JPH05225773A - Video ram - Google Patents

Video ram

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JPH05225773A
JPH05225773A JP4313490A JP31349092A JPH05225773A JP H05225773 A JPH05225773 A JP H05225773A JP 4313490 A JP4313490 A JP 4313490A JP 31349092 A JP31349092 A JP 31349092A JP H05225773 A JPH05225773 A JP H05225773A
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transmission
latch circuit
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data
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旻泰 金
Dong-Jae Lee
東宰 李
Seung-Mo Seo
承模 徐
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Abstract

PURPOSE: To provide a video RAM where data processing speed is improved by executing serial writing transmission more quickly. CONSTITUTION: Data is simultaneously written in all the blocks M'1-M'4 of a serial access memory SAM by the control of a block selecting means 200 which receives a signal from an input buffer 100 at the time of serial writing transmission. After that, the data is selectively transmitted to the blocks M1-M4 of a random access memory RAM, in accordance with a data transmitting signal from a data transmitting signal generating circuit 300.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体メモリ装置のうち
のデュアルポートメモリ(dual port memary)に関し、特
にシリアルアクセスメモリ(SAM:serial access me
mory)を有するビデオRAMに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device having a dual port memory, and more particularly to a serial access memory (SAM).
mory).

【0002】[0002]

【従来の技術】ビデオRAM(又は、デュアルポートダ
イナミックRAM:ビデオRAMのメモリ素子としてデ
ュアルポートダイナミックRAMが使用されており、こ
の分野で両用語はよく混用されているので、本明細書中
では両者を含めてビデオRAMと称する)は、ランダム
ポートとシリアルポートという2系統の入出力端子を有
するメモリで、中央処理装置であるCPUとのアクセス
はランダム、一方CRTにデータ表示するためのアクセ
スはシリアルとなっている。このようなビデオRAMに
は、シリアルデータの入出力のために、シリアル読出し
伝送(serial read transfer)とシリアル書込み伝送
(serial write transfer )という機能がある。シリア
ル読出し伝送とは、ランダムアクセスメモリに記憶され
ているデータをシリアルアクセスメモリに伝送させてこ
れを読み出すための動作を指し、また、シリアル書込み
伝送とは、データをシリアルアクセスメモリに書き込ん
だ後にこれをランダムアクセスメモリに伝送させて記憶
するための動作を指す。このうち、シリアル書込み伝送
はビデオRAMにおいて非常に重要な機能で、特に画像
データの処理等の高速のデータ処理が要求される箇所に
適用される機能である。
2. Description of the Related Art Video RAM (or dual-port dynamic RAM: Dual-port dynamic RAM is used as a memory element of video RAM, and both terms are often mixed in this field. Is a memory having two input / output terminals, a random port and a serial port. Access to the CPU, which is the central processing unit, is random, while access for displaying data on the CRT is serial. Has become. Such a video RAM has functions of serial read transfer and serial write transfer for inputting / outputting serial data. Serial read transmission refers to the operation of transmitting the data stored in the random access memory to the serial access memory and reading the data, and serial write transmission refers to the operation of writing the data to the serial access memory and then writing the data. Is transmitted to and stored in a random access memory. Of these, the serial write transmission is a very important function in the video RAM, and is a function particularly applied to a portion requiring high-speed data processing such as image data processing.

