JPH0540010A - Coaxial scanning tunneling microscope - Google Patents

Coaxial scanning tunneling microscope

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JPH0540010A
JPH0540010A JP3199464A JP19946491A JPH0540010A JP H0540010 A JPH0540010 A JP H0540010A JP 3199464 A JP3199464 A JP 3199464A JP 19946491 A JP19946491 A JP 19946491A JP H0540010 A JPH0540010 A JP H0540010A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
scanning tunneling
photographing
microscope
unit
Prior art date
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Pending
Application number
JP3199464A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Matsushiro
弘之 松代
Tetsuji Konuki
哲治 小貫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP3199464A priority Critical patent/JPH0540010A/en
Publication of JPH0540010A publication Critical patent/JPH0540010A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain a coaxial scanning tunneling microscope which can easily position the tip of a probe to the center of the observatory visual field of an optical microscope even when the probe is exchanged. CONSTITUTION:This coaxial scanning tunneling microscope provided with a scanning tunneling microscope section equipped with a probe 14, optical microscope section for observing the tip image of the probe 14, and photographing section which takes the picture of at least part of an image formed by the optical microscope as a picture to be observed, has an aligning means 5 which moves the photographing section 1 in the direction perpendicular to the axial direction of the probe 14.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光学顕微鏡と走査型ト
ンネル顕微鏡を、同軸上に配置した同軸型走査トンネル
顕微鏡に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a coaxial scanning tunnel microscope in which an optical microscope and a scanning tunnel microscope are coaxially arranged.

【0002】[0002]

【従来の技術】走査型トンネル顕微鏡と、光学顕微鏡と
を、同軸上に配置した同軸型走査トンネル顕微鏡の開発
が進んでいる。同軸型走査トンネル顕微鏡は、走査型ト
ンネル顕微鏡の探針の軸方向と、光学顕微鏡の光軸方向
が一致するように、これらの顕微鏡を配置した一体型の
顕微鏡である。同軸型走査トンネル顕微鏡では、走査型
トンネル顕微鏡の探針の先端と、測定対象物とを、光学
顕微鏡の同視野内において同時に観察することができ
る。そのため、測定対象物への探針の位置合わせや、探
針の先端の観察を容易に行なうことができ、近年注目さ
れている。
2. Description of the Related Art A coaxial scanning tunneling microscope in which a scanning tunneling microscope and an optical microscope are coaxially arranged has been developed. The coaxial scanning tunneling microscope is an integrated microscope in which these microscopes are arranged so that the axial direction of the probe of the scanning tunneling microscope and the optical axis direction of the optical microscope coincide with each other. In the coaxial scanning tunneling microscope, the tip of the probe of the scanning tunneling microscope and the measuring object can be observed simultaneously within the same field of view of the optical microscope. Therefore, the position of the probe with respect to the measuring object can be easily adjusted and the tip of the probe can be easily observed.

【0003】従来の、同軸型トンネル顕微鏡の一部を、
図4を用いて説明する。図4は、走査型トンネル顕微鏡
部の探針および探針の駆動部分の一部と、光学顕微鏡部
の対物レンズ部を示すものである。走査型トンネル顕微
鏡の探針14は、平行平板ガラス15の中心部に固定さ
れ、これらはさらに探針を走査するためのチューブスキ
ャナ16に取り付けられている。光学顕微鏡の対物レン
ズ17は、光学顕微鏡の支柱18に取り付けられてい
る。対物レンズ17の光軸は、探針14の軸14aに一
致するように配置されており、また、対物レンズ17の
焦点は、探針の先端14bに一致するように位置合わせ
されている。観察者は、光学顕微鏡で、平行平板ガラス
15を通して、探針の先端14bおよび観察対象物を観
察することができる。
A part of the conventional coaxial tunnel microscope is
This will be described with reference to FIG. FIG. 4 shows a part of a probe of the scanning tunneling microscope part and a driving part of the probe, and an objective lens part of the optical microscope part. The probe 14 of the scanning tunneling microscope is fixed to the central portion of the parallel plate glass 15, and these are further attached to the tube scanner 16 for scanning the probe. The objective lens 17 of the optical microscope is attached to a column 18 of the optical microscope. The optical axis of the objective lens 17 is arranged so as to coincide with the axis 14a of the probe 14, and the focus of the objective lens 17 is aligned so as to coincide with the tip 14b of the probe. An observer can observe the tip 14b of the probe and the observation object through the parallel plate glass 15 with an optical microscope.

