JPH0537358A - Programmable logic circuit - Google Patents

Programmable logic circuit

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Publication number
JPH0537358A
JPH0537358A JP3193835A JP19383591A JPH0537358A JP H0537358 A JPH0537358 A JP H0537358A JP 3193835 A JP3193835 A JP 3193835A JP 19383591 A JP19383591 A JP 19383591A JP H0537358 A JPH0537358 A JP H0537358A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
logic circuit
signal
gate
terminal
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP3193835A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hidenori Minamiguchi
秀紀 南口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0537358A publication Critical patent/JPH0537358A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To surely transfer an abnormality signal by forming a second logic circuit for inputting an output of a first logic circuit and inverting and outputting it, and sending out an output of a first logic circuit and an output of a second logic circuit to a logic circuit of the next stage. CONSTITUTION:In a first logic circuit 3, signals of input terminals IN1-IN3 are inputted to a logical gate 1-1 and to a second logic circuit 4, a signal obtained by inverting an output of the circuit 3 by an inverter, and a signal of the terminal IN1 are inputted. In this case, the terminal IN1 becomes an H level and to the IN2 and the IN3, a signal of is inputted simultaneously, respectively. In that case, under the condition that an abnormality signal is outputted, when the gates 1-1, 1-2 are set as AND gates, an output of the gate 1-1 and an output of the gate 1-2 become '1' and '0', respectively at the time of the condition for outputting the abnormality signal. In this case, an output of the next logic circuit 5 becomes '1', and at the timing of an inspection timing signal TT, the abnormality signal is sent out of an output terminal Q of an FF 6.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、プログラム可能である
と共に、異常状態を検出できるプログラム可能論理回路
に関する。複数の論理ゲートと、複数の配線をマトリク
ス状に配置した配線接続部とを、半導体集積回路として
1チップ上に形成し、プログラム・データに従って配線
接続部の配線間を接続し、それによって論理ゲート間を
接続して所望の論理回路を形成するプログラム可能論理
回路(PAL回路)が知られている。このようなプログ
ラム可能論理回路を複数個用いることにより、各種の電
子回路を構成することができる。又集積度が向上される
に従って各部の正常性を容易に確認できることが要望さ
れている。
FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a programmable logic circuit that is programmable and capable of detecting abnormal conditions. A plurality of logic gates and a wiring connection section in which a plurality of wirings are arranged in a matrix are formed on one chip as a semiconductor integrated circuit, and the wirings of the wiring connection section are connected according to program data, whereby the logic gate is formed. Programmable logic circuits (PAL circuits) are known that connect together to form the desired logic circuit. Various electronic circuits can be configured by using a plurality of such programmable logic circuits. Further, it is desired that the normality of each part can be easily confirmed as the degree of integration is improved.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4は従来例の説明図であり、41−1
〜41−4は4入力の論理積ゲート、42は配線接続
部、43−1〜43−4は出力バッファ、IN1〜IN
3は入力端子、OUT1〜OUT4は出力端子、Iはイ
ンバータを示し、(1),(2)は同一符号間を接続す
ることを示す。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is an explanatory view of a conventional example.
˜41-4 is a 4-input AND gate, 42 is a wiring connection part, 43-1 to 43-4 are output buffers, IN1 to IN
Reference numeral 3 indicates an input terminal, OUT1 to OUT4 indicate output terminals, I indicates an inverter, and (1) and (2) indicate that the same symbols are connected.

【0003】接続配線部42は、配線L11〜L15,
L21〜L25,L31〜L35,L41〜L45と配
線A〜H,J,Kとがマトリクス状に配置された構成を
有し、配線Aは入力端子が接地されたインバータIの出
力端子に接続され、配線Bは直接接地され、配線C,
E,Gはそれぞれ入力端子IN1〜IN3に2個のイン
バータIを介して接続され、配線D,F,Hはそれぞれ
入力端子IN1〜IN3に1個のインバータIを介して
接続されている。又配線L11,L21,L31,L4
1はそれぞれインバータIを介して出力バッファ43−
1〜43−4の制御端子に接続されている。又配線L1
2〜L15,L22〜L25,L32〜L35,L42
〜L45は、それぞれ4入力の論理積ゲート41−1〜
41−4の入力端子に、三角印で示すバッファゲートを
介して接続されている。
The connection wiring portion 42 includes wirings L11 to L15,
L21 to L25, L31 to L35, L41 to L45 and wirings A to H, J, and K are arranged in a matrix, and the wiring A is connected to an output terminal of an inverter I whose input terminal is grounded. , The wiring B is directly grounded, the wiring C,
E and G are respectively connected to the input terminals IN1 to IN3 via two inverters I, and the wirings D, F and H are respectively connected to the input terminals IN1 to IN3 via one inverter I. Also, the wirings L11, L21, L31, L4
1 is an output buffer 43-
It is connected to the control terminals 1-43-4. Wiring L1
2 to L15, L22 to L25, L32 to L35, L42
To L45 are four-input AND gates 41-1 to 41-1, respectively.
The input terminal 41-4 is connected via a buffer gate indicated by a triangle.

