JPH05307760A - Optical pickup - Google Patents

Optical pickup

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Publication number
JPH05307760A
JPH05307760A JP4110023A JP11002392A JPH05307760A JP H05307760 A JPH05307760 A JP H05307760A JP 4110023 A JP4110023 A JP 4110023A JP 11002392 A JP11002392 A JP 11002392A JP H05307760 A JPH05307760 A JP H05307760A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hologram
photodetectors
beams
recording medium
semiconductor laser
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4110023A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Yamazaki
健 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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Publication of JPH05307760A publication Critical patent/JPH05307760A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To adjust the offset of a focus error signal and to reduce an offset amt. by providing a unit integrating a semiconductor substrate and a hologram in the direction nearly perpendicular to a diffractional direction by the hologram movably. CONSTITUTION:After a beam outgoing from a semiconductor laser 9 is reflected by a mirror surface 6b, is separated to three beams by a grating 8a and respective beams irradiate a recording medium through a diaphragm 2 and an objective lens 3. The return beams of three beams from the recording medium 4 are made incident on a hologram pattern 8b passing through a reverse path and diffracted and the + or -1-order diffracted beams of the main beam are made incident on central photodetectors 12, 15 respectively and the + or -1st-order diffracted beams of one side sub beam are made incident on e.g. the photodetectors 11, 14 and the + or -1st-order diffracted beams of the other side sub beam are made incident on the photodetectors 13, 16 respectively. Since the hologram pattern 8b is constituted so as to impart reverse dirrectional power each other to the + or -1st-order diffracted beams, e.g. the + or -1st-order diffracted beam among respective beams focuses backward the substrate 6 and the -1st-order diffracted beam focuses forward the substrate 6.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク等の光学
式情報記録媒体に対して情報の記録および/または再生
を行う記録/再生装置に用いる光ピックアップに関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup used in a recording / reproducing apparatus for recording and / or reproducing information on an optical information recording medium such as an optical disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の光ピックアップとして、例えばシ
ャープ技報(1989年9月号)および特開平1−22
0133号公報にホログラムを用いたホログラムピック
アップが開示されており、また本願人も特願平2−23
7236号において半導体レーザおよび光検出器を有す
る半導体基板とホログラムとを一体化したホログラムピ
ックアップを提案している。
2. Description of the Related Art As conventional optical pickups, for example, Sharp Technical Report (September 1989) and Japanese Patent Laid-Open No. 1-22.
A hologram pickup using a hologram is disclosed in Japanese Patent Application No. 0133, and the applicant of the present invention also discloses Japanese Patent Application No. 2-23.
No. 7236 proposes a hologram pickup in which a semiconductor substrate having a semiconductor laser and a photodetector and a hologram are integrated.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
シャープ技報に開示されたホログラムピックアップにお
いては、半導体レーザおよび光検出器を単一のステムに
マウントし、その後キャップを取り付けてから、このキ
ャップ上にホログラムを接着固定して、半導体レーザ、
光検出器およびホログラムを一体化しているが、ホログ
ラムの位置決めにあたっては、一々基準となるピックア
ップに取り付けて実際にCDを再生し、光検出器の出力
から生成される信号の強度、バランス等とCD再生信号
のジッタ値とをモニタしながら、CD再生信号のジッタ
値が最小となるときにフォーカスエラー信号およびトラ
ッキングエラー信号のオフセットが零となるようにホロ
グラムを移動させて調整している。このため、一体化す
るにあたって、基準となるピックアップへの脱着等の工
数が増え、コストアップを招くという問題がある。
However, in the hologram pickup disclosed in the above-mentioned Sharp Technical Report, the semiconductor laser and the photodetector are mounted on a single stem, and then the cap is attached and then the cap is mounted on the cap. The hologram is bonded and fixed to the semiconductor laser,
The photodetector and the hologram are integrated, but when positioning the hologram, the CD is actually reproduced by mounting it on a pickup that serves as a reference, and the intensity, balance, etc. of the signal generated from the output of the photodetector and the CD. While monitoring the jitter value of the reproduction signal, the hologram is moved and adjusted so that the offsets of the focus error signal and the tracking error signal become zero when the jitter value of the CD reproduction signal becomes minimum. For this reason, when they are integrated, there is a problem that the number of man-hours for attaching and detaching to the standard pickup is increased and the cost is increased.

