JPH0550076B2 - - Google Patents

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JPH0550076B2
JPH0550076B2 JP59073251A JP7325184A JPH0550076B2 JP H0550076 B2 JPH0550076 B2 JP H0550076B2 JP 59073251 A JP59073251 A JP 59073251A JP 7325184 A JP7325184 A JP 7325184A JP H0550076 B2 JPH0550076 B2 JP H0550076B2
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Japan
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transistor
input
transistors
line
gate
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JP59073251A
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Japanese (ja)
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JPS60214498A (en
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Michihiro Yamada
Koichiro Masuko
Toshifumi Kobayashi
Hiroshi Myamoto
Kazutami Arimoto
Kiichi Morooka
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は増幅回路に関するもので、特に、ダ
イナミツク金属酸化物半導体ランダムアクセスメ
モリ(以下、MOS RAMという)などにおける
出力プリアンプ回路として用いられるような増幅
回路に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an amplifier circuit, and in particular, an amplifier circuit used as an output preamplifier circuit in a dynamic metal oxide semiconductor random access memory (hereinafter referred to as MOS RAM). It is related to circuits.

[従来技術] ダイナミツクMOS RAMなどのメモリからデ
ータを読出す際には、センスアンプによつて検出
されたデータ信号を出力プリアンプ回路によつて
増幅して大きな駆動能力を与えた後に出力すると
いう構成を採用するのが通例である。このような
出力プリアンプ回路として従来から用いられてい
る回路を、その周辺回路とともに第1図に示す。
この発明を最もよく利用するメモリは、nチヤン
ネルのダイナミツクMOS RAMであるため、第
1図にはnチヤンネルのダイナミツクMOS
RAMに用いられる従来の出力プリアンプ回路を
示した。
[Prior Art] When reading data from a memory such as a dynamic MOS RAM, a data signal detected by a sense amplifier is amplified by an output preamplifier circuit and output after giving it a large driving capability. It is customary to adopt . A circuit conventionally used as such an output preamplifier circuit is shown in FIG. 1 along with its peripheral circuits.
Since the memory that most often utilizes this invention is an n-channel dynamic MOS RAM, Figure 1 shows an n-channel dynamic MOS RAM.
A conventional output preamplifier circuit used in RAM is shown.

第1図において、メモリアレイ(図示せず)に
接続された多数の入出力線(以下、I/O線とい
う)のうちの1組であるI/O線3と線4
が示されており、これらの間に出力プリアンプ回
路1が接続されている。出力プリアンプ回路1は
10個の金属酸化物半導体トランジスタ(MOSト
ランジスタ、以下、単にトランジスタという)Q
1〜Q10と、2個の容量C1およびC2とによ
つてフリツプフロツプ回路を形成している。ま
た、I/O線3と線4との間にはセンスア
ンプ2が接続されている。このセンスアンプ2は
多数個のセンスアンプのうちの1つであつて、Y
デコーダ回路(図示せず)によつて選択される。
さらに、メモリセルへの書込みを行なう際に用い
られる書込回路5が、書込データ線(D線)6お
よび反転した書込データ線(線)7を介して、
それぞれ1つずつのトランジスタQ11,Q12
へと接続された後に、I/O線3と線4と
に接続されている。このトランジスタQ11およ
びQ12は、D線6および線7をI/O線3お
よび線4にそれぞれ伝達するためのもので
ある。
In FIG. 1, I/O lines 3 and 4 are one set of many input/output lines (hereinafter referred to as I/O lines) connected to a memory array (not shown).
are shown, and an output preamplifier circuit 1 is connected between them. Output preamplifier circuit 1
10 metal oxide semiconductor transistors (MOS transistors, hereinafter simply referred to as transistors) Q
1 to Q10 and two capacitors C1 and C2 form a flip-flop circuit. Further, a sense amplifier 2 is connected between the I/O line 3 and the line 4. This sense amplifier 2 is one of many sense amplifiers, and Y
selected by a decoder circuit (not shown).
Furthermore, the write circuit 5 used when writing to the memory cell, via the write data line (D line) 6 and the inverted write data line (line) 7,
One transistor each Q11, Q12
After being connected to I/O line 3 and line 4. Transistors Q11 and Q12 are for transmitting D line 6 and line 7 to I/O line 3 and line 4, respectively.

