JPH0520706A - Control method for optical spot position and optical recording/reproducing device - Google Patents

Control method for optical spot position and optical recording/reproducing device

Info

Publication number
JPH0520706A
JPH0520706A JP16965991A JP16965991A JPH0520706A JP H0520706 A JPH0520706 A JP H0520706A JP 16965991 A JP16965991 A JP 16965991A JP 16965991 A JP16965991 A JP 16965991A JP H0520706 A JPH0520706 A JP H0520706A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
recording
light
period
gain
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP16965991A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2903782B2 (en
Inventor
Atsushi Saito
温 斎藤
Takeshi Maeda
武志 前田
Hisataka Sugiyama
久貴 杉山
Masahiro Takasago
昌弘 高砂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP16965991A priority Critical patent/JP2903782B2/en
Publication of JPH0520706A publication Critical patent/JPH0520706A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2903782B2 publication Critical patent/JP2903782B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To attain the stable position control for a light spot position control system of an optical disk file and to reduce the gain variation and the offset in a recording/reproducing state for especially in the case where the mark length (pit edge) is recorded on a boring type recording medium. CONSTITUTION:A circuit system which produces a tracking control signal is provided with a means which varies the gains needed for conversion of a detecting current into a voltage signal with irradiation of the recording and reproducing beams by making use of the non-linear current/voltage conversion characteristic, a means which holds the peak level of the reflected light, and the means 121, 125 and 127 masking the period before and after the irradiation of a deleting pulse that invalidates the existing data including the irradiation period of an optical pulse and holding a level set right before the masking period for a servo control signal.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクファイル装
置のトラッキング方法に係り、特に穴開け形の光ディス
ク装置のトラッキング特性の安定化に効果的な方法、お
よび光学的記録再生装置である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a tracking method for an optical disk file device, and more particularly to a method effective for stabilizing the tracking characteristics of a holed optical disk device, and an optical recording / reproducing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスクファイル装置の高密度化、高
信頼化にとって、記録再生のための光スポットのディス
ク上の位置を精度良く制御することは非常に重要であ
る。光ディスク装置におけるトラッキングの方式として
は、連続トラック案内溝を1ビームで走査し、該案内溝
からの回折光を2分割型の光検出器で受光し、両者の差
が零になるようにアクチュエータを駆動する方式が知ら
れている。この方式は、プッシュプル方式と呼ばれてい
る。また、再生専用型の光ディスクであるコンパクトデ
ィスク装置では3ビームによるトラッキング方式が使わ
れている。この方式は、データ再生のための主ビームの
前後それぞれに副ビームをデータトラックに対して互い
に逆方向に変位させて配置し、データピット部とノーデ
ータ部とで反射光量に差が生じることを用いて、2つの
副ビームのそれぞれからの反射光を受光し、両者の差が
零になるようにアクチュエータを駆動する方式である。
トラッキング制御と同様にディスクの上下振れに対する
追従、つまり自動焦点制御に関しても原理的には、複数
の光検出器で受光した光量の差が零になるように制御す
る方式が一般的である。
2. Description of the Related Art It is very important to control the position of a light spot for recording / reproducing on a disc with high precision in order to achieve high density and high reliability of an optical disc file device. As a tracking method in an optical disk device, a continuous track guide groove is scanned with one beam, and the diffracted light from the guide groove is received by a two-division type photodetector, and an actuator is used so that the difference between the two becomes zero. A driving method is known. This method is called a push-pull method. Further, in a compact disc device which is a read-only type optical disc, a tracking method using three beams is used. In this method, the sub-beams are arranged before and after the main beam for data reproduction by displacing the sub-beams in opposite directions with respect to the data track, and there is a difference in reflected light amount between the data pit portion and the no-data portion. This is a system in which the reflected light from each of the two sub-beams is received and the actuator is driven so that the difference between the two is zero.
In the same way as the tracking control, also in the tracking of the vertical shake of the disk, that is, in the automatic focus control, in principle, a method of controlling so that the difference in the amount of light received by a plurality of photodetectors becomes zero is general.

【0003】以上のようなスポットの位置制御を精度良
く実行するためには、各種の動作モード、例えば記録モ
ードや再生モードにおけるデータパターンの影響を出来
るかぎり小さく抑え、さらに回路系やメカ系で生じる偏
り(オフセット)を少なくすることが必要である。特に
ピットの有無によるディスク反射率の変化が大きな記録
媒体は、データ再生の点からはS/Nが大きくとれるた
め有利であるが、トラッキング制御や自動焦点制御に関
しては、ゲイン変動が大きくなるため不利になることが
ある。基本的にはトラッキング制御も自動焦点制御もサ
ーボ系としては同様に議論できるため、ここではトラッ
キング制御を例にして従来技術について説明する。
In order to perform the above-described spot position control with high accuracy, the influence of the data pattern in various operation modes, for example, the recording mode and the reproduction mode is suppressed as much as possible, and further, the circuit system or the mechanical system is used. It is necessary to reduce the bias (offset). In particular, a recording medium in which the disc reflectance changes greatly depending on the presence or absence of pits is advantageous from the viewpoint of data reproduction because the S / N ratio can be large, but it is disadvantageous in tracking control and automatic focus control because the gain variation becomes large. May become. Basically, the tracking control and the automatic focus control can be discussed in the same way as the servo system, and therefore the conventional technique will be described here by taking the tracking control as an example.

【0004】動作モードの違いによって生じるゲイン変
動に対しては、記録モードと再生モードとで各々一律に
アンプ系のゲインを変えることで、記録光照射時にもア
ンプ系が飽和しないようにする方法が採られている。特
開昭52−80802号記載の光スポット位置制御手段
としては、制御回路のゲインを再生時と記録時とで切り
替える方法が提案されている。
With respect to the gain fluctuation caused by the difference in the operation mode, there is a method of uniformly changing the gain of the amplifier system in each of the recording mode and the reproducing mode so that the amplifier system is not saturated even when the recording light is irradiated. Has been taken. As a light spot position control means described in JP-A-52-80802, a method of switching the gain of a control circuit between reproduction and recording has been proposed.

【0005】また、ゲイン変動を低減する方法として、
特開昭54−115883号記載の方法では、再生時に
はピークホールド、記録時にはボトムホールドを用いる
ことにより、常に未記録側のレベルを保持することで、
ゲインの安定化を図っている。
Further, as a method of reducing the gain fluctuation,
In the method described in Japanese Patent Laid-Open No. 54-115883, the peak hold is used during reproduction and the bottom hold is used during recording, so that the level on the unrecorded side is always maintained.
We are trying to stabilize the gain.

【0006】データパターンの違いによって生じるゲイ
ン変動に対しては、ランダムなパターンに対してサーボ
系のゲインを設定し、アンプ系のダイナミックレンジの
範囲で動作させるような方法が一般的に採られている。
Regarding the gain variation caused by the difference in the data pattern, a method of setting the gain of the servo system for a random pattern and operating the gain within the dynamic range of the amplifier system is generally adopted. There is.

【0007】回路系やメカ系で生じるオフセットについ
ては、低オフセット、低ドリフトのアンプの採用や、装
置製造時でオフセットを零に合わせ込むなどの方策が採
られている。
Regarding an offset generated in a circuit system or a mechanical system, measures such as adoption of a low offset and low drift amplifier, and adjusting the offset to zero at the time of manufacturing the device have been adopted.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】従来のトラッキング制
御方式では、広範囲のゲイン変動や、記録時に記録膜の
物性変化による影響を除くことは困難であった。特にピ
ットエッジ記録を穴開け型の記録媒体に適用する場合に
は、動作モードの違いによるゲイン変動に加え、データ
パターンの疎密によるゲイン変動が大きい。さらには、
記録膜が溶融過程にあるときのトラック案内溝からの回
折光分布の変動が大きく影響するため、トラックオフセ
ットを小さく抑えるのが困難になる。この影響は適用す
る変調方式で最も長いピットと最も短いギャップとが交
互に繰り返すようなデータパターンの場合が特に顕著で
ある。また、再生時にピークホールド、記録時にボトム
ホールドを用いる場合、各動作モードにおける切り替え
が必要であり、且つ回路構成が複雑化する。
In the conventional tracking control system, it was difficult to eliminate the effects of wide-range gain fluctuations and changes in the physical properties of the recording film during recording. In particular, when the pit edge recording is applied to a punching type recording medium, in addition to the gain variation due to the difference in operation mode, the gain variation due to the density of the data pattern is large. Moreover,
Since the fluctuation of the diffracted light distribution from the track guide groove when the recording film is in the melting process has a great influence, it becomes difficult to keep the track offset small. This effect is particularly remarkable in the case of a data pattern in which the longest pit and the shortest gap are alternately repeated in the applied modulation method. Further, when peak hold is used during reproduction and bottom hold is used during recording, switching in each operation mode is necessary and the circuit configuration becomes complicated.

