JPH0543368Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0543368Y2
JPH0543368Y2 JP6708388U JP6708388U JPH0543368Y2 JP H0543368 Y2 JPH0543368 Y2 JP H0543368Y2 JP 6708388 U JP6708388 U JP 6708388U JP 6708388 U JP6708388 U JP 6708388U JP H0543368 Y2 JPH0543368 Y2 JP H0543368Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
inner circumferential
circumferential surface
light receiving
protrusions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP6708388U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH01171308U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP6708388U priority Critical patent/JPH0543368Y2/ja
Publication of JPH01171308U publication Critical patent/JPH01171308U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0543368Y2 publication Critical patent/JPH0543368Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は、たとえばシリンダなどのような物体
の内周面の摩耗状況などを測定するための装置に
関する。
従来の技術 このような物体内周面の測定装置は、たとえば
回転機などにおけるシリンダ内周面の摩耗状況を
検出して、保守を行うために必要になる。典型的
な先行技術は第9図に示されるように、シリンダ
51の内周面52の内径を測定するために、シリ
ンダゲージなどと呼ばれている測定具53を使用
する。この測定具53は、ダイヤル54を回転す
ることによつて測定棒55が伸縮し、これによつ
てシリンダ52の内径を測定することができ、あ
るいはまたその内周面52の偏摩耗の状況を知る
ことができる。
考案が解決しようとする課題 このような第9図に示される先行技術では、測
定棒55の軸線を内周面52の直径上に正確に一
致させることが困難であり、作業に熟練を必要と
し、また作業者による測定のばらつきがある。さ
らにまたこの先行技術では、ダイヤル54に表示
される内径の値をその内周面52内で読取ること
が困難であり、測定作業に手間がかかる。
本考案の目的は、物体内周面の測定を高精度で
良好な作業性で測定することができるようにした
物体内周面の測定装置を提供することである。
課題を解決するための手段 本考案は、 (a) 間隔をあけて2つの突起7,8を有する本体
2と、 (b) 本体2に設けられ、突起7,8の先端12,
14を結ぶ仮想直線4aに垂直な平面内で、前
記先端12,14間の中央位置から突起7,8
とは反対方向に光を放射する発光素子20と、
前記平面内で発光素子20による反射光を受光
する受光素子21とを有する光の受発信手段3
と、 (c) 発光素子20を断続的に駆動する手段25
と、 (d) 駆動手段25と受光素子21との出力に応答
し、発光素子20からの光の反射位置と光の受
発信手段3との間の距離l2を複数回測定する手
段26と、 (e) 前記測定手段26によつて測定された前記距
離l2のうち、最小の値を保持して出力する手段
28,29,30とを含むことを特徴とする物
体内周面の測定装置。
作 用 本考案は従えば、本体2は、間隔をあけて設け
られた2つの突起7,8を有し、この本体2に
は、突起7,8の先端12,14を結ぶ仮想直線
4aに垂直な平面内で前記先端12,14間の中
央位置から突起7,8とは反対方向(第1図の上
方)に光を放射する発光素子20が設けられ、す
なわちこの発光素子20の光15の光軸は、先端
12,14の垂直2等分線上にあり、またこの本
体2には、前記平面内で発光素子20による反射
光を受光する受光素子21が設けられ、駆動手段
25によつて発光素子20を断続的に駆動し、し
たがつて測定手段26は、発光素子20から光の
反射位置と光の受発信手段3との間の距離l2を測
定する。
したがつて内周面が真円であるときには、この
光軸を含む前記平面内に、内周面の中心が存在す
る。こうして発光素子20から光の反射位置と光