【0004】また、特開平1−220133号公報に開
示されたホログラムピックアップや特願平2−2372
36号において提案したホログラムピックアップにおい
ては、ホログラムを精度良く取り付けても、その取り付
け精度には限界があるため、フォーカスエラー信号をビ
ームサイズ法により得ようとすると、フォーカスオフセ
ットが生じるという問題がある。
The hologram pickup disclosed in Japanese Unexamined Patent Publication No. 1-220133 and Japanese Patent Application No. 2-2372.
In the hologram pickup proposed in No. 36, even if the hologram is mounted with high accuracy, the mounting accuracy is limited, so that there is a problem that a focus offset occurs when the focus error signal is obtained by the beam size method.

【0005】この発明は、このような従来の問題点に着
目してなされたもので、フォーカスエラー信号のオフセ
ットを十分小さくでき、しかも安価にできるよう適切に
構成した光ピックアップを提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such conventional problems, and an object of the present invention is to provide an optical pickup properly configured so that the offset of a focus error signal can be sufficiently reduced and the cost can be reduced. And

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この出願の第1の発明では、同一半導体基板上に設
けた半導体レーザおよび各々複数の受光領域を有する複
数の光検出器と、前記半導体レーザからの出射光を光学
式情報記録媒体に照射する収束光学系と、前記光学式情
報記録媒体からの反射光を、互いに逆方向のパワーを与
えて2光束に回折させて前記複数の光検出器に入射させ
るホログラムとを有し、前記複数の光検出器の出力に基
づいて前記収束光学系の前記光学式情報記録媒体に対す
るフォーカスエラー信号を得るようにした光ピックアッ
プにおいて、前記半導体基板およびホログラムをユニッ
トとして一体化すると共に、このユニットをピックアッ
プベースに対して、前記ホログラムによる回折方向とほ
ぼ直交する方向に移動可能に設けて、フォーカスエラー
信号のオフセットを調整し得るよう構成する。
In order to achieve the above object, in the first invention of this application, a semiconductor laser provided on the same semiconductor substrate and a plurality of photodetectors each having a plurality of light receiving regions, and The converging optical system for irradiating the optical information recording medium with the light emitted from the semiconductor laser, and the reflected light from the optical information recording medium are diffracted into two light fluxes by applying powers in mutually opposite directions to each other. An optical pickup having a hologram to be incident on a detector, wherein a focus error signal for the optical information recording medium of the converging optical system is obtained based on outputs of the plurality of photodetectors. The hologram is integrated as a unit, and this unit is moved to the pickup base in a direction substantially orthogonal to the diffraction direction of the hologram. Capable provided, constituting as capable of adjusting the offset of the focus error signal.

