JPH0557941A - Thermal head and driving ic therefor - Google Patents

Thermal head and driving ic therefor

Info

Publication number
JPH0557941A
JPH0557941A JP22261391A JP22261391A JPH0557941A JP H0557941 A JPH0557941 A JP H0557941A JP 22261391 A JP22261391 A JP 22261391A JP 22261391 A JP22261391 A JP 22261391A JP H0557941 A JPH0557941 A JP H0557941A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
pattern
terminal
common electrode
thermal head
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP22261391A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2658657B2 (en
Inventor
Hiroshi Ito
廣 伊藤
Hirohisa Sugihara
広久 杉原
Hiroki Yoda
博樹 依田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3222613A priority Critical patent/JP2658657B2/en
Publication of JPH0557941A publication Critical patent/JPH0557941A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2658657B2 publication Critical patent/JP2658657B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

PURPOSE:To simplify manufacturing process by arranging common electrode patterns on an IC chip side and in the opposite direction thereto through a heat generating resistor, connecting the patterns by N patterns, and arranging a driving terminal of the heat generating resistor on the side of the heat generating resistor of the IC chip. CONSTITUTION:Glass paste is printed on an alumina ceramic, dried, and baked so as to form a heat accumulating layer 2 on an alumina ceramic substrate 1. Next, a predetermined conductive pattern 3 is formed on the heat accumulating layer 2 by photomechanical process and etching. Also, a heat generating resistor 4 having a shape of continuous band is formed on the conductive pattern 3. The top surface of it is covered with a glass layer 5 as a protective layer so as to obtain a heat generating substrate 6. In the conductive pattern 3, an end common electrode 24a is provided placed on a discharging side of printing papers and connected to the heat generating resistor 4, and an IC lower common electrode 24b is arranged on a lower part of the mounting position of an IC chip 8. The common electrodes 24a and 24b are connected by a common electrode connecting pattern 27 and an individual electrode 25 is connected to the heat generating resistor 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明はサーマルヘッドの改良
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improved thermal head.

【0002】[0002]

【従来の技術】図21は例えば三菱電機(株)より1990年
4月に出版されたFシリーズなるサーマルヘッドの部分
的斜視図であり、図22はその断面図、図23はその等価的
回路図である。図21,図22,図23において、1はアルミ
ナセラミック基板、2は蓄熱層、3は導体パターン、4
は発熱抵抗体、5は保護膜、6は発熱基板、7は接着
剤、8はICチップ、9は金ワイヤ、10はプリント基
板、11は裏面ソルダーレジスト、12は裏面パターン、13
は表面パターン、14は表面ソルダーレジスト層、15はボ
ンディング端子、16はコネクタ、17は半田、18は支持
台、19は両面テープ、20は記録紙、21はプラテンロー
ラ、22は保護樹脂、23はカバー、57は共通電極を引き回
したパターン(以下PCOMと称す。)、63は接地端子
を引き回したパターン(以下PGNDと称す。)また80
はICチップ8の回路(以下IC回路と称す。)90は共
通電極のパターンPCOM63の配線パターン抵抗を下げ
る為に形成したコモン強化部分である。
2. Description of the Related Art FIG. 21 is for example from Mitsubishi Electric Corporation 1990.
FIG. 22 is a partial perspective view of an F series thermal head published in April, FIG. 22 is a sectional view thereof, and FIG. 23 is an equivalent circuit diagram thereof. 21, 22, and 23, 1 is an alumina ceramic substrate, 2 is a heat storage layer, 3 is a conductor pattern, 4
Is a heating resistor, 5 is a protective film, 6 is a heating substrate, 7 is an adhesive, 8 is an IC chip, 9 is a gold wire, 10 is a printed circuit board, 11 is a backside solder resist, 12 is a backside pattern, 13
Is a surface pattern, 14 is a surface solder resist layer, 15 is a bonding terminal, 16 is a connector, 17 is solder, 18 is a support, 19 is double-sided tape, 20 is recording paper, 21 is platen roller, 22 is protective resin, 23 Is a cover, 57 is a pattern in which the common electrode is routed (hereinafter referred to as PCOM), 63 is a pattern in which the ground terminal is routed (hereinafter referred to as PGND), and 80
A circuit 90 of the IC chip 8 (hereinafter referred to as an IC circuit) 90 is a common reinforced portion formed to reduce the wiring pattern resistance of the common electrode pattern PCOM63.

【0003】また、図24は従来のサーマルヘッドのIC
チップ実装図であり、34はプローブ端子、37,38,41,
42,43,44, 45,46,47a , 47b ,47c はICチップ8
の信号でそれぞれDATA IN、DATA OUT
、CLOCK、VDD、ENH、ENL、GND−
L、LATCH、GND−Hを示し、また、48,49,5
0,51,52,53,54はプリント基板10のボンディング端子
15でそれぞれ、ICチップ8の各信号に接続されるBC
LOCK,BVDD,BENH,BENL,BGND−
L,BLATCH,BGND−Hであり、100 はDAT
A IN38に接続されるBDATA IN、101 はDA
TA OUT37に接続されるBDATA OUTであ
り、100 と101 は順次プリント基板10側でパターン接続
される。BDATA IN100 がプリント基板10の端部
まであるのは、プリント基板10製造時のメッキリードを
かねているからである。又、従来のサーマルヘッドにお
いては、ICチップの接着剤のはみ出した接着剤が保護
膜5の縁に沿って拡散し、毛細管現象により導体パター
ンとAuワイヤ9とが接続できなかったり、又は接続し
ても強度が弱い等の接続不良が発生していた。
FIG. 24 shows an IC of a conventional thermal head.
It is a chip mounting diagram, 34 is a probe terminal, 37, 38, 41,
42, 43, 44, 45, 46, 47a, 47b, 47c are IC chips 8
DATA IN, DATA OUT respectively
, CLOCK, VDD, ENH, ENL, GND-
L, LATCH, GND-H, and 48, 49, 5
0, 51, 52, 53, 54 are bonding terminals of the printed circuit board 10.
BC connected to each signal of the IC chip 8 at 15
LOCK, BVDD, BENH, BENL, BGND-
L, BLATCH, BGND-H, 100 is DAT
B DATA IN connected to A IN38, 101 is DA
BDATA OUT is connected to TA OUT 37, and 100 and 101 are sequentially pattern-connected on the printed circuit board 10 side. The BDATA IN100 extends to the end of the printed circuit board 10 because it also serves as a plating lead when the printed circuit board 10 is manufactured. Further, in the conventional thermal head, the adhesive protruding from the adhesive of the IC chip diffuses along the edge of the protective film 5, and the conductor pattern cannot be connected to the Au wire 9 due to the capillary phenomenon, or the Au wire 9 cannot be connected. However, poor connection such as weak strength occurred.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来のサーマルヘッド
は以上のように構成されているので、プリント基板のワ
イヤボンディング端子へのワイヤボンディング不良があ
ったり、また、コモン強化プロセスが必要であったり、
プローブ端子が記録紙排紙側にあるので感熱紙のかすが
たまり印字不良につながったり、パターンの信頼性をそ
こねたりした。また、ICチップ内の損失差が大きく印
字品質を低下させる問題点があった。またENH,EN
L信号を必要としない時には、プリント基板のパターン
をかなり変更しなければならず配線が複雑になるなどの
問題点があった。この発明は上記のような問題点を解消
するためになされたものであり、サーマルヘッドの製造
上の工程簡略化歩留り向上、信頼性向上、印字品質向
上、導体パターンの引回しの簡略化を目的とする。
Since the conventional thermal head is constructed as described above, there is a defect in wire bonding to the wire bonding terminal of the printed circuit board, or a common strengthening process is required.
Since the probe terminal is located on the recording paper discharge side, the thermal paper may have accumulated debris, leading to defective printing and impairing the reliability of the pattern. Further, there is a problem that the loss difference in the IC chip is large and the print quality is deteriorated. Also ENH, EN
When the L signal is not required, the pattern of the printed circuit board has to be changed considerably and the wiring becomes complicated. The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to simplify the process of manufacturing a thermal head, improve yield, improve reliability, improve print quality, and simplify the layout of conductor patterns. And

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のサーマルヘッドにおいては、発熱抵抗体
を介して、ICチップ側と、その反対方向に共通電極パ
ターンを配置し、該共通電極パターンを複数パターンに
て接続し、ICチップの発熱抵抗体側に発熱抵抗体の駆
動端子を配置し、導体パターンと接続したものである。
上記発熱抵抗体が帯状の連続抵抗体である場合に効果的
である。また、発熱抵抗体とICチップとの間に共通電
極のプロービングポイントを設けたり、かかるプロービ
ングポイントに高導電膜を接触させたものである。IC
チップと共通電極パターンとの間の絶縁パターンの幅を
部分的に変更してもよい。一方、発熱抵抗体を介して、
ICチップ側と、その反対方向に共通電極パターンを配
置し、該共通電極パターンをN本のパターンにて接続
し、該ICチップ側共通電極パターンと接続された外部
共通電極パターンを該外部共通電極パターンとほぼ直交
するパターンで接続用コネクタ部と接続した。また、印
字データ入力端子と印字データ出力端子をICチップの
発熱抵抗体側に配置したり、該ICチップの発熱抵抗体
の駆動端子が、いくつかの同一のピッチにて配列された
群からなり、該群の間に位置するように共通電極接続パ
ターンが配置する。さらには、係る群を端部ではM個と
中央部では2M個の同一ピッチにて配列すると好まし
い。ICチップの下部に共通電極を配置したり、ICチ
ップの駆動信号端子を別の基板の導体パターンに接続
し、接続した導体パターン位置の下部に幅広の導体パタ
ーンを配置してもよい。別の基板の幅広の導体パターン
が、絶縁基板上の共通電極パターンと接続された共通電
極パターンであってもよい。別の基板のICチップの駆
動信号端子が接続される導体パターンがICチップ側の
基板端までないことも好ましい。ICチップの長手方向
の片側に発熱抵抗体駆動端子と印字データ入力端子と印
字データ出力端子を配置し、中央部付近に接地端子を配
置し、他方側にICチップ駆動信号端子を配置した。I
Cチップの発熱抵抗体の駆動端子をM個と2M個の同一
ピッチにて配列された群とし、各群の間隔を駆動端子の
配列ピッチと変え、ICチップ端部にデータ入力端子
と、データ出力端子が配置した。接地端子を3箇所と
し、そのうち1箇所はL個の発熱抵抗体の駆動端子の中
央に、他の2箇所を中央の駆動端子位置からL/4から
2L/5端子数分離れたところに位置した。ICチップ
駆動用信号端子のICチップ内部にてプルダウン抵抗に
接続されている信号端子の隣接をICチップ駆動電源端
子とし、ICチップ内部にてプルアップ抵抗に接続され
ている信号端子の隣接をICチップ駆動電源の接地側端
子とした。ICチップの駆動信号端子と接続される別の
基板の接続端子部分にパターン認識用の角型パターンを
設けた。ICチップの駆動信号端子と導体パターンの接
続点数を2箇所以上とした。共通電極と個別電極が交互
になるくし状部分において共通電極パターン幅が個別電
極の幅より広くした。
In order to achieve the above object, in the thermal head of the present invention, a common electrode pattern is arranged on the IC chip side and in the opposite direction through a heating resistor, The common electrode pattern is connected in a plurality of patterns, the drive terminal of the heating resistor is arranged on the heating resistor side of the IC chip, and is connected to the conductor pattern.
This is effective when the heating resistor is a strip-shaped continuous resistor. Further, a probing point of a common electrode is provided between the heating resistor and the IC chip, or a high conductive film is brought into contact with such a probing point. IC
The width of the insulating pattern between the chip and the common electrode pattern may be partially changed. On the other hand, through the heating resistor,
A common electrode pattern is arranged on the IC chip side and in the opposite direction, the common electrode patterns are connected by N patterns, and the external common electrode pattern connected to the IC chip side common electrode pattern is the external common electrode. The connection connector was connected in a pattern substantially orthogonal to the pattern. Further, the print data input terminal and the print data output terminal are arranged on the heat generating resistor side of the IC chip, or the drive terminals of the heat generating resistor of the IC chip consist of a group of several arranged at the same pitch, The common electrode connection pattern is arranged so as to be located between the groups. Furthermore, it is preferable to arrange such groups at the same pitch of M at the end and 2M at the center. A common electrode may be arranged below the IC chip, or a drive signal terminal of the IC chip may be connected to a conductor pattern on another substrate, and a wide conductor pattern may be arranged below the connected conductor pattern position. The wide conductor pattern of another substrate may be a common electrode pattern connected to the common electrode pattern on the insulating substrate. It is also preferable that the conductor pattern to which the drive signal terminal of the IC chip on another substrate is connected does not extend to the substrate end on the IC chip side. A heating resistor drive terminal, a print data input terminal, and a print data output terminal are arranged on one side in the longitudinal direction of the IC chip, a ground terminal is arranged near the central portion, and an IC chip drive signal terminal is arranged on the other side. I
The driving terminals of the heating resistors of the C chip are M and 2M groups arranged at the same pitch, and the interval between the groups is changed to the arrangement pitch of the driving terminals, and the data input terminal and the data are provided at the end of the IC chip. Output terminals are arranged. There are three ground terminals, one of which is located at the center of the drive terminals of the L heating resistors, and the other two are located at a location separated from the center drive terminal by L / 4 to 2L / 5 terminals. did. An IC chip driving power supply terminal is adjacent to a signal terminal connected to a pull-down resistor inside the IC chip of the IC chip driving signal terminal, and an IC is adjacent to a signal terminal connected to a pull-up resistor inside the IC chip. Used as the ground side terminal of the chip drive power supply. A rectangular pattern for pattern recognition was provided on the connection terminal portion of another substrate connected to the drive signal terminal of the IC chip. The number of connection points between the drive signal terminal of the IC chip and the conductor pattern is two or more. The width of the common electrode pattern is made wider than the width of the individual electrode in the comb-shaped portion where the common electrode and the individual electrode alternate.

