JPH0541414Y2 - - Google Patents

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JPH0541414Y2
JPH0541414Y2 JP20036286U JP20036286U JPH0541414Y2 JP H0541414 Y2 JPH0541414 Y2 JP H0541414Y2 JP 20036286 U JP20036286 U JP 20036286U JP 20036286 U JP20036286 U JP 20036286U JP H0541414 Y2 JPH0541414 Y2 JP H0541414Y2
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amplifier
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Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この考案は、微小信号の有無を検出する微小信
号検出回路に係り、特に外乱の影響を受け易い光
学的な微小信号を電気信号として検出することの
できる微小信号検出回路に関する。
[Detailed description of the invention] (Industrial application field) This invention relates to a small signal detection circuit that detects the presence or absence of a small signal, and in particular detects a small optical signal that is easily affected by disturbance as an electrical signal. This invention relates to a small signal detection circuit capable of detecting small signals.

(従来の技術) 一般に、信号の検出測定のために二重積分回路
を用いる場合がある。例えば、特開昭57−148423
号公報が開示されている。この場合、第9図に示
すように、予め定めた時間t0の間入力電圧VX
積分し、この後予め定めた所定電圧V0で前とは
逆方向に積分して基準値に戻るまでの時間tXを測
定するようにし、この戻り時間tXから測定入力電
圧VXを検出するようにしている。すなわち、各
パラメータt0,tX,V0,VXの間には、 t0×VX=tX×V0 なる関係があり、パラメータt0,V0は既知である
ため、tXを計測することによりVXを知ることが
できる。
(Prior Art) Generally, a double integration circuit is sometimes used for signal detection and measurement. For example, JP-A-57-148423
No. 2 has been disclosed. In this case, as shown in Figure 9 , the input voltage V The time tX until the return time tX is measured, and the measured input voltage VX is detected from this return time tX . In other words, there is a relationship between the parameters t 0 , t X , V 0 , and V X as t 0 ×V X = t V X can be found by measuring .

(考案が解決しようとする問題点) しかし、このような二重積分回路によれば、入
力電圧VXが大きい場合には計測時間tXが長くな
り、また入力電圧VXが小さい場合には計測時間
tXは短くなるがこの時、計測精度を上げるために
は高精度時間測定を行わなければならない。この
ため、従来の二重積分回路をそのまま利用して
も、短時間で精度の良い入力信号の測定を簡単に
行うことは困難であつた。
(Problem that the invention attempts to solve) However, according to such a double integration circuit, when the input voltage V X is large, the measurement time t X becomes long, and when the input voltage V time to calculate
Although t For this reason, even if the conventional double integration circuit is used as is, it is difficult to easily measure input signals with high precision in a short time.

従つて、この考案は、二重積分回路を利用し、
入力信号が微小であつても良好な検出が可能であ
る微小信号検出回路を提供することを目的とす
る。
Therefore, this invention utilizes a double integration circuit,
It is an object of the present invention to provide a small signal detection circuit that can perform good detection even if the input signal is small.

(問題点を解決するための手段及び作用) この目的を達成するため、この考案によれば、
入力信号を増幅するAC増幅器5と、この増幅器
5の増幅出力を反転する反転回路7と、前記AC
増幅器5及び前記反転回路7の出力を順次同一時
間ずつ第1の積分時間内一定極性方向に積分しま
たこの後逆極性方向に予め定めた基準信号で予め
定めた第2の積分時間内積分する二重積分回路9
と、この二重積分回路9の前記第2の積分時間の
終了時にこの二重積分回路9の出力値が予め定め
た所定のしきい値よりも大きいか小さいかを判定
する判定回路11とを備えるようにする。
(Means and actions for solving the problem) In order to achieve this purpose, according to this invention,
An AC amplifier 5 that amplifies an input signal, an inversion circuit 7 that inverts the amplified output of this amplifier 5, and an AC amplifier 5 that amplifies an input signal;
The outputs of the amplifier 5 and the inverting circuit 7 are sequentially integrated for the same time in a constant polarity direction within a first integration time, and then integrated in a predetermined second integration time in the opposite polarity direction using a predetermined reference signal. Double integration circuit 9
and a determination circuit 11 that determines whether the output value of this double integration circuit 9 is larger or smaller than a predetermined threshold at the end of the second integration time of this double integration circuit 9. Be prepared.

