JPH05302938A - Inspection jig for printed wiring board - Google Patents

Inspection jig for printed wiring board

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JPH05302938A
JPH05302938A JP4131789A JP13178992A JPH05302938A JP H05302938 A JPH05302938 A JP H05302938A JP 4131789 A JP4131789 A JP 4131789A JP 13178992 A JP13178992 A JP 13178992A JP H05302938 A JPH05302938 A JP H05302938A
Authority
JP
Japan
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probe
contact
stylus
board
terminal
Prior art date
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Pending
Application number
JP4131789A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Taketoshi Miura
丈俊 三浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP4131789A priority Critical patent/JPH05302938A/en
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain an inspection jig for a printed wiring board, which can achieve the small diameter of the contact needle of a probe and the prevention of damages, and wherein the formation of a guide hole is easy and the electric contact between the other end of the probe and an inspection device is easy. CONSTITUTION:This jig comprises contact pins 3, which are slidably mounted on a guide plate 8, and probes 1, which are fixed to a pin board 88. The probe 1 has the contact needle. The contact needle is brought into contact with the head part of the contact pin 3. The tip of the contact pin 3 is brought into contact with a wiring circuit 71, and the inspection is performed. A relay terminal board 40 is provided between the probe 1 and an inspecting device 18. A connector terminal 41 of the relay terminal board 40 and a probe terminal 16 are brought into contact.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は,プリント配線板の検査
治具,特に高密度配線回路の検査に対して優れた効果を
発揮するプローブ回りの構成と,電気的な判定回路を有
する検査器との接続を容易にする端子構造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test jig for a printed wiring board, in particular, a structure around a probe that exhibits an excellent effect on the inspection of a high-density wiring circuit, and an inspection device having an electrical judgment circuit. The present invention relates to a terminal structure that facilitates connection with.

【0002】[0002]

【従来技術】プリント配線板における配線回路を,電気
導通の有無により検査する方法,及びその装置として
は,種々のものが提案されている(例えば,特公平2−
44035号公報,特開昭56−110060号公
報)。そして,従来用いられている,プリント配線板の
検査治具としては,図9及び図10に示すごとく,プリ
ント配線板7の配線回路75に対して,プローブ9の触
針92を当接させることにより,電気導通の有無を検査
するものである。
2. Description of the Related Art As a method of inspecting a wiring circuit on a printed wiring board for the presence or absence of electrical continuity and its apparatus, various types have been proposed (for example, Japanese Patent Publication No.
No. 44035, JP-A No. 56-11060). As a conventional inspection jig for a printed wiring board, as shown in FIGS. 9 and 10, a stylus 92 of a probe 9 is brought into contact with a wiring circuit 75 of the printed wiring board 7. Is used to inspect for electrical continuity.

【0003】該検査治具は,プローブの先端のガタツキ
を防止するためのガイド板8と,プローブ9を保持する
ためのピンボード88と,両者を貫通させて装着したプ
ローブ9とよりなる。プローブ9は,図10にも示すご
とく,パイプ状のソケット91と触針92とを有する。
ソケット91は,ピンボード88の貫通孔881内に挿
通固定されている。
The inspection jig comprises a guide plate 8 for preventing rattling of the tip of the probe, a pin board 88 for holding the probe 9, and a probe 9 mounted by penetrating both. As shown in FIG. 10, the probe 9 has a pipe-shaped socket 91 and a stylus 92.
The socket 91 is inserted and fixed in the through hole 881 of the pin board 88.

【0004】一方,触針92はガイド板8のガイド孔8
1内に,進退可能に挿通されている。そして,触針92
は,その上部にプランジャー920を有する。該プラン
ジャー920は,チューブ25の内腔内に,スプリング
バネ(図示略)を介して,進退可能に装着されている。
On the other hand, the stylus 92 is provided in the guide hole 8 of the guide plate 8.
It is inserted in 1 so that it can move forward and backward. And the stylus 92
Has a plunger 920 on top of it. The plunger 920 is mounted in the inner cavity of the tube 25 so as to be movable back and forth via a spring spring (not shown).

【0005】上記プローブ9の上端は,電気導通を検出
するための検査器に電気的に接続されている。なお,ガ
イド板8は,ソケット91の下端を配置するための凹部
82を有する。また,上記プローブ9は,被検査体とし
てのプリント配線板7の配線回路75に対応した位置に
設けてある。また,ガイド板8とピンボード88とは一
体的に固定してある。
The upper end of the probe 9 is electrically connected to an inspection device for detecting electrical continuity. The guide plate 8 has a recess 82 for disposing the lower end of the socket 91. Further, the probe 9 is provided at a position corresponding to the wiring circuit 75 of the printed wiring board 7 as the inspection object. Further, the guide plate 8 and the pin board 88 are integrally fixed.

【0006】そして,配線回路の電気導通の検査に当た
っては,プリント配線板7の上下より,上記ガイド板8
及びピンボード88を下降及び上昇させ,プローブ9の
触針92を配線回路75の触針用パッド(以下省略)に
当接させる。このとき,当該配線回路75が断線又はシ
ョートを生じていない場合には,正常な電気導通が得ら
れる。これにより,各配線回路75の良否が判定でき
る。
When inspecting the electrical continuity of the wiring circuit, the guide plate 8 is placed from above and below the printed wiring board 7.
Also, the pin board 88 is lowered and raised, and the stylus 92 of the probe 9 is brought into contact with the stylus pad (hereinafter omitted) of the wiring circuit 75. At this time, when the wiring circuit 75 is not broken or short-circuited, normal electrical conduction is obtained. As a result, the quality of each wiring circuit 75 can be determined.

【0007】また,上記において触針92の先端921
を配線回路75に当接させた際には,触針92はガイド
板8のガイド孔81に沿ってソケット91側へ後退し,
そのプランジャー920がソケット91内に侵入する。
これは,触針92の先端921を保護するためである。
なお,図9において,符号87,886はノックピン8
91の挿入穴,871,885は,位置決めピン892
の挿入穴である。
Further, in the above, the tip 921 of the stylus 92 is
When contacting the wiring circuit 75, the stylus 92 retracts toward the socket 91 side along the guide hole 81 of the guide plate 8,
The plunger 920 penetrates into the socket 91.
This is to protect the tip 921 of the stylus 92.
In FIG. 9, reference numerals 87 and 886 are knock pins 8.
91 insertion holes, 871 and 885 are positioning pins 892.
It is the insertion hole.

