value obtained by adding the distance Δl 2 to the distance l CE ′ is compared with the distance l R (step P 56 ). This comparison shows that when the cursor width is expanded to the right by moving the rear cursor C E to the right, the rear cursor C E is within the measurement range 31.
This is to determine whether or not it deviates from the right end of A. If the distance (l CE ′+Δl 2 ) is less than the distance l R , that is, if the rear cursor C E does not deviate from the right edge of the measurement range 31A, change the distance to l CE (l CE ′+Δl 2 ) (Step P 57) . ). This case is shown in the waveform diagrams of FIGS. 11b and 11c. When the distance (l CE ′+Δl 2 ) is less than the distance l R , the waveform diagram in FIG. 11 b shows the distance (l CE ′+Δl 2 ).
is a waveform diagram when is equal to the distance l R. In addition,
Figure 11a is the same waveform diagram as Figure 9a. In step P56 , if it is determined that the rear cursor C E is out of the right end of the measurement range 31A, the distance l CE is set as l CE = l R. (Step P56 ), cursor display processing is performed (Step P53 ), and even if the rotary switch is operated, the cursor is stopped in the state shown in FIG. 11c.

一方、手順P54でロータリスイツチの操作方
向が負方向、即ちカーソル幅を縮小する方向で
あると判断された場合、その操作量が読込まれ
(手順P59)、次いで、距離lCE′から距離Δl2を減
算した値がlCSより大か否かが判断される(手
順P60)。この判断はロータリスイツチの操作量
(距離Δl2)が現在のカーソル幅lW′を越えるも
のであるか否かの判断である。手順P60で距離
Δl2がカーソル幅lW′以下であると判断された場
合、距離lCSはそのままとされ、距離lWは距離
(lW′−Δl2)、距離lCEは距離(lCE′−Δl2)に変更
され(手順P61)、カーソル表示処理がなされ
る。手順P61の処理は、後カーソルCEを距離Δl2
だけ左方へ移動させてカーソル幅を縮小する処
理である。
On the other hand, if it is determined in step P54 that the direction in which the rotary switch is operated is in the negative direction, that is, in the direction of reducing the cursor width, the amount of operation is read (step P59 ), and then the distance is calculated from the distance l CE '. It is determined whether the value obtained by subtracting Δl 2 is greater than l CS (step P 60 ). This judgment is made as to whether the operating amount of the rotary switch (distance Δl 2 ) exceeds the current cursor width l W '. If it is determined in step P 60 that the distance Δl 2 is less than or equal to the cursor width l W ′, the distance l CS is left as is, the distance l W is the distance (l W ′ − Δl 2 ), and the distance l CE is the distance ( l CE ′−Δl 2 ) (step P 61 ), and cursor display processing is performed. Processing in step P 61 moves the cursor C E to a distance Δl 2
This process reduces the cursor width by moving the cursor to the left.

手順P60で距離(lCE′−Δl2)が距離lCSより大
であると判断された場合には、距離lCS,lCE
距離lCSとし、又、距離lWを0とし(手順P62)、
カーソル表示処理を行う。手順P62の処理は後
カーソルCEを前カーソルCSを重ねて1つのカ
ーソルだけの表示とする処理である。
If it is determined in step P 60 that the distance (l CE ′−Δl 2 ) is greater than the distance l CS , the distances l CS and l CE are set to the distance l CS , and the distance l W is set to 0 ( Step P 62 ),
Performs cursor display processing. The process of step P62 is a process of superimposing the next cursor C E on the previous cursor C S so that only one cursor is displayed.

このように、カーソル始点設定部34および
カーソル幅設定部35のロータリスイツチを操
作することにより、カーソル位置を自由に移動
させることができ、測定範囲からさらに所望の
領域を自由に選択することができる。
In this way, by operating the rotary switches of the cursor start point setting section 34 and the cursor width setting section 35, the cursor position can be freely moved, and a desired area can be further freely selected from the measurement range. .

