JPH05299819A - Flexible circuit board - Google Patents
Flexible circuit boardInfo
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- JPH05299819A JPH05299819A JP34752091A JP34752091A JPH05299819A JP H05299819 A JPH05299819 A JP H05299819A JP 34752091 A JP34752091 A JP 34752091A JP 34752091 A JP34752091 A JP 34752091A JP H05299819 A JPH05299819 A JP H05299819A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はポリイミドフィルムの片
面または両面に金属薄膜層を有するフレキシブル回路基
板に関し、特に、該金属薄膜層と該ポリイミドフィルム
との間の接着性が良好であるフレキシブル回路基板に関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flexible circuit board having a metal thin film layer on one or both sides of a polyimide film, and more particularly to a flexible circuit board having good adhesion between the metal thin film layer and the polyimide film. Regarding
【0002】[0002]
【従来の技術】絶縁性のポリマーフィルム上に金属層を
形成したフレキシブル回路基板として従来、金属薄膜と
ポリマーフィルムとを接着剤で接合したものがある。し
かしこれらのフレキシブル回路基板では、接着剤の熱的
性能がポリマーフィルムの性能に劣ること、および金属
薄膜の膜厚が10μm以上と厚いために幅数10μmの
微細加工が困難であることなどの理由から、半導体産業
における高密度配線に対応することができない、寸法安
定性が悪い、製品がそりあがるなどの問題があった。2. Description of the Related Art As a flexible circuit board in which a metal layer is formed on an insulating polymer film, there is conventionally a flexible circuit board in which a metal thin film and a polymer film are bonded with an adhesive. However, in these flexible circuit boards, the thermal performance of the adhesive is inferior to that of the polymer film, and it is difficult to perform fine processing with a width of several 10 μm because the thickness of the metal thin film is as thick as 10 μm or more. Therefore, there are problems such as not being able to cope with high-density wiring in the semiconductor industry, poor dimensional stability, and rising of products.
【0003】上記の問題を解決するために、接着剤なし
でポリマーフィルム上に金属薄膜を形成する技術が検討
されてきた。その例として、真空蒸着、スパッタリング
などによる薄膜形成法がある。ここで得られる金属薄膜
は膜厚が1μm以下と薄いために、幅数10μmの微細
加工による回路パターンの形成も容易である。形成され
た回路パターン上に電解メッキなどによりさらに金属を
堆積、成長させることにより、微細加工された導電層を
形成することができる。In order to solve the above problems, techniques for forming a metal thin film on a polymer film without using an adhesive have been studied. Examples thereof include thin film forming methods such as vacuum deposition and sputtering. Since the metal thin film obtained here has a thin film thickness of 1 μm or less, it is easy to form a circuit pattern by fine processing with a width of several 10 μm. A finely processed conductive layer can be formed by further depositing and growing a metal on the formed circuit pattern by electrolytic plating or the like.
【0004】しかし、このような技術で得られるフレキ
シブル回路基板では、リソグラフィー技術を用いる回路
パターン形成工程、および形成された回路パターン上に
通電抵抗の低下および機械的強度の向上のために金属を
積層する電解メッキ工程などにおいて、金属層がポリマ
ーフイルムから剥離する問題が生じ、金属層とポリマー
フイルムとの間の接着力の低下が問題となっていた。However, in the flexible circuit board obtained by such a technique, a metal is laminated on the circuit pattern forming step using the lithography technique and on the formed circuit pattern for the purpose of lowering conduction resistance and improving mechanical strength. In the electroplating process, etc., there is a problem that the metal layer peels off from the polymer film, and there is a problem that the adhesive force between the metal layer and the polymer film is lowered.
