JPH05210709A - Clock wiring designing system - Google Patents

Clock wiring designing system

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JPH05210709A
JPH05210709A JP4013551A JP1355192A JPH05210709A JP H05210709 A JPH05210709 A JP H05210709A JP 4013551 A JP4013551 A JP 4013551A JP 1355192 A JP1355192 A JP 1355192A JP H05210709 A JPH05210709 A JP H05210709A
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JP
Japan
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delay time
clock
delay
path
adjusting
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Shigeyoshi Tawada
茂芳 多和田
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Abstract

PURPOSE:To provide a clock wiring designing system capable of shortening a clock cycle. CONSTITUTION:A delay analyzing means 103 finds out the delay time allowance of all passes. A worst case pass detecting means 104 detects a pass having the worst delay time allowance among all the delay time allowance values. A clock skew adjusting time extracting means 105 finds out a difference between the worst delay time allowance among the pass succeeding to the worst case pass and the delay time allowance of the worst case pass. An additional delay time calculating means 106 finds out the optimum delay time to be added to a clock net connected to an FF arranged on the end point side of the worst case pass. A delay time adjusting art work pattern setting means 107 selects a delay time adjusting art work pattern most close to the found delay time and sets up the selected pattern in the FF arranged on the end point side of the worst case pass. A delay analyzing result updating means 108 recalculates the delay time allowance of the pass generating a change in a clock skew and updates a delay analyzing result.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、LSI、PWB等のク
ロック配線設計方式に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clock wiring design system for LSI, PWB and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種のクロック配線設計方式に
おいては、自動レイアウトツ−ルの中で、クロックスキ
ュウを小さくすることと、ワ−ストケ−スパスのパス長
を短くしてパス遅延時間を短くすることを目的として配
置設計、配線設計を行ない、レイアウト終了後は特にク
ロック配線を修正しないのが一般的であった。特にクロ
ックサイクルを短くする必要がある場合にはクロックネ
ット配線を修正するのではなく人手でワ−ストケ−スパ
スのパス長を短くするように配置修正や配線修正する等
していた。(参考文献:論理装置のCAD情報処理学会
昭和56年 3月20日発行)従来の回路構成の例とタイミ
ングチャートを図4を用いて説明する。
2. Description of the Related Art Conventionally, in the clock wiring design method of this type, in an automatic layout tool, the clock skew is reduced and the path length of the waste case path is shortened to reduce the path delay time. In general, the layout design and wiring design are performed for the purpose of shortening, and the clock wiring is generally not modified after the layout is completed. In particular, when it is necessary to shorten the clock cycle, instead of correcting the clock net wiring, the layout and wiring are manually corrected so as to shorten the path length of the waste case path. (Reference: Logic Information Processing CAD Society of Japan, issued March 20, 1981) An example of a conventional circuit configuration and a timing chart will be described with reference to FIG.

【0003】図4(a)に示すように、クロックドライ
バ201 〜203 、フリップフロップ204 〜206 およびゲ−
ト207 〜211 が配置され、その後クロックネット212 〜
214およびパス215 、216 上の各ネットが配線された例
を用いて説明する。ここで、クロックネット212 〜214
は等長に配線されクロックスキュウは0となっており、
パス215 、216 も最短経路で配線されたようなレイアウ
ト結果が得られたとする。遅延解析の結果では、パス21
5 が遅延時間10nsで、最も遅延時間の余裕度の小さ
いワ−ストケ−スパスであったとし、その次段のパス21
6 の遅延時間は6nsであったとする。
As shown in FIG. 4A, clock drivers 201-203, flip-flops 204-206 and gates are provided.
207 to 211 are placed, and then clock nets 212 to 211 are placed.
An example in which the nets on the path 214 and the paths 215 and 216 are wired will be described. Where clock nets 212-214
Are wired in equal length and the clock skew is 0,
It is assumed that the layout results are obtained such that the paths 215 and 216 are also wired by the shortest route. The delay analysis results show path 21
It is assumed that 5 is the worst case path with a delay time of 10 ns and the margin of the delay time is the smallest, and the next-stage path 21
It is assumed that the delay time of 6 is 6 ns.