このような構成によれば、入力信号が有る場合
には、その大きさに応じて交流増幅し、投光した
瞬間の受光変化信号及び投光offした瞬間の受光
変化信号を発生させてこれを積分し、しかも二重
積分を時間を限つて実行するようにしたことによ
り、短時間でも確実な信号判別が可能となる。
According to such a configuration, when there is an input signal, AC amplification is performed according to the magnitude of the input signal, and a light reception change signal at the moment when the light is emitted and a light reception change signal at the moment when the light emission is turned off are generated. By performing integration and double integration for a limited time, reliable signal discrimination is possible even in a short time.

(考案の実施例) 以下、添付図面に従つてこの考案の実施例を説
明する。なお、各図において同一の符号は同様の
対象を示すものとする。
(Embodiments of the invention) Examples of the invention will be described below with reference to the accompanying drawings. Note that the same reference numerals in each figure indicate similar objects.

第1図はこの考案の実施例に係る微小信号検出
回路の系統図である。同図によれば、信号検出回
路1により検出した信号(S1)は交流信号増幅回
路3で増幅されて信号(S2)となり、更に交流信
号増幅器5に入力される。この交流信号増幅回路
5の出力(S3)は二重積分回路9に供給されると
共に、反転回路7に入力されて極性反転され反転
信号(S4)が構成される。この反転信号(S4)も
二重積分回路9に供給される。このような信号
(S3)及び反転信号(S4)を二重積分回路9に供
給するタイミングを決定し、二重積分回路9に所
定の積分動作を実行させるのが積分タイミング制
御回路10の出力信号(S5)〜(S7)である。こ
のような二重積分回路9の最終積分値(S8)を判
定回路11の基準信号と比較し、信号検出回路1
の検出した信号(S1)が考慮すべき信号かどうか
を判定する。以下、これらを詳述する。
FIG. 1 is a system diagram of a small signal detection circuit according to an embodiment of this invention. According to the figure, a signal (S 1 ) detected by a signal detection circuit 1 is amplified by an AC signal amplification circuit 3 to become a signal (S 2 ), which is further input to an AC signal amplifier 5. The output (S 3 ) of the AC signal amplification circuit 5 is supplied to the double integration circuit 9 and is also input to the inversion circuit 7 to invert the polarity and form an inversion signal (S 4 ). This inverted signal (S 4 ) is also supplied to the double integration circuit 9. The integral timing control circuit 10 determines the timing of supplying such a signal (S 3 ) and the inverted signal (S 4 ) to the double integration circuit 9, and causes the double integration circuit 9 to perform a predetermined integration operation. The output signals are ( S5 ) to ( S7 ). The final integrated value (S 8 ) of the double integration circuit 9 is compared with the reference signal of the determination circuit 11, and the signal detection circuit 1
It is determined whether the detected signal (S 1 ) is a signal to be considered. These will be explained in detail below.

第2図は、フオトトランジスタ20及びトラン
ジスタ21をダーリントン接続して成る信号検出
回路1を有し、その後段の交流信号増幅回路3、
交流信号増幅基5、及び反転回路7を示してい
る。これらの回路は、回路全体の電源をオン状態
とした時点で、第3図aに示すようにこの基準電
圧VRに立上がる基準電圧発生回路(第4図)に
よりバイアスを与えられる。信号検出回路1は、
フオトトランジスタ20に所定の入力信号がある
と、第3図bに示すような検出信号(S1)を発生
する。しかし、信号光(A)が第5図に示すように外
光の擾乱(B)に重畳される形で到来する場合がある
ため(例えば、電灯照明下での信号光を検出する
場合、商用電源周波数に基づいて周囲の照度
(L)は時間(t)に対して変動している)、確実
な信号検出を実行するためにはこの擾乱(B)の影響
を排除する必要がある。そうでないと、信号が擾
乱に対して小さい場合に、時刻(t1)での信号は
検出されるが、時刻(t2)の信号は検出されない
こととなる。このため、演算増幅器22,23を
有する信号増幅回路3及び増幅器5を用い、入力
信号周波数に対して利得の異なるAC増幅を行い、
このような擾乱の影響を排除するようにしてい
る。このような信号増幅回路3の出力信号(S2
は、第3図cに示すようであり、これを交流信号
増幅器5(AC増幅器でもよい)で増幅して同図
dのような交流増幅信号(S3)を得る。この出力
信号(S3)のうちの立下がり信号(S3a)が検出
信号(S1)の開始時(立下がり)を示し、立上が
り信号(S3b)が検出信号S1の終了時(立上が
り)を示す。又、この信号(S3a),(S3b)は擾
乱によるうねり分を含む。
FIG. 2 has a signal detection circuit 1 consisting of a phototransistor 20 and a transistor 21 connected in Darlington, and an AC signal amplification circuit 3 at the subsequent stage.
An AC signal amplification group 5 and an inversion circuit 7 are shown. These circuits are biased by the reference voltage generating circuit (FIG. 4) which rises to the reference voltage V R as shown in FIG. 3a when the power of the entire circuit is turned on. The signal detection circuit 1 is
When the phototransistor 20 receives a predetermined input signal, it generates a detection signal (S 1 ) as shown in FIG. 3b. However, as shown in Figure 5, the signal light (A) may arrive superimposed on the external light disturbance (B) (for example, when detecting the signal light under electric lighting, The ambient illuminance (L) varies with time (t) based on the power supply frequency), and it is necessary to eliminate the influence of this disturbance (B) in order to perform reliable signal detection. Otherwise, if the signal is small with respect to the disturbance, the signal at time (t 1 ) will be detected, but the signal at time (t 2 ) will not be detected. For this purpose, AC amplification with different gains is performed on the input signal frequency using the signal amplification circuit 3 and the amplifier 5 having operational amplifiers 22 and 23.
We are trying to eliminate the effects of such disturbances. The output signal (S 2 ) of such a signal amplification circuit 3
is as shown in FIG. 3c, and is amplified by the AC signal amplifier 5 (an AC amplifier may be used) to obtain an AC amplified signal (S 3 ) as shown in FIG. 3d. The falling signal (S 3 a) of this output signal (S 3 ) indicates the start time (falling edge) of the detection signal (S 1 ), and the rising signal (S 3 b) indicates the end time of the detection signal S 1 (rise). Furthermore, these signals (S 3 a) and (S 3 b) include waviness due to disturbance.

そして、前記二重積分回路9で、まず前記立下
がり信号(S3a)を積分する。次に前記立上がり
信号(S3b)を前記反転回路7で反転し、その結
果得られた反転信号(S4b)を積分する。
Then, the double integration circuit 9 first integrates the falling signal (S 3 a). Next, the rising signal (S 3 b) is inverted by the inverting circuit 7, and the resulting inverted signal (S 4 b) is integrated.

最後に、この両者の積分値を加算すると擾乱に
よるうねり分を相殺した検出信号の積分値 (−(S3a+S4b))が得られる。すなわち、擾
乱は反転の前後において略等しいと考えられるた
め、これを反転したものと反転しないものとの加
算値は略零となるからである。従つて、擾乱分を
除き本来必要な積分値を得ることができ、微小信
号に対しても有効な積分が可能となる。
Finally, by adding these two integral values, an integral value (-(S 3 a+S 4 b)) of the detection signal is obtained in which the waviness due to disturbance is canceled. In other words, since the disturbance is considered to be approximately equal before and after the inversion, the sum of the inverted and non-inverted disturbances is approximately zero. Therefore, the originally necessary integral value can be obtained by removing the disturbance component, and effective integration is possible even for minute signals.

