JPH05307001A - 吸収・散乱光測定装置 - Google Patents
吸収・散乱光測定装置Info
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- JPH05307001A JPH05307001A JP10373591A JP10373591A JPH05307001A JP H05307001 A JPH05307001 A JP H05307001A JP 10373591 A JP10373591 A JP 10373591A JP 10373591 A JP10373591 A JP 10373591A JP H05307001 A JPH05307001 A JP H05307001A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 本発明にかかる吸収・散乱光測定装置は、レ
ーザー光源52及び吸光度測定用光源72より出光され
る光を合成する合成手段78と、該合成手段78により
合成された光が通過可能なセル56と、透過レーザー
光、透過吸光度測定用光、散乱光をそれぞれ分離する分
離手段84を備えることを特徴とする。そして、前述し
たように散乱光強度測定用のレーザー光と、吸光度測定
用の光とを合成手段により同一光路上に配置し、同一の
セルを用いて散乱光強度、及び吸光度を測定する。 【効果】 このように、本発明によれば、一のセルを用
いて分子量測定が可能となったので、クロマトグラムの
広がり、時間差を生じることがなく、しかもセルの破
損、液漏れ等を生じることもない。
ーザー光源52及び吸光度測定用光源72より出光され
る光を合成する合成手段78と、該合成手段78により
合成された光が通過可能なセル56と、透過レーザー
光、透過吸光度測定用光、散乱光をそれぞれ分離する分
離手段84を備えることを特徴とする。そして、前述し
たように散乱光強度測定用のレーザー光と、吸光度測定
用の光とを合成手段により同一光路上に配置し、同一の
セルを用いて散乱光強度、及び吸光度を測定する。 【効果】 このように、本発明によれば、一のセルを用
いて分子量測定が可能となったので、クロマトグラムの
広がり、時間差を生じることがなく、しかもセルの破
損、液漏れ等を生じることもない。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は吸収・散乱光測定装置、
特にその光学系の改良に関する。
特にその光学系の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】比較的分子量の小さい物質の分子量を測
定する手段については各種開発されているが、高分子物
質の分子量測定を行なうことは困難であり、特にポリマ
ー等、個々の分子が一定の分子量を有しない物質の分子
量測定は極めて困難である。このような高分子物質の分
子量測定、或いは平均分子量、分子量分布の測定を行な
う手段として、近年光散乱光強度及び吸光度測定を行な
う方法が用いられている。
定する手段については各種開発されているが、高分子物
質の分子量測定を行なうことは困難であり、特にポリマ
ー等、個々の分子が一定の分子量を有しない物質の分子
量測定は極めて困難である。このような高分子物質の分
子量測定、或いは平均分子量、分子量分布の測定を行な
う手段として、近年光散乱光強度及び吸光度測定を行な
う方法が用いられている。
【0003】すなわち、高分子溶液からの光散乱光の強
度ILSは、散乱角が小さい場合、高分子物質の濃度
(C)と分子量(M)は比例する。 ILS=k’(dn/dc)2×C×M …式1 ここで、dn/ncは比屈折率増分、k’は装置に依存する
比例係数である。
度ILSは、散乱角が小さい場合、高分子物質の濃度
(C)と分子量(M)は比例する。 ILS=k’(dn/dc)2×C×M …式1 ここで、dn/ncは比屈折率増分、k’は装置に依存する
比例係数である。
【0004】そして、標準試料(C,M,dn/dcが既
知)を利用して前記式1中のk’を決めれば、その後は
ILSの測定によってC×Mが解る。従って、濃度Cを他
の方法で測定すれば、その高分子物質の分子量Mを算出
することができる。
知)を利用して前記式1中のk’を決めれば、その後は
ILSの測定によってC×Mが解る。従って、濃度Cを他
の方法で測定すれば、その高分子物質の分子量Mを算出
することができる。
【0005】濃度Cを求める方法としては、濃度に比例
した出力を有する別種の検出器を利用することが多い。
このような濃度検出器としては、示差屈折計や吸収率計