出力プリアンプ回路1を構成するトランジスタ
Q1およびQ2は、フリツプフロツプのロードト
ランジスタであり、トランジスタQ3〜Q5はノ
ードN1およびN2を同電位にプリチヤージする
トランジスタである。また、トランジスタQ6お
よびQ7は、それぞれ、ノードN1およびN2を
それぞれ放電するためのトランジスタであり、ト
ランジスタQ8およびQ9はフリツプフロツプの
ドライバトランジスタである。さらに、Q10は
ノードN3を放電するためのトランジスタであ
る。
Transistors Q1 and Q2 constituting output preamplifier circuit 1 are load transistors of a flip-flop, and transistors Q3 to Q5 are transistors that precharge nodes N1 and N2 to the same potential. Further, transistors Q6 and Q7 are transistors for discharging nodes N1 and N2, respectively, and transistors Q8 and Q9 are flip-flop driver transistors. Furthermore, Q10 is a transistor for discharging node N3.

次に出力プリアンプ回路1の接続関係を説明す
ると、まずトランジスタQ1〜Q4のそれぞれの
ドレインは電源VCCに接続されている。トランジ
スタQ5のドレインとソースはそれぞれノードN
1とN2に接続され、トランジスタQ3〜Q5の
ゲートにはクロツクφ1が与えられている。また、
トランジスタQ3およびQ4のソースはノードN
1およびN2にそれぞれ接続されており、このノ
ードN1およびN2には、トランジスタQ6およ
びQ7のドレインもそれぞれ接続されている。ノ
ードN1およびN2にはそれぞれのノードを昇圧
するための容量C1およびC2を介してクロツク
φ3が与えられている。トランジスタQ1のソー
ス、Q6のソース、Q7のゲートおよびQ9のゲ
ートはI/O線3に接続され、一方、トランジス
タQ2のソース、Q7のソース、Q6のゲートお
よびQ8のゲートは線4へと接続されてい
る。さらに、トランジスタQ8およびQ9のソー
スはトランジスタQ10のドレインに接続され、
このトランジスタQ10のソースは接地レベル
(=0V)へと接続されている。トランジスタQ1
0のゲートには、クロツクφ2が与えられている。
書込回路5に接続された2つのトランジスタQ1
1およびQ12のゲートには、クロツクφ4が与
えられている。
Next, the connection relationship of the output preamplifier circuit 1 will be explained. First, the drains of each of the transistors Q1 to Q4 are connected to the power supply V CC . The drain and source of transistor Q5 are each connected to node N.
1 and N2, and a clock φ1 is applied to the gates of transistors Q3 to Q5. Also,
The sources of transistors Q3 and Q4 are at node N
1 and N2, respectively, and the drains of transistors Q6 and Q7 are also connected to these nodes N1 and N2, respectively. A clock φ 3 is applied to nodes N1 and N2 via capacitors C1 and C2 for boosting the respective nodes. The source of transistor Q1, the source of Q6, the gate of Q7, and the gate of Q9 are connected to I/O line 3, while the source of transistor Q2, the source of Q7, the gate of Q6, and the gate of Q8 are connected to line 4. has been done. Furthermore, the sources of transistors Q8 and Q9 are connected to the drain of transistor Q10,
The source of this transistor Q10 is connected to ground level (=0V). Transistor Q1
A clock φ 2 is applied to the gate 0.
Two transistors Q1 connected to write circuit 5
A clock φ4 is applied to the gates of Q1 and Q12.

このような構成を有する従来の出力プリアンプ
回路1の動作を、第2図に示したタイミング図を
参照しつつ説明しよう。
The operation of the conventional output preamplifier circuit 1 having such a configuration will be explained with reference to the timing diagram shown in FIG. 2.

時刻t1 この時点ではクロツクφ1が“H”レベルと
なつているため、トランジスタQ3〜Q5は
ONとなり、ノードN1およびN2はVCC−VTH
(VTHはトランジスタの域値電圧)までプリチ
ヤージされる。一方、図示されていないが、別
のプリチヤージ手段により、電源VCCからの電
圧がI/O線3および線4へと与えられ
て、このI/O線3および線4はともに
VCCのレベルにまでプリチヤージされる。I/
O線3および線4に接続されているトラ
ンジスタQ8およびQ9のゲートがVCCとなる
ことによつて、この2つのトランジスタもON
となるが、この時点ではクロツクφ2は0Vの
“L”ベルであるためトランジスタQ10は
OFFであり、このため、ノードN3もまたVCC
−VTHのレベルまでプリチヤージされている。
Time t1 At this point, clock φ1 is at “H” level, so transistors Q3 to Q5 are
ON, nodes N1 and N2 are V CC −V TH
(V TH is the threshold voltage of the transistor). Meanwhile, another precharge means, not shown, applies voltage from the power supply V CC to I/O line 3 and line 4, both of which are
It is precharged to the level of V CC . I/
By bringing the gates of transistors Q8 and Q9 connected to O line 3 and line 4 to V CC , these two transistors are also turned on.
However, at this point, the clock φ2 is at the “L” level of 0V, so the transistor Q10 is
OFF, so node N3 is also at V CC
-V TH is precharged to the level.