() マーク付与手段 次に、任意の波形にたいしてマークを付する
マーク付与手段について説明する。本実施例で
は表面波Sに文字「A」を付与する例について
述べる。最初に測定始点設定部36および測定
範囲設定部37により前述の測定範囲表示手段
に述べた処理にしたがつて液晶表示部31に第
21図に示される反射波T〜BSが表示される。
この表示を行なつた後第2図に示すマーク設定
部33のマークキースイツチ33bを押すこと
によりマーク設定処理が実行される。マーク設
定処理を第12図、第15図、第16図に示す
フローチヤートおよび第13図、第14図に示
す表示部平面図を参照しながら説明する。
() Mark Adding Means Next, a mark adding means for adding a mark to an arbitrary waveform will be explained. In this embodiment, an example in which the letter "A" is added to the surface wave S will be described. First, the measurement start point setting section 36 and the measurement range setting section 37 display the reflected waves T to B S shown in FIG. 21 on the liquid crystal display section 31 according to the process described in the measurement range display means described above.
After performing this display, the mark setting process is executed by pressing the mark key switch 33b of the mark setting section 33 shown in FIG. The mark setting process will be described with reference to flowcharts shown in FIGS. 12, 15, and 16 and plan views of the display section shown in FIGS. 13 and 14.

マークキースイツチ33bを押すと、第13
図に示すようにまず表示面に「エコーヲセンタ
クシテクダサイ」というメツセージが表示され
る。このような表示手段は周知であるので説明
は省略する。同時に、前カーソルCSと後カーソ
ルCEが表示面に表示される。これらカーソル
の表示の初期状態はどのような状態であつても
よいが、例えば、前カーソルCSが表示面の左端
にあり、かつ、カーソルの幅lWが測定範囲lR
適当な比率、例えば1/5程度であるとエコーの
選択操作が容易となる。次いで、表示面をみな
らがカーソル始点設定部34およびカーソル幅
設定部35は操作して前述のカーソル表示手段
における処理を実行し、第13図に示すように
前カーソルCSと後カーソルCEとで反射波Sを
挟むカーソル処理を行なう(第12図の手順
P71)。
When the mark key switch 33b is pressed, the 13th
As shown in the figure, the message ``Please send an echo'' is first displayed on the display screen. Since such display means are well known, their explanation will be omitted. At the same time, a previous cursor C S and a subsequent cursor C E are displayed on the display screen. The initial display state of these cursors may be in any state, but for example, if the previous cursor C S is at the left end of the display surface, and the width l W of the cursor is an appropriate ratio of the measurement range l R , For example, if it is about 1/5, the echo selection operation becomes easy. Next, the cursor start point setting section 34 and the cursor width setting section 35 operate the display screen to execute the processing in the cursor display means described above, and as shown in FIG. 13, the front cursor C S and the rear cursor C E and performs cursor processing to sandwich the reflected wave S (steps in Figure 12).
P71 ).

次に、両カーソルCS,CEで挟まれた領域に
おける波形のピーク値のうちの最大のものが選
択されとり出される(手順P72)。この選択は次
のようになされる。即ち、距離lCS,lCEに距離lS
を加算した値(lCS+lS),(lCE+lS)を値LS,LE
とすると、これらを波形メモリ23のアドレス
AM(LS),AM(LE)に対応させることができる。この
対応は、 AM(LS) *=β・LS ……(9) AM(LE) *=β・LE ……(10) を整数化することにより得ることができる。こ
のようにして得た波形メモリ23のアドレス
AM(LS)とアドレスAM(LE)との間のアドレスに格納
されているデータD(o)のうち最大値を周知の手
段で求める。そして、その最大値を格納してい
るアドレスを求める(手順P73)。このアドレス
をアドレスAM(p)とする。次いで、アドレス
AM(p)の距離l(MK)を、波形メモリ23と距離の関
係から次式により求める(手順P74)。
Next, the maximum peak value of the waveform in the area sandwiched between the cursors C S and CE is selected and extracted (step P 72 ). This selection is made as follows. That is, distance l CS , l CE and distance l S
The sum of the values (l CS + l S ) and (l CE + l S ) are the values L S , L E
Then, these are the addresses of the waveform memory 23.
It can be made compatible with A M(LS) and A M(LE) . This correspondence can be obtained by converting A M(LS) * = β·L S ...(9) A M(LE) * = β·L E ...(10) into integers. The address of the waveform memory 23 obtained in this way
The maximum value of the data D (o) stored at the address between A M(LS) and address A M(LE) is determined by known means. Then, the address storing the maximum value is determined (step P73 ). Let this address be address A M(p) . Then the address
The distance l (MK ) of A M(p ) is determined from the relationship between the waveform memory 23 and the distance using the following equation (step P 74 ).

