JPH0560068A - Vacuum device and method for preventing refuse from sticking - Google Patents
Vacuum device and method for preventing refuse from stickingInfo
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- JPH0560068A JPH0560068A JP21700491A JP21700491A JPH0560068A JP H0560068 A JPH0560068 A JP H0560068A JP 21700491 A JP21700491 A JP 21700491A JP 21700491 A JP21700491 A JP 21700491A JP H0560068 A JPH0560068 A JP H0560068A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は真空装置及びチャンバ内
の被処理物へのゴミ付着防止方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum device and a method for preventing dust from adhering to an object to be processed in a chamber.
【0002】近年の半導体装置の製造に用いる真空装置
においては、被処理物へのゴミの付着を低減することが
要求されているが、チャンバ内を真空から大気圧へ、大
気圧から真空へと急激に室内圧を変化させるのに伴い、
真空装置のチャンバ内のゴミが浮遊して被処理物に付着
している。In recent vacuum devices used for manufacturing semiconductor devices, it is required to reduce the adhesion of dust to the object to be processed, but the inside of the chamber is changed from vacuum to atmospheric pressure and from atmospheric pressure to vacuum. As the room pressure changes rapidly,
The dust in the chamber of the vacuum device floats and adheres to the object to be processed.
【0003】以上のような状況から、真空装置のチャン
バ内の急激な圧力の変動に伴うゴミの被処理物への付着
を防止することが可能な真空装置及びゴミ付着防止方法
が要望されている。Under the circumstances described above, there is a demand for a vacuum device and a dust adhesion preventing method capable of preventing dust from adhering to an object to be processed due to a rapid change in pressure in the chamber of the vacuum device. ..
【0004】[0004]
【従来の技術】従来の真空装置及びゴミ付着防止方法に
ついて図3〜図4により詳細に説明する。2. Description of the Related Art A conventional vacuum device and a dust adhesion preventing method will be described in detail with reference to FIGS.
【0005】図3は従来の真空装置の概略構造を示す
図、図4は従来の真空装置における圧力変動率の変化状
況を示す図である。従来の真空装置は図3に示すよう
に、被処理物6を処理するチャンバ11には、このチャン
バ11の室内の気体を排気する真空配管12と、この真空配
管12とチャンバ11との間に真空バルブ12a が設けられて
おり、このチャンバ11の室内に気体を供給するベント配
管13と、このベント配管13とチャンバ11との間にはバル
ブ13aが設けられている。FIG. 3 is a diagram showing a schematic structure of a conventional vacuum device, and FIG. 4 is a diagram showing changes in the pressure fluctuation rate in the conventional vacuum device. As shown in FIG. 3, the conventional vacuum apparatus has a chamber 11 for processing an object to be processed 6, a vacuum pipe 12 for exhausting gas inside the chamber 11, and a space between the vacuum pipe 12 and the chamber 11. A vacuum valve 12a is provided, a vent pipe 13 for supplying gas into the chamber 11 is provided, and a valve 13a is provided between the vent pipe 13 and the chamber 11.
【0006】このような真空装置のチャンバ11内の気体
を排気する場合には、このベント配管13のバルブ13a を
閉じ、真空配管12の真空バルブ12a を開き、チャンバ11
内の気体を排気している。When the gas in the chamber 11 of such a vacuum apparatus is exhausted, the valve 13a of the vent pipe 13 is closed and the vacuum valve 12a of the vacuum pipe 12 is opened to open the chamber 11
The gas inside is exhausted.
【0007】また、このような真空装置のチャンバ11内
に気体を供給する場合には、この真空配管12の真空バル
ブ12a を閉じ、このベント配管13のバルブ13a を開き、
チャンバ11内に気体を供給している。When supplying a gas into the chamber 11 of such a vacuum device, the vacuum valve 12a of the vacuum pipe 12 is closed and the valve 13a of the vent pipe 13 is opened.