等が周知である。吸収率計を用いた場合、高分子溶液に
よる光の吸収IASは、高分子物質の濃度(C)に比例す
る。すなわち、 IAS=k”×ε×C …式2 ここで、εは吸収係数、k”は装置に依存する比例係数
である。そして、標準試料(ε、Cが既知)を利用して
前記式2中のk”を決めれば、その後はIASの測定によ
ってε×Cが解る。
した出力を有する別種の検出器を利用することが多い。
このような濃度検出器としては、示差屈折計や吸収率計
等が周知である。吸収率計を用いた場合、高分子溶液に
よる光の吸収IASは、高分子物質の濃度(C)に比例す
る。すなわち、 IAS=k”×ε×C …式2 ここで、εは吸収係数、k”は装置に依存する比例係数
である。そして、標準試料(ε、Cが既知)を利用して
前記式2中のk”を決めれば、その後はIASの測定によ
ってε×Cが解る。
【0006】従って、前記式1及び式2より、 M=k×ILS/IAS …式3 が成立する。なお、k=k”/{k’×ε×(dn/d
c)2}である。ここで、εは測定対象の試料の吸収係
数、dn/dcは測定対象の比屈折率増分である。
c)2}である。ここで、εは測定対象の試料の吸収係
数、dn/dcは測定対象の比屈折率増分である。
【0007】従って、光散乱光強度と吸光度を同時に測
定すれば、濃度Cが未知であっても両者の比をとること
で高分子物質の分子量Mを求めることができる。そこ
で、従来、光散乱光強度と吸光度を測定するため、図4
に示すように、カラム10に光散乱光検出器12及び吸
光度検出器14を直列に接続した分子量測定装置を用い
ていた。
定すれば、濃度Cが未知であっても両者の比をとること
で高分子物質の分子量Mを求めることができる。そこ
で、従来、光散乱光強度と吸光度を測定するため、図4
に示すように、カラム10に光散乱光検出器12及び吸
光度検出器14を直列に接続した分子量測定装置を用い
ていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このように
二つの検出器12,14を有する分子量測定装置は、検
出器12から検出器14にいたる間にクロマトグラムの
ピークが広がり、またクロマトグラムに時間差が生じる
等の問題があった。このピークの広がりや時間差は補正
が可能ではあるが、溶媒の組成や流量に依存するため、
個々の調整が極めて煩雑である。更にピークの広がり及
びクロマトグラムの時間差は装置によってバラツキがあ
るため、装置毎に調整を行なう必要があり、この点から
も改善が望まれる。
二つの検出器12,14を有する分子量測定装置は、検
出器12から検出器14にいたる間にクロマトグラムの
ピークが広がり、またクロマトグラムに時間差が生じる
等の問題があった。このピークの広がりや時間差は補正
が可能ではあるが、溶媒の組成や流量に依存するため、
個々の調整が極めて煩雑である。更にピークの広がり及
びクロマトグラムの時間差は装置によってバラツキがあ
るため、装置毎に調整を行なう必要があり、この点から
も改善が望まれる。
【0009】一方、検出器12,14はそれぞれセルを
有するが、検出器12のセルに検出器14のセルによる
背圧がかかる。このため、高流量で送液する場合には、
検出器12のセルが破損したり、液漏れを起こすおそれ
がある。
有するが、検出器12のセルに検出器14のセルによる
背圧がかかる。このため、高流量で送液する場合には、
検出器12のセルが破損したり、液漏れを起こすおそれ
がある。
【0010】本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされ
たものであり、その目的はクロマトグラムの時間差或い
はピークの広がりを生じることなく、正確に吸収及び散
乱光を測定できる吸収・散乱光測定装置を提供すること
にある。
たものであり、その目的はクロマトグラムの時間差或い
はピークの広がりを生じることなく、正確に吸収及び散
乱光を測定できる吸収・散乱光測定装置を提供すること
にある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明にかかる吸収・散乱光測定装置は、レーザー光
源及び吸光度測定用光源より出光される光を合成する合
成手段と、該合成手段により合成された光が通過可能な
セルと、透過レーザー光、透過吸光度測定用光、散乱光
をそれぞれ分離する分離手段を備えることを特徴とす
る。
に本発明にかかる吸収・散乱光測定装置は、レーザー光
源及び吸光度測定用光源より出光される光を合成する合
成手段と、該合成手段により合成された光が通過可能な
セルと、透過レーザー光、透過吸光度測定用光、散乱光
をそれぞれ分離する分離手段を備えることを特徴とす
る。
【0012】
【作用】本発明にかかる吸収・散乱光測定装置は、前述
したように散乱光強度測定用のレーザー光と、吸光度測
定用の光とを合成手段により同一光路上に配置し、同一
のセルを用いて散乱光強度、及び吸光度を測定する。こ
のように、本発明によれば、一のセルを用いて吸収、散
乱光測定が可能となったので、クロマトグラムの広が
り、時間差を生じることがなく、下流側のセルによって
背圧がかかることによるセルの破損、液漏れ等を生じる
こともない。
したように散乱光強度測定用のレーザー光と、吸光度測
定用の光とを合成手段により同一光路上に配置し、同一
のセルを用いて散乱光強度、及び吸光度を測定する。こ
のように、本発明によれば、一のセルを用いて吸収、散
乱光測定が可能となったので、クロマトグラムの広が
り、時間差を生じることがなく、下流側のセルによって
背圧がかかることによるセルの破損、液漏れ等を生じる
こともない。
【0013】
【実施例】以下、図面に基づき本発明の好適な実施例を
説明する。図1には本発明の第一実施例にかかる吸収・
散乱光測定装置を分子量測定装置に適用する場合の光散
乱光強度計の模式図が示されている。
説明する。図1には本発明の第一実施例にかかる吸収・
散乱光測定装置を分子量測定装置に適用する場合の光散
乱光強度計の模式図が示されている。
【0014】同図に示す光散乱光強度計50は、レーザ
ー光源52及び散乱光検出手段としての光電変換器54
と、フローセル56を備える。前記フローセル56には
例えばHPLCのカラムより溶出液が順次流されてい
る。そして、レーザー光源52からのレーザー光58を
レンズ60を介してフローセル56を通過させる。ここ
で、レーザー光のほとんどはそのまま透過光としてセル
56を通過するが、その一部はセル56中の試料により
散乱され、前記透過レーザー光56の周囲に散乱光64
として出光する。
ー光源52及び散乱光検出手段としての光電変換器54
と、フローセル56を備える。前記フローセル56には
例えばHPLCのカラムより溶出液が順次流されてい
る。そして、レーザー光源52からのレーザー光58を
レンズ60を介してフローセル56を通過させる。ここ
で、レーザー光のほとんどはそのまま透過光としてセル
56を通過するが、その一部はセル56中の試料により
散乱され、前記透過レーザー光56の周囲に散乱光64
として出光する。
【0015】フローセル56から出光された光は、その
中心部に位置する透過レーザー光62が、反射鏡66に
より図中上方に反射される。そして、透過レーザー光6
2の周囲に生じている散乱光64のみが、スリット68
及びレンズ70を介して光電変換器54に導光される。
尚、前記透過レーザー光62は光トラップに導かれ検出
に影響を与えないように吸収され、或いは対照光として
利用される。本発明においては、一のセルを用いて光散
乱光強度と共に吸光度を測定することを特徴とする。す
なわち、前記図1に示した光散乱光強度計と同一のフロ
ーセルを用い、吸収率を測定しているのである。
中心部に位置する透過レーザー光62が、反射鏡66に
より図中上方に反射される。そして、透過レーザー光6
2の周囲に生じている散乱光64のみが、スリット68
及びレンズ70を介して光電変換器54に導光される。
尚、前記透過レーザー光62は光トラップに導かれ検出
に影響を与えないように吸収され、或いは対照光として
利用される。本発明においては、一のセルを用いて光散
乱光強度と共に吸光度を測定することを特徴とする。す
なわち、前記図1に示した光散乱光強度計と同一のフロ
ーセルを用い、吸収率を測定しているのである。
【0016】図2に示す分子量測定装置は、前記図1に
示す光散乱光度計に加えて、白色光源72及びレンズ7
4、モノクロメータ76、合成手段としての凹面反射鏡
78、反射鏡80、82及びスリット68よりなる分離
手段84、レンズ86、フィルター88、吸光度検出手
段としての光電変換器90を備える。そして、白色光源
72からの白色光92はレンズ74を介してモノクロメ
ーター76に入射され、特定波長の単色光94が抽出さ
れる。そして、該単色光94は凹面反射鏡78により反
射されフローセル56を通過する。ここで、凹面反射鏡
78の中央部には小径のレーザ光通過孔78aが設けら
れている。従って、フローセル56にはレーザー光58
と単色光94の両者が通過することとなる。
示す光散乱光度計に加えて、白色光源72及びレンズ7
4、モノクロメータ76、合成手段としての凹面反射鏡
78、反射鏡80、82及びスリット68よりなる分離
手段84、レンズ86、フィルター88、吸光度検出手
段としての光電変換器90を備える。そして、白色光源
72からの白色光92はレンズ74を介してモノクロメ
ーター76に入射され、特定波長の単色光94が抽出さ
れる。そして、該単色光94は凹面反射鏡78により反
射されフローセル56を通過する。ここで、凹面反射鏡
78の中央部には小径のレーザ光通過孔78aが設けら
れている。従って、フローセル56にはレーザー光58
と単色光94の両者が通過することとなる。
【0017】フローセル56を通過したレーザー光及び
単色光のうち、透過レーザ光62及び透過単色光96は
反射鏡80に反射され、図中上方に導光される。更に、
反射光の中心部の透過レーザー光62を反射鏡82によ
り除去する。そして、透過単色光96はレンズ86及び
レーザ光カットフィルター88を介して、光電変換器9
0に導光される。尚、レーザー光の散乱光62は前記図
1と同様に処理される。次に、演算手段としてのコンピ
ュータ98により、前記式1〜式3を用いてフローセル
中の物質の分子量を演算する。
単色光のうち、透過レーザ光62及び透過単色光96は
反射鏡80に反射され、図中上方に導光される。更に、
反射光の中心部の透過レーザー光62を反射鏡82によ
り除去する。そして、透過単色光96はレンズ86及び
レーザ光カットフィルター88を介して、光電変換器9
0に導光される。尚、レーザー光の散乱光62は前記図
1と同様に処理される。次に、演算手段としてのコンピ
ュータ98により、前記式1〜式3を用いてフローセル
中の物質の分子量を演算する。
【0018】以上のようにして本実施例にかかる分子量
測定装置によれば、一のフローセル56を用いて散乱光
及び吸光度を測定することとしたので、2つのセルを連
結した場合のようにクロマトグラムのピークの広がり或
いはクロマトグラムの時間差が問題となることはなく、
しかも背圧によるセルの破損、液漏れを生じることはな
い。
測定装置によれば、一のフローセル56を用いて散乱光
及び吸光度を測定することとしたので、2つのセルを連
結した場合のようにクロマトグラムのピークの広がり或
いはクロマトグラムの時間差が問題となることはなく、
しかも背圧によるセルの破損、液漏れを生じることはな
い。
【0019】図3には本発明の第二実施例にかかる分子
量測定装置が示されている。尚、前記第一実施例と対応
する部分には符号100を加えて説明を省略する。本実
施例においては、白色光源172の光をそのまま凹面反
射鏡178に反射させてフローセル156を通過させ、
その白色透過光200を凹面鏡180によりモノクロメ
ータ202に導光している。そして、該モノクロメータ
202により所定の波長の光のみを抽出し、その吸光度
を測定するものである。
量測定装置が示されている。尚、前記第一実施例と対応
する部分には符号100を加えて説明を省略する。本実
施例においては、白色光源172の光をそのまま凹面反
射鏡178に反射させてフローセル156を通過させ、
その白色透過光200を凹面鏡180によりモノクロメ
ータ202に導光している。そして、該モノクロメータ
202により所定の波長の光のみを抽出し、その吸光度
を測定するものである。
【0020】尚、本実施例によれば、モノクロメーター
202にはレーザー光も入射するが、一般的にはレーザ
ー光の波長と吸収の測定波長とは大きく異なるため、支
障はない。もしレーザー光が迷光となる場合には、モノ
クロメーターの手前にレーザー光カットフィルターを挿
入すればよい。
202にはレーザー光も入射するが、一般的にはレーザ
ー光の波長と吸収の測定波長とは大きく異なるため、支
障はない。もしレーザー光が迷光となる場合には、モノ
クロメーターの手前にレーザー光カットフィルターを挿
入すればよい。
【0021】また、モノクロメーターの代りにポリクロ
メーターを用いれば、紫外線吸収スペクトルを採取する
ことも可能となる。
メーターを用いれば、紫外線吸収スペクトルを採取する
ことも可能となる。
【0022】なお、以上の実施例においては本発明を分
子量測定装置に適用した例について説明したが、溶媒自
身の純度のチェック等に用いることも可能である。すな
わち、溶媒中にゴミ等の浮遊物があれば、散乱光の増加
として検知することができ、また不純物があれば吸収の
増加として検知することができる。従って、種々の原因
による純度低下をモニターすることができる。
子量測定装置に適用した例について説明したが、溶媒自
身の純度のチェック等に用いることも可能である。すな
わち、溶媒中にゴミ等の浮遊物があれば、散乱光の増加
として検知することができ、また不純物があれば吸収の
増加として検知することができる。従って、種々の原因
による純度低下をモニターすることができる。
【0023】更に、前記実施例においてはフローセルを
用いた例について説明したが、必ずしもフローセル中を
試料が流れる場合だけでなく、通常のセルに試料を入れ
て測定することもできる。
用いた例について説明したが、必ずしもフローセル中を
試料が流れる場合だけでなく、通常のセルに試料を入れ
て測定することもできる。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように本発明にかかる吸収
・散乱光測定装置によれば、一のセルを用いて吸光度測
定及び散乱光強度測定を行なうことが可能となったの
で、クロマトグラムの広がり、時間差あるいはセルの破
損、液漏れ等を生じることなく、分子量測定を行なうこ
とができる。
・散乱光測定装置によれば、一のセルを用いて吸光度測
定及び散乱光強度測定を行なうことが可能となったの
で、クロマトグラムの広がり、時間差あるいはセルの破
損、液漏れ等を生じることなく、分子量測定を行なうこ
とができる。
【図1】本発明に用いられる光散乱光度計の説明図であ
る。
る。
【図2】本発明の第一実施例にかかる吸収・散乱光測定
装置の構成を示す模式図である。
装置の構成を示す模式図である。
【図3】本発明の第二実施例にかかる吸収・散乱光測定
装置の構成を示す模式図である。
装置の構成を示す模式図である。
【図4】従来の吸収・散乱光測定装置の構成を示す説明
図である。
図である。
【符号の説明】 52,152 レーザー光源 54,154 光電変換器(光散乱光検出手段) 56,156 フローセル 78,178 凹面鏡(合成手段) 84,184 分離手段 90 光電変換器(吸光度検出手段)
Claims (1)
- 【請求項1】 レーザー光を出光するレーザー光源と、 吸光度測定用の光を出光する吸光度測定用光源と、 前記各光源より出光された光を合成する合成手段と、 前記合成手段により合成された光が通過するセルと、 前記セルを通過した光から、透過レーザー光、レーザー
光による散乱光、吸光度測定用光を分離する分離手段
と、 前記散乱光を検出する散乱光検出手段と、 前記セルを透過した吸光度測定用光を検出する吸光度検
出手段と、 を備えたことを特徴とする吸収・散乱光測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10373591A JPH05307001A (ja) | 1991-04-09 | 1991-04-09 | 吸収・散乱光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10373591A JPH05307001A (ja) | 1991-04-09 | 1991-04-09 | 吸収・散乱光測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05307001A true JPH05307001A (ja) | 1993-11-19 |
Family
ID=14361891
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10373591A Pending JPH05307001A (ja) | 1991-04-09 | 1991-04-09 | 吸収・散乱光測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05307001A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180082233A (ko) * | 2017-01-10 | 2018-07-18 | 충남대학교산학협력단 | 유동 유체 내의 나노입자 거동 예측 방법 및 장치 |
JP2022172147A (ja) * | 2017-06-20 | 2022-11-15 | シーアイ システムズ(イスラエル)エルティーディー. | 流体を分析するためのフローセルおよび光学システム |
-
1991
- 1991-04-09 JP JP10373591A patent/JPH05307001A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180082233A (ko) * | 2017-01-10 | 2018-07-18 | 충남대학교산학협력단 | 유동 유체 내의 나노입자 거동 예측 방법 및 장치 |
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