l(MK)=AM(p)/β ……(11) 次に、反射波Sに付与するマークの選択を行
なう(手順P75)。このマークの選択は次のよう
に実行される。マーク設定部33のセツトキー
スイツチ33cを押すと(この動作はカーソル
CS,CEで反射波Sを挟んだ時点で行なわれ
る。)、前記距離l(MK)がRAM27の所定のアド
レスに登録されるとともに、第14図に示すよ
うに表示面に「マークヲセツテイシテクダサ
イ」というメツセージが表示される。そこで、
この表示にしたがい文字「A」がマーク設定部
33の文字キースイツチ33dのうち文字
「A」のキースイツチを押すことにより選択さ
れる。即ち、ROM28内の文字A〜Zが格納
されており、これらの各アドレスをAC(0)
AC(25)とすると、文字キースイツチ33dの各
キースイツチを押すことは対応するアドレスを
選択することになる。この文字選択の動作を第
15図に示すフローチヤートにより説明する。
なお、文字データはROM27の所定のアドレ
スに格納されている。
l (MK) = A M(p) /β (11) Next, a mark to be added to the reflected wave S is selected (step P 75 ). This mark selection is performed as follows. When the set key switch 33c of the mark setting section 33 is pressed (this operation is performed when the cursor
This is done when the reflected wave S is sandwiched between C S and CE . ), the distance l (MK) is registered at a predetermined address in the RAM 27, and the message ``SET MARK'' is displayed on the display screen as shown in FIG. Therefore,
In accordance with this display, the character "A" is selected by pressing the key switch for the character "A" among the character key switches 33d of the mark setting section 33. That is, characters A to Z in the ROM 28 are stored, and each address of these is A C(0) to
If A C(25) , pressing each key switch of the character key switch 33d selects the corresponding address. This character selection operation will be explained with reference to the flowchart shown in FIG.
Note that the character data is stored at a predetermined address in the ROM 27.

まず、文字キースイツチ33dのうちのいず
れかのキースイツチが押されたか否かが監視さ
れ(手順P81)、押されたと判断されると、その
押されたキースイツチに対応したアドレスが指
定され(手順P82)、次いでその指定されたアド
レスに格納された文字データが読出される(手
順P83)。
First, it is monitored whether any of the character keyswitches 33d has been pressed (step P81), and if it is determined that it has been pressed, the address corresponding to the pressed key switch is specified (step P81 ). 82 ), then the character data stored at the designated address is read out (step P83 ).

以上、第12図に示すフローチヤートにおけ
る手順P75の処理について説明した。上記のよ
うにして文字「A」がとり出されると、次には
この文字「A」を表示面に表示する手段が実行
される。このような表示処理手段を第16図に
示すフローチヤートを参照しながら説明する。
この処理は、第12図に示すマーク設定処理に
おける手順P74で求めた距離l(MK)を表示メモリ
32mのアドレスAL(MK)に対応させる処理とな
る。
The process of step P75 in the flowchart shown in FIG. 12 has been described above. When the letter "A" is extracted as described above, next, means for displaying the letter "A" on the display screen is executed. Such display processing means will be explained with reference to the flowchart shown in FIG.
This process is a process in which the distance l (MK) obtained in step P74 in the mark setting process shown in FIG. 12 is made to correspond to the address A L (MK) of the display memory 32m.

まず、距離l(MK)が測定範囲(表示される範
囲)にあるか否かの判定を行なう(手順P101)。
この判定は、lS≦l(MK)≦(lS+lR)により行なう。
距離lMKが測定範囲外であれば表示は行なわな
い。測定範囲内にあるとき、この距離l(MK)が表
示メモリのどのアドレスに対応するかを計算す
る(手順P102)。この計算は次式により行なわ
れる。
First, it is determined whether the distance l (MK) is within the measurement range (displayed range) (step P 101 ).
This determination is made based on l S ≦l (MK) ≦ (l S +l R ).
Distance l If MK is outside the measurement range, no display will be made. When it is within the measurement range, calculate which address in the display memory this distance l (MK) corresponds to (step P 102 ). This calculation is performed using the following formula.

