JPH0548283U - IC socket - Google Patents

IC socket

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JPH0548283U
JPH0548283U JP11245691U JP11245691U JPH0548283U JP H0548283 U JPH0548283 U JP H0548283U JP 11245691 U JP11245691 U JP 11245691U JP 11245691 U JP11245691 U JP 11245691U JP H0548283 U JPH0548283 U JP H0548283U
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JP
Japan
Prior art keywords
socket
lead
package
electrode
contact member
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Pending
Application number
JP11245691U
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Japanese (ja)
Inventor
一久 小沢
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Enplas Corp
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Enplas Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目 的】高密度のリードを有するICパッケージ用の
ICソケットにおいて、ワイピング効果を確実に得られ
るようにする。 【構 成】表面に電極、表面または裏面に該電極と電気
的接続可能な状態にある回路を形成した柔軟性を有する
フィルムを、ICソケット本体に揺動可能に枢着したブ
ロック上に弾性体、該フィルムの順に重ねて取り付けて
成り、ICパッケージのリードを、該電極に対して、押
圧部材で押圧し、弾性体を変形させ、更にブロックを揺
動させることによって、ワイピング効果を得る。
(57) [Summary] [Objective] To ensure a wiping effect in an IC socket for an IC package having high-density leads. [Structure] A flexible film having an electrode on the front surface and a circuit electrically connectable with the electrode on the front surface or the back surface is elastically mounted on a block swingably pivoted to an IC socket body. , The films are stacked in this order, and the leads of the IC package are pressed against the electrodes by a pressing member to deform the elastic body and swing the block to obtain a wiping effect.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、多端子のICパッケージの実装試験等に使用されるICソケットに 関するものである。 The present invention relates to an IC socket used for a mounting test or the like of a multi-terminal IC package.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior Art]

現在、ICパッケージのリードは高密度化の傾向にある。ICパッケージの実 装試験等を行うためのICソケットのコンタクトピンも、これに合わせて高密度 化をしなければならない。しかし、図3に示すような金属性の薄いコンタクトピ ン14をICソケット本体10に高密度に植設するのは非常に難しい。 そこで、例えば図4に示すようなICソケットが考えられている。かかるIC ソケットでは、導電ゴムをフィルム状とした導電層15と、絶縁性のゴムをフィ ルム状とした絶縁層16とをICパッケージのリード2のピッチに合わせて積層 した接触部材をICソケット本体10に取り付けることによって、高密度のリー ド2を有するICパッケージに対応するようになっている。 At present, the leads of IC packages are tending toward higher density. The contact pins of the IC socket, which are used for the actual testing of the IC package, must also be highly densified. However, it is very difficult to highly densely implant the metallic thin contact pins 14 as shown in FIG. 3 in the IC socket body 10. Therefore, for example, an IC socket as shown in FIG. 4 has been considered. In such an IC socket, a contact member in which a conductive layer 15 made of a conductive rubber film and an insulating layer 16 made of an insulating rubber film are laminated according to the pitch of the leads 2 of the IC package is used as the IC socket body. By attaching to the IC package 10, the IC package having the high-density lead 2 is adapted.

【0003】 一方また、該導電層15と該絶縁層16からなる接触部材の代わりに、図5に 示す、絶縁性の弾性体17の中に金属性の細線18をICパッケージのリード2 のピッチに合わせた間隔で埋設した接触部材や、あるいはフレキシブルな回路基 板を絶縁性の弾性体に張り付けた接触部材などをICソケット本体10に取り付 けたものも知られている。On the other hand, in place of the contact member composed of the conductive layer 15 and the insulating layer 16, fine metal wires 18 are provided in the insulating elastic body 17 shown in FIG. It is also known that the IC socket body 10 is provided with a contact member embedded at an interval matching the above, or a contact member having a flexible circuit board attached to an insulating elastic body.

