JP2903782B2 - Optical spot position control method and optical recording / reproducing device - Google Patents

Optical spot position control method and optical recording / reproducing device

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JP2903782B2
JP2903782B2 JP16965991A JP16965991A JP2903782B2 JP 2903782 B2 JP2903782 B2 JP 2903782B2 JP 16965991 A JP16965991 A JP 16965991A JP 16965991 A JP16965991 A JP 16965991A JP 2903782 B2 JP2903782 B2 JP 2903782B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクファイル装
置のトラッキング方法に係り、特に穴開け形の光ディス
ク装置のトラッキング特性の安定化に効果的な方法、お
よび光学的記録再生装置である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a tracking method for an optical disk file device, and more particularly to a method effective for stabilizing the tracking characteristics of a perforated optical disk device and an optical recording / reproducing device.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスクファイル装置の高密度化、高
信頼化にとって、記録再生のための光スポットのディス
ク上の位置を精度良く制御することは非常に重要であ
る。光ディスク装置におけるトラッキングの方式として
は、連続トラック案内溝を1ビームで走査し、該案内溝
からの回折光を2分割型の光検出器で受光し、両者の差
が零になるようにアクチュエータを駆動する方式が知ら
れている。この方式は、プッシュプル方式と呼ばれてい
る。また、再生専用型の光ディスクであるコンパクトデ
ィスク装置では3ビームによるトラッキング方式が使わ
れている。この方式は、データ再生のための主ビームの
前後それぞれに副ビームをデータトラックに対して互い
に逆方向に変位させて配置し、データピット部とノーデ
ータ部とで反射光量に差が生じることを用いて、2つの
副ビームのそれぞれからの反射光を受光し、両者の差が
零になるようにアクチュエータを駆動する方式である。
トラッキング制御と同様にディスクの上下振れに対する
追従、つまり自動焦点制御に関しても原理的には、複数
の光検出器で受光した光量の差が零になるように制御す
る方式が一般的である。
2. Description of the Related Art Accurate control of the position of a light spot for recording and reproduction on a disk is very important for high density and high reliability of an optical disk file device. As a tracking method in an optical disc device, a continuous track guide groove is scanned by one beam, a diffracted light from the guide groove is received by a two-segment type photodetector, and an actuator is operated so that the difference between the two becomes zero. A driving method is known. This method is called a push-pull method. In a compact disk device that is a read-only optical disk, a tracking method using three beams is used. This method arranges sub-beams before and after the main beam for data reproduction by displacing them in opposite directions with respect to the data track, and prevents the difference in reflected light amount between the data pit portion and the no-data portion. In this method, reflected light from each of the two sub-beams is received, and the actuator is driven so that the difference between the two beams becomes zero.
Similar to the tracking control, in principle, with respect to the follow-up of the vertical vibration of the disk, that is, the automatic focus control, a method is generally used in which control is performed so that the difference between the amounts of light received by a plurality of photodetectors becomes zero.

【0003】以上のようなスポットの位置制御を精度良
く実行するためには、各種の動作モード、例えば記録モ
ードや再生モードにおけるデータパターンの影響を出来
るかぎり小さく抑え、さらに回路系やメカ系で生じる偏
り(オフセット)を少なくすることが必要である。特に
ピットの有無によるディスク反射率の変化が大きな記録
媒体は、データ再生の点からはS/Nが大きくとれるた
め有利であるが、トラッキング制御や自動焦点制御に関
しては、ゲイン変動が大きくなるため不利になることが
ある。基本的にはトラッキング制御も自動焦点制御もサ
ーボ系としては同様に議論できるため、ここではトラッ
キング制御を例にして従来技術について説明する。
In order to accurately control the position of the spot as described above, the influence of the data pattern in various operation modes, for example, a recording mode and a reproduction mode, is minimized as much as possible, and furthermore, it occurs in a circuit system and a mechanical system. It is necessary to reduce the deviation (offset). In particular, a recording medium having a large change in the disk reflectance due to the presence or absence of pits is advantageous from the viewpoint of data reproduction because a large S / N ratio can be obtained, but disadvantageous in tracking control and automatic focus control due to a large gain fluctuation. It may be. Basically, the tracking control and the automatic focus control can be similarly discussed as a servo system. Therefore, here, the prior art will be described using the tracking control as an example.

【0004】動作モードの違いによって生じるゲイン変
動に対しては、記録モードと再生モードとで各々一律に
アンプ系のゲインを変えることで、記録光照射時にもア
ンプ系が飽和しないようにする方法が採られている。特
開昭52−80802号記載の光スポット位置制御手段
としては、制御回路のゲインを再生時と記録時とで切り
替える方法が提案されている。
[0004] With respect to gain fluctuations caused by differences in operation modes, a method of uniformly changing the gain of the amplifier system in the recording mode and the reproduction mode so that the amplifier system is not saturated even when recording light is irradiated. Has been adopted. As a light spot position control means described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 52-80802, a method of switching the gain of a control circuit between reproduction and recording has been proposed.

【0005】また、ゲイン変動を低減する方法として、
特開昭54−115883号記載の方法では、再生時に
はピークホールド、記録時にはボトムホールドを用いる
ことにより、常に未記録側のレベルを保持することで、
ゲインの安定化を図っている。
[0005] As a method of reducing the gain fluctuation,
In the method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 54-115883, the level on the unrecorded side is always held by using the peak hold during reproduction and the bottom hold during recording.
The gain is stabilized.

【0006】データパターンの違いによって生じるゲイ
ン変動に対しては、ランダムなパターンに対してサーボ
系のゲインを設定し、アンプ系のダイナミックレンジの
範囲で動作させるような方法が一般的に採られている。
[0006] With respect to gain fluctuation caused by a difference in data pattern, a method of setting a servo system gain for a random pattern and operating within a dynamic range of an amplifier system is generally adopted. I have.

【0007】回路系やメカ系で生じるオフセットについ
ては、低オフセット、低ドリフトのアンプの採用や、装
置製造時でオフセットを零に合わせ込むなどの方策が採
られている。
As for the offset generated in the circuit system and the mechanical system, measures such as adoption of an amplifier with low offset and low drift, and adjustment of the offset to zero at the time of manufacturing the device have been adopted.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】従来のトラッキング制
御方式では、広範囲のゲイン変動や、記録時に記録膜の
物性変化による影響を除くことは困難であった。特にピ
ットエッジ記録を穴開け型の記録媒体に適用する場合に
は、動作モードの違いによるゲイン変動に加え、データ
パターンの疎密によるゲイン変動が大きい。さらには、
記録膜が溶融過程にあるときのトラック案内溝からの回
折光分布の変動が大きく影響するため、トラックオフセ
ットを小さく抑えるのが困難になる。この影響は適用す
る変調方式で最も長いピットと最も短いギャップとが交
互に繰り返すようなデータパターンの場合が特に顕著で
ある。また、再生時にピークホールド、記録時にボトム
ホールドを用いる場合、各動作モードにおける切り替え
が必要であり、且つ回路構成が複雑化する。
With the conventional tracking control method, it has been difficult to eliminate the effects of gain fluctuations over a wide range and changes in the physical properties of the recording film during recording. In particular, when pit edge recording is applied to a perforated recording medium, in addition to gain fluctuation due to a difference in operation mode, gain fluctuation due to sparse and dense data patterns is large. Furthermore,
Variations in the distribution of diffracted light from the track guide grooves when the recording film is in the process of melting have a large effect, making it difficult to keep track offset small. This effect is particularly remarkable in the case of a data pattern in which the longest pit and the shortest gap are alternately repeated in the applied modulation method. When a peak hold is used during reproduction and a bottom hold is used during recording, it is necessary to switch between operation modes, and the circuit configuration becomes complicated.

【0009】本発明が解決しようとする課題は、ゲイン
変動やオフセットの影響を受けやすい長穴記録において
も、それらの影響を低減する方式を提案することであ
る。本発明では、対象としては穴開け型記録膜にピット
エッジ記録方式を用いた場合を例として説明している
が、他の記録膜や記録方式に対しても広範に適用できる
方式である。
The problem to be solved by the present invention is to propose a method for reducing the influence of a long hole recording which is susceptible to gain fluctuation and offset. In the present invention, a case where a pit edge recording method is used as a target for a perforated recording film is described as an example, but it is a method that can be widely applied to other recording films and recording methods.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】記録時においても安定な
光スポット位置制御を行なうには、記録光パルスの反射
光レベルの尖頭値(高レベル側)を基に誤差信号を生成
し制御する方法が有効である。
In order to perform stable light spot position control even during recording, an error signal is generated and controlled based on the peak value (high level side) of the reflected light level of the recording light pulse. The method is effective.