【0005】金属層とポリマーフイルムとの間の接着力
を改善することを目的とした、種々の先行技術が知られ
ている。すなわち、特開平02−98994号公報には
0.01〜5μmのクロム層をスパッタリングで形成す
ること、特開昭62−181488号公報には50〜1
0000オングストロームのニッケルまたはニッケル−
クロム層を蒸着で形成すること、特開昭62−6255
1号公報にはクロム層を蒸着で形成すること、特開昭6
2−47908号公報にはニッケル層を蒸着で形成する
こと、特開昭61−128593号公報には金属層を蒸
着で形成すること、特公昭57−18357号公報には
ニッケル、コバルト、ジルコニウムまたはパラジウム層
をイオンプレーティング法で形成すること、特公昭57
−18356号公報にはニッケルおよびニッケル合金層
をイオンプレーティング法で形成することがすでに開示
されている。Various prior art techniques are known which aim to improve the adhesion between the metal layer and the polymer film. That is, in JP-A-02-98994, a chromium layer of 0.01 to 5 μm is formed by sputtering, and in JP-A-62-181488, 50-1.
0000 angstrom nickel or nickel-
Forming a chromium layer by vapor deposition, JP-A-62-6255
No. 1 discloses that a chromium layer is formed by vapor deposition.
2-47908 discloses forming a nickel layer by vapor deposition, JP-A-61-128593 discloses forming a metal layer by vapor deposition, and JP-B-57-18357 discloses nickel, cobalt, zirconium or Forming a palladium layer by an ion plating method, Japanese Patent Publication Sho 57
JP-A-18356 has already disclosed that nickel and nickel alloy layers are formed by an ion plating method.
【0006】しかしながら、これら公知の技術のいずれ
を用いても、半導体産業における高密度配線を可能にす
る上で充分に満足できる材料を提供することは困難であ
った。However, it has been difficult to provide a material sufficiently satisfactory for enabling high-density wiring in the semiconductor industry by using any of these known techniques.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記従来の問
題点を解決するものであり、その目的とするところは、
半導体産業における高密度配線を可能にするために接着
剤なしでポリイミドフィルム上に金属層を形成したフレ
キシブル回路基板を提供することであり、特に、回路パ
ターン形成および電解メッキなどの後工程において、金
属層がポリイミドフイルムから剥離する問題を克服した
フレキシブル回路基板を提供することである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is to solve the above-mentioned conventional problems, and the object thereof is to:
It is to provide a flexible circuit board in which a metal layer is formed on a polyimide film without an adhesive in order to enable high-density wiring in the semiconductor industry, and particularly in a post-process such as circuit pattern formation and electrolytic plating. It is an object of the present invention to provide a flexible circuit board which overcomes the problem of layers peeling from a polyimide film.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】発明者らは、銅層/ポリ
イミドフィルムからなるフレキシブル回路基板の製作に
おいて、該ポリイミドフィルム上にニッケル−銅合金の
極薄膜を形成した後に、該極薄膜上に電気伝導性の良好
な銅薄膜を形成することにより、回路パターン形成およ
び電解メッキなどの後工程において、該銅層の該ポリイ
ミドフィルムからの剥離防止に極めて効果があることを
発見して、本発明を完成するに至ったものである。Means for Solving the Problems In the production of a flexible circuit board composed of a copper layer / polyimide film, the inventors have formed a nickel-copper alloy ultra-thin film on the polyimide film and then formed the ultra-thin film on the ultra-thin film. The present invention was found to be extremely effective in preventing peeling of the copper layer from the polyimide film in a subsequent step such as circuit pattern formation and electrolytic plating by forming a copper thin film having good electrical conductivity, and the present invention Has been completed.
【0009】すなわち、本発明の一つの態様は、ポリイ
ミドフィルムの片面上に第一の金属薄膜、第二の金属薄
膜の順に積層して形成した銅層/ポリイミドフィルムか
らなるフレキシブル回路基板である。また、本発明のも
う一つの態様は、ポリイミドフィルムの両面上にそれぞ
れ第一の金属薄膜、第二の金属薄膜の順に積層して形成
した銅層/ポリイミドフィルム/銅層からなるフレキシ
ブル回路基板である。ここで、銅層とは第一の金属薄
膜、第二の金属薄膜の順に積層して形成した金属薄膜層
を総称するものである。That is, one embodiment of the present invention is a flexible circuit board composed of a copper layer / polyimide film formed by laminating a first metal thin film and a second metal thin film in this order on one surface of a polyimide film. Another aspect of the present invention is a flexible circuit board comprising a copper layer / polyimide film / copper layer formed by laminating a first metal thin film and a second metal thin film on both sides of a polyimide film in this order. is there. Here, the copper layer is a generic term for a metal thin film layer formed by laminating a first metal thin film and a second metal thin film in this order.