【0008】[0008]

【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来の検
査治具には,次の問題がある。即ち,近年は,プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み,配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば,このピッチは,従来は0.5mm程度であった
が,高密度配線回路においては0.3mmと狭くなって
いる。
[Problems to be Solved] However, the above-described conventional inspection jig has the following problems. That is, in recent years, the density of wiring circuits in printed wiring boards has increased, and the pitch of the pads at the ends of the wiring circuits has become narrower.
For example, this pitch is about 0.5 mm in the past, but it is as narrow as 0.3 mm in a high-density wiring circuit.

【0009】そこで,これに対応するため,プローブ9
の配列ピッチを狭くする必要があるため,プローブ自体
の大きさ(直径)も小さくする必要がある。そして,現
在使用されているプローブ9においても,そのソケット
91の外径は約1ミリであり,また触針92の直径は
0.5mmと細径である。
Therefore, in order to deal with this, the probe 9
Since it is necessary to narrow the array pitch of, it is necessary to reduce the size (diameter) of the probe itself. Also in the probe 9 currently used, the outer diameter of the socket 91 is about 1 mm, and the diameter of the probe 92 is as small as 0.5 mm.

【0010】また,従来の検査治具においては,検査に
当たって,触針92の先端921を直接に配線回路75
に当接させている。また,その当接の際には,上記のご
とく,触針92がガイド板8のガイド穴81内をスライ
ドして後退する。そして,検査後は,触針92は,ソケ
ット91内に設けたスプリングバネによって,再び元の
位置へ突出させられる。そのため,触針92は,検査の
度毎にガイド孔81内を摺動することになる。
In the conventional inspection jig, the tip 921 of the stylus 92 is directly connected to the wiring circuit 75 in the inspection.
Abutting against. Further, at the time of contact, the stylus 92 slides in the guide hole 81 of the guide plate 8 and retracts as described above. Then, after the inspection, the stylus 92 is made to project again to its original position by the spring spring provided in the socket 91. Therefore, the stylus 92 slides in the guide hole 81 at each inspection.

【0011】それ故,触針92が摩耗し易い。また,こ
の摩耗を防止するためガイド孔81の径を大きくする
と,触針92との間のクリアランスが大きくなり,触針
92の先端921がガタつき,検査不良を生ずることが
ある。また,触針92は,ピンボード88に固定された
ソケット91内に挿入されている。そのため,ソケット
91と触針92とガイド孔81の軸芯は同一にしなけれ
ばならない。それ故,上記ガイド孔81は,細径の触針
92を円滑にスライドさせるために,上記軸芯が一致す
るように寸法精度良く,穴明けを行う必要がある。
Therefore, the stylus 92 is easily worn. Further, if the diameter of the guide hole 81 is increased to prevent this wear, the clearance between the stylus 92 and the stylus 92 becomes large, and the tip 921 of the stylus 92 may rattle, resulting in defective inspection. Further, the stylus 92 is inserted into a socket 91 fixed to the pin board 88. Therefore, the socket 91, the stylus 92, and the guide hole 81 must have the same axis. Therefore, in order to smoothly slide the small-diameter stylus 92, the guide hole 81 needs to be drilled with high dimensional accuracy so that the shaft cores coincide with each other.

【0012】また,触針92は,ソケット91内とガイ
ド孔81内を,同軸線状にスライドすると共に,その先
端921が配線回路75と直接に当接するため,上記軸
芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記のごとく,従
来の検査治具においては,配線回路の高密度化に伴っ
て,特にプローブの触針92の細径化と損傷,ガイド孔
81の穴明精度等に問題がある。
The stylus 92 slides coaxially in the socket 91 and the guide hole 81, and its tip 921 directly contacts the wiring circuit 75. It is easily damaged. As described above, in the conventional inspection jig, as the wiring circuit becomes higher in density, there are problems particularly in the thinning and damage of the probe stylus 92 of the probe, the drilling accuracy of the guide hole 81, and the like.

【0013】一方,プローブの他端は,リード線その他
によって,電気的な判定回路を有する検査器に電気的に
接続されなければならない。すなわち,プローブの他端
は,コネクタその他の機械的接触又は半田付け等による
物理的な溶着方法等によって,電気信号を取り出す構造
が必要である。そして,それを効率的に実施するために
は,プローブの電気的取出口である他端(以下「他端」
と略称)は一定値以上の間隔を有することが望ましく,
更に願わくば一定の間隔に加えて一定の配列を有するこ
とが望ましい。
On the other hand, the other end of the probe must be electrically connected to a tester having an electrical judgment circuit by a lead wire or the like. That is, the other end of the probe needs to have a structure for taking out an electric signal by a mechanical welding method such as mechanical contact with a connector or soldering or the like. And in order to carry out it efficiently, the other end (hereinafter “the other end”) which is the electrical outlet of the probe
Abbreviation) has a certain interval or more,
Furthermore, it is desirable to have a constant array in addition to a constant spacing.

【0014】他方,プローブの触針の先端は,パッドに
当接させなければならないから,触針の配置は検査対照
のプリント配線板毎に全く異なったものとならざるを得
ない。また,配線回路の高密度化に伴い,触針の間隔は
非常に小さなものとなり,プローブの他端と,検査器と
接続するためのリードワイヤとの電気的接続はますます
難しくなってくる。
On the other hand, since the tip of the stylus of the probe must be brought into contact with the pad, the placement of the stylus must be completely different for each printed wiring board to be inspected. Further, as the wiring circuit becomes higher in density, the distance between the stylus becomes very small, and it becomes more and more difficult to electrically connect the other end of the probe to the lead wire for connecting to the inspection device.

【0015】他方プローブ他端の配置を触針の配置とは
異なったものとして,電気的接続を容易にしようとすれ
ば,上記の軸芯はガイド板及びピンボードに対して垂直
とすることができなくなり,ガイド孔及び貫通孔等の加
工は極めて困難なものとなる。本発明はかかる従来の問
題点に鑑み,プローブの細径化と損傷防止に対応でき,
かつガイド孔の穿設を容易にすると共に,プローブの他
端の電気的接続を容易にできる,プリント配線板の検査
治具を提供しようとするものである。
On the other hand, if the arrangement of the other end of the probe is made different from the arrangement of the stylus and electrical connection is facilitated, the above-mentioned axis may be perpendicular to the guide plate and the pin board. It becomes impossible, and it becomes extremely difficult to process guide holes and through holes. In view of the above-mentioned conventional problems, the present invention can cope with the probe diameter reduction and damage prevention,
Another object of the present invention is to provide an inspection jig for a printed wiring board, which facilitates the formation of the guide hole and facilitates the electrical connection of the other end of the probe.

【0016】[0016]

【課題の解決手段】本発明は,プリント配線板における
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って,該検査治具は,ガイド板と,ピンボードと,上記
配線回路と当接させるためのコンタクトピンと,該コン
タクトピンに当接させるための触針を有するプローブと
よりなり,かつ上記コンタクトピンは上記ガイド板に進
退可能に装着され,上記プローブの他端にはプローブ端
子を有し,該プローブ端子と検査器との間には,両者を
電気的に中継接続する中継端子盤を有し,該中継端子盤
は上記プローブ端子と接触させるコネクタ端子を有し,
またプローブ端子とコネクタ端子は互いに対向する位置
関係にあることを特徴とするプリント配線板の検査治具
にある。
The present invention is an inspection jig for inspecting a wiring circuit in a printed wiring board according to the presence or absence of electrical continuity, the inspection jig including a guide plate, a pin board, and the wiring circuit. The probe comprises a contact pin for making contact with the probe and a probe having a stylus for making contact with the contact pin, and the contact pin is attached to the guide plate so as to be movable back and forth, and a probe terminal is provided at the other end of the probe. And a relay terminal board for electrically connecting the probe terminal and the inspection device to each other, and the relay terminal board has a connector terminal for contacting with the probe terminal,
The probe terminal and the connector terminal are in a positional relationship facing each other, which is an inspection jig for a printed wiring board.

【0017】本発明において最も注目すべきことの1つ
は,上記従来例の前記プローブをいわば2組に分割し,
コンタクトピンとプローブとに構成したこと,そしてコ
ンタクトピンを配線回路に当接させ,一方プローブの触
針はコンタクトピンに当接させるよう構成したことであ
る。
One of the most remarkable things in the present invention is to divide the probe of the above-mentioned conventional example into two sets, so to speak,
The contact pin and the probe are configured, and the contact pin is brought into contact with the wiring circuit, while the probe stylus is brought into contact with the contact pin.

【0018】即ち,プリント配線板と対面するガイド板
には進退可能にコンタクトピンを装着し,上記ガイド板
に面するピンボードにはプローブを固定する。そして,
該プローブは,その一例としてソケット内に,弾性的に
進退可能に触針を内蔵させた構造とすることが好まし
い。
That is, a contact pin is attached to a guide plate facing the printed wiring board so as to be able to move forward and backward, and a probe is fixed to the pin board facing the guide plate. And
As an example of the probe, it is preferable that the probe has a structure in which a stylus is housed in a socket so as to be elastically movable back and forth.

【0019】これにより,プローブをコンタクトピンに
当接させるときに,触針が進退してその当接力を吸収
し,プローブ先端の損傷を防止できる。このように,触
針をソケット内に内蔵させる手段としては,触針をチュ
ーブ内に弾性的に保持し,これらをソケット内に装着す
る手段がある(図4,5参照)。また,ソケット内に,
直接に触針を挿入して弾性的に保持させる手段もある。
上記弾性的に保持する手段としては,スプリングバネが
ある。また,プローブは,単にコンタクトピンとコネク
タ端子をつなぐものであってもよい。
Thus, when the probe is brought into contact with the contact pin, the stylus advances and retreats to absorb the abutting force, thereby preventing damage to the probe tip. As described above, as a means for incorporating the stylus in the socket, there is a means for elastically holding the stylus in the tube and mounting these in the socket (see FIGS. 4 and 5). Also, in the socket,
There is also a means for directly inserting the stylus and elastically holding it.
There is a spring spring as the elastically holding means. Further, the probe may simply connect the contact pin and the connector terminal.

【0020】また,コンタクトピンはガイド板のガイド
孔に進退可能に装着する。コンタクトピンは,配線回路
に当接させる先端を有すると共に,その反対側に触針を
当接させる当接部を有する。該当接部は,コンタクトピ
ンの本体よりも大きな径を有する頭部を有することが好
ましい。また,該当接部には,触針の当接を確実にする
ために,曲面凹部を設けることが好ましい(図6参
照)。
Further, the contact pin is mounted in the guide hole of the guide plate so as to be able to move back and forth. The contact pin has a tip that abuts on the wiring circuit, and an abutting portion that abuts the stylus on the opposite side. The abutting portion preferably has a head portion having a diameter larger than that of the main body of the contact pin. Further, it is preferable to provide a curved surface concave portion at the contact portion to ensure contact of the stylus (see FIG. 6).

【0021】また,本発明の検査治具においては,ガイ
ド板及びピンボードに本発明に関する上記構成のコンタ
クトピン及びプローブを設けると共に,プリント配線板
の配線回路が高密度でない部分を検査するために,上記
従来例と同様の比較的大径のプローブピンを併設するこ
ともできる。
In addition, in the inspection jig of the present invention, the guide plate and the pin board are provided with the contact pins and the probe having the above-mentioned configuration according to the present invention, and in order to inspect a portion where the wiring circuit of the printed wiring board is not high density. It is also possible to install a probe pin with a relatively large diameter similar to the above-mentioned conventional example.

【0022】本発明において注目すべきもう一つのこと
は,プローブの他端には,端子構造を有するプローブ端
子を設け,該プローブ端子と検査器との間には,両者を
電気的に中継接続する中継端子盤を設けたこと,更にこ
の中継端子盤は上記プローブ端子と接続させるコネクタ
端子を有し,プローブ端子とコネクタ端子とは互いに対
向する位置関係にあるようにしたことである(図1参
照)。プローブの他端(触針の反対側の端部)であるプ
ローブ端子と中継端子盤のコネクタ端子とは,互いに機
械的な接触によって電気的導通を確実なものにするよう
な構造,例えばオス・メスの関係を形成するような端子
形状にすることもできる。
Another thing to be noticed in the present invention is that the other end of the probe is provided with a probe terminal having a terminal structure, and the probe terminal and the inspector are electrically relay-connected to each other. The relay terminal board is provided, and further, the relay terminal board has connector terminals to be connected to the probe terminals, and the probe terminals and the connector terminals have a positional relationship facing each other (FIG. 1). reference). The probe terminal, which is the other end of the probe (the end opposite to the stylus), and the connector terminal of the relay terminal board have a structure that ensures electrical conduction by mechanical contact with each other, such as a male connector. It is also possible to have a terminal shape that forms a female relationship.

