JPH05341487A - Defect inspecting and correcting device for mask film - Google Patents

Defect inspecting and correcting device for mask film

Info

Publication number
JPH05341487A
JPH05341487A JP17010292A JP17010292A JPH05341487A JP H05341487 A JPH05341487 A JP H05341487A JP 17010292 A JP17010292 A JP 17010292A JP 17010292 A JP17010292 A JP 17010292A JP H05341487 A JPH05341487 A JP H05341487A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
defect
mask film
film
inspection
liquid crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP17010292A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshihisa Hirota
敏久 廣田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd filed Critical Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP17010292A priority Critical patent/JPH05341487A/en
Publication of JPH05341487A publication Critical patent/JPH05341487A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain the mask film inspecting and correcting device which projects and displays a defect of a pattern formed on a mask film to the mask film, and can execute exactly and easily a correction work of this defect. CONSTITUTION:The device is provided with a means (inspecting machine) A for detecting a defect of a pattern formed on a mask film MF, and making a bar-code label in which defect information is recorded, and a means (correcting machine) B for projecting and displaying a defect position of the mask film, based on the defect information recorded in the made bar-code label. In the correcting machine B, the defect information recorded in the bar- code label is read by a bar-code reader 600, and based thereon, a liquid crystal driving part 700 drives a liquid crystal and forms a defect display mar as a mattern, and this pattern is projected on the mask film by a projection optical system 200, by which the defect can be found out easily.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は透明フィルムに所要パタ
ーンが形成されたマスクフィルムのパターン欠陥を検査
するための検査装置に関し、特にマスクフィルムの欠陥
箇所を投影表示して欠陥修正を容易に行なうことを可能
にしたマスクフィルムの欠陥検査及び修正装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus for inspecting a pattern defect of a mask film having a required pattern formed on a transparent film, and more particularly, a defect portion of the mask film is projected and displayed to easily correct the defect. The present invention relates to a mask film defect inspection and repair device that enables the above.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器に用いられるプリント配
線板を写真蝕刻法により形成する際に使用されるマスク
フィルムのパターン欠陥検査として、画像読取カメラで
パターンの画像データを読み取り、この画像データを所
要のアルゴリズムで処理することでパターン欠陥を自動
的に検出する方法が提案されている。このような検査方
法では、マスクフィルムの欠陥データとしてマスクフィ
ルム上における欠陥の座標位置や欠陥種類等の情報を得
ることができるため、この欠陥情報に基づいてマスクフ
ィルムと略同じ大きさの用紙の対応する欠陥箇所に点等
を描画して欠陥箇所を表示させることができる。そし
て、マスクフィルムの欠陥の修正に際しては、この欠陥
箇所が表示された用紙の上に該当するマスクフィルムを
重ね、このマスクフィルムを透して見える描画点を基準
としてマスクフィルム上の欠陥箇所を見つけ、その修正
作業を行っている。
2. Description of the Related Art In recent years, as a pattern defect inspection of a mask film used for forming a printed wiring board used in electronic equipment by a photo-etching method, image data of a pattern is read by an image reading camera, and this image data is read. A method of automatically detecting a pattern defect by processing with a required algorithm has been proposed. In such an inspection method, since it is possible to obtain information such as the coordinate position of the defect on the mask film and the defect type as the defect data of the mask film, based on this defect information, it is possible to determine the size of a sheet of paper of about the same size as the mask film. It is possible to draw a dot or the like on the corresponding defective portion and display the defective portion. Then, when the defect of the mask film is corrected, the corresponding mask film is overlaid on the paper on which the defective portion is displayed, and the defective portion on the mask film is found based on the drawing point seen through the mask film. , I am working on the correction.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな修正作業では、用紙とマスクフィルムを正確に位置
合わせしないと正しい欠陥位置を表示させることができ
ないため、両者を位置合わせするための作業が修正作業
の前工程として必要になり、修正作業が面倒になるとい
う問題がある。又、マスクフィルムに対応して同じ大き
さの用紙が必要とされ、しかもこの用紙は欠陥修正後に
は不要となるものであるため、省資源上及び経済的に無
駄なものになるという問題もある。本発明の目的は、パ
ターン欠陥の修正作業を正確にしかも容易に行うことを
可能にし、しかも欠陥箇所を表示するための用紙を不要
にしたマスクフィルムの欠陥検査及び修正装置を提供す
ることにある。
However, in such a repair work, the correct defect position cannot be displayed unless the paper and the mask film are accurately aligned, so the work for aligning the two is corrected. There is a problem that it is necessary as a pre-process of the work and the correction work is troublesome. Further, a sheet of the same size is required corresponding to the mask film, and since this sheet becomes unnecessary after the defect is corrected, there is a problem that it is wasteful in terms of resource saving and economical. .. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a mask film defect inspection and correction device that enables accurate and easy pattern defect correction work and that does not require a sheet for displaying the defect portion. ..