AL(MK) *=KL×l(MK)−lS/lR ……(12) なお、KLは前述のように表示メモリ32m
の全アドレス数である。算出された数AL(MK) *
を整数化する(手順P103)ことによりアドレス
AL(MK)が決定される。次いで、このアドレス
AL(MK)に相当する位置、即ち、第13図、第1
4図において反射波Sのピーク位置と横軸(距
離軸又は時間軸)上で一致する位置に第12図
の手順P75でとり出された文字「A」を表示す
るため、コントローラ32に対して文字「A」
のデータをセツトする(手順P104)。そしてコ
ントローラ32の制御により前記のアドレス
AL(MK)に相当する文字「A」を表示する(手順
P105)。この表示は波形表示と重ならない位置、
例えば表示面上部になされるのが望ましい。
A L(MK) * =K L ×l (MK) −l S /l R ...(12) As mentioned above, K L is the display memory of 32 m.
is the total number of addresses. Calculated number A L(MK) *
By converting to an integer (step P 103 ), the address
A L(MK) is determined. Then this address
A position corresponding to L(MK) , i.e., Fig. 13, 1
In order to display the letter "A" extracted in step P75 of FIG. 12 at the position corresponding to the peak position of the reflected wave S on the horizontal axis (distance axis or time axis) in FIG. letter "A"
Set the data (Step P 104 ). Then, under the control of the controller 32, the address
A Display the letter “A” that corresponds to L(MK) (procedure
P105 ). This display is located at a position that does not overlap with the waveform display.
For example, it is desirable to place it on the upper part of the display screen.

上記のマーク表示処理により反射波Sに文字
「A」が付されると、以後、測定範囲が変更さ
れても、既に登録されている距離l(MK)を用い
て、変更の都度、手順P101〜P105の処理を実行
すれば、文字「A」は常に反射波Sに付随して
表示されることになる。
Once the letter "A" is added to the reflected wave S by the mark display process described above, from now on, even if the measurement range is changed, the already registered distance l (MK) will be used and step P will be applied each time the measurement range is changed. If the processes 101 to P105 are executed, the letter "A" will always be displayed accompanying the reflected wave S.

以下に1つの表示例を図により説明する。第
17図a〜eは表示部の平面図である。第17
図aは反射波T,S,Bが観測できるように表
示部に表示した図である。このように表示され
た反射波のうち、第17図bに示すように、上
述の処理により反射波Sに対してその上部に文
字「A」を表示する。なお、反射波Bに対して
も同様の処理によりその上部に文字「B」が付
与される。第17図cは測定範囲を変更して反
射波S近辺の測定を行なう場合の表示面を示
す。この場合も第16図に示すフローチヤート
の処理により反射波Sに文字「A」が付与され
る。この状態でゲインを低下させたり、又は探
触子2に接触不良が生じたりすると、第17図
dに示すように反射波Sが表示されなくなる。
しかし、文字「A」は超音波探傷器に故障が生
じていなければ表示されたままの状態にある。
したがつて、第17図dに示すような表示面が
現れた場合、ゲインの不足か探触子2の接触不
良であると判断することができる。第17図c
に示す状態から、今度は反射波Bの近辺を測定
したい場合、測定始点設定部36を操作して波
形の移動を行なえば、第17図eに示すように
反射波Bおよび文字「B」が現れる。これによ
り、この反射波が反射波Bであることも確認す
ることができる。即ち、反射波Bを表示するに
は、波形に関係なく文字「B」が現れるまで測
定始点設定部36を操作すればよく、操作が極
めて容易となる。
One display example will be explained below using a diagram. FIGS. 17a to 17e are plan views of the display section. 17th
Figure a is a diagram displayed on a display unit so that reflected waves T, S, and B can be observed. Among the reflected waves displayed in this way, as shown in FIG. 17b, the letter "A" is displayed above the reflected waves S by the above-described processing. Incidentally, the letter "B" is added to the upper part of the reflected wave B by the same process. FIG. 17c shows the display screen when measuring near the reflected wave S by changing the measurement range. In this case as well, the letter "A" is given to the reflected wave S by the process shown in the flowchart shown in FIG. If the gain is reduced in this state or a contact failure occurs in the probe 2, the reflected wave S will no longer be displayed as shown in FIG. 17d.
However, the letter "A" remains displayed unless a failure occurs in the ultrasonic flaw detector.
Therefore, when a display screen as shown in FIG. 17d appears, it can be determined that the gain is insufficient or the probe 2 has a poor contact. Figure 17c
If you want to measure the vicinity of reflected wave B from the state shown in Fig. 17, by operating the measurement start point setting section 36 to move the waveform, the reflected wave B and the letter "B" will be displayed as shown in Fig. 17e. appear. Thereby, it can also be confirmed that this reflected wave is reflected wave B. That is, in order to display the reflected wave B, it is sufficient to operate the measurement start point setting section 36 until the letter "B" appears regardless of the waveform, making the operation extremely easy.