【0003】従来の技術によるシリアル書込み伝送につ
いて、その概念を表すブロック図を図5に示す。この図
5のブロック図は現在この分野で広く用いられているシ
リアル書込み伝送を示すもので、所定のアドレスが入力
バッファ10に入力され、この入力バッファ10の出力
によりシリアルアクセスメモリSAMの所定のブロック
を選択するブロック選択信号発生器20が駆動される。
そして、このブロック選択信号発生装置20が、シリア
ルアクセスメモリSAMの、例えば4個のブロックM′
1、M′2、M′3、M′4のうちのいずれかのブロッ
クにデータを書き込むように制御する。このとき、シリ
アルアクセスメモリSAMには、データ入力バッファ
(図示せず)からデータが入力される。この状況が図5
に示されている。この図5の左側のブロック図は、シリ
アルアクセスメモリSAMのブロックM′1に書込みを
実行した状態を示している。ブロックM′1への書込み
が終了した後、図5の右側のブロック図に示すように、
該データはデータ伝送ゲート1によりランダムアクセス
メモリRAMのブロックM1に伝送される。
FIG. 5 is a block diagram showing the concept of serial write transmission according to the prior art. The block diagram of FIG. 5 shows serial write transmission, which is widely used in this field, in which a predetermined address is input to the input buffer 10, and the output of the input buffer 10 causes a predetermined block of the serial access memory SAM. The block selection signal generator 20 for selecting is driven.
Then, this block selection signal generator 20 is provided with, for example, four blocks M ′ of the serial access memory SAM.
The control is performed so that the data is written in any one of the blocks 1, 1, M'2, M'3, and M'4. At this time, data is input to the serial access memory SAM from a data input buffer (not shown). This situation is shown in Figure 5.
Is shown in. The block diagram on the left side of FIG. 5 shows a state in which writing is executed in the block M′1 of the serial access memory SAM. After writing to the block M′1, as shown in the block diagram on the right side of FIG.
The data is transmitted by the data transmission gate 1 to the block M1 of the random access memory RAM.

【0004】そして、この後連続してランダムアクセス
メモリRAMの他のブロックにシリアル書込み伝送を実
行する過程が図6に示されている。すなわち、連続して
ランダムアクセスメモリRAMのブロックM2へシリア
ル書込み伝送を実行する際には、再びブロック選択信号
発生器20の制御により、今度はシリアルアクセスメモ
リSAMのブロックM′2にデータを書き込んだ後、デ
ータ伝送ゲート1を介してランダムアクセスメモリRA
MのブロックM2に該データが伝送され、シリアル書込
み伝送が実行される。
FIG. 6 shows a process of subsequently performing serial write transmission to another block of the random access memory RAM. That is, when the serial write transmission is continuously executed to the block M2 of the random access memory RAM, the data is written to the block M'2 of the serial access memory SAM this time by the control of the block selection signal generator 20 again. Then, through the data transmission gate 1, the random access memory RA
The data is transmitted to the block M2 of M, and the serial write transmission is executed.

