JPH05258236A - Production of thin film magnetic head - Google Patents

Production of thin film magnetic head

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JPH05258236A
JPH05258236A JP4058038A JP5803892A JPH05258236A JP H05258236 A JPH05258236 A JP H05258236A JP 4058038 A JP4058038 A JP 4058038A JP 5803892 A JP5803892 A JP 5803892A JP H05258236 A JPH05258236 A JP H05258236A
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thin film
pattern
magnetic
magnetic head
head
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Mitsumasa Oshiki
満雅 押木
Takeshi Nakada
健 中田
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To surely etch in a short time by forming a projected part as a sliding plane on the side where a layer to be peeled afterward is formed. CONSTITUTION:A peeling layer 36 having high etching property is formed on a substrate 35, and a recessed part 40 is formed in the layer 36 to form a projecting part 23 as a sliding part. Then insulating layers 371-373 which constitute the head element and magnetic layers 301-303 which constitute a rear yoke 30 are formed on the area including the recessed part 40. A coil pattern C1 is formed in the insulating layers 371-373 and then an insulating layer 42 and a magnetic pattern 24 as the core are formed in a manner that a part of the core pattern 24 is overlapped with the rear yoke 30. Then an insulating layer 43 and another coil pattern C2 are formed on the core pattern 24, which is connected to the pattern C1 to form a coil 25. After cutting the substrate into block units, each unit is polished till the top of the core pattern 24 is exposed to form a magnetic pole pattern 29, which is then coated with a protective film 46. Then the block is divided into head elements, which is subjected to etching of the peeling layer 36 to separate the head element from the substrate 35.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】磁気ディスク装置における情報の
記録/再生に磁気ヘッドが使用されるが、本発明は、ヘ
ッド素子部が薄膜技術によって積層形成される薄膜磁気
ヘッドの製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a thin film magnetic head in which a head element portion is laminated by a thin film technique, although a magnetic head is used for recording / reproducing information in a magnetic disk device.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior Art]

〔薄膜磁気ヘッドとその製造方法〕図9は薄膜磁気ヘッ
ドの全容を示す斜視図と薄膜磁気ヘッドをスプリングア
ームに取り付けた状態の斜視図である。 (a)図に示すよ
うに、薄膜磁気ヘッドは、スライダ部1とヘッド素子部
2とで構成され、スライダ部1の後端1rにヘッド素子部
2が成膜技術とリソグラフィ技術によって積層形成され
ている。3は薄膜コイルの端子である。
[Thin-Film Magnetic Head and Manufacturing Method Thereof] FIG. 9 is a perspective view showing the whole of the thin-film magnetic head and a perspective view of the thin-film magnetic head attached to a spring arm. As shown in FIG. 1A, the thin film magnetic head is composed of a slider section 1 and a head element section 2, and a head element section 2 is laminated on the rear end 1r of the slider section 1 by a film forming technique and a lithographic technique. ing. Reference numeral 3 is a thin film coil terminal.

【0003】浮上レールrやスライダ部1前端1fの流入
斜面sは、ヘッド素子部2の形成後に、スライダ部1を
研削することによって形成される。そして (b)図のよう
に、スライダ部1をバネ力の弱いジンバル4を介してス
プリングアーム5に取り付け、スプリングアーム5の根
元を、磁気ヘッド位置決め機構に取り付け、ギャップG
を磁気記録媒体に対向させることで、情報の記録/再生
を行なう。
The inflow slopes s of the flying rail r and the front end 1f of the slider portion 1 are formed by grinding the slider portion 1 after forming the head element portion 2. Then, as shown in (b), the slider portion 1 is attached to the spring arm 5 via the gimbal 4 having a weak spring force, the root of the spring arm 5 is attached to the magnetic head positioning mechanism, and the gap G
Information is recorded / reproduced by facing the magnetic recording medium to the magnetic recording medium.

【0004】図10は、薄膜磁気ヘッドにおけるヘッド素
子部2の成膜プロセスを工程順に示す断面図である。ま
ず、(a) のようにに、スライダ部となるAl2 O3・TiCの
基板(ウェハ)13上に、Al2O3 をスパッタして下部保護
膜6とし、その上に磁性体であるNiFeをメッキして下部
磁極層7とする。このとき、1枚の基体13上に、マトリ
クス状に数百個分の下部磁極層7を形成し、最後に1個
ずつ分離する。
FIG. 10 is a sectional view showing a film forming process of the head element portion 2 in the thin film magnetic head in the order of steps. First, as shown in (a), Al 2 O 3 is sputtered on a substrate (wafer) 13 of Al 2 O 3 .TiC to be a slider portion to form a lower protective film 6, on which a magnetic material is formed. NiFe is plated to form the bottom pole layer 7. At this time, several hundreds of lower magnetic pole layers 7 are formed in a matrix on one substrate 13 and finally separated one by one.

【0005】(b)のように、下部磁極層7の上に、非磁
性体であるAl2O3 をスパッタで成膜してギャップ層8を
形成し、先端部をギャップGにする。次に (c)のよう
に、ギャップ層8上にフォトレジストをスピンコート
し、所望形状に露光・現像後、熱硬化させ、コイル絶縁
層10aを形成する。
As shown in (b), a gap layer 8 is formed on the lower magnetic pole layer 7 by sputtering a non-magnetic material Al 2 O 3 to form a gap G, and the tip portion is made a gap G. Next, as shown in (c), a photoresist is spin-coated on the gap layer 8, exposed and developed into a desired shape, and then thermally cured to form the coil insulating layer 10a.

【0006】このコイル絶縁層10aの上に (d)のように
Cuをメッキしてパターニングし、 (f)工程に示す上部磁
極層11の後端11bを中心とする渦巻き状の薄膜コイル9
を形成する。そして (e)のように、薄膜コイル9上にフ
ォトレジストをスピンコートし、熱硬化させてコイル絶
縁層10bを形成し、その上に (f)のように磁性体である
NiFeをメッキで成膜し、パターニングして上部磁極層11
を形成する。
On the coil insulating layer 10a, as shown in (d),
A spiral thin film coil 9 centered on the rear end 11b of the upper magnetic pole layer 11 shown in step (f) is plated with Cu and patterned.
To form. Then, as shown in (e), a thin film coil 9 is spin-coated with a photoresist and thermally cured to form a coil insulating layer 10b, on which a magnetic substance is formed as shown in (f).
NiFe is formed by plating and patterned to form the top pole layer 11
To form.

【0007】このとき、下部磁極層7の後端上に、上部
磁極層11の後端11bを直接重ねることで、ギャップGを
挟んだ閉磁路を形成する。なお、以上の工程において、
各膜の形状は、成膜後にリソグラフィ技術とエッチング
によって所定パターンに形成される。
At this time, the closed magnetic path having the gap G is formed by directly overlapping the rear end 11b of the upper magnetic pole layer 11 on the rear end of the lower magnetic pole layer 7. In the above process,
The shape of each film is formed into a predetermined pattern by lithographic technique and etching after film formation.

【0008】最後に (g)のように、上部磁極層11の上に
Al2O3 をスパッタして上部保護膜12を形成する。その
後、前記ヘッド素子部2の対が数個〜10個単位のスライ
ダブロックに分離し、スライダブロックの状態で、15で
示す研削位置まで研削研摩して、ギャップ深さGDを決定
する。
Finally, as shown in (g), on the top pole layer 11
Al 2 O 3 is sputtered to form the upper protective film 12. Thereafter, the pair of head element portions 2 is separated into several to ten slider blocks, and the slider blocks are ground and ground to the grinding position indicated by 15 to determine the gap depth GD.

【0009】図11はこうして作製された薄膜磁気ヘッド
のヘッド素子部の斜視図である。下部磁極層7および上
部磁極層11の先端を絞った形状とすることで、下部磁極
部7pおよび上部磁極部11pを形成し、磁束がギャップ層
8の先端で形成されるギャップGに集中するようにして
いる。また、薄膜コイル9は、上部磁極層11の後端11b
を中心にして渦巻き状に形成されている。3a、3bはリー
ドパターンであり、図9における端子3、3に接続され
ている。
FIG. 11 is a perspective view of the head element portion of the thin film magnetic head thus manufactured. By making the tips of the lower magnetic pole layer 7 and the upper magnetic pole layer 11 narrowed, the lower magnetic pole portion 7p and the upper magnetic pole portion 11p are formed, and the magnetic flux is concentrated in the gap G formed at the tip of the gap layer 8. I have to. Further, the thin-film coil 9 has the rear end 11b of the upper magnetic pole layer 11.
It is formed in a spiral shape centering on. Lead patterns 3a and 3b are connected to the terminals 3 and 3 in FIG.

【0010】〔従来の薄膜コイルの作製方法〕図12はレ
ジストパターンを用いて薄膜コイルを作製する方法を工
程順に示す断面図である。まず、 (1)に示すように、図
10の(c) 工程で作製された下部絶縁層10aの上に、メッ
キベース16を蒸着やスパッタで成膜し、その上に (2)に
示すようにフォトレジストを塗布し、75℃程度で30分間
加熱してプリベーク処理することで、6〜7μm厚のフ
ォトレジスト膜17を形成する。
[Conventional Thin Film Coil Manufacturing Method] FIG. 12 is a cross-sectional view showing a method of manufacturing a thin film coil using a resist pattern in the order of steps. First, as shown in (1),
A plating base 16 is formed on the lower insulating layer 10a produced in step (c) by vapor deposition or sputtering, and a photoresist is applied thereon as shown in (2). The photoresist film 17 having a thickness of 6 to 7 μm is formed by heating for 30 minutes and prebaking.

【0011】次に (3)のように、フォトマスク18の上か
ら紫外線を照射して露光し、現像液で現像すると、 (4)
のようにレジストパターン19が形成される。そして、11
5℃で30分間程度加熱してポストベーク処理し、レジス
トパターン19を硬化させてから、前記のメッキベース16
を電極にして、電解メッキを行なうと、 (5)のようにレ
ジストパターン19の存在しない領域にメッキが成長し、
選択メッキが行われる。
Next, as shown in (3), the photomask 18 is irradiated with ultraviolet rays to be exposed and developed with a developing solution.
Thus, the resist pattern 19 is formed. And 11
After heating at 5 ° C. for about 30 minutes and post-baking to cure the resist pattern 19, the plating base 16
When the electrode is used for electrolytic plating, the plating grows in a region where the resist pattern 19 does not exist as shown in (5),
Selective plating is performed.

