JPH05203459A - Measuring apparatus - Google Patents

Measuring apparatus

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JPH05203459A
JPH05203459A JP4032994A JP3299492A JPH05203459A JP H05203459 A JPH05203459 A JP H05203459A JP 4032994 A JP4032994 A JP 4032994A JP 3299492 A JP3299492 A JP 3299492A JP H05203459 A JPH05203459 A JP H05203459A
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calibration
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康浩 岩本
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Abstract

PURPOSE:To obtain a measuring apparatus which achieve a generation of calibration data automatically to correct a gain or an offset of an amplifier. CONSTITUTION:A sensor output signal, a reference voltage 7, and an earth 5 are inputted into an amplifier 1 being switched separately with a multiplexer 6. A controller 8 monitors a temperature data and a calibration state flag of a flag memory 10 and also controls the multiplexer 6 and a calibration data computing device 9 to perform a calibration data generation processing based on data of the reference voltage 7 and the earth 5. The calibration data generated is stored into a calibration data memory 4. This eliminates calibrating work and management of the calibration data or the like thereby achieving convenience in the aspect of operation.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、センサで検出した微
弱な電気信号を増幅してデータ処理を可能にする計測装
置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring device which amplifies a weak electric signal detected by a sensor and enables data processing.

【0002】[0002]

【従来の技術】図8は従来の計測装置を示すブロック図
である。図において、1はセンサ出力信号を増幅する増
幅器、2は増幅器1の出力をディジタルデータに変換す
るADコンバータ、3は上記ディジタルデータを温度デ
ータと較正データとにより補正する補正演算装置、4は
上記較正データを格納する較正データメモリ、5は増幅
器1及びADコンバータ2の接地(接地電位)である。
2. Description of the Related Art FIG. 8 is a block diagram showing a conventional measuring device. In the figure, 1 is an amplifier for amplifying a sensor output signal, 2 is an AD converter for converting the output of the amplifier 1 into digital data, 3 is a correction arithmetic unit for correcting the digital data with temperature data and calibration data, and 4 is the above-mentioned A calibration data memory 5 for storing calibration data is the ground (ground potential) of the amplifier 1 and the AD converter 2.

【0003】次に動作について説明する。微弱な電気信
号であるセンサ出力信号は増幅器1で増幅された後、A
Dコンバータ2でディジタルデータに変換される。補正
演算装置3は、較正データメモリ4に格納されているあ
らかじめ採取しておいた較正データと温度データとを参
照しながらADコンバータ2からのディジタルデータに
補正演算を施す。
Next, the operation will be described. The sensor output signal, which is a weak electric signal, is amplified by the amplifier 1 and then A
It is converted into digital data by the D converter 2. The correction calculation device 3 performs a correction calculation on the digital data from the AD converter 2 while referring to the calibration data and temperature data stored in the calibration data memory 4 that have been collected in advance.

【0004】ここで補正演算とは、増幅器1のゲインと
オフセットが温度によって変化することによる誤差を取
り除くため施す演算である。較正データとは補正演算の
際用いる係数である。ゲインの較正データは、増幅器1
に基準電圧(温度による電圧変動が極めて小さい電源)
を入力した時の出力と接地5を入力した時の出力との差
を、またオフセットの較正データは、接地5を入力した
時の出力をそれぞれ温度ごとに測定し、それらの値と基
準となる温度(例えば、室温20℃)との比をとったも
のである。
Here, the correction calculation is a calculation performed to remove an error caused by a change in the gain and offset of the amplifier 1 depending on temperature. The calibration data is a coefficient used in the correction calculation. The calibration data of the gain is the amplifier 1
Reference voltage (power supply with extremely small voltage fluctuation due to temperature)
The difference between the output at the time of inputting and the output at the time of inputting the ground 5 and the calibration data of the offset are measured by measuring the output at the time of inputting the ground 5 for each temperature, and become the reference value and those values. It is the ratio to the temperature (for example, room temperature 20 ° C.).

