JPH05296726A - Constant temperature device for measuring machine - Google Patents

Constant temperature device for measuring machine

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Publication number
JPH05296726A
JPH05296726A JP10681692A JP10681692A JPH05296726A JP H05296726 A JPH05296726 A JP H05296726A JP 10681692 A JP10681692 A JP 10681692A JP 10681692 A JP10681692 A JP 10681692A JP H05296726 A JPH05296726 A JP H05296726A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cover
sample table
microscope
temperature
measuring machine
Prior art date
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Pending
Application number
JP10681692A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiyoshi Nagasawa
潔 長澤
Yoshihiro Hoshino
吉弘 星野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Construction Machinery Co Ltd filed Critical Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority to JP10681692A priority Critical patent/JPH05296726A/en
Publication of JPH05296726A publication Critical patent/JPH05296726A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To provide a constant temperature device for a measuring machine having the capability of restraining temperature dispersion in the travel zone of a sample table to carry a sample as a length measurement object. CONSTITUTION:A measuring machine body is supported on a surface plate 29 in a constant temperature bath. Also, a cover 30 is laid between a sample table 8 with a fixed mirror 24Y for reflecting a measurement laser beam, and a microscope 10. The size of the cover 30 is so selected as to conceal the whole travel zone of the table 8 in X-axis and Y-axis directions. Also, the support section 31 of the cover 30 has the view hole 30h of a microscope 10 formed through the cover 30 and a transmission hole 31h to allow the passage of a laser beam between an interferometer 23X and a mirror 24X. The predetermined temperature of the air above the constant temperature bath comes to the lower side of the cover 30, and temperature over the whole of the lower side of the cover 30 becomes approximately uniform.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、微小な長さを高精度で
測定する測長機に用いられる測長機の恒温装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thermostat for a length measuring machine used for measuring a minute length with high accuracy.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、各種技術分野においては、使用す
る装置が微小化、かつ、高精度化され、これに伴い製造
時における装置の各部寸法も厳格な管理が必要となり、
このため、サブμmオーダの精度で測定ができる測長機
が要望されるようになった。ここで、上記のように高精
度の測長が必要な対象物として、テレビジョン、コンピ
ュータ等の表示に使用される液晶表示装置を例示して説
明する。
2. Description of the Related Art In recent years, in various technical fields, devices to be used have been miniaturized and have been made highly precise, and accordingly, strict control of the dimensions of each part of the device at the time of manufacturing has become necessary.
Therefore, there has been a demand for a length measuring machine capable of measuring with an accuracy of the order of sub μm. Here, a liquid crystal display device used for a display of a television, a computer, or the like will be described as an example of the object requiring the highly accurate length measurement as described above.

【0003】図3は液晶表示装置の電極の配置図であ
る。図で、1は基板、2は基板1上に縦横に多数配置さ
れた電極である。これら電極は、例えば、横方向の長さ
が400mmの基板1上に横方向一列に6700個配列
されている。これら各電極2は同一寸法に形成されなけ
ればならず、かつ、互いに予め定められた正確な間隔で
配置される必要がある。即ち、図3に示すように、各電
極2の寸法Δx、Δyはどの電極も所定の許容範囲で等
しくなければならず、又、隣接する電極2間の寸法
1 、y1 は正確でなければならない。したがって、こ
のような電極パターンを製造するための原板(マスク)
における上記寸法Δx、Δy、x1 、y1 は厳格に管理
されなければならない。そして、このためには、高精度
の測長機が必要である。例えば、上記の例では、寸法Δ
xは30μm、寸法x1 は60μmであるので、測長機
としてはサブμmオーダの精度のものが要求される。こ
のような測長機は、例えば特願昭63−204786号
等により提案されている。これを図4により説明する。
FIG. 3 is a layout view of electrodes of a liquid crystal display device. In the figure, reference numeral 1 is a substrate, and 2 is a large number of electrodes arranged vertically and horizontally on the substrate 1. For example, 6700 of these electrodes are arranged in a line in the horizontal direction on the substrate 1 having a length of 400 mm in the horizontal direction. Each of these electrodes 2 must be formed to have the same size, and they must be arranged at predetermined precise intervals with respect to each other. That is, as shown in FIG. 3, the dimensions Δx and Δy of each electrode 2 must be equal to each other within a predetermined allowable range, and the dimensions x 1 and y 1 between adjacent electrodes 2 must be accurate. I have to. Therefore, a master plate (mask) for manufacturing such an electrode pattern
The dimensions Δx, Δy, x 1 and y 1 in the above must be strictly controlled. For this purpose, a highly accurate length measuring machine is required. For example, in the above example, the dimension Δ
Since x is 30 μm and the dimension x 1 is 60 μm, it is required that the length measuring machine be accurate to the order of sub μm. Such a length measuring machine is proposed by, for example, Japanese Patent Application No. 63-204786. This will be described with reference to FIG.