【0012】最後に (6)のようにレジストパターン19を
剥離液でエッチング除去し、(7) のようにメッキベース
16を除去すると、薄膜コイル9が完成する。なお、磁性
体からなる下部磁極層7や上部磁極層11も、ほぼ同様な
プロセスで作製される。
Finally, the resist pattern 19 is removed by etching with a stripping solution as in (6), and the plating base is removed as in (7).
When 16 is removed, the thin film coil 9 is completed. The lower magnetic pole layer 7 and the upper magnetic pole layer 11 made of a magnetic material are manufactured by substantially the same process.

【0013】このようにして作製された薄膜磁気ヘッド
は、図9(b) のようにスプリングアーム5に取り付けら
れ、スプリングアーム5のバネ力で磁気記録媒体側に押
しつけられ、流入斜面sに作用する空気力でわずかに浮
上した状態で、情報の記録/再生が行われる。
The thin film magnetic head thus manufactured is attached to the spring arm 5 as shown in FIG. 9 (b), and is pressed against the magnetic recording medium side by the spring force of the spring arm 5 to act on the inflow slope s. Information is recorded / reproduced in a state of slightly floating by the aerodynamic force.

【0014】しかしながら、振動などを受けると薄膜磁
気ヘッドが磁気記録媒体に衝突してヘッドクラッシュを
起こし、磁気記録媒体の情報が破壊される恐れがある。
また、このような従来の薄膜磁気ヘッドによる記録方式
に対し、垂直磁気記録の方が、高密度記録に適している
が、垂直磁気記録の場合は、ギャップと磁気記録媒体と
の間隔をさらに狭くし、微小浮上とする必要があるが、
その結果ますますヘッドクラッシュが発生しやすくな
る。
However, when subjected to vibration or the like, the thin film magnetic head may collide with the magnetic recording medium to cause a head crash, and the information on the magnetic recording medium may be destroyed.
Further, in contrast to such a recording system using a conventional thin film magnetic head, perpendicular magnetic recording is more suitable for high density recording, but in the case of perpendicular magnetic recording, the gap between the gap and the magnetic recording medium is further narrowed. However, it is necessary to make a slight levitation,
As a result, head crashes are more likely to occur.

【0015】このような事情を総合すると、図9のよう
にスライダ部1を用いて浮上させるのでなく、ヘッド素
子部を磁気記録媒体に直接摺動させることが有効である
と考えられている。また、浮上用のスライダ部1を要し
ないので、小型軽量化して軽い接触圧で摺動させること
ができ、磁気ヘッドおよび磁気記録媒体の長寿命化にも
適している。ヘッド素子部が小型なため、1枚のウェハ
から多数の薄膜磁気ヘッドを得ることができ、量産によ
るコスト低減が可能となる。
In view of the above circumstances, it is considered effective to directly slide the head element portion on the magnetic recording medium instead of flying using the slider portion 1 as shown in FIG. Further, since the flying slider section 1 is not required, it can be made small and lightweight and can be slid with a light contact pressure, which is also suitable for extending the life of the magnetic head and the magnetic recording medium. Since the head element portion is small, a large number of thin film magnetic heads can be obtained from one wafer, and the cost can be reduced by mass production.

【0016】〔従来の一体型薄膜ヘッド〕図13〜図15
は、特開平3−178017号公報で紹介されている一体型薄
膜ヘッドであり、前記のように磁気記録媒体に摺動して
垂直磁気記録するようになっている。図13は一体型薄膜
ヘッドの全容を示す平面図と側面図である。21はスプリ
ングアーム部であり、その先端に、磁気ヘッド素子部22
が一体形成され、ヘッド素子部22の先端に、摺動凸部23
が突出形成されている。すなわち、図9(b) のようにス
ライダ部を別体のスプリングアームに取り付けるのでは
なく、初めからスプリングアーム部とヘッド素子部を一
体に薄膜技術で積層作製する。
[Conventional integrated thin film head] FIGS. 13 to 15
Is an integrated thin-film head introduced in Japanese Patent Laid-Open No. 3-178017, which is adapted to slide perpendicularly on a magnetic recording medium as described above. FIG. 13 is a plan view and a side view showing the whole of the integrated thin film head. Reference numeral 21 is a spring arm portion, and the magnetic head element portion 22
Are integrally formed, and the sliding protrusion 23
Are formed so as to project. That is, instead of attaching the slider portion to a separate spring arm as shown in FIG. 9 (b), the spring arm portion and the head element portion are integrally laminated by a thin film technique from the beginning.

【0017】図14は、この一体型薄膜ヘッドの縦断面図
である。ヘッド素子部22は、磁性体からなるコア24に、
薄膜技術でコイル25を巻回し、該コイル25のリードパタ
ーン26を、スプリングアーム部21の根元(取付け部)27
のボンディングパッド28に接続した構造になっている。
FIG. 14 is a vertical cross-sectional view of this integral type thin film head. The head element portion 22 has a core 24 made of a magnetic material,
The coil 25 is wound by a thin film technique, and the lead pattern 26 of the coil 25 is attached to the root (mounting portion) 27 of the spring arm portion 21.
It has a structure connected to the bonding pad 28 of.

【0018】コア24の先端には、磁気ディスクD側に延
びる磁極29が接続され、後端には、同じく磁気ディスク
D側に延びる後端ヨーク30が形成されている。そして、
後端ヨーク30に、コア24と平行にリターンヨーク31が接
続されている。なお、以上の各部は、薄膜技術によって
順次積層することで作製される。
A magnetic pole 29 extending to the magnetic disk D side is connected to the tip of the core 24, and a rear end yoke 30 also extending to the magnetic disk D side is formed at the rear end. And
A return yoke 31 is connected to the rear end yoke 30 in parallel with the core 24. Each of the above parts is manufactured by sequentially stacking the thin film technology.

【0019】この一体型薄膜ヘッドは、先端の摺動凸部
23が、矢印方向に回転している磁気ディスクDに当接し
ている状態で、コイル25に情報信号を通電すると、磁極
29とリターンヨーク31との間の磁束32が、磁気ディスク
D中を透過するため、垂直磁気記録が可能となる。
This integral type thin film head has a sliding projection at the tip.
When an information signal is applied to the coil 25 while the 23 is in contact with the magnetic disk D rotating in the direction of the arrow, the magnetic pole
The magnetic flux 32 between the return yoke 31 and the return yoke 31 is transmitted through the magnetic disk D, so that perpendicular magnetic recording is possible.

【0020】図15(a) はこの一体型薄膜ヘッドを磁気デ
ィスク装置に実装した状態の平面図であり、本発明の出
願人が先に提案した特願平3−137883号に記載されてい
るものと同じである。すなわち、一体型薄膜ヘッドHの
根元27が、取付けアーム33に固定され、取付けアーム33
がポジショナー34に固定されている。同図(b) は、一体
型薄膜ヘッドの取付け部を拡大して示した側面図であ
り、一体型薄膜ヘッドHの先端の摺動凸部23が磁気ディ
スクDに圧接した状態で、スプリングアーム部21が幾分
たわむように取付けられている。
FIG. 15 (a) is a plan view showing a state in which this integral type thin film head is mounted on a magnetic disk device, which is described in Japanese Patent Application No. 3-137883 previously proposed by the applicant of the present invention. It is the same as the one. That is, the root 27 of the integrated thin-film head H is fixed to the mounting arm 33, and the mounting arm 33
Is fixed to the positioner 34. FIG. 2B is an enlarged side view showing the mounting portion of the integrated thin-film head, in which the sliding protrusion 23 at the tip of the integrated thin-film head H is in pressure contact with the magnetic disk D and the spring arm. Part 21 is mounted so that it flexes somewhat.

【0021】〔従来の一体型薄膜ヘッドの製造方法〕図
16〜図18は特願平4−9106号に記載されている一体型薄
膜ヘッドの従来の製造方法を示すもので、まず図16に示
すように、治具となる基板35を用い、その上に順次積層
して磁気回路や絶縁層、コイル25などを形成した後、最
後に基板35を除去する。完成後に基板35の除去を容易に
行なえるように、基板35にエッチングの容易な分離層36
を形成しておき、該分離層36上に一体型薄膜ヘッドを積
層形成し、最後に剥離層36をエッチング除去する。
[Manufacturing Method of Conventional Integrated Thin Film Head]
16 to 18 show a conventional method of manufacturing an integrated type thin film head described in Japanese Patent Application No. 4-9106. First, as shown in FIG. Then, the magnetic circuit, the insulating layer, the coil 25, etc. are sequentially laminated to form the substrate 35, and then the substrate 35 is finally removed. The substrate 35 has an easy-to-etch separation layer 36 to facilitate removal of the substrate 35 after completion.
Is formed, an integral thin film head is laminated on the separation layer 36, and finally the peeling layer 36 is removed by etching.

【0022】また、基板35上に磁気回路や絶縁層、コイ
ル25などを積層した後、図16のようにコア24の先端が露
出するまで端面22aをラップ研摩し、その上に図17のよ
うに磁極29を積層形成する。その後、分離層36をエッチ
ングすると、基板35が分離され、ヘッド素子部22を有す
る一体型薄膜ヘッドのみが残る。
After laminating the magnetic circuit, the insulating layer, the coil 25, etc. on the substrate 35, the end face 22a is lap-polished until the tip of the core 24 is exposed as shown in FIG. The magnetic pole 29 is formed on the substrate. After that, when the separation layer 36 is etched, the substrate 35 is separated, and only the integral type thin film head having the head element portion 22 remains.

