JPH05307058A - Inspection jig for printed circuit board - Google Patents

Inspection jig for printed circuit board

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Publication number
JPH05307058A
JPH05307058A JP4137896A JP13789692A JPH05307058A JP H05307058 A JPH05307058 A JP H05307058A JP 4137896 A JP4137896 A JP 4137896A JP 13789692 A JP13789692 A JP 13789692A JP H05307058 A JPH05307058 A JP H05307058A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pin
probe
terminal
board
contact
Prior art date
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Pending
Application number
JP4137896A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuhiro Takahashi
勝洋 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP4137896A priority Critical patent/JPH05307058A/en
Publication of JPH05307058A publication Critical patent/JPH05307058A/en
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide an inspecting jig for a printed circuit board which can well deal with thinning of the needle of probe, can prevent it from damage, is easy to connect with an inspection apparatus, and is capable of reusing the probes and contact pins. CONSTITUTION:An inspection jig concerned is composed of contact pins 3 mounted slidably on a guide plate 8 and probes 1 inserted in a pin board 88. Each probe 1 has a needle 2 installed capably of advancing and retreating resiliently. The needles 2 are put in contact with the heads of the contact pins 3, and a terminal board 4 is furnished on the pin board 88, and terminal pin 45 in connection with a lead wire 15 is installed in pin hole provided in the terminal board 4. The terminal pin 45 is electrically connected with the probe terminal 12, and the tip of the contact pin 3 is brought into contact with a wiring circuit 71, and thus the electric continuity is inspected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は,プリント配線板の検査
治具,特に高密度配線回路の検査に対して優れた効果を
発揮するプローブ回りの構成,及び検査器との電気的接
続と取外しとを容易にする端子ボード周りの構造に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a jig for a printed wiring board, in particular, a structure around a probe that exhibits an excellent effect on the inspection of a high-density wiring circuit, and electrical connection and disconnection with an inspection device. The present invention relates to a structure around a terminal board that facilitates and.

【0002】[0002]

【従来技術】プリント配線板における配線回路を,電気
導通の有無により検査する方法,及びその装置として
は,種々のものが提案されている(例えば,特公平2−
44035号公報,特開昭56−110060号公
報)。そして,従来用いられている,プリント配線板の
検査治具としては,図15及び図16に示すごとく,プ
リント配線板7の配線回路75に対して,プローブ9の
触針92を当接させることにより,電気導通の有無を検
査するものである。
2. Description of the Related Art As a method of inspecting a wiring circuit on a printed wiring board for the presence or absence of electrical continuity and its apparatus, various types have been proposed (for example, Japanese Patent Publication No.
No. 44035, JP-A No. 56-11060). As a conventionally used inspection jig for a printed wiring board, as shown in FIGS. 15 and 16, a stylus 92 of a probe 9 is brought into contact with a wiring circuit 75 of the printed wiring board 7. Is used to inspect for electrical continuity.

【0003】該検査治具は,プローブの先端のガタツキ
を防止するためのガイド板8と,プローブ9を保持する
ためのピンボード88と,両者を貫通させて装着したプ
ローブ9とよりなる。プローブ9は,図16にも示すご
とく,パイプ状のソケット91と触針92とを有する。
ソケット91は,ピンボード88の貫通孔881内に挿
通固定されている。一方,触針92はガイド板8のガイ
ド孔81内に,進退可能に挿通されている。そして,触
針92は,その上部にプランジャー920を有する。該
プランジャー920は,チューブ25の内腔内に,スプ
リングバネ(図示略)を介して,進退可能に装着されて
いる。
The inspection jig comprises a guide plate 8 for preventing rattling of the tip of the probe, a pin board 88 for holding the probe 9, and a probe 9 mounted by penetrating both. As shown in FIG. 16, the probe 9 has a pipe-shaped socket 91 and a stylus 92.
The socket 91 is inserted and fixed in the through hole 881 of the pin board 88. On the other hand, the stylus 92 is inserted into the guide hole 81 of the guide plate 8 so as to be movable back and forth. The stylus 92 has a plunger 920 on its upper part. The plunger 920 is mounted in the inner cavity of the tube 25 so as to be movable back and forth via a spring spring (not shown).

【0004】上記プローブ9の上端は,電気導通を検出
するための検査器にリードワイヤーを経由して電気的に
接続されている。この場合,プローブ上端とリードワイ
ヤーとの接続は,半田付によることが多い。なお,ガイ
ド板8は,ソケット91の下端を配置するための凹部8
2を有する。また,上記プローブ9は,被検査体として
のプリント配線板7の配線回路75に対応した位置に設
けてある。また,ガイド板8とピンボード88とは一体
的に固定してある。
The upper end of the probe 9 is electrically connected to an inspection device for detecting electrical continuity via a lead wire. In this case, the connection between the upper end of the probe and the lead wire is often soldered. The guide plate 8 has a recess 8 for disposing the lower end of the socket 91.
Have two. Further, the probe 9 is provided at a position corresponding to the wiring circuit 75 of the printed wiring board 7 as the inspection object. Further, the guide plate 8 and the pin board 88 are integrally fixed.

【0005】そして,配線回路の電気導通の検査に当た
っては,プリント配線板7の上下より,上記ガイド板8
及びピンボード88を下降及び上昇させ,プローブ9の
触針92を配線回路75の触針用パッド(以下省略)に
当接させる。このとき,当該配線回路75が断線又はシ
ョートを生じていない場合には,正常な電気導通が得ら
れる。これにより,各配線回路75の良否が判定でき
る。
When inspecting the electrical continuity of the wiring circuit, the guide plate 8 is placed from above and below the printed wiring board 7.
Also, the pin board 88 is lowered and raised, and the stylus 92 of the probe 9 is brought into contact with the stylus pad (hereinafter omitted) of the wiring circuit 75. At this time, when the wiring circuit 75 is not broken or short-circuited, normal electrical conduction is obtained. As a result, the quality of each wiring circuit 75 can be determined.

【0006】また,上記において触針92の先端921
を配線回路75に当接させた際には,触針92はガイド
板8のガイド孔81に沿ってソケット91側へ後退し,
そのプランジャー920がソケット91内に侵入する。
これは,触針92の先端921を保護するためである。
なお,図15において,符号87,886はノックピン
891の挿入穴,871,885は,位置決めピン89
2の挿入穴である。
Further, in the above, the tip 921 of the stylus 92 is used.
When contacting the wiring circuit 75, the stylus 92 retracts toward the socket 91 side along the guide hole 81 of the guide plate 8,
The plunger 920 penetrates into the socket 91.
This is to protect the tip 921 of the stylus 92.
In FIG. 15, reference numerals 87 and 886 are insertion holes for knock pins 891, and 871 and 885 are positioning pins 89.
2 insertion holes.

【0007】[0007]

【解決しようとする課題】しかしながち,上記従来の検
査治具には,次の問題がある。即ち,近年は,プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み,配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば,このピッチは,従来は0.65mm程度であっ
たが,高密度配線回路においては0.3mmと狭くなっ
ている。
[Problems to be Solved] However, the conventional inspection jigs described above have the following problems. That is, in recent years, the density of wiring circuits in printed wiring boards has increased, and the pitch of the pads at the ends of the wiring circuits has become narrower.
For example, this pitch was conventionally about 0.65 mm, but in a high-density wiring circuit it is as narrow as 0.3 mm.