【0004】図4は測長機の斜視図である。図で、5
X、5Yは図示されない空気定盤上に支持されたXYス
テージ、6はステージ5X上を左右に移動可能な移動台
である。7Yはステージ5XをY軸方向に変位させるモ
ータ、7Xは移動台6をX軸方向に変位させるモータで
ある。8は試料テーブルであり、移動台6に微動機構1
8を介して固定されている。微動機構18は、移動台6
に対して試料テーブル8をX、Y軸方向に微小寸法変位
させる装置である。9は試料テーブル8上に載置された
上記原板、9pは原板9に形成された電極パターンを示
す。この電極パターン9pの各電極は、図3に示す各電
極2と同一寸法、同一間隔で配列されている。
FIG. 4 is a perspective view of the length measuring machine. In the figure, 5
X and 5Y are XY stages supported on an air surface plate (not shown), and 6 is a movable table that can move left and right on the stage 5X. 7Y is a motor for displacing the stage 5X in the Y-axis direction, and 7X is a motor for displacing the moving table 6 in the X-axis direction. 8 is a sample table, and the fine movement mechanism 1 is attached to the moving table 6.
It is fixed through 8. The fine movement mechanism 18 includes the movable table 6
On the other hand, it is a device for displacing the sample table 8 by a small dimension in the X and Y axis directions. Reference numeral 9 indicates the original plate placed on the sample table 8, and 9p indicates an electrode pattern formed on the original plate 9. The electrodes of the electrode pattern 9p are arranged at the same size and at the same intervals as the electrodes 2 shown in FIG.

【0005】10は電極パターン9pを拡大して観察す
る顕微鏡、11は顕微鏡10を支持するスタンド、12
は原板9を照明する光源、13は光源12の光を導く導
光管、14は顕微鏡10の像を撮影するCCDカメラで
ある。16は画像処理装置であり、画像処理部16aお
よび表示部16bで構成され、CCDカメラ14で撮影
された顕微鏡像に対して所要の処理を行い、これを表示
する。17は測長機の制御装置、19は制御装置17の
制御のもとに微動機構18を駆動する微動コントローラ
である。
Reference numeral 10 is a microscope for enlarging and observing the electrode pattern 9p, 11 is a stand for supporting the microscope 10, and 12 is a stand.
Is a light source for illuminating the original plate 9, 13 is a light guide tube for guiding the light of the light source 12, and 14 is a CCD camera for taking an image of the microscope 10. Reference numeral 16 denotes an image processing device, which is composed of an image processing unit 16a and a display unit 16b, performs required processing on a microscope image taken by the CCD camera 14, and displays it. Reference numeral 17 is a control device for the length measuring machine, and 19 is a fine movement controller for driving the fine movement mechanism 18 under the control of the control device 17.