【0023】薄膜技術によって、コア4にコイル25を巻
回するには、図18に示すように成膜とパターニングが繰
り返される。図18は各工程を示す平面図と縦断面図であ
る。まず(1) に示すように、Al2O3 などからなる絶縁層
37上に、下側の導体パターンを形成するためのメッキベ
ース(Cu)を一面に成膜し、マスク上からCuをメッキ成膜
し、不要なメッキベースを除去することにより、下側の
導体パターンC1…を形成する。なお30は、先に形成され
た後端ヨークである。
In order to wind the coil 25 around the core 4 by the thin film technique, film formation and patterning are repeated as shown in FIG. FIG. 18 is a plan view and a vertical sectional view showing each step. First, as shown in (1), an insulating layer made of Al 2 O 3 etc.
On the 37, a plating base (Cu) for forming the lower conductor pattern is formed on one surface, Cu is formed on the mask by plating, and the unnecessary plating base is removed to remove the lower conductor. Form a pattern C1 ... Reference numeral 30 is a rear end yoke formed previously.

【0024】次に (2)に示すように、下側の導体パター
ンC1とコア24間を絶縁するために、下側の導体パターン
C1…上に交差する方向に第一の絶縁層38を形成し、その
上にパーマロイなどの磁性体を一面に成膜した後、イオ
ンエッチングでパターニングして、コア24が形成され
る。なお、コア24の後端は、後端ヨーク30上に積層され
る。
Next, as shown in (2), in order to insulate between the lower conductor pattern C1 and the core 24, the lower conductor pattern C1
A first insulating layer 38 is formed in a direction intersecting with C1 ..., A magnetic material such as permalloy is formed on the entire surface, and then patterned by ion etching to form the core 24. The rear end of the core 24 is laminated on the rear end yoke 30.

【0025】(3)のように、コア24を上側の導体パター
ンと絶縁するために、コア24をAl2O 3 などの絶縁物39で
覆う。このとき、下側の各導体パターンC1の両端e1は露
出させておく。次に、(4) のように、第二の絶縁層39の
上で、上側の導体パターンC2をパターニングする。
As shown in (3), set the core 24 to the upper conductor pattern.
Core 24 to insulate2O 3With insulators such as 39
cover. At this time, both ends e1 of each lower conductor pattern C1 are exposed.
Let me put it out. Next, as in (4), the second insulating layer 39
Above, the upper conductor pattern C2 is patterned.

【0026】このとき、上側の各導体パターンC2の右端
2rが、下側の導体パターンC1の右端1rと重なり、上側の
導体パターンC2の左端2Lが、1ピッチ次の下側導体パタ
ーンC1の左端1Lと重なるように、上下の導体パターンC
1、C2が交差する方向にパターニングされる。その結
果、下側の各導体パターンC1と上側の各導体パターンC2
とによって、連続したコイル25が形成され、中にコア24
が挿通された構成となる。
At this time, the right end of each upper conductor pattern C2
The upper and lower conductor patterns C are arranged so that 2r overlaps with the right end 1r of the lower conductor pattern C1 and the left end 2L of the upper conductor pattern C2 overlaps with the left end 1L of the lower conductor pattern C1 of the next pitch.
Patterned in the direction in which 1 and C2 intersect. As a result, each lower conductor pattern C1 and each upper conductor pattern C2
And form a continuous coil 25 with a core 24
Will be inserted.

【0027】また、図14に示すように、薄膜コイル25等
の存在しない領域は、Al2O3 などの絶縁材の層371 、37
2 … とパーマロイなどの磁性体の層301 、302 …を積
層することで、ヘッド素子部22とスプリングアーム部21
が一体に積層形成される。最後に、図16のように、コア
24の先端が露出するまでラップ研摩して、コア24の先端
上に、磁極29をパターニングする。これによって、図14
に示すようなL字状の磁気回路が形成される。
In addition, as shown in FIG. 14, in regions where the thin-film coil 25 and the like do not exist, insulating material layers 371 and 37 such as Al 2 O 3 are used.
By laminating 2 ... and magnetic layers 301, 302 ... Of permalloy or the like, the head element portion 22 and the spring arm portion 21 are laminated.
Are integrally laminated. Finally, as shown in Figure 16, the core
The magnetic pole 29 is patterned on the tip of the core 24 by lapping until the tip of the 24 is exposed. This gives
An L-shaped magnetic circuit is formed as shown in FIG.

【0028】磁極29を形成するには、図16に示すヘッド
素子部22の先端面22aに成膜した磁性膜の上にフォトレ
ジストを塗布して熱硬化させ、その上にフォトマスクを
置いて、フォトマスクのパターンをコア24に対し位置合
わせする。そして、露光、現像を行ない、磁極29の領域
以外のフォトレジストを除去し、その上からイオンミー
リングして磁性膜の不要部を除去することで、磁極29が
形成される。
To form the magnetic pole 29, a photoresist is applied on the magnetic film formed on the tip surface 22a of the head element portion 22 shown in FIG. 16 and thermally cured, and a photomask is placed thereon. , Align the photomask pattern with the core 24. Then, exposure and development are performed to remove the photoresist other than the region of the magnetic pole 29, and ion milling is performed on the photoresist to remove an unnecessary portion of the magnetic film, whereby the magnetic pole 29 is formed.

【0029】[0029]

【発明が解決しようとする課題】ところで、以上のよう
な従来の垂直磁気記録型の薄膜磁気ヘッドの製造方法で
は、図16、図17に示すように、剥離層36の両面とも平坦
なため、剥離層36をエッチングで除去して基板35とヘッ
ド素子部を分離する際に、剥離層36のエッチングに長時
間を要し、量産に支障を来していた。
By the way, in the conventional method of manufacturing a perpendicular magnetic recording type thin film magnetic head as described above, as shown in FIGS. 16 and 17, both surfaces of the peeling layer 36 are flat. When the peeling layer 36 is removed by etching to separate the substrate 35 and the head element portion, it takes a long time to etch the peeling layer 36, which hinders mass production.

【0030】また、剥離層36を切断してから、残ってい
る剥離層をエッチングする方法もあるが、薄い剥離層36
に沿って切断するのは困難であり、切断が容易なように
剥離層36を厚くすると、剥離層36の成膜に長時間を要す
る、という問題が生じる。
There is also a method of cutting the release layer 36 and then etching the remaining release layer.
It is difficult to cut along the line, and if the peeling layer 36 is thickened so as to be easily cut, there is a problem that it takes a long time to form the peeling layer 36.

【0031】そのほか、図9〜図12の薄膜磁気ヘッドの
場合も含め、薄膜磁気ヘッドの製造プロセスは、メッキ
や蒸着などによる成膜と選択エッチング、フォトレジス
トの熱硬化処理などを繰り返す必要があるため、各工程
を確実かつ円滑に処理できることが必要であり、また各
膜を均質に成膜できることが肝要である。
In addition, in the manufacturing process of the thin film magnetic head, including the case of the thin film magnetic head of FIGS. 9 to 12, it is necessary to repeat film formation by plating or vapor deposition, selective etching, and thermosetting treatment of photoresist. Therefore, it is necessary to perform each process reliably and smoothly, and it is important to be able to form each film uniformly.

【0032】本発明の技術的課題は、このような問題に
着目し、薄膜技術で積層形成される薄膜磁気ヘッドを効
率的に製造可能とし、しかも各工程を円滑かつ品質を低
下させることなしに実現することにある。
The technical problem of the present invention is to pay attention to such a problem, to enable efficient manufacture of a thin film magnetic head formed by thin film technology, and to smoothly perform each process without deteriorating the quality. It is to be realized.

【0033】[0033]

【課題を解決するための手段】図1は本発明による薄膜
磁気ヘッドの製造方法の基本原理を説明する図である。
請求項1の発明は、基板35上に形成したエッチング性に
富んだ剥離層36に、摺動凸部23を形成するための凹部40
を形成し、該凹部40を含む領域に、少なくともヘッド素
子部を構成する絶縁層371 〜373 と、後端ヨーク30を構
成する磁性膜301 〜303 を形成する。
FIG. 1 is a diagram for explaining the basic principle of a method of manufacturing a thin film magnetic head according to the present invention.
According to the first aspect of the present invention, the recess 40 for forming the sliding protrusion 23 is formed on the release layer 36 having a high etching property formed on the substrate 35.
The insulating layers 371 to 373 forming at least the head element portion and the magnetic films 301 to 303 forming the rear end yoke 30 are formed in the region including the recess 40.

【0034】そして、前記工程で形成された絶縁層371
〜373 の上に、片方のコイルパターンC1を形成した後、
該コイルパターンC1の上に絶縁層38を形成し、その上に
コアとなる磁性体のパターン24を形成し、かつ該コアパ
ターン24の一部を前記の後端ヨーク30と重ねる。
Then, the insulating layer 371 formed in the above process
After forming one coil pattern C1 on ~ 373,
An insulating layer 38 is formed on the coil pattern C1, a magnetic material pattern 24 serving as a core is formed on the insulating layer 38, and a part of the core pattern 24 is overlapped with the rear end yoke 30.

【0035】次いで、該コアパターン24の上に絶縁層39
を成膜し、その上に別のコイルパターンC2を形成し、前
記のコイルパターンC1と接続して、連続したコイル25
を形成する。コイル25上には、通常保護膜41が被せられ
る。その後、基板35を矢印a1位置でブロック単位に切断
して、前記のコアパターン24の先端が露出するまで研摩
し、該コアパターン24と接続する磁極29を形成してか
ら、保護膜42で覆う。
Next, an insulating layer 39 is formed on the core pattern 24.
Is formed, another coil pattern C2 is formed thereon, and the continuous coil 25 is connected to the coil pattern C1.
To form. The coil 25 is usually covered with a protective film 41. After that, the substrate 35 is cut in block units at the position of the arrow a 1 and polished until the tip of the core pattern 24 is exposed to form the magnetic pole 29 connected to the core pattern 24, and then the protective film 42 is used. cover.

【0036】以上の各プロセスを終了した後、ヘッド素
子部を1個ずつ分離するとともに、前記の剥離層36をエ
ッチングして、ヘッド素子部を基板35から分離すること
で、1枚の基板35上から多数のヘッド素子部が得られ
る。
After the above processes are completed, the head element portions are separated one by one, and the peeling layer 36 is etched to separate the head element portions from the substrate 35. A large number of head element parts can be obtained from above.