【0007】さらに、第2の発明では、同一半導体基板
上に設けた半導体レーザおよび各々複数の受光領域を有
する複数の光検出器と、前記半導体レーザからの出射光
を光学式情報記録媒体に照射する収束光学系と、前記光
学式情報記録媒体からの反射光を、互いに逆方向のパワ
ーを与えて2光束に回折させて前記複数の光検出器に入
射させるホログラムとを有し、前記複数の光検出器の出
力に基づいて前記収束光学系の前記光学式情報記録媒体
に対するフォーカスエラー信号を得るようにした光ピッ
クアップにおいて、前記半導体基板およびホログラムを
ユニットとして一体化すると共に、このユニットをピッ
クアップベースに対して、前記半導体レーザの発光点を
ほぼ中心とする前記ホログラムによる回折方向の軸回り
に回転可能に設けて、フォーカスエラー信号のオフセッ
トを調整し得るよう構成する。
Further, in the second invention, a semiconductor laser provided on the same semiconductor substrate and a plurality of photodetectors each having a plurality of light receiving regions, and light emitted from the semiconductor laser are applied to the optical information recording medium. A converging optical system, and a hologram for diffracting reflected light from the optical information recording medium into two light beams by applying powers in mutually opposite directions and making the light beams enter the plurality of photodetectors. In an optical pickup in which a focusing error signal for the optical information recording medium of the converging optical system is obtained based on the output of a photodetector, the semiconductor substrate and the hologram are integrated as a unit, and the unit is a pickup base. On the other hand, it is rotatably provided around an axis in the diffraction direction of the hologram with the light emitting point of the semiconductor laser as the center. It is configured to be adjusted to offset of the focus error signal.

【0008】[0008]

【作用】第1の発明において、ホログラムによる回折方
向とほぼ直交する方向にユニットを移動させると、複数
の光検出器上でのスポットは、それぞれ受光領域の分割
方向に変位することになるので、これによりフォーカス
エラー信号のオフセットの調整が可能となる。
In the first aspect of the invention, when the unit is moved in the direction substantially orthogonal to the diffraction direction of the hologram, the spots on the plurality of photodetectors are displaced in the dividing direction of the light receiving area. This makes it possible to adjust the offset of the focus error signal.

【0009】また、第2の発明において、半導体レーザ
の発光点をほぼ中心とするホログラムによる回折方向の
軸回りにユニットを回転させると、複数の光検出器上で
のスポットは、上記の第1の発明におけると同様に、そ
れぞれ受光領域の分割方向に変位することになるので、
これによりフォーカスエラー信号のオフセットの調整が
可能となる。
Further, in the second invention, when the unit is rotated around the axis of the diffraction direction by the hologram having the light emitting point of the semiconductor laser as the center, the spots on the plurality of photodetectors are spotted on the first detector. In the same manner as in the invention of, since each of them is displaced in the dividing direction of the light receiving region,
This makes it possible to adjust the offset of the focus error signal.

【0010】[0010]

【実施例】図1は、この発明の第1実施例を示すもので
ある。この実施例では、半導体レーザ、光検出器および
ホログラムをユニット化し、このユニット1からの出射
光を絞り2および対物レンズ3を経て記録媒体4に照射
し、その反射光(戻り光)を逆の経路をたどってユニッ
ト1に入射させる。
1 shows a first embodiment of the present invention. In this embodiment, the semiconductor laser, the photodetector and the hologram are unitized, the light emitted from this unit 1 is applied to the recording medium 4 through the diaphragm 2 and the objective lens 3, and the reflected light (return light) is reversed. A unit 1 is made to follow the path.

【0011】ユニット1は、図2に断面図を示すよう
に、基板5に半導体基板6を設けると共に、スペーサ7
を介してHOE(Hologram Optical Element)8を設け
て構成する。半導体基板6には、図3に平面図をも示す
ように、半導体レーザ9をマウントすると共に、この半
導体レーザ9のx方向両側にy方向に並んで、それぞれ
3個の光検出器11,12,13および14,15,1
6を形成する。なお、中央の光検出器12および15
は、それぞれy方向に3分割した受光領域12a,12
b,12cおよび15a,15b,15cをもって構成
する。また、半導体レーザ9は、図4に部分断面図をも
示すように、半導体基板6にエッチングにより形成した
凹部6aにマウントし、その凹部6aのエッチングによ
る斜面6bをミラー面として、半導体レーザ9から半導
体基板6の平面と平行な方向に出射される光束を、ミラ
ー面6bで半導体基板6のほぼ法線方向に反射させるよ
うにする。
In the unit 1, as shown in the sectional view of FIG. 2, a semiconductor substrate 6 is provided on a substrate 5 and a spacer 7 is provided.
An HOE (Hologram Optical Element) 8 is provided via the above. As shown in the plan view of FIG. 3, a semiconductor laser 9 is mounted on the semiconductor substrate 6, and three photodetectors 11 and 12 are arranged on both sides of the semiconductor laser 9 in the x direction in the y direction. , 13 and 14, 15, 1
6 is formed. The central photodetectors 12 and 15
Are light receiving regions 12a, 12 divided into three in the y direction, respectively.
b, 12c and 15a, 15b, 15c. As shown in the partial sectional view of FIG. 4, the semiconductor laser 9 is mounted in a recess 6a formed by etching the semiconductor substrate 6, and the slope 6b formed by etching the recess 6a is used as a mirror surface. A light flux emitted in a direction parallel to the plane of the semiconductor substrate 6 is reflected by the mirror surface 6b in a direction substantially normal to the semiconductor substrate 6.