【0006】20a、20b、20cは台、21は台2
0a上に固定されたレーザヘッド、22はこのレーザヘ
ッド21からのレーザ光線をX軸方向およびY軸方向に
分離するビームスプリッタである。23X、23Yはそ
れぞれ台20c、20b上に固定されたインタフェロメ
ータ、25X、25Yはそれぞれ台20c、20b上に
固定されたレシーバである。24は試料テーブル8に固
定されたL型ミラーであり、X軸方向に延びるミラー2
4XおよびY軸方向に延びるミラー24Yで構成されて
いる。26はパルスコンパレータである。
Reference numerals 20a, 20b and 20c designate a base, and 21 designates a base 2.
A laser head 22 is fixed on the laser beam 0a, and a beam splitter 22 separates the laser beam from the laser head 21 in the X-axis direction and the Y-axis direction. Reference numerals 23X and 23Y are interferometers fixed on the bases 20c and 20b, and 25X and 25Y are receivers fixed on the bases 20c and 20b, respectively. Reference numeral 24 is an L-shaped mirror fixed to the sample table 8 and is a mirror 2 extending in the X-axis direction.
The mirror 24Y extends in the 4X and Y-axis directions. Reference numeral 26 is a pulse comparator.

【0007】このような測長機の動作の概略を顕微鏡1
0の視野を示す図5および図6を参照しながら説明す
る。電極パターン9pの1つの電極9p1 とこれに隣接
する電極9p2 との間のX軸方向の間隔を測定する場
合、まず、電極9p1 の右辺縁部を図5に示すように顕
微鏡10の視野Aに入れる。図で、9p01は電極9p1
の顕微鏡像、Cは視野Aの中心線を示す。当該縁部は凹
凸となって現れる。この凹凸を画像処理部16の演算処
理により1つの縁線Eとして確定する。このときの縁線
Eと中心線Cとの距離δ1 を画像処理部16の演算処理
により算出する。
An outline of the operation of such a length measuring machine is shown in the microscope 1
This will be described with reference to FIGS. 5 and 6 showing the field of view of 0. When measuring the distance in the X-axis direction between one electrode 9p 1 of the electrode pattern 9p and the electrode 9p 2 adjacent thereto, first, the right edge portion of the electrode 9p 1 of the microscope 10 as shown in FIG. Place in field of view A. In the figure, 9p 01 is the electrode 9p 1
And C shows the center line of the visual field A. The edge appears as unevenness. The unevenness is determined as one edge line E by the arithmetic processing of the image processing unit 16. The distance δ 1 between the edge line E and the center line C at this time is calculated by the arithmetic processing of the image processing unit 16.

【0008】次いでモータ7Xを駆動して試料テーブル
8をX軸方向に移動させることにより電極9p2 の右辺
縁部を図6に示すように顕微鏡10の視野Aに入れる。
図で、9p02は電極9p2 の顕微鏡像である。顕微鏡像
9p01の場合と同じく、縁線Eを確定し、距離δ2 を算
出する。上記試料テーブル8のX軸方向の移動距離をL
とすると、電極9p1 の右辺縁部と電極9p2 の右辺縁
部との距離は、(L+δ1 +δ2 )となる。
Then, the motor 7X is driven to move the sample table 8 in the X-axis direction so that the right edge portion of the electrode 9p 2 is brought into the visual field A of the microscope 10 as shown in FIG.
In the figure, 9p 02 is a microscope image of the electrode 9p 2 . Similar to the case of the microscope image 9p 01 , the edge line E is determined and the distance δ 2 is calculated. The moving distance of the sample table 8 in the X-axis direction is L
Then, the distance between the right edge of the electrode 9p 1 and the right edge of the electrode 9p 2 is (L + δ 1 + δ 2 ).

