JPH05196607A - 磁性体の探傷装置 - Google Patents
磁性体の探傷装置Info
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- JPH05196607A JPH05196607A JP4006820A JP682092A JPH05196607A JP H05196607 A JPH05196607 A JP H05196607A JP 4006820 A JP4006820 A JP 4006820A JP 682092 A JP682092 A JP 682092A JP H05196607 A JPH05196607 A JP H05196607A
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- Japan
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- magnetic
- eddy current
- flaw
- magnetic conductor
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/83—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被検磁性導体に発生する微小な傷の初期段階
での検出が可能に検出感度を高めた磁性体の探傷装置の
提供。 【構成】 被検磁性導体であるレール材４に励磁コイル
１ａで渦電流を流して被検磁性導体の探傷を行う渦電流
センサ１に対して、当該渦電流センサ１の先端からリー
ル材４に閉磁路を形成する磁界形成手段として、永久磁
石２，Ｎ極ピース２ａ，Ｓ極ピース２ｂを設ける。 【効果】 被検磁性導体に発生する渦電流に対する傷の
存在によるインピーダンス変化を検出すると共に、磁界
形成手段によって形成する閉磁路の傷部分に生じる漏洩
磁束を検出することもでき、被検磁性導体の初期段階で
の微小傷を高感度で検出することが可能になる。
での検出が可能に検出感度を高めた磁性体の探傷装置の
提供。 【構成】 被検磁性導体であるレール材４に励磁コイル
１ａで渦電流を流して被検磁性導体の探傷を行う渦電流
センサ１に対して、当該渦電流センサ１の先端からリー
ル材４に閉磁路を形成する磁界形成手段として、永久磁
石２，Ｎ極ピース２ａ，Ｓ極ピース２ｂを設ける。 【効果】 被検磁性導体に発生する渦電流に対する傷の
存在によるインピーダンス変化を検出すると共に、磁界
形成手段によって形成する閉磁路の傷部分に生じる漏洩
磁束を検出することもでき、被検磁性導体の初期段階で
の微小傷を高感度で検出することが可能になる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検磁性導体の表面や
内部に存在する傷を検出する磁性体の探傷装置に関す
る。
内部に存在する傷を検出する磁性体の探傷装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】渦電流によりレールなどの被検磁性導体
に存在する傷を検出する渦電流探傷試験装置では、励磁
コイルによって被検磁性導体の表面に数１０ＫＨｚの交
番磁界を印加し、被検磁性導体に渦電流を発生させる。
そして、被検磁性導体に存在する傷による渦電流抵抗変
化を、インピーダンスの変化として検出することによ
り、傷の有無の判定を行っている。この場合励磁コイル
に流される電流が一定であると、被検磁性導体に発生す
る渦電流が一定となり、小さな傷では渦電流を妨げる割
合が小さくて、その識別能力が低下し、大きな傷では渦
電流が小さくなってしまって検出できなくなったりする
ことがある。
に存在する傷を検出する渦電流探傷試験装置では、励磁
コイルによって被検磁性導体の表面に数１０ＫＨｚの交
番磁界を印加し、被検磁性導体に渦電流を発生させる。
そして、被検磁性導体に存在する傷による渦電流抵抗変
化を、インピーダンスの変化として検出することによ
り、傷の有無の判定を行っている。この場合励磁コイル
に流される電流が一定であると、被検磁性導体に発生す
る渦電流が一定となり、小さな傷では渦電流を妨げる割
合が小さくて、その識別能力が低下し、大きな傷では渦
電流が小さくなってしまって検出できなくなったりする
ことがある。
【０００３】そこで、特公昭５８−８３２５２号公報に
おいて、探傷時に被検磁性導体に発生する渦電流を検出
し、渦電流の検出値が所定の設定基準値になるように励
磁コイルに流す電流を制御する渦電流探傷試験装置が開
示されている。
おいて、探傷時に被検磁性導体に発生する渦電流を検出
し、渦電流の検出値が所定の設定基準値になるように励
磁コイルに流す電流を制御する渦電流探傷試験装置が開
示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記開示の渦電流探傷
試験装置によって、被検磁性導体のかなり小さな傷の検
出が可能にはなったが、未だ発生初期の微小な傷の検出
が安定して行えないという問題がある。
試験装置によって、被検磁性導体のかなり小さな傷の検
出が可能にはなったが、未だ発生初期の微小な傷の検出
が安定して行えないという問題がある。
【０００５】本発明は、前述したようなこの種の渦電流
センサの現状に鑑みてなされたものであり、その目的は
発生初期の微小な傷の検出が可能に検出感度を高めた磁
性体の探傷装置を提供することにある。
センサの現状に鑑みてなされたものであり、その目的は
発生初期の微小な傷の検出が可能に検出感度を高めた磁
性体の探傷装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明は、被検磁性導体に励磁コイルで渦電流を流し
て前記被検磁性導体の探傷を行う渦電流センサに、当該
渦電流センサの先端から前記被検磁性導体に閉磁路を形
成する磁界印加手段を設けた構成にしてある。
に本発明は、被検磁性導体に励磁コイルで渦電流を流し
て前記被検磁性導体の探傷を行う渦電流センサに、当該
渦電流センサの先端から前記被検磁性導体に閉磁路を形
成する磁界印加手段を設けた構成にしてある。
【０００７】
【作用】このような構成なので、励磁コイルによる励磁
によって被検磁性導体に渦電流を発生させて、傷の存在
によるインピーダンスの変化を検出して傷の有無を検知
すると共に、磁界形成手段によって、傷を磁路内に置い
た閉磁路を形成し傷部分から発生する漏洩磁束の検出が
可能になる。このようにして、磁気バイアス渦電流セン
サを検出感度が最大の位置を探して微調整移動し、その
位置で微小な初期段階の傷をも感度よく検出する。
によって被検磁性導体に渦電流を発生させて、傷の存在
によるインピーダンスの変化を検出して傷の有無を検知
すると共に、磁界形成手段によって、傷を磁路内に置い
た閉磁路を形成し傷部分から発生する漏洩磁束の検出が
可能になる。このようにして、磁気バイアス渦電流セン
サを検出感度が最大の位置を探して微調整移動し、その
位置で微小な初期段階の傷をも感度よく検出する。
【０００８】
【実施例】以下本発明の一実施例を、図１ないし図４を
参照して説明する。ここで、図１は実施例の基本構成を
示す説明図、図２は実施例での測定時の構成を示す斜視
図、図３は実施例による測定の特定図、図４は実施例で
の測定の説明図である。
参照して説明する。ここで、図１は実施例の基本構成を
示す説明図、図２は実施例での測定時の構成を示す斜視
図、図３は実施例による測定の特定図、図４は実施例で
の測定の説明図である。
【０００９】図１に示すように、実施例では永久磁石２
のほぼ中央位置に渦電流センサ１が取り付けてあり、こ
の渦電流センサ１は励磁コイル１ａと検出コイル１ｂを
具備している。永久磁石２のＮ極から渦電流センサ１に
平行に磁性体のＮ極ピース２ａが突設してあり、Ｓ極か
ら同様に磁性体のＳ極ピース２ｂが突設してある。
のほぼ中央位置に渦電流センサ１が取り付けてあり、こ
の渦電流センサ１は励磁コイル１ａと検出コイル１ｂを
具備している。永久磁石２のＮ極から渦電流センサ１に
平行に磁性体のＮ極ピース２ａが突設してあり、Ｓ極か
ら同様に磁性体のＳ極ピース２ｂが突設してある。
【００１０】実施例は図２に示すように、例えば被検磁
性導体としてのレール材４上に配置されて、レール材４
の表面あるいは内部の傷５の有無を検出するが、励磁コ
イル１ａに交番電圧を入力してレール材４の表面に数１
０ＫＨｚの交番磁界を印加する。このようにすると、当
該交番磁界によってレール材４の表面には、図４に示す
ように渦電流８が発生するが、レール材４に傷５が存在
するとこの傷によって渦電流８が妨げられ、渦電流８の
流路のインピーダンスの変化が生じるので、検出コイル
１ｂによってその検出が行われる。
性導体としてのレール材４上に配置されて、レール材４
の表面あるいは内部の傷５の有無を検出するが、励磁コ
イル１ａに交番電圧を入力してレール材４の表面に数１
０ＫＨｚの交番磁界を印加する。このようにすると、当
該交番磁界によってレール材４の表面には、図４に示す
ように渦電流８が発生するが、レール材４に傷５が存在
するとこの傷によって渦電流８が妨げられ、渦電流８の
流路のインピーダンスの変化が生じるので、検出コイル
１ｂによってその検出が行われる。
【００１１】実施例ではレール材４に磁気バイアス渦電
流センサ３を近付けると、永久磁石２の磁気吸引力によ
って磁性導体であるレール材４に磁気バイアス渦電流セ
ンサ３が自己保持されるので、磁気バイアス渦電流セン
サ３を微小移動させて、傷５位置に近付けるようにし、
インピーダンス変化の検出感度の最も高い位置を傷５位
置と判定する。図３は実施例の磁気バイアス渦電流セン
サ３による検出出力の測定特性であり、０．２テスラー
［Ｔ］でほぼ２倍の高感度が得られる。
流センサ３を近付けると、永久磁石２の磁気吸引力によ
って磁性導体であるレール材４に磁気バイアス渦電流セ
ンサ３が自己保持されるので、磁気バイアス渦電流セン
サ３を微小移動させて、傷５位置に近付けるようにし、
インピーダンス変化の検出感度の最も高い位置を傷５位
置と判定する。図３は実施例の磁気バイアス渦電流セン
サ３による検出出力の測定特性であり、０．２テスラー
［Ｔ］でほぼ２倍の高感度が得られる。
【００１２】ところで、実施例ではレール材４上に磁気
バイアス渦電流センサ３を載置すると、永久磁石２、Ｎ
極ピース２ａ、磁性導体であるレール材４及びＳ極ピー
ス２ｂによって閉磁路が形成され、この閉磁路に永久磁
石４からの主磁束７が閉じこめられる。従って、前記閉
磁路内にレール材４の傷５を位置させると、この傷５位
置で磁気抵抗が高くなり、傷５部分に図４に示すように
漏洩磁束６が発生する。そこで、この漏洩磁束６を検出
する手段を設けて漏洩磁束６を検出することにより、微
小傷を感度よく検出することも可能である。
バイアス渦電流センサ３を載置すると、永久磁石２、Ｎ
極ピース２ａ、磁性導体であるレール材４及びＳ極ピー
ス２ｂによって閉磁路が形成され、この閉磁路に永久磁
石４からの主磁束７が閉じこめられる。従って、前記閉
磁路内にレール材４の傷５を位置させると、この傷５位
置で磁気抵抗が高くなり、傷５部分に図４に示すように
漏洩磁束６が発生する。そこで、この漏洩磁束６を検出
する手段を設けて漏洩磁束６を検出することにより、微
小傷を感度よく検出することも可能である。
【００１３】
【発明の効果】以上に説明したように本発明は、被検磁
性導体に励磁コイルで渦電流を流して前記被検磁性導体
の探傷を行う渦電流センサに対して、当該渦電流センサ
の先端から被検磁性導体に閉磁路を形成する磁形成手段
を設けたので、被検磁性導体に発生する渦電流に対する
傷の存在によるインピーダンス変化を検出すると共に、
磁界形成手段によって形成される閉磁路の傷部分に生じ
る漏洩磁束を検出することもでき、被検磁性導体の初期
段階の微小傷を高感度で検出することが可能になる。
性導体に励磁コイルで渦電流を流して前記被検磁性導体
の探傷を行う渦電流センサに対して、当該渦電流センサ
の先端から被検磁性導体に閉磁路を形成する磁形成手段
を設けたので、被検磁性導体に発生する渦電流に対する
傷の存在によるインピーダンス変化を検出すると共に、
磁界形成手段によって形成される閉磁路の傷部分に生じ
る漏洩磁束を検出することもでき、被検磁性導体の初期
段階の微小傷を高感度で検出することが可能になる。
【図１】本発明の一実施例の基本構成を示す説明図であ
る。
る。
【図２】本発明の一実施例での測定時の構成を示す斜視
図である。
図である。
【図３】本発明の一実施例での測定特性図である。
【図４】本発明の一実施例での測定の説明図である。
【符号の説明】 １ 渦電流センサ １ａ 励磁コイル １ｂ 検出コイル ２ 永久磁石 ２ａ Ｎ極ピース ２ｂ Ｓ極ピース ３ 磁気バイアス渦電流センサ ４ レール材 ５ 傷 ６ 漏洩磁束 ７ 主磁束 ８ 渦電流
Claims (1)
- 【請求項１】 被検磁性導体に励磁コイルで渦電流を流
して前記被検磁性導体の探傷を行う渦電流センサに、当
該渦電流センサの先端から前記被検磁性導体に閉磁路を
形成する磁界形成手段を設けたことを特徴とする磁性体
の探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4006820A JPH05196607A (ja) | 1992-01-17 | 1992-01-17 | 磁性体の探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4006820A JPH05196607A (ja) | 1992-01-17 | 1992-01-17 | 磁性体の探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05196607A true JPH05196607A (ja) | 1993-08-06 |
Family
ID=11648851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4006820A Pending JPH05196607A (ja) | 1992-01-17 | 1992-01-17 | 磁性体の探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05196607A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007183197A (ja) * | 2006-01-10 | 2007-07-19 | Hitachi Ltd | 渦電流探傷センサ |
| JP2009186433A (ja) * | 2008-02-08 | 2009-08-20 | Chiba Univ | 渦電流式試料測定方法と、渦電流センサと、渦電流式試料測定システム |
| CN114019014A (zh) * | 2021-11-13 | 2022-02-08 | 爱德森（厦门）电子有限公司 | 一种穿过式磁饱和涡流检测装置及其检测方法 |
-
1992
- 1992-01-17 JP JP4006820A patent/JPH05196607A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007183197A (ja) * | 2006-01-10 | 2007-07-19 | Hitachi Ltd | 渦電流探傷センサ |
| JP4627499B2 (ja) * | 2006-01-10 | 2011-02-09 | 株式会社日立製作所 | 渦電流探傷センサ |
| JP2009186433A (ja) * | 2008-02-08 | 2009-08-20 | Chiba Univ | 渦電流式試料測定方法と、渦電流センサと、渦電流式試料測定システム |
| CN114019014A (zh) * | 2021-11-13 | 2022-02-08 | 爱德森（厦门）电子有限公司 | 一种穿过式磁饱和涡流检测装置及其检测方法 |
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