【0008】そこで,これに対応するため,プローブ9
の配列ピッチを狭くする必要があるため,プローブ自体
の大きさ(直径)も小さくする必要がある。そして,現
在使用されているプローブ9においても,そのソケット
91の外径は約1ミリであり,また触針92の直径は
0.5mmと細径である。
Therefore, in order to deal with this, the probe 9
Since it is necessary to narrow the array pitch of, it is necessary to reduce the size (diameter) of the probe itself. Also in the probe 9 currently used, the outer diameter of the socket 91 is about 1 mm, and the diameter of the probe 92 is as small as 0.5 mm.

【0009】また,従来の検査治具においては,検査に
当たって,触針92の先端921を直接に配線回路75
に当接させている。また,その当接の際には,上記のご
とく,触針92がガイド板8のガイド穴81内をスライ
ドして後退する。そして,検査後は,触針92は,ソケ
ット91内に設けたスプリングバネによって,再び元の
位置へ突出させられる。そのため,触針92は,検査の
度毎にガイド孔81内を摺動することになる。
In the conventional inspection jig, the tip 921 of the stylus 92 is directly connected to the wiring circuit 75 in the inspection.
Abutting against. Further, at the time of contact, the stylus 92 slides in the guide hole 81 of the guide plate 8 and retracts as described above. Then, after the inspection, the stylus 92 is made to project again to its original position by the spring spring provided in the socket 91. Therefore, the stylus 92 slides in the guide hole 81 at each inspection.

【0010】それ故,触針92が摩耗し易い。また,こ
の摩耗を防止するためガイド孔81の径を大きくする
と,触針92との間のクリアランスが大きくなり,触針
92の先端921がガタつき,検査不良を生ずることが
ある。また,触針92は,ピンボード88に固定された
ソケット91内に挿入されている。そのため,ソケット
91と触針92とガイド孔81の軸芯は同一にしなけれ
ばならない。それ故,上記ガイド孔81は,細径の触針
92を円滑にスライドさせるために,上記軸芯が一致す
るように寸法精度良く,穴明けを行う必要がある。
Therefore, the stylus 92 is easily worn. Further, if the diameter of the guide hole 81 is increased to prevent this wear, the clearance between the stylus 92 and the stylus 92 becomes large, and the tip 921 of the stylus 92 may rattle, resulting in defective inspection. Further, the stylus 92 is inserted into a socket 91 fixed to the pin board 88. Therefore, the socket 91, the stylus 92, and the guide hole 81 must have the same axis. Therefore, in order to smoothly slide the small-diameter stylus 92, the guide hole 81 needs to be drilled with high dimensional accuracy so that the shaft cores coincide with each other.

【0011】また,触針92は,ソケット91内とガイ
ド孔81内を,同軸線状にスライドすると共に,その先
端921が配線回路75と直接に当接するため,上記軸
芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記のごとく,従
来の検査治具においては,配線回路の高密度化に伴っ
て,特にプローブの触針92の細径化と損傷,ガイド孔
81の穴明精度等に問題がある。
Further, the stylus 92 slides coaxially in the socket 91 and the guide hole 81, and the tip 921 of the stylus 92 directly contacts the wiring circuit 75. It is easily damaged. As described above, in the conventional inspection jig, as the wiring circuit becomes higher in density, there are problems particularly in the thinning and damage of the probe stylus 92 of the probe, the drilling accuracy of the guide hole 81, and the like.

【0012】また,プローブの上端は,リードワイヤー
を経由して検査器に電気的に接続され,検査回路が電気
的に閉路される。そして,従来は,数10〜数100本
という多大の数のプローブの上端とリードワイヤーとは
半田付により接続されている。
Further, the upper end of the probe is electrically connected to the inspection device via the lead wire, and the inspection circuit is electrically closed. In the past, the upper end of a large number of probes of several tens to several hundreds and the lead wire are connected by soldering.

【0013】一方,プリント配線板が変わる毎にプロー
ブの配列パターンが変わるから,プローブ回りのいわゆ
る検出部はプリント配線板毎に交換する必要がある。そ
のため,この交換時には,プローブとリードワイヤーと
の間の多大の数の上記半田付けを外さなければならず,
その取付け作業は大きな工数を必要とする。また,新し
い検査回路に応じて再び多数のリードワイヤーとプロー
ブとの半田付けをしなければならない。また,プローブ
は上記のごとく,細径部品であるため,高価な精密部品
である。そのため,被検査体の配線回路が変わる毎に新
たなものを使用することはコスト高となる。そのため,
プローブが再利用可能なことも切望されている。
On the other hand, since the array pattern of the probes changes every time the printed wiring board changes, the so-called detection section around the probes needs to be replaced for each printed wiring board. Therefore, at the time of this replacement, a large number of the solders between the probe and the lead wire must be removed,
The mounting work requires a large number of man-hours. Also, many lead wires and probes must be soldered again according to the new inspection circuit. Further, since the probe is a small diameter part as described above, it is an expensive precision part. Therefore, it is costly to use a new one every time the wiring circuit of the device under test changes. for that reason,
It is also longed for the probe to be reusable.

【0014】本発明はかかる従来の問題点に鑑み,プロ
ーブの触針の細径化と損傷防止に対応でき,リードワイ
ヤーとの電気的接続も容易で,かつプローブの再利用が
できるプリント配線板の検査治具を提供しようとするも
のである。
In view of the above conventional problems, the present invention can cope with the thinning of the probe stylus and the prevention of damage, the electric connection with the lead wire is easy, and the probe can be reused. It is intended to provide the inspection jig.

【0015】[0015]

【課題の解決手段】本発明は,プリント配線板における
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って,該検査治具は,ガイド板と,ピンボードと,上記
配線回路と当接させるためのコンタクトピンと,該コン
タクトピンに当接させるための触針を内蔵したプローブ
とよりなり,かつ上記コンタクトピンは上記ガイド板に
進退可能に装着され,また上記触針はプローブに弾性的
に進退可能に内蔵されており,また,上記ピンボードの
上には,端子ボードを配設し,該端子ボードには,ピン
穴を設け,該ピン穴内にはリードワイヤーを一端に接続
した端子ピンを配置し,また,該端子ピンと上記プロー
ブのプローブ端子とは互いに対向する位置にあって電気
的に接続してなることを特徴とするプリント配線板の検
査治具にある。
The present invention is an inspection jig for inspecting a wiring circuit in a printed wiring board according to the presence or absence of electrical continuity, the inspection jig including a guide plate, a pin board, and the wiring circuit. The probe includes a contact pin for making contact with the probe and a probe having a stylus for making contact with the contact pin. The contact pin is attached to the guide plate so as to be able to move back and forth. A terminal board is provided on the pin board, a pin hole is provided in the terminal board, and a lead wire is connected to one end in the pin hole. According to another aspect of the present invention, there is provided an inspection jig for a printed wiring board, characterized in that the pins are arranged and the terminal pins and the probe terminals of the probe are electrically connected to each other at positions facing each other.

【0016】本発明において最も注目すべき第1の点
は,上記従来例の前記プローブをいわば2組に分割し,
コンタクトピンとプローブとに構成したこと,そしてコ
ンタクトピンを配線回路に当接させ,一方プローブの触
針はコンタクトピンに当接させるよう構成したことであ
る。
The first point that is most noticeable in the present invention is that the probe of the above-mentioned conventional example is divided into two sets, so to speak,
The contact pin and the probe are configured, and the contact pin is brought into contact with the wiring circuit, while the probe stylus is brought into contact with the contact pin.