第6図は二重積分回路9の周辺の構成を示した
ものである。同図によれば、二重積分回路9は、
演算増幅器31、比較器32、インバータ33、
フリツプフロツプ34、出力トランジスタ35な
どを備えており、アナログスイツチ36〜39に
より各信号k(S3)、l(S4)、及び逆積分用基準信
号V0を供給し、又は二重積分回路9を積分可能
な待機状態とするゼロイングを実行するための閉
回路を構成する。このようなアナログスイツチ3
6〜39を駆動するのが積分タイミング制御回路
10(第1図)であり、第6図に示すようにシフ
トレジスタ40及び積分タイミング発生回路41
などにより構成し、駆動信号発生回路42、1/2
分周器43、並びにフリツプフロツプ44により
作動させる。第7図はこのような構成要素を含む
第6図各部の出力信号を示すタイミングチヤート
であり、第7図の各波形の符号(a)〜(m)は第6図内
の信号符号(a)〜(m)に対応する。なお、他の図面と
異なる符号を同一信号に付した場合は、対応する
信号を図面中のカツコ内に後記した。
FIG. 6 shows the configuration around the double integration circuit 9. According to the figure, the double integration circuit 9 is
operational amplifier 31, comparator 32, inverter 33,
It is equipped with a flip-flop 34, an output transistor 35, etc., and supplies each signal k (S 3 ), l (S 4 ), and reference signal V 0 for inverse integration through analog switches 36 to 39, or a double integration circuit 9. A closed circuit is constructed to perform zeroing in which is in an integrable standby state. Analog switch 3 like this
The integral timing control circuit 10 (FIG. 1) drives the shift register 40 and the integral timing generating circuit 41 as shown in FIG.
Drive signal generation circuit 42, 1/2
It is operated by a frequency divider 43 and a flip-flop 44. FIG. 7 is a timing chart showing the output signals of each part in FIG. 6 including such components, and the symbols (a) to (m) of each waveform in FIG. ) to (m). In addition, when the same signal is given a code different from that in other drawings, the corresponding signal is written later in brackets in the drawing.