() マークサーチ手段 ここで、上記のように文字「A」又は文字
「B」を付した反射波S又は反射波Bが表示部
に表示されていないときこれを表示する手段を
第18図に示すフローチヤートを参照して説明
する。このような表示は、上述のような反射波
Sの近辺を測定した後、今度は反射波Bの近辺
を測定したい場合に限らず、いずれの反射波も
表示されていない場合、現在表示されている範
囲がどの範囲であるかを確認するときにも必要
である。
() Mark search means Here, Fig. 18 shows a means for displaying when the reflected wave S or reflected wave B marked with the letter "A" or the letter "B" as described above is not displayed on the display section. This will be explained with reference to the flowchart shown. This kind of display is not limited to cases where you want to measure the vicinity of reflected wave B after measuring the vicinity of reflected wave S as described above, but also when you want to measure the vicinity of reflected wave B next time. This is also necessary when confirming which range you are currently in.

今、反射波Sおよび反射波Bにそれぞれ文字
「A」、「B」が付与されており、かつ、いずれ
の反射波も液晶表示部31に表示されてないな
状態にあるものとする。ここで反射波Sを表示
したい場合には、まず、サーチキースイツチ3
3eを押す。これにより、第18図に示すフロ
ーチヤートの測定範囲自動設定処理が実行可能
の状態となる。サーチキースイツチ33eに続
いて文字「A」のキースイツチを押す。これに
よりCPU26で押されたキースイツチの文字
を識別し(手順P111)、この文字が既に設定し
てRAM27に格納されている文字に一致する
か否かを判断する(手順P112)。一致している
場合には、同じくこの文字「A」に対応する反
射波Sのピークの距離l(MK)をRAM27から読
出し(手順P113)、この距離l(MK)と既に設定さ
れている距離lRを算出する(手順P114)。
It is now assumed that the letters "A" and "B" are assigned to the reflected wave S and the reflected wave B, respectively, and that neither reflected wave is displayed on the liquid crystal display section 31. If you want to display the reflected wave S here, first press the search key switch 3.
Press 3e. As a result, the measurement range automatic setting process shown in the flowchart shown in FIG. 18 becomes executable. Press the search key switch 33e and then press the key switch labeled "A". Thereby, the character of the key switch pressed by the CPU 26 is identified (step P 111 ), and it is determined whether this character matches the character already set and stored in the RAM 27 (step P 112 ). If they match, read out the distance l (MK) of the peak of the reflected wave S corresponding to this letter "A" from the RAM 27 (step P 113 ), and select the distance l (MK) that has already been set. Calculate the distance l R (step P 114 ).

lS=l(MK)−1/2lR ……(13) (13)式によ決定された新しい距離lSを用いて通
常の波形表示を行なうと、反射波Sはその付与
された文字「A」とともに液晶表示部31の表
示面の中央に表示される。この場合、反射波S
がゲイン不足等によつて表示されなくても、文
字「A」が表示されているのでこれにより反射
波Sの位置を確実に把握することができる。
l S = l (MK) -1/2l R ...(13) When normal waveform display is performed using the new distance l S determined by equation (13), the reflected wave S will be It is displayed at the center of the display screen of the liquid crystal display section 31 along with "A". In this case, the reflected wave S
Even if it is not displayed due to lack of gain or the like, the letter "A" is displayed, so the position of the reflected wave S can be reliably grasped.

手順P112において、マークMKがさきに設定
されているマークと一致しないと判断された場
合、不一致処理が実行される(手順P115)。こ
の不一致処理は、例えば不一致の旨を表示する
等種々の処理が考えられる。
If it is determined in step P112 that the mark MK does not match the previously set mark, a mismatch process is executed (step P115 ). Various types of processing can be considered for this mismatch processing, such as displaying a message to the effect that there is a mismatch.

