JPH05273233A - Connecting apparatus for measuring electronic component - Google Patents

Connecting apparatus for measuring electronic component

Info

Publication number
JPH05273233A
JPH05273233A JP4098648A JP9864892A JPH05273233A JP H05273233 A JPH05273233 A JP H05273233A JP 4098648 A JP4098648 A JP 4098648A JP 9864892 A JP9864892 A JP 9864892A JP H05273233 A JPH05273233 A JP H05273233A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measuring
lead
electronic component
connecting device
conductor wire
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4098648A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3162475B2 (en
Inventor
Toshihiro Honma
敏博 本間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP09864892A priority Critical patent/JP3162475B2/en
Publication of JPH05273233A publication Critical patent/JPH05273233A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3162475B2 publication Critical patent/JP3162475B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a connecting apparatus for measuring electronic components which makes it easy to measure the operation of the electronic components mounted on a printed circuit board. CONSTITUTION:An insertion hole 12 is formed on the upper surface of a measuring socket 1 in order to insert a pin 10b of an electronic component 10 thereinto. At the same time, a lead 11 is provided in the conducting state with the insertion hole 12 on the lower surface of the socket 1 so as to be connected with a mounting socket 51. One end of a conductor wire 22 for the lead side is connected to the lead 11, and a connecting tool 61 for the lead side is set at the other end of the wire 22. Moreover, the connecting tool 61 is detachably fitted with a connecting tool 62 for a measuring device attached to one end of a conductor wire 23 for the measuring device. A connector 31 is connected to the other end of the conductor wire 23 so as to be connected with an input part 41 of the measuring device 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板上の実
装用ソケットに装着された電子部品と、この電子部品の
電気的特性を測定するための測定器とを接続するための
電子部品の測定用接続装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component for connecting an electronic component mounted in a mounting socket on a printed wiring board and a measuring instrument for measuring the electrical characteristics of the electronic component. The present invention relates to a measuring connection device.

【0002】[0002]

【従来の技術】メモリやCPU等の電子部品は、その高
集積化に伴いパッケージから突出するピンの数が増加し
ている。一方、ピンの増加とともにパッケージの小型化
が進んでおり、このため、ピンとピンとの間隔(以下、
ピッチとする)は益々狭くなる方向にある。例えば、電
子部品のパッケージの下面全体にピンが格子上に配列さ
れたPinGrid Array(以下、PGAとす
る)では、一辺約30mmの略正方形のパッケージ下面
から約600本ものピンが導出されている。
2. Description of the Related Art In electronic parts such as memories and CPUs, the number of pins protruding from the package is increasing with the high integration. On the other hand, with the increase in the number of pins, the miniaturization of packages is advancing, and therefore, the distance between pins (hereinafter,
The pitch is becoming narrower. For example, in a PinGrid Array (hereinafter referred to as PGA) in which pins are arranged on a lattice on the entire lower surface of a package of electronic components, about 600 pins are led out from the lower surface of a substantially square package having a side of about 30 mm.

【0003】所定の電気回路を構成する場合、プリント
配線板に各種部品を接続するとともに、このような電子
部品をプリント配線板上に取り付けられた実装用ソケッ
トに装着する。このように構成された電気回路におい
て、電子部品が正常に動作しているかどうかを測定する
には、電子部品のピンと測定器の入力部とを電気的に接
続する必要がある。図6は従来の電子部品の測定用接続
装置を説明する斜視図である。すなわち、図6(a)に
示すような測定用接続装置は、被覆材28の先端から露
出する鍵状端子21aと、この鍵状端子21aと導通状
態に接続された導体線22と、アッテネータ27を介し
て導体線22に接続されたコネクタ31とから構成され
るものである。
When constructing a predetermined electric circuit, various components are connected to a printed wiring board and such electronic components are mounted in a mounting socket mounted on the printed wiring board. In the electric circuit configured as described above, in order to measure whether the electronic component is operating normally, it is necessary to electrically connect the pin of the electronic component and the input section of the measuring instrument. FIG. 6 is a perspective view illustrating a conventional connecting device for measuring electronic components. That is, in the measuring connection device as shown in FIG. 6A, the key-shaped terminal 21 a exposed from the tip of the covering material 28, the conductor wire 22 connected to the key-shaped terminal 21 a in a conductive state, and the attenuator 27. And a connector 31 connected to the conductor wire 22 via.