【0004】従って従来の同軸型走査トンネル顕微鏡で
は、探針14を損傷した場合、探針14が中心部に取り
付けられた平行平板ガラス15ごと交換していた。
Therefore, in the conventional coaxial scanning tunneling microscope, when the probe 14 is damaged, the probe 14 is replaced with the parallel flat plate glass 15 attached to the central portion.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
同軸型走査トンネル顕微鏡においては、走査型トンネル
顕微鏡の探針を、探針を含んだ平行平板ごと交換した場
合、探針の軸と光学顕微鏡の光軸を一致させなければな
らなかった。光学顕微鏡の倍率は、高倍率であるため、
ミクロンオーダの取付精度が必要であり、わずかなズレ
でも、探針の先端が、光学顕微鏡の観察視野の中心から
はずれていた。また、観察視野内における探針の位置に
よっては、走査型トンネル顕微鏡の走査範囲の一部が、
観察視野からはみ出てしまうため、走査型トンネル顕微
鏡の走査範囲の全部を光学顕微鏡で観察できなくなり、
観察に支障をきたしていた。また、観察視野外の試料や
異物が存在する場合には、光学顕微鏡で確認できないた
め、探針が損傷することがあった。
As described above, in the conventional coaxial scanning tunneling microscope, when the probe of the scanning tunneling microscope is replaced with the parallel flat plate including the probe, the probe axis is replaced with the axis of the probe. The optical axes of the light microscope had to be aligned. Since the magnification of an optical microscope is high,
Micron-order mounting accuracy was required, and the tip of the probe was off the center of the observation field of the optical microscope even with slight misalignment. Also, depending on the position of the probe in the observation field of view, a part of the scanning range of the scanning tunneling microscope is
Since it goes out of the observation field of view, the entire scanning range of the scanning tunneling microscope cannot be observed with the optical microscope,
It hindered the observation. In addition, when there is a sample or foreign matter outside the observation field of view, the probe may be damaged because it cannot be confirmed by an optical microscope.

【0006】そのため従来では、探針の軸と光学顕微鏡
の光軸を一致させるために、交換用の探針および平行平
板ガラスには、厳しい精度が要求され、また、探針の平
行平板ガラスの中心からのわずかなズレや、探針のわず
かな曲がりも許されず、製造コストがかかり、高価なも
のになっていた。また、取り付け時の取り付け方によっ
ても、容易にわずかなズレが生じるため、取付者は、熟
練を要求されていた。
Therefore, in the prior art, in order to match the axis of the probe with the optical axis of the optical microscope, strict accuracy is required for the replacement probe and the parallel flat glass, and the parallel flat glass of the probe is required. Even slight deviation from the center and slight bending of the probe were not allowed, resulting in high manufacturing costs and high prices. In addition, a slight deviation easily occurs depending on the mounting method at the time of mounting, so that the installer is required to have skill.

