JPH0547856A - 半導体装置とその製造方法 - Google Patents
半導体装置とその製造方法Info
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体装置とその製造方法に関し、リードの
本数やピッチ、パッドの位置に制約されずにチップとパ
ッケージの間を最短距離で接続できることを目的とす
る。 【構成】 少なくとも1個のステージ1aに周設された複
数個の接続パッド1bを有するパッケージ1と、複数個の
パッド2aを有して、該ステージ1aにマウントされたチッ
プ2を有するものであり、パッケージ1とチップ2を接
続する接続部3の製造工程は、パッケージ1とチップ2
に塗着された絶縁膜3aを塗着し、該絶縁膜3aに接続パッ
ド1bとパッド2aに導通するバイアホール3bを設け、該バ
イアホール3bを配線パターン3cによって適宜接続するよ
うに構成する。
本数やピッチ、パッドの位置に制約されずにチップとパ
ッケージの間を最短距離で接続できることを目的とす
る。 【構成】 少なくとも1個のステージ1aに周設された複
数個の接続パッド1bを有するパッケージ1と、複数個の
パッド2aを有して、該ステージ1aにマウントされたチッ
プ2を有するものであり、パッケージ1とチップ2を接
続する接続部3の製造工程は、パッケージ1とチップ2
に塗着された絶縁膜3aを塗着し、該絶縁膜3aに接続パッ
ド1bとパッド2aに導通するバイアホール3bを設け、該バ
イアホール3bを配線パターン3cによって適宜接続するよ
うに構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置とその製造方
法に係わり、特にマルチチップモジュールにおいて、膜
形成とパターン形成の両技術を用いて、リードの本数や
リードピッチ、リードの取り出し位置に制約されずにチ
ップとパッケージの間を最短距離で接続できてなる半導
体装置とその製造方法に関する。
法に係わり、特にマルチチップモジュールにおいて、膜
形成とパターン形成の両技術を用いて、リードの本数や
リードピッチ、リードの取り出し位置に制約されずにチ
ップとパッケージの間を最短距離で接続できてなる半導
体装置とその製造方法に関する。
【0002】近年、半導体装置の集積度の向上は目を見
張るものがあり、半導体メモリのような大容量化が進む
一方で、いろいろな機能を一つのチップに集積したマイ
クロプロセッサなどの進展も目覚ましい。
張るものがあり、半導体メモリのような大容量化が進む
一方で、いろいろな機能を一つのチップに集積したマイ
クロプロセッサなどの進展も目覚ましい。
【0003】半導体装置における機能の集積について見
ると、規模の小さいものでは1チップ電卓に象徴される
ように、一つのチップに全ての機能を搭載することが行
われ、これはモノリシック方式と呼ばれている。それに
対して、規模が大きくなってくると、いろいろな機能を
もったチップを複数個相互に接続して一つのモジュール
にする。これはいわゆるマルチチップ方式と呼ばれるも
ので、こうして構成された半導体装置がマルチチップモ
ジュールである。
ると、規模の小さいものでは1チップ電卓に象徴される
ように、一つのチップに全ての機能を搭載することが行
われ、これはモノリシック方式と呼ばれている。それに
対して、規模が大きくなってくると、いろいろな機能を
もったチップを複数個相互に接続して一つのモジュール
にする。これはいわゆるマルチチップ方式と呼ばれるも
ので、こうして構成された半導体装置がマルチチップモ
ジュールである。
【0004】ところで、チップから導出されるリード
は、通常はチップの周縁部に設けられたパッドから引き
出されるが、リードの本数が多くなると周縁部からだけ
では賄いきれず、チップの中央部にもパッドを設けて引
き出されるようになる。
は、通常はチップの周縁部に設けられたパッドから引き
出されるが、リードの本数が多くなると周縁部からだけ
では賄いきれず、チップの中央部にもパッドを設けて引
き出されるようになる。
【0005】こうしたチップから導出されるリードは、
一般にハイブリッドICの実装技術によっていろいろな
方法によって接続され、モジュール化されている。そし
て、ピッチが狭くなり、かつ本数が多いリードを、如何
に効率よく接続するかが重要な課題となっている。
一般にハイブリッドICの実装技術によっていろいろな
方法によって接続され、モジュール化されている。そし
て、ピッチが狭くなり、かつ本数が多いリードを、如何
に効率よく接続するかが重要な課題となっている。
【0006】
【従来の技術】モジュールの基本的な構成は、パッケー
ジと呼ばれる基板と、その基板の上にマウントされたチ
ップとからなり、チップとパッケージの間はいろいろな
方法によって接続されている。マルチチップモジュール
の場合には、複数個のチップがパッケージにマウントさ
れている。
ジと呼ばれる基板と、その基板の上にマウントされたチ
ップとからなり、チップとパッケージの間はいろいろな
方法によって接続されている。マルチチップモジュール
の場合には、複数個のチップがパッケージにマウントさ
れている。
【0007】図4は従来の接続方法の例の要部の断面図
で、図4(A)はワイヤボンディング方式、図4(B)
はTAB方式、図4(C)はフリップチップ方式であ
る。図において、1はパッケージ、1aはステージ、1bは
接続パッド、2はチップ、2aはパッド、2bはバンプ、4
はワイヤ、6はTABテープ、6aはベース、6bはTAB
リードである。
で、図4(A)はワイヤボンディング方式、図4(B)
はTAB方式、図4(C)はフリップチップ方式であ
る。図において、1はパッケージ、1aはステージ、1bは
接続パッド、2はチップ、2aはパッド、2bはバンプ、4
はワイヤ、6はTABテープ、6aはベース、6bはTAB
リードである。
【0008】パッケージ1は、接続方法によっていろい
ろな基板が用いられ、リードフレームのような整形加工
された金属板、樹脂製やセラミック製のプリント板、フ
ィルム状のプリント板などが用いられる。そして、一般
的にはこのパッケージ1の上にチップ2がマウントされ
る。
ろな基板が用いられ、リードフレームのような整形加工
された金属板、樹脂製やセラミック製のプリント板、フ
ィルム状のプリント板などが用いられる。そして、一般
的にはこのパッケージ1の上にチップ2がマウントされ
る。
【0009】図4(A)のワイヤボンディング方式にお
いて、パッケージ1の中央部にはステージ1aが設けられ
ており、パッケージ1がマルチチップモジュール用の場
合ならば、複数個のステージ1aが並設されている。そし
て、そのステージ1aの回りには、図示してない配線パタ
ーンを経由したボンディング用の接続パッド1bが設けら
れている。
いて、パッケージ1の中央部にはステージ1aが設けられ
ており、パッケージ1がマルチチップモジュール用の場
合ならば、複数個のステージ1aが並設されている。そし
て、そのステージ1aの回りには、図示してない配線パタ
ーンを経由したボンディング用の接続パッド1bが設けら
れている。
【0010】一方、チップ2にもパッド2aが設けられて
いる。そして、チップ2をそれぞれのステージ1aにマウ
ントし、パッド1b、2aの間をAuやAlなどの細いワイ
ヤ4を用いてワイヤボンディングする。
いる。そして、チップ2をそれぞれのステージ1aにマウ
ントし、パッド1b、2aの間をAuやAlなどの細いワイ
ヤ4を用いてワイヤボンディングする。
【0011】ワイヤボンディング方式において、チップ
2が高速動作する半導体素子で信号を高速伝送したい場
合には、ワイヤ4はできるだけ短い方が望ましい。そこ
で、ステージ1aをチップ2の厚み分だけ凹ませて、チッ
プ2をステージ1aにマウントした際、パッド1bと2aが同
じ高さになるようになっている。
2が高速動作する半導体素子で信号を高速伝送したい場
合には、ワイヤ4はできるだけ短い方が望ましい。そこ
で、ステージ1aをチップ2の厚み分だけ凹ませて、チッ
プ2をステージ1aにマウントした際、パッド1bと2aが同
じ高さになるようになっている。
【0012】ところが、チップ2をステージ1aにマウン
トする際には、チップ2の放熱性などを加味して、例え
ば、Au−Siの共晶ボンディングやはんだ付け、導電
性接着剤などによるダイボンディングが一般に行われて
いる。そのため、ステージ1aの大きさはチップ2に対し
て余裕をもって構成する必要がある。また、チップ2の
マウント位置決め精度も限界があり、接続パッド1bのピ
ッチをあまり狭くすることができない。さらに、チップ
2から導出されるリード端子が多くて、チップ2の中央
部にもパッド2aが設けられている場合には、中央部のパ
ッド2aからワイヤ4が短絡しないように引き出すことは
非常に厄介である。
トする際には、チップ2の放熱性などを加味して、例え
ば、Au−Siの共晶ボンディングやはんだ付け、導電
性接着剤などによるダイボンディングが一般に行われて
いる。そのため、ステージ1aの大きさはチップ2に対し
て余裕をもって構成する必要がある。また、チップ2の
マウント位置決め精度も限界があり、接続パッド1bのピ
ッチをあまり狭くすることができない。さらに、チップ
2から導出されるリード端子が多くて、チップ2の中央
部にもパッド2aが設けられている場合には、中央部のパ
ッド2aからワイヤ4が短絡しないように引き出すことは
非常に厄介である。
【0013】図4(B)において、TABテープ6を用
いた接続方法は、ポリイミドフィルム製のベース6aの所
定の位置にホトリソグラフィによってTABリード6bを
並設し、インナリードをチップ2の側に、アウタリード
をパッケージ1の側にTAB接続する方式である。パッ
ケージ1とチップ2、ベース6aとTABリード6bの上下
位置関係などからいろいろな接続形態がある。
いた接続方法は、ポリイミドフィルム製のベース6aの所
定の位置にホトリソグラフィによってTABリード6bを
並設し、インナリードをチップ2の側に、アウタリード
をパッケージ1の側にTAB接続する方式である。パッ
ケージ1とチップ2、ベース6aとTABリード6bの上下
位置関係などからいろいろな接続形態がある。
【0014】TAB方式は、TABリード6bがコプレー
ナ線路つまり同一面上に並設された配線になっているの
で、信号の伝送品質を良好に保つことができる。また、
例えばギャングボンディングによって効率のよいボンデ
ィングが可能である。さらにTABテープ6を重積すれ
ば立体配線もできるので、チップ2の中央部からリード
を引き出すこともできる。
ナ線路つまり同一面上に並設された配線になっているの
で、信号の伝送品質を良好に保つことができる。また、
例えばギャングボンディングによって効率のよいボンデ
ィングが可能である。さらにTABテープ6を重積すれ
ば立体配線もできるので、チップ2の中央部からリード
を引き出すこともできる。
【0015】ところが、TAB接続を行うには、チップ
2の上に高さの均一なバンプ2bを設ける必要がある。あ
るいはTABリード6bのインナリードの方に、例えば転
写バンプ法によってバンプ2bを設けることが必要であ
る。また、バンプ2bのピッチにも限界がある。
2の上に高さの均一なバンプ2bを設ける必要がある。あ
るいはTABリード6bのインナリードの方に、例えば転
写バンプ法によってバンプ2bを設けることが必要であ
る。また、バンプ2bのピッチにも限界がある。
【0016】図4(C)において、フリップチップ方式
は、チップ2に例えばはんだバンプ2bを設け、予備はん
だしたパッケージ1の接続パッド1bの上にフェースダウ
ンで直に接続するいわゆるリードレス方式の一種であ
る。
は、チップ2に例えばはんだバンプ2bを設け、予備はん
だしたパッケージ1の接続パッド1bの上にフェースダウ
ンで直に接続するいわゆるリードレス方式の一種であ
る。
【0017】このフリップチップ方式は、バンプ2bがは
んだの場合はんだリフロー方式で接続するので、はんだ
の表面張力によって自己位置合わせ(セルフアライメン
ト)され、接続の位置合わせ精度が比較的緩くてよいと
されている。また、リードレスなので、信号の伝送品質
の上からは最適な方法である。
んだの場合はんだリフロー方式で接続するので、はんだ
の表面張力によって自己位置合わせ(セルフアライメン
ト)され、接続の位置合わせ精度が比較的緩くてよいと
されている。また、リードレスなので、信号の伝送品質
の上からは最適な方法である。
【0018】しかし、そのことが逆にバンプ2bのピッチ
を狭くすることを難くしている。また、フェースダウン
ボンディングなので、特にチップ2の中央部の接続状態
を目視チェックすることは不可能に近く厄介であり、放
熱性も劣る。
を狭くすることを難くしている。また、フェースダウン
ボンディングなので、特にチップ2の中央部の接続状態
を目視チェックすることは不可能に近く厄介であり、放
熱性も劣る。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来のパ
ッケージとチップの接続方法には、それぞれ一長一短が
ある。そして、チップからのリードの取り出し本数が多
くて、しかもリードピッチが狭くなってくると、リード
をできるだけ短くして半導体装置の動作速度を阻害しな
いようにするとか、あるいはチップの中央部からもリー
ドを引き出すといった接続が、従来の何れの接続方法に
よっても対応仕切れない問題があった。
ッケージとチップの接続方法には、それぞれ一長一短が
ある。そして、チップからのリードの取り出し本数が多
くて、しかもリードピッチが狭くなってくると、リード
をできるだけ短くして半導体装置の動作速度を阻害しな
いようにするとか、あるいはチップの中央部からもリー
ドを引き出すといった接続が、従来の何れの接続方法に
よっても対応仕切れない問題があった。
【0020】そこで本発明は、特にマルチチップモジュ
ールにおいて、膜形成とパターン形成の膜プロセスを用
い、リードの本数やリードピッチ、リードの取り出し位
置に制約されずにチップとパッケージを最短距離で接続
できてなる半導体装置とその製造方法を提供することを
目的としている。
ールにおいて、膜形成とパターン形成の膜プロセスを用
い、リードの本数やリードピッチ、リードの取り出し位
置に制約されずにチップとパッケージを最短距離で接続
できてなる半導体装置とその製造方法を提供することを
目的としている。
【0021】
【課題を解決するための手段】上で述べた課題は、パッ
ケージと、チップと、接続部を有し、前記パッケージ
は、少なくとも1個のステージと、該ステージに周設さ
れた複数個の接続パッドを有するものであり、前記チッ
プは、ステージにマウントされたものであって、表面に
複数個のパッドを有するものであり、前記接続部は、パ
ッケージとチップに塗着された絶縁膜と、該絶縁膜に穿
設され、かつ接続パッドとパッドのそれぞれに導通する
バイアホールと、該絶縁膜の上に設けられ、かつバイア
ホール間を適宜接続した配線パターンを有するものであ
る ように構成された半導体装置と、パッケージに配設
された少なくとも1個のステージにチップをマウント
し、該ステージは回りに複数個の接続パッドを有し、か
つ該チップは表面にパッドを有するものであり、次い
で、前記パッケージとチップに絶縁膜を塗着し、次い
で、前記接続パッドとパッドに導通するバイアホールを
絶縁膜に設け、次いで、前記バイアホール間を適宜配線
パターンによって接続するように構成された半導体装置
の製造方法と、によって解決される。
ケージと、チップと、接続部を有し、前記パッケージ
は、少なくとも1個のステージと、該ステージに周設さ
れた複数個の接続パッドを有するものであり、前記チッ
プは、ステージにマウントされたものであって、表面に
複数個のパッドを有するものであり、前記接続部は、パ
ッケージとチップに塗着された絶縁膜と、該絶縁膜に穿
設され、かつ接続パッドとパッドのそれぞれに導通する
バイアホールと、該絶縁膜の上に設けられ、かつバイア
ホール間を適宜接続した配線パターンを有するものであ
る ように構成された半導体装置と、パッケージに配設
された少なくとも1個のステージにチップをマウント
し、該ステージは回りに複数個の接続パッドを有し、か
つ該チップは表面にパッドを有するものであり、次い
で、前記パッケージとチップに絶縁膜を塗着し、次い
で、前記接続パッドとパッドに導通するバイアホールを
絶縁膜に設け、次いで、前記バイアホール間を適宜配線
パターンによって接続するように構成された半導体装置
の製造方法と、によって解決される。
【0022】
【作用】チップから導出されるリードの本数が多くな
り、リードピッチも狭くなってくると、従来の接続方法
では賄い切れなくなってくるのに対して、本発明におい
ては、パターン形成技術を用いて接続するようにしてい
る。
り、リードピッチも狭くなってくると、従来の接続方法
では賄い切れなくなってくるのに対して、本発明におい
ては、パターン形成技術を用いて接続するようにしてい
る。
【0023】すなわち、パッケージにチップをマウント
したあと、パッケージとチップに絶縁膜を塗着して覆
い、その絶縁膜にバイアホールを設けて、パッケージの
接続パッドとチップのパッドに導通を取るようにしてい
る。そして、このバイアホールを適宜接続して、接続パ
ッドとパッド間を接続するようにしている。
したあと、パッケージとチップに絶縁膜を塗着して覆
い、その絶縁膜にバイアホールを設けて、パッケージの
接続パッドとチップのパッドに導通を取るようにしてい
る。そして、このバイアホールを適宜接続して、接続パ
ッドとパッド間を接続するようにしている。
【0024】この接続方法は膜形成技術とパターン形成
技術を用いて行うので、パッドのピッチが狭くてもリー
ドの本数が多くても一括して処理することができ、しか
も接続距離が最短になるように接続することができる。
技術を用いて行うので、パッドのピッチが狭くてもリー
ドの本数が多くても一括して処理することができ、しか
も接続距離が最短になるように接続することができる。
【0025】従って、本発明によれば、例えば動作速度
の速い半導体装置の動作性能を阻害せずに接続できるば
かりでなく、中央部にもパッドが設けられているような
パッドの多いチップに対しても対応することができる。
の速い半導体装置の動作性能を阻害せずに接続できるば
かりでなく、中央部にもパッドが設けられているような
パッドの多いチップに対しても対応することができる。
【0026】
【実施例】図1は本発明の第一の実施例の断面図、図2
は図1の製造工程図、図3は本発明の第二の実施例の断
面図である。図において、1はパッケージ、1aはステー
ジ、1bは接続パッド、2はチップ、2aはパッド、3は接
続部、3aは絶縁膜、3bはバイアホール、3cは配線パター
ン、3dは第二の絶縁膜、3eは接地導体膜、4はワイヤ、
5は終端抵抗である。
は図1の製造工程図、図3は本発明の第二の実施例の断
面図である。図において、1はパッケージ、1aはステー
ジ、1bは接続パッド、2はチップ、2aはパッド、3は接
続部、3aは絶縁膜、3bはバイアホール、3cは配線パター
ン、3dは第二の絶縁膜、3eは接地導体膜、4はワイヤ、
5は終端抵抗である。
【0027】実施例:1 図1〜図2において、パッケージ1は例えばセラミック
プリント板などで、中央部にステージ1aが設けられてい
る。パッケージ1がマルチチップモジュール用の場合に
は、複数個のステージ1aが並設されている。そして、そ
れぞれのステージ1aの回りには、接続パッド1bが設けら
れており、それぞれの接続パッド1bは図示してない多層
配線などを通してパッケージ1の外部に導出されるよう
になっている。
プリント板などで、中央部にステージ1aが設けられてい
る。パッケージ1がマルチチップモジュール用の場合に
は、複数個のステージ1aが並設されている。そして、そ
れぞれのステージ1aの回りには、接続パッド1bが設けら
れており、それぞれの接続パッド1bは図示してない多層
配線などを通してパッケージ1の外部に導出されるよう
になっている。
【0028】チップ2の周縁部にはパッド2aが設けられ
ており、このチップ2が図2(A)に示したようにパッ
ケージ1のステージ1aにマウントされる。パッケージ1
がセラミックの場合には、例えば、ステージ1aの底部が
Auでメタライズされており、マウントに際してはAu
−Siの共晶ボンディングが行われる。パッケージ1が
樹脂のプリント板の場合には、導電性の接着剤が用いら
れることもある。
ており、このチップ2が図2(A)に示したようにパッ
ケージ1のステージ1aにマウントされる。パッケージ1
がセラミックの場合には、例えば、ステージ1aの底部が
Auでメタライズされており、マウントに際してはAu
−Siの共晶ボンディングが行われる。パッケージ1が
樹脂のプリント板の場合には、導電性の接着剤が用いら
れることもある。
【0029】次いで、パッケージ1の接続パッド1bとチ
ップ2のパッド2aは、接続部3によって接続する。すな
わち、チップ2がマウントされたパッケージ1の上に
は、例えば、ポリイミドとかPMSS(poly methyl sil