【0005】このように、従来技術によるシリアル書込
み伝送によれば、ランダムアクセスメモリのi個のブロ
ックにシリアル書込み伝送を実行するためには、シリア
ルアクセスメモリの1つのブロックにデータの書込みを
行った後にランダムアクセスメモリの1つのブロックに
該データの伝送を実行し、その後、再びシリアルアクセ
スメモリの1つのブロックにデータの書込みを行った後
にランダムアクセスメモリの1つのブロックに該データ
の伝送を実行するというように、データの書込み・伝送
過程をi回繰り返す必要がある。これが、画像処理等の
ように高速のデータ処理が要される場合に大きな障害要
素となり、また、高速に多量のデータを処理しなければ
ならない次世代ASIC(application specific IC:
ビデオRAM、フィルードメモリ、グラフィックメモリ
等の特定用途向けIC)メモリで解決しなければならな
い課題となっている。
As described above, according to the conventional serial write transmission, in order to execute the serial write transmission to the i blocks of the random access memory, the data is written to one block of the serial access memory. After that, the data is transmitted to one block of the random access memory, and then the data is written to one block of the serial access memory again, and then the data is transmitted to one block of the random access memory. Thus, it is necessary to repeat the data writing / transmission process i times. This is a major obstacle when high-speed data processing such as image processing is required, and the next-generation ASIC (application specific IC: which must process a large amount of data at high speed).
This is a problem that must be solved by a special-purpose IC) memory such as a video RAM, a field memory, and a graphic memory.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】したがって本発明の目
的は、シリアル書込み伝送を迅速に実行でき、データ処
理をより高速に行えるビデオRAMを提供することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, it is an object of the present invention to provide a video RAM capable of executing serial write transmission quickly and processing data at a higher speed.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明は、m(m=1、2、3、…)行,n
(n=1、2、3、…)列のマトリックス形態とされた
N(N=1、2、3、…)個のメモリセル群からそれぞ
れ構成されるM(M=1、2、3、…)個のブロックを
有するランダムアクセスメモリと、1行,n列の形態と
されたメモリセル群からそれぞれ構成されるM個のブロ
ックを有し、この各ブロックが前記ランダムアクセスメ
モリの各ブロックに接続されるシリアルアクセスメモリ
とを備えたビデオRAMにおいて、シリアル書込み伝送
時に、シリアルアクセスメモリのブロック選択制御を行
うブロック選択手段の制御によりシリアルアクセスメモ
リのM個のブロックすべてをエネーブルとして書込み対
称となるブロックすべてにデータを書き込んだ後、デー
タ伝送信号に従って、ランダムアクセスメモリの対応す
るブロックに前記データを伝送するようになっているこ
とを特徴としている。
In order to achieve such an object, the present invention provides m (m = 1, 2, 3, ...) Rows, n.
(N = 1, 2, 3, ...) Column-shaped matrix memory cells (N = 1, 2, 3, ...) M (M = 1, 2, 3, ...) …) Random access memory having blocks and M blocks each composed of a memory cell group in the form of one row and n columns, each block being a block of the random access memory. In a video RAM provided with a serial access memory connected thereto, all M blocks of the serial access memory are enabled and written symmetrically by the control of a block selection means for performing block selection control of the serial access memory during serial write transmission. After writing the data to all the blocks, the corresponding blocks of the random access memory are written according to the data transmission signal. It is characterized by being adapted to transmit over data.

【0008】また、このような制御を行うブロック選択
手段を、データ伝送エネーブル信号を共通の制御信号と
し、このデータ伝送エネーブル信号に従ってブロック選
択信号及び書込みエネーブル信号を各々伝送する第1入
力回路及び第2入力回路と、第1入力回路及び第2入力
回路の各出力信号それぞれをラッチする第1ラッチ回路
及び第2ラッチ回路と、第1ラッチ回路及び第2ラッチ
回路の各出力信号を入力とする第1NAND回路と、第
1ラッチ回路の出力信号の反転信号及び第2ラッチ回路
の出力信号を入力とする第2NAND回路と、第1NA
ND回路及び第2NAND回路の各出力信号を読出し伝
送エネーブル信号の制御の下に伝送する第1伝送回路及
び第2伝送回路と、第1伝送回路及び第2伝送回路の各
出力信号それぞれをラッチする第3ラッチ回路及び第4
ラッチ回路とを備えた構成としたことを特徴とする。
Further, the block selection means for performing such control uses the data transmission enable signal as a common control signal, and transmits the block selection signal and the write enable signal respectively according to the data transmission enable signal. A two-input circuit, a first latch circuit and a second latch circuit for latching respective output signals of the first input circuit and the second input circuit, and an output signal of the first latch circuit and the second latch circuit are input. A first NAND circuit, a second NAND circuit which receives an inverted signal of the output signal of the first latch circuit and an output signal of the second latch circuit, and a first NA
The first transmission circuit and the second transmission circuit which read out and output the respective output signals of the ND circuit and the second NAND circuit under the control of the transmission enable signal, and the respective output signals of the first transmission circuit and the second transmission circuit are latched. Third latch circuit and fourth
And a latch circuit.