【0004】図4(a)の例では、既にクロックスキュ
ウも0なのでこれ以上小さくすることができず、ワ−ス
トケ−スパスのパス長もこれ以上短くすることができな
いため、クロックサイクルがワ−ストケ−スパス215 に
よって規定されてしまい、クロックサイクルを10ns
以下に短くすることはできない。図4(b)は、クロッ
クサイクルが10nsのときの、フリップフロップ 20
5、 206の入力端子H01、H02 におけるデ−タの波形とフ
リップフロップ204 〜206 のクロック入力端子CK1 〜CK
3 におけるクロックの波形を示すタイミングチャ−トで
ある。簡単のためにここでは、フリップフロップ内の回
路内遅延時間や各波形のなまりが無いものとし、フリッ
プフロップがクロックの立ち上がりで動作するものとす
る。この図で明らかなように、クロックサイクルを10
ns以下に短くすることはできない。
In the example of FIG. 4A, since the clock skew is already 0, it cannot be further reduced, and the path length of the waste case path cannot be further shortened. The clock cycle is defined by the path path 215, and the clock cycle is 10 ns.
It cannot be shortened below. FIG. 4B shows the flip-flops when the clock cycle is 10 ns.
5, Waveforms of data at input terminals H01 and H02 of 206 and clock input terminals CK1 to CK of flip-flops 204 to 206
3 is a timing chart showing the waveform of the clock in 3. For simplification, here, it is assumed that there is no delay time in the circuit in the flip-flop and rounding of each waveform, and the flip-flop operates at the rising edge of the clock. As can be seen in this figure, 10 clock cycles
It cannot be made shorter than ns.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のクロッ
ク配線設計方式では、基本的にクロックスキュウを小さ
くすることを前提としているため、クロックサイクルを
短くする場合にはワ−ストケ−スパスの遅延時間を小さ
くする必要がある。しかし、クロックサイクルはそのワ
−ストケ−スパスの遅延時間が規定してしまうため、そ
の遅延時間よりもクロックサイクルを短くする(性能を
改善する)ことができないという欠点がある。
In the above-mentioned conventional clock wiring design method, it is basically assumed that the clock skew is reduced. Therefore, when the clock cycle is shortened, the delay time of the waste case path is reduced. Needs to be small. However, since the clock cycle defines the delay time of the worst case path, there is a disadvantage in that the clock cycle cannot be made shorter than that delay time (performance is improved).