【0004】[0004]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

かくして、前記の接触部材の場合、リード2が押圧部材3によって接触部材に 押さえ付けられることによって、接触部材が弾性変形し、リード2と接触部材の 間に一応のワイピング効果が得られ、これによりリード2と接触部材の電気的接 続がなされることになる。 Thus, in the case of the above-mentioned contact member, the lead 2 is pressed against the contact member by the pressing member 3, whereby the contact member is elastically deformed, and a temporary wiping effect is obtained between the lead 2 and the contact member. The lead 2 and the contact member are electrically connected.

【0005】 しかし、実際にはリード2と接触部材の擦れ合う距離が非常に小さいため、ワ イピング効果が得られないことがあった。ワイピング効果が得られないと、リー ド2及び接触部材の表面に酸化被膜が付着していた場合、リード2と接触部材の 電気的接続が不確実になりやすいという問題があった。 本考案は、リード2と接触部材の擦れ合う距離を長くして、上記酸化被膜を破 壊することにより、リード2と接触部材の電気的接続を確実にするようにした高 密度のリード2を有するICパッケージ用ソケットを提供するものである。However, in practice, the distance between the lead 2 and the contact member rubbing against each other is very small, so that the wiping effect may not be obtained in some cases. If the wiping effect is not obtained, there is a problem that the electrical connection between the lead 2 and the contact member is likely to be uncertain when an oxide film is attached to the surfaces of the lead 2 and the contact member. The present invention has a high-density lead 2 in which the rubbing distance between the lead 2 and the contact member is increased and the oxide film is broken to ensure the electrical connection between the lead 2 and the contact member. An IC package socket is provided.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

本考案は、表面に電極、表面または裏面に該電極と電気的接続可能な状態にあ る回路パターンを形成したフィルムを、ICソケット本体に揺動可能に配設し、 好ましくは弾性体を有するブロックの前記弾性体に取り付けたものを、前記コネ クタの代わりに用いることによって、ワイピング効果を確実に得られるようにし たものである。 According to the present invention, an electrode is provided on the front surface, and a film having a circuit pattern on the front surface or the back surface, which is in a state electrically connectable to the electrode, is swingably disposed on an IC socket body, and preferably has an elastic body. By using the block attached to the elastic body instead of the connector, the wiping effect can be surely obtained.

【0007】[0007]

【作用】[Action]

ICソケット本体にICパッケージを装着し、押圧部材でリードを接触部材の 電極に対して押圧すると、弾性体が配設されている場合にはまず弾性体が変形し 、更に押圧部材で押圧すると、次にブロックがICソケット本体に対して揺動す る。このとき、リードと電極が擦れ合ってワイピング作用が行われる。 When the IC package is mounted on the IC socket body and the lead is pressed against the electrode of the contact member by the pressing member, the elastic member is first deformed when the elastic member is arranged, and further pressed by the pressing member. Next, the block swings with respect to the IC socket body. At this time, the lead and the electrode rub against each other to perform a wiping action.

【0008】[0008]