先ず、回路が起動すると駆動信号発生回路42
がクロツク信号(a)を発生し、また、リセツト信号
(R1)を発生する。このクロツク信号(a)を1/2分
周期43により分周出力(b)に変換する。リセツト
信号(R1)はシフトレジスタ40、分周器43
をクリアし、フリツプフロツプ44をセツトす
る。この分周出力(b)はシフトレジスタ40に供給
され、シフトレジスタ40はフリツプフロツプ4
4の出力信号(c)の下で起動する。起動したシフト
レジスタ40は、分周されたクロツク信号(b)のタ
イミングに従つて、各ステージの出力(Q1)〜
(Q4)に順次信号(d)〜(g)を発生する。ここで、第
1に発生するシフトレジスタ40のステージ
(Q1)の出力(d)は、フリツプフロツプ44をリセ
ツト((R2)信号による)するため駆動信号発生
回路42に送出されると共に、アナログスイツチ
39をオン状態とし、演算増幅器31の入出力端
を短絡し積分コンデンサを放電しゼロイングを実
行するとともにDラツチをクリアする。次に第2
に発生するシフトレジスタ40のステージ(Q2
の出力(e)は、積分タイミング発生回路41に入力
され、信号(e)の持続時間を信号(i),(j)に分割す
る。信号(i)はアナログスイツチ36をオン状態と
して、交流信号増幅器5(第1図又は第2図)の
出力信号(k)(S3)を二重積分回路9に供給し、積
分を開始する。この信号(i)に引続く信号(j)はアナ
ログスイツチ37をオン状態として、交流信号増
幅器5の出力を反転する反転回路7(第1図又は
第2図)の出力である反転信号l(S4)を二重積
分回路9に供給し、引続き積分を実行する。第3
に発生するシフトレジスタ40のステージ(Q3
の出力(f)は、アナログスイツチ38をオン状態と
して基準信号V0を供給し二重積分回路9に今ま
でとは逆方向への積分(逆積分)を開始させる。
このような二重積分回路9の出力(p)は演算増幅器
31の出力端で得られ、この出力(p)の様子を第7
図pに示す。判定回路11は比較器32、インバ
ータ33、Dラツチ34、トランジスタ35から
成り、比較器は積分出力pを基準電圧と比較す
る。比較出力をインバータ33によりロジツク信
号に整形しDラツチ入力としている。
First, when the circuit starts up, the drive signal generation circuit 42
generates the clock signal (a) and also generates the reset signal (R 1 ). This clock signal (a) is converted into a frequency-divided output (b) by a 1/2 cycle 43. The reset signal (R 1 ) is sent to the shift register 40 and the frequency divider 43.
is cleared and flip-flop 44 is set. This frequency-divided output (b) is supplied to a shift register 40, and the shift register 40 is connected to a flip-flop 4.
It starts under the output signal (c) of 4. The activated shift register 40 outputs the outputs (Q 1 ) to 1 of each stage according to the timing of the frequency-divided clock signal (b).
Signals (d) to (g) are sequentially generated at (Q 4 ). Here, the first output (d) of the stage (Q 1 ) of the shift register 40 is sent to the drive signal generation circuit 42 in order to reset the flip-flop 44 (by the (R 2 ) signal), and is also sent to the analog The switch 39 is turned on, the input and output terminals of the operational amplifier 31 are shorted, the integrating capacitor is discharged, zeroing is executed, and the D latch is cleared. Then the second
The stage (Q 2 ) of the shift register 40 that occurs in
The output (e) is input to an integral timing generation circuit 41, which divides the duration of the signal (e) into signals (i) and (j). The signal (i) turns on the analog switch 36, supplies the output signal (k) (S 3 ) of the AC signal amplifier 5 (Fig. 1 or 2) to the double integration circuit 9, and starts integration. . The signal (j) following this signal (i) turns on the analog switch 37 and generates an inverted signal l( S 4 ) is supplied to the double integration circuit 9 and the integration is subsequently performed. Third
The stage of the shift register 40 (Q 3 ) that occurs in
The output (f) turns on the analog switch 38, supplies the reference signal V0 , and causes the double integration circuit 9 to start integration in the opposite direction (inverse integration).
The output (p) of such a double integration circuit 9 is obtained at the output terminal of the operational amplifier 31, and the state of this output (p) is
Shown in Figure p. The determination circuit 11 consists of a comparator 32, an inverter 33, a D latch 34, and a transistor 35, and the comparator compares the integral output p with a reference voltage. The comparison output is shaped into a logic signal by an inverter 33 and is input to the D latch.

第4に発生するシフトレジスタ40のステージ
(Q4)の出力(g)は、Dラツチにクロツク入力さ
れ、判定タイミングを与える。従つて、判定回路
11は、タイミング信号(m)が発生した時点の二重
積分回路9の出力積分値(p)と自己の基準値との比
較結果をラツチし、入力信号(S1)を必要な検出
信号とするかどうかを判定する。例えば、第7図
pの曲線(p1)の場合は検出信号と判定し、曲
線(p2)の場合は検出信号ではないと判定する。
The output (g) of the fourth stage (Q 4 ) of the shift register 40 is clocked into the D latch to provide decision timing. Therefore, the determination circuit 11 latches the comparison result between the output integral value (p) of the double integration circuit 9 at the time when the timing signal (m) is generated and its own reference value, and determines the input signal (S 1 ). Determine whether it is a necessary detection signal. For example, the curve (p1) in FIG. 7 p is determined to be a detection signal, and the curve (p2) is determined not to be a detection signal.

このような二重積分回路9を有する微小信号検
出回路は、例えば第8図に示すような給水制御装
置に用いることができる。この種の給水制御装置
によれば、センサユニツト70の投光ドライバ7
1により発生する赤外線の人体72により反射光
をセンサ1を有する増幅回路3(それぞれ第1図
の信号検出回路1及び信号増幅回路3に対応す
る)により検出する。この際、反射光は極めて弱
くまた室内照明などの擾乱の影響があるため、検
出ユニツト80に前述の二重積分回路9及び判定
回路11を装備しておくことにより、望ましい制
御が可能となる。
A minute signal detection circuit having such a double integration circuit 9 can be used, for example, in a water supply control device as shown in FIG. According to this type of water supply control device, the light projection driver 7 of the sensor unit 70
An amplifier circuit 3 (corresponding to the signal detection circuit 1 and signal amplification circuit 3 in FIG. 1, respectively) having a sensor 1 detects infrared light reflected by the human body 72 generated by the sensor 1. At this time, since the reflected light is extremely weak and is affected by disturbances such as indoor lighting, desirable control can be achieved by equipping the detection unit 80 with the aforementioned double integration circuit 9 and determination circuit 11.

(考案の効果) この考案によれば、以上のように入力信号を交
流増幅し、この増幅信号に基づいて一定時間に限
り二重積分を実行することにより、短時間でも正
確な検出信号の判別が可能な微小信号検出回路を
得ることができる。また、積分に際して交流増幅
信号及びその反転信号により積分するため擾乱の
影響を排除できる。
(Effects of the invention) According to this invention, by AC amplifying the input signal as described above and performing double integration for a certain period of time based on this amplified signal, accurate detection signal discrimination can be performed even in a short time. It is possible to obtain a small signal detection circuit that is capable of Furthermore, since the integration is performed using the AC amplified signal and its inverted signal, the influence of disturbance can be eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの考案の実施例に係る微小信号検出
回路の概略系統図、第2図はこの考案の実施例に
係る微小信号検出回路の要部系統図、第3図は第
2図の各部の信号波形図、第4図はこの考案の実
施例に係る微小信号検出回路の他の要部回路図、
第5図はこの考案の実施例に係る微小信号検出回
路の要部動作の説明図、第6図はこの考案の実施
例に係る微小信号検出回路の要部系統図、第7図
は第6図の各部の信号のタイミングチヤート、第
8図はこの考案の実施例に係る微小信号検出回路
の適用例の系統図、第9図は従来装置の動作説明
図である。 図面において、1は信号検出回路、3,5は交
流信号増幅回路、5は交流信号増幅器、7は反転
回路、9は二重積分回路、10は積分タイミング
制御回路、11は判定回路、V0は基準信号であ
る。
Fig. 1 is a schematic system diagram of a small signal detection circuit according to an embodiment of this invention, Fig. 2 is a main part system diagram of a small signal detection circuit according to an embodiment of this invention, and Fig. 3 is a schematic diagram of each part of Fig. 2. FIG. 4 is a circuit diagram of another main part of the minute signal detection circuit according to the embodiment of this invention.
FIG. 5 is an explanatory diagram of the operation of the main parts of the small signal detection circuit according to the embodiment of this invention, FIG. 6 is a system diagram of the main parts of the small signal detection circuit according to the embodiment of this invention, and FIG. FIG. 8 is a system diagram of an application example of the minute signal detection circuit according to the embodiment of the present invention, and FIG. 9 is an explanatory diagram of the operation of the conventional device. In the drawing, 1 is a signal detection circuit, 3 and 5 are AC signal amplification circuits, 5 is an AC signal amplifier, 7 is an inversion circuit, 9 is a double integration circuit, 10 is an integration timing control circuit, 11 is a judgment circuit, and V 0 is the reference signal.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 入力信号を増幅するAC増幅器と、このAC増幅
器の出力を反転する反転回路と、前記AC増幅器
及び前記反転回路の出力を順次同一時間ずつ第1
の積分時間内一定極性方向に積分しまたこの後逆
極性方向に予め定めた基準信号で予め定めた第2
の積分時間内積分する二重積分回路と、この二重
積分回路の前記第2の積分時間の終了後にこの二
重積分の出力値が予め定めた所定のしきい値より
も大きいか小さいかを判断する判定回路とを備え
て成る微小信号検出回路。
An AC amplifier that amplifies an input signal, an inversion circuit that inverts the output of this AC amplifier, and a first
Integrate in a certain polarity direction within an integration time of , and then integrate in a predetermined second
A double integration circuit that integrates within an integration time of A small signal detection circuit comprising a judgment circuit for making a judgment.
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JPS63105876U (en) 1988-07-08

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