【0010】該第一の金属薄膜は銅ニッケル合金であ
り、好ましくはニッケル40〜80重量%、銅20〜6
0重量%を含有する銅ニッケル合金をターゲットとする
スパッタリングにより、膜厚が50〜500オングスト
ロームとなるように形成したものである。モネルメタル
と呼ばれる銅ニッケル合金は該ターゲットとして特に有
効である。The first metal thin film is a copper-nickel alloy, preferably 40 to 80% by weight of nickel and 20 to 6 of copper.
It is formed by sputtering with a copper-nickel alloy containing 0% by weight as a target so as to have a film thickness of 50 to 500 angstrom. A copper-nickel alloy called monel metal is particularly effective as the target.
【0011】該第二の金属薄膜は、電気良伝導性の銅を
ターゲットとするスパッタリングにより、膜厚が100
0〜42000オングストロームとなるように形成した
ものである。The second metal thin film has a film thickness of 100 by sputtering targeting highly electrically conductive copper.
It is formed to have a thickness of 0 to 42,000 angstroms.
【0012】スパッタリング方法は特に限定されるもの
ではない。それぞれ該第一の金属薄膜および該第二の金
属薄膜に相当するターゲットを用いて、DCマグネトロ
ンスパッタリング、高周波マグネトロンスパッタリン
グ、イオンビームスパッタリングなどの薄膜形成技術が
有効に用いられる。The sputtering method is not particularly limited. Thin film forming techniques such as DC magnetron sputtering, high frequency magnetron sputtering, and ion beam sputtering are effectively used by using targets corresponding to the first metal thin film and the second metal thin film, respectively.
【0013】該ポリイミドフィルムの膜厚は典型的には
10〜500μmであり、特に25〜125μmが好ま
しく、カプトン、ユーピレックス、アピカルなど、市場
で入手できるポリイミドフィルムが有効に用いられる。The thickness of the polyimide film is typically 10 to 500 μm, particularly preferably 25 to 125 μm, and commercially available polyimide films such as Kapton, Upilex and Apical are effectively used.
【0014】[0014]
【実施例】実施例1 ポリイミドフィルムとして膜厚が50.8μmのカプト
ン−V(デュポン社製)を用い、この片面上に、モネル
メタルをターゲット材料とするスパッタリングによっ
て、平均膜厚が約70オングストロームの第一の金属薄
膜を形成した後、真空状態を破ること無く連続的に、該
第一の金属薄膜上に、銅をターゲット材料とするスパッ
タリングによって、平均膜厚が約2500オングストロ
ームの第二の金属薄膜を積層した。ポリイミドフィルム
の片面に上記のような金属層を有するこのフレキシブル
回路基板が本発明の一つの実施例である。Example 1 A Kapton-V film (manufactured by DuPont) having a film thickness of 50.8 μm was used as a polyimide film, and an average film thickness of about 70 angstrom was obtained by sputtering using Monel metal as a target material on one surface of the film. After forming the first metal thin film, the second metal having an average film thickness of about 2,500 Å is continuously sputtered on the first metal thin film without breaking the vacuum state. The thin films were laminated. This flexible circuit board having the above-mentioned metal layer on one surface of the polyimide film is one embodiment of the present invention.
【0015】該金属層上にフォトリソグラフィーによっ
て80μmピッチ、60μm幅の回路パターンを形成
し、該回路パターン上に電解メッキにより厚さが25μ
mの銅を堆積した。上記の回路パターン形成および電解
メッキ工程において、該フレキシブル回路基板に、剥
離、サイドエッチングなど、従来の技術において発生し
ていた問題は発生しなかった。A circuit pattern having a pitch of 80 μm and a width of 60 μm is formed on the metal layer by photolithography, and a thickness of 25 μ is formed on the circuit pattern by electrolytic plating.
m copper was deposited. In the above-mentioned circuit pattern formation and electroplating process, the flexible circuit board did not suffer from problems such as peeling and side etching, which have occurred in conventional techniques.
