JP2884960B2 - Optical head and optical information device using the same - Google Patents

Optical head and optical information device using the same

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JP2884960B2
JP2884960B2 JP4314600A JP31460092A JP2884960B2 JP 2884960 B2 JP2884960 B2 JP 2884960B2 JP 4314600 A JP4314600 A JP 4314600A JP 31460092 A JP31460092 A JP 31460092A JP 2884960 B2 JP2884960 B2 JP 2884960B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、磁気光学的情報記録媒
体に対し情報信号の再生または記録再生を行なう光学ヘ
ッドに関し、特に、非点収差法によるフォーカス誤差信
号とプッシュプル法によるトラッキング誤差信号を1系
統の光学系で一括して検出し、かつ、フォーカス誤差信
号へのトラック横断信号の混入を低減する光学ヘッドの
構成、およびそれを用いた光学的情報装置に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical head for reproducing or recording / reproducing an information signal on a magneto-optical information recording medium, and more particularly to a focus error signal by an astigmatism method and a tracking error signal by a push-pull method. And an optical information apparatus using the optical head, which collectively detects the trajectory by a single optical system, and reduces mixing of a track crossing signal into a focus error signal.

【0002】[0002]

【従来の技術】図19は、差動検出法による光磁気信号
と、非点収差法によるフォーカス誤差信号と、プッシュ
プル法によるトラッキング誤差信号を検出する従来の光
学ヘッドの構成を示す構成図である。
2. Description of the Related Art FIG. 19 is a configuration diagram showing a configuration of a conventional optical head for detecting a magneto-optical signal by a differential detection method, a focus error signal by an astigmatism method, and a tracking error signal by a push-pull method. is there.

【0003】半導体レ−ザ1から発射された光束は、コ
リメートレンズ2によって平行光となり、ビ−ム整形プ
リズム3でレ−ザ光の強度の非等方性を等方性に変換さ
れた後、第1のビームスプリッタ4を透過し、反射ミラ
ー5によって進行方向を変えられた後、対物レンズ6に
よって磁気光学的情報記録媒体であるディスク7(以
後、光磁気ディスク7と記す)に照射される。
A light beam emitted from a semiconductor laser 1 is converted into a parallel light by a collimating lens 2, and after a beam shaping prism 3 converts anisotropic laser light intensity into isotropic light. After being transmitted through the first beam splitter 4 and changed its traveling direction by the reflection mirror 5, it is irradiated by an objective lens 6 onto a disk 7 (hereinafter referred to as a magneto-optical disk 7) as a magneto-optical information recording medium. You.

【0004】光磁気ディスク7からの反射光は、対物レ
ンズ6、反射ミラー5を経てビームスプリッタ4で反射
され、第2のビームスプリッタ8に向かう。ビームスプ
リッタ8の反射面は、所定の光透過率及び反射率を有し
ており、入射した光束は透過光と反射光に2分される。
[0004] The reflected light from the magneto-optical disk 7 is reflected by the beam splitter 4 via the objective lens 6 and the reflection mirror 5 and travels to the second beam splitter 8. The reflection surface of the beam splitter 8 has a predetermined light transmittance and a predetermined reflectance, and the incident light flux is divided into transmitted light and reflected light.

【0005】このうち透過光は第3のビームスプリッタ
9に入射し、透過光と反射光に2分される。そして透過
光は検出レンズ10を介した後、円筒レンズ11を経て
非点収差が与えられ、光検出器12に入射して非点収差
法によるフォーカス誤差検出に用いられる。また、反射
光は光検出器13に入射し、プッシュプル法によるトラ
ッキング誤差検出に用いられる。
[0005] Of these, the transmitted light enters the third beam splitter 9 and is split into two parts: transmitted light and reflected light. The transmitted light passes through the detection lens 10 and is given astigmatism through the cylindrical lens 11, enters the photodetector 12 and is used for focus error detection by the astigmatism method. The reflected light enters the photodetector 13 and is used for tracking error detection by the push-pull method.

【0006】一方、第2のビームスプリッタ8を反射し
た反射光は、2分の1波長板14を通過することで偏光
を45度回転された後、レンズ15で収束光とされ偏光
ビ−ムスプリッタ16に入射し、偏光がお互いに直交す
る2つの光束に分離され、それぞれ光検出器17及び1
8に入射する。そして光検出器17、18の検出信号の
差をとる検出法、すなわち差動検出法により、光磁気デ
ィスク7に記録された光磁気信号を再生できる。
On the other hand, the reflected light reflected by the second beam splitter 8 is rotated by 45 degrees by passing through a half-wave plate 14, and then turned into convergent light by a lens 15 to be a polarized beam. The light enters the splitter 16 and is split into two light beams whose polarizations are orthogonal to each other.
8 is incident. Then, the magneto-optical signal recorded on the magneto-optical disk 7 can be reproduced by a detection method that takes the difference between the detection signals of the photodetectors 17 and 18, that is, a differential detection method.

【0007】この構成では、光検出器12及び13の位
置をそれぞれ独立に調整可能であるが、フォーカス誤差
とトラッキング誤差の検出光学系が別々であるために、
光学ヘッドの小型化、軽量化が困難であるという問題点
があった。
In this configuration, the positions of the photodetectors 12 and 13 can be adjusted independently of each other. However, since the optical systems for detecting the focus error and the tracking error are separate,
There is a problem that it is difficult to reduce the size and weight of the optical head.

【0008】これに対し、例えば、特開平2−1016
41号公報に記載の光学ヘッドにおいては、偏光ビーム
スプリッタを格子を有する平行平板型(入射面側に偏光
膜を設け、出射面側に格子を設ける)とし、これを収束
光中に45度傾けて配置している。これにより平行平板
型に入射した光は、入射面側の偏光膜で偏光がお互いに
直交する2つの光束、すなわち反射光(S偏光)と透過
光(P偏光)に分離される。ここで透過光は2つの格子
領域を有する出射面に入射する。そして2つの格子領域
からの±1次回折光をそれぞれ検出し、その強度を比較
することにより、プッシュプル法によるトラッキング誤
差信号を得ている。また、回折格子の0次回折光、すな
わち直接透過光を用いて非点収差法によるフォーカス誤
差信号を検出できる。さらに光磁気信号は平行平板型偏
光ビームスプリッタを反射した光束と、透過した光束
(トラッキング誤差信号用の±1次回折光とフォーカス
誤差信号用の0次回折光との和)とを差動検出すること
により得ている。これにより、部品点数の削減が図られ
ている。
On the other hand, for example, Japanese Patent Laid-Open No.
In the optical head described in Japanese Patent Publication No. 41, the polarizing beam splitter is a parallel plate type having a grating (a polarizing film is provided on the incident surface side and a grating is provided on the emitting surface side), and the polarizing beam splitter is inclined by 45 degrees during convergent light. Are arranged. As a result, the light incident on the parallel plate type is separated into two light beams whose polarizations are orthogonal to each other, that is, reflected light (S-polarized light) and transmitted light (P-polarized light) by the polarizing film on the incident surface side. Here, the transmitted light is incident on an emission surface having two grating regions. Then, ± 1st-order diffracted lights from the two grating regions are respectively detected, and their intensities are compared to obtain a tracking error signal by the push-pull method. Further, it is possible to detect a focus error signal by the astigmatism method using the zero-order diffracted light of the diffraction grating, that is, directly transmitted light. Further, the magneto-optical signal is to differentially detect a light beam reflected by the parallel plate type polarizing beam splitter and a transmitted light beam (the sum of ± 1st-order diffracted light for a tracking error signal and 0th-order diffracted light for a focus error signal). Has been gained. Thus, the number of parts is reduced.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記既提案例
における光学ヘッドでは、2つの格子領域を有する出射
面においては、0次回折光及び±1次回折光の以外の高
次の回折光が生じる。よって偏光膜で偏光分離されたP
偏光成分である透過光は、全てが検出されず光量が低下
し、その結果光磁気信号が劣化するという課題があっ
た。また収束光中に平行平板を傾斜させて非点収差を発
生させフォーカス誤差信号を得ている。しかし、平行平
板の傾斜方向が、光磁気ディスクの情報トラックの方向
と同じ(情報トラックの方向に対して垂直方向でも構成
としては可能であるが記載されていない)であるためフ
ォーカス誤差信号へのトラック横断信号の混入が大き
く、結果的に正常なフォーカス誤差信号が得られないと
いう課題があった。すなわち図2に示すように、ディス
ク上にスポットが照射されている状態で、スポットがデ
ィスクの情報トラックの中心から内外周に移動(オフト
ラック)すると、スポットはディスク上に合焦してい
る、すなわちジャストフォ−カスにも係らず、図3に示
すように、フォ−カス誤差信号が生じる(これをフォー
カス誤差信号へのトラック横断信号の混入と記す)。よ
ってスポットはフォ−カスサ−ボ(フォ−カス誤差信号
を零にするように対物レンズ位置を制御する)によりデ
フォ−カスする。実際には、いろいろな誤差(光学ヘッ
ド、回路系等)によりある程度のオフトラックは許容さ
れる。よってフォーカス誤差信号へのトラック横断信号
の混入がある光学ヘッドでは、スポットがオフトラック
するとデフォ−カスが生じる結果となる。しかし、この
ようなフォーカス誤差信号へのトラック横断信号の混入
に関する点は記載されていない。また上記光学ヘッドに
おいて、平行平板を光軸周りに45度回転させて配置す
れば、フォーカス誤差信号へのトラック横断信号の混入
は低減できるが、光学系の収差(例えばコマ収差、非点
収差等)や、光学部品等の位置決め誤差(例えば光検出
器等)により混入が生じる。この点についても考慮され
ていなかった。また、平行平板型偏光ビームスプリッタ
に設けられた2つの格子領域は、光磁気ディスクからの
反射光中で、情報トッラクでの0次回折光と+1次回折
光、0次回折光と−1次回折光が干渉し合う部分に相当
する部分のみに設けられている。よって、トラッキング
誤差信号の調整には、平行平板を2軸方向(情報トラッ
ク方向と、それに直交する方向すなわちディスク半径方
向に相当する方向)に調整する必要が生じ、かつ、予め
調整したフォーカス誤差信号の調整が平行平板を動かす
ことにより連動して位置ずれ(特に傾きの変化)を生
じ、再調整をする必要(発生する非点収差量、及び方向
が変化するため、再調整が必要となる)が生じるという
課題があった。
However, in the optical head in the above-mentioned proposed example, high-order diffracted light other than the 0th-order diffracted light and the ± 1st-order diffracted light is generated on the exit surface having two grating regions. Therefore, the polarization-separated P
All of the transmitted light, which is a polarized light component, is not detected, and the amount of light is reduced, resulting in a problem that a magneto-optical signal is deteriorated. In addition, a focus error signal is obtained by inclining the parallel plate during the convergent light to generate astigmatism. However, since the direction of inclination of the parallel plate is the same as the direction of the information track of the magneto-optical disk (although the configuration is possible even in the direction perpendicular to the direction of the information track, it is not described), the direction of the focus error signal There is a problem that a track crossing signal is largely mixed and a normal focus error signal cannot be obtained as a result. That is, as shown in FIG. 2, when the spot moves from the center of the information track of the disk to the inner and outer circumferences (off-track) in a state where the spot is irradiated on the disk, the spot is focused on the disk. That is, regardless of the just focus, a focus error signal is generated as shown in FIG. 3 (this is referred to as mixing of a track crossing signal into the focus error signal). Therefore, the spot is defocused by the focus servo (the position of the objective lens is controlled so that the focus error signal becomes zero). Actually, some off-track is allowed due to various errors (optical head, circuit system, etc.). Therefore, in an optical head in which a track crossing signal is mixed into the focus error signal, defocus occurs when the spot is off-track. However, there is no description regarding such mixing of the track crossing signal into the focus error signal. In the above optical head, if the parallel plate is arranged to be rotated by 45 degrees around the optical axis, mixing of the track crossing signal into the focus error signal can be reduced, but aberrations of the optical system (for example, coma aberration, astigmatism, etc.) ) And positioning errors (for example, a photodetector or the like) of optical components or the like. This was not taken into account. The two grating regions provided in the parallel-plate polarizing beam splitter interfere with the 0th-order diffraction light and the + 1st-order diffraction light and the 0th-order diffraction light and the -1st-order diffraction light in the information track in the reflected light from the magneto-optical disk. It is provided only in a portion corresponding to the portion where the two meet. Therefore, in order to adjust the tracking error signal, it is necessary to adjust the parallel plate in two axial directions (the information track direction and the direction perpendicular to the information track direction, that is, the direction corresponding to the disk radial direction). The movement of the parallel plate causes the displacement (especially the change of the inclination) in conjunction with the movement of the parallel plate, and it is necessary to readjust (the amount of astigmatism generated and the direction change, so the readjustment is required) There was a problem that occurs.