Gas is supplied into the chamber 11.
【0008】このようにして急激に気体を排気したり供
給したりすると、図4に示すように初期段階において圧
力変動率が急激に大きくなり、これに伴いチャンバ11内
のゴミが浮遊して被処理物6に付着している。When the gas is rapidly exhausted or supplied in this way, the pressure fluctuation rate increases rapidly in the initial stage, as shown in FIG. 4, and along with this, the dust in the chamber 11 floats and becomes covered. It is attached to the processed material 6.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】以上説明した従来の真
空装置においては、バルブを開いた場合のチャンバ内の
圧力変動率が急激に大きくなりチャンバ内のゴミが浮遊
して被処理物に付着するという問題点があり、配管にオ
リフィスを設けてこのチャンバ内の圧力の急激な変動を
抑制しているが、効果が少なく排気時間が長くなるとい
う問題点があり、配管を複数化することにより排気量或
いは供給量を変えながら排気したり供給したりしてチャ
ンバ内の圧力の急激な変動を抑制しているが、構造が複
雑になって設備費が必要になり、この場合でも二系統が
限度であり充分な効果が得られないという問題点があっ
た。In the conventional vacuum apparatus described above, the rate of pressure fluctuation in the chamber when the valve is opened increases rapidly, and the dust in the chamber floats and adheres to the object to be processed. There is a problem that the piping is provided with an orifice to suppress the rapid fluctuation of the pressure in the chamber, but there is a problem that the effect is small and the exhaust time becomes long. The rapid fluctuation of the pressure in the chamber is suppressed by exhausting or supplying while changing the amount or supply amount, but the structure becomes complicated and the equipment cost is required. However, there is a problem that a sufficient effect cannot be obtained.
【0010】本発明は以上のような状況から、真空装置
のチャンバ内の気体の排気或いはチャンバ内への気体の
供給の際に、チャンバ内にゴミが浮遊し被処理物に付着
するのを防止することが可能となる真空装置及びゴミ付
着防止方法の提供を目的としたものである。In view of the above situation, the present invention prevents dust from floating in the chamber and adhering to the object to be processed when the gas in the chamber of the vacuum apparatus is exhausted or the gas is supplied into the chamber. It is an object of the present invention to provide a vacuum device and a dust adhesion preventing method that can be performed.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】本発明の真空装置は、被
処理物を処理するチャンバの室内の気体を排気する真空
配管と、この真空配管とこのチャンバとの間に設けた真
空バルブと、このチャンバの室内に気体を供給するベン
ト配管と、このベント配管とこのチャンバとの間に設け
たバルブを備えた真空装置において、このバルブと並列
に設けたニードルバルブと、この真空配管とこのベント
配管との間に設けたバイパス配管と、このバイパス配管
とこの真空配管或いはこのベント配管との間に設けたバ
ルブとニードルバルブと、これらのバルブとニードルバ
ルブの開閉を制御するコントローラとを具備するように
構成する。A vacuum device according to the present invention comprises a vacuum pipe for exhausting gas in a chamber for processing an object to be processed, and a vacuum valve provided between the vacuum pipe and the chamber. In a vacuum device equipped with a vent pipe for supplying gas into the chamber of this chamber and a valve provided between this vent pipe and this chamber, a needle valve provided in parallel with this valve, this vacuum pipe and this vent A bypass pipe provided between the pipe and the pipe, a valve and a needle valve provided between the bypass pipe and the vacuum pipe or the vent pipe, and a controller for controlling opening and closing of the valve and the needle valve. To configure.