【0006】さらに、ワ−ストケ−スパスの遅延時間を
短くする作業も人手で行なう場合には多大な工数を必要
とするという欠点があり、特に回路の大規摸化に伴い性
能改善のためのそれらの修正作業も増加する傾向にある
ためその工数もそれにつれて急激に増加している状況に
ある。
Further, there is a drawback that a large number of man-hours are required when the work of shortening the delay time of the waste case path is manually performed, and those for improving the performance are required especially in accordance with the large scale of the circuit. The number of man-hours is rapidly increasing because the number of repair work tends to increase.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】第1の発明は、LSI、
PWB等のレイアウト設計におけるクロック配線設計方
式において、クロック入力端子に対して遅延時間を付加
する予め用意された複数種類の遅延時間調整用アートワ
ークパターンの付与設置領域を有するフリップフロップ
を備え、接続情報と遅延時間調整用アートワークパター
ン情報と前記フリップフロップを含めた全ブロックの配
置処理とクロックネット配線も含めて配線処理が一通り
終了した後のレイアウト結果および遅延解析用情報を入
力する入力手段と、全パスについて前記遅延解析用情報
で与えられたクロックサイクルにおける前記パスの遅延
時間余裕度を求める遅延解析手段と、前記遅延解析手段
により求められた前記各パスの遅延時間余裕度のうち最
悪の遅延時間余裕度を持つワ−ストケ−スパスを検出す
るワ−ストケ−スパス検出手段と、前記ワ−ストケ−ス
パス検出手段によって検出された前記ワ−ストケ−スパ
スの次段のパスの中で最悪の遅延時間余裕度を持つ2次
ワ−ストケ−スパスの遅延時間余裕度と前記ワ−ストケ
−スパス検出手段によって検出された前記ワ−ストケ−
スパスの遅延時間余裕度との差をクロックスキュウ調整
時間として求めるクロックスキュウ調整時間抽出手段
と、前記クロックスキュウ調整時間抽出手段により求め
られた前記クロックスキュウ調整時間の範囲内で前記ワ
−ストケ−スパスの終点側の前記フリップフロップのク
ロック入力端子につながる前記クロックネットに対して
付加すべき最適な遅延時間を求める付加遅延時間算出手
段と、前記付加遅延時間算出手段により求められた前記
遅延時間に最も近い遅延時間を有する前記遅延時間調整
用アートワークパターンを選択して前記ワーストケース
パスの終点側の前記フリップフロップの前記付与設置領
域に設置する遅延時間調整用アートワークパターン設置
手段と、前記遅延時間調整用アートワークパターン設置
手段による前記遅延時間調整用アートワークパターンの
設置によってクロックスキュウに変更の生じたパスに関
して遅延時間余裕度を再計算し遅延解析結果を更新する
遅延解析結果更新手段と、前記遅延解析結果更新手段に
よって更新された前記ワーストケースパスの前記遅延時
間余裕度以下の遅延時間余裕度を有する他のパスがあれ
ば前記ワ−ストケ−スパス検出手段を再起動する制御手
段と、前記各手段実行後の前記前記付与設置領域を含め
たレイアウト結果を出力する出力手段とを有することを
特徴とする。
A first invention is an LSI,
In a clock wiring design method in a layout design such as a PWB, a flip-flop having a plurality of types of delay time adjusting artwork pattern provision installation areas for adding delay times to clock input terminals is provided, and connection information is provided. And an input means for inputting the layout result and the delay analysis information after the completion of the wiring processing including the layout processing of all the blocks including the flip-flop and the artwork pattern information for delay time adjustment and the clock net wiring. A delay analysis unit that determines the delay time margin of the path in the clock cycle given by the delay analysis information for all paths, and the worst of the delay time margins of the paths calculated by the delay analysis unit. A waste case for detecting a waste case path having a delay time margin And the delay time margin of the secondary waste case path having the worst delay time margin among the paths of the next stage of the waste case path detected by the waste case path detecting means and the waste case path detecting means. And the waste case detected by the waste case path detecting means.
A clock skew adjusting time extracting means for obtaining a difference between the delay time margin of the spat as a clock skew adjusting time, and the waste case path within the range of the clock skew adjusting time obtained by the clock skew adjusting time extracting means. Of additional delay time calculating means for calculating an optimum delay time to be added to the clock net connected to the clock input terminal of the flip-flop on the end side of A delay time adjusting artwork pattern setting means for selecting the delay time adjusting artwork pattern having a close delay time and setting it in the given setting area of the flip-flop on the end side of the worst case path; and the delay time. The delay due to the adjustment artwork pattern setting means Delay analysis result updating means for recalculating the delay time margin and updating the delay analysis result for the path whose clock skew has changed due to the installation of the inter-work adjustment artwork pattern, and the delay analysis result updating means for updating the delay analysis result updating means. Control means for restarting the worst case path detection means if there is another path having a delay time margin less than or equal to the delay time margin of the worst case path, and the provision installation area after execution of each means. And output means for outputting a layout result including

【0008】[0008]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.

【0009】図1は本発明の一実施例であるクロック配
線設計方式のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a clock wiring design system which is an embodiment of the present invention.

【0010】本発明のクロック配線設計方式では、フリ
ップフロップが図2(c)のフリップフロップ例217 に
示すように、本来のクロック入力端子位置(図ではC
K’)と自動配線の対象となるクロック入力端子位置
(図ではCK)とをディフォルトのアートワークパター
ン例218 のようなアートワークパターンで接続するよう
な構成になっている。特に、設置アートワークパターン
の指定が無い場合には、すべてのフリップフロップのク
ロック入力端子にディフォルトのアートワークパターン
例218 が設置されている。アートワークパターンには、
他に図2(d)の例219 〜222 …に示すような付加遅延
時間を持つ複数のパターンが存在し、任意に選択設置可
能となっている。
In the clock wiring designing method of the present invention, the flip-flop has the original clock input terminal position (C in the figure) as shown in the flip-flop example 217 of FIG. 2C.
K ') and the clock input terminal position (CK in the figure) that is the target of automatic wiring are connected by an artwork pattern such as the default artwork pattern example 218. In particular, if no installation artwork pattern is specified, the default artwork pattern example 218 is installed on the clock input terminals of all flip-flops. Artwork patterns include
In addition, there are a plurality of patterns having additional delay times as shown in the examples 219 to 222 in FIG. 2D, which can be arbitrarily selected and installed.

【0011】本発明のクロック配線設計方式では、図4
(a)のようなレイアウト終了後にまずそのレイアウト
結果情報111 および論理接続情報110 、遅延時間調整用
アートワークパターン情報112 、遅延解析用情報113 を
図1に示す入力手段102 が入力する。次に、遅延解析手
段103 により、例ではクロックサイクル10nsで網羅
的遅延解析を行ない全パスの遅延時間余裕度を求める。
その解析結果に基づいてワ−ストケ−スパス検出手段10
4 が遅延時間余裕度0nsの最悪の遅延時間余裕度を持
つパス215 をワ−ストケ−スパスとして検出する。次
に、クロックスキュウ調整時間抽出手段105 によって、
ワ−ストケ−スパス215 の次段のパス(ここでは、パス
216 のみ)の中で最悪の遅延時間余裕度を持つ2次ワ−
ストケ−スパス216 の遅延時間余裕度4nsと、ワ−ス
トケ−スパス215 の遅延時間余裕度0nsとの差4ns
がクロックスキュウ調整時間として抽出される。次に、
付加遅延時間算出手段106 によって、クロックスキュウ
調整時間4nsの範囲でワ−ストケ−スパス215 の終点
側フリップフロップ205 のクロック入力端子CK2 につな
がるクロックネット213 に付加すべき遅延時間が例では
4nsの1/2の2nsとして算出される。
According to the clock wiring design method of the present invention, FIG.
After the layout as shown in (a) is completed, the layout result information 111, the logical connection information 110, the delay time adjustment artwork pattern information 112, and the delay analysis information 113 are first inputted by the input means 102 shown in FIG. Next, the delay analysis means 103 performs an exhaustive delay analysis in a clock cycle of 10 ns, for example, to obtain delay time margins of all paths.
Based on the analysis result, the worst case path detecting means 10
4 detects the path 215 having the worst delay time margin of 0 ns as the worst case path. Next, by the clock skew adjustment time extraction means 105,
The next stage of the waste case path 215 (here, the path
216 only) with the worst delay time margin
The difference between the delay time margin of 4 ns of the stock case path 216 and the delay time margin of 0 ns of the waste case path 215 is 4 ns.
Is extracted as the clock skew adjustment time. next,
By the additional delay time calculating means 106, the delay time to be added to the clock net 213 connected to the clock input terminal CK2 of the end point side flip-flop 205 of the waste case path 215 within the range of the clock skew adjustment time 4 ns is 4 ns in the example of 4 ns. It is calculated as 2ns of / 2.

【0012】次に、遅延時間調整用アートワークパター
ン設置手段107 により、付加遅延時間2ns分の遅延時
間が付加されるように図2(d)に示すアートワークパ
ターン219 が選択され、クロック入力端子CK2 に図3
(e)のように設置される。ここで示されるクロックネ
ット213 の配線結果と選択設置されたアートワークパタ
ーン219 を併合した配線が、目的とするクロックサイク
ルを短くすることができるクロック配線の例である。
Next, the artwork pattern setting means 107 for delay time adjustment selects the artwork pattern 219 shown in FIG. 2D so that the additional delay time of 2 ns is added, and the clock input terminal is selected. Figure 3 on CK2
It is installed as shown in (e). The wiring obtained by merging the wiring result of the clock net 213 and the selectively installed artwork pattern 219 shown here is an example of the clock wiring capable of shortening the target clock cycle.

【0013】次に、遅延解析結果更新手段108 によっ
て、パス215 およびパス216 の遅延時間余裕度は更新さ
れ、ともに2nsとなる。この時点で、全パスの遅延時
間余裕度の最悪値(最小値)が2nsであったとする
と、クロックサイクルを8nsとしても、クロックスキ
ュウが緩衝となってフリップフロップ 205、 206の入力
端子H01 、H02 におけるデ−タの波形とフリップフロッ
プ204 〜206 の本来のクロック入力端子CK1 ’〜CK3 ’
におけるクロックの波形を示すタイミングチャートは図
3(f)に示すようになり回路は正常動作することがわ
かる。
Next, the delay analysis result updating means 108 updates the delay time margins of the paths 215 and 216 to both become 2 ns. At this point, if the worst value (minimum value) of the delay time margins of all paths is 2 ns, the clock skew becomes a buffer even if the clock cycle is 8 ns, and the input terminals H01 and H02 of the flip-flops 205 and 206 are H02. Waveforms of the data and the original clock input terminals CK1 'to CK3' of the flip-flops 204 to 206
The timing chart showing the waveform of the clock in FIG. 3 is as shown in FIG. 3 (f), which shows that the circuit operates normally.

【0014】もし、全パスの中で遅延時間余裕度の最悪
値(最小値)が2ns以下のものがあった場合は、制御
手段101を介して再びワ−ストケ−スパス検出手段10
4 に戻し、そのワ−ストケ−スパスについて以上の処理
を繰り返し、その遅延時間余裕度を大きくしていく。こ
のようにして、ワ−ストケ−スパスの遅延時間余裕度分
クロックサイクルを短くすることができるようになる。
If the worst value (minimum value) of the delay time margin among all paths is 2 ns or less, the worst case path detecting means 10 is again passed through the control means 101.
Return to 4 and repeat the above processing for that waste case path to increase the delay time margin. In this way, the clock cycle can be shortened by the delay time margin of the worst case path.

【0015】尚、図1における制御手段101 は、全体の
各手段の制御を行い、出力手段109は最終的なレイアウ
ト結果を出力する。
The control means 101 in FIG. 1 controls all the means, and the output means 109 outputs the final layout result.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、クロック
スキュウをクロックネットに意図的に利用することによ
り、ワ−ストケ−スパスの遅延時間よりもクロックサイ
クルを短くする(性能を改善する)ことができるという
効果がある。すなわち、回路の高速化に伴うクロックサ
イクルの短縮に効果がある。
As described above, the present invention intentionally uses the clock skew for the clock net to shorten the clock cycle (improve the performance) as compared with the delay time of the worst case path. There is an effect that can be. That is, it is effective in shortening the clock cycle as the circuit speed increases.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例であるクロック配線設計方式
のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a clock wiring design method according to an embodiment of the present invention.

【図2】本実施例のフリップフロップ構成例とアートワ
ークパターン例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a flip-flop configuration example and an artwork pattern example of the present embodiment.

【図3】本実施例の回路構成例とタイムチャートであ
る。
FIG. 3 is a circuit configuration example and a time chart of the present embodiment.

【図4】従来の回路構成例とタイムチャートである。FIG. 4 is a conventional circuit configuration example and a time chart.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 制御手段 102 入力手段 103 遅延解析手段 104 ワ−ストケ−スパス検出手段 105 クロックスキュウ調整時間抽出手段 106 付加遅延時間算出手段 107 遅延時間調整用アートワークパターン設置手
段 108 遅延解析結果更新手段 109 出力手段 110 論理接続情報 111 レイアウト結果情報 112 遅延時間調整用アートワークパターン情報 113 遅延解析用情報
101 control means 102 input means 103 delay analysis means 104 worst case path detection means 105 clock skew adjustment time extraction means 106 additional delay time calculation means 107 delay time adjustment artwork pattern setting means 108 delay analysis result updating means 109 output means 110 logical connection information 111 layout result information 112 delay time adjustment artwork pattern information 113 delay analysis information

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】LSI、PWB等のレイアウト設計におけ
るクロック配線設計方式において、クロック入力端子に
対して遅延時間を付加する予め用意された複数種類の遅
延時間調整用アートワークパターンの付与設置領域を有
するフリップフロップを備え、接続情報と遅延時間調整
用アートワークパターン情報と前記フリップフロップを
含めた全ブロックの配置処理とクロックネット配線も含
めて配線処理が一通り終了した後のレイアウト結果およ
び遅延解析用情報を入力する入力手段と、全パスについ
て前記遅延解析用情報で与えられたクロックサイクルに
おける前記パスの遅延時間余裕度を求める遅延解析手段
と、前記遅延解析手段により求められた前記各パスの遅
延時間余裕度のうち最悪の遅延時間余裕度を持つワ−ス
トケ−スパスを検出するワ−ストケ−スパス検出手段
と、前記ワ−ストケ−スパス検出手段によって検出され
た前記ワ−ストケ−スパスの次段のパスの中で最悪の遅
延時間余裕度を持つ2次ワ−ストケ−スパスの遅延時間
余裕度と前記ワ−ストケ−スパス検出手段によって検出
された前記ワ−ストケ−スパスの遅延時間余裕度との差
をクロックスキュウ調整時間として求めるクロックスキ
ュウ調整時間抽出手段と、前記クロックスキュウ調整時
間抽出手段により求められた前記クロックスキュウ調整
時間の範囲内で前記ワ−ストケ−スパスの終点側の前記
フリップフロップのクロック入力端子につながる前記ク
ロックネットに対して付加すべき最適な遅延時間を求め
る付加遅延時間算出手段と、前記付加遅延時間算出手段
により求められた前記遅延時間に最も近い遅延時間を有
する前記遅延時間調整用アートワークパターンを選択し
て前記ワーストケースパスの終点側の前記フリップフロ
ップの前記付与設置領域に設置する遅延時間調整用アー
トワークパターン設置手段と、前記遅延時間調整用アー
トワークパターン設置手段による前記遅延時間調整用ア
ートワークパターンの設置によってクロックスキュウに
変更の生じたパスに関して遅延時間余裕度を再計算し遅
延解析結果を更新する遅延解析結果更新手段と、前記遅
延解析結果更新手段によって更新された前記ワーストケ
ースパスの前記遅延時間余裕度以下の遅延時間余裕度を
有する他のパスがあれば前記ワ−ストケ−スパス検出手
段を再起動する制御手段と、前記各手段実行後の前記前
記付与設置領域を含めたレイアウト結果を出力する出力
手段とを有することを特徴とするクロック配線設計方
式。
1. A clock wiring design method in a layout design of an LSI, a PWB, or the like, which has an installation area for a plurality of types of delay time adjusting artwork patterns prepared in advance for adding a delay time to a clock input terminal. Equipped with flip-flops, connection information, artwork pattern information for delay time adjustment, layout processing of all blocks including the flip-flops, and layout result after completion of wiring processing including clock net wiring and delay analysis Input means for inputting information, delay analysis means for obtaining a delay time margin of the path in a clock cycle given by the delay analysis information for all paths, and delay of each path obtained by the delay analysis means The worst case path having the worst delay time margin among the time margins is detected. And a second waste case having the worst delay time margin among the paths next to the waste case path detected by the waste case path detecting means. Clock skew adjusting time extracting means for obtaining as a clock skew adjusting time the difference between the delay time allowance of the waste path and the delay time allowance of the waste case path detected by the waste case path detecting means; and the clock skew. The optimum delay time to be added to the clock net connected to the clock input terminal of the flip-flop on the end side of the waste case path within the range of the clock skew adjustment time obtained by the skew adjustment time extraction means. And an additional delay time calculating means for obtaining the maximum delay time calculated by the additional delay time calculating means. A delay time adjusting artwork pattern having a certain delay time, and setting the delay time adjusting artwork pattern on the end point side of the worst case path in the given installation area of the flip-flop; Delay analysis result updating means for recalculating the delay time margin and updating the delay analysis result for the path whose clock skew has changed due to the setting of the delay time adjusting artwork pattern by the adjusting artwork pattern setting means; Control means for restarting the worst case path detection means if there is another path having a delay time margin less than the delay time margin of the worst case path updated by the delay analysis result updating means; An output device for outputting the layout result including the provision installation area after executing each means. A clock wiring design method characterized by having steps.
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