JP2658657B2 - Thermal head and its driving IC - Google Patents
Thermal head and its driving ICInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明はサーマルヘッドの改良
に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement in a thermal head.
【0002】[0002]
【従来の技術】図21は例えば三菱電機(株)より1990年
4月に出版されたFシリーズなるサーマルヘッドの部分
的斜視図であり、図22はその断面図、図23はその等価的
回路図である。図21,図22,図23において、1はアルミ
ナセラミック基板、2は蓄熱層、3は導体パターン、4
は発熱抵抗体、5は保護膜、6は発熱基板、7は接着
剤、8はICチップ、9は金ワイヤ、10はプリント基
板、11は裏面ソルダーレジスト、12は裏面パターン、13
は表面パターン、14は表面ソルダーレジスト層、15はボ
ンディング端子、16はコネクタ、17は半田、18は支持
台、19は両面テープ、20は記録紙、21はプラテンロー
ラ、22は保護樹脂、23はカバー、57は共通電極を引き回
したパターン(以下PCOMと称す。)、63は接地端子
を引き回したパターン(以下PGNDと称す。)また80
はICチップ8の回路(以下IC回路と称す。)90は共
通電極のパターンPCOM57の配線パターン抵抗を下げ
る為に形成したコモン強化部分である。2. Description of the Related Art FIG. 21 is, for example, from Mitsubishi Electric Corporation in 1990.
FIG. 22 is a partial perspective view of an F-series thermal head published in April, FIG. 22 is a sectional view thereof, and FIG. 23 is an equivalent circuit diagram thereof. 21, 22 and 23, 1 is an alumina ceramic substrate, 2 is a heat storage layer, 3 is a conductor pattern,
Is a heating resistor, 5 is a protective film, 6 is a heating substrate, 7 is an adhesive, 8 is an IC chip, 9 is a gold wire, 10 is a printed circuit board, 11 is a backside solder resist, 12 is a backside pattern, 13
Is a surface pattern, 14 is a surface solder resist layer, 15 is a bonding terminal, 16 is a connector, 17 is a solder, 18 is a support base, 19 is a double-sided tape, 20 is a recording paper, 21 is a platen roller, 22 is a protective resin, 23 Is a cover, 57 is a pattern in which common electrodes are routed (hereinafter, referred to as PCOM), 63 is a pattern in which ground terminals are routed (hereinafter, referred to as PGND), and 80 is a pattern.
Reference numeral 90 denotes a circuit of the IC chip 8 (hereinafter referred to as an IC circuit) 90 is a common reinforcing portion formed to lower the wiring pattern resistance of the common electrode pattern PCOM57.
【0003】また、図24は従来のサーマルヘッドのIC
チップ実装図であり、34はプローブ端子、37,38,41,
42,43,44, 45,46,47a , 47b ,47c はICチップ8
の信号でそれぞれDATA IN、DATA OUT
、CLOCK、VDD、ENH、ENL、GND−
L、LATCH、GND−Hを示し、また、48,49,5
0,51,52,53,54はプリント基板10のボンディング端子
15でそれぞれ、ICチップ8の各信号に接続されるBC
LOCK,BVDD,BENH,BENL,BGND−
L,BLATCH,BGND−Hであり、100 はDAT
A IN38に接続されるBDATA IN、101 はDA
TA OUT37に接続されるBDATA OUTであ
り、100 と101 は順次プリント基板10側でパターン接続
される。BDATA IN100 がプリント基板10の端部
まであるのは、プリント基板10製造時のメッキリードを
かねているからである。又、従来のサーマルヘッドにお
いては、ICチップの接着剤のはみ出した接着剤7が保
護膜5の縁に沿って拡散し、毛細管現象により導体パタ
ーン3とAuワイヤ9とが接続できなかったり、又は接
続しても強度が弱い等の接続不良が発生していた。FIG. 24 shows a conventional thermal head IC.
It is a chip mounting diagram, 34 is a probe terminal, 37, 38, 41,
42, 43, 44, 45, 46, 47a, 47b and 47c are IC chips 8
DATA IN, DATA OUT
, CLOCK, VDD, ENH, ENL, GND-
L, LATCH, and GND-H.
0,51,52,53,54 are bonding terminals of the printed circuit board 10.
The BC connected to each signal of the IC chip 8 at 15
LOCK, BVDD, BENH, BENL, BGND-
L, BLATCH, BGND-H, and 100 is DAT
BDATA IN, 101 connected to A IN38
BDATA OUT is connected to TA OUT 37, and 100 and 101 are sequentially pattern-connected on the printed circuit board 10 side. The BDATA IN100 extends to the end of the printed circuit board 10 because it serves as a plating lead when the printed circuit board 10 is manufactured. Further, in the conventional thermal head, the adhesive 7 that has protruded from the adhesive of the IC chip diffuses along the edge of the protective film 5, and the conductive pattern 3 and the Au wire 9 cannot be connected due to the capillary phenomenon, or Even when connected, poor connection such as low strength occurred.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】従来のサーマルヘッド
は以上のように構成されているので、プリント基板10の
ワイヤボンディング端子15へのワイヤボンディング不良
があったり、また、コモン強化プロセスが必要であった
り、プローブ端子34が記録紙排紙側にあるので感熱紙20
のかすがたまり印字不良につながったり、パターンの信
頼性をそこねたりした。また、ICチップ8内の損失差
が大きく印字品質を低下させる問題点があった。またE
NH,ENL信号を必要としない時には、プリント基板
10のパターンをかなり変更しなければならず配線が複雑
になるなどの問題点があった。この発明は上記のような
問題点を解消するためになされたものであり、サーマル
ヘッドの製造上の工程簡略化、歩留り向上、信頼性向
上、印字品質向上、導体パターンの引回しの簡略化を目
的とする。Since the conventional thermal head is configured as described above, there is a defect in wire bonding to the wire bonding terminal 15 of the printed circuit board 10, and a common strengthening process is required. Or the probe terminal 34 is on the side of the recording paper
Blurring was observed, resulting in poor printing and reduced reliability of the pattern. In addition, there is a problem that a loss difference in the IC chip 8 is large and print quality is deteriorated. Also E
When the NH and ENL signals are not required,
There were problems, such as complicated wiring, because the 10 patterns had to be changed considerably. The present invention has been made to solve the above problems, and has been made to simplify the process of manufacturing a thermal head, improve yield, improve reliability, improve printing quality, and simplify conductor pattern routing. Aim.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】第1の発明に係るサーマ
ルヘッドは、基板と、前記基板の一端部に端縁に沿って
設けられた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体よりも前記基
板の前記一端部側に端縁に沿って設けられ、当該発熱抵
抗体と交わるように延在する複数の電極を有する端部共
通電極と、前記端部共通電極の複数の電極と交互に当該
発熱抵抗体と交わる個別電極と、前記基板の他端部側に
設けられると共に前記個別電極と接続され前記発熱抵抗
体を印字情報に基づき駆動する複数個のICチップと、
前記発熱抵抗体よりも前記ICチップ側に設けられ共通
電極接続パターンを介して前記端部共通電極と接続され
るICチップ側共通電極とを備え、前記発熱抵抗体と前
記ICチップとの間に前記端部共通電極に接続されたプ
ローブ端子を設けたものである。 第2の発明に係るサー
マルヘッドは、第1の発明において、少なくとも前記プ
ローブ端子と接続された高導電膜を有するものである。
第3の発明に係るサーマルヘッドは、基板と、前記基板
の一端部に端縁に沿って設けられた発熱抵抗体と、前記
発熱抵抗体よりも前記基板の前記一端部側に端 縁に沿っ
て設けられ、当該発熱抵抗体と交わるように延在する複
数の電極を有する端部共通電極と、前記端部共通電極の
複数の電極と交互に当該発熱抵抗体と交わる個別電極
と、前記基板の他端部側に設けられると共に前記個別電
極と接続され前記発熱抵抗体を印字情報に基づき駆動す
る複数個のICチップと、前記ICチップ側に設けられ
共通電極接続パターンを介して前記端部共通電極と接続
されるICチップ側共通電極と、前記基板とは別体に設
けられメッキ工程により電極形成されたプリント基板と
を備え、前記ICチップのデータ入力端子とデータ出力
端子とを接続する導体パターンを当該ICチップよりも
前記発熱抵抗体側の基板上に配置したものである。 第4
の発明に係るサーマルヘッドは、基板と、前記基板の一
端部に端縁に沿って設けられた発熱抵抗体と、前記発熱
抵抗体よりも前記基板の前記一端部側に端縁に沿って設
けられ、当該発熱抵抗体と交わるように延在する複数の
電極を有する端部共通電極と、前記端部共通電極の複数
の電極と交互に当該発熱抵抗体と交わる個別電極と、前
記基板の他端部側に設けられると共に前記個別電極と接
続され前記発熱抵抗体を印字情報に基づき駆動する複数
個のICチップと、前記ICチップ側に設けられ前記発
熱抵抗体側に突出する共通電極パッドを有し、共通電極
接続パターンを介して前記端部共通電極と接続されるI
Cチップ側共通電極とを備え、前記ICチップ側共通電
極上に被着した保護膜上に前記ICチップが接着剤によ
り接着され、さらに、当該保護膜は、前記ICチップ側
共通電極より前記共通電極パッドが突出する部分であっ
て、前記基板の長手方向の両端部付近において基板短手
方向に山型に突出形成されたものである。 第5の発明に
係るサーマルヘッドは、基板と、前記基板の一端部に端
縁に沿って設けられた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体よ
りも前記基板の前記一端部側に端縁に沿って設けられ、
当該発熱抵抗体と交わるように延在する複数の電極を有
する端部共通電極と、前記端部共通電極の複数の電極と
交互に当該発熱抵抗体と交わる個別電極と、前記基板の
他端部側に設けられると共に前記個別電極と接続され前
記発熱抵抗体を印字情報に基づき駆動する複数個のIC
チップと、前記ICチップ側に設けられ前記発熱抵抗体
側に突出する共通電極パッドを有し、共通電極接続パタ
ーンを介して前記端部共通電極と接続されるICチップ
側共通電極と を備え、前記ICチップ側共通電極上に被
着した保護膜上に前記ICチップが接着剤により接着さ
れ、さらに、当該保護膜は、前記ICチップ側共通電極
より前記共通電極パッドが突出する部分であって、前記
基板の長手方向の両端部付近において基板短手方向に谷
型にくぼんだ形で形成されたものである。 第6の発明に
係るサーマルヘッドは、基板と、前記基板の一端部に端
縁に沿って設けられた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体よ
りも前記基板の前記一端部側に端縁に沿って設けられ、
当該発熱抵抗体と交わるように延在する複数の電極を有
する端部共通電極と、前記端部共通電極の複数の電極と
交互に当該発熱抵抗体と交わる個別電極と、前記基板の
他端部側に設けられると共に前記個別電極と接続され前
記発熱抵抗体を印字情報に基づき駆動する複数個のIC
チップと、前記ICチップ側に設けられ前記発熱抵抗体
側に突出する共通電極パッドを有し、共通電極接続パタ
ーンを介して前記端部共通電極と接続されるICチップ
側共通電極とを備え、前記ICチップ側共通電極上に被
着した保護膜上に前記ICチップが接着剤により接着さ
れ、さらに、当該保護膜は、前記ICチップ側共通電極
より前記共通電極パッドが突出する部分において、基板
短手方向に突出形成されたものである。 第7の発明に係
るサーマルヘッドは、第1〜第6の発明において、前記
ICチップにおける発熱抵抗体駆動端子は、同一ピッチ
にて配列されたいくつかの群からなり、前記共通電極接
続パターンは、当該群の間に配置されているものであ
る。 第8の発明に係るサーマルヘッドは、第1〜第7の
発明において、前記基板の前記ICチップを配置した端
部側に当該基板とは別体に設けられたプリント基板と、
前記プリント基板に設けられ前記基板のICチップ側共
通電極とワイヤボンディングにより接続されたワイヤボ
ンディング端子と、前記プリント基板の前記ワイヤボン
ディング端子が設けられた面とは反対の面に設けられる
と共に前記ワイヤボンディング端子とスルーホールを介
して接続された基板短手方向に幅広の導体パターンとを
備えたものである。 第9の発明に係るサーマルヘッドの
駆動用ICは、一方の長辺端部に発熱抵抗体駆動素子と
印字データ入力端子と印字データ出力端子とを配置し、
他方の長辺 端部にICチップ駆動用信号端子を配置し、
前記一方と他方の長辺の間の中央部付近にスイッチング
素子の接地端子を配置したものである。 第10の発明に
係るサーマルヘッドの駆動用ICは、第9の発明におい
て、3個の接地端子を有し、1個は複数の発熱抵抗体駆
動端子のほぼ中央部に位置し、他の2個は前記1個の接
地端子から両側に前記複数の発熱抵抗体駆動端子の数の
1/4から2/5に相当する分離れて位置したものであ
る。 第11の発明に係るサーマルヘッドの駆動用IC
は、内部でプルダウン抵抗に接続されたICチップ駆動
用信号端子に隣接してICチップ駆動電源端子を配置
し、内部でプルアップ抵抗に接続されたICチップ駆動
用信号端子に隣接して前記ICチップ駆動電源端子の接
地端子を配置したものである。 The thermistor according to the first invention is provided.
Head along the edge of the substrate and one end of the substrate
The provided heating resistor and the base are more than the heating resistor.
The heat generating resistor is provided along the edge on the one end side of the plate.
Both ends having a plurality of electrodes extending to intersect the antibody
Through electrode and the plurality of electrodes of the end common electrode alternately.