時刻t2 この時点ではクロツクφ1は0Vレベルへと遷
移している。この遷移の後にYデコーダ回路に
よつて1つのセンスアンプが選択され(この選
択されたセンスアンプが第1図の中のセンスア
ンプ2であると考える)、このセンスアンプ2
によつて検出・増幅されたデータ信号がI/O
線3および線4へと与えられ、I/O線
3と線4との間に電位差が現われ始め
る。第2図においては、I/O線3が“H”レ
ベルに、線4が“L”レベルになる場合
を考えている。
Time t2 At this point, the clock φ1 has transitioned to the 0V level. After this transition, one sense amplifier is selected by the Y decoder circuit (assuming that this selected sense amplifier is sense amplifier 2 in FIG. 1), and this sense amplifier 2
The data signal detected and amplified by
line 3 and line 4, and a potential difference begins to appear between I/O line 3 and line 4. In FIG. 2, a case is considered where the I/O line 3 goes to "H" level and the line 4 goes to "L" level.

時刻t8 次に、クロツクφ2は0Vレベルから“H”レ
ベルへと立上がる。これによつてトランジスタ
Q10がONとなり、ノードN3をVCC−VTH
レベルから0Vへと放電する。トランジスタQ
8およびQ9のゲートはそれぞれ線4お
よびI/O線3に接続されているため、I/O
線3および線4に現われ始めていた電位
差が急速に増幅される。これによつてI/O線
3は“H”レベルから少し減少したレベルとな
るが、線4の電位は0Vまで低下する。
このときトランジスタQ6のゲートは0Vであ
るため、トランジスタQ6はOFFであつて、
ノードN1は放電されずに“H”レベルを保
つ。他方、トランジスタQ7のゲートは“H”
レベルとなり、そのソースは0Vとなるために、
トランジスタQ7はONとなつて、ノードN2
は0Vへと放電される。
At time t8 , the clock φ2 rises from the 0V level to the "H" level. This turns on transistor Q10, discharging node N3 from the level of V CC -V TH to 0V. transistor Q
The gates of 8 and Q9 are connected to line 4 and I/O line 3, respectively, so the I/O
The potential difference that was beginning to appear on lines 3 and 4 is rapidly amplified. As a result, the I/O line 3 goes to a level slightly lower than the "H" level, but the potential of the line 4 drops to 0V.
At this time, the gate of transistor Q6 is 0V, so transistor Q6 is OFF,
Node N1 remains at "H" level without being discharged. On the other hand, the gate of transistor Q7 is “H”
level, and the source is 0V, so
Transistor Q7 turns on and node N2
is discharged to 0V.

時刻t4 この時点でクロツクφ3が0Vレベルから“H”
レベルとなる。このため、ノードN1は容量C
1を通じて昇圧され、電源電圧VCC以上のレベ
ルとなる。このため、トランジスタQ1は強く
ONとなつて、I/O線3がVCCのレベルにま
で充電される。一方、ノードN2は既に0Vに
放電されているため、クロツクφ8が0Vから
“H”レベルになつても、容量C2を通じて昇
圧されることはなく、0Vのままである。この
ため、線4は0Vを保つ。これらの動作
によつてI/O線3および線4から増幅
されたデータ信号が出力される。
Time t 4 At this point, clock φ3 goes from 0V level to “H”
level. Therefore, node N1 has a capacity C
1 and reaches a level higher than the power supply voltage V CC . Therefore, transistor Q1 is strongly
It turns on and I/O line 3 is charged to the level of V CC . On the other hand, since the node N2 has already been discharged to 0V, even if the clock φ8 goes from 0V to the "H" level, it is not boosted through the capacitor C2 and remains at 0V. Therefore, line 4 remains at 0V. By these operations, amplified data signals are output from I/O line 3 and line 4.

上に述べたt2〜t4の時間帯における出力プリ
アンプ回路1の動作は、データの読出し時にお
ける動作であつて、特に問題はない。ところ
が、ダイナミツクMOS RAMにおいては、読
出し動作の後に、続けて書込み動作を行なうこ
とがあり、これをリード・モデイフアイ・ライ
ト動作と読んでいる。この動作の際には第1図
に示した出力プリアンプ回路1は大きな欠点を
持つており、次に、この書込み動作を前の説明
に続けて説明しよう。
The operation of the output preamplifier circuit 1 during the time period t 2 to t 4 described above is an operation when reading data, and there is no particular problem. However, in a dynamic MOS RAM, a read operation is sometimes followed by a write operation, and this is called a read-modify-write operation. In this operation, the output preamplifier circuit 1 shown in FIG. 1 has a major drawback, and this write operation will now be explained following the previous explanation.