【0007】本発明は、上記課題を解決することを目的
とする。
An object of the present invention is to solve the above problems.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、探針を
有する走査型トンネル顕微鏡部と、前記探針の先端像を
観察するための光学顕微鏡部と、前記光学顕微鏡の結像
の少なくとも一部を撮影し、観察画像とする撮影部とを
有する同軸型走査トンネル顕微鏡において、前記撮影部
を前記探針の軸方向に対して垂直な方向に移動する位置
合わせ手段を有することを特徴とする同軸型走査トンネ
ル顕微鏡が提供される。
According to the present invention, at least a scanning tunneling microscope section having a probe, an optical microscope section for observing a tip image of the probe, and at least image formation of the optical microscope. In a coaxial scanning tunneling microscope having a photographing unit that photographs a part of the image and uses it as an observation image, the coaxial scanning tunneling microscope has a positioning unit that moves the photographing unit in a direction perpendicular to the axial direction of the probe. A coaxial scanning tunneling microscope is provided.

【0009】前記光学顕微鏡部は開口部を設けた鏡筒を
有し、前記開口部に前記撮影部を前記方向に移動可能に
する遊びをもって装着するための連結部と、前記遊びを
規制し前記撮影部を固定するために前記開口部に設けら
れた規制手段とを有することができる。
The optical microscope section has a lens barrel having an opening, and a connecting section for mounting the photographing section in the opening with a play that allows the photographing section to move in the direction, and the play restricting the play. It is possible to have a restricting means provided in the opening for fixing the photographing unit.

【0010】前記規制手段は、前記遊びの範囲内で前記
撮影部を前記鏡筒に対し任意の位置に固定するものであ
ることが可能である。
The restricting means may fix the photographing section to an arbitrary position with respect to the lens barrel within the play range.

【0011】[0011]

【作用】本発明では、探針を有する走査型トンネル顕微
鏡部と探針の先端像を観察するための光学顕微鏡部が同
軸上に配置された同軸型走査トンネル顕微鏡において、
光学顕微鏡の結像の一部を観察画像として撮影する撮影
部を、探針の軸方向に垂直な方向に移動させることによ
り、前記探針の先端画像を、前記観察画像の任意の位置
に位置合わせすることができる。
According to the present invention, in the coaxial scanning tunneling microscope in which the scanning tunneling microscope unit having the probe and the optical microscope unit for observing the tip image of the probe are coaxially arranged,
By moving the image capturing unit that captures a part of the image formed by the optical microscope as an observation image, the tip image of the probe is positioned at an arbitrary position of the observation image by moving in a direction perpendicular to the axial direction of the probe. Can be matched.

【0012】前記光学顕微鏡の鏡筒に、遊びをもって撮
影部を連結し、規制手段によって撮影部を固定する。規
制手段は、遊びの範囲内で撮影部を移動し、任意の位置
で固定することにより、探針の先端画像を、観察画像の
任意の位置に位置合わせすることができる。
The photographing section is connected to the lens barrel of the optical microscope with play, and the photographing section is fixed by the restricting means. The restricting unit moves the imaging unit within the play range and fixes it at an arbitrary position, so that the tip image of the probe can be aligned with an arbitrary position of the observation image.

【0013】[0013]

【実施例】本発明の一実施例を、図面を用いて説明す
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0014】図1に、本発明の、同軸型走査トンネル顕
微鏡の構造の一部の断面図を示す。図1に示すように、
本発明の同軸型走査トンネル顕微鏡の下部には、光学顕
微鏡部の対物レンズ17a、17bからなる対物レンズ
部17と、鏡筒17cがあり、鏡筒17cは、光学顕微
鏡支柱18に固定されている。対物レンズ17bの中央
部には、貫通孔が開けられており、走査型トンネル顕微
鏡のチューブスキャナ16が貫通している。チューブス
キャナ16の先端には、平行平板ガラス15が取り付け
られており、平行平板ガラス15の中央部には、探針1
4が固定されている。探針は、チューブスキャナ16に
より、走査される。チューブスキャナ16は、走査型ト
ンネル顕微鏡支柱19に取り付けられている。
FIG. 1 is a sectional view showing a part of the structure of the coaxial scanning tunneling microscope of the present invention. As shown in Figure 1,
At the bottom of the coaxial scanning tunneling microscope of the present invention, there is an objective lens section 17 composed of objective lenses 17a and 17b of an optical microscope section, and a lens barrel 17c. The lens barrel 17c is fixed to an optical microscope column 18. .. A through hole is formed in the center of the objective lens 17b, and the tube scanner 16 of the scanning tunneling microscope penetrates through the through hole. The parallel plate glass 15 is attached to the tip of the tube scanner 16, and the probe 1 is attached to the center of the parallel plate glass 15.
4 is fixed. The probe is scanned by the tube scanner 16. The tube scanner 16 is attached to the scanning tunnel microscope column 19.

【0015】上部には、対物レンズ部17の結像の一部
を撮影するために、CCD撮像素子2を内部に有する撮
影装置1が、カメラマウント4および位置合わせ用部材
5を介して、鏡筒8上に搭載されている。撮影装置1の
カメラマウント4は、ネジ5aにより、位置合わせ用部
材5に固定されており、位置合わせ用部材5は、鏡筒8
の摺動面8a上を摺動する。つまり、摺動面8a、カメ
ラマウント4、位置合わせ用部材5とで、鏡筒8と撮影
装置1との連結部を構成している。
In the upper part, a photographing device 1 having a CCD image pickup device 2 therein for photographing a part of the image formed by the objective lens portion 17 is provided with a mirror through a camera mount 4 and a positioning member 5. It is mounted on the cylinder 8. The camera mount 4 of the image capturing apparatus 1 is fixed to the alignment member 5 with a screw 5a, and the alignment member 5 includes the lens barrel 8
Slides on the sliding surface 8a. That is, the sliding surface 8a, the camera mount 4, and the positioning member 5 form a connecting portion between the lens barrel 8 and the image capturing apparatus 1.

【0016】図2は、図1の位置A−Aの断面図であ
る。図2に示すように、撮影装置1の位置合わせ用部材
5は、治具9xにより、バネ6xの力を加えられ、反対
側に設けられた送りネジ7xに押しつけられており、送
りネジ7xの送り出しにより、x方向に摺動する。また
同様に、治具9yにより、バネ6yの力を加えられ、反
対側に方向に設けられた送りネジ7yに押しつけられて
おり、送りネジ7yの送り出しにより、y方向に摺動す
る。
FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA in FIG. As shown in FIG. 2, the alignment member 5 of the image capturing apparatus 1 is pressed by the jig 6x against the feed screw 7x provided on the opposite side by the force of the spring 6x applied by the jig 9x. It slides in the x direction when it is sent out. Similarly, the jig 9y applies the force of the spring 6y and presses it against the feed screw 7y provided on the opposite side, and the feed screw 7y feeds it to slide in the y direction.

【0017】対物レンズ部17と探針14は、対物レン
ズ部17の焦点が、探針14の先端14bと一致するよ
うに位置合わせされている。また、対物レンズ部17の
光軸と、探針14の軸14aが、ほぼ一致するように位
置合わせがなされている。対物レンズ部17による探針
14の先端および試料表面の像は、CCD撮像素子2の
撮像面3上に結像する。対物レンズ部17の結像は、撮
像素子2の撮像面積より大きくなっており、撮像素子2
が、結像の一部を撮映することで、表示する観察像の拡
大倍率をさらにあげている。撮映された結像の一部は、
撮像素子2により撮像され、画像表示装置(図示せず)
により、図3のように、表示される。図3において、撮
像素子により撮影された観察視野3aには、試料表面像
13および探針先端像11が映し出されている。探針1
4の先端14bは、チューブスキャナ16により、走査
範囲12を走査する。従って、図3のように探針14の
先端14bと観察視野3aの中心3bが、わずかにずれ
ている場合、探針14の走査範囲12の一部は、観察視
野3aからはずれ、観察に支障をきたす。
The objective lens unit 17 and the probe 14 are aligned so that the focus of the objective lens unit 17 coincides with the tip 14b of the probe 14. Further, the optical axis of the objective lens unit 17 and the axis 14a of the probe 14 are aligned so as to substantially coincide with each other. The image of the tip of the probe 14 and the sample surface by the objective lens unit 17 is formed on the image pickup surface 3 of the CCD image pickup device 2. The image formation of the objective lens unit 17 is larger than the image pickup area of the image pickup element 2, and
However, by enlarging a part of the image formation, the magnification of the displayed observation image is further increased. A part of the imaged image is
An image display device (not shown) that is imaged by the image sensor 2
Is displayed as shown in FIG. In FIG. 3, a sample surface image 13 and a probe tip image 11 are displayed in an observation visual field 3a taken by the image pickup device. Probe 1
The tip end 14b of No. 4 scans the scanning range 12 by the tube scanner 16. Therefore, when the tip 14b of the probe 14 and the center 3b of the observation visual field 3a are slightly deviated as shown in FIG. 3, a part of the scanning range 12 of the probe 14 is deviated from the observation visual field 3a and obstructs the observation. Cause

【0018】本発明では、図3のように、探針14の先
端14bの走査範囲12が、観察視野3aからはみ出し
ている場合、上述の送りネジ7xおよび7yを送り出す
ことにより、撮影装置1をxy方向に移動させる。撮影
装置1内の撮像素子2は、これにともない移動するた
め、対物レンズ部17の結像の、撮像する部分を変え、
探針14の先端14bの走査範囲12を、観察視野3a
内におさめることができる。
According to the present invention, as shown in FIG. 3, when the scanning range 12 of the tip 14b of the probe 14 is out of the observation visual field 3a, the above-mentioned feed screws 7x and 7y are fed out so that the photographing apparatus 1 is moved. Move in xy directions. Since the image pickup device 2 in the image pickup apparatus 1 moves accordingly, the image pickup portion of the image formation of the objective lens unit 17 is changed,
The scanning range 12 of the tip 14b of the probe 14 is set to the observation field 3a.
Can be stored within.

【0019】従って、本実施例の同軸型走査トンネル顕
微鏡では、探針14の交換時に、探針14の軸が、対物
レンズの光軸14aから完全に一致していない場合で
も、送りネジ7x,7yを用いて、撮影装置1を移動す
ることにより、観察視野の中心3bと探針の先端像11
を一致させることができる。そのため、探針交換時に
は、従来、探針をずらすことによって、観察視野の中心
に探針先端をもってくるための煩雑の動作を、送りネジ
を用いて容易に行なうことができる。
Therefore, in the coaxial scanning tunneling microscope of the present embodiment, when the probe 14 is replaced, even if the axis of the probe 14 is not completely aligned with the optical axis 14a of the objective lens, the feed screw 7x, By moving the imaging device 1 using 7y, the center 3b of the observation field and the tip image 11 of the probe
Can be matched. Therefore, when exchanging the probe, conventionally, by shifting the probe, a complicated operation for bringing the tip of the probe to the center of the observation visual field can be easily performed using the feed screw.

【0020】次に、本発明の第2の実施例を、図5、図
6を用いて説明する。図5に示すように、本実施例で
は、第1の実施例で用いたバネ6に代わりに、磁石10
x、10yを配置し、磁石10x、10yが、送りねじ
7x、7yに引き付けられる力により、位置合わせ用部
材5を送りネジ7に連結させている。図5の位置B−B
における断面図を、図6に示す。図6に示すように、位
置合わせ用部材5のx方向に配置された磁石10xは、
送りネジ7xに引き付けられることにより、位置合わせ
用部材5をx方向に送りネジ7xに連結させている。ま
た、位置合わせ用部材5のy方向に配置された磁石10
yは、送りネジ7yに引き付けられることにより、位置
合わせ用部材5をy方向に、送りネジ7yに連結させて
いる。従って送りネジ7x、7yを送り出すことによ
り、容易に撮影装置1をxy方向に移動することができ
る。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 5, in this embodiment, instead of the spring 6 used in the first embodiment, a magnet 10 is used.
x and 10y are arranged, and the magnets 10x and 10y connect the positioning member 5 to the feed screw 7 by the force attracted to the feed screws 7x and 7y. Position BB in FIG.
FIG. 6 shows a cross-sectional view of FIG. As shown in FIG. 6, the magnet 10x arranged in the x direction of the alignment member 5 has
By being attracted to the feed screw 7x, the positioning member 5 is connected to the feed screw 7x in the x direction. Further, the magnet 10 arranged in the y direction of the alignment member 5
By being attracted to the feed screw 7y, y connects the positioning member 5 to the feed screw 7y in the y direction. Therefore, by sending out the feed screws 7x and 7y, the photographing apparatus 1 can be easily moved in the xy directions.

【0021】図5の磁石10a、10bは、位置合わせ
用部材5をz方向に引き付け、撮影装置1を鏡筒8に密
着させ転倒を防ぐ。他の構成は、上述の第1の実施例と
同様であるので説明を省略する。
The magnets 10a and 10b shown in FIG. 5 attract the alignment member 5 in the z-direction and bring the photographing apparatus 1 into close contact with the lens barrel 8 to prevent it from falling. The other structure is the same as that of the first embodiment described above, and thus the description thereof is omitted.

【0022】従って、本発明の実施例においても、第1
の実施例と同様に、探針の先端像を送りネジの送り出し
によって、観察視野の中心に位置合わせすることができ
る。本発明を用いることにより、探針の交換時に、探針
の軸と、対物レンズの光軸にわずかなズレが生じても、
容易に観察視野の中心に探針の先端像を位置合わせする
ことができる。
Therefore, even in the embodiment of the present invention, the first
Similar to the embodiment described above, the tip image of the probe can be aligned with the center of the observation visual field by feeding out the feed screw. By using the present invention, even if a slight deviation occurs between the axis of the probe and the optical axis of the objective lens when replacing the probe,
The tip image of the probe can be easily aligned with the center of the observation visual field.

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明においては、撮影装置を位置合わ
せするための位置合わせ手段を設けることにより、探針
の先端像と観察視野中心のズレを容易に位置合わせする
ことができる。
According to the present invention, by providing the alignment means for aligning the photographing device, the displacement between the tip image of the probe and the center of the observation visual field can be easily aligned.

【0024】従って、探針の走査範囲を、光学顕微鏡の
観察視野内におさめることが可能となる。また、探針交
換時においても、探針の位置合わせを容易に行なうこと
ができる、使いがってのよい同軸型走査トンネル顕微鏡
が提供される。
Therefore, it is possible to keep the scanning range of the probe within the observation field of the optical microscope. In addition, a coaxial scanning tunneling microscope that is easy to use and that can easily position the probe even when the probe is replaced is provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の同軸型走査トンネル顕微鏡の一例の構
造の一部を示す断面図
FIG. 1 is a sectional view showing a part of the structure of an example of a coaxial scanning tunneling microscope of the present invention.

【図2】本発明の同軸型走査トンネル顕微鏡の構造を示
す別の断面図
FIG. 2 is another cross-sectional view showing the structure of the coaxial scanning tunneling microscope of the present invention.

【図3】観察視野と探針の先端を示す図FIG. 3 is a diagram showing the observation field of view and the tip of the probe.

【図4】従来の同軸型走査トンネル顕微鏡の一例の構造
の一部を示す断面図
FIG. 4 is a sectional view showing a part of the structure of an example of a conventional coaxial scanning tunneling microscope.

【図5】本発明の同軸型走査トンネル顕微鏡の別の例の
構造を示す断面図
FIG. 5 is a sectional view showing the structure of another example of the coaxial scanning tunneling microscope of the present invention.

【図6】本発明の同軸型走査トンネル顕微鏡の構造を示
す別の断面図
FIG. 6 is another cross-sectional view showing the structure of the coaxial scanning tunneling microscope of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…撮影装置、2…CCD撮像素子、3…撮像面、4…
カメラマウント、5…位置合わせ用部材、6…バネ、7
…送りネジ、8…鏡筒、9…部材5を押す治具、10…
磁石、11…探針の先端像、12…走査範囲、13…試
料表面像、14…探針、15…平行平板ガラス、16…
チューブスキャナ、17…対物レンズ部、18…光学顕
微鏡支柱、19…走査型トンネル顕微鏡支柱。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Imaging device, 2 ... CCD image sensor, 3 ... Imaging surface, 4 ...
Camera mount, 5 ... Positioning member, 6 ... Spring, 7
... Feed screw, 8 ... Lens barrel, 9 ... Jig for pushing member 5, 10 ...
Magnet, 11 ... Tip image of probe, 12 ... Scanning range, 13 ... Sample surface image, 14 ... Probe, 15 ... Parallel flat glass, 16 ...
Tube scanner, 17 ... Objective lens part, 18 ... Optical microscope support, 19 ... Scanning tunnel microscope support.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】探針を有する走査型トンネル顕微鏡部と、
前記探針の先端像を観察するための光学顕微鏡部と、前
記光学顕微鏡の結像の少なくとも一部を撮影し、観察画
像とする撮影部とを有する同軸型走査トンネル顕微鏡に
おいて、 前記撮影部を前記探針の軸方向に対して垂直な方向に移
動する位置合わせ手段を有することを特徴とする同軸型
走査トンネル顕微鏡。
1. A scanning tunneling microscope section having a probe,
In a coaxial scanning tunneling microscope having an optical microscope unit for observing the tip image of the probe, and a photographing unit for photographing at least a part of the image formed by the optical microscope, which is an observation image, the photographing unit is A coaxial scanning tunneling microscope having a positioning unit that moves in a direction perpendicular to the axial direction of the probe.
【請求項2】請求項1において、前記光学顕微鏡部は開
口部を設けた鏡筒を有し、前記開口部に前記撮影部を前
記方向に移動可能にする遊びをもって装着するための連
結部と、前記遊びを規制し前記撮影部を固定するために
前記開口部に設けられた規制手段とを有することを特徴
とする同軸型走査トンネル顕微鏡。
2. The optical microscope unit according to claim 1, wherein the optical microscope unit has a lens barrel having an opening, and a connecting unit for mounting the photographing unit in the opening with a play that allows the unit to move in the direction. A coaxial scanning tunneling microscope, comprising: a regulating unit provided in the opening for regulating the play and fixing the photographing unit.
【請求項3】請求項2において、前記規制手段は、前記
遊びの範囲内で前記撮影部を前記鏡筒に対し任意の位置
に固定するものであることを特徴とする同軸型走査トン
ネル顕微鏡。
3. The coaxial scanning tunneling microscope according to claim 2, wherein the restricting means fixes the photographing section at an arbitrary position with respect to the lens barrel within the play range.
【請求項4】請求項3において、前記規制手段は前記開
口部の周囲に設けられ、前記撮影部に作用する送りねじ
部と、前記送りねじに前記撮影部を押しつけるバネ部と
を有することを特徴とする同軸型走査トンネル顕微鏡。
4. The regulating means according to claim 3, further comprising a feed screw portion provided around the opening and acting on the photographing portion, and a spring portion for pressing the photographing portion against the feed screw. Characteristic coaxial scanning tunneling microscope.
【請求項5】請求項3において、前記規制手段は前記開
口部の周囲に設けられ、前記撮影部に作用する送りねじ
部と、前記送りねじ部と前記撮影部を連結させる磁石と
を有することを特徴とする同軸型走査トンネル顕微鏡。
5. The control means according to claim 3, further comprising a feed screw portion provided around the opening and acting on the photographing portion, and a magnet connecting the feed screw portion and the photographing portion. A coaxial scanning tunneling microscope.
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