【0009】なお、試料テーブル8の移動距離Lは次の
ようにして求められる。即ち、レーザヘッド21からの
レーザ光線をビームスプリッタ22、インタフェロメー
タ23Xを介してミラー24Xに照射し、この入力光線
とミラー24Xからの反射光とをインタフェロメータ2
3Xで干渉させ、この干渉の程度に応じた信号をレシー
バ25Xから出力し、パルスコンパレータ26で当該信
号に比例するパルスに変換し、このパルスに基づいて制
御装置17で移動距離Lが算出される。又、距離δ1
δ2 は微動機構18を用いて縁線Eと中心線Cとが一致
するような処理により零にすることができる。この時
は、レーザ変位計で求めた値が、距離となる。
The moving distance L of the sample table 8 is obtained as follows. That is, the laser beam from the laser head 21 is applied to the mirror 24X via the beam splitter 22 and the interferometer 23X, and the input beam and the reflected light from the mirror 24X are interferometer 2.
Interference is performed at 3X, a signal corresponding to the degree of this interference is output from the receiver 25X, converted into a pulse proportional to the signal by the pulse comparator 26, and the moving distance L is calculated by the control device 17 based on this pulse. .. Also, the distance δ 1 ,
δ 2 can be made zero by using the fine movement mechanism 18 so that the edge line E and the center line C coincide with each other. At this time, the value obtained by the laser displacement meter is the distance.

【0010】ところで、通常の物体は熱膨張係数を有す
るので、サブμmオーダの測定においては環境温度が大
きく影響する。例えば、原板9がソーダガラスの場合、
ソーダガラスの熱膨張係数が(9.4/106 )である
ので、当該原板9の1辺が400mmだとすると、±
0.1度(摂氏)変化したとき原板9の1辺は±0.3
7μm変化する。この環境温度の影響を除くため、上記
測長機を用いた測定は、制御部分を除く測長機本体を恒
温槽の中に入れて行われる。この恒温槽は、例えば(2
m×2m×2m)の大きさを有し、常時上方(天井)か
ら所定温度の空気が吹き出し、恒温槽内を一定温度に保
持している。
By the way, since an ordinary object has a coefficient of thermal expansion, the ambient temperature has a great influence on the measurement in the sub-μm order. For example, when the original plate 9 is soda glass,
Since the thermal expansion coefficient of soda glass is (9.4 / 10 6 ), if one side of the original plate 9 is 400 mm, ±
When changing by 0.1 degree (Celsius), one side of the original plate 9 is ± 0.3
Change by 7 μm. In order to eliminate the influence of the environmental temperature, the measurement using the length measuring machine is performed by placing the length measuring machine main body excluding the control part in a constant temperature bath. This constant temperature bath is, for example, (2
It has a size of m × 2 m × 2 m) and air at a predetermined temperature is constantly blown from above (ceiling) to keep the inside of the thermostatic chamber at a constant temperature.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】図4に示す測長機にお
いて、試料テーブル8の大きさが例えば(500mm×
500mm)であり、XYステージ5X、5Yのストロ
ークが例えば(400mm×400mm)だとすると、
試料テーブル8の移動領域は(900mm×900m
m)となる。したがって、高精度の測定を行うために
は、この移動領域内の温度を予め定められた許容範囲、
例えば±0.1度(摂氏)以内で所定の一定温度に保持
する必要がある。
In the length measuring machine shown in FIG. 4, the size of the sample table 8 is, for example, (500 mm ×
500 mm) and the strokes of the XY stages 5X and 5Y are, for example, (400 mm × 400 mm),
The moving area of the sample table 8 is (900 mm x 900 m
m). Therefore, in order to perform high-accuracy measurement, the temperature in the moving area is set within a predetermined allowable range,
For example, it is necessary to maintain a predetermined constant temperature within ± 0.1 degrees (Celsius).

【0012】ところが、試料テーブル8近辺の温度を実
際に温度センサを用いて測定してみると、恒温槽内であ
るにもかかわらず温度にばらつきが存在することが判明
した。これを図7および図8により説明する。図7は温
度センサの配置図である。図で、図4に示す部分と同一
部分には同一符号が付してある。S1 〜S9 は等間隔に
一列に配置された温度センサを示す。図8は各温度セン
サS1 〜S9 の測定結果を示すグラフであり、横軸に各
温度センサS1 〜S9 が、縦軸に温度がとってある。図
8に示す測定結果から明らかなように、試料テーブル8
を含むその近辺の温度は、22.9度〜23.2度の範
囲でばらつきを生じている。このような温度のばらつき
は試料テーブル8の移動領域内に温度のばらつきが存在
することを意味し、高精度の測定に支障を生じることに
なる。
However, when the temperature in the vicinity of the sample table 8 was actually measured using a temperature sensor, it was found that there were variations in temperature even in the constant temperature bath. This will be described with reference to FIGS. 7 and 8. FIG. 7 is a layout view of the temperature sensor. In the figure, the same parts as those shown in FIG. 4 are designated by the same reference numerals. S 1 to S 9 indicate temperature sensors arranged in a line at equal intervals. Figure 8 is a graph showing the measurement results of the temperature sensors S 1 to S 9, the temperature sensors S 1 to S 9 to the horizontal axis, the temperature on the vertical axis are taken. As is clear from the measurement results shown in FIG.
The temperature in the vicinity of the temperature range including 2) varies in the range of 22.9 degrees to 23.2 degrees. Such temperature variation means that there is temperature variation in the moving area of the sample table 8, which impedes high-accuracy measurement.

【0013】本発明の目的は、上記従来技術における課
題を解決し、試料テーブルの移動領域内の温度のばらつ
きを抑制することができる測長機の恒温装置を提供する
にある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems in the prior art and to provide a thermostat for a length measuring machine which can suppress variations in temperature in the moving region of the sample table.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】発明者等は試料テーブル
を含むその近辺の温度がばらつく原因について種々検討
したが、上記の温度測定の結果から、試料テーブルの存
在の有無が温度のばらつきに大きく関与することを見出
した。そこで、試料テーブルの移動領域内の温度のばら
つきを抑えるため、本発明は、移動ステージ、測長対象
物を載置し前記移動ステージにより移動せしめられる試
料テーブル、前記測長対象物の像を拡大する顕微鏡、こ
の顕微鏡の拡大像を撮影するカメラ、および前記試料テ
ーブルの移動量を測定するレーザ変位計で構成され、恒
温槽内に空気定盤を介して支持される測長機において、
少なくとも前記試料テーブルの移動範囲全体を前記顕微
鏡の視野を残して覆うカバーを前記顕微鏡と前記試料テ
ーブルとの間に介在させたことを特徴とする。
Means for Solving the Problems The inventors have made various studies on the cause of variations in the temperature in the vicinity including the sample table. From the results of the above temperature measurement, the presence or absence of the sample table greatly affects the temperature variation. Found to be involved. Therefore, in order to suppress variations in temperature within the moving area of the sample table, the present invention enlarges the image of the moving stage, the sample table on which the measuring object is placed and moved by the moving stage, and the measuring object. A microscope, a camera for taking an enlarged image of this microscope, and a laser displacement meter for measuring the amount of movement of the sample table, in a length measuring machine supported via an air surface plate in a constant temperature bath,
A cover is provided between the microscope and the sample table to cover at least the entire moving range of the sample table while leaving the field of view of the microscope.

【0015】[0015]

【作用】恒温槽上部からの所定温度の空気はカバー内に
侵入し、試料テーブルの存在の如何にかかわらずカバー
内面の空気を均一の温度に保持する。したがって、測長
機による測定は精度良く行うことができる。
The air of a predetermined temperature from the upper part of the constant temperature chamber penetrates into the cover and keeps the air inside the cover at a uniform temperature regardless of the presence of the sample table. Therefore, the measurement by the length measuring machine can be accurately performed.

【0016】[0016]

【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明
する。図1は本発明の実施例に係る測長機の恒温装置の
一部断面側面図、図2は図1に示す装置の平面図であ
る。各図で、図4に示す部分と同一又は等価な部分には
同一符号を付して説明を省略する。28は恒温装置の
床、29は測長機本体を支持する空気定盤を示す。30
はカバーであり、試料テーブル8と顕微鏡10との間に
介在せしめられる。30hはカバー30に形成された顕
微鏡10の透視孔を示す。カバー30の大きさは試料テ
ーブル8のX軸方向およびY軸方向における移動領域全
体を覆う面積に選定されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to illustrated embodiments. 1 is a partial cross-sectional side view of a thermostat of a length measuring machine according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view of the apparatus shown in FIG. In each figure, the same or equivalent parts as those shown in FIG. 4 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted. 28 is the floor of the thermostat, and 29 is the air surface plate that supports the length measuring machine body. Thirty
Is a cover and is interposed between the sample table 8 and the microscope 10. 30 h indicates a see-through hole of the microscope 10 formed in the cover 30. The size of the cover 30 is selected so as to cover the entire moving region of the sample table 8 in the X-axis direction and the Y-axis direction.