時刻t5 書込クロツクφ4が0Vから“H”レベルへと
遷移し、トランジスタQ11およびQ12が
ONとなる。これに伴つて書込回路5が動作
し、書込むべきデータに応じてD線6および
線7にレベル変化を与える。ここでは、時刻t4
においてI/O線3が“H”レベル、線
4が0Vであつたものを、I/O線3が0Vレベ
ルへと、線4を“H”レベルへと、それ
ぞれ反転させるような書込みが行なわれるもの
と仮定する。すなわち、D線6は“H”レベル
が0Vのレベルへと変化し、線7は“H”レ
ベルを保持するような書込みを考える。
At time t5 , write clock φ4 transitions from 0V to “H” level, and transistors Q11 and Q12 turn on.
It becomes ON. In conjunction with this, write circuit 5 operates and applies level changes to D line 6 and line 7 in accordance with the data to be written. Here, time t 4
In this case, the I/O line 3 is at the "H" level and the line 4 is at the 0V level, but I/O line 3 is at the 0V level, and line 4 is at the "H" level. Assume that this is done. That is, consider writing in which the D line 6 changes from the "H" level to the 0V level, and the line 7 maintains the "H" level.

時刻t6 書込み動作の開始に伴つて、I/O線3が
“0Vへと、線4が“H”レベルへと、そ
れぞれ遷移し、これらに接続されたメモリセル
への書込みが行なわれて、書込み動作が完了す
る。これに伴つてノードN1は0Vへと放電さ
れ、ノードN2はVCC−VTHレベルにまで充電
されている。
Time t 6 With the start of the write operation, the I/O line 3 transitions to "0V" and the line 4 transitions to the "H" level, respectively, and writing to the memory cells connected to these is performed. , the write operation is completed. Along with this, node N1 is discharged to 0V, and node N2 is charged to the V CC -V TH level.

これがリード・モデイフアイ・ライト動作の
タイミングであるが、ここに示したように読出
したデータと反対のデータを書込もうとした場
合には、次のような問題が生ずる。
This is the timing of the read/modify/write operation, but if an attempt is made to write data opposite to the read data as shown here, the following problem will occur.

すなわち、時刻t5からt6においては、それ以
前に“H”レベルであつたI/O線3に、0V
としようとする方向の電位がD線6からトラン
ジスタQ11を通じて与えられている。ところ
が、トランジスタQ1のゲートが接続されたノ
ードN1はVCC以上に昇圧されており(第2図
参照)、これによつてトランジスタQ1は強く
ONとなつているために、電源VCCからI/O
線3を“H”レベルに保持しようとする電圧が
加わる。このため、書込回路5が持つている出
力インピーダンスとトランジスタQ1が持つて
いるインピーダンスとの競争が起こり、この競
争の下でI/O線3は“H”レベルから0Vへ
と向かうことになる。したがつて、I/O線3
が“H”レベルから0Vへと遷移するのに長時
間を要してしまうことになる。同様のことは
I/O線4においても発生し、0Vであつた
I/O線4に、線7からトランジスタQ12
を通じて“H”レベルとする方向に電位が与え
られるのに対し、トランジスタQ9のゲートが
接続されたI/O線3はすぐに0Vにならない
ため、トランジスタQ9は線4を0Vに
保持しようと働く。このため、書込回路5が持
つている出力インピーダンスとトランジスタQ
9が持つているインピーダンスとの競争が起こ
り、この競争ために線4が0Vレベルか
ら“H”レベルへと向かうために必要とされる
時間が長くなつてしまう。
That is, from time t5 to time t6 , 0V is applied to I/O line 3, which was previously at "H" level.
A potential in the desired direction is applied from the D line 6 through the transistor Q11. However, node N1, to which the gate of transistor Q1 is connected, is boosted above V CC (see Figure 2), and as a result, transistor Q1 is strongly
Since it is ON, I/O from the power supply V CC
A voltage is applied to maintain line 3 at the "H" level. Therefore, competition occurs between the output impedance of the write circuit 5 and the impedance of the transistor Q1, and under this competition, the I/O line 3 goes from the "H" level to 0V. . Therefore, I/O line 3
It will take a long time for the voltage to transition from the "H" level to 0V. A similar thing occurs in I/O line 4, and the transistor Q12 is connected from line 7 to I/O line 4, which was at 0V.
While the potential is applied in the direction of "H" level through I/O line 3, which the gate of transistor Q9 is connected to, it does not reach 0V immediately, so transistor Q9 works to keep line 4 at 0V. . Therefore, the output impedance of the write circuit 5 and the transistor Q
Competition with the impedance of wire 9 occurs, and this competition increases the time required for wire 4 to go from the 0V level to the "H" level.