【0009】[0009]

【実施例】以下、添付の図面を参照して本発明を詳細に
説明する。尚、従来の技術と同様の部分には同じ符号を
付し、重複する説明は省略する。本発明に係るシリアル
書込み伝送をするために備えられるブロック選択手段の
実施例の回路図を図1に示し、その動作タイミング図を
図2に示す。そして図3に、本発明に係るシリアル書込
み伝送の概念を表すフローチャートを示す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. The same parts as those of the conventional technique are designated by the same reference numerals, and the duplicated description will be omitted. FIG. 1 shows a circuit diagram of an embodiment of the block selection means provided for serial write transmission according to the present invention, and FIG. 2 shows an operation timing chart thereof. 3 is a flowchart showing the concept of serial write transmission according to the present invention.

【0010】図1に示すブロック選択手段は、データ伝
送エネーブル信号φDTEが制御信号として共通に入力
され、ブロック選択信号BLSCと書込みエネーブル信
号φWTEとを各々伝送する第1、第2入力回路TM
1、TM2と、第1、第2入力回路TM1、TM2の各
出力信号それぞれをラッチするための第1、第2ラッチ
回路L1、L2と、第1、第2ラッチ回路L1、L2の
各出力信号を入力とする第1NANDゲート37と、第
1ラッチ回路L1の出力信号の反転信号と第2ラッチ回
路L2の出力信号とを入力とする第2NANDゲート3
8と、第1、第2NANDゲート37、38の各出力信
号を、読出し伝送エネーブル信号φRTEの制御の下に
伝送する第1、第2伝送回路TM3、TM4と、第1、
第2伝送回路TM3、TM4の各出力信号それぞれをラ
ッチして出力するための第3、第4ラッチ回路L3、L
4と、から構成される。そして、第3、第4ラッチ回路
L3、L4の各出力端にはインバータ40、43がそれ
ぞれ設けられており、また、第3、第4ラッチ回路L
3、L4の各出力端の初期値を論理“ロウ”に設定する
ために、初期値設定信号φINTにより共通して制御さ
れる初期値設定用トランジスタ46、47が各々設けら
れている。
In the block selecting means shown in FIG. 1, the data transmission enable signal φDTE is commonly input as a control signal, and the first and second input circuits TM for transmitting the block selection signal BLSC and the write enable signal φWTE, respectively.
1, TM2, first and second latch circuits L1 and L2 for latching respective output signals of the first and second input circuits TM1 and TM2, and outputs of the first and second latch circuits L1 and L2 A first NAND gate 37 that receives a signal, and a second NAND gate 3 that receives the inverted signal of the output signal of the first latch circuit L1 and the output signal of the second latch circuit L2.
8 and the first and second transmission circuits TM3 and TM4 for transmitting the respective output signals of the first and second NAND gates 37 and 38 under the control of the read transmission enable signal φRTE,
Third and fourth latch circuits L3 and L for latching and outputting the output signals of the second transmission circuits TM3 and TM4, respectively.
4 and. Inverters 40 and 43 are provided at the output terminals of the third and fourth latch circuits L3 and L4, respectively, and the third and fourth latch circuits L are also provided.
Initial value setting transistors 46 and 47, which are commonly controlled by the initial value setting signal φINT, are provided to set the initial values of the output terminals of 3 and L4 to logic "low".