【0017】即ち,プリント配線板と対面するガイド板
には進退可能にコンタクトピンを装着し,上記ガイド板
に面するピンボードにはプローブを固定する。そして,
該プローブには,弾性的に進退可能に触針を内蔵する。
このように,触針を内蔵させる手段としては,触針をチ
ューブ内に弾性的に保持し,これらをソケット内に装着
する手段がある(図4,5参照)。また,プローブ内
に,直接触針を挿入して弾性的に保持させる手段もあ
る。上記弾性的に保持する手段としては,スプリングバ
ネがある。
That is, contact pins are attached to a guide plate facing the printed wiring board so as to be able to move forward and backward, and a probe is fixed to the pin board facing the guide plate. And
The probe has a stylus built therein so that it can move forward and backward elastically.
Thus, as a means for incorporating the stylus, there is a means for elastically holding the stylus in the tube and mounting these in the socket (see FIGS. 4 and 5). There is also a means for elastically holding the probe by inserting a direct contact needle into the probe. There is a spring spring as the elastically holding means.

【0018】また,コンタクトピンはガイド板のガイド
孔に進退可能に装着する。コンタクトピンは,配線回路
に当接させる先端を有すると共に,その反対側に触針を
当接させる当接部を有する。該当接部は,コンタクトピ
ンの本体よりも大きな径を有する頭部を有することが好
ましい。また,該当接部には,触針の当接を確実にする
ために,曲面凹部を設けることが好ましい(図6参
照)。また,本発明の検査治具においては,ガイド板及
びピンボードに本発明に関する上記構成のコンタクトピ
ン及びプローブを設けると共に,プリント配線板の配線
回路が高密度でない部分を検査するために,上記従来例
と同様の比較的大径のプローブピンを併設することもで
きる。
Further, the contact pin is mounted in the guide hole of the guide plate so as to be able to move back and forth. The contact pin has a tip that abuts on the wiring circuit, and an abutting portion that abuts the stylus on the opposite side. The abutting portion preferably has a head portion having a diameter larger than that of the main body of the contact pin. Further, it is preferable to provide a curved surface concave portion at the contact portion to ensure contact of the stylus (see FIG. 6). In addition, in the inspection jig of the present invention, the guide pin and the pin board are provided with the contact pins and the probe having the above-mentioned configuration according to the present invention, and the above-mentioned conventional method is used to inspect a portion where the wiring circuit of the printed wiring board is not high density. It is also possible to install a probe pin having a relatively large diameter similar to the example.

【0019】また,本発明において他に注目すべきこと
は,検査器と電気的に接続する手段として,上記端子ボ
ードのピン穴内に,リードワイヤーを一端に接続した端
子ピンを配置し,該端子ピンと上記プローブ端子とを電
気的に接続したことである。上記端子ボードには,ピン
穴を設けているが,ピン穴の配列はプローブの配列と同
一とし,プローブとピン穴とが対向関係になるようにし
ている。
Another point to be noted in the present invention is that, as a means for electrically connecting with a tester, a terminal pin having a lead wire connected to one end is arranged in the pin hole of the terminal board, and the terminal is connected to the terminal board. That is, the pins are electrically connected to the probe terminals. The terminal board is provided with pin holes, but the pin holes are arranged in the same manner as the probes, so that the probes and the pin holes are in a facing relationship.

【0020】また,各ピン穴にはそれぞれ端子ピンを挿
入し,端子ピンの一端にはリードワイヤーを接続する。
リードワイヤーの先は検査器に接続されている。また端
子ピンの他端は,プローブのプローブ端子と対向配置さ
れている。そして,該端子ピンの他端と,対向するプロ
ーブ端子とは,例えばその端部を取付面より突出させて
取付けられており,相互の電気的は接触が容易な構造と
なっている。対向する端子ピンとプローブ端子を電気的
に接続する方法は,例えば端子ボードに配置された全端
子ピンと全プローブ端子とを一括して押圧し,直接接触
させる方法がある。この場合,両者の間に加圧導電ゴム
を介在させてもよい。
Also, a terminal pin is inserted into each pin hole, and a lead wire is connected to one end of the terminal pin.
The tip of the lead wire is connected to the inspection device. The other end of the terminal pin is arranged to face the probe terminal of the probe. The other end of the terminal pin and the opposing probe terminal are attached, for example, with their ends protruding from the attachment surface, and have a structure in which mutual electrical contact is easy. As a method for electrically connecting the opposing terminal pins and the probe terminals, for example, there is a method in which all the terminal pins arranged on the terminal board and all the probe terminals are collectively pressed and brought into direct contact with each other. In this case, a pressure conductive rubber may be interposed between them.

【0021】[0021]

【作用及び効果】本発明の検査治具においては,ガイド
板にコンタクトピンを,ピンボードにプローブを設け,
コンタクトピンをプリント配線板の配線回路に当接さ
せ,プローブの触針はコンタクトピンに当接させるよう
構成している。即ち,本発明においては,ガイド孔内を
スライドして配線回路に当接する部分(コンタクトピ
ン)と,電気導通の検出端であるプローブとを2つに分
けた構成としている。 そのため,コンタクトピンの進
退と,プローブの触針の進退とは独立した状態にある。
In the inspection jig of the present invention, contact pins are provided on the guide plate and probes are provided on the pin board.
The contact pin is brought into contact with the wiring circuit of the printed wiring board, and the stylus of the probe is brought into contact with the contact pin. That is, in the present invention, a portion (contact pin) that slides in the guide hole and comes into contact with the wiring circuit and a probe that is a detection end of electrical conduction are divided into two parts. Therefore, the contact pin advance / retreat and the probe stylus advance / retreat are independent.

【0022】それ故,ピンボードに固定したプローブ
と,その内部に挿入した触針と,該コンタクトピンが進
退するガイド板のガイド孔との3つの軸芯を,高精度で
一致させる必要がない。したがって,ガイド孔の軸芯の
孔明けは,プリント配線板の配線回路に一致させて穿設
すれば良く,従来のごとく高精度が要求されず,穿設容
易である。また,ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑
スライドを可能とすれば良いので,細径のものを設ける
ことができ,コンタクトピンのガタつきも小さくするこ
とができる。また,コンタクトピンが摩耗した際には,
容易に,しかも安価に交換することができる。
Therefore, it is not necessary to accurately match the three axes of the probe fixed to the pin board, the stylus inserted therein, and the guide hole of the guide plate through which the contact pin advances and retracts. . Therefore, it is sufficient that the axial center of the guide hole is drilled so as to be aligned with the wiring circuit of the printed wiring board, which does not require high precision as in the conventional case and is easy to drill. Further, since it is sufficient that only the contact pin can be smoothly slid in the guide hole, it is possible to provide the guide hole with a small diameter and reduce the rattling of the contact pin. Also, when the contact pin wears,
It can be replaced easily and at low cost.

【0023】また,プローブは,直接に配線回路に当接
させないので,従来のごとく損傷を受けることがない。
また,コンタクトピンは,配線回路に直接当接しガイド
孔内をスライドするが,従来のプローブの触針のごと
く,ガイド孔とプローブのソケット内の両方を直線状に
進退することがないので,軸芯ズレ等により損傷を受け
ることがない。
Further, since the probe is not directly brought into contact with the wiring circuit, it is not damaged as in the conventional case.
Moreover, the contact pin slides in the guide hole by directly contacting the wiring circuit, but unlike the conventional probe stylus, it does not move back and forth linearly in both the guide hole and the socket of the probe. It is not damaged by misalignment.