sesquioxane)系の樹脂などからなる絶縁膜3aを、図2
(B)に示したように表面が平滑になるように全面にわ
たって回転塗着する。そして、接続パッド1bとパッド2a
に対応した位置をホトリソグラフィによって穿孔し、無
電解めっきを施して接続パッド1bとパッド2aのそれぞれ
に導通したバイアホール3bを設ける。
ップ2のパッド2aは、接続部3によって接続する。すな
わち、チップ2がマウントされたパッケージ1の上に
は、例えば、ポリイミドとかPMSS(poly methyl sil
sesquioxane)系の樹脂などからなる絶縁膜3aを、図2
(B)に示したように表面が平滑になるように全面にわ
たって回転塗着する。そして、接続パッド1bとパッド2a
に対応した位置をホトリソグラフィによって穿孔し、無
電解めっきを施して接続パッド1bとパッド2aのそれぞれ
に導通したバイアホール3bを設ける。
【0030】次いで、図2(C)において、ホトリソグ
ラフィによって配線パターン3cを設け、バイアホール3b
を適宜接続して接続パッド1bとパッド2aを接続する。こ
うしてなした本発明になる接続パッド1bとパッド2aの接
続においては、バイアホール3bの長さが絶縁膜3aの膜厚
相当の高々数十μmなので、パッド1bと2aの接続配線の
距離が最短になっている。
ラフィによって配線パターン3cを設け、バイアホール3b
を適宜接続して接続パッド1bとパッド2aを接続する。こ
うしてなした本発明になる接続パッド1bとパッド2aの接
続においては、バイアホール3bの長さが絶縁膜3aの膜厚
相当の高々数十μmなので、パッド1bと2aの接続配線の
距離が最短になっている。
【0031】従って、特にチップ2が高速動作する素子
からなる場合に効果がある。また、配線パターン3cに
は、必要に応じて薄膜や厚膜プロセスによって終端抵抗
5を介在させることができる。さらに、この配線パター
ン3cを設ける工程は、バイアホール3bや終端抵抗5を設
ける工程と同時に行うこともできる。
からなる場合に効果がある。また、配線パターン3cに
は、必要に応じて薄膜や厚膜プロセスによって終端抵抗
5を介在させることができる。さらに、この配線パター
ン3cを設ける工程は、バイアホール3bや終端抵抗5を設
ける工程と同時に行うこともできる。
【0032】こうして、接続パッド1bとパッド2aの間が
最短距離で接続できるが、チップ2が高速動作する素子
の場合には、外部ノイズを遮蔽するために図2(D)に
示したように絶縁膜3aの上に第二の絶縁膜3dを被着し、
その第二の絶縁膜3dの上に図2(E)に示したように接
地導体膜3eを設ける。こうすると、配線パターン3cは、
絶縁膜3aの上でコプレーナ線路になっている。
最短距離で接続できるが、チップ2が高速動作する素子
の場合には、外部ノイズを遮蔽するために図2(D)に
示したように絶縁膜3aの上に第二の絶縁膜3dを被着し、
その第二の絶縁膜3dの上に図2(E)に示したように接
地導体膜3eを設ける。こうすると、配線パターン3cは、
絶縁膜3aの上でコプレーナ線路になっている。
【0033】実施例:2 チップ2には、周縁部ばかりでなく中央部にもパッド2a
が設けられている。この中央部に設けられているパッド
2aは、例えば電源端子などの場合が多い。そこで、チッ
プ2の周縁部のパッド2aは、ワイヤ4によって接続パッ
ド1bとワイヤボンディングする。
が設けられている。この中央部に設けられているパッド
2aは、例えば電源端子などの場合が多い。そこで、チッ
プ2の周縁部のパッド2aは、ワイヤ4によって接続パッ
ド1bとワイヤボンディングする。
【0034】そのあとは、実施例1と同様にして、絶縁
膜3aを塗着してバイアホール3bを設け、ワイヤボンディ
ングしてない残りのパッド2aと接続パッド1bを配線パタ
ーン3cによって接続する。
膜3aを塗着してバイアホール3bを設け、ワイヤボンディ
ングしてない残りのパッド2aと接続パッド1bを配線パタ
ーン3cによって接続する。
【0035】こうして、接続パッド1bとパッド2aを接続
するのにワイヤボンディングと配線パターン3cを混在さ
せると、配線の自由度が増すばかりでなく、電源をバイ