このように、入力信号の電位を保持することに
よつて増幅・出力を行なつた後に入出力線の電位
を変化させる必要のある従来の増幅回路において
は、この電位の変化の高速性が阻害されてしまう
という欠点があつた。
In this way, in conventional amplifier circuits that need to change the potential of the input/output line after amplifying and outputting by holding the potential of the input signal, the high speed of this potential change is hindered. It had the disadvantage of being exposed.

[発明の概要] それゆえに、この発明の主たる目的は、増幅、
出力動作が完了した後の入出力ノードの電位の変
化を高速にし得る増幅回路を提供することであ
る。
[Summary of the invention] Therefore, the main purpose of this invention is to amplify,
An object of the present invention is to provide an amplifier circuit that can quickly change the potential of an input/output node after an output operation is completed.

第1の発明を要約すれば、電源電位点と第1お
よび第2の入出力ノードの間に第1および第2の
ロードトランジスタが接続され、それぞれのドレ
インとゲートとが交互に接続された第1および第
2のドライバトランジスタのドレインが第1およ
び第2の入出力ノードに接続され、第1および第
2の入出力ノードに電位差が生じた後、導通状態
とされる放電用トランジスタが、第1および第2
のドライバトランジスタの共通接続されたソース
と接地電位点間に接続され、第1および第2のロ
ードトランジスタのゲートには所望の電圧にプリ
チヤージするためのプリチヤージ手段が接続さ
れ、第1および第2のロードトランジスタのゲー
トと第1および第2の入出力ノードとの間にそれ
ぞれ第1および第2のトランジスタが接続され、
それぞれのゲートには電源が入力される。
To summarize the first invention, first and second load transistors are connected between a power supply potential point and first and second input/output nodes, and the drains and gates of the transistors are connected alternately. After the drains of the first and second driver transistors are connected to the first and second input/output nodes, and a potential difference is generated between the first and second input/output nodes, the discharge transistor that is brought into conduction is connected to the first and second input/output nodes. 1st and 2nd
is connected between the commonly connected sources of the driver transistors of the first and second load transistors and the ground potential point, precharge means for precharging to a desired voltage is connected to the gates of the first and second load transistors, first and second transistors are connected between the gate of the load transistor and first and second input/output nodes, respectively;
Power is input to each gate.

第2の発明は、第1の発明における第1および
第2のトランジスタのゲートに、電源に代えて第
1および第2の入出力ノードの電位の増幅が完了
した後に、データを書込ませるための書込信号が
与えられる。
The second invention is to write data to the gates of the first and second transistors in the first invention after amplification of the potentials of the first and second input/output nodes instead of the power supply is completed. write signal is given.

[発明の実施例] この発明の第1の実施例として、nチヤネルの
MOSトランジスタを備え、nチヤネルのダイナ
ミツクMOS RAMに用いられる出力プリアンプ
回路を、その周辺回路とともに第3図に示す。こ
の第3図に示した回路のうち、第1図に示した回
路と同様の部分の説明は省略し、新たな構成とな
つている部分を中心に説明する。第3図における
出力プリアンプ回路10は、トランジスタQ6お
よびQ7にそれぞれ並列に接続されたトランジス
タQ13およびQ14を有している。このトラン
ジスタQ13とQ14とのゲートは電源VCCへと
接続されている。その他の構成は第1図の回路と
同じである。
[Embodiment of the invention] As a first embodiment of the invention, an n-channel
An output preamplifier circuit equipped with MOS transistors and used in an n-channel dynamic MOS RAM is shown in FIG. 3 along with its peripheral circuits. Of the circuit shown in FIG. 3, description of the parts similar to those of the circuit shown in FIG. 1 will be omitted, and the description will focus on parts with a new configuration. The output preamplifier circuit 10 in FIG. 3 has transistors Q13 and Q14 connected in parallel to transistors Q6 and Q7, respectively. The gates of transistors Q13 and Q14 are connected to power supply V CC . The other configurations are the same as the circuit shown in FIG.

次に、この出力プリアンプ回路10の動作を第
4図のタイミング図を参照して説明する。このう
ち、時刻t1における読出し前の状態と、時間帯t2
〜t4における読出し時の動作は、第1図に示した
出力プリアンプ回路1の動作(第2図)と同一で
ある。このうち、トランジスタQ13とQ14と
を付け加えたことによつて問題となるのは、時刻
t4における動作であるが、容量C1を通じてノー
ドN1を昇圧する場合においては、このノードN
1に接続されたトランジスタQ13のドレインは
高レベルとなるものの、トランジスタQ13のソ
ースもまたVCCレベルとなつているため、トラン
ジスタQ13はOFFである。また、トランジス
タQ14はONとはなつているが、この時点では
ノードN2を放電させるわけであるから、これに
よる影響はない。このため、読出し時には第3図
に示した出力プリアンプ回路10の動作は第1図
の出力プリアンプ回路1と同様のものとなつてい
る。
Next, the operation of this output preamplifier circuit 10 will be explained with reference to the timing diagram of FIG. Among these, the state before reading at time t 1 and the state before reading at time t 2
The read operation at ~ t4 is the same as the operation of the output preamplifier circuit 1 shown in FIG. 1 (FIG. 2). Among these, the problem caused by adding transistors Q13 and Q14 is the time
Regarding the operation at t 4 , when node N1 is boosted through capacitor C1, this node N
Although the drain of the transistor Q13 connected to VCC1 is at a high level, the source of the transistor Q13 is also at the V CC level, so the transistor Q13 is OFF. Further, although the transistor Q14 is turned on, since the node N2 is discharged at this point, this has no effect. Therefore, during reading, the operation of the output preamplifier circuit 10 shown in FIG. 3 is similar to that of the output preamplifier circuit 1 shown in FIG. 1.

次に、書込み時の動作を説明する。時刻t5にお
いてクロツクφ4が“H”レベルとなると、トラ
ンジスタQ11およびQ12がONとなり、書込
回路5から書込信号がD線6と線7とを通つて
I/O線3と線4とにそれぞれ加わつてい
く。第1図に示した出力プリアンプ回路1の動作
を説明したときと同様に、この時点より前では
I/O線3は“H”レベルに、線4は0V
レベルになつていたものとし、この書込みはI/
O線3を0Vレベルに、線4を“H”レベ
ルにするように働くものと仮定する。トランジス
タQ13のゲートは電源VCCに接続されているた
めに、時刻t4においてI/O線3の電位が下がり
始め、VCC−VTHにまで減少すると、トランジス
タQ13は短時間の間にONとなつてノードN1
の放電を始め、ノードN1の電位はI/O線3の
電位に追随するようになる。すると、トランジス
タQ1のゲート電圧が急速に下がつてI/O線3
を“H”レベルに保持しようと働いていたトラン
ジスタQ1のインピーダンスが急速に高くなり、
I/O線3を“H”レベルに保持する駆動能力が
急激に低下する。このため、書込回路5が持つて
いる出力インピーダンスとトランジスタQ1が持
つているインピーダンスとの間に競争はほとんど
発生せずに、高速にI/O線3の“H”レベルを
0Vへと書込むことが可能である。
Next, the operation during writing will be explained. When the clock φ4 goes to the "H" level at time t5 , the transistors Q11 and Q12 turn on, and the write signal from the write circuit 5 passes through the D line 6 and the line 7 to the I/O line 3 and the line 4. Each of them will be added to. As in the case of explaining the operation of the output preamplifier circuit 1 shown in FIG.
It is assumed that the level of
Assume that it works to bring the O line 3 to the 0V level and the line 4 to the "H" level. Since the gate of transistor Q13 is connected to the power supply V CC , when the potential of I/O line 3 begins to fall at time t 4 and decreases to V CC −V TH , transistor Q13 is turned ON in a short period of time. Then node N1
starts discharging, and the potential of the node N1 begins to follow the potential of the I/O line 3. Then, the gate voltage of transistor Q1 drops rapidly and the voltage on I/O line 3
The impedance of transistor Q1, which was working to keep it at the "H" level, rapidly increased.
The driving ability to maintain the I/O line 3 at the "H" level rapidly decreases. Therefore, there is almost no competition between the output impedance of the write circuit 5 and the impedance of the transistor Q1, and the "H" level of the I/O line 3 is quickly changed.
It is possible to write to 0V.

線4においても同様の動作が行なわれ
る。すなわち、0Vであつた線4をトラン
ジスタQ12を通じて“H”レベルにしようとす
るとき、I/O線3は急速に0Vとなるため、
I/O線4を0Vに保持しようと働いていたトラ
ンジスタQ9のインピーダンスが急速に高くなつ
て、高速に線4を0Vから“H”レベルに
書込むことが可能となる。
A similar operation is performed on line 4. In other words, when trying to bring the line 4, which was at 0V, to the "H" level through the transistor Q12, the I/O line 3 quickly becomes 0V, so
The impedance of the transistor Q9, which was working to hold the I/O line 4 at 0V, rapidly increases, making it possible to write the line 4 from 0V to the "H" level at high speed.

第5図はこの発明の第2の実施例である出力プ
リアンプ回路20およびその周辺回路を示す図で
あり、この回路ではトランジスタQ6およびQ7
にそれぞれ並列に、トランジスタQ15およびQ
16を接続しており、トランジスタQ15および
Q16のゲートはクロツクφ4へと接続されてい
る。他の構成は第1図または第3図の回路と同一
である。この場合の出力プリアンプ回路20の動
作は第3図のタイミング図と同じタイミングとな
る。すなわち、トランジスタQ15およびQ16
のゲートにはクロツクφ4が与えられており、時
間帯t1ないしt4では、クロツクφ4は0Vであるため
トランジスタQ15およびQ16はこの時間帯で
はOFFとなつている。これは、出力プリアンプ
回路20がこのトランジスタQ15およびQ16
を有していなかつた場合と同様の読出し動作を行
なうことを意味する。時刻t5においてクロツクφ4
が“H”レベルとなり書込み動作が始まると、こ
のクロツクφ4によつて2つのトランジスタQ1
5およびQ16はONとなり、第1の実施例で説
明した動作と同様な動作によつて、高速の書込み
が可能となる。
FIG. 5 is a diagram showing an output preamplifier circuit 20 and its peripheral circuits as a second embodiment of the invention, and in this circuit, transistors Q6 and Q7
Transistors Q15 and Q
16 is connected, and the gates of transistors Q15 and Q16 are connected to clock φ4 . The other configurations are the same as the circuit shown in FIG. 1 or 3. The operation of the output preamplifier circuit 20 in this case has the same timing as in the timing diagram of FIG. That is, transistors Q15 and Q16
A clock φ4 is applied to the gate of the transistor Q15 and Q16, and since the clock φ4 is 0V during the time period t1 to t4 , the transistors Q15 and Q16 are OFF during this time period. This is because the output preamplifier circuit 20 uses transistors Q15 and Q16.
This means that the read operation is performed in the same way as if it were not included. At time t 5 , clock φ 4
When the clock becomes "H" level and the write operation begins, the two transistors Q1 are activated by this clock φ4 .
5 and Q16 are turned on, and high-speed writing becomes possible by the same operation as that described in the first embodiment.

以上説明した実施例ではnチヤネルのMOSト
ランジスタを例にとつたが、pチヤネルのMOS
トランジスタその他の電界効果形トランジスタに
よつても構成できることはいうまでもない。ま
た、ここではメモリの出力プリアンプ回路を考え
たが、増幅・出力を完了した後に入出力線の電位
を急速に変化させることが必要な増幅回路一般に
適用できる。
In the embodiment described above, an n-channel MOS transistor was taken as an example, but a p-channel MOS transistor is used as an example.
It goes without saying that it can also be constructed using transistors or other field effect transistors. Furthermore, although a memory output preamplifier circuit is considered here, the present invention can be applied to general amplifier circuits that require rapid changes in the potential of input/output lines after completing amplification and output.

[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、増幅、出力
動作が完了した後に、第1および第2のトランジ
スタによつて入出力ノードの電位が第1および第
2のロードトランジスタのゲート電位に追従させ
るようにしたので、増幅と出力が完了した後に高
速で入出力ノードの電位を変化させることができ
る。しかも、第1および第2のトランジスタを追
加するだけでよく、従来の増幅回路の設計を大幅
に変える必要もなく、増幅回路を集積回路によつ
て構成する場合に大きな利点となる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, after the amplification and output operations are completed, the potential of the input/output node is changed by the first and second transistors to the potential of the first and second load transistors. Since it is made to follow the gate potential, the potential of the input/output node can be changed at high speed after amplification and output are completed. Moreover, it is only necessary to add the first and second transistors, and there is no need to significantly change the design of the conventional amplifier circuit, which is a great advantage when the amplifier circuit is constructed using an integrated circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来の増幅回路の例としての出力プリ
アンプ回路およびその周辺の回路を示す回路図で
ある。第2図は第1図に示した出力プリアンプ回
路の動作におけるタイミングを示すタイミング図
である。第3図はこの発明の第1の実施例である
出力プリアンプ回路およびその周辺回路を示す回
路図である。第4図は第3図に示した出力プリア
ンプ回路の動作のタイミングを示すタイミング図
である。第5図はこの発明の第2の実施例である
出力プリアンプ回路およびその周辺回路を示す回
路図である。 図において、1,10および20は出力プリア
ンプ回路、2はセンスアンプ、3はI/O線、4
は線、5は書込回路、6および7は書込デ
ータ線、Q1〜Q16はMOSトランジスタ、C
1およびC2は容量、N1〜N3はノードをそれ
ぞれ示す。なお、各図において同一符号は同一ま
たは相当部分を示す。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an output preamplifier circuit and its peripheral circuits as an example of a conventional amplifier circuit. FIG. 2 is a timing diagram showing the timing of the operation of the output preamplifier circuit shown in FIG. 1. FIG. 3 is a circuit diagram showing an output preamplifier circuit and its peripheral circuits according to a first embodiment of the present invention. FIG. 4 is a timing diagram showing the timing of the operation of the output preamplifier circuit shown in FIG. 3. FIG. 5 is a circuit diagram showing an output preamplifier circuit and its peripheral circuits according to a second embodiment of the invention. In the figure, 1, 10 and 20 are output preamplifier circuits, 2 is a sense amplifier, 3 is an I/O line, and 4
is a line, 5 is a write circuit, 6 and 7 are write data lines, Q1 to Q16 are MOS transistors, C
1 and C2 represent capacitances, and N1 to N3 represent nodes, respectively. In each figure, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 電源電位点と第1および第2の入出力ノード
の間に設けられた第1および第2のロードトラン
ジスタ、 それぞれのドレインとゲートとが交互に接続さ
れ、かつソースが共通的に接続され、前記ドレイ
ンがそれぞれ前記第1および第2の入出力ノード
に接続された第1および第2のドライバトランジ
スタ、 前記第1および第2のドライバトランジスタの
共通接続されたソースと接地電位点間に設けら
れ、前記第1および第2の入出力ノードに電位差
が生じた後、導通状態とされる放電用トランジス
タ、 前記第1および第2のロードトランジスタのゲ
ートを所望の電圧にプリチヤージするプリチヤー
ジ手段、 前記第1のロードトランジスタのゲートと前記
第1の入出力ノードとの間に設けられ、ゲートが
前記電源電位点に接続された第1のトランジス
タ、および 前記第2のロードトランジスタのゲートと前記
第2の入出力ノードとの間に設けられ、ゲートが
前記電源電位点に接続された第2のトランジスタ
を備えた、増幅回路。 2 電源電位点と前記第1および第2の入出力ノ
ードの間に設けられた第1および第2のロードト
ランジスタ、 それぞれのドレインとゲートとが交互に接続さ
れ、かつソースが共通的に接続され、前記ドレイ
ンがそれぞれ前記第1および第2の入出力ノード
に接続された第1および第2のドライバトランジ
スタ、 前記第1および第2のドライバトランジスタの
共通接続されたソースと接地電位点間に設けら
れ、前記第1および第2の入出力ノードに電位差
が生じた後、導通状態とされる放電用トランジス
タ、 前記第1および第2のロードトランジスタのゲ
ートを、所望の電圧にプリチヤージするプリチヤ
ージ手段、 前記第1のロードトランジスタのゲートと前記
第1の入出力ノードとの間に設けられ、前記第1
および第2の入出力ノードの電位の増幅が完了し
た後に、データを書込ませるための書込信号がそ
のゲートに与えられる第1のトランジスタ、およ
び 前記第2のロードトランジスタのゲートと前記
第2の入出力ノードとの間に設けられ、前記第1
および第2の入出力ノードの増幅が完了した後
に、データを書込ませるための書込信号がそのゲ
ートに与えられる第2のトランジスタを備えた、
増幅回路。
[Claims] 1. First and second load transistors provided between a power supply potential point and first and second input/output nodes, their respective drains and gates being alternately connected, and their sources being first and second driver transistors that are commonly connected, the drains of which are connected to the first and second input/output nodes, respectively; the commonly connected sources of the first and second driver transistors and ground; A discharge transistor is provided between potential points and is turned on after a potential difference is generated between the first and second input/output nodes, and the gates of the first and second load transistors are precharged to a desired voltage. a first transistor provided between the gate of the first load transistor and the first input/output node, the gate of which is connected to the power supply potential point; and a precharge means of the second load transistor. An amplifier circuit comprising: a second transistor provided between a gate and the second input/output node and having a gate connected to the power supply potential point. 2. first and second load transistors provided between a power supply potential point and the first and second input/output nodes, the drains and gates of each of which are alternately connected, and the sources of which are commonly connected; , first and second driver transistors whose drains are connected to the first and second input/output nodes, respectively; a transistor provided between the commonly connected sources of the first and second driver transistors and a ground potential point; a discharging transistor that is turned on after a potential difference is generated between the first and second input/output nodes; a precharging means for precharging the gates of the first and second load transistors to a desired voltage; provided between the gate of the first load transistor and the first input/output node;
and a first transistor whose gate is provided with a write signal for writing data after completion of amplification of the potential of the second input/output node; and the gate of the second load transistor and the second transistor. is provided between the input/output node of the first
and a second transistor whose gate is given a write signal for writing data after the amplification of the second input/output node is completed.
Amplification circuit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6083295A (en) * 1983-10-13 1985-05-11 Nec Corp Data amplifying circuit

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