【0024】また,上記のごとく,コンタクトピンとプ
ローブとに分割構成し,検査時における両者の進退に無
理を生じないようにしたので,両者を細径化することも
できる。そのため,高密度配線回路の検査も容易であ
る。また,プローブは,0.1〜0.3mmという細い
内径のソケット内に,弾性的に,進退可能に装着した構
成である。そのため,高価な精密部品であるが,上記の
ごとく損傷がないため,検査治具もコスト安となる。
Further, as described above, since the contact pin and the probe are separately configured to prevent the forward and backward movement of both of them during the inspection, it is possible to reduce the diameter of both. Therefore, it is easy to inspect high-density wiring circuits. Moreover, the probe is elastically mounted in a socket having a small inner diameter of 0.1 to 0.3 mm so as to be able to move forward and backward. Therefore, although it is an expensive precision part, it is not damaged as described above, so the cost of the inspection jig is also low.

【0025】また,本発明の検査治具は,検査器とプロ
ーブ回りのいわゆる検出部との電気的接続が容易であ
る。即ち,本発明では,プローブ端子と同じ配列の端子
ピンの配列を有する端子ボードを,ピンボードに押圧す
ることにより,一度で全プローブ端子との電気的導通を
可能にする。そのため,個別端子毎に導通を取る方法に
比べて操作が極めて容易である。
Further, in the inspection jig of the present invention, it is easy to electrically connect the inspection device and the so-called detection portion around the probe. That is, according to the present invention, a terminal board having the same arrangement of terminal pins as the probe terminals is pressed against the pin board to enable electrical connection with all probe terminals at once. Therefore, the operation is extremely easy as compared with the method of establishing conduction for each individual terminal.

【0026】また,端子ピンの一端を端子構造とし,予
めリードワイヤーを接続しておくことは極めて容易なこ
とであり,ピン穴に端子ピンを挿入した後,リードワイ
ヤーの他端を検査器に接続することも同様に極めて作業
容易である。また,対向関係にあるプローブ端子と端子
ピンとの間に電気的導通を行うことは,両者を押圧する
等により,極めて容易である。
Further, it is extremely easy to connect one end of the terminal pin to the terminal structure and to connect the lead wire in advance. After inserting the terminal pin into the pin hole, the other end of the lead wire is used as an inspection device. Connecting is likewise extremely easy. Further, it is extremely easy to establish electrical conduction between the probe terminal and the terminal pin that are in a facing relationship by pressing the two.

【0027】また,本発明においては,プローブは,従
来のごとくリードワイヤーに半田接続されておらず,端
子ピンと上記のごとく電気的に接続させるのみである。
そのため,精密部品で,高価なプローブ及びコンタクト
ピンは,ピンボード,ガイド板より容易に取り外すこと
ができ,再利用できる。したがって,本発明によれば,
プローブの触針の細径化と損傷防止に対応でき,また検
査器との電気的接続と取外しが容易で,かつプローブ及
びコンタクトピンの再利用ができる,プリント配線板の
検査治具を提供することができる。
Further, in the present invention, the probe is not soldered to the lead wire as in the conventional case, but is only electrically connected to the terminal pin as described above.
Therefore, expensive probes and contact pins, which are precision parts, can be easily removed from the pin board and guide plate and can be reused. Therefore, according to the present invention,
We provide a test jig for printed wiring boards that can be used to reduce the diameter of the probe stylus and prevent damage, and that can be easily connected to and removed from the tester and that the probe and contact pins can be reused. be able to.

【0028】[0028]

【実施例】【Example】

実施例1 本発明の実施例にかかる,プリント配線板の検査治具に
つき,図1〜図9を用いて説明する。なお,全体の構成
を,コンタクトピンをプリント配線板と当接させて,プ
ローブの他端に信号を伝える検出部と,プローブ端子か
らリードワイヤーを経由して検査器に至る中継部とに分
けてそれぞれを分説する。
Example 1 An inspection jig for a printed wiring board according to an example of the present invention will be described with reference to FIGS. In addition, the whole structure is divided into a detection part that contacts a contact with a printed wiring board and transmits a signal to the other end of the probe, and a relay part that connects a probe terminal to a tester via a lead wire. Separate each.

【0029】本例の検査治具の検出部は,図1〜図3に
示すごとく,ガイド板8とピンボード88と,配線回路
71と当接させるためのコンタクトピン3と,該コンタ
クトピン3に当接させるための触針2を内蔵したプロー
ブ1とよりなる。また,上記コンタクトピン3は,上記
ガイド板8に進退可能に装着され,また上記触針2はプ
ローブ1のソケット11内に弾性的に進退可能に内蔵さ
れている。なお,後に詳述するごとく,プローブ1のプ
ローブ端子12と端子ボード4内の端子ピン45との間
には,加圧導電ゴム板5を介在させて,両者の電気的導
通を図っている(図9)。
As shown in FIGS. 1 to 3, the detection portion of the inspection jig of this example includes a guide plate 8, a pin board 88, a contact pin 3 for contacting the wiring circuit 71, and the contact pin 3. The probe 1 has a built-in stylus 2 for making contact with the probe 1. Further, the contact pin 3 is mounted on the guide plate 8 so as to be movable back and forth, and the stylus 2 is built in the socket 11 of the probe 1 so as to be elastically movable forward and backward. As will be described later in detail, a pressure conductive rubber plate 5 is interposed between the probe terminal 12 of the probe 1 and the terminal pin 45 in the terminal board 4 to electrically connect the two ( (Figure 9).

【0030】上記配線回路71は,プリント配線板7に
おいて高密度配置されたものである。上記ガイド板8と
ピンボード88とは,従来と同様にノックピン891に
より,脱着可能に,一体的に結合されている。ガイド板
8は,図1〜3,図7,図8に示すごとく,コンタクト
ピン3を,進退可能に装着するための多数のガイド孔8
5と,開口溝86を有する。また,ピンボード88は,
図2,3に示すごとく,プローブ1のソケット11を挿
通固定するための貫通孔882を有する。
The wiring circuits 71 are arranged in high density on the printed wiring board 7. The guide plate 8 and the pin board 88 are detachably and integrally coupled by a knock pin 891 as in the conventional case. As shown in FIGS. 1 to 3, 7, and 8, the guide plate 8 has a large number of guide holes 8 for mounting the contact pins 3 so that the contact pins 3 can move forward and backward.
5 and an opening groove 86. In addition, the pin board 88,
As shown in FIGS. 2 and 3, there is a through hole 882 for inserting and fixing the socket 11 of the probe 1.

【0031】上記コンタクトピン3は,図2,図3,図
6に示すごとく,配線回路71に当接させるための先端
31と,触針2を当接させるための当接部としての,頭
部32を有する。また,該頭部32は,曲面凹部321
を有する(図6)。また,プローブ1は,図2〜図5に
示すごとく,ソケット11とその中へ進退可能に挿通し
た触針2とからなる。ソケット11は,図4に示すごと
く,中空パイプであり,触針2の挿入側にフランジ11
0を有する。また,上部には検査器18(図1)に接続
するリードワイヤー15を有する。
As shown in FIGS. 2, 3 and 6, the contact pin 3 has a tip 31 for contacting the wiring circuit 71 and a head for contacting the stylus 2. It has a part 32. In addition, the head 32 has a curved concave portion 321.
(FIG. 6). As shown in FIGS. 2 to 5, the probe 1 is composed of a socket 11 and a stylus 2 which is inserted into the socket 11 so as to be movable back and forth. As shown in FIG. 4, the socket 11 is a hollow pipe and has a flange 11 on the insertion side of the stylus 2.
Has 0. Further, the lead wire 15 connected to the inspection device 18 (FIG. 1) is provided on the upper portion.