【0004】また、図6(b)に示すような測定用接続
装置は、被覆材28の先端から先割れ端子21bが突出
したもので、この先割れ端子21bと導通状態に接続さ
れた導体線22、およびアッテネータ27を介して導体
線22に接続されたコネクタ31とから構成される。
Further, in the measuring connecting device as shown in FIG. 6B, a tip terminal 21b is projected from the tip of the covering material 28, and the conductor wire 22 connected to the tip terminal 21b in a conductive state. , And a connector 31 connected to the conductor wire 22 via an attenuator 27.

【0005】例えば、図6(a)に示す測定用接続装置
を用いてプリント配線板上に実装された電子部品の動作
を測定するには、被覆材28を平行移動して、鍵状端子
21aの鍵部と被覆材28との間に隙間を開ける。この
状態で、測定に必要な電子部品のピン10bに鍵状端子
21aを引っ掛け、被覆材28を反対に平行移動するこ
とにより鍵部を閉じる。そして、コネクタ31を測定器
の入力部41に接続し、所定に測定を行う。
For example, in order to measure the operation of an electronic component mounted on a printed wiring board by using the measuring connecting device shown in FIG. 6 (a), the covering material 28 is translated and the key-like terminal 21a is moved. A gap is formed between the key part of the and the covering material 28. In this state, the key-like terminal 21a is hooked on the pin 10b of the electronic component required for measurement, and the covering material 28 is moved in parallel in the opposite direction to close the key portion. Then, the connector 31 is connected to the input unit 41 of the measuring instrument, and a predetermined measurement is performed.

【0006】また、図6(b)に示す測定用接続装置を
用いる場合は、被覆材28を平行移動して先割れ端子2
1bの先端を開き、電子部品のピン10bに引っ掛けて
被覆材28を反対に平行移動する。これにより、先割れ
端子21bの先端が閉じて、ピン10bとの電気的な接
続を得る。
When the measuring connecting device shown in FIG. 6 (b) is used, the covering material 28 is moved in parallel so that the tip terminal 2 is broken.
The tip of 1b is opened, hooked on the pin 10b of the electronic component, and the covering material 28 is translated in the opposite direction. As a result, the tip of the cracked terminal 21b is closed and an electrical connection with the pin 10b is obtained.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな電子部品の測定用接続装置を用いた場合、次のよう
な問題がある。すなわち、一つのピンにおける測定が終
了した後、他のピンにこの測定用接続装置を付け換える
場合、被覆材を平行移動して鍵状端子および先割れ端子
をピンから取り外し、再び他のピンに取り付けなければ
ならない。また、複数のピンにおける測定を同時に行う
には、ピンの数だけ測定用接続装置を取り付ける。しか
し、ピンのピッチが狭い場合、各測定用接続装置どうし
が接触してしまい、取り付けられない場合が生じる。さ
らに、PGAのようなパッケージ下面にピンが格子状に
配列された電子部品では、中央部分のピンにこの測定用
接続装置を取り付けるのに困難である。よって、本発明
はプリント配線板上に実装された電子部品の動作測定を
容易に行うことができる電子部品の測定用接続装置を提
供することを目的とする。
However, the use of such a connecting device for measuring electronic components has the following problems. That is, after the measurement at one pin is completed, when changing this measuring connecting device to another pin, the covering material is moved in parallel to remove the key-like terminal and the cracked terminal from the pin, and to the other pin again. Must be installed. Further, in order to perform the measurement on a plurality of pins at the same time, the measuring connecting devices are attached by the number of pins. However, if the pin pitch is narrow, the measuring connecting devices may come into contact with each other and may not be attached. Furthermore, in an electronic component such as PGA in which the pins are arranged in a grid on the lower surface of the package, it is difficult to attach the measuring connecting device to the pin in the central portion. Therefore, it is an object of the present invention to provide a connecting device for measuring an electronic component that can easily measure the operation of the electronic component mounted on a printed wiring board.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、このような課
題を解決するために成された電子部品の測定用接続装置
である。すなわち、この電子部品の測定用接続装置は、
測定用ソケットの上面に電子部品のピンを挿入するため
の挿入孔を設け、かつ下面に実装用ソケットと接続する
ためのリードを挿入孔と導通状態に設け、このリードに
リード側の導体線の一端を接続するとともに、他端にリ
ード側の接続器具を取り付ける。さらに、このリード側
の接続器具と、測定器側の導体線の一端に取り付けた測
定器側の接続器具とを電気的に接続し、他端に測定器の
入力部と接続するためのコネクタを接続したものであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is an apparatus for measuring and connecting an electronic component, which has been made to solve such a problem. That is, the measuring connection device for this electronic component is
An insertion hole for inserting a pin of an electronic component is provided on the upper surface of the measurement socket, and a lead for connecting to the mounting socket is provided on the lower surface in a conductive state with the insertion hole. Connect one end and attach the lead-side connecting device to the other end. Furthermore, a connector for electrically connecting the connecting device on the lead side to the connecting device on the measuring device side attached to one end of the conductor wire on the measuring device side, and for connecting to the input part of the measuring device on the other end It is connected.