アホール3bを介して安定に供給することができる。
するのにワイヤボンディングと配線パターン3cを混在さ
せると、配線の自由度が増すばかりでなく、電源をバイ
アホール3bを介して安定に供給することができる。
【0036】
【発明の効果】パッケージにチップをマウントしてパッ
ド同士を接続する際、本発明によれば膜形成技術とパタ
ーン形成技術を用いて、最短の配線接続ができる。ま
た、ワイヤボンディングを併用することによって、チッ
プの中央部にもパッドが設けられている場合にも、容易
に配線接続することができる。
ド同士を接続する際、本発明によれば膜形成技術とパタ
ーン形成技術を用いて、最短の配線接続ができる。ま
た、ワイヤボンディングを併用することによって、チッ
プの中央部にもパッドが設けられている場合にも、容易
に配線接続することができる。
【0037】その結果、特に高速動作する半導体素子か
らなるチップの場合とか、マルチチップモジュールのよ
うな接続箇所が非常に多い場合などに対して、本発明は
寄与するところが大である。
らなるチップの場合とか、マルチチップモジュールのよ
うな接続箇所が非常に多い場合などに対して、本発明は
寄与するところが大である。
【図1】 本発明の第一の実施例の断面図である。
【図2】 図1の製造工程図である。
【図3】 本発明の第二の実施例の断面図である。
【図4】 従来の接続方法の例の要部の断面図で、
(A)はワイヤボンディング方式、(B)はTAB方
式、(C)はフリップチップ方式である。
(A)はワイヤボンディング方式、(B)はTAB方
式、(C)はフリップチップ方式である。
1 パッケージ 1a ステージ 1b
接続パッド 2 チップ 2a パッド 3 接続部 3a 絶縁膜 3b
バイアホール 3c 配線パターン 3d 第二の絶縁膜 3e
接地導体膜 4 ワイヤ 5 終端抵抗
接続パッド 2 チップ 2a パッド 3 接続部 3a 絶縁膜 3b
バイアホール 3c 配線パターン 3d 第二の絶縁膜 3e
接地導体膜 4 ワイヤ 5 終端抵抗
Claims (5)
- 【請求項1】 パッケージ(1) と、チップ(2) と、接続
部(3) を有し、 前記パッケージ(1) は、少なくとも1個のステージ(1a)
と、該ステージ(1a)に周設された複数個の接続パッド(1
b)を有するものであり、 前記チップ(2) は、前記ステージ(1a)にマウントされた
ものであって、表面に複数個のパッド(2a)を有するもの
であり、 前記接続部(3) は、前記パッケージ(1) とチップ(2) に
塗着された絶縁膜(3a)と、該絶縁膜(3a)に穿設され、か
つ前記接続パッド(1b)とパッド(2a)のそれぞれに導通す
るバイアホール(3b)と、該絶縁膜(3a)の上に設けられ、
かつ該バイアホール(3b)間を適宜接続した配線パターン
(3c)を有するものであることを特徴とした半導体装置。 - 【請求項2】 前記接続部(3) は、配線パターン(3c)を
被覆した第二の絶縁膜(3d)と、該第二の絶縁膜(3d)の上
に設けられた接地導体膜(3e)を有する請求項1記載の半
導体装置。 - 【請求項3】 前記接続パッド(1b)とパッド(2a)は、一
部がワイヤ(4) を介して接続され、残部が前記バイアホ
ール(3b)と配線パターン(3c)を介して接続されている請
求項1記載の半導体装置。 - 【請求項4】 前記配線パターン(3c)は、中間部に適宜
終端抵抗(5) を具えている請求項1記載の半導体装置。 - 【請求項5】 パッケージ(1) に配設された少なくとも
1個のステージ(1a)にチップ(2) をマウントし、該ステ
ージ(1a)は回りに複数個の接続パッド(1b)を有し、かつ
該チップ(2) は表面にパッド(2a)を有するものであり、 次いで、前記パッケージ(1) とチップ(2) に絶縁膜(3a)
を塗着し、 次いで、前記接続パッド(1b)とパッド(2a)に導通するバ
イアホール(3b)を前記絶縁膜(3a)に設け、 次いで、前記バイアホール(3b)間を適宜配線パターン(3