【0032】一方,触針2は,図4,図5に示すごと
く,チューブ25内に進退可能に装着されている。即
ち,触針2は,図5に示すごとく,上部に触針2とほぼ
同径のガイド柱22を有し,両者の間には細径の連結部
21を有する。そして,チューブ25の中に,まずスプ
リングバネ23を入れ,次いで上記触針2を挿入した
後,上記触針の連結部21の外側部分において,チュー
ブ25のかしめを行い,かしめ部251を形成する。
On the other hand, the stylus 2 is mounted in the tube 25 so as to be movable back and forth, as shown in FIGS. That is, as shown in FIG. 5, the stylus 2 has a guide column 22 having substantially the same diameter as that of the stylus 2, and a thin connecting portion 21 between the two. Then, the spring 25 is first put in the tube 25, and then the stylus 2 is inserted. Then, the tube 25 is caulked at the outer side of the connecting portion 21 of the stylus to form the caulked portion 251. .

【0033】これにより,触針2は,チューブ25内に
おいて,上記スプリングバネ23により弾性的に,進退
可能に装着される。なお,符号252は,チューブ25
の上端部に設けた,スプリングバネ23の上端を当接さ
せるためのかしめ部である。そして,このように構成し
た触針2は,上記図4に示すごとく,ソケット11の中
空部111内へ挿入する。このとき,触針2を保持した
チューブ25の上端は,ソケット11のかしめ部113
に当接する。更に,上記のごとく構成したプローブ1
は,図1〜図3に示すごとく,ピンボード88の貫通孔
882内へ,挿入し,着脱可能に固定する。その他は,
前記従来例と同様である。
As a result, the stylus 2 is elastically mounted in the tube 25 by the spring spring 23 so as to be able to move forward and backward. The reference numeral 252 indicates the tube 25.
Is a caulking portion provided at the upper end of the spring for contacting the upper end of the spring spring 23. Then, the stylus 2 configured as described above is inserted into the hollow portion 111 of the socket 11 as shown in FIG. At this time, the upper end of the tube 25 holding the stylus 2 has the caulked portion 113 of the socket 11.
Abut. Further, the probe 1 configured as described above
1 to 3, is inserted into the through hole 882 of the pin board 88 and is detachably fixed. Others,
This is similar to the conventional example.

【0034】次に,検出部の作用効果につき説明する。
即ち,プリント配線板7における配線回路71の良否を
電気導通により検査するに当たっては,図1〜図3に示
すごとく,各配線回路71に対してガイド板8及びピン
ボード88を,上下方向より接近させ,ガイド板8をプ
リント配線板7に対面させる。
Next, the function and effect of the detector will be described.
That is, when inspecting the quality of the wiring circuit 71 on the printed wiring board 7 by electrical conduction, as shown in FIGS. 1 to 3, the guide plate 8 and the pin board 88 are approached to each wiring circuit 71 from above and below. Then, the guide plate 8 faces the printed wiring board 7.

【0035】このとき,両者の当接前においては,コン
タクトピン3は,図2に示すごとく,ガイド板8よりも
突出した状態にある。また,コンタクトピン3の頭部3
2には,プローブ1の触針2の先端21が当接してい
る。そして,ガイド板8がプリント配線板7に当接し,
コンタクトピン3の先端31が配線回路71に当接する
ときには,コンタクトピン3はガイド孔85内をスライ
ド上昇する。そして,図3に示すごとく,コンタクトピ
ンの先端31はガイド板8の下面とほぼ同じ位置に来
る。
At this time, before the contact between the two, the contact pin 3 is in a state of protruding from the guide plate 8 as shown in FIG. Also, the head 3 of the contact pin 3
The tip 21 of the stylus 2 of the probe 1 is in contact with 2. Then, the guide plate 8 contacts the printed wiring board 7,
When the tip 31 of the contact pin 3 comes into contact with the wiring circuit 71, the contact pin 3 slides up in the guide hole 85. Then, as shown in FIG. 3, the tip 31 of the contact pin is located at substantially the same position as the lower surface of the guide plate 8.

【0036】そこで,コンタクトピン3の頭部32は,
触針2をプローブ1の方向に押圧する。そのため,触針
2は,上記スプリングバネ23(図5)の付勢力に抗し
て,チューブ25内に侵入する。このように,コンタク
トピン3の先端31が,配線回路71と当接した後,上
記リードワイヤー15を介して,プローブ1,触針2,
コンタクトピン3に電流を通じ,配線回路71の良否を
従来と同様に判断する(図1)。
Therefore, the head 32 of the contact pin 3 is
The stylus 2 is pressed toward the probe 1. Therefore, the stylus 2 enters the tube 25 against the biasing force of the spring spring 23 (FIG. 5). Thus, after the tip 31 of the contact pin 3 comes into contact with the wiring circuit 71, the probe 1, the stylus 2, and the stylus 2, via the lead wire 15.
A current is passed through the contact pin 3 to judge the quality of the wiring circuit 71 as in the conventional case (FIG. 1).

【0037】また,検査終了後は,ガイド板8等をプリ
ント配線板7より遠ざける。そのため,コンタクトピン
3は,触針2のスプリングバネ23の付努力により,図
2に示すごとく突出する。上記のごとく,本例の検査治
具においては,コンタクトピン3をガイド板8に進退可
能に装着し,またプローブ1はピンボード88に固定す
ると共に該プローブ1内に進退可能に触針2を装着して
いる。
After the inspection, the guide plate 8 and the like are moved away from the printed wiring board 7. Therefore, the contact pin 3 projects as shown in FIG. 2 due to the attachment of the spring spring 23 of the stylus 2. As described above, in the inspection jig of this example, the contact pin 3 is mounted on the guide plate 8 so as to be movable back and forth, and the probe 1 is fixed to the pin board 88 and the stylus 2 is movable so as to move back and forth inside the probe 1. I am wearing it.

【0038】そのため,コンタクトピン3の進退と,触
針の進退とは独立した状態にある。それ故,従来のごと
く,ピンボード88に固定したプローブ1と,その内部
に挿入した触針2と,該触針が進退するガイド板のガイ
ド孔85との3つの軸芯を高精度で一致させる必要がな
い。即ち,本例においては,コンタクトピン3の軸芯と
触針2の軸芯とに位置ずれが生じていても,両者が当接
しておれば支障がない(図2,3)。
Therefore, the movement of the contact pin 3 and the movement of the stylus are independent of each other. Therefore, as in the prior art, the three axes of the probe 1 fixed to the pin board 88, the stylus 2 inserted therein, and the guide hole 85 of the guide plate through which the stylus advances and retracts are matched with high accuracy. You don't have to let me. That is, in this example, even if the axial center of the contact pin 3 and the axial center of the stylus 2 are misaligned, there is no problem as long as they are in contact with each other (FIGS. 2 and 3).