このように、本実施例では、所定の反射波に
対して特定の文字を付与するようにしたので、
測定の目安となる所定の反射波を確実に認識す
ることができ、これにより、観測者は現在測定
している個所を正確に把握することができ、か
つ、反射波が得られない場合、ゲインの不足や
探触子2の接触不良か、又は超音波探傷器の故
障かを直ちに判断することができる。さらに、
文字を付与された反射波が表示されていない場
合、これを表示したいときは、簡単な操作で容
易に表示することができ、ひいては探傷操作が
容易となる。
In this way, in this embodiment, specific characters are given to predetermined reflected waves, so
A predetermined reflected wave that serves as a measurement guideline can be reliably recognized, allowing the observer to accurately grasp the location currently being measured, and if no reflected wave is obtained, the gain It is possible to immediately determine whether there is a lack of water, poor contact of the probe 2, or a malfunction of the ultrasonic flaw detector. moreover,
If the reflected wave with the text attached is not displayed and you want to display it, you can easily display it with a simple operation, which in turn facilitates the flaw detection operation.

なお、上記実施例の説明では、表示部として
液晶表示部を例示して説明したが、液晶表示部
に限ることなく、通常の陰極線管、プラズマ表
示器等を用いることができる。又、反射波に対
して文字(アルフアベツト)を付与する例につ
いて説明したが、マークは、他の種の文字、記
号、標識であつても差し支えなく、特に正確な
測定が必要である場合、反射波のピーク位置に
対応する個所の線分は又は矢印を付与すればそ
の正確な位置を示すことができる。さらに、文
字の設定を当該文字のキースイツチで行なう例
について説明したが、これに限ることなくロー
タリスイツチで行なつてもよく、又、第2図に
示すような0〜9のキースイツチの組合せによ
り設定を行なつてもよい。さらに又、マーク付
与に際して反射波T〜BSを表示する例につい
て説明したが、所定の反射波が判つている場
合、反射波T〜BSを全部を表示する必要はな
く、所定の反射波を含む限られた範囲を表示し
てもよい。又、本実施例では、被検査物1の表
面、底面からの反射波S,Bにマークを付与し
たが、標準的な欠陥を有する試験片などでは欠
陥波をにマークを付与しても有効である。又、
所定の反射波の選択を指示するメツセージの表
示とともにカーソルも表示される例について説
明したが、カーソルは常時表示しておくことも
できる。
In the above embodiments, a liquid crystal display section was used as an example of the display section, but the present invention is not limited to the liquid crystal display section, and ordinary cathode ray tubes, plasma displays, etc. can be used. In addition, although we have explained an example of adding letters (alphabet) to reflected waves, the mark may be any other kind of letters, symbols, or signs, and especially if accurate measurement is required, The exact position can be indicated by adding an arrow to the line segment corresponding to the peak position of the wave. Furthermore, although an example has been described in which a character is set using the key switch of the character concerned, the setting is not limited to this, and may be performed using a rotary switch, or may be set using a combination of key switches 0 to 9 as shown in Figure 2. You may also do this. Furthermore, although we have explained an example of displaying the reflected waves T to B S when adding a mark, if a predetermined reflected wave is known, it is not necessary to display all of the reflected waves T to B S. A limited range including the following may be displayed. In addition, in this example, marks were added to the reflected waves S and B from the surface and bottom of the object to be inspected 1, but it is also effective to add marks to the defective waves for test pieces with standard defects. It is. or,
Although an example has been described in which a cursor is displayed along with a message instructing selection of a predetermined reflected wave, the cursor can also be displayed at all times.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べたように、本発明では、所定の反射波
に対してマークを付与するようしたので、測定の
目安となる反射波を確実に認識することができ、
これにより、観測者は現観測位置を正確に把握す
ることができ、又、反射波が得られない場合、超
音波探傷器の故障か否かの判断を行なうことがで
き、チエツクのための時間や手間の浪費を避ける
ことができる。さらに、マークが付与された反射
波が表示されていない場合、これを簡単な操作で
表示することができ、これにより、探傷操作を容
易にすることができる。
As described above, in the present invention, since a mark is attached to a predetermined reflected wave, it is possible to reliably recognize the reflected wave as a guide for measurement.