【0012】さらに、HOE8には、図2に示すよう
に、半導体基板6側の表面に半導体レーザ9からの光束
を一本のメインビームと2本のサブビームとの3本のビ
ームに分離するグレーティング8aを形成し、反対側の
表面にホログラムパターン8bを形成する。ホログラム
パターン8bは、記録媒体4からの戻り光の±1次回折
光に互いに逆方向のパワーを与えるように形成する。な
お、x,y,z座標は、光軸方向をz軸、ホログラムの
回折方向をx軸としている。
Further, as shown in FIG. 2, the HOE 8 has a grating for separating the light beam from the semiconductor laser 9 into three beams of one main beam and two sub-beams on the surface of the semiconductor substrate 6 side. 8a is formed, and the hologram pattern 8b is formed on the opposite surface. The hologram pattern 8b is formed so that the ± 1st-order diffracted lights of the return light from the recording medium 4 are given powers in opposite directions. In the x, y, z coordinates, the optical axis direction is the z axis, and the hologram diffraction direction is the x axis.

【0013】上記構成において、半導体レーザ9からの
出射光は、ミラー面6bで反射された後、グレーティン
グ8aで3本のビームに分離され、それぞれ絞り2およ
び対物レンズ3を経て記録媒体4に照射される。これら
3本のビームの記録媒体4からの戻り光は、逆の経路を
たどってホログラムパターン8bに入射してそれぞれ回
折され、メインビームの±1次回折光が、中央の光検出
器12および15にそれぞれ入射し、一方のサブビーム
の±1次回折光が、例えば光検出器11および14に、
他方のサブビームの±1次回折光が、光検出器13およ
び16にそれぞれ入射する。なお、ホログラムパターン
8bは、±1次回折光に互いに逆方向のパワーを与える
よう構成されているので、各ビームの例えば+1次回折
光は半導体基板6の後方で焦点を結び、−1次回折光は
前方で焦点を結ぶことになる。
In the above structure, the light emitted from the semiconductor laser 9 is reflected by the mirror surface 6b, then separated into three beams by the grating 8a, and irradiated onto the recording medium 4 via the diaphragm 2 and the objective lens 3, respectively. To be done. The return lights of these three beams from the recording medium 4 follow the opposite paths, enter the hologram pattern 8b, and are diffracted respectively, and the ± first-order diffracted lights of the main beam are guided to the photodetectors 12 and 15 at the center. The ± 1st-order diffracted lights of one of the sub-beams are incident on the photodetectors 11 and 14, respectively.
The ± first-order diffracted lights of the other sub-beam enter the photodetectors 13 and 16, respectively. Since the hologram pattern 8b is configured to give powers in the opposite directions to the ± 1st order diffracted light, for example, the + 1st order diffracted light of each beam is focused behind the semiconductor substrate 6, and the −1st order diffracted light is forward. The focus will be on.