c)によって接続することを特徴とする半導体装置の製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3206673A JPH0547856A (ja) | 1991-08-19 | 1991-08-19 | 半導体装置とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3206673A JPH0547856A (ja) | 1991-08-19 | 1991-08-19 | 半導体装置とその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0547856A true JPH0547856A (ja) | 1993-02-26 |
Family
ID=16527228
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3206673A Withdrawn JPH0547856A (ja) | 1991-08-19 | 1991-08-19 | 半導体装置とその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0547856A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6495914B1 (en) | 1997-08-19 | 2002-12-17 | Hitachi, Ltd. | Multi-chip module structure having conductive blocks to provide electrical connection between conductors on first and second sides of a conductive base substrate |
JP2016522585A (ja) * | 2013-06-17 | 2016-07-28 | ルクスビュー テクノロジー コーポレイション | 反射バンク構造及び発光デバイスを組み込むための方法 |
-
1991
- 1991-08-19 JP JP3206673A patent/JPH0547856A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6495914B1 (en) | 1997-08-19 | 2002-12-17 | Hitachi, Ltd. | Multi-chip module structure having conductive blocks to provide electrical connection between conductors on first and second sides of a conductive base substrate |
JP2016522585A (ja) * | 2013-06-17 | 2016-07-28 | ルクスビュー テクノロジー コーポレイション | 反射バンク構造及び発光デバイスを組み込むための方法 |
US9876000B2 (en) | 2013-06-17 | 2018-01-23 | Apple Inc. | Method for integrating a light emitting device |
US10256221B2 (en) | 2013-06-17 | 2019-04-09 | Apple Inc. | Method for integrating a light emitting device |
US10573629B2 (en) | 2013-06-17 | 2020-02-25 | Apple Inc. | Method for integrating a light emitting device |
US11004836B2 (en) | 2013-06-17 | 2021-05-11 | Apple Inc. | Method for integrating a light emitting device |
US11676952B2 (en) | 2013-06-17 | 2023-06-13 | Apple Inc. | Method for integrating a light emitting device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981112 |