【0011】課題を解決する手段としては、トラッキン
グのアンプ系にダイオードの非線形電流電圧特性を利用
して、再生光照射時と記録光照射時とで検出電流を電圧
に変換するための抵抗値を可変にする回路と、再生時の
ゲイン低下を回復させ、且つ長穴記録時の反射光の尖頭
レベルをホールドするためのピークホールド回路と、さ
らにデリート時にデリート光照射時とその前後の反射光
信号は見ないようにするためのデリートマスク回路とを
用いることにより、ゲイン変化とオフセットの少ない安
定したトラッキング制御が実現できる。
As means for solving the problem, a resistance value for converting a detection current into a voltage at the time of irradiating the reproduction light and at the time of irradiating the recording light by utilizing a nonlinear current-voltage characteristic of a diode in a tracking amplifier system. A circuit to make it variable, a peak hold circuit to recover a decrease in gain at the time of reproduction, and to hold the peak level of reflected light at the time of long hole recording, and a reflected light at the time of delete light irradiation at the time of delete and before and after the delete light irradiation By using a delete mask circuit for preventing a signal from being seen, stable tracking control with little gain change and offset can be realized.

【0012】ダイオードによる電流電圧変換抵抗可変回
路は、再生や記録モード毎にゲインを一律に変える方式
に比べて、検出電流の大小によって自動的にゲインが選
定されるため、特別にモード毎の切り替えが不要である
ほか、記録モード中の記録パルス光の非照射期間、すな
わち再生光照射期間でもゲインが低下することが無い。
さらに、再生光照射時のゲインが大きく採れるため回路
系のオフセットの許容値の拡大と、記録光照射時のゲイ
ンは小さくできるため回路系の飽和の回避とを両立する
ことができる。
In the current-voltage conversion resistance variable circuit using a diode, the gain is automatically selected depending on the magnitude of the detected current, as compared with a method in which the gain is uniformly changed for each reproduction or recording mode. Is unnecessary, and the gain does not decrease even during the non-irradiation period of the recording pulse light in the recording mode, that is, during the reproduction light irradiation period.
Further, the gain at the time of irradiation of the reproduction light can be large, so that the allowable value of the offset of the circuit system can be increased, and the gain at the time of irradiation of the recording light can be reduced, so that the saturation of the circuit system can be avoided.

【0013】[0013]

【作用】ダイオードによる電流電圧変換可変回路は、照
射パワーの低い再生光照射範囲での変換利得抵抗の値が
大きく設定できるため、アンプ系の回路オフセットの許
容値の拡大を図ることができる。且つ、照射パワーの高
い記録光照射範囲では自動的に変換利得抵抗の値が小さ
くできるため、アンプ系の飽和を防ぐことができる。ま
た、再生モードと記録モードとで一律にゲインを切り替
える方式では、記録モード内で記録パルス光が照射され
ていない再生光照射期間でのレベルが極端に減少する
が、本方式では動作モードの切り替えではなく検出電流
の大きさでゲインが変化するため、このような問題はな
い。
In the current-voltage conversion variable circuit using a diode, the value of the conversion gain resistance can be set large in the reproduction light irradiation range where the irradiation power is low, so that the allowable value of the circuit offset of the amplifier system can be expanded. In addition, since the value of the conversion gain resistance can be automatically reduced in the recording light irradiation range where the irradiation power is high, saturation of the amplifier system can be prevented. In addition, in the method in which the gain is switched uniformly between the reproduction mode and the recording mode, the level during the reproduction light irradiation period in which the recording pulse light is not irradiated in the recording mode is extremely reduced. However, such a problem does not occur because the gain changes depending on the magnitude of the detected current.

【0014】ピークホールド回路は、再生時のピットが
存在する場所に対するゲイン低下を、ピット間のギャッ
プ部(未記録部)のレベルを保持することで、抑圧する
ことができる。また、穴開け型記録膜では記録膜が溶融
して破れていく過程では案内溝からの回折光の分布に偏
りが出やすい。このため、記録膜がまだ破れ過程に入っ
ていない膨らみ過程での反射光レベルを保持して用いる
ことで、トラックオフセットへの影響が低減できる。
The peak hold circuit can suppress a decrease in gain at a position where a pit exists during reproduction by maintaining the level of a gap portion (unrecorded portion) between the pits. In the case of a perforated recording film, the distribution of diffracted light from the guide groove tends to be biased in the process of melting and breaking the recording film. For this reason, the influence on the track offset can be reduced by maintaining and using the reflected light level in the bulging process in which the recording film has not yet entered the breaking process.

【0015】デリートは未記録部上、ないしは既記録部
上に或るパターン(デリートパターン)を上書きするこ
とで、該既記録データを無効にする操作である。したが
って、追記型光ディスクに特有な機能である。このよう
にデリートは、既に記録されているデータパターンによ
って反射光信号が変動すること、およびサーボの動作は
再生モードで実施する必要があることから、デリートパ
ルス光照射時とその前後はディスクからの反射光を見な
いようにするのが望ましい。デリートマスクとは、該期
間に関してはデリートマスク直前までの信号レベルをホ
ールドする機能である。これにより、トラックオフセッ
トの増加を防ぐこと、サーボゲインの安定化を図ること
ができる。
The delete operation is an operation of overwriting a certain pattern (delete pattern) on an unrecorded portion or a recorded portion to invalidate the recorded data. Therefore, this is a function unique to the write-once optical disc. As described above, since the reflected light signal fluctuates according to the data pattern already recorded, and the servo operation needs to be performed in the reproduction mode, the delete pulse is irradiated from the disk before and after irradiation with the delete pulse light. It is desirable not to see the reflected light. The delete mask has a function of holding the signal level immediately before the delete mask for the period. Thus, it is possible to prevent an increase in the track offset and to stabilize the servo gain.

【0016】[0016]

【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。図
1は本発明のトラッキング回路の一例の構成図である。
プッシュプル方式によるトラッキングでは、ディスク案
内溝からの回折光分布を分割型の光検出器で受光し、各
々の光検出器で受光される光量が等しくなるようにトラ
ッキングのためのアクチュエータを動作させ、光スポッ
トを常に案内溝上、ないしは案内溝間に位置させる。3
スポット方式によるトラッキングでも基本的には、プッ
シュプル方式と同様な動作となる。すなわち、主ビーム
の前後に位置する2つの副ビームのそれぞれからの反射
光を光検出器で受光し、各々の光量が等しくなるように
制御する。図1において、TR−AとTR−Bは、各々
の受光量を等しくすべき2系列のトラッキング信号であ
る。説明の都合上、TR−A側の信号系列について本回
路の動作を説明する。光検出器101で受光されたディ
スクからの反射光はここで電流に変換される。一般に光
検出器にはPIN型のフォトダイオードが使用され、光
量に比例した電流が発生する。この検出電流はアンプ1
03で電圧に変換される。ここで、抵抗105は再生モ
ードでの電流電圧変換抵抗であり、抵抗107は記録モ
ードで抵抗105と並列接続になることによる電流電圧
変換抵抗である。ダイオード109は順方向電流の大き
さにより順方向電圧が変化する、いわゆるダイオードの
非線形特性を用いることで、電流電圧変換抵抗の値を制
御するためのものである。この非線形特性については、
後述する。
Embodiments of the present invention will be described below. FIG. 1 is a configuration diagram of an example of the tracking circuit of the present invention.
In the tracking by the push-pull method, the diffraction light distribution from the disk guide groove is received by the split-type photodetector, and the actuator for tracking is operated so that the amount of light received by each photodetector is equal, The light spot is always located on or between the guide grooves. 3
Basically, the same operation as the push-pull method is performed in the tracking by the spot method. That is, reflected light from each of the two sub-beams positioned before and after the main beam is received by the photodetector, and control is performed so that the respective light amounts become equal. In FIG. 1, TR-A and TR-B are two series of tracking signals for which the amounts of received light should be equal. For convenience of explanation, the operation of this circuit will be described for a signal sequence on the TR-A side. The reflected light from the disk received by the photodetector 101 is converted into a current here. Generally, a PIN-type photodiode is used as a photodetector, and a current proportional to the amount of light is generated. This detection current is
At 03, it is converted to a voltage. Here, the resistor 105 is a current-voltage conversion resistor in the reproduction mode, and the resistor 107 is a current-voltage conversion resistor connected in parallel with the resistor 105 in the recording mode. The diode 109 is for controlling the value of the current-voltage conversion resistor by using a so-called non-linear characteristic of a diode in which a forward voltage changes according to the magnitude of a forward current. About this nonlinear characteristic,
It will be described later.