As a result, the observer can accurately grasp the current observation position, and if no reflected waves are obtained, the observer can determine whether the ultrasonic flaw detector is malfunctioning or not. You can avoid wasting time and effort. Furthermore, if the reflected wave with a mark is not displayed, it can be displayed with a simple operation, thereby facilitating the flaw detection operation.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例に係る超音波探傷器の
ブロツク図、第2図は第1図に示すマーク設定部
のキースイツチの配置図、第3図は反射波の一部
の波形図、第4図は第1図に示す波形メモリのブ
ロツク図、第5図は測定範囲、カーソル表示及び
マーク付与を説明する波形図、第6図および第7
図はそれぞれ測定範囲表示およびカーソル表示の
動作を説明するフローチヤート、第8図はカーソ
ル位置処理を説明するフローチヤート、第9図
a,b,c,d,eはカーソル位置処理の場合の
表示波形図、第10図はカーソル幅処理を説明す
るフローチヤート、第11図a,b,cはカーソ
ル幅処理の場合の表示波形図、第12図はマーク
付与を説明するフローチヤート、第13図および
第14図はマーク付与の場合の表示面の平面図、
第15図および第16図は第12図に示すフロー
チヤートの一部を詳細に説明するフローチヤー
ト、第17図a,b,c,d,eはマークを付与
した反射波を説明する表示面の平面図、第18図
はマークが付与された反射波を表示部中央に現出
させるための動作を説明するフローチヤート、第
19図は従来の超音波探傷器のブロツク図、第2
0図は水浸法を説明する断面図、第21図は反射
波の波形図である。 1……被検査物体、1f……欠陥、2……超音
波探触子、5……送信部、6……受信部、21…
…超音波探傷器、22……A/D変換部、23…
…波形メモリ、24……アドレスカウンタ、25
……タイミング回路、26……CPU、27……
RAM、28……ROM、30……キーボード入
力部、31……液晶表示部、32……表示部コン
トローラ、32m……表示メモリ、33……マー
ク設定部、34……カーソル始点設定部、35…
…カーソル幅設定部、36……測定始点設定部、
37……測定範囲設定部。
FIG. 1 is a block diagram of an ultrasonic flaw detector according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a layout diagram of a key switch in the mark setting section shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a waveform diagram of a part of a reflected wave. FIG. 4 is a block diagram of the waveform memory shown in FIG. 1, FIG. 5 is a waveform diagram explaining the measurement range, cursor display, and marking, and FIGS.
The figures are flowcharts explaining the operation of measurement range display and cursor display, Figure 8 is a flowchart explaining cursor position processing, and Figures 9 a, b, c, d, and e are displays for cursor position processing. Waveform diagrams; FIG. 10 is a flowchart explaining cursor width processing; FIGS. 11a, b, and c are display waveform diagrams for cursor width processing; FIG. 12 is a flowchart explaining marking; FIG. 13 and FIG. 14 is a plan view of the display surface in the case of marking,
15 and 16 are flowcharts explaining in detail a part of the flowchart shown in FIG. 12, and FIGS. 17a, b, c, d, and e are display screens explaining reflected waves with marks added. 18 is a flowchart explaining the operation for making a reflected wave with a mark appear in the center of the display section, FIG. 19 is a block diagram of a conventional ultrasonic flaw detector, and FIG.
FIG. 0 is a cross-sectional view for explaining the water immersion method, and FIG. 21 is a waveform diagram of reflected waves. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Object to be inspected, 1f...Defect, 2...Ultrasonic probe, 5...Transmitter section, 6...Receiver section, 21...
...Ultrasonic flaw detector, 22...A/D converter, 23...
... Waveform memory, 24 ... Address counter, 25
...Timing circuit, 26...CPU, 27...
RAM, 28...ROM, 30...Keyboard input section, 31...Liquid crystal display section, 32...Display controller, 32m...Display memory, 33...Mark setting section, 34...Cursor start point setting section, 35 …
...Cursor width setting section, 36...Measurement start point setting section,
37...Measurement range setting section.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 超音波探触子に対して所定のパルスを出力す
る送信部と、前記超音波探触子からの信号を受信
する受信部と、この受信部で受信された信号に基
づいて当該信号の波形を表示する表示部とを備え
た超音波探傷器において、前記受信部で受信され
た入力信号を所定のサンプリング周期で順次アド
レスに記憶する波形メモリと、前記表示部に表示
するデータを記憶する表示メモリと、前記表示部
に表示すべき測定範囲に応じて前記波形メモリの
アドレスを選択する選択手段と、この選択手段に
より選択されたアドレスのデータを対応する前記
表示メモリのアドレスに移送するデータ移送手段
と、前記表示メモリのデータを前記表示部に表示
する波形表示手段と、表示された反射波のうち所
定の反射波を選択する反射波選択手段と、選択さ
れた反射波の距離を演算する演算手段と、演算さ
れた距離に対応する前記表示メモリのアドレスを
決定するアドレス決定手段と、決定されたアドレ
スに対応する前記表示部の位置に所定のマークを
表示するマーク表示手段と、前記マークが前記表
示部に表示されていないとき前記測定範囲始点を
変更して前記マークを前記表示部に表示させるマ
ークサーチ手段とを設けたことを特徴とする超音
波探傷器のマーク表示装置。 2 特許請求の範囲第1項において、前記反射波
選択手段は、前記所定の反射波の前後にカーソル
を表示するカーソル表示手段と、前記波形メモリ
におけるこれら2つのカーソルの間に記憶された
最大値を記憶したアドレスを求める演算手段とで
構成されていることを特徴とする超音波探傷器の
マーク表示装置。 3 特許請求の範囲第1項において、前記所定の
マークは、記憶部に記憶された複数のマークから
マーク選択手段により選択されることを特徴とす
る超音波探傷器のマーク表示装置。 4 特許請求の範囲第1項において、前記マーク
サーチ手段は、前記演算手段により演算された距
離と前記測定範囲とに基づいて測定範囲の始点を
演算する他の演算手段と、この他の演算手段に演
算を指令する指令手段とを備えていることを特徴
とする超音波探傷器のマーク表示装置。
[Claims] 1. A transmitter that outputs a predetermined pulse to an ultrasound probe, a receiver that receives a signal from the ultrasound probe, and a receiver that receives a signal from the ultrasound probe. The ultrasonic flaw detector includes a waveform memory that sequentially stores the input signal received by the receiving unit in addresses at a predetermined sampling period, and a display unit that displays the waveform of the signal based on the signal. a display memory for storing data to be displayed, a selection means for selecting an address of the waveform memory according to a measurement range to be displayed on the display section, and a selection means for storing data at the address selected by the selection means in the corresponding display memory. data transfer means for transferring data to an address; waveform display means for displaying data in the display memory on the display section; reflected wave selection means for selecting a predetermined reflected wave from among the displayed reflected waves; calculation means for calculating the distance of the wave; address determination means for determining the address of the display memory corresponding to the calculated distance; and a mark for displaying a predetermined mark at a position on the display section corresponding to the determined address. An ultrasonic flaw detector comprising: a display means; and a mark search means for changing the measurement range starting point and displaying the mark on the display when the mark is not displayed on the display. Mark display device. 2. In claim 1, the reflected wave selection means includes cursor display means for displaying a cursor before and after the predetermined reflected wave, and a maximum value stored between these two cursors in the waveform memory. 1. A mark display device for an ultrasonic flaw detector, characterized in that the mark display device is comprised of arithmetic means for determining an address in which the address is stored. 3. The mark display device for an ultrasonic flaw detector according to claim 1, wherein the predetermined mark is selected by mark selection means from a plurality of marks stored in a storage section. 4. In claim 1, the mark search means includes another calculation means that calculates a starting point of a measurement range based on the distance calculated by the calculation means and the measurement range, and another calculation means. A mark display device for an ultrasonic flaw detector, comprising command means for commanding calculations.
JP62294153A 1987-11-24 1987-11-24 Mark display device for ultrasonic flaw detector Granted JPH01136064A (en)

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JP62294153A JPH01136064A (en) 1987-11-24 1987-11-24 Mark display device for ultrasonic flaw detector

Applications Claiming Priority (1)

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JP62294153A JPH01136064A (en) 1987-11-24 1987-11-24 Mark display device for ultrasonic flaw detector

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JPH01136064A JPH01136064A (en) 1989-05-29
JPH0561589B2 true JPH0561589B2 (en) 1993-09-06

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JPH01136064A (en) 1989-05-29

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