【0010】本発明の目的は、上記した従来技術の課題
点を解決し、光磁気信号を劣化させること無く、非点収
差法によるフォーカス誤差信号とプッシュプル法による
トラッキング誤差信号を1系統の光学系で一括して検出
し、かつ、フォーカス誤差信号へのトラック横断信号の
混入を低減可能な光学ヘッドを提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to provide a one-system optical system in which a focus error signal by an astigmatism method and a tracking error signal by a push-pull method are degraded without deteriorating a magneto-optical signal. It is an object of the present invention to provide an optical head which can collectively detect signals by a system and reduce mixing of a track crossing signal into a focus error signal.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的は、光磁気ディ
スクからの反射光をビ−ムスプリッタを用いて、光磁気
信号検出系と、サ−ボ信号(フォーカス誤差信号とトラ
ッキング誤差信号)検出系に別々に導く、そして、光磁
気信号検出系から光磁気信号を検出し、サ−ボ信号検出
系はビームスプリッタと光検出器との間に格子を有して
いない帯状の領域と、その領域を挾んで回折方向または
回折角がお互いに異なる格子を有する2つの格子領域を
有している回折格子と非点収差発生手段とを設け、各領
域による±1次回折光を用いてプッシュプル法によりト
ラッキング誤差信号を検出すると共に、回折格子の直接
透過光である0次回折光を用いて非点収差法によるフォ
ーカス誤差信号を検出する構成とすることにより達成さ
れる。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a magneto-optical signal detection system and a servo signal (focus error signal and tracking error signal) detection of reflected light from a magneto-optical disk by using a beam splitter. Separately, and a magneto-optical signal is detected from the magneto-optical signal detection system. The servo signal detection system includes a band-shaped region having no grating between the beam splitter and the photodetector, and A push-pull method using ± 1st-order diffracted light from each region is provided with a diffraction grating having two grating regions having different diffraction directions or diffraction angles from each other across the region and a means for generating astigmatism. To detect a tracking error signal by using the zeroth-order diffracted light that is directly transmitted through the diffraction grating.

【0012】[0012]

【作用】本発明では、前記ビームスプリッタにより分離
され光磁気信号検出系に導かれた光束から差動検出法に
より光磁気信号が検出される。また、サ−ボ信号検出系
に導かれた光束は前記回折格子を経て前記非点収差発生
手段で、フォーカス誤差検出のための非点収差を与えら
れた後、前記光検出器に入射する。ここで前記回折格子
は、格子を有していない帯状の領域と、その領域を挾ん
で格子線の方向が互いに異なる2つの格子領域を有して
いる。すなわち格子を有していない帯状の領域と格子領
域との二つの境界線は平行であり、その2つの境界線の
中央にディスクの情報トラックの、回折格子への投影さ
れた像の方向が一致するように、配設される。従って、
入射光束の内、中央部の光は帯状の格子の無い領域に入
射し、情報トッラクでの0次回折光と+1次回折光が干
渉する部分をほぼ含む略半円が一方の格子領域に入射
し、情報トッラクでの0次回折光と−1次回折光が干渉
する部分をほぼ含む略半円が他方の格子領域に入射す
る。この2つの格子領域からの±1次回折光をそれぞれ
検出し、その強度を比較することにより、プッシュプル
法によるトラッキング誤差信号を得ることができる。ま
た、前記回折格子の中央部の光と2つの格子領域の0次
回折光、すなわち直接透過光を用いて非点収差法による
フォーカス誤差信号を検出できる。ここでフォーカス誤
差信号に用いる透過光は、情報トッラクでの0次回折光
と±1次回折光が干渉する部分の強度が低下するため、
フォーカス誤差信号へのトラック横断信号の混入を低減
できる。
According to the present invention, a magneto-optical signal is detected by a differential detection method from a light beam separated by the beam splitter and guided to a magneto-optical signal detection system. The light beam guided to the servo signal detection system passes through the diffraction grating, is given astigmatism for focus error detection by the astigmatism generation means, and then enters the photodetector. Here, the diffraction grating has a band-shaped region having no grating, and two grating regions having different grating line directions with respect to the region. In other words, the two boundaries between the band-shaped region having no grating and the grating region are parallel, and the direction of the image projected on the diffraction grating of the information track of the disc coincides with the center of the two boundaries. It is arranged to be. Therefore,
Of the incident light flux, the light at the center is incident on a region without a band-like lattice, and a substantially semicircle substantially including a portion where the 0th-order diffracted light and the + 1st-order diffracted light in the information track interfere is incident on one lattice region, A substantially semicircle substantially including a portion where the 0th-order diffracted light and the -1st-order diffracted light interfere in the information track enters the other grating region. By detecting the ± 1st-order diffracted lights from these two grating regions and comparing the intensities, a tracking error signal by the push-pull method can be obtained. Further, it is possible to detect a focus error signal by an astigmatism method using the light at the center of the diffraction grating and the zero-order diffracted light of the two grating regions, that is, directly transmitted light. Here, the intensity of the transmitted light used for the focus error signal at the portion where the 0th-order diffracted light and the ± 1st-order diffracted light interfere with each other in the information track decreases.
Mixing of the track crossing signal into the focus error signal can be reduced.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明の光学ヘッドを図面を参照して
詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an optical head according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0014】図1は本発明の第1の実施例としての光学
ヘッドの構成を示す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram showing a configuration of an optical head according to a first embodiment of the present invention.

【0015】図1において、光源である半導体レ−ザ1
(半導体レ−ザのノイズを低減するための高周波重畳回
路1a付き)から発射された光束100は、コリメート
レンズ2によって平行光束101となり、ビ−ム整形プ
リズム3によりレ−ザ光の強度の非等方性を補正され
て、等方性の平行光束102に変換される。
In FIG. 1, a semiconductor laser 1 as a light source is shown.
A light beam 100 emitted from a semiconductor laser (with a high-frequency superimposing circuit 1a for reducing noise of a semiconductor laser) is converted into a parallel light beam 101 by a collimating lens 2, and the intensity of the laser light is reduced by a beam shaping prism 3. The isotropic light is corrected and converted into an isotropic parallel light flux 102.

【0016】ビ−ム整形プリズム3の出射光束102
は、反射ミラ−19で光路を90度偏向され、第1のビ
ームスプリッタ4の第1の反射面4aに入射する。ビー
ムスプリッタ4の第1の反射面4aは、P偏光とS偏光
とで反射率及び透過率が異なり、例えばP偏光透過率T
p≒0.7,P偏光反射率Rp≒0.3,S偏光透過率
Ts≒0,S偏光反射率Rs≒1の偏光特性を有する。
第1の反射面4aに入射した光束102(P偏光)は透
過光103と反射光104に2分される。
The light beam 102 emitted from the beam shaping prism 3
Is deflected by 90 degrees in the optical path by the reflection mirror 19, and is incident on the first reflection surface 4a of the first beam splitter 4. The first reflection surface 4a of the beam splitter 4 has different reflectance and transmittance between the P-polarized light and the S-polarized light.
It has polarization characteristics of p ≒ 0.7, P polarized light reflectance Rp ≒ 0.3, S polarized light transmittance Ts ≒ 0, and S polarized light reflectance Rs ≒ 1.
The light beam 102 (P-polarized light) incident on the first reflection surface 4a is split into a transmitted light 103 and a reflected light 104.

【0017】このうち反射光104は開口を有する遮光
部材30(本実施例では円形開口、図示せず)に入射し
開口部を透過した光束105が光検出器32に入射す
る。なお、遮光部材30は必ずしも必要でなく光束10
4を直接光検出器32に導いてもよい。また光検出器3
2は迷光対策(入射面において反射される必要とされな
い光、すなわち迷光を半導体レ−ザ、他の光検出器内に
入射させないようにする対策)として光束105に対し
て傾斜して配置されている。光検出器32を用いて半導
体レ−ザ1から発射される光束100の光強度が制御さ
れる。これについては後で詳細に述べる。
The reflected light 104 enters the light shielding member 30 having an opening (a circular opening, not shown in this embodiment), and the light beam 105 transmitted through the opening enters the light detector 32. The light shielding member 30 is not always necessary, and the light beam 10
4 may be led directly to the photodetector 32. Photodetector 3
Numeral 2 is arranged to be inclined with respect to the light beam 105 as a countermeasure against stray light (a countermeasure to prevent light not required to be reflected at the incident surface, that is, stray light from entering a semiconductor laser or another photodetector). I have. The light intensity of the light beam 100 emitted from the semiconductor laser 1 is controlled using the photodetector 32. This will be described in detail later.

【0018】一方、上記第1のビームスプリッタ4の第
1の反射面4aを透過した光束103は反射ミラー5に
よって進行方向を変えられた後、対物レンズ6によって
ディスク回転系20(スピンドルモ−タ等)に装着され
た光磁気ディスク7に照射される。なお本実施例の光学
ヘッドは、反射ミラー5、対物レンズ6、および対物レ
ンズをフォ−カス方向(図におけるZ軸)とトラック方
向(図におけるY軸)の2軸に対物レンズ位置を駆動す
る2次元アクチュエ−タ159と、それらを搭載するキ
ャリッジ160のみをアクセス系(機構系及び制御系、
図示せず)を用いて光磁気ディスク7のアクセス方向
(図におけるY軸)に内周位置から外周位置まで可動
し、他の光学部品等は固定(以後、この光学系を固定光
学系と記す。)する分離型光ヘッドである。
On the other hand, the light beam 103 transmitted through the first reflecting surface 4a of the first beam splitter 4 is changed its traveling direction by the reflecting mirror 5, and then is rotated by the objective lens 6 into the disk rotating system 20 (spindle motor). Etc.) to the magneto-optical disk 7 mounted on the disk. The optical head of this embodiment drives the reflecting mirror 5, the objective lens 6, and the objective lens in two directions, a focus direction (Z axis in the figure) and a track direction (Y axis in the figure). Only the two-dimensional actuators 159 and the carriage 160 on which they are mounted are accessed by an access system (mechanism system, control system,
(Not shown), it is movable from the inner peripheral position to the outer peripheral position in the access direction of the magneto-optical disk 7 (Y axis in the figure), and other optical components and the like are fixed (hereinafter, this optical system is referred to as a fixed optical system). )).

【0019】光磁気ディスク7からの反射光106は、
対物レンズ6、反射ミラー5を経てビームスプリッタ4
の第1の反射面4aで反射され、第2の反射面4bに向
かう。ビームスプリッタ4の第2の反射面4bは、P偏
光とS偏光とで反射率及び透過率が異なる、例えばP偏
光透過率Tp≒0.6,P偏光反射率Rp≒0.4,S
偏光透過率Ts≒0、S偏光反射率Rs≒1の偏光特性
を有する。第2の反射面4bに入射した光束106は透
過光107と反射光108に2分される。
The reflected light 106 from the magneto-optical disk 7 is
Beam splitter 4 passes through objective lens 6 and reflection mirror 5
Is reflected by the first reflecting surface 4a and travels toward the second reflecting surface 4b. The second reflection surface 4b of the beam splitter 4 has different reflectance and transmittance between the P-polarized light and the S-polarized light. For example, the P-polarized light transmittance TpT0.6, the P-polarized light reflectance Rp ≒ 0.4, S
It has polarization characteristics of a polarization transmittance Ts ≒ 0 and an S polarization reflectance Rs ≒ 1. The light flux 106 incident on the second reflection surface 4b is split into a transmitted light 107 and a reflected light 108.

【0020】ビ−ムスプリッタ4の第2の反射面4bを
反射した光束108は、レンズ15で収束光109とさ
れ入射光束を互いに偏光方向が直交する2つの偏光光束
に分離する偏光分離手段である偏光ビ−ムスプリッタ2
1に入射し、偏光がお互いに直交する2つの光束P偏光
109p(図示せず)とS偏光109s(図示せず)に
偏光分離され、それぞれ光検出器22に入射する。そし
て光検出器22内のP偏光107pを受光する受光領域
22a(図示せず)とS偏光107sを受光する受光領
域22b(図示せず)の検出信号の差をとる検出法、す
なわち差動検出法により、光磁気ディスク7に記録され
た光磁気信号を再生できる。
The light beam 108 reflected from the second reflecting surface 4b of the beam splitter 4 is converted into convergent light 109 by a lens 15, and is separated by a polarization splitting means for splitting an incident light beam into two polarized light beams whose polarization directions are orthogonal to each other. Certain polarizing beam splitter 2
1 and are polarized and separated into two light beams P-polarized light 109p (not shown) and S-polarized light 109s (not shown) whose polarizations are orthogonal to each other. Then, a detection method for obtaining the difference between the detection signals of the light receiving region 22a (not shown) for receiving the P-polarized light 107p and the light receiving region 22b (not shown) for receiving the S-polarized light 107s in the photodetector 22, that is, differential detection By the method, the magneto-optical signal recorded on the magneto-optical disk 7 can be reproduced.

【0021】一方、ビ−ムスプリッタ4の第2の反射面
4bを透過した光束107は、回折格子27を経て検出
レンズ29によって収束光となり、円筒レンズ40(非
点収差発生手段)でフォーカス誤差検出のための非点収
差を与えられた後、光検出器30に入射する。光検出器
30を用いてのサ−ボ信号(フォ−カス誤差信号及びト
ラッキング誤差信号)の検出については後で、詳細に説
明する。
On the other hand, the light beam 107 transmitted through the second reflecting surface 4b of the beam splitter 4 is converged by the detection lens 29 via the diffraction grating 27, and is focused by the cylindrical lens 40 (astigmatism generating means). After being given astigmatism for detection, the light enters the photodetector 30. Detection of a servo signal (a focus error signal and a tracking error signal) using the photodetector 30 will be described later in detail.

【0022】次に、以上の構成の光学ヘッドにおける特
長的な光学部品について図面を用いて詳細に説明する。
Next, characteristic optical components of the optical head having the above-described configuration will be described in detail with reference to the drawings.

【0023】図4は、本実施例の光学ヘッドに用いられ
たビ−ム整形プリズム3の構成図である。本実施例のビ
−ム整形プリズム3は迷光対策(入出射面において反射
される必要とされない光、すなわち迷光を半導体レ−ザ
1、光検出器32,22,30内に入射させないように
する対策)のために、図4に示すように、ビ−ム整形プ
リズム3を構成するプリズムAとプリズムBの各入出射
面A1,A2,B1,B2において、光束が常に屈折し
て入射あるいは出射するように、またビ−ム整形プリズ
ム3への入射光束101の光軸101aと出射光束10
2の光軸102aは平行になるように構成されている。
よって、各入射面A1,A2,B1,B2における入射
光は垂直入射でないため、反射光(迷光)は入射光に対
して傾斜して反射されるために、上記半導体レ−ザ1、
光検出器32,22,30内に入射することは無い。
FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the beam shaping prism 3 used in the optical head of this embodiment. The beam shaping prism 3 of this embodiment is designed to prevent stray light (light that is not required to be reflected at the incident / exit surface, that is, stray light is prevented from entering the semiconductor laser 1, the photodetectors 32, 22, and 30). As a countermeasure, as shown in FIG. 4, the luminous flux is always refracted at each of the entrance / exit surfaces A1, A2, B1, and B2 of the prism A and the prism B constituting the beam shaping prism 3 to enter or exit. And the optical axis 101a of the light beam 101 incident on the beam shaping prism 3 and the light beam 10
The two optical axes 102a are configured to be parallel.
Therefore, since the incident light on each of the incident surfaces A1, A2, B1, and B2 is not perpendicularly incident, the reflected light (stray light) is reflected at an angle to the incident light.
It does not enter the photodetectors 32, 22, 30.

【0024】図5は、光検出器32を用いた半導体レ−
ザ1のレ−ザ光の光強度の制御方法について示した図で
ある。図に示すように、光検出器32は2つの受光領域
32a,32bを有しており、受光領域32a,32b
からの出力33a,33bはそれぞれ電流電圧変換器3
4a,34bを経てレ−ザ駆動回路35に入力される。
レ−ザ駆動回路35は、半導体レ−ザ1から発射される
光束100の光強度を制御する光強度制御機能35a
(一般にAuto Power Contorl)と,
半導体レ−ザ1の異常発光(光磁気ディスク上の情報信
号の熱破壊を生じさす光強度)を検知し、半導体レ−ザ
1の発光を停止する保護機能35bを少なくとも有して
いる。なお出力33aを光強度制御機能35aとして用
い,出力33bを保護機能35bとして用いる構成、ま
た出力33aと35aの和信号を生成し光強度制御機能
35a、保護機能35bとして用いる構成、さらに,保
護機能35b用としては出力33aと出力33bの両方
用いる構成等がある。以上のように半導体レ−ザ1から
発射される光束100の一部である光束105を検出す
る本構成を用いれば、従来半導体レ−ザ内に設けられて
いる光強度検出用の受光素子を取り除くことができる。
なお本実施例では光検出器を2つの受光領域32a,3
2bとしたが、1つの受光領域としてもよい。また半導
体レ−ザ1から発射される光束100の光強度はレ−ザ
駆動回路35からの駆動信号36により制御されると共
に、実際に半導体レ−ザ1の異常発光が検知された場
合、保護機能35bが働き半導体レ−ザ1の発光を停止
し、システム制御回路38へ制御信号37を出力する。
また半導体レ−ザ1の発光を確認できない場合あるいは
半導体レ−ザの劣化に伴う出力の低下(このとき必要な
駆動電流は増大する)を検知した場合にも同じようにシ
ステム制御回路38へ制御信号が出力される。また本実
施例では図示していないが、このような半導体レ−ザ1
の発光に関する異常を検知した場合、システム本体は異
常を表示するための機能を有しおり、本光学的情報機器
の使用者が確認できる。
FIG. 5 shows a semiconductor laser using the photodetector 32.
FIG. 3 is a diagram showing a method for controlling the light intensity of the laser light of laser 1; As shown in the figure, the photodetector 32 has two light receiving regions 32a and 32b, and the light receiving regions 32a and 32b
33a and 33b output from the current-voltage converter 3
The laser driving circuit 35 inputs the laser driving circuit 35 through 4a and 34b.
The laser drive circuit 35 has a light intensity control function 35a for controlling the light intensity of the light beam 100 emitted from the semiconductor laser 1.
(Generally Auto Power Control),
It has at least a protection function 35b for detecting abnormal light emission of the semiconductor laser 1 (light intensity that causes thermal destruction of an information signal on the magneto-optical disk) and stopping light emission of the semiconductor laser 1. The output 33a is used as the light intensity control function 35a, the output 33b is used as the protection function 35b, the sum signal of the outputs 33a and 35a is generated and used as the light intensity control function 35a and the protection function 35b. For 35b, there is a configuration using both the output 33a and the output 33b. As described above, if this configuration for detecting the light beam 105 which is a part of the light beam 100 emitted from the semiconductor laser 1 is used, a light intensity detecting light receiving element conventionally provided in the semiconductor laser can be used. Can be removed.
In this embodiment, the photodetectors are connected to the two light receiving areas 32a, 32a.
Although 2b is used, one light receiving area may be used. The light intensity of the light beam 100 emitted from the semiconductor laser 1 is controlled by a drive signal 36 from a laser drive circuit 35, and protection is performed when abnormal light emission of the semiconductor laser 1 is actually detected. The function 35b operates to stop the light emission of the semiconductor laser 1, and outputs a control signal 37 to the system control circuit 38.
Similarly, when the light emission of the semiconductor laser 1 cannot be confirmed, or when a decrease in the output due to the deterioration of the semiconductor laser (the necessary drive current increases) is detected, the system control circuit 38 is similarly controlled. A signal is output. Although not shown in the present embodiment, such a semiconductor laser 1
When an abnormality related to the light emission of the optical information device is detected, the system main body has a function for displaying the abnormality, and the user of the optical information device can confirm the abnormality.

【0025】図6は、本実施例の光学ヘッドに用いられ
るビ−ムスプリッタ4の取付け方法を説明した図であ
る。ここでビ−ムスプリッタ4は上記した迷光対策のた
めに、図6に示すように、各入射面(図においては4
c)および各出射面(図においては4d)がお互いに平
行あるいは垂直である立方体のビ−ムスプリッタ4を図
におけるX軸周りに1.5度程度回転させて配置してあ
る。このときビ−ムスプリッタ4に入射する光束(図に
おいては光束102、106)と出射する光束(図にお
いては光束103)は平行な関係にあり出射(透過また
は反射)後の光束の光軸が傾くことはない。
FIG. 6 is a view for explaining a method of mounting the beam splitter 4 used in the optical head of the present embodiment. Here, as shown in FIG. 6, the beam splitter 4 is provided on each incident surface (4 in FIG. 6) to prevent the above-mentioned stray light.
c) and a cubic beam splitter 4 whose output surfaces (4d in the figure) are parallel or perpendicular to each other are arranged by rotating about 1.5 degrees about the X axis in the figure. At this time, the luminous flux (the luminous fluxes 102 and 106 in the figure) incident on the beam splitter 4 and the outgoing luminous flux (the luminous flux 103 in the figure) have a parallel relationship, and the optical axis of the luminous flux after being emitted (transmitted or reflected) is Never lean.

【0026】また実施例の光学ヘッドの固定光学系の各
光学部品は、取付け部材210(以後、固定光学系シャ
−シ210と記す)の下面210a側(光磁気ディスク
7に対して対物レンズ6が位置する側)に取付けを行っ
ている。ビ−ムスプリッタ4においては、取付け面4e
が重力方向の面4fとは逆となっており、重力により面
4fに塵等のゴミが付着することを避けられる。よって
本実施例の光学ヘッドを搭載した光学的情報装置では、
混入しているゴミ等の光学部品への付着による光学性能
の劣化(例えば、光利用率の低下)を防止できる。
Each optical component of the fixed optical system of the optical head of the embodiment is provided on the lower surface 210a side of the mounting member 210 (hereinafter, referred to as a fixed optical system chassis 210) (the objective lens 6 with respect to the magneto-optical disk 7). On the side where is located). In the beam splitter 4, the mounting surface 4e
Is opposite to the surface 4f in the direction of gravity, so that dust or other dust can be prevented from adhering to the surface 4f due to gravity. Therefore, in the optical information device equipped with the optical head of the present embodiment,
It is possible to prevent deterioration of the optical performance (for example, a decrease in the light utilization rate) due to adhesion of the mixed dust and the like to the optical components.

【0027】図7は、本実施例の光学ヘッドに用いられ
る偏光分離手段である偏光ビ−ムスプリッタ21の構成
及び作用を説明した図である。図7において、偏光ビ−
ムスプリッタ21はガラス等の透明光学媒体よりなる平
行四辺形プリズム21aおよび平行平板21b,平行四
辺形プリズム21aと平行平板21bとの接合面に形成
された偏光膜21c,平行四辺形プリズム21aと平行
平板21bにそれぞれ形成された全反射膜21d,21
eとで構成されている。偏光ビ−ムスプリッタ21は、
レンズ15を出射した光束109の光軸周りに略45度
回転させて配置される。レンズ15を出射した光束10
9は偏光成分のうち、偏光膜21cにとってS偏光(図
において紙面に垂直な振動を持つ偏光)成分は反射さ
れ、これと垂直なP偏光(図において紙面に平行な振動
を持つ偏光)成分は偏光膜21cを透過して直進して全
反射膜21eで反射して再び偏光膜21cを透過する。
偏光膜21cで反射された光束109sと偏光膜21c
を透過した109pは全反射膜21dで反射され、それ
ぞれ光検出器22に入射する。
FIG. 7 is a diagram for explaining the configuration and operation of the polarization beam splitter 21 which is a polarization splitting means used in the optical head of this embodiment. In FIG. 7, the polarization beam
The splitter 21 includes a parallelogram prism 21a and a parallel plate 21b made of a transparent optical medium such as glass, a polarizing film 21c formed on a joint surface between the parallelogram prism 21a and the parallel plate 21b, and a parallel film parallel to the parallelogram prism 21a. Total reflection films 21d and 21 formed on the flat plate 21b, respectively.
e. The polarization beam splitter 21
The light beam 109 emitted from the lens 15 is disposed by being rotated about 45 degrees around the optical axis of the light beam 109. Light beam 10 emitted from lens 15
Reference numeral 9 denotes a polarized light component, in which the S-polarized light component (polarized light having a vibration perpendicular to the paper surface in the drawing) is reflected by the polarizing film 21c, and the P-polarized light component (polarized light having a vibration parallel to the paper surface in the drawing) is reflected. The light passes through the polarizing film 21c, travels straight, is reflected by the total reflection film 21e, and transmits through the polarizing film 21c again.
The light beam 109s reflected by the polarizing film 21c and the polarizing film 21c
Are reflected by the total reflection film 21d and enter the photodetectors 22, respectively.

【0028】次に、図8を用いて光検出器22を説明す
る。図8は本実施例の光検出器22の受光面側を図1の
偏光ビ−ムスプリッタ21の方向から見た図である。光
検出器22は2個の受光領域22a,22bと、受光領
域22a,22bからの出力(電流)を処理する変換回
路24とを有している。光束109pと光束109sは
それぞれ受光領域22a,22bに入射し、それぞれ光
スポット110p,110sを形成する。受光領域22
a,22bの出力電流23a、23bは変換回路24に
導かれる。変換回路24は電流を電圧に変換する電気的
素子24a,24b、加算または減算を行う電気的素子
24c,24d等が集積化(IC化)されている。よっ
て出力電流23a、23bは変換回路24より減算信号
である光磁気信号25と、加算信号26(光磁気ディス
ク7に予め形成された凹凸状のピット信号、たとえばア
ドレス信号等の情報信号、以後情報信号26と記す)が
出力される。なお、本実施例の光検出器22の変換回路
24は、電流を電圧に変換する電気的素子24a,24
bのみを集積化してもよい。
Next, the photodetector 22 will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a view of the light receiving surface side of the photodetector 22 of the present embodiment viewed from the direction of the polarization beam splitter 21 of FIG. The photodetector 22 has two light receiving areas 22a and 22b, and a conversion circuit 24 that processes the output (current) from the light receiving areas 22a and 22b. The light flux 109p and the light flux 109s enter the light receiving regions 22a and 22b, respectively, and form light spots 110p and 110s, respectively. Light receiving area 22
Output currents 23a and 23b of a and 22b are guided to a conversion circuit 24. In the conversion circuit 24, electric elements 24a and 24b for converting a current into a voltage and electric elements 24c and 24d for performing addition or subtraction are integrated (integrated). Therefore, the output currents 23a and 23b are converted by the conversion circuit 24 into a magneto-optical signal 25, which is a subtraction signal, and an addition signal 26 (an uneven pit signal formed in advance on the magneto-optical disk 7; for example, an information signal such as an address signal; Signal 26) is output. It should be noted that the conversion circuit 24 of the photodetector 22 according to the present embodiment includes electrical elements 24a and 24 that convert a current into a voltage.
Only b may be integrated.

【0029】また、上記偏光ビ−ムスプリッタ21と光
検出器22は、図9に示すように取付け部材28に一旦
取付けられる。そして取付け部材28を固定光学系シャ
−シ210に例えばネジ等で固定される。
The polarizing beam splitter 21 and the photodetector 22 are once mounted on a mounting member 28 as shown in FIG. The mounting member 28 is fixed to the fixed optical system chassis 210 with, for example, screws.

【0030】次に、本実施例の光学ヘッドの用いられる
回折格子27と各誤差信号検出について詳細に説明す
る。
Next, the diffraction grating 27 used in the optical head of this embodiment and the detection of each error signal will be described in detail.

【0031】まず、図10、図11を用いて、回折格子
27について説明する。図10は回折格子27の構成を
示した正面図である。回折格子27は、格子を有してい
ない帯状の領域27aと、その領域27aを挾んで格子
線の方向27d,27eが互いに異なる2つの格子領域
27b,27c(本実施例の格子線の方向27dと27
eの成す角度は略90度である)を有している。すなわ
ち格子を有していない帯状の領域27aと格子領域27
bまたは格子領域27cとの二つの境界線27fと27
gは平行であり、その2つの境界線の中央27hに光磁
気ディスク7の情報トラック7aの、回折格子27への
投影された像の方向220が一致するように配設され
る。従って、図11に示すように、入射光束107の
内、中央部の光は帯状の格子の無い領域27aに入射
し、情報トッラク7aでの0次回折光と+1次回折光が
干渉する部分107aをほぼ含む略半円が一方の格子領
域27bに入射し、情報トッラク7aでの0次回折光と
−1次回折光が干渉する部分107bをほぼ含む略半円
が他方の格子領域27cに入射する。この2つの格子領
域27b,27cからの±1次回折光をそれぞれ検出
し、その強度を比較することにより、プッシュプル法に
よるトラッキング誤差信号を得ることができる。また、
前記回折格子の中央部27aの光と2つの格子領域27
b,27cの0次回折光、すなわち直接透過光を用いて
非点収差法によるフォーカス誤差信号を検出できる。
また図示のように、回折格子27の直接透過光の透過率
は、回折格子27の格子の内中央領域27aが高く(本
実施例ではほぼ1.0)、2つの格子領域27b,27
cは低い(本実施例ではほぼ0.5)。よって、結果的
に直接透過光は情報トッラク7aでの0次回折光と±1
次回折光が干渉する部分107a,107bの強度が低
下するため、フォーカス誤差信号へのトラック横断信号
の混入を低減できる。
First, the diffraction grating 27 will be described with reference to FIGS. FIG. 10 is a front view showing the configuration of the diffraction grating 27. The diffraction grating 27 has a band-like region 27a having no grating, and two grating regions 27b and 27c having different grating line directions 27d and 27e across the region 27a (the grating line direction 27d in this embodiment). And 27
The angle formed by e is approximately 90 degrees). That is, the band-like region 27a having no lattice and the lattice region 27
b or two boundary lines 27f and 27 with the grid region 27c
g is parallel, and is disposed such that the direction 220 of the image projected on the diffraction grating 27 of the information track 7a of the magneto-optical disk 7 coincides with the center 27h of the two boundary lines. Therefore, as shown in FIG. 11, the light at the center of the incident light flux 107 is incident on the region 27a having no band-like lattice, and the part 107a where the 0th-order diffracted light and the + 1st-order diffracted light in the information track 7a interfere is almost changed. A substantially semicircle including the portion 107b is incident on one grating region 27b, and a substantially semicircle substantially including a portion 107b where the 0th-order diffracted light and the -1st-order diffracted light interfere with each other on the information track 7a is incident on the other grating region 27c. By detecting ± first-order diffracted lights from the two grating regions 27b and 27c and comparing the intensities, a tracking error signal by the push-pull method can be obtained. Also,
Light at the central portion 27a of the diffraction grating and two grating regions 27
The focus error signal by the astigmatism method can be detected using the 0th-order diffracted light of b and 27c, that is, the directly transmitted light.
As shown in the figure, the transmittance of the directly transmitted light of the diffraction grating 27 is high in the central region 27a of the grating of the diffraction grating 27 (approximately 1.0 in this embodiment), and the two grating regions 27b and 27
c is low (approximately 0.5 in this embodiment). Accordingly, the directly transmitted light is consequently ± 0 order diffracted light at the information track 7a ± 1.
Since the intensity of the portions 107a and 107b where the next-order diffracted light interferes is reduced, mixing of the track crossing signal into the focus error signal can be reduced.

【0032】次に、図12を用いて光検出器30を詳細
に説明する。
Next, the photodetector 30 will be described in detail with reference to FIG.

【0033】図12は光検出器30の構成を詳細に示し
た正面図と、各信号を得るための演算回路とをそれぞれ
示している。
FIG. 12 shows a front view showing the structure of the photodetector 30 in detail and an arithmetic circuit for obtaining each signal.

【0034】光検出器30は、中央に4分割された受光
領域30a〜30dを有し、その周囲にそれぞれ独立し
た受光領域30e〜30hを有している。
The photodetector 30 has four divided light receiving areas 30a to 30d at the center, and has independent light receiving areas 30e to 30h around the light receiving areas 30a to 30d.

【0035】回折格子30の中央部27aの光と2つの
格子領域27b,27cの0次回折光、即ち、直接透過
光は、光検出器30の4分割受光領域30a〜30dに
光スポット31として入射する。従って、受光領域30
a、30cからの光電流と、受光領域30b、30dか
らの光電流とを、電流電圧変換器(図示せず)で電圧に
変換した後、差動増幅器42に入力することにより、非
点収差法によるフォーカス誤差信号を得ることができ
る。
The light at the central portion 27a of the diffraction grating 30 and the zero-order diffracted light of the two grating regions 27b and 27c, that is, the directly transmitted light, enter the four-divided light receiving regions 30a to 30d of the photodetector 30 as light spots 31. I do. Therefore, the light receiving area 30
a, 30c and the photocurrents from the light receiving areas 30b, 30d are converted into voltages by a current-voltage converter (not shown), and then input to the differential amplifier 42, whereby astigmatism is obtained. A focus error signal by the method can be obtained.

【0036】一方、格子領域27bで回折された±1次
回折光は、それぞれ光検出器30の受光領域30f、3
0hに光スポット41f,41hとして入射する。格子
領域27cで回折された±1次回折光は、それぞれ光検
出器30の受光領域30e、30gに光スポット41
e,41gとして入射する。従って、受光領域30e、
30gからの光電流と、受光領域30f、30hからの
光電流とを、電流電圧変換器(図示せず)で電圧に変換
した後、差動増幅器44に入力することにより、プッシ
ュプル法によるトラッキング誤差信号を得ることができ
る。またトラッキング誤差信号はこのとき受光領域30
hと30gの入射光強度信号の差、または受光領域30
eと30fの入射光強度信号の差からも得られる。
On the other hand, the ± 1st-order diffracted lights diffracted by the grating area 27b are received by the light receiving areas 30f, 3f of the photodetector 30, respectively.
The light is incident on 0h as light spots 41f and 41h. The ± 1st-order diffracted lights diffracted by the grating area 27c are respectively applied to the light spots 41e and 30g of the photodetector 30 in the light spots 41e and 30g.
e, 41 g. Therefore, the light receiving area 30e,
The photocurrent from 30g and the photocurrent from the light receiving regions 30f and 30h are converted into a voltage by a current-voltage converter (not shown), and then input to the differential amplifier 44, whereby tracking by the push-pull method is performed. An error signal can be obtained. At this time, the tracking error signal is
h and the difference between the incident light intensity signals of 30 g or the light receiving area 30
It can also be obtained from the difference between the incident light intensity signals e and 30f.

【0037】図12において、受光領域30e〜30h
上の光スポット41e〜41hの像の略半円形状は回折
格子27上の形状に対して90度回転しているが、これ
は円筒レンズ40によって非点収差が与えられているた
めである。受光領域30e〜30hによって検出するの
は像の形状ではなく各領域に入射する光量であるため、
像の形状が変化してもなんら問題はない。
In FIG. 12, light receiving areas 30e to 30h
The substantially semicircular shapes of the images of the upper light spots 41e to 41h are rotated by 90 degrees with respect to the shape on the diffraction grating 27, because the cylindrical lens 40 gives astigmatism. Since what is detected by the light receiving regions 30e to 30h is not the shape of the image but the amount of light incident on each region,
There is no problem even if the shape of the image changes.

【0038】また、前記情報信号26は、受光領域30
e〜30hの入射光強度信号の和、または受光領域30
eと30fの入射光強度信号の和、或いは、受光領域3
0a〜30dの入射光強度信号の和、さらに、全受光領
域30a〜30hの総和からも得られる。
The information signal 26 is transmitted to the light receiving area 30.
e to 30h, the sum of the incident light intensity signals, or the light receiving area 30
e and the sum of the incident light intensity signals of 30f, or the light receiving area 3
It can be obtained from the sum of the incident light intensity signals of 0a to 30d and the sum of all the light receiving areas 30a to 30h.

【0039】ところで、ディスク上での合焦状態のとき
にフォーカス誤差信号が所定の値となるように調整を行
なう、いわゆるフォーカス誤差信号の調整は、図1にお
いて、検出レンズ29と円筒レンズ40とを一体に入射
光107の入射光軸方向117に移動させることによ
り、行なうことが可能である。或いは、光検出器30を
光軸方向に移動してもよい。また、ディスク上でのジャ
ストトラッキング状態のときトラッキング誤差信号が所
定の値となるように調整を行なう、いわゆるトラッキン
グ誤差信号の調整は、図1、及び図11において回折格
子27をお互いに平行な二つの境界線27fと27gと
に垂直な方向118に移動することにより行う。この調
整が平行光である光束107に対して行われるため、前
記従来例のごとく回折格子27を透過した光束に傾きは
生じない。また非点収差等の収差の発生量もない。よっ
て予め調整したフォーカス誤差信号は、回折格子27を
移動することによるトラッキング誤差信号の調整によっ
て調整状態がくるうことがない。以上により、フォーカ
ス調整とトラッキング調整を独立に行うことができる。
By the way, the adjustment of the focus error signal, that is, the adjustment of the focus error signal to a predetermined value in the focused state on the disk, that is, the adjustment of the detection lens 29 and the cylindrical lens 40 in FIG. Can be integrally moved in the direction 117 of the incident optical axis of the incident light 107. Alternatively, the light detector 30 may be moved in the optical axis direction. The adjustment of the tracking error signal to adjust the tracking error signal to a predetermined value in the just tracking state on the disk, that is, the adjustment of the tracking error signal is performed by using the diffraction grating 27 in FIG. 1 and FIG. It is performed by moving in a direction 118 perpendicular to two boundary lines 27f and 27g. Since this adjustment is performed on the light beam 107 that is a parallel light, the light beam transmitted through the diffraction grating 27 does not have an inclination unlike the conventional example. Further, there is no generation of aberration such as astigmatism. Therefore, the focus error signal adjusted in advance does not come and go due to the adjustment of the tracking error signal by moving the diffraction grating 27. As described above, the focus adjustment and the tracking adjustment can be performed independently.

【0040】以上、詳細に説明したように本実施例の光
学ヘッドは、光磁気信号を劣化させること無く、非点収
差法によるフォーカス誤差信号とプッシュプル法による
トラッキング誤差信号を1系統の光学系で一括して検出
し、かつ、フォーカス誤差信号へのトラック横断信号の
混入を低減できる。本実施例では、フォーカス誤差信号
の検出に回折格子27の0次回折光を用いているため、
光源である半導体レーザ1の波長が変動した場合も4分
割受光領域30a〜30d上の光スポット31が移動せ
ず、正しいフォーカス誤差信号を得ることができる。
As described above in detail, the optical head of the present embodiment is capable of transmitting the focus error signal by the astigmatism method and the tracking error signal by the push-pull method to one system without deteriorating the magneto-optical signal. Thus, it is possible to detect all at once, and reduce mixing of the track crossing signal into the focus error signal. In this embodiment, since the 0th-order diffracted light of the diffraction grating 27 is used for detecting the focus error signal,
Even when the wavelength of the semiconductor laser 1 as a light source changes, the light spot 31 on the four-divided light receiving areas 30a to 30d does not move, and a correct focus error signal can be obtained.

【0041】また、トラッキング誤差信号の検出には回
折格子27による±1次回折光を用いているため、半導
体レーザ1の波長変動により受光領域30e〜30h上
の光スポット41e〜41hが移動するが、受光領域3
0e〜30hでは各領域に入射する光量を検出するた
め、受光領域30e〜30hの大きさを光スポット41
e〜41hの移動を考慮して設計すれば問題ない。また
プシュプル法によるトラッキング誤差信号の検出では、
ディスクの情報トラックに追従して対物レンズが移動す
ると、ディスクからの反射光もそれに伴って移動し検出
されるトラッキング誤差信号にオフセットが生じるとい
う問題があった。しかし、本実施例ではトラッキング誤
差信号としては、図11における、回折格子27の入射
光束107の内、中央部の光は帯状の格子の無い領域2
7aに入射した光は用いず、格子領域27bと27cに
入射した光、すなわち情報トッラク7aでの0次回折光
と±1次回折光が干渉する部分107a,107bの光
を検出して得ている。よって、上記した対物レンズ移動
によるトラッキング誤差信号のオフセットを低減できる
長所も合わせもっている。
Further, since the ± 1st-order diffracted light by the diffraction grating 27 is used for detecting the tracking error signal, the light spots 41e to 41h on the light receiving regions 30e to 30h move due to the fluctuation of the wavelength of the semiconductor laser 1. Light receiving area 3
0e to 30h, the size of the light receiving areas 30e to 30h is changed to the light spot 41 to detect the amount of light incident on each area.
There is no problem if it is designed in consideration of the movement of e to 41h. In the detection of the tracking error signal by the push-pull method,
When the objective lens moves following the information track of the disc, the reflected light from the disc also moves with the movement, and there is a problem that an offset occurs in the detected tracking error signal. However, in the present embodiment, as the tracking error signal, in the incident light beam 107 of the diffraction grating 27 in FIG.
The light incident on the grating regions 27b and 27c, that is, the light of the portions 107a and 107b where the 0th-order diffracted light and the ± 1st-order diffracted light in the information track 7a interfere with each other is detected without using the light incident on the beam 7a. Therefore, there is an advantage that the offset of the tracking error signal due to the movement of the objective lens can be reduced.

【0042】次に、図13により、対物レンズ6に入射
する光束103の強度中心Icと対物レンズ中心Ocの
位置合わせの方法について説明する。本実施例のように
分離型光ヘッドにおいては、半導体レ−ザ1の発光部の
傾き、あるいは光学部品及びアクセス系の取付け誤差等
により、入射光束103の強度中心Icと対物レンズ中
心Ocに位置ずれ生じる。この位置ずれは、フォ−カス
誤差信号、およびトラッキング誤差信号に悪影響(例え
ば、温度等による光学部品等の位置ずれによって引き起
こされるフォ−カス誤差信号のオフセットが大きくな
る。)を及ぼす。よって、本実施例においては、図13
に示すように、対物レンズ中心Ocと入射光束103の
強度中心Icとの光磁気ディスク7の接線方向(X軸)
の位置ずれdXは、固定光学系シャ−シ210のメカシ
ャ−シ350への取付け位置を接線方向に−dX移動す
ることにより調整している。すなわち本実施例において
は、固定光学系シャ−シ210は図面におけるZ軸方向
への移動は無いように、メカシャ−シ350の基準面3
50a(ディスク7の接線方向(X軸)と平行で、半径
方向Y軸に垂直な面)を基準として固定光学系シャ−シ
210を平行移動させている。一方、対物レンズ中心O
cと入射光束103の強度中心Icとの光磁気ディスク
7の半径方向(Y軸)の位置ずれdYは、図14に示す
ように、2次元アクチュエ−タ159の取付け位置を反
射ミラ−5に対してディスク7の半径方向(Y軸)に−
dY移動させることにより調整している。すなわち、2
次元アクチュエ−タ159は部材158に取付け、反射
ミラ−5はキャリッジ160に取付け、そこで部材15
8をキャリッジ160に取付けることにより2次元アク
チュエ−タ159をキャリッジ160に固定しており、
調整は部材158をキャリッジ160に対してディスク
7の半径方向に平行移動することにより行っている。
Next, a method for aligning the center Ic of the light beam 103 incident on the objective lens 6 with the center Oc of the objective lens will be described with reference to FIG. In the separation type optical head as in this embodiment, due to the inclination of the light emitting portion of the semiconductor laser 1 or the mounting error of the optical parts and the access system, the position is located between the intensity center Ic of the incident light beam 103 and the center Oc of the objective lens. Deviation occurs. This positional shift adversely affects the focus error signal and the tracking error signal (for example, the offset of the focus error signal caused by the positional shift of the optical component or the like due to temperature or the like becomes large). Therefore, in this embodiment, FIG.
As shown in the figure, the tangential direction (X-axis) of the magneto-optical disk 7 between the center Oc of the objective lens and the intensity center Ic of the incident light beam 103
Is adjusted by moving the mounting position of the fixed optical system chassis 210 to the mechanical chassis 350 by -dX in the tangential direction. That is, in the present embodiment, the fixed optical system chassis 210 is moved in the Z-axis direction in the drawing so that the reference surface 3 of the mechanical chassis 350 is not moved.
The fixed optical system chassis 210 is translated with reference to 50a (a plane parallel to the tangential direction (X axis) of the disk 7 and perpendicular to the radial Y axis). On the other hand, the center O of the objective lens
The displacement dY in the radial direction (Y-axis) of the magneto-optical disk 7 between c and the intensity center Ic of the incident light beam 103 causes the attachment position of the two-dimensional actuator 159 to the reflection mirror 5 as shown in FIG. On the other hand, in the radial direction (Y axis) of the disk 7,
It is adjusted by moving dY. That is, 2
The three-dimensional actuator 159 is mounted on a member 158 and the reflective mirror 5 is mounted on a carriage 160 where the member 15 is mounted.
8 is attached to the carriage 160 to fix the two-dimensional actuator 159 to the carriage 160.
The adjustment is performed by moving the member 158 in parallel with the carriage 160 in the radial direction of the disk 7.

【0043】図15は、本発明の第2の実施例としての
光学ヘッドの構成を示す構成図である。
FIG. 15 is a configuration diagram showing the configuration of an optical head according to a second embodiment of the present invention.

【0044】図15において、第1の実施例の光学ヘッ
ドの構成を示す図1と同じ符号は同一部品を示す。本実
施例の光学ヘッドは、光源である半導体レ−ザ1(高周
波重畳回路1a付き)から発射された光束100(S偏
光)は、コリメ−トレンズ49によって平行光束130
とされ、2分の1波長板50を通過して偏光方向を90
度旋光された光束131(P偏光)となり、反射ミラ−
19で光路を90度偏向され、第1のビ−ムスプリッタ
4に入射し、光磁気ディスク7に光スポット170を形
成する。図16に、光磁気ディスク7の情報トラック7
aと光スポット170の強度と偏光方向の関係を示す。
光スポット170は情報トラック7aとは垂直な方向
(ディスク半径方向)に長い長円スポットで、偏光方向
は情報トラック7aに一致している。光磁気ディスクの
光スポット170の反射光106が光検出器22で光磁
気信号を、また光検出器30でサ−ボ信号として検出さ
れるまでの過程は、第1の実施例の光学ヘッドと同じな
ので省略する。なお、本実施例の光学ヘッドでは、図1
の光学ヘッドで用いた半導体レ−ザ1の光強度を補正す
るビ−ム整形プリズム3を取り除く構成とした。しかし
構成としてはこれに限るものではない。別の構成の一例
を以下に示す。
In FIG. 15, the same reference numerals as in FIG. 1 showing the structure of the optical head of the first embodiment denote the same parts. In the optical head of this embodiment, a light beam 100 (S-polarized light) emitted from a semiconductor laser 1 (with a high-frequency superimposing circuit 1a) as a light source is converted into a parallel light beam 130 by a collimating lens 49.
And passes through the half-wave plate 50 to change the polarization direction to 90.
Deflected light beam 131 (P-polarized light) becomes a reflection mirror.
At 19, the optical path is deflected by 90 degrees, and enters the first beam splitter 4 to form a light spot 170 on the magneto-optical disk 7. FIG. 16 shows information tracks 7 on the magneto-optical disk 7.
The relation between a and the intensity of the light spot 170 and the polarization direction is shown.
The light spot 170 is an elliptical spot that is long in a direction perpendicular to the information track 7a (in the radial direction of the disc), and its polarization direction matches the information track 7a. The process until the reflected light 106 of the light spot 170 of the magneto-optical disk is detected as a magneto-optical signal by the photodetector 22 and as a servo signal by the photodetector 30 is the same as that of the optical head of the first embodiment. It is omitted because it is the same. In the optical head of the present embodiment, FIG.
The beam shaping prism 3 for correcting the light intensity of the semiconductor laser 1 used in the optical head of FIG. However, the configuration is not limited to this. An example of another configuration is shown below.

【0045】図17は、本発明の第3の実施例としての
光学ヘッドの構成を示す構成図である。
FIG. 17 is a configuration diagram showing the configuration of an optical head according to a third embodiment of the present invention.

【0046】図17において、本発明の第1、及び第2
の実施例の光学ヘッドの構成を示す図1、および図15
と同じ符号は同一部品を示す。本実施例の光学ヘッド
は、光源である半導体レ−ザ1(高周波重畳回路1a付
き)から発射された光束100(S偏光)は、コリメ−
トレンズ49によって平行光束130とされ、第1のビ
ームスプリッタ55の第1の反射面55aに入射する。
ビームスプリッタ55の第1の反射面55aは、P偏光
とS偏光とで反射率及び透過率が異なる、例えばP偏光
透過率Tp≒1,P偏光反射率Rp≒0,S偏光透過率
Ts≒0.2,S偏光反射率Rs≒0.8の偏光特性を
有する。第1の反射面55aに入射した光束130(S
偏光)は透過光131(図示せず)と反射光132に2
分される。
In FIG. 17, the first and second embodiments of the present invention are shown.
1 and 15 showing the configuration of the optical head according to the third embodiment.
The same reference numerals indicate the same parts. In the optical head of this embodiment, a light beam 100 (S-polarized light) emitted from a semiconductor laser 1 (with a high-frequency superimposing circuit 1a) as a light source is collimated.
The light beam is converted into a parallel light beam 130 by the torens 49 and is incident on the first reflection surface 55 a of the first beam splitter 55.
The first reflection surface 55a of the beam splitter 55 has different reflectance and transmittance between the P-polarized light and the S-polarized light. For example, the P-polarized light transmittance Tp {1, the P-polarized light reflectance Rp {0, the S-polarized light transmittance Ts}. It has a polarization characteristic of 0.2, S polarization reflectance Rs 反射 0.8. The light flux 130 (S
(Polarized light) is transmitted light 131 (not shown) and reflected light 132
Divided.

【0047】このうち反射光132は、第1のビームス
プリッタ55の第2の反射面55bに入射する。ビーム
スプリッタ55の第2の反射面55bは、P偏光とS偏
光とで反射率及び透過率が異なる、例えばP偏光透過率
Tp≒1,P偏光反射率Rp≒0,S偏光透過率Ts≒
0.2,S偏光反射率Rs≒0.8の偏光特性を有す
る。第2の反射面55bに入射した光束132(S偏
光)は透過光133と反射光134に2分される。
The reflected light 132 is incident on the second reflection surface 55b of the first beam splitter 55. The second reflection surface 55b of the beam splitter 55 has different reflectance and transmittance between the P-polarized light and the S-polarized light. For example, the P-polarized light transmittance Tp {1, the P-polarized light reflectance Rp {0, the S-polarized light transmittance Ts}.
It has a polarization characteristic of 0.2, S polarization reflectance Rs 反射 0.8. The light beam 132 (S-polarized light) incident on the second reflection surface 55b is split into a transmitted light 133 and a reflected light 134.

【0048】ここで透過光133は、光検出器32に入
射し、反射光134(S偏光)は固定光学系の出射口に
設けられらた2分の1波長板50を通過して偏光方向を
90度旋光された光束135(P偏光)となり、固定光
学系を出射する。そして光磁気ディスク7に光スポット
170を形成する。光磁気ディスク7の情報トラック7
aと光スポット170の強度と偏光方向の関係は図16
と同じになる。また、本実施例では、可動光学系の入射
口に、ごみ等の混入防止のために透明部材56を設け
た。光磁気ディスクからの反射光106は、ビームスプ
リッタ55の第2の反射面55bを透過し光検出器22
で光磁気信号として検出され、ビームスプリッタ55の
第2の反射面55b、さらに第1の反射面55aを透過
し光検出器22でサ−ボ信号として検出される。検出ま
での過程は、第1の実施例の光学ヘッドと同じなので省
略する。なお、2分の1波長板50と透明部材56をそ
れぞれ4分の1波長板に代えても図16に示す光磁気デ
ィスク7の情報トラック7aと光スポット170の強度
と偏光方向の関係を得ることができる。また、光スポッ
ト170の偏光方向を光磁気ディスクの半径方向(図に
おいてはY軸)と同じにする場合は、2分の1波長板5
0を透明不材にするかもしくは取り除けばよい。
Here, the transmitted light 133 enters the photodetector 32, and the reflected light 134 (S-polarized light) passes through the half-wave plate 50 provided at the exit of the fixed optical system and the polarization direction. Becomes a light flux 135 (P-polarized light) rotated by 90 degrees, and exits the fixed optical system. Then, a light spot 170 is formed on the magneto-optical disk 7. Information track 7 of magneto-optical disk 7
FIG. 16 shows the relationship between a and the intensity of the light spot 170 and the polarization direction.
Will be the same as Further, in this embodiment, the transparent member 56 is provided at the entrance of the movable optical system in order to prevent the entry of dust and the like. The reflected light 106 from the magneto-optical disk passes through the second reflecting surface 55b of the beam splitter 55 and passes through the photodetector 22.
Are transmitted through the second reflection surface 55b and the first reflection surface 55a of the beam splitter 55, and are detected by the photodetector 22 as a servo signal. The process up to the detection is the same as that of the optical head according to the first embodiment, and a description thereof will be omitted. Even if the half-wave plate 50 and the transparent member 56 are replaced with quarter-wave plates, the relationship between the intensity and the polarization direction of the information track 7a of the magneto-optical disk 7 and the light spot 170 shown in FIG. be able to. If the polarization direction of the light spot 170 is the same as the radial direction of the magneto-optical disk (Y axis in the figure), the half-wave plate 5
It is sufficient to make 0 transparent and non-material or remove it.

【0049】以上の実施例の光学ヘッドに用いた回折格
子27は、回折方向を代えているがこれに限るものでは
なく、図18に示すように格子線の間隔(格子ピッチ)
がお互いに異なるようにしてもよい。図18は回折格子
57の構成を示した正面図である。回折格子57は、格
子を有していない帯状の領域57aと、その領域57a
を挾んで格子線の格子ピッチP1,P2が互いに異なる
2つの格子領域57b,57cを有している。すなわち
格子を有していない帯状の領域57aと格子領域57b
または格子領域57cとの二つの境界線57fと57g
は平行であり、その2つの境界線の中央57hに光磁気
ディスク7の情報トラック7aの、回折格子57への投
影された像の方向220が一致するように配設される。
従って、図1の光学ヘッドにおいては、図11に示した
ように、入射光束107の内、中央部の光は帯状の格子
の無い領域57aに入射し、情報トッラク7aでの0次
回折光と+1次回折光が干渉する部分107aをほぼ含
む略半円が一方の格子領域57bに入射し、情報トッラ
ク7aでの0次回折光と−1次回折光が干渉する部分1
07bをほぼ含む略半円が他方の格子領域57cに入射
する。この2つの格子領域57b,57cからの±1次
回折光をそれぞれ検出し、その強度を比較することによ
り、プッシュプル法によるトラッキング誤差信号を得る
ことができる。また、前記回折格子の中央部57aの光
と2つの格子領域57b,57cの0次回折光、すなわ
ち直接透過光を用いて非点収差法によるフォーカス誤差
信号を検出できる。また図11に示したと同じように、
回折格子57の直接透過光の透過率は、回折格子57の
格子の内中央領域57aが高く、2つの格子領域57
b,57cは低い。よって、結果的に直接透過光は情報
トッラク7aでの0次回折光と±1次回折光が干渉する
部分107a,107bの強度が低下するため、フォー
カス誤差信号へのトラック横断信号の混入を低減でき
る。
The diffraction grating 27 used in the optical head of the above embodiment changes the diffraction direction, but is not limited to this. As shown in FIG. 18, the interval between the grating lines (grating pitch)
May be different from each other. FIG. 18 is a front view showing the configuration of the diffraction grating 57. The diffraction grating 57 includes a band-like region 57a having no grating and the region 57a
And two grating regions 57b and 57c having different grating pitches P1 and P2 from each other. That is, the band-like region 57a having no lattice and the lattice region 57b
Or two boundary lines 57f and 57g with the lattice area 57c
Are arranged in such a manner that the direction 220 of the image projected on the diffraction grating 57 of the information track 7a of the magneto-optical disk 7 coincides with the center 57h of the two boundary lines.
Therefore, in the optical head of FIG. 1, as shown in FIG. 11, the light at the center of the incident light beam 107 enters the region 57a without the strip-like grating, and the 0th-order diffracted light at the information track 7a and the +1 A substantially semicircle substantially including a portion 107a where the next-order diffracted light interferes enters one of the grating regions 57b, and a portion 1 where the 0th-order diffracted light and the -1st-order diffracted light at the information track 7a interfere with each other.
A substantially semicircle substantially including 07b enters the other grating region 57c. By detecting ± first-order diffracted lights from the two grating regions 57b and 57c, respectively, and comparing the intensities, a tracking error signal by the push-pull method can be obtained. Further, it is possible to detect a focus error signal by the astigmatism method using the light of the central portion 57a of the diffraction grating and the zero-order diffracted light of the two grating regions 57b and 57c, that is, the directly transmitted light. Also, as shown in FIG.
The transmittance of the directly transmitted light of the diffraction grating 57 is high in the central region 57 a of the grating of the diffraction grating 57, and the two grating regions 57.
b, 57c are low. Therefore, as a result, the intensity of the directly transmitted light at the portions 107a and 107b where the 0th-order diffracted light and the ± 1st-order diffracted light at the information track 7a interfere is reduced, so that the intrusion of the track crossing signal into the focus error signal can be reduced.

【0050】以上詳細に説明したように、本発明の光学
ヘッドは、光磁気信号を劣化させること無く、非点収差
法によるフォーカス誤差信号とプッシュプル法によるト
ラッキング誤差信号を1系統の光学系で一括して検出
し、かつ、フォーカス誤差信号へのトラック横断信号の
混入を低減できる。
As described in detail above, the optical head of the present invention can use a single optical system to convert the focus error signal by the astigmatism method and the tracking error signal by the push-pull method without deteriorating the magneto-optical signal. It is possible to collectively detect and reduce the intrusion of the track crossing signal into the focus error signal.

【0051】[0051]

【発明の効果】本発明によれば、磁気光学的情報記録媒
体に対し情報信号の再生または記録再生を行なう光ヘッ
ドにおいて、光磁気信号を劣化させること無く、非点収
差法によるフォーカス誤差信号とプッシュプル法による
トラッキング誤差信号を1系統の光学系で一括して検出
し、かつトラッキング誤差信号についてはフォーカス誤
差信号と独立に調整を行なうことができ、さらに、フォ
ーカス誤差信号へのトラック横断信号の混入を低減でき
る。
According to the present invention, in an optical head for reproducing or recording / reproducing an information signal with respect to a magneto-optical information recording medium, a focus error signal by an astigmatism method can be obtained without deteriorating a magneto-optical signal. The tracking error signal by the push-pull method can be detected collectively by one optical system, and the tracking error signal can be adjusted independently of the focus error signal. Mixing can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドの構
成を示す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram showing a configuration of an optical head as a first embodiment of the present invention.

【図2】フォ−カス誤差信号へのトラック横断信号の混
入を説明した図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating mixing of a track crossing signal into a focus error signal.

【図3】フォ−カス誤差信号へのトラック横断信号の混
入を説明した図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining mixing of a track crossing signal into a focus error signal.

【図4】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに用
いられるビ−ム整形プリズムを説明した図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a beam shaping prism used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに用
いられる半導体レ−ザ素子の強度検出を説明した図であ
る。
FIG. 5 is a view for explaining intensity detection of a semiconductor laser element used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに用
いられるビ−ムスプリッタの取付け方法を説明した図で
ある。
FIG. 6 is a diagram illustrating a method of mounting a beam splitter used in an optical head according to a first embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに用
いられる偏光ビ−ムスプリッタを説明した図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a polarization beam splitter used in an optical head according to a first embodiment of the present invention.

【図8】偏光ビ−ムスプリッタの取付け方法を説明した
図である。
FIG. 8 is a diagram for explaining a method of attaching a polarizing beam splitter.

【図9】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドで用
いられる光磁気信号用光検出器の構成を示した正面図で
ある。
FIG. 9 is a front view showing a configuration of a photodetector for a magneto-optical signal used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドで
用いられる回折格子の構成を示した正面図である。
FIG. 10 is a front view showing a configuration of a diffraction grating used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドで
用いられる回折格子の光利用率を説明した図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating the light utilization rate of a diffraction grating used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドで
用いられるサ−ボ信号用光検出器と演算回路の構成を示
した正面図である。
FIG. 12 is a front view showing the configuration of a servo signal photodetector and an arithmetic circuit used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに
おける対物レンズ中心と光強度中心の位置調整(ディス
ク接線方向)を説明した図である。
FIG. 13 is a view for explaining the position adjustment (disc tangent direction) of the center of the objective lens and the center of the light intensity in the optical head as the first embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに
おける対物レンズ中心と光強度中心の位置調整(ディス
ク半径方向)を説明した図である。
FIG. 14 is a view for explaining the position adjustment (in the disk radial direction) of the center of the objective lens and the center of the light intensity in the optical head as the first embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第2の実施例としての光学ヘッドの
構成を示す構成図である。
FIG. 15 is a configuration diagram showing a configuration of an optical head as a second embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第2の実施例としての光学ヘッドの
光磁気ディスク上のスポットと偏光方向の関係を示す図
である。
FIG. 16 is a diagram illustrating a relationship between a spot on a magneto-optical disk and a polarization direction of an optical head according to a second embodiment of the present invention.

【図17】本発明の第3の実施例としての光学ヘッドの
構成を示す構成図である。
FIG. 17 is a configuration diagram showing a configuration of an optical head according to a third embodiment of the present invention.

【図18】本発明の光学ヘッドで用いられる回折格子の
別の実施例の構成を示した正面図である。
FIG. 18 is a front view showing the configuration of another embodiment of the diffraction grating used in the optical head of the present invention.

【図19】従来の光学ヘッドの構成を示した構成図であ
る。
FIG. 19 is a configuration diagram showing a configuration of a conventional optical head.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…半導体レ−ザ、3…ビ−ム整形プリズム、4…ビー
ムスプリッタ、6…対物レンズ、21…偏光ビ−ムスプ
リッタ、22…光磁気信号用光検出器、27…回折格
子、29…検出レンズ、40…円筒レンズ、30…サ−
ボ信号用光検出器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor laser, 3 ... Beam shaping prism, 4 ... Beam splitter, 6 ... Objective lens, 21 ... Polarized beam splitter, 22 ... Photodetector for magneto-optical signals, 27 ... Diffraction grating, 29 ... Detection lens, 40: cylindrical lens, 30: server
Photodetector for signal

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北田 保夫 神奈川県小田原市国府津神津2880番地株 式会社日立製作所ストレージシステム事 業部内 (72)発明者 大西 邦一 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株 式会社日立製作所映像メディア研究所内 (56)参考文献 特開 平1−241028(JP,A) 特開 昭63−71938(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 7/09 - 7/095 G11B 7/135 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing from the front page (72) Inventor Yasuo Kitada 2880 Kozu Kozu, Odawara City, Kanagawa Prefecture, Japan Storage System Division, Hitachi, Ltd. (72) Inventor Kuniichi Onishi 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture (56) References JP-A-1-241028 (JP, A) JP-A-63-71938 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB G11B 7/09-7/095 G11B 7/135

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】レーザ光束を発射する半導体レーザと、該
半導体レーザからの光束を集光して光学的情報記録媒体
におけるトラックの形成された記録面に光スポットとし
て照射すると共に、該記録面で反射されたレーザ光束を
集光する対物レンズと、前記記録面で反射され前記対物
レンズで集光されたレーザ光束を前記半導体レーザと前
記光学的情報記録媒体とを結ぶ光路から分離するビーム
スプリッタと、回折方向または回折角の異なる複数の領
域から成ると共に前記ビームスプリッタにより分離され
た光束を回折して0次光および1次回折光として出射す
る回折格子と、該回折格子からの0次回折光と1次回折
光を受光する光検出器と、前記ビームスプリッタから前
記回折格子までの光路中または前記回折格子から前記光
検出器までの光路中に配設された非点収差発生手段と、
を有し、前記光検出器によって受光された前記0次回折
光より、前記光学的情報記録媒体に照射される光スポッ
トのスポット径の大きさに応じたフォーカス誤差信号を
非点収差法により検出し、前記光検出器によって受光さ
れた前記1次回折光より、前記光学的情報記録媒体に照
射される光スポットの前記トラックからの位置ずれ量に
応じたトラッキング誤差信号を検出する光学ヘッドにお
いて、 前記回折格子は、格子の形成されていない帯状の領域
と、該帯状の領域の両側に回折方向または回折角が互い
に異なる格子の形成された領域を有し、前記格子の形成
されていない帯状の領域と、該帯状の領域の両側の格子
の形成された領域との2本の境界線は、光学的記録媒体
のトラックに光学的に対応した方向で互いに平行である
ことを特徴とする光学ヘッド。
1. A semiconductor laser for emitting a laser beam, and a light beam from the semiconductor laser is condensed and irradiated as a light spot on a recording surface of an optical information recording medium on which a track is formed. An objective lens for condensing the reflected laser beam, and a beam splitter for separating the laser beam reflected on the recording surface and condensed by the objective lens from an optical path connecting the semiconductor laser and the optical information recording medium. A diffraction grating composed of a plurality of regions having different diffraction directions or diffraction angles and diffracting a light beam separated by the beam splitter to emit as a zero-order light and a first-order diffraction light; A photodetector for receiving next-order diffracted light, and an optical path in the optical path from the beam splitter to the diffraction grating or from the diffraction grating to the photodetector Astigmatism generating means disposed,
And detecting a focus error signal corresponding to the size of the spot diameter of a light spot applied to the optical information recording medium by the astigmatism method from the zero-order diffracted light received by the photodetector. An optical head for detecting a tracking error signal corresponding to a positional shift amount of a light spot irradiated on the optical information recording medium from the track, from the first-order diffracted light received by the photodetector; The grating has a band-shaped region where no grating is formed, and a region where gratings having different diffraction directions or diffraction angles are formed on both sides of the band-shaped region.
Unshaped strips and the grids on both sides of the strips
The two boundary lines with the area where the optical recording medium is formed
The optical head is parallel to each other in a direction optically corresponding to the track .
【請求項2】前記回折格子は、前記帯状の領域の長手方
向が光学的情報記録媒体のトラックに光学的に対応した
方向であることを特徴とする請求項1の光学ヘッド。
2. The apparatus according to claim 1, wherein the diffraction grating is arranged in a longitudinal direction of the band-shaped region.
The direction optically corresponds to the track of the optical information recording medium
The optical head according to claim 1, wherein the direction is a direction.
【請求項3】(3) 光学的情報記録媒体と、該光学的情報記録Optical information recording medium and optical information recording
媒体を回転する回転系と、該光学的情報記録媒体の記録Rotating system for rotating a medium, and recording of the optical information recording medium
面上の情報信号を再生または記録面上に記録信号を記録Plays information signal on the surface or records the recording signal on the recording surface
する請求項1又は2に記載の光学ヘッドと、該光学ヘッThe optical head according to claim 1 or 2,
ドを光学的情報記録媒体の半径方向に移動する移動手段Moving means for moving the optical disk in the radial direction of the optical information recording medium
と、装置を制御するシステム制御回路を少なくとも有And at least a system control circuit for controlling the device. You
ることを特徴とする光学的情報装置。An optical information device, comprising:
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