【0017】31はカバー30を支持する支持部、31
hは支持部31に形成されインタフェロメータ23Xと
ミラー24Xとの間のレーザ光線を透過させる透過孔で
ある。図示されていないが、同様の透過孔がインタフェ
ロメータ23Yとミラー24Yとの間にも形成されてい
る。支持部31は4つの側面全体を覆うように構成して
もよいし、又、当該側面に空間を残すように構成しても
よい。図示のように、モータ7X、7Yを支持部31の
外部に配置する場合には、支持部31に各モータ軸を挿
通する貫通孔が設けられる。
Reference numeral 31 denotes a supporting portion for supporting the cover 30,
Reference numeral h is a transmission hole formed in the support portion 31 for transmitting a laser beam between the interferometer 23X and the mirror 24X. Although not shown, a similar transmission hole is also formed between the interferometer 23Y and the mirror 24Y. The support portion 31 may be configured to cover the entire four side surfaces, or may be configured to leave a space on the side surfaces. As shown in the figure, when the motors 7X and 7Y are arranged outside the support portion 31, the support portion 31 is provided with a through hole through which each motor shaft is inserted.

【0018】カバー30は、図2に示すように、部分3
0A、30B、30Cに分割されており、部分30Aは
支持部31に固定され、部分30B、30Cのうちの少
なくとも一方が、原板9の着脱のために開閉又は取外し
自在に構成されている。各部分30A、30B、30C
の大きさは原板9の大きさ等を考慮して任意に選定する
ことができる。又、透視孔30hの位置は、各部分30
A、30B、30Cの大きさや顕微鏡10の位置に応じ
て選定される。
The cover 30 has a portion 3 as shown in FIG.
It is divided into 0A, 30B and 30C, the portion 30A is fixed to the support portion 31, and at least one of the portions 30B and 30C is configured to be openable / closable or detachable for attachment / detachment of the original plate 9. Each part 30A, 30B, 30C
The size of can be arbitrarily selected in consideration of the size of the original plate 9 and the like. Further, the position of the see-through hole 30h is set to the respective portions 30
It is selected according to the size of A, 30B, 30C and the position of the microscope 10.

【0019】ここで、図7に示すように温度センサを配
置した従来例についてみると、温度センサS2〜S6は、
試料テーブル上にあり、S1、S7〜S9は、試料テーブ
ルから外れている。テーブル上では、テーブルの無い所
に比べて空気流が一様によどみ易い。又、恒温槽の制御
用温度センサの位置が試料テーブル上にあるため、この
点に対して温度が制御される。従って、空気流のよどみ
易い点S2〜S6は、恒温槽の制定温度になり易く、
1、S7〜S9は、空気流のよどみが無いため、空気流
のよどみ易い状態から離れる程、過冷却になりやすい。
しかし、本実施例では、測長範囲内を全面カバーでおお
い、全面空気流のよどみ易い状態にして表面温度の均一
を計り、これにより測長機による測定を精度良く行うこ
とができる。
Now, regarding the conventional example in which the temperature sensors are arranged as shown in FIG. 7, the temperature sensors S 2 to S 6 are
It is on the sample table, and S 1 and S 7 to S 9 are out of the sample table. On the table, the air flow is more likely to stagnant evenly than in a place without the table. Further, since the position of the temperature sensor for controlling the constant temperature bath is on the sample table, the temperature is controlled at this point. Therefore, the stagnation points S 2 to S 6 of the air flow are likely to reach the established temperature of the constant temperature bath,
Since S 1 and S 7 to S 9 have no stagnation of the air flow, the more they are separated from the stagnation state of the air flow, the more easily they are overcooled.
However, in the present embodiment, the entire surface of the length measuring range is covered with the entire surface of the cover so that the air flow can easily stagnate and the surface temperature can be made uniform, so that the measurement by the length measuring machine can be performed accurately.

【0020】なお、透視孔30hも、すぐ下に試料テー
ブルがあるからカバー30の部分と同じ状態となる。そ
して、制御用の温度センサは、カバー30の上面にあ
り、この温度センサにより、設定温度に制御されること
となり、カバー30の下面はほぼ均一の温度に保持さ
れ、温度のばらつきが抑えられる。したがって、原板9
に対する測定は温度のばらつきに影響されることなく、
高精度で行うことができる。
The see-through hole 30h is also in the same state as the cover 30 because the sample table is immediately below. The temperature sensor for control is provided on the upper surface of the cover 30, and the temperature sensor controls the temperature to a set temperature, so that the lower surface of the cover 30 is maintained at a substantially uniform temperature and variation in temperature is suppressed. Therefore, the original plate 9
The measurement against is not affected by temperature variations,
It can be performed with high precision.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上述べたように、本発明は、試料テー
ブルの移動領域全体を覆うカバーを設けたので、当該移
動領域における温度のばらつきを抑制することができ、
高精度の測定を行うことができる。
As described above, according to the present invention, since the cover for covering the entire moving area of the sample table is provided, it is possible to suppress the temperature variation in the moving area.
Highly accurate measurement can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例に係る測長機の恒温装置の側面
図である。
FIG. 1 is a side view of a thermostat of a length measuring machine according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す装置の平面図である。2 is a plan view of the device shown in FIG. 1. FIG.

【図3】測定対象原板の平面図である。FIG. 3 is a plan view of an original plate to be measured.

【図4】測長機の斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of a length measuring machine.

【図5】顕微鏡の視野を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a field of view of a microscope.

【図6】顕微鏡の視野を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a field of view of a microscope.

【図7】試料テーブル上の温度センサの配置図である。FIG. 7 is a layout view of temperature sensors on a sample table.

【図8】図7に示す温度センサによる測定結果を示すグ
ラフである。
8 is a graph showing a measurement result obtained by the temperature sensor shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

8 試料テーブル 10 顕微鏡 23X インタフェロメータ 29 空気定盤 30 カバー 30h 透視孔 31 支持部 8 sample table 10 microscope 23X interferometer 29 air surface plate 30 cover 30h see-through hole 31 support part

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 移動ステージ、測長対象物を載置し前記
移動ステージにより移動せしめられる試料テーブル、前
記測長対象物の像を拡大する顕微鏡、この顕微鏡の拡大
像を撮影するカメラ、および前記試料テーブルの移動量
を測定するレーザ変位計で構成され、恒温槽内に空気定
盤を介して支持される測長機において、少なくとも前記
試料テーブルの移動範囲全体を前記顕微鏡の視野を残し
て覆うカバーを前記顕微鏡と前記試料テーブルとの間に
介在させたことを特徴とする測長機の恒温装置。
1. A moving stage, a sample table on which a length measuring object is placed and moved by the moving stage, a microscope for magnifying an image of the length measuring object, a camera for taking a magnified image of the microscope, and In a length measuring machine that is composed of a laser displacement meter that measures the amount of movement of the sample table and is supported in the thermostatic chamber via an air surface plate, at least the entire moving range of the sample table is covered while leaving the field of view of the microscope. A thermostat of a length measuring machine, wherein a cover is interposed between the microscope and the sample table.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CZ305319B6 (en) * 2013-05-13 2015-07-29 České vysoké učení technické v Praze, Fakulta stavební, Experimentální centrum Device for measuring changes in length of building materials
CZ307020B6 (en) * 2016-09-09 2017-11-15 České vysoké učení technické v Praze, Fakulta stavební, Experimentální centrum A method of measuring length changes in building materials in model extreme conditions and a device for implementing this method
JP2019152530A (en) * 2018-03-02 2019-09-12 株式会社東京精密 Shape measuring device
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