【0005】較正データメモリ4には、例えば図2に示
すように、メモリのアドレスに較正温度を対応させ、そ
の箇所に較正データが格納されている構成を持つ較正デ
ータテーブルが格納されている。
The calibration data memory 4 stores, for example, as shown in FIG. 2, a calibration data table having a configuration in which a calibration temperature is associated with an address of the memory and calibration data is stored at that location.

【0006】図9は複数個のセンサ0〜nの出力信号を
用いた計測装置を示すもので、各センサ出力信号毎にそ
れぞれ増幅器1が設けられ、各増幅器1の出力をマルチ
プレクサ11で順次に切換えてADコンバータ2に入力
させるようにしている。
FIG. 9 shows a measuring device using the output signals of a plurality of sensors 0 to n. An amplifier 1 is provided for each sensor output signal, and the output of each amplifier 1 is sequentially output by a multiplexer 11. The AD converter 2 is switched and input.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】従来の計測装置は以上
のように構成されているので、較正データをあらかじめ
採取しておかなければならず、特に図9のようにセンサ
出力信号の点数が複数ある場合は較正データの管理が複
雑になる。即ち、較正データは増幅器1ごとに異なり、
故障等によりある増幅器1を交換した場合は、それに対
応した較正データを採取して較正データメモリ4に格納
し直さなければならない。特に計測を行う現地での交換
はデータ入力装置が必要であり、作業員の工数が増え
る。また、増幅器1ごとの較正データの保管・管理が複
雑になるなどの問題点があった。
Since the conventional measuring device is constructed as described above, it is necessary to collect the calibration data in advance. Especially, as shown in FIG. 9, the sensor output signal has a plurality of points. In some cases, the management of calibration data becomes complicated. That is, the calibration data is different for each amplifier 1,
When a certain amplifier 1 is replaced due to a failure or the like, it is necessary to collect the calibration data corresponding thereto and store it in the calibration data memory 4 again. In particular, replacement at the site where measurement is performed requires a data input device, which increases the man-hours of workers. Further, there is a problem that the storage and management of the calibration data for each amplifier 1 becomes complicated.

【0008】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、較正データを人手を介さず求め
ることができると共に、ある温度について較正データを
求めたなら、その温度に関しては再び較正データを求め
る必要がなく、較正データの管理を使用者に意識させな
いで使用できる計測装置を得ることを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and calibration data can be obtained without human intervention, and if calibration data is obtained at a certain temperature, the calibration data can be obtained again at that temperature. An object of the present invention is to obtain a measuring device that does not need to obtain calibration data and can be used without making the user aware of the management of calibration data.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】この発明に係る計測装置
は、制御装置により温度データをモニタし、較正データ
を求めるべき温度になったら増幅器の入力を基準電圧や
接地と切換えて較正処理を行い、求めた較正データを較
正データメモリに格納すると共に、較正状況フラグを各
較正温度ごとに設け、制御装置により較正後にフラグを
立て、較正前にフラグをチェックしてフラグが立ってい
れば較正をしないようにしたものである。
In a measuring device according to the present invention, temperature data is monitored by a control device, and when a temperature at which calibration data should be obtained is reached, the input of an amplifier is switched to a reference voltage or ground to perform calibration processing. , The calibration data obtained is stored in the calibration data memory, and a calibration status flag is provided for each calibration temperature. I did not try to do it.

【0010】[0010]

【作用】この発明における制御装置は、温度データと較
正状況フラグとをモニタし、較正処理を制御する。ま
た、使用温度範囲の全ての較正温度での較正データが求
まり、一旦較正テーブルが仕上がってしまうと、以後較
正処理は行われなくなる。
The controller according to the present invention monitors the temperature data and the calibration status flag and controls the calibration process. Further, once the calibration data is obtained at all the calibration temperatures within the operating temperature range and the calibration table is completed, the calibration process will not be performed thereafter.