【0004】図4に於いては、配線A,L15間、配線
B,L11間、配線C,L12間、配線E,L13間、
配線G,L14間を、プログラム・データによって接続
した場合を示し、出力バッファ43−1の制御端子には
インバータIから“1”が加えられるので、論理積ゲー
ト41−1の出力を出力端子OUT1から次段の論理回
路に送出することができる。又他の出力バッファ43−
2〜43−4の制御端子にインバータIから“0”が加
えられるので、出力バッファ43−2〜43−4はハイ
インピーダンス出力状態となる。従って、入力端子IN
1〜IN3にそれぞれ“1”が加えられた時に、論理積
ゲート41−1の出力が“1”となり、出力端子OUT
1から次段の論理回路に送出される。
In FIG. 4, between wirings A and L15, between wirings B and L11, between wirings C and L12, between wirings E and L13,
The case where the lines G and L14 are connected by program data is shown. Since "1" is added to the control terminal of the output buffer 43-1 from the inverter I, the output of the AND gate 41-1 is output to the output terminal OUT1. Can be sent to the next stage logic circuit. Another output buffer 43-
Since "0" is added from the inverter I to the control terminals of 2 to 43-4, the output buffers 43-2 to 43-4 are in the high impedance output state. Therefore, the input terminal IN
When "1" is added to each of 1 to IN3, the output of the AND gate 41-1 becomes "1", and the output terminal OUT
From 1 to the logic circuit of the next stage.

【0005】前述のようなプログラム可能論理回路を組
合せて設けることにより、各種の電子回路を構成するこ
とができる。又論理積ゲート41−1〜41−4以外の
論理ゲートやメモリ等を用いて、それを配線接続部42
により接続し、所望の論理処理を行う構成とすることも
できる。
Various electronic circuits can be constructed by providing a combination of programmable logic circuits as described above. Further, by using a logic gate or a memory other than the AND gates 41-1 to 41-4, it is connected to the wiring connection portion 42.
It is also possible to adopt a configuration in which the desired logical processing is performed by connecting with each other.