【0017】トランジスタ111はピークホールド回路
の充電方向を定めるためのダイオードを構成している。
ここでトランジスタ140は、トランジスタ111、ト
ランジスタ112でのエミッタとベース間の電位差を相
殺するために予めアンプ103、アンプ104の基準電
圧にオフセットを加えるためのものである。したがっ
て、ペア特性の良いものを用い、さらに実装上も近接さ
せることにより、温度特性の均一性を確保することが必
要である。同様にダイオード109、110もTR−A
側とTR−B側に使用するものもペア特性の良いものを
使用し、回路系で生じるオフセットを極力小さくする必
要がある。抵抗113とコンデンサ115はピークホー
ルドのための時定数を決定するための素子である。通
常、アンプ103に演算増幅器を用いた場合、出力イン
ピーダンスは非常に小さく(数オーム)することができ
る。また、アンプ117は、入力インピーダンスを非常
に大きくするための効果を有し、これによりホールドの
時定数を概ね抵抗113とコンデンサ115の積で決め
ることができる。充電時定数はトランジスタ111の導
通抵抗とコンデンサ115の積で決定される。例えば、
トランジスタの導通抵抗を10Ω、コンデンサの静電容
量を1000pFとした場合は充電時定数は10nsと
なる。一方、放電次定数は抵抗113とコンデンサ11
5の積で決定される。例えば、抵抗値が1kΩ、コンデ
ンサの静電容量が1000pFの場合は放電時定数は1
μsとなる。アンプ117の出力はアンプ119に入力
され、適当なレベルに増幅される。図1では演算増幅器
による反転アンプの場合を例に示してあるが、信号の極
性などによっては非反転アンプを使用してもよい。
The transistor 111 constitutes a diode for determining the charging direction of the peak hold circuit.
Here, the transistor 140 is for adding an offset to the reference voltage of the amplifier 103 and the amplifier 104 in advance in order to cancel the potential difference between the emitter and the base in the transistor 111 and the transistor 112. Therefore, it is necessary to ensure uniformity of the temperature characteristics by using a pair having a good pair characteristic and by bringing the pair closer to each other in mounting. Similarly, the diodes 109 and 110 are TR-A
It is necessary to use a pair having good pair characteristics for the side and the TR-B side to minimize the offset generated in the circuit system. The resistor 113 and the capacitor 115 are elements for determining a time constant for peak hold. Normally, when an operational amplifier is used as the amplifier 103, the output impedance can be extremely small (several ohms). Further, the amplifier 117 has an effect of making the input impedance extremely large, whereby the time constant of the hold can be substantially determined by the product of the resistor 113 and the capacitor 115. The charging time constant is determined by the product of the conduction resistance of the transistor 111 and the capacitor 115. For example,
When the conduction resistance of the transistor is 10Ω and the capacitance of the capacitor is 1000 pF, the charging time constant is 10 ns. On the other hand, the discharge order constant is determined by the resistance 113 and the capacitor 11
Determined by the product of five. For example, when the resistance value is 1 kΩ and the capacitance of the capacitor is 1000 pF, the discharge time constant is 1
μs. The output of the amplifier 117 is input to the amplifier 119 and amplified to an appropriate level. FIG. 1 shows an example of an inverting amplifier using an operational amplifier, but a non-inverting amplifier may be used depending on the polarity of a signal.

【0018】アナログスイッチ121は、デリートパタ
ーンを記録する場合に、デリートパターンの記録光の照
射期間を含む或る期間に対して、スイッチを開くことに
より、該期間ではデリート光の反射光の影響を感じない
ようにするためのものである。すなわち、デリート実施
時にはそれまでにどんなパターンが記録されているかは
不明なため、既記録パターンの違いによってデリートパ
ルス照射時の反射光のレベルは変動するため、トラッキ
ング系のゲイン変動やオフセットへの影響を抑えるため
にデリート期間の検出信号を使用しないようにしてい
る。以下の説明において、該期間をデリートマスク期間
と呼ぶことにする。該アナログスイッチは、デリートマ
スク期間は制御信号123により開放となり、それ以外
の期間では短絡する。デリートマスク直前の信号レベル
は抵抗125とコンデンサ127とで構成されるホール
ド回路により、該信号レベルが保持される。アンプ12
9は、電圧フォロワであり高い入力インピーダンスで受
けることにより時定数を抵抗125とコンデンサ127
で決定されるようにするためのものである。これにより
充電時定数はほぼ抵抗125とコンデンサ127の積で
決定され、放電時定数はアンプ129の入力インピーダ
ンスとコンデンサ127の積で決定される。
When recording the delete pattern, the analog switch 121 opens the switch for a certain period including the irradiation period of the recording light of the delete pattern, thereby controlling the influence of the reflected light of the delete light in the period. It is to avoid feeling. In other words, it is unclear what pattern has been recorded by the time of the delete operation, and the level of the reflected light when the delete pulse is irradiated varies depending on the recorded pattern. In order to suppress this, the detection signal of the delete period is not used. In the following description, this period will be referred to as a delete mask period. The analog switch is opened by the control signal 123 during the delete mask period, and is short-circuited during other periods. The signal level immediately before the delete mask is held by a hold circuit including a resistor 125 and a capacitor 127. Amplifier 12
Reference numeral 9 denotes a voltage follower, which receives a signal with a high input impedance to change the time constant by the resistor 125 and the capacitor 127.
Is to be determined by Thus, the charging time constant is determined substantially by the product of the resistor 125 and the capacitor 127, and the discharging time constant is determined by the product of the input impedance of the amplifier 129 and the capacitor 127.

【0019】デリートとは、未記録部ないしは既に何ら
かのデータパターンがピットの形で記録されている上
に、或る周期でパターンを上書きしていくことで、当該
セクタの情報を無効にする操作のことである。デリート
パターンの条件としては、デリート実施後には、当該セ
クタがデリートされたセクタであると必ず判定されるこ
と(未検出が生じないこと)、データのエラー訂正コー
ドによっても元のデータ列が復元できないこと、サーボ
特性に影響が出ないパターンであることなどが挙げられ
る。2−7変調によるピットエッジ記録方式を用いてピ
ットの前端、および後端をそれぞれデータの”1”に対
応させる場合には、データパターン中に存在する最も長
いパターン(4T)よりも長いデリートマークを、エラ
ー訂正コードによっても訂正不可能な周期で繰り返すよ
うなパターンが適当である。具体例としては、デリート
マーク長を8Tとし、これを周期64Tで繰り返すパタ
ーンが挙げられる。但し、ここでTはデータ1ビットの
時間間隔である。
The delete means an operation of invalidating the information of the sector by overwriting the pattern in a certain cycle while an unrecorded portion or some data pattern is already recorded in the form of pits. That is. As conditions for the delete pattern, after the delete is performed, the sector is always determined to be the deleted sector (no undetection occurs), and the original data string cannot be restored even by the error correction code of the data. And a pattern that does not affect the servo characteristics. In the case where the leading end and the trailing end of a pit are respectively made to correspond to data "1" by using a pit edge recording method by 2-7 modulation, a delete mark longer than the longest pattern (4T) existing in the data pattern Is repeated in a cycle that cannot be corrected even by an error correction code. As a specific example, there is a pattern in which the delete mark length is 8T and this is repeated at a cycle of 64T. Here, T is a time interval of one bit of data.

