JPH05199097A - Input protection circuit and output buffer circuit - Google Patents

Input protection circuit and output buffer circuit

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JPH05199097A
JPH05199097A JP4007337A JP733792A JPH05199097A JP H05199097 A JPH05199097 A JP H05199097A JP 4007337 A JP4007337 A JP 4007337A JP 733792 A JP733792 A JP 733792A JP H05199097 A JPH05199097 A JP H05199097A
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drain
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node
input
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Hiroshige Hirano
博茂 平野
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide the input protection circuit and the output buffer circuit not giving any effect on the operation and the characteristic of the integrated circuit device. CONSTITUTION:An input signal 11 is connected to a drain of an NMOSTQn, of the input protection circuit 1, a gate of an NMOSTQn is connected to a node V11 via a resistor 11, and a source of an NMOSTQn11 connects to a ground voltage VSS. The node V11 is a node connecting to a constant voltage source with a lower potential than the ground voltage VSS. When a signal with an abnormally high voltage such as surge is inputted externally to an input signal I1 of the input protection circuit, a high voltage is applied to a drain of the NMOSTQn11, the voltage of the NMOSTQn11 is boosted and a current flows to the source of the NMOSTQn11 connecting to the ground voltage VSS from the drain of the NMOSTQn11 to protect the internal circuit connecting to the input signal.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、入力保護回路及び出力
バッファ回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an input protection circuit and an output buffer circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年半導体集積回路装置の発展は目覚ま
しく、その集積回路装置の入力保護回路及び出力バッフ
ァ回路はサージなどの外部からの異常信号から集積回路
装置を保護するための重要な回路部である。
2. Description of the Related Art In recent years, the development of semiconductor integrated circuit devices has been remarkable, and an input protection circuit and an output buffer circuit of the integrated circuit device are important circuit parts for protecting the integrated circuit device from an abnormal signal from the outside such as a surge. is there.

【0003】まず、従来の入力保護回路について、従来
例を示す図11を参照しながら説明する。
First, a conventional input protection circuit will be described with reference to FIG. 11 showing a conventional example.

【0004】この入力保護回路は、入力信号I11がNチ
ャンネル型MOSトランジスタ(NMOST)Qn111の
ドレインに接続され、NMOSTQn111のゲートは抵抗R
111を介して接地電圧VSSに接続され、NMOSTQn111
のソースは接地電圧VSSに接続された構成である。
In this input protection circuit, an input signal I11 is connected to the drain of an N-channel type MOS transistor (NMOST) Qn111, and the gate of the NMOSTQn111 has a resistor R.
It is connected to the ground voltage VSS via 111 and the NMOS TQn111
The source of is connected to the ground voltage VSS.

【0005】この入力保護回路の入力信号I11にサージ
など外部から異常高電圧の信号が入力されると、NMO
STQn111のドレインに高電圧がかかり、NMOSTQn1
11のゲートの電圧がもちあげられ、NMOSTQn111の
ドレインから接地電圧VSSに接続されたNMOSTQn111
のソースに電流が流れることによって、入力信号が接続
された内部回路を保護する。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the input signal I11 of the input protection circuit from the outside, the NMO
A high voltage is applied to the drain of STQn111, which causes NMOS TQn1
The voltage of the gate of 11 is raised and the NMOS TQn111 is connected to the ground voltage VSS from the drain of the NMOS TQn111.
The current flowing through the source protects the internal circuit to which the input signal is connected.

【0006】次に、従来の出力バッファ回路について、
図12の従来例を示す図を参照しながら説明する。
Next, regarding the conventional output buffer circuit,
This will be described with reference to the figure showing the conventional example of FIG.

【0007】この出力バッファ回路は、ノードN121を出
力とする否定回路に制御信号A12が入力され、ノードN12
2を出力とする論理積の否定回路にノードN121と制御信
号B12が入力され、ノードN123を出力とする否定回路に
ノードN122が入力される。そして、ノードN124を出力と
する論理積の否定回路に制御信号A12と制御信号B12が入
力され、ノードN125を出力とする否定回路にノードN124
が入力される。そして、NMOSTQn121のゲートにノ
ードN123が入力され、NMOSTQn121のソースが接地
電圧VSSが接続されてNMOSTQn121のドレインが出力
信号O12に接続される。さらにNMOSTQn122のゲート
にノードN125が入力され、NMOSTQn122のドレイン
が電源電圧VCCに接続され、NMOSTQn122のソースが
出力信号O12に接続された構成である。
In this output buffer circuit, the control signal A12 is input to the NOT circuit that outputs the node N121, and the node N12
The node N121 and the control signal B12 are input to the NAND circuit that outputs 2 and the node N122 is input to the NOT circuit that outputs the node N123. Then, the control signal A12 and the control signal B12 are input to the NAND circuit that outputs the node N124, and the NAND circuit that outputs the node N125 outputs the node N124.
Is entered. The node N123 is input to the gate of the NMOS TQn121, the source of the NMOS TQn121 is connected to the ground voltage VSS, and the drain of the NMOS TQn121 is connected to the output signal O12. Further, the node N125 is input to the gate of the NMOS TQn122, the drain of the NMOS TQn122 is connected to the power supply voltage VCC, and the source of the NMOS TQn122 is connected to the output signal O12.

【0008】この出力バッファ回路の出力信号O12にサ
ージなど外部から異常に高電圧の信号が入力されると、
NMOSTQn121のドレイン及びNMOSTQn122のソー
スに高電圧がかかり、NMOSTQn121のゲート及びN
MOSTQn122のゲートの電圧がもちあげられ、NMO
STQn121のドレインから接地電圧VSSに接続されたNM
OSTQn121のソースに、及びNMOSTQn122のソース
から電源電圧VCCに接続されたNMOSTQn122のドレイ
ンに電流が流れることによって、出力信号が接続された
内部回路を保護する。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the output signal O12 of the output buffer circuit from the outside,
A high voltage is applied to the drain of the NMOS TQn121 and the source of the NMOS TQn122, and the gate of the NMOS TQn121 and N
The gate voltage of MOSTQn122 is raised and NMO
NM connected to the ground voltage VSS from the drain of STQn121
Current flows to the source of the OSTQn121 and to the drain of the NMOS TQn122 connected to the power supply voltage VCC from the source of the NMOS TQn122 to protect the internal circuit to which the output signal is connected.

【0009】この出力バッファ回路の動作について簡単
に説明すると、制御信号A12が出力信号レベル制御信号
で、制御信号B12が出力信号制御信号である。制御信号B
12の論理電圧が“L”であるときは、ノードN123及びノ
ードN125の論理電圧が“L”となり、NMOSTQn121
及びNMOSTQn122は共にオフで、出力信号O12はハイ
インピーダンス状態となる。制御信号B12の論理電圧が
“H”であるときは、出力信号O12は出力状態で、制御
信号A12の論理電圧が“L”であるときは、ノードN123
の論理電圧が“H”でノードN125の論理電圧が“L”と
なり、出力信号O12は論理電圧“L”の出力状態とな
る。制御信号A12の論理電圧が“H”であるときは、ノ
ードN123の論理電圧が“L”でノードN125の論理電圧が
“H”となり、出力信号O12は論理電圧“H”の出力状
態となる。
The operation of the output buffer circuit will be briefly described. The control signal A12 is an output signal level control signal and the control signal B12 is an output signal control signal. Control signal B
When the logic voltage of 12 is "L", the logic voltage of the node N123 and the node N125 becomes "L", and the NMOS TQn121
And the NMOS TQn122 are both off, and the output signal O12 is in a high impedance state. When the logic voltage of the control signal B12 is "H", the output signal O12 is in the output state, and when the logic voltage of the control signal A12 is "L", the node N123.
, The logic voltage of the node N125 becomes "L", and the output signal O12 becomes the output state of the logic voltage "L". When the logic voltage of the control signal A12 is "H", the logic voltage of the node N123 is "L", the logic voltage of the node N125 is "H", and the output signal O12 is in the output state of the logic voltage "H". ..

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】前記従来の入力保護回
路では、外部から与えられる入力信号の電位レベルが接
地電圧より低いときに、例えば図11の入力保護回路の
実施例の場合では、NMOSTQn111のソースである接
地電圧VSSからNMOSTQn111のドレインである入力信
号I11に電流が流れる。このとき、NMOSTQn111に基
板電圧が与えられていると、基板電流が流れ基板電圧が
浅くなる。このため、集積回路装置の動作や特性に影響
を与えるものとなる。前記従来の出力バッファ回路の場
合も同様で、外部から与えられる出力信号の電位レベル
が接地電圧より低いときに、図12の出力バッファ回路
では、NMOSTQn121のソースである接地電圧VSSから
NMOSTQn121のドレインである出力信号O12に電流が
流れる。また、NMOSTQn122のドレインである電源
電圧VCCからNMOSTQn122のソースである出力信号O1
2に電流が流れる。このとき、NMOSTQn121,NMO
STQn122に基板電圧が与えられていると、基板電流が
流れ基板電圧が浅くなり消費電流も多くなる。このた
め、集積回路装置の動作や特性に影響を与えるものとな
る。また、この実施例の場合では、論理電圧“L”を出
力するNMOSTQn121のドレインと論理電圧“H”を
出力するNMOSTQn122のソースが共に出力信号O12に
接続されているため出力容量が大きくなるという問題点
があった。
In the above-mentioned conventional input protection circuit, when the potential level of the input signal given from the outside is lower than the ground voltage, for example, in the case of the embodiment of the input protection circuit of FIG. A current flows from the ground voltage VSS which is the source to the input signal I11 which is the drain of the NMOS TQn111. At this time, if the substrate voltage is applied to the NMOS TQn111, the substrate current flows and the substrate voltage becomes shallow. Therefore, the operation and characteristics of the integrated circuit device are affected. The same applies to the case of the conventional output buffer circuit, and when the potential level of the output signal given from the outside is lower than the ground voltage, the output buffer circuit of FIG. 12 changes the source voltage of the NMOS TQn121 from the ground voltage VSS to the drain of the NMOS TQn121. A current flows through a certain output signal O12. Also, from the power supply voltage VCC which is the drain of the NMOS TQn122 to the output signal O1 which is the source of the NMOS TQn122.
Current flows to 2. At this time, NMOSTQn121, NMO
When the substrate voltage is applied to STQn122, the substrate current flows, the substrate voltage becomes shallow, and the current consumption increases. Therefore, the operation and characteristics of the integrated circuit device are affected. Further, in the case of this embodiment, the output capacitance increases because the drain of the NMOS TQn121 that outputs the logic voltage "L" and the source of the NMOS TQn122 that outputs the logic voltage "H" are both connected to the output signal O12. There was a point.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の入力保護回路
は、入力信号がNMOSTのドレインに接続され、前記
NMOSTのソースが接地電圧に接続され、前記NMO
STのゲートが接地電圧より低い電圧源に接続された構
成とする。
In the input protection circuit of the present invention, the input signal is connected to the drain of the NMOST, the source of the NMOST is connected to the ground voltage, and the NMO is connected.
The structure is such that the gate of ST is connected to a voltage source lower than the ground voltage.

【0012】本発明の入力保護回路は、入力信号が第1
のNMOSTのドレインに接続され、前記第1のNMO
STのソースが第2のNMOSTのドレインに接続さ
れ、前記第2のNMOSTのソースが接地電圧に接続さ
れ、前記第1のNMOSTのゲートが接地電圧より低い
電圧源に接続され、前記第2のNMOSTのゲートが接
地電圧に接続され構成とする。
In the input protection circuit of the present invention, the input signal is first
Of the first NMO connected to the drain of the NMOST of
The source of ST is connected to the drain of the second NMOST, the source of the second NMOST is connected to the ground voltage, the gate of the first NMOST is connected to a voltage source lower than the ground voltage, and the second The gate of the NMOST is connected to the ground voltage.

【0013】本発明の入力保護回路は、入力信号が第1
のNMOSTのドレインとゲートに接続され、前記第1
のNMOSTのソースが第2のNMOSTのドレインに
接続され、前記第2のNMOSTのソースが接地電圧に
接続され、前記第2のNMOSTのゲートが接地電圧に
接続された構成とする。
In the input protection circuit of the present invention, the input signal is the first
Connected to the drain and gate of the NMOST of
The source of the NMOST is connected to the drain of the second NMOST, the source of the second NMOST is connected to the ground voltage, and the gate of the second NMOST is connected to the ground voltage.

【0014】本発明の出力バッファ回路は、第1のNM
OSTのゲートとソースが出力信号に接続され、前記第
1のNMOSTのドレインが第2のNMOSTのソース
に接続され、前記第2のNMOSTのドレインが電源電
圧に接続された構成とする。
The output buffer circuit of the present invention comprises a first NM
The gate and source of the OST are connected to the output signal, the drain of the first NMOST is connected to the source of the second NMOST, and the drain of the second NMOST is connected to the power supply voltage.

【0015】本発明の出力バッファ回路は、NMOST
のソースまたはドレインが出力信号に接続され、前記N
MOSTのゲートに入力される信号の“L”の論理電圧
が接地電圧より低い電圧源に接続された構成とする。
The output buffer circuit of the present invention is an NMOST.
The source or drain of N is connected to the output signal,
The configuration is such that the signal input to the gate of the MOST is connected to a voltage source whose logic voltage of "L" is lower than the ground voltage.

【0016】本発明の出力バッファ回路は、第1のNM
OSTのドレインまたはソースが出力信号に接続され、
前記第1のNMOSTのゲートに入力される信号が第2
のNMOSTのソースまたはドレインに接続され、前記
第2のNMOSTのドレインまたはソースが出力信号に
接続され、前記第2のNMOSTのゲートが接地電圧に
接続された構成とする。
The output buffer circuit of the present invention comprises a first NM
The drain or source of the OST is connected to the output signal,
The signal input to the gate of the first NMOST is the second
Of the second NMOST is connected to the source or the drain of the second NMOST, the drain or the source of the second NMOST is connected to the output signal, and the gate of the second NMOST is connected to the ground voltage.

【0017】本発明の出力バッファ回路は、第1のNM
OSTのドレインが出力信号に接続され、前記第1のN
MOSTのゲートに入力される信号が第2のNMOST
のソースに接続され、前記第2のNMOSTのドレイン
が出力信号に接続され、前記第2のNMOSTのゲート
が出力信号の逆相信号に接続された構成とする。
The output buffer circuit of the present invention comprises a first NM
The drain of the OST is connected to the output signal, and the first N
The signal input to the gate of the MOST is the second NMOST
Of the second NMOST, the drain of the second NMOST is connected to the output signal, and the gate of the second NMOST is connected to the opposite phase signal of the output signal.

【0018】本発明の出力バッファ回路は、第1のNM
OSTのドレインが出力信号に接続され、前記第1のN
MOSTのソースが第2のNMOSTのドレインおよび
第3のNMOSTのソースに接続され、前記第2のNM
OSTのソースが接地電圧に接続され、前記第3のNM
OSTのドレインが電源電圧に接続された構成とする。
The output buffer circuit of the present invention comprises a first NM
The drain of the OST is connected to the output signal, and the first N
The source of the MOST is connected to the drain of the second NMOST and the source of the third NMOST, and the second NM
The source of OST is connected to the ground voltage, and the third NM
The drain of the OST is connected to the power supply voltage.

【0019】[0019]

【作用】このような構成の入力保護回路及び出力バッフ
ァ回路とすることにより、外部から与えられる入力信号
及び出力信号の電位レベルが接地電圧より低いときで
も、基板電圧が浅くなることもなく、消費電流も少な
く、集積回路装置の動作や特性も安定する。また、出力
容量が小さな出力バッファ回路となる。
With the input protection circuit and the output buffer circuit having such a configuration, even when the potential levels of the input signal and the output signal given from the outside are lower than the ground voltage, the substrate voltage does not become shallow, and the consumption is reduced. The current is small and the operation and characteristics of the integrated circuit device are stable. Further, the output buffer circuit has a small output capacity.

【0020】[0020]

【実施例】まず、本発明の入力保護回路の第1の実施例
を図1を参照しながら説明する。
First, a first embodiment of the input protection circuit of the present invention will be described with reference to FIG.

【0021】この入力保護回路は、入力信号I1がNMO
STQn11のドレインに接続され、NMOSTQn11のゲー
トは抵抗R11を介してノードV11に接続され、NMOST
Qn11のソースは接地電圧VSSに接続された構成である。
ここで、ノードV11は接地電圧VSSより低い電位の定電圧
源に接続されたノードである。
In this input protection circuit, the input signal I1 is NMO.
It is connected to the drain of STQn11 and the gate of NMOSTQn11 is connected to the node V11 via the resistor R11.
The source of Qn11 is connected to the ground voltage VSS.
Here, the node V11 is a node connected to a constant voltage source having a potential lower than the ground voltage VSS.

【0022】この入力保護回路の入力信号I1にサージな
ど外部から異常に高電圧の信号が入力されると、NMO
STQn11のドレインに高電圧がかかり、NMOSTQn11
のゲートの電圧がもちあげられ、NMOSTQn11のドレ
インから接地電圧VSSに接続されたNMOSTQn11のソ
ースに電流が流れることによって、入力信号が接続され
た内部回路を保護する。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the input signal I1 of this input protection circuit, the NMO
A high voltage is applied to the drain of STQn11, which causes NMOS TQn11
The voltage of the gate is raised and a current flows from the drain of the NMOS TQn11 to the source of the NMOS TQn11 connected to the ground voltage VSS, thereby protecting the internal circuit to which the input signal is connected.

【0023】この入力保護回路の特徴としては、入力信
号I1が接地電圧VSSより低い電位であっても入力信号I1
の電位よりもノードV11の電位の方が低ければ、NMO
STQn11のソースである接地電圧VSSからNMOSTQn1
1のドレインである入力信号I1には電流が流れず、よっ
てNMOSTQn11に基板電圧が与えられていても、基板
電流が流れず基板電圧は浅くなることもなく、消費電流
も少ない。
The characteristic of this input protection circuit is that even if the input signal I1 has a potential lower than the ground voltage VSS, the input signal I1
If the potential of the node V11 is lower than the potential of
From the ground voltage VSS which is the source of STQn11 to NMOS TQn1
No current flows in the input signal I1 which is the drain of 1, so that even if the substrate voltage is applied to the NMOS TQn11, the substrate current does not flow, the substrate voltage does not become shallow, and the current consumption is small.

【0024】次に、本発明の入力保護回路の第2の実施
例を図2を参照しながら説明する。この入力保護回路
は、入力信号I2がNMOSTQn21のドレインに接続さ
れ、NMOSTQn21のゲートは抵抗R21を介してノードV
21に接続され、NMOSTQn21のソース(ノードN21)
はNMOSTQn22のドレインに接続され、NMOSTQn
22のゲートは抵抗R22を介して接地電圧VSSに接続され、
NMOSTQn21のソースは接地電圧VSSに接続された構
成である。ここで、ノードV21は接地電圧VSSより低い電
位の定電圧源に接続されたノードである。
Next, a second embodiment of the input protection circuit of the present invention will be described with reference to FIG. In this input protection circuit, the input signal I2 is connected to the drain of the NMOS TQn21, and the gate of the NMOS TQn21 is connected to the node V via the resistor R21.
21 connected to the source of NMOS TQn21 (node N21)
Is connected to the drain of NMOS TQn22,
The gate of 22 is connected to ground voltage VSS via resistor R22,
The source of the NMOS TQn21 is connected to the ground voltage VSS. Here, the node V21 is a node connected to a constant voltage source having a potential lower than the ground voltage VSS.

【0025】この入力保護回路の入力信号I2にサージな
ど外部から異常に高電圧の信号が入力されると、NMO
STQn21のドレインに高電圧がかかり、NMOSTQn21
のゲートの電圧がもちあげられ、NMOSTQn22のドレ
インに高電圧がかかり、NMOSTQn22のゲートの電圧
がもちあげられ、NMOSTQn21のドレインからNMO
STQn22のドレインを通して接地電圧VSSに接続された
NMOSTQn22のソースに電流が流れることによって、
入力端子の接続された内部回路が保護される。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the input signal I2 of the input protection circuit, NMO
A high voltage is applied to the drain of STQn21, causing an NMOS TQn21
The gate voltage of the NMOS TQn22 is raised, a high voltage is applied to the drain of the NMOS TQn22, the gate voltage of the NMOS TQn22 is raised, and the NMO of the drain of the NMOS TQn21 is increased.
By flowing a current through the drain of STQn22 to the source of NMOS TQn22 connected to the ground voltage VSS,
The internal circuit connected to the input terminal is protected.

【0026】この入力保護回路の特徴としては、第1の
実施例と同様に入力信号I2が接地電圧VSSより低い電位
であっても、入力信号I2の電位よりもノードV21の電位
の方が低ければ、NMOSTQn21のソースからNMOS
TQn21のドレインには電流が流れず、よってNMOST
Qn21に基板電圧が与えられていても、基板電流が流れ
ず、基板電圧は浅くなることもなく、消費電流も少な
い。
The feature of this input protection circuit is that the potential of the node V21 is lower than the potential of the input signal I2 even if the input signal I2 is lower than the ground voltage VSS as in the first embodiment. For example, from the source of NMOS TQn21 to NMOS
No current flows through the drain of TQn21, so the NMOST
Even if the substrate voltage is applied to Qn21, the substrate current does not flow, the substrate voltage does not become shallow, and the current consumption is small.

【0027】次に、本発明の入力保護回路の第3の実施
例を図3を参照しながら説明する。この入力保護回路
は、入力信号I3がNMOSTQn31のドレインとゲートに
接続され、NMOSTQn31のソース(ノードN31)はN
MOSTQn32のドレインに接続され、NMOSTQn32の
ゲートは抵抗R31を介して接地電圧VSSに接続され、NM
OSTQn31のソースは接地電圧VSSに接続された構成で
ある。
Next, a third embodiment of the input protection circuit of the present invention will be described with reference to FIG. In this input protection circuit, the input signal I3 is connected to the drain and gate of the NMOS TQn31, and the source (node N31) of the NMOS TQn31 is N.
It is connected to the drain of MOSTQn32, the gate of NMOSTQn32 is connected to the ground voltage VSS via the resistor R31, and NM
The source of OSTQn31 is connected to the ground voltage VSS.

【0028】この入力保護回路の入力信号I3にサージな
ど外部から異常に高電圧の信号が入力されると、NMO
STQn31のドレインとゲートに高電圧がかかり、さら
に、NMOSTQn32のドレインに高電圧がかかり、NM
OSTQn32のゲートの電圧がもちあげられ、NMOST
Qn31のドレインからNMOSTQn32のドレインを通して
接地電圧VSSに接続されたNMOSTQn32のソースに電
流が流れることによって、入力端子の接続された内部回
路が保護される。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the input signal I3 of the input protection circuit, the NMO
A high voltage is applied to the drain and gate of STQn31, and a high voltage is applied to the drain of NMOS TQn32.
The gate voltage of OSTQn32 is raised and the NMOST
A current flows from the drain of Qn31 through the drain of NMOS TQn32 to the source of NMOS TQn32 connected to the ground voltage VSS, thereby protecting the internal circuit connected to the input terminal.

【0029】この入力保護回路の特徴としては、入力信
号I3が接地電圧VSSより低い電位であっても入力信号I3
はNMOSTQn31のドレインとゲートに入力されている
ため、NMOSTQn31のソースからNMOSTQn31のド
レインには電流が流れず、よってNMOSTQn21に基板
電圧が与えられていても、基板電流が流れず、基板電圧
は浅くなることもなく、消費電流も少ない。第1及び第
2の実施例に比べ接地電圧VSSより低い電位の定電圧源
を必要とせず第1及び第2の実施例と同様の効果をあげ
ている。
This input protection circuit is characterized in that even if the input signal I3 has a potential lower than the ground voltage VSS, the input signal I3
Is input to the drain and gate of the NMOS TQn31, no current flows from the source of the NMOS TQn31 to the drain of the NMOS TQn31. Therefore, even if the substrate voltage is applied to the NMOS TQn21, the substrate current does not flow and the substrate voltage becomes shallow. Of course, the current consumption is low. Compared with the first and second embodiments, a constant voltage source having a potential lower than the ground voltage VSS is not required, and the same effect as the first and second embodiments is obtained.

【0030】次に、本発明の出力バッファ回路の第1の
実施例を図4を参照しながら説明する。
Next, a first embodiment of the output buffer circuit of the present invention will be described with reference to FIG.

【0031】この出力バッファ回路は、ノードN41を出
力とする否定回路に制御信号A4が入力され、ノードN42
を出力とする論理積の否定回路にノードN41と制御信号B
4が入力され、ノードN43を出力とする否定回路にノード
N42が入力され、ノードN44を出力とする論理積の否定回
路に制御信号A4と制御信号B4が入力され、ノードN45を
出力とする否定回路にノードN44が入力され、NMOS
TQn41のゲートにノードN43が入力され、NMOSTQn4
1のソースが接地電圧VSSに接続され、NMOSTQn41の
ドレインが出力端子O4に接続され、NMOSTQn42のゲ
ートとNMOSTQn43のゲートにノードN45が入力さ
れ、NMOSTQn42のドレインとNMOSTQn43のドレ
インが電源電圧VCCに接続され、NMOSTQn43のソー
スがNMOSTQn44のドレインに接続され、NMOST
Qn42のソースとNMOSTQn43のソースとNMOSTQn
43のゲートが出力端子O4に接続された構成である。
In this output buffer circuit, the control signal A4 is input to the NOT circuit that outputs the node N41, and the node N42
Node N41 and control signal B
4 is input and a node is connected to the NOT circuit that outputs the node N43.
N42 is input, the control signal A4 and the control signal B4 are input to the NAND circuit that outputs the node N44, and the node N44 is input to the NOT circuit that outputs the node N45.
Node N43 is input to the gate of TQn41, and NMOS TQn4
The source of 1 is connected to the ground voltage VSS, the drain of NMOSTQn41 is connected to the output terminal O4, the node N45 is input to the gates of NMOSTQn42 and NMOSTQn43, and the drains of NMOSTQn42 and NMOSTQn43 are connected to the power supply voltage VCC. , The source of NMOSTQn43 is connected to the drain of NMOSTQn44,
Source of Qn42 and NMOS TQn Source and NMOS TQn
The gate of 43 is connected to the output terminal O4.

【0032】この出力バッファ回路の出力端子O4にサー
ジなど外部から異常に高電圧の信号が入力されると、N
MOSTQn41のドレイン及びNMOSTQn42のソース及
びNMOSTQn44のソースに高電圧がかかり、NMOS
TQn41のゲート及びNMOSTQn42のゲート及びNMO
STQn43のゲートの電圧がもちあげられることにより、
NMOSTQn41のドレインから接地電圧VSSに接続され
たNMOSTQn41のソースに、及びNMOSTQn42のソ
ースから電源電圧VCCに接続されたNMOSTQn42のド
レインに、及びNMOSTQn44のソースからNMOST
Qn43のソースを通して、電源電圧VCCに接続されたNM
OSTQn43のドレインに電流が流れ、出力信号の接続さ
れた内部回路が保護される。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the output terminal O4 of the output buffer circuit from the outside, N
A high voltage is applied to the drain of the MOSTQn41, the source of the NMOSTQn42 and the source of the NMOSTQn44,
Gate of TQn41 and NMOS Gate of TQn42 and NMO
By raising the gate voltage of STQn43,
The drain of the NMOS TQn41 is connected to the source of the NMOS TQn41 connected to the ground voltage VSS, the source of the NMOS TQn42 is connected to the drain of the NMOS TQn42 connected to the power supply voltage VCC, and the source of the NMOS TQn44 is connected to the NMOS TQn44.
NM connected to power supply voltage VCC through the source of Qn43
A current flows through the drain of OSTQn43, and the internal circuit to which the output signal is connected is protected.

【0033】この出力バッファ回路の動作について簡単
に説明すると、制御信号A4が出力信号レベル制御信号
で、制御信号B4が出力信号制御信号である。制御信号B4
の論理電圧が“L”であるときは、ノードN43及びノー
ドN45の論理電圧が“L”となり、NMOSTQn41及び
NMOSTQn42及びNMOSTQn43は共にオフで、出力
端子O4はハイインピーダンス状態となる。制御信号B4の
論理電圧が“H”であるときは、出力端子O4は出力状態
で、制御信号A4の論理電圧が“L”であるときは、ノー
ドN43の論理電圧が“H”でノードN45の論理電圧が
“L”となり、出力端子O4は論理電圧“L”の出力状
態、制御信号A4の論理電圧が“H”であるときは、ノー
ドN43の論理電圧が“L”でノードN45の論理電圧が
“H”となり、出力端子O4は論理電圧“H”の出力状態
となる。
The operation of the output buffer circuit will be briefly described. The control signal A4 is an output signal level control signal and the control signal B4 is an output signal control signal. Control signal B4
, The logic voltage of the node N43 and the logic voltage of the node N45 are "L", the NMOS TQn41, the NMOS TQn42 and the NMOS TQn43 are all off, and the output terminal O4 is in a high impedance state. When the logic voltage of the control signal B4 is "H", the output terminal O4 is in the output state, and when the logic voltage of the control signal A4 is "L", the logic voltage of the node N43 is "H" and the node N45. When the logic voltage of the node N43 is "L", the output terminal O4 is in the output state of the logic voltage "L", and the logic voltage of the control signal A4 is "H", the logic voltage of the node N43 is "L" and the logic voltage of the node N45 is The logic voltage becomes "H", and the output terminal O4 becomes the output state of the logic voltage "H".

【0034】この出力バッファ回路の特徴としては、出
力端子O4が接地電圧VSSより低い電位であるときNMO
STQn41とNMOSTQn42に関しては、それぞれのNM
OSTに電流が流れる。しかし、NMOSTQn44に関し
ては、出力端子O4がNMOSTQn44のドレインとゲート
に入力されているため、NMOSTQn43のソースからN
MOSTQn43のドレインには電流が流れず、よってNM
OSTQn43に基板電圧が与えられていても、基板電流が
流れず基板電位は浅くなりにくく、消費電流も少ない。
The characteristic of this output buffer circuit is that when the output terminal O4 is at a potential lower than the ground voltage VSS, the NMO
Regarding STQn41 and NMOS TQn42, each NM
A current flows through the OST. However, regarding the NMOS TQn44, since the output terminal O4 is input to the drain and gate of the NMOS TQn44, the source of the NMOS TQn43 becomes N.
No current flows in the drain of MOSTQn43, so NM
Even if the substrate voltage is applied to OSTQn43, the substrate current does not flow, the substrate potential does not easily become shallow, and the current consumption is small.

【0035】次に、本発明の出力バッファ回路の第2の
実施例を図5を参照しながら説明する。
Next, a second embodiment of the output buffer circuit of the present invention will be described with reference to FIG.

【0036】この出力バッファ回路は、ノードN51を出
力とする否定回路に制御信号A5が入力され、ノードN52
を出力とする論理積の否定回路にノードN51と制御信号B
5が入力され、ノードN53を出力とする否定回路にノード
N52が入力され、ノードN54を出力とする論理積の否定回
路に制御信号A5と制御信号B5が入力され、ノードN55を
出力とする否定回路にノードN54が入力され、NMOS
TQn53のゲートにノードN53が入力され、NMOSTQn5
3のソースが接地電圧VSSに接続され、NMOSTQn53の
ドレインが出力端子O5に接続され、NMOSTQn54のゲ
ートにノードN55が入力され、NMOSTQn54のドレイ
ンが電源電圧VCCに接続され、NMOSTQn54のソース
が出力端子O5に接続された構成である。ただし、ノード
N53を出力とする否定回路と、ノードN55を出力とする否
定回路のそれぞれのNMOSTQn51のソースとNMOS
TQn52のソースは接地電圧VSSより低い電位の定電圧源
に接続されたノードV51である。
In this output buffer circuit, the control signal A5 is input to the NOT circuit which outputs the node N51, and the node N52
Node N51 and control signal B in the AND circuit that outputs
5 is input to the NOT circuit that outputs the node N53 as a node
N52 is input, the control signal A5 and the control signal B5 are input to the NAND circuit that outputs the node N54, and the node N54 is input to the NOT circuit that outputs the node N55.
Node N53 is input to the gate of TQn53, and NMOS TQn5
The source of 3 is connected to the ground voltage VSS, the drain of the NMOS TQn53 is connected to the output terminal O5, the node N55 is input to the gate of the NMOS TQn54, the drain of the NMOS TQn54 is connected to the power supply voltage VCC, and the source of the NMOS TQn54 is output terminal O5. It is a configuration connected to. However, the node
The source and NMOS of each NMOS TQn51 of the NOT circuit that outputs N53 and the NOT circuit that outputs the node N55
The source of TQn52 is a node V51 connected to a constant voltage source having a potential lower than the ground voltage VSS.

【0037】この出力バッファ回路の出力端子O5にサー
ジなど外部から異常に高電圧の信号が入力されると、N
MOSTQn53のドレイン及びNMOSTQn54のソースに
高電圧がかかり、NMOSTQn53のゲート及びNMOS
TQn54のゲートの電圧がもちあげられ、NMOSTQn53
のドレインから接地電圧VSSに接続されたNMOSTQn5
3のソースに、及びNMOSTQn54のソースから電源電
圧VCCに接続されたNMOSTQn54のドレインに電流が
流れることによって、出力端子の接続された内部回路が
保護される。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the output terminal O5 of the output buffer circuit from the outside, N
A high voltage is applied to the drain of MOSTQn53 and the source of NMOSTQn54, and the gate of NMOSTQn53 and NMOS
The gate voltage of TQn54 is raised and NMOS TQn53
NMOS TQn5 connected from ground drain to ground voltage VSS
Current flows to the source of 3 and to the drain of the NMOS TQn54 connected to the power supply voltage VCC from the source of the NMOS TQn54, thereby protecting the internal circuit connected to the output terminal.

【0038】この出力バッファ回路の動作については第
1の実施例と同様で、制御信号A5が出力信号レベル制御
信号で、制御信号B5が出力信号制御信号である。制御信
号B5の論理電圧が“L”であるときは、出力端子O5はハ
イインピーダンス状態となる。制御信号B5の論理電圧が
“H”であるときは、出力端子O4は出力状態で、制御信
号A5の論理電圧が“L”であるときは、出力端子O5は論
理電圧“L”の出力状態、制御信号A5の論理電圧が
“H”であるときは、出力端子O5は論理電圧“H”の出
力状態となる。
The operation of this output buffer circuit is similar to that of the first embodiment, and the control signal A5 is the output signal level control signal and the control signal B5 is the output signal control signal. When the logic voltage of the control signal B5 is "L", the output terminal O5 is in a high impedance state. When the logic voltage of the control signal B5 is "H", the output terminal O4 is in the output state, and when the logic voltage of the control signal A5 is "L", the output terminal O5 is in the output state of the logic voltage "L". When the logic voltage of the control signal A5 is "H", the output terminal O5 is in the output state of the logic voltage "H".

【0039】この出力バッファ回路の特徴としては、出
力端子O5が接地電圧VSSより低い電位であってもNMO
STQn53とNMOSTQn54にゲートの“L”の論理電圧
が接地電圧VSSより低い電位(接地電圧VSSより低い電位
の定電圧源ノードV51の電位)であるため、NMOSTQ
n53のソースからNMOSTQn53のドレインに、及びN
MOSTQn54のドレインからNMOSTQn54のソースに
は電流が流れず、よってNMOSTQn53及びNMOST
Qn54に基板電圧が与えられていても、基板電流が流れ
ず、基板電位は浅くなりにくく、消費電流も少ない。
The feature of this output buffer circuit is that even if the output terminal O5 has a potential lower than the ground voltage VSS, the NMO
Since the logic voltage of "L" at the gates of STQn53 and NMOS TQn54 is a potential lower than the ground voltage VSS (potential of the constant voltage source node V51 lower than the ground voltage VSS), the NMOS TQ
From the source of n53 to the drain of NMOS TQn53, and N
No current flows from the drain of the MOSTQn54 to the source of the NMOSTQn54.
Even if the substrate voltage is applied to Qn54, the substrate current does not flow, the substrate potential does not easily become shallow, and the current consumption is small.

【0040】次に、本発明の出力バッファ回路の第3の
実施例を図6を参照しながら説明する。
Next, a third embodiment of the output buffer circuit of the present invention will be described with reference to FIG.

【0041】この出力バッファ回路は、ノードN61を出
力とする否定回路に制御信号A6が入力され、ノードN62
を出力とする論理積の否定回路にノードN61と制御信号B
6が入力され、ノードN63を出力とする否定回路にノード
N62が入力され、ノードN64を出力とする論理積の否定回
路に制御信号A6と制御信号B6が入力され、ノードN65を
出力とする否定回路にノードN64が入力され、NMOS
TQn63のゲートにノードN63が入力され、NMOSTQn6
3のソースが接地電圧VSSに接続され、NMOSTQn63の
ドレインが出力端子O6に接続され、NMOSTQn64のゲ
ートにノードN65が入力され、NMOSTQn64のドレイ
ンが電源電圧VCCに接続され、NMOSTQn64のソース
が出力端子O6に接続され、NMOSTQn65のゲートが接
地電圧VSSに接続され、NMOSTQn65のソースがノー
ドN63に接続され、NMOSTQn65のドレインが出力端
子O6に接続され、NMOSTQn66のゲートが接地電圧VS
Sに接続され、NMOSTQn66のドレインがノードN65に
接続され、NMOSTQn66のソースが出力端子O6に接続
された構成である。
In this output buffer circuit, the control signal A6 is input to the NOT circuit which outputs the node N61, and the node N62
The node N61 and control signal B
6 is input and the node is connected to the NOT circuit that outputs the node N63.
N62 is input, the control signal A6 and the control signal B6 are input to the NAND circuit that outputs the node N64, and the node N64 is input to the NOT circuit that outputs the node N65.
Node N63 is input to the gate of TQn63, and NMOS TQn6
The source of 3 is connected to the ground voltage VSS, the drain of NMOS TQn63 is connected to the output terminal O6, the node N65 is input to the gate of NMOS TQn64, the drain of NMOS TQn64 is connected to the power supply voltage VCC, and the source of NMOS TQn64 is the output terminal O6. , The gate of the NMOS TQn65 is connected to the ground voltage VSS, the source of the NMOS TQn65 is connected to the node N63, the drain of the NMOS TQn65 is connected to the output terminal O6, and the gate of the NMOS TQn66 is connected to the ground voltage VS.
It is connected to S, the drain of the NMOS TQn66 is connected to the node N65, and the source of the NMOS TQn66 is connected to the output terminal O6.

【0042】この出力バッファ回路の出力端子O6に外部
からサージなどの異常に高電圧の信号が入力されると、
NMOSTQn63のドレイン、NMOSTQn64のソース、
NMOSTQn65のドレイン、及びNMOSTQn66のソー
スに高電圧がかかり、NMOSTQn63のゲート及びNM
OSTQn64のゲート、NMOSTQn65のゲート、及びN
MOSTQn66のゲートの電圧がもちあげられ、NMOS
TQn63のドレインから接地電圧VSSに接続されたNMO
STQn63のソースに、及びNMOSTQn64のソースから
電源電圧VCCに接続されたNMOSTQn64のドレインに
電流が流れることによって、出力端子の接続された内部
回路が保護される。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input from the outside to the output terminal O6 of this output buffer circuit,
The drain of NMOS TQn63, the source of NMOS TQn64,
A high voltage is applied to the drain of NMOS TQn65 and the source of NMOS TQn66, and the gate of NMOS TQn63 and NM
OSTQn64 gate, NMOS TQn65 gate, and N
The gate voltage of MOSTQn66 is raised and NMOS
NMO connected from the drain of TQn63 to the ground voltage VSS
By flowing a current to the source of STQn63 and from the source of NMOS TQn64 to the drain of NMOS TQn64 connected to the power supply voltage VCC, the internal circuit connected to the output terminal is protected.

【0043】この出力バッファ回路の動作については第
1の実施例と同様である。この出力バッファ回路の特徴
としては、出力端子O6が接地電圧VSSより低い電位であ
るときNMOSTQn66とNMOSTQn65に電流が流れノ
ードN63とノードN65が接地電圧VSSより低い電位とな
り、NMOSTQn63のソースからNMOSTQn63のドレ
インに、及びNMOSTQn64のドレインからNMOST
Qn64のソースには電流が流れにくく、よってNMOST
Qn63及びNMOSTQn64に基板電圧が与えられていて
も、基板電流が流れず基板電圧は浅くなりにくく消費電
流も少ない。NMOSTQn66とNMOSTQn65とNMO
STQn62とNMOSTQn61に流れる電流が少なくなるよ
うに、トランジスタサイズを設計する。また、この出力
バッファ回路の構成のNMOSTQn66とNMOSTQn65
の役割としては、上記のサージなどのときにNMOST
Qn63のゲート(ノードN63)やNMOSTQn64のゲート
(ノードN65)の電圧がもちあげられやすくサージにも
強くなる。
The operation of this output buffer circuit is similar to that of the first embodiment. The feature of this output buffer circuit is that when the output terminal O6 is at a potential lower than the ground voltage VSS, a current flows through the NMOS TQn66 and the NMOS TQn65 and the potential at the nodes N63 and N65 becomes lower than the ground voltage VSS, and the drain of the NMOS TQn63 from the source of the NMOS TQn63. And from the drain of NMOST Qn64 to NMOST
It is difficult for the current to flow to the source of Qn64, so the NMOST
Even if the substrate voltage is applied to the Qn63 and the NMOS TQn64, the substrate current does not flow and the substrate voltage does not easily become shallow, and the current consumption is small. NMOS TQn66, NMOS TQn65 and NMO
The transistor size is designed so that the current flowing through STQn62 and NMOS TQn61 is reduced. Also, the NMOS TQn66 and NMOS TQn65 of this output buffer circuit configuration are
Plays the role of NMOST in the case of the above surge.
The voltage of the gate of Qn63 (node N63) and the gate of NMOS TQn64 (node N65) is easily lifted, and it is also resistant to surge.

【0044】次に、本発明の出力バッファ回路の第4の
実施例を図7を参照しながら説明する。
Next, a fourth embodiment of the output buffer circuit of the present invention will be described with reference to FIG.

【0045】この出力バッファ回路は、ノードN71を出
力とする否定回路に制御信号A7が入力され、ノードN72
を出力とする論理積の否定回路にノードN71と制御信号B
7が入力され、ノードN73を出力とする否定回路にノード
N72が入力され、ノードN74を出力とする論理積の否定回
路に制御信号A7と制御信号B7が入力され、ノードN75を
出力とする否定回路にノードN74が入力され、NMOS
TQn73のゲートにノードN73が入力され、NMOSTQn7
3のソースが接地電圧VSSに接続され、NMOSTQn73の
ドレインが出力端子O7に接続され、NMOSTQn74のゲ
ートにノードN75が入力され、NMOSTQn74のドレイ
ンが電源電圧VCCに接続され、NMOSTQn74のソース
が出力端子O7に接続され、NMOSTQn75のゲートがノ
ードN76に接続され、NMOSTQn75のソースがノードN
73に接続され、NMOSTQn75のドレインが出力端子O7
に接続され、NMOSTQn76のゲートがノードN76に接
続され、NMOSTQn76のドレインがノードN75に接続
され、NMOSTQn76のソースが出力端子O7に接続さ
れ、ノードN76を出力とする否定回路に出力端子O7が入
力された構成である。
In this output buffer circuit, the control signal A7 is input to the NOT circuit which outputs the node N71, and the node N72
Node N71 and control signal B in the AND circuit that outputs
7 is input to the NOT circuit that outputs the node N73 as a node
N72 is input, the control signal A7 and the control signal B7 are input to the NAND circuit that outputs the node N74, and the node N74 is input to the NOT circuit that outputs the node N75.
Node N73 is input to the gate of TQn73, and NMOS TQn7
The source of 3 is connected to the ground voltage VSS, the drain of the NMOS TQn73 is connected to the output terminal O7, the node N75 is input to the gate of the NMOS TQn74, the drain of the NMOS TQn74 is connected to the power supply voltage VCC, and the source of the NMOS TQn74 is output terminal O7. , The gate of the NMOS TQn75 is connected to the node N76, and the source of the NMOS TQn75 is connected to the node N76.
Connected to 73, the drain of NMOS TQn75 is output terminal O7
, The gate of the NMOS TQn76 is connected to the node N76, the drain of the NMOS TQn76 is connected to the node N75, the source of the NMOS TQn76 is connected to the output terminal O7, and the output terminal O7 is input to the NOT circuit that outputs the node N76. It has a different structure.

【0046】この出力バッファ回路の出力端子O7にサー
ジなど外部から異常に高電圧の信号が入力されると、N
MOSTQn73のドレイン及びNMOSTQn74のソースに
高電圧がかかり、NMOSTQn73のゲート及びNMOS
TQn74のゲートの電圧がもちあげられ、NMOSTQn73
のドレインから接地電圧VSSに接続されたNMOSTQn7
3のソースに、及びNMOSTQn74のソースから電源電
圧VCCに接続されたNMOSTQn74のドレインに電流が
流れることによって、出力端子の接続された内部回路が
保護される。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the output terminal O7 of the output buffer circuit from the outside, N
A high voltage is applied to the drain of the MOSTQn73 and the source of the NMOSTQn74, and the gate of the NMOSTQn73 and the NMOS
The gate voltage of TQn74 is raised and the NMOS TQn73
NMOS TQn7 connected from ground drain to ground voltage VSS
By flowing a current to the source of 3 and to the drain of the NMOS TQn74 connected to the power supply voltage VCC from the source of the NMOS TQn74, the internal circuit connected to the output terminal is protected.