の受発信手段3との間の距離l2を複数回測定し、
こうして得られた距離l2のうち、最小の値を保持
して出力することによつて、その物体の内周面の
内径を測定することができ、あるいはまたその内
周面が偏摩耗などを生じて歪んでいる状態を測定
することができる。
このような測定装置を用いて、標準品とすべき
物体の内周面の測定を予め行つておき、次に、保
守などのためにたとえば摩耗している他の物体の
内周面を測定し、標準品の測定結果と比較して、
保守管理を行うことができる。
この測定作業時には、2つの突起が内周面に接
触した状態で、本体を前記仮想直線のまわりに角
変位し、前記測定装置の最小値を求めることによ
つて、高精度の測定が可能である。
実施例 第1図は本考案の一実施例の正面図であり、第
2図はその側面図である。この測定装置1は基本
的には、本体2と、その本体2に設けられている
光の受発信手段3とを含み、シリンダなどの内周
面4に挿入されて、保守などのために用いること
ができる。本体2は、台部5と、その台部5の長
さ方向(第1図の左右方向)の中央位置で立設さ
れた立上り部6と、台部5に螺着されている2つ
の突起7,8とを有する。台部5には、ねじ孔9
が形成されており、このねじ孔9には、突起7の
外ねじが形成された軸部10が螺合する。軸部1
0にはドライバの掛合溝11が形成されており、
台部5からの先端12の突出長さを調整すること
ができる。軸部10に螺合するナツト13は、突
起7を台部5に締付けて固定する働きをする。突
起7の先端12は先細状に形成されており、たと
えば球面状であつてもよい。もう1つの突起8も
また突起7と同様に構成されており、ナツト13
によつて台部5に固定される。突起7の先端12
の内周面4と接触する位置と、突起8の先端14
の内周面4と接触する位置との間隔は、第1図に
よつて参照符l1で示されている。
立上り部6の端部に設けられている光の受発信
手段3は、光、たとえばレーザ光を参照符15で
示すように放射し、内周面4による反射光を受光
する。この受発信手段3は、可撓性のライン16
を介して処理手段17に接続される。処理手段1
7は受発信手段3を制御し、この受発信手段3と
内周面4との間の距離l2を演算して求める。
真円である内周面4と接触する突起7,8の先
端12,14を結ぶ仮想直線4aは、光の受発信
手段3からの光15の光軸を通る直線15aと垂
直であり、直線15aは、先端12,14間の垂
直2等分線である。したがつて内周面4が真円で
あるとき、直線15aはその内周面4の中心を通
る。
前述の受発信手段3は、後述の第5図に関連し
て述べるように発光素子であるレーザダイオード
20と、受光素子21とを含み、発光素子20
は、突起7,8の先端12,14を結ぶ仮想直線
4aに垂直な平面内で、前記先端12,14間の
中央位置から突起7,8とは反対方向に光を放射
する。受光素子21は、前記平面内で、発光素子
20による反射光を受光する。すなわち第5図の
レーザダイオード20から光が放射され、受光素
子21で受光される光の経路は、前記平面内にあ
る。後述の第6図の参照符34,35で示される
内周面は、物体の断面円形の内周面の軸線方向に
沿う断面であり、すなわち第6図の左右方向は内
周面の軸線方向に一致している。
第3図を参照して、シリンダなどの物体の保守
を行うときの作業を説明する。まず標準品である
シリンダなどの物体の内周面4内に本件測定装置
1を挿入し、突起7,8の先端12,14をその
内周面4に接触した状態で、先端12,14を結
ぶ直線4aまわりに矢符18のように揺動しつ
つ、受発信手段3による受発信手段3と内周面4
との間の距離l2の最小値を測定する。
次に、保守を行うべきシリンダなどの物体の内
周面4内に測定装置1を挿入して同様な操作を行
い、距離l2の最小値を求める。こうして標準品に
おける前記最小値と、保守を行うべき物体の前記
最小値とを比較し、その内周面4の摩耗状況など
を比較測定することができる。突起7,8の先端
12,14の内周面4と接触する位置を、内周面
4の周方向にずらして前記距離l2を測定すること
によつて、内周面4の偏摩耗の状況などを知るこ
とができる。
第4図を参照して、本件測定装置1によつて真
円である内周面4の内径を測定することができる
原理を簡単に述べる。突起7,8の先端12,1
4と光の受発信手段3との距離l3は既知であり、
レーザ光の光軸15の内周面4への照射位置を参
照符19で示すとき、角度θ1に関して第1式が成
立する。
tanθ1=l2+l3/l1/2 ……(1) この第1式から、角度θ1を求めることができ
る。
突起8の先端14とレーザ光の照射位置19と
の距離をl4とするとき、第2式および第3式が成
立する。
cosθ1=l1/2/l4 ……(2) sinθ1=l4/2・R ……(3) ここでRは内周面4の半径を示す。参照符50
は、内周面4の中心である。
第2式と第3式とから、値l4を消去し、内周面
4の半径R、およびその内径2・Rを求めること
ができる。
第5図は、本考案の一実施例の電気的構成を示
すブロツク図である。光の受発信手段3はレーザ
ダイオード20と、このレーザダイオード20か
らのレーザ光の反射光を受光する受光素子21と
を有する。
処理手段17において、バツテリ22によつて
電力付勢されるマイクロコンピユータなどによつ
て実現される処理回路23からの出力は、DC・
DCコンバータ24を介して駆動回路25に与え
られ、この駆動回路25はレーザダイオード20
を駆動する。駆動回路25からの信号はまた、演
算回路26に与えられる。受光素子21からの出
力は増幅器27において増幅され、演算回路26
に与えられる。こうして演算回路26では、発光
素子20からの光の反射位置と光の受発信手段3
との間の距離l2である受発信手段3と内周面4と
の間の距離l2に対応する信号を導出して、最小値
保持回路28に与える。最小値保持回路28は距
離l2の最小値を検出して保持する。この最小値保
持回路28によつて保持されている最小値の電気
信号は、アナログデジタルコンバータ29によつ
てデジタル値に変換され、表示手段30によつて
表示される。距離l2の測定にあたつては作業者
は、スタートボタン31を操作し、これによつて
前述の距離l2の測定動作が行われる。
第6図は、光の受発信手段3の簡略化した断面
図である。レーザダイオード20は、たとえば波
長780nmの近赤外光であるレーザ光を、たとえば
3mWで出力する。このレーザ光はレンズ32に
よつて集光され、可視光を遮断するフイルタ33
を介して内周面4に向けて放射される。内周面4
は、その内径に応じて参照符34,35で示され
るように異なる。これらの各内周面34,35か
らの反射光は、フイルタ33から集光レンズ36
を介して受光素子21によつて受光される。内周
面34,35の内径が異なることによつて、受光
素子21における反射光の受光位置37,38が
異なる。
第7図は、受光素子21の正面図である。この
受光素子21は半導体から成る受光面39上に受
光し、一対の電極40,41間に直接電圧が印加
された状態で、もう1つの電極42,43間に流
れる電流が検出される。この電流値は、受光位置
37,38に依存して変化する。こうして電極4
2,43間の電流を検出することによつて、内周
面34,35の位置、したがつて内径を前述のよ
うに測定することができる。
第8図を参照して、第5図に示される処理手段
17の動作を説明する。スタートボタン31を第
8図1で示されるように時刻t1において押圧操作
する。これによつてレーザダイオード20は駆動
回路25によつて断続的に駆動され、この断続的
な駆動は簡略化して第8図2に示され、レーザダ
イオード20からの時刻t4の間の時間たとえば約
8秒にわたり、レーザ光が断続的に放射され、距
離l2の測定が行われる。最小値保持回路28は、
距離l2の複数の測定値のうちの最小値を選択し
て、第8図3で示されるように保持する動作を時
刻t2〜t4において行う。表示手段30は第8図4
で示されるように時刻t2〜t3において、前述の最
小値を表示する。
本考案によれば、内周面4は円形だけでなくそ
の他の形状であつてもよい。
光の受発信手段3は、本体2の立上り部6から
着脱自在とし、本体2の突起7,8の先端12,
14と立上り部6の長さl5(第1図参照)が異な
るものを複数種類予め準備しておき、内周面4の
内径に保持して本体2を選択して使用することに
よつて、各種の大きさの内周面4を測定すること
ができる。
考案の効果 以上のように本考案によれば、高精度で、しか
も簡便な作業性で、内周面4の測定を行うことが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の測定装置1の正面
図、第2図はその測定装置1の側面図、第3図は
測定装置1を用いて内周面4の測定動作を行うた
めの状態を示す斜視図、第4図は内周面4の内径
を測定することができる原理を示す図、第5図は
測定装置1の電気的構成を示すブロツク図、第6
図は光の受発信手段3を示す断面図、第7図は受
光素子21の正面図、第8図は第5図に示される
電気的構成の動作を説明するための図、第9図は
先行技術の正面図である。 1……測定装置、2……本体、3……光の受発
信手段、4……内周面、5……台部、6……立上
り部、7,8……突起、12,14……先端、1
7……処理手段、20……レーザダイオード、2
1……受光素子。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (a) 間隔をあけて2つの突起7,8を有する本体
    2と、 (b) 本体2に設けられ、突起7,8の先端12,
    14を結ぶ仮想直線4aに垂直な平面内で、前
    記先端12,14間の中央位置から突起7,8
    とは反対方向に光を放射する発光素子20と、
    前記平面内で発光素子20による反射光を受光
    する受光素子21とを有する光の受発信手段3
    と、 (c) 発光素子20を断続的に駆動する手段25
    と、 (d) 駆動手段25と受光素子21との出力に応答
    し、発光素子20からの光の反射位置と光の受
    発信手段3との間の距離l2を複数回測定する手
    段26と、 (e) 前記測定手段26によつて測定された前記距
    離l2のうち、最小の値を保持して出力する手段
    28,29,30とを含むことを特徴とする物
    体内周面の測定装置。
JP6708388U 1988-05-21 1988-05-21 Expired - Lifetime JPH0543368Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6708388U JPH0543368Y2 (ja) 1988-05-21 1988-05-21

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6708388U JPH0543368Y2 (ja) 1988-05-21 1988-05-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01171308U JPH01171308U (ja) 1989-12-05
JPH0543368Y2 true JPH0543368Y2 (ja) 1993-11-01

Family

ID=31292469

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6708388U Expired - Lifetime JPH0543368Y2 (ja) 1988-05-21 1988-05-21

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0543368Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4781552B2 (ja) * 2001-04-02 2011-09-28 株式会社 ソキア・トプコン 光波距離計

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01171308U (ja) 1989-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4521112A (en) Optical measuring device with position indicator
KR102298826B1 (ko) 브레이크 디스크의 열화 상태를 판단하기 위한 방법 및 도구
US6757069B2 (en) Laser non-contact thickness measurement system
US6279246B1 (en) Device and method for determining the position of a point
GB2453621A (en) Visual drilling depth indicator
JPH0543368Y2 (ja)
US6515294B1 (en) Device for precision alignment of shafts, rollers, axles, spindles or machine tools
JP3078078U (ja) 内径測定のためのレーザ変位センサ
US20020024674A1 (en) Device and process for measuring the parallelism and aligned position of rollers
JPH0626845A (ja) 小径深孔の真直度計測方法及び装置
JPH08122021A (ja) 寸法測定器
JP3040323B2 (ja) 放射温度計
JPS6188105A (ja) トンネルの断面測定装置
JPH0518646Y2 (ja)
US639560A (en) Caliper attachment.
JPH02113109U (ja)
JPH09189545A (ja) 距離測定装置
JPH0664112U (ja) 光源方向感知器のついた光波測距儀用反射鏡
JPS6317405U (ja)
JPH0263163B2 (ja)
GB2106642A (en) Position sensor
JPH0731127Y2 (ja) レーザ燈台を用いた測量装置の受光器
JPH10193154A (ja) レーザ加工機におけるノズル装置
JP2000105107A (ja) 受口の管挿入寸法測定方法
JPS62277508A (ja) 三次元測定器