【0009】また、この接続器具はプラグ部とジャック
部とを有し、このプラグ部とジャック部とが導通状態で
あるとともに、ジャック部にプラグ部を嵌合するように
したものである。
Further, this connecting device has a plug portion and a jack portion, the plug portion and the jack portion are in a conductive state, and the plug portion is fitted to the jack portion.

【0010】[0010]

【作用】電子部品を測定用ソケットに装着し、この測定
用ソケットのリードをプリント配線板上に取り付けられ
た実装用ソケットに装着する。この際、測定用ソケット
のリードに、リード側の導体線が接続されているため、
電子部品をプリント配線板に実装して動作できる状態で
の、ピンとリード側の導体線との電気的な接続が得られ
る。また、このリード側の導体線に取り付けられたリー
ド側の接続器具と、測定器側の導体線に取り付けられた
測定器側の接続器具とが着脱自在に接続されているた
め、測定に必要なピンと測定器との電気的接続を容易に
行うことができる。また、接続器具のプラグ部に、他の
接続器具のジャック部を嵌合することにより、複数の接
続器具を連続して接続することができる。このため、一
つのピンと複数の測定器とを接続する場合において、リ
ード側の接続器具に複数の測定器側の接続器具を接続す
ることにより、このピンからの出力信号を各測定器に分
配することができる。
The electronic component is mounted on the measuring socket, and the leads of the measuring socket are mounted on the mounting socket mounted on the printed wiring board. At this time, since the conductor wire on the lead side is connected to the lead of the measurement socket,
The electrical connection between the pin and the conductor wire on the lead side can be obtained while the electronic component is mounted on the printed wiring board and can operate. In addition, since the lead-side connecting device attached to the lead-side conductor wire and the measuring device-side connecting device attached to the measuring device-side conductor wire are detachably connected, it is necessary for measurement. The electrical connection between the pin and the measuring device can be easily made. Moreover, a plurality of connecting devices can be continuously connected by fitting the jack part of another connecting device to the plug part of the connecting device. For this reason, when connecting one pin to multiple measuring instruments, connecting the connecting instrument on the lead side to the connecting instrument on the lead side distributes the output signal from this pin to each measuring instrument. be able to.

【0011】[0011]

【実施例】以下に、本発明の電子部品の測定用接続装置
の実施例を図面に基づいて説明する。図1は本発明の電
子部品の測定用接続装置を説明する斜視図である。すな
わち、この測定用接続装置は、おもに測定用ソケット1
とリード側接続線2、および測定器側接続線3とから構
成される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a measuring connecting device for electronic parts of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view illustrating an electronic component measuring connection device of the present invention. That is, this measuring connecting device is mainly composed of the measuring socket 1
And a lead-side connecting wire 2 and a measuring instrument-side connecting wire 3.

【0012】測定用ソケット1は、その上面側に電子部
品10のピン10bを挿入するための挿入孔12が複数
設けられているとともに、下面側に実装用ソケット51
と接続するためのリード11が設けられている。この挿
入孔12は、その内面に導体材料が設けられており、電
子部品3のピン32と嵌合できる大きさに形成されてい
る。また、測定用ソケット1の下面側に設けられたリー
ド11は、挿入孔12とそれぞれ導通状態に設けられて
いる。例えば、PGAのようにパッケージ10aの下面
にピン10bが格子状に配列された電子部品10の場
合、この測定用ソケット1は、その上面側にピン10b
と対応した配列の挿入孔12が設けられ、かつ下面側か
らこの挿入孔12に対応した配列、すなわちピン10b
と同様の格子状の配列でリード11が設けられている。
The measuring socket 1 is provided with a plurality of insertion holes 12 for inserting the pins 10b of the electronic component 10 on the upper surface side thereof, and the mounting socket 51 on the lower surface side thereof.
A lead 11 is provided to connect with the. A conductor material is provided on the inner surface of the insertion hole 12, and is formed in a size that can fit into the pin 32 of the electronic component 3. Further, the leads 11 provided on the lower surface side of the measurement socket 1 are provided in a conductive state with the insertion holes 12, respectively. For example, in the case of an electronic component 10 in which the pins 10b are arranged in a lattice pattern on the lower surface of the package 10a like PGA, this measuring socket 1 has the pins 10b on the upper surface side.
Is provided with an insertion hole 12 having an arrangement corresponding to the arrangement, and an arrangement corresponding to the insertion hole 12 from the lower surface side, that is, the pin 10b.
The leads 11 are provided in a grid-like arrangement similar to.