【0009】本発明が解決しようとする課題は、ゲイン
変動やオフセットの影響を受けやすい長穴記録において
も、それらの影響を低減する方式を提案することであ
る。本発明では、対象としては穴開け型記録膜にピット
エッジ記録方式を用いた場合を例として説明している
が、他の記録膜や記録方式に対しても広範に適用できる
方式である。
The problem to be solved by the present invention is to propose a method of reducing the influence of gain variation and offset even in long-hole recording which is easily influenced. In the present invention, the case where the pit edge recording method is used for the perforated recording film has been described as an example, but the method is widely applicable to other recording films and recording methods.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】記録時においても安定な
光スポット位置制御を行なうには、記録光パルスの反射
光レベルの尖頭値(高レベル側)を基に誤差信号を生成
し制御する方法が有効である。
In order to perform stable light spot position control even during recording, an error signal is generated and controlled based on the peak value (high level side) of the reflected light level of the recording light pulse. The method is effective.

【0011】課題を解決する手段としては、トラッキン
グのアンプ系にダイオードの非線形電流電圧特性を利用
して、再生光照射時と記録光照射時とで検出電流を電圧
に変換するための抵抗値を可変にする回路と、再生時の
ゲイン低下を回復させ、且つ長穴記録時の反射光の尖頭
レベルをホールドするためのピークホールド回路と、さ
らにデリート時にデリート光照射時とその前後の反射光
信号は見ないようにするためのデリートマスク回路とを
用いることにより、ゲイン変化とオフセットの少ない安
定したトラッキング制御が実現できる。
As a means for solving the problem, a nonlinear current-voltage characteristic of a diode is used in a tracking amplifier system, and a resistance value for converting a detection current into a voltage during reproduction light irradiation and during recording light irradiation is set. A variable circuit, a peak hold circuit for recovering the gain reduction during playback and holding the peak level of the reflected light during slot recording, and the reflected light before and after the delete light irradiation during delete By using a delete mask circuit for not seeing the signal, stable tracking control with little gain change and offset can be realized.

【0012】ダイオードによる電流電圧変換抵抗可変回
路は、再生や記録モード毎にゲインを一律に変える方式
に比べて、検出電流の大小によって自動的にゲインが選
定されるため、特別にモード毎の切り替えが不要である
ほか、記録モード中の記録パルス光の非照射期間、すな
わち再生光照射期間でもゲインが低下することが無い。
さらに、再生光照射時のゲインが大きく採れるため回路
系のオフセットの許容値の拡大と、記録光照射時のゲイ
ンは小さくできるため回路系の飽和の回避とを両立する
ことができる。
In the current-voltage conversion resistance variable circuit using a diode, the gain is automatically selected according to the magnitude of the detected current, as compared with the method in which the gain is uniformly changed for each reproduction or recording mode, and therefore the switching for each mode is special. Is unnecessary, and the gain does not decrease even during the recording pulse light non-irradiation period during the recording mode, that is, the reproduction light irradiation period.
Further, since the gain when the reproducing light is irradiated is large, the allowable value of the offset of the circuit system is expanded, and the gain when the recording light is irradiated can be made small, so that the saturation of the circuit system can be avoided.

【0013】[0013]

【作用】ダイオードによる電流電圧変換可変回路は、照
射パワーの低い再生光照射範囲での変換利得抵抗の値が
大きく設定できるため、アンプ系の回路オフセットの許
容値の拡大を図ることができる。且つ、照射パワーの高
い記録光照射範囲では自動的に変換利得抵抗の値が小さ
くできるため、アンプ系の飽和を防ぐことができる。ま
た、再生モードと記録モードとで一律にゲインを切り替
える方式では、記録モード内で記録パルス光が照射され
ていない再生光照射期間でのレベルが極端に減少する
が、本方式では動作モードの切り替えではなく検出電流
の大きさでゲインが変化するため、このような問題はな
い。
In the variable current-voltage conversion circuit using the diode, the value of the conversion gain resistance can be set to a large value in the reproduction light irradiation range where the irradiation power is low, so that the allowable value of the circuit offset of the amplifier system can be expanded. In addition, since the value of the conversion gain resistance can be automatically reduced in the recording light irradiation range of high irradiation power, the saturation of the amplifier system can be prevented. Further, in the method in which the gain is uniformly switched between the reproduction mode and the recording mode, the level is extremely reduced in the reproduction light irradiation period in which the recording pulse light is not irradiated in the recording mode, but in this method, the operation mode is switched. However, since the gain changes depending on the magnitude of the detected current, this problem does not occur.

【0014】ピークホールド回路は、再生時のピットが
存在する場所に対するゲイン低下を、ピット間のギャッ
プ部(未記録部)のレベルを保持することで、抑圧する
ことができる。また、穴開け型記録膜では記録膜が溶融
して破れていく過程では案内溝からの回折光の分布に偏
りが出やすい。このため、記録膜がまだ破れ過程に入っ
ていない膨らみ過程での反射光レベルを保持して用いる
ことで、トラックオフセットへの影響が低減できる。
The peak hold circuit can suppress a decrease in gain for a place where a pit exists during reproduction by holding the level of a gap portion (unrecorded portion) between pits. Further, in the perforated recording film, the distribution of the diffracted light from the guide groove tends to be biased in the process of melting and breaking the recording film. Therefore, the influence on the track offset can be reduced by holding and using the reflected light level in the bulging process in which the recording film has not yet entered the tearing process.

【0015】デリートは未記録部上、ないしは既記録部
上に或るパターン(デリートパターン)を上書きするこ
とで、該既記録データを無効にする操作である。したが
って、追記型光ディスクに特有な機能である。このよう
にデリートは、既に記録されているデータパターンによ
って反射光信号が変動すること、およびサーボの動作は
再生モードで実施する必要があることから、デリートパ
ルス光照射時とその前後はディスクからの反射光を見な
いようにするのが望ましい。デリートマスクとは、該期
間に関してはデリートマスク直前までの信号レベルをホ
ールドする機能である。これにより、トラックオフセッ
トの増加を防ぐこと、サーボゲインの安定化を図ること
ができる。
The delete is an operation of invalidating the recorded data by overwriting a certain pattern (delete pattern) on the unrecorded portion or the recorded portion. Therefore, it is a function peculiar to the write-once optical disc. In this way, since the reflected light signal fluctuates depending on the data pattern that has already been recorded and the servo operation needs to be performed in the reproduction mode in this way, the deletion pulse light irradiation and before and after the deletion pulse light irradiation from the disc It is desirable not to see the reflected light. The delete mask is a function of holding the signal level until immediately before the delete mask in the period. This makes it possible to prevent an increase in track offset and stabilize the servo gain.

【0016】[0016]

【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。図
1は本発明のトラッキング回路の一例の構成図である。
プッシュプル方式によるトラッキングでは、ディスク案
内溝からの回折光分布を分割型の光検出器で受光し、各
々の光検出器で受光される光量が等しくなるようにトラ
ッキングのためのアクチュエータを動作させ、光スポッ
トを常に案内溝上、ないしは案内溝間に位置させる。3
スポット方式によるトラッキングでも基本的には、プッ
シュプル方式と同様な動作となる。すなわち、主ビーム
の前後に位置する2つの副ビームのそれぞれからの反射
光を光検出器で受光し、各々の光量が等しくなるように
制御する。図1において、TR−AとTR−Bは、各々
の受光量を等しくすべき2系列のトラッキング信号であ
る。説明の都合上、TR−A側の信号系列について本回
路の動作を説明する。光検出器101で受光されたディ
スクからの反射光はここで電流に変換される。一般に光
検出器にはPIN型のフォトダイオードが使用され、光
量に比例した電流が発生する。この検出電流はアンプ1
03で電圧に変換される。ここで、抵抗105は再生モ
ードでの電流電圧変換抵抗であり、抵抗107は記録モ
ードで抵抗105と並列接続になることによる電流電圧
変換抵抗である。ダイオード109は順方向電流の大き
さにより順方向電圧が変化する、いわゆるダイオードの
非線形特性を用いることで、電流電圧変換抵抗の値を制
御するためのものである。この非線形特性については、
後述する。
EXAMPLES Examples of the present invention will be described below. FIG. 1 is a block diagram of an example of a tracking circuit of the present invention.
In tracking by the push-pull method, a split type photodetector receives the diffracted light distribution from the disc guide groove, and the actuator for tracking is operated so that the amount of light received by each photodetector becomes equal, The light spot is always located on or between the guide grooves. Three
The tracking by the spot method is basically the same as the push-pull method. That is, the reflected light from each of the two sub-beams positioned before and after the main beam is received by the photodetector, and the light amounts are controlled to be equal. In FIG. 1, TR-A and TR-B are two series of tracking signals whose light receiving amounts should be equal. For convenience of explanation, the operation of this circuit will be described for the signal sequence on the TR-A side. The reflected light from the disc received by the photodetector 101 is converted into an electric current here. Generally, a PIN photodiode is used for the photodetector, and a current proportional to the amount of light is generated. This detection current is the amplifier 1
It is converted into a voltage at 03. Here, the resistor 105 is a current-voltage conversion resistor in the reproduction mode, and the resistor 107 is a current-voltage conversion resistor that is connected in parallel with the resistor 105 in the recording mode. The diode 109 is for controlling the value of the current-voltage conversion resistance by using the so-called non-linear characteristic of the diode, in which the forward voltage changes according to the magnitude of the forward current. For this nonlinear characteristic,
It will be described later.

【0017】トランジスタ111はピークホールド回路
の充電方向を定めるためのダイオードを構成している。
ここでトランジスタ140は、トランジスタ111、ト
ランジスタ112でのエミッタとベース間の電位差を相
殺するために予めアンプ103、アンプ104の基準電
圧にオフセットを加えるためのものである。したがっ
て、ペア特性の良いものを用い、さらに実装上も近接さ
せることにより、温度特性の均一性を確保することが必
要である。同様にダイオード109、110もTR−A
側とTR−B側に使用するものもペア特性の良いものを
使用し、回路系で生じるオフセットを極力小さくする必
要がある。抵抗113とコンデンサ115はピークホー
ルドのための時定数を決定するための素子である。通
常、アンプ103に演算増幅器を用いた場合、出力イン
ピーダンスは非常に小さく(数オーム)することができ
る。また、アンプ117は、入力インピーダンスを非常
に大きくするための効果を有し、これによりホールドの
時定数を概ね抵抗113とコンデンサ115の積で決め
ることができる。充電時定数はトランジスタ111の導
通抵抗とコンデンサ115の積で決定される。例えば、
トランジスタの導通抵抗を10Ω、コンデンサの静電容
量を1000pFとした場合は充電時定数は10nsと
なる。一方、放電次定数は抵抗113とコンデンサ11
5の積で決定される。例えば、抵抗値が1kΩ、コンデ
ンサの静電容量が1000pFの場合は放電時定数は1
μsとなる。アンプ117の出力はアンプ119に入力
され、適当なレベルに増幅される。図1では演算増幅器
による反転アンプの場合を例に示してあるが、信号の極
性などによっては非反転アンプを使用してもよい。
The transistor 111 constitutes a diode for determining the charging direction of the peak hold circuit.
Here, the transistor 140 is for adding an offset to the reference voltage of the amplifier 103 and the amplifier 104 in advance in order to cancel the potential difference between the emitter and the base of the transistor 111 and the transistor 112. Therefore, it is necessary to secure the uniformity of the temperature characteristics by using the one having a good pair characteristic and further bringing them close in mounting. Similarly, the diodes 109 and 110 are also TR-A.
It is necessary to use the one having good pair characteristics also for the side used for the TR side and the TR-B side, and to minimize the offset generated in the circuit system. The resistor 113 and the capacitor 115 are elements for determining a time constant for peak hold. Normally, when an operational amplifier is used as the amplifier 103, the output impedance can be made very small (several ohms). Further, the amplifier 117 has an effect of making the input impedance very large, and thus the hold time constant can be roughly determined by the product of the resistor 113 and the capacitor 115. The charging time constant is determined by the product of the conduction resistance of the transistor 111 and the capacitor 115. For example,
When the conduction resistance of the transistor is 10Ω and the capacitance of the capacitor is 1000 pF, the charging time constant is 10 ns. On the other hand, the discharge order constants are the resistance 113 and the capacitor 11
It is determined by the product of 5. For example, when the resistance value is 1 kΩ and the capacitance of the capacitor is 1000 pF, the discharge time constant is 1
μs. The output of the amplifier 117 is input to the amplifier 119 and amplified to an appropriate level. In FIG. 1, the case of an inverting amplifier using an operational amplifier is shown as an example, but a non-inverting amplifier may be used depending on the signal polarity and the like.

【0018】アナログスイッチ121は、デリートパタ
ーンを記録する場合に、デリートパターンの記録光の照
射期間を含む或る期間に対して、スイッチを開くことに
より、該期間ではデリート光の反射光の影響を感じない
ようにするためのものである。すなわち、デリート実施
時にはそれまでにどんなパターンが記録されているかは
不明なため、既記録パターンの違いによってデリートパ
ルス照射時の反射光のレベルは変動するため、トラッキ
ング系のゲイン変動やオフセットへの影響を抑えるため
にデリート期間の検出信号を使用しないようにしてい
る。以下の説明において、該期間をデリートマスク期間
と呼ぶことにする。該アナログスイッチは、デリートマ
スク期間は制御信号123により開放となり、それ以外
の期間では短絡する。デリートマスク直前の信号レベル
は抵抗125とコンデンサ127とで構成されるホール
ド回路により、該信号レベルが保持される。アンプ12
9は、電圧フォロワであり高い入力インピーダンスで受
けることにより時定数を抵抗125とコンデンサ127
で決定されるようにするためのものである。これにより
充電時定数はほぼ抵抗125とコンデンサ127の積で
決定され、放電時定数はアンプ129の入力インピーダ
ンスとコンデンサ127の積で決定される。
When the delete pattern is recorded, the analog switch 121 opens the switch for a certain period including the irradiation period of the record light of the delete pattern, so that the influence of the reflected light of the delete light is affected during the period. It's meant to prevent you from feeling it. In other words, when deleting is performed, it is unknown what pattern has been recorded up to that point, and the level of the reflected light during irradiation of the delete pulse varies depending on the recorded pattern.Therefore, it affects gain variation and offset of the tracking system. In order to suppress, the detection signal of the delete period is not used. In the following description, this period will be called a delete mask period. The analog switch is opened by the control signal 123 during the delete mask period and short-circuited during other periods. The signal level immediately before the delete mask is held by the hold circuit composed of the resistor 125 and the capacitor 127. Amplifier 12
Reference numeral 9 is a voltage follower, which receives a time constant with a high input impedance, and thus has a time constant of 125 and 125.
It is intended to be decided by. As a result, the charging time constant is substantially determined by the product of the resistor 125 and the capacitor 127, and the discharging time constant is determined by the product of the input impedance of the amplifier 129 and the capacitor 127.

【0019】デリートとは、未記録部ないしは既に何ら
かのデータパターンがピットの形で記録されている上
に、或る周期でパターンを上書きしていくことで、当該
セクタの情報を無効にする操作のことである。デリート
パターンの条件としては、デリート実施後には、当該セ
クタがデリートされたセクタであると必ず判定されるこ
と(未検出が生じないこと)、データのエラー訂正コー
ドによっても元のデータ列が復元できないこと、サーボ
特性に影響が出ないパターンであることなどが挙げられ
る。2−7変調によるピットエッジ記録方式を用いてピ
ットの前端、および後端をそれぞれデータの”1”に対
応させる場合には、データパターン中に存在する最も長
いパターン(4T)よりも長いデリートマークを、エラ
ー訂正コードによっても訂正不可能な周期で繰り返すよ
うなパターンが適当である。具体例としては、デリート
マーク長を8Tとし、これを周期64Tで繰り返すパタ
ーンが挙げられる。但し、ここでTはデータ1ビットの
時間間隔である。
The delete is an operation of invalidating the information of the sector by overwriting the pattern in a certain period in addition to the unrecorded portion or some data pattern already recorded in the form of pits. That is. As a condition of the delete pattern, after the delete is performed, it is always determined that the sector is a deleted sector (no undetection occurs), and the original data string cannot be restored even with the error correction code of the data. That is, the pattern does not affect the servo characteristics. When the pit edge recording method by 2-7 modulation is used to associate the front end and the rear end of the pit with data "1", respectively, a delete mark longer than the longest pattern (4T) existing in the data pattern. A pattern that repeats with a cycle that cannot be corrected by the error correction code is suitable. As a specific example, there is a pattern in which the delete mark length is 8T and this is repeated in a cycle of 64T. Here, T is a time interval of 1 bit of data.

【0020】図1に記載した回路の後段には、TR−A
とTR−Bの両チャネルの信号の差信号を生成するため
の差動アンプ、アクチュエータのメカ特性を補償するた
めの位相補償回路、アクチェータ駆動のためのドライバ
回路、さらにはトラックジャンプのためのジャンプパル
ス印加回路などが付加される。また、ディスクの反射率
の変動の影響を抑圧するために、TR−A側とTR−B
側の和信号を生成し、該和信号により、差信号のレベル
を規格化するゲイン制御回路を設けた方式が考えられ
る。本発明の意図からは、差信号、ないしは和信号の生
成回路以降は従来方式でよいため、詳細な説明は省い
た。
A TR-A is provided after the circuit shown in FIG.
Amplifier for generating a difference signal between the signals of both channels of TR and TR-B, a phase compensation circuit for compensating the mechanical characteristics of the actuator, a driver circuit for driving the actuator, and a jump for a track jump. A pulse applying circuit and the like are added. Further, in order to suppress the influence of the fluctuation of the reflectance of the disc, the TR-A side and the TR-B side are
A method is conceivable in which a gain control circuit for generating a side sum signal and standardizing the level of the difference signal by the sum signal is provided. For the purpose of the present invention, the conventional method may be used after the generation circuit of the difference signal or the sum signal, and thus the detailed description is omitted.