【0039】また,そのため,ガイド孔85はプリント
配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良い。したが
って,ガイド孔85及びピンボード88の孔の軸芯に関
する穴明け精度は高精度が要求されず,穿設容易であ
る。また,ガイド孔85は,コンタクトピン3のみの円
滑スライドを可能とすれば良いので,細径のものを設け
ることができ,ガタつきもない。
Therefore, the guide hole 85 may be formed so as to match the wiring circuit of the printed wiring board. Therefore, high precision is not required for the drilling accuracy with respect to the shaft center of the guide hole 85 and the hole of the pin board 88, and the drilling is easy. Further, since the guide hole 85 only needs to be able to smoothly slide the contact pin 3, it can be provided with a small diameter and is free from rattling.

【0040】また,プローブ1は,その触針2を直接に
配線回路71に当接させないので,従来のごとく,損傷
を受けることがない。また,コンタクトピン3は配線回
路71に直接当接し,ガイド孔85内をスライドする
が,従来のプローブの触針のごとく,ガイド孔85内と
プローブのソケット内の両方を直線状に進退することが
ない。そのため,両者間の軸芯ずれ等による損傷を受け
ることもない。
Further, since the probe 1 does not directly contact the stylus 2 with the wiring circuit 71, it is not damaged as in the conventional case. Further, the contact pin 3 directly abuts on the wiring circuit 71 and slides in the guide hole 85. However, like the stylus of the conventional probe, the contact pin 3 must be linearly advanced and retracted both in the guide hole 85 and the probe socket. There is no. Therefore, there is no damage due to axial misalignment between the two.

【0041】更に,コンタクトピン3とプローブ1とに
分割構成し,検査時における両者の進退に無理を生じな
いようにしたので,両者をそれぞれ細径化することがで
きる。本例においては,上記コンタクトピン3の直径は
0.27mm,プローブ1のソケットの外径は0.45
mm,内径は0.27mm,触針2の外径は0.15m
mである。また,本例のコンタクトピン3においては,
その頭部32に曲面凹部321を設けたので,該頭部3
2に触針2の先端20を確実に当接させておくことがで
きる。
Further, since the contact pin 3 and the probe 1 are separately configured so as not to cause an unreasonable increase / decrease in the both during the inspection, both of them can be thinned. In this example, the diameter of the contact pin 3 is 0.27 mm, and the outer diameter of the socket of the probe 1 is 0.45 mm.
mm, inner diameter is 0.27 mm, outer diameter of stylus 2 is 0.15 m
m. In addition, in the contact pin 3 of this example,
Since the curved portion 321 is provided on the head 32, the head 3
The tip 20 of the stylus 2 can be reliably brought into contact with the needle 2.

【0042】次に,本実施例の中継部を図9を用いて説
明する。まず,本例の中継部においては,端子ピン45
とプローブ端子12との間に加圧導電ゴム板5を介設し
ている。即ち,図9に示すようにピンボード88にはプ
ローブ1が着脱可能に挿入されており,そのプローブ端
子12がその頭部121をピンボードの上面888から
突出する形で配置されている。また,ピンボードの上部
には端子ボード4を配設し,該端子ボード4にはピン穴
41を設ける。該ピン穴41内には,リードワイヤー1
5に接続した柱状の端子ピン45を配設する。
Next, the relay section of this embodiment will be described with reference to FIG. First, in the relay section of this example, the terminal pin 45
A pressure conductive rubber plate 5 is interposed between the probe terminal 12 and the probe terminal 12. That is, as shown in FIG. 9, the probe 1 is removably inserted in the pin board 88, and the probe terminal 12 thereof is arranged so that the head 121 thereof projects from the upper surface 888 of the pin board. Further, the terminal board 4 is arranged on the upper part of the pin board, and the terminal board 4 is provided with a pin hole 41. In the pin hole 41, the lead wire 1
The column-shaped terminal pin 45 connected to 5 is arranged.

【0043】また,ピンボード88と端子ボード4との
間には加圧導電ゴム板5を介設する。上記ピン穴41
は,プローブ端子12と同一の配列を有し,プローブ端
子12に対し1対1の対向関係を有するように配置す
る。端子ボード4のピン穴41は,下部孔413と上部
細孔412とよりなる。下部孔413は端子ピン45の
断面より若干大きい断面を有し,その長さは端子ピン4
5の長さよりも若干短い形状とする。一方,上部細孔4
12は,リードワイヤーを挿通させるには充分な断面を
有し,かつ端子ピン45を挿通することはできない大き
さのものとする。
A pressure conductive rubber plate 5 is provided between the pin board 88 and the terminal board 4. The pin hole 41
Have the same arrangement as the probe terminals 12 and are arranged so as to have a one-to-one facing relationship with the probe terminals 12. The pin hole 41 of the terminal board 4 includes a lower hole 413 and an upper hole 412. The lower hole 413 has a cross section that is slightly larger than the cross section of the terminal pin 45, and its length is
The shape is slightly shorter than the length of 5. On the other hand, the upper pore 4
The reference numeral 12 has a cross section sufficient for inserting the lead wire and is of a size such that the terminal pin 45 cannot be inserted therein.

【0044】即ち,端子ピン45はその断面がピン穴4
1の下部孔413の断面より若干小さく,従ってピン穴
41へ出し入れが自在であり,一方その長さはピン穴4
1の奥行きより若干長く,従ってピン穴へ奥まで挿入し
た場合には,端子ピン下部452が若干露出する大きさ
と形状を有する。端子ピン45の一端にはリードワイヤ
ー15の一端151を接続し,リードワイヤー15の他
端152は,ピン穴41の上部細孔412を挿通させ
て,検査器18の端子181に接続する。また,上記加
圧導電ゴム板5としては,シリコンゴム材に銅粉末を含
有させた加圧導電ゴムを用いた。
That is, the cross section of the terminal pin 45 is the pin hole 4
1 is slightly smaller than the cross section of the lower hole 413, so that it can be freely inserted into and removed from the pin hole 41, while its length is 4 mm.
1 has a size and shape such that the terminal pin lower portion 452 is slightly exposed when inserted deeply into the pin hole. One end 151 of the lead wire 15 is connected to one end of the terminal pin 45, and the other end 152 of the lead wire 15 is inserted into the upper pore 412 of the pin hole 41 and connected to the terminal 181 of the inspection device 18. As the pressure conductive rubber plate 5, pressure conductive rubber made of silicon rubber containing copper powder was used.

【0045】次に,このように構成した中継部の作用効
果について説明する。図9に示すように,端子ボード4
を押圧すると,対向する端子ピンの下部452とプロー
ブ端子の頭部121とが,加圧導電ゴム板5を強圧し,
加圧導電ゴム板5に凹部51を生じ,その間に電気的な
導通状態を生ずる。
Next, the function and effect of the relay section thus constructed will be described. As shown in FIG. 9, the terminal board 4
When is pressed, the lower part 452 of the terminal pin and the head part 121 of the probe terminal, which face each other, strongly press the pressing conductive rubber plate 5,
A concave portion 51 is formed in the pressure conductive rubber plate 5, and an electric conduction state is generated between them.

【0046】一方,プローブ端子と端子ピンとによって
押圧されない,その他の非加圧部分53においては,電
気的絶縁状態が維持される。
On the other hand, in the other non-pressurized portion 53 which is not pressed by the probe terminal and the terminal pin, the electrically insulated state is maintained.

【0047】このようにして対向する全てのプローブ端
子12と端子ピン45との間のみが,一斉に電気的に接
続される。そのため,プローブ端子とリードワイヤーを
1つ1つ半田付で接続し,また取り外す従来の方法に比
べると,検査器18との接続又は取外し作業が極めて容
易となる。また,被検査体の回路パターンが変わった際
には,ピンボード88上から加圧導電ゴム板5と端子ボ
ード4を取去すれば,プローブ1及びコンタクトピン3
を容易に取外すことができ,これらを容易に再利用に供
することができる。
In this way, only all the probe terminals 12 and the terminal pins 45 facing each other are electrically connected all at once. Therefore, as compared with the conventional method of connecting and disconnecting the probe terminals and the lead wires one by one with soldering, the work of connecting to or disconnecting from the inspection device 18 becomes extremely easy. Further, when the circuit pattern of the inspection object is changed, the probe 1 and the contact pin 3 can be removed by removing the pressure conductive rubber plate 5 and the terminal board 4 from the pin board 88.
Can be easily removed, and these can be easily reused.

【0048】このように,本実施例によれば,高密度配
線回路に対しても,プローブ触針の細径化と損傷防止に
対応でき,かつガイド孔の穿設が容易であり,かつ検査
器との電気的接続と取外しが容易な,更にプローブ及び
コンタクトピンの再利用が可能なプリント配線板の検査
治具が提供できる。
As described above, according to the present embodiment, even for a high-density wiring circuit, it is possible to cope with the thinning of the probe stylus and the prevention of damage, the guide hole can be easily drilled, and the inspection can be performed. Provided is a jig for inspecting a printed wiring board, in which the probe and the contact pin can be reused easily and electrically connected to and detached from the device.

【0049】実施例2 本実施例は実施例1において,中継部に加圧導電ゴム板
を使用しないもう一つの実施例である。即ち,図10に
示すごとく,実施例1と同様に,ピンボード88にプロ
ーブ1を挿入し,そのプローブ端子12がその頭部12
1をピンボードの上面から突出する形で配置する。ま
た,ピンボード88の上部には,端子ボード4を配設
し,端子ボード4にピン穴41をプローブ端子12と1
対1の対向関係で設ける。ピン穴41内にはリードワイ
ヤー15を一端に接続した端子ピン46を配置する。
Example 2 This example is another example of Example 1 in which a pressure conductive rubber plate is not used in the relay portion. That is, as shown in FIG. 10, as in the first embodiment, the probe 1 is inserted into the pin board 88, and the probe terminal 12 thereof has the head 12 thereof.
1 is arranged so as to project from the upper surface of the pinboard. Further, the terminal board 4 is arranged on the upper portion of the pin board 88, and the pin holes 41 are formed in the terminal board 4 and the probe terminals 12 and 1.
They are provided in a one-to-one facing relationship. A terminal pin 46 having the lead wire 15 connected to one end is arranged in the pin hole 41.

【0050】本例における端子ボード4は,多少の弾力
性を有し,電気的な絶縁性を有する素材,例えば弾性ゴ
ム材等を用いる。また本例における端子ピン46として
は,エナメル線をアーク切断した場合に,その先端に生
ずる球状塊に金メッキを施したものを用いる。即ち,本
例の端子ピン46は,球状である。
The terminal board 4 in this embodiment is made of a material having some elasticity and electrical insulation, such as an elastic rubber material. In addition, as the terminal pin 46 in this example, a spherical mass formed at the tip of the enamel wire when arc-cut is plated with gold is used. That is, the terminal pin 46 of this example is spherical.

【0051】なお,該端子ピン46を,端子ボード4の
ピン穴41に挿入した場合に,その下端部がピン穴41
の下部孔413より頭出するような大きさに,ピン穴4
1の下部孔413を形成する。また,本例では,端子ボ
ード4を,加圧導電ゴム板を介することなく直接ピンボ
ード88に押圧することにより,プローブ端子12と端
子ピン46とを機械的に接触させて,両者間に電気的な
導通を得る。
When the terminal pin 46 is inserted into the pin hole 41 of the terminal board 4, the lower end portion of the terminal pin 46 has the pin hole 41.
The pin hole 4
One lower hole 413 is formed. Further, in this example, the terminal board 4 is directly pressed against the pin board 88 without interposing the pressure conductive rubber plate, so that the probe terminal 12 and the terminal pin 46 are mechanically brought into contact with each other, and the probe board 12 and the terminal pin 46 are electrically connected. To get the proper continuity.

【0052】この場合,エナメル線をアーク切断した場
合に,その先端に生ずる球状塊は,完全に均一ではない
ため,端子ボード4として弾力性を有する材料を用いて
ある。即ち,端子ボード41をピンボードに押圧したと
きに,端子ボードの弾力性によって,対向する全端子ピ
ン46と全プローブ端子12との間の接触圧を確保し,
電気導通を確実にするよう構成している。また,素材と
してのエナメル線は安価であるうえに,それをアーク切
断して金メッキを施すという方法により多量の端子ピン
46を安価に製造することができ,また加圧導電ゴム板
5を用いない点でも安価である。
In this case, when the enamel wire is arc-cut, the spherical mass generated at the tip is not completely uniform, so that the terminal board 4 is made of a material having elasticity. That is, when the terminal board 41 is pressed against the pin board, the elasticity of the terminal board ensures the contact pressure between all the terminal pins 46 and all the probe terminals 12 facing each other.
It is configured to ensure electrical continuity. Further, the enameled wire as a material is inexpensive, and a large amount of the terminal pins 46 can be manufactured at a low cost by a method of arc-cutting and gold-plating the wire, and the pressure conductive rubber plate 5 is not used. It is also inexpensive.

【0053】その他は,実施例1と同様である。なお,
上記実施例1では,プーロブの構造は,ソケット11の
中空111にチューブ25が挿入される構造としている
が,プローブの構造をソケット11のない構造とするこ
ともできる。この場合には,チューブ25をピンボード
88の貫通孔882内に,遊嵌状態に,直接挿入する。
Others are the same as those in the first embodiment. In addition,
In the above-described first embodiment, the structure of the purob is such that the tube 25 is inserted into the hollow 111 of the socket 11, but the structure of the probe may be a structure without the socket 11. In this case, the tube 25 is directly inserted into the through hole 882 of the pin board 88 in a loosely fitted state.

【0054】実施例3 本実施例は,実施例2において中継部の端子ピン46の
構造を変更したものである。図11,図12に示すよう
に,本例における端子ピン47は,リードワイヤー15
の先端に設けられ,十字形の断面形状を有する棒状体で
ある。端子ピン47は,その断面形状の最大幅が,端子
ボード4に設けるピン穴41の上部細孔412よりは大
きく,なおかつ下部孔413よりは若干小さい形状と
し,またその長さはピン穴の下部孔413の深さより
は,若干長めにする。
Embodiment 3 In this embodiment, the structure of the terminal pin 46 of the relay portion in Embodiment 2 is modified. As shown in FIGS. 11 and 12, the terminal pin 47 in this example is the lead wire 15
It is a rod-like body that is provided at the tip of and has a cross-shaped cross section. The maximum width of the cross-sectional shape of the terminal pin 47 is larger than the upper hole 412 of the pin hole 41 provided in the terminal board 4 and slightly smaller than the lower hole 413, and its length is lower than that of the pin hole. It is slightly longer than the depth of the hole 413.