【0016】実施例2 ポリイミドフィルムとして膜厚が25.4μmのカプト
ン−E(デュポン社製)を用い、この片面上に、モネル
メタルをターゲット材料とするスパッタリングによっ
て、平均膜厚が約50オングストロームの第一の金属薄
膜を形成した後、真空状態を破ること無く連続的に、該
第一の金属薄膜上に、銅をターゲット材料とするスパッ
タリングによって、平均膜厚が約6000オングストロ
ームの第二の金属薄膜を積層した。ポリイミドフィルム
の片面に上記のような金属層を有するこのフレキシブル
回路基板が本発明の一つの実施例である。Example 2 A Kapton-E (manufactured by DuPont) having a film thickness of 25.4 μm was used as a polyimide film, and one surface of the polyimide film having an average film thickness of about 50 Å was sputtered by using a target material of monel metal. After the first metal thin film is formed, the second metal thin film having an average film thickness of about 6000 angstroms is continuously sputtered on the first metal thin film without breaking the vacuum state. Were laminated. This flexible circuit board having the above-mentioned metal layer on one surface of the polyimide film is one embodiment of the present invention.
【0017】該金属層上にフォトリソグラフィーにより
100μmピッチ、80μm幅の回路パターンを形成
し、該回路パターン上に電解メッキにより厚さが25μ
mの銅を堆積した。ここでも、剥離、サイドエッチング
など、従来の技術において発生していた問題は発生しな
かった。A circuit pattern having a pitch of 100 μm and a width of 80 μm is formed on the metal layer by photolithography, and a thickness of 25 μ is formed on the circuit pattern by electrolytic plating.
m copper was deposited. In this case as well, problems such as peeling and side etching, which have occurred in the conventional technique, did not occur.
【0018】実施例3 ポリイミドフィルムとして膜厚が76.2μmのカプト
ン−E(デュポン社製)を用い、この片面上に、モネル
メタルをターゲット材料とするスパッタリングによっ
て、平均膜厚が約500オングストロームの第一の金属
薄膜を形成した後、真空状態を破ること無く連続的に、
該第一の金属薄膜上に、銅をターゲット材料とするスパ
ッタリングによって、平均膜厚が約2500オングスト
ロームの第二の金属薄膜を積層した。該ポリイミドフィ
ルムのもう一方の面に、同様の条件により、平均膜厚が
約500オングストロームの第一の金属薄膜、および平
均膜厚が約2500オングストロームの第二の金属薄膜
を積層した。ポリイミドフィルムの両面に上記のような
金属層を有するこのフレキシブル回路基板が本発明の一
つの実施例である。Example 3 Kapton-E (manufactured by DuPont) having a film thickness of 76.2 μm was used as a polyimide film, and one side of the polyimide film having an average film thickness of about 500 Å was sputtered by using a target material of monel metal. After forming one metal thin film, continuously without breaking the vacuum state,
A second metal thin film having an average film thickness of about 2500 angstrom was laminated on the first metal thin film by sputtering using copper as a target material. Under the same conditions, a first metal thin film having an average film thickness of about 500 Å and a second metal thin film having an average film thickness of about 2500 Å were laminated on the other surface of the polyimide film. This flexible circuit board having a metal layer as described above on both sides of a polyimide film is one embodiment of the present invention.
【0019】ポリイミドフィルムの両面の該金属層上に
フォトリソグラフィーにより60μmピッチ、60μm
幅の回路パターンをそれぞれ形成し、両面の該回路パタ
ーン上に電解メッキにより厚さが25μmの銅を堆積し
た。ここでも、剥離、サイドエッチングなど、従来の技
術において発生していた問題は発生しなかった。A 60 μm pitch and 60 μm were formed on the metal layers on both sides of the polyimide film by photolithography.
Each circuit pattern having a width was formed, and copper having a thickness of 25 μm was deposited on the circuit patterns on both sides by electrolytic plating. In this case as well, problems such as peeling and side etching, which have occurred in the conventional technique, did not occur.
【0020】比較例1 ポリイミドフィルムとして膜厚が50.8μmのカプト
ン−V(デュポン社製)を用い、この片面上に、ニッケ
ルをターゲット材料とするスパッタリングによって、平
均膜厚が約70オングストロームのニッケル層を形成し
た後、真空状態を破ること無く連続的に、該ニッケル薄
膜上に、スパッタリングによって、平均膜厚が約250
0オングストロームの銅薄膜を積層した。ポリイミドフ
ィルムの片面に上記のような金属層を有するこのフレキ
シブル回路基板が本発明の一つの比較例である。Comparative Example 1 A Kapton-V film (manufactured by DuPont) having a film thickness of 50.8 μm was used as a polyimide film, and nickel having an average film thickness of about 70 angstrom was sputtered on one surface of the film by using nickel as a target material. After the layer is formed, the average film thickness is about 250 by sputtering on the nickel thin film continuously without breaking the vacuum state.
A 0 angstrom copper thin film was laminated. This flexible circuit board having the above-mentioned metal layer on one surface of the polyimide film is one comparative example of the present invention.
【0021】該金属層上にフォトリソグラフィーにより
80μmピッチ、60μm幅の回路パターンを形成し、
該回路パターン上に電解メッキにより厚さが25μmの
銅を堆積した。上記の回路パターン形成および電解メッ
キ工程において、剥離、サイドエッチングなど、従来の
技術において発生していた問題が発生して、該フレキシ
ブル回路基板に微細な回路を形成することができなかっ
た。A circuit pattern having a pitch of 80 μm and a width of 60 μm is formed on the metal layer by photolithography,
Copper having a thickness of 25 μm was deposited on the circuit pattern by electrolytic plating. In the circuit pattern formation and the electroplating process described above, problems such as peeling and side etching, which have occurred in the related art, occur, and it is impossible to form a fine circuit on the flexible circuit board.
【0022】比較例2 ポリイミドフィルムとして膜厚が25.4μmのカプト
ン−E(デュポン社製)を用い、この片面上に、スパッ
タリングにより平均膜厚が約6000オングストローム
の銅薄膜を積層した。ポリイミドフィルムの片面に銅薄
膜を有するこのフレキシブル回路基板が本発明の一つの
比較例である。Comparative Example 2 As a polyimide film, Kapton-E (manufactured by DuPont) having a film thickness of 25.4 μm was used, and a copper thin film having an average film thickness of about 6000 angstrom was laminated on one surface thereof by sputtering. This flexible circuit board having a copper thin film on one surface of a polyimide film is one comparative example of the present invention.
【0023】該金属層上にフォトリソグラフィーにより
100μmピッチ、80μm幅の回路パターンを形成
し、該回路パターン上に電解メッキにより厚さが25μ
mの銅を堆積した。上記の回路パターン形成および電解
メッキ工程において、剥離、サイドエッチングなど、従
来の技術において発生していた問題が発生して、該フレ
キシブル回路基板に微細な回路を形成することができな
かった。A circuit pattern having a pitch of 100 μm and a width of 80 μm is formed on the metal layer by photolithography, and a thickness of 25 μ is formed on the circuit pattern by electrolytic plating.
m copper was deposited. In the circuit pattern formation and the electroplating process described above, problems such as peeling and side etching, which have occurred in the related art, occur, and it is impossible to form a fine circuit on the flexible circuit board.
【0024】比較例3 ポリイミドフィルムとして膜厚が76.2μmのカプト
ン−E(デュポン社製)を用い、この片面上に、ニッケ
ルをターゲット材料とするスパッタリングによって、平
均膜厚が約500オングストロームのニッケル層を形成
した後、真空状態を破ること無く連続的に、該ニッケル
薄膜上に、スパッタリングによって、平均膜厚が約25
00オングストロームの銅薄膜を積層した。該ポリイミ
ドフィルムのもう一方の面に、同様の条件により、平均
膜厚が約500オングストロームのニッケル層、および
平均膜厚が約2500オングストロームの銅薄膜を積層
した。ポリイミドフィルムの両面に上記のような金属層
を有するこのフレキシブル回路基板が本発明の一つの比
較例である。Comparative Example 3 A Kapton-E film (manufactured by DuPont) having a film thickness of 76.2 μm was used as a polyimide film, and nickel having an average film thickness of about 500 Å was sputtered on one surface of the film by sputtering using nickel as a target material. After the layer is formed, the average film thickness is about 25 by sputtering on the nickel thin film continuously without breaking the vacuum state.
A copper thin film of 00 angstrom was laminated. Under the same conditions, a nickel layer having an average film thickness of about 500 Å and a copper thin film having an average film thickness of about 2500 Å were laminated on the other surface of the polyimide film. This flexible circuit board having the above-mentioned metal layers on both sides of the polyimide film is one comparative example of the present invention.
【0025】ポリイミドフィルムの両面の該金属層上に
フォトリソグラフィーにより60μmピッチ、60μm
幅の回路パターンをそれぞれ形成し、両面の該回路パタ
ーン上に電解メッキにより厚さが25μmの銅を堆積し
た。上記の回路パターン形成および電解メッキ工程にお
いて、剥離、サイドエッチングなど、従来の技術におい
て発生していた問題が依然として発生して、微細な回路
を形成することができなかった。60 μm pitch, 60 μm by photolithography on the metal layers on both sides of the polyimide film
Each circuit pattern having a width was formed, and copper having a thickness of 25 μm was deposited on the circuit patterns on both sides by electrolytic plating. In the circuit pattern formation and electroplating process described above, problems such as peeling and side etching, which have occurred in the related art, still occur, and it is not possible to form a fine circuit.
【0026】[0026]
【発明の効果】以上の実施例ならびに比較例から明らか
なように、本発明は、半導体産業における高密度配線に
必要な回路の微細化を可能にするフレキシブル回路基板
を提供できるものであり、半導体産業にとってきわめて
有用な発明である。As is apparent from the above examples and comparative examples, the present invention can provide a flexible circuit board which enables miniaturization of a circuit required for high-density wiring in the semiconductor industry. It is an extremely useful invention for industry.
Claims (19)
ィルムの片面上に形成した第一の金属薄膜と、該第一の
金属薄膜上に形成した第二の金属薄膜とを有するフレキ
シブル回路基板。1. A flexible circuit board having a polyimide film, a first metal thin film formed on one surface of the polyimide film, and a second metal thin film formed on the first metal thin film.
ある請求項1に記載のフレキシブル回路基板。2. The flexible circuit board according to claim 1, wherein the first metal thin film is a copper-nickel alloy.
ル40〜80重量%、銅20〜60重量%を含有する銅
ニッケル合金をターゲットとしてスパッタリングにより
形成した薄膜である請求項2に記載のフレキシブル回路
基板。3. The flexible circuit according to claim 2, wherein the first metal thin film is a thin film formed by sputtering a copper-nickel alloy containing at least 40 to 80% by weight of nickel and 20 to 60% by weight of copper as a target. substrate.
る請求項2に記載のフレキシブル回路基板。4. The flexible circuit board according to claim 2, wherein the copper-nickel alloy is Monel metal.
に記載のフレキシブル回路基板。5. The second metal thin film is copper.
Flexible circuit board according to.
0オングストロームである請求項1に記載のフレキシブ
ル回路基板。6. The film thickness of the first metal thin film is 50 to 50.
The flexible circuit board according to claim 1, which has a thickness of 0 angstrom.
42000オングストロームである請求項1に記載のフ
レキシブル回路基板。7. The film thickness of the second metal thin film is from 1000 to 1000.
The flexible circuit board according to claim 1, which has a thickness of 42000 angstroms.
125μmである請求項1に記載のフレキシブル回路基
板。8. The thickness of the polyimide film is 25 to
The flexible circuit board according to claim 1, which has a thickness of 125 μm.
ィルムの両面上に形成した第一の金属薄膜と、該第一の
金属薄膜の両面上に形成した第二の金属薄膜とを有する
フレキシブル回路基板。9. A flexible circuit board having a polyimide film, a first metal thin film formed on both surfaces of the polyimide film, and a second metal thin film formed on both surfaces of the first metal thin film.
である請求項9に記載のフレキシブル回路基板。10. The flexible circuit board according to claim 9, wherein the first metal thin film is a copper-nickel alloy.