【0047】この出力バッファ回路の動作については第
1の実施例と同様である。この出力バッファ回路の特徴
としては、出力端子O7が接地電圧VSSより低い電位であ
ってもノードN76は論理電圧“H”となり、ノードN73と
ノードN75が接地電圧VSSより低い電位となり、NMOS
TQn73のソースからNMOSTQn73のドレインに及びN
MOSTQn74のドレインからNMOSTQn74のソースに
は電流が流れにくく、よってNMOSTQn73及びNMO
STQn74に基板電圧が与えられていても、基板電流が流
れず基板電圧は浅くなりにくく、消費電流も少ない。こ
こでノードN76を出力とする否定回路のしきい値は接地
電圧VSSに近い値に設計し出力端子O7が接地電圧VSSより
低い電圧であるときのみ論理電圧“H”となるようにし
ている。また、実際にはノードN76を出力とする否定回
路やNMOSTQn71やNMOSTQn72に流れる電流も少
なく設計している。
The operation of this output buffer circuit is similar to that of the first embodiment. The feature of this output buffer circuit is that even if the output terminal O7 is at a potential lower than the ground voltage VSS, the node N76 becomes a logic voltage “H”, the nodes N73 and N75 are at a potential lower than the ground voltage VSS, and the NMOS
From the source of TQn73 to the drain of NMOS TQn73 and N
It is difficult for current to flow from the drain of the MOSTQn74 to the source of the NMOSTQn74.
Even if the substrate voltage is applied to STQn74, the substrate current does not flow, the substrate voltage does not easily become shallow, and the current consumption is small. Here, the threshold value of the NOT circuit that outputs the node N76 is designed to be a value close to the ground voltage VSS so that the logic voltage becomes "H" only when the output terminal O7 is lower than the ground voltage VSS. In addition, actually, the negation circuit which outputs the node N76 and the current flowing through the NMOS TQn71 and the NMOS TQn72 are designed to be small.

【0048】次に、本発明の出力バッファ回路の第5の
実施例を図8を参照しながら説明する。
Next, a fifth embodiment of the output buffer circuit of the present invention will be described with reference to FIG.

【0049】この出力バッファ回路は、ノードN81を出
力とする否定回路に制御信号A8が入力され、ノードN82
を出力とする論理積の否定回路にノードN81と制御信号B
8が入力され、ノードN83を出力とする否定回路にノード
N82が入力され、ノードN84を出力とする論理積の否定回
路に制御信号A8と制御信号B8が入力され、ノードN85を
出力とする否定回路にノードN84が入力され、NMOS
TQn81のゲートにノードN83が入力され、NMOSTQn8
1のソースが接地電圧VSSに接続され、NMOSTQn81の
ドレインがNMOSTQn83のソースに接続され、NMO
STQn82のゲートにノードN85が入力され、NMOSTQ
n82のドレインが電源電圧VCCに接続され、NMOSTQn
82のソースがNMOSTQn83のソースに接続され、NM
OSTQn83のゲートに制御信号B8が入力され、NMOS
TQn83のドレインが出力端子O8に接続された構成であ
る。
In this output buffer circuit, the control signal A8 is input to the NOT circuit which outputs the node N81, and the node N82
Is connected to the logical AND negation circuit that outputs
8 is input, and the node is connected to the NOT circuit that outputs the node N83.
N82 is input, the control signal A8 and the control signal B8 are input to the NAND circuit that outputs the node N84, and the node N84 is input to the NOT circuit that outputs the node N85.
Node N83 is input to the gate of TQn81, and NMOS TQn8
The source of 1 is connected to the ground voltage VSS, the drain of NMOS TQn81 is connected to the source of NMOS TQn83, and NMO
Node N85 is input to the gate of STQn82, and NMOS TQ
The drain of n82 is connected to the power supply voltage VCC, and NMOSTQn
The source of 82 is connected to the source of NMOS TQn83,
The control signal B8 is input to the gate of the OSTQn83, and the NMOS
The drain of TQn83 is connected to the output terminal O8.

【0050】この出力バッファ回路の出力端子O8にサー
ジなど外部から異常に高電圧の信号が入力されると、N
MOSTQn83のドレインに高電圧がかかり、NMOST
Qn83のゲートの電圧がもちあげられ、さらに、NMOS
TQn81のドレイン及びNMOSTQn82のソースに高電圧
がかかり、NMOSTQn81のゲート及びNMOSTQn82
のゲートの電圧がもちあげられ、NMOSTQn83のドレ
インからNMOSTQn81のドレインを通して接地電圧VS
Sに接続されたNMOSTQn81のソースに、及びNMO
STQn83のドレインからNMOSTQn82のソースを通し
て電源電圧VCCに接続されたNMOSTQn82のドレイン
に電流が流れることによって、出力信号の接続された内
部回路が保護される。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the output terminal O8 of the output buffer circuit, N
High voltage is applied to the drain of MOSTQn83,
The gate voltage of Qn83 is raised, and further, NMOS
A high voltage is applied to the drain of TQn81 and the source of NMOS TQn82, and the gate of NMOS TQn81 and NMOS TQn82
The gate voltage is raised and the drain voltage of NMOS TQn83 passes through the drain of NMOS TQn81 to the ground voltage VS.
To the source of NMOS TQn81 connected to S, and NMO
A current flows from the drain of STQn83 through the source of NMOS TQn82 to the drain of NMOS TQn82 connected to the power supply voltage VCC, thereby protecting the internal circuit to which the output signal is connected.

【0051】この出力バッファ回路の動作については第
1の実施例と同様である。この出力バッファ回路の特徴
としては、論理電圧“L”を出力するためのNMOST
Qn81のドレインと論理電圧“H”を出力するためのNM
OSTQn82のソースが直接出力端子O8に接続されておら
ず、NMOSTQn83を介して出力端子O8に接続されてい
るため、出力端子O8の出力容量は小さくなる。
The operation of this output buffer circuit is similar to that of the first embodiment. This output buffer circuit is characterized by an NMOST for outputting a logical voltage "L".
NM for outputting the drain of Qn81 and logic voltage "H"
Since the source of the OSTQn82 is not directly connected to the output terminal O8 but is connected to the output terminal O8 via the NMOS TQn83, the output capacitance of the output terminal O8 becomes small.

【0052】次に、本発明の出力バッファ回路の第6の
実施例を図9を参照しながら説明する。
Next, a sixth embodiment of the output buffer circuit of the present invention will be described with reference to FIG.

【0053】この出力バッファ回路は、ノードN91を出
力とする否定回路に制御信号A9が入力され、ノードN92
を出力とする論理和の否定回路にノードN91と制御信号B
9が入力され、ノードN93を出力とする否定回路にノード
N92が入力され、ノードN94を出力とする論理和の否定回
路に制御信号A9と制御信号B9が入力され、ノードN95を
出力とする否定回路にノードN94が入力され、NMOS
TQn92のゲートにノードN93が入力され、NMOSTQn9
2のソースが接地電圧VSSに接続され、NMOSTQn92の
ドレインがNMOSTQn94のソースに接続され、NMO
STQn93のゲートにノードN95が入力され、NMOSTQ
n93のドレインが電源電圧VCCに接続され、NMOSTQn
93のソースがNMOSTQn94のソースに接続され、ノー
ドN96を出力とする否定回路に制御信号B9が入力され、
ノードN97を出力とする否定回路にノードN96が入力さ
れ、NMOSTQn94のゲートにノードN97が入力され、
NMOSTQn94のドレインが出力端子O9に接続された構
成である。ただし、ノードN97を出力とする否定回路の
NMOSTQn91のソースは接地電圧VSSより低い電位の
定電圧源に接続されたノードV91である。
In this output buffer circuit, the control signal A9 is inputted to the NOT circuit which outputs the node N91, and the node N92 is supplied.
The node N91 and the control signal B
9 is input and the node is connected to the NOT circuit that outputs the node N93.
N92 is input, the control signal A9 and the control signal B9 are input to the logical sum NOT circuit that outputs the node N94, and the node N94 is input to the NOT circuit that outputs the node N95.
Node N93 is input to the gate of TQn92, and NMOS TQn9
The source of 2 is connected to the ground voltage VSS, the drain of NMOS TQn92 is connected to the source of NMOS TQn94, and NMO
The node N95 is input to the gate of STQn93, and the NMOS TQ
The drain of n93 is connected to the power supply voltage VCC, and NMOSTQn
The source of 93 is connected to the source of NMOS TQn94, and the control signal B9 is input to the NOT circuit that outputs the node N96.
The node N96 is input to the NOT circuit that outputs the node N97, and the node N97 is input to the gate of the NMOS TQn94.
The drain of the NMOS TQn94 is connected to the output terminal O9. However, the source of the NMOS TQn91 of the NOT circuit that outputs the node N97 is the node V91 connected to the constant voltage source whose potential is lower than the ground voltage VSS.

【0054】この出力バッファ回路の出力端子O9にサー
ジなど外部から異常に高電圧の信号が入力されると、N
MOSTQn94のドレインに高電圧がかかり、NMOST
Qn94のゲートの電圧がもちあげられ、さらに、NMOS
TQn92のドレイン及びNMOSTQn93のソースに高電圧
がかかり、NMOSTQn92のゲート及びNMOSTQn93
のゲートの電圧がもちあげられ、NMOSTQn94のドレ
インからNMOSTQn92のドレインを通して接地電圧VS
Sに接続されたNMOSTQn92のソースに、及びNMO
STQn94のドレインからNMOSTQn93のソースを通し
て電源電圧VCCに接続されたNMOSTQn93のドレイン
に電流が流れることによって、出力信号の接続された内
部回路が保護される。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the output terminal O9 of this output buffer circuit from the outside, N
High voltage is applied to the drain of MOSTQn94,
The gate voltage of Qn94 is raised, and further, NMOS
A high voltage is applied to the drain of TQn92 and the source of NMOS TQn93, and the gate of NMOS TQn92 and NMOS TQn93
The gate voltage is raised, and the drain voltage of the NMOS TQn94 passes through the drain of the NMOS TQn92 to the ground voltage VS.
To the source of NMOS TQn92 connected to S, and NMO
A current flows from the drain of STQn94 through the source of NMOS TQn93 to the drain of NMOS TQn93 connected to the power supply voltage VCC, thereby protecting the internal circuit to which the output signal is connected.

【0055】この出力バッファ回路の動作については第
1の実施例と同様である。この出力バッファ回路の特徴
としては、論理電圧“L”を出力するためのNMOST
Qn92のドレインと論理電圧“H”を出力するためのNM
OSTQn93のソースが直接出力端子O9に接続されておら
ず、NMOSTQn94を介して出力信号O9に接続されてい
るため、出力端子O9の出力容量は小さくなる。また、出
力端子O9が接地電圧VSSより低い電位であってもNMO
STQn94のゲートの“L”の論理電圧は接地電圧VSSよ
り低いため、NMOSTQn94にはソースからドレインに
電流が流れず、NMOSTQn94に基板電圧が与えられて
いても、基板電流が流れず、基板電圧は浅くならず、消
費電流も少ない。
The operation of this output buffer circuit is similar to that of the first embodiment. This output buffer circuit is characterized by an NMOST for outputting a logical voltage "L".
NM for outputting the drain of Qn92 and logic voltage "H"
Since the source of OSTQn93 is not directly connected to the output terminal O9 but is connected to the output signal O9 via the NMOS TQn94, the output capacitance of the output terminal O9 becomes small. Even if the output terminal O9 has a potential lower than the ground voltage VSS, the NMO
Since the logic voltage of “L” at the gate of STQn94 is lower than the ground voltage VSS, the current does not flow from the source to the drain of the NMOS TQn94 and the substrate current does not flow even if the substrate voltage is given to the NMOS TQn94, and the substrate voltage is It is not shallow and consumes less current.

【0056】次に、本発明の出力バッファ回路の第7の
実施例を図10を参照しながら説明する。
Next, a seventh embodiment of the output buffer circuit of the present invention will be described with reference to FIG.

【0057】この出力バッファ回路は、ノードN101を出
力とする否定回路に制御信号A10が入力され、ノードN10
2を出力とする論理和の否定回路にノードN101と制御信
号B10が入力され、ノードN103を出力とする否定回路に
ノードN102が入力され、ノードN104を出力とする論理和
の否定回路に制御信号A10と制御信号B10が入力され、ノ
ードN105を出力とする否定回路にノードN104が入力さ
れ、NMOSTQn103のゲートにノードN103が入力さ
れ、NMOSTQn103のソースが接地電圧VSSに接続さ
れ、NMOSTQn103のドレインがNMOSTQn105のソ
ースに接続され、NMOSTQn104のゲートにノードN10
5が入力され、NMOSTQn104のドレインが電源電圧VC
Cが接続され、NMOSTQn104のソースがNMOSTQn
105のソースに接続され、ノードN106を出力とする否定
回路に制御信号B10が入力され、ノードN107を出力とす
る否定回路にノードN106が入力され、NMOSTQn105
のゲートにノードN107が入力され、NMOSTQn105の
ドレインが出力端子O10に接続され、NMOSTQn106の
ソースにノードN107が接続され、NMOSTQn106のド
レインが出力端子O10に接続され、NMOSTQn106のゲ
ートに出力端子O10の逆相信号が入力された構成であ
る。
In this output buffer circuit, the control signal A10 is input to the NOT circuit which outputs the node N101,
The node N101 and the control signal B10 are input to the logical sum NOT circuit that outputs 2 and the node N102 is input to the logical NOT circuit that outputs the node N103, and the control signal is input to the logical sum NOT circuit that outputs the node N104. A10 and the control signal B10 are input, the node N104 is input to the NOT circuit that outputs the node N105, the node N103 is input to the gate of the NMOS TQn103, the source of the NMOS TQn103 is connected to the ground voltage VSS, and the drain of the NMOS TQn103 is connected to the NMOS TQn105. Connected to the source of the NMOS TQn104 and the gate of the node N10
5 is input, the drain of NMOS TQn104 is the power supply voltage VC
C is connected, and the source of NMOSTQn104 is NMOSTQn
The control signal B10 is input to the NOT circuit that is connected to the source of 105 and outputs the node N106, and the node N106 is input to the NOT circuit that outputs the node N107.
Node N107 is input to the gate of the NMOS TQn105, the drain of the NMOS TQn105 is connected to the output terminal O10, the source of the NMOS TQn106 is connected to the node N107, the drain of the NMOS TQn106 is connected to the output terminal O10, and the gate of the NMOS TQn106 is the reverse of the output terminal O10. This is a configuration in which a phase signal is input.

【0058】この出力バッファ回路の出力端子O10にサ
ージなど外部から異常に高電圧の信号が入力されると、
NMOSTQn105のドレインに高電圧がかかり、NMO
STQn105のゲートの電圧がもちあげられ、さらに、N
MOSTQn103のドレイン及びNMOSTQn104のドレイ
ンに高電圧がかかり、NMOSTQn103のゲート及びN
MOSTQn104のゲートの電圧がもちあげられ、NMO
STQn105のドレインからNMOSTQn103のドレインを
通して接地電圧VSSに接続されたNMOSTQn103のソー
スに、及びNMOSTQn105のドレインからNMOSTQ
n104のソースを通して電源電圧VCCに接続されたNMO
STQn104のドレインに電流が流れることによって、出
力信号の接続された内部回路が保護される。
When an abnormally high voltage signal such as a surge is input to the output terminal O10 of this output buffer circuit from the outside,
High voltage is applied to the drain of NMOS TQn105,
The gate voltage of STQn105 is raised and N
A high voltage is applied to the drain of the MOSTQn103 and the drain of the NMOSTQn104, and the gate of the NMOSTQn103 and N
The gate voltage of MOSTQn104 is raised and NMO
From the drain of STQn105 to the source of NMOSTQn103 connected to the ground voltage VSS through the drain of NMOSTQn103, and from the drain of NMOSTQn105 to NMOSTQ.
NMO connected to power supply voltage VCC through the source of n104
The current flowing through the drain of STQn104 protects the internal circuit to which the output signal is connected.

【0059】この出力バッファ回路の動作については第
1の実施例と同様である。この出力バッファ回路の特徴
としては、論理電圧“L”を出力するためのNMOST
Qn103のドレインと論理電圧“H”を出力するためのN
MOSTQn104のソースが直接出力端子O10に接続されて
おらず、NMOSTQn105を介して出力端子O10に接続さ
れているため、出力端子O10の出力容量は小さくなる。
また、出力端子O10が接地電圧VSSより低い電位であって
も、ノードN109が論理電圧“H”となり、NMOSTQn
105のゲートは出力端子O10の接地電圧VSSより低い電位
となり、NMOSTQn105にはソースからドレインに電
流が流れず、NMOSTQn105に基板電圧が与えられて
いても基板電流が流れず基板電圧は浅くならず消費電流
も少ない。ここでノードN109を出力とする否定回路のし
きい値は接地電圧VSSに近い値に設計し出力端子O10が接
地電圧VSSより低い電位であるときのみ論理電圧“H”
となるようにしている。また、実際にはノードN109を出
力とする否定回路やNMOSTQn102に流れる電流も少
なく設計している。
The operation of this output buffer circuit is similar to that of the first embodiment. This output buffer circuit is characterized by an NMOST for outputting a logical voltage "L".
N for outputting the drain of Qn103 and logic voltage "H"
Since the source of the MOSTQn104 is not directly connected to the output terminal O10 but is connected to the output terminal O10 via the NMOSTQn105, the output capacitance of the output terminal O10 is small.
Even if the output terminal O10 has a potential lower than the ground voltage VSS, the node N109 becomes the logic voltage “H” and the NMOS TQn
The gate of 105 has a potential lower than the ground voltage VSS of the output terminal O10, current does not flow from the source to the drain of the NMOS TQn105, and the substrate current does not flow even if the substrate voltage is given to the NMOS TQn105, and the substrate voltage does not become shallow and is consumed. The current is also small. Here, the threshold value of the NOT circuit that outputs the node N109 is designed to be a value close to the ground voltage VSS, and only when the output terminal O10 has a potential lower than the ground voltage VSS, the logical voltage “H” is set.
I am trying to be. Further, in reality, the negation circuit which outputs the node N109 and the current flowing through the NMOS TQn102 are designed to be small.

【0060】[0060]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の入力保護
回路及び出力バッファ回路とすることにより、外部から
与えられる入力信号及び出力信号の電位レベルが接地電
圧より低いときでも、基板電圧が浅くならず集積回路装
置の動作や特性が安定し、また出力容量が小さくなると
いう大きな効果が得られる。
As described above, by using the input protection circuit and the output buffer circuit of the present invention, the substrate voltage becomes shallow even when the potential levels of the input signal and the output signal given from the outside are lower than the ground voltage. In addition, the operation and characteristics of the integrated circuit device are stabilized and the output capacitance is reduced, which is a great effect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の入力保護回路の第1の実施例を示す回
路図
FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of an input protection circuit of the present invention.