【0011】[0011]

【実施例】【Example】

実施例1.以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1においては図8と対応する部分には同一符号
を付して説明を省略する。図1において、7は基準電
圧、6はセンサ出力信号と基準電圧7と接地5とを切換
えて増幅器1に加えるマルチプレクサ、9はADコンバ
ータ2からのディジタルデータから較正データを演算し
て較正データメモリ4に格納する較正データ演算装置、
8は温度データや後述する較正状況フラグ等に基づいて
マルチプレクサ6、較正データ演算装置9を制御する制
御装置、10は較正状況フラグを図3に示すように格納
するフラグメモリである。なお、制御装置8及び較正デ
ータ演算装置9により制御演算装置が構成される。
Example 1. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, parts corresponding to those in FIG. 8 are designated by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In FIG. 1, reference numeral 7 is a reference voltage, 6 is a multiplexer for switching the sensor output signal, the reference voltage 7 and the ground 5 to add to the amplifier 1, and 9 is a calibration data memory for calculating calibration data from digital data from the AD converter 2. Calibration data calculation device to be stored in 4,
Reference numeral 8 is a control device that controls the multiplexer 6 and the calibration data calculation device 9 based on temperature data and a calibration status flag described later, and 10 is a flag memory that stores the calibration status flag as shown in FIG. The control device 8 and the calibration data operation device 9 constitute a control operation device.

【0012】次に動作について説明する。図4は制御装
置8が行う自動較正処理を示すフローチャート、図5は
図4のステップST2,ST7における較正処理の詳細
を示すフローチャート、図6は図4のステップST4に
おける通常の計測処理の詳細を示すフローチャートであ
る。図4において、計測装置が初めて動作を開始する
と、先ず、ステップST1によりフラグメモリ10の全
ての較正状況フラグをリセット信号によりクリアする。
これと共に較正データメモリ4における全てのゲイン較
正データを“1”にリセットし、全てのオフセット較正
データを“0”にセットする。
Next, the operation will be described. 4 is a flow chart showing the automatic calibration process performed by the control device 8, FIG. 5 is a flow chart showing the details of the calibration process in steps ST2 and ST7 of FIG. 4, and FIG. 6 is a detail of the normal measurement process in step ST4 of FIG. It is a flowchart shown. In FIG. 4, when the measuring device starts operating for the first time, first, in step ST1, all the calibration status flags in the flag memory 10 are cleared by a reset signal.
At the same time, all the gain calibration data in the calibration data memory 4 are reset to "1" and all the offset calibration data are set to "0".

【0013】次にステップST2で図5のような較正処
理を行う。先ず、ステップST21によりマルチプレク
サ6を切換えて接地5を増幅器1に入力する。ステップ
ST22では増幅器1の出力をADコンバータ2で変換
したデータをオフセット較正データとして較正データ演
算装置9内のレジスタに一旦格納する。次のステップS
T23ではマルチプレクサ6を切換えて基準電圧7を増
幅器1に入力し、このときADコンバータ2から得られ
るデータを較正データ演算装置9に取込む。ステップS
T24では較正データ演算装置9は先にステップST2
2でレジスタに格納した上記オフセット較正データを上
記取込まれたデータから引算し、この引算結果を増幅器
1のゲインの設計値で割算する。この割算結果をゲイン
較正データと成す。
Next, in step ST2, a calibration process as shown in FIG. 5 is performed. First, in step ST21, the multiplexer 6 is switched to input the ground 5 to the amplifier 1. In step ST22, the data obtained by converting the output of the amplifier 1 by the AD converter 2 is temporarily stored in the register in the calibration data arithmetic unit 9 as offset calibration data. Next step S
At T23, the multiplexer 6 is switched to input the reference voltage 7 to the amplifier 1, and the data obtained from the AD converter 2 at this time is taken into the calibration data arithmetic unit 9. Step S
At T24, the calibration data calculation device 9 first performs the step ST2.
The offset calibration data stored in the register in 2 is subtracted from the fetched data, and the subtraction result is divided by the design value of the gain of the amplifier 1. This division result is used as gain calibration data.