【0011】データ伝送エネーブル信号φDTEが論理
“ハイ”になると、ブロック選択信号BLSCと書込み
エネーブル信号φWTEとはそれぞれ第1、第2入力回
路TM1、TM2を経て第1、第2ラッチ回路L1、L
2へ伝送される。第1、第2ラッチ回路L1、L2は、
ブロック選択信号BLSCと書込みエネーブル信号φW
TEとをそれぞれラッチし、データ伝送エネーブル信号
φDTEが論理“ロウ”となり、第1、第2入力回路T
M1、TM2が“オフ”となっても、その初期の入力状
態を継続して維持する。そして、第1、第2ラッチ回路
L1、L2の出力信号は、NANDゲート37、38を
経て第3、第4伝送回路TM3、TM4に入力される。
このとき、読出し伝送エネーブル信号φRTEが“ロ
ウ”状態になると、第3、第4伝送回路TM3、TM4
が“オン”となり、第1、第2ラッチ回路L1、L2の
出力信号は第3、第4ラッチ回路L3、L4にそれぞれ
伝送される。そして、第3、第4ラッチ回路L3、L4
は、第1、第2ラッチ回路L1、L2の出力信号をそれ
ぞれラッチし、第3、第4伝送回路TM3、TM4が
“オフ”となっても、その初期の入力状態を維持する。
初期値設定用トランジスタ46、47は、初期値設定信
号φINTが電源電圧レベルであるとき“オン”となっ
て第3、第4ラッチ回路L3、L4の出力端の初期状態
を論理“ロウ”に設定する。そして、第3、第4ラッチ
回路L3、L4の出力信号はインバータ40、43を経
てシリアルアクセスメモリSAM(図4)のブロックを
選択するためのブロック選択情報信号φBS1、φBS
2として出力される。
When the data transmission enable signal φDTE becomes a logic "high", the block selection signal BLSC and the write enable signal φWTE are passed through the first and second input circuits TM1 and TM2, respectively, to the first and second latch circuits L1 and L.
2 is transmitted. The first and second latch circuits L1 and L2 are
Block select signal BLSC and write enable signal φW
TE and L are respectively latched, the data transmission enable signal φDTE becomes logic "low", and the first and second input circuits T
Even if M1 and TM2 are turned off, the initial input state is continuously maintained. Then, the output signals of the first and second latch circuits L1 and L2 are input to the third and fourth transmission circuits TM3 and TM4 via the NAND gates 37 and 38.
At this time, when the read transmission enable signal φRTE is in the “low” state, the third and fourth transmission circuits TM3 and TM4
Is turned on, and the output signals of the first and second latch circuits L1 and L2 are transmitted to the third and fourth latch circuits L3 and L4, respectively. Then, the third and fourth latch circuits L3 and L4
Latches the output signals of the first and second latch circuits L1 and L2, respectively, and maintains the initial input state even when the third and fourth transmission circuits TM3 and TM4 are turned off.
The initial value setting transistors 46 and 47 are turned "on" when the initial value setting signal φINT is at the power supply voltage level, and the initial states of the output terminals of the third and fourth latch circuits L3 and L4 are set to logical "low". Set. The output signals of the third and fourth latch circuits L3 and L4 pass through inverters 40 and 43 and block selection information signals φBS1 and φBS for selecting a block of the serial access memory SAM (FIG. 4).
It is output as 2.

【0012】前述のようなシリアル書込み伝送を実行す
るために、ブロック選択情報信号φBS1はシリアルア
クセスメモリSAMのブロックM′1、M′3(図4)
を選択するように接続し、ブロック選択情報信号φBS
2はブロックM′2、M′4(図4)を選択するように
接続する。また、データ伝送エネーブル信号φDTEと
書込みエネーブル信号φWTEとが論理“ハイ”で入力
されるとき、ブロック選択手段はブロック選択信号BL
SCに関係なくシリアルアクセスメモリSAMのすべて
のブロックを選択するようになっている。
In order to execute the serial write transmission as described above, the block selection information signal φBS1 is supplied to the blocks M'1 and M'3 of the serial access memory SAM (FIG. 4).
Block selection information signal φBS
2 connects to select blocks M'2, M'4 (FIG. 4). In addition, when the data transmission enable signal φDTE and the write enable signal φWTE are input at the logic “high”, the block selection means is the block selection signal BL.
All blocks of the serial access memory SAM are selected regardless of SC.

