JPH05313353A - Mask film inspecting device - Google Patents

Mask film inspecting device

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Publication number
JPH05313353A
JPH05313353A JP14340492A JP14340492A JPH05313353A JP H05313353 A JPH05313353 A JP H05313353A JP 14340492 A JP14340492 A JP 14340492A JP 14340492 A JP14340492 A JP 14340492A JP H05313353 A JPH05313353 A JP H05313353A
Authority
JP
Japan
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defect
film
label
mask film
inspection
Prior art date
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Pending
Application number
JP14340492A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideaki Ono
英明 大野
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Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd filed Critical Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP14340492A priority Critical patent/JPH05313353A/en
Publication of JPH05313353A publication Critical patent/JPH05313353A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To reduce the size and cost of the inspecting device at the time of integrally constituting a defect inspecting section and defect display section for a mask film as the inspecting device. CONSTITUTION:This inspecting device has an inspection table 4 which is mounted with the mask film MF to be inspected and is moved in one direction, the defect inspecting section 6 which is moved in the direction orthogonal with the moving direction of this inspection table and detects the pattern defect of the mask film MF and the defect display section 7 which is moved in the direction parallel with the defect inspecting section 6 and displays the defect at the detected defect point (a label sticking section for sticking the label indicting the defect to the mask film MF). As a result, the driving mechanisms for the defect inspecting section 6 and the defect display section 7 in one direction are commonly used and the mechanisms are simplified.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は透明フィルムに所要パタ
ーンが形成されたマスクフィルムのパターン欠陥を検査
してその欠陥箇所をフィルム上に表示させる検査装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus for inspecting a pattern defect of a mask film having a required pattern formed on a transparent film and displaying the defective portion on the film.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、プリント配線板を写真蝕刻法によ
り形成する際に使用されるマスクフィルムのパターン欠
陥を検査するための装置として、画像読取カメラでパタ
ーンの画像を読み取り、これから得られる画像データを
所要のアルゴリズムで処理してパターン欠陥を自動的に
検出する装置が提案されている。又、検出された欠陥の
修正を容易に行うために、検出されたマスクフィルムの
欠陥箇所に例えばラベル等を貼り付けて欠陥箇所を表示
するようにした装置が提案されている。
2. Description of the Related Art Recently, an image reading camera reads an image of a pattern as an apparatus for inspecting a pattern defect of a mask film used when a printed wiring board is formed by a photo-etching method, and image data obtained from the image is read. There has been proposed a device for automatically processing pattern defects by automatically detecting pattern defects. Further, in order to easily correct the detected defect, a device has been proposed in which, for example, a label or the like is attached to the detected defective portion of the mask film to display the defective portion.

【0003】従来、前記した検査装置としては、マスク
フィルムを効率よく検査するために、往復移動される検
査テーブル上に被検査フィルムを載せ、検査テーブルを
一方向に移動させる一方、パターンを読み取る画像読取
カメラをこれと直交する方向に移動させながら検査を行
う構成のものがある。又、マスクフィルムの欠陥箇所に
ラベルを貼り付ける装置として、従来では固定テーブル
上にマスクフィルムを載置し、この固定テーブルに対し
てX軸及びY軸方向に移動される可動アームによってラ
ベルを該当箇所に貼り付けるようにしたものがある。
Conventionally, as the above-mentioned inspection device, in order to inspect the mask film efficiently, the film to be inspected is placed on a reciprocating inspection table, and the inspection table is moved in one direction, while an image for reading a pattern is read. There is a configuration in which an inspection is performed while moving the reading camera in a direction orthogonal to the reading camera. Further, as a device for attaching a label to a defective portion of a mask film, conventionally, the mask film is placed on a fixed table, and the label is applied by a movable arm that is moved in the X-axis and Y-axis directions with respect to the fixed table. There are some that are designed to be pasted in places.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな検査装置は、マスクフィルムの欠陥検査装置とラベ
ル貼付装置がそれぞれ独立した機構で構成されているた
め、これらを一体化した検査装置を構成する場合には、
装置が大型化してしまうという問題がある。又、欠陥検
査とラベル貼付けのそれぞれにXY方向の移動機構を設
ける必要があるため、検査装置内に類似の機構を重複し
て配設する必要があり、装置の低価格化を図る上での障
害となっている。本発明の目的は、マスクフィルムの欠
陥検査と欠陥表示の機構を共通化して小型化、低価格化
を可能にしたマスクフィルムの検査装置を提供すること
にある。
However, in such an inspection apparatus, since the mask film defect inspection apparatus and the label sticking apparatus are each constituted by an independent mechanism, they are integrated into an inspection apparatus. in case of,
There is a problem that the device becomes large. Further, since it is necessary to provide a moving mechanism in the XY directions for each of the defect inspection and the label sticking, it is necessary to dispose a similar mechanism in the inspection device in a duplicated manner, and in order to reduce the cost of the device. It is an obstacle. An object of the present invention is to provide a mask film inspecting apparatus which has a common mechanism for defect inspection and defect display of a mask film, which enables downsizing and cost reduction.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、検査されるマ
スクフィルムを搭載し、一方向に移動される検査テーブ
ルと、この検査テーブルの移動方向と直交する方向に移
動されてマスクフィルムのパターン欠陥を検出する欠陥
検査部と、この欠陥検査部と並行な方向に移動されて検
出された欠陥箇所に欠陥表示を行う欠陥表示部とを備え
る。例えば、欠陥表示部は、マスクフィルムの欠陥に対
応する箇所に、欠陥を表示するラベルを貼り付けるラベ
ル貼付部として構成される。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, a mask film to be inspected is mounted and is moved in one direction, and a pattern of the mask film is moved in a direction orthogonal to the moving direction of the inspection table. A defect inspection unit that detects a defect and a defect display unit that moves in a direction parallel to the defect inspection unit and displays a defect at the detected defect portion are provided. For example, the defect display unit is configured as a label sticking unit that sticks a label for displaying a defect on a portion of the mask film corresponding to the defect.

