JPH05325851A - Ｘ線管用対陰極 - Google Patents
Ｘ線管用対陰極Info
- Publication number
- JPH05325851A JPH05325851A JP14896592A JP14896592A JPH05325851A JP H05325851 A JPH05325851 A JP H05325851A JP 14896592 A JP14896592 A JP 14896592A JP 14896592 A JP14896592 A JP 14896592A JP H05325851 A JPH05325851 A JP H05325851A
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- Japan
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- anticathode
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- characteristic
- rays
- ray
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡易な構造で、異種の特性Ｘ線を同時に一定
の強度で放射できるようにして、Ｘ線管の製品コストを
安価にすると共に、操作の容易化を図る。 【構成】Ｘ線管の対陰極における少なくとも特性Ｘ線を
放射する表面部分を、電子ビームの衝突により、材質に
応じた特性Ｘ線を放射する複数の材料からなる合金によ
って構成した。これにより、合金部分に電子ビームが衝
突すると、合金に含まれる各種材料に応じた特性Ｘ線が
同時に一定の強度で放射される。
の強度で放射できるようにして、Ｘ線管の製品コストを
安価にすると共に、操作の容易化を図る。 【構成】Ｘ線管の対陰極における少なくとも特性Ｘ線を
放射する表面部分を、電子ビームの衝突により、材質に
応じた特性Ｘ線を放射する複数の材料からなる合金によ
って構成した。これにより、合金部分に電子ビームが衝
突すると、合金に含まれる各種材料に応じた特性Ｘ線が
同時に一定の強度で放射される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線管の構成部材であ
る対陰極に関し、特に複数種類の特性Ｘ線を同時に得る
ことを可能としたＸ線管用対陰極に関する。
る対陰極に関し、特に複数種類の特性Ｘ線を同時に得る
ことを可能としたＸ線管用対陰極に関する。
【０００２】
【従来の技術】周知のように、Ｘ線管は加熱された陰極
から出る電子ビームを加速して対陰極に衝突させること
により、対陰極表面からＸ線を放射する装置である。こ
こで、放射される特性Ｘ線は、対陰極表面の材質によっ
て決まる。したがって、Ｘ線回折装置に使用するＸ線管
にあっては、検査対象となる試料や測定環境に応じ好適
な特性Ｘ線が得られるように、各種の材質からなる対陰
極が用意されている。
から出る電子ビームを加速して対陰極に衝突させること
により、対陰極表面からＸ線を放射する装置である。こ
こで、放射される特性Ｘ線は、対陰極表面の材質によっ
て決まる。したがって、Ｘ線回折装置に使用するＸ線管
にあっては、検査対象となる試料や測定環境に応じ好適
な特性Ｘ線が得られるように、各種の材質からなる対陰
極が用意されている。
【０００３】特に、大容量のＸ線が得られる回転対陰極
Ｘ線管では、Ｃｕ，Ｃｏ，Ｆｅ，Ｃｒ，Ｍｏ，Ｗ等の各
種材料で表面を形成した各種の回転対陰極が用意されて
おり、試料や測定環境に応じてこの回転対陰極を交換で
きるようになっていた。しかし、Ｘ線管の内部は放電防
止のために真空状態とする必要があり、したがって従来
の交換式回転対陰極では、交換の度にＸ線管内部を真空
びきしなければならないという煩雑さがあった。
Ｘ線管では、Ｃｕ，Ｃｏ，Ｆｅ，Ｃｒ，Ｍｏ，Ｗ等の各
種材料で表面を形成した各種の回転対陰極が用意されて
おり、試料や測定環境に応じてこの回転対陰極を交換で
きるようになっていた。しかし、Ｘ線管の内部は放電防
止のために真空状態とする必要があり、したがって従来
の交換式回転対陰極では、交換の度にＸ線管内部を真空
びきしなければならないという煩雑さがあった。
【０００４】そこで、このような煩雑な真空びき作業を
解消するために、本願出願人は、既に実開平１−８６１
５６号公報（先行例1)及び特開昭 62-186449号公報（先
行例2)に開示したような回転対陰極Ｘ線管を提案してい
る。
解消するために、本願出願人は、既に実開平１−８６１
５６号公報（先行例1)及び特開昭 62-186449号公報（先
行例2)に開示したような回転対陰極Ｘ線管を提案してい
る。
【０００５】先行例１に示された回転対陰極Ｘ線管を図
３にもとづき概説すると、回転対陰極２０の表面を中央
線２０ａで二つに分け、両表面２１，２２を異種の材料
で形成するとともに、各表面と対向する位置に電子ビー
ムを放出する電子銃２３，２４をそれぞれ設置してあ
る。そして、試料又は測定環境に応じて回転対陰極２０
の一方の表面２１又は２２を選択し、その選択した表面
に対向する電子銃２３又は２４から電子ビームを放出し
て、同表面から所望の特性Ｘ線が得られるようになって
いた。
３にもとづき概説すると、回転対陰極２０の表面を中央
線２０ａで二つに分け、両表面２１，２２を異種の材料
で形成するとともに、各表面と対向する位置に電子ビー
ムを放出する電子銃２３，２４をそれぞれ設置してあ
る。そして、試料又は測定環境に応じて回転対陰極２０
の一方の表面２１又は２２を選択し、その選択した表面
に対向する電子銃２３又は２４から電子ビームを放出し
て、同表面から所望の特性Ｘ線が得られるようになって
いた。
【０００６】また、先行例２に示された回転対陰極Ｘ線
管は、図４に示すように、回転対陰極３０の表面を周方
向に多分割し、各区画３１，３２を交互に異種の材料で
形成した構成となっている。この回転対陰極Ｘ線管によ
れば、高速回転する回転対陰極３０に対し、電子銃３３
から放出した電子ビームを衝突させると、パルス状に各
材料特有の特性Ｘ線が放射される。そこで、切換器等を
用いて所望の特性Ｘ線のみ取り出すことで、試料又は測
定環境に応じた特性Ｘ線が得られるようになっていた。
管は、図４に示すように、回転対陰極３０の表面を周方
向に多分割し、各区画３１，３２を交互に異種の材料で
形成した構成となっている。この回転対陰極Ｘ線管によ
れば、高速回転する回転対陰極３０に対し、電子銃３３
から放出した電子ビームを衝突させると、パルス状に各
材料特有の特性Ｘ線が放射される。そこで、切換器等を
用いて所望の特性Ｘ線のみ取り出すことで、試料又は測
定環境に応じた特性Ｘ線が得られるようになっていた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の技術に
は、次のような問題があった。すなわち、先行例１に示
された回転対陰極Ｘ線管では、回転対陰極の分割された
表面に対向して二つの電子銃が必要となるため、製品コ
ストが高価格となるばかりか、構造が複雑で、しかも大
形となる欠点を有していた。電子銃を一つとして、各表
面に対向できるよう移動式にすることも考えられるが、
その場合にも電子銃の移動機構が必要となるため、製品
コスト面及び構造面で上記欠点を解消することはできな
い。
は、次のような問題があった。すなわち、先行例１に示
された回転対陰極Ｘ線管では、回転対陰極の分割された
表面に対向して二つの電子銃が必要となるため、製品コ
ストが高価格となるばかりか、構造が複雑で、しかも大
形となる欠点を有していた。電子銃を一つとして、各表
面に対向できるよう移動式にすることも考えられるが、
その場合にも電子銃の移動機構が必要となるため、製品
コスト面及び構造面で上記欠点を解消することはできな
い。
【０００８】また、先行例２に示された回転対陰極Ｘ線
管では、所望の特性Ｘ線はパルス状に放出されるため、
一定強度の特性Ｘ線を連続的に得ることができなかっ
た。したがって、Ｘ線回折装置において回折Ｘ線の放射
角度を検出するゴニオメータとの同期をとるために複雑
な同期回路が必要で、製品コストが高価格となり、しか
も操作が煩雑化するという欠点を有していた。
管では、所望の特性Ｘ線はパルス状に放出されるため、
一定強度の特性Ｘ線を連続的に得ることができなかっ
た。したがって、Ｘ線回折装置において回折Ｘ線の放射
角度を検出するゴニオメータとの同期をとるために複雑
な同期回路が必要で、製品コストが高価格となり、しか
も操作が煩雑化するという欠点を有していた。
【０００９】本発明は上述したような従来技術の欠点を
解消するためになされたもので、簡易な構造で異種の特
性Ｘ線を同時に一定の強度で放射することのできるＸ線
管用対陰極の提供を目的とする。
解消するためになされたもので、簡易な構造で異種の特
性Ｘ線を同時に一定の強度で放射することのできるＸ線
管用対陰極の提供を目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、陰極から放出した電子ビームを表面に衝
突させることにより、材質に応じた特性Ｘ線を前記表面
から放射するＸ線管用対陰極において、少なくとも前記
特性Ｘ線を放射する表面部分を、任意の複数種類の材料
からなる合金で形成したことを特徴としている。
に、本発明は、陰極から放出した電子ビームを表面に衝
突させることにより、材質に応じた特性Ｘ線を前記表面
から放射するＸ線管用対陰極において、少なくとも前記
特性Ｘ線を放射する表面部分を、任意の複数種類の材料
からなる合金で形成したことを特徴としている。
【００１１】
【作用】本発明のＸ線管用対陰極では、表面部分の合金
に含まれる各種材料に応じた特性Ｘ線が、その表面部分
から同時に放射される。したがって、モノクロメータ等
を用いて、同時に放射された異種特性Ｘ線のうち所望の
特性Ｘ線のみを取り出すことにより、試料や測定環境に
応じた特性Ｘ線を得ることができる。
に含まれる各種材料に応じた特性Ｘ線が、その表面部分
から同時に放射される。したがって、モノクロメータ等
を用いて、同時に放射された異種特性Ｘ線のうち所望の
特性Ｘ線のみを取り出すことにより、試料や測定環境に
応じた特性Ｘ線を得ることができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。図１は、本発明の実施例に係るＸ線管用
対陰極の正面断面図である。図面において、１は円筒状
の周壁１ａを備えた対陰極本体である。この対陰極本体
１は、冷却効率の良好な材料、例えばＣｕで形成されて
いる。この対陰極本体１における周壁１ａの表面には、
合金リング２が接合してある。
して説明する。図１は、本発明の実施例に係るＸ線管用
対陰極の正面断面図である。図面において、１は円筒状
の周壁１ａを備えた対陰極本体である。この対陰極本体
１は、冷却効率の良好な材料、例えばＣｕで形成されて
いる。この対陰極本体１における周壁１ａの表面には、
合金リング２が接合してある。
【００１３】合金リング２は、任意の複数材料を溶融
し、所定の比率で混合したものを鋳型に流し込むことで
容易に製造することができる。ここで、混合する複数の
材料は、電子ビームの衝突により特有の特性Ｘ線を放射
する各種材料を必要に応じて選択する。選択できる材料
の種類は二種類に限定されず、三種類以上であってもよ
い。また、混合比率は均等が望ましいが、選択する材料
によっては均等比率で混合できない場合もある。その場
合には、混合可能な比率で合金リング２を製造すること
になる。例えば、ＭｏとＣｒは全率固容体のため、均等
の比率で合金を製造することができる。
し、所定の比率で混合したものを鋳型に流し込むことで
容易に製造することができる。ここで、混合する複数の
材料は、電子ビームの衝突により特有の特性Ｘ線を放射
する各種材料を必要に応じて選択する。選択できる材料
の種類は二種類に限定されず、三種類以上であってもよ
い。また、混合比率は均等が望ましいが、選択する材料
によっては均等比率で混合できない場合もある。その場
合には、混合可能な比率で合金リング２を製造すること
になる。例えば、ＭｏとＣｒは全率固容体のため、均等
の比率で合金を製造することができる。
【００１４】一般に、対陰極材料として用いられる物質
としては、Ｃｕ，Ｃｏ，Ｆｅ，Ｃｒ，Ｍｏ，Ｗ等があ
る。このうちＣｏ，Ｆｅ，Ｃｒは鉄系試料のＸ線回折測
定に適した特性Ｘ線を放射する。また、Ｃｕは鉄系試料
を除く一般的な無機物質及び有機物質のＸ線回折測定に
適した特性Ｘ線を放射する。Ｍｏは鉄鋼試料及び透過法
で吸収係数の大きな試料の測定に適した特性Ｘ線を放射
し、Ｗは単結晶によるラウエ写真測定に適した特性Ｘ線
を放射する。したがって、これらの材料のうち必要に応
じて複数の材料を選択して合金リング２を製造すればよ
い。
としては、Ｃｕ，Ｃｏ，Ｆｅ，Ｃｒ，Ｍｏ，Ｗ等があ
る。このうちＣｏ，Ｆｅ，Ｃｒは鉄系試料のＸ線回折測
定に適した特性Ｘ線を放射する。また、Ｃｕは鉄系試料
を除く一般的な無機物質及び有機物質のＸ線回折測定に
適した特性Ｘ線を放射する。Ｍｏは鉄鋼試料及び透過法
で吸収係数の大きな試料の測定に適した特性Ｘ線を放射
し、Ｗは単結晶によるラウエ写真測定に適した特性Ｘ線
を放射する。したがって、これらの材料のうち必要に応
じて複数の材料を選択して合金リング２を製造すればよ
い。
【００１５】図２は上述した対陰極を回転対陰極Ｘ線管
に適用した例を示す一部断面正面図である。対陰極１０
は、対陰極本体１及び合金リング２からなり、対陰極本
体１を回転駆動軸１１に連結して、管壁１２の内部に配
置されている。回転駆動軸１１は、図示しない駆動モー
タから駆動ベルト１３を介して回転駆動力を受け、対陰
極本体１を高速回転させる。なお、対陰極本体１の内壁
部分には、水冷構造が付設されており、上述した高速回
転動作と相まって対陰極本体１を冷却する。管壁１２の
内部において、合金リング２と対向する所定の位置に
は、電子ビームを放出する電子銃１４が設置してある。
また管壁１２の内部は、放電防止のために真空となって
いる。
に適用した例を示す一部断面正面図である。対陰極１０
は、対陰極本体１及び合金リング２からなり、対陰極本
体１を回転駆動軸１１に連結して、管壁１２の内部に配
置されている。回転駆動軸１１は、図示しない駆動モー
タから駆動ベルト１３を介して回転駆動力を受け、対陰
極本体１を高速回転させる。なお、対陰極本体１の内壁
部分には、水冷構造が付設されており、上述した高速回
転動作と相まって対陰極本体１を冷却する。管壁１２の
内部において、合金リング２と対向する所定の位置に
は、電子ビームを放出する電子銃１４が設置してある。
また管壁１２の内部は、放電防止のために真空となって
いる。
【００１６】上述した構成の回転陰極Ｘ線管では、電子
銃１４から放出された電子ビームが対陰極１０の合金リ
ング２に衝突した際、合金リング２を構成する各材料に
特有の特性Ｘ線が放射される。したがって、Ｘ線回折装
置に使用するときは、合金リング２と試料との間、又は
試料と検出器との間にモノクロメータ等のＸ線選別器を
設けておけば、特定の特性Ｘ線のみによる測定データを
得ることができる。また、同時に二種以上の特性Ｘ線を
試料に放射して、複数の波長による強度ピークの測定デ
ータを得ることも可能である。このように、本実施例の
対陰極を用いれば、同時に複数の特性Ｘ線が放射される
ので、試料又は測定環境の変更に際しても対陰極の交換
を必要とせず、煩雑な真空びき作業を解消することがで
きる。
銃１４から放出された電子ビームが対陰極１０の合金リ
ング２に衝突した際、合金リング２を構成する各材料に
特有の特性Ｘ線が放射される。したがって、Ｘ線回折装
置に使用するときは、合金リング２と試料との間、又は
試料と検出器との間にモノクロメータ等のＸ線選別器を
設けておけば、特定の特性Ｘ線のみによる測定データを
得ることができる。また、同時に二種以上の特性Ｘ線を
試料に放射して、複数の波長による強度ピークの測定デ
ータを得ることも可能である。このように、本実施例の
対陰極を用いれば、同時に複数の特性Ｘ線が放射される
ので、試料又は測定環境の変更に際しても対陰極の交換
を必要とせず、煩雑な真空びき作業を解消することがで
きる。
【００１７】なお、本発明は上述した実施例に限定され
るものではなく、発明の要旨を変更しない範囲で、種々
の変形又は応用が可能である。例えば、対陰極の表面部
分に形成する合金は、上記実施例のような合金リングに
限らず、イオンプレーティング等の合金表面処理によっ
て形成してもよく、また、対陰極本体自体を合金で形成
してもよい。さらに、本発明の対陰極の適用対象となる
Ｘ線管としては、回転陰極Ｘ線管に限らず、固定陰極Ｘ
線管であってもよい。すなわち、本発明は回転対陰極に
限らず、固定対陰極としても構成することができる。
るものではなく、発明の要旨を変更しない範囲で、種々
の変形又は応用が可能である。例えば、対陰極の表面部
分に形成する合金は、上記実施例のような合金リングに
限らず、イオンプレーティング等の合金表面処理によっ
て形成してもよく、また、対陰極本体自体を合金で形成
してもよい。さらに、本発明の対陰極の適用対象となる
Ｘ線管としては、回転陰極Ｘ線管に限らず、固定陰極Ｘ
線管であってもよい。すなわち、本発明は回転対陰極に
限らず、固定対陰極としても構成することができる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のＸ線管用
対陰極によれば、特性Ｘ線を放射する表面部分が複数種
類の材料で形成した合金で構成されているので、それら
各材料に特有な異種の特性Ｘ線を同時に一定の強度で放
射でき、その結果、Ｘ線回折測定における試料や測定環
境の変更に伴うＸ線管内の真空引き作業が解消できる。
しかも、本発明の対陰極を使用することで、Ｘ線管の構
造が簡易となり、製品コストの低価格化及び操作性の向
上を図ることが可能となる。
対陰極によれば、特性Ｘ線を放射する表面部分が複数種
類の材料で形成した合金で構成されているので、それら
各材料に特有な異種の特性Ｘ線を同時に一定の強度で放
射でき、その結果、Ｘ線回折測定における試料や測定環
境の変更に伴うＸ線管内の真空引き作業が解消できる。
しかも、本発明の対陰極を使用することで、Ｘ線管の構
造が簡易となり、製品コストの低価格化及び操作性の向
上を図ることが可能となる。
【図１】 本発明の実施例に係るＸ線管用対陰極の正面
断図である。
断図である。
【図２】 同Ｘ線管用対陰極を回転陰極Ｘ線管に適用し
た例を示す一部断面正面図である。
た例を示す一部断面正面図である。
【図３】 従来の回転対陰極線管を示す一部断面正面図
である。
である。
【図４】 従来の他の回転対陰極線管を示す一部断面正
面図である。
面図である。
１ 対陰極本体 ２ 合金リング １１ 回転駆動軸 １２ 管壁 １３ 駆動ベルト １４ 電子銃
Claims (1)
- 【請求項１】 陰極から放出した電子ビームを表面に衝
突させることにより、材質に応じた特性Ｘ線を前記表面
から放射するＸ線管用対陰極において、少なくとも前記
特性Ｘ線を放射する表面部分を、任意の複数種類の材料
からなる合金で形成したことを特徴とするＸ線管用対陰
極。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14896592A JPH05325851A (ja) | 1992-05-18 | 1992-05-18 | Ｘ線管用対陰極 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14896592A JPH05325851A (ja) | 1992-05-18 | 1992-05-18 | Ｘ線管用対陰極 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05325851A true JPH05325851A (ja) | 1993-12-10 |
Family
ID=15464628
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14896592A Pending JPH05325851A (ja) | 1992-05-18 | 1992-05-18 | Ｘ線管用対陰極 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05325851A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004511884A (ja) * | 2000-10-06 | 2004-04-15 | ザ ユニバーシティ オブ ノース カロライナ − チャペル ヒル | 電子電界放出カソードを使用するｘ線発生機構 |
| JP2008016339A (ja) * | 2006-07-06 | 2008-01-24 | Toshiba Corp | Ｘ線源および蛍光ｘ線分析装置 |
| DE102011078357A1 (de) | 2010-06-29 | 2011-12-29 | Rigaku Corp. | Vorrichtung für eine Röntgenstrahlanalyse mit klassifizierten Wellenlängen |
| JP2012138248A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Futaba Corp | 光殺菌装置および紫外線エックス線発生装置 |
| JP2012520543A (ja) * | 2009-03-12 | 2012-09-06 | シーエックスアール リミテッド | Ｘ線スキャナ及びｘ線スキャナ用ｘ線源 |
| US9442082B2 (en) | 2003-04-25 | 2016-09-13 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray inspection system and method |
| US9618648B2 (en) | 2003-04-25 | 2017-04-11 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
| US9638646B2 (en) | 2005-12-16 | 2017-05-02 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
| US9675306B2 (en) | 2003-04-25 | 2017-06-13 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
| US10295483B2 (en) | 2005-12-16 | 2019-05-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Data collection, processing and storage systems for X-ray tomographic images |
| US10591424B2 (en) | 2003-04-25 | 2020-03-17 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items |
-
1992
- 1992-05-18 JP JP14896592A patent/JPH05325851A/ja active Pending
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004511884A (ja) * | 2000-10-06 | 2004-04-15 | ザ ユニバーシティ オブ ノース カロライナ − チャペル ヒル | 電子電界放出カソードを使用するｘ線発生機構 |
| US10175381B2 (en) | 2003-04-25 | 2019-01-08 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners having source points with less than a predefined variation in brightness |
| US10591424B2 (en) | 2003-04-25 | 2020-03-17 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items |
| US9618648B2 (en) | 2003-04-25 | 2017-04-11 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
| US11796711B2 (en) | 2003-04-25 | 2023-10-24 | Rapiscan Systems, Inc. | Modular CT scanning system |
| US9675306B2 (en) | 2003-04-25 | 2017-06-13 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
| US10901112B2 (en) | 2003-04-25 | 2021-01-26 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system with stationary x-ray sources |
| US9442082B2 (en) | 2003-04-25 | 2016-09-13 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray inspection system and method |
| US9638646B2 (en) | 2005-12-16 | 2017-05-02 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
| US10976271B2 (en) | 2005-12-16 | 2021-04-13 | Rapiscan Systems, Inc. | Stationary tomographic X-ray imaging systems for automatically sorting objects based on generated tomographic images |
| US10295483B2 (en) | 2005-12-16 | 2019-05-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Data collection, processing and storage systems for X-ray tomographic images |
| JP2008016339A (ja) * | 2006-07-06 | 2008-01-24 | Toshiba Corp | Ｘ線源および蛍光ｘ線分析装置 |
| JP2012520543A (ja) * | 2009-03-12 | 2012-09-06 | シーエックスアール リミテッド | Ｘ線スキャナ及びｘ線スキャナ用ｘ線源 |
| GB2479701B (en) * | 2009-03-12 | 2015-12-09 | Cxr Ltd | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
| US8699665B2 (en) | 2010-06-29 | 2014-04-15 | Rigaku Corporation | Wavelength-classifying type X-ray diffraction device |
| US8300767B1 (en) | 2010-06-29 | 2012-10-30 | Rigaku Corporation | Wavelength-classifying type X-ray diffraction device |
| DE102011078357A1 (de) | 2010-06-29 | 2011-12-29 | Rigaku Corp. | Vorrichtung für eine Röntgenstrahlanalyse mit klassifizierten Wellenlängen |
| JP2012138248A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Futaba Corp | 光殺菌装置および紫外線エックス線発生装置 |
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