【0006】[0006]

【作用】この発明におけるサーマルヘッドは、共通電極
パターンを全ビット折り返す必要がなくなる。発熱抵抗
体が帯状であると、発熱抵抗体の熱が隣接素子に伝達さ
れる。上記位置にプロービングポイントを設けることに
より、ブロック毎のプロービングが可能となり、かつ感
熱紙のかすがたまらない。また、高導電膜を接触させる
ことにより、静電気がプロービングポイントを伝導す
る。上記のようにパターン幅を部分的に異ならせた絶縁
パターンは接着剤の毛細管現象をくい止める。上記の構
成により、共通電極パターンの片側からの引き回しが可
能となる。ICチップ内のデータ入力端子とデータ出力
端子と駆動端子を片側方向に配置し、絶縁基板上の導体
パターンに接続することでメッキリードとならず、ま
た、発熱基板に印字データ入出力端子を配置することに
より、発熱基板とプリント配線板との熱膨張率の相違に
基づく断線を防止する。ICチップ内の駆動端子配置を
グループ化し、グループ分けした間に共通電極接続パタ
ーンを配置することで、金ワイヤが該接続パターンに接
触しない。端部をM個、中央部を2M個のグループとす
ることにより、駆動端子が同一ピッチとなる。ICチッ
プの下部に共通電極を配置することにより、発熱基板に
おける面積の有効利用が可能となる。ICチップの駆動
信号端子を別の基板の導体パターンに接続し、接続した
導体パターン位置の下部に幅広の導体パターンを配置す
ることにより、プリント配線板のワイヤステッチ部の下
が平坦となる。別の基板の幅広の導体パターンを絶縁基
板上の共通電極パターンと接続された共通電極パターン
とすることにより、共通電極パターンが容易となる。別
の基板のICチップの駆動信号端子が接続される導体パ
ターンがICチップ側の基板端までないことにより、プ
リント基板のメッキリードが不要となる。ICチップの
長手方向の片側に発熱抵抗体駆動端子と印字データ入力
端子と印字データ出力端子を配置し、中央部付近に接地
端子を配置し、他方側にICチップ駆動信号端子を配置
することにより、ICチップのパターン配置が容易とな
り、GNDパターンが中央で幅広にとることができる。
ICチップの発熱抵抗体の駆動端子をM個と2M個の同
一ピッチにて配列された群とし、各群の間隔を駆動端子
の配列ピッチと異なることにより、同一ピッチとなる。
接地端子を3箇所とし、そのうち1箇所はL個の発熱抵
抗体の駆動端子の中央に、他の2箇所を中央の駆動端子
位置からL/4から2L/5端子数分離れたところに位
置すると損失電圧のビット間ばらつきが少なくなる。I
Cチップ駆動用信号端子のICチップ内部にてプルダウ
ン抵抗に接続されている信号端子の隣接をICチップ駆
動電源端子とし、ICチップ内部にてプルアップ抵抗に
接続されている信号端子の隣接をICチップ駆動電源の
接地側端子とすると、パターンが共通化できる。別基板
の接続パターンとなる端子に角型パターンを設けるので
パターン認識上の認識率が上がる。別基板とICチップ
駆動信号端子を2点以上で接続するので、一方が断線し
てもフェールセーフとなる。共通電極と個別電極が交互
になるくし状部分において共通電極パターン幅が個別電
極の幅より広くすることにより、発熱抵抗体の抵抗値が
低く電流が多い場合に共通電極接続パターンの損失を小
さくすることができる。
In the thermal head according to the present invention, it is not necessary to fold all the common electrode patterns back. When the heating resistor has a strip shape, the heat of the heating resistor is transferred to the adjacent element. By providing the probing point at the above position, probing can be performed for each block, and dust on the thermal paper does not accumulate. Moreover, static electricity is conducted to the probing point by bringing the high conductive film into contact. As described above, the insulating pattern in which the pattern width is partially different prevents the capillary action of the adhesive agent. With the above configuration, the common electrode pattern can be routed from one side. By arranging the data input terminal, data output terminal, and drive terminal in the IC chip in one direction, and connecting them to the conductor pattern on the insulating board, it does not become a plating lead, and the print data input / output terminal is arranged on the heat generating board. By doing so, disconnection due to the difference in coefficient of thermal expansion between the heat generating substrate and the printed wiring board is prevented. By arranging the drive terminal arrangement in the IC chip into groups and arranging the common electrode connection pattern between the groups, the gold wire does not come into contact with the connection pattern. The drive terminals have the same pitch by forming M groups at the ends and 2M groups at the center. By disposing the common electrode under the IC chip, it is possible to effectively use the area of the heat generating substrate. By connecting the drive signal terminal of the IC chip to a conductor pattern on another substrate and disposing a wide conductor pattern below the connected conductor pattern position, the bottom of the wire stitch portion of the printed wiring board becomes flat. The common electrode pattern is facilitated by using the wide conductor pattern of another substrate as the common electrode pattern connected to the common electrode pattern on the insulating substrate. Since the conductor pattern to which the drive signal terminal of the IC chip on another substrate is connected does not reach the end of the substrate on the IC chip side, the plating lead of the printed circuit board becomes unnecessary. By arranging the heating resistor drive terminal, print data input terminal and print data output terminal on one side in the longitudinal direction of the IC chip, arranging the ground terminal near the center and arranging the IC chip drive signal terminal on the other side. , The pattern arrangement of the IC chip becomes easy, and the GND pattern can be widened in the center.
The driving terminals of the heat generating resistors of the IC chip are M and 2M groups arranged at the same pitch, and the intervals between the groups are different from the driving terminal array pitch, so that the driving terminals have the same pitch.
There are three ground terminals, one of which is located at the center of the drive terminals of the L heating resistors, and the other two are located at a location separated from the center drive terminal by L / 4 to 2L / 5 terminals. Then, the variation in loss voltage between bits is reduced. I
The IC chip drive power supply terminal is adjacent to the signal terminal connected to the pull-down resistor inside the IC chip of the C-chip driving signal terminal, and the IC terminal is adjacent to the signal terminal connected to the pull-up resistor inside the IC chip. The pattern can be shared by using the ground side terminal of the chip drive power supply. Since the rectangular pattern is provided on the terminal serving as the connection pattern of the separate board, the recognition rate in pattern recognition is increased. Since the separate substrate and the IC chip drive signal terminal are connected at two or more points, even if one of them is disconnected, it becomes a fail safe. By making the common electrode pattern width wider than the width of the individual electrode in the comb-shaped part where the common electrode and the individual electrode alternate, the loss of the common electrode connection pattern is reduced when the resistance value of the heating resistor is low and the current is large. be able to.

【0007】[0007]

【実施例】【Example】

実施例1.以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1はこの実施例を示すサーマルヘッドの部分的
斜視図であり、図2はその断面図である。図1,図2に
おいて、1は例えばアルミナ純度96%のアルミナセラミ
ック基板、2は該アルミナセラミック基板1上を被覆し
てなる例えばガラス層で、アルミナセラミック基板1の
素地改善、サーマルヘッドの熱応答特性を左右している
(以下、蓄熱層と称す)。3は該蓄熱層2上にパターン
化された導体パターン、4は該導体パターン3上に形成
された例えば酸化ルテニウム等からなる連続の帯状の発
熱抵抗体、5は発熱抵抗体4を被い耐摩耗、保護層とな
るガラス層(以下保護膜と称す)で導体パターン3の一
部分を被う絶縁層もかねている。また6はこれら発熱抵
抗体4を形成した基板(以下発熱基板と称す)である。
7は発熱基板6上に塗布された例えばエポキシ樹脂から
なる接着剤、8は発熱抵抗体4を印字情報に基づき選択
的に駆動する機能を備えたICチップで接着剤7にて発
熱基板6上に固定されている。9は発熱抵抗体4個々に
接続された導体パターン3とICチップ8の動作信号と
接続する例えば金ワイヤ、10はICチップ8の動作信号
引き回しの為の別基板(以下、プリント基板と称す)で
両面パターンからなり、裏面側は絶縁層となる裏面ソル
ダーレジスト層11と裏面パターン12、表面側は、表面パ
ターン13と、表面パターン14を被い絶縁層となる表面ソ
ルダーレジスト層で、表面パターンと裏面パターン12は
図示しないスルーホールにて接続されている。また、表
面パターン13の一部分は金メッキがなされ、ICチップ
8と金ワイヤ9にて接続されるボンディング端子15とな
っている。16はプリント基板10に半田17にて固定された
コネクタであり、サーマルヘッド駆動信号ケーブルの接
続個所になる。18は発熱基板6、プリント基板10とを例
えば両面テープ19にて接着支持する、例えばアルミニウ
ム,鉄,ポリカーボネート等の支持台、20は感熱紙又は
転写紙被転写紙等の記録紙、21は記録紙搬送用のプラテ
ンローラで、発熱抵抗体4上の保護膜5上に位置し、回
転する。22はICチップ8、金ワイヤ9を保護する例え
ばシリコーン樹脂からなる保護樹脂、23は外的圧力防止
記録紙20搬送ガイドともなる例えばポリカーボネート等
の樹脂からなるカバーで図示しないネジ等にて支持台18
上に固定されている。
Example 1. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a partial perspective view of a thermal head showing this embodiment, and FIG. 2 is a sectional view thereof. In FIGS. 1 and 2, 1 is an alumina ceramic substrate having an alumina purity of 96%, 2 is a glass layer formed by coating the alumina ceramic substrate 1, for example, to improve the base of the alumina ceramic substrate 1 and the thermal response of a thermal head. It affects the characteristics (hereinafter referred to as the heat storage layer). 3 is a conductor pattern patterned on the heat storage layer 2, 4 is a continuous strip-shaped heating resistor made of, for example, ruthenium oxide, etc. formed on the conductor pattern 3, and 5 is a resistance that covers the heating resistor 4. A glass layer serving as a wear and protection layer (hereinafter referred to as a protection film) also serves as an insulating layer covering a part of the conductor pattern 3. Reference numeral 6 denotes a substrate on which these heating resistors 4 are formed (hereinafter referred to as a heating substrate).
Reference numeral 7 denotes an adhesive agent applied on the heat-generating substrate 6, for example, an epoxy resin, and 8 is an IC chip having a function of selectively driving the heat-generating resistor 4 based on print information. It is fixed to. Reference numeral 9 is, for example, a gold wire that connects the conductor pattern 3 individually connected to the heating resistor 4 and the operation signal of the IC chip 8, and 10 is another board (hereinafter referred to as a printed circuit board) for routing the operation signal of the IC chip 8. The back surface side is a back surface solder resist layer 11 and a back surface pattern 12 which are insulating layers, and the front surface side is a surface pattern 13 and a surface solder resist layer which is an insulating layer covering the surface pattern 14. And the back surface pattern 12 are connected by a through hole (not shown). Further, a part of the surface pattern 13 is plated with gold to form a bonding terminal 15 which is connected to the IC chip 8 and the gold wire 9. Reference numeral 16 denotes a connector fixed to the printed circuit board 10 with solder 17, which is a connection point of the thermal head drive signal cable. Reference numeral 18 denotes a support base that adheres and supports the heat generating substrate 6 and the printed circuit board 10 with, for example, double-sided tape 19, for example, a support base made of aluminum, iron, polycarbonate or the like, 20 is recording paper such as thermal paper or transfer paper, and 21 is recording. A platen roller for transporting paper, which is positioned on the protective film 5 on the heating resistor 4 and rotates. Reference numeral 22 is a protective resin that protects the IC chip 8 and the gold wire 9, such as a silicone resin, and 23 is a cover that is also a resin such as polycarbonate that also serves as an external pressure-preventing recording paper 20 conveyance guide. 18
It is fixed on.

【0008】図3から図7に示すのは、発熱基板6上に
ICチップ8を搭載し、導体パターン3と金ワイヤ9に
て接続する工程を示したもので、図3は製造工程を断面
図を用いて示すもので矢印の方向に製造されて行くこと
を示すものである。ここでは、アルミナ純度96%のアル
ミナセラミック上に例えばストロンチウムを微量混入し
たガラスペーストを70μm厚み程度に印刷,乾燥した
後、1200℃〜1300℃の焼成炉に投入し、冷却することで
アルミナセラミック基板1上に蓄熱層2を形成するもの
で、ストロンチウムの微量混入にて蓄熱層のより表面粗
度の均一化をはかっている。次に、該蓄熱層2上全面に
有機金ペーストを印刷・乾燥・焼成した後、0.5 μm程
度の金の導体層300 を形成し、該導体層300 上に感光レ
ジストを塗布し、写真製版し、食刻技術により必要な導
体パターン3を形成する。導体層300 の金のパターン厚
みは金ワイヤ9のワイヤボンド強度の関係から、厚みが
厚い程望ましいが、金という高価格な貴金属の使用量を
できるだけ少なくすることが必要とされ、発明者の試み
た実験及び実績から0.5 μm以下ではワイヤボンド強度
が極端に低下し始めた。また、蓄熱層2の表面粗度が0.
1 μmp−p程度以上になると、ワイヤボンディング時
キャピラリーが導体パターンに均一にあたらずワイヤボ
ンディングの歩留り悪化につながり始めることになっ
た。
FIGS. 3 to 7 show a process of mounting the IC chip 8 on the heat generating substrate 6 and connecting the conductor pattern 3 to the gold wire 9. FIG. It is shown using the figure, and it shows that it is manufactured in the direction of the arrow. Here, for example, a glass paste in which a trace amount of strontium is mixed on an alumina ceramic having an alumina purity of 96% is printed to a thickness of about 70 μm, dried, and then placed in a firing furnace at 1200 ° C to 1300 ° C, and then cooled to an alumina ceramic substrate. The heat storage layer 2 is formed on the heat storage layer 1, and the surface roughness of the heat storage layer is made more uniform by mixing a small amount of strontium. Next, an organic gold paste is printed, dried, and baked on the entire surface of the heat storage layer 2 to form a conductor layer 300 of gold having a thickness of about 0.5 μm, a photosensitive resist is applied on the conductor layer 300, and photoengraving is performed. Then, the necessary conductor pattern 3 is formed by the etching technique. The thickness of the gold pattern of the conductor layer 300 is preferably as thick as possible in view of the wire bond strength of the gold wire 9, but it is necessary to minimize the amount of expensive gold, which is a precious metal, used. From the experiments and results, the wire bond strength began to drop extremely below 0.5 μm. The surface roughness of the heat storage layer 2 is 0.
When it was about 1 μmp-p or more, the capillaries did not evenly hit the conductor pattern during wire bonding, and the yield of wire bonding began to deteriorate.

【0009】図4に示すのは導体パターン3の発熱基板
6上の配置を示すものである。図4において、24a は記
録紙21の排紙側に位置する端部共通電極で発熱抵抗体4
に接続される。また発熱抵抗体4からの距離が短い程サ
ーマルヘッドの小型化が可能で、記録紙20上の発熱抵抗
体4の選択的駆動による記録をすぐに見ることができる
ことになる。24b はICチップ8の搭載位置下部に配置
されたIC下部共通電極、25は発熱抵抗体4に接続され
る個別電極、26a ,26b は個別電極の数個をグループ化
した個別電極群a,個別電極群bであり、図4に示すも
のは個別電極群a26a が個別電極25 4個、個別電極群
b26b が個別電極25 8個に対応している。また個別電
極群a26a 、個別電極群b26b は端部共通電極24a と、
IC下部共通電極24b とを接続する共通電極接続パター
ン27にて仕切られている。28はICチップ8への印字デ
ータ入力信号が接続される為の端子でDIN端子、29は
ICチップ9からの印字データ出力信号が接続される為
の端子で、DOUT端子で、DIN端子28とDOUT端
子29とは発熱基板上でパターン接続されている。30はI
Cチップ8のワイヤボンディングの自動認識用の認識パ
ターン、31はICチップ8の位置を示す位置認識パター
ン、32は共通電極ブロック端子、33は個別電極25、共通
電極24パターンが交互に配置されたくし状部分、このく
し状部分33上に例えば酸化ルテニウムとガラス成分、ジ
ルコニア等の入った抵抗ペーストをディスペンサを用い
て、帯状に直接描画し、乾燥し焼成して、複数個の発熱
抵抗体4の形成がなされる。図5に示すのはくし状部分
33上に発熱抵抗体を形成した状態である。ここで、抵抗
ペーストの直接描画は認識パターン30,31等の自動認識
にて位置が計算され、くし状部分33上に正確に位置され
る様装置化され行なわれる。くし状部分33の個別電極25
と共通電極24a のパターン幅と、パターン間隔は1mm当
り8ドットの解像度のサーマルヘッドでは、例えばパタ
ーン幅が30μmパターン間隔が32.5μmで、交互のくし
部分の長さが0.6 mm、発熱抵抗体4の幅が0.22mmに形成
される。抵抗ペーストを印刷方式で塗布した場合には印
刷スクリーンのメッシュ形状が発熱抵抗体4の幅をばら
つかせることになり帯状の抵抗体幅は0.22mmのセンター
値に対して0.18〜0.26mm程度までメッシュ形状によるば
らつきが生じ抵抗体の幅の狭い部分と広い部分では発熱
抵抗体4の発熱温度が異なり、それにより、記録紙への
記録むらとなって印字品質の低下につながる。直接描画
方式では塗布する位置のパターン認識と、塗布形状の認
識にて、描画速度、抵抗ペースト塗出圧の変更を行なう
ことで抵抗体幅と抵抗体の厚みの均一化がなされること
になる。発熱抵抗体4の形成の後、発熱抵抗体4上と、
ICチップ8下部上にガラスペーストをスクリーン印刷
し、乾燥,焼成することで絶縁性の保護膜5を形成す
る。図6に示すのは保護膜5の配置であり、保護膜5に
被われない部分は共通電極接続パターン27、DIN端子
28、DOUT端子29、認識パターン30、共通電極ブロッ
ク端子32の1部分のプローブ端子34、個別電極端子35、
コモン接続端子36の部分となる。ここで、発熱抵抗体4
が1500Ωであり、共通電極リードの損失抵抗がほぼ
5Ωであり、M=2048、N=512(ここで、Mは
発熱抵抗体数、Nは共通電極接続パターン数である。)
であったとすると、共通電極リード1本あたりの損失
は、ほぼ0.3v程度であるが、共通電極が配置されて
いるので損失が緩和され、かつ帯状の連続抵抗体なので
隣接発熱抵抗体へ熱伝導があり、画質に影響がないレベ
ルである。
FIG. 4 shows the arrangement of the conductor pattern 3 on the heat generating substrate 6. In FIG. 4, reference numeral 24a denotes an end common electrode located on the discharge side of the recording paper 21 and the heating resistor 4
Connected to. Further, as the distance from the heating resistor 4 is shorter, the thermal head can be downsized, and the recording by selectively driving the heating resistor 4 on the recording paper 20 can be seen immediately. 24b is an IC lower common electrode arranged below the mounting position of the IC chip 8, 25 is an individual electrode connected to the heating resistor 4, 26a and 26b are individual electrode groups a in which several individual electrodes are grouped, In the electrode group b shown in FIG. 4, the individual electrode group a26a corresponds to the individual electrode 254 and the individual electrode group b26b corresponds to the individual electrode 258. In addition, the individual electrode group a26a and the individual electrode group b26b are the end common electrode 24a,
It is partitioned by a common electrode connection pattern 27 that connects to the IC lower common electrode 24b. 28 is a terminal for connecting a print data input signal to the IC chip 8; a DIN terminal; 29 is a terminal for connecting a print data output signal from the IC chip 9; and a DOUT terminal, which is a DIN terminal 28. The DOUT terminal 29 is pattern-connected on the heating substrate. 30 is I
A recognition pattern for automatic recognition of the wire bonding of the C chip 8, 31 is a position recognition pattern indicating the position of the IC chip 8, 32 is a common electrode block terminal, 33 is an individual electrode 25, and a common electrode 24 pattern is arranged alternately. On the comb-shaped portion 33, for example, a resistive paste containing ruthenium oxide, a glass component, zirconia, etc., is directly drawn in a strip shape using a dispenser, dried and fired to form a plurality of heating resistors 4. Formation is made. The comb-shaped part shown in FIG.
The heating resistor is formed on the 33. Here, the direct drawing of the resistance paste is carried out by a device such that the positions are calculated by the automatic recognition of the recognition patterns 30, 31, etc., and they are accurately positioned on the comb-shaped portion 33. Individual electrode 25 of comb 33
In the case of a thermal head having a resolution of 8 dots per 1 mm and the pattern width of the common electrode 24a and the pattern interval, for example, the pattern width is 30 μm, the pattern interval is 32.5 μm, the length of the alternating comb portion is 0.6 mm, and the heating resistor 4 is used. Is formed with a width of 0.22 mm. When the resistive paste is applied by the printing method, the mesh shape of the printing screen causes the width of the heating resistor 4 to vary, and the strip-shaped resistor width is about 0.18 to 0.26 mm with respect to the center value of 0.22 mm. The heat generation temperature of the heat generating resistor 4 is different between the narrow portion and the wide portion of the resistor due to variations in the mesh shape, which causes uneven recording on the recording paper and leads to deterioration of print quality. In the direct drawing method, the width of the resistor and the thickness of the resistor can be made uniform by changing the drawing speed and the resistance paste application pressure by recognizing the pattern of the application position and the application shape. .. After the heating resistor 4 is formed, on the heating resistor 4,
A glass paste is screen-printed on the lower part of the IC chip 8 and dried and baked to form the insulating protective film 5. FIG. 6 shows the arrangement of the protective film 5, and the portions not covered by the protective film 5 are the common electrode connection pattern 27 and the DIN terminal.
28, DOUT terminal 29, recognition pattern 30, common electrode block terminal 32 part of probe terminal 34, individual electrode terminal 35,
It becomes the part of the common connection terminal 36. Here, the heating resistor 4
Is 1500Ω, the loss resistance of the common electrode lead is approximately 5Ω, M = 2048, N = 512 (where M is the number of heating resistors and N is the number of common electrode connection patterns).
Then, the loss per lead of the common electrode is about 0.3v, but since the common electrode is arranged, the loss is alleviated, and since it is a strip-shaped continuous resistor, heat is applied to the adjacent heating resistor. There is conduction and the image quality is not affected.

【0010】さて、発熱基板6の製造上の試験項目は、
導体パターン3、保護膜5のパターン形状のチェックと
サーマルヘッドの性能を左右する発熱抵抗体の抵抗値の
測定である。また、酸化ルテニウム系の抵抗を用いたサ
ーマルヘッドでは、抵抗値のパルストリミングも行なう
ことになる。ここで抵抗値の測定とパルストリミング
は、共通電極の端子となるプローブ端子34と個別電極端
子35に先端が針状になったプローブをあて測定し、パル
ス電圧印加を行なうことにて行なわれる。1mm当り8ド
ットの解像度のA4サイズのサーマルヘッドでは個別電
極端子35の数は1728個となり、総長さは1728×1/8=21
6 mmとなる。ここで、216 mmで1728個の0.125 mmピッチ
の針状のプローブ作製はかなり難しいものがあり、同時
に1728個の端子をプロービングすることは、発熱基板の
平坦度等を考えるとかなりの困難さがある。以上の困難
さから現在は64個の個別電極端子35と共通電極端子をあ
てるプローブを用いて、27回、8mmごとに移動動作する
装置を用いて行なっている。従来のサーマルヘッドの共
通電極のプローブ端子34の位置は記録紙20の排紙側なの
で、記録紙20の感熱紙のかすがたまり印字不良をまねい
たり、導体パターンへの悪影響となったが、プローブ端
子34を記録紙20の送入方向に位置させ、記録紙20に触れ
ない様にしたので上記不具合はないことになる。また、
図に示されるようにICの両端部に位置しているため、
パターン認識用のマークとしての役立てることもでき
る。
Now, the test items for manufacturing the heat generating substrate 6 are as follows.
This is to check the pattern shapes of the conductor pattern 3 and the protective film 5 and to measure the resistance value of the heating resistor that affects the performance of the thermal head. Further, in a thermal head using a ruthenium oxide type resistor, pulse trimming of the resistance value is also performed. Here, the measurement of the resistance value and the pulse trimming are performed by applying a pulse voltage to the probe terminal 34 serving as the terminal of the common electrode and the individual electrode terminal 35 with a probe having a needle-shaped tip. With an A4 size thermal head with a resolution of 8 dots per mm, the number of individual electrode terminals 35 is 1728, and the total length is 1728 x 1/8 = 21.
It will be 6 mm. Here, it is quite difficult to make 1728 needle-shaped probes with a pitch of 0.125 mm at 216 mm, and probing 1728 terminals at the same time is quite difficult considering the flatness of the heat generating substrate. is there. Due to the above-mentioned difficulties, at present, it is carried out by using a device that moves 64 times every 8 mm by using a probe with 64 individual electrode terminals 35 and a common electrode terminal. Since the position of the probe terminal 34 of the common electrode of the conventional thermal head is on the discharge side of the recording paper 20, the thermal paper of the recording paper 20 has accumulated debris, which may cause defective printing or adversely affect the conductor pattern. Since 34 is positioned in the feeding direction of the recording paper 20 so as not to touch the recording paper 20, the above problem does not occur. Also,
Since it is located at both ends of the IC as shown in the figure,
It can also be used as a mark for pattern recognition.

【0011】図7は、ICチップ8を発熱基板6に実装
した状態を示している。個別電極端子35は隣り合う位置
が千鳥配置されICチップ8側の金ワイヤ9接続位置は
一列に配置されている。ここで、このICチップ8の回
路図は図8に示すものであり、64ビットのシフトレジス
タラッチ付ドライバー構成となっている。一ラインの印
字情報はDATA端子からCLOCK信号に同期され、
64ビットシフトレジスタ回路に入れられる。次いで、メ
モリー回路となる64ビットラッチ回路にLATCH信号
の投入タイミングで印字情報が転送される。このラッチ
回路の印字情報のHIGHの対するビットでENL信号
がLOWでかつENH信号がHIGHの時間だけDO1
〜DO64が選択的にスイッチングされる。このDO1〜
DO64に発熱抵抗体4を接続することで、発熱抵抗体4
を印字情報に基づいて選択的に駆動することが可能とな
る。図8において、VDDはICチップ8の駆動電源端
子、GND−Lは回路電源接地端子、GND−Hは、ス
イッチング素子の接地端子、DATA OUTはシフト
レジスタからのデータ出力端子で次段のICチップ8の
DATA IN端子に接続される。A4サイズで1mm当
り8ドットの解像度のサーマルヘッドでは1728個の発熱
抵抗体4があり64ビットのICチップ8を27個発熱基板
6上に搭載し接続することになる。本実施例ではICチ
ップ8の長さは7.25mmであり、DO1からDO4,DO
5からDO12,DO13からDO20,DO21からDO28,
DO29からDO36,DO37からDO44,DO45からDO
52,DO53からDO60,DO61からDO64はピッチが0.
105 mmで、DO4とDO5,DO12とDO13,DO20と
DO21,DO28とDO29,DO36とDO37,DO44とD
O45,DO52とDO53,DO60とDO61の間隔(以下、
COM間隔40と称す)は0.12mmとしている。そしてこの
COM間隔40位置に、共通電極接続パターン27が位置さ
れることになる。また、DO1からDO4とDO60から
DO64は個別電極群a26a に他のDOビットは個別電極
群b26b に対応している。ここで個別電極端子35の大き
さは、金ワイヤ9の径が25μmであれば、ワイヤボンド
時にキャピラリーにて個別電極端子35に、ボンディング
した際90μm以上につぶれて金ワイヤ8と個別電極端子
35が接続されることになる。そこで、個別電極端子35側
は、このつぶれがはみ出ても隣接の個別電極端子36に接
触しない様千鳥配列している。また、COM間隔40を広
げ共通電極接続パターン27とを位置合わせているので、
金ワイヤ9のたれによる共通電極接続パターン27と接触
するのを防いでいる。また共通電極接続パターン27上を
保護膜5にて被えば良いが間隔が0.12mmしかないので難
しい。それはスクリーン印刷の精度が位置精度で±0.2
mm程度、スクリーンパターン精度が±0.05mm、スクリー
ンメッシュによる幅のばらつき、ガラスペーストのにじ
み等の問題があるからで現状では困難なこととなってい
る。
FIG. 7 shows a state in which the IC chip 8 is mounted on the heat generating substrate 6. Adjacent positions of the individual electrode terminals 35 are arranged in a staggered manner, and the gold wire 9 connection positions on the IC chip 8 side are arranged in a line. Here, the circuit diagram of the IC chip 8 is shown in FIG. 8 and has a 64-bit driver structure with a shift register latch. The print information of one line is synchronized with the CLOCK signal from the DATA terminal,
It is placed in a 64-bit shift register circuit. Next, the print information is transferred to the 64-bit latch circuit serving as a memory circuit at the timing of inputting the LATCH signal. Only when the ENL signal is LOW and the ENH signal is HIGH in the bit corresponding to HIGH in the print information of the latch circuit, DO1 is set.
~ DO64 is selectively switched. This DO1
By connecting the heating resistor 4 to the DO64,
Can be selectively driven based on the print information. In FIG. 8, VDD is a drive power supply terminal of the IC chip 8, GND-L is a circuit power supply ground terminal, GND-H is a grounding terminal of a switching element, DATA OUT is a data output terminal from a shift register, and an IC chip of the next stage. 8 DATA IN terminal. In a thermal head of A4 size and having a resolution of 8 dots per mm, there are 1728 heating resistors 4 and 27 64-bit IC chips 8 are mounted on the heating substrate 6 and connected. In this embodiment, the length of the IC chip 8 is 7.25 mm, and DO1 to DO4, DO
5 to DO12, DO13 to DO20, DO21 to DO28,
DO29 to DO36, DO37 to DO44, DO45 to DO
52, DO53 to DO60, DO61 to DO64 pitch 0.
At 105 mm, DO4 and DO5, DO12 and DO13, DO20 and DO21, DO28 and DO29, DO36 and DO37, DO44 and D
Distance between O45, DO52 and DO53, DO60 and DO61 (hereinafter,
The COM interval 40) is 0.12 mm. Then, the common electrode connection pattern 27 is positioned at the COM interval 40 position. DO1 to DO4 and DO60 to DO64 correspond to the individual electrode group a26a, and the other DO bits correspond to the individual electrode group b26b. Here, as for the size of the individual electrode terminal 35, if the diameter of the gold wire 9 is 25 μm, it is crushed to 90 μm or more when bonded to the individual electrode terminal 35 with a capillary at the time of wire bonding and the gold wire 8 and the individual electrode terminal
35 will be connected. Therefore, the individual electrode terminals 35 are arranged in a staggered arrangement so as not to contact the adjacent individual electrode terminals 36 even if this squeeze out occurs. Further, since the COM interval 40 is expanded and the common electrode connection pattern 27 is aligned,
This prevents contact with the common electrode connection pattern 27 due to the sagging of the gold wire 9. Further, the common electrode connection pattern 27 may be covered with the protective film 5, but it is difficult because the interval is only 0.12 mm. The accuracy of screen printing is ± 0.2 in terms of position accuracy.
mm, screen pattern accuracy is ± 0.05 mm, width variation due to screen mesh, bleeding of glass paste, and other problems are presently difficult.

【0012】ICチップ8のDATA IN38はDIN
端子29に、DATA OUT37はDOUT端子28に金ワ
イヤ9にて接続され、ICチップ8は順次データ接続さ
れることになる。もちろんこれらの金ワイヤ9のワイヤ
ボンディングは認識パターン30、位置認識パターン31の
パターン認識を行なうことで精度良く行なわれていく一
方、図9と図11に示すのはプリント基板10とICチップ
8と発熱基板6とを金ワイヤ9にて接続する配置及びパ
ターンを示したものである。図9においてICチップ8
上で、41はCLOCK、42はVDD,43はENH、44は
ENL、45はGND−L、46はLATCH、47はGND
−Hで47a ,47b ,47c と3箇所ある。また15はプリン
ト基板10のワイヤボンディング端子で、表面パターン13
の例えば15〜30μm厚程度の銅の上にニッケルを5〜10
μm厚程度、ニッケルの上に金メッキを0.5 μm厚程度
電解メッキした箇所である。銅の上に直接金メッキは可
能であるが、ワイヤボンディングは加熱して行なうので
銅と金とが拡散してしまい、ワイヤボンディングの不良
につながったり、銅の酸化をまねいたりする。そこで、
ニッケル層を10μm厚程度介在させている。14は表面パ
ターン13の銅パターンと基板を被覆する表面ソルダーレ
ジスト層である。48から55はボンディング端子15の各信
号端子を示し、48はICチップ8のCLOCK41と金ワイ
ヤ9にて接続されるBCLOCK、49は同様にVDD42
と接続されるBVDD、50はENH43と接続されるBE
NH、51はENL44と接続されるBENL、52はGND
−L45と接続されるBGND−L、53はLATCH46と
接続されるBLATCH、54a ,54b , 54c はGND−
H47a ,47b ,47c と接続されるBGND−H、55はコ
モン接続端子36と接続されるBCOMである。また各ボ
ンディング端子から引き出されたパターンはスルーホー
ル56を介して裏面パターン13の各パターン57〜62につな
がっている。
DATA IN38 of the IC chip 8 is DIN
The DATA OUT 37 is connected to the terminal 29, the DOUT terminal 28 is connected to the DOUT terminal 28 by the gold wire 9, and the IC chip 8 is sequentially connected to data. Of course, the wire bonding of these gold wires 9 is performed accurately by performing the pattern recognition of the recognition pattern 30 and the position recognition pattern 31, while the printed board 10 and the IC chip 8 are shown in FIGS. 9 and 11. It shows an arrangement and a pattern for connecting the heat generating substrate 6 with a gold wire 9. In FIG. 9, the IC chip 8
In the above, 41 is CLOCK, 42 is VDD, 43 is ENH, 44 is ENL, 45 is GND-L, 46 is LATCH, 47 is GND.
There are three places at -H, 47a, 47b, and 47c. Further, 15 is a wire bonding terminal of the printed circuit board 10, which is a surface pattern 13
For example, 5-10 nickel on copper with a thickness of 15-30 μm
It is a portion of about .mu.m thick, and nickel is electrolytically plated with gold plating of about 0.5 .mu.m thick. Although gold can be directly plated on copper, since wire bonding is performed by heating, copper and gold are diffused, which leads to defective wire bonding and oxidation of copper. Therefore,
The nickel layer is interposed about 10 μm thick. Reference numeral 14 is a surface solder resist layer that covers the copper pattern of the surface pattern 13 and the substrate. 48 to 55 are signal terminals of the bonding terminal 15, 48 is BCLOCK connected to CLOCK41 of the IC chip 8 by the gold wire 9, and 49 is VDD42 similarly.
BVDD connected to, and BE connected to ENH43
NH, 51 is BENL connected to ENL44, 52 is GND
-L45 is connected to BGND-L, 53 is BLATCH connected to LATCH46, 54a, 54b and 54c are GND-
BGND-H, 55 connected to H47a, 47b, 47c is a BCOM connected to the common connection terminal 36. Further, the pattern drawn out from each bonding terminal is connected to each pattern 57 to 62 of the back surface pattern 13 through the through hole 56.

【0013】図10に示すのが裏面パターンのみを示した
図であり、57は各ICブロックのBCOM55が接続され
たパターン(以下PCOMと称す)、58は各ICブロッ
クのBCLOCK48が接続されたパターン(以下、PC
LOCKと称す)、以下同様に、59はBVDD49が接続
されたパターン(以下PVDDと称す)、60はBENH
50が接続されたパターン(以下PBENHと称す)、61
はBENL51が接続されたパターン(以下PBENLと
称す)、62はBLATCH53が接続されたパターン(以
下PLATCHと称す)、63は表面パターン13上でBG
ND−L52とBGND−H54a ,54b ,54c とが接続さ
れたパターン(以下PGNDと称す)。
FIG. 10 is a view showing only the back surface pattern, 57 is a pattern to which the BCOM 55 of each IC block is connected (hereinafter referred to as PCOM), and 58 is a pattern to which the BCLOCK 48 of each IC block is connected. (Hereafter, PC
Similarly, 59 is a pattern in which BVDD49 is connected (hereinafter referred to as PVDD), and 60 is BENH.
50 connected pattern (hereinafter referred to as PBENH), 61
Is a pattern in which BENL51 is connected (hereinafter referred to as PBENL), 62 is a pattern in which BLATCH53 is connected (hereinafter referred to as PLATCH), 63 is BG on the surface pattern 13
A pattern in which ND-L52 and BGND-H54a, 54b, 54c are connected (hereinafter referred to as PGND).

【0014】図11はデータ入力がなされる最初のICチ
ップ8のワイヤ接続パターン、配置等を示す図であり、
64はICチップ8のDATA IN37とDIN端子28に
パターン接続された端子(TDATAと称す)でプリン
ト基板10のワイヤボンディング端子15の端子65(以下、
BDATAと称す)と金ワイヤ9にて接続され、BDA
TA端子65は66のパターン(以下PDATAと称す)に
接続される。ここで、これらのPCOM57、PCLOC
K58、PVDD59、PENH60、PENL61、PLAT
CH62、PGND63、PDATA66はコネクタ16のピン
に接続される様に引き回される。また、図20に示すの
は、実施例1を等価回路的に示したもので80はICチッ
プ8の回路(IC回路)を示すものである。
FIG. 11 is a diagram showing the wire connection pattern, layout, etc. of the first IC chip 8 to which data is input.
Reference numeral 64 denotes a terminal (referred to as TDATA) that is pattern-connected to the DATA IN 37 and the DIN terminal 28 of the IC chip 8 and the terminal 65 (hereinafter, referred to as the terminal 65 of the wire bonding terminal 15 of the printed circuit board 10).
BDATA) and gold wire 9
The TA terminal 65 is connected to a pattern of 66 (hereinafter referred to as PDATA). Here, these PCOM57, PCLOC
K58, PVDD59, PENH60, PENL61, PLAT
CH62, PGND63 and PDATA66 are routed so as to be connected to the pins of the connector 16. Further, FIG. 20 shows an equivalent circuit of the first embodiment, and 80 shows a circuit (IC circuit) of the IC chip 8.

【0015】次に作用について説明する。従来のサーマ
ルヘッドのICチップ8のDATAIN37とDATA
OUT38位置はプリント基板10側に位置していた為、D
ATA IN37とDATA OUT38のワイヤボンディ
ング端子15をプリント基板10側に設けるには、ニッケル
及び金メッキのメッキリード端子をコネクタピン側に設
けることが難しい為、ワイヤボンディング端子の方から
引き回している。図12に示すのは、従来のサーマルヘッ
ドのプリント基板10の製造途中の様子であり、プリント
基板10は1枚の大型基板70から多数個取りしている。こ
こで71はメッキリードであり丸穴位置に電極のつながっ
たネジを締め付けメッキ液中に浸漬することでニッケル
メッキと金メッキが行なわれる。72はBDATA IN
100 ,BDATA OUT101 のメッキリード(以下、
ワイヤボンディング側メッキリードと称す)、73はコネ
クタのピン方向から引き出されたメッキリード(以下、
コネクタメッキリードと称す)であり、B1〜B27は8
mmピッチの27個のブロックを示し、ICチップ8が27ブ
ロックあることを示している。ここで、発明者は従来の
サーマルヘッドにおけるプリント基板10のワイヤボンデ
ィング端子15の不良がワイヤボンディング側メッキリー
ド72に位置する箇所にかなり集中していることに気づ
き、ワイヤボンディング端子15のメッキ厚みにつき調査
した。ワイヤボンディング端子15でワイヤボンディング
側メッキリード72のない端子すなわちコネクタ側メッキ
リード73からニッケルメッキと金メッキが行なわれる様
子は、ほぼ厚みのばらつきがなく、ニッケル厚みが10μ
m±2μm金メッキが0.5 μm±0.1 μm程度でできて
いたが、ワイヤボンディング側メッキリード72に接続さ
れかつワイヤボンディング端子15となる端子のニッケル
厚みは30μmから15μm程度の厚みにばらつきメッキリ
ードの電極位置に近い程厚くなっていた。これを図13に
示す。またこれらの端子の形状は端部が盛り上がってい
て平面になっていないことがわかり、これらのことがワ
イヤボンディング不良の原因であることをつきとめた。
本発明の実施例1では、ICチップ8上のDATA I
N37とDATA OUT38をプリント基板10側でなく、
発熱基板6側の個別電極端子35列側に設けたので、ワイ
ヤボンディング端子15が直接メッキリードになる端子は
ない。また、ワイヤボンディング端子15の下部となる裏
面パターン12はPCOM57の広い安定したパターンなの
でワイヤボンディングの厚み方向の条件は均一となる。
ワイヤボンディング端子15の下部にPCOM57のパター
ンがない場合は、銅のパターン厚み30μm程度の厚みの
差分、両面テープ19と裏面ソルダーレジスト層とが接着
されなく浮くことになり、ワイヤボンディング上好まし
くなく、ワイヤボンディング端子15下部には幅広の裏面
パターンがあることが望ましい。
Next, the operation will be described. DATAIN37 and DATA of IC chip 8 of conventional thermal head
Since the OUT38 position was located on the printed circuit board 10 side, D
In order to provide the wire bonding terminals 15 of the ATA IN 37 and the DATA OUT 38 on the printed circuit board 10 side, it is difficult to provide the nickel and gold plated lead terminals on the connector pin side, so the wire bonding terminals are routed from the wire bonding terminal side. FIG. 12 shows a state in which the printed circuit board 10 of the conventional thermal head is being manufactured, and the printed circuit board 10 is taken in large numbers from one large board 70. Here, 71 is a plating lead, and nickel plating and gold plating are performed by tightening a screw having an electrode connected to a round hole position and immersing it in a plating solution. 72 is BDATA IN
100, BDATA OUT101 plating lead (hereinafter,
The wire bonding side plated lead), 73 is a plated lead drawn from the connector pin direction (hereinafter,
Connector plating lead)), and B1 to B27 are 8
27 blocks of mm pitch are shown, and 27 blocks of the IC chip 8 are shown. Here, the inventor has noticed that the defects of the wire bonding terminals 15 of the printed circuit board 10 in the conventional thermal head are considerably concentrated at the positions located on the wire bonding side plating leads 72, and the plating thickness of the wire bonding terminals 15 investigated. In the wire bonding terminal 15, the terminal without the wire bonding side plated lead 72, that is, the state where the nickel plating and the gold plating are performed from the connector side plated lead 73 has almost no thickness variation, and the nickel thickness is 10 μm.
m ± 2μm Gold plating was about 0.5μm ± 0.1μm, but the nickel thickness of the terminal that is connected to the wire bonding side plating lead 72 and becomes the wire bonding terminal 15 varies from 30μm to 15μm. The closer it was to the position, the thicker it was. This is shown in FIG. Further, it was found that the shapes of these terminals were not flat because the ends were raised, and it was found that these were the cause of the wire bonding failure.
In the first embodiment of the present invention, DATA I on the IC chip 8 is used.
N37 and DATA OUT38 not on the printed circuit board 10 side,
Since the individual electrode terminals 35 are provided on the heating substrate 6 side, the wire bonding terminals 15 do not directly serve as plating leads. Further, since the back surface pattern 12 below the wire bonding terminal 15 is a wide and stable pattern of the PCOM 57, the conditions in the wire bonding thickness direction are uniform.
If the PCOM 57 pattern is not present under the wire bonding terminal 15, the difference in thickness of the copper pattern is about 30 μm, the double-sided tape 19 and the rear surface solder resist layer are not adhered and float, which is not preferable for wire bonding. It is desirable that there is a wide back surface pattern under the wire bonding terminal 15.

【0016】実施例2.次に発明者は、ICチップ8の
GND−H47a ,47b , 47c の位置につき調べた。本来
GND−Hの接続位置は多い程ICチップ8内部のパタ
ーン配線抵抗分による損失電圧は少ないものとなるが、
ワイヤボンド接続箇所を少なくする為、数箇所としてい
る。実施例1ではGND−Hの接続箇所は3箇所であ
る。ここでGND−Hの箇所とICチップ8内部の発熱
抵抗体駆動端子DO39の64ビットにそれぞれ9mA流した
時の損失電圧を調べた。図14に示すのがその測定結果で
ある。図14の下図はDO1とDO32,DO64付近にGN
D−Hを配置した従来のICチップの配置、上図はDO
12,DO32,DO54付近にGND−Hを配置し実施した
結果である。従来の最大50mVのビット間ばらつきを最大
30mV程度と約40%程度改善し、印字結果としては、より
ばらつきの少ないものとなった。GND−H47の位置と
しては、中央から16ビットから25ビット離れた位置に2
箇所、中央に1箇所とすることで、ほぼ40mV以内にな
り、端部に位置した場合の約20%程度は改善できる位置
であった。
Example 2. Next, the inventor investigated the positions of the GND-H 47a, 47b, 47c of the IC chip 8. Originally, the larger the GND-H connection position, the smaller the loss voltage due to the pattern wiring resistance inside the IC chip 8, but
To reduce the number of wire bond connection points, it is set to several points. In the first embodiment, there are three GND-H connection points. Here, the loss voltage when 9 mA was applied to 64 bits of the heating resistor driving terminal DO39 inside the IC chip 8 and the portion of GND-H was examined. The measurement results are shown in FIG. The lower part of Fig. 14 shows GN near DO1, DO32 and DO64.
The layout of the conventional IC chip in which DH is arranged, the above figure is DO
The results are obtained by arranging the GND-H near 12, DO32 and DO54. Maximum 50 mV variation between conventional products
The improvement was about 30 mV, about 40%, and the print results showed less variation. The position of GND-H47 is 2 at the position 16 to 25 bits away from the center.
By setting it at one place in the center and one place, it was within about 40 mV, and it was a position where about 20% of the case at the end could be improved.

【0017】実施例3.ICチップ8の信号配置とし
て、VDD42の隣にENH43を配置することにより、E
NH43信号を必要としない場合は、図15に示す様にPV
DD59とPENH60を接続すれば良く、また、ボンディ
ング端子であるBVDD49とBENH50を接続すれば良
く、簡略なパターン配置となる。
Embodiment 3. As a signal arrangement of the IC chip 8, by placing ENH43 next to VDD42,
If the NH43 signal is not needed, PV as shown in Fig. 15
DD59 and PENH60 may be connected, and BVDD49 and BENH50, which are bonding terminals, may be connected, resulting in a simple pattern arrangement.

【0018】実施例4.ICチップ8の信号配置とし
て、GND−L45の隣にENL44を配置することによ
り、ENL44信号を必要としない場合は図16に示すよう
にBENL51,BGND−L52,BGND−H47b ,47
c とを接続すれば良く、またパターン接続しても良く簡
略なパターン配置となる。
Example 4. As the signal arrangement of the IC chip 8, the ENL44 is arranged next to the GND-L45 so that when the ENL44 signal is not required, the BENL51, BGND-L52, BGND-H47b, 47 are arranged as shown in FIG.
It is sufficient to connect with c and it is also possible to connect with a pattern, resulting in a simple pattern arrangement.

【0019】実施例5.また、図16中の74に示すように
ワイヤボンディング認識用の角型パターンを設けること
によりワイヤボンディングの自動装置による認識の効率
を上げることができる。認識パターンは角型のへこみパ
ターンでもかまわない。丸型の認識パターンは、銅パタ
ーンのエッチング,ニッケルメッキ,金メッキにて形状
が均一な丸になりにくく、角型パターンがパターンの均
一には望ましかった。
Example 5. Further, by providing a rectangular pattern for wire bonding recognition as shown by 74 in FIG. 16, it is possible to improve the efficiency of recognition by the wire bonding automatic device. The recognition pattern may be a rectangular dent pattern. The circular recognition pattern is difficult to form a uniform circle by etching a copper pattern, nickel plating, and gold plating, and it is desired that the rectangular pattern has a uniform pattern.

【0020】実施例6.また図17に示す様にICチップ
8の信号を金ワイヤ9にて2本ずつ打つことによりプリ
ント基板10側のワイヤボンディング不良を防ぐことが可
能となる。プリント基板10のワイヤボンド時の温度はプ
リント基板の材質の許容温度と熱伝導のしにくいことが
ネックとなり低温度でありワイヤボンドの不良につなが
っている。 ところで、ワイヤボンドの不良時にはIC
チップ8を取りはずして交換することになるが、発熱基
板6側のワイヤ接続端子は金ワイヤ9をはずし洗浄等可
能であるが、プリント基板10側のワイヤボンディング端
子15は、金ワイヤ9をはずしたり、ICチップ8の交換
時にプリント基板からはげてしまったりして再生が難し
いものとなる。そこでプリント基板10側のワイヤボンド
をより確実にすることが製造上のよりいっそうの歩留ま
り向上につながることになる。
Example 6. Further, as shown in FIG. 17, the signal of the IC chip 8 is struck by two gold wires 9 at a time, so that it becomes possible to prevent the wire bonding failure on the printed circuit board 10 side. The temperature at the time of wire bonding of the printed circuit board 10 is a low temperature due to the allowable temperature of the material of the printed circuit board and the difficulty of heat conduction, which is a low temperature, leading to defective wire bonding. By the way, when the wire bond is defective, IC
Although the chip 8 will be removed and replaced, the wire connection terminal on the heat generating substrate 6 side can be cleaned by removing the gold wire 9, but the wire bonding terminal 15 on the printed circuit board 10 side can remove the gold wire 9. However, when the IC chip 8 is replaced, the IC chip 8 is peeled off from the printed circuit board, making it difficult to reproduce. Therefore, more reliable wire bonding on the printed circuit board 10 side will lead to further improvement in manufacturing yield.

【0021】実施例7.また、図18に示すのはプリント
基板10を片面パターンにした場合を示すもので、ワイヤ
ボンディング端子箇所以外をソルダーレジスト層にて被
うことにより片面基板75の使用が可能となる。
Example 7. Further, FIG. 18 shows a case where the printed circuit board 10 has a single-sided pattern, and the single-sided board 75 can be used by covering the portions other than the wire bonding terminal locations with the solder resist layer.

【0022】実施例8.さらに、プリント基板10を用い
ず発熱基板6を大きくし図18に示す様なパターン配置と
同様にした構成としても良い。この場合はPCOM57P
GND58の配線パターン強化として例えば、有機金ペー
ストからなる導体パターン3上にガラスフリット系の金
ペーストや銀ペーストを重ね印刷した後、ガラスペース
トにて必要な箇所を露出させ金ワイヤ9にてワイヤボン
ドを行なえば良い。また、コネクタ15は57, 58,59,6
0,61,63のパターンにフレキシブルプリント基板を用
いて圧接,異方性導電性膜,インジウム半田等にて熱圧
着した後、フレキシブルプリント基板にコネクタ15を半
田付接続しても良い。また直接コネクタをパターンにイ
ンジウム半田等を用いて接続しても良いし、圧接構造と
しても良い。
Example 8. Further, the heat generating substrate 6 may be made large without using the printed circuit board 10 to have a configuration similar to the pattern arrangement as shown in FIG. In this case, PCOM57P
To strengthen the GND58 wiring pattern, for example, a glass frit-based gold paste or silver paste is overprinted on the conductor pattern 3 made of an organic gold paste, and then a necessary portion is exposed with the glass paste to bond the wire with the gold wire 9. Should be done. Also, the connector 15 is 57, 58, 59, 6
The flexible printed circuit board may be pressure-contacted with the 0, 61, and 63 patterns and subjected to thermocompression bonding with an anisotropic conductive film, indium solder, or the like, and then the connector 15 may be soldered to the flexible printed circuit board. Further, the connector may be directly connected to the pattern using indium solder or the like, or may be a pressure contact structure.

【0023】実施例9.実施例1ではGND−L45とG
ND−H47を接続してPGND63としたがサーマルヘッ
ドのコネクタのピンまで分離しサーマルヘッド使用装置
電源の端子近傍で接続する構成としても良くまた信号パ
ターン配線に関して特に限定しないのは言うまでもな
い。
Example 9. In Example 1, GND-L45 and G
Although the ND-H47 is connected to form the PGND63, the pin of the connector of the thermal head may be separated and connected in the vicinity of the terminal of the power source of the thermal head using device. Needless to say, the signal pattern wiring is not particularly limited.

【0024】実施例10.実施例1では、くし状部分の
共通電極パターン幅と、個別電極パターン幅を同一とし
たが、発熱抵抗体の抵抗値が低く電流が多い場合には共
通電極パターン幅を広くすることにより共通電極接続パ
ターンの損失を小さくすることができる。
Example 10. In the first embodiment, the common electrode pattern width of the comb-shaped portion and the individual electrode pattern width are the same. However, when the resistance value of the heating resistor is low and the current is large, the common electrode pattern width is increased to increase the common electrode pattern width. The loss of the connection pattern can be reduced.

【0025】実施例11.図25、図26に示すよう
に、さらに高導電膜400を形成してもよい。具体的に
は、保護膜5形成の後、発熱抵抗体4上に導電性のガラ
スペーストをスクリーン印刷し、乾燥、焼成することで
形成される。この高導電膜400は、保護膜5に被われて
いない共通電極ブロック端子32の一部分のプローブ端子
34と接続されることにより、印字中に発生した静電気を
共通電極ブロックを介して外部に逃すことができ、発熱
抵抗体4の静電気による不良を防止することができる。
Example 11. As shown in FIGS. 25 and 26, a high conductive film 400 may be further formed. Specifically, after the protective film 5 is formed, a conductive glass paste is screen-printed on the heating resistor 4 and dried and baked to form the protective film 5. The high conductive film 400 is a probe terminal of a part of the common electrode block terminal 32 which is not covered with the protective film 5.
By being connected to 34, static electricity generated during printing can be released to the outside through the common electrode block, and defects due to static electricity of the heating resistor 4 can be prevented.

【0026】実施例12.図27、図28、図29は、
この発明の他の実施例によるサーマルヘッドの平面図で
ある。図30、図31に示すような従来のサーマルヘッ
ドにおいては、はみ出した接着剤が保護膜5の縁に沿っ
て共通電極パッド24b上に拡散し、毛細管現象により共
通電極パッド24bとAuワイヤ9とが接続できなかった
り、又は接続しても強度が弱い等の接続不良が発生して
いた。しかしながら、図27に示すように保護膜5の形
状を共通電極パッド24bを挟むように山型とすることに
より、かかる問題点を解消することができる。さらに図
28、図29に示すようにかかる保護膜5の形状を谷型
又は台形にしても同様な効果が得られる。
Embodiment 12 FIGS. 27, 28 and 29 show
FIG. 6 is a plan view of a thermal head according to another embodiment of the present invention. In the conventional thermal head as shown in FIG. 30 and FIG. 31, the protruding adhesive spreads on the common electrode pad 24b along the edge of the protective film 5 and the common electrode pad 24b and the Au wire 9 due to the capillary phenomenon. Could not be connected, or even if it was connected, there was a connection failure such as weak strength. However, as shown in FIG. 27, the problem can be solved by forming the protective film 5 into a mountain shape so as to sandwich the common electrode pad 24b. Further, as shown in FIGS. 28 and 29, if the shape of the protective film 5 is valley-shaped or trapezoidal, the same effect can be obtained.

【0027】実施例13.また、ICチップの接続方法
に関しては、ワイヤボンドでなく、半田パンプ、金パン
プによるフリップチップICを使用したフェースダウン
方式やフィルムを用いたタブ方式等を用いた接続でもよ
く、特に限定するものではない。
Embodiment 13 Regarding the connection method of the IC chips, instead of wire bonding, connection using a face-down method using a flip chip IC by solder pump or gold pump, or a tab method using a film, etc. Well, it is not particularly limited.

【0028】実施例14.導体パターンを有機金ペース
トを0.5μm厚にて形成した場合を示したが、他の導体
材料であってもよい。特に発熱抵抗体の抵抗値が高抵抗
であれば、比抵抗の高い例えばAl等の金属や導体の混
入した樹脂ペーストを用いたパターンでも良く、特に限
定するものではない。
Example 14 Although the case where the conductor pattern is formed of the organic gold paste with a thickness of 0.5 μm is shown, other conductor materials may be used. In particular, as long as the resistance value of the heating resistor is high, it may be a pattern using a resin paste having a high specific resistance, for example, a metal such as Al or a conductor mixed therein, and is not particularly limited.

【0029】実施例15.また、ICチップの動作回路
は、特に限定するものではなく、ラッチ回路がなかった
りしても良いし、信号端子数を減らすようにしても良
い。
Fifteenth Embodiment Further, the operation circuit of the IC chip is not particularly limited, and it may be possible to omit the latch circuit or reduce the number of signal terminals.

【0030】[0030]

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。発
熱抵抗体を介して、ICチップ側と、その反対方向に共
通電極パターンを配置し、該共通電極パターンを複数パ
ターンにて接続し、ICチップの発熱抵抗体側に発熱抵
抗体の駆動端子を配置し、導体パターンと接続したこと
により、全ビットの折返しの必要がないので、パターン
密度が低くなり、パターンニングが容易となる。特に発
熱抵抗体が帯状である場合には、隣接素子への伝達によ
る蓄熱により、損失抵抗による損失を低減できる。発熱
抵抗体とICチップとの間に共通電極のプロービングポ
イントを設けることにより、ブロック毎にプロービング
を行うことができ、信頼性が向上するほか、感熱紙のか
すがたまらないため画質不良に結びつかない。また、か
かるプロービングポイントに高導電膜を接触させること
により静電防止となる。ICチップと共通電極パターン
との間の絶縁パターンを部分的に変更することにより、
接着剤のはみ出しを防止し、歩留まりを向上し、生産性
を上げることができる。一方、発熱抵抗体を介して、I
Cチップ側と、その反対方向に共通電極パターンを配置
し、該共通電極パターンをN本のパターンにて接続し、
該ICチップ側共通電極パターンと接続された外部共通
電極パターンを片側から引き回すことにより接続用コネ
クタ部と接続したことにより、装置を小型化することが
でき、又プリント基板の一定面積当りの取り枚数を増加
させることができる。ICチップ内のデータ入力端子と
データ出力端子と駆動端子を片側方向に配置し、絶縁基
板上の導体パターンに接続することで発熱基板に印字デ
ータ入出力端子を配置することにより、発熱基板とプリ
ント配線板との熱膨張率の相違に基づく断線を防止し、
歩留まりを向上させることができる。ICチップ内の駆
動端子配置をグループ化し、グループ分けした間に共通
電極接続パターンを配置することで、金ワイヤが該接続
パターンに接触せず、信頼性が向上する。ICチップの
発熱抵抗体の駆動端子をM個と2M個の同一ピッチにて
配列された群にすることにより、より信頼性を向上させ
ることができる。また、ICチップの下部に共通電極を
配置することにより、発熱基板における面積の有効利用
が可能となり、単位基板当りの取り枚数が増加する。I
Cチップの駆動信号端子を別の基板の導体パターンに接
続し、接続した導体パターン位置の下部に幅広の導体パ
ターンを配置することにより、プリント配線板のワイヤ
ステッチ部の下が平坦となり、両面テープとの密着が均
一となる。別の基板の幅広の導体パターンを絶縁基板上
の共通電極パターンと接続された共通電極パターンとす
ることにより、さらに両面テープとの密着性が向上す
る。別の基板のICチップの駆動信号端子が接続される
導体パターンがICチップ側の基板端までないことによ
り、プリント基板のメッキリードが不要となり、歩留ま
りが向上する。ICチップの長手方向の片側に発熱抵抗
体駆動端子と印字データ入力端子と印字データ出力端子
を配置し、中央部付近に接地端子を配置し、他方側にI
Cチップ駆動信号端子を配置することにより、ICチッ
プのパターン配置が容易となり、GNDパターンが中央
で幅広にとることができ、ICでのGNDパターンの損
失が少なくなり、任意の箇所でのGNDを取ることが可
能となる。ICチップの発熱抵抗体の駆動端子がM個と
2M個の同一ピッチにて配列された群からなり、各群の
間隔は駆動端子の配列ピッチと異なり、同一ピッチとな
り、歩留まりが向上する。接地端子が3箇所であり、1
箇所はL個の発熱抵抗体の駆動端子の中央に位置し、他
の2箇所の位置が中央の駆動端子位置からL/4から2
L/5端子数分離れたことにより、損失電圧のばらつき
が少なくなり、ひいては印字ばらつきを少なくし、印字
品質の向上につなげることができる。ICチップ駆動用
信号端子のICチップ内部にてプルダウン抵抗に接続さ
れている信号端子の隣接をICチップ駆動電源端子と
し、ICチップ内部にてプルアップ抵抗に接続されてい
る信号端子の隣接をICチップ駆動電源の接地側端子と
したことにより、接続される導体パターン配線が容易に
なる。別基板の接続パターンとなる端子に角型パターン
を設けるのでパターン認識上の認識率が上がり、主とし
て歩留まりが向上する。さらに別基板とICチップ駆動
信号端子を2点以上で接続するので、より信頼性が上が
る。共通電極と個別電極が交互になるくし状部分におい
て、発熱抵抗体の抵抗値が低く電流が多い場合には、共
通電極パターン幅を個別電極の幅より広くすることによ
って共通電極パターンの損失を小さし、画質を向上する
ことができる。
Since the present invention is constructed as described above, it has the following effects. A common electrode pattern is arranged on the IC chip side and in the opposite direction through the heat generating resistor, the common electrode patterns are connected in a plurality of patterns, and a drive terminal of the heat generating resistor is arranged on the heat generating resistor side of the IC chip. However, since it is not necessary to fold all the bits by connecting to the conductor pattern, the pattern density becomes low and the patterning becomes easy. In particular, when the heating resistor has a strip shape, the loss due to the loss resistance can be reduced by the heat accumulated by the transfer to the adjacent element. Probing points of the common electrode are provided between the heating resistor and the IC chip, so that probing can be performed for each block, reliability is improved, and debris of the thermal paper does not accumulate, which does not lead to poor image quality. In addition, static electricity can be prevented by bringing the high conductive film into contact with the probing point. By partially changing the insulating pattern between the IC chip and the common electrode pattern,
It is possible to prevent the adhesive from squeezing out, improve the yield, and increase the productivity. On the other hand, through the heating resistor, I
A common electrode pattern is arranged on the C chip side and in the opposite direction, and the common electrode pattern is connected by N patterns,
By connecting the external common electrode pattern connected to the IC chip side common electrode pattern from one side and connecting to the connector portion for connection, the device can be downsized, and the number of printed circuit boards per fixed area can be reduced. Can be increased. By arranging the data input terminal, data output terminal, and drive terminal in the IC chip in one direction and connecting them to the conductor pattern on the insulating board to arrange the print data input / output terminals on the heat generating board, the heat generating board and the print can be printed. Prevents disconnection due to the difference in coefficient of thermal expansion from the wiring board,
The yield can be improved. By grouping the drive terminal arrangements in the IC chip and arranging the common electrode connection pattern between the groups, the gold wire does not contact the connection pattern and reliability is improved. The reliability can be further improved by forming the driving terminals of the heat generating resistors of the IC chip into M and 2M groups arranged at the same pitch. Further, by disposing the common electrode below the IC chip, the area of the heat generating substrate can be effectively used, and the number of sheets taken per unit substrate is increased. I
By connecting the drive signal terminal of the C chip to a conductor pattern on another board and arranging a wide conductor pattern below the connected conductor pattern position, the bottom of the wire stitch portion of the printed wiring board becomes flat, and the double-sided tape Uniform contact with By making the wide conductor pattern of another substrate a common electrode pattern connected to the common electrode pattern on the insulating substrate, the adhesion with the double-sided tape is further improved. Since the conductor pattern to which the drive signal terminal of the IC chip of the other substrate is connected does not extend to the substrate end on the IC chip side, the plating lead of the printed circuit board becomes unnecessary and the yield is improved. A heating resistor driving terminal, a print data input terminal, and a print data output terminal are arranged on one side in the longitudinal direction of the IC chip, a ground terminal is arranged near the center, and an I terminal is arranged on the other side.
By arranging the C chip drive signal terminal, the pattern arrangement of the IC chip can be facilitated, the GND pattern can be widened in the center, the loss of the GND pattern in the IC can be reduced, and the GND at any place can be reduced. It is possible to take. The driving terminals of the heat generating resistors of the IC chip are composed of M and 2M groups arranged at the same pitch, and the intervals between the groups are different from the arrangement pitch of the driving terminals and have the same pitch, thus improving the yield. There are 3 ground terminals, 1
The location is located at the center of the drive terminals of the L heating resistors, and the other two locations are located at L / 4 to 2 from the center drive terminal location.
By separating the number of L / 5 terminals, it is possible to reduce the variation in loss voltage, which in turn reduces the variation in printing, which leads to an improvement in printing quality. An IC chip driving power supply terminal is adjacent to a signal terminal connected to a pull-down resistor inside the IC chip of the IC chip driving signal terminal, and an IC is adjacent to a signal terminal connected to a pull-up resistor inside the IC chip. By using the ground side terminal of the chip drive power source, the conductor pattern wiring to be connected becomes easy. Since the rectangular pattern is provided on the terminal serving as the connection pattern of the separate substrate, the recognition rate in pattern recognition is increased, and the yield is mainly improved. Further, since the separate substrate and the IC chip drive signal terminal are connected at two or more points, the reliability is further improved. In the comb-shaped part where the common electrode and the individual electrode alternate, if the resistance value of the heating resistor is low and the current is large, the common electrode pattern width can be made wider than the individual electrode width to reduce the loss of the common electrode pattern. However, the image quality can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの斜
視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a thermal head according to an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの断
面図である。
FIG. 2 is a sectional view of a thermal head according to an embodiment of the present invention.

【図3】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの製
造工程を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a manufacturing process of the thermal head according to the embodiment of the present invention.

【図4】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの発
熱基板の導体パターンを示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a conductor pattern of a heat generating substrate of a thermal head according to an embodiment of the present invention.

【図5】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの発
熱基板の導体パターン及び発熱抵抗体を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a conductor pattern and a heating resistor of a heating substrate of a thermal head according to an embodiment of the present invention.

【図6】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの発
熱基板の保護膜パターンを示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a protective film pattern of a heat generating substrate of a thermal head according to an embodiment of the present invention.

【図7】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの発
熱基板上のICチップ実装図である。
FIG. 7 is an IC chip mounting diagram on a heat generating substrate of a thermal head according to an embodiment of the present invention.

【図8】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの駆
動用ICチップの回路図である。
FIG. 8 is a circuit diagram of an IC chip for driving a thermal head according to an embodiment of the present invention.

【図9】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの別
基板とICチップ実装図である。
FIG. 9 is another IC chip mounting diagram of a thermal head according to an embodiment of the present invention.

【図10】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの
別基板の裏面パターン図である。
FIG. 10 is a rear surface pattern view of another substrate of the thermal head according to the embodiment of the present invention.

【図11】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの
別基板と先頭ICチップとの実装図である。
FIG. 11 is a mounting view of another substrate of the thermal head and the leading IC chip according to the embodiment of the present invention.

【図12】従来のサーマルヘッドの別基板の製造工程の
メッキ工程を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a plating step in the manufacturing process of another substrate of the conventional thermal head.

【図13】メッキリードによる端子厚みのばらつきを示
す図である。
FIG. 13 is a diagram showing variations in terminal thickness due to plated leads.

【図14】ICチップ内の接地端子位置と損失を示す図
である。
FIG. 14 is a diagram showing a ground terminal position and a loss in the IC chip.

【図15】この発明の他の実施例のサーマルヘッドの別
基板のパターン図である。
FIG. 15 is a pattern diagram of another substrate of the thermal head according to another embodiment of the present invention.

【図16】この発明の他の実施例のサーマルヘッドの別
基板のパターン図である。
FIG. 16 is a pattern diagram of another substrate of the thermal head of another embodiment of the present invention.

【図17】この発明の他の実施例のサーマルヘッドのI
Cチップ実装図である。
FIG. 17 is a thermal head I of another embodiment of the present invention.
It is a C chip mounting view.

【図18】この発明の他の実施例のサーマルヘッドを示
す図である。
FIG. 18 is a diagram showing a thermal head of another embodiment of the present invention.

【図19】この発明の他の実施例のサーマルヘッドを示
す図である。
FIG. 19 is a diagram showing a thermal head of another embodiment of the present invention.

【図20】この発明の一実施例のサーマルヘッドの等価
回路図である。
FIG. 20 is an equivalent circuit diagram of a thermal head according to an embodiment of the present invention.

【図21】従来のサーマルヘッドを示す斜視図である。FIG. 21 is a perspective view showing a conventional thermal head.

【図22】従来のサーマルヘッドを示す断面図である。FIG. 22 is a sectional view showing a conventional thermal head.

【図23】従来のサーマルヘッドを示す等価回路図であ
る。
FIG. 23 is an equivalent circuit diagram showing a conventional thermal head.

【図24】従来のサーマルヘッドのICチップを示す図
である。
FIG. 24 is a diagram showing an IC chip of a conventional thermal head.

【図25】この発明の他の実施例によるサーマルヘッド
の製造工程を示す図である。
FIG. 25 is a diagram showing manufacturing steps of a thermal head according to another embodiment of the present invention.

【図26】この発明の他の実施例によるサーマルヘッド
の発熱基板の保護パターン及び高導電膜パターンを示す
図である。
FIG. 26 is a diagram showing a protection pattern and a high conductive film pattern of a heat generating substrate of a thermal head according to another embodiment of the present invention.

【図27】この発明の他の実施例によるサーマルヘッド
の平面図である。
FIG. 27 is a plan view of a thermal head according to another embodiment of the present invention.

【図28】この発明の他の実施例によるサーマルヘッド
の平面図である。
FIG. 28 is a plan view of a thermal head according to another embodiment of the present invention.

【図29】この発明の他の実施例によるサーマルヘッド
の平面図である。
FIG. 29 is a plan view of a thermal head according to another embodiment of the present invention.

【図30】従来のサーマルヘッドの平面図である。FIG. 30 is a plan view of a conventional thermal head.

【図31】従来のサーマルヘッドの平面図である。FIG. 31 is a plan view of a conventional thermal head.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 アルミナセラミック基板 2 蓄熱層 3 導体パターン 4 発熱抵抗体 5 保護膜 6 発熱基板 7 接着剤 8 ICチップ 9 金ワイヤ 10 プリント基板 11 裏面ソルダーレジスト層 12 裏面パターン 13 表面パターン 14 表面ソルダーレジスト層 15 ボンディング端子 16 コネクタ 17 半田 18 支持台 19 両面テープ 20 記録紙 21 プラテンローラ 22 保護樹脂 23 カバー 24a 端部共通電極 24b IC下部共通電極 25 個別電極 26a 個別電極群a 26b 個別電極群b 27 共通電極接続パターン 28 DIN端子 29 DOUT端子 30 認識パターン 31 位置認識パターン 32 共通電極ブロック端子 33 くし状部分 34 プローブ端子 35 個別電極端子 36 コモン接続端子 37 DATA OUT 38 DATA IN 39 DO 40 COM間隔 41 CLOCK 42 VDD 43 ENH 44 ENL 45 GND−L 46 LATCH 47a GND−H 47b GND−H 47c GND−H 48 BCLOCK 49 BVDD 50 BENH 51 BENL 52 BGND−L 53 BLATCH 54a , 54b ,54c BGND−H 55 BCOM 56 スルーホール 57 PCOM 58 PCLOCK 59 PVDD 60 PENH 61 PENL 62 PLATCH 63 PGND 64 TDATA 65 BDATA 66 PDATA 70 大型基板 71 メッキリード 72 ワイヤボンディング側メッキリード 73 コネクタ側メッキリード 74 角型パターン 75 片面パターン 80 IC回路 90 コモン強化部分 100 BDATA IN 101 BDATA OUT 300 導体層 400 高導電膜 1 Alumina Ceramic Substrate 2 Heat Storage Layer 3 Conductor Pattern 4 Heating Resistor 5 Protective Film 6 Heating Board 7 Adhesive 8 IC Chip 9 Gold Wire 10 Printed Circuit Board 11 Backside Solder Resist Layer 12 Backside Pattern 13 Surface Pattern 14 Surface Solder Resist Layer 15 Bonding Terminal 16 Connector 17 Solder 18 Support 19 Double-sided tape 20 Recording paper 21 Platen roller 22 Protective resin 23 Cover 24a Edge common electrode 24b IC lower common electrode 25 Individual electrode 26a Individual electrode group a 26b Individual electrode group b 27 Common electrode connection pattern 28 DIN terminal 29 DOUT terminal 30 Recognition pattern 31 Position recognition pattern 32 Common electrode block terminal 33 Comb-shaped portion 34 Probe terminal 35 Individual electrode terminal 36 Common connection terminal 37 DATA OUT 38 DATA IN 39 DO 40 COM interval 41 CLOCK 42 VDD 43 ENH 44 ENL 45 GND-L 46 LAT H 47a GND-H 47b GND-H 47c GND-H 48 BCLOCK 49 BVDD 50 BENH 51 BENL 52 BGND-L 53 BLATCH 54a, 54b, 54c BGND-H 55 BCOM 56 56 Through-hole 57 PCOM 58 PECL 59 61 VDD 60PLOCK 59NH 62 PLATCH 63 PGND 64 TDATA 65 BDATA 66 PDATA 70 Large-sized board 71 Plating lead 72 Wire bonding side Plating lead 73 Connector side plating lead 74 Square pattern 75 Single-sided pattern 80 IC circuit 90 Common reinforced part 100 BDATA IN 101 BDATA OUT 300 Conductor layer 400 High conductive film

Claims (20)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に導体パターンと、M個の発熱抵
抗体と、該発熱抵抗体を印字情報に基づいて駆動する複
数個のICチップを備えたサーマルヘッドにおいて、発
熱抵抗体を介して、ICチップ側と、その反対方向に共
通電極パターンを配置し、該共通電極パターンをN本の
パターンにて接続し、ICチップの発熱抵抗体側に発熱
抵抗体の駆動端子を配置し、導体パターンと接続したこ
とを特徴とするサーマルヘッド。
1. A thermal head comprising a conductor pattern, M heat generating resistors on a substrate, and a plurality of IC chips for driving the heat generating resistors based on print information. , A common electrode pattern is arranged on the IC chip side and in the opposite direction, the common electrode patterns are connected by N patterns, and a drive terminal of the heat generating resistor is arranged on the heat generating resistor side of the IC chip. A thermal head characterized by being connected to.
【請求項2】 発熱抵抗体が帯状の連続抵抗体であるこ
とを特徴とする請求項1記載のサーマルヘッド。
2. The thermal head according to claim 1, wherein the heating resistor is a strip-shaped continuous resistor.
【請求項3】 発熱抵抗体とICチップとの間に共通電
極のプロービングポイントを設けたことを特徴とする請
求項1、2いずれか記載のサーマルヘッド。
3. The thermal head according to claim 1, wherein a probing point of a common electrode is provided between the heating resistor and the IC chip.
【請求項4】 プロービングポイントに高導電膜を接触
させたことを特徴とするサーマルヘッド。
4. A thermal head comprising a high conductive film in contact with a probing point.
【請求項5】 共通電極と、該共通電極上に設けられた
絶縁パターンと、ICチップを該絶縁パターン上に設置
するために設けられた接着剤とを有し、該ICチップと
ICチップ間の共通電極パターンより外部共通電極パタ
ーンに接続する構成において、該ICチップ間の共通電
極パターン上の絶縁パターンをICチップ下面の絶縁パ
ターン幅と異ならせたことを特徴とするサーマルヘッ
ド。
5. A space between the IC chip and the IC chip, comprising a common electrode, an insulating pattern provided on the common electrode, and an adhesive provided to set an IC chip on the insulating pattern. In the structure in which the common electrode pattern is connected to the external common electrode pattern, the insulation pattern on the common electrode pattern between the IC chips is different from the insulation pattern width on the lower surface of the IC chip.
【請求項6】 基板上に導体パターンと、M個の発熱抵
抗体と、該発熱抵抗体を印字情報に基づいて駆動する複
数個のICチップを備えたサーマルヘッドにおいて、発
熱抵抗体を介して、ICチップ側と、その反対方向に共
通電極パターンを配置し、該共通電極パターンをN本の
パターンにて接続し、該ICチップ側共通電極パターン
と接続された該共通電極パターンと平行するように配置
された外部共通電極パターンと接続され、ほぼ直交する
パターンパターンで接続用コネクタ部と接続したことを
特徴とするサーマルヘッド。
6. A thermal head comprising a conductor pattern, M heat generating resistors on a substrate, and a plurality of IC chips for driving the heat generating resistors based on printing information. , A common electrode pattern is arranged on the IC chip side and in the opposite direction, and the common electrode pattern is connected by N patterns so that it is parallel to the common electrode pattern connected to the IC chip side common electrode pattern. The thermal head is characterized in that the thermal head is connected to the external common electrode pattern arranged in, and is connected to the connecting connector portion in a pattern pattern that is substantially orthogonal.
【請求項7】 印字データ入力端子と印字データ出力端
子をICチップの発熱抵抗体側に配置したことを特徴と
する請求項1、2いずれか記載のサーマルヘッド。
7. The thermal head according to claim 1, wherein the print data input terminal and the print data output terminal are arranged on the heating resistor side of the IC chip.
【請求項8】 ICチップの発熱抵抗体の駆動端子が、
いくつかの同一のピッチにて配列された群からなり、該
群の間に位置するように共通電極接続パターンが配置さ
れていることを特徴とする請求項1、2いずれか記載の
サーマルヘッド。
8. The driving terminal of the heating resistor of the IC chip,
3. The thermal head according to claim 1, wherein the thermal head comprises a plurality of groups arranged at the same pitch, and the common electrode connection pattern is arranged so as to be located between the groups.
【請求項9】 ICチップの発熱抵抗体の駆動端子が端
部においてM個、中央部において2M個の同一ピッチに
て配列された群からなることを特徴とする請求項8記載
のサーマルヘッド。
9. The thermal head according to claim 8, wherein the driving terminals of the heating resistor of the IC chip are composed of M groups arranged at the same pitch at the end portions and 2M at the central portion.
【請求項10】 ICチップの下部に共通電極が配置さ
れることを特徴とする請求項1、2、6〜9いずれか記
載のサーマルヘッド。
10. The thermal head according to claim 1, wherein a common electrode is arranged below the IC chip.
【請求項11】 ICチップの駆動信号端子が別の基板
の導体パターンに接続され、接続される導体パターン位
置の下部に幅広の導体パターンが配置されることを特徴
とする請求項1、2、6〜10いずれか記載のサーマル
ヘッド。
11. A drive signal terminal of an IC chip is connected to a conductor pattern of another substrate, and a wide conductor pattern is arranged below a conductor pattern position to be connected. The thermal head according to any one of 6 to 10.
【請求項12】 別の基板の幅広の導体パターンが、絶
縁基板上の共通電極パターンと接続された共通電極パタ
ーンであることを特徴とする請求項1、2、6〜11い
ずれか記載のサーマルヘッド。
12. The thermal conductor according to claim 1, wherein the wide conductor pattern of the other substrate is a common electrode pattern connected to the common electrode pattern on the insulating substrate. head.
【請求項13】 別の基板のICチップの駆動信号端子
が接続される導体パターンがICチップ側の基板端まで
ないことを特徴とする請求項1、2、6〜12いずれか
記載のサーマルヘッド。
13. The thermal head according to claim 1, wherein the conductor pattern to which the drive signal terminal of the IC chip on the other substrate is connected is not extended to the substrate end on the IC chip side. ..
【請求項14】 ICチップの長手方向の片側に発熱抵
抗体駆動端子と印字データ入力端子と印字データ出力端
子を配置し、中央部付近に接地端子を配置し、他方側に
ICチップ駆動信号端子を配置したことを特徴とするサ
ーマルヘッドのICチップ。
14. A heating resistor driving terminal, a print data input terminal, and a print data output terminal are arranged on one side in the longitudinal direction of the IC chip, a ground terminal is arranged near the central portion, and an IC chip drive signal terminal is arranged on the other side. An IC chip for a thermal head, characterized in that
【請求項15】ICチップの発熱抵抗体の駆動端子がM
個と2M個の同一ピッチにて配列された群からなり、各
群の間隔は駆動端子の配列ピッチと異なり、ICチップ
端部にデータ入力端子と、データ出力端子が配置された
ことを特徴とする請求項8、9いずれか記載のサーマル
ヘッドのICチップ。
15. The driving terminal of the heating resistor of the IC chip is M.
1M and 2M groups arranged at the same pitch, and the interval of each group is different from the arrangement pitch of the drive terminals, and the data input terminals and the data output terminals are arranged at the end of the IC chip. The IC chip of the thermal head according to claim 8,
【請求項16】 接地端子が3箇所であり、1箇所はL
個の発熱抵抗体の駆動端子の中央に位置し、他の2箇所
の位置が中央の駆動端子位置からL/4から2L/5端
子数分離れたことを特徴とする請求項14、15いずれ
か記載のサーマルヘッドのICチップ。
16. A ground terminal is provided at three locations, and one location is L
16. Each of the heating resistors is located at the center of the driving terminal and the other two positions are separated from the central driving terminal position by L / 4 to 2L / 5 terminals. The IC chip of the thermal head described above.
【請求項17】 ICチップ駆動用信号端子のICチッ
プ内部にてプルダウン抵抗に接続されている信号端子の
隣接をICチップ駆動電源端子とし、ICチップ内部に
てプルアップ抵抗に接続されている信号端子の隣接をI
Cチップ駆動電源の接地側端子としたことを特徴とする
サーマルヘッドのICチップ。
17. A signal connected to a pull-up resistor inside the IC chip, with an IC chip drive power supply terminal adjacent to a signal terminal connected to a pull-down resistor inside the IC chip of the IC chip drive signal terminal. Adjacent to the terminal I
An IC chip for a thermal head, which is used as a ground side terminal of a C chip drive power source.
【請求項18】 ICチップの駆動信号端子と接続され
る別の基板の接続端子部分にパターン認識用の角型パタ
ーンを設けたことを特徴とする請求項1、2、6〜13
いずれか記載のサーマルヘッド。
18. A rectangular pattern for pattern recognition is provided on a connection terminal portion of another substrate connected to a drive signal terminal of an IC chip, and the square pattern for pattern recognition is provided.
Any one of the thermal heads.
【請求項19】 ICチップの駆動信号端子と導体パタ
ーンの接続点数を2箇所以上としたことを特徴とする請
求項1、2、6〜13、18いずれか記載のサーマルヘ
ッド。
19. The thermal head according to claim 1, wherein the number of connection points between the drive signal terminal of the IC chip and the conductor pattern is two or more.
【請求項20】 共通電極と個別電極が交互になるくし
状部分において共通電極パターン幅が個別電極の幅より
広いことを特徴とする請求項1、2、6〜13、18、
19いずれか記載のサーマルヘッド。
20. The common electrode pattern width is wider than the width of the individual electrode in the comb-shaped portion in which the common electrode and the individual electrode are alternately arranged.
19. The thermal head according to any one of 19.
JP3222613A 1991-09-03 1991-09-03 Thermal head and its driving IC Expired - Fee Related JP2658657B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3222613A JP2658657B2 (en) 1991-09-03 1991-09-03 Thermal head and its driving IC

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3222613A JP2658657B2 (en) 1991-09-03 1991-09-03 Thermal head and its driving IC

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0557941A true JPH0557941A (en) 1993-03-09
JP2658657B2 JP2658657B2 (en) 1997-09-30

Family

ID=16785202

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3222613A Expired - Fee Related JP2658657B2 (en) 1991-09-03 1991-09-03 Thermal head and its driving IC

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2658657B2 (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001301219A (en) * 2000-04-19 2001-10-30 Rohm Co Ltd Thermal print head
JP2010064305A (en) * 2008-09-09 2010-03-25 Kyocera Corp Recording head, and recording device with the same
JP2012111049A (en) * 2010-11-19 2012-06-14 Rohm Co Ltd Thermal print head and method of manufacturing the same
CN102555515A (en) * 2010-11-19 2012-07-11 罗姆股份有限公司 Thermal print head and method of manufacturing the same
WO2023210426A1 (en) * 2022-04-28 2023-11-02 ローム株式会社 Thermal print head and thermal printer

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3106045U (en) * 2004-04-12 2004-12-16 香代子 宮地 Drink paper pack that does not pop out even if you hold the side

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3106045U (en) * 2004-04-12 2004-12-16 香代子 宮地 Drink paper pack that does not pop out even if you hold the side

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001301219A (en) * 2000-04-19 2001-10-30 Rohm Co Ltd Thermal print head
JP2010064305A (en) * 2008-09-09 2010-03-25 Kyocera Corp Recording head, and recording device with the same
JP2012111049A (en) * 2010-11-19 2012-06-14 Rohm Co Ltd Thermal print head and method of manufacturing the same
CN102555515A (en) * 2010-11-19 2012-07-11 罗姆股份有限公司 Thermal print head and method of manufacturing the same
WO2023210426A1 (en) * 2022-04-28 2023-11-02 ローム株式会社 Thermal print head and thermal printer

Also Published As

Publication number Publication date
JP2658657B2 (en) 1997-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8922610B2 (en) Thermal head and thermal printer provided with same
JP3115453B2 (en) Thermal head and thermal recording device
JPH0557941A (en) Thermal head and driving ic therefor
JPH0712702B2 (en) Thermal head
JPS6236873B2 (en)
JP2020179514A (en) Driver ic for thermal print head, thermal print head and wiring pattern of thermal print head
US4990935A (en) Thermal head
JP3234003B2 (en) Thermal head
JP3203416B2 (en) Thermal print head
JPH0339251Y2 (en)
US4315135A (en) Thermal recording head
JP2812806B2 (en) Package for integrated circuit with test pad
JPS60183752A (en) Long electronic device
JPH10138542A (en) Thermal head
JPS592865A (en) Thermal heat to be carried on driver
JPS6080233A (en) Integrated circuit device
JP2001191572A (en) Thermal head
JPH04366658A (en) Led printing head
JP2000313133A (en) Small thermal print head
JPS5934510B2 (en) thermal head
KR940010877B1 (en) Photo diode printer head
JPH0225247Y2 (en)
JPH04366659A (en) Led printing head
JPH0858128A (en) Thermal head
JPS5851832B2 (en) thermal recording head

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 11

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080606

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080606

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 12

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090606

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees