JPH05315090A - Ｘ線装置 - Google Patents
Ｘ線装置Info
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- JPH05315090A JPH05315090A JP4146943A JP14694392A JPH05315090A JP H05315090 A JPH05315090 A JP H05315090A JP 4146943 A JP4146943 A JP 4146943A JP 14694392 A JP14694392 A JP 14694392A JP H05315090 A JPH05315090 A JP H05315090A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】透視から撮影に至る遅れ時間を短縮すると共
に、フィラメント断線を起こさずに最適な管電流値に設
定して、操作性及びメンテナンス性の向上を図ることに
ある。 【構成】フィラメント電圧検出回路９から出力電圧を測
定し、フィラメント電流検出回路１０から出力電流を測
定し、この出力電圧と出力電流を割算回路１１により抵
抗値を算出出力する。この抵抗値をフィラメント加熱回
路４にフィードバックして所定の温度つまり所定の抵抗
値となるよう調整する。 【効果】非加熱状態のフィラメントを高速で最適温度ま
で加熱することにより、遅れ時間を短縮できどのような
Ｘ線管にも対応できるため、操作性が向上しさらにフィ
ラメント断線を起こさずに最適な管電流値を設定できＸ
線装置のメンテナンス性が良好になる。
に、フィラメント断線を起こさずに最適な管電流値に設
定して、操作性及びメンテナンス性の向上を図ることに
ある。 【構成】フィラメント電圧検出回路９から出力電圧を測
定し、フィラメント電流検出回路１０から出力電流を測
定し、この出力電圧と出力電流を割算回路１１により抵
抗値を算出出力する。この抵抗値をフィラメント加熱回
路４にフィードバックして所定の温度つまり所定の抵抗
値となるよう調整する。 【効果】非加熱状態のフィラメントを高速で最適温度ま
で加熱することにより、遅れ時間を短縮できどのような
Ｘ線管にも対応できるため、操作性が向上しさらにフィ
ラメント断線を起こさずに最適な管電流値を設定できＸ
線装置のメンテナンス性が良好になる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＸ線装置に係り、特にＸ
線管のフィラメント加熱回路に関する。
線管のフィラメント加熱回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線装置において、Ｘ線写真を撮影する
場合には、まず透視によりモニタ画像いわゆる透視画像
で関心部位のフレーミングを行なってから、フィルム撮
影（以下、撮影という）用のＸ線曝射スイッチを押すこ
とによりＸ線フィルムへの撮影が行なわれる。しかし、
透視から撮影へ移行するまでにＸ線装置の特性により通
常０．３秒〜１．５秒程度の遅れ時間が発生する。この
遅れ時間を説明すると、Ｘ線管には通常大小二つの焦点
があり、透視時には画像の鮮鋭度を高めるため一般に小
焦点が用いられ、撮影時には管電流容量を高めるため一
般に大焦点が用いられる。このため、透視から撮影に移
行する時点では大焦点は温まっておらず、撮影管電流を
流すのに必要な所定のフィラメント温度にするため１．
５秒程度の時間を必要としていた。
場合には、まず透視によりモニタ画像いわゆる透視画像
で関心部位のフレーミングを行なってから、フィルム撮
影（以下、撮影という）用のＸ線曝射スイッチを押すこ
とによりＸ線フィルムへの撮影が行なわれる。しかし、
透視から撮影へ移行するまでにＸ線装置の特性により通
常０．３秒〜１．５秒程度の遅れ時間が発生する。この
遅れ時間を説明すると、Ｘ線管には通常大小二つの焦点
があり、透視時には画像の鮮鋭度を高めるため一般に小
焦点が用いられ、撮影時には管電流容量を高めるため一
般に大焦点が用いられる。このため、透視から撮影に移
行する時点では大焦点は温まっておらず、撮影管電流を
流すのに必要な所定のフィラメント温度にするため１．
５秒程度の時間を必要としていた。
【０００３】また、この他にＸ線管球の陽極回転数を規
定値にする時間やインバータの入力側のコンデンサを所
定電圧値まで充電する時間、あるいは未感光フィルムを
待避位置から撮影位置へ移動する時間なども必要とす
る。この遅れ時間が存在すると、造影剤などを使用した
動きの早い部位の撮影では、着目した病巣の撮影タイミ
ングを逃してしまうことがある。このため、従来の装置
では撮影準備信号開始から曝射信号開始までの期間の初
期に一時的に規定値以上のフィラメント電圧を増長して
印加していた（クイックスタート法）。
定値にする時間やインバータの入力側のコンデンサを所
定電圧値まで充電する時間、あるいは未感光フィルムを
待避位置から撮影位置へ移動する時間なども必要とす
る。この遅れ時間が存在すると、造影剤などを使用した
動きの早い部位の撮影では、着目した病巣の撮影タイミ
ングを逃してしまうことがある。このため、従来の装置
では撮影準備信号開始から曝射信号開始までの期間の初
期に一時的に規定値以上のフィラメント電圧を増長して
印加していた（クイックスタート法）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のクイックス
タート法は、増長させる電圧値や印加時間は一定の条件
で設定されている。つまり、フィラメントに電力を供給
する制御系が加熱インバータ入力電圧を一定値に安定化
させるいわゆる定電圧フィードバックである。また、フ
ィラメント温度と印加時間とは定常状態では比例関係に
あるが、過渡状態においては図２に示すようにフィラメ
ント冷却状態の抵抗値が非常に小さく電圧に対する抵抗
の変化率が一定でないため比例関係にならない。このた
め、管球の種類や管電流条件が異なると、準備期間内に
安定化が終了せず連続撮影などの場合にフィルム黒化度
のばらつきを起こすことがある。また、フィラメント加
熱量が大きすぎた場合にはフィラメントを断線すること
があった。
タート法は、増長させる電圧値や印加時間は一定の条件
で設定されている。つまり、フィラメントに電力を供給
する制御系が加熱インバータ入力電圧を一定値に安定化
させるいわゆる定電圧フィードバックである。また、フ
ィラメント温度と印加時間とは定常状態では比例関係に
あるが、過渡状態においては図２に示すようにフィラメ
ント冷却状態の抵抗値が非常に小さく電圧に対する抵抗
の変化率が一定でないため比例関係にならない。このた
め、管球の種類や管電流条件が異なると、準備期間内に
安定化が終了せず連続撮影などの場合にフィルム黒化度
のばらつきを起こすことがある。また、フィラメント加
熱量が大きすぎた場合にはフィラメントを断線すること
があった。
【０００５】本発明の目的は、非加熱状態のフィラメン
トを高速で最適温度まで加熱して透視から撮影に至る遅
れ時間を短縮すると共に、異なるＸ線管を使用しても過
加熱によるフィラメント断線を起こさずに最適な管電流
値に設定して、操作性及びメンテナンス性の向上を図る
ことにある。
トを高速で最適温度まで加熱して透視から撮影に至る遅
れ時間を短縮すると共に、異なるＸ線管を使用しても過
加熱によるフィラメント断線を起こさずに最適な管電流
値に設定して、操作性及びメンテナンス性の向上を図る
ことにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、Ｘ線管と、該Ｘ線管に印加される管電流及び管電圧
を供給するＸ線高電圧装置と、該Ｘ線管のフィラメント
に電力を供給するフィラメント加熱回路と、該Ｘ線管の
フィラメントを切り替える焦点選択回路とを有するＸ線
装置において、上記Ｘ線管のフィラメント抵抗を随時検
出して該抵抗値を上記フィラメント加熱回路にフィード
バックするフィラメント抵抗検出回路と、このフィード
バックされた抵抗値と比較するための設定値を選択する
選択スイッチと、該Ｘ線管のフィラメントを切り替える
信号を出力する信号発生器とを備え、さらに上記フィラ
メント抵抗検出回路をフィラメント電圧を測定するフィ
ラメント電圧検出回路と、フィラメント電流を測定する
フィラメント電流検出回路と、前記フィラメント電圧検
出回路の出力と前記フィラメント電流検出回路の出力の
商を算出する割算回路とにより構成すると共に、上記フ
ィラメント抵抗検出回路に前記割算回路の飽和を防ぐ最
低電流制限回路を備えたものである。
に、Ｘ線管と、該Ｘ線管に印加される管電流及び管電圧
を供給するＸ線高電圧装置と、該Ｘ線管のフィラメント
に電力を供給するフィラメント加熱回路と、該Ｘ線管の
フィラメントを切り替える焦点選択回路とを有するＸ線
装置において、上記Ｘ線管のフィラメント抵抗を随時検
出して該抵抗値を上記フィラメント加熱回路にフィード
バックするフィラメント抵抗検出回路と、このフィード
バックされた抵抗値と比較するための設定値を選択する
選択スイッチと、該Ｘ線管のフィラメントを切り替える
信号を出力する信号発生器とを備え、さらに上記フィラ
メント抵抗検出回路をフィラメント電圧を測定するフィ
ラメント電圧検出回路と、フィラメント電流を測定する
フィラメント電流検出回路と、前記フィラメント電圧検
出回路の出力と前記フィラメント電流検出回路の出力の
商を算出する割算回路とにより構成すると共に、上記フ
ィラメント抵抗検出回路に前記割算回路の飽和を防ぐ最
低電流制限回路を備えたものである。
【０００７】
【作用】フィラメント電圧検出回路から出力電圧を測定
し、フィラメント電流検出回路から出力電流を測定し、
この出力電圧と出力電流を割算回路により抵抗値を算出
出力する。この抵抗値をフィラメント加熱回路にフィー
ドバックして所定の温度つまり所定の抵抗値となるよう
調整する。また、最低電流制限回路は割算回路が飽和す
るつまり分母側の電流値が、設定した最低値より低下し
たときに最低値の電流を常に分母側に流すようにする。
し、フィラメント電流検出回路から出力電流を測定し、
この出力電圧と出力電流を割算回路により抵抗値を算出
出力する。この抵抗値をフィラメント加熱回路にフィー
ドバックして所定の温度つまり所定の抵抗値となるよう
調整する。また、最低電流制限回路は割算回路が飽和す
るつまり分母側の電流値が、設定した最低値より低下し
たときに最低値の電流を常に分母側に流すようにする。
【０００８】これにより、高速でフィラメントの温度上
昇をすることができ、さらに必要以上の加熱をすること
がなくなる。
昇をすることができ、さらに必要以上の加熱をすること
がなくなる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１乃至図５によ
り説明する。まず、本実施例の構成を説明する。１はＸ
線管２に管電圧と管電流を供給するＸ線高電圧装置、２
は撮影用の大焦点３Ｌと透視用の小焦点３Ｓを有するＸ
線管である。４は大焦点３Ｌと小焦点３Ｓを加熱するフ
ィラメント加熱回路、５はフィラメント抵抗を検出する
フィラメント抵抗検出回路でフィラメント電圧検出回路
９とフィラメント電流検出回路１０と割算回路１１で構
成される。
り説明する。まず、本実施例の構成を説明する。１はＸ
線管２に管電圧と管電流を供給するＸ線高電圧装置、２
は撮影用の大焦点３Ｌと透視用の小焦点３Ｓを有するＸ
線管である。４は大焦点３Ｌと小焦点３Ｓを加熱するフ
ィラメント加熱回路、５はフィラメント抵抗を検出する
フィラメント抵抗検出回路でフィラメント電圧検出回路
９とフィラメント電流検出回路１０と割算回路１１で構
成される。
【００１０】６は大焦点３Ｌと小焦点３Ｓのどちらかを
選択する焦点選択回路、７は大焦点３Ｌ及び小焦点３Ｓ
を加熱するために変圧する加熱変圧器、８はフィラメン
トの抵抗設定値を小焦点用のＲｓｅｔＳと大焦点用のＲ
ｓｅｔＬとに切替選択する選択スイッチ、９はフィラメ
ント電圧を測定するフィラメント電圧検出回路、１０は
フィラメント電流を測定するフィラメント電流検出回
路、１１はフィラメント電圧とフィラメント電流との商
を算出する割算回路、１３は焦点選択回路６、加熱変圧
器７及び選択スイッチ８を選択するための信号発生器で
ある。
選択する焦点選択回路、７は大焦点３Ｌ及び小焦点３Ｓ
を加熱するために変圧する加熱変圧器、８はフィラメン
トの抵抗設定値を小焦点用のＲｓｅｔＳと大焦点用のＲ
ｓｅｔＬとに切替選択する選択スイッチ、９はフィラメ
ント電圧を測定するフィラメント電圧検出回路、１０は
フィラメント電流を測定するフィラメント電流検出回
路、１１はフィラメント電圧とフィラメント電流との商
を算出する割算回路、１３は焦点選択回路６、加熱変圧
器７及び選択スイッチ８を選択するための信号発生器で
ある。
【００１１】信号発生器１３より小焦点信号あるいは大
焦点信号を出力し、焦点選択回路６によって加熱変圧器
７Ｓあるいは加熱変圧器７Ｌに切り替わる。また、信号
発生器１３からの信号は選択スイッチ８にも供給されフ
ィラメント抵抗設定値ＲｓｅｔＳあるいはＲｓｅｔＬに
切り替わる。また、これらの大焦点３Ｌ、小焦点３Ｓに
はフィラメント加熱回路４、フィラメント抵抗検出回路
５、焦点選択回路６を通してフィラメント電圧Ｖｆ、フ
ィラメント電流Ｉｆが供給されている。
焦点信号を出力し、焦点選択回路６によって加熱変圧器
７Ｓあるいは加熱変圧器７Ｌに切り替わる。また、信号
発生器１３からの信号は選択スイッチ８にも供給されフ
ィラメント抵抗設定値ＲｓｅｔＳあるいはＲｓｅｔＬに
切り替わる。また、これらの大焦点３Ｌ、小焦点３Ｓに
はフィラメント加熱回路４、フィラメント抵抗検出回路
５、焦点選択回路６を通してフィラメント電圧Ｖｆ、フ
ィラメント電流Ｉｆが供給されている。
【００１２】そして、フィラメント抵抗検出回路５で
は、透視あるいは撮影の際にフィラメント加熱回路４の
出力電圧Ｖｆ′と出力電流Ｉｆ′からフィラメント抵抗
Ｒｆ′を算出しフィラメント加熱回路４にフィードバッ
クしている。このフィードバックされた抵抗値Ｒｆ′と
選択スイッチ８で選択されたフィラメント抵抗設定値が
等しくなるようフィラメント加熱回路４で出力電圧Ｖ
ｆ′と出力電流Ｉｆ′を調整する。
は、透視あるいは撮影の際にフィラメント加熱回路４の
出力電圧Ｖｆ′と出力電流Ｉｆ′からフィラメント抵抗
Ｒｆ′を算出しフィラメント加熱回路４にフィードバッ
クしている。このフィードバックされた抵抗値Ｒｆ′と
選択スイッチ８で選択されたフィラメント抵抗設定値が
等しくなるようフィラメント加熱回路４で出力電圧Ｖ
ｆ′と出力電流Ｉｆ′を調整する。
【００１３】ここでは、加熱変圧器７の一次側すなわち
フィラメント加熱回路４側の出力電圧Ｖｆ′と出力電流
Ｉｆ′よりフィラメント抵抗Ｒｆ′を算出しているが、
実際のフィラメント抵抗Ｒｆはフィラメント抵抗Ｒｆ′
に対して加熱変圧器７の巻数比の二乗倍となっている。
加熱変圧器７の一次巻線数をＮ１、二次巻線数をＮ２と
すると、変圧器の特性から、
フィラメント加熱回路４側の出力電圧Ｖｆ′と出力電流
Ｉｆ′よりフィラメント抵抗Ｒｆ′を算出しているが、
実際のフィラメント抵抗Ｒｆはフィラメント抵抗Ｒｆ′
に対して加熱変圧器７の巻数比の二乗倍となっている。
加熱変圧器７の一次巻線数をＮ１、二次巻線数をＮ２と
すると、変圧器の特性から、
【００１４】Ｖｆ＝（Ｎ２／Ｎ１）・Ｖｆ′ Ｉｆ＝（Ｎ１／Ｎ２）・Ｉｆ′ が成り立ち、この式から、
【００１５】 Ｒｆ＝Ｖｆ／Ｉｆ＝（Ｎ２／Ｎ１）・Ｖｆ′／（Ｎ１／
Ｎ２）・Ｉｆ′＝（Ｎ２／Ｎ１）2・Ｒｆ′
Ｎ２）・Ｉｆ′＝（Ｎ２／Ｎ１）2・Ｒｆ′
【００１６】となる。また、本実施例のフィードバック
系に絶縁手段を用いて加熱変圧器７の二次側から電圧電
流をフィードバックすれば、フィラメント抵抗の設定に
加熱変圧器７の巻数を考慮する必要がなくなる。
系に絶縁手段を用いて加熱変圧器７の二次側から電圧電
流をフィードバックすれば、フィラメント抵抗の設定に
加熱変圧器７の巻数を考慮する必要がなくなる。
【００１７】Ｘ線の透視撮影においては、操作者はまず
透視を行って撮影部位を探しモニタ上においてフレーミ
ングを行う。このとき、Ｘ線管２では小焦点３Ｓを使用
するため、信号発生器１３から小焦点信号が発生され、
焦点選択回路６で加熱変圧器７Ｓを選択し、選択スイッ
チ８でフィラメント抵抗設定値ＲｓｅｔＳを選択する。
そして、透視終了後フィルム上に撮影する。このときは
信号発生器１３からの大焦点信号に切り替わると共に、
選択スイッチ８もフィラメント抵抗設定値ＲｓｅｔＬ
に、焦点選択回路６も加熱変圧器７Ｌに選択切替され
る。
透視を行って撮影部位を探しモニタ上においてフレーミ
ングを行う。このとき、Ｘ線管２では小焦点３Ｓを使用
するため、信号発生器１３から小焦点信号が発生され、
焦点選択回路６で加熱変圧器７Ｓを選択し、選択スイッ
チ８でフィラメント抵抗設定値ＲｓｅｔＳを選択する。
そして、透視終了後フィルム上に撮影する。このときは
信号発生器１３からの大焦点信号に切り替わると共に、
選択スイッチ８もフィラメント抵抗設定値ＲｓｅｔＬ
に、焦点選択回路６も加熱変圧器７Ｌに選択切替され
る。
【００１８】この時点では大焦点信号３Ｌは加熱されて
おらず、抵抗値が非常に小さいため電圧を印加した瞬間
には大きな電流が流れるが、瞬時抵抗値は常にフィラメ
ント抵抗値ＲｓｅｔＬと比較されフィラメント抵抗値Ｒ
ｓｅｔＬより大きくなることはない。また、抵抗値の応
答が高速になるようにフィードバック系のゲインを設定
するだけでフィラメント温度を早く目的の温度に達成で
きる。
おらず、抵抗値が非常に小さいため電圧を印加した瞬間
には大きな電流が流れるが、瞬時抵抗値は常にフィラメ
ント抵抗値ＲｓｅｔＬと比較されフィラメント抵抗値Ｒ
ｓｅｔＬより大きくなることはない。また、抵抗値の応
答が高速になるようにフィードバック系のゲインを設定
するだけでフィラメント温度を早く目的の温度に達成で
きる。
【００１９】次に本実施例のフィラメント抵抗検出回路
５の詳細な説明を図４により説明する。フィラメント加
熱回路４の出力電圧Ｖｆ′は分圧抵抗９ａと９ｂによっ
て分圧され、抵抗９ｂの両端電圧を検出する増幅器９ｃ
によって実際のフィラメント電圧に比例した電圧として
割算回路１１の分子側入力に入る。一方、フィラメント
加熱回路４の出力電流Ｉｆ′は電流検出抵抗１０ａによ
って電圧に変換された後、実際のフィラメント電流に比
例した電圧として割算回路１１の分母側入力に入る。こ
の際割算回路１１の両入力はそれぞれ実際のフィラメン
ト電圧電流に対して同じ換算で比例関係になっている。
５の詳細な説明を図４により説明する。フィラメント加
熱回路４の出力電圧Ｖｆ′は分圧抵抗９ａと９ｂによっ
て分圧され、抵抗９ｂの両端電圧を検出する増幅器９ｃ
によって実際のフィラメント電圧に比例した電圧として
割算回路１１の分子側入力に入る。一方、フィラメント
加熱回路４の出力電流Ｉｆ′は電流検出抵抗１０ａによ
って電圧に変換された後、実際のフィラメント電流に比
例した電圧として割算回路１１の分母側入力に入る。こ
の際割算回路１１の両入力はそれぞれ実際のフィラメン
ト電圧電流に対して同じ換算で比例関係になっている。
【００２０】割算回路１１ではフィラメント電圧Ｖｆ′
をフィラメント電流Ｉｆ′にて割算することにより商で
あるフィラメント抵抗Ｒｆ′を求める。この値は図３の
関係により常にフィラメントの温度に相当した値として
表せる。これらの算出系において演算に比較的時間を要
するのは割算回路１１のみであるが、割算回路１１の演
算速度はＸ線管フィラメントの熱時定数に比較すれば問
題のないほど高速である。
をフィラメント電流Ｉｆ′にて割算することにより商で
あるフィラメント抵抗Ｒｆ′を求める。この値は図３の
関係により常にフィラメントの温度に相当した値として
表せる。これらの算出系において演算に比較的時間を要
するのは割算回路１１のみであるが、割算回路１１の演
算速度はＸ線管フィラメントの熱時定数に比較すれば問
題のないほど高速である。
【００２１】次に本発明の他の実施例を図５により説明
する。これは前述のフィラメント抵抗検出回路５に出力
電流の最低値を設定する最低電流設定回路１２を備えた
ものである。前述の割算回路１１の分母側の入力である
フィラメント電流検出回路１０の出力Ｉｆは、割算回路
１１の性格上零にはできない。なぜなら、この状態は数
学的に定義できない値のため割算回路１１の出力が飽和
してしまうためである。そこで、フィラメント電流検出
回路１０の出力Ｉｆが最低電流設定値Ｉｍｉｎより小さ
くなった場合は割算回路１１の分母側にＩｍｉｎを出力
するようにダイオード１２ａと１２ｂがスイッチする。
する。これは前述のフィラメント抵抗検出回路５に出力
電流の最低値を設定する最低電流設定回路１２を備えた
ものである。前述の割算回路１１の分母側の入力である
フィラメント電流検出回路１０の出力Ｉｆは、割算回路
１１の性格上零にはできない。なぜなら、この状態は数
学的に定義できない値のため割算回路１１の出力が飽和
してしまうためである。そこで、フィラメント電流検出
回路１０の出力Ｉｆが最低電流設定値Ｉｍｉｎより小さ
くなった場合は割算回路１１の分母側にＩｍｉｎを出力
するようにダイオード１２ａと１２ｂがスイッチする。
【００２２】本実施例では、非加熱状態のフィラメント
を高速で最適温度まで加熱することにより、透視から撮
影に至る遅れ時間を短縮してＸ線装置の操作性を向上さ
せることができ、またどのようなＸ線管でも過加熱によ
るフィラメント断線を起こさずに最適な管電流値を設定
できるためＸ線装置のメンテナンス性が良好になる。さ
らに、フィラメント温度を容易にしかも高速で精度良く
検出することができる。そして、最低電流制限回路１２
を備えることで割算回路１１が飽和することがなくな
り、フィラメント抵抗検出回路５を安定に動作させるこ
とができる。
を高速で最適温度まで加熱することにより、透視から撮
影に至る遅れ時間を短縮してＸ線装置の操作性を向上さ
せることができ、またどのようなＸ線管でも過加熱によ
るフィラメント断線を起こさずに最適な管電流値を設定
できるためＸ線装置のメンテナンス性が良好になる。さ
らに、フィラメント温度を容易にしかも高速で精度良く
検出することができる。そして、最低電流制限回路１２
を備えることで割算回路１１が飽和することがなくな
り、フィラメント抵抗検出回路５を安定に動作させるこ
とができる。
【００２３】また本実施例は全て加熱回路７の一次側の
低電圧回路に設けられているため絶縁に関する諸回路を
用いる必要がない。さらに、検出精度は抵抗値の精度を
増幅器の割算回路の安定性で決定するが、いずれも汎用
の部品でありＸ線装置の用途としては十分な特性を持つ
ものが安価に入手できる。
低電圧回路に設けられているため絶縁に関する諸回路を
用いる必要がない。さらに、検出精度は抵抗値の精度を
増幅器の割算回路の安定性で決定するが、いずれも汎用
の部品でありＸ線装置の用途としては十分な特性を持つ
ものが安価に入手できる。
【００２４】なお、割算回路１１は検出値をＡ／Ｄ変換
したデータとディジタルデータで与えられるフィラメン
ト抵抗設定値とをＤＳＰ（Digital Signal Processor）
などを用いてディジタル演算するいわゆるディジタル回
路や、ＯＰアンプ等を用いて構成するアナログ回路を使
用しても良い。最低電流制限回路についても同様に使用
できる。
したデータとディジタルデータで与えられるフィラメン
ト抵抗設定値とをＤＳＰ（Digital Signal Processor）
などを用いてディジタル演算するいわゆるディジタル回
路や、ＯＰアンプ等を用いて構成するアナログ回路を使
用しても良い。最低電流制限回路についても同様に使用
できる。
【００２５】
【発明の効果】本発明によれば、非加熱状態のフィラメ
ントを高速で最適温度まで加熱することにより、遅れ時
間を短縮できＸ線装置の操作性が向上すると共に、どの
ようなＸ線管でもフィラメント断線を起こさずに最適な
管電流値を設定できＸ線装置のメンテナンス性が良好に
なる。さらに、フィラメント温度を容易にしかも高速で
精度良く検出することができる。そして、割算回路を飽
和しないため、フィラメント抵抗検出回路を安定に動作
させることができる。
ントを高速で最適温度まで加熱することにより、遅れ時
間を短縮できＸ線装置の操作性が向上すると共に、どの
ようなＸ線管でもフィラメント断線を起こさずに最適な
管電流値を設定できＸ線装置のメンテナンス性が良好に
なる。さらに、フィラメント温度を容易にしかも高速で
精度良く検出することができる。そして、割算回路を飽
和しないため、フィラメント抵抗検出回路を安定に動作
させることができる。
【図１】本発明の構成を示すブロック図
【図２】フィラメント温度とフィラメント電圧の関係を
示す図
示す図
【図３】フィラメント温度とフィラメント抵抗の関係を
示す図
示す図
【図４】本発明の実施例を示すフィラメント抵抗検出回
路の回路図
路の回路図
【図５】本発明の他の実施例を示すフィラメント抵抗検
出回路の回路図
出回路の回路図
３Ｓ 小焦点 ３Ｌ 大焦点 ４ フィラメント加熱回路 ５ フィラメント抵抗検出回路 ６ 焦点選択回路 ７Ｓ 小焦点用加熱変圧器 ７Ｌ 大焦点用加熱変圧器 ８ 選択スイッチ ９ フィラメント電圧検出回路 １０ フィラメント電流検出回路 １１ 割算回路 １２ 最低電流制限回路 １３ 信号発生器
Claims (3)
- 【請求項１】Ｘ線管と、該Ｘ線管に印加される管電流及
び管電圧を供給するＸ線高電圧装置と、該Ｘ線管のフィ
ラメントに電力を供給するフィラメント加熱回路と、該
Ｘ線管のフィラメントを切り替える焦点選択回路とを有
するＸ線装置において、上記Ｘ線管のフィラメント抵抗
を随時検出して該抵抗値を上記フィラメント加熱回路に
フィードバックするフィラメント抵抗検出回路と、この
フィードバックされた抵抗値と比較するための設定値を
選択する選択スイッチと、該Ｘ線管のフィラメントを切
り替える信号を出力する信号発生器とを備えたことを特
徴とするＸ線装置。 - 【請求項２】上記フィラメント抵抗検出回路をフィラメ
ント電圧を測定するフィラメント電圧検出回路と、フィ
ラメント電流を測定するフィラメント電流検出回路と、
前記フィラメント電圧検出回路の出力と前記フィラメン
ト電流検出回路の出力の商を算出する割算回路とにより
構成した請求項１に記載のＸ線装置。 - 【請求項３】上記フィラメント抵抗検出回路に前記割算
回路の飽和を防ぐ最低電流制限回路を備えた請求項１、
２に記載のＸ線装置。
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| JP14694392A JP3447012B2 (ja) | 1992-05-13 | 1992-05-13 | Ｘ線装置 |
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| JP14694392A JP3447012B2 (ja) | 1992-05-13 | 1992-05-13 | Ｘ線装置 |
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|---|---|
| JPH05315090A true JPH05315090A (ja) | 1993-11-26 |
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ID=15419084
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| JP14694392A Expired - Fee Related JP3447012B2 (ja) | 1992-05-13 | 1992-05-13 | Ｘ線装置 |
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| JP (1) | JP3447012B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10038946C2 (de) * | 2000-08-09 | 2002-03-14 | Siemens Ag | Heizstromkreis für eine Kathode einer Röntgenröhre und Verfahren zur Ermittlung einer Führungsgröße einer Stromregeleinrichtung eines Heizstromkreises |
| JP5869713B1 (ja) * | 2015-04-13 | 2016-02-24 | フェニックス電機株式会社 | 光源装置及び露光装置とその検査方法 |
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-
1992
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| TWI639899B (zh) * | 2015-04-13 | 2018-11-01 | 日商鳳凰電機股份有限公司 | 光源裝置 |
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