【0013】この測定用ソケット1のリード11には、
リード側接続線2が電気的に接続されている。すなわ
ち、このリード側接続線2は、導体線22(リード側)
の一端に、リード11と電気的な接続を行うための端子
21が接続され、他端にリード側の接続器具61が取り
付けられたものである。この端子21に設けられた穴を
リード11に貫通させて、測定用ソケット1とリード側
接続線2との電気的な接続を得る。
The lead 11 of the measuring socket 1 has
The lead side connecting wire 2 is electrically connected. That is, the lead side connecting wire 2 is the conductor wire 22 (lead side).
The terminal 21 for making an electrical connection with the lead 11 is connected to one end of, and the lead-side connecting device 61 is attached to the other end. The hole provided in the terminal 21 is passed through the lead 11 to obtain the electrical connection between the measuring socket 1 and the lead-side connecting wire 2.

【0014】また、このリード側接続線2と測定器4と
の間に、測定器側接続線3が電気的に接続されている。
この測定器側接続線3は、導体線23(測定器側)の一
端にリード側の接続器具61と電気的に接続するための
測定器側の接続器具62が取り付けられ、他端に測定器
4の入力部41と接続するためのコネクタ31が取り付
けられたものである。この測定器側の接続器具62とリ
ード側の接続器具61とは着脱自在に接続されている。
A measuring instrument side connecting wire 3 is electrically connected between the lead side connecting wire 2 and the measuring instrument 4.
In this measuring instrument side connecting wire 3, a measuring instrument side connecting instrument 62 for electrically connecting to a lead side connecting instrument 61 is attached to one end of the conductor wire 23 (measuring instrument side), and the other end is connected to the measuring instrument The connector 31 for connecting to the input part 41 of No. 4 is attached. The connecting device 62 on the measuring instrument side and the connecting device 61 on the lead side are detachably connected.

【0015】これにより、電子部品10が装着された測
定用ソケット1を、プリント配線板5上に取り付けられ
た実装用ソケット51に接続することで、電子部品10
のピン10bと測定器4の入力部41とが電気的に接続
されることになる。
Thus, by connecting the measuring socket 1 with the electronic component 10 mounted thereto to the mounting socket 51 mounted on the printed wiring board 5, the electronic component 10 is connected.
The pin 10b and the input part 41 of the measuring device 4 are electrically connected.

【0016】次に、図2および図3を用いて接続器具の
説明をする。図2は接続器具を説明する模式図であり、
リード側の接続器具61および測定器側の接続器具62
とを示している。すなわち、接続器具61、62は導体
材料から成るプラグ部6aと、このプラグ部6aと導通
状態に設けられたジャック部6bとから構成されてい
る。ジャック部6bの内径は、プラグ部6aの外形とほ
ぼ等しく形成されているため、プラグ部6aとジャック
部6bとが着脱可能な状態で嵌合できるようになってい
る。このため、リード側の接続器具61のプラグ部6a
を測定器側の接続器具62のジャック部6bに嵌合し
て、さらにこの接続器具62のプラグ部6aに他の接続
具62を連続して嵌合することができる。
Next, the connecting device will be described with reference to FIGS. 2 and 3. FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a connecting device,
Connecting device 61 on the lead side and connecting device 62 on the measuring instrument side
Is shown. That is, the connecting devices 61 and 62 are composed of a plug portion 6a made of a conductive material and a jack portion 6b provided in a conductive state with the plug portion 6a. Since the inner diameter of the jack portion 6b is formed to be substantially equal to the outer diameter of the plug portion 6a, the plug portion 6a and the jack portion 6b can be fitted in a detachable state. Therefore, the plug portion 6a of the lead-side connecting device 61
Can be fitted to the jack portion 6b of the connecting device 62 on the measuring instrument side, and further, the other connecting tool 62 can be continuously fitted to the plug part 6a of the connecting device 62.