【0014】ここで、記録媒体4に対して対物レンズ3
が合焦位置にあるとき、図5Bに示すように、光検出器
12および15に入射するそれぞれのビームのスポット
17および18の大きさが等しく、かつそれらのスポッ
ト17および18の中心が受光領域12aおよび15a
の中心にそれぞれ位置するように設定すれば、対物レン
ズ3が合焦位置よりも記録媒体4側に近づいたときには
例えば図5Aに示すようになり、反対に遠ざかったとき
には図5Cに示すようになり、非合焦の方向に応じてス
ポット17および18の大きさが反転することになる。
したがって、光検出器12の受光領域12a,12b,
12cの出力をそれぞれA1,A2,A3とし、光検出
器15の受光領域15a,15b,15cの出力をそれ
ぞれA4,A5,A6とすると、フォーカスエラー信号
FESは、下記の数1により得ることができる。
Here, the objective lens 3 is attached to the recording medium 4.
Is in the in-focus position, as shown in FIG. 5B, the spots 17 and 18 of the respective beams incident on the photodetectors 12 and 15 have the same size, and the centers of these spots 17 and 18 are the light receiving areas. 12a and 15a
5A and 5B when the objective lens 3 is closer to the recording medium 4 side than the in-focus position, and as shown in FIG. 5C when the objective lens 3 is farther away. , The sizes of the spots 17 and 18 are reversed depending on the direction of non-focus.
Therefore, the light receiving regions 12a, 12b of the photodetector 12,
If the outputs of 12c are A1, A2, A3 and the outputs of the light receiving regions 15a, 15b, 15c of the photodetector 15 are A4, A5, A6, the focus error signal FES can be obtained by the following formula 1. it can.

【数1】 FES=(A1+A5+A6)−(A2+A3+A4)FES = (A1 + A5 + A6)-(A2 + A3 + A4)

【0015】また、トラッキングエラー信号TESは、
光検出器11,13,14,16の出力をそれぞれB
1,B2,B3,B4とすると、いわゆる3ビーム法に
より、下記の数2から得ることができる。
The tracking error signal TES is
The outputs of the photodetectors 11, 13, 14, 16 are respectively B
1, B2, B3, B4 can be obtained from the following Equation 2 by the so-called three-beam method.

【数2】TES=(B1+B3)−(B2+B4)[Equation 2] TES = (B1 + B3)-(B2 + B4)

【0016】この実施例では、上記のように、半導体レ
ーザ9および光検出器11〜16をマウントした半導体
基板6と、グレーティング8aおよびホログラムパター
ン8bを形成したHOE8とを一体化してユニット1を
形成するが、このユニット1は測定顕微鏡で位置調整を
行いながら組み立てることができる。このユニット1の
組み立ての際に、HOE8に貼り付け誤差が生じると、
その誤差は、図5においてスポット17,18のx,y
方向のずれとして現れる。ここで、スポット17,18
のx方向、すなわちホログラムパターン8bによる回折
方向のずれは、光検出器12,15の分割線の方向に沿
ったずれであるため、フォーカスエラー信号に何ら悪影
響を及ぼすことはないが、ホログラムパターン8bによ
る回折方向と直交するy方向のずれは、フォーカスエラ
ー信号にオフセットを発生させることになる。
In this embodiment, as described above, the semiconductor substrate 6 on which the semiconductor laser 9 and the photodetectors 11 to 16 are mounted and the HOE 8 on which the grating 8a and the hologram pattern 8b are formed are integrated to form the unit 1. However, this unit 1 can be assembled while adjusting the position with a measuring microscope. When a sticking error occurs on the HOE 8 when assembling this unit 1,
The error is x, y of spots 17 and 18 in FIG.
Appears as a deviation in direction. Here, spots 17 and 18
The x-direction, that is, the deviation in the diffraction direction due to the hologram pattern 8b is the deviation along the direction of the dividing line of the photodetectors 12 and 15, and therefore does not have any adverse effect on the focus error signal, but the hologram pattern 8b The shift in the y direction orthogonal to the diffraction direction due to causes an offset in the focus error signal.

【0017】そこで、この実施例では、図1および図6
に示すように、ユニット1を、これを実際に取り付ける
ピックアップベース21に対してほぼy方向に移動可能
に取り付ける。例えば、図6に示すように、ユニット1
をピックアップベース21に対してy方向にΔy移動し
て取り付けると、絞り2の中心を通る主光線31は、ホ
ログラムパターン8bの中心P(x′,y′)=(0,
0)からy方向にずれた点A(0,Δy′)を通ること
になる。ここで、往路において主光線31がホログラム
パターン8bで回折されて何処へ行くかを考えると、一
般に、ビームサイズ法に用いるホログラムパターンの式
f(x,y)は、x2 ,y2 の項が入った下記の数3で
表すことができるので、
Therefore, in this embodiment, FIG. 1 and FIG.
As shown in, the unit 1 is attached to the pickup base 21 to which it is actually attached so as to be movable in the y direction. For example, as shown in FIG.
Is attached to the pickup base 21 by moving it by Δy in the y direction, the principal ray 31 passing through the center of the diaphragm 2 has a center P (x ′, y ′) = (0,
It goes through a point A (0, Δy ′) which is deviated from 0) in the y direction. Here, considering where the principal ray 31 is diffracted by the hologram pattern 8b on the outward path, generally, the equation f (x, y) of the hologram pattern used in the beam size method is expressed by the terms x 2 and y 2 . Since it can be expressed by the following formula 3 that contains,

【数3】 f(x,y)=Fx+Gx2 +Hy2 −nλ=0ただ
し、nは整数、λは波長、F,G,Hは定数である。ホ
ログラム8への入射光の方向余弦(l,m,n)と回折
光の方向余弦(l′,m′,n′)との関係は、下記の
数4で表すことができる。
F (x, y) = Fx + Gx 2 + Hy 2 −nλ = 0 where n is an integer, λ is a wavelength, and F, G, and H are constants. The relationship between the direction cosine (l, m, n) of the incident light on the hologram 8 and the direction cosine (l ', m', n ') of the diffracted light can be expressed by the following formula 4.

【数4】l′=l±(F+2Gx) m′=m±2Hy n′=(1−l′2 −m′2 1/2 Equation 4] l '= l ± (F + 2Gx) m' = m ± 2Hy n '= (1-l' 2 -m '2) 1/2

【0018】上記の数4におけるm′=m±2Hyか
ら、y=0上に入射した光線は、y方向へ回折を受ける
ことなく、x方向のみに回折されることがわかる。した
がって、ユニット1をy方向へ移動して取り付けない場
合は、主光線31はy=0上に入射するため、x方向の
みの回折を受け、x軸上に回折光が行くことになる(x
軸上=光検出器12,15の中心)。これに対して、ユ
ニット1をy方向に移動して取り付ければ、主光線31
は、y=Δy′を通ることになるので、y方向にも回折
され、光検出器12,15の中心からy方向にずれたと
ころへ行くことになる。
From m '= m ± 2Hy in the above equation 4, it can be seen that the ray incident on y = 0 is not diffracted in the y direction but is diffracted only in the x direction. Therefore, if the unit 1 is not moved and mounted in the y direction, the chief ray 31 is incident on y = 0, and is thus diffracted only in the x direction, and the diffracted light goes on the x axis (x
Axial = center of photodetectors 12, 15.) On the other hand, if the unit 1 is moved in the y direction and attached, the chief ray 31
Will pass through y = Δy ′, and will also be diffracted in the y direction, and will go to a position deviated from the center of the photodetectors 12, 15 in the y direction.

【0019】以上のように、ユニット1をほぼy方向に
移動して取り付ければ、主光線が光検出器12,15の
中心からy方向にずれ、したがってスポット17,18
もほぼy方向にずれるので、上記の組み立て誤差で生じ
たスポット17,18のずれを補正でき、フォーカスエ
ラー信号のオフセットを調整することができる。
As described above, when the unit 1 is moved and mounted in the substantially y direction, the chief ray shifts from the center of the photodetectors 12 and 15 in the y direction, so that the spots 17 and 18 are formed.
Also shifts substantially in the y direction, so that the deviation of the spots 17 and 18 caused by the above assembly error can be corrected and the offset of the focus error signal can be adjusted.

【0020】この実施例によれば、半導体レーザ9およ
び光検出器11〜16を有する半導体基板6とHOE8
とを一体化したユニット1を、単にピックアップベース
21に対してホログラムパターン8bの回折方向とほぼ
直交する方向に移動可能に取り付けるという簡単な構成
で、フォーカスエラー信号のオフセットを容易に調整す
ることができる。
According to this embodiment, the semiconductor substrate 6 having the semiconductor laser 9 and the photodetectors 11 to 16 and the HOE 8 are provided.
It is possible to easily adjust the offset of the focus error signal with a simple configuration in which the unit 1 in which the and is integrated is simply attached to the pickup base 21 so as to be movable in a direction substantially orthogonal to the diffraction direction of the hologram pattern 8b. it can.

【0021】図7は、この発明の第2実施例を示すもの
である。この実施例は、ユニット1を、図4に示すよう
に、半導体レーザ9の見掛け上の発光点35をほぼ中心
としてほぼx軸回りに回転可能にピックアップベース2
1に取り付けたもので、その他の構成は第1実施例と同
様である。
FIG. 7 shows a second embodiment of the present invention. In this embodiment, as shown in FIG. 4, the pickup base 2 is configured such that the unit 1 is rotatable about the x-axis about the apparent light emitting point 35 of the semiconductor laser 9 as a center.
It is attached to No. 1 and the other structures are similar to those of the first embodiment.

【0022】かかる構成において、ユニット1をほぼx
軸回りに回転させると、第1実施例と同様に、戻り光の
絞り2の中心を通る主光線は、ホログラムパターン8b
の中心からほぼy方向にずれた部位に入射することにな
るので、第1実施例と同様に簡単な構成でフォーカスエ
ラー信号のオフセットを容易に調整することができる。
In such a configuration, the unit 1 is approximately x
When rotated about the axis, the chief ray of the return light passing through the center of the diaphragm 2 is the hologram pattern 8b, as in the first embodiment.
Since the light is incident on a portion deviated from the center of the optical axis in the y direction, the offset of the focus error signal can be easily adjusted with a simple configuration as in the first embodiment.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、半導
体レーザ、各々複数の受光領域を有する複数の光検出器
およびホログラムをユニットとして一体化し、このユニ
ットを実際に装着するピックアップベースに対して移動
または回転可能に設けるという簡単な構成でフォーカス
エラー信号のオフセットを調整することができるので、
フォーカスエラー信号のオフセットを十分小さくでき、
しかも安価にできる。
As described above, according to the present invention, a semiconductor laser, a plurality of photodetectors each having a plurality of light receiving regions, and a hologram are integrated as a unit, and the unit is actually mounted on a pickup base. Since it is possible to adjust the offset of the focus error signal with a simple configuration that can be moved or rotated by
The offset of the focus error signal can be made small enough,
Moreover, it can be made inexpensive.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の第1実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示すユニットの構成を示す断面図であ
る。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing the configuration of the unit shown in FIG.

【図3】図2に示す半導体基板の平面図である。FIG. 3 is a plan view of the semiconductor substrate shown in FIG.

【図4】同じく半導体基板の部分断面図である。FIG. 4 is a partial cross-sectional view of the same semiconductor substrate.

【図5】第1実施例におけるフォーカスエラー信号の検
出動作を説明するための図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a focus error signal detection operation in the first embodiment.

【図6】同じく第1実施例におけるフォーカスエラー信
号のオフセットの調整動作を説明するための図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining the adjustment operation of the offset of the focus error signal in the first embodiment.

【図7】この発明の第2実施例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ユニット 2 絞り 3 対物レンズ 4 記録媒体 5 基板 6 半導体基板 6a 凹部 6b ミラー面 7 スペーサ 8 HOE 8a グレーティング 8b ホログラムパターン 9 半導体レーザ 11〜16 光検出器 12a〜12c,15a〜15c 受光領域 17,18 スポット 21 ピックアップベース 1 unit 2 diaphragm 3 objective lens 4 recording medium 5 substrate 6 semiconductor substrate 6a concave portion 6b mirror surface 7 spacer 8 HOE 8a grating 8b hologram pattern 9 semiconductor laser 11-16 photodetector 12a-12c, 15a-15c light-receiving area 17,18 Spot 21 pickup base

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 同一半導体基板上に設けた半導体レーザ
および各々複数の受光領域を有する複数の光検出器と、
前記半導体レーザからの出射光を光学式情報記録媒体に
照射する収束光学系と、前記光学式情報記録媒体からの
反射光を、互いに逆方向のパワーを与えて2光束に回折
させて前記複数の光検出器に入射させるホログラムとを
有し、前記複数の光検出器の出力に基づいて前記収束光
学系の前記光学式情報記録媒体に対するフォーカスエラ
ー信号を得るようにした光ピックアップにおいて、前記
半導体基板およびホログラムをユニットとして一体化す
ると共に、このユニットをピックアップベースに対し
て、前記ホログラムによる回折方向とほぼ直交する方向
に移動可能に設けて、フォーカスエラー信号のオフセッ
トを調整し得るよう構成したことを特徴とする光ピック
アップ。
1. A semiconductor laser provided on the same semiconductor substrate and a plurality of photodetectors each having a plurality of light receiving regions,
The converging optical system for irradiating the optical information recording medium with the light emitted from the semiconductor laser and the reflected light from the optical information recording medium are diffracted into two light fluxes by applying powers in opposite directions to each other. A hologram for entering a photodetector, wherein the focus error signal for the optical information recording medium of the converging optical system is obtained based on the outputs of the plurality of photodetectors. Also, the hologram is integrated as a unit, and the unit is provided so as to be movable with respect to the pickup base in a direction substantially orthogonal to the diffraction direction of the hologram so that the offset of the focus error signal can be adjusted. Characteristic optical pickup.
【請求項2】 同一半導体基板上に設けた半導体レーザ
および各々複数の受光領域を有する複数の光検出器と、
前記半導体レーザからの出射光を光学式情報記録媒体に
照射する収束光学系と、前記光学式情報記録媒体からの
反射光を、互いに逆方向のパワーを与えて2光束に回折
させて前記複数の光検出器に入射させるホログラムとを
有し、前記複数の光検出器の出力に基づいて前記収束光
学系の前記光学式情報記録媒体に対するフォーカスエラ
ー信号を得るようにした光ピックアップにおいて、前記
半導体基板およびホログラムをユニットとして一体化す
ると共に、このユニットをピックアップベースに対し
て、前記半導体レーザの発光点をほぼ中心とする前記ホ
ログラムによる回折方向の軸回りに回転可能に設けて、
フォーカスエラー信号のオフセットを調整し得るよう構
成したことを特徴とする光ピックアップ。
2. A semiconductor laser provided on the same semiconductor substrate and a plurality of photodetectors each having a plurality of light receiving regions,
The converging optical system for irradiating the optical information recording medium with the light emitted from the semiconductor laser and the reflected light from the optical information recording medium are diffracted into two light fluxes by applying powers in opposite directions to each other. A hologram for entering a photodetector, wherein the focus error signal for the optical information recording medium of the converging optical system is obtained based on the outputs of the plurality of photodetectors. The hologram is integrated as a unit, and the unit is provided rotatably around the axis of the diffraction direction of the hologram with the light emitting point of the semiconductor laser substantially at the center with respect to the pickup base.
An optical pickup having a structure capable of adjusting an offset of a focus error signal.
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