【図2】本発明の入力保護回路の第2の実施例を示す回
路図
FIG. 2 is a circuit diagram showing a second embodiment of the input protection circuit of the present invention.

【図3】本発明の入力保護回路の第3の実施例を示す回
路図
FIG. 3 is a circuit diagram showing a third embodiment of the input protection circuit of the present invention.

【図4】本発明の出力バッファ回路の第1の実施例を示
す回路図
FIG. 4 is a circuit diagram showing a first embodiment of an output buffer circuit of the present invention.

【図5】本発明の出力バッファ回路の第2の実施例を示
す回路図
FIG. 5 is a circuit diagram showing a second embodiment of the output buffer circuit of the present invention.

【図6】本発明の出力バッファ回路の第3の実施例を示
す回路図
FIG. 6 is a circuit diagram showing a third embodiment of the output buffer circuit of the present invention.

【図7】本発明の出力バッファ回路の第4の実施例を示
す回路図
FIG. 7 is a circuit diagram showing a fourth embodiment of the output buffer circuit of the present invention.

【図8】本発明の出力バッファ回路の第5の実施例を示
す回路図
FIG. 8 is a circuit diagram showing a fifth embodiment of the output buffer circuit of the present invention.

【図9】本発明の出力バッファ回路の第6の実施例を示
す回路図
FIG. 9 is a circuit diagram showing a sixth embodiment of the output buffer circuit of the present invention.

【図10】本発明の出力バッファ回路の第7の実施例を
示す回路図
FIG. 10 is a circuit diagram showing a seventh embodiment of the output buffer circuit of the present invention.

【図11】従来の入力保護回路を示す回路図FIG. 11 is a circuit diagram showing a conventional input protection circuit.

【図12】従来の出力バッファ回路を示す回路図FIG. 12 is a circuit diagram showing a conventional output buffer circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

I1 入力信号 V11 ノード R11 抵抗 Qn11 Nチャンネル型MOSトランジスタ VSS 接地電圧 I1 Input signal V11 Node R11 Resistance Qn11 N-channel MOS transistor VSS Ground voltage

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】入力信号がNチャンネル型MOSトランジ
スタのドレインに接続され、前記Nチャンネル型MOS
トランジスタのソースが接地電圧に接続され、前記Nチ
ャンネル型MOSトランジスタのゲートが接地電圧より
低い電圧源に接続されたことを特徴とする入力保護回
路。
1. An input signal is connected to a drain of an N-channel MOS transistor, and the N-channel MOS transistor is connected.
An input protection circuit, wherein a source of the transistor is connected to a ground voltage and a gate of the N-channel type MOS transistor is connected to a voltage source lower than the ground voltage.
【請求項2】入力信号が第1のNチャンネル型MOSト
ランジスタのドレインに接続され、前記第1のNチャン
ネル型MOSトランジスタのソースが第2のNチャンネ
ル型MOSトランジスタのドレインに接続され、前記第
2のNチャンネル型MOSトランジスタのソースが接地
電圧に接続され、前記第1のNチャンネル型MOSトラ
ンジスタのゲートが接地電圧より低い電圧源に接続さ
れ、前記第2のNチャンネル型MOSトランジスタのゲ
ートが接地電圧に接続されたことを特徴とする入力保護
回路。
2. An input signal is connected to a drain of a first N-channel type MOS transistor, a source of the first N-channel type MOS transistor is connected to a drain of a second N-channel type MOS transistor, and The source of the second N-channel MOS transistor is connected to the ground voltage, the gate of the first N-channel MOS transistor is connected to a voltage source lower than the ground voltage, and the gate of the second N-channel MOS transistor is connected. An input protection circuit characterized by being connected to a ground voltage.
【請求項3】入力信号が第1のNチャンネル型MOSト
ランジスタのドレインとゲートに接続され、前記第1の
Nチャンネル型MOSトランジスタのソースが第2のN
チャンネル型MOSトランジスタのドレインに接続さ
れ、前記第2のNチャンネル型MOSトランジスタのソ
ースが接地電圧に接続され、前記第2のNチャンネル型
MOSトランジスタのゲートが接地電圧に接続されたこ
とを特徴とする入力保護回路。
3. An input signal is connected to a drain and a gate of a first N-channel type MOS transistor, and a source of the first N-channel type MOS transistor is a second N-channel type MOS transistor.
A drain of the channel type MOS transistor, a source of the second N channel type MOS transistor connected to a ground voltage, and a gate of the second N channel type MOS transistor connected to a ground voltage. Input protection circuit.
【請求項4】第1のNチャンネル型MOSトランジスタ
のゲートとソースが出力信号に接続され、前記第1のN
チャンネル型MOSトランジスタのドレインが第2のN
チャンネル型MOSトランジスタのソースに接続され、
前記第2のNチャンネル型MOSトランジスタのドレイ
ンが電源電圧に接続されたことを特徴とする出力バッフ
ァ回路。
4. A gate and a source of a first N-channel MOS transistor are connected to an output signal, and the first N-channel MOS transistor is connected to an output signal.
The drain of the channel type MOS transistor is the second N
Connected to the source of the channel type MOS transistor,
An output buffer circuit, wherein the drain of the second N-channel type MOS transistor is connected to a power supply voltage.
【請求項5】Nチャンネル型MOSトランジスタのソー
スまたはドレインが出力信号に接続され、前記Nチャン
ネル型MOSトランジスタのゲートに入力される信号の
“L”の論理電圧が接地電圧より低い電圧源に接続され
たことを特徴とする出力バッファ回路。
5. The source or drain of the N-channel type MOS transistor is connected to an output signal, and the signal input to the gate of the N-channel type MOS transistor is connected to a voltage source whose logic voltage of "L" is lower than ground voltage. An output buffer circuit characterized by the above.
【請求項6】第1のNチャンネル型MOSトランジスタ
のドレインまたはソースが出力信号に接続され、前記第
1のNチャンネル型MOSトランジスタのゲートに入力
される信号が第2のNチャンネル型MOSトランジスタ
のソースまたはドレインに接続され、前記第2のNチャ
ンネル型MOSトランジスタのドレインまたはソースが
前記出力信号に接続され、前記第2のNチャンネル型M
OSトランジスタのゲートが接地電圧に接続されたこと
を特徴とする出力バッファ回路。
6. A drain or a source of the first N-channel MOS transistor is connected to an output signal, and a signal input to the gate of the first N-channel MOS transistor is of a second N-channel MOS transistor. A second N-channel type M transistor connected to a source or a drain, the drain or source of the second N-channel type MOS transistor connected to the output signal,
An output buffer circuit in which a gate of an OS transistor is connected to a ground voltage.
【請求項7】第1のNチャンネル型MOSトランジスタ
のドレインが出力信号に接続され、前記第1のNチャン
ネル型MOSトランジスタのゲートに入力される信号が
第2のNチャンネル型MOSトランジスタのソースに接
続され、前記第2のNチャンネル型MOSトランジスタ
のドレインが前記出力信号に接続され、前記第2のNチ
ャンネル型MOSトランジスタのゲートが出力信号の逆
相信号に接続されたことを特徴とする出力バッファ回
路。
7. A drain of the first N-channel MOS transistor is connected to an output signal, and a signal input to the gate of the first N-channel MOS transistor is connected to a source of the second N-channel MOS transistor. An output, wherein the drain of the second N-channel type MOS transistor is connected to the output signal, and the gate of the second N-channel type MOS transistor is connected to a reverse phase signal of the output signal. Buffer circuit.
【請求項8】第1のNチャンネル型MOSトランジスタ
のドレインが出力信号に接続され、前記第1のNチャン
ネル型MOSトランジスタのソースが第2のNチャンネ
ル型MOSトランジスタのドレインおよび第3のNチャ
ンネル型MOSトランジスタのソースに接続され、前記
第2のNチャンネル型MOSトランジスタのソースが接
地電圧に接続され、前記第3のNチャンネル型MOSト
ランジスタのドレインが電源電圧に接続されたことを特
徴とする出力バッファ回路。
8. A drain of the first N-channel MOS transistor is connected to an output signal, and a source of the first N-channel MOS transistor is a drain of the second N-channel MOS transistor and a third N-channel. Type MOS transistor, the source of the second N-channel type MOS transistor is connected to the ground voltage, and the drain of the third N-channel type MOS transistor is connected to the power supply voltage. Output buffer circuit.
【請求項9】第1のNチャンネル型MOSトランジスタ
のゲートに入力される信号の“L”の論理電圧が接地電
圧より低い電圧源に接続されたことを特徴とする請求項
8記載の出力バッファ回路。
9. The output buffer according to claim 8, wherein the logic voltage of "L" of the signal input to the gate of the first N-channel MOS transistor is connected to a voltage source lower than the ground voltage. circuit.
【請求項10】第1のNチャンネル型MOSトランジス
タのゲートが第4のNチャンネル型MOSトランジスタ
のソースに接続され、前記第4のNチャンネル型MOS
トランジスタのドレインが出力信号に接続され、前記第
4のNチャンネル型MOSトランジスタのゲートが出力
信号の逆相信号に接続されたことを特徴とする請求項8
記載の出力バッファ回路。
10. A gate of a first N-channel MOS transistor is connected to a source of a fourth N-channel MOS transistor, and the fourth N-channel MOS transistor is connected.
9. The drain of the transistor is connected to an output signal, and the gate of the fourth N-channel type MOS transistor is connected to a reverse phase signal of the output signal.
The output buffer circuit described.
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