An individual electrode that intersects with the heating resistor and the other end of the substrate
The heating resistor is provided and connected to the individual electrode.
A plurality of IC chips for driving the body based on the print information;
Commonly provided on the IC chip side of the heating resistor
Connected to the end common electrode via an electrode connection pattern
A common electrode on the IC chip side.
A chip connected to the end common electrode with the IC chip.
A lobe terminal is provided. The server according to the second invention
The multiple head according to the first aspect, wherein at least the
It has a high conductive film connected to a lobe terminal.
A thermal head according to a third aspect of the present invention includes a substrate, and the substrate
A heating resistor provided along one edge at one end of the
Than the heating resistor along an edge on the one end side of the substrate
That extend in such a way as to intersect with the heating resistor.
An end common electrode having a number of electrodes, and an end common electrode
Individual electrodes crossing the heating resistor alternately with multiple electrodes
And the individual electrode provided on the other end side of the substrate.
And driving the heating resistor based on the printing information.
And a plurality of IC chips provided on the IC chip side.
Connect to the end common electrode via common electrode connection pattern
The common electrode on the IC chip side and the substrate are installed separately.
Printed circuit board with electrodes formed by the plating process
A data input terminal and a data output of the IC chip.
The conductor pattern connecting the terminal with the IC chip
It is arranged on the substrate on the side of the heating resistor. 4th
A thermal head according to the present invention comprises a substrate,
A heating resistor provided along an edge at an end;
Along the edge on the one end side of the substrate than the resistor
And a plurality of
An end common electrode having an electrode, and a plurality of the end common electrodes
Individual electrodes that alternately intersect the heating resistor with the electrodes of
It is provided on the other end of the substrate and contacts the individual electrodes.
Connected to drive the heating resistor based on print information.
IC chips and the IC chip provided on the IC chip side.
It has a common electrode pad protruding to the thermal resistor side, and a common electrode
I connected to the end common electrode via a connection pattern
A common electrode on the C chip side, and a common electrode on the IC chip side.
The IC chip is bonded with an adhesive on the protective film
The protective film is further bonded to the IC chip side.
This is where the common electrode pad protrudes from the common electrode.
Near the both ends in the longitudinal direction of the substrate.
It is formed to project in a mountain shape in the direction. In the fifth invention
Such a thermal head comprises a substrate and one end of the substrate.
A heating resistor provided along the edge;
Also provided along the edge on the one end side of the substrate,
A plurality of electrodes extending so as to intersect the heating resistor.
An end common electrode, and a plurality of electrodes of the end common electrode
An individual electrode alternately intersecting with the heating resistor, and
Before being provided on the other end side and connected to the individual electrode
A plurality of ICs for driving the heating resistor based on print information
Chip and the heating resistor provided on the IC chip side
The common electrode connection pattern
IC chip connected to the end common electrode via a line
And a common electrode on the IC chip side.
The IC chip is adhered with an adhesive on the attached protective film.
And the protection film is provided on the IC chip side common electrode.
A portion where the common electrode pad protrudes,
A trough in the lateral direction of the substrate near both ends in the longitudinal direction of the substrate
It is formed in a concave shape in the mold. In the sixth invention
Such a thermal head comprises a substrate and one end of the substrate.
A heating resistor provided along the edge;
Also provided along the edge on the one end side of the substrate,
A plurality of electrodes extending so as to intersect the heating resistor.
An end common electrode, and a plurality of electrodes of the end common electrode
An individual electrode alternately intersecting with the heating resistor, and
Before being provided on the other end side and connected to the individual electrode
A plurality of ICs for driving the heating resistor based on print information
Chip and the heating resistor provided on the IC chip side
The common electrode connection pattern
IC chip connected to the end common electrode via a line
And a common electrode on the IC chip side.
The IC chip is adhered with an adhesive on the attached protective film.
And the protection film is provided on the IC chip side common electrode.
In a portion where the common electrode pad protrudes,
It is formed to protrude in the lateral direction. According to the seventh invention
The thermal head according to the first to sixth aspects,
Heating resistor drive terminals on the IC chip are at the same pitch
And the common electrode contact
Connection patterns are those that are located between the groups.
You. The thermal head according to the eighth invention is characterized in that the first to seventh thermal heads
In the invention, an end of the substrate on which the IC chip is arranged
A printed circuit board provided separately from the substrate on the side of the unit,
The IC chip side of the substrate provided on the printed circuit board
Wire rod connected to the through electrode and wire bonding
And a wire bonding terminal of the printed circuit board.
Is provided on the surface opposite to the surface on which the terminal is provided.
Through the wire bonding terminal and through hole
Connected with a wide conductor pattern in the short direction of the board
It is provided. The thermal head according to the ninth invention
The driving IC has a heating resistor driving element at one long side end.
Arrange the print data input terminal and the print data output terminal,
An IC chip driving signal terminal is arranged at the other long side end,
Switching near the center between the one and the other long sides
This is where the ground terminal of the element is arranged. In the tenth invention
Such a thermal head driving IC is the ninth aspect of the present invention.
And three ground terminals, and one
Located approximately in the center of the moving terminal and the other two
The number of the plurality of heating resistor drive terminals on both sides from the ground terminal
It is located at a distance equivalent to 1/4 to 2/5
You. IC for driving a thermal head according to an eleventh invention
Is an IC chip drive internally connected to a pull-down resistor
IC chip drive power supply terminal adjacent to the signal terminal
Drive IC chip internally connected to pull-up resistor
Connection of the IC chip drive power supply terminal adjacent to the
Ground terminals are arranged.
【0006】[0006]
【作用】第1の発明に係るサーマルヘッドでは、感熱紙
のかすがたまらないため画質不良に結びつかない。 第2
の発明に係るサーマルヘッドでは、静電防止となる。 第
3の発明に係るサーマルヘッドでは、プリント基板上に
は、ワイヤボンディング不良の原因となるメッキリード
となる端子がなくなるため、ワイヤボンディング不良を
改善することができる。 第4の発明に係るサーマルヘッ
ドでは、接着剤のはみ出しを防止し、歩留まりを向上
し、生産性を上げることができる。 第5の発明に係るサ
ーマルヘッドでは、接着剤のはみ出しを防止し、歩留ま
りを向上し、生産性を上げることができる。 第6の発明
に係るサーマルヘッドでは、接着剤のはみ出しを防止
し、歩留まりを向上し、生産性を上げることができる。
第7の発明に係るサーマルヘッドでは、ワイヤボンディ
ングする場合にワイヤが該接続パターンに接触せず、信
頼性が向上する。 第8の発明に係るサーマルヘッドは、
プリント配線板のワイヤステッチ部の下が平坦となり、
両面テープとの密着が均一となる。 第9の発明に係るサ
ーマルヘッドの駆動用ICでは、ICチップのパターン
配 置が容易となり、接地パターンを中央で幅広にとるこ
とができ、ICの接地パターンの損失が少なくなり、任
意の箇所での接地をとることができる効果がある。 第1
0の発明に係るサーマルヘッドの駆動用ICでは、電圧
降下のビット間のばらつきが少なくなるので、印字ばら
つきを少なくし、印字品質の向上につなげることができ
る。 第11の発明に係るサーマルヘッドの駆動用ICで
は、パターンが共通化できるので、接続される導体パタ
ーン配線が容易となる。 In the thermal head according to the first invention, the thermal paper
It does not lead to poor image quality due to irresistible blemishes. Second
In the thermal head according to the invention, static electricity is prevented. No.
In the thermal head according to the third aspect of the present invention, the thermal head
Is a plating lead that causes wire bonding failure
No terminals that become
Can be improved. The thermal head according to the fourth invention.
Prevents the adhesive from sticking out and improves the yield
And increase productivity. The fifth aspect of the present invention
-With the multiple head, the adhesive is prevented from running out and the yield
And productivity can be improved. Sixth invention
Prevents adhesive from protruding
In addition, yield can be improved and productivity can be increased.
In the thermal head according to the seventh invention, the wire bonder
The wire does not touch the connection pattern when
Reliability is improved. The thermal head according to the eighth invention is
The lower part of the wire stitch of the printed wiring board becomes flat,
Adhesion with the double-sided tape becomes uniform. According to the ninth invention,
In the IC for driving the multiple head, the pattern of the IC chip
Placement is facilitated, Turkey wider ground pattern at the center
The loss of the IC ground pattern is reduced,
There is an effect that the ground can be taken at a desired place. First
0, the driving IC for the thermal head
Since the variation between the bits of the descent is reduced,
It can reduce sticking and improve printing quality.
You. An IC for driving a thermal head according to an eleventh aspect of the present invention.
Can be used as a common conductor pattern.
Line wiring becomes easy.
【0007】[0007]
【実施例】実施例1. 以下、この発明の一実施例を図について説明する。図1
はこの実施例を示すサーマルヘッドの部分的斜視図であ
り、図2はその断面図である。図1,図2において、1
は例えばアルミナ純度96%のアルミナセラミック基板、
2は該アルミナセラミック基板1上を被覆してなる例え
ばガラス層で、アルミナセラミック基板1の素地改善、
サーマルヘッドの熱応答特性を左右している(以下、蓄
熱層と称す)。3は該蓄熱層2上にパターン化された導
体パターン、4は該導体パターン3上に形成された例え
ば酸化ルテニウム等からなる連続の帯状の発熱抵抗体、
5は発熱抵抗体4を被い耐摩耗、保護層となるガラス層
(以下保護膜と称す)で導体パターン3の一部分を被う
絶縁層もかねている。また6はこれら発熱抵抗体4を形
成した基板(以下発熱基板と称す)である。7は発熱基
板6上に塗布された例えばエポキシ樹脂からなる接着
剤、8は発熱抵抗体4を印字情報に基づき選択的に駆動
する機能を備えたICチップで接着剤7にて発熱基板6
上に固定されている。9は発熱抵抗体4個々に接続され
た導体パターン3とICチップ8の動作信号と接続する
例えば金ワイヤ、10はICチップ8の動作信号引き回し
の為の別基板(以下、プリント基板と称す)で両面パタ
ーンからなり、裏面側は絶縁層となる裏面ソルダーレジ
スト層11と裏面パターン12、表面側は、表面パターン13
と、表面パターン14を被い絶縁層となる表面ソルダーレ
ジスト層で、表面パターンと裏面パターン12は図示しな
いスルーホールにて接続されている。また、表面パター
ン13の一部分は金メッキがなされ、ICチップ8と金ワ
イヤ9にて接続されるボンディング端子15となってい
る。16はプリント基板10に半田17にて固定されたコネク
タであり、サーマルヘッド駆動信号ケーブルの接続個所
になる。18は発熱基板6、プリント基板10とを例えば両
面テープ19にて接着支持する、例えばアルミニウム,
鉄,ポリカーボネート等の支持台、20は感熱紙又は転写
紙被転写紙等の記録紙、21は記録紙搬送用のプラテンロ
ーラで、発熱抵抗体4上の保護膜5上に位置し、回転す
る。22はICチップ8、金ワイヤ9を保護する例えばシ
リコーン樹脂からなる保護樹脂、23は外的圧力防止記録
紙20搬送ガイドともなる例えばポリカーボネート等の樹
脂からなるカバーで図示しないネジ等にて支持台18上に
固定されている。[Embodiment 1] An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG.
1 is a partial perspective view of a thermal head showing this embodiment, and FIG. 2 is a sectional view thereof. 1 and 2, 1
Is an alumina ceramic substrate with 96% alumina purity,
Numeral 2 denotes, for example, a glass layer which covers the alumina ceramic substrate 1, and improves the base of the alumina ceramic substrate 1,
It determines the thermal response characteristics of the thermal head (hereinafter referred to as a heat storage layer). 3 is a conductor pattern patterned on the heat storage layer 2, 4 is a continuous strip-shaped heating resistor made of, for example, ruthenium oxide or the like formed on the conductor pattern 3,
Reference numeral 5 denotes a glass layer (hereinafter, referred to as a protective film) serving as a wear-resistant and protective layer that covers the heating resistor 4 and also serves as an insulating layer that covers a part of the conductor pattern 3. Reference numeral 6 denotes a substrate on which the heating resistors 4 are formed (hereinafter, referred to as a heating substrate). Reference numeral 7 denotes an adhesive made of, for example, an epoxy resin applied on the heat generating substrate 6, and 8 denotes an IC chip having a function of selectively driving the heat generating resistor 4 based on print information.
Fixed on top. Reference numeral 9 denotes, for example, a gold wire for connecting the conductor pattern 3 individually connected to the heating resistor 4 and an operation signal of the IC chip 8, and reference numeral 10 denotes another substrate (hereinafter, referred to as a printed circuit board) for routing the operation signal of the IC chip 8. The back side is a back side solder resist layer 11 and back side pattern 12 to be an insulating layer on the back side, and the front side is a front side pattern 13
And a surface solder resist layer serving as an insulating layer covering the surface pattern 14, and the surface pattern and the back surface pattern 12 are connected by through holes (not shown). A part of the surface pattern 13 is plated with gold to form a bonding terminal 15 connected to the IC chip 8 and the gold wire 9. Reference numeral 16 denotes a connector fixed to the printed circuit board 10 with solder 17 and serves as a connection point of a thermal head drive signal cable. Reference numeral 18 denotes an adhesive supporting the heat generating substrate 6 and the printed circuit board 10 with a double-sided tape 19, for example, aluminum,
A support table made of iron, polycarbonate, or the like, 20 is a recording paper such as a thermal paper or a transfer paper, and 21 is a platen roller for transporting the recording paper, which is located on the protective film 5 on the heating resistor 4 and rotates. . Reference numeral 22 denotes a protective resin made of, for example, silicone resin that protects the IC chip 8 and the gold wire 9. Reference numeral 23 denotes a cover made of, for example, a resin such as polycarbonate, which also serves as an external pressure-prevention recording paper 20. 18 is fixed on.
【0008】図3から図7に示すのは、発熱基板6上に
ICチップ8を搭載し、導体パターン3と金ワイヤ9に
て接続する工程を示したもので、図3は製造工程を断面
図を用いて示すもので矢印の方向に製造されて行くこと
を示すものである。ここでは、アルミナ純度96%のアル
ミナセラミック上に例えばストロンチウムを微量混入し
たガラスペーストを70μm厚み程度に印刷,乾燥した
後、1200℃〜1300℃の焼成炉に投入し、冷却することで
アルミナセラミック基板1上に蓄熱層2を形成するもの
で、ストロンチウムの微量混入にて蓄熱層のより表面粗
度の均一化をはかっている。次に、該蓄熱層2上全面に
有機金ペーストを印刷・乾燥・焼成した後、0.5 μm程
度の金の導体層300 を形成し、該導体層300 上に感光レ
ジストを塗布し、写真製版し、食刻技術により必要な導
体パターン3を形成する。導体層300 の金のパターン厚
みは金ワイヤ9のワイヤボンド強度の関係から、厚みが
厚い程望ましいが、金という高価格な貴金属の使用量を
できるだけ少なくすることが必要とされ、発明者の試み
た実験及び実績から0.5 μm以下ではワイヤボンド強度
が極端に低下し始めた。また、蓄熱層2の表面粗度が0.
1 μmp−p程度以上になると、ワイヤボンディング時
キャピラリーが導体パターンに均一にあたらずワイヤボ
ンディングの歩留り悪化につながり始めることになっ
た。FIGS. 3 to 7 show a process in which an IC chip 8 is mounted on a heat-generating substrate 6 and connected to a conductor pattern 3 and a gold wire 9. FIG. It is shown by using the drawing, and shows that it is manufactured in the direction of the arrow. Here, a glass paste containing a small amount of strontium, for example, is printed on an alumina ceramic having a purity of 96% to a thickness of about 70 μm, dried, and then put into a firing furnace at 1200 ° C. to 1300 ° C., and cooled to cool the alumina ceramic substrate. The heat storage layer 2 is formed on the heat storage layer 1, and the surface roughness of the heat storage layer is made more uniform by mixing a small amount of strontium. Next, after printing, drying and baking an organic gold paste on the entire surface of the heat storage layer 2, a gold conductor layer 300 of about 0.5 μm is formed, a photosensitive resist is applied on the conductor layer 300, and photolithography is performed. The required conductor pattern 3 is formed by an etching technique. The thickness of the gold pattern of the conductor layer 300 is preferably as large as possible in view of the wire bond strength of the gold wire 9. However, it is necessary to minimize the use of expensive noble metal such as gold. According to experiments and results, the wire bond strength began to drop extremely below 0.5 μm. Further, the surface roughness of the heat storage layer 2 is 0.
When it is about 1 μmp-p or more, the capillary does not uniformly contact the conductor pattern at the time of wire bonding, which starts to deteriorate the yield of wire bonding.
【0009】図4に示すのは導体パターン3の発熱基板
6上の配置を示すものである。図4において、24a は記
録紙21の排紙側に位置する端部共通電極で発熱抵抗体4
に接続される。また発熱抵抗体4からの距離が短い程サ
ーマルヘッドの小型化が可能で、記録紙20上の発熱抵抗
体4の選択的駆動による記録をすぐに見ることができる
ことになる。24b はICチップ8の搭載位置下部に配置
されたIC下部共通電極、25は発熱抵抗体4に接続され
る個別電極、26a ,26b は個別電極の数個をグループ化
した個別電極群a,個別電極群bであり、図4に示すも
のは個別電極群a26a が個別電極25 4個、個別電極群
b26b が個別電極25 8個に対応している。また個別電
極群a26a 、個別電極群b26b は端部共通電極24a と、
IC下部共通電極24b とを接続する共通電極接続パター
ン27にて仕切られている。28はICチップ8への印字デ
ータ入力信号が接続される為の端子でDIN端子、29は
ICチップ9からの印字データ出力信号が接続される為
の端子で、DOUT端子で、DIN端子28とDOUT端
子29とは発熱基板上でパターン接続されている。30はI
Cチップ8のワイヤボンディングの自動認識用の認識パ
ターン、31はICチップ8の位置を示す位置認識パター
ン、32は共通電極ブロック端子、33は個別電極25、共通
電極24パターンが交互に配置されたくし状部分、このく
し状部分33上に例えば酸化ルテニウムとガラス成分、ジ
ルコニア等の入った抵抗ペーストをディスペンサを用い
て、帯状に直接描画し、乾燥し焼成して、複数個の発熱
抵抗体4の形成がなされる。図5に示すのはくし状部分
33上に発熱抵抗体を形成した状態である。ここで、抵抗
ペーストの直接描画は認識パターン30,31等の自動認識
にて位置が計算され、くし状部分33上に正確に位置され
る様装置化され行なわれる。くし状部分33の個別電極25
と共通電極24a のパターン幅と、パターン間隔は1mm当
り8ドットの解像度のサーマルヘッドでは、例えばパタ
ーン幅が30μmパターン間隔が32.5μmで、交互のくし
部分の長さが0.6 mm、発熱抵抗体4の幅が0.22mmに形成
される。抵抗ペーストを印刷方式で塗布した場合には印
刷スクリーンのメッシュ形状が発熱抵抗体4の幅をばら
つかせることになり帯状の抵抗体幅は0.22mmのセンター
値に対して0.18〜0.26mm程度までメッシュ形状によるば
らつきが生じ抵抗体の幅の狭い部分と広い部分では発熱
抵抗体4の発熱温度が異なり、それにより、記録紙への
記録むらとなって印字品質の低下につながる。直接描画
方式では塗布する位置のパターン認識と、塗布形状の認
識にて、描画速度、抵抗ペースト塗出圧の変更を行なう
ことで抵抗体幅と抵抗体の厚みの均一化がなされること
になる。発熱抵抗体4の形成の後、発熱抵抗体4上と、
ICチップ8下部上にガラスペーストをスクリーン印刷
し、乾燥,焼成することで絶縁性の保護膜5を形成す
る。図6に示すのは保護膜5の配置であり、保護膜5に
被われない部分は共通電極接続パターン27、DIN端子
28、DOUT端子29、認識パターン30、共通電極ブロッ
ク端子32の1部分のプローブ端子34、個別電極端子35、
コモン接続端子36の部分となる。ここで、発熱抵抗体4
が1500Ωであり、共通電極リードの損失抵抗がほぼ
5Ωであり、M=2048、N=512(ここで、Mは
発熱抵抗体数、Nは共通電極接続パターン数である。)
であったとすると、共通電極リード1本あたりの損失
は、ほぼ0.3v程度であるが、共通電極が配置されて
いるので損失が緩和され、かつ帯状の連続抵抗体なので
隣接発熱抵抗体へ熱伝導があり、画質に影響がないレベ
ルである。FIG. 4 shows an arrangement of the conductor patterns 3 on the heat generating substrate 6. As shown in FIG. In FIG. 4, reference numeral 24a denotes an end common electrode located on the paper discharge side of the recording paper 21;
Connected to. The shorter the distance from the heating resistor 4 is, the smaller the thermal head can be. The recording by the selective driving of the heating resistor 4 on the recording paper 20 can be immediately viewed. 24b is an IC lower common electrode arranged below the mounting position of the IC chip 8, 25 is an individual electrode connected to the heating resistor 4, 26a and 26b are individual electrode groups a which group several individual electrodes, In the electrode group b shown in FIG. 4, the individual electrode group a26a corresponds to four individual electrodes 254, and the individual electrode group b26b corresponds to 258 individual electrodes. The individual electrode group a26a and the individual electrode group b26b are the end common electrode 24a,
It is separated by a common electrode connection pattern 27 connecting the IC lower common electrode 24b. 28 is a DIN terminal for connecting a print data input signal to the IC chip 8; 29 is a terminal for connecting a print data output signal from the IC chip 9; The pattern is connected to the DOUT terminal 29 on the heating substrate. 30 is I
A recognition pattern for automatic recognition of wire bonding of the C chip 8, 31 is a position recognition pattern indicating the position of the IC chip 8, 32 is a common electrode block terminal, 33 is a pattern in which individual electrodes 25 and a common electrode 24 pattern are alternately arranged. A resist paste containing, for example, ruthenium oxide, a glass component, zirconia, etc., is drawn directly in a band shape on a comb-shaped portion 33 using a dispenser, dried and fired to form a plurality of heating resistors 4. The formation is made. Comb-shaped part shown in FIG.
33 shows a state in which a heating resistor is formed on 33. Here, the direct drawing of the resistive paste is performed by automatically calculating the position by automatically recognizing the recognition patterns 30 and 31, etc., and implementing the device so that it is accurately positioned on the comb-shaped portion 33. Individual electrode 25 of comb 33
In a thermal head having a pattern width of the common electrode 24a and a pattern interval of 8 dots per mm, for example, the pattern width is 30 μm, the pattern interval is 32.5 μm, the length of the alternating comb portion is 0.6 mm, and the heating resistor 4 Is formed to have a width of 0.22 mm. When the resistor paste is applied by the printing method, the mesh shape of the printing screen causes the width of the heating resistor 4 to vary, and the width of the strip-shaped resistor is from 0.18 to 0.26 mm with respect to the center value of 0.22 mm. Variations occur due to the mesh shape, and the heating temperature of the heating resistor 4 differs between a narrow portion and a wide portion of the resistor, thereby resulting in uneven recording on a recording sheet and a reduction in print quality. In the direct drawing method, the width of the resistor and the thickness of the resistor are made uniform by changing the drawing speed and the resist paste dispensing pressure in the pattern recognition of the coating position and the recognition of the coating shape. . After the formation of the heating resistor 4, on the heating resistor 4,
A glass paste is screen-printed on the lower part of the IC chip 8, dried and fired to form the insulating protective film 5. FIG. 6 shows the arrangement of the protective film 5, and the portions not covered by the protective film 5 are the common electrode connection pattern 27 and the DIN terminal.
28, a DOUT terminal 29, a recognition pattern 30, a part of a common electrode block terminal 32, a probe terminal 34, an individual electrode terminal 35,
This is the common connection terminal 36. Here, the heating resistor 4
Is 1500Ω, the loss resistance of the common electrode lead is approximately 5Ω, M = 2048, N = 512 (where M is the number of heating resistors, and N is the number of common electrode connection patterns).
In this case, the loss per common electrode lead is about 0.3 V. However, since the common electrode is arranged, the loss is alleviated. There is conduction and there is no effect on image quality.
【0010】さて、発熱基板6の製造上の試験項目は、
導体パターン3、保護膜5のパターン形状のチェックと
サーマルヘッドの性能を左右する発熱抵抗体の抵抗値の
測定である。また、酸化ルテニウム系の抵抗を用いたサ
ーマルヘッドでは、抵抗値のパルストリミングも行なう
ことになる。ここで抵抗値の測定とパルストリミング
は、共通電極の端子となるプローブ端子34と個別電極端
子35に先端が針状になったプローブをあて測定し、パル
ス電圧印加を行なうことにて行なわれる。1mm当り8ド
ットの解像度のA4サイズのサーマルヘッドでは個別電
極端子35の数は1728個となり、総長さは1728×1/8=21
6 mmとなる。ここで、216 mmで1728個の0.125 mmピッチ
の針状のプローブ作製はかなり難しいものがあり、同時
に1728個の端子をプロービングすることは、発熱基板の
平坦度等を考えるとかなりの困難さがある。以上の困難
さから現在は64個の個別電極端子35と共通電極端子をあ
てるプローブを用いて、27回、8mmごとに移動動作する
装置を用いて行なっている。従来のサーマルヘッドの共
通電極のプローブ端子34の位置は記録紙20の排紙側なの
で、記録紙20の感熱紙のかすがたまり印字不良をまねい
たり、導体パターンへの悪影響となったが、プローブ端
子34を記録紙20の送入方向に位置させ、記録紙20に触れ
ない様にしたので上記不具合はないことになる。また、
図に示されるようにICの両端部に位置しているため、
パターン認識用のマークとしての役立てることもでき
る。The test items for manufacturing the heating substrate 6 are as follows.
This is a check of the pattern shapes of the conductor pattern 3 and the protective film 5 and a measurement of the resistance value of the heating resistor which affects the performance of the thermal head. In a thermal head using a ruthenium oxide-based resistor, pulse trimming of the resistance value is also performed. Here, the measurement of the resistance value and the pulse trimming are performed by applying a probe having a needle-like tip to the probe terminal 34 and the individual electrode terminal 35 serving as the terminals of the common electrode, and applying a pulse voltage. In an A4 size thermal head having a resolution of 8 dots per mm, the number of individual electrode terminals 35 is 1728, and the total length is 1728 × 1 = 21.
6 mm. Here, it is quite difficult to fabricate 1728 needle-shaped probes with a pitch of 0.125 mm at 216 mm, and probing 1728 terminals at the same time is quite difficult considering the flatness of the heating substrate. is there. Due to the above difficulties, the current operation is carried out 27 times using a device that moves 64 individual electrode terminals 35 and a common electrode terminal every 27 mm, using a device that moves. Since the position of the probe terminal 34 of the common electrode of the conventional thermal head is on the discharge side of the recording paper 20, the heat-sensitive paper on the recording paper 20 may accumulate and cause printing defects or adversely affect the conductor pattern. Since the recording paper 34 is positioned in the feeding direction of the recording paper 20 so as not to touch the recording paper 20, the above problem does not occur. Also,
Because it is located at both ends of the IC as shown in the figure,
It can also be used as a mark for pattern recognition.