【0013】図2は、シリアル書込み伝送を実行すると
きの図1のブロック選択手段の動作タイミング図であ
る。各々論理“ハイ”のデータ伝送エネーブル信号φD
TEと書込みエネーブル信号φWTEとが入力される
と、NANDゲート37、38を経た信号は、ブロック
選択信号BLSCの状態に関係なくA、B点で各々論理
“ハイ”となる。該信号は更に第3、第4伝送回路TM
3、TM4、及び第3、第4ラッチ回路L3、L4を経
てC、D点で各々論理“ロウ”となる。そして、該信号
はインバータ40、43を経て各々論理“ハイ”のブロ
ック選択情報信号φBS1、φBS2となり、その結
果、シリアルアクセスメモリSAMのブロックM′1〜
M′4のすべてが選択される。
FIG. 2 is an operation timing chart of the block selecting means of FIG. 1 when executing the serial write transmission. Data transmission enable signal φD of logic "high" respectively
When TE and the write enable signal φWTE are input, the signals passed through the NAND gates 37 and 38 become logic "high" at points A and B regardless of the state of the block selection signal BLSC. The signal is further transmitted to the third and fourth transmission circuits TM.
It becomes a logic "low" at the points C and D via the third and fourth latch circuits L3 and L4. Then, the signals pass through the inverters 40 and 43 to become block selection information signals φBS1 and φBS2 which are logic "high", respectively, and as a result, the blocks M'1 to M'1 of the serial access memory SAM.
All of M'4 are selected.

【0014】このようなブロック選択手段を用いたラン
ダムアクセスメモリへのデータ伝送過程を図3のフロー
チャートを参照して説明する。図1のブロック選択手段
によりシリアルアクセスメモリSAMのすべてのブロッ
クに書込みを完了(24)した後、伝送を行うブロック
をブロック選択信号BLSCによって選択(25)し、
つづいてランダムアクセスメモリRAMへデータ伝送を
行うためのデータ伝送信号φDTPがエネーブルされる
(26)と、これに従ってシリアルアクセスメモリSA
Mに書き込まれたデータがランダムアクセスメモリRA
Mに選択的に伝送(27)される。
A data transmission process to the random access memory using the block selecting means will be described with reference to the flow chart of FIG. After writing (24) to all the blocks of the serial access memory SAM by the block selecting means of FIG. 1, the block to be transmitted is selected (25) by the block selection signal BLSC,
Subsequently, when the data transmission signal φDTP for data transmission to the random access memory RAM is enabled (26), the serial access memory SA is accordingly instructed.
The data written in M is the random access memory RA
It is selectively transmitted (27) to M.

【0015】この図3のフローチャートに対する理解を
助けるため、図4に図3と対応させてブロック図を示
す。シリアル書込みが開始されると、上述のようにし
て、図1の回路のようなブロック選択手段200により
シリアルアクセスメモリSAMのすべてのブロックM′
1、M′2、M′3、M′4(図4ではビデオRAMの
中で、例えば4個のランダムアクセスメモリRAMを有
するものを示している)が選択され、図示せぬデータ入
力バッファを介してデータが各ブロックに書き込まれ
る。その後、データ伝送信号発生器300から出力され
るデータ伝送信号φDTPに従って選択的にランダムア
クセスメモリRAMにデータが伝送される。このように
して簡単にシリアル書込み伝送が行われる。
In order to facilitate understanding of the flowchart of FIG. 3, FIG. 4 shows a block diagram corresponding to FIG. When the serial writing is started, as described above, all the blocks M'of the serial access memory SAM are processed by the block selecting means 200 such as the circuit of FIG.
1, M'2, M'3, M'4 (in FIG. 4, a video RAM having four random access memory RAMs, for example) is selected, and a data input buffer (not shown) is selected. Data is written to each block via. Thereafter, the data is selectively transmitted to the random access memory RAM according to the data transmission signal φDTP output from the data transmission signal generator 300. In this way, serial write transmission is easily performed.

【0016】図1に示す実施例は本発明の思想を実現す
るための一例であって、これに限らず、同様の信号処理
を行えるようになっていれば、異なる構成とできること
は勿論である。
The embodiment shown in FIG. 1 is an example for realizing the idea of the present invention, and the present invention is not limited to this, and it goes without saying that different configurations can be made if similar signal processing can be performed. ..

【0017】[0017]

【発明の効果】以上述べてきたように本発明では、シリ
アル書込み伝送を行う際、シリアルアクセスメモリのす
べてのブロックに一括的にデータを書き込むようにした
ことによって、シリアル書込み伝送がより迅速に行える
ようになり、データ処理速度が向上する。その結果、次
世代ASIC等の、より高速、多量なデータ処理という
要求の実現に大きく寄与できる。
As described above, according to the present invention, when the serial write transmission is performed, the data is collectively written in all the blocks of the serial access memory, so that the serial write transmission can be performed more quickly. As a result, the data processing speed is improved. As a result, it can greatly contribute to the realization of the demand for higher-speed, large-volume data processing such as the next-generation ASIC.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るブロック選択手段の実施例を示す
回路図。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a block selecting means according to the present invention.

【図2】図1の回路のシリアル書込み伝送時の動作タイ
ミング図。
2 is an operation timing chart of the circuit of FIG. 1 during serial write transmission.

【図3】本発明に係るシリアル書込み伝送のフローチャ
ート。
FIG. 3 is a flowchart of serial write transmission according to the present invention.

【図4】本発明に係るシリアル書込み伝送のブロック選
択過程を説明するブロック図。
FIG. 4 is a block diagram illustrating a block selection process of serial write transmission according to the present invention.

【図5】従来の技術によるシリアル書込み伝送のブロッ
ク選択過程を説明するブロック図。
FIG. 5 is a block diagram illustrating a block selection process of serial write transmission according to a conventional technique.

【図6】従来の技術によるシリアル書込み伝送のブロッ
ク選択過程を説明するブロック図。
FIG. 6 is a block diagram illustrating a block selection process of serial write transmission according to a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

φDTE データ伝送エネーブル信号 φWTE 書込みエネーブル信号 BLSC ブロック選択信号 φRTE 読出し伝送エネーブル信号 φBS1、φBS2 ブロック選択情報信号 φDTP データ伝送信号 φINT 初期値設定信号 TM1 第1入力回路 TM2 第2入力回路 L1 第1ラッチ回路 L2 第2ラッチ回路 37 第1NAND回路 38 第2NAND回路 TM3 第1伝送回路 TM4 第2伝送回路 L3 第3ラッチ回路 L4 第4ラッチ回路 46、47 初期値設定用トランジスタ φDTE data transmission enable signal φWTE write enable signal BLSC block selection signal φRTE read transmission enable signal φBS1, φBS2 block selection information signal φDTP data transmission signal φINT initial value setting signal TM1 first input circuit TM2 second input circuit L1 first latch circuit L2 Second latch circuit 37 First NAND circuit 38 Second NAND circuit TM3 First transmission circuit TM4 Second transmission circuit L3 Third latch circuit L4 Fourth latch circuit 46, 47 Initial value setting transistor

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 m(m=1、2、3、…)行,n(n=
1、2、3、…)列のマトリックス形態とされたN(N
=1、2、3、…)個のメモリセル群からそれぞれ構成
されるM(M=1、2、3、…)個のブロックを有する
ランダムアクセスメモリと、1行,n列の形態とされた
メモリセル群からそれぞれ構成されるM個のブロックを
有し、この各ブロックが前記ランダムアクセスメモリの
各ブロックに接続されるシリアルアクセスメモリとを備
えたビデオRAMにおいて、 シリアル書込み伝送時に、シリアルアクセスメモリのブ
ロック選択制御を行うブロック選択手段の制御によりシ
リアルアクセスメモリのM個のブロックすべてをエネー
ブルとして書込み対称となるブロックすべてにデータを
書き込んだ後、データ伝送信号に従って、ランダムアク
セスメモリの対応するブロックに前記データを伝送する
ようになっていることを特徴とするビデオRAM。
1. m (m = 1, 2, 3, ...) Rows, n (n =
N (N) in the form of a matrix of 1, 2, 3, ...
= 1, 2, 3, ...) Random access memory having M (M = 1, 2, 3, ...) Blocks each composed of a memory cell group, and one row and n columns. A video RAM having M blocks each composed of a memory cell group, each block being connected to each block of the random access memory, and a serial access during serial write transmission. After the data is written in all the write symmetrical blocks with all the M blocks of the serial access memory being enabled by the control of the block selecting means for performing the block selection control of the memory, the corresponding block of the random access memory according to the data transmission signal. Video R, characterized in that it is adapted to transmit said data to AM.
【請求項2】 ブロック選択手段は、データ伝送エネー
ブル信号を共通の制御信号とし、このデータ伝送エネー
ブル信号に従ってブロック選択信号及び書込みエネーブ
ル信号を各々伝送する第1入力回路及び第2入力回路
と、第1入力回路及び第2入力回路の各出力信号それぞ
れをラッチする第1ラッチ回路及び第2ラッチ回路と、
第1ラッチ回路及び第2ラッチ回路の各出力信号を入力
とする第1NAND回路と、第1ラッチ回路の出力信号
の反転信号及び第2ラッチ回路の出力信号を入力とする
第2NAND回路と、第1NAND回路及び第2NAN
D回路の各出力信号を読出し伝送エネーブル信号の制御
の下に伝送する第1伝送回路及び第2伝送回路と、第1
伝送回路及び第2伝送回路の各出力信号それぞれをラッ
チする第3ラッチ回路及び第4ラッチ回路とを備えてな
る請求項1記載のビデオRAM。
2. The block selection means uses a data transmission enable signal as a common control signal, and transmits a block selection signal and a write enable signal respectively according to the data transmission enable signal, and a first input circuit and a second input circuit, A first latch circuit and a second latch circuit for latching respective output signals of the 1-input circuit and the 2nd input circuit;
A first NAND circuit receiving the output signals of the first latch circuit and the second latch circuit as inputs; a second NAND circuit receiving the inverted signal of the output signal of the first latch circuit and the output signal of the second latch circuit; 1 NAND circuit and 2nd NAN
A first transmission circuit and a second transmission circuit for transmitting each output signal of the D circuit under the control of a read transmission enable signal;
The video RAM according to claim 1, further comprising a third latch circuit and a fourth latch circuit for latching respective output signals of the transmission circuit and the second transmission circuit.
【請求項3】 第1入力回路、第2入力回路、第1伝送
回路、及び第2伝送回路は、伝送ゲートで構成されてい
る請求項2記載のビデオRAM。
3. The video RAM according to claim 2, wherein the first input circuit, the second input circuit, the first transmission circuit, and the second transmission circuit are configured by transmission gates.
【請求項4】 第1ラッチ回路、第2ラッチ回路、第3
ラッチ回路、及び第4ラッチ回路は、逆向きに並列接続
されたCMOSインバータで構成されている請求項2記
載のビデオRAM。
4. A first latch circuit, a second latch circuit, and a third latch circuit.
The video RAM according to claim 2, wherein the latch circuit and the fourth latch circuit are constituted by CMOS inverters connected in parallel in opposite directions.
【請求項5】 ブロック選択手段は、第3ラッチ回路及
び第4ラッチ回路の各出力端に、初期値設定信号の制御
を受ける初期値設定用トランジスタをそれぞれ備えてい
る請求項2記載のビデオRAM。
5. The video RAM according to claim 2, wherein the block selection means includes an initial value setting transistor under the control of the initial value setting signal at each output terminal of the third latch circuit and the fourth latch circuit. ..
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