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明は、マスクフィル
ムに形成されたパターンの欠陥を検出し、かつ欠陥情報
を記録したバーコードラベルを作成する手段と、作成さ
れたバーコードに記録された欠陥情報に基づいてマスク
フィルムの欠陥位置を投影表示するための投影表示手段
とを備える。欠陥位置を投影表示する手段は、バーコー
ドラベルに記録された欠陥情報を読み取る手段と、読み
取った欠陥情報に基づいて液晶に欠陥表示マークをパタ
ーン形成する手段と、液晶に表示された欠陥表示マーク
を投影表示する投影光学系とを備える。又、検査手段
は、作成されたバーコードラベルを当該マスクフィルム
の一部に貼り付ける手段を備える。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is a means for detecting a defect in a pattern formed on a mask film and producing a bar code label recording defect information, and a means for producing a bar code label recorded on the produced bar code. Projection display means for projecting and displaying the defect position of the mask film based on the defect information. The means for projecting and displaying the defect position includes means for reading the defect information recorded on the barcode label, means for pattern-forming a defect display mark on the liquid crystal based on the read defect information, and the defect display mark displayed on the liquid crystal. And a projection optical system for projecting and displaying. Further, the inspection means includes means for attaching the created barcode label to a part of the mask film.

【0005】[0005]

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明のマスクフィルム欠陥検査及び修正装
置を示す図であり、同図(a)に示す検査機Aと、同図
(b)に示す修正機Bとで構成される。検査機Aはマス
クフィルムのパターン欠陥を検出するためのものであ
り、修正機Bは検出されたパターン欠陥をマスクフィル
ムに対して表示させ、かつその欠陥の修正作業を行うた
めのものである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a view showing a mask film defect inspection and correction device of the present invention, which is composed of an inspection machine A shown in FIG. 1A and a correction machine B shown in FIG. The inspection machine A is for detecting a pattern defect of the mask film, and the repair machine B is for displaying the detected pattern defect on the mask film and performing a repair work for the defect.

【0006】図2は前記検査機の一実施例の正面構成図
であり、図3はその平面構成図である。尚、図3は構成
を判り易くするために一部を省略した状態で図示してい
る。これらの図において、平面形状が一方向に長い矩形
をしたベースプレート1上には、長手方向の一端側に方
形の浅皿状をしたフィルム供給カセット2Aが配置さ
れ、サイズ設定ストッパ21により区画された領域内に
は複数枚の被検査マスクフィルムMFが重ねて収納され
る。又、他端側には同様に構成されたフィルム収納カセ
ット2Bが配置され、検査済マスクフィルムMFが重ね
て収納される。そして、これらのカセット間には長手方
向に沿って一対のレール状の検査テーブルガイド3が延
設され、このガイド3に沿って検査テーブル4が往復移
動される。
FIG. 2 is a front view of an embodiment of the inspection machine, and FIG. 3 is a plan view of the same. It should be noted that FIG. 3 is illustrated with a part thereof omitted for the sake of easy understanding of the configuration. In these figures, a rectangular plate-shaped film supply cassette 2A is arranged on one end side in the longitudinal direction on a base plate 1 whose plane shape is long in one direction, and is partitioned by a size setting stopper 21. A plurality of mask films to be inspected MF are stacked and stored in the area. Further, a film storage cassette 2B having the same structure is arranged on the other end side, and the inspected mask films MF are stacked and stored. A pair of rail-shaped inspection table guides 3 are extended between the cassettes along the longitudinal direction, and the inspection table 4 is reciprocated along the guides 3.