【0011】図7は、ICチップ8を発熱基板6に実装
した状態を示している。個別電極端子35は隣り合う位置
が千鳥配置されICチップ8側の金ワイヤ9接続位置は
一列に配置されている。ここで、このICチップ8の回
路図は図8に示すものであり、64ビットのシフトレジス
タラッチ付ドライバー構成となっている。一ラインの印
字情報はDATA端子からCLOCK信号に同期され、
64ビットシフトレジスタ回路に入れられる。次いで、メ
モリー回路となる64ビットラッチ回路にLATCH信号
の投入タイミングで印字情報が転送される。このラッチ
回路の印字情報のHIGHの対するビットでENL信号
がLOWでかつENH信号がHIGHの時間だけDO1
〜DO64が選択的にスイッチングされる。このDO1〜
DO64に発熱抵抗体4を接続することで、発熱抵抗体4
を印字情報に基づいて選択的に駆動することが可能とな
る。図8において、VDDはICチップ8の駆動電源端
子、GND−Lは回路電源接地端子、GND−Hは、ス
イッチング素子の接地端子、DATA OUTはシフト
レジスタからのデータ出力端子で次段のICチップ8の
DATA IN端子に接続される。A4サイズで1mm当
り8ドットの解像度のサーマルヘッドでは1728個の発熱
抵抗体4があり64ビットのICチップ8を27個発熱基板
6上に搭載し接続することになる。本実施例ではICチ
ップ8の長さは7.25mmであり、DO1からDO4,DO
5からDO12,DO13からDO20,DO21からDO28,
DO29からDO36,DO37からDO44,DO45からDO
52,DO53からDO60,DO61からDO64はピッチが0.
105 mmで、DO4とDO5,DO12とDO13,DO20と
DO21,DO28とDO29,DO36とDO37,DO44とD
O45,DO52とDO53,DO60とDO61の間隔(以下、
COM間隔40と称す)は0.12mmとしている。そしてこの
COM間隔40位置に、共通電極接続パターン27が位置さ
れることになる。また、DO1からDO4とDO60から
DO64は個別電極群a26a に他のDOビットは個別電極
群b26b に対応している。ここで個別電極端子35の大き
さは、金ワイヤ9の径が25μmであれば、ワイヤボンド
時にキャピラリーにて個別電極端子35に、ボンディング
した際90μm以上につぶれて金ワイヤ8と個別電極端子
35が接続されることになる。そこで、個別電極端子35側
は、このつぶれがはみ出ても隣接の個別電極端子36に接
触しない様千鳥配列している。また、COM間隔40を広
げ共通電極接続パターン27とを位置合わせているので、
金ワイヤ9のたれによる共通電極接続パターン27と接触
するのを防いでいる。また共通電極接続パターン27上を
保護膜5にて被えば良いが間隔が0.12mmしかないので難
しい。それはスクリーン印刷の精度が位置精度で±0.2
mm程度、スクリーンパターン精度が±0.05mm、スクリー
ンメッシュによる幅のばらつき、ガラスペーストのにじ
み等の問題があるからで現状では困難なこととなってい
る。FIG. 7 shows a state where the IC chip 8 is mounted on the heat generating substrate 6. The adjacent positions of the individual electrode terminals 35 are staggered, and the connection positions of the gold wires 9 on the IC chip 8 side are arranged in a line. Here, the circuit diagram of the IC chip 8 is shown in FIG. 8, and has a driver configuration with a 64-bit shift register latch. The print information of one line is synchronized with the CLOCK signal from the DATA terminal,
Put into a 64-bit shift register circuit. Next, the print information is transferred to the 64-bit latch circuit serving as the memory circuit at the timing of inputting the LATCH signal. The bit corresponding to HIGH of the print information of the latch circuit is DO1 for the time when the ENL signal is LOW and the ENH signal is HIGH.
.. DO64 are selectively switched. This DO1
By connecting the heating resistor 4 to the DO 64, the heating resistor 4
Can be selectively driven based on the print information. 8, VDD is a drive power supply terminal of the IC chip 8, GND-L is a circuit power supply ground terminal, GND-H is a ground terminal of a switching element, DATA OUT is a data output terminal from the shift register, and is a next-stage IC chip. 8 DATA IN terminal. In a thermal head of A4 size and resolution of 8 dots per mm, there are 1728 heating resistors 4 and 27 64-bit IC chips 8 are mounted on the heating board 6 and connected. In this embodiment, the length of the IC chip 8 is 7.25 mm, and DO1 to DO4, DO4
5 to DO12, DO13 to DO20, DO21 to DO28,
DO29 to DO36, DO37 to DO44, DO45 to DO
52, DO53 to DO60 and DO61 to DO64 have a pitch of 0.
105 mm, DO4 and DO5, DO12 and DO13, DO20 and DO21, DO28 and DO29, DO36 and DO37, DO44 and D
The intervals between O45, DO52 and DO53, DO60 and DO61 (hereinafter referred to as
COM interval 40) is set to 0.12 mm. The common electrode connection pattern 27 is located at the COM interval 40. DO1 to DO4 and DO60 to DO64 correspond to the individual electrode group a26a, and the other DO bits correspond to the individual electrode group b26b. Here, when the diameter of the gold wire 9 is 25 μm, the size of the individual electrode terminal 35 is reduced to 90 μm or more when bonded to the individual electrode terminal 35 by a capillary at the time of wire bonding, and the gold wire 8 and the individual electrode terminal
35 will be connected. Therefore, the individual electrode terminals 35 are arranged in a staggered arrangement so that even if the collapse protrudes, the individual electrode terminals 35 do not contact the adjacent individual electrode terminals 36. Also, since the COM interval 40 is increased and the common electrode connection pattern 27 is aligned,
It prevents contact with the common electrode connection pattern 27 due to the drop of the gold wire 9. Also, the protective film 5 may cover the common electrode connection pattern 27, but it is difficult because the interval is only 0.12 mm. That is, screen printing accuracy is ± 0.2 in position accuracy.
It is difficult at present because there are problems such as about mm, screen pattern accuracy of ± 0.05 mm, width variation due to screen mesh, and bleeding of glass paste.
【0012】ICチップ8のDATA IN38はDIN
端子29に、DATA OUT37はDOUT端子28に金ワ
イヤ9にて接続され、ICチップ8は順次データ接続さ
れることになる。もちろんこれらの金ワイヤ9のワイヤ
ボンディングは認識パターン30、位置認識パターン31の
パターン認識を行なうことで精度良く行なわれていく一
方、図9と図11に示すのはプリント基板10とICチップ
8と発熱基板6とを金ワイヤ9にて接続する配置及びパ
ターンを示したものである。図9においてICチップ8
上で、41はCLOCK、42はVDD,43はENH、44は
ENL、45はGND−L、46はLATCH、47はGND
−Hで47a ,47b ,47c と3箇所ある。また15はプリン
ト基板10のワイヤボンディング端子で、表面パターン13
の例えば15〜30μm厚程度の銅の上にニッケルを5〜10
μm厚程度、ニッケルの上に金メッキを0.5 μm厚程度
電解メッキした箇所である。銅の上に直接金メッキは可
能であるが、ワイヤボンディングは加熱して行なうので
銅と金とが拡散してしまい、ワイヤボンディングの不良
につながったり、銅の酸化をまねいたりする。そこで、
ニッケル層を10μm厚程度介在させている。14は表面パ
ターン13の銅パターンと基板を被覆する表面ソルダーレ
ジスト層である。48から55はボンディング端子15の各信
号端子を示し、48はICチップ8のCLOCK41と金ワイ
ヤ9にて接続されるBCLOCK、49は同様にVDD42
と接続されるBVDD、50はENH43と接続されるBE
NH、51はENL44と接続されるBENL、52はGND
−L45と接続されるBGND−L、53はLATCH46と
接続されるBLATCH、54a,54b , 54c はGND−
H47a ,47b ,47c と接続されるBGND−H、55はコ
モン接続端子36と接続されるBCOMである。また各ボ
ンディング端子から引き出されたパターンはスルーホー
ル56を介して裏面パターン13の各パターン57〜62につな
がっている。The DATA IN 38 of the IC chip 8 is DIN
The DATA OUT 37 is connected to the terminal 29 by the gold wire 9 and the DOUT terminal 28, and the IC chip 8 is sequentially data-connected. Of course, the wire bonding of these gold wires 9 is performed with high accuracy by performing the pattern recognition of the recognition pattern 30 and the position recognition pattern 31, while the printed board 10 and the IC chip 8 are shown in FIGS. 2 shows an arrangement and a pattern for connecting the heat generating substrate 6 with gold wires 9. In FIG. 9, the IC chip 8
In the above, 41 is CLOCK, 42 is VDD, 43 is ENH, 44 is ENL, 45 is GND-L, 46 is LATCH, and 47 is GND.
There are three places of -H at 47a, 47b and 47c. Reference numeral 15 denotes a wire bonding terminal of the printed circuit board 10, and a surface pattern 13 is provided.
For example, 5 to 10 nickel on copper with a thickness of about 15 to 30 μm
This is a place where gold plating is about 0.5 μm thick on nickel and electrolytic plating is about 0.5 μm thick. Although gold plating can be performed directly on copper, wire bonding is performed by heating, so that copper and gold are diffused, leading to poor wire bonding and oxidizing copper. Therefore,
The nickel layer is interposed about 10 μm thick. Reference numeral 14 denotes a surface solder resist layer that covers the copper pattern of the surface pattern 13 and the substrate. Reference numerals 48 to 55 denote signal terminals of the bonding terminal 15, reference numeral 48 denotes a BCLOCK connected to the CLOCK 41 of the IC chip 8 by the gold wire 9, and reference numeral 49 denotes a VDD42.
BVDD, 50 connected to BE, BE connected to ENH43
NH, 51 is BENL connected to ENL44, 52 is GND
BGND-L connected to L45, 53 is BLATCH connected to LATCH 46, 54a, 54b, 54c are GND-
BGND-H, 55 connected to H47a, 47b, 47c, is a BCOM connected to the common connection terminal 36. The patterns drawn from the respective bonding terminals are connected to the respective patterns 57 to 62 of the back surface pattern 13 through the through holes 56.
【0013】図10に示すのが裏面パターンのみを示した
図であり、57は各ICブロックのBCOM55が接続され
たパターン(以下PCOMと称す)、58は各ICブロッ
クのBCLOCK48が接続されたパターン(以下、PC
LOCKと称す)、以下同様に、59はBVDD49が接続
されたパターン(以下PVDDと称す)、60はBENH
50が接続されたパターン(以下PBENHと称す)、61
はBENL51が接続されたパターン(以下PBENLと
称す)、62はBLATCH53が接続されたパターン(以
下PLATCHと称す)、63は表面パターン13上でBG
ND−L52とBGND−H54a ,54b ,54c とが接続さ
れたパターン(以下PGNDと称す)。FIG. 10 is a diagram showing only the back surface pattern. Reference numeral 57 denotes a pattern to which the BCOM 55 of each IC block is connected (hereinafter referred to as PCOM), and reference numeral 58 denotes a pattern to which the BCLOCK 48 of each IC block is connected. (Hereafter, PC
LOCK), similarly, 59 is a pattern (hereinafter referred to as PVDD) to which BVDD 49 is connected, and 60 is BENH
Pattern to which 50 is connected (hereinafter referred to as PBENH), 61
Is a pattern to which BENL51 is connected (hereinafter referred to as PBENL), 62 is a pattern to which BLATCH53 is connected (hereinafter referred to as PLATCH), and 63 is BG on the surface pattern 13.
A pattern in which ND-L52 and BGND-H54a, 54b, 54c are connected (hereinafter referred to as PGND).
【0014】図11はデータ入力がなされる最初のICチ
ップ8のワイヤ接続パターン、配置等を示す図であり、
64はICチップ8のDATA IN37とDIN端子28に
パターン接続された端子(TDATAと称す)でプリン
ト基板10のワイヤボンディング端子15の端子65(以下、
BDATAと称す)と金ワイヤ9にて接続され、BDA
TA端子65は66のパターン(以下PDATAと称す)に
接続される。ここで、これらのPCOM57、PCLOC
K58、PVDD59、PENH60、PENL61、PLAT
CH62、PGND63、PDATA66はコネクタ16のピン
に接続される様に引き回される。また、図20に示すの
は、実施例1を等価回路的に示したもので80はICチッ
プ8の回路(IC回路)を示すものである。FIG. 11 is a diagram showing a wire connection pattern, arrangement, and the like of the first IC chip 8 to which data is input.
Reference numeral 64 denotes a terminal (referred to as TDATA) which is pattern-connected to the DATA IN 37 and the DIN terminal 28 of the IC chip 8, and a terminal 65 (hereinafter, referred to as TDATA) of the wire bonding terminal 15 of the printed circuit board 10.
BDATA) and gold wire 9
The TA terminal 65 is connected to a pattern 66 (hereinafter referred to as PDATA). Here, these PCOM57, PCLOC
K58, PVDD59, PENH60, PENL61, PLAT
CH62, PGND63, and PDATA66 are routed so as to be connected to pins of the connector 16. FIG. 20 shows an equivalent circuit of the first embodiment, and reference numeral 80 denotes a circuit (IC circuit) of the IC chip 8.
【0015】次に作用について説明する。従来のサーマ
ルヘッドのICチップ8のDATAIN37とDATA
OUT38位置はプリント基板10側に位置していた為、D
ATA IN37とDATA OUT38のワイヤボンディ
ング端子15をプリント基板10側に設けるには、ニッケル
及び金メッキのメッキリード端子をコネクタピン側に設
けることが難しい為、ワイヤボンディング端子の方から
引き回している。図12に示すのは、従来のサーマルヘッ
ドのプリント基板10の製造途中の様子であり、プリント
基板10は1枚の大型基板70から多数個取りしている。こ
こで71はメッキリードであり丸穴位置に電極のつながっ
たネジを締め付けメッキ液中に浸漬することでニッケル
メッキと金メッキが行なわれる。72はBDATA IN
100 ,BDATA OUT101 のメッキリード(以下、
ワイヤボンディング側メッキリードと称す)、73はコネ
クタのピン方向から引き出されたメッキリード(以下、
コネクタメッキリードと称す)であり、B1〜B27は8
mmピッチの27個のブロックを示し、ICチップ8が27ブ
ロックあることを示している。ここで、発明者は従来の
サーマルヘッドにおけるプリント基板10のワイヤボンデ
ィング端子15の不良がワイヤボンディング側メッキリー
ド72に位置する箇所にかなり集中していることに気づ
き、ワイヤボンディング端子15のメッキ厚みにつき調査
した。ワイヤボンディング端子15でワイヤボンディング
側メッキリード72のない端子すなわちコネクタ側メッキ
リード73からニッケルメッキと金メッキが行なわれる様
子は、ほぼ厚みのばらつきがなく、ニッケル厚みが10μ
m±2μm金メッキが0.5 μm±0.1 μm程度でできて
いたが、ワイヤボンディング側メッキリード72に接続さ
れかつワイヤボンディング端子15となる端子のニッケル
厚みは30μmから15μm程度の厚みにばらつきメッキリ
ードの電極位置に近い程厚くなっていた。これを図13に
示す。またこれらの端子の形状は端部が盛り上がってい
て平面になっていないことがわかり、これらのことがワ
イヤボンディング不良の原因であることをつきとめた。
本発明の実施例1では、ICチップ8上のDATA I
N37とDATA OUT38をプリント基板10側でなく、
発熱基板6側の個別電極端子35列側に設けたので、ワイ
ヤボンディング端子15が直接メッキリードになる端子は
ない。また、ワイヤボンディング端子15の下部となる裏
面パターン12はPCOM57の広い安定したパターンなの
でワイヤボンディングの厚み方向の条件は均一となる。
ワイヤボンディング端子15の下部にPCOM57のパター
ンがない場合は、銅のパターン厚み30μm程度の厚みの
差分、両面テープ19と裏面ソルダーレジスト層とが接着
されなく浮くことになり、ワイヤボンディング上好まし
くなく、ワイヤボンディング端子15下部には幅広の裏面
パターンがあることが望ましい。Next, the operation will be described. DATAIN37 and DATA of IC chip 8 of conventional thermal head
The OUT38 position was located on the printed circuit board 10 side, so D
In order to provide the ATA IN 37 and the DATA OUT 38 wire bonding terminals 15 on the printed circuit board 10 side, it is difficult to provide nickel and gold plated lead terminals on the connector pin side, so the wires are routed from the wire bonding terminals. FIG. 12 shows a state in which the printed board 10 of the conventional thermal head is being manufactured, and a large number of printed boards 10 are taken from one large-sized board 70. Here, reference numeral 71 denotes a plating lead, and a screw connected to an electrode is tightened at a round hole position, and nickel plating and gold plating are performed by dipping in a plating solution. 72 is BDATA IN
100, plating lead of BDATA OUT101 (hereinafter, referred to as
73 is a plating lead (hereinafter, referred to as a wire bonding side plating lead) drawn out from the connector pin direction.
B1 to B27 are 8).
27 blocks of mm pitch are shown, indicating that there are 27 blocks of the IC chip 8. Here, the inventor has noticed that the defects of the wire bonding terminals 15 of the printed circuit board 10 in the conventional thermal head are considerably concentrated on the portions located on the wire bonding side plating leads 72, and the plating thickness of the wire bonding terminals 15 is reduced. investigated. The nickel bonding and the gold plating are performed from the terminal without the wire bonding side plating lead 72, that is, the connector side plating lead 73 in the wire bonding terminal 15, there is almost no variation in the thickness, and the nickel thickness is 10 μm.
Although the metal plating of m ± 2μm was made at about 0.5μm ± 0.1μm, the nickel thickness of the terminal connected to the plating lead 72 on the wire bonding side and becoming the wire bonding terminal 15 varied from 30μm to about 15μm. The closer to the position, the thicker it was. This is shown in FIG. It was also found that the shape of these terminals was raised at the ends and was not flat, and it was found that these were the causes of wire bonding failure.
In the first embodiment of the present invention, DATA I on the IC chip 8
N37 and DATA OUT38 not on the printed circuit board 10 side,
Since the wire bonding terminals 15 are provided on the row of the individual electrode terminals 35 on the side of the heat generating substrate 6, there is no terminal in which the wire bonding terminals 15 are directly plated leads. Further, since the back surface pattern 12 below the wire bonding terminal 15 is a wide and stable pattern of the PCOM 57, the conditions in the thickness direction of the wire bonding become uniform.
If there is no PCOM57 pattern under the wire bonding terminal 15, the copper pattern thickness difference of about 30 μm, the double-sided tape 19 and the backside solder resist layer will not be adhered and float, which is not preferable for wire bonding. It is desirable that a wide back surface pattern be provided below the wire bonding terminal 15.
【0016】実施例2. 次に発明者は、ICチップ8のGND−H47a , 47b ,
47c の位置につき調べた。本来GND−Hの接続位置は
多い程ICチップ8内部のパターン配線抵抗分による損
失電圧は少ないものとなるが、ワイヤボンド接続箇所を
少なくする為、数箇 鰍ニしている。実施例1ではGND
−Hの接続箇所は3箇所である。ここでGND−Hの箇
所とICチップ8内部の発熱抵抗体駆動端子DO39の64
ビットにそれぞれ9mA流した時の損失電圧を調べた。図
14に示すのがその測定結果である。図14の下図はDO1
とDO32,DO64付近にGND−Hを配置した従来のI
Cチップの配置、上図はDO12,DO32,DO54付近に
GND−Hを配置し実施した結果である。従来の最大50
mVのビット間ばらつきを最大30mV程度と約40%程度改善
し、印字結果としては、よりばらつきの少ないものとな
った。GND−H47の位置としては、中央から16ビット
から25ビット離れた位置に2箇所、中央に1箇所とする
ことで、ほぼ40mV以内になり、端部に位置した場合の約
20%程度は改善できる位置であった。Embodiment 2 FIG. Next, the inventor has found that the GND-H47a, 47b,
The position of 47c was examined. Originally, as the number of GND-H connection positions increases, the loss voltage due to the resistance of the pattern wiring inside the IC chip 8 decreases. However, in order to reduce the number of wire bond connection points, the number of connection points is reduced. In the first embodiment, GND
-H is connected at three places. Here, the GND-H portion and the heating resistor drive terminal DO39 64 inside the IC chip 8 are connected.
The loss voltage when 9 mA was applied to each bit was examined. Figure
FIG. 14 shows the measurement results. 14 is DO1
And conventional I-type with GND-H arranged near DO32 and DO64
Arrangement of C-chip, upper figure shows the results of GND-H arrangement near DO12, DO32, DO54. Conventional up to 50
The variation between bits of mV was improved by about 40% to a maximum of about 30 mV, and as a printing result, the variation was further reduced. The position of the GND-H47 is set to two places at a position 25 bits away from the center and 16 bits from the center and one place at the center, so that it is within approximately 40 mV.
About 20% was in a position where it could be improved.
【0017】実施例3. ICチップ8の信号配置として、VDD42の隣にENH
43を配置することにより、ENH43信号を必要としない
場合は、図15に示す様にPVDD59とPENH60を接続
すれば良く、また、ボンディング端子であるBVDD49
とBENH50を接続すれば良く、簡略なパターン配置と
なる。Embodiment 3 FIG. As a signal arrangement of the IC chip 8, ENH is placed next to VDD42.
If the ENH43 signal is not required by arranging the 43, the PVDD59 and the PENH60 may be connected as shown in FIG.
And BENH50 may be connected, resulting in a simple pattern arrangement.
【0018】実施例4. ICチップ8の信号配置として、GND−L45の隣にE
NL44を配置することにより、ENL44信号を必要とし
ない場合は図16に示すようにBENL51,BGND−L
52,BGND−H47b ,47c とを接続すれば良く、また
パターン接続しても良く簡略なパターン配置となる。Embodiment 4 FIG. As a signal arrangement of the IC chip 8, E is next to GND-L45.
By arranging the NL44, if the ENL44 signal is not required, as shown in FIG. 16, the BENL51, BGND-L
52, BGND-H47b, 47c may be connected, or a pattern may be connected, resulting in a simple pattern arrangement.
【0019】実施例5. また、図16中の74に示すようにワイヤボンディング認識
用の角型パターンを設けることによりワイヤボンディン
グの自動装置による認識の効率を上げることができる。
認識パターンは角型のへこみパターンでもかまわない。
丸型の認識パターンは、銅パターンのエッチング,ニッ
ケルメッキ,金メッキにて形状が均一な丸になりにく
く、角型パターンがパターンの均一には望ましかった。Embodiment 5 FIG. Further, by providing a rectangular pattern for wire bonding recognition as shown by 74 in FIG. 16, the efficiency of recognition by an automatic wire bonding apparatus can be increased.
The recognition pattern may be a square dent pattern.
The round recognition pattern is unlikely to be formed into a uniform round shape by etching of a copper pattern, nickel plating, and gold plating, and a square pattern is desired for uniformity of the pattern.
【0020】実施例6. また図17に示す様にICチップ8の信号を金ワイヤ9に
て2本ずつ打つことによりプリント基板10側のワイヤボ
ンディング不良を防ぐことが可能となる。プリント基板
10のワイヤボンド時の温度はプリント基板の材質の許容
温度と熱伝導のしにくいことがネックとなり低温度であ
りワイヤボンドの不良につながっている。ところで、ワ
イヤボンドの不良時にはICチップ8を取りはずして交
換することになるが、発熱基板6側のワイヤ接続端子は
金ワイヤ9をはずし洗浄等可能であるが、プリント基板
10側のワイヤボンディング端子15は、金ワイヤ9をはず
したり、ICチップ8の交換時にプリント基板からはげ
てしまったりして再生が難しいものとなる。そこでプリ
ント基板10側のワイヤボンドをより確実にすることが製
造上のよりいっそうの歩留まり向上につながることにな
る。Embodiment 6 FIG. Further, as shown in FIG. 17, by hitting the signal of the IC chip 8 with the gold wire 9 two by two, it is possible to prevent wire bonding failure on the printed circuit board 10 side. Printed board
The temperature at the time of wire bonding of No. 10 is a low temperature due to the permissible temperature of the material of the printed circuit board and the difficulty of heat conduction, leading to poor wire bonding. By the way, when the wire bond is defective, the IC chip 8 is removed and replaced. However, the wire connection terminal on the side of the heat generating substrate 6 can be cleaned by removing the gold wire 9, but the printed circuit board can be cleaned.
The wire bonding terminal 15 on the 10 side is difficult to reproduce because the gold wire 9 is removed or the IC chip 8 is peeled off from the printed circuit board when the IC chip 8 is replaced. Therefore, making the wire bond on the printed circuit board 10 more reliable leads to a further improvement in production yield.
【0021】実施例7. また、図18に示すのはプリント基板10を片面パターンに
した場合を示すもので、ワイヤボンディング端子箇所以
外をソルダーレジスト層にて被うことにより片面基板75
の使用が可能となる。Embodiment 7 FIG. FIG. 18 shows a case where the printed circuit board 10 is formed in a single-sided pattern.
Can be used.
【0022】実施例8. さらに、プリント基板10を用いず発熱基板6を大きくし
図18に示す様なパターン配置と同様にした構成としても
良い。この場合はPCOM57PGND58の配線パターン
強化として例えば、有機金ペーストからなる導体パター
ン3上にガラスフリット系の金ペーストや銀ペーストを
重ね印刷した後、ガラスペーストにて必要な箇所を露出
させ金ワイヤ9にてワイヤボンドを行なえば良い。ま
た、コネクタ15は57, 58,59,60,61,63のパターンに
フレキシブルプリント基板を用いて圧接,異方性導電性
膜,インジウム半田等にて熱圧着した後、フレキシブル
プリント基板にコネクタ15を半田付接続しても良い。ま
た直接コネクタをパターンにインジウム半田等を用いて
接続しても良いし、圧接構造としても良い。Embodiment 8 FIG. Further, the heat generating substrate 6 may be enlarged without using the printed circuit board 10, and may have a configuration similar to the pattern arrangement shown in FIG. In this case, to enhance the wiring pattern of the PCOM 57 PGND 58, for example, a glass frit-based gold paste or a silver paste is overprinted on the conductor pattern 3 made of an organic gold paste, and then the necessary portions are exposed with the glass paste to form the gold wires 9. What is necessary is just to perform wire bonding. The connector 15 is press-bonded to a pattern of 57, 58, 59, 60, 61, 63 using a flexible printed circuit board by thermocompression bonding using an anisotropic conductive film, indium solder, or the like. May be connected by soldering. Further, the connector may be directly connected to the pattern using indium solder or the like, or may have a pressure contact structure.
【0023】実施例9. 実施例1ではGND−L45とGND−H47を接続してP
GND63としたがサーマルヘッドのコネクタのピンまで
分離しサーマルヘッド使用装置電源の端子近傍で接続す
る構成としても良くまた信号パターン配線に関して特に
限定しないのは言うまでもない。Embodiment 9 FIG. In the first embodiment, GND-L45 and GND-H47 are connected and P
Although the GND 63 is used, the structure may be such that the pins of the connector of the thermal head are separated and connected in the vicinity of the terminal of the power supply of the apparatus using the thermal head, and it goes without saying that the signal pattern wiring is not particularly limited.
【0024】実施例10. 実施例1では、くし状部分の共通電極パターン幅と、個
別電極パターン幅を同一としたが、発熱抵抗体の抵抗値
が低く電流が多い場合には共通電極パターン幅を広くす
ることにより共通電極接続パターンの損失を小さくする
ことができる。Embodiment 10 FIG. In the first embodiment, the width of the common electrode pattern of the comb-shaped portion and the width of the individual electrode pattern are the same. However, when the resistance value of the heating resistor is low and the current is large, the width of the common electrode pattern is increased by increasing the width of the common electrode pattern. The loss of the connection pattern can be reduced.
【0025】実施例11. 図25、図26に示すように、さらに高導電膜400を形
成してもよい。具体的には、保護膜5形成の後、発熱抵
抗体4上に導電性のガラスペーストをスクリーン印刷
し、乾燥、焼成することで形成される。この高導電膜40
0は、保護膜5に被われていない共通電極ブロック端子3
2の一部分のプローブ端子34と接続されることにより、
印字中に発生した静電気を共通電極ブロックを介して外
部に逃すことができ、発熱抵抗体4の静電気による不良
を防止することができる。Embodiment 11 As shown in FIGS. 25 and 26, a high conductive film 400 may be further formed. Specifically, after the protective film 5 is formed, a conductive glass paste is screen-printed on the heating resistor 4, dried and fired. This high conductive film 40
0 is the common electrode block terminal 3 which is not covered with the protective film 5
By being connected to the probe terminal 34 of a part of 2,
The static electricity generated during printing can be released to the outside via the common electrode block, and a defect of the heating resistor 4 due to the static electricity can be prevented.
【0026】実施例12. 図27、図28、図29は、この発明の他の実施例によ
るサーマルヘッドの平面図である。図30、図31に示
すような従来のサーマルヘッドにおいては、はみ出した
接着剤が保護膜5の縁に沿って共通電極パッド24b上に
拡散し、毛細管現象により共通電極パッド24bとAuワ
イヤ9とが接続できなかったり、又は接続しても強度が
弱い等の接続不良が発生していた。しかしながら、図2
7に示すように保護膜5の形状を共通電極パッド24bを
挟むように山型とすることにより、かかる問題点を解消
することができる。さらに図28、図29に示すように
かかる保護膜5の形状を谷型又は台形にしても同様な効
果が得られる。Embodiment 12 FIGS. 27, 28 and 29 are plan views of a thermal head according to another embodiment of the present invention. In the conventional thermal head as shown in FIGS. 30 and 31, the protruding adhesive diffuses along the edge of the protective film 5 onto the common electrode pad 24b, and the common electrode pad 24b and the Au wire 9 However, connection failures such as failure of connection or weak connection strength have occurred. However, FIG.
Such a problem can be solved by forming the protective film 5 into a mountain shape so as to sandwich the common electrode pad 24b as shown in FIG. Further, as shown in FIGS. 28 and 29, the same effect can be obtained by changing the shape of the protective film 5 to a valley or trapezoid.
【0027】実施例13. また、ICチップの接続方法に関しては、ワイヤボンド
でなく、半田パンプ、金パンプによるフリップチップI
Cを使用したフェースダウン方式やフィルムを用いたタ
ブ方式等を用いた接続でもよく、特に限定するものでは
ない。Embodiment 13 Regarding a method of connecting an IC chip, not a wire bond but a flip chip I using a solder pump or a gold pump.
Connection using a face-down method using C, a tab method using a film, or the like may be used, and there is no particular limitation.
【0028】実施例14. 導体パターンを有機金ペーストを0.5μm厚にて形成し
た場合を示したが、他の導体材料であってもよい。特に
発熱抵抗体の抵抗値が高抵抗であれば、比抵抗の高い例
えばAl等の金属や導体の混入した樹脂ペーストを用い
たパターンでも良く、特に限定するものではない。Embodiment 14 Although the case where the conductive pattern is formed of an organic gold paste with a thickness of 0.5 μm is shown, other conductive materials may be used. In particular, if the resistance value of the heating resistor is high, a pattern using a resin paste mixed with a metal such as Al or a conductor having a high specific resistance may be used, and there is no particular limitation.
【0029】実施例15. また、ICチップの動作回路は、特に限定するものでは
なく、ラッチ回路がなかったりしても良いし、信号端子
数を減らすようにしても良い。Embodiment 15 Further, the operation circuit of the IC chip is not particularly limited, and a latch circuit may be omitted or the number of signal terminals may be reduced.
【0030】[0030]
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。第
1の発明に係るサーマルヘッドは、基板と、前記基板の
一端部に端縁に沿って設けられた発熱抵抗体と、前記発
熱抵抗体よりも前記基板の前記一端部側に端縁に沿って
設けられ、当該発熱抵抗体と交わるように延在する複数
の電極を有する端部共通電極と、前記端部共通電極の複
数の電極と交互に当該発熱抵抗体と交わる個別電極と、
前記基板の他端部側に設けられると共に前記個別電極と
接続され前記発熱抵抗体を印字情報に基づき駆動する複
数個のICチップと、前記発熱抵抗体よりも前記ICチ
ップ側に設けられ共通電極接続パターンを介して前記端
部共通電極と接続されるICチップ側共通電極とを備
え、前記発熱抵抗体と前記ICチップとの間に前記端部
共通電極に接続されたプローブ端子を設けたものなの
で、感熱紙のかすがたまらないため画質不良に結びつか
ない。 第2の発明に係るサーマルヘッドは、第1の発明
において、少なくとも前記プローブ端子と接続された高
導電膜を有するものなので、静電防止となる。 第3の発
明に係るサーマルヘッドは、基板と、前記基板の一端部
に端縁に沿って設けられた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗
体よりも前記基板の前記一端部側に端縁に沿って設けら
れ、当該発熱抵抗体と交わるように延在する複数の電極
を有する端部共通電極と、前記端部共通電極の複数の電
極と交互に当該発熱抵抗体と交わる個別電極と、前記基
板の他端部側に設けられると共に前記個別電極と接続さ
れ前記発熱抵抗体を印字情報に基づき駆動する複数個の
ICチップと、前記ICチップ側に設けられ共通電極接
続パターンを介して前記端部共通電極と接続されるIC
チップ側共通電極と、前記基板とは別体に設けられメッ
キ工程により電極形成されたプリント基板とを備え、前
記ICチップのデータ入力端子とデータ出力端子とを接
続する導体パターンを当該ICチップよりも前記発熱抵
抗体側の基板上に配置したものなので、プリント基板上
には、ワイヤボンディング不良の原因となるメッキリー
ドとなる端子がなくなるため、ワイヤボンディング不良
を改善することができる。 第4の発明に係るサーマルヘ
ッドは、基板と、前記基板の一端部に端縁に沿って設け
られた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体よりも前記基板の
前記一端部側に端縁に沿って設けられ、当該発熱抵抗体
と交わるように延在する複数の電極を有する端部共通電
極と、前記端部共通電極の複数の電極と交互に当該発熱
抵抗体と交わる個別電極と、前記基板の他端部側に設け
られると共に前記個別電極と接続され前記発熱抵抗体を
印字情報に基づき駆動する複数個のICチップと、前記
ICチップ側に設けられ前記発熱抵抗体側に突出する共
通電極パッドを有し、共通電極接続パターンを介して前
記端部共通電極と接続されるICチップ側共通電極とを
備え、前記ICチップ側共通電極上に被着した保護膜上
に前記ICチップが接着剤により接着され、さらに、当
該保護膜は、前記ICチップ側共通電極より前記共通電
極パッドが突出する部分であって、前記基板の長手方向
の両端部付近において基板短手方向に山型に突出形成さ
れたものなので、接着剤のはみ出しを防止し、歩留まり
を向上し、生産性を上げることができる。 第5の発明に
係るサーマルヘッドは、基板と、前記基板の一端部に端
縁に沿って設けられた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体よ
りも前記基板の前記一端部側に端縁に沿って設けられ、
当該発熱抵抗体と交わるように延在する複数の電極を有
する端部共通電極と、前記端部共通電極の複数の電極と
交互に当該発熱抵抗体と交わる個別電極と、前記基板の
他端部側に設けられると共に前記個別電極と接続され前
記発熱抵抗体を印字情報に基づき駆動する複数個のIC
チップと、前記ICチップ側に設けられ前記発熱抵抗体
側に突出する共通電極パッドを有し、共通電極接続パタ
ーンを介して前記端部共通電極と接続されるICチップ
側共通電極とを備え、前記ICチップ側共通電極上に被
着した保護膜上に前記ICチップが接着剤により接着さ
れ、さらに、当該保護膜は、前記ICチップ側共通電極
より前記共通電極パッドが突出する部分であって、前記
基板の長手方向の両端部付近において基板短手方向に谷
型にくぼんだ形で形成されたものなので、接着剤のはみ
出しを防止し、歩留まりを向上し、生産性を上げること
ができる。 第6の発明に係るサーマルヘッドは、基板
と、前記基板の一端部に端縁に沿って設けられた発熱抵
抗体と、前記発熱抵抗体よりも前記基板の前記一端部側
に端縁に沿って設けられ、当該発熱抵抗体と交わるよう
に延在する複数の電極を有す る端部共通電極と、前記端
部共通電極の複数の電極と交互に当該発熱抵抗体と交わ
る個別電極と、前記基板の他端部側に設けられると共に
前記個別電極と接続され前記発熱抵抗体を印字情報に基
づき駆動する複数個のICチップと、前記ICチップ側
に設けられ前記発熱抵抗体側に突出する共通電極パッド
を有し、共通電極接続パターンを介して前記端部共通電
極と接続されるICチップ側共通電極とを備え、前記I
Cチップ側共通電極上に被着した保護膜上に前記ICチ
ップが接着剤により接着され、さらに、当該保護膜は、
前記ICチップ側共通電極より前記共通電極パッドが突
出する部分において、基板短手方向に突出形成されたも
のなので、接着剤のはみ出しを防止し、歩留まりを向上
し、生産性を上げることができる。 第7の発明に係るサ
ーマルヘッドは、第1〜第6の発明において、前記IC
チップにおける発熱抵抗体駆動端子は、同一ピッチにて
配列されたいくつかの群からなり、前記共通電極接続パ
ターンは、当該群の間に配置されているものなので、ワ
イヤボンディングする場合にワイヤが該接続パターンに
接触せず、信頼性が向上する。 第8の発明に係るサーマ
ルヘッドは、第1〜第7の発明において、前記基板の前
記ICチップを配置した端部側に当該基板とは別体に設
けられたプリント基板と、前記プリント基板に設けられ
前記基板のICチップ側共通電極とワイヤボンディング
により接続されたワイヤボンディング端子と、前記プリ
ント基板の前記ワイヤボンディング端子が設けられた面
とは反対の面に設けられると共に前記ワイヤボンディン
グ端子とスルーホールを介して接続された基板短手方向
に幅広の導体パターンとを備えたものなので、プリント
配線板のワイヤステッチ部の下が平坦となり、両面テー
プとの密着が均一となる。 第9の発明に係るサーマルヘ
ッドの駆動用ICは、一方の長辺端部に発熱抵抗体駆動
素子と印字データ入力端子と印字データ出力端子とを配
置し、他方の長辺端部にICチップ駆動用信号端子を配
置し、前記一方と他方の長辺の間の中央部付近にスイッ
チング素子の接地端子を配置したので、ICチップのパ
ターン配置が容易となり、接地パターンを中央で幅広に
とることができ、ICの接地パターンの損失が少なくな
り、任意の箇所での接地をとることができる効果があ
る。 第10の発明に係るサーマルヘッドの駆動用IC
は、第9の発明において、3個の接地端子を有し、1個
は複数の発熱抵抗体駆動端子のほぼ中央部に位置し、他
の2個は前記1個の接地端子から両側に前記複数の発熱
抵抗体駆動端子の数の1/4から2/5に相当する分離
れて位置したものなので、電圧降下のビット間のばらつ
きが少なくなるので、印字ばらつきを少なくし、印字品
質の向上につなげることができる。 第11の発明に係る
サーマルヘッドの駆動用ICは、内部でプルダウン抵抗
に接続されたICチップ駆動用信号端子に隣接してIC
チップ駆動電源端子を配置し、内部でプルアップ抵抗に
接続されたICチップ駆動用信号端子に隣接して前記I
Cチップ駆動電源端子の接地端子を配置したものなの
で、パターンが共通化できるので、接続される導体パタ
ーン配線が容易となる。 Since the present invention is configured as described above, it has the following effects. No.
The thermal head according to the first aspect of the present invention includes a substrate,
A heating resistor provided along one edge at one end;
Along the edge closer to the one end of the substrate than the thermal resistor
And a plurality of the plurality of heating elements are provided and extend so as to intersect with the heating resistor.
