JPH0963111A - Optical pickup device - Google Patents

Optical pickup device

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Publication number
JPH0963111A
JPH0963111A JP7237810A JP23781095A JPH0963111A JP H0963111 A JPH0963111 A JP H0963111A JP 7237810 A JP7237810 A JP 7237810A JP 23781095 A JP23781095 A JP 23781095A JP H0963111 A JPH0963111 A JP H0963111A
Authority
JP
Japan
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light
hologram element
light source
pickup device
optical pickup
Prior art date
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Pending
Application number
JP7237810A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisahiro Ishihara
久寛 石原
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Nidec Instruments Corp
Original Assignee
Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd filed Critical Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
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Publication of JPH0963111A publication Critical patent/JPH0963111A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily and finely adjust a forward transmitting light power monitor of a semiconductor laser and positional relation between a package case and a hologram element by forming a reflection part for monitoring on the hologram element. SOLUTION: A grating lens pattern is formed in a monitoring reflection part 3 formed on the surface 2a on the side of a light source of a transmission hologram element 2, the reflection part 3 reflects a part of the transmitted light of a semiconductor laser 1 and the reflected diffraction light is converged on a monitoring light receiving part formed on a light receiving substrate 4. Thus, in the assembling process of an optical pickup device, at the time of fixing the element 2 to a package 7 on which the laser 1 and the element 4 are mounted, the transmitted light from the laser 1 is reflected with the reflection part 3, the reflected light is received by the monitoring light receiving part formed on the substrate 4 and the mounting position of the element 2 is finely adjusted while monitoring a photoelectric current. The photoelectric current is utilized as a power monitor of the transmitted light of the laser 1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、コンパクトディス
クや相変化書き換え型ディスクなどの光ディスクから情
報を読みとるための光ピックアップ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup device for reading information from an optical disc such as a compact disc or a phase change rewritable disc.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスクから情報を読みとるための光
ピックアップ装置としては、従来よりコンパクトディス
クからの情報を読みとる光ピックアップ装置が知られて
いる。コンパクトディスクの記録情報は、ディスク面に
設けられたトラックに沿って並んだピット列として蓄積
されている。半導体レーザ光源からの光が対物レンズに
よって集光され、この対物レンズにて集光されたコヒー
レント光が、ディスク面に設けられた情報トラック上の
ピット列に照射されると、集光されたコヒーレント光の
スポット位置がピットのエッジ部分にかかった場合は、
エッジ平坦面からの反射光と凹部からの照射光との干渉
効果によりピット外の平らな場所で反射した場合に比べ
て反射光の光量が減少する。光ピックアップ装置では、
このピット列に対応した反射光量の減少を受光素子によ
り検出し、この検出信号を電気パルス信号に変換して出
力し情報の読み取りを行うようになっている。
2. Description of the Related Art As an optical pickup device for reading information from an optical disc, an optical pickup device for reading information from a compact disc has been conventionally known. The record information of the compact disc is stored as a pit row arranged along the track provided on the disc surface. The light from the semiconductor laser light source is condensed by the objective lens, and when the coherent light condensed by this objective lens is applied to the pit row on the information track provided on the disk surface, the condensed coherent light If the spot of light hits the edge of the pit,
Due to the interference effect of the light reflected from the edge flat surface and the light irradiated from the concave portion, the amount of reflected light is reduced as compared with the case where the light is reflected at a flat place outside the pit. In the optical pickup device,
A decrease in the amount of reflected light corresponding to this pit row is detected by a light receiving element, and this detection signal is converted into an electric pulse signal and output to read the information.

【0003】ところで、実際の光ディスクにおいては、
ディスク表面にそりや歪みがあり、また光ディスクの支
持・回転駆動を行う回転軸の傾きなども考慮すると、正
確な情報読みとりのためには光ピックアップ装置の対物
レンズとディスク表面との位置関係を常に適切に保つよ
うに制御しなければならない。即ち、照射光がトラック
上のピット列からそれないためのトラッキング方向の位
置制御と、上記照射光の焦点位置を常にディスクのピッ
トが形成された情報面に一致させるためのフォーカシン
グ制御である。このような制御を行なうためのトラッキ
ングずれ信号及びフォーカシングずれ信号を検出するた
めの光学系機能を1枚のホログラム素子に集積させ、部
品点数の削減及び装置の小型化を図る取り組みが盛んに
なされている。
By the way, in an actual optical disc,
Considering the warp and distortion on the disc surface, and the inclination of the rotation axis that supports and rotates the optical disc, the positional relationship between the objective lens of the optical pickup device and the disc surface must always be maintained for accurate information reading. You have to control to keep it right. That is, there are position control in the tracking direction so that the irradiation light does not deviate from the pit train on the track, and focusing control for always matching the focal position of the irradiation light with the information surface on which the pits of the disk are formed. Many efforts have been made to reduce the number of parts and downsize the device by integrating the optical system function for detecting the tracking shift signal and the focusing shift signal for performing such control in one hologram element. There is.