【0007】前記検査テーブル4は光透過性の板材42
と枠材43で形成されており、ベースプレート1の幅方
向両側に延設された検査テーブルガイド3に両側部が支
持される。そして、一方のガイドにはベースプレートの
全長さにわたってスクリューボルト31を延長配置して
おり、検査テーブル4に固定的に設けた雌ネジ部(図示
せず)をスクリューボルト31に螺合させている。この
スクリューボルト31はベースプレートの一端部に設け
た駆動モータ32によって軸転駆動され、軸転駆動され
たときに雌ネジ部に螺合されたネジ機構によって検査テ
ーブル4をガイド3に沿って往復移動させる。又、検査
テーブル4の一端部の表面には複数個のフィルム吸着穴
41が並んで開設されており、詳細を後述するように搭
載されるマスクフィルムMFの一端縁を真空吸着して検
査テーブル上に固定することができる。
The inspection table 4 is a light-transmissive plate member 42.
Both sides are supported by the inspection table guide 3 which is formed of the frame member 43 and extends on both sides of the base plate 1 in the width direction. A screw bolt 31 is extendedly arranged on one guide over the entire length of the base plate, and a female screw portion (not shown) fixedly provided on the inspection table 4 is screwed onto the screw bolt 31. This screw bolt 31 is axially driven by a drive motor 32 provided at one end of the base plate, and when the axial rotation is driven, the inspection table 4 is reciprocally moved along the guide 3 by the screw mechanism screwed into the female screw portion. Let In addition, a plurality of film suction holes 41 are formed side by side on the surface of one end of the inspection table 4, and one edge of the mask film MF to be mounted is vacuum-sucked on the inspection table as described later in detail. Can be fixed to.

【0008】又、前記フィルム供給カセット2Aの上側
には、被検査マスクフィルムMFを検査テーブル4に搭
載するためのフィルム搭載部5Aが設けられ、前記フィ
ルム収納カセット2Bの上側には検査済マスクフィルム
MFを検査テーブル4から降載するためのフィルム降載
部5Bが設けられる。フィルム搭載部5Aはフィルム昇
降モータ53によって固定枠体51に対して上下移動さ
れるフィルム昇降アーム52が設けられ、このアーム5
2に設けた吸着ノズル54によって被検査マスクフィル
ムMFが真空吸着され、フィルム供給カセット2Aから
検査テーブル4上に搭載される。又、フィルム降載部5
Bも同様に構成され、検査テーブル4上の検査済マスク
フィルムをフィルム収納カセット2Bに降載する。
A film mounting portion 5A for mounting the inspected mask film MF on the inspection table 4 is provided above the film supply cassette 2A, and an inspected mask film is provided above the film storage cassette 2B. A film loading section 5B for loading the MF from the inspection table 4 is provided. The film mounting portion 5A is provided with a film elevating arm 52 that is vertically moved with respect to the fixed frame body 51 by a film elevating motor 53.
The mask film MF to be inspected is vacuum-sucked by the suction nozzle 54 provided in 2, and is mounted on the inspection table 4 from the film supply cassette 2A. Also, the film loading section 5
B has the same structure, and the inspected mask film on the inspection table 4 is mounted on the film storage cassette 2B.

【0009】又、前記フィルム搭載部5Aの枠体51の
一側にはフィルム押え部8が設けられる。このフィルム
押え部8は前記枠体51から幅方向に対向する一対のブ
ラケット81間にフィルム押えローラ82を配設し、こ
のフィルム押えローラ82をスプリング83により検査
テーブル4面に押圧させるように付勢している。
A film pressing portion 8 is provided on one side of the frame 51 of the film mounting portion 5A. The film pressing portion 8 is provided with a film pressing roller 82 between a pair of brackets 81 opposed to each other in the width direction from the frame 51, and the film pressing roller 82 is pressed against the surface of the inspection table 4 by a spring 83. I am energetic.

【0010】前記フィルム搭載部5Aとフィルム降載部
5Bとの間には検査テーブル4に搭載されたマスクフィ
ルムMFのパターンを画像を読み取って欠陥を検査する
ための欠陥検査部6が設けられる。この画像読取部とし
ての欠陥検査部6は、前記ベースプレート1の長手方向
の中間位置で前記検査テーブル4よりも下側の位置に、
幅方向に延びる蛍光灯等の照明光源61を有し、この照
明光源61によって検査テーブル4上のマスクフィルム
を透過照明する。又、この照明光源61に対向する検査
テーブルの上側には、前記ガイド3間に跨がるように幅
方向にカメラ搬送ガイド62が延長され、CCDライン
センサからなる画像読取カメラ63が支持されている。
この画像読取カメラ63は、カメラ搬送モータ64を駆
動することでカメラ搬送ガイドに沿って往復移動され
る。
A defect inspection section 6 is provided between the film mounting section 5A and the film lowering section 5B for inspecting a defect by reading an image of the pattern of the mask film MF mounted on the inspection table 4. The defect inspection unit 6 as the image reading unit is provided at a position below the inspection table 4 at an intermediate position in the longitudinal direction of the base plate 1.
An illumination light source 61 such as a fluorescent lamp extending in the width direction is provided, and the illumination light source 61 illuminates the mask film on the inspection table 4 through transmission. On the upper side of the inspection table facing the illumination light source 61, a camera conveyance guide 62 is extended in the width direction so as to straddle the guides 3, and an image reading camera 63 composed of a CCD line sensor is supported. There is.
The image reading camera 63 is reciprocated along the camera conveyance guide by driving the camera conveyance motor 64.