【0020】図1に記載した回路の後段には、TR−A
とTR−Bの両チャネルの信号の差信号を生成するため
の差動アンプ、アクチュエータのメカ特性を補償するた
めの位相補償回路、アクチェータ駆動のためのドライバ
回路、さらにはトラックジャンプのためのジャンプパル
ス印加回路などが付加される。また、ディスクの反射率
の変動の影響を抑圧するために、TR−A側とTR−B
側の和信号を生成し、該和信号により、差信号のレベル
を規格化するゲイン制御回路を設けた方式が考えられ
る。本発明の意図からは、差信号、ないしは和信号の生
成回路以降は従来方式でよいため、詳細な説明は省い
た。
At the subsequent stage of the circuit shown in FIG.
Amplifier for generating a difference signal between the signals of the two channels TR and TR-B, a phase compensation circuit for compensating the mechanical characteristics of the actuator, a driver circuit for driving the actuator, and a jump for a track jump A pulse application circuit and the like are added. Further, in order to suppress the influence of the variation in the reflectivity of the disk, the TR-A side and the TR-B
A method is conceivable in which a sum signal on the side is generated, and a gain control circuit for normalizing the level of the difference signal is provided based on the sum signal. For the purpose of the present invention, since a conventional circuit may be used after the circuit for generating the difference signal or the sum signal, a detailed description is omitted.

【0021】図2は、未記録状態のディスク記録膜にピ
ットエッジ記録方式により、密なデータパターンを記録
する場合の光パワーとTR−AとTR−Bの信号波形、
および穴開け形記録膜の記録過程を示した図である。ピ
ットエッジ記録方式はピットの端をデータに対応させる
記録方式であり、同一分解能の光スポットでも丸穴の中
心にデータを対応させるピットセンター記録方式に比べ
て、より高密度化できる方式である。図2において、変
調方式として2−7変調を用いた場合を考えると、最も
記録パワー照射期間がデュティからみて大きいのは4T
の期間記録光パルスを照射して、1.5Tの期間は再生
パワーに戻るパターンの繰返しである。記録パルス幅に
関してデータ4T長そのものを用いた場合は、デュティ
は約72%になる。一般には、記録パルス幅よりも、そ
れによって形成されるピット長の方が長くなるため、或
る幅だけ記録パルス幅を短くして記録することが行なわ
れる。以下の説明では、このような密データパターンを
最密データパターンと呼ぶことにする。図2において、
記録パルスを照射すると両チャネルの信号波形はそれぞ
れA1、B1のレベルに達する。この期間は記録膜の膨
らみ過程にあり、記録膜自身はまだ破れていない。この
ため、記録膜の反射率は未記録状態とほぼ同じ値にある
ため、再生パワーと記録パワーの比の分だけ反射光レベ
ルは変化する。また、この期間はデータパターン長には
あまり依存せず、図2で示した記録パルス幅でもほぼ同
様の時間だけこの膨らみ過程が存在する。さらに、この
期間では光スポットの収差による形状の歪や、トラック
オフセットの影響が現れにくいため、尖頭値A1とB1
の差はあまり大きくない。次に記録膜に十分な熱が与え
られる期間に入ると記録膜は破れ始める。この期間は記
録パルス幅が長いパターンほど長い期間になる。また、
記録パルスの間の休止期間は再生パワー照射の状態にな
る。この再生期間では記録膜の状態変化に伴うレベル変
動はない。記録膜の溶融期間は、記録膜が溶融状態にあ
るため各々のチャネルでの反射光レベルには差異が生じ
やすい。これは、トラック案内溝からの回折光パターン
が乱されやすいことによる。一方、従来のトラッキング
方式では、数十kHz程度のサーボ帯域程度の伝送系で
処理を行なっているため、この破れ過程の領域をも含ん
だ平均レベルでサーボ動作が行なわれている。したがっ
て、この破れ過程での信号レベルA2とB2の差異が大
きい領域の影響を強く受ける。特に図2で示したような
最密データパターンにおいて、その影響が大きい。以上
のことから、出来るだけ記録パルス照射開始時点の膨ら
み過程での反射光レベルを頼りにトラッキング制御を行
なうのが、トラックオフセット低減の点から望ましい。
ピークホールドは尖頭値のレベルを検出、保持すること
により、破れ過程の影響を受けにくくする方式でもあ
る。
FIG. 2 shows the optical power and signal waveforms of TR-A and TR-B when a dense data pattern is recorded on the unrecorded disk recording film by the pit edge recording method.
FIG. 4 is a diagram showing a recording process of a perforated recording film. The pit edge recording method is a recording method in which the ends of the pits correspond to data, and is a method capable of achieving a higher density than a pit center recording method in which data is corresponded to the center of a round hole even with a light spot having the same resolution. In FIG. 2, considering the case where 2-7 modulation is used as the modulation method, the recording power irradiation period is the longest in terms of duty from 4T.
During the period of 1.5T, a pattern in which the recording light pulse is irradiated to the reproducing power is repeated. When the data 4T length itself is used for the recording pulse width, the duty becomes about 72%. Generally, the pit length formed by the recording pulse width is longer than the recording pulse width. Therefore, recording is performed by shortening the recording pulse width by a certain width. In the following description, such a dense data pattern will be referred to as a closest data pattern. In FIG.
When the recording pulse is irradiated, the signal waveforms of both channels reach the levels of A1 and B1, respectively. During this period, the recording film is in the process of swelling, and the recording film itself has not been broken yet. For this reason, since the reflectance of the recording film is almost the same as that in the unrecorded state, the reflected light level changes by the ratio of the reproducing power to the recording power. Further, this period does not depend much on the data pattern length, and this bulging process exists for almost the same time even with the recording pulse width shown in FIG. Further, in this period, the shape distortion due to the aberration of the light spot and the influence of the track offset hardly appear, so that the peak values A1 and B1
The difference is not so large. Next, when the recording film enters a period in which sufficient heat is applied, the recording film starts to be broken. This period is longer for a pattern having a longer recording pulse width. Also,
The pause period between recording pulses is in the state of reproducing power irradiation. During this reproduction period, there is no level change due to a change in the state of the recording film. During the melting period of the recording film, since the recording film is in a molten state, the level of reflected light in each channel tends to be different. This is because the diffracted light pattern from the track guide groove is easily disturbed. On the other hand, in the conventional tracking method, since processing is performed in a transmission system of a servo band of about several tens of kHz, the servo operation is performed at an average level including the area of the breaking process. Therefore, the area where the difference between the signal levels A2 and B2 in the breaking process is large is strongly affected. In particular, the influence is great in the densest data pattern as shown in FIG. From the above, it is desirable from the viewpoint of track offset reduction that tracking control be performed by relying on the reflected light level in the bulging process at the start of recording pulse irradiation as much as possible.
The peak hold is also a method of detecting and holding the level of the peak value so as to be less susceptible to the breaking process.

【0022】図3は、図2の非線形電流電圧変換利得回
路に用いているダイオードの特性を示した図である。ダ
イオードに流れる順方向電流に対して順方向電圧が変化
する。図3では抵抗105、106を10kΩ、抵抗1
07、108を1kΩとした場合について示してある。
順方向電流が40μA以下の領域は再生光パワー照射で
の反射光の検出電流に対応する領域であり、ダイオード
はまだ導通状態にないため、抵抗105、106の値が
そのまま電流電圧変換抵抗の値になる。一方、記録光パ
ワー照射での反射光の検出電流に対応する領域では約2
00μA以上の検出電流が得られ、電流電圧変換抵抗の
値は抵抗105と抵抗107の並列抵抗の値、すなわち
約900Ωになる。図3において、再生光領域と記録光
領域の間では、電流電圧変換抵抗の値が非線形に変化す
るが、記録パワーを再生パワーの5倍以上にしておけば
この非線形領域は問題無くなる。このように、ダイオー
ドによる変換利得可変回路は、再生光パワー領域でのア
ンプ系のゲインを大きくとることと、記録光パワー領域
でのアンプ系の飽和を回避することの両立を図ることが
できる。再生光パワー領域でのゲインを大きくできるこ
とで、後段での回路系のオフセット電圧の許容値の拡大
が可能となる。例えば、初段アンプのゲインが記録パル
ス照射時の反射光レベルで飽和しないことを考慮して5
倍に設定した場合において、後段アンプのオフセットの
許容値が10mVであったとすると、初段アンプのゲイ
ンが10倍にできれば、同一のトラッキングオフセット
になるのは、後段アンプのオフセットが20mVのとき
であり、後段アンプのオフセット許容値を2倍に拡大す
ることができる。
FIG. 3 is a diagram showing characteristics of a diode used in the nonlinear current-voltage conversion gain circuit of FIG. The forward voltage changes with respect to the forward current flowing through the diode. In FIG. 3, the resistances 105 and 106 are set to 10 kΩ and the resistance 1
The case where 07 and 108 are 1 kΩ is shown.
The region where the forward current is 40 μA or less is a region corresponding to the detection current of the reflected light in the reproduction light power irradiation, and since the diode is not in a conductive state yet, the value of the resistors 105 and 106 is the value of the current-voltage conversion resistor as it is. become. On the other hand, in the region corresponding to the detection current of the reflected light in the irradiation of the recording light power, about 2
A detection current of 00 μA or more is obtained, and the value of the current-voltage conversion resistor becomes the value of the parallel resistance of the resistors 105 and 107, that is, about 900Ω. In FIG. 3, the value of the current-voltage conversion resistance changes non-linearly between the reproducing light area and the recording light area. However, if the recording power is set to five times or more the reproducing power, this non-linear area will not cause any problem. As described above, the conversion gain variable circuit using the diode can achieve both the gain of the amplifier system in the reproduction light power region and the avoidance of the saturation of the amplifier system in the recording light power region. Since the gain in the reproduction light power region can be increased, the allowable value of the offset voltage of the circuit system in the subsequent stage can be increased. For example, considering that the gain of the first-stage amplifier does not saturate at the reflected light level at the time of recording pulse irradiation, 5
Assuming that the allowable value of the offset of the post-stage amplifier is 10 mV in the case of setting to double, if the gain of the first-stage amplifier can be increased by a factor of 10, the same tracking offset occurs when the offset of the post-stage amplifier is 20 mV. And the allowable offset value of the post-stage amplifier can be doubled.

【0023】図4は、再生モードと記録モードでの電流
電圧変換抵抗の値を変えるための別の実施例である。図
4は、TR−A側の初段アンプのみを示した。アナログ
スイッチ401は、スイッチ制御信号402により再生
モードでは開放、記録モードでは短絡させる。したがっ
て、再生モードでは抵抗403の値が電流電圧変換抵抗
値になり、記録モードでは抵抗403と抵抗404の並
列抵抗の値が電流電圧変換抵抗の値になる。図4の回路
形式での再生モードと記録モードでのゲイン切り替え
は、図1、ないし図3で示したゲイン切り替えとは異な
った動作になる。図3で示したダイオードによるゲイン
切り替えでは、再生モードか記録モードかに関係なく検
出電流によって自動的にゲイン(検出電流に対する出力
電圧の比)が変化する。一方、図4のように再生モード
か記録モードかでゲインを切り替えた場合には、記録モ
ード内で記録パルス光照射の休止期間に対しても同一の
ゲインに固定されることになる。したがって、記録すべ
きデータパターンが最密データの場合は平均の検出電流
は大きめになり、逆にピット長とギャップ長の関係が最
密データパターンとは逆転した最疎データパターンでは
平均の検出電流は小さめになる。このようにデータパタ
ーンの変化の影響は、図4の回路構成の場合の方が顕著
である。しかしながら、温度などの外的要因の変化に対
しては、図4のようなスイッチで抵抗を選択する回路の
方が安定であるため、データパターンの変化が少ない変
調方式、ないしは記録方式の場合には有効である。
FIG. 4 shows another embodiment for changing the value of the current-voltage conversion resistor in the reproducing mode and the recording mode. FIG. 4 shows only the first-stage amplifier on the TR-A side. The analog switch 401 is opened in the reproduction mode and short-circuited in the recording mode by the switch control signal 402. Therefore, in the reproduction mode, the value of the resistor 403 becomes the current-voltage conversion resistance value, and in the recording mode, the value of the parallel resistance of the resistor 403 and the resistance 404 becomes the value of the current-voltage conversion resistance. The switching of the gain in the reproduction mode and the recording mode in the circuit form of FIG. 4 is different from the operation of the gain switching shown in FIGS. In the gain switching by the diode shown in FIG. 3, the gain (the ratio of the output voltage to the detection current) automatically changes depending on the detection current regardless of the reproduction mode or the recording mode. On the other hand, when the gain is switched between the reproduction mode and the recording mode as shown in FIG. 4, the same gain is fixed during the pause period of the irradiation of the recording pulse light in the recording mode. Therefore, when the data pattern to be recorded is the densest data, the average detected current is relatively large. Conversely, the average detected current is small in the sparse data pattern in which the relationship between the pit length and the gap length is reversed from the densest data pattern. Becomes smaller. Thus, the influence of the change in the data pattern is more remarkable in the case of the circuit configuration of FIG. However, a circuit for selecting a resistor by a switch as shown in FIG. 4 is more stable with respect to a change in an external factor such as temperature. Is valid.

【0024】図5は、再生モードと記録モードでの検出
電流に対する出力電圧の関係を示した例である。ここで
は、抵抗403を10kΩ、抵抗404を1kΩに選ん
だ場合について示した。図3と比較すると、各動作モー
ドでの検出電流に対する出力電圧の関係(傾き)は各々
一致する。
FIG. 5 is an example showing the relationship between the detected current and the output voltage in the reproduction mode and the recording mode. Here, the case where the resistance 403 is selected to be 10 kΩ and the resistance 404 is selected to be 1 kΩ is shown. Compared with FIG. 3, the relationship (slope) of the output voltage with respect to the detected current in each operation mode matches each other.

【0025】図6は、電流電圧変換利得抵抗を一定にし
た場合と、ダイオードにより非線形に可変した場合につ
いてのTR−AとTR−Bの信号波形を示した図であ
る。ここでは、図2で示したTR−AとTR−Bの波形
を矩形近似して示している。すなわち、記録光パルス照
射直後の約100nsの期間では、記録膜は膨らみ過程
にあるため反射光量は大きく、その後破れ過程に入り記
録膜が溶融してくると、膨らみ過程での反射光レベルよ
り減少したレベルが続く。この後、再生光パワーに戻る
と、反射光レベルもこれに対応して減少する。(a)の
利得抵抗一定の場合は記録光パルス照射期間の面積がパ
ターン1周期に占める割合が大きい。このため、特に記
録膜の溶融過程の影響を強く受ける。一方、(b)の利
得抵抗可変の場合は記録光パルス照射期間の面積のパタ
ーン1周期に占める割合は減少する。なお、図6の中で
点線は、放電時定数を1μsにした場合の波形ディケイ
を示している。実際に生じるトラックオフセット量は、
TR−AとTR−Bの波形の面積比によって見積もるこ
とができる。すなわち、或るデータパターン1周期にお
けるA、Bの各チャネル波形の面積をそれぞれSa、S
bとすると、トラックオフセット量αは、数1より与え
られる。
FIG. 6 is a diagram showing TR-A and TR-B signal waveforms when the current-voltage conversion gain resistance is fixed and when the current-voltage conversion gain resistance is nonlinearly varied by a diode. Here, the waveforms of TR-A and TR-B shown in FIG. 2 are shown as rectangular approximations. That is, in the period of about 100 ns immediately after the irradiation of the recording light pulse, the amount of reflected light is large because the recording film is in the process of swelling, and then, when the recording film enters the tearing process and melts, the reflected light level decreases in the swelling process. The level you have followed. Thereafter, when the power returns to the reproduction light power, the reflected light level also decreases correspondingly. In the case of (a) where the gain resistance is constant, the area of the recording light pulse irradiation period occupies a large proportion in one pattern period. Therefore, the recording film is particularly affected by the melting process. On the other hand, in the case of the variable gain resistance shown in FIG. 4B, the ratio of the area of the recording light pulse irradiation period to one cycle of the pattern decreases. The dotted line in FIG. 6 shows the waveform decay when the discharge time constant is set to 1 μs. The actual track offset amount is
It can be estimated by the area ratio between the waveforms of TR-A and TR-B. That is, the areas of the channel waveforms A and B in one cycle of a certain data pattern are Sa and S, respectively.
Assuming b, the track offset amount α is given by Equation 1.

【0026】[0026]

【数1】 (Equation 1)

【0027】また、このαからトラックオフセットの距
離Δへの換算は、数2より求まる。
The conversion from α to the track offset distance Δ is obtained from Equation 2.