【0017】この接続器具61、62をさらに詳しく説
明するために、測定器側の接続器具62の拡大模式図を
図3に示す。すなわち、この接続器具62のジャック部
6bの内面にはプラグ部6aと同様導体材料が設けられ
ており、この部分に導体線23が接続されている。ま
た、ジャック部6bの内面に突起6cが設けられている
とともに、プラグ部6aの外面には、この突起6cに対
応する形状の切り込み6dが設けられている。したがっ
て、プラグ部6aをジャック部6bに挿入することで、
この突起6cが切り込み6dに嵌合されるため、2つの
接続器具62を確実に接続することができる。
In order to explain the connecting devices 61 and 62 in more detail, an enlarged schematic view of the connecting device 62 on the measuring instrument side is shown in FIG. That is, a conductor material is provided on the inner surface of the jack portion 6b of the connecting device 62 as with the plug portion 6a, and the conductor wire 23 is connected to this portion. A protrusion 6c is provided on the inner surface of the jack portion 6b, and a notch 6d having a shape corresponding to the protrusion 6c is provided on the outer surface of the plug portion 6a. Therefore, by inserting the plug portion 6a into the jack portion 6b,
Since the protrusion 6c is fitted into the cut 6d, the two connecting devices 62 can be reliably connected.

【0018】また、ジャック部6bの外周面はプラスチ
ック等の絶縁材料(図示せず)で被覆されているととも
に、露出したプラグ部6aに樹脂等から成るキャップ7
をかぶせることにより、他の部材との接触による短絡を
防止している。なお、上記の説明において、測定器側の
接続器具62を用いて説明したが、これはリード側の接
続器具61についても同様である。
The outer peripheral surface of the jack portion 6b is covered with an insulating material (not shown) such as plastic, and the exposed plug portion 6a is covered with a cap 7 made of resin or the like.
By covering with, the short circuit due to contact with other members is prevented. In the above description, the connecting device 62 on the measuring instrument side was used for description, but the same applies to the connecting device 61 on the lead side.

【0019】次に、図4の模式図を用いて本発明の電子
部品の測定用接続装置の使用例を説明する。先ず、本発
明の電子部品の測定用接続装置による測定系の構成を説
明する。すなわち、プリント配線板5上に取り付けられ
た実装用ソケット51に測定用ソケット1が装着され、
さらにこの測定用ソケット1上に電子部品10が装着さ
れている。
Next, an example of using the connecting device for measuring electronic parts of the present invention will be described with reference to the schematic view of FIG. First, the configuration of a measuring system using the electronic component measuring connecting device of the present invention will be described. That is, the measuring socket 1 is mounted on the mounting socket 51 mounted on the printed wiring board 5,
Further, the electronic component 10 is mounted on the measuring socket 1.

【0020】この電子部品10の動作を測定するのに、
電気的な接続が必要なピン10bと導通しているリード
11にリード側の導体線22が接続されている。例え
ば、2つのピン10bからの出力信号を測定する場合、
その2つのピン10bにそれぞれ導体線22が接続され
る。これらの導体線22には、リード側の接続器具61
がそれぞれ接続され、さらに、この接続器具61に測定
器側の接続器具62が嵌合されている。すなわち、リー
ド側の接続器具61のプラグ部6a(図2参照)と測定
器側の接続器具62のジャック部6b(図2参照)とが
嵌合した状態となっている。また、この接続器具62
は、測定器側の導体線23およびコネクタ31を介して
オシロスコープ4aの入力部41と電気的に接続されて
いる。この測定器側の接続器具62には、さらに他の接
続器具62が嵌合されており、この接続器具62は導体
線23およびケーブル25、コネクタ31を介してロジ
ックアナライザ4bと電気的に接続されている。
To measure the operation of this electronic component 10,
The lead-side conductor wire 22 is connected to the lead 11 that is electrically connected to the pin 10b that requires electrical connection. For example, when measuring the output signal from the two pins 10b,
A conductor wire 22 is connected to each of the two pins 10b. These conductor wires 22 are connected to the lead-side connecting device 61.
Are connected to each other, and the connecting device 62 on the measuring instrument side is fitted into the connecting device 61. That is, the plug portion 6a (see FIG. 2) of the lead-side connecting device 61 and the jack portion 6b (see FIG. 2) of the measuring device-side connecting device 62 are in a fitted state. Also, this connecting device 62
Is electrically connected to the input unit 41 of the oscilloscope 4a via the conductor wire 23 on the measuring instrument side and the connector 31. Another connecting device 62 is further fitted to the connecting device 62 on the measuring instrument side, and the connecting device 62 is electrically connected to the logic analyzer 4b via the conductor wire 23, the cable 25, and the connector 31. ing.

【0021】このような接続により、プリント配線板5
上に接続された各種部品(図示せず)と、この電子部品
10とから成る電気回路を動作できると同時に、電子部
品10とオシロスコープ4a、およびロジックアナライ
ザ4bとを電気的に接続した測定系を構成できる。
With such a connection, the printed wiring board 5
An electronic circuit composed of various components (not shown) connected above and the electronic component 10 can be operated, and at the same time, a measurement system in which the electronic component 10 is electrically connected to the oscilloscope 4a and the logic analyzer 4b is provided. Can be configured.

【0022】この測定系による、電子部品10の動作測
定は、先ず電気回路に所定の入力信号を送り、この電子
部品10を動作させる。これにより、電子部品10のピ
ン10bからの信号が出力され、測定用ソケット1のリ
ード11に接続された導体線22および接続器具61、
62を介してオシロスコープ4aおよびロジックアナラ
イザ4bに送られる。そして、このオシロスコープ4a
およびロジックアナライザ4bのモニタ出力により、電
子部品10の動作の確認や良否の判定等を行う。
In the operation measurement of the electronic component 10 by this measuring system, first, a predetermined input signal is sent to the electric circuit to operate the electronic component 10. As a result, a signal is output from the pin 10b of the electronic component 10, and the conductor wire 22 and the connecting device 61 connected to the lead 11 of the measuring socket 1 are connected.
It is sent to the oscilloscope 4a and the logic analyzer 4b via 62. And this oscilloscope 4a
And the output of the monitor of the logic analyzer 4b is used to confirm the operation of the electronic component 10 and to determine the quality.

【0023】このように、測定器側の接続器具62に他
の接続器具62を継ぎ足すことにより、1つのリード1
1に接続された導体線22の電気的な分岐を容易に行う
ことができる。したがって、電子部品10からの出力信
号を、複数の測定器4に分配することができるため、さ
らに他の接続器具62を継ぎ足せば、他の測定器4にて
測定を行うことも可能である。
As described above, by adding another connecting device 62 to the connecting device 62 on the measuring instrument side, one lead 1
The electrical branch of the conductor wire 22 connected to 1 can be easily performed. Therefore, since the output signal from the electronic component 10 can be distributed to the plurality of measuring instruments 4, it is possible to measure with the other measuring instrument 4 by further adding another connecting device 62. ..

【0024】次に、本発明の他の実施例を図5に基づい
て説明する。図5は本発明の他の実施例を説明する模式
図で、説明を簡単にするために、測定用ソケット1とリ
ード側接続線2のみを示したものである。すなわち、こ
の測定用接続装置は、測定用ソケット1の下面に設けら
れたリード11の全てに導体線22が取り付けられたも
ので、それぞれの導体線22に接続器具61が取り付け
られている。
Next, another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a schematic view for explaining another embodiment of the present invention, and only the measuring socket 1 and the lead side connecting wire 2 are shown for the sake of simplicity. That is, in this measurement connecting device, the conductor wire 22 is attached to all of the leads 11 provided on the lower surface of the measurement socket 1, and the connecting device 61 is attached to each conductor wire 22.

【0025】このように、全てのリード11に導体線2
2が接続されいるため、各導体線22には、識別用の番
号札26が取り付けられている。例えば、この番号札2
6の番号を、電子部品10のピン10bの番号と対応さ
せることにより、測定に必要なピン10bと導通する接
続器具61を容易に探すことができる。
In this way, the conductor wires 2 are provided on all the leads 11.
Since the two are connected, a number tag 26 for identification is attached to each conductor wire 22. For example, this number tag 2
By associating the number 6 with the number of the pin 10b of the electronic component 10, it is possible to easily find the connecting device 61 that is electrically connected to the pin 10b necessary for measurement.

【0026】この電子部品の測定用接続装置を用いて電
子部品10の動作を測定する場合、測定に必要なピン1
0bと導通する接続器具61と、測定器側の接続器具6
2とを嵌合するればよい。この際、測定に必要なピン1
0bの番号が記された番号札26を有する接続器具61
を探せば、接続の間違いが起こらない。また、他のピン
10bからの出力信号を測定する場合には、測定器側の
接続器具62を、他のピン10bと導通するリード側の
接続器具61に付け換える。これにより、どのピン10
bからの出力信号を測定する場合であっても、測定に必
要なピン10bと測定器4との電気的な接続を容易に行
うことができる。なお、接続器具61、62のプラグ部
6aが露出している場合には、このプラグ部6aにキャ
ップ7(図3参照)をかぶせれば、各プラグ部6aどう
しが接触して短絡を起こすことがない。
When the operation of the electronic component 10 is measured using this measuring device for measuring electronic components, the pin 1 required for the measurement is used.
0b connecting instrument 61 and measuring instrument side instrument 6
2 may be fitted. At this time, pin 1 required for measurement
Connection device 61 having a number tag 26 with the number 0b
If you look for, you won't get the wrong connection. When measuring the output signal from the other pin 10b, the connecting device 62 on the measuring instrument side is replaced with the connecting device 61 on the lead side that is electrically connected to the other pin 10b. Which pin 10
Even when the output signal from b is measured, the electrical connection between the pin 10b necessary for measurement and the measuring device 4 can be easily performed. When the plug portions 6a of the connecting devices 61 and 62 are exposed, by covering the plug portions 6a with a cap 7 (see FIG. 3), the plug portions 6a may come into contact with each other to cause a short circuit. Absent.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の電子部品
の測定用接続装置によれば、次のような効果がある。す
なわち、測定用ソケットのリードにリード側接続線が取
り付けられているため、電子部品が接続された測定用ソ
ケットをプリント配線板に取り付けられた実装用ソケッ
トに装着することにより、電子部品と測定器とを、容易
に電気的に接続することができる。このため、測定に必
要なピンと導通状態となるリードとリード側接続線とを
予め接続しておけば、どの位置のピンであっても、出力
信号を取り出すことができる。したがって、PGAのよ
うな電子部品の場合、パッケージ下面の中央部分のピン
であっても、その出力信号を容易に取り出せる。さら
に、ファインピッチの電子部品であっても、接触するこ
となくその出力信号を取り出せる。
As described above, the connecting device for measuring electronic parts of the present invention has the following effects. That is, since the lead side connecting wire is attached to the lead of the measurement socket, by mounting the measurement socket to which the electronic component is connected to the mounting socket attached to the printed wiring board, the electronic component and the measuring instrument are connected. And can be electrically connected easily. Therefore, if the lead and the lead-side connecting wire that are in conduction with the pin required for measurement are connected in advance, the output signal can be taken out from the pin at any position. Therefore, in the case of an electronic component such as PGA, the output signal can be easily taken out even with the pin at the central portion on the lower surface of the package. Furthermore, even fine-pitch electronic components can output their output signals without contact.

【0028】また、リード側の接続器具と、測定器側の
接続器具とが着脱自在で嵌合しているため、測定に必要
なピンと導通状態のリード側の接続器具に測定器側の接
続器具を容易に接続することができる。さらに、1つの
リード側の接続器具に測定器側の接続器具を複数個連続
して接続することができるため、1つのピンからの出力
信号を複数の測定器に容易に分配すること可能となる。
したがって、測定器を追加する場合や、測定系を変更す
る場合において、即座に対処することができる。これら
により、プリント配線板上に実装した状態における、電
子部品の動作測定を容易に行うことができる。
Since the lead-side connecting device and the measuring device-side connecting device are detachably fitted, the measuring device-side connecting device is connected to the lead-side connecting device which is in conduction with the pin required for measurement. Can be easily connected. Further, since a plurality of measuring instrument side connecting instruments can be continuously connected to one lead side connecting instrument, an output signal from one pin can be easily distributed to a plurality of measuring instruments. ..
Therefore, when adding a measuring instrument or changing the measurement system, it is possible to immediately deal with it. With these, it is possible to easily measure the operation of the electronic component in a state of being mounted on the printed wiring board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の電子部品の測定用接続装置を説明する
斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view illustrating a connection device for measuring an electronic component according to the present invention.

【図2】接続器具を説明する模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a connecting device.

【図3】接続器具の拡大模式図である。FIG. 3 is an enlarged schematic view of a connecting device.

【図4】本発明の使用例を説明する模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram illustrating a usage example of the present invention.

【図5】本発明の他の実施例を説明する模式図である。FIG. 5 is a schematic diagram illustrating another embodiment of the present invention.

【図6】従来の測定用接続装置を説明する斜視図で、
(a)はその1、(b)はその2である。
FIG. 6 is a perspective view illustrating a conventional measuring connection device,
(A) is its 1, and (b) is its 2.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 測定用ソケット 2 リード側接続線 3 測定器側接続線 4 測定器 5 プリント配線板 10 電子部品 10a パッケージ 10b ピン 11 リード 12 挿入孔 21 端子 22 導体線(リード側) 23 導体線(測定器側) 41 入力部 31 コネクタ 51 実装用ソケット 61 接続器具(リード側) 62 接続器具(測定器側) 1 measuring socket 2 lead side connecting wire 3 measuring instrument side connecting wire 4 measuring instrument 5 printed wiring board 10 electronic component 10a package 10b pin 11 lead 12 insertion hole 21 terminal 22 conductor wire (lead side) 23 conductor wire (measuring instrument side) ) 41 input part 31 connector 51 mounting socket 61 connection device (lead side) 62 connection device (measurement device side)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント配線板上の実装用ソケットに装
着される電子部品と、前記電子部品の電気的特性を測定
するための測定器とを電気的に接続する電子部品の測定
用接続装置において、 前記電子部品のピンを挿入するための挿入孔が上面側に
設けられ、かつ前記実装用ソケットと接続するためのリ
ードが、前記挿入孔と導通状態で下面側に設けられた測
定用ソケットと、 リード側の導体線の一端には前記リードに接続されると
ともに、その他端にリード側の接続器具が取り付けられ
たリード側接続線と、 測定器側の導体線の一端には、前記リード側の接続器具
と電気的に接続するための測定器側の接続器具が取り付
けられ、他端には前記測定器の入力部と接続するための
コネクタが接続された測定器側接続線とから成ることを
特徴とする電子部品の測定用接続装置。
1. A connection device for measuring an electronic component, which electrically connects an electronic component mounted in a mounting socket on a printed wiring board and a measuring instrument for measuring an electrical characteristic of the electronic component. An insertion hole for inserting a pin of the electronic component is provided on an upper surface side, and a lead for connecting to the mounting socket is provided with a measurement socket provided on a lower surface side in a conductive state with the insertion hole; , One end of the lead-side conductor wire is connected to the lead, and the other end has a lead-side connecting device attached, and one end of the measuring instrument-side conductor wire is the lead-side conductor wire. The measuring instrument side connecting instrument for electrically connecting to the measuring instrument side is attached, and the other end is composed of a measuring instrument side connecting wire to which a connector for connecting with the input part of the measuring instrument is connected. Characterized by Connection device for measuring electronic components.
【請求項2】 前記接続器具は、導体材料から成るプラ
グ部と、前記プラグ部と導通状態で、かつ前記プラグ部
と嵌合して接続されるジャック部とから成ることを特徴
とする請求項1記載の電子部品の測定用接続装置。
2. The connecting device comprises a plug portion made of a conductive material, and a jack portion which is electrically connected to the plug portion and which is fitted and connected to the plug portion. 1. The connection device for measuring an electronic component according to 1.
JP09864892A 1992-03-24 1992-03-24 Connection device for measuring electronic components Expired - Fee Related JP3162475B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09864892A JP3162475B2 (en) 1992-03-24 1992-03-24 Connection device for measuring electronic components

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09864892A JP3162475B2 (en) 1992-03-24 1992-03-24 Connection device for measuring electronic components

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05273233A true JPH05273233A (en) 1993-10-22
JP3162475B2 JP3162475B2 (en) 2001-04-25

Family

ID=14225326

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP09864892A Expired - Fee Related JP3162475B2 (en) 1992-03-24 1992-03-24 Connection device for measuring electronic components

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3162475B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007078675A (en) * 2005-09-15 2007-03-29 Agilent Technol Inc Probe assembly and device using same

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6379791B1 (en) 2000-02-08 2002-04-30 3M Innovative Properties Company Compatibilized pressure-sensitive adhesives

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007078675A (en) * 2005-09-15 2007-03-29 Agilent Technol Inc Probe assembly and device using same

Also Published As

Publication number Publication date
JP3162475B2 (en) 2001-04-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5037609B2 (en) Multi-channel signal acquisition probe
JP5254919B2 (en) High performance tester interface module
US5646542A (en) Probing adapter for testing IC packages
JP3162475B2 (en) Connection device for measuring electronic components
US20030094960A1 (en) Low capacitance probe contact
KR100631402B1 (en) UNIVASAL SOCKET FOR BGABall Grid Array PACKAGE AND PACKAGE TEST METHOD BY USING THEREOF
JPH11311638A (en) Probe and inspection apparatus
KR100253278B1 (en) Test socket for integrated circuit
KR101895012B1 (en) A inserting type high frequency signal transmission connector and probe card using the connector
JPH1026646A (en) Contact device
JPH0529407A (en) Circuit-board testing apparatus
KR100217068B1 (en) Test instrument interface
JP2005180922A (en) Cable wiring structure for inspection apparatus
JPS6041729Y2 (en) wafer probe card
JP2601680Y2 (en) Contact board for auto handler with ground board
JPH07159486A (en) Integrated circuit testing device
JP2536625B2 (en) Emulation probe for flat package IC
TWI447396B (en) Conductivity testing rod
KR890000836Y1 (en) Connector
JP3250662B2 (en) Continuity inspection device
JPH07221428A (en) Connecting structure for surface mount board
KR20000008963U (en) Semiconductor Device Package Tester with Novel Socket Adapter
JPH01117280A (en) Socket for spring probe pin
KR20020088873A (en) A probe connector for examination to semiconductor
JPH11337619A (en) Measuring adapter

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees