JPH06162527A - Optical head and optical information device using it - Google Patents

Optical head and optical information device using it

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JPH06162527A
JPH06162527A JP4314600A JP31460092A JPH06162527A JP H06162527 A JPH06162527 A JP H06162527A JP 4314600 A JP4314600 A JP 4314600A JP 31460092 A JP31460092 A JP 31460092A JP H06162527 A JPH06162527 A JP H06162527A
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light
optical
laser
grating
photodetector
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Toru Sasaki
徹 佐々木
Masayuki Inoue
雅之 井上
Takeshi Shimano
健 島野
Yasuo Kitada
保夫 北田
Kunikazu Onishi
邦一 大西
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Hitachi Ltd
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Abstract

PURPOSE:To obtain an optical head by which a focus error signal on an astigma tism method and a tracking error signal on a push/pull method are detected in one lot by means of one optical system without deteriorating magneto-optical signals, also by which the adjustment of the tracking error signal is made in dependently from the focus error signal, and further by which the mixing of a track crossing signal into the focus error signal is reduced. CONSTITUTION:The device is provided with, between a beam splitter 4 by which a servo signal is separated from a magneto-optical signal and a photodetector 30 for servo signal, a belt-like area without grating, a diffraction grating 27 which is provided with two grating areas having mutually different grating lines across the belt-like area, a detecting lens 29 and a cylinder lens 40. Also, the diffracted rays of the diffraction grating including 0th-order diffracted light (direct transmitted light) are guided to the photodetector 30, the focus error signal by the astigmatism method is detected by means of the 0th-order diffracted light, and the tracking error signal is detected by means of a + or -1st- order diffracted light.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、磁気光学的情報記録媒
体に対し情報信号の再生または記録再生を行なう光学ヘ
ッドに関し、特に、非点収差法によるフォーカス誤差信
号とプッシュプル法によるトラッキング誤差信号を1系
統の光学系で一括して検出し、かつ、フォーカス誤差信
号へのトラック横断信号の混入を低減する光学ヘッドの
構成、およびそれを用いた光学的情報装置に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical head for reproducing or recording and reproducing an information signal on a magneto-optical information recording medium, and more particularly to a focus error signal by an astigmatism method and a tracking error signal by a push-pull method. The present invention relates to a configuration of an optical head for collectively detecting the above-mentioned optical system with one optical system and reducing mixing of a track crossing signal into a focus error signal, and an optical information device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】図19は、差動検出法による光磁気信号
と、非点収差法によるフォーカス誤差信号と、プッシュ
プル法によるトラッキング誤差信号を検出する従来の光
学ヘッドの構成を示す構成図である。
2. Description of the Related Art FIG. 19 is a configuration diagram showing a configuration of a conventional optical head for detecting a magneto-optical signal by a differential detection method, a focus error signal by an astigmatism method, and a tracking error signal by a push-pull method. is there.

【0003】半導体レ−ザ1から発射された光束は、コ
リメートレンズ2によって平行光となり、ビ−ム整形プ
リズム3でレ−ザ光の強度の非等方性を等方性に変換さ
れた後、第1のビームスプリッタ4を透過し、反射ミラ
ー5によって進行方向を変えられた後、対物レンズ6に
よって磁気光学的情報記録媒体であるディスク7(以
後、光磁気ディスク7と記す)に照射される。
The light beam emitted from the semiconductor laser 1 is converted into parallel light by the collimator lens 2 and is converted from the anisotropy of the intensity of the laser light into isotropic light by the beam shaping prism 3. After passing through the first beam splitter 4 and having its traveling direction changed by a reflection mirror 5, the objective lens 6 irradiates a disk 7 (hereinafter referred to as a magneto-optical disk 7) which is a magneto-optical information recording medium. It

【0004】光磁気ディスク7からの反射光は、対物レ
ンズ6、反射ミラー5を経てビームスプリッタ4で反射
され、第2のビームスプリッタ8に向かう。ビームスプ
リッタ8の反射面は、所定の光透過率及び反射率を有し
ており、入射した光束は透過光と反射光に2分される。
The reflected light from the magneto-optical disk 7 passes through the objective lens 6 and the reflection mirror 5 and is reflected by the beam splitter 4 toward the second beam splitter 8. The reflecting surface of the beam splitter 8 has a predetermined light transmittance and reflectance, and the incident light flux is divided into transmitted light and reflected light.

【0005】このうち透過光は第3のビームスプリッタ
9に入射し、透過光と反射光に2分される。そして透過
光は検出レンズ10を介した後、円筒レンズ11を経て
非点収差が与えられ、光検出器12に入射して非点収差
法によるフォーカス誤差検出に用いられる。また、反射
光は光検出器13に入射し、プッシュプル法によるトラ
ッキング誤差検出に用いられる。
Of these, the transmitted light is incident on the third beam splitter 9, and is divided into transmitted light and reflected light. After passing through the detection lens 10, the transmitted light is given astigmatism through the cylindrical lens 11, enters the photodetector 12, and is used for focus error detection by the astigmatism method. The reflected light enters the photodetector 13 and is used for tracking error detection by the push-pull method.

【0006】一方、第2のビームスプリッタ8を反射し
た反射光は、2分の1波長板14を通過することで偏光
を45度回転された後、レンズ15で収束光とされ偏光
ビ−ムスプリッタ16に入射し、偏光がお互いに直交す
る2つの光束に分離され、それぞれ光検出器17及び1
8に入射する。そして光検出器17、18の検出信号の
差をとる検出法、すなわち差動検出法により、光磁気デ
ィスク7に記録された光磁気信号を再生できる。
On the other hand, the reflected light reflected by the second beam splitter 8 is rotated by 45 degrees by passing through the half-wave plate 14 and is then converted into a converged light by the lens 15 to be a polarized beam. The light enters the splitter 16 and is split into two light beams whose polarization is orthogonal to each other.
It is incident on 8. Then, the magneto-optical signal recorded on the magneto-optical disk 7 can be reproduced by the detection method that takes the difference between the detection signals of the photo detectors 17 and 18, that is, the differential detection method.

【0007】この構成では、光検出器12及び13の位
置をそれぞれ独立に調整可能であるが、フォーカス誤差
とトラッキング誤差の検出光学系が別々であるために、
光学ヘッドの小型化、軽量化が困難であるという問題点
があった。
In this structure, the positions of the photodetectors 12 and 13 can be adjusted independently, but since the focus error and tracking error detection optical systems are separate,
There is a problem that it is difficult to reduce the size and weight of the optical head.

【0008】これに対し、例えば、特開平2−1016
41号公報に記載の光学ヘッドにおいては、偏光ビーム
スプリッタを格子を有する平行平板型(入射面側に偏光
膜を設け、出射面側に格子を設ける)とし、これを収束
光中に45度傾けて配置している。これにより平行平板
型に入射した光は、入射面側の偏光膜で偏光がお互いに
直交する2つの光束、すなわち反射光(S偏光)と透過
光(P偏光)に分離される。ここで透過光は2つの格子
領域を有する出射面に入射する。そして2つの格子領域
からの±1次回折光をそれぞれ検出し、その強度を比較
することにより、プッシュプル法によるトラッキング誤
差信号を得ている。また、回折格子の0次回折光、すな
わち直接透過光を用いて非点収差法によるフォーカス誤
差信号を検出できる。さらに光磁気信号は平行平板型偏
光ビームスプリッタを反射した光束と、透過した光束
(トラッキング誤差信号用の±1次回折光とフォーカス
誤差信号用の0次回折光との和)とを差動検出すること
により得ている。これにより、部品点数の削減が図られ
ている。
On the other hand, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 2-1016
In the optical head described in Japanese Patent No. 41, the polarizing beam splitter is a parallel plate type having a grating (a polarizing film is provided on the incident surface side and a grating is provided on the emitting surface side), and this is tilted at 45 degrees in converging light. Are arranged. As a result, the light incident on the parallel plate type is separated by the polarizing film on the incident surface side into two light beams whose polarizations are orthogonal to each other, that is, reflected light (S polarized light) and transmitted light (P polarized light). Here, the transmitted light is incident on the emission surface having two grating regions. Then, the ± 1st-order diffracted lights from the two grating regions are detected, and their intensities are compared to obtain a tracking error signal by the push-pull method. Further, the focus error signal by the astigmatism method can be detected by using the 0th-order diffracted light of the diffraction grating, that is, the direct transmitted light. Further, the magneto-optical signal is subjected to differential detection of a light beam reflected by the parallel plate type polarization beam splitter and a light beam transmitted (sum of ± 1st order diffracted light for tracking error signal and 0th order diffracted light for focus error signal). Is gained by. As a result, the number of parts is reduced.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記既提案例
における光学ヘッドでは、2つの格子領域を有する出射
面においては、0次回折光及び±1次回折光の以外の高
次の回折光が生じる。よって偏光膜で偏光分離されたP
偏光成分である透過光は、全てが検出されず光量が低下
し、その結果光磁気信号が劣化するという課題があっ
た。また収束光中に平行平板を傾斜させて非点収差を発
生させフォーカス誤差信号を得ている。しかし、平行平
板の傾斜方向が、光磁気ディスクの情報トラックの方向
と同じ(情報トラックの方向に対して垂直方向でも構成
としては可能であるが記載されていない)であるためフ
ォーカス誤差信号へのトラック横断信号の混入が大き
く、結果的に正常なフォーカス誤差信号が得られないと
いう課題があった。すなわち図2に示すように、ディス
ク上にスポットが照射されている状態で、スポットがデ
ィスクの情報トラックの中心から内外周に移動(オフト
ラック)すると、スポットはディスク上に合焦してい
る、すなわちジャストフォ−カスにも係らず、図3に示
すように、フォ−カス誤差信号が生じる(これをフォー
カス誤差信号へのトラック横断信号の混入と記す)。よ
ってスポットはフォ−カスサ−ボ(フォ−カス誤差信号
を零にするように対物レンズ位置を制御する)によりデ
フォ−カスする。実際には、いろいろな誤差(光学ヘッ
ド、回路系等)によりある程度のオフトラックは許容さ
れる。よってフォーカス誤差信号へのトラック横断信号
の混入がある光学ヘッドでは、スポットがオフトラック
するとデフォ−カスが生じる結果となる。しかし、この
ようなフォーカス誤差信号へのトラック横断信号の混入
に関する点は記載されていない。また上記光学ヘッドに
おいて、平行平板を光軸周りに45度回転させて配置す
れば、フォーカス誤差信号へのトラック横断信号の混入
は低減できるが、光学系の収差(例えばコマ収差、非点
収差等)や、光学部品等の位置決め誤差(例えば光検出
器等)により混入が生じる。この点についても考慮され
ていなかった。また、平行平板型偏光ビームスプリッタ
に設けられた2つの格子領域は、光磁気ディスクからの
反射光中で、情報トッラクでの0次回折光と+1次回折
光、0次回折光と−1次回折光が干渉し合う部分に相当
する部分のみに設けられている。よって、トラッキング
誤差信号の調整には、平行平板を2軸方向(情報トラッ
ク方向と、それに直交する方向すなわちディスク半径方
向に相当する方向)に調整する必要が生じ、かつ、予め
調整したフォーカス誤差信号の調整が平行平板を動かす
ことにより連動して位置ずれ(特に傾きの変化)を生
じ、再調整をする必要(発生する非点収差量、及び方向
が変化するため、再調整が必要となる)が生じるという
課題があった。
However, in the optical head in the above-mentioned proposed example, high-order diffracted light other than 0th-order diffracted light and ± 1st-order diffracted light is generated at the exit surface having two grating regions. Therefore, P separated by the polarizing film
There is a problem that the transmitted light, which is a polarized component, is not entirely detected and the amount of light is reduced, resulting in deterioration of the magneto-optical signal. Further, the parallel plate is tilted in the convergent light to generate astigmatism, and the focus error signal is obtained. However, since the tilt direction of the parallel plate is the same as the direction of the information track of the magneto-optical disk (although it is possible to configure the structure even in the direction perpendicular to the direction of the information track, it is not described), the focus error signal There is a problem that a track crossing signal is mixed in large, and as a result, a normal focus error signal cannot be obtained. That is, as shown in FIG. 2, when the spot is moved from the center of the information track of the disc to the inner and outer circumferences (off-track) while the spot is illuminated on the disc, the spot is focused on the disc. That is, regardless of the just focus, a focus error signal is generated as shown in FIG. 3 (this is referred to as mixing of the track crossing signal into the focus error signal). Therefore, the spot is defocused by the focus servo (the objective lens position is controlled so that the focus error signal becomes zero). In practice, off-track to some extent is allowed due to various errors (optical head, circuit system, etc.). Therefore, in the optical head in which the cross-track signal is mixed with the focus error signal, defocus occurs when the spot is off-track. However, there is no description about the mixing of the track crossing signal into the focus error signal. Further, in the above optical head, if the parallel flat plate is rotated by 45 degrees around the optical axis, mixing of the track crossing signal into the focus error signal can be reduced, but aberrations of the optical system (for example, coma aberration, astigmatism, etc.) can be reduced. ) Or a positioning error (such as a photodetector) of an optical component or the like causes the mixing. This point was not taken into consideration. Further, the two grating areas provided in the parallel plate type polarization beam splitter interfere with the 0th-order diffracted light and the + 1st-order diffracted light and the 0th-order diffracted light and the -1st-order diffracted light in the information track in the reflected light from the magneto-optical disk. It is provided only in the portion corresponding to the intersecting portion. Therefore, in order to adjust the tracking error signal, it is necessary to adjust the parallel plate in two axial directions (the information track direction and the direction orthogonal thereto, that is, the direction corresponding to the disk radial direction), and the focus error signal adjusted in advance is used. The adjustment of (1) causes a positional shift (especially the change of the inclination) in conjunction with the movement of the parallel plate, and it is necessary to readjust (the amount of generated astigmatism and the direction change, so readjustment is required). There was a problem that occurs.

【0010】本発明の目的は、上記した従来技術の課題
点を解決し、光磁気信号を劣化させること無く、非点収
差法によるフォーカス誤差信号とプッシュプル法による
トラッキング誤差信号を1系統の光学系で一括して検出
し、かつ、フォーカス誤差信号へのトラック横断信号の
混入を低減可能な光学ヘッドを提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art and to provide a focus error signal by the astigmatism method and a tracking error signal by the push-pull method in one system without degrading the magneto-optical signal. An object of the present invention is to provide an optical head that can be collectively detected by a system and can reduce the mixture of track crossing signals into a focus error signal.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的は、光磁気ディ
スクからの反射光をビ−ムスプリッタを用いて、光磁気
信号検出系と、サ−ボ信号(フォーカス誤差信号とトラ
ッキング誤差信号)検出系に別々に導く、そして、光磁
気信号検出系から光磁気信号を検出し、サ−ボ信号検出
系はビームスプリッタと光検出器との間に格子を有して
いない帯状の領域と、その領域を挾んで回折方向または
回折角がお互いに異なる格子を有する2つの格子領域を
有している回折格子と非点収差発生手段とを設け、各領
域による±1次回折光を用いてプッシュプル法によりト
ラッキング誤差信号を検出すると共に、回折格子の直接
透過光である0次回折光を用いて非点収差法によるフォ
ーカス誤差信号を検出する構成とすることにより達成さ
れる。
The above object is to detect the reflected light from the magneto-optical disk using a beam splitter and detect the magneto-optical signal and the servo signal (focus error signal and tracking error signal). Separately leading to the system, and detecting the magneto-optical signal from the magneto-optical signal detection system, the servo signal detection system is a strip-shaped region having no grating between the beam splitter and the photo detector, A push-pull method using a ± 1st-order diffracted light from each area is provided by providing a diffraction grating having two grating areas having gratings with different diffraction directions or diffraction angles across the area, and using ± 1st-order diffracted light from each area. The tracking error signal is detected by the method described above, and the focus error signal is detected by the astigmatism method using the 0th-order diffracted light that is the directly transmitted light of the diffraction grating.

【0012】[0012]

【作用】本発明では、前記ビームスプリッタにより分離
され光磁気信号検出系に導かれた光束から差動検出法に
より光磁気信号が検出される。また、サ−ボ信号検出系
に導かれた光束は前記回折格子を経て前記非点収差発生
手段で、フォーカス誤差検出のための非点収差を与えら
れた後、前記光検出器に入射する。ここで前記回折格子
は、格子を有していない帯状の領域と、その領域を挾ん
で格子線の方向が互いに異なる2つの格子領域を有して
いる。すなわち格子を有していない帯状の領域と格子領
域との二つの境界線は平行であり、その2つの境界線の
中央にディスクの情報トラックの、回折格子への投影さ
れた像の方向が一致するように、配設される。従って、
入射光束の内、中央部の光は帯状の格子の無い領域に入
射し、情報トッラクでの0次回折光と+1次回折光が干
渉する部分をほぼ含む略半円が一方の格子領域に入射
し、情報トッラクでの0次回折光と−1次回折光が干渉
する部分をほぼ含む略半円が他方の格子領域に入射す
る。この2つの格子領域からの±1次回折光をそれぞれ
検出し、その強度を比較することにより、プッシュプル
法によるトラッキング誤差信号を得ることができる。ま
た、前記回折格子の中央部の光と2つの格子領域の0次
回折光、すなわち直接透過光を用いて非点収差法による
フォーカス誤差信号を検出できる。ここでフォーカス誤
差信号に用いる透過光は、情報トッラクでの0次回折光
と±1次回折光が干渉する部分の強度が低下するため、
フォーカス誤差信号へのトラック横断信号の混入を低減
できる。
In the present invention, the magneto-optical signal is detected by the differential detection method from the luminous flux separated by the beam splitter and guided to the magneto-optical signal detection system. Further, the light beam guided to the servo signal detection system passes through the diffraction grating, is given astigmatism for focus error detection by the astigmatism generation means, and then enters the photodetector. Here, the diffraction grating has a band-shaped region having no grating, and two grating regions sandwiching the region and having mutually different directions of grating lines. That is, the two boundary lines of the band-shaped region having no grating and the grating region are parallel, and the direction of the image projected onto the diffraction grating of the information track of the disk coincides with the center of the two boundary lines. Are arranged as follows. Therefore,
Of the incident light flux, the light in the central portion is incident on a region without a band-shaped grating, and a substantially semicircle that substantially includes a portion where the 0th-order diffracted light and the + 1st-order diffracted light in the information track interfere is incident on one grating region A substantially semicircle that substantially includes a portion where the 0th-order diffracted light and the −1st-order diffracted light on the information track interfere with each other enters the other grating region. Tracking error signals by the push-pull method can be obtained by detecting the ± first-order diffracted lights from these two grating regions and comparing their intensities. Further, the focus error signal by the astigmatism method can be detected by using the light at the center of the diffraction grating and the 0th-order diffracted light of the two grating regions, that is, the directly transmitted light. In the transmitted light used for the focus error signal, the intensity of the portion where the 0th-order diffracted light and the ± 1st-order diffracted light in the information track interfere with each other is reduced.
Mixing of the track crossing signal into the focus error signal can be reduced.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明の光学ヘッドを図面を参照して
詳細に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The optical head of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0014】図1は本発明の第1の実施例としての光学
ヘッドの構成を示す構成図である。
FIG. 1 is a structural diagram showing the structure of an optical head as a first embodiment of the present invention.

【0015】図1において、光源である半導体レ−ザ1
(半導体レ−ザのノイズを低減するための高周波重畳回
路1a付き)から発射された光束100は、コリメート
レンズ2によって平行光束101となり、ビ−ム整形プ
リズム3によりレ−ザ光の強度の非等方性を補正され
て、等方性の平行光束102に変換される。
In FIG. 1, a semiconductor laser 1 which is a light source.
A light beam 100 emitted from (with a high-frequency superimposing circuit 1a for reducing noise of a semiconductor laser) becomes a parallel light beam 101 by a collimating lens 2 and a beam shaping prism 3 reduces the intensity of the laser light. The isotropicity is corrected and converted into an isotropic parallel light flux 102.

【0016】ビ−ム整形プリズム3の出射光束102
は、反射ミラ−19で光路を90度偏向され、第1のビ
ームスプリッタ4の第1の反射面4aに入射する。ビー
ムスプリッタ4の第1の反射面4aは、P偏光とS偏光
とで反射率及び透過率が異なり、例えばP偏光透過率T
p≒0.7,P偏光反射率Rp≒0.3,S偏光透過率
Ts≒0,S偏光反射率Rs≒1の偏光特性を有する。
第1の反射面4aに入射した光束102(P偏光)は透
過光103と反射光104に2分される。
Light flux 102 emitted from the beam shaping prism 3
Is deflected by 90 degrees on the optical path by the reflection mirror 19, and is incident on the first reflection surface 4a of the first beam splitter 4. The first reflecting surface 4a of the beam splitter 4 has different reflectance and transmittance between P-polarized light and S-polarized light.
The polarization characteristics are p≈0.7, P-polarized reflectance Rp≈0.3, S-polarized transmittance Ts≈0, and S-polarized reflectance Rs≈1.
The light flux 102 (P-polarized light) incident on the first reflecting surface 4a is divided into a transmitted light 103 and a reflected light 104.

【0017】このうち反射光104は開口を有する遮光
部材30(本実施例では円形開口、図示せず)に入射し
開口部を透過した光束105が光検出器32に入射す
る。なお、遮光部材30は必ずしも必要でなく光束10
4を直接光検出器32に導いてもよい。また光検出器3
2は迷光対策(入射面において反射される必要とされな
い光、すなわち迷光を半導体レ−ザ、他の光検出器内に
入射させないようにする対策)として光束105に対し
て傾斜して配置されている。光検出器32を用いて半導
体レ−ザ1から発射される光束100の光強度が制御さ
れる。これについては後で詳細に述べる。
Of these, the reflected light 104 enters a light shielding member 30 having an opening (a circular opening in this embodiment, not shown), and a light beam 105 transmitted through the opening enters a photodetector 32. The light blocking member 30 is not always necessary, and the light flux 10
4 may be directly led to the photodetector 32. Also the photodetector 3
Reference numeral 2 denotes a stray light measure (a measure that prevents light that does not need to be reflected on the incident surface, that is, stray light from entering the semiconductor laser and other photodetectors), and is arranged obliquely with respect to the light beam 105. There is. The light intensity of the light beam 100 emitted from the semiconductor laser 1 is controlled by using the photodetector 32. This will be described in detail later.

【0018】一方、上記第1のビームスプリッタ4の第
1の反射面4aを透過した光束103は反射ミラー5に
よって進行方向を変えられた後、対物レンズ6によって
ディスク回転系20(スピンドルモ−タ等)に装着され
た光磁気ディスク7に照射される。なお本実施例の光学
ヘッドは、反射ミラー5、対物レンズ6、および対物レ
ンズをフォ−カス方向(図におけるZ軸)とトラック方
向(図におけるY軸)の2軸に対物レンズ位置を駆動す
る2次元アクチュエ−タ159と、それらを搭載するキ
ャリッジ160のみをアクセス系(機構系及び制御系、
図示せず)を用いて光磁気ディスク7のアクセス方向
(図におけるY軸)に内周位置から外周位置まで可動
し、他の光学部品等は固定(以後、この光学系を固定光
学系と記す。)する分離型光ヘッドである。
On the other hand, the light beam 103 transmitted through the first reflecting surface 4a of the first beam splitter 4 is changed in its traveling direction by the reflecting mirror 5, and then the objective lens 6 is used to rotate the disc rotating system 20 (spindle motor). And the like) is irradiated onto the magneto-optical disk 7 mounted on the same. The optical head of this embodiment drives the reflecting mirror 5, the objective lens 6, and the objective lens to the objective lens position in two axes of the focus direction (Z axis in the drawing) and the track direction (Y axis in the drawing). Only the two-dimensional actuator 159 and the carriage 160 carrying them are provided with an access system (mechanism system and control system,
(Not shown) is used to move the magneto-optical disk 7 in the access direction (Y-axis in the drawing) from the inner peripheral position to the outer peripheral position, and other optical components are fixed (hereinafter, this optical system is referred to as a fixed optical system). It is a separate type optical head.

【0019】光磁気ディスク7からの反射光106は、
対物レンズ6、反射ミラー5を経てビームスプリッタ4
の第1の反射面4aで反射され、第2の反射面4bに向
かう。ビームスプリッタ4の第2の反射面4bは、P偏
光とS偏光とで反射率及び透過率が異なる、例えばP偏
光透過率Tp≒0.6,P偏光反射率Rp≒0.4,S
偏光透過率Ts≒0、S偏光反射率Rs≒1の偏光特性
を有する。第2の反射面4bに入射した光束106は透
過光107と反射光108に2分される。
The reflected light 106 from the magneto-optical disk 7 is
Beam splitter 4 through objective lens 6 and reflection mirror 5
It is reflected by the first reflecting surface 4a of the above and goes toward the second reflecting surface 4b. The second reflecting surface 4b of the beam splitter 4 has different reflectances and transmittances between P-polarized light and S-polarized light, for example, P-polarized light transmittance Tp≈0.6, P-polarized light reflectance Rp≈0.4, S.
It has polarization characteristics of polarization transmittance Ts≈0 and S polarization reflectance Rs≈1. The light flux 106 incident on the second reflecting surface 4b is divided into a transmitted light 107 and a reflected light 108.

【0020】ビ−ムスプリッタ4の第2の反射面4bを
反射した光束108は、レンズ15で収束光109とさ
れ入射光束を互いに偏光方向が直交する2つの偏光光束
に分離する偏光分離手段である偏光ビ−ムスプリッタ2
1に入射し、偏光がお互いに直交する2つの光束P偏光
109p(図示せず)とS偏光109s(図示せず)に
偏光分離され、それぞれ光検出器22に入射する。そし
て光検出器22内のP偏光107pを受光する受光領域
22a(図示せず)とS偏光107sを受光する受光領
域22b(図示せず)の検出信号の差をとる検出法、す
なわち差動検出法により、光磁気ディスク7に記録され
た光磁気信号を再生できる。
The light beam 108 reflected by the second reflecting surface 4b of the beam splitter 4 is converted by the lens 15 into a converged light beam 109, which is polarized light separating means for separating the incident light beam into two polarized light beams whose polarization directions are orthogonal to each other. A certain polarizing beam splitter 2
1, and the polarized light beams are polarized and separated into two light beams P-polarized light 109p (not shown) and S-polarized light 109s (not shown) whose polarizations are orthogonal to each other, and respectively enter the photodetector 22. Then, a detection method for obtaining a difference between detection signals of a light receiving region 22a (not shown) that receives the P-polarized light 107p and a light receiving region 22b (not shown) that receives the S-polarized light 107s in the photodetector 22, that is, differential detection By the method, the magneto-optical signal recorded on the magneto-optical disk 7 can be reproduced.

【0021】一方、ビ−ムスプリッタ4の第2の反射面
4bを透過した光束107は、回折格子27を経て検出
レンズ29によって収束光となり、円筒レンズ40(非
点収差発生手段)でフォーカス誤差検出のための非点収
差を与えられた後、光検出器30に入射する。光検出器
30を用いてのサ−ボ信号(フォ−カス誤差信号及びト
ラッキング誤差信号)の検出については後で、詳細に説
明する。
On the other hand, the light beam 107 which has passed through the second reflecting surface 4b of the beam splitter 4 passes through the diffraction grating 27 and becomes a convergent light by the detection lens 29, and the cylindrical lens 40 (astigmatism generating means) produces a focus error. After being given astigmatism for detection, the light enters the photodetector 30. The detection of the servo signals (focus error signal and tracking error signal) using the photodetector 30 will be described in detail later.

【0022】次に、以上の構成の光学ヘッドにおける特
長的な光学部品について図面を用いて詳細に説明する。
Next, the characteristic optical parts of the optical head having the above-mentioned structure will be described in detail with reference to the drawings.

【0023】図4は、本実施例の光学ヘッドに用いられ
たビ−ム整形プリズム3の構成図である。本実施例のビ
−ム整形プリズム3は迷光対策(入出射面において反射
される必要とされない光、すなわち迷光を半導体レ−ザ
1、光検出器32,22,30内に入射させないように
する対策)のために、図4に示すように、ビ−ム整形プ
リズム3を構成するプリズムAとプリズムBの各入出射
面A1,A2,B1,B2において、光束が常に屈折し
て入射あるいは出射するように、またビ−ム整形プリズ
ム3への入射光束101の光軸101aと出射光束10
2の光軸102aは平行になるように構成されている。
よって、各入射面A1,A2,B1,B2における入射
光は垂直入射でないため、反射光(迷光)は入射光に対
して傾斜して反射されるために、上記半導体レ−ザ1、
光検出器32,22,30内に入射することは無い。
FIG. 4 is a configuration diagram of the beam shaping prism 3 used in the optical head of this embodiment. The beam shaping prism 3 of this embodiment is a measure against stray light (light which is not required to be reflected on the entrance / exit surface, that is, stray light is prevented from entering the semiconductor laser 1 and the photodetectors 32, 22, 30. As a countermeasure, as shown in FIG. 4, the light beam is always refracted and enters or exits on each of the entrance / exit surfaces A1, A2, B1 and B2 of the prism A and the prism B which form the beam shaping prism 3. In addition, the optical axis 101a of the incident light beam 101 to the beam shaping prism 3 and the outgoing light beam 10
The two optical axes 102a are configured to be parallel.
Therefore, since the incident light on each of the incident surfaces A1, A2, B1, B2 is not vertically incident, the reflected light (stray light) is reflected with an inclination with respect to the incident light, so that the semiconductor laser 1,
It does not enter the photodetectors 32, 22, 30.

【0024】図5は、光検出器32を用いた半導体レ−
ザ1のレ−ザ光の光強度の制御方法について示した図で
ある。図に示すように、光検出器32は2つの受光領域
32a,32bを有しており、受光領域32a,32b
からの出力33a,33bはそれぞれ電流電圧変換器3
4a,34bを経てレ−ザ駆動回路35に入力される。
レ−ザ駆動回路35は、半導体レ−ザ1から発射される
光束100の光強度を制御する光強度制御機能35a
(一般にAuto Power Contorl)と,
半導体レ−ザ1の異常発光(光磁気ディスク上の情報信
号の熱破壊を生じさす光強度)を検知し、半導体レ−ザ
1の発光を停止する保護機能35bを少なくとも有して
いる。なお出力33aを光強度制御機能35aとして用
い,出力33bを保護機能35bとして用いる構成、ま
た出力33aと35aの和信号を生成し光強度制御機能
35a、保護機能35bとして用いる構成、さらに,保
護機能35b用としては出力33aと出力33bの両方
用いる構成等がある。以上のように半導体レ−ザ1から
発射される光束100の一部である光束105を検出す
る本構成を用いれば、従来半導体レ−ザ内に設けられて
いる光強度検出用の受光素子を取り除くことができる。
なお本実施例では光検出器を2つの受光領域32a,3
2bとしたが、1つの受光領域としてもよい。また半導
体レ−ザ1から発射される光束100の光強度はレ−ザ
駆動回路35からの駆動信号36により制御されると共
に、実際に半導体レ−ザ1の異常発光が検知された場
合、保護機能35bが働き半導体レ−ザ1の発光を停止
し、システム制御回路38へ制御信号37を出力する。
また半導体レ−ザ1の発光を確認できない場合あるいは
半導体レ−ザの劣化に伴う出力の低下(このとき必要な
駆動電流は増大する)を検知した場合にも同じようにシ
ステム制御回路38へ制御信号が出力される。また本実
施例では図示していないが、このような半導体レ−ザ1
の発光に関する異常を検知した場合、システム本体は異
常を表示するための機能を有しおり、本光学的情報機器
の使用者が確認できる。
FIG. 5 shows a semiconductor laser using the photodetector 32.
It is the figure which showed the control method of the light intensity of the laser light of the laser 1. As shown in the figure, the photodetector 32 has two light receiving regions 32a and 32b.
Outputs 33a and 33b from the current-voltage converter 3 respectively
It is input to the laser drive circuit 35 via 4a and 34b.
The laser drive circuit 35 has a light intensity control function 35a for controlling the light intensity of the light beam 100 emitted from the semiconductor laser 1.
(Generally Auto Power Control),
The semiconductor laser 1 has at least a protective function 35b for detecting abnormal light emission (light intensity that causes thermal destruction of the information signal on the magneto-optical disk) and stopping the light emission of the semiconductor laser 1. The output 33a is used as the light intensity control function 35a, the output 33b is used as the protection function 35b, and the sum signal of the outputs 33a and 35a is generated and used as the light intensity control function 35a and the protection function 35b. For 35b, there is a configuration in which both the output 33a and the output 33b are used. As described above, by using the present configuration for detecting the light beam 105 which is a part of the light beam 100 emitted from the semiconductor laser 1, the light receiving element for detecting the light intensity provided in the conventional semiconductor laser can be used. Can be removed.
In this embodiment, the photodetector has two light receiving regions 32a, 3a.
Although it is 2b, it may be one light receiving region. The light intensity of the luminous flux 100 emitted from the semiconductor laser 1 is controlled by the drive signal 36 from the laser drive circuit 35, and is protected when abnormal light emission of the semiconductor laser 1 is actually detected. The function 35b operates to stop the light emission of the semiconductor laser 1 and outputs the control signal 37 to the system control circuit 38.
Further, when it is not possible to confirm the light emission of the semiconductor laser 1 or when a decrease in the output due to the deterioration of the semiconductor laser (the required drive current increases at this time) is detected, the system control circuit 38 is similarly controlled. The signal is output. Although not shown in the present embodiment, such a semiconductor laser 1
When an abnormality relating to the light emission of is detected, the system main body has a function of displaying the abnormality, which can be confirmed by the user of the optical information device.

【0025】図6は、本実施例の光学ヘッドに用いられ
るビ−ムスプリッタ4の取付け方法を説明した図であ
る。ここでビ−ムスプリッタ4は上記した迷光対策のた
めに、図6に示すように、各入射面(図においては4
c)および各出射面(図においては4d)がお互いに平
行あるいは垂直である立方体のビ−ムスプリッタ4を図
におけるX軸周りに1.5度程度回転させて配置してあ
る。このときビ−ムスプリッタ4に入射する光束(図に
おいては光束102、106)と出射する光束(図にお
いては光束103)は平行な関係にあり出射(透過また
は反射)後の光束の光軸が傾くことはない。
FIG. 6 is a diagram for explaining a method of mounting the beam splitter 4 used in the optical head of this embodiment. Here, as a measure against the above-mentioned stray light, the beam splitter 4 is provided on each incident surface (4 in the figure) as shown in FIG.
A cubic beam splitter 4 in which c) and each output surface (4d in the figure) are parallel or perpendicular to each other is arranged by rotating about 1.5 degrees around the X axis in the figure. At this time, the light fluxes entering the beam splitter 4 (light fluxes 102 and 106 in the figure) and the light flux exiting (the light flux 103 in the figure) are in a parallel relationship, and the optical axis of the light flux after emission (transmission or reflection) is There is no inclination.

【0026】また実施例の光学ヘッドの固定光学系の各
光学部品は、取付け部材210(以後、固定光学系シャ
−シ210と記す)の下面210a側(光磁気ディスク
7に対して対物レンズ6が位置する側)に取付けを行っ
ている。ビ−ムスプリッタ4においては、取付け面4e
が重力方向の面4fとは逆となっており、重力により面
4fに塵等のゴミが付着することを避けられる。よって
本実施例の光学ヘッドを搭載した光学的情報装置では、
混入しているゴミ等の光学部品への付着による光学性能
の劣化(例えば、光利用率の低下)を防止できる。
Further, each optical component of the fixed optical system of the optical head of the embodiment is attached to the lower surface 210a of the mounting member 210 (hereinafter referred to as the fixed optical system chassis 210) (the objective lens 6 with respect to the magneto-optical disk 7). Is installed on the side where is located. In the beam splitter 4, the mounting surface 4e
Is opposite to the surface 4f in the direction of gravity, and it is possible to prevent dust such as dust from adhering to the surface 4f due to gravity. Therefore, in the optical information device equipped with the optical head of this embodiment,
It is possible to prevent deterioration of optical performance (for example, reduction of light utilization rate) due to adhesion of mixed dust and the like to optical components.

【0027】図7は、本実施例の光学ヘッドに用いられ
る偏光分離手段である偏光ビ−ムスプリッタ21の構成
及び作用を説明した図である。図7において、偏光ビ−
ムスプリッタ21はガラス等の透明光学媒体よりなる平
行四辺形プリズム21aおよび平行平板21b,平行四
辺形プリズム21aと平行平板21bとの接合面に形成
された偏光膜21c,平行四辺形プリズム21aと平行
平板21bにそれぞれ形成された全反射膜21d,21
eとで構成されている。偏光ビ−ムスプリッタ21は、
レンズ15を出射した光束109の光軸周りに略45度
回転させて配置される。レンズ15を出射した光束10
9は偏光成分のうち、偏光膜21cにとってS偏光(図
において紙面に垂直な振動を持つ偏光)成分は反射さ
れ、これと垂直なP偏光(図において紙面に平行な振動
を持つ偏光)成分は偏光膜21cを透過して直進して全
反射膜21eで反射して再び偏光膜21cを透過する。
偏光膜21cで反射された光束109sと偏光膜21c
を透過した109pは全反射膜21dで反射され、それ
ぞれ光検出器22に入射する。
FIG. 7 is a diagram for explaining the construction and operation of the polarization beam splitter 21 which is the polarization separation means used in the optical head of this embodiment. In FIG. 7, the polarization beam
The splitter 21 includes a parallelogram prism 21a and a parallel plate 21b made of a transparent optical medium such as glass, a polarizing film 21c formed on a joint surface between the parallelogram prism 21a and the parallel plate 21b, and a parallelogram prism 21a. Total reflection films 21d, 21 respectively formed on the flat plate 21b
e and. The polarization beam splitter 21 is
The light beam 109 emitted from the lens 15 is rotated about 45 degrees around the optical axis and arranged. Light flux 10 emitted from the lens 15
Of the polarized light components, the S-polarized light component (polarized light having a vibration perpendicular to the paper surface in the figure) component is reflected by the polarizing film 21c, and the P-polarized light component (polarized light having a vibration parallel to the paper surface in the drawing) component perpendicular thereto is reflected. The light passes through the polarizing film 21c, goes straight, is reflected by the total reflection film 21e, and again passes through the polarizing film 21c.
The luminous flux 109s reflected by the polarizing film 21c and the polarizing film 21c
109p transmitted through is reflected by the total reflection film 21d and is incident on the photodetector 22.

【0028】次に、図8を用いて光検出器22を説明す
る。図8は本実施例の光検出器22の受光面側を図1の
偏光ビ−ムスプリッタ21の方向から見た図である。光
検出器22は2個の受光領域22a,22bと、受光領
域22a,22bからの出力(電流)を処理する変換回
路24とを有している。光束109pと光束109sは
それぞれ受光領域22a,22bに入射し、それぞれ光
スポット110p,110sを形成する。受光領域22
a,22bの出力電流23a、23bは変換回路24に
導かれる。変換回路24は電流を電圧に変換する電気的
素子24a,24b、加算または減算を行う電気的素子
24c,24d等が集積化(IC化)されている。よっ
て出力電流23a、23bは変換回路24より減算信号
である光磁気信号25と、加算信号26(光磁気ディス
ク7に予め形成された凹凸状のピット信号、たとえばア
ドレス信号等の情報信号、以後情報信号26と記す)が
出力される。なお、本実施例の光検出器22の変換回路
24は、電流を電圧に変換する電気的素子24a,24
bのみを集積化してもよい。
Next, the photodetector 22 will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a view of the light receiving surface side of the photodetector 22 of this embodiment as seen from the direction of the polarization beam splitter 21 of FIG. The photodetector 22 has two light receiving regions 22a and 22b and a conversion circuit 24 that processes the output (current) from the light receiving regions 22a and 22b. The luminous flux 109p and the luminous flux 109s respectively enter the light receiving regions 22a and 22b, and form light spots 110p and 110s, respectively. Light receiving area 22
Output currents 23a and 23b of a and 22b are guided to the conversion circuit 24. The conversion circuit 24 is integrated (integrated into an IC) with electric elements 24a and 24b for converting current into voltage, and electric elements 24c and 24d for addition or subtraction. Therefore, the output currents 23a and 23b are converted by the conversion circuit 24 into a magneto-optical signal 25 which is a subtraction signal, and an addition signal 26 (an uneven pit signal formed in advance on the magneto-optical disk 7, for example, an information signal such as an address signal, and the following information). Signal 26) is output. The conversion circuit 24 of the photodetector 22 according to the present exemplary embodiment includes electrical elements 24a and 24 that convert current into voltage.
Only b may be integrated.

【0029】また、上記偏光ビ−ムスプリッタ21と光
検出器22は、図9に示すように取付け部材28に一旦
取付けられる。そして取付け部材28を固定光学系シャ
−シ210に例えばネジ等で固定される。
The polarization beam splitter 21 and the photodetector 22 are once attached to the attachment member 28 as shown in FIG. Then, the mounting member 28 is fixed to the fixed optical system chassis 210 with, for example, screws.

【0030】次に、本実施例の光学ヘッドの用いられる
回折格子27と各誤差信号検出について詳細に説明す
る。
Next, the diffraction grating 27 used in the optical head of this embodiment and detection of each error signal will be described in detail.

【0031】まず、図10、図11を用いて、回折格子
27について説明する。図10は回折格子27の構成を
示した正面図である。回折格子27は、格子を有してい
ない帯状の領域27aと、その領域27aを挾んで格子
線の方向27d,27eが互いに異なる2つの格子領域
27b,27c(本実施例の格子線の方向27dと27
eの成す角度は略90度である)を有している。すなわ
ち格子を有していない帯状の領域27aと格子領域27
bまたは格子領域27cとの二つの境界線27fと27
gは平行であり、その2つの境界線の中央27hに光磁
気ディスク7の情報トラック7aの、回折格子27への
投影された像の方向220が一致するように配設され
る。従って、図11に示すように、入射光束107の
内、中央部の光は帯状の格子の無い領域27aに入射
し、情報トッラク7aでの0次回折光と+1次回折光が
干渉する部分107aをほぼ含む略半円が一方の格子領
域27bに入射し、情報トッラク7aでの0次回折光と
−1次回折光が干渉する部分107bをほぼ含む略半円
が他方の格子領域27cに入射する。この2つの格子領
域27b,27cからの±1次回折光をそれぞれ検出
し、その強度を比較することにより、プッシュプル法に
よるトラッキング誤差信号を得ることができる。また、
前記回折格子の中央部27aの光と2つの格子領域27
b,27cの0次回折光、すなわち直接透過光を用いて
非点収差法によるフォーカス誤差信号を検出できる。
また図示のように、回折格子27の直接透過光の透過率
は、回折格子27の格子の内中央領域27aが高く(本
実施例ではほぼ1.0)、2つの格子領域27b,27
cは低い(本実施例ではほぼ0.5)。よって、結果的
に直接透過光は情報トッラク7aでの0次回折光と±1
次回折光が干渉する部分107a,107bの強度が低
下するため、フォーカス誤差信号へのトラック横断信号
の混入を低減できる。
First, the diffraction grating 27 will be described with reference to FIGS. FIG. 10 is a front view showing the configuration of the diffraction grating 27. The diffraction grating 27 includes a band-shaped region 27a having no grating and two grating regions 27b and 27c (grating line direction 27d of the present embodiment that sandwich the region 27a and have different grating line directions 27d and 27e). And 27
The angle formed by e is approximately 90 degrees). That is, the band-shaped area 27a and the grid area 27 which do not have a grid
b or the two boundary lines 27f and 27 with the lattice area 27c.
g is parallel, and is arranged so that the direction 27 of the image projected onto the diffraction grating 27 of the information track 7a of the magneto-optical disk 7 coincides with the center 27h of the two boundary lines. Therefore, as shown in FIG. 11, in the incident light flux 107, the light in the central portion is incident on the area 27a without the band-shaped grating, and the area 107a where the 0th-order diffracted light and the + 1st-order diffracted light on the information track 7a interfere with each other is almost A substantially semicircle including the light enters the one grating region 27b, and a substantially semicircle including substantially the portion 107b where the 0th-order diffracted light and the −1st-order diffracted light on the information track 7a interfere with each other enters the other grating region 27c. A tracking error signal by the push-pull method can be obtained by detecting the ± first-order diffracted lights from the two grating regions 27b and 27c and comparing the intensities thereof. Also,
The light of the central portion 27a of the diffraction grating and the two grating regions 27
The focus error signal by the astigmatism method can be detected using the 0th-order diffracted light of b and 27c, that is, the direct transmitted light.
Further, as shown in the figure, the transmittance of the directly transmitted light of the diffraction grating 27 is high in the central area 27a of the diffraction grating 27 (approximately 1.0 in this embodiment), and the two grating areas 27b, 27 are provided.
c is low (approximately 0.5 in this embodiment). Therefore, as a result, the directly transmitted light is equal to or less than ± 1 with the 0th-order diffracted light on the information track 7a.
Since the intensity of the portions 107a and 107b where the next-order diffracted light interferes is reduced, it is possible to reduce mixing of the track crossing signal into the focus error signal.

【0032】次に、図12を用いて光検出器30を詳細
に説明する。
Next, the photodetector 30 will be described in detail with reference to FIG.

【0033】図12は光検出器30の構成を詳細に示し
た正面図と、各信号を得るための演算回路とをそれぞれ
示している。
FIG. 12 shows a front view showing in detail the structure of the photodetector 30 and an arithmetic circuit for obtaining each signal.

【0034】光検出器30は、中央に4分割された受光
領域30a〜30dを有し、その周囲にそれぞれ独立し
た受光領域30e〜30hを有している。
The photodetector 30 has four light-receiving regions 30a to 30d at the center and independent light-receiving regions 30e to 30h around it.

【0035】回折格子30の中央部27aの光と2つの
格子領域27b,27cの0次回折光、即ち、直接透過
光は、光検出器30の4分割受光領域30a〜30dに
光スポット31として入射する。従って、受光領域30
a、30cからの光電流と、受光領域30b、30dか
らの光電流とを、電流電圧変換器(図示せず)で電圧に
変換した後、差動増幅器42に入力することにより、非
点収差法によるフォーカス誤差信号を得ることができ
る。
The light of the central portion 27a of the diffraction grating 30 and the 0th-order diffracted light of the two grating regions 27b and 27c, that is, the directly transmitted light are incident on the four-division light receiving regions 30a to 30d of the photodetector 30 as a light spot 31. To do. Therefore, the light receiving area 30
By converting the photocurrents from a and 30c and the photocurrents from the light receiving regions 30b and 30d into voltages with a current-voltage converter (not shown), and inputting them into the differential amplifier 42, astigmatism is obtained. It is possible to obtain a focus error signal according to the method.

【0036】一方、格子領域27bで回折された±1次
回折光は、それぞれ光検出器30の受光領域30f、3
0hに光スポット41f,41hとして入射する。格子
領域27cで回折された±1次回折光は、それぞれ光検
出器30の受光領域30e、30gに光スポット41
e,41gとして入射する。従って、受光領域30e、
30gからの光電流と、受光領域30f、30hからの
光電流とを、電流電圧変換器(図示せず)で電圧に変換
した後、差動増幅器44に入力することにより、プッシ
ュプル法によるトラッキング誤差信号を得ることができ
る。またトラッキング誤差信号はこのとき受光領域30
hと30gの入射光強度信号の差、または受光領域30
eと30fの入射光強度信号の差からも得られる。
On the other hand, the ± first-order diffracted lights diffracted by the grating region 27b are respectively the light receiving regions 30f and 3f of the photodetector 30.
The light spots 41f and 41h are incident on 0h. The ± first-order diffracted light diffracted by the grating region 27c is reflected by the light spots 41 on the light receiving regions 30e and 30g of the photodetector 30, respectively.
It is incident as e, 41 g. Therefore, the light receiving region 30e,
The photocurrent from 30g and the photocurrents from the light receiving regions 30f and 30h are converted into a voltage by a current-voltage converter (not shown), and then input to the differential amplifier 44 to perform tracking by the push-pull method. An error signal can be obtained. At this time, the tracking error signal is received by the light receiving area 30.
The difference between the incident light intensity signals of h and 30 g, or the light receiving region 30
It can also be obtained from the difference between the incident light intensity signals of e and 30f.

【0037】図12において、受光領域30e〜30h
上の光スポット41e〜41hの像の略半円形状は回折
格子27上の形状に対して90度回転しているが、これ
は円筒レンズ40によって非点収差が与えられているた
めである。受光領域30e〜30hによって検出するの
は像の形状ではなく各領域に入射する光量であるため、
像の形状が変化してもなんら問題はない。
In FIG. 12, the light receiving areas 30e to 30h.
The substantially semicircular shape of the images of the upper light spots 41e to 41h is rotated 90 degrees with respect to the shape on the diffraction grating 27, because the cylindrical lens 40 imparts astigmatism. Since it is not the shape of the image that is detected by the light receiving regions 30e to 30h but the amount of light incident on each region,
There is no problem even if the shape of the image changes.

【0038】また、前記情報信号26は、受光領域30
e〜30hの入射光強度信号の和、または受光領域30
eと30fの入射光強度信号の和、或いは、受光領域3
0a〜30dの入射光強度信号の和、さらに、全受光領
域30a〜30hの総和からも得られる。
The information signal 26 has a light receiving region 30.
The sum of the incident light intensity signals of e to 30h, or the light receiving region 30
The sum of the incident light intensity signals of e and 30f, or the light receiving area 3
It is also obtained from the sum of the incident light intensity signals of 0a to 30d and the sum of the total light receiving regions 30a to 30h.

【0039】ところで、ディスク上での合焦状態のとき
にフォーカス誤差信号が所定の値となるように調整を行
なう、いわゆるフォーカス誤差信号の調整は、図1にお
いて、検出レンズ29と円筒レンズ40とを一体に入射
光107の入射光軸方向117に移動させることによ
り、行なうことが可能である。或いは、光検出器30を
光軸方向に移動してもよい。また、ディスク上でのジャ
ストトラッキング状態のときトラッキング誤差信号が所
定の値となるように調整を行なう、いわゆるトラッキン
グ誤差信号の調整は、図1、及び図11において回折格
子27をお互いに平行な二つの境界線27fと27gと
に垂直な方向118に移動することにより行う。この調
整が平行光である光束107に対して行われるため、前
記従来例のごとく回折格子27を透過した光束に傾きは
生じない。また非点収差等の収差の発生量もない。よっ
て予め調整したフォーカス誤差信号は、回折格子27を
移動することによるトラッキング誤差信号の調整によっ
て調整状態がくるうことがない。以上により、フォーカ
ス調整とトラッキング調整を独立に行うことができる。
By the way, the adjustment of the so-called focus error signal, that is, the adjustment of the focus error signal to a predetermined value when in focus on the disc, is performed by the detection lens 29 and the cylindrical lens 40 in FIG. Can be carried out by integrally moving in the direction 117 of the incident light axis of the incident light 107. Alternatively, the photodetector 30 may be moved in the optical axis direction. Further, in the just tracking state on the disk, the adjustment is performed so that the tracking error signal becomes a predetermined value, that is, the so-called tracking error signal is adjusted by setting the diffraction gratings 27 in parallel with each other in FIGS. This is done by moving in a direction 118 perpendicular to the two boundary lines 27f and 27g. Since this adjustment is performed on the light beam 107 that is parallel light, no tilt occurs in the light beam that has passed through the diffraction grating 27 as in the conventional example. There is also no amount of aberration such as astigmatism. Therefore, the focus error signal adjusted in advance does not come into the adjusted state due to the adjustment of the tracking error signal by moving the diffraction grating 27. As described above, focus adjustment and tracking adjustment can be performed independently.

【0040】以上、詳細に説明したように本実施例の光
学ヘッドは、光磁気信号を劣化させること無く、非点収
差法によるフォーカス誤差信号とプッシュプル法による
トラッキング誤差信号を1系統の光学系で一括して検出
し、かつ、フォーカス誤差信号へのトラック横断信号の
混入を低減できる。本実施例では、フォーカス誤差信号
の検出に回折格子27の0次回折光を用いているため、
光源である半導体レーザ1の波長が変動した場合も4分
割受光領域30a〜30d上の光スポット31が移動せ
ず、正しいフォーカス誤差信号を得ることができる。
As described above in detail, the optical head of this embodiment has one system of the focus error signal by the astigmatism method and the tracking error signal by the push-pull method without degrading the magneto-optical signal. In this case, it is possible to detect all of them at once and reduce the mixture of the track crossing signal into the focus error signal. In this embodiment, since the 0th-order diffracted light of the diffraction grating 27 is used for detecting the focus error signal,
Even when the wavelength of the semiconductor laser 1 as the light source changes, the light spot 31 on the four-divided light receiving regions 30a to 30d does not move, and a correct focus error signal can be obtained.

【0041】また、トラッキング誤差信号の検出には回
折格子27による±1次回折光を用いているため、半導
体レーザ1の波長変動により受光領域30e〜30h上
の光スポット41e〜41hが移動するが、受光領域3
0e〜30hでは各領域に入射する光量を検出するた
め、受光領域30e〜30hの大きさを光スポット41
e〜41hの移動を考慮して設計すれば問題ない。また
プシュプル法によるトラッキング誤差信号の検出では、
ディスクの情報トラックに追従して対物レンズが移動す
ると、ディスクからの反射光もそれに伴って移動し検出
されるトラッキング誤差信号にオフセットが生じるとい
う問題があった。しかし、本実施例ではトラッキング誤
差信号としては、図11における、回折格子27の入射
光束107の内、中央部の光は帯状の格子の無い領域2
7aに入射した光は用いず、格子領域27bと27cに
入射した光、すなわち情報トッラク7aでの0次回折光
と±1次回折光が干渉する部分107a,107bの光
を検出して得ている。よって、上記した対物レンズ移動
によるトラッキング誤差信号のオフセットを低減できる
長所も合わせもっている。
Since the ± 1st-order diffracted light from the diffraction grating 27 is used to detect the tracking error signal, the light spots 41e to 41h on the light receiving regions 30e to 30h move due to the wavelength fluctuation of the semiconductor laser 1. Light receiving area 3
In 0e to 30h, the amount of light incident on each area is detected. Therefore, the size of the light receiving areas 30e to 30h is set to the light spot 41.
There is no problem if it is designed in consideration of the movement of e to 41h. In the detection of tracking error signal by push-pull method,
When the objective lens moves following the information track of the disc, the reflected light from the disc also moves accordingly, causing an offset in the detected tracking error signal. However, in the present embodiment, as the tracking error signal, in the incident light flux 107 of the diffraction grating 27, the central light is the area 2 without the band-shaped grating in FIG.
The light incident on 7a is not used, but the light incident on the grating regions 27b and 27c, that is, the light on the portions 107a and 107b where the 0th-order diffracted light and the ± 1st-order diffracted light on the information track 7a interfere is detected. Therefore, it also has an advantage that the offset of the tracking error signal due to the movement of the objective lens can be reduced.

【0042】次に、図13により、対物レンズ6に入射
する光束103の強度中心Icと対物レンズ中心Ocの
位置合わせの方法について説明する。本実施例のように
分離型光ヘッドにおいては、半導体レ−ザ1の発光部の
傾き、あるいは光学部品及びアクセス系の取付け誤差等
により、入射光束103の強度中心Icと対物レンズ中
心Ocに位置ずれ生じる。この位置ずれは、フォ−カス
誤差信号、およびトラッキング誤差信号に悪影響(例え
ば、温度等による光学部品等の位置ずれによって引き起
こされるフォ−カス誤差信号のオフセットが大きくな
る。)を及ぼす。よって、本実施例においては、図13
に示すように、対物レンズ中心Ocと入射光束103の
強度中心Icとの光磁気ディスク7の接線方向(X軸)
の位置ずれdXは、固定光学系シャ−シ210のメカシ
ャ−シ350への取付け位置を接線方向に−dX移動す
ることにより調整している。すなわち本実施例において
は、固定光学系シャ−シ210は図面におけるZ軸方向
への移動は無いように、メカシャ−シ350の基準面3
50a(ディスク7の接線方向(X軸)と平行で、半径
方向Y軸に垂直な面)を基準として固定光学系シャ−シ
210を平行移動させている。一方、対物レンズ中心O
cと入射光束103の強度中心Icとの光磁気ディスク
7の半径方向(Y軸)の位置ずれdYは、図14に示す
ように、2次元アクチュエ−タ159の取付け位置を反
射ミラ−5に対してディスク7の半径方向(Y軸)に−
dY移動させることにより調整している。すなわち、2
次元アクチュエ−タ159は部材158に取付け、反射
ミラ−5はキャリッジ160に取付け、そこで部材15
8をキャリッジ160に取付けることにより2次元アク
チュエ−タ159をキャリッジ160に固定しており、
調整は部材158をキャリッジ160に対してディスク
7の半径方向に平行移動することにより行っている。
Next, referring to FIG. 13, a method of aligning the intensity center Ic of the light beam 103 incident on the objective lens 6 and the objective lens center Oc will be described. In the separable optical head as in the present embodiment, the position is located at the intensity center Ic of the incident light beam 103 and the objective lens center Oc due to the inclination of the light emitting portion of the semiconductor laser 1 or the mounting error of the optical components and the access system. There will be a shift. This misalignment adversely affects the focus error signal and the tracking error signal (for example, the offset of the focus error signal caused by the misalignment of the optical components due to temperature or the like increases). Therefore, in this embodiment, as shown in FIG.
, The tangential direction (X axis) of the objective lens center Oc and the intensity center Ic of the incident light beam 103 to the magneto-optical disk 7.
The positional deviation dX is adjusted by moving the mounting position of the fixed optical system chassis 210 to the mechanical chassis 350 by -dX in the tangential direction. That is, in this embodiment, the reference surface 3 of the mechanical chassis 350 is arranged so that the fixed optical system chassis 210 does not move in the Z-axis direction in the drawing.
The fixed optical system chassis 210 is moved in parallel with reference to 50a (a plane parallel to the tangential direction (X axis) of the disk 7 and perpendicular to the Y axis in the radial direction). On the other hand, the center O of the objective lens
The radial displacement (Y axis) of the magneto-optical disk 7 between the c and the intensity center Ic of the incident light beam 103 is dY. As shown in FIG. 14, the mounting position of the two-dimensional actuator 159 is set to the reflection mirror-5. On the other hand, in the radial direction of the disk 7 (Y axis)-
It is adjusted by moving dY. Ie 2
Dimensional actuator 159 is attached to member 158 and reflective mirror 5 is attached to carriage 160, where member 15 is attached.
By attaching 8 to the carriage 160, the two-dimensional actuator 159 is fixed to the carriage 160,
The adjustment is performed by moving the member 158 in parallel with the carriage 160 in the radial direction of the disk 7.

【0043】図15は、本発明の第2の実施例としての
光学ヘッドの構成を示す構成図である。
FIG. 15 is a constitutional view showing the constitution of an optical head as a second embodiment of the present invention.

【0044】図15において、第1の実施例の光学ヘッ
ドの構成を示す図1と同じ符号は同一部品を示す。本実
施例の光学ヘッドは、光源である半導体レ−ザ1(高周
波重畳回路1a付き)から発射された光束100(S偏
光)は、コリメ−トレンズ49によって平行光束130
とされ、2分の1波長板50を通過して偏光方向を90
度旋光された光束131(P偏光)となり、反射ミラ−
19で光路を90度偏向され、第1のビ−ムスプリッタ
4に入射し、光磁気ディスク7に光スポット170を形
成する。図16に、光磁気ディスク7の情報トラック7
aと光スポット170の強度と偏光方向の関係を示す。
光スポット170は情報トラック7aとは垂直な方向
(ディスク半径方向)に長い長円スポットで、偏光方向
は情報トラック7aに一致している。光磁気ディスクの
光スポット170の反射光106が光検出器22で光磁
気信号を、また光検出器30でサ−ボ信号として検出さ
れるまでの過程は、第1の実施例の光学ヘッドと同じな
ので省略する。なお、本実施例の光学ヘッドでは、図1
の光学ヘッドで用いた半導体レ−ザ1の光強度を補正す
るビ−ム整形プリズム3を取り除く構成とした。しかし
構成としてはこれに限るものではない。別の構成の一例
を以下に示す。
In FIG. 15, the same reference numerals as those in FIG. 1 showing the structure of the optical head of the first embodiment indicate the same parts. In the optical head of this embodiment, a light beam 100 (S-polarized) emitted from a semiconductor laser 1 (with a high frequency superposition circuit 1a) as a light source is collimated by a collimating lens 49 into a parallel light beam 130.
And the polarization direction is 90 degrees after passing through the half-wave plate 50.
It becomes a light beam 131 (P-polarized light) that has been rotated, and the reflection mirror
The light path is deflected by 90 degrees at 19 and enters the first beam splitter 4 to form a light spot 170 on the magneto-optical disk 7. FIG. 16 shows the information track 7 of the magneto-optical disk 7.
The relationship between a, the intensity of the light spot 170, and the polarization direction is shown.
The light spot 170 is an oval spot that is long in the direction perpendicular to the information track 7a (disk radial direction), and the polarization direction matches the information track 7a. The process until the reflected light 106 of the light spot 170 of the magneto-optical disk is detected as a magneto-optical signal by the photo detector 22 and as a servo signal by the photo detector 30 is the same as that of the optical head of the first embodiment. Omitted because it is the same. In addition, in the optical head of this embodiment, as shown in FIG.
The beam shaping prism 3 for correcting the light intensity of the semiconductor laser 1 used in the above optical head is removed. However, the configuration is not limited to this. An example of another configuration is shown below.

【0045】図17は、本発明の第3の実施例としての
光学ヘッドの構成を示す構成図である。
FIG. 17 is a structural diagram showing the structure of an optical head as a third embodiment of the present invention.

【0046】図17において、本発明の第1、及び第2
の実施例の光学ヘッドの構成を示す図1、および図15
と同じ符号は同一部品を示す。本実施例の光学ヘッド
は、光源である半導体レ−ザ1(高周波重畳回路1a付
き)から発射された光束100(S偏光)は、コリメ−
トレンズ49によって平行光束130とされ、第1のビ
ームスプリッタ55の第1の反射面55aに入射する。
ビームスプリッタ55の第1の反射面55aは、P偏光
とS偏光とで反射率及び透過率が異なる、例えばP偏光
透過率Tp≒1,P偏光反射率Rp≒0,S偏光透過率
Ts≒0.2,S偏光反射率Rs≒0.8の偏光特性を
有する。第1の反射面55aに入射した光束130(S
偏光)は透過光131(図示せず)と反射光132に2
分される。
In FIG. 17, the first and second aspects of the present invention
1 and 15 showing the configuration of the optical head of the embodiment of FIG.
The same reference numerals as in FIG. In the optical head of this embodiment, the light beam 100 (S-polarized) emitted from the semiconductor laser 1 (with the high-frequency superimposing circuit 1a) as a light source is collimated.
The parallel light flux 130 is formed by the lens 49 and enters the first reflecting surface 55 a of the first beam splitter 55.
The first reflecting surface 55a of the beam splitter 55 has different reflectance and transmittance between P-polarized light and S-polarized light, for example, P-polarized light transmittance Tp≈1, P-polarized light reflectance Rp≈0, S-polarized light transmittance Ts≈. It has a polarization characteristic of 0.2 and S-polarized light reflectance Rs≈0.8. The light flux 130 (S
Polarized light is divided into transmitted light 131 (not shown) and reflected light 132.
Be divided.

【0047】このうち反射光132は、第1のビームス
プリッタ55の第2の反射面55bに入射する。ビーム
スプリッタ55の第2の反射面55bは、P偏光とS偏
光とで反射率及び透過率が異なる、例えばP偏光透過率
Tp≒1,P偏光反射率Rp≒0,S偏光透過率Ts≒
0.2,S偏光反射率Rs≒0.8の偏光特性を有す
る。第2の反射面55bに入射した光束132(S偏
光)は透過光133と反射光134に2分される。
Of these, the reflected light 132 is incident on the second reflecting surface 55b of the first beam splitter 55. The second reflection surface 55b of the beam splitter 55 has different reflectances and transmittances between P-polarized light and S-polarized light, for example, P-polarized light transmittance Tp≈1, P-polarized light reflectance Rp≈0, S-polarized light transmittance Ts≈.
It has a polarization characteristic of 0.2 and S-polarized light reflectance Rs≈0.8. The light flux 132 (S-polarized) incident on the second reflecting surface 55b is divided into a transmitted light 133 and a reflected light 134.

【0048】ここで透過光133は、光検出器32に入
射し、反射光134(S偏光)は固定光学系の出射口に
設けられらた2分の1波長板50を通過して偏光方向を
90度旋光された光束135(P偏光)となり、固定光
学系を出射する。そして光磁気ディスク7に光スポット
170を形成する。光磁気ディスク7の情報トラック7
aと光スポット170の強度と偏光方向の関係は図16
と同じになる。また、本実施例では、可動光学系の入射
口に、ごみ等の混入防止のために透明部材56を設け
た。光磁気ディスクからの反射光106は、ビームスプ
リッタ55の第2の反射面55bを透過し光検出器22
で光磁気信号として検出され、ビームスプリッタ55の
第2の反射面55b、さらに第1の反射面55aを透過
し光検出器22でサ−ボ信号として検出される。検出ま
での過程は、第1の実施例の光学ヘッドと同じなので省
略する。なお、2分の1波長板50と透明部材56をそ
れぞれ4分の1波長板に代えても図16に示す光磁気デ
ィスク7の情報トラック7aと光スポット170の強度
と偏光方向の関係を得ることができる。また、光スポッ
ト170の偏光方向を光磁気ディスクの半径方向(図に
おいてはY軸)と同じにする場合は、2分の1波長板5
0を透明不材にするかもしくは取り除けばよい。
Here, the transmitted light 133 enters the photodetector 32, and the reflected light 134 (S-polarized light) passes through the half-wave plate 50 provided at the exit of the fixed optical system and the polarization direction. Becomes a light beam 135 (P-polarized light) rotated by 90 degrees, and is emitted from the fixed optical system. Then, a light spot 170 is formed on the magneto-optical disk 7. Information track 7 of magneto-optical disk 7
FIG. 16 shows the relationship between a, the intensity of the light spot 170, and the polarization direction.
Will be the same as Further, in this embodiment, the transparent member 56 is provided at the entrance of the movable optical system to prevent dust and the like from entering. The reflected light 106 from the magneto-optical disk passes through the second reflecting surface 55b of the beam splitter 55 and passes through the photodetector 22.
Is detected as a magneto-optical signal by the beam splitter 55, transmitted through the second reflecting surface 55b and the first reflecting surface 55a of the beam splitter 55, and detected by the photodetector 22 as a servo signal. The process up to the detection is the same as that of the optical head of the first embodiment, and will be omitted. Even if the half-wave plate 50 and the transparent member 56 are replaced with quarter-wave plates, the relationship between the intensity and polarization direction of the information track 7a and the light spot 170 of the magneto-optical disk 7 shown in FIG. 16 is obtained. be able to. When the polarization direction of the light spot 170 is the same as the radial direction of the magneto-optical disk (Y axis in the figure), the half-wave plate 5 is used.
0 may be made transparent or removed.

【0049】以上の実施例の光学ヘッドに用いた回折格
子27は、回折方向を代えているがこれに限るものでは
なく、図18に示すように格子線の間隔(格子ピッチ)
がお互いに異なるようにしてもよい。図18は回折格子
57の構成を示した正面図である。回折格子57は、格
子を有していない帯状の領域57aと、その領域57a
を挾んで格子線の格子ピッチP1,P2が互いに異なる
2つの格子領域57b,57cを有している。すなわち
格子を有していない帯状の領域57aと格子領域57b
または格子領域57cとの二つの境界線57fと57g
は平行であり、その2つの境界線の中央57hに光磁気
ディスク7の情報トラック7aの、回折格子57への投
影された像の方向220が一致するように配設される。
従って、図1の光学ヘッドにおいては、図11に示した
ように、入射光束107の内、中央部の光は帯状の格子
の無い領域57aに入射し、情報トッラク7aでの0次
回折光と+1次回折光が干渉する部分107aをほぼ含
む略半円が一方の格子領域57bに入射し、情報トッラ
ク7aでの0次回折光と−1次回折光が干渉する部分1
07bをほぼ含む略半円が他方の格子領域57cに入射
する。この2つの格子領域57b,57cからの±1次
回折光をそれぞれ検出し、その強度を比較することによ
り、プッシュプル法によるトラッキング誤差信号を得る
ことができる。また、前記回折格子の中央部57aの光
と2つの格子領域57b,57cの0次回折光、すなわ
ち直接透過光を用いて非点収差法によるフォーカス誤差
信号を検出できる。また図11に示したと同じように、
回折格子57の直接透過光の透過率は、回折格子57の
格子の内中央領域57aが高く、2つの格子領域57
b,57cは低い。よって、結果的に直接透過光は情報
トッラク7aでの0次回折光と±1次回折光が干渉する
部分107a,107bの強度が低下するため、フォー
カス誤差信号へのトラック横断信号の混入を低減でき
る。
The diffraction grating 27 used in the optical head of the above-mentioned embodiment has different diffraction directions, but the diffraction direction is not limited to this, and as shown in FIG. 18, the spacing between the lattice lines (lattice pitch).
May be different from each other. FIG. 18 is a front view showing the structure of the diffraction grating 57. The diffraction grating 57 includes a band-shaped area 57a having no grating and the area 57a.
With two grid regions 57b and 57c having different grid pitches P1 and P2. That is, the belt-shaped region 57a and the lattice region 57b having no lattice
Or two boundary lines 57f and 57g with the lattice area 57c
Are parallel to each other and are arranged so that the directions 57 of the images projected onto the diffraction grating 57 of the information track 7a of the magneto-optical disk 7 coincide with each other at the center 57h of the two boundary lines.
Therefore, in the optical head of FIG. 1, as shown in FIG. 11, the light in the central portion of the incident light beam 107 is incident on the region 57a having no band-shaped grating, and the 0th-order diffracted light on the information track 7a is equal to +1. A substantially semicircle that substantially includes a portion 107a where the second-order diffracted light interferes is incident on one grating region 57b, and a portion 1 where the 0th-order diffracted light and the −1st-order diffracted light at the information track 7a interfere with each other.
A substantially semicircle including almost 07b is incident on the other lattice region 57c. A tracking error signal by the push-pull method can be obtained by detecting the ± first-order diffracted lights from the two grating regions 57b and 57c and comparing the intensities thereof. Further, the focus error signal by the astigmatism method can be detected using the light of the central portion 57a of the diffraction grating and the 0th-order diffracted light of the two grating regions 57b and 57c, that is, the direct transmitted light. Also, as shown in FIG. 11,
The transmittance of the directly transmitted light of the diffraction grating 57 is higher in the inner central area 57a of the diffraction grating 57, and the two grating areas 57 are higher.
b and 57c are low. Therefore, as a result, the intensity of the directly transmitted light in the portions 107a and 107b where the 0th order diffracted light and the ± 1st order diffracted light in the information track 7a interfere with each other is reduced, so that mixing of the track crossing signal into the focus error signal can be reduced.

【0050】以上詳細に説明したように、本発明の光学
ヘッドは、光磁気信号を劣化させること無く、非点収差
法によるフォーカス誤差信号とプッシュプル法によるト
ラッキング誤差信号を1系統の光学系で一括して検出
し、かつ、フォーカス誤差信号へのトラック横断信号の
混入を低減できる。
As described in detail above, the optical head of the present invention uses a single optical system for the focus error signal by the astigmatism method and the tracking error signal by the push-pull method without degrading the magneto-optical signal. It is possible to collectively detect and reduce the mixture of the track crossing signal into the focus error signal.

【0051】[0051]

【発明の効果】本発明によれば、磁気光学的情報記録媒
体に対し情報信号の再生または記録再生を行なう光ヘッ
ドにおいて、光磁気信号を劣化させること無く、非点収
差法によるフォーカス誤差信号とプッシュプル法による
トラッキング誤差信号を1系統の光学系で一括して検出
し、かつトラッキング誤差信号についてはフォーカス誤
差信号と独立に調整を行なうことができ、さらに、フォ
ーカス誤差信号へのトラック横断信号の混入を低減でき
る。
According to the present invention, in an optical head for reproducing or recording / reproducing an information signal on / from a magneto-optical information recording medium, a focus error signal by an astigmatism method can be obtained without degrading the magneto-optical signal. The tracking error signal by the push-pull method can be collectively detected by one optical system, and the tracking error signal can be adjusted independently of the focus error signal. Mixing can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドの構
成を示す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram showing a configuration of an optical head as a first embodiment of the present invention.

【図2】フォ−カス誤差信号へのトラック横断信号の混
入を説明した図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating mixing of a track crossing signal into a focus error signal.

【図3】フォ−カス誤差信号へのトラック横断信号の混
入を説明した図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating mixing of a track crossing signal into a focus error signal.

【図4】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに用
いられるビ−ム整形プリズムを説明した図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a beam shaping prism used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに用
いられる半導体レ−ザ素子の強度検出を説明した図であ
る。
FIG. 5 is a diagram illustrating the intensity detection of the semiconductor laser element used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに用
いられるビ−ムスプリッタの取付け方法を説明した図で
ある。
FIG. 6 is a diagram illustrating a method for mounting a beam splitter used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに用
いられる偏光ビ−ムスプリッタを説明した図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a polarization beam splitter used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図8】偏光ビ−ムスプリッタの取付け方法を説明した
図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a method of mounting the polarization beam splitter.

【図9】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドで用
いられる光磁気信号用光検出器の構成を示した正面図で
ある。
FIG. 9 is a front view showing the configuration of a photodetector for a magneto-optical signal used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドで
用いられる回折格子の構成を示した正面図である。
FIG. 10 is a front view showing the configuration of the diffraction grating used in the optical head as the first embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドで
用いられる回折格子の光利用率を説明した図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating the light utilization rate of the diffraction grating used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドで
用いられるサ−ボ信号用光検出器と演算回路の構成を示
した正面図である。
FIG. 12 is a front view showing the configuration of a servo signal photodetector and an arithmetic circuit used in the optical head according to the first embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに
おける対物レンズ中心と光強度中心の位置調整(ディス
ク接線方向)を説明した図である。
FIG. 13 is a diagram for explaining position adjustment of the center of the objective lens and the center of light intensity (in the disc tangential direction) in the optical head as the first embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第1の実施例としての光学ヘッドに
おける対物レンズ中心と光強度中心の位置調整(ディス
ク半径方向)を説明した図である。
FIG. 14 is a diagram for explaining position adjustment (in the disc radial direction) of the center of the objective lens and the center of the light intensity in the optical head as the first embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第2の実施例としての光学ヘッドの
構成を示す構成図である。
FIG. 15 is a configuration diagram showing a configuration of an optical head as a second embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第2の実施例としての光学ヘッドの
光磁気ディスク上のスポットと偏光方向の関係を示す図
である。
FIG. 16 is a diagram showing a relationship between a spot on a magneto-optical disk and a polarization direction of an optical head according to a second embodiment of the present invention.

【図17】本発明の第3の実施例としての光学ヘッドの
構成を示す構成図である。
FIG. 17 is a configuration diagram showing a configuration of an optical head as a third embodiment of the present invention.

【図18】本発明の光学ヘッドで用いられる回折格子の
別の実施例の構成を示した正面図である。
FIG. 18 is a front view showing the configuration of another embodiment of the diffraction grating used in the optical head of the present invention.

【図19】従来の光学ヘッドの構成を示した構成図であ
る。
FIG. 19 is a configuration diagram showing a configuration of a conventional optical head.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…半導体レ−ザ、3…ビ−ム整形プリズム、4…ビー
ムスプリッタ、6…対物レンズ、21…偏光ビ−ムスプ
リッタ、22…光磁気信号用光検出器、27…回折格
子、29…検出レンズ、40…円筒レンズ、30…サ−
ボ信号用光検出器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor laser, 3 ... Beam shaping prism, 4 ... Beam splitter, 6 ... Objective lens, 21 ... Polarization beam splitter, 22 ... Photodetector for magneto-optical signals, 27 ... Diffraction grating, 29 ... Detection lens, 40 ... Cylindrical lens, 30 ... Ser
BO signal photo detector

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北田 保夫 神奈川県小田原市国府津神津2880番地株式 会社日立製作所ストレージシステム事業部 内 (72)発明者 大西 邦一 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所映像メディア研究所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Yasuo Kitada 2880 Kunizu Jinzu, Odawara, Kanagawa Stock Company Hitachi Storage Systems Division (72) Inventor Kuniichi Onishi 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama, Kanagawa Inside Hitachi Media Media Research Laboratories

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】レーザ光束を発射する半導体レ−ザと、該
半導体レ−ザから発射された発散光を平行光に変換する
コリメ−トレンズと、レ−ザ光束を集光して、光学的情
報記録媒体におけるトラックの形成された記録面上に光
スポットとして照射すると共に、該記録面上で反射され
たレーザ光束を集光する対物レンズと、前記レ−ザ光を
該対物レンズヘ導くと同時に該レ−ザ光の一部を分離
し、かつ前記記録面上からの反射光束を前記半導体レー
ザと前記磁気光学的情報記録媒体とを結ぶ光路より分離
する第1のビ−ムスプリッタと、回折方向または回折角
の異なる複数の領域から成ると共に、前記第1のビーム
スプリッタにより分離された反射光束(もしくは透過光
束)を回折し、回折光として出射する回折格子と、該回
折格子からの回折光を0次回折光も含めて受光する第1
の光検出器と、前記第1のビームスプリッタから前記回
折格子に至る反射光束(もしくは透過光束)または前記
回折格子から前記第1の光検出器に至る回折光に非点収
差を与える非点収差発生手段と、を少なくとも有し、 前記第1の光検出器によって受光された0次回折光よ
り、前記光学的情報記録媒体に照射される光スポットの
スポット径の大きさに応じたフォーカス誤差信号を非点
収差法により検出し、前記第1の光検出器によって受光
された±1次回折光より、前記光学的情報記録媒体に照
射される光スポットの前記トラックからの位置ずれ量に
応じたトラッキング誤差信号により検出し、さらに0次
回折光または±1次回折光より、前記記録面上の情報信
号およびを検出する光学ヘッドにおいて、 前記回折格子は、格子を有していない帯状の領域と、該
領域を挾んで回折方向または回折角がお互いに異なる格
子領域で、かつ格子を有していない帯状の領域と格子領
域との二つの境界線は平行であることを特徴とする光学
ヘッド。
1. A semiconductor laser for emitting a laser beam, a collimating lens for converting divergent light emitted from the semiconductor laser into parallel light, and a laser beam for condensing the laser beam to produce an optical beam. An objective lens that irradiates a recording surface on which a track is formed in an information recording medium as a light spot and focuses a laser beam reflected on the recording surface, and guides the laser light to the objective lens at the same time. A first beam splitter for separating a part of the laser light and for separating a reflected light beam from the recording surface from an optical path connecting the semiconductor laser and the magneto-optical information recording medium; A diffraction grating that is composed of a plurality of regions having different directions or different diffraction angles, diffracts the reflected light beam (or transmitted light beam) separated by the first beam splitter, and emits it as diffracted light, and the diffracted light from the diffraction grating. 0 first for receiving, including order diffracted light
And the astigmatism that gives astigmatism to the reflected light beam (or transmitted light beam) from the first beam splitter to the diffraction grating or the diffracted light from the diffraction grating to the first photodetector. A focus error signal according to the size of the spot diameter of the light spot irradiated on the optical information recording medium, from the 0th-order diffracted light received by the first photodetector. A tracking error according to the amount of positional deviation from the track of the light spot irradiated on the optical information recording medium from the ± first-order diffracted light detected by the astigmatism method and received by the first photodetector. In the optical head for detecting the information signal and the information signal on the recording surface from the 0th order diffracted light or the ± 1st order diffracted light, the diffraction grating does not have a grating. The band-shaped region and a grating region sandwiching the region and having different diffraction directions or angles from each other, and the two boundary lines of the belt-shaped region having no grating and the grating region are parallel to each other. Optical head to do.
【請求項2】レーザ光束を発射する半導体レ−ザと、該
半導体レ−ザから発射された発散光を平行光に変換する
コリメ−トレンズと、レ−ザ光束を集光して、磁気光学
的情報記録媒体におけるトラックの形成された記録面上
に光スポットとして照射すると共に、該記録面上で反射
されたレーザ光束を集光する対物レンズと、前記レ−ザ
光を該対物レンズヘ導くと同時に該レ−ザ光の一部を分
離し、かつ前記記録面上からの反射光束を前記半導体レ
ーザと前記磁気光学的情報記録媒体とを結ぶ光路より分
離する第1のビ−ムスプリッタと、前記記録面上からの
反射光束で前記第1のビームスプリッタにより分離(反
射または透過)されたレーザ光束を反射及び透過して、
反射光束及び透過光束の2つの光束に分離する第2のビ
ームスプリッタと、該第2のビームスプリッタにより分
離された透過光束(もしくは反射光束)を互いに偏光方
向が直交する2つの偏光光束に分離する偏光分離手段
と、該偏光分離手段により分離された2つの偏光光束を
それぞれ受光する第1の光検出器と、回折方向または回
折角の異なる複数の領域から成ると共に、前記第2のビ
ームスプリッタにより分離された反射光束(もしくは透
過光束)を回折し、回折光として出射する回折格子と、
該回折格子からの回折光を0次回折光も含めて受光する
第2の光検出器と、前記第2のビームスプリッタから前
記回折格子に至る反射光束(もしくは透過光束)または
前記回折格子から前記第2の光検出器に至る回折光に非
点収差を与える非点収差発生手段と、を少なくとも有
し、 前記第1の光検出器によって前記記録面上の情報信号を
検出し、前記第2の光検出器によって受光された0次回
折光より、前記磁気光学的情報記録媒体に照射される光
スポットのスポット径の大きさに応じたフォーカス誤差
信号を非点収差法により検出し、前記第2の光検出器に
よって受光された±1次回折光より、前記磁気光学的情
報記録媒体に照射される光スポットの前記トラックから
の位置ずれ量に応じたトラッキング誤差信号を検出する
光学ヘッドにおいて、 前記回折格子は、格子を有していない帯状の領域と、該
領域を挾んで回折方向または回折角がお互いに異なる格
子領域で、かつ格子を有していない帯状の領域と格子領
域との二つの境界線は平行であることを特徴とする光学
ヘッド。
2. A semiconductor laser for emitting a laser beam, a collimating lens for converting divergent light emitted from the semiconductor laser into parallel light, and a laser beam for condensing the laser beam. When an objective lens for irradiating a recording surface on which a track is formed in a physical information recording medium as a light spot and for condensing a laser beam reflected on the recording surface, and for guiding the laser light to the objective lens At the same time, a first beam splitter which separates a part of the laser light and separates a reflected light beam from the recording surface from an optical path connecting the semiconductor laser and the magneto-optical information recording medium, The laser beam separated (reflected or transmitted) by the first beam splitter is reflected and transmitted by the reflected beam from the recording surface,
A second beam splitter that splits a reflected light beam and a transmitted light beam into two light beams, and a transmitted light beam (or a reflected light beam) split by the second beam splitter into two polarized light beams whose polarization directions are orthogonal to each other. The polarization beam splitting means, a first photodetector for receiving the two polarized light beams split by the polarization beam splitting means, a plurality of regions having different diffraction directions or diffraction angles, and the second beam splitter A diffraction grating that diffracts the separated reflected light flux (or transmitted light flux) and emits it as diffracted light,
A second photodetector for receiving the diffracted light from the diffraction grating including the 0th-order diffracted light, and a reflected light beam (or a transmitted light beam) from the second beam splitter to the diffraction grating or the diffraction grating to the first light beam. At least astigmatism generating means for giving astigmatism to the diffracted light reaching the second photodetector, and detecting the information signal on the recording surface by the first photodetector, From the 0th-order diffracted light received by the photodetector, a focus error signal corresponding to the size of the spot diameter of the light spot applied to the magneto-optical information recording medium is detected by the astigmatism method, and the second error is detected. An optical head for detecting a tracking error signal according to the amount of positional deviation of the light spot applied to the magneto-optical information recording medium from the track from the ± 1st-order diffracted light received by the photodetector. The diffraction grating is a band-shaped region having no grating, and a grating region sandwiching the region and having diffraction directions or angles different from each other, and a band-shaped region having no grating and a grating region. An optical head characterized in that the two boundary lines of are parallel.
【請求項3】レーザ光束を発射する半導体レ−ザと、該
半導体レ−ザから発射された発散光を平行光に変換する
コリメ−トレンズと、該レ−ザ光の非等方性を等方性に
変換するビ−ム整形プリズムと、レ−ザ光束を集光し
て、磁気光学的情報記録媒体におけるトラックの形成さ
れた記録面上に光スポットとして照射すると共に、該記
録面上で反射されたレーザ光束を集光する対物レンズ
と、前記ビ−ム整形プリズムを通過したレ−ザ光を該対
物レンズヘ導くと同時に該レ−ザ光の一部を分離し、か
つ前記記録面上からの反射光束を前記半導体レーザと前
記磁気光学的情報記録媒体とを結ぶ光路より分離する第
1のビ−ムスプリッタと、該第1のビ−ムスプリッタに
より分離された前記半導体レ−ザから発射されたレ−ザ
光の一部を検出する第1の光検出器と、前記記録面上か
らの反射光束で前記第1のビームスプリッタにより分離
されたレーザ光束を反射及び透過して、反射光束及び透
過光束の2つの光束に分離する第2のビームスプリッタ
と、該第2のビームスプリッタにより分離された透過光
束(もしくは反射光束)を互いに偏光方向が直交する2
つの偏光光束に分離する偏光分離手段と、該偏光分離手
段により分離された2つの偏光光束をそれぞれ受光する
第2の光検出器と、回折方向または回折角の異なる複数
の領域から成ると共に、前記第2のビームスプリッタに
より分離された反射光束(もしくは透過光束)を回折
し、回折光として出射する回折格子と、該回折格子から
の回折光を0次回折光も含めて受光する第3の光検出器
と、前記第2のビームスプリッタから前記回折格子に至
る反射光束(もしくは透過光束)または前記回折格子か
ら前記第3の光検出器に至る回折光に非点収差を与える
非点収差発生手段と、を少なくとも有し、 前記第2の光検出器によって前記記録面上の情報信号を
検出し、前記第3の光検出器によって受光された0次回
折光より、前記磁気光学的情報記録媒体に照射される光
スポットのスポット径の大きさに応じたフォーカス誤差
信号を非点収差法により検出し、前記第3の光検出器に
よって受光された±1次回折光より、前記磁気光学的情
報記録媒体に照射される光スポットの前記トラックから
の位置ずれ量に応じたトラッキング誤差信号を検出する
光学ヘッドにおいて、 前記回折格子は、格子を有していない帯状の領域と、該
領域を挾んで回折方向または回折角がお互いに異なる格
子で、かつ格子を有していない帯状の領域と格子領域と
の二つの境界線は平行であることを特徴とする光学ヘッ
ド。
3. A semiconductor laser that emits a laser beam, a collimating lens that converts divergent light emitted from the semiconductor laser into parallel light, and anisotropy of the laser light. A beam-shaping prism that converts the light into a direction and a laser beam are condensed and irradiated as a light spot on the recording surface of the magneto-optical information recording medium on which tracks are formed, and on the recording surface. An objective lens for condensing the reflected laser beam and a laser beam that has passed through the beam shaping prism are guided to the objective lens and at the same time a part of the laser beam is separated, and on the recording surface. From a first beam splitter for separating the reflected light beam from the optical path connecting the semiconductor laser and the magneto-optical information recording medium, and the semiconductor laser separated by the first beam splitter. Detecting a part of the emitted laser light And a second beam for reflecting and transmitting the laser light flux separated by the first beam splitter by the reflected light flux from the recording surface and separating it into two light fluxes, a reflected light flux and a transmitted light flux. The splitter and the transmitted light beam (or reflected light beam) separated by the second beam splitter have their polarization directions orthogonal to each other.
And a second photodetector for respectively receiving the two polarized light beams separated by the polarized light separation unit, and a plurality of regions having different diffraction directions or angles. A diffraction grating that diffracts the reflected light beam (or transmitted light beam) separated by the second beam splitter and emits it as diffracted light, and third light detection that receives the diffracted light from this diffraction grating including the 0th-order diffracted light. And an astigmatism generating means for giving astigmatism to the reflected light beam (or transmitted light beam) from the second beam splitter to the diffraction grating or the diffracted light from the diffraction grating to the third photodetector. At least, the information signal on the recording surface is detected by the second photodetector, and the magneto-optical information recording is performed from the 0th-order diffracted light received by the third photodetector. A focus error signal corresponding to the size of the spot diameter of the light spot irradiated on the recording medium is detected by the astigmatism method, and the ± 1st-order diffracted light received by the third photodetector is used to detect the magneto-optical signal. In an optical head for detecting a tracking error signal according to a positional deviation amount of a light spot irradiated on an information recording medium from the track, the diffraction grating includes a belt-shaped area having no grating, and the area. Therefore, the optical head is characterized in that the gratings have different diffraction directions or diffraction angles from each other, and two boundary lines of the band-shaped area having no grating and the grating area are parallel to each other.
【請求項4】前記ビ−ム整形プリズムを、該ビ−ム整形
プリズムに入射、または出射する光束が各入射面、およ
び出射面において屈折し、かつ該ビ−ム整形プリズムに
入射する光束の光軸と出射する光束の光軸が平行、また
は垂直であるように構成したことを特徴とする請求項3
に記載の光学ヘッド。
4. A beam of light that enters or exits the beam shaping prism is refracted at each of the incident surface and the exit surface and is incident on the beam shaping prism. 4. The optical axis and the optical axis of the emitted light beam are configured to be parallel or perpendicular to each other.
The optical head described in 1.
【請求項5】前記偏光分離手段と該偏光分離手段で偏光
分離された光束を検出する前記第1または第2の光検出
器を、同一の取付け部材に設け、該取付け部材を光学シ
ャ−シに取付けて固定することを特徴とする請求項2か
ら請求項4に記載の光学ヘッド。
5. The polarization separating means and the first or second photodetector for detecting the light beams polarized and separated by the polarization separating means are provided on the same mounting member, and the mounting member is an optical chassis. The optical head according to any one of claims 2 to 4, wherein the optical head is attached to and fixed to.
【請求項6】前記第1および第2のビームスプリッタ
は、該ビームスプリッタの外形は光が入射、または出射
する入射面、または出射面が平行、または垂直な立方体
であり、かつ該ビームスプリッタを入射光軸、または入
射光軸に垂直な軸まわりに回転させたことを特徴とする
請求項1から請求項5に記載の光学ヘッド。
6. The first and second beam splitters have a cubic shape in which the outer shape of the beam splitter is an incident surface on which light enters or exits, or an outgoing surface is parallel or vertical, and The optical head according to claim 1, wherein the optical head is rotated around an incident optical axis or an axis perpendicular to the incident optical axis.
【請求項7】レーザ光束を発射する半導体レ−ザと、該
半導体レ−ザから発射された発散光を平行光に変換する
コリメ−トレンズと、光路を偏向する反射ミラ−と、レ
−ザ光束を集光して、光学的情報記録媒体におけるトラ
ックの形成された記録面上に光スポットとして照射する
と共に、該記録面上で反射されたレーザ光束を集光する
対物レンズと、前記レ−ザ光を該対物レンズヘ導くと同
時に該レ−ザ光の一部を分離し、かつ前記記録面上から
の反射光束を前記半導体レーザと前記光学的情報記録媒
体とを結ぶ光路より分離する第1のビ−ムスプリッタ
と、光学的情報記録媒体からの反射光を検出する光検出
器とを少なくとも有し、前記対物レンズと該対物レンズ
を少なくともフォ−カスに駆動するアクチュエ−タと反
射ミラ−のみ少なくとも同一キャリッジに搭載し、光学
的情報記録媒体におけるアクセス方向に可動する光学ヘ
ッドにおいて、 前記反射ミラ−は前記キャリッジに取り付け、前記対物
レンズと該対物レンズを搭載した前記アクチュエ−タは
部材に取付け、該部材を前記キャリッジに取付けること
により固定することを特徴とする請求項1から請求項6
に記載の光学ヘッド。
7. A semiconductor laser for emitting a laser beam, a collimating lens for converting divergent light emitted from the semiconductor laser into parallel light, a reflection mirror for deflecting an optical path, and a laser. An objective lens which collects a light beam and irradiates it as a light spot on a recording surface on which a track is formed in an optical information recording medium, and collects a laser light beam reflected on the recording surface; First, the laser light is guided to the objective lens, and at the same time, a part of the laser light is separated, and the reflected light flux from the recording surface is separated from an optical path connecting the semiconductor laser and the optical information recording medium. Beam splitter and a photodetector for detecting reflected light from the optical information recording medium, and the objective lens, an actuator for driving the objective lens to at least the focus, and a reflection mirror. Only less An optical head mounted on the same carriage and movable in the access direction of the optical information recording medium, the reflection mirror is mounted on the carriage, and the objective lens and the actuator mounting the objective lens are mounted on a member. 7. The member is fixed by being attached to the carriage.
The optical head described in 1.
【請求項8】光学的情報記録媒体と、該光学的情報記録
媒体を回転する回転系と、該光学的情報記録媒体の記録
面上の情報信号を再生または記録する光学ヘッドと、光
学ヘッドを該光学的情報記録媒体のアクセス方向に可動
するアクセス系と、装置全体を制御するシステム制御回
路を少なくとも有する光学的情報装置において、 前記光学ヘッドを、請求項1から請求項7に記載の光学
ヘッドとしたことを特徴とする光学的情報装置。
8. An optical information recording medium, a rotating system for rotating the optical information recording medium, an optical head for reproducing or recording an information signal on a recording surface of the optical information recording medium, and an optical head. An optical information device comprising at least an access system movable in an access direction of the optical information recording medium and a system control circuit for controlling the entire device, wherein the optical head is the optical head according to any one of claims 1 to 7. An optical information device characterized in that
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EP1028418A1 (en) * 1999-02-12 2000-08-16 Pioneer Corporation Light guide path element and optical pickup
KR100313247B1 (en) * 1999-12-13 2001-11-07 구자홍 Apparatus for Detecting Focus Error Using Astigmatism And Method Thereof
US6934228B2 (en) 1998-02-16 2005-08-23 Hitachi, Ltd. Optical head

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