【実施例】【Example】

以下図示した実施例に基づき本考案を詳述する。図1は、本考案にかかるフラ ット型ICパッケージを装着したICソケットの部分拡大断面図である。1はI Cパッケージ本体、2はICパッケージのリード、3はリード2を押圧するため の押圧部材、4はリード2と接続するための多数の接点が高密度に形成された微 細電極、5は微細電極4を表面に設けた柔軟性を有するポリイミドなどで作られ た絶縁性フィルム、6は絶縁性フィルム5の表面に設けられた微細電極4と電気 的に接続が可能な状態にある銅箔などで作られた柔軟性を有する回路、7は微細 電極4の下方部分全体にわたって配設されており、絶縁性フィルム6と下から接 するゴム等の弾性体、8は回転軸9によってICソケット本体10に対して上下 に揺動可能に取り付けられたブロック、11は一端をICソケット本体10に、 他の一端をブロック8に取り付けられたばね、12はICソケットに回動可能に 取り付けられた押圧部材3を有するカバー、13は回路6と接続状態にある、I Cパッケージの実装試験等を行ったための回路基板と接続するために、回路基板 の接続部分のピッチに合わせてICソケット本体10に取り付けられた端子であ る。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the illustrated embodiments. FIG. 1 is a partially enlarged sectional view of an IC socket equipped with a flat type IC package according to the present invention. Reference numeral 1 is an IC package body, 2 is a lead of an IC package, 3 is a pressing member for pressing the lead 2, 4 is a fine electrode on which a large number of contact points for connecting with the lead 2 are densely formed, 5 Is an insulating film made of a flexible polyimide or the like with the fine electrodes 4 provided on the surface, and 6 is copper that is in a state capable of being electrically connected to the fine electrodes 4 provided on the surface of the insulating film 5. A flexible circuit made of foil or the like, 7 is disposed over the entire lower portion of the fine electrode 4, and is made of an elastic body such as rubber that contacts the insulating film 6 from below. A block attached to the socket body 10 so as to be vertically swingable, 11 is a spring attached to the IC socket body 10 at one end, and another end is attached to the block 8 at the other end, and 12 is rotatably attached to the IC socket. The cover 13 having the pressing member 3 mounted thereon is connected to the circuit 6 in a state of being connected to the circuit 6, and in order to connect with a circuit board for which an IC package mounting test or the like has been performed, the IC is adjusted according to the pitch of the connecting portion of the circuit board. It is a terminal attached to the socket body 10.

【0009】 かくして、ICパッケージを装着するに際しカバー12を開け、ICパッケー ジをICソケット本体10に装填すると、リード2が微細電極4の上に載る。微 細電極4は、ICパッケージのリード2のピッチと同じピッチで、絶縁性フィル ム5の表面に設けられている。ブロック8は、ばね11の弾性力によって、IC ソケット本体10に対して上方向の力を受けている。カバー12を閉じると、押 圧部材3がリード2をICソケット本体に対して下方向へ押圧する。すると、ま ず弾性体7が弾性変形しはじめ、次にブロック8が回転軸9を中心に左旋し、ば ね11を変形させる。このとき、微細電極4も回転軸9を中心に回転し、リード 2を擦り、ワイピング作用が行われる。そして、リード2と回路6が確実に接続 され、更に端子13を通じて、図示されていない回路基板と接続される。Thus, when the IC package is mounted and the cover 12 is opened and the IC package is loaded into the IC socket body 10, the leads 2 are placed on the fine electrodes 4. The fine electrodes 4 are provided on the surface of the insulating film 5 at the same pitch as the pitch of the leads 2 of the IC package. The block 8 receives an upward force on the IC socket body 10 due to the elastic force of the spring 11. When the cover 12 is closed, the pressing member 3 presses the lead 2 downward against the IC socket body. Then, the elastic body 7 begins to elastically deform, and then the block 8 rotates counterclockwise about the rotation shaft 9 to deform the spring 11. At this time, the fine electrode 4 also rotates around the rotating shaft 9 and rubs the lead 2 to perform a wiping action. Then, the lead 2 and the circuit 6 are securely connected to each other, and further connected to a circuit board (not shown) through the terminal 13.

【0010】 而して、リード2と微細電極4の擦れ合う距離は、リード2を押圧部材3によ って押圧したときのブロック8の回転量によって決まることになる。従って、回 転量を多くすることによって、リード2と微細電極4のワイピング効果はより確 実に得られる。但し、ブロック8の回転可能範囲は、リード2を曲げる危険性の ない範囲としなければならない。Therefore, the distance at which the lead 2 and the fine electrode 4 rub each other is determined by the rotation amount of the block 8 when the lead 2 is pressed by the pressing member 3. Therefore, the wiping effect of the lead 2 and the fine electrode 4 can be more reliably obtained by increasing the rotation amount. However, the rotatable range of the block 8 must be a range where there is no risk of bending the lead 2.