【0037】請求項2の発明は、前記の基板上のエッチ
ング性に富んだ剥離層36に形成した凹部40を含む領域
に、少なくともヘッド素子部を構成する絶縁層371 を形
成する前に、少なくとも該凹部40中に耐摩耗性膜43を成
膜するものである。
According to a second aspect of the present invention, at least before forming the insulating layer 371 constituting the head element portion in a region including the recess 40 formed in the release layer 36 having a high etching property on the substrate, at least A wear resistant film 43 is formed in the recess 40.

【0038】請求項3の発明は、請求項1のプロセスに
よって、絶縁層371 〜373 を積層する際に、スプリング
アーム部とヘッド素子部を一緒に形成することで、スプ
リングアーム部と一体型の薄膜磁気ヘッドを得るもので
ある。
According to the third aspect of the present invention, when the insulating layers 371 to 373 are laminated by the process of the first aspect, the spring arm portion and the head element portion are formed together, so that the spring arm portion is integrated with the head element portion. A thin film magnetic head is obtained.

【0039】請求項4の発明は、請求項1のプロセスに
よって、絶縁層371 〜373 を積層する際に、スプリング
アーム部は形成せず、ヘッド素子部のみを形成し、ヘッ
ド素子部を1個ずつ分離した後、該ヘッド素子部を別体
のスプリングアームに取り付ける方法、すなわちスプリ
ングアームと別体型の薄膜磁気ヘッドの製造方法であ
る。
According to the invention of claim 4, when the insulating layers 371 to 373 are laminated by the process of claim 1, only the head element portion is formed without forming the spring arm portion, and one head element portion is formed. This is a method of attaching the head element section to a separate spring arm after separating them, that is, a method of manufacturing a thin film magnetic head separate from the spring arm.

【0040】請求項5の発明は、請求項1の基板上に積
層され、摺動凸部を形成するための凹部40が形成される
エッチング性に富んだ剥離層36として、アルミニウムを
使用するものである。
According to a fifth aspect of the present invention, aluminum is used as the peeling layer 36 which is laminated on the substrate of the first aspect and has a recess 40 for forming a sliding protrusion and which has a high etching property. Is.

【0041】請求項6の発明は、請求項1の基板上に積
層され、摺動凸部を形成するための凹部40が形成される
エッチング性に富んだ剥離層36が、蒸着またはスパッタ
によって成膜されるものである。
According to a sixth aspect of the present invention, the peeling layer 36, which is laminated on the substrate of the first aspect and has a recess 40 for forming a sliding protrusion, is formed by vapor deposition or sputtering. It is a film.

【0042】請求項7の発明は、薄膜磁気ヘッドを製造
するプロセスにおいて金属膜の表面に発生した酸化膜を
除去する際に、化学的酸化膜除去剤として還元剤を用い
るものである。
According to a seventh aspect of the present invention, a reducing agent is used as a chemical oxide film removing agent when removing an oxide film generated on the surface of a metal film in the process of manufacturing a thin film magnetic head.

【0043】請求項8の発明は、薄膜磁気ヘッドを製造
するプロセスにおいて磁性体をメッキする際に、PH7
以下で水酸イオンより安定な金属錯体を生成するような
錯化剤を添加してなる磁性メッキ浴を用いるものであ
る。
According to an eighth aspect of the present invention, when the magnetic substance is plated in the process of manufacturing the thin film magnetic head, PH7 is used.
In the following, a magnetic plating bath prepared by adding a complexing agent that forms a more stable metal complex than hydroxide ion is used.

【0044】請求項9の発明は、薄膜磁気ヘッドを製造
するプロセスにおいて膜厚の厚い磁性膜をメッキする際
に、メッキ処理の過程において、メッキ電流または攪拌
速度を変化させることで、膜厚方向の組成変動を防止す
るものである。
According to a ninth aspect of the present invention, when a thick magnetic film is plated in the process of manufacturing a thin film magnetic head, the plating current or the agitation speed is changed in the process of the plating process to change the film thickness direction. To prevent the composition variation of

【0045】[0045]

【作用】請求項1のように、基板35上に形成したエッチ
ング性に富んだ剥離層36に、摺動凸部23を形成するため
の凹部40を形成し、該凹部40を含む領域に、少なくとも
ヘッド素子部を構成する絶縁層371を形成するため、そ
の後の各工程を終了した後に、剥離層36をエッチングし
て、各ヘッド素子部を基板35から分離する際に、摺動凸
部23の存在しない領域のみエッチングすれば足りる。す
なわち、摺動凸部23が有るために、剥離層36のエッチン
グを要する容積が減少するので、エッチング量が少なく
てすみ、確実かつ短時間にエッチングでき、生産性が向
上する。
According to the present invention, a recess 40 for forming the sliding protrusion 23 is formed in the release layer 36 having a high etching property formed on the substrate 35, and a region including the recess 40 is formed. In order to form at least the insulating layer 371 forming the head element portion, after the subsequent steps are completed, the peeling layer 36 is etched to separate the head element portion from the substrate 35. It suffices to etch only the areas where no. That is, since the sliding convex portion 23 is provided, the volume of the peeling layer 36 that needs to be etched is reduced, so that the etching amount can be small, etching can be performed reliably and in a short time, and the productivity is improved.

【0046】請求項2のように、エッチング性に富んだ
剥離層36の少なくとも凹部40中に、43のように耐摩耗性
膜を成膜してから、該凹部40を含む領域に、少なくとも
ヘッド素子部を構成する絶縁層371 を形成するため、完
成後の摺動凸部23の摺動面が耐摩耗性材料43で構成され
ることになり、薄膜磁気ヘッドの寿命が向上する。
According to a second aspect of the present invention, a wear resistant film such as 43 is formed in at least the recess 40 of the peeling layer 36 having a high etching property, and at least the head is formed in the region including the recess 40. Since the insulating layer 371 forming the element portion is formed, the sliding surface of the completed sliding protrusion 23 is made of the wear resistant material 43, and the life of the thin film magnetic head is improved.

【0047】請求項3のように、請求項1のプロセスに
よって、絶縁層371 〜373 を積層する際に、スプリング
アーム部とヘッド素子部を一緒に積層することで、スプ
リングアーム部と一体型の薄膜磁気ヘッドが得られるた
め、従来のように別体のスプリングアームに取り付ける
必要性がない。
According to the third aspect of the present invention, when the insulating layers 371 to 373 are laminated by the process of the first aspect, the spring arm portion and the head element portion are laminated together, so that the spring arm portion is integrated with the head element portion. Since a thin film magnetic head is obtained, it is not necessary to attach it to a separate spring arm as in the conventional case.

【0048】請求項4のように、前記のプロセスによっ
て、絶縁層371 〜373 を積層する際に、スプリングアー
ム部は形成せず、ヘッド素子部のみを形成し、ヘッド素
子部を1個ずつ分離した後、該ヘッド素子部をスプリン
グアームに取り付ける方法によれば、スプリングアーム
と別体型の薄膜磁気ヘッドとなるが、1枚の基板上に大
量のヘッド素子部を作製でき、また摺動凸部23の占める
容積が大きくなるので、基板35上に形成した剥離層36を
より短時間にエッチングできる。
According to the fourth aspect, when the insulating layers 371 to 373 are laminated by the above process, the spring arm portion is not formed, only the head element portion is formed, and the head element portions are separated one by one. After that, according to the method of attaching the head element part to the spring arm, a thin film magnetic head separate from the spring arm is formed, but a large number of head element parts can be produced on one substrate, and the sliding protrusions can be formed. Since the volume occupied by 23 becomes large, the peeling layer 36 formed on the substrate 35 can be etched in a shorter time.

【0049】請求項5のように、基板35上に積層され、
摺動凸部23を形成するための凹部40が形成されるエッチ
ング性に富んだ剥離層36として、アルミニウムを使用す
ることにより、基板35との密着性にすぐれ、またアルミ
ニウムは各種のエッチング液で容易にエッチングできる
ため、ヘッド素子部を損傷することなしに、しかも短時
間にエッチングでき、生産性にすぐれている。
According to a fifth aspect, laminated on the substrate 35,
By using aluminum as the release layer 36 having a high etching property in which the concave portion 40 for forming the sliding convex portion 23 is formed, excellent adhesion to the substrate 35 is obtained, and aluminum can be used with various etching solutions. Since it can be easily etched, it can be etched in a short time without damaging the head element portion, and has excellent productivity.

【0050】請求項6のように、基板35上に積層され、
摺動凸部23を形成するための凹部40が形成されるエッチ
ング性に富んだ剥離層36が、蒸着またはスパッタによっ
て形成されることにより、膜表面が平坦となるため、メ
ッキ膜などのような平坦化加工が不要となり、工数削減
によって生産性が向上する。
According to a sixth aspect, it is laminated on the substrate 35,
Since the peeling layer 36 having a high etching property, in which the recess 40 for forming the sliding protrusion 23 is formed, is formed by vapor deposition or sputtering, the film surface becomes flat. Flattening is not required and productivity is improved by reducing man-hours.

【0051】請求項7のように、薄膜磁気ヘッドを製造
するプロセスにおいて金属膜表面に発生した酸化膜を除
去する際に、化学的酸化膜除去剤として還元剤を用いる
ことにより、金属膜のサイドエッチなどを来すことなし
に、表面の酸化膜のみを除去することができる。
When the oxide film generated on the surface of the metal film in the process of manufacturing the thin film magnetic head is removed, the reducing agent is used as the chemical oxide film removing agent, so that the side surface of the metal film is removed. It is possible to remove only the oxide film on the surface without causing etching or the like.

【0052】請求項8のように、薄膜磁気ヘッドを製造
するプロセスにおいて磁性膜をメッキする際に、PH7
以下で水酸イオンより安定な金属錯体を生成するような
錯化剤を添加してなる磁性メッキ浴で成膜することによ
り、メッキ浴を長時間使用しても浴組成が変動せず、そ
の結果メッキ膜の組成にバラツキのない薄膜磁気ヘッド
が得られる。
When the magnetic film is plated in the process of manufacturing the thin film magnetic head as described in claim 8, PH7 is used.
By forming a film in a magnetic plating bath containing a complexing agent that forms a more stable metal complex than hydroxide ion below, the bath composition does not change even when the plating bath is used for a long time. As a result, a thin film magnetic head having no variation in the composition of the plated film can be obtained.