ケル40〜80重量%、銅20〜60重量%を含有する
銅ニッケル合金をターゲットとしてスパッタリングによ
り形成した薄膜である請求項10に記載のフレキシブル
回路基板。11. The flexible circuit according to claim 10, wherein the first metal thin film is a thin film formed by sputtering a copper-nickel alloy containing at least 40 to 80% by weight of nickel and 20 to 60% by weight of copper as a target. substrate.
ある請求項10に記載のフレキシブル回路基板。12. The flexible circuit board according to claim 10, wherein the copper-nickel alloy is Monel metal.
9に記載のフレキシブル回路基板。13. The flexible circuit board according to claim 9, wherein the second metal thin film is copper.
00オングストロームである請求項9に記載のフレキシ
ブル回路基板。14. The film thickness of the first metal thin film is 50-5.
The flexible circuit board according to claim 9, which has a thickness of 00 Å.
〜42000オングストロームである請求項9に記載の
フレキシブル回路基板。15. The film thickness of the second metal thin film is 1000.
The flexible circuit board according to claim 9, wherein the flexible circuit board has a thickness of about 42,000 angstroms.
〜125μmである請求項9に記載のフレキシブル回路
基板。16. The film thickness of the polyimide film is 25.
The flexible circuit board according to claim 9, which has a thickness of ˜125 μm.
(登録商標)、ユーピレックス(登録商標)またはアピ
カル(登録商標)である請求項1〜16に記載のフレキ
シブル回路基板。17. The flexible circuit board according to claim 1, wherein the polyimide film is Kapton (registered trademark), Upilex (registered trademark) or Apical (registered trademark).
フィルムの片面に接して、モネルメタルをターゲットに
して、スパッタリングにより膜厚が50〜500オング
ストロームの第一の金属薄膜を形成し、該第一の金属薄
膜に接して、銅をターゲットにして、スパッタリングに
より膜厚が1000〜42000オングストロームの第
二の金属薄膜を形成した、フレキシブル回路基板。18. A first metal thin film having a thickness of 50 to 500 angstroms is formed by sputtering by contacting one side of a polyimide film having a thickness of 25 to 125 μm with a target of Monel metal, and sputtering the first metal. A flexible circuit board in which a second metal thin film having a film thickness of 1000 to 42000 angstroms is formed by sputtering in contact with the thin film and using copper as a target.
フィルムの両面に接して、モネルメタルをターゲットに
して、スパッタリングにより膜厚が50〜500オング
ストロームの第一の金属薄膜を形成し、該第一の金属薄
膜の両面に接して、銅をターゲットにして、スパッタリ
ングにより膜厚が1000〜42000オングストロー
ムの第二の金属薄膜を形成した、フレキシブル回路基
板。19. A first metal thin film having a thickness of 50 to 500 angstroms is formed by sputtering by contacting both sides of a polyimide film having a thickness of 25 to 125 μm with a target of Monel metal, and sputtering. A flexible circuit board in which a second metal thin film having a film thickness of 1000 to 42000 angstroms is formed by sputtering by contacting both surfaces of the thin film and using copper as a target.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34752091A JPH05299819A (en) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | Flexible circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34752091A JPH05299819A (en) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | Flexible circuit board |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05299819A true JPH05299819A (en) | 1993-11-12 |
Family
ID=18390783
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34752091A Withdrawn JPH05299819A (en) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | Flexible circuit board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05299819A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0697616A (en) * | 1992-09-17 | 1994-04-08 | Mitsui Toatsu Chem Inc | Material for flexible circuit board |
JP2006159634A (en) * | 2004-12-07 | 2006-06-22 | Furukawa Circuit Foil Kk | Copper metallized resin and its manufacturing method |
JP5497911B2 (en) * | 2010-11-12 | 2014-05-21 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Circuit forming method on flexible laminate substrate |
-
1991
- 1991-12-27 JP JP34752091A patent/JPH05299819A/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0697616A (en) * | 1992-09-17 | 1994-04-08 | Mitsui Toatsu Chem Inc | Material for flexible circuit board |
JP2006159634A (en) * | 2004-12-07 | 2006-06-22 | Furukawa Circuit Foil Kk | Copper metallized resin and its manufacturing method |
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