【0012】本発明のゴミ付着防止方法は、上記の真空
装置を用いてこのチャンバ内の気体を排気する場合のこ
のチャンバ内のこの被処理物へのゴミ付着防止方法であ
って、このベント配管のバルブとニードルバルブを閉
じ、この真空配管の真空バルブを開き、このバイパス配
管のこのバルブとニードルバルブの開閉をこのチャンバ
の室内圧に基づきコントローラにより制御して、このチ
ャンバ内の気体を排気するように構成する。The dust adhesion preventing method of the present invention is a method for preventing dust adhesion to the object to be processed in the chamber when the gas in the chamber is exhausted using the above vacuum device, and the vent pipe is used. The valve and the needle valve of are closed, the vacuum valve of this vacuum pipe is opened, the opening and closing of this valve and the needle valve of this bypass pipe are controlled by the controller based on the chamber internal pressure of this chamber, and the gas in this chamber is exhausted. To configure.
【0013】本発明のゴミ付着防止方法は、上記の真空
装置を用いて前記チャンバ内へ気体を供給する場合のこ
のチャンバ内のこの被処理物へのゴミ付着防止方法であ
って、この真空配管の真空バルブ及びこのバイパス配管
のこのバルブとニードルバルブとを閉じ、このベント配
管のバルブとニードルバルブの開閉をこのチャンバの室
内圧に基づきコントローラにより制御して、このチャン
バ内に気体を供給するように構成する。The dust adhesion preventing method of the present invention is a method for preventing dust adhesion to the object to be processed in the chamber when the gas is supplied into the chamber by using the vacuum device described above. The vacuum valve and the valve of the bypass pipe and the needle valve are closed, and the opening and closing of the valve of the vent pipe and the needle valve are controlled by the controller based on the room pressure of the chamber to supply gas into the chamber. To configure.
【0014】[0014]
【作用】即ち本発明においては、真空配管とベント配管
との間にバイパス配管を設け、このバイパス配管とこの
真空配管或いはこのベント配管との間にバルブとニード
ルバルブを設けているから、チャンバ内の気体を排気す
る場合にはこのバイパス配管内に気体を流すことにより
チャンバ内の気体の急激な圧力変動が生じるのを防止す
ることでき、チャンバ内に気体を供給する場合にはベン
ト配管とチャンバ間に設けたニードルバルブにより供給
量を制御することができるので、チャンバ内を浮遊する
ゴミが減少し、被処理物にゴミが付着するのを防止する
ことが可能となり、チャンバの室内圧に基づいてコント
ローラによりバルブの開閉を制御できるので、チャンバ
内の気体の排気或いはチャンバ内への気体の供給に要す
る時間を短縮することが可能となる。In the present invention, the bypass pipe is provided between the vacuum pipe and the vent pipe, and the valve and the needle valve are provided between the bypass pipe and the vacuum pipe or the vent pipe. When the gas is exhausted, it is possible to prevent a sudden pressure change of the gas in the chamber by flowing the gas in the bypass pipe, and when supplying the gas in the chamber, the vent pipe and the chamber Since the supply amount can be controlled by the needle valve provided between the chambers, the amount of dust floating in the chamber can be reduced, and it is possible to prevent dust from adhering to the object to be processed. Since the controller can control the opening and closing of the valve by the controller, the time required to exhaust the gas in the chamber or supply the gas into the chamber is shortened. Theft is possible.
【0015】[0015]
【実施例】以下図1〜図2により本発明の一実施例につ
いて詳細に説明する。図1は本発明による一実施例の真
空装置の概略構造を示す図、図2は本発明による一実施
例の真空装置における圧力変動率の変化状況を示す図で
ある。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to FIGS. FIG. 1 is a diagram showing a schematic structure of a vacuum device of an embodiment according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing a change situation of a pressure fluctuation rate in the vacuum device of an embodiment of the present invention.
【0016】本実施例の真空装置は図1に示すように、
被処理物6を処理するチャンバ1には、このチャンバ1
の室内の気体を排気する真空配管2とこのチャンバ1と
の間には真空バルブ2aが設けられており、このチャンバ
1の室内に気体を供給するベント配管3とこのチャンバ
1との間にはバルブ3aとニードルバルブ3bとが並列に設
けられている。As shown in FIG. 1, the vacuum device of this embodiment has the following structure.