【0011】 図2は、本考案にかかるICソケットの第2実施例の部分拡大断面図である。 この場合は、電極4が細長い形状をしている。この電極4は、弾性体7の変形に 合わせて変形可能である。FIG. 2 is a partially enlarged sectional view of a second embodiment of the IC socket according to the present invention. In this case, the electrode 4 has an elongated shape. The electrode 4 can be deformed according to the deformation of the elastic body 7.

【0012】 尚、本考案はフラット形ICパッケージに適用した場合を述べたが、テープキ ャリアICパッケージのものにも適用可能である。 また、上述実施例においては弾性部材7を用いた場合を示したが該部材7は必 ずしも必要ではない。Although the present invention has been described as applied to a flat type IC package, it can also be applied to a tape carrier IC package. Further, although the elastic member 7 is used in the above embodiment, the member 7 is not always necessary.

【0013】[0013]

【考案の効果】[Effect of the device]

以上の如く、本考案のICソケットは、電極とICパッケージのリードが適当 な距離で擦れ合うことができるようにしたことによってワイピング効果が確実に 得られる。 As described above, the IC socket of the present invention ensures the wiping effect by allowing the electrodes and the leads of the IC package to rub against each other at an appropriate distance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案にかかるICパッケージを装着したIC
ソケットの一例の部分拡大断面図である。
FIG. 1 is an IC equipped with an IC package according to the present invention.
It is a partial expanded sectional view of an example of a socket.

【図2】本考案にかかるICパッケージを装着したIC
ソケットの別の実施例の部分拡大断面である。
FIG. 2 IC equipped with an IC package according to the present invention
7 is a partially enlarged cross-sectional view of another embodiment of the socket.

【図3】従来のコンタクトピンの一例の側面図である。FIG. 3 is a side view of an example of a conventional contact pin.

【図4】従来のICソケットの一例の斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of an example of a conventional IC socket.

【図5】従来のコネクタの異なる例の斜視図である。FIG. 5 is a perspective view of another example of a conventional connector.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ICパッケージ本体 2 リード 3 押圧部材 4 電極 5 フィルム 6 回路 7 弾性部材 8 ブロック 9 回転軸 10 ICソケット本体 11 ばね 12 カバー 1 IC Package Main Body 2 Lead 3 Pressing Member 4 Electrode 5 Film 6 Circuit 7 Elastic Member 8 Block 9 Rotating Shaft 10 IC Socket Main Body 11 Spring 12 Cover

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】ソケット本体に載置されるICパッケージ
のリードと該ソケット本体に設けられた該リード用の接
触部材との接触が押圧部材の押し下げによりなされるI
Cソケットにおいて、該接触部材が、表面に該リードの
ピッチに合わせて設けられた複数の電極と電気的に接続
された回路パターンを有する柔軟性を持ったフィルムを
設け、該フィルムを該ソケット本体に対して上方への弾
性習性をもって上下に揺動可能に配設されたブロックに
装着固定されたことを特徴とするICソケット。
1. A contact between a lead of an IC package mounted on a socket body and a contact member for the lead provided on the socket body is made by depressing a pressing member.
In the C socket, the contact member is provided with a flexible film having a circuit pattern electrically connected to a plurality of electrodes provided on the surface in accordance with the pitch of the leads, and the film is provided in the socket body. An IC socket characterized by being attached and fixed to a block arranged so as to be capable of swinging up and down with an elastic tendency toward the top.
JP11245691U 1991-12-03 1991-12-03 IC socket Pending JPH0548283U (en)

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JPH0548283U true JPH0548283U (en) 1993-06-25

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08105936A (en) * 1994-10-04 1996-04-23 Rohm Co Ltd Inspection socket device for electronic part

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08105936A (en) * 1994-10-04 1996-04-23 Rohm Co Ltd Inspection socket device for electronic part

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