【0014】ステップST25では、マルチプレクサ6
を切換えてセンサ出力信号を増幅器1に入力して、較正
処理を終了し、図4のステップST3に進む。
In step ST25, the multiplexer 6
Is switched to input the sensor output signal to the amplifier 1, the calibration process is terminated, and the process proceeds to step ST3 in FIG.

【0015】ステップST3では、温度データを取込
み、予め設定された較正温度のうちの一番近い較正温度
を求め、較正データメモリ4の上記求められた較正温度
のアドレスに上記ステップST22,ST23で求めた
オフセット較正データ及びゲイン較正データを格納する
(図2参照)と共に、フラグメモリ10の上記較正温度
のアドレスの所に較正状況フラグを立てる(図3参
照)。
In step ST3, the temperature data is fetched, the closest calibration temperature among the preset calibration temperatures is determined, and the address of the determined calibration temperature in the calibration data memory 4 is determined in steps ST22 and ST23. The offset calibration data and the gain calibration data are stored (see FIG. 2), and a calibration status flag is set at the address of the calibration temperature in the flag memory 10 (see FIG. 3).

【0016】以上のようにして較正データを求めた後、
ステップST4において図6のような通常の計測処理が
行われる。先ず、ステップST41でマルチプレクサ6
から増幅器1、ADコンバータ2を通じて得られるセン
サ出力信号のデータを補正演算装置3に取込む。補正演
算装置3はステップST42において、上記取込まれた
データから較正データメモリ4における該当する較正温
度のアドレスに格納されたオフセット較正データを引算
する。次にステップST43において上記引算結果を、
較正データメモリ4における該当する較正温度のアドレ
スに格納されたゲイン較正データで割算する。その割算
結果をステップST44で最終的な計測値として出力
し、通常の計測処理を終了する。
After obtaining the calibration data as described above,
In step ST4, normal measurement processing as shown in FIG. 6 is performed. First, in step ST41, the multiplexer 6
The data of the sensor output signal obtained from the amplifier 1 and the AD converter 2 is fetched into the correction arithmetic unit 3. In step ST42, the correction arithmetic unit 3 subtracts the offset calibration data stored in the address of the corresponding calibration temperature in the calibration data memory 4 from the above fetched data. Next, in step ST43, the subtraction result is
It is divided by the gain calibration data stored in the address of the corresponding calibration temperature in the calibration data memory 4. The result of the division is output as the final measurement value in step ST44, and the normal measurement process ends.

【0017】次に図4のステップST5に進み、ここで
温度データが設定された較正温度になったかを監視し、
較正温度にならなければステップST4で通常の計測処
理を続ける。温度データが較正温度になったらステップ
ST6に進み、ここでフラグメモリ10を調べてその較
正温度における較正状況フラグが立っているかを見る。
フラグが立っていれば較正済みとしてステップST4に
戻り、フラグが立っていない場合はステップST7に進
んで再び図5の較正処理を行う。
Next, in step ST5 of FIG. 4, it is monitored whether the temperature data has reached the set calibration temperature,
If the temperature does not reach the calibration temperature, normal measurement processing is continued in step ST4. When the temperature data reaches the calibration temperature, the process proceeds to step ST6, where the flag memory 10 is checked to see if the calibration status flag at that calibration temperature is set.
If the flag is set, it is determined that the calibration is completed and the process returns to step ST4. If the flag is not set, the process proceeds to step ST7 and the calibration process of FIG. 5 is performed again.

【0018】上記の較正処理により得られたオフセット
較正データ、ゲイン較正データはステップST8により
較正データメモリ4の該当較正温度のアドレスに格納さ
れる。以後はその較正データを用いてステップST4の
通常の計測処理が行われる。
The offset calibration data and gain calibration data obtained by the above calibration process are stored in the address of the corresponding calibration temperature in the calibration data memory 4 in step ST8. After that, the normal measurement process of step ST4 is performed using the calibration data.