【0011】又、前記欠陥検査部6と隣接する位置に
は、検査されたマスクフィルムに対してバーコードラベ
ルを貼り付けるラベル貼付部7が設けられる。このラベ
ル貼付部7は、前記カメラ搬送ガイド62と平行にラベ
ル搬送ガイド71が延長され、ラベル吸着ノズルを有す
るラベル搬送器72が支持されている。そして、ラベル
搬送モータ74を駆動することでラベル搬送器72をラ
ベル搬送ガイドに沿って往復移動させ、ラベル吸着ノズ
ル73に真空吸着したバーコードラベルBLをマスクフ
ィルムMFの所定箇所に貼り付けることができる。
A label sticking portion 7 for sticking a bar code label to the inspected mask film is provided at a position adjacent to the defect inspection portion 6. In the label sticking section 7, a label transport guide 71 is extended in parallel with the camera transport guide 62, and a label transport device 72 having a label suction nozzle is supported. Then, the label transport motor 74 is driven to reciprocate the label transport device 72 along the label transport guide, and the barcode label BL vacuum-sucked by the label suction nozzle 73 can be attached to a predetermined position of the mask film MF. it can.

【0012】前記バーコードラベルBLは、前記ラベル
搬送ガイド71の一側に設けたバーコードプリンタ9に
より形成される。このバーコードプリンタ9は、前記欠
陥検査部6で検出された欠陥の位置や種類等の情報を磁
気的手段によって記憶させたバーコードラベルBLを印
刷する。印刷されたバーコードラベルBLの一部には両
面テープが付着され、バーコードラベルBLはこの両面
テープによりマスクフィルムMFの一側部に貼り付けら
れるようになっている。又、100は真空ポンプであ
り、切換弁101の切り換え動作によって前記フィルム
吸着穴41、吸着ノズル54、ラベル吸着ノズル73等
を選択的、或いは同時に真空状態とし、マスクフィルム
やバーコードラベルを真空吸着させる。
The bar code label BL is formed by a bar code printer 9 provided on one side of the label carrying guide 71. The barcode printer 9 prints a barcode label BL in which information such as the position and type of the defect detected by the defect inspection unit 6 is stored by magnetic means. A double-sided tape is attached to a part of the printed barcode label BL, and the barcode label BL is attached to one side of the mask film MF by the double-sided tape. Further, 100 is a vacuum pump, and the film suction hole 41, the suction nozzle 54, the label suction nozzle 73, etc. are selectively or simultaneously brought into a vacuum state by the switching operation of the switching valve 101, and the mask film and the barcode label are vacuum-sucked. Let

【0013】一方、前記修正機は、図4に概略内部構成
を示すように、その一部に液晶203を有しており、こ
の液晶203を背後から照明する光源201と、コンデ
ンサレンズ202と、照明された液晶を拡大投影する投
影レンズ204と、2枚の反射鏡205,206と、液
晶像が投影される半透過性の投影ガラス207とで構成
される。前記液晶203は例えば微細マトリクスパター
ンとして形成され、液晶駆動部700によって任意のパ
ターンを表示するように構成される。この液晶駆動部7
00にはバーコード読取器600が接続され、バーコー
ドラベルBLに印刷(記録)されている欠陥情報を読み
取り、その欠陥情報に基づいて液晶駆動部700を駆動
させる。又、前記投影レンズ204はここではズームレ
ンズで構成され、液晶203に表示されるパターンを任
意の倍率で投影ガラス207面に投影するように構成し
ている。前記投影ガラス207は修正作業テーブルとし
て構成され、この投影ガラス207の表面上にパターン
欠陥が検出されたマスクフィルムMFを載置でき、投影
ガラス207に投影された液晶パターンをマスクフィル
ムMFを透して確認でき、しかもこのパターンを用いる
ことで、検出されたパターン欠陥を手作業によって修正
することができるように構成されている。
On the other hand, as shown in the schematic internal structure of FIG. 4, the repair machine has a liquid crystal 203 in a part thereof, a light source 201 for illuminating the liquid crystal 203 from behind, a condenser lens 202, and It is composed of a projection lens 204 for enlarging and projecting the illuminated liquid crystal, two reflecting mirrors 205 and 206, and a semi-transmissive projection glass 207 on which a liquid crystal image is projected. The liquid crystal 203 is formed as a fine matrix pattern, for example, and is configured to display an arbitrary pattern by the liquid crystal driving unit 700. This liquid crystal drive unit 7
A barcode reader 600 is connected to 00, reads the defect information printed (recorded) on the barcode label BL, and drives the liquid crystal drive unit 700 based on the defect information. The projection lens 204 is composed of a zoom lens here, and is configured to project the pattern displayed on the liquid crystal 203 onto the surface of the projection glass 207 at an arbitrary magnification. The projection glass 207 is configured as a correction work table, and a mask film MF in which a pattern defect is detected can be placed on the surface of the projection glass 207, and the liquid crystal pattern projected on the projection glass 207 is transparent through the mask film MF. By using this pattern, it is possible to manually correct the detected pattern defect.

【0014】尚、図5(a)及び(b)は前記検査機と
修正機のそれぞれのブロック構成図である。検査機Aに
おいては、前記フィルム供給カセット2A,フィルム収
納カセット2B,照明光源61等は機構制御部300に
より駆動制御される。又、画像読取カメラ63の出力は
画像処理部400において処理され、判定部500で欠
陥が判定された後、その出力に基づいてバーコードプリ
ンタ9においてバーコードラベルBLを作成する。又、
修正機Bにおいては、バーコードラベルBLを読み取る
バーコード読取器600に液晶駆動部700が接続さ
れ、この液晶駆動部700によって液晶に形成されたパ
ターンは投影光学系200により投影ガラス207上の
マスクフィルムMFの裏面に投影される。
5 (a) and 5 (b) are block diagrams of the inspection machine and the correction machine, respectively. In the inspection machine A, the film supply cassette 2A, the film storage cassette 2B, the illumination light source 61 and the like are driven and controlled by the mechanism control unit 300. The output of the image reading camera 63 is processed by the image processing unit 400, and after the determination unit 500 determines a defect, the barcode printer 9 creates a barcode label BL based on the output. or,
In the correction machine B, a liquid crystal driving section 700 is connected to a bar code reader 600 for reading the bar code label BL, and the pattern formed on the liquid crystal by the liquid crystal driving section 700 is a mask on the projection glass 207 by the projection optical system 200. It is projected on the back surface of the film MF.

【0015】次に、以上の構成の検査機の検査工程と、
修正機におけるパターン修正作業を図6のフローチャー
トを参照して説明する。先ず、検査機Aにおいて、被検
査フィルムMFはフィルム供給カセット2Aに重ねて入
れられ、検査テーブル4がフィルム収納カセット2B側
に移動されているときに、検査されるフィルムがフィル
ム搭載部5Aのフィルム昇降アーム52によって真空吸
着されて持ち上げられる。そして、検査テーブル4がフ
ィルム供給カセット2A上の始点位置に戻されたときに
検査テーブル4上に搭載される。
Next, the inspection process of the inspection machine having the above configuration,
The pattern correction work in the correction machine will be described with reference to the flowchart of FIG. First, in the inspection machine A, the film to be inspected MF is placed in the film supply cassette 2A in an overlapping manner, and when the inspection table 4 is moved to the film storage cassette 2B side, the film to be inspected is the film of the film mounting portion 5A. The lifting arm 52 is vacuum-adsorbed and lifted. Then, when the inspection table 4 is returned to the starting point position on the film supply cassette 2A, it is mounted on the inspection table 4.

【0016】検査テーブル4上に搭載された被検査フィ
ルムMFは、検査テーブル4の一端部に設けたフィルム
吸着穴41にその先端部が真空吸着されて固定される。
又、フィルム押え部8により後端部側が検査テーブル4
の表面に押圧されて密接される。そして、検査テーブル
4は間欠的に移動を開始する。この検査テーブル4の移
動開始に同期させて照明光源61を点灯し、被検査フィ
ルムの照明を開始する。同時にカメラ搬送モータ64を
駆動して画像読取カメラ63を検査テーブル4の移動方
向と直交する方向に移動させる。これにより、画像読取
カメラ63は所要の幅寸法で走査し、被検査フィルムの
パターンを画像データとして読み取ることになる。以
後、検査テーブル4を画像読取カメラ63が読み取った
幅寸法毎に間欠的に移動させ、かつこれに対応して画像
読取カメラ63を繰り返して往復移動させることで、被
検査フィルムMFの全面のパターンを画像データとして
読み取ることができる。
The film to be inspected MF mounted on the inspection table 4 is fixed by vacuum adsorbing the tip end thereof to a film adsorption hole 41 provided at one end of the inspection table 4.
Further, the film holding portion 8 allows the rear end side to be in the inspection table 4
It is pressed and brought into close contact with the surface of. Then, the inspection table 4 starts to move intermittently. The illumination light source 61 is turned on in synchronization with the start of movement of the inspection table 4, and the illumination of the film to be inspected is started. At the same time, the camera conveyance motor 64 is driven to move the image reading camera 63 in the direction orthogonal to the moving direction of the inspection table 4. As a result, the image reading camera 63 scans with a required width dimension and reads the pattern of the film to be inspected as image data. After that, the inspection table 4 is intermittently moved for each width dimension read by the image reading camera 63, and the image reading camera 63 is repeatedly reciprocally moved correspondingly, whereby the pattern of the entire surface of the film MF to be inspected. Can be read as image data.

【0017】検査テーブルが終点位置まで移動されてマ
スクフィルムの検査が終了されると、画像読取カメラ6
3により読み取られた画像データは画像処理部400で
処理され、かつ判定部500において欠陥が検出された
上で、バーコードプリンタ9において欠陥情報を記憶し
たバーコードラベルBLが印刷される。そして、このバ
ーコードラベルBLは、ラベル貼付部7のラベル吸着ノ
ズル73によって真空吸着された上で、ラベル搬送器7
2によってそのマスクフィルムMFの所定箇所にまで搬
送され、その箇所に貼り付けられる。その後、検査テー
ブル4上の検査済の被検査フィルム(検査済フィルム)
MFはフィルム降載部5Bのフィルム昇降アーム52に
よって検査テーブル4の上方に持ち上げられる。そし
て、検査テーブル4が次の被検査フィルムを搭載すべく
始点位置まで戻されたときに、検査済フィルムMFはフ
ィルム収納カセット2Bに納められる。
When the inspection table is moved to the end position and the inspection of the mask film is completed, the image reading camera 6
The image data read by 3 is processed by the image processing unit 400, and the defect is detected by the determination unit 500, and then the barcode label BL storing the defect information is printed by the barcode printer 9. The barcode label BL is vacuum-sucked by the label suction nozzle 73 of the label sticking unit 7, and then the label carrier 7
The mask film MF is conveyed by 2 to a predetermined position and is attached to that position. After that, the inspected film on the inspection table 4 (inspected film)
The MF is lifted above the inspection table 4 by the film elevating arm 52 of the film lowering section 5B. Then, when the inspection table 4 is returned to the starting point position to mount the next film to be inspected, the inspected film MF is stored in the film storage cassette 2B.

【0018】このようにして検査された検査済のマスク
フィルムMFは、フィルム収納カセット2Bから取り出
され、修正機Bの投影ガラス207の所定位置に載置さ
れる。そして、作業者はこのマスクフィルムMFに貼り
付けられているバーコードラベルBLを剥がした上で、
バーコード読取器600に装着する。バーコード読取器
600は、バーコードラベルBLに記録されている欠陥
情報を読み取り、この欠陥情報に基づいて液晶駆動部7
00が液晶203を駆動し、液晶203には対象となる
マスクフィルムMFで検出された欠陥の欠陥表示マーク
が表示される。そして、点灯された光源201によって
液晶203が照明され、図7に示すように、投影光学系
200により液晶203に表示された欠陥表示マークD
Mが投影ガラス207に投影される。このとき、投影レ
ンズ204の倍率を調整すれば、投影ガラス207には
マスクフィルムMFと等倍の液晶のパターン像が投影さ
れ、したがって欠陥表示マークDMが等倍で投影され
る。
The inspected mask film MF thus inspected is taken out from the film storage cassette 2B and placed at a predetermined position on the projection glass 207 of the correction machine B. Then, the operator peels off the barcode label BL attached to the mask film MF,
Attach it to the bar code reader 600. The barcode reader 600 reads the defect information recorded on the barcode label BL, and based on this defect information, the liquid crystal drive unit 7
00 drives the liquid crystal 203, and a defect display mark of the defect detected in the target mask film MF is displayed on the liquid crystal 203. Then, the liquid crystal 203 is illuminated by the turned-on light source 201, and as shown in FIG. 7, the defect display mark D displayed on the liquid crystal 203 by the projection optical system 200.
M is projected on the projection glass 207. At this time, if the magnification of the projection lens 204 is adjusted, a pattern image of the liquid crystal of the same size as the mask film MF is projected on the projection glass 207, so that the defect display mark DM is projected at the same size.

【0019】これにより、投影ガラス207に投影され
た欠陥表示マークDMをマスクフィルムMFを透して観
察することができる。このため、修正作業者は、この欠
陥表示マークDMを確認しながらマスクフィルムの欠陥
箇所を見い出し、所要の修正を行うことができる。した
がって、欠陥箇所を探す作業を容易にし、欠陥修正作業
を正確に、しかも迅速に行うことができる。これによ
り、従来のような欠陥箇所を表示するためのマスクフィ
ルムと同じ大きさの用紙が不要となり、省資源的にも経
済的にも有利となる。
Thus, the defect display mark DM projected on the projection glass 207 can be observed through the mask film MF. Therefore, the repair operator can find the defective portion of the mask film while confirming the defect display mark DM and perform the required repair. Therefore, it is possible to facilitate the work of finding a defective portion and perform the defect correction work accurately and quickly. This eliminates the need for a sheet of the same size as the mask film for displaying a defective portion as in the conventional case, which is advantageous in terms of resource saving and economics.

【0020】更に、欠陥表示マークをマスクフィルムを
載置した投影ガラス207の裏面側から、即ちマスクフ
ィルムMFの裏面側から投影しているので、例えば欠陥
表示マークをマスクフィルムの表面側から投影する場合
に比べれば、投影される欠陥表示マークが修正作業者に
よってけられて見難くなることもなく、修正作業に制約
を受けることもない。ここで、液晶に表示される欠陥表
示マークを例えば点滅させることで、欠陥位置の確認を
更に容易に行うことができる。又、修正機Bでは、バー
コードラベルBLから読み出された欠陥情報に基づいて
ディスプレイ208(図1参照)に欠陥種類や欠陥番号
等を表示させることで、欠陥修正作業を更に容易に行う
ことができ、しかも欠陥の見落としを未然に防止するこ
とができる。
Further, since the defect display mark is projected from the back surface side of the projection glass 207 on which the mask film is placed, that is, from the back surface side of the mask film MF, for example, the defect display mark is projected from the front surface side of the mask film. Compared with the case, the defect display mark projected is not obscured by the repair operator and becomes difficult to see, and the repair operation is not restricted. Here, for example, by blinking the defect display mark displayed on the liquid crystal, the defect position can be more easily confirmed. Further, in the repair machine B, the defect type, the defect number, etc. are displayed on the display 208 (see FIG. 1) based on the defect information read from the barcode label BL, so that the defect repair work can be further facilitated. It is possible to prevent the defect from being overlooked.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、被検査フ
ィルムの欠陥を検出し、この検出された欠陥情報をバー
コードラベルに記憶するとともに、バーコードラベルに
記憶された欠陥情報に基づいて欠陥を投影表示するよう
にしているので、マスクフィルムの欠陥を投影パターン
によって一目で確認することができ、マスクフィルムの
欠陥修正作業を適切かつ迅速に行うことが可能となる。
又、表示手段では記録された欠陥情報に基づいて液晶に
欠陥表示マークを形成させ、この欠陥表示マークをマス
クフィルムに投影させているので、種々の態様の欠陥に
対してもそれぞれ適切な欠陥表示を行なうことができ
る。
As described above, the present invention detects defects in the film to be inspected, stores the detected defect information in the bar code label, and based on the defect information stored in the bar code label. Since the defect is projected and displayed, the defect of the mask film can be confirmed at a glance by the projection pattern, and the defect correction work of the mask film can be appropriately and quickly performed.
Further, since the display means forms the defect display mark on the liquid crystal based on the recorded defect information and projects the defect display mark on the mask film, it is possible to display an appropriate defect display for various kinds of defects. Can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明にかかる検査機と修正機の外観斜視図で
ある。
FIG. 1 is an external perspective view of an inspection machine and a correction machine according to the present invention.

【図2】検査機の内部構造を示す正面図である。FIG. 2 is a front view showing the internal structure of the inspection machine.

【図3】図2の平面図である。FIG. 3 is a plan view of FIG.

【図4】修正機の内部構造を示す概略構成図である。FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing an internal structure of a repair machine.

【図5】検査機と修正機のブロック構成図である。FIG. 5 is a block configuration diagram of an inspection machine and a correction machine.

【図6】検査及び修正作業を示すフローチャートであ
る。
FIG. 6 is a flowchart showing inspection and correction work.

【図7】投影ガラスに投影される欠陥表示マークを示す
図である。
FIG. 7 is a diagram showing a defect display mark projected on a projection glass.

【符号の説明】 A 検査機 B 修正機 4 検査テーブル 6 欠陥検査部 7 バーコードラベル貼付部 9 バーコードプリンタ MF マスクフィルム BL バーコードラベル[Explanation of Codes] A inspection machine B correction machine 4 inspection table 6 defect inspection section 7 barcode label attachment section 9 barcode printer MF mask film BL barcode label

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 マスクフィルムに形成されたパターンの
欠陥を検出し、その欠陥情報を記録したバーコードラベ
ルを作成する検査手段と、作成されたバーコードラベル
に記録された欠陥情報に基づいてマスクフィルムの欠陥
位置を投影表示する投影表示手段とを備えることを特徴
とするマスクフィルムの欠陥検査及び修正装置。
1. An inspection means for detecting a defect of a pattern formed on a mask film and producing a bar code label recording the defect information, and a mask based on the defect information recorded on the produced bar code label. A defect inspection and correction device for a mask film, comprising: projection display means for projecting and displaying a defect position of the film.
【請求項2】 欠陥位置を投影表示する手段は、バーコ
ードラベルに記録された欠陥情報を読み取る手段と、読
み取った欠陥情報に基づいて液晶に欠陥表示マークをパ
ターン形成する手段と、液晶に表示された欠陥表示マー
クを投影表示する投影光学系とを備える請求項1のマス
クフィルムの欠陥検査及び修正装置。
2. A means for projecting and displaying a defect position, means for reading defect information recorded on a bar code label, means for pattern forming a defect display mark on liquid crystal based on the read defect information, and means for displaying on the liquid crystal. The defect inspection and repair apparatus for a mask film according to claim 1, further comprising: a projection optical system for projecting and displaying the displayed defect display mark.
【請求項3】 検査手段は、作成されたバーコードラベ
ルを当該マスクフィルムの一部に貼り付ける手段を備え
る請求項1又は2のマスクフィルムの欠陥検査及び修正
装置。
3. The mask film defect inspection and repair apparatus according to claim 1, wherein the inspection means comprises means for attaching the produced bar code label to a part of the mask film.
JP17010292A 1992-06-04 1992-06-04 Defect inspecting and correcting device for mask film Pending JPH05341487A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17010292A JPH05341487A (en) 1992-06-04 1992-06-04 Defect inspecting and correcting device for mask film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17010292A JPH05341487A (en) 1992-06-04 1992-06-04 Defect inspecting and correcting device for mask film

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05341487A true JPH05341487A (en) 1993-12-24

Family

ID=15898677

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17010292A Pending JPH05341487A (en) 1992-06-04 1992-06-04 Defect inspecting and correcting device for mask film

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05341487A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20210005520A1 (en) * 2019-07-02 2021-01-07 Sharp Kabushiki Kaisha Method and apparatus for manufacturing array device
US11125663B1 (en) 2016-03-11 2021-09-21 Montana Instruments Corporation Cryogenic systems and methods
CN115230346A (en) * 2022-08-03 2022-10-25 河南汇达印通科技股份有限公司 Photosensitive material plate production device and production method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11125663B1 (en) 2016-03-11 2021-09-21 Montana Instruments Corporation Cryogenic systems and methods
US20210005520A1 (en) * 2019-07-02 2021-01-07 Sharp Kabushiki Kaisha Method and apparatus for manufacturing array device
CN115230346A (en) * 2022-08-03 2022-10-25 河南汇达印通科技股份有限公司 Photosensitive material plate production device and production method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4866782B2 (en) Substrate clamping mechanism and drawing system
WO2006077804A1 (en) Clamping apparatus and image forming apparatus
JP2006195062A (en) Clamping device and image forming apparatus
JP4942188B2 (en) Substrate clamping mechanism and drawing system
JPH05341487A (en) Defect inspecting and correcting device for mask film
JPH10187937A (en) Projection and exposure apparatus for band-shaped work
JP2004095672A (en) Electronic circuit component loading machine and method for inspecting accuracy of loading position thereof
JP2006237340A (en) Clamping apparatus, image forming apparatus, and clamp positioning method
JP2006192520A (en) Clamping device, image forming device, clamping method, and image forming method
JPH05341488A (en) Defect inspecting and correcting device for mask film
US6055908A (en) Method and device for positioning printing plates
JPH05341491A (en) Defect inspecting and correcting device for mask film
JP2008028275A (en) Illuminator for image recognition of component mounting machine
JPH05341490A (en) Defect inspecting and correcting device for mask film
JP3481144B2 (en) Chamfer width measuring device
JPS6148703A (en) Holding position confirming device of automatic component mounting device
JP2006192521A (en) Clamping device and image forming device
JPH05341492A (en) Defect inspecting device for mask film
JPH05333521A (en) Label for indicating defect of mask film and its sticking device
JPH05313351A (en) Mask film inspecting device
JP2006058496A (en) Substrate measurement device, substrate carrying device, and image forming apparatus equipped with substrate measuring device, and substrate measuring method
JPH05333520A (en) Label for indicating defect of mask film and its sticking device
JPH11186359A (en) Substrate conveying device and reticle
JPH05313353A (en) Mask film inspecting device
JP2000198180A (en) Screen printer