【0023】また,プローブ端子とコネクタ端子の結合
状態において,一定の接触押圧を確保するように,コネ
クタ端子側は進退可能に弾力的に支持することが好まし
い。また,プローブ端子とコネクタ端子とは空間的に相
対向するように配置される。この両端子の配置はプロー
ブ端子とコネクタ端子の接続を容易にするような配列で
あり,コンタクトピンの配置間隔とは異なっている。更
にコネクタ端子の配列すなわちプローブ端子の配列は,
コンタクトピンの配列すなわちプリント配線板の種類に
左右されずに,一定の間隔を有する配列とすることが好
ましい。
Further, it is preferable that the connector terminal side is elastically supported so as to be able to move forward and backward so as to ensure a constant contact pressure in the coupled state of the probe terminal and the connector terminal. Further, the probe terminal and the connector terminal are arranged so as to face each other spatially. The arrangement of both terminals is an arrangement that facilitates the connection of the probe terminal and the connector terminal, and is different from the contact pin arrangement interval. Furthermore, the arrangement of connector terminals, that is, the arrangement of probe terminals is
It is preferable that the contact pins be arranged at a constant interval regardless of the arrangement of the contact pins, that is, the type of the printed wiring board.

【0024】このために,プローブの軸芯はガイド板及
びピンボードに必ずしも垂直ではなく,コンタクトピン
の位置とコネクタ端子の位置に対応した傾斜を有するよ
うなプローブの構造とする(図1)。これにより,両者
は常に一定の位置関係に設計することができ,コネクタ
端子を設けた中継端子盤に汎用性を持たせることがで
き,コスト安となる。中継端子盤と検査器とはリードワ
イヤ等によって電気的に接続することができる。
For this reason, the probe has a structure in which the axis of the probe is not necessarily perpendicular to the guide plate and the pin board, and has an inclination corresponding to the position of the contact pin and the position of the connector terminal (FIG. 1). As a result, both can always be designed in a fixed positional relationship, and the relay terminal board provided with the connector terminals can be given general versatility, resulting in a low cost. The relay terminal board and the inspection device can be electrically connected by a lead wire or the like.

【0025】[0025]

【作用及び効果】本発明の検査治具においては,ガイド
板にコンタクトピンを,ピンボードにプローブを設け,
コンタクトピンをプリント配線板の配線回路に当接さ
せ,プローブの触針はコンタクトピンに当接させるよう
構成している。即ち,本発明においては,ガイド孔内を
スライドして配線回路に当接する部分(コンタクトピ
ン)と,電気導通の検出端であるプローブとを2つに分
けた構成としている。
In the inspection jig of the present invention, contact pins are provided on the guide plate and probes are provided on the pin board.
The contact pin is brought into contact with the wiring circuit of the printed wiring board, and the stylus of the probe is brought into contact with the contact pin. That is, in the present invention, a portion (contact pin) that slides in the guide hole and comes into contact with the wiring circuit and a probe that is a detection end of electrical conduction are divided into two parts.

【0026】そのため,コンタクトピンとプローブとは
互いに独立した進退移動が可能である。それ故,ピンボ
ードに設けたプローブと,その触針と,コンタクトピン
が進退するガイド板のガイド孔との3つの軸芯を,高精
度で一致させる必要がない。
Therefore, the contact pin and the probe can move back and forth independently of each other. Therefore, it is not necessary to precisely match the three axes of the probe provided on the pin board, the stylus thereof, and the guide hole of the guide plate through which the contact pin advances and retracts.

【0027】したがって,ガイド孔の軸芯の孔明けは,
プリント配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良
く,従来のごとく高精度が要求されず,穿設容易であ
る。また,ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑スライ
ドを可能とすれば良いので,細径のものを設けることが
でき,コンタクトピンのガタつきも小さくすることがで
きる。また,コンタクトピンが摩耗した際には,容易
に,しかも安価に交換することができる。
Therefore, the drilling of the axial center of the guide hole is
It suffices that the holes are formed in conformity with the wiring circuit of the printed wiring board, high precision is not required as in the conventional case, and the holes can be easily formed. Further, since it is sufficient that only the contact pin can be smoothly slid in the guide hole, it is possible to provide the guide hole with a small diameter and reduce the rattling of the contact pin. Further, when the contact pin is worn, it can be replaced easily and at low cost.

【0028】また,プローブは,直接に配線回路に当接
させないので,従来のごとく損傷を受けることがない。
また,コンタクトピンは,配線回路に直接当接しガイド
孔内をスライドするが,従来のごとく,ピンボードの孔
内を進退することがないので,軸芯ズレ等により損傷を
受けることがない。
Since the probe is not directly brought into contact with the wiring circuit, it is not damaged as in the conventional case.
Further, the contact pin directly contacts the wiring circuit and slides in the guide hole, but since the contact pin does not move back and forth in the hole of the pin board as in the conventional case, it is not damaged by axial misalignment or the like.

【0029】また,上記のごとく,コンタクトピンとプ
ローブとに分割構成し,検査時における両者の進退に無
理を生じないようにしたので,両者を細径化することも
できる。そのため,高密度配線回路の検査も容易であ
る。また,プローブは,0.1〜0.3mmという細い
内径のソケット内に,弾性的に,進退可能に装着した構
成である。そのため,高価な精密部品であるが,上記の
ごとく損傷がないため,検査治具もコスト安となる。し
たがって,本発明によれば,プローブの触針の細径化と
損傷防止に対応でき,かつガイド孔の穿設が容易であ
る。
Further, as described above, since the contact pin and the probe are separately configured so as to prevent the forward and backward movement of both of them during the inspection, it is possible to reduce the diameter of both. Therefore, it is easy to inspect high-density wiring circuits. Moreover, the probe is elastically mounted in a socket having a small inner diameter of 0.1 to 0.3 mm so as to be able to move forward and backward. Therefore, although it is an expensive precision part, it is not damaged as described above, so the cost of the inspection jig is also low. Therefore, according to the present invention, it is possible to cope with the thinning and damage prevention of the probe stylus of the probe, and it is easy to form the guide hole.

【0030】また,本発明では,プローブ端子と検査器
との間に中継端子盤を設け,該中継端子盤には上記プロ
ーブ端子を接触させるコネクタ端子を設けている。その
ため,前記コネクタピンに当接させるプローブの触針
と,上記プローブ端子とはその軸芯を一致させる必要が
なく,プローブは曲折させることもできる(図1参
照)。
Further, in the present invention, a relay terminal board is provided between the probe terminal and the inspector, and the relay terminal board is provided with a connector terminal for contacting the probe terminal. Therefore, it is not necessary to match the axes of the probe stylus to be brought into contact with the connector pin and the probe terminal, and the probe can be bent (see FIG. 1).

【0031】それ故,プリント配線板の配線回路に当接
させるコネクタピンが密集し,それに伴って上記触針が
密集しても,プローブ端子は密集配置する必要がない。
そのため,プローブ端子とコネクタ端子との位置は,例
えば等間隔に汎用性を持たせて,配置することができ
る。また,ピンボードの検査器側の面積はガイド板側の
面積より広くすることも可能である。
Therefore, even if the connector pins that come into contact with the wiring circuit of the printed wiring board are densely packed and the stylus is densely packed with it, it is not necessary to densely arrange the probe terminals.
Therefore, the positions of the probe terminal and the connector terminal can be arranged with equal versatility, for example. In addition, the area of the pinboard on the inspector side can be made larger than the area of the guide plate side.

【0032】それ故,プローブ端子の端子間隔はコンタ
クトピン間隔に制約されず,プローブ端子とコネクタ端
子の端子配列の標準化が可能であり,両者の電気的接触
が容易となる。また,中継端子盤そのものの標準構造化
が可能である。
Therefore, the terminal interval of the probe terminals is not restricted by the contact pin interval, the terminal arrangement of the probe terminals and the connector terminals can be standardized, and the electrical contact between them becomes easy. In addition, the standard structure of the relay terminal board itself is possible.

【0033】したがって,本発明によれば,コンタクト
ピン及びプローブの細径化と損傷防止に対応でき,かつ
ガイド孔の穿孔を容易にすると共に,プローブの他端と
検査器との電気的接触を容易にできるプリント配線板の
検査治具を提供することができる。
Therefore, according to the present invention, it is possible to reduce the diameter and prevent damage of the contact pin and the probe, facilitate the drilling of the guide hole, and make electrical contact between the other end of the probe and the inspection device. An inspection jig for a printed wiring board that can be easily provided can be provided.

【0034】[0034]

【実施例】本発明の実施例にかかる,プリント配線板の
検査治具につき,図1〜図8を用いて説明する。本実施
例の全体の構成を,コンタクトピン3を配線回路71に
当接させ,プローブ1の他端16に配線回路の電気的導
通状態を伝達する検出部と,該プローブ他端16から,
中継端子盤40を経て該電気的導通状態を検査器18に
伝える中継部とに分けて説明する。
EXAMPLE An inspection jig for a printed wiring board according to an example of the present invention will be described with reference to FIGS. The whole structure of the present embodiment is such that the contact pin 3 is brought into contact with the wiring circuit 71, and the detection unit for transmitting the electrically conductive state of the wiring circuit to the other end 16 of the probe 1 and the other end 16 of the probe are provided.
A description will be given separately for a relay section that transmits the electrical conduction state to the inspection device 18 via the relay terminal board 40.

【0035】まず,本実施例における検出部は,図1〜
図3に示すごとく,ガイド板8とピンボード88と,配
線回路71と当接させるためのコンタクトピン3と,該
コンタクトピン3に当接させるための触針2を内蔵した
プローブ1とよりなる。また,上記コンタクトピン3
は,上記ガイド板8に進退可能に装着され,また上記触
針2はプローブ1のソケット11内に弾性的に進退可能
に内蔵されている。
First, the detection unit in this embodiment is shown in FIG.
As shown in FIG. 3, it comprises a guide plate 8, a pin board 88, a contact pin 3 for making contact with the wiring circuit 71, and a probe 1 having a stylus 2 for making contact with the contact pin 3. .. In addition, the above contact pin 3
Is attached to the guide plate 8 so as to be able to move forward and backward, and the stylus 2 is built in the socket 11 of the probe 1 so as to be elastically movable forward and backward.

【0036】上記配線回路71は,プリント配線板7に
おいて高密度配置されたものである。なお,本例の検査
治具においては,配列ピッチが大きい配線回路75に対
して検査するための,従来と同様のプローブ9が装着し
てある。上記ガイド板8とピンボード88とは,従来と
同様にノックピン891により,脱着可能に,一体的に
結合されている。ガイド板8は,図1〜3,図7,図8
に示すごとく,コンタクトピン3を,進退可能に装着す
るための多数のガイド孔85と,開口溝86を有する。
The wiring circuits 71 are arranged in high density on the printed wiring board 7. In the inspection jig of this example, the same probe 9 as the conventional one is attached to inspect the wiring circuit 75 having a large arrangement pitch. The guide plate 8 and the pin board 88 are detachably and integrally coupled by a knock pin 891 as in the conventional case. The guide plate 8 is shown in FIGS.
As shown in FIG. 3, the contact pin 3 has a large number of guide holes 85 for mounting it so that it can move forward and backward, and an opening groove 86.

【0037】また,ピンボード88は,図2,3に示す
ごとく,プローブ1のソケット11を挿通固定するため
の貫通孔882を有する。また,ソケット11は,中間
ピンボード888,他端ピンボード889の各貫通孔8
82を挿通している。他端ピンボード889は,後述す
るごとく,プローブ1の他端16を支持している。上記
コンタクトピン3は,図2,図3,図6に示すごとく,
配線回路71に当接させるための先端31と,触針2を
当接させるための当接部としての,頭部32を有する。
また,該頭部32は,曲面凹部321を有する(図
6)。
Further, the pin board 88 has a through hole 882 for inserting and fixing the socket 11 of the probe 1 as shown in FIGS. Further, the socket 11 has through holes 8 of the intermediate pin board 888 and the other end pin board 889.
82 is inserted. The other end pin board 889 supports the other end 16 of the probe 1, as described later. The contact pin 3 is, as shown in FIGS. 2, 3 and 6,
It has a tip 31 for contacting the wiring circuit 71 and a head 32 as an abutting part for contacting the stylus 2.
Further, the head 32 has a curved concave portion 321 (FIG. 6).

【0038】また,プローブ1は,図2〜図5に示すご
とく,ソケット11とその中へ進退可能に挿通した触針
2とからなる。ソケット11は,図4に示すごとく,中
空パイプであり,触針2の挿入側にフランジ110を有
する。
As shown in FIGS. 2 to 5, the probe 1 comprises a socket 11 and a stylus 2 which is inserted into the socket 11 so as to be able to move forward and backward. As shown in FIG. 4, the socket 11 is a hollow pipe and has a flange 110 on the insertion side of the stylus 2.

【0039】一方,触針2は,図4,図5に示すごと
く,チューブ25内に進退可能に装着されている。即
ち,触針2は,図5に示すごとく,上部に触針2とほぼ
同径のガイド柱22を有し,両者の間には細径の連結部
21を有する。そして,チューブ25の中に,まずスプ
リングバネ23を入れ,次いで上記触針2を挿入した
後,上記触針の連結部21の外側部分において,チュー
ブ25のかしめを行い,かしめ部251を形成する。
On the other hand, the stylus 2 is mounted in the tube 25 so as to be movable back and forth, as shown in FIGS. That is, as shown in FIG. 5, the stylus 2 has a guide column 22 having substantially the same diameter as that of the stylus 2, and a thin connecting portion 21 between the two. Then, the spring 25 is first put in the tube 25, and then the stylus 2 is inserted. Then, the tube 25 is caulked at the outer side of the connecting portion 21 of the stylus to form the caulked portion 251. .

【0040】これにより,触針2は,チューブ25内に
おいて,上記スプリングバネ23により弾性的に,進退
可能に装着される。なお,符号252は,チューブ25
の上端部に設けた,スプリングバネ23の上端を当接さ
せるためのかしめ部である。そして,このように構成し
た触針2は,上記図4に示すごとく,ソケット11の中
空部111内へ挿入する。このとき,触針2を保持した
チューブ25の上端は,ソケット11のかしめ部113
に当接する。
As a result, the stylus 2 is elastically mounted in the tube 25 by the spring spring 23 so as to be movable back and forth. The reference numeral 252 indicates the tube 25.
Is a caulking portion provided at the upper end of the spring for contacting the upper end of the spring spring 23. Then, the stylus 2 configured as described above is inserted into the hollow portion 111 of the socket 11 as shown in FIG. At this time, the upper end of the tube 25 holding the stylus 2 has the caulked portion 113 of the socket 11.
Abut.

【0041】更に,上記のごとく構成したプローブ1
は,図1〜図3に示すごとく,ピンボード88,中間ピ
ンボード888,他端ピンボード889の各貫通孔88
2内へ,挿入し,固定する。そして,プローブ1の触針
2は,コンタクトピン3と対向した位置にあり,一方プ
ローブ端子16は中継端子盤40のコネクタ端子41と
対向した位置にある。また,触針2の間隔は,コンタク
トピン3のそれと同じである。しかし,プローブ端子1
6の間隔はコンタクトピンのそれとは,無関係に,コネ
クタ端子41に対向して一定間隔である。それ故,プロ
ーブ1は図1に示すごとく,斜状に配置されている。
Further, the probe 1 constructed as described above
As shown in FIGS. 1 to 3, the through holes 88 of the pin board 88, the intermediate pin board 888, and the other end pin board 889 are formed.
Insert into 2 and fix. The stylus 2 of the probe 1 is in a position facing the contact pin 3, while the probe terminal 16 is in a position facing the connector terminal 41 of the relay terminal board 40. Further, the spacing of the stylus 2 is the same as that of the contact pin 3. However, probe terminal 1
The interval of 6 is a constant interval facing the connector terminal 41 regardless of that of the contact pin. Therefore, the probes 1 are arranged obliquely as shown in FIG.

【0042】次に上記検出部の作用効果につき説明す
る。即ち,プリント配線板7における配線回路71の良
否を電気導通により検査するに当たっては,図1〜図3
に示すごとく,各配線回路71に対してガイド板8及び
ピンボード88を,上下方向より接近させ,ガイド板8
をプリント配線板7に対面させる。このとき,両者の当
接前においては,コンタクトピン3は,図2に示すごと
く,ガイド板8よりも突出した状態にある。また,コン
タクトピン3の頭部32には,プローブ1の触針2の先
端20が当接している。
Next, the function and effect of the detection section will be described. That is, when inspecting the quality of the wiring circuit 71 on the printed wiring board 7 by means of electrical continuity, FIG.
, The guide plate 8 and the pin board 88 are brought closer to each wiring circuit 71 in the vertical direction,
To face the printed wiring board 7. At this time, before the contact between the two, the contact pin 3 is in a state of protruding from the guide plate 8 as shown in FIG. Further, the head 32 of the contact pin 3 is in contact with the tip 20 of the stylus 2 of the probe 1.

【0043】そして,ガイド板8がプリント配線板7に
当接し,コンタクトピン3の先端31が配線回路71に
当接するときには,コンタクトピン3はガイド孔85内
をスライド上昇する。そして,図3に示すごとく,コン
タクトピンの先端31はガイド板8の下面とほぼ同じ位
置に来る。このとき,コンタクトピン3の頭部32は,
触針2をプローブ1の方向に押圧する。そのため,触針
2は,上記スプリングバネ23(図5)の付勢力に抗し
て,チューブ25内に侵入する。
When the guide plate 8 contacts the printed wiring board 7 and the tip 31 of the contact pin 3 contacts the wiring circuit 71, the contact pin 3 slides up in the guide hole 85. Then, as shown in FIG. 3, the tip 31 of the contact pin is located at substantially the same position as the lower surface of the guide plate 8. At this time, the head 32 of the contact pin 3 is
The stylus 2 is pressed toward the probe 1. Therefore, the stylus 2 enters the tube 25 against the biasing force of the spring spring 23 (FIG. 5).

【0044】このように,コンタクトピン3の先端31
が,配線回路71と当接した後,プローブ1のプローブ
端子16,後述する中継端子盤40,リードワイヤ15
を介して,プローブ1,触針2,コンタクトピン3に電
流を通じ,配線回路71の良否を従来と同様に判断する
(図1)。また,検査終了後は,ガイド板8等をプリン
ト配線板7より遠ざける。そのため,コンタクトピン3
は,触針2のスプリングバネ23の付勢力により,図2
に示すごとく突出する。
Thus, the tip 31 of the contact pin 3
However, after contacting the wiring circuit 71, the probe terminal 16 of the probe 1, the relay terminal board 40 described later, and the lead wire 15
A current is passed through the probe 1, the stylus 2, and the contact pin 3 to determine whether the wiring circuit 71 is good or bad (FIG. 1). After the inspection, the guide plate 8 and the like are moved away from the printed wiring board 7. Therefore, contact pin 3
2 by the biasing force of the spring spring 23 of the stylus 2.
As shown in.

【0045】なお,図1に示した従来のプローブ9は,
前記従来例と同様に作動する。上記のごとく,本例の検
査治具においては,コンタクトピン3をガイド板8に進
退可能に装着し,またプローブ1はピンボード88に固
定すると共に該プローブ1内に進退可能に触針2を装着
している。
The conventional probe 9 shown in FIG.
The operation is similar to that of the conventional example. As described above, in the inspection jig of this example, the contact pin 3 is mounted on the guide plate 8 so as to be movable back and forth, and the probe 1 is fixed to the pin board 88 and the stylus 2 is movable so as to move back and forth inside the probe 1. I am wearing it.

【0046】そのため,コンタクトピン3の進退と,触
針の進退とは独立した状態にある。それ故,従来のごと
く,ピンボード88に固定したプローブ1と,その内部
に挿入した触針2と,該触針が進退するガイド板のガイ
ド孔85との3つの軸芯を高精度で一致させる必要がな
い。即ち,本例においては,コンタクトピン3の軸芯と
触針2の軸芯とに位置ずれが生じていても,両者が当接
しておれば支障がない(図2,3)。
Therefore, the forward / backward movement of the contact pin 3 and the forward / backward movement of the stylus are independent of each other. Therefore, as in the prior art, the three axes of the probe 1 fixed to the pin board 88, the stylus 2 inserted therein, and the guide hole 85 of the guide plate through which the stylus advances and retracts are matched with high accuracy. You don't have to let me. That is, in this example, even if the axial center of the contact pin 3 and the axial center of the stylus 2 are misaligned, there is no problem as long as they are in contact with each other (FIGS. 2 and 3).

【0047】また,そのため,ガイド孔85はプリント
配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良い。したが
って,ガイド孔85及びピンボード88の孔の軸芯に関
する穴明け精度は高精度が要求されず,穿設容易であ
る。また,ガイド孔85は,コンタクトピン3のみの円
滑スライドを可能とすれば良いので,細径のものを設け
ることができ,ガタつきもない。
Therefore, the guide hole 85 may be formed so as to coincide with the wiring circuit of the printed wiring board. Therefore, high precision is not required for the drilling accuracy with respect to the shaft center of the guide hole 85 and the hole of the pin board 88, and the drilling is easy. Further, since the guide hole 85 only needs to be able to smoothly slide the contact pin 3, it can be provided with a small diameter and is free from rattling.

【0048】また,プローブ1は,その触針2を直接に
配線回路71に当接させないので,従来のごとく,損傷
を受けることがない。また,コンタクトピン3は配線回
路71に直接当接し,ガイド孔85内をスライドする
が,従来のプローブの触針のごとく,ガイド孔85内と
プローブのソケット内の両方を直線状に進退することが
ない。そのため,両者間の軸芯ずれ等による損傷を受け
ることもない。
Further, since the probe 1 does not directly contact the stylus 2 with the wiring circuit 71, it is not damaged as in the conventional case. Further, the contact pin 3 directly abuts on the wiring circuit 71 and slides in the guide hole 85. However, like the stylus of the conventional probe, the contact pin 3 must be linearly advanced and retracted both in the guide hole 85 and the probe socket. There is no. Therefore, there is no damage due to axial misalignment between the two.

【0049】更に,コンタクトピン3とプローブ1とに
分割構成し,検査時における両者の進退に無理を生じな
いようにしたので,両者をそれぞれ細径化することがで
きる。本例においては,上記コンタクトピン3の直径は
0.27mm,プローブ1のソケットの外径は0.45
mm,内径は0.27mm,触針2の外径は0.15m
mである。また,本例のコンタクトピン3においては,
その頭部32に曲面凹部321を設けたので,該頭部3
2に触針2の先端20を確実に当接させておくことがで
きる。
Further, since the contact pin 3 and the probe 1 are separately configured so as not to cause an unreasonable increase / decrease in the both during the inspection, both of them can be thinned. In this example, the diameter of the contact pin 3 is 0.27 mm, and the outer diameter of the socket of the probe 1 is 0.45 mm.
mm, inner diameter is 0.27 mm, outer diameter of stylus 2 is 0.15 m
m. In addition, in the contact pin 3 of this example,
Since the curved portion 321 is provided on the head 32, the head 3
The tip 20 of the stylus 2 can be reliably brought into contact with the needle 2.

【0050】次に,本実施例における中継部について,
主として図1,図2を用いて説明する。本実施例の中継
部は,まずプローブ1の他端(触針のない端部)にプロ
ーブ端子16を有し,該プローブ端子16と検査器18
との間には,両者を電気的に中継接続する中継端子盤4
0を有する。該中継端子盤は上記プローブ端子16と接
触させるコネクタ端子41を有し,プローブ端子16と
コネクタ端子41は互いに対向する位置関係にある。
Next, regarding the relay section in this embodiment,
The description will be made mainly with reference to FIGS. The relay unit of the present embodiment has a probe terminal 16 at the other end of the probe 1 (an end portion without a stylus), and the probe terminal 16 and the inspection device 18 are provided.
A relay terminal board 4 for electrically connecting the two with
Has 0. The relay terminal board has connector terminals 41 that are brought into contact with the probe terminals 16, and the probe terminals 16 and the connector terminals 41 are in a positional relationship of facing each other.

【0051】プローブ端子16は,配線回路75の配置
状態に依存しない,一定の予め定められた配列と座標位
置を有する。プローブ端子16と対向するコネクタ端子
41も同様である。またプローブ端子16とコネクタ端
子41とは両者を当接させたときに安定した電気的導通
を得るために,雌雄相補う形状とする。また,コネクタ
端子16は触針2と同様に,進退可能に弾力性を有する
スプリングコネクターとする。コネクタ端子41と検査
器18との間には,リードワイヤ15が接続されてい
る。
The probe terminal 16 has a fixed predetermined arrangement and coordinate position that does not depend on the arrangement state of the wiring circuit 75. The same applies to the connector terminal 41 facing the probe terminal 16. Further, the probe terminal 16 and the connector terminal 41 are shaped to be complementary to each other in order to obtain stable electrical conduction when they are brought into contact with each other. Further, the connector terminal 16 is a spring connector having elasticity so that it can move forward and backward, like the stylus 2. The lead wire 15 is connected between the connector terminal 41 and the inspection device 18.

【0052】このような構成とすることにより,中継端
子盤40の構造は,プリント配線板7の配線回路75に
おけるパターンが変わっても,その変更を要しない一定
の標準構造とすることができる。これらのことは,従来
のプローブの機能をコンタクトピン3とプローブ1とに
分割したことによって,実現できたことである。
With such a structure, the structure of the relay terminal board 40 can be a constant standard structure which does not need to be changed even if the pattern in the wiring circuit 75 of the printed wiring board 7 is changed. These can be realized by dividing the function of the conventional probe into the contact pin 3 and the probe 1.

【0053】このように構成することにより,前記検査
時には中継端子盤40を,他端ピンボード889側に押
圧し,プローブ端子16とコネクタ端子41を一括して
接触させる。これにより,中継端子盤40を介して,プ
ローブ1と検査器18との電気的導通が可能となる。即
ち,検査対象であるプリント配線板7が変わった場合
は,プリント配線板7に対応するプローブ部分(プロー
ブ1,ガイド板8,ピンボード889等が一体となった
もの)を交換するだけでよく,プローブ1と検査器18
との間の電気的な接続作業からは開放される。この場合
プローブ端子16とコネクタ端子41との電気的導通は
コネクタ端子41をスプリングコネクターとすることに
より,一層確実なものとすることができる。
With this structure, at the time of the inspection, the relay terminal board 40 is pressed toward the other end pin board 889 so that the probe terminal 16 and the connector terminal 41 are brought into contact with each other all at once. As a result, the electrical connection between the probe 1 and the inspecting device 18 becomes possible via the relay terminal board 40. That is, when the printed wiring board 7 to be inspected is changed, it suffices to replace the probe portion corresponding to the printed wiring board 7 (the probe 1, the guide plate 8 and the pin board 889 are integrated). , Probe 1 and inspector 18
It is free from the electric connection work between and. In this case, the electrical connection between the probe terminal 16 and the connector terminal 41 can be made more reliable by using the connector terminal 41 as a spring connector.

【0054】以上のごとく,本例によれば,プローブ1
の触針2の細径化と損傷防止に対応でき,かつガイド孔
85の穿孔を容易に行うことができる。また,プローブ
1の他端のプローブ端子16と検査器18との電気的接
触を容易にできる。
As described above, according to this example, the probe 1
It is possible to reduce the diameter of the stylus 2 and prevent damage, and it is possible to easily form the guide hole 85. Moreover, electrical contact between the probe terminal 16 at the other end of the probe 1 and the inspection device 18 can be facilitated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施例1における,検査治具の全体説明図。FIG. 1 is an overall explanatory view of an inspection jig according to a first embodiment.

【図2】実施例1における,検査前の状態の,コンタク
トピン及びプリント配線板周りの断面図。
FIG. 2 is a cross-sectional view around contact pins and a printed wiring board in a state before inspection according to the first embodiment.

【図3】実施例1における,検査時点のコンタクトピン
及びプリント配線板周りの断面図。
FIG. 3 is a cross-sectional view around contact pins and a printed wiring board at the time of inspection in the first embodiment.

【図4】実施例1のプローブにおける,ソケット及び触
針の展開正面図。
FIG. 4 is a developed front view of a socket and a stylus in the probe of the first embodiment.

【図5】実施例1における,プローブの先端部分の断面
図。
FIG. 5 is a cross-sectional view of the tip portion of the probe in the first embodiment.

【図6】実施例1における,コンタクトピンの正面図。FIG. 6 is a front view of the contact pin according to the first embodiment.

【図7】実施例1における,ガイド板の平面図。FIG. 7 is a plan view of the guide plate according to the first embodiment.

【図8】図7のA−A線矢視断面図。8 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.

【図9】従来例における検査治具の全体説明図。FIG. 9 is an overall explanatory view of an inspection jig in a conventional example.

【図10】従来例における検査治具のプローブ周りの説
明図。
FIG. 10 is an explanatory view around the probe of the inspection jig in the conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1...プローブ, 11...ソケット, 15...リードワイヤー, 16...プローブ端子, 18...検査器, 2...触針, 23...スプリングバネ, 25...チューブ, 3...コンタクトピン, 31...先端, 40...中継端子盤, 41...コネクタ端子, 7...プリント配線板, 71...高密度ピッチの配線回路, 75...通常配線ピッチの配線回路, 8...ガイド板, 85...ガイド孔, 88...ピンボード, 1. . . Probe, 11. . . Socket, 15. . . Lead wire, 16. . . Probe terminal, 18. . . Inspector, 2. . . Stylus, 23. . . Spring, 25. . . Tube, 3. . . Contact pin, 31. . . Tip, 40. . . Relay terminal board, 41. . . Connector terminal, 7. . . Printed wiring board, 71. . . High-density pitch wiring circuit, 75. . . 7. Wiring circuit with normal wiring pitch, 8. . . Guide plate, 85. . . Guide hole, 88. . . Pin board,

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント配線板における配線回路を電気
導通の有無により検査する検査治具であって,該検査治
具は,ガイド板と,ピンボードと,上記配線回路と当接
させるためのコンタクトピンと,該コンタクトピンに当
接させるための触針を有するプローブとよりなり,かつ
上記コンタクトピンは上記ガイド板に進退可能に装着さ
れ,上記プローブの他端にはプローブ端子を有し,該プ
ローブ端子と検査器との間には,両者を電気的に中継接
続する中継端子盤を有し,該中継端子盤は上記プローブ
端子と接触させるコネクタ端子を有し,またプローブ端
子とコネクタ端子は互いに対向する位置関係にあること
を特徴とするプリント配線板の検査治具。
1. An inspection jig for inspecting a wiring circuit in a printed wiring board according to the presence or absence of electrical continuity, the inspection jig including a guide plate, a pin board, and a contact for contacting the wiring circuit. The probe comprises a pin and a probe having a stylus for making contact with the contact pin, and the contact pin is attached to the guide plate so as to be movable back and forth, and has a probe terminal at the other end of the probe. Between the terminal and the inspector, there is a relay terminal board for electrically connecting the two to each other, the relay terminal board has a connector terminal for contacting with the probe terminal, and the probe terminal and the connector terminal are mutually connected. An inspection jig for printed wiring boards, which is in a positional relationship of facing each other.
JP4131789A 1992-04-24 1992-04-24 Inspection jig for printed wiring board Pending JPH05302938A (en)

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