JPH05326588A - Semiconductor manufacture device - Google Patents

Semiconductor manufacture device

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JPH05326588A
JPH05326588A JP13318892A JP13318892A JPH05326588A JP H05326588 A JPH05326588 A JP H05326588A JP 13318892 A JP13318892 A JP 13318892A JP 13318892 A JP13318892 A JP 13318892A JP H05326588 A JPH05326588 A JP H05326588A
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JP
Japan
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resin
lead frame
exterior
detecting means
exterior resin
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP13318892A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinji Sugiuchi
伸治 杉内
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Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Original Assignee
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PURPOSE:To quickly remove the undesired armor resin part by the inferiority in charge of fused resin from of lead frame. CONSTITUTION:In an object the principal part of which is molded with armor resin by shifting a long hoop-shaped lead frame 1 in fixed direction, and fastening the lead frame 1 with top and bottom forces 4 and 5 and charging fused resin in the middle of its carriage, it is checked whether there is any inferiority in charge of the armor resin part 6 of the lead frame 1 or not after molding the lead frame. And a resin inferiority detecting means 13 being the translucent photosensor consisting of a projector 15 and a light receiver 16 and a defective element removing means 14 consisting of a punch 17 and a die 18, for removing the armor resin part 6 inferior in charge being selected by the resin inferiority detecting means 13, are arranged.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体製造装置に関し、
詳しくは、樹脂モールド型半導体装置の製造に使用さ
れ、定方向に移送される長尺なフープ状リードフレーム
の主要部分を外装樹脂でモールドする半導体製造装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus,
More specifically, the present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus that is used for manufacturing a resin-molded semiconductor device and molds a major portion of a long hoop-shaped lead frame that is transported in a fixed direction with an exterior resin.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、ミニモールドタイプの半導体装
置は、長尺なフープ状の金属製リードフレームを使用す
ることにより一括して製造されるのが一般的である。こ
の種の半導体装置の主たる製造工程は、リードフレーム
上に半導体ペレットを搭載するペレットマウント工程
と、半導体ペレットとリードとを金属細線で電気的に接
続するワイヤボンディング工程と、半導体ペレットを含
む主要部分をエポキシ樹脂等の外装樹脂でモールドする
樹脂モールド工程とからなる。
2. Description of the Related Art For example, mini-mold type semiconductor devices are generally manufactured in a lump by using a long metal hoop-shaped lead frame. The main manufacturing steps of this type of semiconductor device are a pellet mounting step of mounting a semiconductor pellet on a lead frame, a wire bonding step of electrically connecting the semiconductor pellet and the lead with a fine metal wire, and a main part including the semiconductor pellet. And a resin molding step of molding the resin with an exterior resin such as an epoxy resin.

【0003】上記半導体装置における一連の工程からな
る製造ラインを、図3に示して説明する。
A manufacturing line comprising a series of steps in the above semiconductor device will be described with reference to FIG.

【0004】この製造ラインにおいては、長尺なフープ
状の金属製リードフレーム(1)を一定のテンションに
張設した状態で送り機構〔図示せず〕により定方向〔図
中矢印方向〕に移送する。図示しないが、ペレットマウ
ント工程では、リードフレーム(1)上に半導体ペレッ
ト(2)を搭載し、ワイヤボンディング工程では、その
半導体ペレット(2)とリード〔図示せず〕とを金属細
線(3)により電気的に接続する。その後、上記リード
フレームを樹脂モールド工程に供給する。
In this production line, a long lead wire (1) in the shape of a hoop is stretched at a constant tension and is fed in a fixed direction (in the direction of the arrow in the figure) by a feed mechanism (not shown). To do. Although not shown, in the pellet mounting step, the semiconductor pellet (2) is mounted on the lead frame (1), and in the wire bonding step, the semiconductor pellet (2) and the lead (not shown) are connected to the thin metal wire (3). To electrically connect. Then, the lead frame is supplied to the resin molding process.

【0005】この樹脂モールド工程では、上下金型
(4)(5)からなる製造設備が使用され、ワイヤボンデ
ィングを完了したリードフレーム(1)を上下金型(4)
(5)により型締めし、図示しないが、上下金型(4)
(5)のポット及びカルからランナ及びゲートを介して
キャビティ内に注入された溶融樹脂でもって、リードフ
レーム(1)上の半導体ペレット(2)を含む主要部分を
樹脂モールドしている。
In this resin molding process, a manufacturing facility consisting of upper and lower molds (4) and (5) is used, and the lead frame (1) on which wire bonding has been completed is transferred to the upper and lower molds (4).
Although not shown, the upper and lower molds (4) are clamped by (5).
The main part including the semiconductor pellet (2) on the lead frame (1) is resin-molded with the molten resin injected into the cavity from the pot and cull of (5) through the runner and the gate.

【0006】この樹脂モールド後に取り出されたリード
フレーム(1)は、その外装樹脂部(6)以外に、ランナ
と外装樹脂部(6)との連結部分であるゲートと対応す
る不所望部分に硬化樹脂(7)が付着しているため、上
記樹脂モールド後、その不所望な硬化樹脂(7)をリー
ドフレーム(1)から分離除去している。
The lead frame (1) taken out after the resin molding is hardened to an undesired portion corresponding to the gate which is a connecting portion between the runner and the outer resin portion (6) in addition to the outer resin portion (6). Since the resin (7) is attached, the undesired cured resin (7) is separated and removed from the lead frame (1) after the resin molding.

【0007】この不要硬化樹脂(7)の分離は、第1〜
第3のローラ(8)〜(10)を配置し、移送されるリー
ドフレーム(1)を第1〜第3のローラ(8)〜(10)の
周面に順次沿わせながら変曲させて方向転換することに
より行われる。即ち、第1のローラ(8)では、可撓性
を有するリードフレーム(1)が変曲して図示斜め上方
に方向転換するのに対して、不要硬化樹脂(7)がリー
ドフレーム(1)が厚肉の硬いものであるため、その不
要硬化樹脂(7)は、第1のローラ(8)に沿うことな
く、そのまま直進しようとする。その結果、上記不要硬
化樹脂(7)は、外装樹脂部(6)との連結部分で引きち
ぎられることにより、リードフレーム(1)から分離除
去される。その後、リードフレーム(1)は、第2及び
第3のローラ(9)(10)を介して後工程に移送され
る。
The separation of the unnecessary cured resin (7) is divided into
The third rollers (8) to (10) are arranged, and the transferred lead frame (1) is bent along the peripheral surfaces of the first to third rollers (8) to (10) in order. This is done by turning around. That is, in the first roller (8), the flexible lead frame (1) bends and turns to the diagonally upper direction in the drawing, whereas the unnecessary cured resin (7) causes the lead frame (1) to move. Is thick and hard, the unnecessary curing resin (7) tries to go straight without going along the first roller (8). As a result, the unnecessary cured resin (7) is separated and removed from the lead frame (1) by being torn off at the connecting portion with the exterior resin portion (6). After that, the lead frame (1) is transferred to the subsequent process through the second and third rollers (9) and (10).

【0008】その後工程では、リードフレーム(1)に
残存した不要硬化樹脂(7)を、パンチ(11)及びダイ
(12)からなる設備でもって除去することにより、上記
リードフレーム(1)に付着した不要硬化樹脂(7)を完
全に分離除去するようにしている。このようにして得ら
れたリードフレーム(1)をリール〔図示せず〕に巻回
する。
In the subsequent step, the unnecessary cured resin (7) remaining on the lead frame (1) is attached to the lead frame (1) by removing it with equipment including a punch (11) and a die (12). The unnecessary cured resin (7) is completely separated and removed. The lead frame (1) thus obtained is wound around a reel (not shown).

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した樹
脂モールド工程では、リードフレーム(1)を上下金型
(4)(5)により型締めし、そのリードフレーム(1)
の半導体ペレット(2)を含む主要部分が配置されたキ
ャビティ内に溶融樹脂を充填することにより、外装樹脂
部(6)を形成するようにしている。
By the way, in the resin molding process described above, the lead frame (1) is clamped by the upper and lower molds (4) and (5), and the lead frame (1) is clamped.
The outer resin portion (6) is formed by filling the molten resin into the cavity in which the main part including the semiconductor pellet (2) is arranged.

【0010】しかしながら、上記キャビティ内にゴミ等
の異物が存在したり、上下金型(4)(5)での温度分布
にばらつきがあったりして、これが原因で、溶融樹脂の
充填不良が発生し、上記半導体ペレット(2)を含む主
要部分が完全に被覆されていない不所望な外装樹脂部
(6)が形成されてしまい、このような外装樹脂部(6)
を有する半導体装置は不良品となる。従来では、後の別
工程でリールに巻回されたリードフレーム(1)につい
て外装樹脂部(6)の外観検査を行っていたが、一旦、
リールに収納されたリードフレーム(1)を巻き出して
外装樹脂部(6)をチェックしなければならず手間がか
かり作業性が非常に悪いという問題があった。
However, foreign matter such as dust is present in the cavity, and the temperature distribution in the upper and lower molds (4) and (5) varies, which causes defective filling of the molten resin. However, an undesired exterior resin part (6) in which the main part including the semiconductor pellet (2) is not completely covered is formed, and such an exterior resin part (6) is formed.
A semiconductor device having the above is a defective product. Conventionally, the exterior resin portion (6) of the lead frame (1) wound on a reel was visually inspected in a separate process later, but once,
There was a problem that the lead frame (1) stored on the reel had to be unwound and the exterior resin part (6) had to be checked, which was troublesome and workability was extremely poor.

【0011】そこで、本発明は上記問題点に鑑みて提案
されたもので、その目的とするところは、溶融樹脂の充
填不良による不所望な外装樹脂部をリードフレームから
速やかに除去し得る半導体製造装置を提供することにあ
る。
Therefore, the present invention has been proposed in view of the above problems, and an object thereof is to manufacture a semiconductor capable of promptly removing an undesired exterior resin portion due to defective filling of molten resin from a lead frame. To provide a device.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の技術的手段として、本発明は、長尺なフープ状リード
フレームを定方向に移送し、その移送途中で、リードフ
レームを上下金型により型締めして溶融樹脂を充填する
ことによりその主要部分を外装樹脂でモールドするもの
において、上記リードフレームを樹脂モールドした後段
に、リードフレームの外装樹脂部の充填不良の有無を検
出する樹脂不良検知手段と、その樹脂不良検知手段によ
り選択された充填不良の外装樹脂部を除去する不良素子
除去手段とを配置したことを特徴とする。
As a technical means for achieving the above object, the present invention transfers a long hoop-shaped lead frame in a fixed direction, and during the transfer, the lead frame is moved to the upper and lower molds. In the case where the main part is molded with the exterior resin by clamping with the mold and filling the molten resin, a resin defect that detects the presence or absence of filling failure of the exterior resin part of the lead frame after resin molding the lead frame It is characterized in that the detecting means and the defective element removing means for removing the defective packaging resin portion selected by the resin defective detecting means are arranged.

【0013】また、上記樹脂不良検知手段は、リードフ
レームの移送方向と直交する方向に配置された透過型光
センサで構成され、更に、上記不良素子除去手段は、充
填不良の外装樹脂部を打ち抜くパンチ及びダイで構成さ
れることが望ましい。
Further, the resin defect detecting means is composed of a transmissive optical sensor which is arranged in a direction orthogonal to the transfer direction of the lead frame, and the defective element removing means punches out the exterior resin portion having a defective filling. It is preferably composed of a punch and a die.

【0014】[0014]

【作用】本発明に係る半導体製造装置では、樹脂不良検
知手段により、充填不良の外装樹脂部を簡易に検出する
ことが可能となり、更に、不良素子除去手段により、そ
の充填不良の外装樹脂部をリードフレームから容易に取
り除くことができ、最終的に得られたリードフレームに
充填不良の外装樹脂部が存在することは皆無となる。
In the semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention, it is possible to easily detect the defective filling resin portion by the resin defect detecting means, and further, to detect the defective filling resin portion by the defective element removing means. It can be easily removed from the lead frame, and the finally obtained lead frame has no exterior resin portion with defective filling.

【0015】[0015]

【実施例】本発明の実施例を図1及び図2に示して説明
する。尚、図3と同一又は相当部分には同一参照符号を
付して重複説明は省略する。
Embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. It should be noted that the same or corresponding parts as those in FIG.

【0016】本発明の特徴は、図1に示すようにリード
フレーム(1)を樹脂モールドした後段に、リードフレ
ーム(1)の外装樹脂部(6)の充填不良の有無を検出す
る樹脂不良検知手段(13)と、その樹脂不良検知手段
(13)により選択された充填不良の外装樹脂部(6)を
除去する不良素子除去手段(14)とを配置したことにあ
る。
A feature of the present invention is that, as shown in FIG. 1, a resin defect detection is performed after the lead frame (1) is resin-molded to detect whether or not there is a filling defect in the exterior resin portion (6) of the lead frame (1). The means (13) and the defective element removing means (14) for removing the defectively filled exterior resin portion (6) selected by the resin failure detecting means (13) are arranged.

【0017】具体的に、上記樹脂不良検知手段(13)
は、第1〜第3のローラ(8)〜(10)により不要硬化
樹脂(7)を分離除去して移送されるリードフレーム
(1)の上下に配置され、投光器(15)及びその投光器
(15)と対向した受光器(16)からなる透過型光センサ
である。この光センサ(13)では、投光器(15)から照
射される光をリードフレーム(1)の外装樹脂部(6)を
介して受光器(16)で受けることになる。尚、上記投光
器(15)からの光は、図示しないが、外装樹脂部(6)
の形状及び大きさと対応した開口部を有するマスクを使
用することにより、上記外装樹脂部(6)の外形領域の
みを照射するように設定されている。
Specifically, the resin defect detecting means (13)
Are arranged above and below the lead frame (1) to which the unnecessary cured resin (7) is separated and removed by the first to third rollers (8) to (10), and the projector (15) and its projector ( It is a transmissive optical sensor consisting of a light receiver (16) facing the 15). In this optical sensor (13), the light emitted from the light projector (15) is received by the light receiver (16) via the exterior resin portion (6) of the lead frame (1). The light from the light projector (15) is not shown in the figure, but is the exterior resin part (6).
By using a mask having an opening corresponding to the shape and size of the above, it is set to irradiate only the outer shape region of the exterior resin part (6).

【0018】この光センサ(13)では、移送されるリー
ドフレーム(1)に対して、その投光器(15)からの光
を外装樹脂部(6)に照射し、その光の透過状態を受光
器(16)で検出する。即ち、図2(a)に示すように外
装樹脂部(6)に、樹脂モールド時での溶融樹脂の充填
不良がなく正常であれば、上記光の照射領域と外装樹脂
部(6)の外形とがほぼ一致するので、投光器(15)か
らの光が受光器(16)に入射されない。一方、図2
(b)に示すように外装樹脂部(6)に、樹脂モールド
時での溶融樹脂の充填不良があると、光の照射領域と外
装樹脂部(6)の外形とが一致せず、投光器(15)から
の光の一部が受光器(16)に入射される。これにより、
外装樹脂部(6)での樹脂充填不良を検出することがで
き、その光センサ(13)からの検出信号に基づいて、後
述する不良素子除去手段(14)を作動させる。
In this optical sensor (13), the lead resin (1) to be transferred is irradiated with light from the projector (15) to the exterior resin part (6), and the transmitted state of the light is received by the receiver. Detect in (16). That is, as shown in FIG. 2A, if the exterior resin part (6) is normal without any defective filling of the molten resin during resin molding, the light irradiation area and the exterior part of the exterior resin part (6) are normal. Since and substantially coincide with each other, the light from the light projector (15) is not incident on the light receiver (16). On the other hand, FIG.
As shown in (b), if the exterior resin portion (6) has a defective filling of the molten resin during resin molding, the light irradiation area and the outer shape of the exterior resin portion (6) do not match, and the projector ( Part of the light from 15) is incident on the light receiver (16). This allows
A resin filling defect in the exterior resin part (6) can be detected, and a defective element removing means (14) described later is operated based on the detection signal from the optical sensor (13).

【0019】次に、その不良素子除去手段(14)は、リ
ードフレーム(1)に残存した不要硬化樹脂(7)を除去
するパンチ(11)及びダイ(12)の後段に配設され、上
記リードフレーム(1)の外装樹脂部(6)を打ち抜くパ
ンチ(17)及びダイ(18)で構成される。尚、このパン
チ(17)及びダイ(18)は、残存した不要硬化樹脂
(7)を除去するパンチ(11)及びダイ(12)と別々に
設ける以外にも、両者を一体的に具備した設備とするこ
とも可能である。
Next, the defective element removing means (14) is arranged in the subsequent stage of the punch (11) and die (12) for removing the unnecessary cured resin (7) remaining in the lead frame (1), and The lead frame (1) is composed of a punch (17) for punching out the exterior resin part (6) and a die (18). In addition, the punch (17) and the die (18) are separately provided with the punch (11) and the die (12) for removing the remaining unnecessary cured resin (7), and an equipment integrally provided with both. It is also possible to

【0020】この不良素子除去手段(14)では、充填不
良の外装樹脂部(6)が移送されてくると、前述したよ
うに光センサ(13)からの検出信号に基づいて、パンチ
(17)及びダイ(18)を作動させ、それにより上記外装
樹脂部(6)をリードフレーム(1)から打ち抜く。これ
によって、その後にリール等に巻回されるリードフレー
ム(1)については、充填不良の外装樹脂部(6)が存在
せず、良品となる外装樹脂部(6)のみが収納されるこ
とになる。
In this defective element removing means (14), when the defectively filled exterior resin portion (6) is transferred, the punch (17) is based on the detection signal from the optical sensor (13) as described above. Also, the die (18) is operated, and thereby the exterior resin portion (6) is punched out from the lead frame (1). As a result, the lead frame (1) that is subsequently wound around the reel or the like does not have the exterior resin portion (6) that is defectively filled, and only the exterior resin portion (6) that is a good product is stored. Become.

【0021】尚、上記実施例では、樹脂不良検知手段と
して、光センサ(13)について説明したが、本発明はこ
れに限定されることなく、例えば、カメラによる画像認
識を適用することも可能である。
In the above embodiment, the optical sensor (13) was described as the resin defect detecting means, but the present invention is not limited to this, and for example, image recognition by a camera can be applied. is there.

【0022】[0022]

【発明の効果】本発明によれば、フープ状リードフレー
ムの樹脂モールド後の移送ライン途中に、樹脂不良検知
手段及び不良素子除去手段を配置したことにより、簡便
な手段により、充填不良の外装樹脂部を確実に検出して
除去することができ、作業性が大幅に向上すると共に製
品の信頼性が飛躍的に向上し、その実用的価値は大であ
る。
According to the present invention, the resin defect detecting means and the defective element removing means are arranged in the middle of the transfer line after the resin molding of the hoop-shaped lead frame. The parts can be reliably detected and removed, the workability is greatly improved and the reliability of the product is dramatically improved, and its practical value is great.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る半導体製造装置の実施例を示す概
略構成図
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of a semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention.

【図2】図1の光センサによる検出状態で、(a)は良
好な外装樹脂部を示す部分平面図、(b)は充填不良の
外装樹脂部を示す部分平面図
2A and 2B are partial plan views showing a good exterior resin portion, and FIG. 2B is a partial plan view showing a poorly filled exterior resin portion in a detection state by the optical sensor of FIG.

【図3】半導体製造装置の従来例を示す概略構成図FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing a conventional example of a semiconductor manufacturing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 リードフレーム 4 上金型 5 下金型 6 外装樹脂部 13 樹脂不良検知手段〔光センサ〕 14 不良素子除去手段 1 Lead frame 4 Upper mold 5 Lower mold 6 Exterior resin part 13 Resin defect detection means [optical sensor] 14 Defective element removal means

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 長尺なフープ状リードフレームを定方向
に移送し、その移送途中で、リードフレームを上下金型
により型締めして溶融樹脂を充填することによりその主
要部分を外装樹脂でモールドするものにおいて、 上記リードフレームを樹脂モールドした後段に、リード
フレームの外装樹脂部の充填不良の有無を検出する樹脂
不良検知手段と、その検知手段により選択された充填不
良の外装樹脂部を除去する不良素子除去手段とを配置し
たことを特徴とする半導体製造装置。
1. A long hoop-shaped lead frame is transferred in a fixed direction, and during the transfer, the lead frame is clamped by upper and lower molds and filled with molten resin, so that a main part thereof is molded with an exterior resin. In the following, after the resin molding of the lead frame, a resin defect detecting means for detecting the presence or absence of filling failure of the exterior resin portion of the lead frame, and the exterior resin portion with poor filling selected by the detecting means are removed. A semiconductor manufacturing apparatus characterized in that defective element removing means is arranged.
【請求項2】 請求項1記載の樹脂不良検知手段は、リ
ードフレームの移送方向と直交する方向に配置された透
過型光センサで構成されたことを特徴とする半導体製造
装置。
2. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the resin defect detecting means is composed of a transmissive optical sensor arranged in a direction orthogonal to the transfer direction of the lead frame.
【請求項3】 請求項1記載の不良素子除去手段は、充
填不良の外装樹脂部を打ち抜くパンチ及びダイで構成さ
れたことを特徴とする半導体製造装置。
3. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the defective element removing means is composed of a punch and a die for punching out the exterior resin portion having a defective filling.
JP13318892A 1992-05-26 1992-05-26 Semiconductor manufacture device Withdrawn JPH05326588A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101142741B1 (en) * 2010-12-13 2012-05-03 박양수 Apparatus for replacing defective part in taping apparatus

Cited By (1)

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KR101142741B1 (en) * 2010-12-13 2012-05-03 박양수 Apparatus for replacing defective part in taping apparatus

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