【0055】従って,端子ピン47を,ピン穴41に挿
入した場合,その下端472はピン穴41より突出す
る。従って端子ボード4をピンボード88に押圧した場
合,上記下端472はプローブ端子12の頭部121に
押圧され,電気的に導通する。
Therefore, when the terminal pin 47 is inserted into the pin hole 41, its lower end 472 projects from the pin hole 41. Therefore, when the terminal board 4 is pressed against the pin board 88, the lower end 472 is pressed against the head portion 121 of the probe terminal 12 and becomes electrically conductive.

【0056】リードワイヤー15の先端に,上記のよう
な端子ピン47を設ける方法としては,エナメル線その
他のワイヤを,型を用いて四方向からプレスする。これ
により,極めて容易にかつ安価に形成することができ
る。その他は,実施例2と同様である。本例において
も,実施例2と同様の効果を得ることができる。
As a method of providing the terminal pin 47 as described above at the tip of the lead wire 15, an enameled wire or other wire is pressed from four directions using a mold. Thereby, it can be formed extremely easily and inexpensively. Others are the same as in the second embodiment. Also in this example, the same effect as that of the second embodiment can be obtained.

【0057】実施例4 本実施例は,図13,図14に示すごとく,実施例3に
おいて端子ピン47の形状を変更したものである。即
ち,図14に示すように,本例の端子ピン48は,リー
ドワイヤー15の先端に,半田により作製され,四方に
溝を有する十字形断面の頭部を設けてなる。上記の端子
ピン48はリードワイヤー15の先端に図13に示すよ
うな半田塊483を形成し,その後該半田塊483を型
を用いて四方からプレスすることによって形成する。そ
の他は,実施例3と同様である。
Fourth Embodiment In this embodiment, as shown in FIGS. 13 and 14, the shape of the terminal pin 47 in the third embodiment is changed. That is, as shown in FIG. 14, the terminal pin 48 of the present example is provided with a cross-shaped cross-section head having grooves on all sides, which is made of solder, at the tip of the lead wire 15. The terminal pin 48 is formed by forming a solder mass 483 at the tip of the lead wire 15 as shown in FIG. 13 and then pressing the solder mass 483 from four sides using a mold. Others are the same as in the third embodiment.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施例1における,検査治具の全体説明図。FIG. 1 is an overall explanatory view of an inspection jig according to a first embodiment.

【図2】実施例1における,検査前の状態の,コンタク
トピン及びプリント配線板周りの断面図。
FIG. 2 is a cross-sectional view around contact pins and a printed wiring board in a state before inspection according to the first embodiment.

【図3】実施例1における,検査時点のコンタクトピン
及びプリント配線板周りの断面図。
FIG. 3 is a cross-sectional view around contact pins and a printed wiring board at the time of inspection in the first embodiment.

【図4】実施例1のプローブにおける,ソケット及び触
針の展開正面図。
FIG. 4 is a developed front view of a socket and a stylus in the probe of the first embodiment.

【図5】実施例1における,プローブの先端部分の断面
図。
FIG. 5 is a cross-sectional view of the tip portion of the probe in the first embodiment.

【図6】実施例1における,コンタクトピンの正面図。FIG. 6 is a front view of the contact pin according to the first embodiment.

【図7】実施例1における,ガイド板の平面図。FIG. 7 is a plan view of the guide plate according to the first embodiment.

【図8】図7のA−A線矢視断面図。8 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.

【図9】実施例1における端子ピンとプローブとの電気
的接続部の断面図。
FIG. 9 is a sectional view of an electrical connection portion between the terminal pin and the probe in the first embodiment.

【図10】実施例2における端子ピンとプローブとの電
気的接続部の断面図。
FIG. 10 is a sectional view of an electrical connection portion between a terminal pin and a probe according to the second embodiment.

【図11】実施例3における端子ピンとプローブとの電
気的接続部の断面図。
FIG. 11 is a sectional view of an electrical connection portion between a terminal pin and a probe according to the third embodiment.

【図12】実施例3における端子ピンの拡大斜視図。FIG. 12 is an enlarged perspective view of a terminal pin according to the third embodiment.

【図13】実施例4における端子ピンの加工前の正面
図。
FIG. 13 is a front view of a terminal pin before being processed in Example 4.

【図14】実施例4における端子ピンの拡大斜視図。FIG. 14 is an enlarged perspective view of a terminal pin according to the fourth embodiment.

【図15】従来例における検査治具の全体説明図。FIG. 15 is an overall explanatory view of an inspection jig in a conventional example.

【図16】従来例における検査治具のプローブ周りの説
明図。
FIG. 16 is an explanatory diagram around the probe of the inspection jig in the conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1...プローブ, 11...ソケット, 12...プローブ端子, 15...リードワイヤー, 18...検査器, 2...触針, 25...チューブ, 3...コンタクトピン, 31...先端, 4...端子ボード, 41...ピン穴, 45,46,47,48...端子ピン, 5...加圧導電ゴム板, 7...プリント配線板, 71...高密度ピッチの配線回路, 75...通常配線ピッチの配線回路, 8...ガイド板, 85...ガイド孔, 88...ピンボード, 1. . . Probe, 11. . . Socket, 12. . . Probe terminal, 15. . . Lead wire, 18. . . Inspector, 2. . . Stylus, 25. . . Tube, 3. . . Contact pin, 31. . . Tip, 4. . . Terminal board, 41. . . Pin holes, 45, 46, 47, 48. . . Terminal pin, 5. . . Pressure conductive rubber plate, 7. . . Printed wiring board, 71. . . High-density pitch wiring circuit, 75. . . 7. Wiring circuit with normal wiring pitch, 8. . . Guide plate, 85. . . Guide hole, 88. . . Pin board,

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント配線板における配線回路を電気
導通の有無により検査する検査治具であって,該検査治
具は,ガイド板と,ピンボードと,上記配線回路と当接
させるためのコンタクトピンと,該コンタクトピンに当
接させるための触針を内蔵したプローブとよりなり,か
つ上記コンタクトピンは上記ガイド板に進退可能に装着
され,また上記触針はプローブに弾性的に進退可能に内
蔵されており,また,上記ピンボードの上には,端子ボ
ードを配設し,該端子ボードには,ピン穴を設け,該ピ
ン穴内にはリードワイヤーを一端に接続した端子ピンを
配置し,また,該端子ピンと上記プローブのプローブ端
子とは互いに対向する位置にあって電気的に接続してな
ることを特徴とするプリント配線板の検査治具。
1. An inspection jig for inspecting a wiring circuit in a printed wiring board according to the presence or absence of electrical continuity, the inspection jig including a guide plate, a pin board, and a contact for contacting the wiring circuit. The probe includes a pin and a probe having a stylus for making contact with the contact pin, and the contact pin is mounted on the guide plate so as to be movable back and forth, and the stylus is elastically mounted on the probe so as to be movable forward and backward. Further, a terminal board is arranged on the pin board, a pin hole is provided in the terminal board, and a terminal pin having a lead wire connected to one end is arranged in the pin hole. In addition, the inspection jig for a printed wiring board, wherein the terminal pin and the probe terminal of the probe are electrically connected to each other at positions facing each other.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008170255A (en) * 2007-01-11 2008-07-24 Nidec-Read Corp Substrate inspection device, substrate inspection jig, and its manufacturing method
KR100882512B1 (en) * 2007-04-25 2009-02-10 윌테크놀러지(주) Probe card

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008170255A (en) * 2007-01-11 2008-07-24 Nidec-Read Corp Substrate inspection device, substrate inspection jig, and its manufacturing method
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