【0021】図2は、未記録状態のディスク記録膜にピ
ットエッジ記録方式により、密なデータパターンを記録
する場合の光パワーとTR−AとTR−Bの信号波形、
および穴開け形記録膜の記録過程を示した図である。ピ
ットエッジ記録方式はピットの端をデータに対応させる
記録方式であり、同一分解能の光スポットでも丸穴の中
心にデータを対応させるピットセンター記録方式に比べ
て、より高密度化できる方式である。図2において、変
調方式として2−7変調を用いた場合を考えると、最も
記録パワー照射期間がデュティからみて大きいのは4T
の期間記録光パルスを照射して、1.5Tの期間は再生
パワーに戻るパターンの繰返しである。記録パルス幅に
関してデータ4T長そのものを用いた場合は、デュティ
は約72%になる。一般には、記録パルス幅よりも、そ
れによって形成されるピット長の方が長くなるため、或
る幅だけ記録パルス幅を短くして記録することが行なわ
れる。以下の説明では、このような密データパターンを
最密データパターンと呼ぶことにする。図2において、
記録パルスを照射すると両チャネルの信号波形はそれぞ
れA1、B1のレベルに達する。この期間は記録膜の膨
らみ過程にあり、記録膜自身はまだ破れていない。この
ため、記録膜の反射率は未記録状態とほぼ同じ値にある
ため、再生パワーと記録パワーの比の分だけ反射光レベ
ルは変化する。また、この期間はデータパターン長には
あまり依存せず、図2で示した記録パルス幅でもほぼ同
様の時間だけこの膨らみ過程が存在する。さらに、この
期間では光スポットの収差による形状の歪や、トラック
オフセットの影響が現れにくいため、尖頭値A1とB1
の差はあまり大きくない。次に記録膜に十分な熱が与え
られる期間に入ると記録膜は破れ始める。この期間は記
録パルス幅が長いパターンほど長い期間になる。また、
記録パルスの間の休止期間は再生パワー照射の状態にな
る。この再生期間では記録膜の状態変化に伴うレベル変
動はない。記録膜の溶融期間は、記録膜が溶融状態にあ
るため各々のチャネルでの反射光レベルには差異が生じ
やすい。これは、トラック案内溝からの回折光パターン
が乱されやすいことによる。一方、従来のトラッキング
方式では、数十kHz程度のサーボ帯域程度の伝送系で
処理を行なっているため、この破れ過程の領域をも含ん
だ平均レベルでサーボ動作が行なわれている。したがっ
て、この破れ過程での信号レベルA2とB2の差異が大
きい領域の影響を強く受ける。特に図2で示したような
最密データパターンにおいて、その影響が大きい。以上
のことから、出来るだけ記録パルス照射開始時点の膨ら
み過程での反射光レベルを頼りにトラッキング制御を行
なうのが、トラックオフセット低減の点から望ましい。
ピークホールドは尖頭値のレベルを検出、保持すること
により、破れ過程の影響を受けにくくする方式でもあ
る。
FIG. 2 shows the optical power and the signal waveforms of TR-A and TR-B when a dense data pattern is recorded on the unrecorded disc recording film by the pit edge recording method.
FIG. 6 is a diagram showing a recording process of a perforated recording film. The pit edge recording method is a recording method in which the end of a pit corresponds to data, and is a method that can achieve higher density than a pit center recording method in which even a light spot having the same resolution corresponds to the center of a round hole. In FIG. 2, considering the case where 2-7 modulation is used as the modulation method, the largest recording power irradiation period is 4T in terms of duty.
The recording light pulse is radiated during the period of, and the pattern for returning to the reproducing power is repeated during the period of 1.5T. When the data 4T length itself is used for the recording pulse width, the duty is about 72%. Generally, the pit length formed by the recording pulse width is longer than the recording pulse width, so that the recording pulse width is shortened by a certain width for recording. In the following description, such a dense data pattern will be called a closest data pattern. In FIG.
When the recording pulse is irradiated, the signal waveforms of both channels reach the levels of A1 and B1, respectively. During this period, the recording film is in the process of swelling, and the recording film itself has not been broken. Therefore, since the reflectance of the recording film is almost the same as that in the unrecorded state, the reflected light level changes by the ratio of the reproduction power and the recording power. Also, this period does not depend much on the data pattern length, and even in the recording pulse width shown in FIG. 2, this swelling process exists for almost the same time. Further, during this period, the distortion of the shape due to the aberration of the light spot and the influence of the track offset are unlikely to appear, so that the peak values A1 and B1
Difference is not so big. Next, in a period in which sufficient heat is applied to the recording film, the recording film starts to break. This period becomes longer as the pattern having the longer recording pulse width. Also,
During the pause period between the recording pulses, the reproduction power irradiation state is set. During this reproducing period, there is no level change due to the change in the state of the recording film. During the melting period of the recording film, since the recording film is in a molten state, the level of reflected light in each channel is likely to differ. This is because the diffracted light pattern from the track guide groove is likely to be disturbed. On the other hand, in the conventional tracking method, since the processing is performed by the transmission system having the servo band of several tens of kHz, the servo operation is performed at the average level including the region of the breaking process. Therefore, it is strongly influenced by the region in which the difference between the signal levels A2 and B2 in the breaking process is large. In particular, the influence is great in the close-packed data pattern as shown in FIG. From the above, it is desirable from the viewpoint of reducing the track offset to perform the tracking control by relying on the reflected light level in the swelling process at the start of the recording pulse irradiation as much as possible.
Peak hold is also a method to detect and hold the peak level to make it less susceptible to the breaking process.

【0022】図3は、図2の非線形電流電圧変換利得回
路に用いているダイオードの特性を示した図である。ダ
イオードに流れる順方向電流に対して順方向電圧が変化
する。図3では抵抗105、106を10kΩ、抵抗1
07、108を1kΩとした場合について示してある。
順方向電流が40μA以下の領域は再生光パワー照射で
の反射光の検出電流に対応する領域であり、ダイオード
はまだ導通状態にないため、抵抗105、106の値が
そのまま電流電圧変換抵抗の値になる。一方、記録光パ
ワー照射での反射光の検出電流に対応する領域では約2
00μA以上の検出電流が得られ、電流電圧変換抵抗の
値は抵抗105と抵抗107の並列抵抗の値、すなわち
約900Ωになる。図3において、再生光領域と記録光
領域の間では、電流電圧変換抵抗の値が非線形に変化す
るが、記録パワーを再生パワーの5倍以上にしておけば
この非線形領域は問題無くなる。このように、ダイオー
ドによる変換利得可変回路は、再生光パワー領域でのア
ンプ系のゲインを大きくとることと、記録光パワー領域
でのアンプ系の飽和を回避することの両立を図ることが
できる。再生光パワー領域でのゲインを大きくできるこ
とで、後段での回路系のオフセット電圧の許容値の拡大
が可能となる。例えば、初段アンプのゲインが記録パル
ス照射時の反射光レベルで飽和しないことを考慮して5
倍に設定した場合において、後段アンプのオフセットの
許容値が10mVであったとすると、初段アンプのゲイ
ンが10倍にできれば、同一のトラッキングオフセット
になるのは、後段アンプのオフセットが20mVのとき
であり、後段アンプのオフセット許容値を2倍に拡大す
ることができる。
FIG. 3 is a diagram showing the characteristics of the diode used in the nonlinear current-voltage conversion gain circuit of FIG. The forward voltage changes with respect to the forward current flowing through the diode. In FIG. 3, the resistors 105 and 106 are 10 kΩ and the resistor 1 is
It is shown that 07 and 108 are set to 1 kΩ.
The region in which the forward current is 40 μA or less is a region corresponding to the detection current of the reflected light when the reproducing light power is irradiated, and the diode is not in the conductive state yet. Therefore, the values of the resistors 105 and 106 are the same as the value of the current-voltage conversion resistance. become. On the other hand, in the area corresponding to the detection current of the reflected light when the recording light power is irradiated, about 2
A detection current of 00 μA or more is obtained, and the value of the current-voltage conversion resistance becomes the value of the parallel resistance of the resistance 105 and the resistance 107, that is, about 900Ω. In FIG. 3, the value of the current-voltage conversion resistance changes non-linearly between the reproduction light region and the recording light region, but if the recording power is set to 5 times or more of the reproduction power, this non-linear region will not be a problem. In this way, the conversion gain variable circuit using the diode can achieve both the large gain of the amplifier system in the reproduction light power region and the avoidance of the saturation of the amplifier system in the recording light power region. Since the gain in the reproduction light power region can be increased, the allowable value of the offset voltage of the circuit system in the subsequent stage can be expanded. For example, considering that the gain of the first-stage amplifier is not saturated at the reflected light level at the time of recording pulse irradiation,
If the allowable value of the offset of the post-stage amplifier is 10 mV and the gain of the post-stage amplifier can be increased 10 times, the same tracking offset will be obtained when the offset of the post-stage amplifier is 20 mV. The offset allowable value of the latter-stage amplifier can be doubled.

【0023】図4は、再生モードと記録モードでの電流
電圧変換抵抗の値を変えるための別の実施例である。図
4は、TR−A側の初段アンプのみを示した。アナログ
スイッチ401は、スイッチ制御信号402により再生
モードでは開放、記録モードでは短絡させる。したがっ
て、再生モードでは抵抗403の値が電流電圧変換抵抗
値になり、記録モードでは抵抗403と抵抗404の並
列抵抗の値が電流電圧変換抵抗の値になる。図4の回路
形式での再生モードと記録モードでのゲイン切り替え
は、図1、ないし図3で示したゲイン切り替えとは異な
った動作になる。図3で示したダイオードによるゲイン
切り替えでは、再生モードか記録モードかに関係なく検
出電流によって自動的にゲイン(検出電流に対する出力
電圧の比)が変化する。一方、図4のように再生モード
か記録モードかでゲインを切り替えた場合には、記録モ
ード内で記録パルス光照射の休止期間に対しても同一の
ゲインに固定されることになる。したがって、記録すべ
きデータパターンが最密データの場合は平均の検出電流
は大きめになり、逆にピット長とギャップ長の関係が最
密データパターンとは逆転した最疎データパターンでは
平均の検出電流は小さめになる。このようにデータパタ
ーンの変化の影響は、図4の回路構成の場合の方が顕著
である。しかしながら、温度などの外的要因の変化に対
しては、図4のようなスイッチで抵抗を選択する回路の
方が安定であるため、データパターンの変化が少ない変
調方式、ないしは記録方式の場合には有効である。
FIG. 4 shows another embodiment for changing the value of the current-voltage converting resistance in the reproducing mode and the recording mode. FIG. 4 shows only the first-stage amplifier on the TR-A side. The analog switch 401 is opened in the reproduction mode and short-circuited in the recording mode by the switch control signal 402. Therefore, the value of the resistor 403 becomes the current-voltage conversion resistance value in the reproduction mode, and the value of the parallel resistance of the resistors 403 and 404 becomes the current-voltage conversion resistance value in the recording mode. The gain switching between the reproduction mode and the recording mode in the circuit format of FIG. 4 is different from the gain switching shown in FIGS. In the gain switching by the diode shown in FIG. 3, the gain (the ratio of the output voltage to the detected current) automatically changes according to the detected current regardless of the reproduction mode or the recording mode. On the other hand, when the gain is switched between the reproduction mode and the recording mode as shown in FIG. 4, the gain is fixed to the same during the rest period of the recording pulsed light irradiation in the recording mode. Therefore, when the data pattern to be recorded is the close-packed data, the average detection current becomes large, and conversely, in the sparsest data pattern in which the relationship between the pit length and the gap length is the reverse of the close-packed data pattern, the average detection current is Becomes smaller. As described above, the influence of the change in the data pattern is more remarkable in the case of the circuit configuration of FIG. However, since a circuit for selecting a resistance by a switch as shown in FIG. 4 is more stable with respect to changes in external factors such as temperature, in the case of a modulation method or a recording method in which a change in data pattern is small. Is valid.

【0024】図5は、再生モードと記録モードでの検出
電流に対する出力電圧の関係を示した例である。ここで
は、抵抗403を10kΩ、抵抗404を1kΩに選ん
だ場合について示した。図3と比較すると、各動作モー
ドでの検出電流に対する出力電圧の関係(傾き)は各々
一致する。
FIG. 5 is an example showing the relationship between the output voltage and the detected current in the reproduction mode and the recording mode. Here, the case where the resistor 403 is selected to be 10 kΩ and the resistor 404 is selected to be 1 kΩ is shown. Compared with FIG. 3, the relationship (slope) of the output voltage with respect to the detected current in each operation mode is the same.

【0025】図6は、電流電圧変換利得抵抗を一定にし
た場合と、ダイオードにより非線形に可変した場合につ
いてのTR−AとTR−Bの信号波形を示した図であ
る。ここでは、図2で示したTR−AとTR−Bの波形
を矩形近似して示している。すなわち、記録光パルス照
射直後の約100nsの期間では、記録膜は膨らみ過程
にあるため反射光量は大きく、その後破れ過程に入り記
録膜が溶融してくると、膨らみ過程での反射光レベルよ
り減少したレベルが続く。この後、再生光パワーに戻る
と、反射光レベルもこれに対応して減少する。(a)の
利得抵抗一定の場合は記録光パルス照射期間の面積がパ
ターン1周期に占める割合が大きい。このため、特に記
録膜の溶融過程の影響を強く受ける。一方、(b)の利
得抵抗可変の場合は記録光パルス照射期間の面積のパタ
ーン1周期に占める割合は減少する。なお、図6の中で
点線は、放電時定数を1μsにした場合の波形ディケイ
を示している。実際に生じるトラックオフセット量は、
TR−AとTR−Bの波形の面積比によって見積もるこ
とができる。すなわち、或るデータパターン1周期にお
けるA、Bの各チャネル波形の面積をそれぞれSa、S
bとすると、トラックオフセット量αは、数1より与え
られる。
FIG. 6 is a diagram showing the signal waveforms of TR-A and TR-B when the current-voltage conversion gain resistance is constant and when it is varied nonlinearly by the diode. Here, the waveforms of TR-A and TR-B shown in FIG. 2 are shown in rectangular approximation. That is, in the period of about 100 ns immediately after the irradiation of the recording light pulse, the amount of reflected light is large because the recording film is in the swelling process, and when the recording film melts into the breaking process thereafter, the reflected light level is lower than the reflected light level in the swelling process. The level you did continues. After this, when the power of the reproduction light is restored, the level of the reflected light also decreases correspondingly. When the gain resistance of (a) is constant, the area of the recording light pulse irradiation period occupies a large portion of one cycle of the pattern. Therefore, it is strongly affected by the melting process of the recording film. On the other hand, in the case where the gain resistance is variable as shown in (b), the ratio of the area of the recording light pulse irradiation period to one cycle of the pattern decreases. The dotted line in FIG. 6 shows the waveform decay when the discharge time constant is 1 μs. The actual track offset amount is
It can be estimated by the area ratio of the waveforms of TR-A and TR-B. That is, the areas of the channel waveforms of A and B in one cycle of a data pattern are Sa and S, respectively.
Assuming b, the track offset amount α is given by Equation 1.

【0026】[0026]

【数1】 [Equation 1]

【0027】また、このαからトラックオフセットの距
離Δへの換算は、数2より求まる。
Further, the conversion from this α to the distance Δ of the track offset is obtained by the equation 2.

【0028】[0028]

【数2】 [Equation 2]

【0029】数2において、δはトラック間隔、βは光
スポットとトラック間隔、および案内溝形状などで決ま
る数値であり、未記録の場合を100%とした場合の相
対量として、実験的に求める数値である。例えば、トラ
ック間隔を1.5μm、V型の幅が約0.4μmの案内
溝で、光スポット径が約1.4μmの場合、実験から求
めたβの値は約50%であった。数1、および数2と図
6を用いてダイオードによる利得抵抗可変の場合と従来
のように一定の場合、さらにピークホールドを使用した
場合と使用しない場合について、トラックオフセットを
試算した結果を以下に示す。以下の説明において便宜
上、ダイオードによる非線形電流電圧変換回路をNI
V、ピークホールド回路をPHと略記する。
In Equation 2, δ is a track interval, β is a numerical value determined by the light spot and track intervals, the shape of the guide groove, etc., and is experimentally determined as a relative amount when the unrecorded case is 100%. It is a numerical value. For example, in the case of a guide groove having a track interval of 1.5 μm and a V-shaped width of about 0.4 μm and a light spot diameter of about 1.4 μm, the value of β obtained from the experiment was about 50%. Using the formulas 1 and 2 and FIG. 6, the track offset is calculated for the case where the gain resistance is variable by the diode, the case where the gain is constant as in the conventional case, and the case where the peak hold is used and not used. Show. In the following description, for convenience, a diode-based nonlinear current-voltage conversion circuit is referred to as NI.
V and the peak hold circuit are abbreviated as PH.

【0030】従来方式(NIVなし、PHなし)では、
図6からはα=23.4%、すなわちΔTR=0.12
2μmのトラックオフセットが生じる計算になる。これ
に対して、ホールド時定数を1μsにして、NIVな
し、PHありの場合はΔ=0.083μm、さらにNI
Vあり、PHありの場合はΔ=0.033μmにまでト
ラックオフセット抑圧が可能となる計算結果を得た。す
なわち、NIVとPHを用いることにより、約1/4程
度にまでトラックオフセットを抑圧できる。
In the conventional method (without NIV, without PH),
From FIG. 6, α = 23.4%, that is, ΔTR = 0.12.
The calculation results in a track offset of 2 μm. On the other hand, with the hold time constant set to 1 μs, without NIV and with PH, Δ = 0.083 μm.
When V is present and PH is present, the calculation result that the track offset can be suppressed to Δ = 0.033 μm was obtained. That is, by using NIV and PH, the track offset can be suppressed to about 1/4.

【0031】ダイオードを用いた非線形利得抵抗可変回
路、あるいはピークホールド回路はそれぞれ単独でも記
録時のトラックオフセット抑圧効果がある。非線形利得
抵抗可変回路は、再生時反射光レベルに対して、記録時
反射光レベルの比を圧縮するために、記録時のトラック
オフセットの主要因となる記録膜の溶融期間の影響が低
減されるためと考えられる。
The non-linear gain resistance variable circuit using the diode or the peak hold circuit has the track offset suppressing effect at the time of recording independently. The non-linear gain resistance variable circuit compresses the ratio of the reflected light level during recording to the reflected light level during reproduction, so that the influence of the melting period of the recording film, which is the main factor of the track offset during recording, is reduced. It is thought to be because.

【0032】以上までは、動作モードとして主に記録モ
ードについて説明してきた。次にデリートモードについ
て説明する。図7は、既データ上にデリートパターンを
上書きしている状態を示した図である。デリートの意味
やパターンの例については、前述したのでここでは説明
を省略する。図7の上側の図は時間に対する光パワーの
関係を示した図である。デリートパルスの幅はT1であ
る。デリートパルス照射期間の前後はデリートマスク信
号(DELMASK−P)によりマスク信号直前の信号
レベルが保持され、これによりトラッキング制御が行な
われる。したがって、T3の期間のみ、反射光レベル信
号を直接用いたトラッキング制御が行なわれる。図7に
おいて、再生光照射時のTR−A、TR−Bの各々のレ
ベルをa、bとし、デリート光照射時の各々のレベルを
ka、lbとする。また、デリートパルス幅、すなわち
デリート光パワーで発光している期間をT1、デリート
パルスが終了した後、デリートマスク期間が終了するま
での期間をT2、デリートマスク期間終了時点から次の
デリートマスク期間の開始までの期間をT3とする。期
間T3でのTR−AとTR−Bの各々の面積をSa、S
bとすると、それぞれ数3、数4で記述される。
Up to this point, the recording mode has been mainly described as the operation mode. Next, the delete mode will be described. FIG. 7 is a diagram showing a state in which the delete pattern is overwritten on the existing data. The meaning of delete and an example of the pattern have been described above, and thus the description thereof is omitted here. The upper diagram of FIG. 7 is a diagram showing the relationship of the optical power with respect to time. The width of the delete pulse is T 1 . Before and after the delete pulse irradiation period, the delete mask signal (DELMASK-P) holds the signal level immediately before the mask signal, whereby tracking control is performed. Therefore, the tracking control using the reflected light level signal directly is performed only during the period T 3 . In FIG. 7, the levels of TR-A and TR-B during reproduction light irradiation are a and b, and the levels during delete light irradiation are ka and lb. Further, the delete pulse width, that is, the period during which light is emitted with the delete light power is T 1 , the period from the end of the delete pulse until the end of the delete mask period is T 2 , and the next delete mask from the end of the delete mask period. The period until the start of the period is T 3 . The areas of TR-A and TR-B in the period T 3 are Sa, S
If it is assumed to be b, it is described by Equations 3 and 4, respectively.

【0033】[0033]

【数3】 [Equation 3]

【0034】[0034]

【数4】 [Equation 4]

【0035】上式において、τ1、τ2はそれぞれTR−
A側、TR−B側のピークホールドの放電時定数であ
る。数3、数4を数1、数2に代入すれば、トラックオ
フセット量α、ないしΔが計算できる。数3、数4に関
してパラメータを変えた場合の計算結果を図8から図1
0に示した。以下、計算結果を基に、各パラメータとト
ラックオフセットの関係について説明する。
In the above equation, τ 1 and τ 2 are TR-
It is the discharge time constant of the peak hold on the A side and the TR-B side. By substituting the equations 3 and 4 into the equations 1 and 2, the track offset amount α or Δ can be calculated. Calculation results when the parameters are changed with respect to Equations 3 and 4 are shown in FIGS.
It was shown at 0. Hereinafter, the relationship between each parameter and the track offset will be described based on the calculation result.

【0036】図8は、以下の条件下での放電時定数とト
ラックオフセットについての関係を示した例である。
FIG. 8 is an example showing the relationship between the discharge time constant and the track offset under the following conditions.

【0037】(1)再生光照射時のTR−AとTR−B
のレベルは等しいとする。すなわち、a=b (2)TR−A側とTR−B側の放電時定数は等しいと
し、さらにT2基準に時定数を与える。すなわち、τ=
τ1=τ2=qT2 (3)デリートパルス光照射時のTR−A、TR−Bの
レベルは再生光照射時の10倍とする。すなわち、(k
+l)/2=10 (4)TR−A側とTR−B側の再生時を基準としたレ
ベルの関係は、互いにp倍だけ異なっている。すなわ
ち、k=pl (5)デリート非マスク期間T3はデリートパルス光照
射終了からデリートマスク終了までの期間T2の4倍と
する。すなわち、T3=4T2、ビット周期Tを基準にす
ると、例えば、T3=44T、T2=11Tに設定する場
合に相当する。
(1) TR-A and TR-B when reproducing light is irradiated
Are equal in level. That is, a = b (2) The discharge time constants on the TR-A side and the TR-B side are equal, and a time constant is given to the T 2 reference. That is, τ =
τ 1 = τ 2 = qT 2 (3) The level of TR-A and TR-B at the time of irradiation of the delete pulse light is 10 times that at the time of irradiation of the reproduction light. That is, (k
+ L) / 2 = 10 (4) The relationship of the levels on the TR-A side and the TR-B side based on the time of reproduction is different from each other by p times. That is, k = pl (5) The delete non-mask period T 3 is set to be four times the period T 2 from the end of irradiation of the delete pulse light to the end of the delete mask. That is, when T 3 = 4T 2 and the bit period T are used as references, for example, T 3 = 44T and T 2 = 11T are set.

【0038】以上の条件を用いた場合のトラックオフセ
ットαを数5に示す。
The track offset α when the above conditions are used is shown in Equation 5.

【0039】[0039]

【数5】 [Equation 5]

【0040】図8は、放電時定数τ(=qT2)に対し
て、TR−AとTR−Bのゲイン比pをパラメータにし
て、トラックオフセット量の変化を計算した結果であ
る。A側とB側のゲイン比が小さいほど、すなわちp=
1に近いほどトラックオフセット量は少なくなる。ま
た、放電時定数が小さいほどトラックオフセット量は少
なくなる。但し、あまり放電時定数が小さいと、特に最
密データ列を再生する場合にトラッキングゲインが小さ
くなってしまうため、デリート時と再生時での最適化を
図る必要がある。放電時定数に対する、再生時のゲイン
変化については、図11、図12のところで説明する。
FIG. 8 shows the results of calculating the change in the track offset amount with the gain ratio p of TR-A and TR-B as a parameter with respect to the discharge time constant τ (= qT 2 ). The smaller the gain ratio on the A side and the B side, that is, p =
The closer to 1, the smaller the track offset amount. Also, the smaller the discharge time constant, the smaller the track offset amount. However, if the discharge time constant is too small, the tracking gain will be small especially when reproducing the densest data string, so it is necessary to optimize during delete and during reproduction. The change in gain during reproduction with respect to the discharge time constant will be described with reference to FIGS. 11 and 12.

【0041】図9は、A側とB側のゲイン比pは10%
異なる場合、すなわちp=1.1を例にとり、デリート
非マスク期間T3とデリートパルス照射終了からデリー
トマスク終了までの期間T2の比をパラメータとして、
放電時定数qに対するトラックオフセット量を計算した
結果である。この結果から、同一の放電時定数に対して
は、非マスク期間T3がT2に比べて長いほどトラックオ
フセットは小さくなることがわかる。
In FIG. 9, the gain ratio p on the A side and the B side is 10%.
If they are different, that is, p = 1.1 is taken as an example, the ratio of the delete non-masking period T 3 and the period T 2 from the end of the delete pulse irradiation to the end of the delete mask is used as a parameter.
It is the result of calculating the track offset amount with respect to the discharge time constant q. From this result, it can be seen that for the same discharge time constant, the track offset becomes smaller as the non-masking period T 3 is longer than T 2 .

【0042】図10は、図9で(k+l)/2=2とし
た場合の結果である。ダイオードによる非線形変換利得
抵抗回路の効果により、デリートパルス照射時の信号レ
ベルが抑圧された場合に相当する。このように、デリー
トパルス照射時に検出レベルが低くしてやると、同一の
放電時定数に対してもトラックオフセット量を小さく抑
えることができる。例えば、図9においてq=1でu=
2のとき、α=3であったものが、図10では同一のq
とuに対して、α=1に低減される。
FIG. 10 shows the result when (k + 1) / 2 = 2 in FIG. This corresponds to the case where the signal level at the time of irradiation of the delete pulse is suppressed by the effect of the non-linear conversion gain resistance circuit by the diode. In this way, if the detection level is lowered during the irradiation of the delete pulse, the track offset amount can be suppressed to be small even for the same discharge time constant. For example, in FIG. 9, q = 1 and u =
In case of 2, α = 3, but in FIG. 10, the same q
And u are reduced to α = 1.

【0043】図9、図10の導出は、それぞれ以下の式
で行なった。
The derivation of FIGS. 9 and 10 was carried out by the following equations.

【0044】[0044]

【数6】 [Equation 6]

【0045】[0045]

【数7】 [Equation 7]

【0046】以上は、デリートモードに関しての放電時
定数、デリートマスク期間の検討について説明した。デ
リートモード、および記録モードでは、種々のパラメー
タによって生じるトラックオフセットが評価基準であっ
た。ここで、今一つの評価基準である再生モードでのゲ
イン変化について説明する。
The examination of the discharge time constant and the delete mask period regarding the delete mode has been described above. In the delete mode and the recording mode, the track offset caused by various parameters was the evaluation standard. Here, the gain change in the reproduction mode, which is another evaluation criterion, will be described.

【0047】図11は最密データパターンの繰返し部を
読みだしている場合のTR−AとTR−Bの信号変化を
表した図である。穴開け形記録膜の場合は穴(ピット)
の部分は一般に反射率が未記録部に比べて小さいため、
サーボのための検出光レベルは減少する。特に、ピット
エッジ記録方式のような長穴パターンを用いる場合に
は、平均反射光量は低下し、最密データパターンの繰返
しの場合に最も厳しくなる。図11において、実線はピ
ークホールドを行なわない場合の信号変化である。図で
は、矩形近似して表している。また、点線は或る放電時
定数のピークホールドを行なった場合の信号変化であ
る。ピークホールドにより、ピットが存在する期間も未
記録部のレベルを保持することにより、ピット有無の影
響を低減し、サーボ制御はあたかも未記録部に対して行
なっている状態にすることができる。図12は、時定数
τに対するゲイン変化γの関係を示した図である。導出
は、次式で行なった。
FIG. 11 is a diagram showing the signal changes of TR-A and TR-B when the repeating portion of the closest data pattern is being read. Holes (pits) for perforated recording films
In general, the reflectance is smaller than that of the unrecorded area,
The detected light level for the servo is reduced. In particular, when a long hole pattern such as the pit edge recording method is used, the average amount of reflected light decreases, and becomes the severest when the densest data pattern is repeated. In FIG. 11, the solid line shows the signal change when the peak hold is not performed. In the figure, the rectangle is approximated. The dotted line shows the signal change when the peak hold of a certain discharge time constant is performed. By holding the level of the unrecorded portion by the peak hold even while the pit exists, the influence of the presence or absence of the pit can be reduced, and the servo control can be performed as if the unrecorded portion is being performed. FIG. 12 is a diagram showing the relationship of the gain change γ with respect to the time constant τ. The derivation was performed using the following formula.

【0048】[0048]

【数8】 [Equation 8]

【0049】ここで、時定数τは、ピット期間T4を基
準にした場合の比で表している。すなわち、τ=wT4
とした。ゲイン低下を考える場合は、使用する変調方式
において最も長いピット長に対応する期間をT4とすれ
ばよい。図12から、ゲイン低下を無くすには放電時定
数を無限大にすればよいことがわかる。しかしながら、
同一の放電時定数を記録時やデリート時に使用すること
を考慮すると、記録モードやデリートモードとの両立を
図ることのできる時定数の選択が必要となる。また、放
電時定数を極端に大きくすると、混在するデータパター
ンのレベル変動に追従できなくなるため、未記録レベル
が正確に検出できなくなる恐れがある。したがって、或
る程度のゲイン低下を見込み、このような再生信号レベ
ルの変化には追従する範囲に時定数を設定することにな
る。例えば、変調方式に許される最も長いピットと最も
長いギャップの繰返しパターンの場合の再生信号振幅を
基準とすると、最密データパターンの繰返しのギャップ
部の再生信号振幅は、減少する。この減少分にゲイン低
下量を合わせれば、混在するデータパターンに対しても
未記録部の信号レベルに追従し、保持することができ
る。図12では、一例としてゲイン変化量γを−2dB
見込んだ場合を示しており、このときw=2となる。い
ま、T4=4T、T2=11Tとした場合を考えると、w
=2は先に示した図8から図10ではq=2×4T/1
1T=0.73に相当する。具体的な数値例を挙げる
と、A側とB側とのゲイン比を10%以内に抑え、T3
=4T2とし、ダイオードによる非線形変換利得回路に
より(k+l)/2=2にしたとすると、トラックオフ
セットは1.5μm間隔のトラックに対して、0.00
3μm以内に抑えることができる。
Here, the time constant τ is represented by a ratio based on the pit period T 4 . That is, τ = wT 4
And When considering the decrease in gain, the period corresponding to the longest pit length in the modulation method used may be T 4 . It can be seen from FIG. 12 that the discharge time constant can be set to infinity in order to eliminate the gain reduction. However,
Considering that the same discharge time constant is used at the time of recording or deleting, it is necessary to select a time constant that is compatible with the recording mode and the delete mode. Further, if the discharge time constant is extremely large, it becomes impossible to follow the level fluctuations of the mixed data patterns, so that the unrecorded level may not be accurately detected. Therefore, the gain is expected to decrease to some extent, and the time constant is set in a range that follows such a change in the reproduction signal level. For example, when the reproduction signal amplitude in the case of the repetitive pattern of the longest pit and the longest gap allowed in the modulation method is used as a reference, the reproduction signal amplitude of the gap portion in the repetition of the closest data pattern decreases. If the amount of decrease in gain is adjusted to this amount of decrease, it is possible to follow and hold the signal level of the unrecorded portion even for mixed data patterns. In FIG. 12, the gain change amount γ is −2 dB as an example.
This shows a case where it is expected, and at this time, w = 2. Now, considering the case where T 4 = 4T and T 2 = 11T, w
= 2 is q = 2 × 4T / 1 in FIGS. 8 to 10 described above.
This corresponds to 1T = 0.73. To give a specific numerical example, the gain ratio between the A side and the B side is kept within 10%, and T 3
= 4T 2 and (k + 1) / 2 = 2 by the non-linear conversion gain circuit by the diode, the track offset is 0.00 with respect to the tracks at 1.5 μm intervals.
It can be suppressed within 3 μm.

【0050】[0050]

【発明の効果】本発明によれば、再生時と記録時とのス
ポット位置制御信号のゲイン変動とオフセットの影響を
効果的に抑圧することができる。特にダイオードなどの
半導体の順方向電流と電圧との非線形効果を用いること
により、再生時と記録時のゲイン切り替えが不要とな
る。また、穴開け型媒体の場合、記録過程における反射
光の先頭部のレベルを用いてサーボ制御することによ
り、オフセットの影響を低減することができる。
According to the present invention, it is possible to effectively suppress the influence of the gain variation and the offset of the spot position control signal during reproduction and recording. In particular, by using the non-linear effect of the forward current and voltage of a semiconductor such as a diode, it is not necessary to switch gains during reproduction and recording. Further, in the case of a punchable medium, the influence of offset can be reduced by performing servo control using the level of the leading portion of the reflected light in the recording process.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す光スポット位置制御回
路図部分である。
FIG. 1 is a portion of a light spot position control circuit diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】記録過程における諸信号波形の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of various signal waveforms in a recording process.

【図3】ダイオードの順方向電流に対する順方向電圧の
関係を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a relationship between a forward current and a forward voltage of a diode.

【図4】再生モードと記録モードとのゲイン切り替え手
段の別の実施例である。
FIG. 4 is another embodiment of the gain switching means between the reproduction mode and the recording mode.

【図5】図4における検出電流に対する出力電圧の関係
を示す図である。
5 is a diagram showing a relationship between an output voltage and a detected current in FIG.

【図6】検出電流に対する出力電圧への変換利得が一定
の場合と、図1に示した非線形電流電圧変換利得を用い
た場合の、トラッキング信号波形の違いの例を示す図で
ある。
FIG. 6 is a diagram showing an example of the difference in tracking signal waveforms when the conversion gain to the output voltage with respect to the detected current is constant and when the nonlinear current-voltage conversion gain shown in FIG. 1 is used.

【図7】既記録データピット上にデリートパターンを上
書きしている状態の説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a state in which a delete pattern is overwritten on already recorded data pits.

【図8】ホールド回路の放電時定数に対するトラックオ
フセット量の関係を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a relationship between a track offset amount and a discharge time constant of a hold circuit.

【図9】デリート時の非マスク期間とデリートパルス照
射終了からデリートマスク終了までの期間とをパラメー
タとしたときの放電時定数に対するトラックオフセット
量の関係を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing the relationship between the discharge time constant and the track offset amount when the non-masking period during delete and the period from the end of delete pulse irradiation to the end of delete mask are used as parameters.

【図10】図9において、反射光レベルの尖頭値がダイ
オードによる非線形電流電圧変換回路により低減された
場合の結果を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a result when the peak value of the reflected light level is reduced by the non-linear current-voltage conversion circuit using the diode in FIG. 9.

【図11】最密データパターン読み出し時におけるトラ
ッキング信号波形の変化の様子を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing how the tracking signal waveform changes when the densest data pattern is read.

【図12】図11において、時定数に対するゲイン変化
の関係を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a relationship of a gain change with respect to a time constant in FIG. 11.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101、102…光検出器、109、110…ダイオー
ド、111、112…トランジスタ、113、114…
抵抗、115、116…コンデンサ、121、122…
アナログスイッチ、125、126…抵抗、127、1
28…コンデンサ、 A1…ピット形成時のトラッキング信号A側の尖頭値、 B1…ピット形成時のトラッキング信号B側の尖頭値、 A2…長ピット形成時のトラッキング信号A側の尖頭
値、B2…長ピット形成時のトラッキング信号B側の尖
頭値、α…和信号に対する差信号の比、Δ…トラックオ
フセット量。
101, 102 ... Photodetector, 109, 110 ... Diode, 111, 112 ... Transistor, 113, 114 ...
Resistors, 115, 116 ... capacitors, 121, 122 ...
Analog switch, 125, 126 ... Resistance, 127, 1
28 ... Capacitor, A1 ... Peak value on the tracking signal A side during pit formation, B1 ... Peak value on the tracking signal B side during pit formation, A2 ... Peak value on the tracking signal A side during long pit formation, B2 ... Peak value on the tracking signal B side when forming a long pit, α ... Ratio of difference signal to sum signal, Δ ... Track offset amount.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高砂 昌弘 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所小田原工場内   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Masahiro Takasago             2880 Kozu, Odawara City, Kanagawa Stock Association             Hitachi, Ltd. Odawara factory

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】記録媒体上に光ビームを照射して、データ
の記録、再生を行なう光学的記録再生装置において、デ
ィスク上での該光ビームの位置制御のための制御信号を
生成する際に、記録時における該ディスクからの反射光
レベルの高い側の値を用いて生成することを特徴とする
光スポット位置制御方法。
1. An optical recording / reproducing apparatus for irradiating a recording medium with a light beam to record and reproduce data, when generating a control signal for controlling the position of the light beam on a disk. A light spot position control method, wherein the light spot position control method is performed by using a value on the side where the reflected light level from the disc is high during recording.
【請求項2】記録媒体上に光ビームを照射して、データ
の記録、再生、及び消去を行なう光学的記録再生装置に
おいて、受光量の大きさに応じて出力値が非線形に変化
する変換手段と、該出力値の尖頭値を保持する手段とを
用いてディスク上での該光ビームの位置制御のための誤
差信号を生成することを特徴とする光学的記録再生装
置。
2. An optical recording / reproducing apparatus for irradiating a recording medium with a light beam to record, reproduce, and erase data, the converting means having an output value which changes non-linearly according to the amount of received light. An optical recording / reproducing apparatus, wherein an error signal for controlling the position of the light beam on the disk is generated by using a means for holding the peak value of the output value.
【請求項3】請求項2において、非線形な変換手段とし
て半導体の非線形特性を用いることを特徴とする光学的
記録再生装置。
3. An optical recording / reproducing apparatus according to claim 2, wherein a nonlinear characteristic of a semiconductor is used as the nonlinear converting means.
【請求項4】請求項2において、尖頭値を保持する手段
として、静電容量と抵抗とで構成された回路を用いるこ
とを特徴とする光学的記録再生装置。
4. An optical recording / reproducing apparatus according to claim 2, wherein a circuit composed of a capacitance and a resistance is used as a means for holding the peak value.
【請求項5】請求項2において、非線形の変換手段と該
出力値を保持する手段とを通過した信号に対して、当該
記録領域を無効にするための特定データの光パルス照射
時、および該光パルス照射期間の前後の期間において、
該特定データの光パルスの媒体からの反射光量を感知さ
せないための手段を設けることを特徴とする光学的記録
再生装置。
5. The method according to claim 2, wherein the signal passed through the non-linear conversion means and the means for holding the output value is irradiated with an optical pulse of specific data for invalidating the recording area, and In the period before and after the light pulse irradiation period,
An optical recording / reproducing apparatus, characterized in that means is provided for not sensing the amount of light pulse of the specific data reflected from the medium.
【請求項6】請求項5において、光スポット位置制御の
ための信号として、該感知期間以外の期間における信号
を用いることを特徴とする光学的記録再生装置。
6. An optical recording / reproducing apparatus according to claim 5, wherein a signal in a period other than the sensing period is used as a signal for controlling a light spot position.
【請求項7】請求項2において、記録媒体として光ディ
スク媒体を用い、マーク長記録を行ない、該マークの端
をデータに対応させる記録方式を用い、該光ディスクか
らの反射光量に対応して出力値が変化する変換手段を用
いて、該変換手段の出力値の尖頭値を保持することを特
徴とする光学的記録再生装置。
7. An optical disc medium as a recording medium according to claim 2, wherein a mark length recording is performed, and a recording system in which an end of the mark is associated with data is used, and an output value corresponding to an amount of reflected light from the optical disc. An optical recording / reproducing apparatus, characterized in that the peak value of the output value of the converting means is held by using the converting means that changes.
JP16965991A 1991-07-10 1991-07-10 Optical spot position control method and optical recording / reproducing device Expired - Fee Related JP2903782B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16965991A JP2903782B2 (en) 1991-07-10 1991-07-10 Optical spot position control method and optical recording / reproducing device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16965991A JP2903782B2 (en) 1991-07-10 1991-07-10 Optical spot position control method and optical recording / reproducing device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0520706A true JPH0520706A (en) 1993-01-29
JP2903782B2 JP2903782B2 (en) 1999-06-14

Family

ID=15890558

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16965991A Expired - Fee Related JP2903782B2 (en) 1991-07-10 1991-07-10 Optical spot position control method and optical recording / reproducing device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2903782B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5735793A (en) * 1995-01-12 1998-04-07 Olympus Optical Co., Ltd. Endoscope
WO2002082434A1 (en) * 2001-04-04 2002-10-17 Hitachi Maxell Limited Information medium, production method therefor, reproduction control method and drive device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5735793A (en) * 1995-01-12 1998-04-07 Olympus Optical Co., Ltd. Endoscope
WO2002082434A1 (en) * 2001-04-04 2002-10-17 Hitachi Maxell Limited Information medium, production method therefor, reproduction control method and drive device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2903782B2 (en) 1999-06-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4796250A (en) Optical recording and reproducing apparatus including a disc extraction area for power setting a laser
US5436880A (en) Laser power control in an optical recording system using partial correction of reflected signal error
KR101162371B1 (en) Laser driving method and laser driving device
JP2650940B2 (en) Optical information recording device
US5126994A (en) Method and apparatus for controlling and detecting recording laser beam
US5495463A (en) Controller and control method of laser power for recording information in an optical record medium
US5446716A (en) Laser power control in an optical recording system to compensate for multiple system degradations
US4516242A (en) Output stabilizing device
JPH0451893B2 (en)
US6246659B1 (en) Laser light power control method for recording on optical disk and laser diode driving circuit for optical disk recording device
EP0431185B1 (en) Optical recorder
JP2903782B2 (en) Optical spot position control method and optical recording / reproducing device
DE60217691T2 (en) CONTROL CIRCUIT FOR THE OPTICAL OUTPUT SIGNAL OF A SEMICONDUCTOR LASER AND OPTICAL EQUIPMENT
US5684769A (en) Optical recording/playback apparatus incorporating an address reproducing amplifier having a switchable gain for reproducing address data and MO recorded data
JP3577651B2 (en) Optical disk drive
JPH07131089A (en) Laser power monitor circuit
JPH0963093A (en) Laser light output control circuit
KR100545320B1 (en) Data recording apparatus
US6545954B2 (en) Optical disk device using a recording medium structurally arranged to generate a recording clock
JP2663640B2 (en) Optical disk recording device
JPH0258737A (en) Controller for semiconductor laser writing
JP2002150591A (en) Recorder by optical recording medium and its recording method
JP4449261B2 (en) Photodiode integrated circuit with nonlinear sensitivity characteristics
JP4406348B2 (en) Voltage level detection apparatus and method, and laser output control apparatus and method
JP2538883B2 (en) Light intensity control circuit

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees