JPH05191261A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

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JPH05191261A
JPH05191261A JP4026098A JP2609892A JPH05191261A JP H05191261 A JPH05191261 A JP H05191261A JP 4026098 A JP4026098 A JP 4026098A JP 2609892 A JP2609892 A JP 2609892A JP H05191261 A JPH05191261 A JP H05191261A
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JP
Japan
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input
threshold level
circuit
integrated circuit
semiconductor integrated
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JP4026098A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenji Nakao
憲司 中尾
Daisuke Shichinohe
大助 七戸
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To allow the subject circuit to be compatible with different interfaces by forming an input circuit so that a threshold voltage of the input circuit is revised from an external setting terminal and an internal register or the like and setting a threshold level of the input circuit with an input threshold level setting circuit. CONSTITUTION:Based on a condition set by an input threshold level setting circuit 6, a signal used to control an input threshold level conversion circuit 3 of input threshold level conversion circuits 2a, 2b is generated. That is, the input threshold voltage is set in the unit of two groups of input terminals Ia1-Ian, Ib1-Ibn. After the input threshold voltage of each of input threshold level conversion circuit sections 2a, 2b is set by a control signal from the input threshold level setting circuit 6, an input signal with a different level is applied to two sets of the input terminals Ia1-Ian Ib1Ibn to activate internal circuits 4, 5. Thus, the input threshold level is set in matching with various interface circuits.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は半導体集積回路に関
し、特に入力端子の閾値電圧を可変することができるC
MOS半導体集積回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly to a C which can change a threshold voltage of an input terminal.
The present invention relates to a MOS semiconductor integrated circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】図7は従来の半導体集積回路であるCM
OS入力回路(インバータ)を示し、電源VDDと接地G
ND間にPチャネルトランジスタ11とNチャネルトラ
ンジスタ12とが直列に接続され、互いのゲートは入力
端子1に接続され、また互いのドレインは出力部10に
接続されている。一般にCMOSインバータにおいて
は、入力端子1の閾値電圧はPチャネルトランジスタ1
1の利得係数βP とNチャネルトランジスタ12の利得
係数βN の比で決まる。以下詳述すると、CMOSイン
バータにおいて、入力の閾値電圧は、出力電圧がHighレ
ベルから Lowレベル、または LowレベルからHighレベル
へ遷移する電圧であり、このときPチャネルトランジス
タ11のドレイン電流とNチャネルトランジスタ12の
ドレイン電流が等しくなる。飽和領域でのMOSトラン
ジスタのドレイン電流ID は、
2. Description of the Related Art FIG. 7 shows a conventional semiconductor integrated circuit CM.
Shows OS input circuit (inverter), power supply V DD and ground G
A P-channel transistor 11 and an N-channel transistor 12 are connected in series between the NDs, their gates are connected to the input terminal 1, and their drains are connected to the output unit 10. Generally, in the CMOS inverter, the threshold voltage of the input terminal 1 is the P-channel transistor 1
Determined by 1 ratio of the gain coefficient beta N gain coefficient beta P and N-channel transistor 12. More specifically, in the CMOS inverter, the input threshold voltage is a voltage at which the output voltage transits from a high level to a low level or from a low level to a high level. At this time, the drain current of the P-channel transistor 11 and the N-channel transistor The drain currents of 12 become equal. The drain current I D of the MOS transistor in the saturation region is

【0003】[0003]

【数1】 [Equation 1]

【0004】で表される。ここで、βはトランジスタの
利得係数、VG はゲート電圧、VT はMOSトランジス
タの閾値電圧である。
It is represented by Here, β is the gain coefficient of the transistor, V G is the gate voltage, and V T is the threshold voltage of the MOS transistor.

【0005】今、Pチャンネルトランジスタの利得係数
をβP ,閾値電圧をVTHP とし、Nチャネルトランジス
タの利得係数をβN ,閾値電圧をVTHN とし、インバー
タの入力電圧をVIN,出力電圧をVOUT 、電源電圧をV
DDとすると次式が成り立つ。
Now, the gain coefficient of the P-channel transistor is β P , the threshold voltage is V THP , the gain coefficient of the N-channel transistor is β N , the threshold voltage is V THN , the input voltage of the inverter is V IN , and the output voltage is V IN . V OUT , power supply voltage V
If DD , then the following equation holds.

【0006】[0006]

【数2】 [Equation 2]

【0007】よって、インバータの入力閾値電圧(VTH
=VIN)は、
Therefore, the input threshold voltage (V TH
= V IN ),

【0008】[0008]

【数3】 [Equation 3]

【0009】となる。数3式より、VTHN =|VTHP
とすると、インバータの入力閾値電圧VTHはトランジス
タの利得係数βN とβP の比によって決まり、βN =β
P とすると、VTH=1/2VDDとなる。つまり、利得係
数βN とβP の大きさの比を変えることで、入力閾値電
圧(V TH)を変化させることができる。
[0009] From Equation 3, VTHN= | VTHP
Then, the input threshold voltage V of the inverterTHIs Transis
Gain coefficient βNAnd βPIs determined by the ratio ofN= Β
PThen, VTH= 1 / 2VDDBecomes That is, the gainer
Number βNAnd βPThe input threshold voltage can be changed by changing the ratio of the
Pressure (V TH) Can be changed.

【0010】換言すれば、従来のCMOS半導体集積回
路においては、入力回路のトランジスタサイズ決定時
(レイアウト設計時)に、入力端子1の閾値電圧が決定
されるため、これを変更するためにはレイアウトを変更
しなければならない。
In other words, in the conventional CMOS semiconductor integrated circuit, the threshold voltage of the input terminal 1 is determined when the transistor size of the input circuit is determined (at the time of layout design). Must be changed.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】従来の半導体集積回路
は以上のように構成されており、CMOS入力回路の入
力閾値電圧はPチャネルトランジスタとNチャネルトラ
ンジスタの利得βの大きさの比で決まるため、入力閾値
電圧を変更するためには、レイアウト設計をやり直し
て、トランジスタサイズを変更しなければならず、汎用
性に乏しいという問題点があった。
The conventional semiconductor integrated circuit is constructed as described above, and the input threshold voltage of the CMOS input circuit is determined by the ratio of the gain β of the P-channel transistor and the N-channel transistor. In order to change the input threshold voltage, it is necessary to re-design the layout and change the transistor size, which is a problem of poor versatility.

【0012】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、レイアウト設計を変更すること
なく入力回路の入力閾値電圧を任意に設定することがで
きる半導体集積回路を得ることを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and it is an object of the present invention to obtain a semiconductor integrated circuit in which an input threshold voltage of an input circuit can be arbitrarily set without changing a layout design. To aim.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体集
積回路は、入力回路を、インバータの入力閾値レベルを
任意のレベルに設定可能な入力閾値レベル設定手段を有
するものとし、上記インバータの入力閾値レベルを、入
力端子に印加される外部入力信号のレベルに応じて所定
の値に設定するようにしたものである。
In a semiconductor integrated circuit according to the present invention, the input circuit has an input threshold level setting means capable of setting the input threshold level of the inverter to an arbitrary level, and the input threshold of the inverter is set. The level is set to a predetermined value according to the level of the external input signal applied to the input terminal.

【0014】[0014]

【作用】この発明においては、集積回路の入力端子に入
力される外部入力信号のレベルに応じて入力回路を構成
するインバータの入力閾値レベルを変更するようにした
から、集積回路の動作レベルと外部入力信号のレベルと
が異なっていてもこれに対応することができる。
According to the present invention, the input threshold level of the inverter forming the input circuit is changed according to the level of the external input signal input to the input terminal of the integrated circuit. Even if the level of the input signal is different, this can be dealt with.

【0015】[0015]

【実施例】以下、本発明の一実施例による半導体集積回
路を図について説明する。図1は本発明の一実施例によ
る半導体集積回路を示すブロック構成図であり、図にお
いて、7は集積回路部分を示し、Ia1〜Ian及びIb1
bmはCMOS集積回路の入力端子、2a及び2bは入
力閾値レベル変換回路部であり入力閾値レベル変換回路
3からなり、該入力閾値レベル変換回路3は例えば図2
に示すような構成のものとなっている。4及び5は内部
回路、6は上記入力回路2及び3に接続された入力閾値
レベル設定回路である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A semiconductor integrated circuit according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a semiconductor integrated circuit according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 7 denotes an integrated circuit portion, I a1 to I an and I b1 to I b1 .
Ibm is an input terminal of a CMOS integrated circuit, 2a and 2b are input threshold level conversion circuit sections, which are composed of an input threshold level conversion circuit 3. The input threshold level conversion circuit 3 is, for example, as shown in FIG.
The configuration is as shown in. Reference numerals 4 and 5 are internal circuits, and 6 is an input threshold level setting circuit connected to the input circuits 2 and 3.

【0016】次に動作について説明する。まず始めに、
図示しない外部設定端子、もしくは内部レジスタにデー
タを書き込み、入力回路の入力閾値電圧を設定する。次
に入力閾値レベル設定回路6にて、設定した条件に基づ
いて、それぞれの入力閾値レベル変換回路部2a,2b
の入力閾値レベル変換回路3を制御するための信号を発
生する。図1では入力端子Ia1〜Ian及びIb1〜Ibm
2グループ単位で入力閾値電圧を設定するように構成さ
れている。
Next, the operation will be described. First of all,
Data is written to an external setting terminal (not shown) or an internal register to set the input threshold voltage of the input circuit. Next, in the input threshold level setting circuit 6, based on the set conditions, the respective input threshold level conversion circuit sections 2a, 2b
A signal for controlling the input threshold level conversion circuit 3 is generated. In FIG. 1, the input threshold voltage is set in units of two groups of the input terminals I a1 to I an and I b1 to I bm .

【0017】そして、入力レベル設定回路6からの制御
信号によって各入力閾値レベル変換回路部2a,2bの
入力閾値電圧がそれぞれ設定された後、入力端子Ia1
an及びIb1〜Ibmの2組の入力端子にレベルの異なる
入力信号をそれぞれ印加して、内部回路4,5を動作さ
せて集積回路を動作させる。
After the input threshold voltage of each of the input threshold level conversion circuit portions 2a and 2b is set by the control signal from the input level setting circuit 6, the input terminals Ia1 ...
Input signals having different levels are applied to the two sets of input terminals I an and I b1 to I bm to operate the internal circuits 4 and 5 to operate the integrated circuit.

【0018】以上のように構成することで、いろいろな
インターフェイスに合わせて入力閾値レベルを設定する
ことが可能となる。つまり、CMOS集積回路の動作レ
ベルと外部入力信号のレベルが異なっている場合には、
これらのレベルを合わせることができる。
With the above configuration, the input threshold level can be set according to various interfaces. That is, when the operation level of the CMOS integrated circuit and the level of the external input signal are different,
You can match these levels.

【0019】次に図2に示した入力閾値レベル変換回路
3の説明をする。ここで11及び12はインバータを構
成するPチャネルトランジスタ及びNチャネルトランジ
スタ、1は入力端子、10は出力部、13はゲート幅変
更用のNチャネルトランジスタであり、そのゲートは入
力端子1及び制御端子9を入力とするAND回路の出力
に接続されている。この構成において、制御端子9に印
加される信号レベルに応じてインバータのNチャネルト
ランジスタ12のゲート幅Wを変化させることでNチャ
ネルトランジスタのβN を変化させることができる。
Next, the input threshold level conversion circuit 3 shown in FIG. 2 will be described. Here, 11 and 12 are P-channel transistors and N-channel transistors forming an inverter, 1 is an input terminal, 10 is an output part, 13 is an N-channel transistor for changing the gate width, and its gate has an input terminal 1 and a control terminal. It is connected to the output of an AND circuit having 9 as an input. In this structure, β N of the N-channel transistor can be changed by changing the gate width W of the N-channel transistor 12 of the inverter according to the signal level applied to the control terminal 9.

【0020】次に上記入力閾値レベル変換回路3の動作
について説明する。制御端子9がLow レベルのときは、
Nチャネルトランジスタ13はオフし、入力回路2
(3)の入力レベルはPチャネルトランジスタ11とN
チャネルトランジスタ12のトランジスタ利得係数βの
比で決定する。一方、制御端子9がHighレベルのとき
は、Nチャネルトランジスタ13のゲートはAND回路
8を介して見かけ上、入力端子1と接続される。その結
果、インバータのNチャネルトランジスタ12のゲート
幅Wが大きくなり、Nチャネルトランジスタ12の利得
係数βN が大きくなる。つまり、入力レベルが低くな
り、低電圧入力のインターフェイスに使用可能な状態と
なる。
Next, the operation of the input threshold level conversion circuit 3 will be described. When the control terminal 9 is Low level,
The N-channel transistor 13 is turned off, and the input circuit 2
The input level of (3) is P channel transistor 11 and N
It is determined by the ratio of the transistor gain coefficient β of the channel transistor 12. On the other hand, when the control terminal 9 is at the high level, the gate of the N-channel transistor 13 is apparently connected to the input terminal 1 via the AND circuit 8. As a result, the gate width W of the N channel transistor 12 of the inverter becomes large, and the gain coefficient β N of the N channel transistor 12 becomes large. In other words, the input level becomes low and the interface can be used for low voltage input.

【0021】このように本実施例によれば、入力回路
に、制御端子9,AND回路8,Nチャンネルトランジ
スタ13を設けて入力閾値レベルを変換可能なように構
成し、制御端子9に印加される入力閾値レベル設定回路
6の出力信号のレベルに応じてNチャネルトランジスタ
13を制御し、インバータを構成するNチャンネルトラ
ンジスタ13の見掛け上のゲート幅Wを大きくするよう
にしたから、Nチャンネルトランジスタ13の利得係数
βN が大きくなり、低電圧入力のインターフェイスに接
続して集積回路を動作させることができるようになる。
As described above, according to this embodiment, the input circuit is provided with the control terminal 9, the AND circuit 8, and the N-channel transistor 13 so that the input threshold level can be converted, and the input terminal is applied to the control terminal 9. The N-channel transistor 13 is controlled according to the level of the output signal of the input threshold level setting circuit 6 to increase the apparent gate width W of the N-channel transistor 13 that constitutes the inverter. The gain coefficient β N is increased, and the integrated circuit can be operated by connecting to the interface of low voltage input.

【0022】次に本発明の第2の実施例を図3について
説明する。この実施例では、内部電源(演算増幅器)を
用いて、入力段インバータのPチャネルトランジスタの
ソース電圧を可変させることにより、入力回路の入力レ
ベルを変化させるように構成された入力閾値レベル変換
回路を構成したものである。図において、20は演算増
幅器、21は定電圧源である。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In this embodiment, an input threshold level conversion circuit configured to change the input level of the input circuit by changing the source voltage of the P-channel transistor of the input stage inverter using the internal power supply (operational amplifier). It is composed. In the figure, 20 is an operational amplifier, and 21 is a constant voltage source.

【0023】次に動作について説明する。制御端子9に
任意の定電圧(基準電圧)を印加すると、演算増幅器2
0を通して、その電圧が入力段インバータの各Pチャネ
ルトランジスタ11のソースに印加される。CMOSイ
ンバータにおいて、入力閾値レベルは、Pチャネルトラ
ンジスタ11とNチャネルトランジスタ12の利得係数
βの比による電源電圧とGND間の電圧分割比になる、
つまり電源電圧に比例する。従って制御端子9を任意の
電圧に設定することで、入力段インバータの電源電圧を
設定し、その結果、入力段インバータの入力閾値レベル
を可変とすることができる。
Next, the operation will be described. When an arbitrary constant voltage (reference voltage) is applied to the control terminal 9, the operational amplifier 2
Through 0, the voltage is applied to the source of each P-channel transistor 11 of the input stage inverter. In the CMOS inverter, the input threshold level is the voltage division ratio between the power supply voltage and GND according to the ratio of the gain coefficient β of the P-channel transistor 11 and the N-channel transistor 12,
That is, it is proportional to the power supply voltage. Therefore, by setting the control terminal 9 to an arbitrary voltage, the power supply voltage of the input stage inverter can be set, and as a result, the input threshold level of the input stage inverter can be made variable.

【0024】なお図3では、外部設定端子9から電圧を
設定するようにしたが、CMOS集積回路内で定電圧を
作り、制御回路によって切り換えるようにしてもよい。
Although the voltage is set from the external setting terminal 9 in FIG. 3, a constant voltage may be generated in the CMOS integrated circuit and switched by the control circuit.

【0025】次に本発明の第3の実施例を図4について
説明する。この実施例では第1の実施例の構成におい
て、入力回路2,3として、入力段インバータのPチャ
ネルトランジスタ11のソース前段に電圧降下素子を入
れ、入力段インバータの電源電圧を降下させることで入
力閾値レベルを変化させる入力閾値レベル変換回路を構
成したものである。14,16は電源電圧VDDとPチャ
ンネルトランジスタ11のソースとの間に接続されたP
チャネルトランジスタであり、14が電圧降下素子とな
り、16がそのスイッチとなっている。また17はトラ
ンジスタ16をオンさせるための定電流源である。
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In this embodiment, in the configuration of the first embodiment, as the input circuits 2 and 3, a voltage drop element is inserted in the source preceding stage of the P-channel transistor 11 of the input stage inverter, and the power supply voltage of the input stage inverter is dropped to input. The input threshold level conversion circuit that changes the threshold level is configured. Reference numerals 14 and 16 denote P connected between the power supply voltage VDD and the source of the P-channel transistor 11.
It is a channel transistor, 14 is a voltage drop element, and 16 is its switch. Reference numeral 17 is a constant current source for turning on the transistor 16.

【0026】次に動作について説明する。制御端子9が
HighレベルのときはPチャネルトランジスタ16がオフ
しているためトランジスタ14の閾値分電圧降下が生じ
ている。一方、制御端子9がLow レベルのときはトラン
ジスタ16がオンしてトランジスタ14の導通がショー
トし、インバータのPチャンネルトランジスタ11のソ
ースの電圧降下がなくなる。以上の動作により、インバ
ータの電源電圧を降下させ、その結果、インバータの入
力閾値レベルを変化させることができる。
Next, the operation will be described. Control terminal 9
When the level is High, the P-channel transistor 16 is off, so that a voltage drop corresponding to the threshold value of the transistor 14 occurs. On the other hand, when the control terminal 9 is at the low level, the transistor 16 is turned on, the conduction of the transistor 14 is short-circuited, and the voltage drop at the source of the P-channel transistor 11 of the inverter disappears. By the above operation, the power supply voltage of the inverter can be lowered, and as a result, the input threshold level of the inverter can be changed.

【0027】なお、Pチャネルトランジスタ16は電圧
降下素子14をショートするためのスイッチ素子であ
り、Nチャネルトランジスタ及びトランスミッションゲ
ートで代用することも可能である。図5及び図6は上記
第3の実施例の変形例であり、電圧降下素子としてNチ
ャネルトランジスタ15及びダイオード18,19を使
用した例を示し、この場合も上記実施例と同様の効果を
奏する。
The P-channel transistor 16 is a switch element for short-circuiting the voltage drop element 14, and an N-channel transistor and a transmission gate can be used instead. FIG. 5 and FIG. 6 are modified examples of the third embodiment and show an example in which the N-channel transistor 15 and the diodes 18 and 19 are used as the voltage drop element, and in this case also, the same effect as the above-mentioned embodiment is obtained. ..

【0028】[0028]

【発明の効果】以上のように、この発明に係る半導体集
積回路によれば、入力回路を、インバータの入力閾値レ
ベルを任意のレベルに設定可能な入力閾値レベル設定手
段を有するものとし、上記インバータの入力閾値レベル
を、入力端子に印加される外部入力信号のレベルに応じ
て所定の値に設定するようにしたので、使用時にインタ
ーフェイスに合わせて任意に集積回路の入力閾値を設定
でき、汎用性が広く、その結果、入力閾値電圧を変更す
るための回路自身のレイアウト変更が不要となるという
効果がある。
As described above, according to the semiconductor integrated circuit of the present invention, the input circuit has the input threshold level setting means capable of setting the input threshold level of the inverter to an arbitrary level, and the above-mentioned inverter is provided. Since the input threshold level of is set to a predetermined value according to the level of the external input signal applied to the input terminal, the input threshold of the integrated circuit can be set arbitrarily according to the interface when in use. Therefore, there is an effect that it is not necessary to change the layout of the circuit itself for changing the input threshold voltage.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例による入力回路を備えた半導
体集積回路を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing a semiconductor integrated circuit including an input circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】上記入力閾値レベル変換回路を備えた入力回路
の構成図。
FIG. 2 is a configuration diagram of an input circuit including the input threshold level conversion circuit.

【図3】本発明の第2の実施例による入力閾値レベル変
換回路を備えた入力回路の構成図。
FIG. 3 is a configuration diagram of an input circuit including an input threshold level conversion circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第3の実施例による入力閾値レベル変
換回路を備えた入力回路の構成図。
FIG. 4 is a configuration diagram of an input circuit including an input threshold level conversion circuit according to a third embodiment of the present invention.

【図5】上記入力閾値レベル変換回路の変形例を示す
図。
FIG. 5 is a diagram showing a modification of the input threshold level conversion circuit.

【図6】上記入力閾値レベル変換回路のさらなる変形例
を示す図。
FIG. 6 is a diagram showing a further modified example of the input threshold level conversion circuit.

【図7】従来の半導体集積回路の入力回路を示す図。FIG. 7 is a diagram showing an input circuit of a conventional semiconductor integrated circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 入力端子 2 入力閾値レベル変換回路部 3 入力閾値レベル変換回路 4,5 内部回路 6 入力閾値レベル設定回路 7 集積回路 8 ANDゲート 9 入力閾値レベル制御端子または配線 10 入力回路の出力部 11 Pチャネルトランジスタ 12 Nチャネルトランジスタ 13 Nチャネルトランジスタ 14 Pチャネルトランジスタ 15 Nチャネルトランジスタ 16 Pチャネルトランジスタ 17 定電流源 18,19 ダイオード 20 演算増幅器 21 基準電圧源 Ia1〜Ian 入力端子 Ib1〜Ibm 入力端子1 Input Terminal 2 Input Threshold Level Conversion Circuit Section 3 Input Threshold Level Conversion Circuit 4, 5 Internal Circuit 6 Input Threshold Level Setting Circuit 7 Integrated Circuit 8 AND Gate 9 Input Threshold Level Control Terminal or Wiring 10 Input Circuit Output Section 11 P Channel Transistor 12 N-channel transistor 13 N-channel transistor 14 P-channel transistor 15 N-channel transistor 16 P-channel transistor 17 Constant current source 18, 19 Diode 20 Operational amplifier 21 Reference voltage source I a1 to I an input terminal I b1 to I bm input terminal

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入力端子に印加される外部入力信号を受
けて処理する、インバータからなる入力回路を備えた半
導体集積回路において、 上記入力回路を、上記インバータの入力閾値レベルを任
意のレベルに設定可能な入力閾値レベル設定手段を有す
るものとし、 上記インバータの入力閾値レベルを、上記入力端子に印
加される上記外部入力信号のレベルに応じて所定の値に
設定するようにしたことを特徴とする半導体集積回路。
1. A semiconductor integrated circuit having an input circuit composed of an inverter for receiving and processing an external input signal applied to an input terminal, wherein the input circuit sets the input threshold level of the inverter to an arbitrary level. A possible input threshold level setting means is provided, and the input threshold level of the inverter is set to a predetermined value according to the level of the external input signal applied to the input terminal. Semiconductor integrated circuit.
【請求項2】 請求項1記載の半導体集積回路におい
て、 上記入力閾値レベル設定手段は、 上記インバータを構成するトランジスタの一方に並列に
接続された付加トランジスタを有し、 該トランジスタをオン,オフさせることにより上記一方
のトランジスタの利得を変化させるものであることを特
徴とする半導体集積回路。
2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the input threshold level setting means has an additional transistor connected in parallel to one of the transistors forming the inverter, and turns the transistor on and off. Accordingly, the semiconductor integrated circuit is characterized in that the gain of the one transistor is changed.
【請求項3】 請求項1記載の半導体集積回路におい
て、 上記入力閾値レベル設定手段は、 内部電源と、電源と上記インバータの電源側トランジス
タとの間に接続された電圧変更用トランジスタと、上記
内部電源により駆動され上記電圧変更用トランジスタの
ゲート電圧を制御する演算増幅器とを有し、 上記インバータの電源側トランジスタのソース電圧を変
化させるものであることを特徴とする半導体集積回路。
3. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the input threshold level setting means includes an internal power supply, a voltage changing transistor connected between the power supply and a power supply side transistor of the inverter, and the internal power supply. A semiconductor integrated circuit, comprising: an operational amplifier driven by a power source to control the gate voltage of the voltage changing transistor, and changing the source voltage of the power source side transistor of the inverter.
【請求項4】 請求項1記載の半導体集積回路におい
て、 上記入力閾値レベル設定手段は、 上記インバータの電源側トランジスタと電源との間に接
続された電圧降下素子と、該電圧降下素子を短絡あるい
は開放する短絡回路とを有し、 上記短絡あるいは開放により上記トランジスタのソース
電圧を変化させるものであることを特徴とする半導体集
積回路。
4. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the input threshold level setting means short-circuits the voltage drop element connected between the power supply side transistor of the inverter and the power supply, or the voltage drop element. A semiconductor integrated circuit comprising: a short circuit for opening, wherein the source voltage of the transistor is changed by the short circuit or opening.
【請求項5】 請求項1記載の半導体集積回路におい
て、 上記入力回路は複数の内部回路毎に設けられており、 上記入力回路の入力閾値レベル設定手段は、所定レベル
の制御信号に基づいて上記入力閾値レベルを所定の値に
設定するものであり、 上記各入力回路の入力閾値レベル設定手段にそれぞれ異
なるレベルの制御信号を出力可能な信号出力手段を有し
ていることを特徴とする半導体集積回路。
5. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the input circuit is provided for each of a plurality of internal circuits, and the input threshold level setting means of the input circuit is based on a control signal of a predetermined level. A semiconductor integrated circuit for setting an input threshold level to a predetermined value, wherein the input threshold level setting means of each of the input circuits has signal output means capable of outputting control signals of different levels. circuit.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7586299B2 (en) 2005-08-11 2009-09-08 Sharp Kabushiki Kaisha Power-supply semiconductor integrated circuit, power-supply semiconductor integrated circuit system, development assisting system for power-supply circuit, and program and storage medium therefor
WO2015159454A1 (en) * 2014-04-14 2015-10-22 オリンパス株式会社 A/d conversion circuit and solid-state image pickup apparatus

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