【0019】以上によれば、設定された各較正温度につ
いて較正状況フラグをチェックしながら未較正の較正温
度について自動的に較正データが演算されて較正データ
メモリ4に格納されていく。
According to the above, while checking the calibration status flag for each set calibration temperature, the calibration data is automatically calculated for the uncalibrated calibration temperature and stored in the calibration data memory 4.

【0020】実施例2.なお、上記実施例1ではセンサ
出力信号のデータ点数が1点の場合について説明した
が、図7に示すようにセンサ出力信号のデータ点数が複
数個あってもよい。図7において、各増幅器1の出力は
ADコンバータ2に入力される前にマルチプレクサ6に
よって切換えられるように成されている。この場合は、
この発明の効果はさらに発揮され、各増幅器1ごとの較
正データの管理が自動的に行われるので、使用者の煩わ
しさがなくなる。
Example 2. In the first embodiment, the case where the sensor output signal has one data point has been described. However, as shown in FIG. 7, there may be a plurality of sensor output signal data points. In FIG. 7, the output of each amplifier 1 is switched by the multiplexer 6 before being input to the AD converter 2. in this case,
The effect of the present invention is further exerted, and the calibration data for each amplifier 1 is automatically managed, so that the user is not bothered.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、セン
サ出力信号、基準電圧、接地電位を切換選択して増幅器
に入力すると共に、較正データの有無を示すフラグを調
べ、較正データが無いときに上記基準電圧、接地電位を
入力し、そのときのデータに基づいて較正データを作成
するように構成したので、計測中に自動的に較正データ
を作成して較正データメモリに格納することができ、こ
のため使用者の較正データを採取する手間を省くことが
でき、較正データの管理については全く注意を払わない
で使用することができる効果がある。
As described above, according to the present invention, the sensor output signal, the reference voltage, and the ground potential are switched and selected and input to the amplifier, and the flag indicating the presence or absence of the calibration data is checked to find no calibration data. Since it is configured to input the above-mentioned reference voltage and ground potential and create calibration data based on the data at that time, it is possible to automatically create calibration data during measurement and store it in the calibration data memory. Therefore, it is possible to save the user the trouble of collecting the calibration data and to use it without paying any attention to the management of the calibration data.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例による計測装置を示すブロ
ック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a measuring device according to an embodiment of the present invention.

【図2】同装置における較正データメモリに格納される
テーブルの構成図である。
FIG. 2 is a configuration diagram of a table stored in a calibration data memory in the same apparatus.

【図3】同装置におけるフラグメモリに格納されるテー
ブルの構成図である。
FIG. 3 is a configuration diagram of a table stored in a flag memory in the same device.

【図4】同装置の動作を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing an operation of the same device.

【図5】同装置の較正処理を示すフローチャートであ
る。
FIG. 5 is a flowchart showing a calibration process of the apparatus.

【図6】同装置の通常の計測処理を示すフローチャート
である。
FIG. 6 is a flowchart showing a normal measurement process of the apparatus.

【図7】この発明の他の実施例による計測装置を示すブ
ロック図である。
FIG. 7 is a block diagram showing a measuring device according to another embodiment of the present invention.

【図8】従来の計測装置を示すブロック図である。FIG. 8 is a block diagram showing a conventional measuring device.

【図9】従来の計測装置の他の例を示すブロック図であ
る。
FIG. 9 is a block diagram showing another example of a conventional measuring device.

【符号の説明】 1 増幅器 2 ADコンバータ 3 補正演算装置 4 較正データメモリ 5 接地(接地電位) 6 マルチプレクサ 7 基準電圧 8 制御装置(制御演算装置) 9 較正データ演算装置(制御演算装置) 10 フラグメモリ[Description of Reference Signs] 1 amplifier 2 AD converter 3 correction arithmetic unit 4 calibration data memory 5 ground (ground potential) 6 multiplexer 7 reference voltage 8 controller (control arithmetic unit) 9 calibration data arithmetic unit (control arithmetic unit) 10 flag memory

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 センサ出力信号、基準電圧及び接地電位
のうちの1つを選択するマルチプレクサと、上記マルチ
プレクサの出力を増幅する増幅器と、上記増幅器の出力
をディジタルデータに変換するADコンバータと、設定
された較正温度に対する較正データを格納する較正デー
タメモリと、上記マルチプレクサが上記センサ出力信号
を選択したときの上記ADコンバータから得られるディ
ジタルデータを、そのときの温度に応じて上記較正デー
タメモリから読出された較正データを用いて補正する補
正演算装置と、上記較正温度に対して較正データが得ら
れているか否かを示すフラグを格納するフラグメモリ
と、上記フラグが較正データが得られていないことを示
す状態で、上記マルチプレクサが上記基準電圧、接地電
位を選択したときの上記ADコンバータから得られるデ
ィジタルデータとそのときの温度に基づいて較正データ
を作成して上記較正データメモリに格納すると共に上記
フラグメモリのフラグを処理する制御演算装置とを備え
た計測装置。
1. A multiplexer for selecting one of a sensor output signal, a reference voltage and a ground potential, an amplifier for amplifying the output of the multiplexer, and an AD converter for converting the output of the amplifier into digital data. A calibration data memory for storing calibration data for the selected calibration temperature, and digital data obtained from the AD converter when the multiplexer selects the sensor output signal, are read from the calibration data memory according to the temperature at that time. A correction calculation device that corrects using the corrected calibration data, a flag memory that stores a flag indicating whether or not the calibration data has been obtained for the calibration temperature, and the calibration data for the flag that has not been obtained. Is displayed when the multiplexer selects the reference voltage or ground potential. Note: A measuring apparatus comprising: a digital data obtained from an AD converter and calibration data based on a temperature at that time, storing the calibration data in the calibration data memory and processing a flag of the flag memory.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10141331A1 (en) * 2001-08-28 2003-04-03 Zentr Mikroelekt Dresden Gmbh Offset calibration of a sensor signal has a sensor arrangement that includes a non-volatile flag that is stored at the time of manufacture and later used to indicate whether offset calibration is required
WO2004053511A1 (en) * 2002-12-12 2004-06-24 Sanyo Electric Co., Ltd. Current sensor and battery remaining power sensing system
JP2007248288A (en) * 2006-03-16 2007-09-27 Fujitsu Ltd Method of correcting temperature characteristic and amplification circuit for sensor
JP2009069035A (en) * 2007-09-14 2009-04-02 Oki Electric Ind Co Ltd Non-contact sensor
JP2013142570A (en) * 2012-01-10 2013-07-22 Mitsumi Electric Co Ltd Sensor output correction circuit, sensor output correction device and sensor output correction method
CN109425845A (en) * 2017-09-05 2019-03-05 弗兰克公司 The calibration system of voltage measuring apparatus

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10141331A1 (en) * 2001-08-28 2003-04-03 Zentr Mikroelekt Dresden Gmbh Offset calibration of a sensor signal has a sensor arrangement that includes a non-volatile flag that is stored at the time of manufacture and later used to indicate whether offset calibration is required
DE10141331B4 (en) * 2001-08-28 2004-11-18 Zentrum Mikroelektronik Dresden Ag Method for offset calibration of a sensor signal and sensor arrangement for performing the method
WO2004053511A1 (en) * 2002-12-12 2004-06-24 Sanyo Electric Co., Ltd. Current sensor and battery remaining power sensing system
JP2007248288A (en) * 2006-03-16 2007-09-27 Fujitsu Ltd Method of correcting temperature characteristic and amplification circuit for sensor
JP2009069035A (en) * 2007-09-14 2009-04-02 Oki Electric Ind Co Ltd Non-contact sensor
JP2013142570A (en) * 2012-01-10 2013-07-22 Mitsumi Electric Co Ltd Sensor output correction circuit, sensor output correction device and sensor output correction method
CN109425845A (en) * 2017-09-05 2019-03-05 弗兰克公司 The calibration system of voltage measuring apparatus

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