【0004】このような従来技術の一例を図4に示す。
図4において、光源である半導体レーザ11を出射した
光束は、透過型ホログラム素子12の光源側の面12a
に形成された回折格子(図示せず)により0次光及び±
1次光の3つの光束に分波され、このうちの0次光がい
わゆるメインビームとして記録情報の読み取りに用いら
れ、±1次光の2光束は公知のいわゆる3ビ−ム法によ
るトラッキングエラー検出のためのサイドビームとして
用いられる。
An example of such a conventional technique is shown in FIG.
In FIG. 4, the light flux emitted from the semiconductor laser 11 which is the light source is the light source side surface 12 a of the transmission hologram element 12.
The diffraction grating (not shown) formed on the
The primary light is split into three light beams, of which the zero-order light is used as a so-called main beam for reading recorded information, and the ± first-order light beams are tracking errors by the known so-called 3-beam method. Used as a side beam for detection.

【0005】対物レンズ14を経た3本の出射光束は光
デイスク15上に各々焦点を結び、その反射光が再び対
物レンズ14を経て透過型ホログラム素子12に戻るこ
とになる。ここでは対物レンズ側の面12bに形成され
たホログラムパターン(図示せず)が上記反射光の3光
束を回折させ、各々の光束の1次回折光が受光素子13
に形成した対応する受光領域に受光されるように偏向さ
れる。このうち上記2つのサイドビームの反射光に対応
する信号間の差分を取ることで公知のトラッキングエラ
ー検出を行ない、メインビーム反射光を多分割フォトダ
イオードを用いて受光することにより、公知のフーコー
法やスポットサイズ法などによってフォーカシングエラ
ー検出及びRF情報信号の検出を行なう。
The three light beams emitted from the objective lens 14 are focused on the optical disk 15, and the reflected light returns to the transmission hologram element 12 via the objective lens 14 again. Here, a hologram pattern (not shown) formed on the surface 12b on the objective lens side diffracts the three light beams of the reflected light, and the first-order diffracted light of each light beam is received by the light receiving element 13.
The light is deflected so that it is received by the corresponding light receiving region formed in the above. Among these, a known tracking error detection is performed by taking a difference between the signals corresponding to the reflected light of the two side beams, and the known Foucault method is performed by receiving the reflected light of the main beam using a multi-segment photodiode. Focusing error detection and RF information signal detection are performed by the spot size method or the like.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、対物レ
ンズ側の面12bに形成されたホログラムパターンがデ
ィスクにより反射された3つの光束を回折させ、各々の
光束の回折光が受光素子13内の対応する受光領域に結
合するよう偏向される光ピックアップ装置においては、
反射光が正確に受光素子13内の対応する受光領域に結
合するよう、組立工程にてパッケージケース16に正確
に位置関係を微調整してホログラム素子12を固定をす
る必要がある。
As described above, the hologram pattern formed on the surface 12b on the objective lens side diffracts the three light beams reflected by the disk, and the diffracted light of each light beam is received in the light receiving element 13. In the optical pickup device which is deflected so as to be coupled to the corresponding light receiving area of
In order to accurately couple the reflected light to the corresponding light receiving region in the light receiving element 13, it is necessary to fix the hologram element 12 by finely adjusting the positional relationship with the package case 16 in the assembly process.

【0007】しかしながら、上記のような微調整を行う
ためには、ホログラム素子12を経たレーザ光をレンズ
手段で集光し、その焦点位置に設置したミラーなどの反
射手段により折り返し、この反射光が、ホログラム素子
12に形成したホログラムパターンにより所定の受光位
置に結合されているかを検出しなければならず、組立調
整が非常に複雑なものとなっていた。
However, in order to carry out the fine adjustment as described above, the laser light passing through the hologram element 12 is condensed by the lens means and is reflected by the reflecting means such as a mirror installed at the focal position, and the reflected light is reflected. It is necessary to detect whether or not the hologram element 12 is coupled to a predetermined light receiving position by the hologram pattern formed on the hologram element 12, which makes the assembly and adjustment extremely complicated.

【0008】また、図4に示す光ピックアップ装置にお
いては、実際にディスクからの情報読み取りを行う実使
用動作時に、半導体レーザから出射されるレーザ光のパ
ワーをモニターすることができず、検出するためにはそ
の他の光学系を必要とするという問題もあった。
Further, in the optical pickup device shown in FIG. 4, the power of the laser light emitted from the semiconductor laser cannot be monitored and detected during the actual use operation for actually reading information from the disk. Also had the problem of requiring other optical systems.

【0009】本発明は、上記実情に対し、ホログラム素
子にモニター用反射部を形成することにより、従来必要
としていた集光用のレンズ手段やミラーなどの反射手段
を用いなくても、半導体レーザの前方出射光パワーモニ
ターや、パッケージケースとホログラム素子との位置関
係を容易且つ微細に調整できる光ピックアップ装置を提
供することを目的とするものである。
In view of the above situation, the present invention provides a semiconductor laser of a semiconductor laser by forming a reflecting portion for monitoring on a hologram element without using a reflecting means such as a condensing lens means or a mirror which is conventionally required. It is an object of the present invention to provide a front emission light power monitor and an optical pickup device capable of easily and finely adjusting the positional relationship between a package case and a hologram element.

【0010】[0010]

【問題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、請求項1記載の光ピックアップ装置では、透過型ホ
ログラム素子の一方側の面の一部領域にモニター用反射
部を形成し、光源から出射した出射光の一部を上記モニ
ター用反射部により反射させ、受光素子に形成したモニ
ター用受光部で受光するように構成している。また、請
求項2記載の発明では、上記モニター用反射部は、上記
透過型ホログラム素子の上記光源側の面に形成してあ
り、請求項3記載の発明では、前記モニター用反射部は
金属膜で構成した反射型ホログラムパターンとしてあ
る。
In order to solve such a problem, in the optical pickup device according to claim 1, a reflective portion for monitoring is formed in a partial region of one surface of the transmissive hologram element, and a monitor light source is provided. A part of the emitted light that is emitted is reflected by the monitor reflection portion and is received by the monitor light receiving portion formed in the light receiving element. Further, in the invention of claim 2, the monitor reflection portion is formed on a surface of the transmission hologram element on the light source side, and in the invention of claim 3, the monitor reflection portion is a metal film. It is as a reflection type hologram pattern constituted by.

【0011】請求項4記載の発明では、光源及び受光素
子はパッケージ内に収められ、透過型ホログラム素子
は、上記パッケージに位置調整可能に取り付けられるも
のであり、また、請求項5記載の発明では、上記透過型
ホログラム素子の上記光源側の面には、上記光源からの
出射光束を3つの光束に分波する回折格子が形成されて
いると共に、上記透過型ホログラム素子の上記光源とは
逆側の面には、光記録媒体からの戻り光である上記3つ
の光束を上記受光素子のそれぞれ対応した受光面に入射
させるホログラムパターンを形成してある。
According to a fourth aspect of the invention, the light source and the light receiving element are housed in a package, and the transmissive hologram element is attached to the package in a positionally adjustable manner. Further, in the fifth aspect of the invention. A diffraction grating that splits a light beam emitted from the light source into three light beams is formed on a surface of the transmissive hologram element on the light source side, and a side opposite to the light source of the transmissive hologram element is formed. A hologram pattern is formed on the surface of (1) to allow the three light beams, which are the return light from the optical recording medium, to enter the corresponding light receiving surfaces of the light receiving element.

【0012】上記のように構成された光ピックアップ装
置では、光源から出射される光を透過させるホログラム
素子の一方側の面にモニター用反射部を形成し、上記光
源から出射したレーザ光の一部を上記モニター用反射部
により反射させ、受光素子に形成したモニター用受光部
で受光するように構成し、このモニター用受光部からの
出力を上記ホログラム素子の位置調整や実使用動作時の
半導体レーザのパワーモニターとして用いる。
In the optical pickup device configured as described above, a monitor reflection portion is formed on one surface of the hologram element that transmits the light emitted from the light source, and a part of the laser light emitted from the light source is formed. Is configured to be reflected by the monitor reflection section and received by the monitor light receiving section formed on the light receiving element, and the output from the monitor light receiving section is used for position adjustment of the hologram element and semiconductor laser during actual operation. Used as a power monitor.

【0013】上記モニター用反射部は、透過型ホログラ
ム素子の半導体レーザ光源側の面に形成することができ
る。また、上記モニター用反射部の他に、透過型ホログ
ラム素子の半導体レーザ光源側の面には半導体レーザ光
源からの出射光束を3つの光束に分波する回折格子を形
成すると共に、上記透過型ホログラム素子の上記半導体
レーザ光源とは逆側の面にはディスクにより反射された
上記3つの光束をそれぞれ対応した受光面に入射させる
ホログラムパターンを形成しておくことができる。
The monitor reflection portion can be formed on the surface of the transmission hologram element on the semiconductor laser light source side. In addition to the monitor reflection portion, a diffraction grating that splits the light beam emitted from the semiconductor laser light source into three light beams is formed on the surface of the transmission hologram element on the semiconductor laser light source side, and the transmission hologram is used. A hologram pattern may be formed on the surface of the element opposite to the semiconductor laser light source so that the three light beams reflected by the disk are incident on the corresponding light receiving surfaces.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】次に、本発明の光ピックアップ装
置の実施の形態を図1から図3に基づいて説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, an embodiment of an optical pickup device of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0015】[0015]

【実施例】図1は、本発明の光ピックアップ装置の基本
構成を示す一部側断面図である。ここで説明する光ピッ
クアップ装置は、通常のように、ディスク半径方向に移
動する移動装置に取付けられ、また、ディスクと対向す
る対物レンズはフォーカシング方向及びトラッキング方
向の移動ができるように保持されているが、これらの機
構については公知の技術であり、本発明の要旨でもない
ので、その詳細な説明については省略する。
1 is a partial side sectional view showing the basic structure of an optical pickup device of the present invention. The optical pickup device described here is usually attached to a moving device that moves in the radial direction of the disc, and the objective lens facing the disc is held so that it can move in the focusing direction and the tracking direction. However, since these mechanisms are known techniques and are not the gist of the present invention, detailed description thereof will be omitted.

【0016】図1において、1は半導体レーザ光源、2
は半導体レーザ光源1からのレーザ光が照射される透過
型ホログラム素子、3は透過型ホログラム素子2の光源
側の面2aの中央一部領域に金属膜蒸着により形成した
モニター用反射部であり、反射型ホログラムパターンが
形成されている。4は半導体レーザ光源1を取り付ける
と共に後述する受光部が形成されたシリコン基板等から
なる受光基板、5は光ディスクの半径方向に移動可能に
設けられる図示しないフレームにフォーカシング方向及
びトラッキング方向に移動可能に配設された対物レン
ズ、6は対物レンズ5からの光が集光される光ディス
ク、7は内部に半導体レーザ光源1、受光基板4を収納
し上部にホログラム素子2が取り付けられるパッケージ
である。このパッケージ7は上記フレームに固定され、
このフレームが上記ディスク半径方向に移動する移動装
置に取付けられるものである。尚、8は半導体レーザ光
源1と一体のヒートシンクである。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a semiconductor laser light source, 2
Is a transmissive hologram element irradiated with laser light from the semiconductor laser light source 1, 3 is a monitor reflection portion formed by metal film vapor deposition in a central partial region of the light source side surface 2a of the transmissive hologram element 2, A reflective hologram pattern is formed. Reference numeral 4 denotes a light-receiving substrate made of a silicon substrate or the like on which the semiconductor laser light source 1 is attached and a light-receiving portion to be described later is formed. An objective lens provided, 6 is an optical disk on which the light from the objective lens 5 is condensed, and 7 is a package in which the semiconductor laser light source 1 and the light receiving substrate 4 are housed and the hologram element 2 is mounted on the upper part. This package 7 is fixed to the frame,
This frame is attached to the moving device that moves in the disk radial direction. A heat sink 8 is integrated with the semiconductor laser light source 1.

【0017】透過型ホログラム素子2の光源側の面2a
には、公知の3ビーム法によるトラッキングエラー信号
検出のための回折格子パターン20が図2(a)に示す
ように形成されており、半導体レーザ光源1からのレー
ザ光は、回折格子パターン20により0次光及び±1次
光の3つの光束に分波される。更に、ホログラム素子2
の光源側の面2aの中央一部領域には、金属膜蒸着によ
り形成した反射型ホログラムパターン(回折格子パター
ン)が設けられ、この反射型ホログラムパターンがモニ
ター用反射部3を構成している。
The light source side surface 2a of the transmissive hologram element 2
2A, a diffraction grating pattern 20 for detecting a tracking error signal by a known three-beam method is formed as shown in FIG. 2A. Laser light from the semiconductor laser light source 1 is formed by the diffraction grating pattern 20. It is demultiplexed into three light fluxes of 0th order light and ± 1st order light. Further, the hologram element 2
A reflective hologram pattern (diffraction grating pattern) formed by vapor deposition of a metal film is provided in a central partial area of the surface 2a on the light source side, and this reflective hologram pattern constitutes the monitor reflection portion 3.

【0018】また、透過型ホログラム素子2の対物レン
ズ側の面2bには、公知のフーコー法によるフォーカシ
ングエラー信号検出のために、図2(b)に示すように
各々ピッチの異なる回折格子パターン21、22を有す
る2分割領域からなるホログラムパターンが形成されて
いる。この回折格子パターン21、22は、ディスクに
より反射された上記3つの光束を回折させ、各々の光束
の回折光が受光基板4に形成した対応する受光領域に結
合するよう偏向させるものである。
On the surface 2b of the transmission hologram element 2 on the objective lens side, a diffraction grating pattern 21 having different pitches, as shown in FIG. 2B, for detecting a focusing error signal by the known Foucault method. , 22 is formed into a hologram pattern. The diffraction grating patterns 21 and 22 are for diffracting the three light beams reflected by the disk and deflecting the diffracted light of each light beam to be coupled to the corresponding light receiving region formed on the light receiving substrate 4.

【0019】半導体レーザ光源1を取り付けたシリコン
基板等からなる受光基板4には、図3(a)に示すよう
に、ホログラム素子2に形成したモニター用反射部3か
らの反射光を受光するモニター用受光部4aが設けら
れ、また、公知のフーコー法による検出のため、図3
(b)に示すように、2つの2分割受光部4c、4fが
設けられている。これら2つの受光部4c,4fは、メ
インビームである0次光が光ディスク6により反射され
た反射光を受光するものであり、透過型ホログラム素子
2の対物レンズ側の面2bに形成された回折格子パター
ン21、22によって分波・偏向された光を受光してそ
の検出結果を出力し、この検出出力から公知のフーコー
法検出手法によってエラー信号及びRF情報信号の検出
を行なう。更に、受光部4b,4d,4e,4gは、サ
ブビームである±1次光の光ディスク6からの反射光を
受光するものであり、透過型ホログラム素子2の対物レ
ンズ側の面2bに形成された回折格子パターン21、2
2によって分波・偏向された光を受光してその検出結果
を出力し、この検出結果から公知の3ビーム法トラッキ
ングエラー信号が得られる。
As shown in FIG. 3A, the light receiving substrate 4 made of a silicon substrate or the like on which the semiconductor laser light source 1 is mounted has a monitor for receiving the reflected light from the monitor reflecting portion 3 formed on the hologram element 2. 3 is provided with a light receiving portion 4a for use and the detection is performed by the known Foucault method.
As shown in (b), two two-divided light receiving sections 4c and 4f are provided. These two light receiving portions 4c and 4f receive the reflected light in which the 0th order light which is the main beam is reflected by the optical disk 6, and are diffracted on the surface 2b of the transmission hologram element 2 on the objective lens side. The light demultiplexed and deflected by the grating patterns 21 and 22 is received, the detection result is output, and the error signal and the RF information signal are detected from this detection output by the known Foucault method detection method. Further, the light receiving portions 4b, 4d, 4e and 4g receive the reflected light from the optical disc 6 of the ± 1st order light which is a sub beam, and are formed on the surface 2b of the transmission hologram element 2 on the objective lens side. Diffraction grating patterns 21, 2
The light demultiplexed and deflected by 2 is received, the detection result is output, and a known 3-beam method tracking error signal is obtained from this detection result.

【0020】ところで透過型ホログラム素子2の光源側
の面2aにより形成したモニター用反射部3には、図2
(a)に示すように、集光作用を有するように格子レン
ズパターンが形成されており、従ってこのモニター用反
射部3は、図3(a)に示すように、半導体レーザ1の
出射光の一部を反射させ、この反射回折光が受光基板4
に形成したモニター用受光部4aに集光される。このた
め光ピックアップ装置の組立工程において、半導体レー
ザ1及び受光素子4が実装されたパッケージ7へのホロ
グラム素子2の固定時には、半導体レーザ1からの出射
光をモニター用反射部3により反射させ、その反射光を
受光基板4に形成したモニター用受光部4aで受光して
その光電流をモニターしつつホログラム素子2の取り付
け位置の微調整を行ない、光電流値が極大となる位置で
接着などによりパッケージ7へホログラム素子2を固定
する。
By the way, the monitor reflection portion 3 formed by the surface 2a on the light source side of the transmissive hologram element 2 has a structure shown in FIG.
As shown in FIG. 3A, a grating lens pattern is formed so as to have a condensing function. Therefore, the monitor reflection portion 3 is provided with the light emitted from the semiconductor laser 1 as shown in FIG. A part of the light is reflected and the reflected diffracted light is received by the light receiving substrate 4.
The light is focused on the monitor light receiving portion 4a formed in the above. Therefore, in the process of assembling the optical pickup device, when the hologram element 2 is fixed to the package 7 in which the semiconductor laser 1 and the light receiving element 4 are mounted, the emitted light from the semiconductor laser 1 is reflected by the monitor reflection portion 3 and The reflected light is received by the monitor light-receiving portion 4a formed on the light-receiving substrate 4, the photocurrent is monitored, and the mounting position of the hologram element 2 is finely adjusted. At the position where the photocurrent value is maximum, the package is formed by bonding or the like. The hologram element 2 is fixed to 7.

【0021】次に、通常の動作状態では、半導体レーザ
1を出射した光束は、透過型ホログラム素子2の光源側
の面2aに形成された回折格子20により、0次光及び
±1次光の3つの光束に分波され、このうちの0次光が
記録情報の読み取りに用いられ、±1次光の2光束は公
知のいわゆる3ビ−ム法によるトラッキングエラー検出
のためのサイドビームとして機能するが、本実施例にお
いては、透過型ホログラム素子2の光源側の面2aにモ
ニター用反射部3が形成されているから、このモニター
用反射部3からの反射光を、受光基板4に形成したモニ
ター用受光部4aによって受光し、その受光した結果生
ずる光電流を半導体レーザ1の出射光のパワーモニター
として利用することができる。
Next, in a normal operation state, the light beam emitted from the semiconductor laser 1 is converted into 0th order light and ± 1st order light by the diffraction grating 20 formed on the light source side surface 2a of the transmission hologram element 2. It is split into three light beams, of which the 0th order light beam is used for reading recorded information, and the 2nd light beams of ± 1st order light beams function as side beams for tracking error detection by the known so-called 3 beam method. However, in the present embodiment, since the monitor reflection portion 3 is formed on the light source side surface 2a of the transmissive hologram element 2, the reflected light from the monitor reflection portion 3 is formed on the light receiving substrate 4. The monitor light-receiving unit 4a receives the light, and the photocurrent generated as a result of the light-receiving can be used as a power monitor of the emitted light of the semiconductor laser 1.

【0022】尚、対物レンズ5を経た0次光及び±1次
光の3本の出射光束は、通常のように光デイスク6上に
各々焦点を結び、その反射光が再び対物レンズ5を経て
透過型ホログラム素子2に戻ることになる。透過型ホロ
グラム素子2の対物レンズ側の面2bには、既に説明し
たように、回折格子パターン21、22が形成されてい
るから、この回折格子パターン21、22によってそれ
ぞれ上記3光束の反射光は回折させられ、各々の光束の
1次回折光が受光基板4に形成した6カ所の受光部4
b,4c、4d、4e,4f,4gにより受光される。
The three outgoing luminous fluxes of the 0th order light and the ± 1st order light that have passed through the objective lens 5 are focused on the optical disk 6 as usual, and the reflected light passes through the objective lens 5 again. It returns to the transmission hologram element 2. Since the diffraction grating patterns 21 and 22 are formed on the surface 2b of the transmission hologram element 2 on the objective lens side, as described above, the diffraction lights of the above three light fluxes are reflected by the diffraction grating patterns 21 and 22, respectively. Six light receiving portions 4 formed on the light receiving substrate 4 by being diffracted and first-order diffracted light of each light beam.
Light is received by b, 4c, 4d, 4e, 4f and 4g.

【0023】本発明は、上述の実施例で説明した3ビー
ム法トラッキングエラー検出及びフーコー法フォーカシ
ングエラー検出のためのホログラム素子に限定されるも
のではなく、例えば公知のプッシュプル法トラッキング
エラー検出、非点収差法やスポットサイズ法などのフォ
ーカシングエラー検出を実現するためのホログラム素子
であっても適用することができる。それらの際には、透
過型ホログラム素子2に形成するホログラムパターンと
それに応じた受光部のパターン形状をそれぞれの方式に
合わせ変更すればよい。
The present invention is not limited to the hologram element for the three-beam method tracking error detection and the Foucault method focusing error detection described in the above-mentioned embodiments. For example, the known push-pull method tracking error detection, The hologram element for realizing focusing error detection such as the point aberration method or the spot size method can also be applied. In that case, the hologram pattern formed on the transmissive hologram element 2 and the pattern shape of the light receiving portion corresponding thereto may be changed according to each method.

【0024】ちなみに、プッシュプル法トラッキングエ
ラー検出を採用した場合には3ビーム形成用の回折格子
2aが不要となるので、透過型ホログラム素子2に設け
る回折格子のパターンはホログラム素子2の一方の面に
のみ形成すればよい。この場合、受光部への集光用ホロ
グラムパターンとモニター用反射型ホログラムパターン
とは、ホログラム素子2の一方側の同一面に形成して
も、対向する面に各々形成しても良い。
By the way, when the push-pull method tracking error detection is adopted, the diffraction grating 2a for forming the three beams becomes unnecessary, so that the diffraction grating pattern provided in the transmission hologram element 2 has one surface of the hologram element 2. It is sufficient to form only on. In this case, the hologram pattern for focusing on the light receiving portion and the reflective hologram pattern for monitoring may be formed on the same surface on one side of the hologram element 2 or may be formed on opposite surfaces thereof.

【0025】また、前述の実施例では、ホログラム素子
2の光源側にモニター用反射型ホログラム素子部3を形
成したが、ホログラム素子2の対物レンズ側の面2bに
形成してもよい。また、上記のモニター用反射型ホログ
ラム素子部3は、金属膜蒸着により形成したが、誘電体
多層膜などで形成することもできる。
In the above-described embodiment, the reflective hologram element part 3 for monitoring is formed on the light source side of the hologram element 2, but it may be formed on the surface 2b of the hologram element 2 on the objective lens side. Moreover, although the reflective hologram element unit 3 for monitoring is formed by vapor deposition of a metal film, it may be formed of a dielectric multilayer film or the like.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光源から出射される光を透過させるホログラム素子の一
方側の面にモニター用反射部を形成し、上記光源から出
射したレーザ光の一部を上記モニター用反射部により反
射させ、この反射光を受光素子に形成したモニター用受
光部で受光するように構成したから、このモニター用受
光部からの出力を用いることにより、上記ホログラム素
子の位置を調整した後にそのホログラム素子をパッケー
ジケースに固定することができ、また、実使用動作時に
半導体レーザのパワーモニターとして用いることができ
る。
As described above, according to the present invention,
A reflection part for monitoring is formed on one surface of the hologram element that transmits the light emitted from the light source, a part of the laser light emitted from the light source is reflected by the reflection part for monitoring, and the reflected light is received. Since the monitor light-receiving section formed on the element is configured to receive light, the output from this monitor light-receiving section can be used to fix the hologram element to the package case after adjusting its position. In addition, it can be used as a power monitor of a semiconductor laser during an actual use operation.

【0027】また、上記モニター用反射部は、透過型ホ
ログラム素子の半導体レーザ光源側の面に形成している
ので、半導体レーザ光源からの光をダイレクトにモニタ
ーすることができ、正確なモニターをすることができ
る。
Further, since the monitoring reflection portion is formed on the semiconductor laser light source side surface of the transmissive hologram element, the light from the semiconductor laser light source can be directly monitored, and accurate monitoring is performed. be able to.

【0028】更に、上記半導体レーザ光源及び受光素子
はパッケージ内に収められ、上記透過型ホログラム素子
は上記パッケージに位置調整可能に取り付けるように構
成してあるので、上記モニター用反射部からの反射光を
モニターし、適切な位置に透過型ホログラム素子を調整
して取り付けることが、パッケージ内に収められたレー
ザ光源及び受光素子等と透過型ホログラム素子のみの部
品状態で可能となる。
Further, since the semiconductor laser light source and the light receiving element are housed in a package, and the transmission type hologram element is attached to the package in a positionally adjustable manner, the reflected light from the monitor reflection portion is reflected. It is possible to monitor and monitor and adjust the transmissive hologram element to be mounted at an appropriate position with the laser light source, the light receiving element and the like housed in the package and only the transmissive hologram element.

【0029】更に、透過型ホログラム素子の半導体レー
ザ光源側の面には上記半導体レーザ光源からの出射光束
を3つの光束に分波する回折格子が形成されていると共
に、上記透過型ホログラム素子の上記半導体レーザ光源
とは逆側の面には光ディスクからの反射光である上記3
つの光束を受光素子のそれぞれ対応した受光面に入射さ
せるホログラムパターンを形成してあるので、1枚のホ
ログラム素子でトラッキングずれ信号及びフォーカシン
グずれ信号も検出することができる。
Further, on the surface of the transmissive hologram element on the side of the semiconductor laser light source, a diffraction grating for demultiplexing the luminous flux emitted from the semiconductor laser light source into three luminous fluxes is formed, and the transmissive hologram element has the above-mentioned structure. The surface on the side opposite to the semiconductor laser light source has the above-mentioned 3
Since a hologram pattern is formed in which one light flux is incident on the corresponding light receiving surface of the light receiving element, the tracking shift signal and the focusing shift signal can also be detected by one hologram element.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す光ピックアップ装置の
構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of an optical pickup device showing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明のホログラム素子のホログラムパターン
を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a hologram pattern of the hologram element of the present invention.

【図3】本発明の光ピックアップ装置における光の受光
状態を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a light receiving state of the optical pickup device of the present invention.

【図4】従来例の光ピックアップ装置を示す構成図であ
る。
FIG. 4 is a configuration diagram showing a conventional optical pickup device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザ光源 2 透過型ホログラム素子 3 モニター用反射部 4 受光基板 4a モニター用受光部 4b,4d,4e,4g 受光部 4c,4f 2分割受光部 5 物レンズ 6 光ディスク 7 パッケージ 20,21,22 回折格子パターンFirst semiconductor laser light source 2 transmission type holographic optical element 3 for monitoring the reflected portion 4 receiving substrate 4a monitoring light-receiving section 4b, 4d, 4e, 4g receiving portion 4c, 4f 2 light receiving section 5 to objective lens 6 disc 7 package 20, 21, 22 Diffraction grating pattern

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源から出射される光を透過型ホログラ
ム素子及び対物レンズを介して光記録媒体に集光させる
と共に、該光記録媒体からの戻り光を上記透過型ホログ
ラム素子により回折させ、該回折させた戻り光を受光素
子により検出するように構成してなる光ピックアップ装
置に於いて、上記ホログラム素子の一方側の面の一部領
域にモニター用反射部を形成し、上記光源から出射した
出射光の一部を上記モニター用反射部により反射させ、
上記受光素子に形成したモニター用受光部で受光するよ
うに構成したことを特徴とする光ピックアップ装置。
1. A light emitted from a light source is condensed on an optical recording medium through a transmission hologram element and an objective lens, and return light from the optical recording medium is diffracted by the transmission hologram element, In an optical pickup device configured to detect diffracted return light by a light receiving element, a monitor reflection portion is formed in a partial area of one surface of the hologram element, and emitted from the light source. Part of the emitted light is reflected by the monitor reflection part,
An optical pickup device, characterized in that it is configured to receive light by a monitor light receiving portion formed on the light receiving element.
【請求項2】 前記モニター用反射部は、前記透過型ホ
ログラム素子の前記光源側の面に形成したことを特徴と
する請求項1記載の光ピックアップ装置。
2. The optical pickup device according to claim 1, wherein the monitor reflection portion is formed on a surface of the transmission hologram element on the light source side.
【請求項3】 前記モニター用反射部は金属膜で構成し
た反射型ホログラムパターンであることを特徴とする請
求項2記載の光ピックアップ装置。
3. The optical pickup device according to claim 2, wherein the monitor reflection portion is a reflection hologram pattern formed of a metal film.
【請求項4】 前記光源及び前記受光素子はパッケージ
内に収められ、前記透過型ホログラム素子は、上記パッ
ケージに位置調整可能に取り付けられることを特徴とす
る請求項2記載の光ピックアップ装置。
4. The optical pickup device according to claim 2, wherein the light source and the light receiving element are housed in a package, and the transmissive hologram element is attached to the package in a positionally adjustable manner.
【請求項5】 前記透過型ホログラム素子の前記光源側
の面には、前記光源からの出射光束を3つの光束に分波
する回折格子が形成されていると共に、前記透過型ホロ
グラム素子の前記光源とは逆側の面には、前記光記録媒
体からの戻り光である前記3つの光束を前記受光素子の
それぞれ対応した受光面に入射させるホログラムパター
ンを形成したことを特徴とする請求項2記載の光ピック
アップ装置。
5. A diffraction grating that splits a light beam emitted from the light source into three light beams is formed on a surface of the transmissive hologram element on the light source side, and the light source of the transmissive hologram element is formed. 3. A hologram pattern is formed on the surface on the opposite side to, which makes the three light beams, which are the return light from the optical recording medium, incident on the corresponding light-receiving surfaces of the light-receiving element. Optical pickup device.
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