The chamber 1 for processing the workpiece 6 includes the chamber 1
A vacuum valve 2a is provided between the chamber 1 and the vacuum pipe 2 for exhausting the gas inside the chamber, and between the chamber 1 and the vent pipe 3 for supplying the gas into the chamber 1. The valve 3a and the needle valve 3b are provided in parallel.
【0017】このような真空装置のチャンバ1内の気体
を排気する場合には、コントローラ5によりこのベント
配管3のバルブ3aとニードルバルブ3bを閉じ、真空配管
2の真空バルブ2aとバイパス配管4のバルブ4aとニード
ルバルブ4bとを開き、真空配管2の流量とバイパス配管
4の流量との比を1:3程度になるように制御してバイ
パス配管4の流量の方を大きくしてチャンバ1内の気体
を排気している。When the gas in the chamber 1 of such a vacuum device is exhausted, the controller 5 closes the valve 3a and the needle valve 3b of the vent pipe 3, and the vacuum valve 2a of the vacuum pipe 2 and the bypass pipe 4 are closed. Open the valve 4a and the needle valve 4b and control the ratio of the flow rate of the vacuum pipe 2 to the flow rate of the bypass pipe 4 to be about 1: 3 to increase the flow rate of the bypass pipe 4 to increase the inside of the chamber 1. Is exhausting the gas.
【0018】その後チャンバ1内に設けたセンサ5aがチ
ャンバ1内の圧力変動率が減少したのを検出すれば、コ
ントローラ5によりバイパス配管4のバルブ4aとニード
ルバルブ4bを閉じて真空配管2のみにより気体の排気を
行うことができるので、排気時間を短縮することが可能
となる。After that, when the sensor 5a provided in the chamber 1 detects that the pressure fluctuation rate in the chamber 1 has decreased, the controller 5 closes the valve 4a and the needle valve 4b of the bypass pipe 4 and only the vacuum pipe 2 is used. Since the gas can be exhausted, the exhaust time can be shortened.
【0019】このように真空配管2とバイパス配管4と
を流れる気体の流量をコントローラ5により制御するか
ら、チャンバ1から急激に気体を排気するのを防止する
ことができるので、図2に示すようにチャンバ1内の圧
力の急激な変動を防止することができ、チャンバ1内の
ゴミの浮遊を抑制することができ、被処理物にゴミが付
着するのを防止することが可能となる。Since the flow rate of the gas flowing through the vacuum pipe 2 and the bypass pipe 4 is controlled by the controller 5 as described above, it is possible to prevent the gas from being rapidly exhausted from the chamber 1. Therefore, as shown in FIG. In addition, it is possible to prevent a rapid change in the pressure in the chamber 1, suppress the floating of dust in the chamber 1, and prevent dust from adhering to the object to be processed.
【0020】また、このような真空装置のチャンバ1内
に気体を供給する場合には、この真空配管2の真空バル
ブ2a及びバイパス配管4のバルブ4aとニードルバルブ4b
を閉じ、ベント配管3のニードルバルブ3bを開き、ベン
ト配管3の流量をチャンバ1内でゴミが浮遊しないよう
にチャンバ1内に気体を供給している。When gas is supplied into the chamber 1 of such a vacuum apparatus, the vacuum valve 2a of the vacuum pipe 2, the valve 4a of the bypass pipe 4 and the needle valve 4b.
Is closed, the needle valve 3b of the vent pipe 3 is opened, and gas is supplied into the chamber 1 at a flow rate of the vent pipe 3 so that dust does not float in the chamber 1.
【0021】その後排気の場合と同様に、チャンバ1内
に設けたセンサ5aがチャンバ1内の圧力変動率が減少し
たのを検出すれば、コントローラ5によりベント配管3
のバルブ3aを開いて流量を増加して気体の供給を行うこ
とができるので、供給時間を短縮することが可能とな
る。Then, as in the case of exhausting, if the sensor 5a provided in the chamber 1 detects that the pressure fluctuation rate in the chamber 1 has decreased, the controller 5 causes the vent pipe 3
Since it is possible to supply the gas by opening the valve 3a and increasing the flow rate, it is possible to shorten the supply time.
【0022】このようにベント配管3を流れる気体の流
量を規制するから、チャンバ1内への急激な気体の供給
を防止することができるので、図2に示すようにチャン
バ1内の圧力の急激な変動を防止することができ、チャ
ンバ1内のゴミの浮遊を抑制することができ、被処理物
にゴミが付着するのを防止することが可能となる。Since the flow rate of the gas flowing through the vent pipe 3 is regulated in this way, it is possible to prevent the sudden supply of the gas into the chamber 1, and therefore, as shown in FIG. Such fluctuations can be prevented, the floating of dust in the chamber 1 can be suppressed, and it becomes possible to prevent dust from adhering to the object to be processed.
【0023】[0023]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば極めて簡単な構造の変更により真空装置のチャ
ンバ内におけるゴミの浮遊を防止し、被処理物へのゴミ
の付着を防止することが可能となり、安定した状態では
給排気量を増加することができ給排気に要する時間を短
縮することが可能となる等の利点があり、著しい経済的
及び、信頼性向上の効果が期待できる真空装置及びゴミ
付着防止方法の提供が可能である。As is apparent from the above description, according to the present invention, it is possible to prevent dust from floating in the chamber of the vacuum apparatus and to prevent the dust from adhering to the object to be processed by a very simple structure change. In a stable state, there is an advantage that the supply and exhaust amount can be increased and the time required for supply and exhaust can be shortened, and significant economic and reliability improvement effects can be expected. It is possible to provide a vacuum device and a dust adhesion prevention method.
【図1】 本発明による一実施例の真空装置の概略構造
を示す図、FIG. 1 is a diagram showing a schematic structure of a vacuum device according to an embodiment of the present invention,
【図2】 本発明による一実施例の真空装置における圧
力変動率の変化状況を示す図、FIG. 2 is a diagram showing a change situation of a pressure fluctuation rate in a vacuum device according to an embodiment of the present invention,
【図3】 従来の真空装置の概略構造を示す図、FIG. 3 is a diagram showing a schematic structure of a conventional vacuum device,
【図4】 従来の真空装置における圧力変動率の変化状
況を示す図、FIG. 4 is a diagram showing a change situation of a pressure fluctuation rate in a conventional vacuum device,
1はチャンバ、 2は真空配管、 2aは真空バルブ、 3はベント配管、 3aはバルブ、 3bはニードルバルブ、 4はバイパス配管、 4aはバルブ、 4bはニードルバルブ、 5はコントローラ、 5aはセンサー、 6は被処理物、 1 is a chamber, 2 is a vacuum pipe, 2a is a vacuum valve, 3 is a vent pipe, 3a is a valve, 3b is a needle valve, 4 is a bypass pipe, 4a is a valve, 4b is a needle valve, 5 is a controller, 5a is a sensor, 6 is the object to be treated,
Claims (3)
内の気体を排気する真空配管(2) と、該真空配管(2) と
前記チャンバ(1) との間に設けた真空バルブ(2a)と、前
記チャンバ(1)の室内に気体を供給するベント配管(3)
と、該ベント配管(3)と前記チャンバ(1)との間に設けた
バルブ(3a)を備えた真空装置において、 該バルブ(3a)と並列に設けたニードルバルブ(3b)と、 前記真空配管(2) と前記ベント配管(3) との間に設けた
バイパス配管(4) と、 該バイパス配管(4) と前記真空配管(2) 或いは前記ベン
ト配管(3) との間に設けたバルブ(4a)とニードルバルブ
(4b)と、 前記バルブ(2a,3a,4a)とニードルバルブ(3b,4b) の開閉
を制御するコントローラ(5) と、 を具備することを特徴とする真空装置。1. A vacuum pipe (2) for exhausting gas inside a chamber (1) for processing an object (6), and the vacuum pipe (2) provided between the vacuum pipe (2) and the chamber (1). Vacuum valve (2a) and vent pipe (3) for supplying gas into the chamber (1)
A vacuum device having a valve (3a) provided between the vent pipe (3) and the chamber (1), a needle valve (3b) provided in parallel with the valve (3a), and the vacuum A bypass pipe (4) provided between the pipe (2) and the vent pipe (3), and provided between the bypass pipe (4) and the vacuum pipe (2) or the vent pipe (3) Valve (4a) and needle valve
A vacuum device comprising: (4b); and a controller (5) for controlling opening / closing of the valves (2a, 3a, 4a) and needle valves (3b, 4b).
ャンバ(1) 内の気体を排気する場合の前記チャンバ(1)
内の前記被処理物(6) へのゴミ付着防止方法であって、 前記ベント配管(3) のバルブ(3a)とニードルバルブ(3b)
を閉じ、前記真空配管(2) の真空バルブ(2a)を開き、前
記バイパス配管(4) の前記バルブ(4a)とニードルバルブ
(4b)の開閉を前記チャンバ(1) の室内圧に基づきコント
ローラ(5) により制御して、前記チャンバ(1) 内の気体
を排気することを特徴とするゴミ付着防止方法。2. The chamber (1) when the gas in the chamber (1) is exhausted by using the vacuum device according to claim 1.
A method for preventing dust from adhering to the object to be treated (6) inside, wherein the valve (3a) and the needle valve (3b) of the vent pipe (3) are
Closed, open the vacuum valve (2a) of the vacuum pipe (2), and open the valve (4a) and needle valve of the bypass pipe (4).
A method for preventing dust adhesion, comprising controlling the opening and closing of (4b) by a controller (5) based on the room pressure of the chamber (1) to exhaust the gas in the chamber (1).
ャンバ(1) 内へ気体を供給する場合の前記チャンバ(1)
内の前記被処理物(6) へのゴミ付着防止方法であって、 前記真空配管(2)の真空バルブ(2a)及び前記バイパス配
管(4)の前記バルブ(4a)とニードルバルブ(4b)とを閉
じ、前記ベント配管(3) のバルブ(3a)とニードルバルブ
(3b)の開閉を前記チャンバ(1) の室内圧に基づきコント
ローラ(5) により制御して、前記チャンバ(1) 内に気体
を供給することを特徴とするゴミ付着防止方法。3. The chamber (1) for supplying gas into the chamber (1) using the vacuum apparatus according to claim 1.
A method for preventing dust from adhering to the object to be treated (6) inside, wherein the vacuum valve (2a) of the vacuum pipe (2) and the valve (4a) and needle valve (4b) of the bypass pipe (4). And close the valve (3a) of the vent pipe (3) and the needle valve.
A dust adhesion preventing method characterized in that opening and closing of (3b) is controlled by a controller (5) based on the room pressure of the chamber (1) to supply gas into the chamber (1).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21700491A JPH0560068A (en) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | Vacuum device and method for preventing refuse from sticking |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21700491A JPH0560068A (en) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | Vacuum device and method for preventing refuse from sticking |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0560068A true JPH0560068A (en) | 1993-03-09 |
Family
ID=16697317
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21700491A Withdrawn JPH0560068A (en) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | Vacuum device and method for preventing refuse from sticking |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0560068A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6566652B1 (en) * | 1999-09-13 | 2003-05-20 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometry apparatus having ion source not at negative pressure when finishing measurement |
-
1991
- 1991-08-28 JP JP21700491A patent/JPH0560068A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6566652B1 (en) * | 1999-09-13 | 2003-05-20 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometry apparatus having ion source not at negative pressure when finishing measurement |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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