【0006】[0006]

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明のマスクフィルム検査装置の一実施例
の正面構成図であり、図2はその平面構成図である。
尚、図2は構成を判り易くするために一部を省略した状
態で図示している。先ず、このマスクフィルム検査装置
の概略構成を説明する。平面形状が一方向に長い矩形を
したベースプレート1上には、長手方向の一端側にフィ
ルム供給カセット2Aが配置され、複数枚の被検査マス
クフィルムMFが重ねて収納される。又、他端側にはフ
ィルム収納カセット2Bが配置され、検査済マスクフィ
ルムMFが重ねて収納される。そして、これらのカセッ
ト間には長手方向に沿って一対のレール状の検査テーブ
ルガイド3が延設され、このガイド3に沿って検査テー
ブル4が往復移動される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a front configuration diagram of an embodiment of a mask film inspection apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a plan configuration diagram thereof.
It should be noted that FIG. 2 is illustrated with a part omitted for the sake of easy understanding of the configuration. First, the schematic configuration of the mask film inspection apparatus will be described. A film supply cassette 2A is arranged on one end side in the longitudinal direction on a base plate 1 whose plane shape is a rectangle long in one direction, and a plurality of mask film MF to be inspected are stacked and stored. Further, a film storage cassette 2B is arranged on the other end side, and the inspected mask films MF are stacked and stored. A pair of rail-shaped inspection table guides 3 are extended between the cassettes along the longitudinal direction, and the inspection table 4 is reciprocated along the guides 3.

【0007】又、前記フルム供給カセット2Aの上側に
は、被検査マスクフィルムMFを検査テーブル4に搭載
するためのフィルム搭載部5Aが設けられ、逆に前記フ
ィルム収納カセット2Bの上側には検査済マスクフィル
ムMFを検査テーブル4から降載するためのフィルム降
載部5Bが設けられる。更に、前記各カセット2A,2
Bの中間位置には、検査テーブル4に搭載された被検査
マスクフィルムのパターン画像を読み取って欠陥の検査
を行う欠陥検査部6と、検査されたマスクフィルム上の
欠陥位置に欠陥箇所を表示するための欠陥表示部とし
て、欠陥表示を行うラベルを貼り付けるラベル貼付部7
がそれぞれ設けられている。
A film mounting portion 5A for mounting the mask film MF to be inspected on the inspection table 4 is provided on the upper side of the flume supply cassette 2A, and conversely, an upper side of the film storage cassette 2B is inspected. A film loading section 5B for loading the mask film MF from the inspection table 4 is provided. Further, each of the cassettes 2A, 2
At an intermediate position of B, a defect inspection section 6 for inspecting a defect by reading a pattern image of a mask film to be inspected mounted on the inspection table 4, and a defect portion at a defect position on the inspected mask film are displayed. As a defect display unit for the label attaching unit 7 for attaching a label for displaying a defect
Are provided respectively.

【0008】次に、前記した各部の詳細を説明する。 〔フィルム供給カセット,フィルム収納カセット〕フィ
ルム供給カセット2Aは、方形をした浅い皿状に形成さ
れており、内底部には長さ方向及びこれと直交する幅方
向にそれぞれ位置調整可能なサイズ設定ストッパ21が
設けられ、被検査マスクフィルムに合わせてその位置を
可変させ、フィルム供給カセット2Aの側面との間に画
成する方形空間内に被検査フィルムMFを重ねて載置さ
せる。又、フィルム供給カセット2Aの下側にはリミッ
トスイッチ等で構成した複数個のサイズ検出センサ22
を配設しており、前記サイズ設定ストッパ21が移動さ
れた箇所のサイズ検出センサ22を作動させることで、
被検査マスクフィルムMFのサイズを自動的に検出する
ことができる。
Next, details of the above-mentioned respective parts will be described. [Film Supply Cassette, Film Storage Cassette] The film supply cassette 2A is formed in a rectangular shallow dish shape, and has a size setting stopper whose inner bottom is positionally adjustable in the length direction and the width direction orthogonal thereto. 21 is provided, the position of which is changed according to the mask film to be inspected, and the film MF to be inspected is placed in a rectangular space defined between the film supply cassette 2A and the side surface thereof. Also, a plurality of size detection sensors 22 composed of limit switches and the like are provided below the film supply cassette 2A.
By activating the size detection sensor 22 at the position where the size setting stopper 21 is moved,
The size of the mask film MF to be inspected can be automatically detected.

【0009】又、フィルム収納カセット2Bも、前記フ
ィルム供給カセット2Aと同様の構成であり、対応する
部分には同一符号を付してある。これらのフィルム供
給,収納カセット2A,2Bはそれぞれベースプレート
1に対して着脱可能である。
The film storage cassette 2B also has the same structure as the film supply cassette 2A, and the corresponding parts are designated by the same reference numerals. These film supply and storage cassettes 2A and 2B can be attached to and detached from the base plate 1, respectively.

【0010】〔検査テーブル〕前記検査テーブル4は光
透過性の板材と枠材で形成されており、ベースプレート
1の幅方向両側に延設された検査テーブルガイド3に両
側部が支持される。そして、一方のガイドにはベースプ
レートの全長にわたってスクリューボルト31を延長配
置しており、検査テーブル4に固定的に設けた雌ネジ部
(図示せず)をスクリューボルト31に螺合させてい
る。このスクリューボルト31はベースプレートの一端
部に設けた駆動モータ32によって軸転駆動され、軸転
されたときに雌ネジ部に螺合されたネジ機構によって検
査テーブル4をガイド3に沿って往復移動させる。又、
前記ガイド3の両端位置にはそれぞれリミットスイッチ
やフォトインタラプタからなるテーブル始点センサ33
とテーブル終点センサ34が設けられており、検査ケー
ブル4が移動されたときに動作されて検査テーブルの位
置を検出する。尚、検査テーブル4の一端縁の表面には
複数個のフィルム吸着穴41が並んで開設され、搭載さ
れるマスクフィルムMFの一端縁を真空吸着して検査テ
ーブル上に固定する。
[Inspection Table] The inspection table 4 is formed of a light-transmissive plate material and a frame material, and both sides thereof are supported by the inspection table guides 3 extending on both sides of the base plate 1 in the width direction. A screw bolt 31 is extendedly arranged on one guide over the entire length of the base plate, and a female screw portion (not shown) fixedly provided on the inspection table 4 is screwed onto the screw bolt 31. The screw bolt 31 is axially driven by a drive motor 32 provided at one end of the base plate, and reciprocally moves the inspection table 4 along the guide 3 by a screw mechanism screwed into the female screw portion when the shaft is rotated. .. or,
At both ends of the guide 3, a table starting point sensor 33 including a limit switch and a photo interrupter is provided.
And a table end point sensor 34 are provided and are operated when the inspection cable 4 is moved to detect the position of the inspection table. A plurality of film suction holes 41 are formed side by side on the surface of one end edge of the inspection table 4, and one end edge of the mounted mask film MF is vacuum-sucked and fixed on the inspection table.

【0011】〔フィルム搭載部,フィルム降載部〕フィ
ルム搭載部5Aは、前記フィルム供給カセット2Aの上
側においてベースプレート1に立設した枠体51を有
し、かつこの枠体51に支持されて上下移動されるフィ
ルム昇降アーム52を有している。このフィルム昇降ア
ーム52は平面対角位置において上下方向に延長された
2本のガイド53に案内され、かつ他の対角位置におい
て上下方向に延長されたスクリューボルト54にその一
部が螺合される。そして、このスクリューボルト54に
連結されたフィルム昇降モータ55を駆動してスクリュ
ーボルト54を軸転させることで、ネジ機構によってフ
ィルム昇降アーム52を上下移動する。この昇降アーム
52の上限及び下限の各位置は枠体に支持されたリミッ
トスイッチやフォトインタラプタからなるアーム上限セ
ンサ56及びアーム下限センサ57により検出される。
又、このフィルム昇降アーム52の下面には複数個の吸
着ノズル58が突設され、マスクフィルムを真空吸着し
てフィルム昇降アーム52と共に上下に移動させること
ができる。
[Film Mounting Section, Film Unloading Section] The film mounting section 5A has a frame 51 standing on the base plate 1 on the upper side of the film supply cassette 2A, and is supported by the frame 51 to move up and down. It has a film lifting arm 52 to be moved. The film elevating arm 52 is guided by two vertically extending guides 53 at a diagonal position on the plane, and a part of the film elevating arm 52 is screwed to a vertically extending screw bolt 54 at another diagonal position. It Then, by driving the film lifting motor 55 connected to the screw bolt 54 to rotate the screw bolt 54, the film lifting arm 52 is moved up and down by the screw mechanism. The upper and lower limit positions of the elevating arm 52 are detected by an arm upper limit sensor 56 and an arm lower limit sensor 57, which are limit switches and photointerrupters supported by a frame.
A plurality of suction nozzles 58 are provided on the lower surface of the film elevating arm 52 so that the mask film can be vacuum adsorbed and moved up and down together with the film elevating arm 52.

【0012】尚、前記枠体51の中央側の一側にはフィ
ルム押え部8が設けられる。このフィルム押え部8は前
記枠体51から幅方向に対向する一対のブラケット81
を突設し、これらブラケット間にフィルム押えローラ8
2を配設している。このフィルム押えローラ82は可動
アーム83によって前記ブラケット81に対して上下方
向に揺動できるように支持されており、かつ可動アーム
83とブラケット81間に掛装したスプリング84によ
りフィルム押えローラ82を下方向、即ち検査テーブル
面に当接させるように付勢している。又、フィルム降載
部5Bも、前記フィルム搭載部5Aと同様の構成であ
り、対応する部分には同一符号を付してある。但し、フ
ィルム押え部は設けてはいない。
A film pressing portion 8 is provided on one side of the center of the frame body 51. The film pressing portion 8 includes a pair of brackets 81 facing the frame body 51 in the width direction.
And a film pressing roller 8 between these brackets.
2 are arranged. The film pressing roller 82 is supported by a movable arm 83 so as to be vertically swingable with respect to the bracket 81, and the film pressing roller 82 is lowered by a spring 84 mounted between the movable arm 83 and the bracket 81. It is biased so that it contacts the direction, that is, the inspection table surface. Also, the film loading section 5B has the same structure as the film mounting section 5A, and corresponding parts are designated by the same reference numerals. However, the film retainer is not provided.

【0013】〔欠陥検査部〕マスクフィルムの欠陥を検
査する欠陥検査部6は、前記ベースプレート1の長手方
向の中間位置で前記検査テーブル4よりも下側の位置
に、幅方向に延びる蛍光灯等の照明光源61を有し、こ
の照明光源61によって検査テーブル4上のマスクフィ
ルムを透過照明する。又、この照明光源61に対向する
検査テーブル4の上側には、図3に示すように、前記ガ
イド3間に跨がるように幅方向にカメラ搬送ガイド62
を延長支持している。このカメラ搬送ガイド62には、
撮像レンズを下方に向けたCCDラインセンサからなる
画像読取カメラ63をカメラ搬送ガイド62に沿って移
動できるように支持している。
[Defect Inspecting Section] The defect inspecting section 6 for inspecting defects in the mask film is a fluorescent lamp or the like extending in the width direction at a position below the inspection table 4 at an intermediate position in the longitudinal direction of the base plate 1. Of the mask film on the inspection table 4 is transmitted and illuminated. On the upper side of the inspection table 4 facing the illumination light source 61, as shown in FIG.
Has extended support. In this camera conveyance guide 62,
An image reading camera 63 composed of a CCD line sensor with the imaging lens facing downward is supported so as to be movable along the camera conveyance guide 62.

【0014】更に、カメラ搬送ガイド62の内部にはカ
メラ搬送モータ64によって軸転されるスクリューボル
ト67が延設されており、画像読取カメラ63はこのス
クリューボルト67に螺合され、カメラ搬送モータ64
の駆動によって軸転されるスクリューボルト67によっ
て検査テーブル4の移動方向と直交する方向に往復移動
される。又、前記カメラ搬送ガイド62の両端位置には
それぞれリミットスイッチやフォトインタラプタからな
るカメラ始点センサ65とカメラ終点センサ66が設け
られ、画像読取カメラ63の始点及び終点位置を検出す
る。前記画像読取カメラ63には後述する画像データ処
理回路300が接続され、読み取ったパターン画像デー
タを所要のアルゴリズムで処理してパターン欠陥を検出
する。
Further, inside the camera conveyance guide 62, a screw bolt 67 axially rotated by a camera conveyance motor 64 is extended, and the image reading camera 63 is screwed onto the screw bolt 67, so that the camera conveyance motor 64.
Is reciprocated in a direction orthogonal to the moving direction of the inspection table 4 by the screw bolt 67 that is rotated by the drive of the. Further, a camera start point sensor 65 and a camera end point sensor 66, which are limit switches and photo interrupters, are provided at both end positions of the camera conveyance guide 62, and detect the start point and end point positions of the image reading camera 63. An image data processing circuit 300, which will be described later, is connected to the image reading camera 63, and the read pattern image data is processed by a required algorithm to detect a pattern defect.

【0015】〔ラベル貼付部(欠陥表示部)〕前記欠陥
検査部6と隣接する位置に設けられたラベル貼付部7
は、図4に示すように、前記検査テーブルガイド3間に
跨がるようにカメラ搬送ガイド62と平行にラベル搬送
ガイド71が延長支持されており、ラベル搬送器72が
ガイド71に沿ってベースプレートの幅方向に移動でき
るように支持される。そして、ラベル搬送ガイド71内
にはラベル搬送モータ73によって軸転されるスクリュ
ーボルト74が平行に延設されており、ラベル搬送器7
2はこのスクリューボルト74に螺合され、スクリュー
ボルト74の軸転によって検査テーブル4の移動方向と
直交する方向、即ち前記画像読取カメラ63と並行な方
向に往復移動される。又、ラベル搬送ガイド71の両端
位置にはそれぞれリミットスイッチやフォトインタラプ
タからなるラベル搬送始点センサ75とラベル搬送終点
センサ76が設けられ、ラベル搬送器72の始点及び終
点位置を検出する。
[Labeling Section (Defect Display Section)] Label sticking section 7 provided at a position adjacent to the defect inspection section 6
As shown in FIG. 4, a label transport guide 71 is extendedly supported in parallel with the camera transport guide 62 so as to extend between the inspection table guides 3, and the label transport device 72 extends along the guide 71 and the base plate. It is supported so that it can move in the width direction. Further, in the label transport guide 71, screw bolts 74 axially rotated by the label transport motor 73 are extended in parallel to each other.
The screw 2 is screwed into the screw bolt 74, and is reciprocated in a direction orthogonal to the moving direction of the inspection table 4 by the axial rotation of the screw bolt 74, that is, in a direction parallel to the image reading camera 63. Further, a label transport start point sensor 75 and a label transport end point sensor 76, which are limit switches and photo interrupters, are provided at both end positions of the label transport guide 71, and detect the start point and end point positions of the label transport device 72.

【0016】更に、前記ラベル搬送器72にはラベル吸
着ヘッドとして、ここでは真空吸着を行う吸着ノズル7
7が支持される。このラベル吸着ノズル77は、ラベル
搬送器72の筐体の下面から突出された一対の真空吸着
ノズルとして構成されており、後述する真空ポンプ10
0に接続される。そして、ラベルの表面に先端部を接触
させた上で真空ポンプによる真空引きを行うことで、ラ
ベルを真空吸着することができる。
Further, the label carrier 72 serves as a label suction head, and in this case, the suction nozzle 7 for performing vacuum suction.
7 is supported. The label suction nozzle 77 is configured as a pair of vacuum suction nozzles protruding from the lower surface of the housing of the label transporter 72, and the vacuum pump 10 described later is used.
Connected to 0. Then, the tip can be brought into contact with the surface of the label, and then the label can be vacuum-sucked by performing vacuuming with a vacuum pump.

【0017】又、前記ラベル搬送ガイド71の始点位置
近傍の前記検査テーブルガイドの一部には、ラベルプリ
ンタ9が設けられており、前記欠陥検査部6で検出され
た欠陥箇所の位置を表示するラベルLを印刷する。この
印刷は、欠陥位置を表示する矢印や三角形マーク、或い
は欠陥種類(名称)、更には欠陥通し番号等、任意に設
定できる。印刷したラベルは例えば裏面に粘着剤を塗布
したシールとして形成され、前記ラベル搬送器72のラ
ベル吸着ノズル77により搬送され、検査済のマスクフ
ィルムの欠陥箇所に貼り付けられる。尚、100は真空
ポンプであり、切換弁101の切り換え動作によって前
記フィルム吸着穴41、吸着ノズル58、ラベル吸着ノ
ズル77等を選択的、或いは同時に真空状態とし、マス
クフィルムやラベルを真空吸着させる。
Further, a label printer 9 is provided in a part of the inspection table guide near the starting point position of the label transport guide 71, and the position of the defective portion detected by the defect inspection section 6 is displayed. Print the label L. This printing can be arbitrarily set with an arrow or a triangular mark indicating a defect position, a defect type (name), a defect serial number, or the like. The printed label is formed, for example, as a sticker having a back surface coated with an adhesive, is conveyed by the label suction nozzle 77 of the label conveyor 72, and is affixed to a defective portion of the inspected mask film. Incidentally, 100 is a vacuum pump, and the film suction hole 41, the suction nozzle 58, the label suction nozzle 77 and the like are selectively or simultaneously brought into a vacuum state by the switching operation of the switching valve 101, and the mask film and the label are vacuum-sucked.

【0018】図5は前記した各部のブロック構成図であ
り、特に画像読取カメラ63は画像処理回路300に接
続され、その画像処理部301で画像処理された上で判
定部302で欠陥が判定される。この判定結果は機構制
御部400に入力され、この機構制御部400の出力に
よりラベルプリンタ9及びラベル貼付部7が制御され
る。尚、201は操作パネル、202は表示部である。
FIG. 5 is a block diagram of the above-mentioned respective parts. In particular, the image reading camera 63 is connected to the image processing circuit 300, the image processing part 301 performs image processing, and the judging part 302 judges a defect. It The determination result is input to the mechanism control unit 400, and the label printer 9 and the label sticking unit 7 are controlled by the output of the mechanism control unit 400. Incidentally, 201 is an operation panel, and 202 is a display unit.

【0019】次に、以上の構成の検査装置のフィルム検
査及びラベル貼り付けの工程を図6のフローチャートを
参照して説明する。被検査フィルムMFはフィルム供給
カセット2Aに重ねて入れられ、検査テーブル4がフィ
ルム収納カセット2B側に移動されているときに、検査
されるフィルムがフィルム搭載部5Aのフィルム昇降ア
ーム52によって真空吸着されて持ち上げられる。そし
て、検査テーブル4がフィルム供給カセット2A上の始
点位置に戻されたときに検査テーブル4上に搭載され
る。
Next, the film inspection and label attaching steps of the inspection apparatus having the above structure will be described with reference to the flow chart of FIG. The film to be inspected MF is stacked in the film supply cassette 2A, and when the inspection table 4 is moved to the film storage cassette 2B side, the film to be inspected is vacuum-adsorbed by the film elevating arm 52 of the film mounting portion 5A. Can be lifted. Then, when the inspection table 4 is returned to the starting point position on the film supply cassette 2A, it is mounted on the inspection table 4.

【0020】次いで、検査テーブル4を終点側に向けて
間欠的に移動開始させると共に、照明光源61を点灯し
て被検査フィルムの照明を開始し、同時にカメラ搬送モ
ータ64を駆動して画像読取カメラ63を検査テーブル
4の移動方向と直交する方向に移動させる。これによ
り、画像読取カメラ63は所要の幅寸法で被検査フィル
ムのパターンを画像データとして読み取ることになる。
以後、検査テーブル4を画像読取カメラ63が読み取っ
た幅寸法毎に間欠的に移動させ、かつこれに対応して画
像読取カメラ63を繰り返して往復移動させることで、
被検査フィルムMFの全面のパターンを画像データとし
て読み取ることができる。
Next, the inspection table 4 is intermittently started to move toward the end point side, the illumination light source 61 is turned on to start the illumination of the film to be inspected, and at the same time, the camera conveyance motor 64 is driven to drive the image reading camera. 63 is moved in a direction orthogonal to the moving direction of the inspection table 4. As a result, the image reading camera 63 reads the pattern of the film to be inspected as image data with a required width dimension.
After that, the inspection table 4 is intermittently moved for each width dimension read by the image reading camera 63, and the image reading camera 63 is repeatedly reciprocally moved correspondingly,
The pattern on the entire surface of the film to be inspected MF can be read as image data.

【0021】次いで、画像読取カメラ63により読み取
られた画像データは画像データ処理回路300により処
理され、欠陥が検出されると機構制御部400の制御に
よりラベルプリンタ9において検出された欠陥毎に1枚
のラベルLとして印刷される。この印刷されたラベルL
はラベル吸着ノズル77により真空吸着され、かつ検出
された欠陥の座標データに基づいて機構制御部400が
ラベル搬送モータ73を駆動させることでラベル搬送器
72が検査テーブル4の幅方向の所要位置に移動され
る。そして、検査テーブル4と共に移動されてくる被検
査フィルムMFの欠陥箇所上にラベル搬送器72が移動
されたときに、ラベル吸着ノズル77に吸着しているラ
ベルを被検査フィルムMF面に押圧させ、ラベルLを粘
着力によってフィルム面に貼り付ける。
Next, the image data read by the image reading camera 63 is processed by the image data processing circuit 300. When a defect is detected, one sheet is printed for each defect detected by the label printer 9 under the control of the mechanism control unit 400. Is printed as a label L. This printed label L
Is vacuum-sucked by the label suction nozzle 77, and the mechanism controller 400 drives the label transport motor 73 based on the detected coordinate data of the defect, so that the label transporter 72 is moved to the required position in the width direction of the inspection table 4. Be moved. Then, when the label transporter 72 is moved onto the defective portion of the inspected film MF that is moved together with the inspection table 4, the label adsorbed by the label adsorption nozzle 77 is pressed against the inspected film MF surface, The label L is attached to the film surface by adhesive force.

【0022】以降、前記した動作を繰り返すことによ
り、図7にその動作途中の状態を図示するように、被検
査フィルムMFの複数の欠陥箇所を検出し、かつその後
の極めて短い時間後にその欠陥箇所にラベルLを貼り付
けることができ、検査テーブル4が終点位置まで移動さ
れる間に、被検査フィルムの全ての欠陥に対してラベル
を貼り付ける。尚、検査テーブル4が終点位置まで移動
されると、検査テーブル4上の検査済の被検査フィルム
(検査済フィルム)MFはフィルム降載部5Bのフィル
ム昇降アーム52によって検査テーブル4の上方に持ち
上げられる。そして、検査テーブルが次の被検査フィル
ムを搭載すべく始点位置まで戻されたときに、検査済フ
ィルムはフィルム収納カセット2Bに納められる。
After that, by repeating the above-mentioned operation, a plurality of defective portions of the film MF to be inspected are detected and the defective portions are detected after an extremely short time, as shown in FIG. The label L can be attached to, and the label is attached to all the defects of the film to be inspected while the inspection table 4 is moved to the end point position. When the inspection table 4 is moved to the end position, the inspected film under inspection (inspected film) MF on the inspection table 4 is lifted above the inspection table 4 by the film elevating arm 52 of the film lowering section 5B. Be done. Then, when the inspection table is returned to the starting point position to mount the next film to be inspected, the inspected film is stored in the film storage cassette 2B.

【0023】このようにして検査された検査済のマスク
フィルムMFは、図8のように欠陥箇所にそれぞれ対応
してラベルLが貼り付けられる。そして、フィルム収納
カセットから取り出された検査済フィルムに対してパタ
ーン欠陥の修正を行う場合には、このラベルを目標にし
てパターン欠陥を見つけ、その欠陥について修正を行え
ばよい。これにより、欠陥箇所を探す作業を容易にし、
欠陥修正作業を正確に、しかも迅速に行うことができ
る。
Labels L are attached to the inspected mask films MF thus inspected in correspondence with the defective portions as shown in FIG. When a pattern defect is to be corrected for the inspected film taken out from the film storage cassette, the pattern defect may be found with this label as a target and the defect may be corrected. This makes it easier to find the defective part,
Defect repair work can be performed accurately and quickly.

【0024】したがって、この実施例の検査装置では、
検査テーブル4によって一方向に移動されるマスクフィ
ルムMFに対して欠陥検査部6における欠陥の検出と、
ラベル貼付部7における欠陥表示用のラベルLの貼り付
けを同期的に行うことができる。このため、欠陥検査部
6を構成するXY駆動機構と、ラベル貼付部7を構成す
るXY駆動機構のうち、検査テーブル4が移動する方向
の駆動機構を両部で共通化することができ、少なくとも
この共通化した分の機構を省略化できる。又、一方向の
駆動機構を共通化することで、欠陥検査部6とラベル貼
付部7とを一体的に構成することが容易になり、これら
を一体的に組み込んだ検査装置の小型化を実現すること
ができる。
Therefore, in the inspection device of this embodiment,
Detection of defects in the defect inspection unit 6 with respect to the mask film MF which is moved in one direction by the inspection table 4,
The label L for displaying defects in the label attaching unit 7 can be attached in a synchronous manner. Therefore, of the XY drive mechanism that constitutes the defect inspection unit 6 and the XY drive mechanism that constitutes the label sticking unit 7, the drive mechanism in the direction in which the inspection table 4 moves can be shared by both units, and at least This commonized mechanism can be omitted. Further, by making the one-way drive mechanism common, it becomes easy to integrally configure the defect inspection unit 6 and the label sticking unit 7, and the inspection device in which these are integrally incorporated can be downsized. can do.

【0025】尚、前記実施例では検査済のマスクフィル
ムの欠陥箇所にラベルを貼り付けて欠陥表示を行う方式
の検査装置について示したが、マスクフィルムの欠陥箇
所に所要のマークをプロットする装置、或いはマスクフ
ィルムに透明シートを重ねておき、この透明シートの欠
陥箇所に対応する部位にカッタ等により窓を開口する方
式の検査装置等、欠陥の表示方式が相違する種々の検査
装置に対しても本発明を同様に適用することができる。
In the above embodiment, the inspection device of the type in which a label is attached to the defective portion of the inspected mask film to display the defect is shown. However, an apparatus for plotting a required mark on the defective portion of the mask film, Alternatively, for a variety of inspection devices having different defect display systems, such as an inspection device in which a transparent sheet is overlaid on a mask film and a window is opened by a cutter or the like at a portion corresponding to the defective portion of this transparent sheet. The present invention can be similarly applied.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、検査テー
ブルの移動方向と直交する方向に欠陥検査部と欠陥表示
部を設け、検査テーブルによって一方向に移動されるマ
スクフィルムに対して欠陥検査と欠陥表示とを同期的に
行うので、欠陥検査と欠陥表示の機構を共通化させ、こ
れらの機構を一体的に構成した検査装置の小型化及び低
価格化を実現することができる効果がある。
As described above, according to the present invention, the defect inspection section and the defect display section are provided in the direction orthogonal to the moving direction of the inspection table, and the defect inspection is performed on the mask film which is moved in one direction by the inspection table. Since the defect display and the defect display are performed synchronously, the defect inspection and defect display mechanisms can be made common, and the size and cost of the inspection device integrally including these mechanisms can be reduced. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の検査装置の一実施例の正面構成図であ
る。
FIG. 1 is a front configuration diagram of an embodiment of an inspection apparatus of the present invention.

【図2】図1の検査装置の一部を省略した平面構成図で
ある。
FIG. 2 is a plan configuration diagram in which a part of the inspection device of FIG. 1 is omitted.

【図3】欠陥検査部の概略斜視図である。FIG. 3 is a schematic perspective view of a defect inspection unit.

【図4】ラベル貼付部の概略斜視図である。FIG. 4 is a schematic perspective view of a label sticking portion.

【図5】図1の検査装置のブロック構成図である。5 is a block configuration diagram of the inspection device in FIG. 1. FIG.

【図6】欠陥検査とラベル貼り付けの各動作を示すフロ
ーチャートである。
FIG. 6 is a flowchart showing each operation of defect inspection and label attachment.

【図7】欠陥検査部とラベル貼付部の動作状態を示す概
略平面図である。
FIG. 7 is a schematic plan view showing operating states of a defect inspection unit and a label sticking unit.

【図8】ラベルが貼り付けられたマスクフィルムの平面
図である。
FIG. 8 is a plan view of a mask film to which a label is attached.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2A フィルム供給カセット 2B フィルム収納カセット 4 検査テーブル 5A フィルム搭載部 5B フィルム降載部 6 欠陥検査部 7 ラベル貼付部(欠陥表示部) 9 ラベルプリンタ MF マスクフィルム L ラベル 2A film supply cassette 2B film storage cassette 4 inspection table 5A film loading section 5B film loading section 6 defect inspection section 7 label sticking section (defect display section) 9 label printer MF mask film L label

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 検査されるマスクフィルムを搭載し、一
方向に移動される検査テーブルと、この検査テーブルの
移動方向と直交する方向に移動されて前記マスクフィル
ムのパターン欠陥を検出する欠陥検査部と、この欠陥検
査部と並行な方向に移動されて検出された欠陥箇所に欠
陥表示を行う欠陥表示部とを備えることを特徴とするマ
スクフィルム検査装置。
1. An inspection table on which a mask film to be inspected is mounted and which is moved in one direction, and a defect inspection section which is moved in a direction orthogonal to the moving direction of the inspection table to detect pattern defects of the mask film. A mask film inspecting apparatus comprising: a defect display unit that displays a defect at a defect location detected by moving in a direction parallel to the defect inspection unit.
【請求項2】 欠陥表示部は、マスクフィルムの欠陥に
対応する箇所に、欠陥を表示するラベルを貼り付けるラ
ベル貼付部である請求項1のマスクフィルム検査装置。
2. The mask film inspecting apparatus according to claim 1, wherein the defect display section is a label sticking section for sticking a label indicating a defect to a position corresponding to the defect of the mask film.
JP14340492A 1992-05-09 1992-05-09 Mask film inspecting device Pending JPH05313353A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006191065A (en) * 2004-12-28 2006-07-20 Asml Netherlands Bv System and method for fault indication on substrate in maskless applications

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