JPH055288B2 - - Google Patents
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- JPH055288B2 JPH055288B2 JP61122542A JP12254286A JPH055288B2 JP H055288 B2 JPH055288 B2 JP H055288B2 JP 61122542 A JP61122542 A JP 61122542A JP 12254286 A JP12254286 A JP 12254286A JP H055288 B2 JPH055288 B2 JP H055288B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
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Description
【発明の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本発明は積分球型測光装置の改良に関し、詳し
くは積分球による従来の全反射測光に加えて、正
反射、拡散反射条件下の立体角反射測光をも行い
得る装置を得ることを目的とするものである。
くは積分球による従来の全反射測光に加えて、正
反射、拡散反射条件下の立体角反射測光をも行い
得る装置を得ることを目的とするものである。
ロ 従来の技術
物体の表面光沢、表面色彩あるいは物体の組
成、構造などを知るために、該物体表面を照明し
てその反射光度を測定することが行なわれてい
る。
成、構造などを知るために、該物体表面を照明し
てその反射光度を測定することが行なわれてい
る。
従来上記の目的のための測光装置としては、外
部光を遮断した状態で、被測定物体の試料面に、
照明光束の入射角、試料面からの反射光束の受光
角を規定条件とする直接入反射型のものと、測定
光経路中に積分球を置いて試料面の全反射特性を
測定する積分球型のものの二種が一般に用いられ
ている。
部光を遮断した状態で、被測定物体の試料面に、
照明光束の入射角、試料面からの反射光束の受光
角を規定条件とする直接入反射型のものと、測定
光経路中に積分球を置いて試料面の全反射特性を
測定する積分球型のものの二種が一般に用いられ
ている。
上記の直接入反射測光装置においては、入射、
反射の角度条件をそれぞれ可変調節できる変角式
のもの、積分球型測光装置においては、入射光束
を試料面に当てる直接入射式のものと積分球内の
拡散光束を試料面に当てる間接照射式のものとが
それぞれ目的に応じて利用されている。
反射の角度条件をそれぞれ可変調節できる変角式
のもの、積分球型測光装置においては、入射光束
を試料面に当てる直接入射式のものと積分球内の
拡散光束を試料面に当てる間接照射式のものとが
それぞれ目的に応じて利用されている。
ハ 発明が解決しようとする問題点
物体表面からの反射光は、光の入射、反射の角
度条件によつて異方向性を有するのが普通であ
り、該異方向性が大なる場合には、変角式の直接
入反射型測光装置が用いられているが、一般にそ
の測定値が不安定になる傾向を有している。
度条件によつて異方向性を有するのが普通であ
り、該異方向性が大なる場合には、変角式の直接
入反射型測光装置が用いられているが、一般にそ
の測定値が不安定になる傾向を有している。
一方、積分球型は、照明光束、受光光束のいづ
れかが拡散光束となり、異方向性反射光は平均化
されて安定した測定値が得られる反面、照明、受
光の光軸角度を特定した測定値が得られないの
で、該測定値によつては異方向性反射特性そのも
のを判定することはできない。
れかが拡散光束となり、異方向性反射光は平均化
されて安定した測定値が得られる反面、照明、受
光の光軸角度を特定した測定値が得られないの
で、該測定値によつては異方向性反射特性そのも
のを判定することはできない。
したがつて例えばメタリツク顔料を含む塗膜は
所謂メタリツクカラーと称する強い異方向性色調
を有し、照明光の正反射角近傍の角度方向での色
調を通常フエースカラーと称し、正反射角から相
当離れた角度方向の反射光量が減少した色調を通
常フロツプカラーと称し、これら2つの色調を測
定しなければメタリツクカラーの判定はできない
ものでありながら、このメタリツクカラーのよう
な異方向性色調についての測光方法は未だ標準化
されていない状態である。
所謂メタリツクカラーと称する強い異方向性色調
を有し、照明光の正反射角近傍の角度方向での色
調を通常フエースカラーと称し、正反射角から相
当離れた角度方向の反射光量が減少した色調を通
常フロツプカラーと称し、これら2つの色調を測
定しなければメタリツクカラーの判定はできない
ものでありながら、このメタリツクカラーのよう
な異方向性色調についての測光方法は未だ標準化
されていない状態である。
しかし、上記のフエースカラーについては積分
球型の測光値が比較的に目視感覚に一致し、一方
フロツプカラーについては直接入反射型の測光値
が比較的に目視感覚に一致したものであるので、
通常上記二種類の測光値を適宜組合せて異方向判
断を補正していた。
球型の測光値が比較的に目視感覚に一致し、一方
フロツプカラーについては直接入反射型の測光値
が比較的に目視感覚に一致したものであるので、
通常上記二種類の測光値を適宜組合せて異方向判
断を補正していた。
ニ 問題点を解決するための手段
本発明は、従来、積分球型と直接入反射型の2
種類の測光装置による異方向性測光を、積分球型
測光装置のみによつて測定可能としたものであ
る。
種類の測光装置による異方向性測光を、積分球型
測光装置のみによつて測定可能としたものであ
る。
すなわち、本発明は被測定試料設置部が、積分
球の球面の一部開口面Aと、該開口面Aから球外
に伸びる照明光束または反射測定光束の光軸上の
位置Bとに設け、該B位置における設置試料面が
前記光軸に対し所望の角度を採り得るものである
ことを特徴とする積分球型測光装置を要旨とする
ものであり、該要旨の装置における位置Bにおけ
る被測定試料設置部が球面の一部開口面Aを包囲
し得る内径を有する内面が光吸収面となつている
筒体であつて、該筒体の中心線が前記光束の光軸
とほぼ一致して開口面Aの外面に着脱自在に設置
されるとともに、該筒体の先端が前記光軸に対し
直角または傾斜した端面によつて形成されるよう
にしたもの、該要旨の装置における位置Bにおけ
る被測定試料設置部が開口面Aを含む積分球1の
外面と囲壁とより暗箱内に設けられた被測定試料
保持部材によつて形成され、該被測定試料保持部
材が前記光束の光軸に対し任意の角度に回動設定
可能に軸支されたもの並びに上記の被測定試料設
置部材が開口面Aに対し前記光束の光軸方向に移
動設定可能に設けられたものをそれぞれ実施態様
とするものである。
球の球面の一部開口面Aと、該開口面Aから球外
に伸びる照明光束または反射測定光束の光軸上の
位置Bとに設け、該B位置における設置試料面が
前記光軸に対し所望の角度を採り得るものである
ことを特徴とする積分球型測光装置を要旨とする
ものであり、該要旨の装置における位置Bにおけ
る被測定試料設置部が球面の一部開口面Aを包囲
し得る内径を有する内面が光吸収面となつている
筒体であつて、該筒体の中心線が前記光束の光軸
とほぼ一致して開口面Aの外面に着脱自在に設置
されるとともに、該筒体の先端が前記光軸に対し
直角または傾斜した端面によつて形成されるよう
にしたもの、該要旨の装置における位置Bにおけ
る被測定試料設置部が開口面Aを含む積分球1の
外面と囲壁とより暗箱内に設けられた被測定試料
保持部材によつて形成され、該被測定試料保持部
材が前記光束の光軸に対し任意の角度に回動設定
可能に軸支されたもの並びに上記の被測定試料設
置部材が開口面Aに対し前記光束の光軸方向に移
動設定可能に設けられたものをそれぞれ実施態様
とするものである。
ホ 作用
本発明の装置は上記の構成よりなるので、球面
の一部開口面Aにおいて従来の全反射測充ができ
るとともに、球外の位置Bにおいて、前記の開口
面Aを介して立体角反射測光ができ且つ該被測定
試料面を測定用光束の光軸に対し所望角度に選定
して正反射、拡散反射条件下の測定もできるもの
である。
の一部開口面Aにおいて従来の全反射測充ができ
るとともに、球外の位置Bにおいて、前記の開口
面Aを介して立体角反射測光ができ且つ該被測定
試料面を測定用光束の光軸に対し所望角度に選定
して正反射、拡散反射条件下の測定もできるもの
である。
本発明装置における測光条件に基づく作用を、
図面によつて詳しく説明する。
図面によつて詳しく説明する。
第1図は作用を説明するための装置の略示的断
面図であつて、1は積分球、2は入射開口、3は
受光開口、Aは1次試料設置部となる開口面であ
り、これらの開口は積分球1の所定位置球面に配
設された従来公知の構造のものであり、開口面A
外面に試料を当接設置し、入射開口2から照明光
束を入射して球内面において多重反射された拡散
光束が試料面で反射して受光開口を通して適宜の
光学系、光電感知機により測定が行われる。
面図であつて、1は積分球、2は入射開口、3は
受光開口、Aは1次試料設置部となる開口面であ
り、これらの開口は積分球1の所定位置球面に配
設された従来公知の構造のものであり、開口面A
外面に試料を当接設置し、入射開口2から照明光
束を入射して球内面において多重反射された拡散
光束が試料面で反射して受光開口を通して適宜の
光学系、光電感知機により測定が行われる。
この場合試料面に対する照明光束の立体角はほ
ぼ180゜となり、受光開口3に到来する光束は試料
面からの特定の角度の反射光のみとするため、レ
ンズ、スリツト、光フアイバーなどを利用しさら
に必要に応じて分光器、フイルターによつて光分
解して光電検出する。
ぼ180゜となり、受光開口3に到来する光束は試料
面からの特定の角度の反射光のみとするため、レ
ンズ、スリツト、光フアイバーなどを利用しさら
に必要に応じて分光器、フイルターによつて光分
解して光電検出する。
受光開口3は、試料面中心の法線x(積分球1
の球心を通る)に対し0゜以上広い角度反範囲に設
け得るが、通常10゜以内の傾斜角度位置であり、
そのさいの受光光線束の平行度は、その光軸に対
し5゜以内のもののみであることが望ましい。(JIS
Z 8722) Bは一次試料設置部となる球面の開口面Aにお
ける受光光束の光軸yを、積分球1の球外に延長
した適宜の距離lにおいて交わる平面に設けられ
た2次試料設置部となる位置であり、該位置Bに
設置される試料面は前記光軸yに対し所望の角度
を採り得るように設定する。
の球心を通る)に対し0゜以上広い角度反範囲に設
け得るが、通常10゜以内の傾斜角度位置であり、
そのさいの受光光線束の平行度は、その光軸に対
し5゜以内のもののみであることが望ましい。(JIS
Z 8722) Bは一次試料設置部となる球面の開口面Aにお
ける受光光束の光軸yを、積分球1の球外に延長
した適宜の距離lにおいて交わる平面に設けられ
た2次試料設置部となる位置であり、該位置Bに
設置される試料面は前記光軸yに対し所望の角度
を採り得るように設定する。
上記2次試料設置部位置Bに到来する拡散光束
は、前記開口面Aを通過して直接B位置を照射す
るもののみとするために、該経路外に放射される
光を反射しないように吸収することが必要であ
り、また、受光開口3における光学系は、開口面
Aに設置した1次試料からの反射光に適応したも
のとしてあるので、位置Bの2次試料からの反射
光条件に適合するよう変更調節することが必要と
なるが、受光光束の平行度を充分にすれば特にそ
の必要はない。
は、前記開口面Aを通過して直接B位置を照射す
るもののみとするために、該経路外に放射される
光を反射しないように吸収することが必要であ
り、また、受光開口3における光学系は、開口面
Aに設置した1次試料からの反射光に適応したも
のとしてあるので、位置Bの2次試料からの反射
光条件に適合するよう変更調節することが必要と
なるが、受光光束の平行度を充分にすれば特にそ
の必要はない。
上記のようにして、位置Bにおける2次試料面
に対する照明拡散光束の立体角θは開口面Aと位
置Bとの距離l及び開口面Aの大きさによりほぼ
決定される線y′、y″の交角となるので、前記距離
lを増大して立体角θを小として照明光束の平行
度を高めることにより、従来の直接入反射型測光
装置による場合に近似した測定値が得られるが、
該立体角θを余り狭めると受光開口3の占める球
内面積割合が増大し測定誤差を生ずるので、通常
受光開口3の面積が前記立体角θ内に含まれれ球
内面の面積の80%以下とすることが望ましい。
に対する照明拡散光束の立体角θは開口面Aと位
置Bとの距離l及び開口面Aの大きさによりほぼ
決定される線y′、y″の交角となるので、前記距離
lを増大して立体角θを小として照明光束の平行
度を高めることにより、従来の直接入反射型測光
装置による場合に近似した測定値が得られるが、
該立体角θを余り狭めると受光開口3の占める球
内面積割合が増大し測定誤差を生ずるので、通常
受光開口3の面積が前記立体角θ内に含まれれ球
内面の面積の80%以下とすることが望ましい。
2次試料設置部Bにおける受光光軸yに対する
試料面のなす角度αが90゜の場合は正反射測光と
なり、90゜以下の場合は拡散反射測光となるが、
この傾斜角αは通常30゜〜90゜の範囲に適宜決定す
ればよい。
試料面のなす角度αが90゜の場合は正反射測光と
なり、90゜以下の場合は拡散反射測光となるが、
この傾斜角αは通常30゜〜90゜の範囲に適宜決定す
ればよい。
開口面Aと位置Bとの間において不必要な光が
位置Bの試料面に加わると測定誤差を生ずるの
で、図の鎖線10で示すような筒体を用いる場合
は、筒体内面を黒色にして吸光面としあるいは鎖
線20で示すように位置Bを囲む囲壁と積分球1
の外面とによつて、内面を黒色にした暗箱とする
ことが必要である。
位置Bの試料面に加わると測定誤差を生ずるの
で、図の鎖線10で示すような筒体を用いる場合
は、筒体内面を黒色にして吸光面としあるいは鎖
線20で示すように位置Bを囲む囲壁と積分球1
の外面とによつて、内面を黒色にした暗箱とする
ことが必要である。
筒体10を用いる場合はその有効長l並びにそ
の一端の2次試料設置面となる開口端面の中心線
の対する傾斜をそれぞれ異なるものを複数準備す
ることが必要となる。また暗箱20を設けた場合
は、試料保持部材を受光光束の光軸yに対し任意
の角度に回動設定できるように軸支し、さらにそ
の支軸を前記光軸方向に移動設定可能にすれば、
測定条件を容易に変更することができる。
の一端の2次試料設置面となる開口端面の中心線
の対する傾斜をそれぞれ異なるものを複数準備す
ることが必要となる。また暗箱20を設けた場合
は、試料保持部材を受光光束の光軸yに対し任意
の角度に回動設定できるように軸支し、さらにそ
の支軸を前記光軸方向に移動設定可能にすれば、
測定条件を容易に変更することができる。
以上の説明は拡散光束照明式の積分球型測光装
置に本発明を適用した場合についてのものである
が、積分球の入射開口2を受光開口に、受光開口
3を入射開口に変えることにより直接光束照明型
となるものでありこの場合も全く同様の作用が得
られるので、その説明は省略する。
置に本発明を適用した場合についてのものである
が、積分球の入射開口2を受光開口に、受光開口
3を入射開口に変えることにより直接光束照明型
となるものでありこの場合も全く同様の作用が得
られるので、その説明は省略する。
ヘ 実施例
本実施例においては、既設の公知積分球型測光
装置に本発明の条件に適合した筒体を用いた。
装置に本発明の条件に適合した筒体を用いた。
積分球(マクベス社製MS2020)
球内径:150mm、試料開口20mmφ、
照明光源:キセノンフラツシユランプ拡散光照明
受光条件:試料面法線に対し8゜の入射角試料開口
に装着する筒体 内径32mmφの塩化ビニル樹脂製筒体 上部開口端面の中心線に対する傾斜角 82゜ 下端開口端面 〃 (θ)
80゜、45゜ 両開口の中心線の長さ 35mm 内面つや消し黒色塗装 第2図は筒体10を積分球1の1次試料設置部
となる開口面Aに装着した場合の要部の断面図で
ある。
に装着する筒体 内径32mmφの塩化ビニル樹脂製筒体 上部開口端面の中心線に対する傾斜角 82゜ 下端開口端面 〃 (θ)
80゜、45゜ 両開口の中心線の長さ 35mm 内面つや消し黒色塗装 第2図は筒体10を積分球1の1次試料設置部
となる開口面Aに装着した場合の要部の断面図で
ある。
筒体10は第3図の斜視図に示すように、筒体
の下端面は該筒体の中心線に対し所望の角度をな
した2次試料設置面11、筒体の上部には鍔12
となつている。
の下端面は該筒体の中心線に対し所望の角度をな
した2次試料設置面11、筒体の上部には鍔12
となつている。
筒体10はその上部の鍔12を、積分球1の1
次試料設置部となる開口面Aの外面周囲に設けた
係合爪部6に嵌入装着し、その下部の2次試料設
置面11に被測定試料Sを押圧保持手段30によ
り圧接保持して測定する。
次試料設置部となる開口面Aの外面周囲に設けた
係合爪部6に嵌入装着し、その下部の2次試料設
置面11に被測定試料Sを押圧保持手段30によ
り圧接保持して測定する。
測定は、硫酸バリウム粉末圧形白色標準板(必
要に応じてさらに黒色標準板)を用いて基準値を
得た後、下記のメタリツク塗装板を試料として用
いて、開口面Aと、筒体10を装着して2次試料
設置面11即ち位置Bとにおいて行つた。
要に応じてさらに黒色標準板)を用いて基準値を
得た後、下記のメタリツク塗装板を試料として用
いて、開口面Aと、筒体10を装着して2次試料
設置面11即ち位置Bとにおいて行つた。
試料メタリツク塗装板
() ブルーメタリツク板
() レツドメタリツク板
() ゴールドメタリツク板
上記の測定によつて得られたそれぞれ3種の測
定値から分光波長γに対する反射率αのグラフを
第4図に示す。
定値から分光波長γに対する反射率αのグラフを
第4図に示す。
上記のグラフにおいて、θ=80゜の分光反射率
は直接入反射角測定(島津製作所製RC330に変角
装置を設けたもの)による入射角−10゜、受光角
45゜の反射率に、θ=45゜の値は後者の入射角30゜、
受光角60゜の反射率に、それぞれ5%以内の差で
一致したものであつた。
は直接入反射角測定(島津製作所製RC330に変角
装置を設けたもの)による入射角−10゜、受光角
45゜の反射率に、θ=45゜の値は後者の入射角30゜、
受光角60゜の反射率に、それぞれ5%以内の差で
一致したものであつた。
ト 発明の効果
以上説明したように、本発明の積分球型測光装
置は従来の全反射測光とともに、正反射、拡散反
射条件下の立体角反射測光を簡単正確に行い得る
ので、従来別に行つていた直接入反射変角測光装
置が不要となり、設備、操作などの面において、
極めて有利なものとなる。
置は従来の全反射測光とともに、正反射、拡散反
射条件下の立体角反射測光を簡単正確に行い得る
ので、従来別に行つていた直接入反射変角測光装
置が不要となり、設備、操作などの面において、
極めて有利なものとなる。
第1図は本発明の構成、作用を説明するための
略示的断面図であり、第2図は筒体を用いた場合
の要部の断面図、第3図は筒体の斜視図、第4図
は実施例装置によつて得られた測光結果を示す分
光反射率のグラフである。 1……積分球、2……入射開口、3……受光開
口、A……開口面(1次試料設置部)、B……2
次試料設置部、10……筒体、20……暗箱。
略示的断面図であり、第2図は筒体を用いた場合
の要部の断面図、第3図は筒体の斜視図、第4図
は実施例装置によつて得られた測光結果を示す分
光反射率のグラフである。 1……積分球、2……入射開口、3……受光開
口、A……開口面(1次試料設置部)、B……2
次試料設置部、10……筒体、20……暗箱。
Claims (1)
- 1 被測定試料設置部が、積分球1の球面の一部
開口面Aと、該開口面Aから球外に伸びる照明光
束または反射測定光束の光軸上の位置Bに設けら
れており、該被測定試料設置部が、球面の一部開
口面Aを包囲し得る内径を有する内面が光吸収面
となつている筒体であつて、該筒体の中心線が前
記光束の光軸とほぼ一致して開口面Aの外面に着
脱自在に設置されるとともに、該筒体の先端が前
記光軸に対し直角または傾斜した端面によつて形
成されていることを特徴とする積分球型測光装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12254286A JPS62278416A (ja) | 1986-05-28 | 1986-05-28 | 積分球型測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12254286A JPS62278416A (ja) | 1986-05-28 | 1986-05-28 | 積分球型測光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62278416A JPS62278416A (ja) | 1987-12-03 |
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ID=14838450
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Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
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Citations (1)
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-
1986
- 1986-05-28 JP JP12254286A patent/JPS62278416A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5316387U (ja) * | 1977-07-14 | 1978-02-10 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007086031A (ja) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出装置、及び試料ホルダ用治具 |
JP4708139B2 (ja) * | 2005-09-26 | 2011-06-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光検出装置 |
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JPS62278416A (ja) | 1987-12-03 |
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