【0006】図5は従来例の試験説明図であり、プログ
ラム可能論理回路51,52とを縦続接続した場合の要
部を示し、プログラム可能論理回路51は、図4に示す
構成に類似し、論理積ゲート41−1〜41−nと配線
接続部と出力バッファ43−1〜43−nとを含むもの
であるが、配線接続部は図示を省略している。又プログ
ラム可能論理回路52は、フリップフロップ53を備
え、クロック端子Cに検査タイミング信号が加えられ、
データ端子Dに出力バッファ43−1を介して論理積ゲ
ート41−1の出力が加えられる。例えば、論理積ゲー
ト41−1の3入力が総て“1”の場合に異常が発生し
ている状態であるとすると、検査タイミング信号の立上
り時点に於いて論理積ゲート41−1の出力が“1”の
時、フリップフロップ53の出力端子Qは“1”とな
る。従って、この“1”の信号を異常信号として保守者
等に通知することができる。又この異常信号を更に次の
プログラム可能論理回路に入力して最終段のプログラム
可能論理回路から出力する構成とすることもできる。そ
の場合に、各種の条件を加味して異常信号を転送するこ
とも可能となり、それぞれ検査タイミング信号によりラ
ッチして次段へ転送することになる。
FIG. 5 is an explanatory view of a test of a conventional example, showing a main part when the programmable logic circuits 51 and 52 are connected in cascade. The programmable logic circuit 51 is similar to the configuration shown in FIG. Although it includes AND gates 41-1 to 41-n, a wiring connection portion, and output buffers 43-1 to 43-n, the wiring connection portion is not shown. The programmable logic circuit 52 also includes a flip-flop 53, and a check timing signal is applied to the clock terminal C.
The output of the AND gate 41-1 is applied to the data terminal D via the output buffer 43-1. For example, if all three inputs of the AND gate 41-1 are "1" and an abnormality occurs, the output of the AND gate 41-1 is at the rising time of the inspection timing signal. When it is "1", the output terminal Q of the flip-flop 53 becomes "1". Therefore, it is possible to notify the maintenance person or the like of this "1" signal as an abnormal signal. The abnormal signal may be further input to the next programmable logic circuit and output from the last programmable logic circuit. In that case, it becomes possible to transfer the abnormal signal in consideration of various conditions, and the respective signals are latched by the inspection timing signal and transferred to the next stage.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする問題点】前述の従来例に於い
て、例えば、論理積ゲート41−1の素子の異常や接続
配線部の異常等により、その出力がハイレベル
(“1”)固定となった場合、又は出力バッファ43−
1の異常によりその出力がハイレベル(“1”)固定と
なった場合には、フリップフロップ53のデータ端子D
に“1”が入力され、検査タイミング信号によってその
出力端子Qが“1”となり、異常信号が出力される。即
ち、異常信号の出力条件が成立しない時に異常信号が出
力されることになる。又反対に、論理積ゲート41−1
又は出力バッファ43−1の出力がローレベル
(“0”)固定となると、異常信号の出力条件が満足さ
れても、フリップフロップ53のデータ端子Dには
“0”が入力されるから、異常信号が出力されないこと
になる。即ち、プログラム可能論理回路51の異常を次
段のプログラム可能論理回路52に伝達することができ
ない欠点があった。本発明は、異常状態を確実に伝達で
きるようにすることを目的とする。
In the above-mentioned conventional example, the output is fixed at a high level ("1") due to, for example, an abnormality in the element of the AND gate 41-1 or an abnormality in the connection wiring portion. Or the output buffer 43-
When the output is fixed to the high level (“1”) due to the abnormality of 1, the data terminal D of the flip-flop 53
Is input to the output terminal Q, the output terminal Q becomes "1" according to the inspection timing signal, and an abnormal signal is output. That is, the abnormal signal is output when the output condition of the abnormal signal is not satisfied. On the contrary, the AND gate 41-1
Alternatively, when the output of the output buffer 43-1 is fixed at a low level (“0”), “0” is input to the data terminal D of the flip-flop 53 even if the output condition of the abnormal signal is satisfied, so that an error occurs. No signal will be output. That is, there is a drawback that the abnormality of the programmable logic circuit 51 cannot be transmitted to the programmable logic circuit 52 of the next stage. An object of the present invention is to ensure that an abnormal state can be transmitted.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明のプログラム可能
論理回路は、図1を参照して説明すると、複数の論理和
や論理積等の論理ゲート1−1〜1−nと、複数の配線
をマトリクス状に配置した配線接続部2とを含み、プロ
グラム・データに従って論理ゲート間を配線接続部2を
介して接続するプログラム可能論理回路に於いて、配線
接続部2により論理ゲート間を接続して形成した第1の
論理回路3と、複数の論理ゲート1−1〜1−nの中の
空き論理ゲートを配線接続部2により接続し、第1の論
理回路3の出力を入力して反転出力する第2の論理回路
4とを形成し、第1の論理回路3の出力と第2の論理回
路4の出力とを次段の論理回路に送出する構成とした。
即ち、プログラム可能論理回路PAL1の出力端子OU
T1,OUT2からプログラム可能論理回路PAL2の
論理回路5に入力する構成とした。なお、6はフリップ
フロップ、TTは検査タイミング信号、OUT3〜OU
Tnは出力端子、IN1〜IN3は入力端子である。
A programmable logic circuit according to the present invention will be described with reference to FIG. 1. Logic gates 1-1 to 1-n for a plurality of logical sums and logical products and a plurality of wirings. In a programmable logic circuit that connects the logic gates via the wiring connection unit 2 according to the program data, and the wiring connection unit 2 is arranged in a matrix. The formed first logic circuit 3 and the empty logic gates among the plurality of logic gates 1-1 to 1-n are connected by the wiring connection section 2, and the output of the first logic circuit 3 is input and inverted. The second logic circuit 4 for outputting is formed, and the output of the first logic circuit 3 and the output of the second logic circuit 4 are sent to the logic circuit of the next stage.
That is, the output terminal OU of the programmable logic circuit PAL1.
The configuration is such that inputs are made from T1 and OUT2 to the logic circuit 5 of the programmable logic circuit PAL2. In addition, 6 is a flip-flop, TT is a check timing signal, OUT3 to OU
Tn is an output terminal, and IN1 to IN3 are input terminals.

【0009】[0009]

【作用】配線接続部2に於ける黒丸は、プログラム・デ
ータによって配線間を接続した状態を示す。従って、第
1の論理回路3は、論理ゲート1−1に入力端子IN1
〜IN3の信号が入力される構成となる。又第2の論理
回路4は、第1の論理回路3の出力をインバータにより
反転した信号と、入力端子IN1の信号とが入力される
構成となる。この場合、入力端子IN1をハイレベル
(“1”)とし、入力端子IN2,IN3にそれぞれ
“1”の信号が同時に入力された時に、異常信号を出力
する条件とすると、論理ゲート1−1,1−2は論理積
ゲートとすることにより、異常信号を出力する条件の時
に、論理ゲート1−1の出力は“1”、論理ゲート1−
2の出力は“0”となる。この場合は、次段の論理回路
5の出力を“1”とし、検査タイミング信号TTのタイ
ミングに於いてフリップフロップ6の出力端子Qから
“1”の異常信号を送出する。
The black circles in the wiring connecting portion 2 indicate the state in which the wirings are connected by the program data. Therefore, in the first logic circuit 3, the logic gate 1-1 is connected to the input terminal IN1.
The signal from IN3 is input. The second logic circuit 4 has a configuration in which the signal obtained by inverting the output of the first logic circuit 3 by the inverter and the signal at the input terminal IN1 are input. In this case, if the input terminal IN1 is set to a high level (“1”) and an abnormal signal is output when signals of “1” are simultaneously input to the input terminals IN2 and IN3, the logic gate 1-1, When 1-2 is a logical product gate, the output of the logical gate 1-1 is "1" and the logical gate 1-
The output of 2 becomes "0". In this case, the output of the logic circuit 5 at the next stage is set to "1", and the abnormal signal of "1" is transmitted from the output terminal Q of the flip-flop 6 at the timing of the inspection timing signal TT.

【0010】又第1の論理回路3の図示を省略した出力
バッファの出力がハイレベル固定の異常状態となると、
論理ゲート1−1の出力が“0”でも、出力端子OUT
1は“1”となり、又論理ゲート1−1の出力を反転し
た出力が論理ゲート1−2から出力されるから、出力端
子OUT2も“1”となる。この場合はプログラム可能
論理回路PAL1側の異常であることが判るから、論理
回路5の出力を“1”として、異常信号を出力する。従
って、次段の論理回路5は、プログラム可能論理回路P
AL1の出力端子OUT1が“0”で、出力端子OUT
2が“1”の場合のみ、異常信号を出力しない論理構成
とし、それ以外は異常信号を出力する論理構成とすれば
良いことになる。
When the output of the output buffer (not shown) of the first logic circuit 3 is in an abnormal state of being fixed at a high level,
Even if the output of the logic gate 1-1 is "0", the output terminal OUT
1 becomes "1", and since the output obtained by inverting the output of the logic gate 1-1 is output from the logic gate 1-2, the output terminal OUT2 also becomes "1". In this case, since it can be known that the programmable logic circuit PAL1 is abnormal, the output of the logic circuit 5 is set to "1" and an abnormal signal is output. Therefore, the logic circuit 5 of the next stage is the programmable logic circuit P.
When the output terminal OUT1 of AL1 is "0", the output terminal OUT
Only when 2 is “1”, the logical configuration is such that the abnormal signal is not output, and in other cases, the logical configuration is such that the abnormal signal is output.

【0011】[0011]

【実施例】図2は本発明の実施例の説明図であり、11
−1〜11−4は論理ゲートとしての論理積ゲート、1
2は複数の配線L11〜L15,L21〜L25,L3
1〜L35,L41〜L45と配線A〜H,J,Kとを
マトリクス状に配置した配線接続部、13−1〜13−
4は出力バッファ、14−1〜14−4,15−1〜1
5−4,16,17−1,17−2,18−1,18−
2,19−1,19−2はインバータ(I)、20−
1,20−3は第1,第2の論理回路、IN1〜IN3
は入力端子、OUT1〜OUT4は出力端子である。
EXAMPLE FIG. 2 is an explanatory view of an example of the present invention.
-1 to 11-4 are AND gates as logic gates, 1
2 is a plurality of wirings L11 to L15, L21 to L25, L3
1-L35, L41-L45 and wirings A-H, J, K are arranged in a matrix in a wiring connection portion, 13-1 to 13-
4 is an output buffer, 14-1 to 14-4, 15-1 to 1
5-4, 16, 17-1, 17-2, 18-1, 18-
2, 19-1 and 19-2 are inverters (I), 20-
1, 20-3 are first and second logic circuits, IN1 to IN3
Are input terminals, and OUT1 to OUT4 are output terminals.

【0012】前述の図4に示す従来例と同様に、接続配
線部12は、配線L11〜L15,L21〜L25,L
31〜L35,L41〜L45と配線A〜H,J,Kと
がマトリクス状に配置された構成を有し、配線Aは入力
端子が接地されたインバータ16の出力端子に接続さ
れ、配線Bは接地されている。又配線C,E,Gは、そ
れぞれ入力端子IN1〜IN3に2個のインバータ17
−1,17−2〜19−1,19−2を介して接続さ
れ、配線D,F,Hは、それぞれ入力端子IN1〜IN
3に1個のインバータ17−1〜19−1を介して接続
されている。又配線L11,L21,L31,L41
は、それぞれインバータ14−1〜14−4を介して出
力バッファ13−1〜13−4の制御端子に接続され、
配線L12〜L15,L22〜L25,L32〜L3
5,L42〜L45は、それぞれ4入力の論理積ゲート
41−1〜41−4の入力端子に、三角印で示すバッフ
ァゲートを介して接続されている。
Similar to the conventional example shown in FIG. 4, the connection wiring portion 12 has wirings L11 to L15, L21 to L25, L.
31 to L35, L41 to L45 and wirings A to H, J, and K are arranged in a matrix, the wiring A is connected to the output terminal of the inverter 16 whose input terminal is grounded, and the wiring B is It is grounded. The wirings C, E, and G are connected to the input terminals IN1 to IN3 by two inverters 17 respectively.
-1, 17-2 to 19-1 and 19-2, and the wirings D, F, and H are connected to the input terminals IN1 to IN, respectively.
3 through one inverter 17-1 to 19-1. Also, the wirings L11, L21, L31, L41
Are connected to the control terminals of the output buffers 13-1 to 13-4 via the inverters 14-1 to 14-4, respectively.
Wirings L12 to L15, L22 to L25, L32 to L3
5, L42 to L45 are respectively connected to the input terminals of four-input AND gates 41-1 to 41-4 via buffer gates indicated by triangles.

【0013】配線接続部12は、プログラム・データに
よって菱形で示す点が接続された場合を示す。従って、
論理積ゲート11−1は、入力端子IN1の信号を反転
した信号と、入力端子IN2,IN3の信号との論理積
を出力するものとなり、又出力バッファ13−1の制御
端子にインバータ14−1から“1”が加えられるか
ら、論理積ゲート11−1の出力信号は出力端子OUT
1から送出される。
The wiring connection section 12 shows a case where points indicated by diamonds are connected by program data. Therefore,
The AND gate 11-1 outputs a logical product of the signal obtained by inverting the signal at the input terminal IN1 and the signals at the input terminals IN2 and IN3, and the inverter 14-1 is connected to the control terminal of the output buffer 13-1. Since "1" is added to the output terminal OUT of the AND gate 11-1,
It is sent from 1.

【0014】又論理積ゲート11−2は、入力端子IN
1〜IN3の信号の論理積を出力する接続構成となり、
又出力バッファ13−2の制御端子にインバータ14−
2から“1”が加えられるから、論理積ゲート13−2
の出力信号は出力端子OUT2から送出される。この論
理積ゲート11−2を含めて第1の論理回路20−1と
すると、第2の論理回路20−2は、論理積ゲート11
−3が空きの場合に、この論理積ゲート11−3を用い
て構成するもので、配線接続部12に於いて、菱形で示
すように配線A,L33,L34,L35間が接続さ
れ、又配線B,L31間が接続され、又配線K,L32
間が接続されて、第1の論理回路20−1の論理積ゲー
ト11−2の出力信号がインバータ15−2により反転
され、配線K,L32 を介して第2の論理回路20−2
の論理積ゲート11−3に入力される。この論理積ゲー
ト11−3の他の入力は、配線Aに接続された配線L3
3〜L35であるから、論理積ゲート11−2の出力信
号を反転した信号が論理積ゲート11−3から出力され
る。又出力バッファ13−3の制御端子にインバータ1
4−3から“1”が加えられるから、論理積ゲート11
−3の出力信号は出力端子OUT3から送出される。即
ち、第1,第2の論理回路20−1,20−2の出力端
子OUT2,OUT3の出力信号は、各部が正常な場合
には相補的なものとなる。
The logical product gate 11-2 has an input terminal IN.
The connection configuration outputs the logical product of the signals 1 to IN3,
Further, the inverter 14-is connected to the control terminal of the output buffer 13-2.
Since "1" is added from 2, the AND gate 13-2
Is output from the output terminal OUT2. If the first logic circuit 20-1 including the AND gate 11-2 is included, the second logic circuit 20-2 includes the AND gate 11-2.
-3 is vacant, the AND gate 11-3 is used to configure, and in the wiring connection portion 12, the wirings A, L33, L34, and L35 are connected as shown by a diamond, and The wirings B and L31 are connected, and the wirings K and L32 are also connected.
Are connected to each other, the output signal of the AND gate 11-2 of the first logic circuit 20-1 is inverted by the inverter 15-2, and the second logic circuit 20-2 is passed through the wirings K and L32.
Is input to the AND gate 11-3. The other input of the AND gate 11-3 is the wiring L3 connected to the wiring A.
3 to L35, a signal obtained by inverting the output signal of the AND gate 11-2 is output from the AND gate 11-3. The inverter 1 is connected to the control terminal of the output buffer 13-3.
Since "1" is added from 4-3, the AND gate 11
The output signal of -3 is transmitted from the output terminal OUT3. That is, the output signals of the output terminals OUT2 and OUT3 of the first and second logic circuits 20-1 and 20-2 are complementary when the respective parts are normal.

【0015】又論理積ゲート11−4は、配線B,L4
5間が接続されるから、4入力の中の一つの信号は常時
“0”となり、他の入力に関係なく、その出力は“0”
となる。又出力バッファ13−4の制御端子にインバー
タ14−4から“0”が加えられるから、出力バッファ
13−4はハイインピーダンス出力状態となる。即ち、
この論理回路は不使用状態となる。
The AND gate 11-4 is connected to the wirings B and L4.
Since 5 are connected, one of the 4 inputs is always "0" and its output is "0" regardless of the other inputs.
Becomes Further, since "0" is added from the inverter 14-4 to the control terminal of the output buffer 13-4, the output buffer 13-4 is in the high impedance output state. That is,
This logic circuit is in an unused state.

【0016】次段の論理回路には、出力端子OUT1,
OUT2,OUT3からの出力信号が加えられることに
なり、第1,第2の論理回路20−1,20−2が正常
の場合は、例えば、出力端子OUT2から“1”の異常
信号が出力されると、出力端子OUT3から“0”の信
号が出力される。それによって、次段の論理回路は有為
な異常信号と判定することができる。又出力端子OUT
2から“0”の信号が出力された時に、出力端子OUT
3から例えば相補的でない“0”が出力される場合、第
1の論理回路20−1の出力バッファ13−2の異常と
判定することができる。
In the logic circuit of the next stage, output terminals OUT1,
When the output signals from OUT2 and OUT3 are added and the first and second logic circuits 20-1 and 20-2 are normal, for example, an abnormal signal of "1" is output from the output terminal OUT2. Then, a signal of "0" is output from the output terminal OUT3. Thereby, the logic circuit in the next stage can be determined as a significant abnormal signal. Output terminal OUT
When "0" signal is output from 2, output terminal OUT
If, for example, non-complementary "0" is output from 3, it can be determined that the output buffer 13-2 of the first logic circuit 20-1 is abnormal.

【0017】図3は次段の論理回路の説明図であり、同
図の(A),(B)に於いて、プログラム可能論理回路
PAL1,PAL2とを接続した場合を示し、プログラ
ム可能論理回路PAL1の出力端子OUT2,OUT3
は、図2の第1,第2の論理回路20−1,20−2の
出力端子OUT2,OUT3に対応する。又21は論理
回路、22はフリップフロップ、23はインバータ、2
4はナンド回路、25は異常信号の出力端子、31は論
理回路、32はフリップフロップ、33は反転出力排他
的オア回路、34はオア回路、35は異常信号の出力端
子、TTは検査タイミング信号である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of the logic circuit of the next stage. In FIGS. 3A and 3B, the case where the programmable logic circuits PAL1 and PAL2 are connected is shown. Output terminals OUT2 and OUT3 of PAL1
Corresponds to the output terminals OUT2 and OUT3 of the first and second logic circuits 20-1 and 20-2 of FIG. 21 is a logic circuit, 22 is a flip-flop, 23 is an inverter, 2
4 is a NAND circuit, 25 is an abnormal signal output terminal, 31 is a logic circuit, 32 is a flip-flop, 33 is an inverted output exclusive OR circuit, 34 is an OR circuit, 35 is an abnormal signal output terminal, and TT is an inspection timing signal. Is.

【0018】図3の(A)に於いては、前段のプログラ
ム可能論理回路PAL1の出力端子OUT2,OUT3
からの信号を次段のプログラム可能論理回路PAL2の
論理回路21に加え、その論理回路21の出力信号をフ
リップフロップ22のデータ端子Dに加え、そのフリッ
プフロップ22のクロック端子Cに検査タイミング信号
TTを加えることになり、論理回路21は、出力端子O
UT2=“0”,OUT3=“1”の時に、出力信号を
“0”とし、それ以外の条件の時に、出力信号を“1”
とするものである。従って、プログラム可能論理回路P
AL1から異常信号が出力されない時は、検査タイミン
グ信号TTによってもフリップフロップ22はセットさ
れないから、出力端子25から異常信号は出力されな
い。
In FIG. 3A, the output terminals OUT2 and OUT3 of the preceding programmable logic circuit PAL1.
Is applied to the logic circuit 21 of the programmable logic circuit PAL2 at the next stage, the output signal of the logic circuit 21 is applied to the data terminal D of the flip-flop 22, and the test timing signal TT is applied to the clock terminal C of the flip-flop 22. Therefore, the logic circuit 21 outputs the output terminal O
When UT2 = “0” and OUT3 = “1”, the output signal is set to “0”, and under other conditions, the output signal is set to “1”.
It is what Therefore, the programmable logic circuit P
When the abnormal signal is not output from AL1, the flip-flop 22 is not set even by the inspection timing signal TT, so that the abnormal signal is not output from the output terminal 25.

【0019】又出力端子OUT2から“0”の信号が論
理回路21に加えられた時に、出力端子OUT3から
“0”の信号が論理回路21に加えられると、論理回路
21の出力信号は“1”となる。即ち、相補的な信号で
はないことにより、検査タイミング信号TTによってフ
リップフロップ22がセットされて、出力端子25から
“1”の異常信号が出力される。この場合、プログラム
可能論理回路PAL1の第1の論理回路20−1の出力
バッファ13−2の“0”固定障害、或いは第2の論理
回路20−2の論理積ゲート11−3又は出力バッファ
13−3の“0”固定障害と判定することができる。
When a "0" signal is applied to the logic circuit 21 from the output terminal OUT2 and a "0" signal is applied to the logic circuit 21 from the output terminal OUT3, the output signal of the logic circuit 21 is "1". "It becomes. That is, since the signals are not complementary signals, the flip-flop 22 is set by the inspection timing signal TT, and the abnormal signal of “1” is output from the output terminal 25. In this case, the "0" fixed fault of the output buffer 13-2 of the first logic circuit 20-1 of the programmable logic circuit PAL1, or the AND gate 11-3 or the output buffer 13 of the second logic circuit 20-2. It can be determined that the fixed fault is "0" of -3.

【0020】又プログラム可能論理回路PAL1の出力
端子OUT2から“1”の異常信号が出力された時、論
理回路21の出力信号は必ず“1”となる論理であるか
ら、フリップフロップ22は検査タイミング信号TTに
よりセットされて、出力端子25から“1”の異常信号
が出力される。従って、プログラム可能論理回路PAL
1の第1の論理回路20−1の論理積ゲート11−2か
ら“1”の異常信号が出力された時に、出力バッファ1
3−2の“0”固定障害により、“1”の異常信号を出
力できない場合でも、第2の論理回路20−2の出力信
号が“0”となり、プログラム可能論理回路PAL2の
論理回路21は、前段の論理回路に異常があると判断す
ることができるから、“1”の異常信号を出力端子25
から出力することができる。
When the abnormal signal of "1" is output from the output terminal OUT2 of the programmable logic circuit PAL1, the output signal of the logic circuit 21 is always "1". It is set by the signal TT, and the abnormal signal of "1" is output from the output terminal 25. Therefore, the programmable logic circuit PAL
When the AND signal 11-2 of the first logic circuit 20-1 of No. 1 outputs the abnormal signal of “1”, the output buffer 1
Even when the abnormal signal of "1" cannot be output due to the fixed fault of "0" of 3-2, the output signal of the second logic circuit 20-2 becomes "0", and the logic circuit 21 of the programmable logic circuit PAL2 becomes Since it can be determined that the logic circuit in the preceding stage has an abnormality, the abnormality signal of "1" is output to the output terminal 25.
Can be output from.

【0021】又図3の(B)に於いては、プログラム可
能論理回路PAL2の論理回路31は、プログラム可能
論理回路PAL1の出力端子OUT2,OUT3の信号
を入力する反転出力排他的オア回路33から構成され、
それらの信号が相補的でない時に、“1”の信号を出力
してオア回路34に入力する。又出力端子OUT2の信
号はフリップフロップ32のデータ端子Dに入力される
から、出力端子35からは、出力端子OUT2=
“0”,OUT3=“1”の場合のみ、“0”の信号が
出力され、その他の条件の場合に、“1”の異常信号が
出力される。即ち、前述の(A)の場合と同様に、プロ
グラム可能論理回路PAL1が正常で且つ異常信号が出
力されない時のみ、プログラム可能論理回路PAL2の
出力端子35から異常信号が出力されないことになり、
それ以外の異常信号の出力条件の場合に、出力端子35
から“1”の異常信号が出力されることになる。
Further, in FIG. 3B, the logic circuit 31 of the programmable logic circuit PAL2 is supplied from the inverted output exclusive OR circuit 33 which inputs the signals of the output terminals OUT2 and OUT3 of the programmable logic circuit PAL1. Composed,
When these signals are not complementary, a signal of "1" is output and input to the OR circuit 34. Since the signal of the output terminal OUT2 is input to the data terminal D of the flip-flop 32, the output terminal OUT2 = from the output terminal 35.
The signal of "0" is output only when "0" and OUT3 = "1", and the abnormal signal of "1" is output under other conditions. That is, as in the case of (A), the abnormal signal is not output from the output terminal 35 of the programmable logic circuit PAL2 only when the programmable logic circuit PAL1 is normal and no abnormal signal is output.
In the case of other abnormal signal output conditions, the output terminal 35
Will output an abnormal signal of "1".

【0022】又論理回路21,31とフリップフロップ
22,32との組合せにより、前段のプログラム可能論
理回路PAL1の出力信号の異常の有無を判定すること
ができるから、試験回路を内蔵させた場合に相当する。
又図3の(A),(B)以外の論理構成とすることもで
きるもので、例えば、図3の(B)に於いて、論理回路
31の反転出力排他的オア回路33の代わりにアンド回
路とノア回路とを用い、アンド回路により出力端子OU
T2,OUT3=“1”の異常の場合に“1”の信号を
出力し、ノア回路により出力端子OUT2,OUT3=
“0”の異常の場合に“1”の信号を出力する構成とす
ることも可能である。
Further, by combining the logic circuits 21 and 31 and the flip-flops 22 and 32, it is possible to determine whether or not there is an abnormality in the output signal of the programmable logic circuit PAL1 at the preceding stage. Equivalent to.
A logical configuration other than those shown in FIGS. 3A and 3B is also possible. For example, in FIG. 3B, instead of the inverting output exclusive OR circuit 33 of the logic circuit 31, an AND circuit is used. Circuit and NOR circuit are used, and an output terminal OU is provided by an AND circuit.
When T2, OUT3 = "1" is abnormal, the signal "1" is output, and the NOR circuit outputs the output terminals OUT2, OUT3 =
It is also possible to adopt a configuration in which a signal of "1" is output in the case of an abnormality of "0".

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、配線接
続部2によって論理ゲート間を接続して形成した第1の
論理回路3と、複数の論理ゲート1−1〜1−nの中の
空き論理ゲートを配線接続部2により接続し、第1の論
理回路3の出力を入力して、それを反転出力する第2の
論理回路4とを形成し、第1,第2の論理回路3,4の
相補的出力信号を次段の論理回路に送出する構成とした
もので、複数のプログラム可能論理回路を縦続接続した
場合に於いても、異常信号を確実に転送することが可能
となり、且つ第1の論理回路3を形成する論理ゲートや
出力バッファ等の異常の場合にも、次段の論理回路では
異常信号を送出することができる。従って、プログラム
可能論理回路の信頼性を向上することができる。
As described above, according to the present invention, among the plurality of logic gates 1-1 to 1-n and the first logic circuit 3 formed by connecting the logic gates by the wiring connection portion 2. Empty logic gates are connected by the wiring connection unit 2, the output of the first logic circuit 3 is input, and the second logic circuit 4 that inverts and outputs the output is formed, and the first and second logic circuits are formed. With the configuration in which the complementary output signals 3 and 4 are sent to the logic circuit of the next stage, it becomes possible to reliably transfer the abnormal signal even when a plurality of programmable logic circuits are cascaded. In addition, even when there is an abnormality in the logic gate or the output buffer forming the first logic circuit 3, the abnormality signal can be sent out in the logic circuit in the next stage. Therefore, the reliability of the programmable logic circuit can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の原理説明図である。FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention.

【図2】本発明の実施例の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of an example of the present invention.

【図3】次段の論理回路の説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of a next-stage logic circuit.

【図4】従来例の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a conventional example.

【図5】従来例の試験説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a test of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1−1〜1−n 論理ゲート 2 配線接続部 3 第1の論理回路 4 第2の論理回路 5 論理回路 6 フリップフロップ IN1〜IN3 入力端子 OUT1〜OUTn 出力端子 PAL1,PAL2 プログラム可能論理回路 1-1 to 1-n logic gate 2 wiring connection part 3 first logic circuit 4 second logic circuit 5 logic circuit 6 flip-flop IN1 to IN3 input terminal OUT1 to OUTn output terminal PAL1, PAL2 programmable logic circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 複数の論理ゲート(1−1〜1−n)
と、複数の配線をマトリクス状に配置した配線接続部
(2)とを含み、プログラム・データに従って前記論理
ゲート間を前記配線接続部(2)を介して接続するプロ
グラム可能論理回路に於いて、 前記配線接続部(2)により前記論理ゲート間を接続し
て形成した第1の論理回路(3)と、前記複数の論理ゲ
ート(1−1〜1−n)の中の空き論理ゲートを前記配
線接続部(2)により接続し、前記第1の論理回路
(3)の出力を入力して反転出力する第2の論理回路
(4)とを形成し、前記第1の論理回路(3)の出力と
前記第2の論理回路(4)の出力とを次段の論理回路に
送出する構成としたことを特徴とするプログラム可能論
理回路。
Claims: 1. A plurality of logic gates (1-1 to 1-n).
And a wiring connection section (2) in which a plurality of wirings are arranged in a matrix, and which connects the logic gates via the wiring connection section (2) according to program data. A first logic circuit (3) formed by connecting the logic gates by the wiring connection section (2) and an empty logic gate among the plurality of logic gates (1-1 to 1-n) A second logic circuit (4) which is connected by a wiring connection part (2) and which receives the output of the first logic circuit (3) and inverts and outputs it, and forms the first logic circuit (3). And the output of the second logic circuit (4) are sent to the logic circuit of the next stage.
JP3193835A 1991-08-02 1991-08-02 Programmable logic circuit Withdrawn JPH0537358A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6690163B1 (en) 1999-01-25 2004-02-10 Hitachi, Ltd. Magnetic sensor

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US6690163B1 (en) 1999-01-25 2004-02-10 Hitachi, Ltd. Magnetic sensor

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