【0028】[0028]

【数2】 (Equation 2)

【0029】数2において、δはトラック間隔、βは光
スポットとトラック間隔、および案内溝形状などで決ま
る数値であり、未記録の場合を100%とした場合の相
対量として、実験的に求める数値である。例えば、トラ
ック間隔を1.5μm、V型の幅が約0.4μmの案内
溝で、光スポット径が約1.4μmの場合、実験から求
めたβの値は約50%であった。数1、および数2と図
6を用いてダイオードによる利得抵抗可変の場合と従来
のように一定の場合、さらにピークホールドを使用した
場合と使用しない場合について、トラックオフセットを
試算した結果を以下に示す。以下の説明において便宜
上、ダイオードによる非線形電流電圧変換回路をNI
V、ピークホールド回路をPHと略記する。
In Equation 2, δ is a numerical value determined by the track interval, β is a numerical value determined by the light spot-track interval, the shape of the guide groove, and the like, and is experimentally obtained as a relative amount when an unrecorded state is set to 100%. It is a numerical value. For example, in the case of a guide groove having a track interval of 1.5 μm, a V-shaped width of about 0.4 μm, and a light spot diameter of about 1.4 μm, the value of β obtained from an experiment was about 50%. Using Equations 1 and 2 and FIG. 6, the results of trial calculation of the track offset for the case where the gain resistance is changed by the diode, the case where it is constant as in the past, and the case where peak hold is used and the case where it is not used are shown below. Show. In the following description, for the sake of convenience, a nonlinear current-voltage conversion
V and the peak hold circuit are abbreviated as PH.

【0030】従来方式(NIVなし、PHなし)では、
図6からはα=23.4%、すなわちΔTR=0.12
2μmのトラックオフセットが生じる計算になる。これ
に対して、ホールド時定数を1μsにして、NIVな
し、PHありの場合はΔ=0.083μm、さらにNI
Vあり、PHありの場合はΔ=0.033μmにまでト
ラックオフセット抑圧が可能となる計算結果を得た。す
なわち、NIVとPHを用いることにより、約1/4程
度にまでトラックオフセットを抑圧できる。
In the conventional method (without NIV and without PH),
From FIG. 6, α = 23.4%, that is, ΔTR = 0.12
This results in a track offset of 2 μm. On the other hand, the hold time constant is set to 1 μs, Δ = 0.083 μm when there is no NIV and there is PH, and NI
In the case where V is present and PH is present, a calculation result has been obtained in which track offset can be suppressed to Δ = 0.033 μm. That is, the track offset can be suppressed to about 1/4 by using the NIV and the PH.

【0031】ダイオードを用いた非線形利得抵抗可変回
路、あるいはピークホールド回路はそれぞれ単独でも記
録時のトラックオフセット抑圧効果がある。非線形利得
抵抗可変回路は、再生時反射光レベルに対して、記録時
反射光レベルの比を圧縮するために、記録時のトラック
オフセットの主要因となる記録膜の溶融期間の影響が低
減されるためと考えられる。
The non-linear gain resistance variable circuit using the diode or the peak hold circuit alone has a track offset suppressing effect at the time of recording. Since the nonlinear gain resistance variable circuit compresses the ratio of the reflected light level at the time of recording to the reflected light level at the time of reproduction, the influence of the melting period of the recording film, which is a main factor of track offset during recording, is reduced. It is thought to be.

【0032】以上までは、動作モードとして主に記録モ
ードについて説明してきた。次にデリートモードについ
て説明する。図7は、既データ上にデリートパターンを
上書きしている状態を示した図である。デリートの意味
やパターンの例については、前述したのでここでは説明
を省略する。図7の上側の図は時間に対する光パワーの
関係を示した図である。デリートパルスの幅はT1であ
る。デリートパルス照射期間の前後はデリートマスク信
号(DELMASK−P)によりマスク信号直前の信号
レベルが保持され、これによりトラッキング制御が行な
われる。したがって、T3の期間のみ、反射光レベル信
号を直接用いたトラッキング制御が行なわれる。図7に
おいて、再生光照射時のTR−A、TR−Bの各々のレ
ベルをa、bとし、デリート光照射時の各々のレベルを
ka、lbとする。また、デリートパルス幅、すなわち
デリート光パワーで発光している期間をT1、デリート
パルスが終了した後、デリートマスク期間が終了するま
での期間をT2、デリートマスク期間終了時点から次の
デリートマスク期間の開始までの期間をT3とする。期
間T3でのTR−AとTR−Bの各々の面積をSa、S
bとすると、それぞれ数3、数4で記述される。
The recording mode has been mainly described as the operation mode. Next, the delete mode will be described. FIG. 7 is a diagram showing a state in which the delete pattern is overwritten on the existing data. The meaning of the delete and an example of the pattern have been described above, and the description is omitted here. The upper part of FIG. 7 is a diagram showing the relationship of the optical power with respect to time. The width of the delete pulse is T 1. Before and after the delete pulse irradiation period, the signal level immediately before the mask signal is held by the delete mask signal (DELMASK-P), whereby tracking control is performed. Therefore, the period of T 3 only, tracking control is performed using a reflected light level signal directly. In FIG. 7, the levels of TR-A and TR-B at the time of reproducing light irradiation are a and b, and the levels at the time of delete light irradiation are ka and lb. Also, the period of light emission at the delete pulse width, that is, the delete light power is T 1 , the period from the end of the delete pulse to the end of the delete mask period is T 2 , and the next delete mask from the end of the delete mask period the period up to the start of the period to T 3. The area of each of the TR-A and TR-B in the period T 3 Sa, S
Assuming that b, they are described by Equations 3 and 4, respectively.

【0033】[0033]

【数3】 (Equation 3)

【0034】[0034]

【数4】 (Equation 4)

【0035】上式において、τ1、τ2はそれぞれTR−
A側、TR−B側のピークホールドの放電時定数であ
る。数3、数4を数1、数2に代入すれば、トラックオ
フセット量α、ないしΔが計算できる。数3、数4に関
してパラメータを変えた場合の計算結果を図8から図1
0に示した。以下、計算結果を基に、各パラメータとト
ラックオフセットの関係について説明する。
In the above equation, τ 1 and τ 2 are respectively TR-
It is the discharge time constant of the peak hold on the A side and TR-B side. By substituting Equations 3 and 4 into Equations 1 and 2, the track offset amount α or Δ can be calculated. FIG. 8 to FIG. 1 show calculation results when parameters are changed with respect to Equations 3 and 4.
0. Hereinafter, the relationship between each parameter and the track offset will be described based on the calculation results.

【0036】図8は、以下の条件下での放電時定数とト
ラックオフセットについての関係を示した例である。
FIG. 8 is an example showing the relationship between the discharge time constant and the track offset under the following conditions.

【0037】(1)再生光照射時のTR−AとTR−B
のレベルは等しいとする。すなわち、a=b (2)TR−A側とTR−B側の放電時定数は等しいと
し、さらにT2基準に時定数を与える。すなわち、τ=
τ1=τ2=qT2 (3)デリートパルス光照射時のTR−A、TR−Bの
レベルは再生光照射時の10倍とする。すなわち、(k
+l)/2=10 (4)TR−A側とTR−B側の再生時を基準としたレ
ベルの関係は、互いにp倍だけ異なっている。すなわ
ち、k=pl (5)デリート非マスク期間T3はデリートパルス光照
射終了からデリートマスク終了までの期間T2の4倍と
する。すなわち、T3=4T2、ビット周期Tを基準にす
ると、例えば、T3=44T、T2=11Tに設定する場
合に相当する。
(1) TR-A and TR-B during reproduction light irradiation
Are equal. That is, the discharge time constant of a = b (2) TR- A side and TR-B side is equal, further providing a time constant T 2 criteria. That is, τ =
τ 1 = τ 2 = qT 2 (3) The levels of TR-A and TR-B at the time of irradiating the delete pulse light are set to 10 times those at the time of irradiating the reproduction light. That is, (k
+ L) / 2 = 10 (4) The relationship between the levels on the TR-A side and the TR-B side based on the reproduction is different from each other by p times. That, k = pl (5) Delete unmasked period T 3 is four times the period T 2 of the from the end irradiated Delete pulsed light to delete the mask ended. That is, based on T 3 = 4T 2 and the bit period T, this corresponds to, for example, setting T 3 = 44T and T 2 = 11T.

【0038】以上の条件を用いた場合のトラックオフセ
ットαを数5に示す。
The track offset α when the above conditions are used is shown in Expression 5.

【0039】[0039]

【数5】 (Equation 5)

【0040】図8は、放電時定数τ(=qT2)に対し
て、TR−AとTR−Bのゲイン比pをパラメータにし
て、トラックオフセット量の変化を計算した結果であ
る。A側とB側のゲイン比が小さいほど、すなわちp=
1に近いほどトラックオフセット量は少なくなる。ま
た、放電時定数が小さいほどトラックオフセット量は少
なくなる。但し、あまり放電時定数が小さいと、特に最
密データ列を再生する場合にトラッキングゲインが小さ
くなってしまうため、デリート時と再生時での最適化を
図る必要がある。放電時定数に対する、再生時のゲイン
変化については、図11、図12のところで説明する。
FIG. 8 shows the result of calculating the change in the track offset amount using the gain ratio p between TR-A and TR-B as a parameter with respect to the discharge time constant τ (= qT 2 ). The smaller the gain ratio between the A side and the B side, that is, p =
The closer to 1, the smaller the track offset amount. Also, the smaller the discharge time constant is, the smaller the track offset amount is. However, if the discharge time constant is too small, the tracking gain becomes small especially when reproducing the densest data string, so that it is necessary to optimize between the delete time and the reproduction time. Changes in the gain at the time of reproduction with respect to the discharge time constant will be described with reference to FIGS.

【0041】図9は、A側とB側のゲイン比pは10%
異なる場合、すなわちp=1.1を例にとり、デリート
非マスク期間T3とデリートパルス照射終了からデリー
トマスク終了までの期間T2の比をパラメータとして、
放電時定数qに対するトラックオフセット量を計算した
結果である。この結果から、同一の放電時定数に対して
は、非マスク期間T3がT2に比べて長いほどトラックオ
フセットは小さくなることがわかる。
FIG. 9 shows that the gain ratio p between the A side and the B side is 10%.
As if different, that take p = 1.1 as an example, the ratio of the period T 2 of the from Delete unmasked period T 3 and delete pulse irradiation until the end delete the mask end parameter,
It is a result of calculating a track offset amount with respect to a discharge time constant q. The results, for the same discharge time constant, the longer the track offset as compared to the non-mask period T 3 is T 2 are seen to be smaller.

【0042】図10は、図9で(k+l)/2=2とし
た場合の結果である。ダイオードによる非線形変換利得
抵抗回路の効果により、デリートパルス照射時の信号レ
ベルが抑圧された場合に相当する。このように、デリー
トパルス照射時に検出レベルが低くしてやると、同一の
放電時定数に対してもトラックオフセット量を小さく抑
えることができる。例えば、図9においてq=1でu=
2のとき、α=3であったものが、図10では同一のq
とuに対して、α=1に低減される。
FIG. 10 shows the result when (k + 1) / 2 = 2 in FIG. This corresponds to a case where the signal level during the irradiation of the delete pulse is suppressed due to the effect of the nonlinear conversion gain resistance circuit using the diode. As described above, if the detection level is lowered during irradiation with the delete pulse, the track offset amount can be reduced even for the same discharge time constant. For example, in FIG. 9, q = 1 and u =
In the case of 2, α = 3, but in FIG.
And u are reduced to α = 1.

【0043】図9、図10の導出は、それぞれ以下の式
で行なった。
9 and 10 were derived by the following equations.

【0044】[0044]

【数6】 (Equation 6)

【0045】[0045]

【数7】 (Equation 7)

【0046】以上は、デリートモードに関しての放電時
定数、デリートマスク期間の検討について説明した。デ
リートモード、および記録モードでは、種々のパラメー
タによって生じるトラックオフセットが評価基準であっ
た。ここで、今一つの評価基準である再生モードでのゲ
イン変化について説明する。
In the above, the examination of the discharge time constant and the delete mask period in the delete mode has been described. In the delete mode and the recording mode, a track offset caused by various parameters has been an evaluation criterion. Here, a gain change in the reproduction mode, which is another evaluation criterion, will be described.

【0047】図11は最密データパターンの繰返し部を
読みだしている場合のTR−AとTR−Bの信号変化を
表した図である。穴開け形記録膜の場合は穴(ピット)
の部分は一般に反射率が未記録部に比べて小さいため、
サーボのための検出光レベルは減少する。特に、ピット
エッジ記録方式のような長穴パターンを用いる場合に
は、平均反射光量は低下し、最密データパターンの繰返
しの場合に最も厳しくなる。図11において、実線はピ
ークホールドを行なわない場合の信号変化である。図で
は、矩形近似して表している。また、点線は或る放電時
定数のピークホールドを行なった場合の信号変化であ
る。ピークホールドにより、ピットが存在する期間も未
記録部のレベルを保持することにより、ピット有無の影
響を低減し、サーボ制御はあたかも未記録部に対して行
なっている状態にすることができる。図12は、時定数
τに対するゲイン変化γの関係を示した図である。導出
は、次式で行なった。
FIG. 11 is a diagram showing signal changes of TR-A and TR-B when a repeated portion of the densest data pattern is read. Holes (pits) for perforated recording film
Is generally smaller in reflectance than the unrecorded area,
The detected light level for the servo decreases. In particular, when a long hole pattern such as the pit edge recording method is used, the average amount of reflected light decreases, and becomes severest when the densest data pattern is repeated. In FIG. 11, a solid line indicates a signal change when the peak hold is not performed. In the figure, a rectangular approximation is used. A dotted line indicates a signal change when a peak hold of a certain discharge time constant is performed. By holding the level of the unrecorded portion during the period in which the pit is present by the peak hold, the influence of the presence or absence of the pit can be reduced, and the servo control can be made as if the unrecorded portion is being performed. FIG. 12 is a diagram illustrating the relationship between the time constant τ and the gain change γ. The derivation was performed by the following equation.

【0048】[0048]

【数8】 (Equation 8)

【0049】ここで、時定数τは、ピット期間T4を基
準にした場合の比で表している。すなわち、τ=wT4
とした。ゲイン低下を考える場合は、使用する変調方式
において最も長いピット長に対応する期間をT4とすれ
ばよい。図12から、ゲイン低下を無くすには放電時定
数を無限大にすればよいことがわかる。しかしながら、
同一の放電時定数を記録時やデリート時に使用すること
を考慮すると、記録モードやデリートモードとの両立を
図ることのできる時定数の選択が必要となる。また、放
電時定数を極端に大きくすると、混在するデータパター
ンのレベル変動に追従できなくなるため、未記録レベル
が正確に検出できなくなる恐れがある。したがって、或
る程度のゲイン低下を見込み、このような再生信号レベ
ルの変化には追従する範囲に時定数を設定することにな
る。例えば、変調方式に許される最も長いピットと最も
長いギャップの繰返しパターンの場合の再生信号振幅を
基準とすると、最密データパターンの繰返しのギャップ
部の再生信号振幅は、減少する。この減少分にゲイン低
下量を合わせれば、混在するデータパターンに対しても
未記録部の信号レベルに追従し、保持することができ
る。図12では、一例としてゲイン変化量γを−2dB
見込んだ場合を示しており、このときw=2となる。い
ま、T4=4T、T2=11Tとした場合を考えると、w
=2は先に示した図8から図10ではq=2×4T/1
1T=0.73に相当する。具体的な数値例を挙げる
と、A側とB側とのゲイン比を10%以内に抑え、T3
=4T2とし、ダイオードによる非線形変換利得回路に
より(k+l)/2=2にしたとすると、トラックオフ
セットは1.5μm間隔のトラックに対して、0.00
3μm以内に抑えることができる。
Here, the time constant τ is expressed as a ratio based on the pit period T 4 . That is, τ = wT 4
And When considering the gain reduction may be a period corresponding to the longest pit length in the modulation scheme to be used with T 4. FIG. 12 shows that the discharge time constant may be set to infinity in order to eliminate the gain reduction. However,
Considering that the same discharge time constant is used at the time of recording or delete, it is necessary to select a time constant that can achieve both the recording mode and the delete mode. Further, when the discharge time constant is extremely large, it becomes impossible to follow the level fluctuation of the mixed data pattern, so that the unrecorded level may not be detected accurately. Therefore, a certain degree of gain reduction is expected, and a time constant is set in a range that follows such a change in the reproduction signal level. For example, based on the reproduction signal amplitude in the case of the repetition pattern of the longest pit and the longest gap allowed for the modulation method, the reproduction signal amplitude of the repetition gap portion of the densest data pattern decreases. If the amount of gain decrease is adjusted to this decrease, it is possible to follow and hold the signal level of the unrecorded portion even for a mixed data pattern. In FIG. 12, as an example, the gain change amount γ is set to −2 dB.
This shows a case in which prediction is made, and at this time, w = 2. Now, assuming that T 4 = 4T and T 2 = 11T, w
= 2 is q = 2 × 4T / 1 in FIGS. 8 to 10 described above.
This corresponds to 1T = 0.73. As a specific numerical example, the gain ratio between the A side and the B side is suppressed to within 10%, and T 3
= 4T 2 and (k + 1) / 2 = 2 by a non-linear conversion gain circuit using a diode, the track offset is 0.00 with respect to tracks at 1.5 μm intervals.
It can be suppressed within 3 μm.

【0050】[0050]

【発明の効果】本発明によれば、再生時と記録時とのス
ポット位置制御信号のゲイン変動とオフセットの影響を
効果的に抑圧することができる。特にダイオードなどの
半導体の順方向電流と電圧との非線形効果を用いること
により、再生時と記録時のゲイン切り替えが不要とな
る。また、穴開け型媒体の場合、記録過程における反射
光の先頭部のレベルを用いてサーボ制御することによ
り、オフセットの影響を低減することができる。
According to the present invention, it is possible to effectively suppress the influence of the gain fluctuation and offset of the spot position control signal during reproduction and during recording. In particular, by using the nonlinear effect of the forward current and voltage of a semiconductor such as a diode, it is not necessary to switch the gain between reproduction and recording. In the case of a perforated medium, the effect of offset can be reduced by performing servo control using the level of the head of reflected light in the recording process.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す光スポット位置制御回
路図部分である。
FIG. 1 is a light spot position control circuit diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】記録過程における諸信号波形の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of various signal waveforms in a recording process.

【図3】ダイオードの順方向電流に対する順方向電圧の
関係を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a relationship between a forward current and a forward voltage of a diode.

【図4】再生モードと記録モードとのゲイン切り替え手
段の別の実施例である。
FIG. 4 is another embodiment of the gain switching means between the reproduction mode and the recording mode.

【図5】図4における検出電流に対する出力電圧の関係
を示す図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a relationship between an output voltage and a detection current in FIG. 4;

【図6】検出電流に対する出力電圧への変換利得が一定
の場合と、図1に示した非線形電流電圧変換利得を用い
た場合の、トラッキング信号波形の違いの例を示す図で
ある。
6 is a diagram illustrating an example of a difference in tracking signal waveform between a case where a conversion gain to an output voltage with respect to a detection current is constant and a case where the nonlinear current-voltage conversion gain shown in FIG. 1 is used.

【図7】既記録データピット上にデリートパターンを上
書きしている状態の説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a state in which a delete pattern is overwritten on already recorded data pits.

【図8】ホールド回路の放電時定数に対するトラックオ
フセット量の関係を示す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a relationship between a discharge time constant of a hold circuit and a track offset amount.

【図9】デリート時の非マスク期間とデリートパルス照
射終了からデリートマスク終了までの期間とをパラメー
タとしたときの放電時定数に対するトラックオフセット
量の関係を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a relationship between a discharge time constant and a track offset amount when a non-mask period during delete and a period from the end of delete pulse irradiation to the end of delete mask are used as parameters.

【図10】図9において、反射光レベルの尖頭値がダイ
オードによる非線形電流電圧変換回路により低減された
場合の結果を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a result in a case where the peak value of the reflected light level in FIG. 9 is reduced by a nonlinear current-voltage conversion circuit including a diode.

【図11】最密データパターン読み出し時におけるトラ
ッキング信号波形の変化の様子を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing how a tracking signal waveform changes at the time of reading a densest data pattern.

【図12】図11において、時定数に対するゲイン変化
の関係を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a relationship between a time constant and a gain change in FIG. 11;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101、102…光検出器、109、110…ダイオー
ド、111、112…トランジスタ、113、114…
抵抗、115、116…コンデンサ、121、122…
アナログスイッチ、125、126…抵抗、127、1
28…コンデンサ、 A1…ピット形成時のトラッキング信号A側の尖頭値、 B1…ピット形成時のトラッキング信号B側の尖頭値、 A2…長ピット形成時のトラッキング信号A側の尖頭
値、B2…長ピット形成時のトラッキング信号B側の尖
頭値、α…和信号に対する差信号の比、Δ…トラックオ
フセット量。
101, 102: photodetector, 109, 110: diode, 111, 112: transistor, 113, 114 ...
Resistors, 115, 116 ... capacitors, 121, 122 ...
Analog switch, 125, 126 ... resistance, 127, 1
28: capacitor, A1: peak value on the tracking signal A side when forming a pit, B1 ... peak value on the tracking signal B side when forming a pit, A2: peak value on the tracking signal A side when forming a long pit, B2: a peak value on the tracking signal B side when a long pit is formed, α: ratio of a difference signal to a sum signal, Δ: track offset amount.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高砂 昌弘 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式 会社日立製作所小田原工場内 (56)参考文献 特開 平2−276024(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 7/09 - 7/095 G11B 7/00 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (72) Inventor Masahiro Takasago 2880 Kozu, Odawara-shi, Kanagawa Prefecture Odawara Plant, Hitachi, Ltd. (56) References JP-A-2-276024 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 6 , DB name) G11B 7/09-7/095 G11B 7/00

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 記録媒体上に光ビームを照射して、データ
の記録、再生、及び消去を行なう光学的記録再生装置に
おいて、受光量の大きさに応じて出力値が非線形に変化
する変換手段と、該出力値の尖頭値を保持する手段とを
用いてディスク上での該光ビームの位置制御のための誤
差信号を生成することを特徴とする光学的記録再生装
置。
1. An optical recording / reproducing apparatus for recording, reproducing, and erasing data by irradiating a recording medium with a light beam, wherein an output value changes nonlinearly according to the amount of received light. An optical recording / reproducing apparatus for generating an error signal for controlling the position of the light beam on a disk, using a means for holding the peak value of the output value.
【請求項2】 請求項において、非線形な変換手段とし
て半導体の非線形特性を用いることを特徴とする光学的
記録再生装置。
2. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 1, wherein the nonlinear conversion means uses nonlinear characteristics of a semiconductor.
【請求項3】 請求項において、尖頭値を保持する手段
として、静電容量と抵抗とで構成された回路を用いるこ
とを特徴とする光学的記録再生装置。
3. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 1, wherein a circuit constituted by a capacitance and a resistance is used as the means for holding the peak value.
【請求項4】 請求項において、非線形の変換手段と該
出力値を保持する手段とを通過した信号に対して、当該
記録領域を無効にするための特定データの光パルス照射
時、および該光パルス照射期間の前後の期間において、
該特定データの光パルスの媒体からの反射光量を感知さ
せないための手段を設けることを特徴とする光学的記録
再生装置。
4. A method according to claim 1 , wherein a signal passing through the non-linear conversion means and the means for holding the output value is irradiated with a light pulse of specific data for invalidating the recording area, and In the period before and after the light pulse irradiation period,
An optical recording / reproducing apparatus, comprising means for preventing the amount of reflected light of the specific data light pulse from the medium from being sensed.
【請求項5】 請求項において、光スポット位置制御の
ための信号として、該感知期間以外の期間における信号
を用いることを特徴とする光学的記録再生装置。
5. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 4, wherein a signal in a period other than the sensing period is used as a signal for controlling a light spot position.
【請求項6】 請求項において、記録媒体として光ディ
スク媒体を用い、マーク長記録を行ない、該マークの端
をデータに対応させる記録方式を用い、該光ディスクか
らの反射光量に対応して出力値が変化する変換手段を用
いて、該変換手段の出力値の尖頭値を保持することを特
徴とする光学的記録再生装置。
6. An optical disk according to claim 1, wherein an optical disk medium is used as a recording medium, a mark length is recorded, and a recording method is used in which an end of said mark corresponds to data, and an output value corresponding to the amount of reflected light from said optical disk is used. An optical recording / reproducing apparatus, wherein a peak value of an output value of the conversion means is held by using a conversion means whose value changes.
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