【0053】請求項9のように、磁性膜をメッキする過
程において、メッキ電流または攪拌速度を変化させるこ
とで、膜厚方向の組成変動を防止できるため、前記の後
端ヨーク30のように膜厚の厚い磁性膜を作製する際に、
膜厚方向の組成が均一となり、磁気特性にすぐれた薄膜
磁気ヘッドが得られる。
In the ninth aspect of the present invention, in the process of plating the magnetic film, the composition current in the film thickness direction can be prevented from changing by changing the plating current or the stirring speed. When making a thick magnetic film,
The composition in the film thickness direction becomes uniform, and a thin film magnetic head having excellent magnetic characteristics can be obtained.

【0054】[0054]

【実施例】次に本発明による薄膜磁気ヘッドの製造方法
が実際上どのように具体化されるかを実施例で説明す
る。
EXAMPLES Next, practical examples of how the method of manufacturing a thin film magnetic head according to the present invention is embodied will be described.

【0055】〔垂直磁気記録型薄膜磁気ヘッドの製造プ
ロセスの実施例〕図2は請求項1および請求項2の発明
の実施例を工程順に示す断面図である。まずに示すよ
うに、Al2O3TiCなどの基板35上に、請求項5に記載のよ
うに剥離層36としてアルミニウムなどを成膜する。この
場合、請求項6に記載のように、アルミニウムを蒸着や
スパッタで形成するのが良い。
[Example of Manufacturing Process of Perpendicular Magnetic Recording Thin-Film Magnetic Head] FIG. 2 is a sectional view showing an example of the invention of claims 1 and 2 in the order of steps. First, as shown in claim 5, aluminum or the like is formed as a peeling layer 36 on a substrate 35 such as Al 2 O 3 TiC. In this case, as described in claim 6, it is preferable to form aluminum by vapor deposition or sputtering.

【0056】アルミニウムは、Al2O3TiC等からなる基板
35との密着性にすぐれ、またアルミニウムはヘッド素子
部の各構成部分との選択エッチング性にすぐれており、
希塩酸や硫酸、硝酸などの各種エッチング液で容易にエ
ッチングできる。例えば銅などに比べてエッチング速度
が数倍であり、短時間にエッチングでき、またヘッド素
子部を損傷することなしに選択エッチングできる。しか
も、50μm厚程度に蒸着することにより、膜表面が平坦
となるため、メッキなどに比べて平坦化加工が不要とな
り、工数削減によって生産性が向上する。
Aluminum is a substrate made of Al 2 O 3 TiC or the like.
It has excellent adhesion to 35, and aluminum has excellent selective etching properties with each component of the head element.
It can be easily etched with various etching solutions such as dilute hydrochloric acid, sulfuric acid, and nitric acid. For example, the etching rate is several times higher than that of copper or the like, etching can be performed in a short time, and selective etching can be performed without damaging the head element portion. Moreover, since the film surface is flattened by vapor deposition to a thickness of about 50 μm, flattening processing is not required as compared with plating, and the productivity is improved by reducing the number of steps.

【0057】このようにして、剥離層36を形成した後、
該剥離層36の表面を選択的にエッチングするなどの手法
で、摺動凸部23を形成するための凹部40を形成する。あ
るいは、凹部40の底部までアルミニウムを成膜した後、
凹部40の深さ分だけ選択的に成膜することで、残りの部
分を形成することもできる。
After the release layer 36 is formed in this way,
A recess 40 for forming the sliding protrusion 23 is formed by a method such as selectively etching the surface of the peeling layer 36. Alternatively, after depositing aluminum up to the bottom of the recess 40,
The remaining portion can be formed by selectively forming the film by the depth of the recess 40.

【0058】次に、工程において、この凹部40を含む
領域にアルミナ(Al2O3)などの絶縁層370を成膜し、必
要に応じて表面を研摩して平坦化する。そして、図14に
示すリターンヨーク31は必ずしも不可欠のものではない
が、必要な場合は、工程でNiFeなどの磁性材をメッキ
してリターンヨーク31を形成した後、工程で、該リタ
ーンヨーク31の後端上に、後端ヨーク30を形成するため
に、部分的にNiFeなどの磁性材301 をパターニングす
る。
Next, in a process, an insulating layer 370 such as alumina (Al 2 O 3 ) is formed in the region including the recess 40, and the surface is polished to be flattened if necessary. The return yoke 31 shown in FIG. 14 is not necessarily essential, but if necessary, after forming a return yoke 31 by plating a magnetic material such as NiFe in a step, the return yoke 31 in a step is formed. A magnetic material 301 such as NiFe is partially patterned to form the rear yoke 30 on the rear end.

【0059】また、このNiFe膜301 の上から、工程で
アルミナなどの絶縁層371を成膜した後、ラップなどに
よる平坦化加工を行なって、NiFe膜301と絶縁層371の
高さをそろえる。そして、工程と工程を数回繰り返
すことで、図1に示すようなNiFe膜302と絶縁層372、
NiFe 膜303と絶縁層373の順に積層して所定の膜厚と
する。各NiFe膜301 〜303 は10〜20μm程度の厚い膜に
形成される。
In addition, after forming an insulating layer 371 of alumina or the like on the NiFe film 301 in the process, flattening processing such as lapping is performed to make the heights of the NiFe film 301 and the insulating layer 371 uniform. Then, by repeating the process and the process several times, the NiFe film 302 and the insulating layer 372 as shown in FIG.
The NiFe film 303 and the insulating layer 373 are laminated in this order to have a predetermined film thickness. Each NiFe film 301-303 is formed as a thick film of about 10-20 μm.

【0060】そして、工程に示すように、絶縁層370
〜373上に下部コイルパターンC1をパターニングした
後、工程でフォトレジストなどを塗布し、100℃以上
の高温で熱硬化させることで絶縁層42を被せ、その上に
工程でNiFeなどをメッキすることで、コアパターン24
をパターニングする。
Then, as shown in the process, the insulating layer 370
~ After patterning the lower coil pattern C1 on 373, apply a photoresist or the like in the process, cover it with an insulating layer 42 by thermosetting at a high temperature of 100 ° C or more, and plate NiFe or the like in the process. In the core pattern 24
Pattern.

【0061】コアパターン24の上に、工程で前記のよ
うなフォトレジストによる絶縁層43を被せた後、10工程
で上部コイルパターンC2をパターニングして下部コイル
パターンC1と接続した後、11工程で全面に保護膜41を被
せる。なお、工程〜10工程によるコイルパターンやコ
アパターンの形成は、図18に示したプロセスと基本的に
変わりない。
The core pattern 24 is covered with the insulating layer 43 made of the photoresist as described above in the process, and then the upper coil pattern C2 is patterned and connected to the lower coil pattern C1 in 10 processes. The entire surface is covered with the protective film 41. The formation of the coil pattern and the core pattern through steps 10 to 10 is basically the same as the process shown in FIG.

【0062】図3はコイル両端のリードパターンを示す
断面図であり、下部コイルパターンC1を形成する際に、
そのリードパターン261 もパターニングしておく。ま
た、上部コイルパターンC2を形成する際に、そのリード
パターン262 もパターニングしておく。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing the lead patterns at both ends of the coil. When the lower coil pattern C1 is formed,
The lead pattern 261 is also patterned. In addition, when forming the upper coil pattern C2, the lead pattern 262 is also patterned.

【0063】そして、それぞれのリードパターン261 、
262 を形成した後の絶縁層形成の際に、該リードパター
ン261 、262 の先端部のみ絶縁層を積層しないように、
選択的に絶縁層を形成する。あるいは、絶縁層を積層し
た後、リードパターン261 、262 の先端部に穴開けを行
なう。そして、半田盛りなどをして、ボンディングパッ
ド281、282とする。
Then, each lead pattern 261,
At the time of forming the insulating layer after forming the 262, the insulating layers should not be laminated only on the tip portions of the lead patterns 261 and 262.
An insulating layer is selectively formed. Alternatively, after laminating insulating layers, holes are formed in the tip portions of the lead patterns 261 and 262. Then, soldering or the like is performed to form bonding pads 281 and 282.

【0064】請求項3に記載のように、ヘッド素子部と
スプリングアームが一体型の薄膜磁気ヘッドとする場合
は、ボンディングパッド281 、282 を図13におけるスプ
リングアーム21の根元部27に形成し、リードパターン26
1 、262 も根元部27まで形成することになる。
When the head element portion and the spring arm are integrated thin film magnetic heads as described in claim 3, the bonding pads 281 and 282 are formed on the root portion 27 of the spring arm 21 in FIG. Lead pattern 26
1 and 262 are also formed up to the root portion 27.

【0065】これに対し、請求項4に記載のように、ヘ
ッド素子部とスプリングアームが別体型の薄膜磁気ヘッ
ドとする場合は、図1に示すようにボンディングパッド
281、282 はコイルパターンの間近に形成することにな
り、リードパターン261 、262 も短くて済む。その結
果、1枚のウェハ上に、同時に大量のヘッド素子部を形
成できるが、ヘッド素子部を1個ずつ分離した後に、図
9(b) のように別体のスプリングアーム5に取り付ける
必要がある。
On the other hand, when the head element portion and the spring arm are separate type thin film magnetic heads as described in claim 4, as shown in FIG.
Since 281 and 282 are formed close to the coil pattern, the lead patterns 261 and 262 can be short. As a result, a large number of head element parts can be simultaneously formed on one wafer, but it is necessary to separate the head element parts one by one and then attach them to separate spring arms 5 as shown in FIG. 9 (b). is there.

【0066】以上の工程における各層のパターニング
は、従来から公知の技術で行われる。すなわち、マスク
の上から成膜を選択的に行なうとか、あるいは各層を成
膜した後に、フォトレジストでマスクを形成し、その上
からエッチングするなどの手法がある。
The patterning of each layer in the above steps is performed by a conventionally known technique. That is, there is a method in which film formation is selectively performed on the mask, or after forming each layer, a mask is formed with a photoresist and etching is performed from above.

【0067】こうして基板35上に各層をパターニングし
た後、各コアパターン24の先端位置で切断し、ヘッド素
子部が複数個のブロックに分離し、各ブロックごとに、
図16に示したように、コアパターン24の先端が露出する
までラップ加工で研摩する。
After patterning each layer on the substrate 35 in this manner, cutting is performed at the tip end position of each core pattern 24, the head element portion is divided into a plurality of blocks, and each block is
As shown in FIG. 16, polishing is performed by lapping until the tip of the core pattern 24 is exposed.

【0068】そして、図17に示したように、ヘッド素子
部22の先端面に、コアパターン24の先端に重なるよう
に、NiFeなどをパターニングして磁極29を形成し、その
上からアルミナなどを被せて図1における保護膜42を形
成した後、ブロックを切断して1個ずつの薄膜磁気ヘッ
ドに分離するとともに、剥離層36を希塩酸などでエッチ
ングして基板35から分離する。
Then, as shown in FIG. 17, NiFe or the like is patterned on the tip surface of the head element portion 22 so as to overlap the tip of the core pattern 24 to form a magnetic pole 29, and alumina or the like is formed thereon. After covering and forming the protective film 42 in FIG. 1, the block is cut to separate the thin film magnetic heads one by one, and the peeling layer 36 is separated from the substrate 35 by etching with dilute hydrochloric acid or the like.

【0069】請求項2に示すように、エッチング性に富
んだ剥離層36の少なくとも凹部40中に、図1に43で示す
ように耐摩耗性膜を成膜してから、ヘッド素子部を構成
する絶縁層371を形成すると、剥離層36をエッチングし
た後の摺動凸部23の摺動面が耐摩耗性膜43で構成される
ことになり、耐摩耗性の高い薄膜磁気ヘッドが得られ
る。耐摩耗性材料としては、ダイアモンドライクカーボ
ンやジルコニアなどが適している。
As described in claim 2, a wear resistant film is formed in at least the recess 40 of the peeling layer 36 having a high etching property as shown by 43 in FIG. When the insulating layer 371 is formed, the sliding surface of the sliding projection 23 after the peeling layer 36 is etched is composed of the wear resistant film 43, and a thin film magnetic head having high wear resistance is obtained. .. Diamond-like carbon and zirconia are suitable as wear resistant materials.

【0070】〔金属膜表面の酸化膜除去の実施例〕次
に、請求項7による金属膜表面の酸化膜の除去について
説明する。図10の(c) 工程や(e) 工程において、また図
2の工程や工程などにおいては、フォトレジストを
塗布し230℃〜280℃といった高温で硬化させる。とこ
ろが、このハードベーク処理の際に、先に形成した導体
パターンや磁性パターンなどの露出している面が酸化す
るため、酸化膜を除去してから、その上にメッキや蒸着
などを行なう必要がある。
[Example of Removing Oxide Film on Metal Film Surface] Next, removal of the oxide film on the metal film surface according to claim 7 will be described. In the steps (c) and (e) of FIG. 10 and in the steps and steps of FIG. 2, a photoresist is applied and cured at a high temperature of 230 ° C. to 280 ° C. However, during this hard bake treatment, the exposed surface of the conductor pattern or magnetic pattern formed earlier is oxidized, so it is necessary to remove the oxide film and then perform plating or vapor deposition on it. is there.

【0071】従来は、酸化膜の除去に硫酸を用いている
ため、導体パターンや磁性パターンがサイドエッチング
され易いという問題が生じたが、請求項7のように、化
学的酸化膜除去剤として還元剤を用いることで、サイド
エッチングを来すことなしに、表面の酸化膜を除去する
ことができる。
Conventionally, since sulfuric acid is used to remove the oxide film, there is a problem that the conductor pattern and the magnetic pattern are easily side-etched. However, as in claim 7, reduction is performed as a chemical oxide film remover. By using the agent, the oxide film on the surface can be removed without causing side etching.

【0072】還元剤としては、アスコルビン酸やクエン
酸、シュウ酸、塩酸ヒドロキシルアミン、硫酸ヒドロキ
シルアミン、次亜リン酸など、またはその塩を純水に溶
解したものが有効であり、これらの溶液中にプロセス途
中の薄膜磁気ヘッドを浸漬する。例えば、アスコルビン
酸20%、50℃の溶液に1分間浸漬したところ、サイドエ
ッチング無しに、NiFeおよびCuの表面の酸化膜を確実に
除去できた。FeCoやFeNなどの磁性体の表面にできた酸
化膜の除去にも有効である。
As the reducing agent, it is effective to use ascorbic acid, citric acid, oxalic acid, hydroxylamine hydrochloride, hydroxylamine sulfate, hypophosphorous acid, or a salt thereof dissolved in pure water. Immerse the thin film magnetic head in the process. For example, when it was immersed in a solution of 20% ascorbic acid and 50 ° C. for 1 minute, the oxide film on the surface of NiFe and Cu could be reliably removed without side etching. It is also effective for removing an oxide film formed on the surface of a magnetic material such as FeCo or FeN.

【0073】〔磁性体のメッキ方法の実施例〕磁性パタ
ーンを形成する際にNiFeが多用されるが、長時間メッキ
処理を行なっている間に、Fe2+が電解および浴の攪拌な
どによって酸化され、次第に水酸化鉄として少しずつ浴
中に沈澱してくる。その結果、浴中のNi成分が相対的に
増加してくるため、次第にNi成分の多いメッキ膜とな
り、磁性体パターンの組成にバラツキが生じる。
[Example of Method of Plating Magnetic Material] NiFe is often used in forming a magnetic pattern, but Fe 2+ is oxidized by electrolysis and stirring of a bath during a long-time plating treatment. The iron hydroxide gradually precipitates in the bath. As a result, the Ni component in the bath relatively increases, so that the plating film gradually contains a large amount of Ni component, and the composition of the magnetic pattern varies.

【0074】これに対し、請求項8のように、PH7以
下で水酸イオンより安定な金属錯体を生成するような錯
化剤を添加してなる磁性メッキ浴を用いて磁性膜を成膜
することにより、浴組成が安定するため、同じメッキ浴
を長時間使用しても、メッキ膜の組成にバラツキが生じ
ない。
On the other hand, as described in claim 8, a magnetic film is formed by using a magnetic plating bath to which a complexing agent that forms a metal complex more stable than hydroxide ion at pH 7 or less is added. As a result, the bath composition is stable, so that the composition of the plating film does not vary even if the same plating bath is used for a long time.

【0075】すなわち、PH7以下で水酸イオンより安
定な金属錯体を生成するような錯化剤は、錯イオンと鉄
との結合力が強く、水酸化鉄の発生を抑制できる。錯化
剤としては、クエン酸、酒石酸、シュウ酸、EDTA、
DTPA、CyDTA、乳酸などが適している。
That is, a complexing agent capable of forming a metal complex more stable than hydroxide ion at pH 7 or less has a strong binding force between the complex ion and iron and can suppress the generation of iron hydroxide. As complexing agents, citric acid, tartaric acid, oxalic acid, EDTA,
DTPA, CyDTA, lactic acid and the like are suitable.

【0076】これらの錯化剤:0.5Mol、NiSO4:300g/
リットル、FeSO4 :10g/リットル、H3BO3 :30g/リ
ットル、ドデシルベンゼンスルホン酸Na:0.5g/リッ
トル、サッカリンNa:2g/リットルによってメッキ浴
とし、NiFeパターンをメッキ成膜したところ、最初にメ
ッキしたパターンも最後にメッキしたパターンも、膜組
成に変化はなく、従来のメッキ浴に錯化剤を添加したこ
とで、メッキ浴組成が安定したことが認められた。
These complexing agents: 0.5 Mol, NiSO 4 : 300 g /
Liter, FeSO 4 : 10 g / liter, H 3 BO 3 : 30 g / liter, sodium dodecylbenzenesulfonate: 0.5 g / liter, saccharin Na: 2 g / liter was used as a plating bath, and a NiFe pattern was formed by plating. There was no change in the film composition of both the first plated pattern and the last plated pattern, and it was confirmed that the plating bath composition was stabilized by adding the complexing agent to the conventional plating bath.

【0077】〔厚膜磁性体のメッキ方法の実施例〕図2
の工程に示すNiFe膜301のメッキを数回繰り返すこと
で後端ヨーク30を形成するが、1回のメッキ膜厚は10μ
m以上と厚い。そのため、従来の方法では、1回で形成
されたメッキ膜の中でも、下側と上側とでは、膜組成が
異なってくる。
[Example of Plating Method of Thick Film Magnetic Material] FIG.
The rear end yoke 30 is formed by repeating the plating of the NiFe film 301 shown in the step of several times, but the plating thickness of one time is 10 μm.
It is thicker than m. Therefore, in the conventional method, the film composition is different between the lower side and the upper side of the plating film formed once.

【0078】例えば磁極用のパーマロイは、Ni83%、Fe
17%が用いられるが、次第にNi成分が減少し、Fe成分が
増加する。このようにNiとFeの成分比が変化すると、磁
気特性も異なるため、後端ヨーク30全体として見たと
き、組成が均一な場合に比べて磁極抵抗が増加し、薄膜
磁気ヘッドにおける電磁変換特性が低下するなど、安定
した特性が得られないといった問題が生じてくる。
For example, permalloy for magnetic pole is Ni83%, Fe
17% is used, but the Ni content gradually decreases and the Fe content increases. When the composition ratio of Ni and Fe changes in this way, the magnetic characteristics also change, so when viewed from the rear end yoke 30 as a whole, the magnetic pole resistance increases as compared to the case where the composition is uniform, and the electromagnetic conversion characteristics of the thin film magnetic head There is a problem in that stable characteristics cannot be obtained, such as a decrease in

【0079】これに対し、請求項9のように、メッキ処
理を行なっている最中に、メッキ電流または攪拌速度を
変化させることで、膜厚方向の組成変動を防止できる。
すなわち、メッキ電流を次第に増加させるが、このとき
図4の(a) のように段階的に増加させてもよく、(b) 図
のように直線的に連続的に増加させてもよい。あるい
は、(c) 図のように初めは急に増加させ、その後は徐々
に増加させる。
On the other hand, by changing the plating current or the stirring speed during the plating process as described in claim 9, it is possible to prevent the composition variation in the film thickness direction.
That is, the plating current is gradually increased, but at this time, it may be increased stepwise as shown in FIG. 4A or may be linearly and continuously increased as shown in FIG. 4B. Alternatively, as shown in Fig. (C), the initial value is suddenly increased and then gradually increased.

【0080】図5はメッキ電流を40mAから80mAまで数十
秒ごとに段階的に増加させた場合のメッキ膜厚方向のNi
組成比を示したものであり、Ni成分がほとんど変化して
いないことが認められる。
FIG. 5 shows Ni in the plating film thickness direction when the plating current is increased stepwise from 40 mA to 80 mA every several tens of seconds.
The composition ratio is shown, and it can be seen that the Ni component has hardly changed.

【0081】また、メッキ電流は一定として、攪拌速度
を変える場合も、図6(a) のように連続的に攪拌速度を
低下させたり、(b) のように前半は徐々に低下させ、後
半は一定速度にする。すなわち、Niの方がメッキされ易
いため、図7に示すように、攪拌速度が50〜60RPMと遅
い場合はNiのメッキ量が多いが、攪拌速度が90〜100RPM
と速い場合は、Niのメッキ量が減少する。
Further, even when the agitation speed is changed with the plating current kept constant, the agitation speed is continuously decreased as shown in FIG. 6 (a), or gradually decreased in the first half as shown in FIG. Is a constant speed. That is, since Ni is more easily plated, as shown in FIG. 7, when the stirring speed is as low as 50 to 60 RPM, the Ni plating amount is large, but the stirring speed is 90 to 100 RPM.
If it is fast, the Ni plating amount will decrease.

【0082】したがって、初めの方は攪拌によってNiが
メッキされにくくし、次第に攪拌速度を遅くして、Niが
メッキされ易いようにすることで、NiとFeの組成比を均
一にできる。なお、攪拌速度を段階的に減速したり、メ
ッキ電流の上昇と組み合わせることもできる。
Therefore, Ni is less likely to be plated by agitation at the beginning, and the agitation speed is gradually reduced to facilitate Ni plating, whereby the composition ratio of Ni and Fe can be made uniform. It should be noted that the stirring speed can be gradually reduced or combined with the increase of the plating current.

【0083】図8の破線(×印)は攪拌速度を80RPMで
一定とした場合のNi成分であり、メッキの成長とともに
Ni成分が次第に減少しているのに対し、実線(黒丸印)
は本発明の方法によって、攪拌速度を80RPMから60RPM
に次第に減速した場合であり、膜厚方向のすべての部分
でNi成分が一定していることが認められる。
The broken line (marked with X) in FIG. 8 represents the Ni component when the stirring speed is constant at 80 RPM,
The Ni component gradually decreases, while the solid line (black circle)
According to the method of the present invention, the stirring speed is 80 RPM to 60 RPM.
It is observed that the Ni component is constant in all parts in the film thickness direction.

【0084】[0084]

【発明の効果】以上のように請求項1によれば、後でエ
ッチング除去されるエッチング性に富んだ剥離層36側に
摺動凸部23を形成するため、成膜プロセスを総て完了し
た後にエッチングされる剥離層36は、摺動凸部23の存在
しない領域のみとなり、剥離層36の容積が減少するの
で、短時間にかつ確実にエッチングでき、大量生産に適
している。
As described above, according to the first aspect of the present invention, since the sliding convex portion 23 is formed on the side of the peeling layer 36 having a high etching property which is removed by etching later, the film forming process is completed. The peeling layer 36 to be etched later is only in a region where the sliding protrusions 23 do not exist, and the volume of the peeling layer 36 decreases, so that the peeling layer 36 can be surely etched in a short time and is suitable for mass production.

【0085】請求項2のように、エッチング除去される
剥離層36の少なくとも凹部40中に、耐摩耗性膜43を成膜
してから摺動凸部23を形成するため、完成後の摺動凸部
23の摺動面の耐摩耗性が向上し、薄膜磁気ヘッドの寿命
が向上する。
According to the second aspect, since the abrasion-resistant film 43 is formed in at least the concave portion 40 of the peeling layer 36 to be removed by etching and then the sliding convex portion 23 is formed, the sliding after the completion is completed. Convex
The wear resistance of the 23 sliding surfaces is improved, and the life of the thin film magnetic head is improved.

【0086】請求項3のように、請求項1のプロセスに
よって、スプリングアーム部とヘッド素子部を一緒に積
層形成することで、スプリングアーム部と一体型の薄膜
磁気ヘッドが得られるため、従来のように別体のスプリ
ングアームに取り付ける必要性がなくなる。
According to the third aspect of the present invention, the thin film magnetic head integral with the spring arm portion is obtained by forming the spring arm portion and the head element portion together by the process of the first aspect. It eliminates the need to attach to a separate spring arm.

【0087】このようにスプリングアーム部を一体形成
しないで、請求項4のように、ヘッド素子部のみを形成
し、ヘッド素子部を個片に分離した後、該ヘッド素子部
を板バネなどのスプリングアームに取り付ける方法によ
れば、1枚の基板上に大量のヘッド素子部を作製でき、
また剥離層36の容積に対する摺動凸部23の占める容積が
大きくなるので、より短時間に剥離層36をエッチング除
去できる。
Thus, without forming the spring arm portion integrally, only the head element portion is formed and the head element portion is separated into individual pieces, and then the head element portion is formed of a leaf spring or the like. According to the method of attaching to the spring arm, a large number of head element parts can be manufactured on one substrate,
Further, since the volume occupied by the sliding protrusions 23 with respect to the volume of the peeling layer 36 becomes large, the peeling layer 36 can be removed by etching in a shorter time.

【0088】請求項5のように、後でエッチング除去さ
れる剥離層36として、アルミニウムを使用することによ
り、基板35との密着性にすぐれ、また各種のエッチング
液で容易にエッチングできるため、ヘッド素子部を損傷
することなしに、しかも短時間にエッチングでき、大量
生産に適している。
As described in claim 5, by using aluminum as the peeling layer 36 to be removed by etching later, the adhesion with the substrate 35 is excellent and the head can be easily etched with various etching solutions. It can be etched in a short time without damaging the element part and is suitable for mass production.

【0089】請求項6のように、後でエッチング除去さ
れる剥離層36を、蒸着やスパッタによって成膜すること
により、膜表面が平坦となるため、メッキなどのような
平坦化加工が不要となり、工数削減によって生産性が向
上する。
By forming the peeling layer 36, which will be removed by etching later, by vapor deposition or sputtering as described in claim 6, the film surface becomes flat, so that a flattening process such as plating is unnecessary. , Productivity is improved by reducing man-hours.

【0090】請求項7のように、先に成膜された金属膜
の表面の酸化膜を除去する際に、化学的酸化膜除去剤と
して還元剤を用いることにより、金属膜のサイドエッチ
などを来すことなしに、表面の酸化膜のみを効率的に除
去することができる。
When the oxide film on the surface of the metal film previously formed is removed as described in claim 7, a reducing agent is used as a chemical oxide film removing agent to prevent side etching of the metal film. It is possible to efficiently remove only the oxide film on the surface without coming.

【0091】請求項8のように、錯化剤を添加してなる
磁性メッキ浴で磁性膜を成膜することにより、メッキ浴
を長時間使用しても、浴組成の変動を防止でき、その結
果メッキ膜組成にバラツキのない均質の薄膜磁気ヘッド
が得られる。
By forming the magnetic film in the magnetic plating bath containing a complexing agent as described in claim 8, variation in bath composition can be prevented even when the plating bath is used for a long time. As a result, a uniform thin film magnetic head having no variation in the plating film composition can be obtained.

【0092】請求項9のように、磁性体をメッキ成膜す
る過程において、メッキ電流または攪拌速度を変化させ
ることで、膜厚方向の組成変動を防止でき、全膜厚にわ
たって均質な磁性膜が得られる。
By changing the plating current or the stirring speed in the process of forming the magnetic substance by plating as described in claim 9, compositional variation in the film thickness direction can be prevented, and a magnetic film that is uniform over the entire film thickness can be obtained. can get.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による薄膜磁気ヘッドの製造方法の基本
原理を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing the basic principle of a method of manufacturing a thin film magnetic head according to the present invention.

【図2】請求項1の発明の実施例を工程順に示す断面図
である。
FIG. 2 is a sectional view showing an embodiment of the invention of claim 1 in the order of steps.

【図3】薄膜コイルの端子パターンの作製方法を示す断
面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a method of manufacturing a terminal pattern of a thin film coil.

【図4】メッキ電流を増加させる場合の各種実施例を示
す図である。
FIG. 4 is a diagram showing various examples in which the plating current is increased.

【図5】メッキ電流を40mAから80mAまで段階的に増加さ
せた場合のメッキ膜厚方向のNi組成比を測定した結果を
示す図ある。
FIG. 5 is a diagram showing the results of measuring the Ni composition ratio in the plating film thickness direction when the plating current was increased stepwise from 40 mA to 80 mA.

【図6】メッキ処理の過程においてメッキ浴の攪拌速度
を低下させていく実施例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example in which the stirring speed of the plating bath is reduced during the plating process.

【図7】メッキ浴の攪拌速度とNiメッキ量との関係を示
す測定結果である。
FIG. 7 is a measurement result showing the relationship between the stirring speed of the plating bath and the Ni plating amount.

【図8】攪拌速度を一定にした場合と次第に減速した場
合のNiメッキ量の測定結果である。
FIG. 8 shows the measurement results of the Ni plating amount when the stirring speed is constant and when the stirring speed is gradually reduced.

【図9】薄膜磁気ヘッドの全容を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing the whole thin film magnetic head.

【図10】薄膜磁気ヘッドにおけるヘッド素子部の成膜プ
ロセスを工程順に示す断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a film forming process of a head element portion in the thin film magnetic head in order of steps.

【図11】ヘッド素子部の完成状態を示す斜視図である。FIG. 11 is a perspective view showing a completed state of a head element portion.

【図12】レジストパターンを用いて薄膜コイルを作製す
る方法を工程順に示す断面図である。
FIG. 12 is a cross-sectional view showing a method of manufacturing a thin-film coil using a resist pattern in the order of steps.

【図13】一体型薄膜ヘッドの全容を示す平面図と側面図
である。
13A and 13B are a plan view and a side view showing the whole of the integrated thin film head.

【図14】一体型薄膜ヘッドの縦断面図である。FIG. 14 is a vertical cross-sectional view of the integrated thin-film head.

【図15】一体型薄膜ヘッドを磁気ディスク装置に実装し
た状態の平面図と側面図である。
15A and 15B are a plan view and a side view showing a state in which the integrated thin film head is mounted on a magnetic disk device.

【図16】図16〜図18は一体型薄膜ヘッドの従来の製造方
法を示すもので、図16はコアパターンの端面出し加工を
示す斜視図である。
16 to 18 show a conventional method for manufacturing an integrated thin film head, and FIG. 16 is a perspective view showing an end face forming process of a core pattern.

【図17】従来の磁極形成方法を示す斜視図である。FIG. 17 is a perspective view showing a conventional magnetic pole forming method.

【図18】従来の一体型薄膜ヘッドにおけるコイルパター
ンおよびコアパターンの形成方法を工程順に示す平面図
と断面図である。
FIG. 18 is a plan view and a cross-sectional view showing a method of forming a coil pattern and a core pattern in a conventional integrated thin film head in the order of steps.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スライダ部 2 ヘッド素子部 3 薄膜コイルの端子 r 浮上レール s 流入斜面 4 ジンバル 5 スプリングアーム 6 下部保護膜 7 下部磁極層 7p 下部磁極 8 ギャップ層 G 記録/再生ギャップ D 磁気記録媒体(磁気ディスク) 9 薄膜コイル 10a 下部絶縁層 10b 上部絶縁層 11 上部磁極層 11p 上部磁極 12 上部保護膜 13 基板 15 研削位置 16 メッキベース 17 フォトレジスト膜 18 フォトマスク 19 レジストパターン 21 スプリングアーム部 22 ヘッド素子部 23 摺動凸部 24 コア( コアパターン ) 25 コイル 26,261,262 リードパターン 27 根元( 取り付け部 ) 28,281,282 ボンディングパッド 29 磁極 30 後端ヨーク 301 〜303 磁性膜 31 リターンヨーク 32 磁束 35 基板( ウェハ ) 36 剥離層( 分離層 ) 371〜373 絶縁層 40 凹部 41,42 保護膜 43 耐摩耗性膜 1 slider part 2 head element part 3 thin film coil terminal r levitation rail s inflow slope 4 gimbal 5 spring arm 6 lower protective film 7 lower magnetic pole layer 7p lower magnetic pole 8 gap layer G recording / reproducing gap D magnetic recording medium (magnetic disk) 9 thin film coil 10a lower insulating layer 10b upper insulating layer 11 upper magnetic pole layer 11p upper magnetic pole 12 upper protective film 13 substrate 15 grinding position 16 plating base 17 photoresist film 18 photomask 19 resist pattern 21 spring arm part 22 head element part 23 slide Dynamic convex part 24 Core (core pattern) 25 Coil 26,261,262 Lead pattern 27 Root (mounting part) 28,281,282 Bonding pad 29 Magnetic pole 30 Rear end yoke 301 to 303 Magnetic film 31 Return yoke 32 Magnetic flux 35 Substrate (wafer) 36 Release layer (separation layer) ) 371-373 Insulation layer 40 Recess 41,42 Protective film 43 Abrasion resistant film

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板(35)上に形成したエッチング性に富
んだ剥離層(36)に、摺動凸部(23)を形成するための凹部
(40)を形成し、該凹部(40)を含む領域に、少なくともヘ
ッド素子部を構成する絶縁層(371〜373)と、後端ヨーク
(30)を構成する磁性膜(301〜303)を形成する工程、 前記工程で形成された絶縁層(371〜373)の上に、片方の
コイルパターン(C1)を形成する工程、 前記のコイルパターン(C1)の上に絶縁層(42)を形成し、
その上にコアとなる磁性体のパターン(24)を形成し、か
つ該コアパターン(24)の一部を前記の後端ヨーク(30)と
重ねる工程、 前記のコアパターン(24)の上に絶縁層(43)を成膜し、そ
の上に別のコイルパターン(C2)を形成し、前記のコイル
パターン(C1)と接続して、連続したコイル(25)を形成す
る工程、 基板(35)をブロック単位に切断した後、前記のコアパタ
ーン(24)の先端が露出するまで研摩して、該コアパター
ン(24)と接続する磁極パターン(29)を形成し、その上を
保護膜(46)で覆う工程、 以上の各プロセスを終了した後、ヘッド素子部を1個ず
つ分離するとともに、前記の剥離層(36)をエッチングし
て、ヘッド素子部を基板(35)から分離する工程、 を含むことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
1. A recess for forming a sliding protrusion (23) on a release layer (36) formed on a substrate (35) and having a high etching property.
(40) is formed, and in the region including the recess (40), at least insulating layers (371 to 373) constituting the head element portion and the rear end yoke are formed.
(30) forming the magnetic film (301 to 303) constituting the step, a step of forming one coil pattern (C1) on the insulating layer (371 to 373) formed in the step, the coil Form the insulating layer (42) on the pattern (C1),
A step of forming a magnetic material pattern (24) to be a core thereon and overlapping a part of the core pattern (24) with the trailing end yoke (30); on the core pattern (24) A step of forming an insulating layer (43), forming another coil pattern (C2) on it, and connecting it to the coil pattern (C1) to form a continuous coil (25), the substrate (35) ) Is cut into blocks, and then polished until the tip of the core pattern (24) is exposed to form a magnetic pole pattern (29) connected to the core pattern (24), and a protective film ( Step of covering with 46), a step of separating the head element parts one by one after finishing the above processes and etching the peeling layer (36) to separate the head element part from the substrate (35) A method for manufacturing a thin film magnetic head, comprising:
【請求項2】 前記の基板(35)上のエッチング性に富ん
だ剥離層(36)に形成した凹部(40)を含む領域に、少なく
ともヘッド素子部を構成する絶縁層(371) を形成する前
に、少なくとも該凹部(40)中に耐摩耗性膜(47)を成膜す
ることを特徴とする請求項1記載の薄膜磁気ヘッドの製
造方法。
2. An insulating layer (371) constituting at least a head element part is formed in a region including a recess (40) formed in a release layer (36) rich in etching property on the substrate (35). 2. The method of manufacturing a thin film magnetic head according to claim 1, wherein an abrasion resistant film (47) is formed at least in the recess (40).
【請求項3】 前記のプロセスによって、絶縁層(371〜
373)を積層する際に、スプリングアーム部とヘッド素子
部を一緒に積層することで、スプリングアーム部と一体
型の薄膜磁気ヘッドとすることを特徴とする請求項1ま
たは請求項2記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
3. The insulating layer (371 to
3. The thin film magnetic head according to claim 1, wherein the spring arm portion and the head element portion are laminated together to form a thin film magnetic head integrated with the spring arm portion. Magnetic head manufacturing method.
【請求項4】 前記のプロセスによって、絶縁層(371〜
373)を積層する際に、スプリングアーム部は形成せず、
ヘッド素子部のみを形成し、 ヘッド素子部を分離した後、該ヘッド素子部を別体のス
プリングアームに取り付けることを特徴とする請求項1
または請求項2記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
4. The insulating layer (371 to
When stacking 373), do not form the spring arm part,
The head element section is formed only, and after the head element section is separated, the head element section is attached to a separate spring arm.
Alternatively, the method of manufacturing the thin film magnetic head according to claim 2.
【請求項5】 前記の基板(35)上に積層され、摺動凸部
(23)を形成するための凹部(40)が形成されるエッチング
性に富んだ剥離層(36)として、アルミニウムが使用され
ることを特徴とする請求項1または請求項2記載の薄膜
磁気ヘッドの製造方法。
5. A sliding convex portion laminated on the substrate (35).
The thin film magnetic head according to claim 1 or 2, wherein aluminum is used as a release layer (36) having a high etching property in which a recess (40) for forming the (23) is formed. Manufacturing method.
【請求項6】 前記の基板(35)上に積層され、摺動凸部
(23)を形成するための凹部(40)が形成されるエッチング
性に富んだ剥離層(36)が、蒸着またはスパッタによって
形成されることを特徴とする請求項1または請求項2記
載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
6. A sliding convex portion laminated on the substrate (35).
The thin film according to claim 1 or 2, wherein the release layer (36) having a high etching property, in which the concave portion (40) for forming the (23) is formed, is formed by vapor deposition or sputtering. Magnetic head manufacturing method.
【請求項7】 薄膜磁気ヘッドを製造するプロセスにお
いて金属膜の表面に発生した酸化膜を除去する際に、化
学的酸化膜除去剤として還元剤を用いることを特徴とす
る薄膜磁気ヘッドの製造方法。
7. A method of manufacturing a thin film magnetic head, wherein a reducing agent is used as a chemical oxide film removing agent when removing an oxide film generated on a surface of a metal film in a process of manufacturing a thin film magnetic head. ..
【請求項8】 薄膜磁気ヘッドを製造するプロセスにお
いて磁性膜をメッキする際に、PH7以下で水酸イオン
より安定な金属錯体を生成するような錯化剤を添加して
なる磁性メッキ浴を用いることを特徴とする薄膜磁気ヘ
ッドの製造方法。
8. A magnetic plating bath prepared by adding a complexing agent capable of forming a metal complex more stable than hydroxide ion at pH of 7 or less when plating a magnetic film in the process of manufacturing a thin film magnetic head. A method of manufacturing a thin film magnetic head, comprising:
【請求項9】 薄膜磁気ヘッドを製造するプロセスにお
いて膜厚の厚い磁性膜をメッキする際に、メッキ処理の
過程において、メッキ電流または攪拌速度を変化させる
ことで、膜厚方向の組成変動を防止することを特徴とす
る薄膜磁気ヘッドの製造方法。
9. When a thick magnetic film is plated in the process of manufacturing a thin film magnetic head, the plating current or the stirring speed is changed in the process of plating to prevent compositional variation in the film thickness direction. A method of manufacturing a thin film magnetic head, comprising:
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US7140092B2 (en) * 2003-01-16 2006-11-28 Georgia Tech Research Corporation Methods for manufacturing inductor cores

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