JPH0519903U - 伸び計 - Google Patents

伸び計

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JPH0519903U
JPH0519903U JP7482391U JP7482391U JPH0519903U JP H0519903 U JPH0519903 U JP H0519903U JP 7482391 U JP7482391 U JP 7482391U JP 7482391 U JP7482391 U JP 7482391U JP H0519903 U JPH0519903 U JP H0519903U
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JP
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strain gauges
extensometer
bridge circuit
test piece
elongation
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 単一の伸び計で微小伸びと大伸びの測定を可
能にし、測定範囲を広げる。 【構成】 試験片の伸びにより撓む受感部13に複数の
歪みゲージ14a〜14dを設けてブリッジ接続すると
小変位測定用伸び計となる。ブリッジ回路の2辺の歪み
ゲージ14c,14dを切換スイッチ16によりダミー
用抵抗素子15a,15bに代えると、大変位測定用伸
び計となる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、材料試験機により試験片に引っ張り荷重を加えたときの試験片の伸 びを歪みゲージを用いて測定する伸び計に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、このような歪みゲージ式の伸び計は、先端が試験片の標点に固定される 一対のアームと、この両アームの基端間を結合する板ばねと、この板ばねに貼着 した歪みゲージとから構成される。 上記構成の伸び計において、試験片に引張荷重が加えられて標点間に伸びが生 じると、両アームの先端側は標点間の伸びに追随して開き、板ばねは撓む。これ に伴い板ばねに貼着した歪みゲージに板ばねの撓み、すなわち両アームの開き量 に比例した歪みが生じ、その抵抗値が変化する。この歪みゲージの抵抗値の変化 分をブリッジ回路で検出することにより、試験片の伸びが測定される。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の伸び計は1組のブリッジ回路を用いて板ばね の歪みを検出する構成であるため、伸び計の測定範囲はそのブリッジ回路から得 られる測定範囲に限定されてしまう。そのため、例えば、伸び計を試験片の破断 まで測定できるようにすると感度が悪く、微小伸びの測定に支障を来たす。また 、感度の良いものは伸びの測定範囲が狭いという不都合がある。したがって、上 記両方の伸び測定を行うようにすると、2組の伸び計が必要になるという問題が あった。
【0004】 本考案の目的は、単一の受感部だけで微小伸びと大伸びの測定を可能にし、か つ広い範囲の伸び測定を可能にした伸び計を提供することにある
【0005】
【課題を解決するための手段】 本考案は、試験片の各標点にセットされる一対のアームと、試験片の伸びに連 動して回動されるアームにより撓み変形される受感部と、受感部に貼着されブリ ッジ回路に組まれて受感部の撓み変形を検出する小変位測定用の複数の歪みゲー ジと、一対のダミー用抵抗素子と、両抵抗素子をブリッジ回路の所定2辺の歪み ゲージに代えて接続することによりブリッジ回路を大変位測定用に動作させる切 換手段とを備えることにより、上記目的を達成できる。
【0006】
【作用】
4枚の歪みゲージをブリッジ接続して小変位を測定するモードと、一対の歪み ゲージと一対のダミー用抵抗素子をブリッジ接続して大変位を測定するモードと を切換手段で切換えることができる。これにより、単一の伸び計を微小伸び用お よび大伸び用に利用し得るとともに、広い範囲の伸び測定が可能になる。
【0007】
【実施例】
図1および図2により本考案の一実施例を説明する。 図1において、10は引張試験される試験片であり、その上下端は、図示しな い引張試験機の上つかみ具と下つかみ具によって把持される。
【0008】 11,12は、試験片10の標点間距離に相当する間隔だけ離して対向配置し た一対のアームであり、この両アーム11,12の基端は、弾性材からなる受感 部13により結合されている。受感部13の両面には、小変位測定用のブリッジ 回路を構成する複数(例えば4個)の歪みゲージ14a〜14dが貼着されてい る。また、一方のアーム11には、一対のダミー用抵抗素子15a,15bが貼 着されている。この抵抗素子15a,15bは、小変位測定用ブリッジ回路に対 して、その一方の対比辺にある歪みゲージ14c,14dと切り換え可能に接続 されるもので、抵抗素子15a,15bを歪みゲージ14a,14dに代えて接 続することにより、ブリッジ回路を大変位測定用として機能させる。16は切換 スイッチであり、アーム11,12の基部側を覆うハウジング17に取り付けら れている。
【0009】 図2は、本実施例における伸び計の歪み検出用のブリッジ回路である。図2に おいて、ブリッジ回路の一方の対比辺に位置される小変位測定用歪みゲージ14 a,14bの接続点は一方の電源入力端18aに接続され、それら歪みゲージ1 4a,14bの他端は出力端子19a,19bにそれぞれ接続されている。また 、ブリッジ回路の他方の対比辺に位置される小変位測定用歪みゲージ14c,1 4dの一端およびダミー用抵抗素子15a,15bの一端は出力端子19a,1 9bにそれぞれ接続され、さらに、歪みゲージ14c,14dの他端およびダミ ー用抵抗素子15a,15bの他端は切換スイッチ16の切換接点16a,16 bを介して他方の入力端子18bに接続されている。
【0010】 次に、このように構成された伸び計の動作について説明する。 試験片10の微小伸びを測定する場合は、両アーム11,12の先端を試験片 10の各標点に不図示の結合具により固定し、切換スイッチ16の切換接点16 a,16bを接点a側に接続する。これによりブリッジ回路が歪みゲージ14a 〜14dにより構成されるようにする。
【0011】 かかる状態において、試験片10に引張荷重が加えられて標点間に伸びが生じ ると、その伸びに応じてアーム12が拡開方向に回動され、受感部13は撓み変 形する。受感部13が撓み変形すると、これに応じて歪みゲージ14a〜14d が引張または圧縮方向に歪み、その歪みに比例して抵抗値が変化する。この抵抗 値の変化は試験片の伸び変化としてブリッジ回路により検出され、例えば図示し ない材料試験機の制御回路などに出力される。
【0012】 このようにブリッジ回路の各辺を歪みゲージ14a〜14dとすることにより 、伸び計を高感度で使用し、試験片10の微小伸びを測定することができる。
【0013】 切換スイッチ16の各切換接点16a,16bを接点b側に接続した場合は、 歪みゲージ14c,14dが切り離され、ダミー用抵抗素子15a,15bが接 続されてブリッジ回路を構成する。このとき、ダミー用抵抗素子15a,15b の抵抗値は受感部13の撓み変形に関係なく一定であり、歪みゲージ14a,1 4bの抵抗値のみが受感部13の撓みに応じて変化する。このため、受感部13 の撓みに対するブリッジ回路の全体の抵抗値の変化の割合が小さく、すなわち、 伸び計の感度が低くなり、これに相応して試験片の大伸びに対する測定が可能に なる。
【0014】 因に、本実施例に示す回路構成の伸び計においては、歪みゲージ14a〜14 dでブリッジ回路を構成した場合と、歪みゲージ14a,14bとダミー用抵抗 素子15a,15bとでブリッジ回路を構成した場合の伸び測定範囲は1:2と なる。つまり、単一の伸び計で微小伸び測定と大伸び測定が可能になるとともに 、従来の伸び計の2倍に相当する測定範囲を得ることができる。
【0015】 なお、本考案におけるアームおよび受感部の構造、ダミー用抵抗素子の設置場 所は、上記実施例に示す構成のものに限らず、請求項に記載した範囲を逸脱しな い限り種々に変形し得る。
【0016】
【考案の効果】
以上説明したように本考案によれば、試験片の伸びに連動して回動する一対の アームにより弾性変形させる受感部に複数の歪みゲージを設け、この各歪みゲー ジをブリッジに接続することにより受感部を小変位測定用に機能させるとともに 、このブリッジ回路の2辺の歪みゲージをダミー用抵抗素子に代えることにより 受感部を大変位測定用に切り換えるようにしたので、単一の伸び計を微小伸びお よび大伸び測定用として利用できるとともに、広い範囲の伸び測定ができるとい う効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示す側面図である。
【図2】本実施例における伸び計の回路構成図である。
【符号の説明】
10 試験片 11,12 アーム 13 受感部 14a〜14d 歪みゲージ 15a,15b ダミー用抵抗素子 16 切換スイッチ

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試験片の各標点にセットされる一対のア
    ームと、前記試験片の伸びに連動して回動される前記ア
    ームにより撓み変形される受感部と、前記受感部に貼着
    されブリッジ回路に組まれて受感部の撓み変形を検出す
    る小変位測定用の複数の歪みゲージと、一対のダミー用
    抵抗素子と、前記一対のダミー用抵抗素子を前記ブリッ
    ジ回路の所定2辺の歪みゲージに代えて接続することに
    より前記ブリッジ回路を大変位測定用に動作させる切換
    手段とを備えたことを特徴とする伸び計。
JP7482391U 1991-08-23 1991-08-23 伸び計 Expired - Lifetime JP2541065Y2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP7482391U JP2541065Y2 (ja) 1991-08-23 1991-08-23 伸び計

Applications Claiming Priority (1)

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JP7482391U JP2541065Y2 (ja) 1991-08-23 1991-08-23 伸び計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0519903U true JPH0519903U (ja) 1993-03-12
JP2541065Y2 JP2541065Y2 (ja) 1997-07-09

Family

ID=13558423

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JP7482391U Expired - Lifetime JP2541065Y2 (ja) 1991-08-23 1991-08-23 伸び計

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008090932A1 (ja) * 2007-01-26 2008-07-31 The Japan Steel Works, Ltd. 水素残量センサ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008090932A1 (ja) * 2007-01-26 2008-07-31 The Japan Steel Works, Ltd. 水素残量センサ
US8011223B2 (en) 2007-01-26 2011-09-06 The Japan Steel Works, Ltd. Remaining hydrogen sensor

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JP2541065Y2 (ja) 1997-07-09

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