An end common electrode having a plurality of electrodes;
Individual electrodes intersecting with the heating resistor alternately with the number of electrodes,
The individual electrodes provided on the other end side of the substrate and
Connected to drive the heating resistor based on print information.
Several IC chips and the IC chip rather than the heating resistor
Through the common electrode connection pattern provided on the
IC chip side common electrode connected to the common electrode
The end portion between the heating resistor and the IC chip;
It has a probe terminal connected to the common electrode
The image quality is poor because the heat paper does not collect the residue.
Absent. A thermal head according to a second aspect of the present invention is a thermal head according to the first aspect.
, At least the height connected to the probe terminal
Since it has a conductive film, it is antistatic. Third departure
A thermal head according to the present invention comprises a substrate, and one end of the substrate.
A heating resistor provided along an edge of the heating resistor;
Provided along the edge closer to the one end of the substrate than the body.
A plurality of electrodes extending so as to intersect the heating resistor
And a plurality of electrodes of the end common electrode.
An individual electrode that intersects the heating resistor alternately with the pole;
Provided at the other end of the plate and connected to the individual electrodes.
A plurality of driving the heating resistors based on print information.
An IC chip and a common electrode contact provided on the IC chip side.
IC connected to the end common electrode through a connection pattern
The chip-side common electrode and the substrate are provided separately from the substrate.
A printed circuit board on which electrodes are formed by the
Connect the data input terminal and the data output terminal of the IC chip.
Connecting the conductive pattern to the heating chip
Since it is arranged on the substrate on the antibody side, on the printed circuit board
Has a plating lead that causes wire bonding failure.
Wire bonding failure
Can be improved. The thermal head according to the fourth invention
A pad is provided along an edge at one end of the substrate and the substrate.
The heating resistor, and the substrate more than the heating resistor
The heating resistor is provided along an edge on the one end side.
End common electrode having a plurality of electrodes extending to intersect
The electrodes and the plurality of electrodes of the end common electrode alternately generate the heat.
An individual electrode intersecting with a resistor, and provided on the other end side of the substrate
And the heating resistor connected to the individual electrode.
A plurality of IC chips driven based on print information;
The IC is provided on the IC chip side and projects to the heating resistor side.
Through-electrode pad, and through the common electrode connection pattern
The common electrode on the IC chip side connected to the common electrode on the
On the protective film attached on the IC chip side common electrode
The IC chip is adhered with an adhesive,
The protective film is provided between the common electrode on the IC chip side and the common electrode.
A portion where the electrode pad protrudes, in the longitudinal direction of the substrate.
Protruding in the shape of a mountain in the short direction of the substrate near both ends of
Adhesive, preventing the adhesive from sticking out and improving the yield.
And productivity can be improved. In the fifth invention
Such a thermal head comprises a substrate and one end of the substrate.
A heating resistor provided along the edge;
Also provided along the edge on the one end side of the substrate,
A plurality of electrodes extending so as to intersect the heating resistor.
An end common electrode, and a plurality of electrodes of the end common electrode
An individual electrode alternately intersecting with the heating resistor, and
Before being provided on the other end side and connected to the individual electrode
A plurality of ICs for driving the heating resistor based on print information
Chip and the heating resistor provided on the IC chip side
The common electrode connection pattern
IC chip connected to the end common electrode via a line
And a common electrode on the IC chip side.
The IC chip is adhered with an adhesive on the attached protective film.
And the protection film is provided on the IC chip side common electrode.
A portion where the common electrode pad protrudes,
A trough in the lateral direction of the substrate near both ends in the longitudinal direction of the substrate
Since it is formed in a concave shape in the mold, the glue
Prevention, increase yield, and increase productivity
Can be. A thermal head according to a sixth aspect of the present invention includes a substrate
And a heating resistor provided along one edge at one end of the substrate.
An antibody and the one end side of the substrate relative to the heating resistor
Is provided along the edge so as to intersect with the heating resistor.
And the end common electrode that having a plurality of electrodes extending in the end
Intersects with the heating resistor alternately with the multiple electrodes of the common electrode
And an individual electrode provided on the other end side of the substrate.
The heating resistor connected to the individual electrode is determined based on print information.
And a plurality of IC chips to be driven
A common electrode pad provided on the heating resistor and protruding toward the heating resistor side
And the end common electrode through a common electrode connection pattern.
And an IC chip-side common electrode connected to the electrodes.
The IC chip is placed on the protective film deposited on the common electrode on the C chip side.
The cap is adhered with an adhesive, and further, the protective film is
The common electrode pad protrudes from the IC chip side common electrode.
At the protruding part, a protrusion is formed in the lateral direction of the substrate.
Prevents adhesive from overflowing and improves yield
And increase productivity. According to a seventh aspect of the present invention,
The head according to the first to sixth inventions, wherein the IC
Heating resistor drive terminals on the chip should be at the same pitch
The common electrode connection pattern is composed of several groups
Since the turns are located between the groups,
When performing ear bonding, the wire
No contact, reliability is improved. Therma according to the eighth invention
In the first to seventh inventions, the head is provided in front of the substrate.
The IC chip is placed separately from the substrate on the side where the IC chip is placed.
Printed circuit board, and provided on the printed circuit board.
Wire bonding with the common electrode on the IC chip side of the substrate
Wire bonding terminal connected by
Surface of the printed circuit board on which the wire bonding terminals are provided
And the wire bondin
Board short side direction connected to through terminals and through holes
Printed with a wide conductor pattern
The lower part of the wire stitch on the wiring board is flat,
The contact with the pump becomes uniform. The thermal head according to the ninth invention
The driving IC of the pad has a heating resistor drive at one long side end.
Element, print data input terminal and print data output terminal
And a signal terminal for driving the IC chip at the other long side end.
Switch near the center between the long sides of the one and the other.
Since the grounding terminal of the switching element is located,
Turn arrangement is easy and the ground pattern is wide at the center
And the loss of the ground pattern of the IC is reduced.
The effect is that grounding can be taken at any location.
You. IC for driving a thermal head according to a tenth invention
In the ninth invention, three ground terminals are provided, and one
Is located at the approximate center of the heating resistor drive terminals,
The two are connected to the plurality of heat sources on both sides from the one ground terminal.
Separation equivalent to 1/4 to 2/5 of the number of resistor drive terminals
The voltage drop between bits
Less unevenness in printing, reducing printing variations
It can lead to quality improvement. According to the eleventh invention
The drive IC for the thermal head has an internal pull-down resistor
IC adjacent to the IC chip driving signal terminal connected to the IC
A chip drive power supply pin is arranged, and a pull-up resistor is used internally.
Adjacent to the connected IC chip driving signal terminal.
The ground terminal of the C chip drive power supply terminal is arranged.
Since the pattern can be shared, the conductor pattern to be connected
Line wiring becomes easy.
【図1】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの斜
視図である。FIG. 1 is a perspective view of a thermal head according to an embodiment of the present invention.
【図2】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの断
面図である。FIG. 2 is a sectional view of a thermal head according to an embodiment of the present invention.
【図3】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの製
造工程を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a manufacturing process of the thermal head according to one embodiment of the present invention.
【図4】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの発
熱基板の導体パターンを示す図である。FIG. 4 is a view showing a conductor pattern of a heat generating substrate of the thermal head according to one embodiment of the present invention.
【図5】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの発
熱基板の導体パターン及び発熱抵抗体を示す図である。FIG. 5 is a view showing a conductor pattern and a heating resistor of a heating substrate of a thermal head according to an embodiment of the present invention.
【図6】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの発
熱基板の保護膜パターンを示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a protective film pattern of a heat generating substrate of a thermal head according to an embodiment of the present invention.
【図7】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの発
熱基板上のICチップ実装図である。FIG. 7 is an IC chip mounting diagram on a heat generating substrate of the thermal head according to one embodiment of the present invention.
【図8】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの駆
動用ICチップの回路図である。FIG. 8 is a circuit diagram of an IC chip for driving a thermal head according to an embodiment of the present invention.
【図9】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの別
基板とICチップ実装図である。FIG. 9 is a mounting diagram of another substrate and an IC chip of the thermal head according to the embodiment of the present invention.
【図10】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの
別基板の裏面パターン図である。FIG. 10 is a back surface pattern diagram of another substrate of the thermal head according to one embodiment of the present invention.
【図11】この発明の一実施例によるサーマルヘッドの
別基板と先頭ICチップとの実装図である。FIG. 11 is a mounting diagram of another substrate and a leading IC chip of the thermal head according to one embodiment of the present invention.
【図12】従来のサーマルヘッドの別基板の製造工程の
メッキ工程を示す図である。FIG. 12 is a diagram illustrating a plating step in a process of manufacturing another substrate of a conventional thermal head.
【図13】メッキリードによる端子厚みのばらつきを示
す図である。FIG. 13 is a diagram showing variations in terminal thickness due to plating leads.
【図14】ICチップ内の接地端子位置と損失を示す図
である。FIG. 14 is a diagram showing a position and a loss of a ground terminal in an IC chip.
【図15】この発明の他の実施例のサーマルヘッドの別
基板のパターン図である。FIG. 15 is a pattern diagram of another substrate of a thermal head according to another embodiment of the present invention.
【図16】この発明の他の実施例のサーマルヘッドの別
基板のパターン図である。FIG. 16 is a pattern diagram of another substrate of a thermal head according to another embodiment of the present invention.
【図17】この発明の他の実施例のサーマルヘッドのI
Cチップ実装図である。FIG. 17 illustrates a thermal head according to another embodiment of the present invention;
It is a C-chip mounting diagram.
【図18】この発明の他の実施例のサーマルヘッドを示
す図である。FIG. 18 is a view showing a thermal head according to another embodiment of the present invention.
【図19】この発明の他の実施例のサーマルヘッドを示
す図である。FIG. 19 is a view showing a thermal head according to another embodiment of the present invention.
【図20】この発明の一実施例のサーマルヘッドの等価
回路図である。FIG. 20 is an equivalent circuit diagram of a thermal head according to one embodiment of the present invention.
【図21】従来のサーマルヘッドを示す斜視図である。FIG. 21 is a perspective view showing a conventional thermal head.
【図22】従来のサーマルヘッドを示す断面図である。FIG. 22 is a sectional view showing a conventional thermal head.
【図23】従来のサーマルヘッドを示す等価回路図であ
る。FIG. 23 is an equivalent circuit diagram showing a conventional thermal head.
【図24】従来のサーマルヘッドのICチップを示す図
である。FIG. 24 is a view showing an IC chip of a conventional thermal head.
【図25】この発明の他の実施例によるサーマルヘッド
の製造工程を示す図である。FIG. 25 is a diagram showing a manufacturing process of a thermal head according to another embodiment of the present invention.
【図26】この発明の他の実施例によるサーマルヘッド
の発熱基板の保護パターン及び高導電膜パターンを示す
図である。FIG. 26 is a view showing a protection pattern and a high conductive film pattern of a heat generating substrate of a thermal head according to another embodiment of the present invention.
【図27】この発明の他の実施例によるサーマルヘッド
の平面図である。FIG. 27 is a plan view of a thermal head according to another embodiment of the present invention.
【図28】この発明の他の実施例によるサーマルヘッド
の平面図である。FIG. 28 is a plan view of a thermal head according to another embodiment of the present invention.
【図29】この発明の他の実施例によるサーマルヘッド
の平面図である。FIG. 29 is a plan view of a thermal head according to another embodiment of the present invention.
【図30】従来のサーマルヘッドの平面図である。FIG. 30 is a plan view of a conventional thermal head.
【図31】従来のサーマルヘッドの平面図である。FIG. 31 is a plan view of a conventional thermal head.
1 アルミナセラミック基板、2 蓄熱層、3 導体パ
ターン、4 発熱抵抗体、5 保護膜、6 発熱基板、
7 接着剤、8 ICチップ、9 金ワイヤ、10 プリ
ント基板、11 裏面ソルダーレジスト層、12 裏面パタ
ーン、13 表面パターン、14 表面ソルダーレジスト
層、15 ボンディング端子、16 コネクタ、17 半田、
18 支持台、19 両面テープ、20 記録紙、21 プラテ
ンローラ、22 保護樹脂、23 カバー、24a 端部共通
電極、24b IC下部共通電極、25個別電極、26a 個
別電極群a、26b 個別電極群b、27 共通電極接続パ
ターン、28 DIN端子、29 DOUT端子、30 認識
パターン、31 位置認識パターン、32 共通電極ブロッ
ク端子、33 くし状部分、34 プローブ端子、35個別電
極端子、36 コモン接続端子、37 DATA OUT、
38 DATA IN、39 DO、40 COM間隔、41
CLOCK、42 VDD、43 ENH、44ENL、45
GND−L、46 LATCH、47a GND−H、47b
GND−H、47c GND−H、48 BCLOCK、
49 BVDD、50 BENH、51BENL、52 BGN
D−L、53 BLATCH、54a , 54b ,54c BGN
D−H、55 BCOM、56 スルーホール、57 PCO
M、58 PCLOCK、59 PVDD、60 PENH、
61 PENL、62 PLATCH、63 PGND、64
TDATA、65 BDATA、66 PDATA、70 大
型基板、71 メッキリード、72 ワイヤボンディング側
メッキリード、73 コネクタ側メッキリード、74 角型
パターン、75 片面パターン、80 IC回路、90 コモ
ン強化部分、100 BDATA IN、101 BDAT
A OUT、300 導体層、400高導電膜。1 alumina ceramic substrate, 2 heat storage layer, 3 conductor pattern, 4 heating resistor, 5 protective film, 6 heating substrate,
7 adhesive, 8 IC chip, 9 gold wire, 10 printed circuit board, 11 back solder resist layer, 12 back pattern, 13 front pattern, 14 front solder resist layer, 15 bonding terminal, 16 connector, 17 solder,
18 support base, 19 double-sided tape, 20 recording paper, 21 platen roller, 22 protective resin, 23 cover, 24a end common electrode, 24b IC lower common electrode, 25 individual electrodes, 26a individual electrode group a, 26b individual electrode group b , 27 common electrode connection pattern, 28 DIN terminal, 29 DOUT terminal, 30 recognition pattern, 31 position recognition pattern, 32 common electrode block terminal, 33 comb-shaped part, 34 probe terminal, 35 individual electrode terminal, 36 common connection terminal, 37 DATA OUT,
38 DATA IN, 39 DO, 40 COM interval, 41
CLOCK, 42 VDD, 43 ENH, 44 ENL, 45
GND-L, 46 LATCH, 47a GND-H, 47b
GND-H, 47c GND-H, 48 BCLOCK,
49 BVDD, 50 BENH, 51 BENL, 52 BGN
DL, 53 BLATCH, 54a, 54b, 54c BGN
DH, 55 BCOM, 56 through hole, 57 PCO
M, 58 PCLOCK, 59 PVDD, 60 PENH,
61 PENL, 62 PLATCH, 63 PGND, 64
TDATA, 65 BDATA, 66 PDATA, 70 Large board, 71 plating lead, 72 wire bonding side plating lead, 73 connector side plating lead, 74 square pattern, 75 one side pattern, 80 IC circuit, 90 common reinforced part, 100 BDATA IN , 101 BDAT
A OUT, 300 conductor layers, 400 highly conductive films.
Claims (11)
て設けられた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体よりも前記
基板の前記一端部側に端縁に沿って設けられ、当該発熱
抵抗体と交わるように延在する複数の電極を有する端部
共通電極と、前記端部共通電極の複数の電極と交互に当
該発熱抵抗体と交わる個別電極と、前記基板の他端部側
に設けられると共に前記個別電極と接続され前記発熱抵
抗体を印字情報に基づき駆動する複数個のICチップ
と、前記発熱抵抗体よりも前記ICチップ側に設けられ
共通電極接続パターンを介して前記端部共通電極と接続
されるICチップ側共通電極とを備え、前記発熱抵抗体
と前記ICチップとの間に前記端部共通電極に接続され
たプローブ端子を設けたサーマルヘッド。 1. A substrate and one end of said substrate along an edge
A heating resistor provided, and the heating resistor is more than the heating resistor.
The one end of the substrate is provided along the edge,
End having a plurality of electrodes extending to intersect the resistor
The common electrode and the plurality of electrodes of the end common electrode are alternately contacted.
An individual electrode that intersects the heating resistor, and the other end of the substrate
And the heating resistor connected to the individual electrode.
Multiple IC chips that drive antibodies based on print information
Provided on the IC chip side of the heating resistor
Connect to the end common electrode via common electrode connection pattern
A common electrode on the IC chip side, and the heat generating resistor
And the IC chip is connected to the end common electrode.
Thermal head with probe terminals.
た高導電膜を有する請求項1記載のサーマルヘッド。 2. A device connected to at least the probe terminal.
The thermal head according to claim 1, further comprising a high conductive film.
て設けられた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体よりも前記
基板の前記一端部側に端縁に沿って設けられ、当該発熱
抵抗体と交わるように延在する複数の電極を有する端部
共通電極と、前記端部共通電極の複数の電極と交互に当
該発熱抵抗体と交わる個別電極と、前記基板の他端部側
に設けられると共に前記個別電極と接続され前記発熱抵
抗体を印字情報に基づき駆動する複数個のICチップ
と、前記ICチップ側に設けられ共通電極接続パターン
を介して前記端部共通電極と接続されるICチップ側共
通電極と、前記基板とは別体に設けられメッキ工程によ
り電極形成されたプリント基板とを備え、前記ICチッ
プのデータ入力端子とデータ出力端子とを接続する導体
パターンを当該ICチップよりも前記発熱抵抗体側の基
板上に配置したことを特徴とするサーマルヘッド。 3. A substrate and one end of said substrate along an edge.
A heating resistor provided, and the heating resistor is more than the heating resistor.
The one end of the substrate is provided along the edge,
End having a plurality of electrodes extending to intersect the resistor
The common electrode and the plurality of electrodes of the end common electrode are alternately contacted.
An individual electrode that intersects the heating resistor, and the other end of the substrate
And the heating resistor connected to the individual electrode.
Multiple IC chips that drive antibodies based on print information
And a common electrode connection pattern provided on the IC chip side
The IC chip side connected to the end common electrode via
The conductive electrode and the substrate are provided separately from each other, and are formed by a plating process.
A printed circuit board on which the electrodes are formed.
Conductor connecting the data input terminal and the data output terminal of the
The pattern is placed on a substrate closer to the heating resistor than the IC chip.
A thermal head characterized by being arranged on a plate.
て設けられた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体よりも前記
基板の前記一端部側に端縁に沿って設けられ、当該発熱
抵抗体と交わるように延在する複数の電極を有する端部
共通電極と、前記端部共通電極の複数の電極と交互に当
該発熱抵抗体と交わる個別電極と、前 記基板の他端部側
に設けられると共に前記個別電極と接続され前記発熱抵
抗体を印字情報に基づき駆動する複数個のICチップ
と、前記ICチップ側に設けられ前記発熱抵抗体側に突
出する共通電極パッドを有し、共通電極接続パターンを
介して前記端部共通電極と接続されるICチップ側共通
電極とを備え、前記ICチップ側共通電極上に被着した
保護膜上に前記ICチップが接着剤により接着され、さ
らに、当該保護膜は、前記ICチップ側共通電極より前
記共通電極パッドが突出する部分であって、前記基板の
長手方向の両端部付近において基板短手方向に山型に突
出形成されたサーマルヘッド。 4. A substrate and one edge of said substrate along an edge.
A heating resistor provided, and the heating resistor is more than the heating resistor.
The one end of the substrate is provided along the edge,
End having a plurality of electrodes extending to intersect the resistor
The common electrode and the plurality of electrodes of the end common electrode are alternately contacted.
Individual electrodes intersecting the heat generating resistor, the other end portion side of the front Stories substrate
And the heating resistor connected to the individual electrode.
Multiple IC chips that drive antibodies based on print information
Projecting toward the heating resistor provided on the IC chip side.
The common electrode pad
IC chip side connected to the end common electrode via
And an electrode attached to the IC chip-side common electrode.
The IC chip is adhered on the protective film with an adhesive.
Further, the protective film is provided in front of the IC chip side common electrode.
Where the common electrode pad protrudes, and
Near the both ends in the longitudinal direction, project in a mountain shape in the short direction of the board.
Thermal head formed.
て設けられた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体よりも前記
基板の前記一端部側に端縁に沿って設けられ、当該発熱
抵抗体と交わるように延在する複数の電極を有する端部
共通電極と、前記端部共通電極の複数の電極と交互に当
該発熱抵抗体と交わる個別電極と、前記基板の他端部側
に設けられると共に前記個別電極と接続され前記発熱抵
抗体を印字情報に基づき駆動する複数個のICチップ
と、前記ICチップ側に設けられ前記発熱抵抗体側に突
出する共通電極パッドを有し、共通電極接続パターンを
介して前記端部共通電極と接続されるICチップ側共通
電極とを備え、前記ICチップ側共通電極上に被着した
保護膜上に前記ICチップが接着剤により接着され、さ
らに、当該保護膜は、前記ICチップ側共通電極より前
記共通電極パッドが突出する部分であって、前記基板の
長手方向の両端部付近において基板短手方向に谷型にく
ぼんだ形で形成されたサーマルヘッド。 5. A substrate and one edge of said substrate along an edge.
A heating resistor provided, and the heating resistor is more than the heating resistor.
The one end of the substrate is provided along the edge,
End having a plurality of electrodes extending to intersect the resistor
The common electrode and the plurality of electrodes of the end common electrode are alternately contacted.
An individual electrode that intersects the heating resistor, and the other end of the substrate
And the heating resistor connected to the individual electrode.
Multiple IC chips that drive antibodies based on print information
Projecting toward the heating resistor provided on the IC chip side.
The common electrode pad
IC chip side connected to the end common electrode via
And an electrode attached to the IC chip-side common electrode.
The IC chip is adhered on the protective film with an adhesive.
Further, the protective film is provided in front of the IC chip side common electrode.
Where the common electrode pad protrudes, and
In the vicinity of both ends in the longitudinal direction, valley-shaped
Thermal head formed in a concave shape.
て設けられた発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体よりも前記
基板の前記一端部側に端縁に沿って設けられ、当該発熱
抵抗体と交わるように延在する複数の電極を有する端部
共通電極と、前記端部共通電極の複数の電極と交互に当
該発熱抵抗体と交わる個別電極と、前記基板の他端部側
に設けられると共に前記個別電極と接続され前記発熱抵
抗体を印字情報に基づき駆動する複数個のICチップ
と、前記ICチップ側に設けられ前記発熱抵抗体側に突
出する共通電極パッドを有し、共通電極接続パターンを
介して前記端部共通電極と接続されるICチップ側共通
電極とを備え、前記ICチップ側共通電極上に被着した
保護膜上に前記ICチップが接着剤により接着され 、さ
らに、当該保護膜は、前記ICチップ側共通電極より前
記共通電極パッドが突出する部分において、基板短手方
向に突出形成されたサーマルヘッド。 6. A substrate and one end of said substrate along an edge.
A heating resistor provided, and the heating resistor is more than the heating resistor.
The one end of the substrate is provided along the edge,
End having a plurality of electrodes extending to intersect the resistor
The common electrode and the plurality of electrodes of the end common electrode are alternately contacted.
An individual electrode that intersects the heating resistor, and the other end of the substrate
And the heating resistor connected to the individual electrode.
Multiple IC chips that drive antibodies based on print information
Projecting toward the heating resistor provided on the IC chip side.
The common electrode pad
IC chip side connected to the end common electrode via
And an electrode attached to the IC chip-side common electrode.
The IC chip is adhesively bonded onto the protective film, and
Further, the protective film is provided in front of the IC chip side common electrode.
In the area where the common electrode pad protrudes,
Thermal head formed to protrude in the direction.
端子は、同一ピッチにて配列されたいくつかの群からな
り、前記共通電極接続パターンは、当該群の間に配置さ
れていることを特徴とする請求項1、2、3、4、5又
は6記載のサーマルヘッド。 7. Driving a heating resistor in the IC chip
Terminals consist of several groups arranged at the same pitch.
The common electrode connection pattern is disposed between the groups.
Claims 1, 2, 3, 4, 5 or
Is a thermal head according to 6.
部側に当該基板とは別体に設けられたプリント基板と、
前記プリント基板に設けられ前記基板のICチップ側共
通電極とワイヤボンディングにより接続されたワイヤボ
ンディング端子と、前記プリント基板の前記ワイヤボン
ディング端子が設けられた面とは反対の面に設けられる
と共に前記ワイヤボンディング端子とスルーホールを介
して接続された基板短手方向に幅広の導体パターンとを
備えたことを特徴とする請求項1、2、3、4、5、6
又は7記載のサーマルヘッド。 8. An end of said substrate on which said IC chip is arranged.
A printed circuit board provided separately from the substrate on the side of the unit,
The IC chip side of the substrate provided on the printed circuit board
Wire rod connected to the through electrode and wire bonding
And a wire bonding terminal of the printed circuit board.
Is provided on the surface opposite to the surface on which the terminal is provided.
Through the wire bonding terminal and through hole
Connected with a wide conductor pattern in the short direction of the board
7. The electronic device according to claim 1, wherein:
Or the thermal head according to 7.
印字データ入力端子と印字データ出力端子とを配置し、
他方の長辺端部にICチップ駆動用信号端子を配置し、
前記一方と他方の長辺の間の中央部付近にスイッチング
素子の接地端子を配置したサーマルヘッドの駆動用I
C。 9. A heating resistor driving element at one end of a long side.
Arrange the print data input terminal and the print data output terminal,
An IC chip driving signal terminal is arranged at the other long side end,
Switching near the center between the one and the other long sides
I for driving the thermal head with the ground terminal of the element
C.
発熱抵抗体駆動端子のほぼ中央部に位置し、他の2個は
前記1個の接地端子から両側に前記複数の発熱抵抗体駆
動端子の数の1/4から2/5に相当する分離れて位置
したことを特徴とする請求項9記載のサーマルヘッドの
駆動用IC。 10. A semiconductor device having three ground terminals, one being a plurality of ground terminals.
It is located almost at the center of the heating resistor drive terminal, and the other two are
The plurality of heating resistor drivers are provided on both sides from the one ground terminal.
Separated positions corresponding to 1/4 to 2/5 of the number of moving terminals
The thermal head according to claim 9, wherein
Driving IC.
Cチップ駆動用信号端子に隣接してICチップ駆動電源
端子を配置し、内部でプルアップ抵抗に接続されたIC
チップ駆動用信号端子に隣接して前記ICチップ駆動電
源端子の接地端子を配置したサーマルヘッドの駆動用I
C。 11. An IC internally connected to a pull-down resistor.
IC chip drive power supply adjacent to C chip drive signal terminal
IC with terminals arranged and internally connected to a pull-up resistor
The IC chip driving power is adjacent to the chip driving signal terminal.
I for driving the thermal head with the ground terminal of the source terminal
C.
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