JPH05188300A - 高倍から極低倍観察用顕微鏡 - Google Patents

高倍から極低倍観察用顕微鏡

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JPH05188300A
JPH05188300A JP667792A JP667792A JPH05188300A JP H05188300 A JPH05188300 A JP H05188300A JP 667792 A JP667792 A JP 667792A JP 667792 A JP667792 A JP 667792A JP H05188300 A JPH05188300 A JP H05188300A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、高倍率と極低倍率との切換が簡単且
つ効率的に行え、且つ、被検査物の観察部位を極低倍観
察系の観察視野内に位置付けておくだけで、高精度に、
高倍率観察を行うことができる顕微鏡を提供する。 【構成】高倍から極低倍観察用顕微鏡に設けられてお
り、観察光軸上に配置可能で、一端にレボルバー2に螺
合可能な螺合部16を有し、且つ、他端に観察光軸に沿
って導光された照明光に所定の光学的特性を与えるハー
フミラー24を有した第1の光学ユニット12と、顕微
鏡に着脱可能で、ハーフミラー24を介して導光された
照明光をCCD30に結像させることによって極低倍観
察を行う第2の光学ユニット22と、を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、極低倍率で観
察された被検査物の観察部位が、高倍率で観察する際
に、高倍観察視野内に維持させることが可能な顕微鏡に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の顕微鏡としては、特開昭
59−228222号公報(以下、引例1と称する)及
び特開平1−110243号公報(以下、引例2と称す
る)に開示された顕微鏡が知られている。
【0003】引例1に開示された顕微鏡は、レバーによ
って切換可能な低倍率観察系及び高倍率観察系と、X−
Yステージと、このX−Yステージ上に設けられ、レプ
リカ試料及び検査試料を載置させるXステージと、を備
えている。観察方法としては、まず、レバーを介して低
倍率観察系に切換えた後、X−Yステージを調整してレ
プリカ試料の刻印基準位置の一つを低倍率観察系の視野
中心に位置付ける。この結果、検査試料の対応する被検
区域が高倍率対物レンズの光軸に整合される。そして、
再び、レバーを操作して高倍率観察系に切換えることに
よって、観察試料の高倍率観察が行われる。
【0004】また、引例2に開示された顕微鏡は、高倍
率レンズ群を有した鏡筒と、この鏡筒に光学的に連通接
続され、低倍率レンズ群を有した鏡筒と、を備えてい
る。観察方法としては、被検査物から反射された光の一
部がハーフミラー及び反射鏡を介して低倍率レンズ群に
導光され、他の光は、ハーフミラーを透過して高倍率レ
ンズ群に導光される。この結果、被検査物の局所拡大画
像と広視野画像とが高倍率用撮像部と低倍率用撮像部と
において、同時に、検出される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、引例1の顕微
鏡は、高倍率観察系の光軸と低倍率観察系の光軸とが一
定距離だけ離間されているため、低倍観察系を介してレ
プリカ試料の観察部位を観察光軸に整合させた後、更
に、X−YステージあるいはXステージを移動させて調
節しなければ、高倍率観察系の観察光軸に対応する検査
試料の観察部位を整合させることができないため、観察
操作が面倒である。
【0006】また、レプリカ試料と検査試料との形状が
互いに一致していない場合には、たとえレプリカ試料の
刻印基準位置を低倍率観察系の視野中心に位置付けたと
しても検査試料の対応部位が高倍率観察系の光軸に整合
するとは限らない。この場合、更に、高倍率観察系の光
軸に検査試料の観察部位を整合させるための操作が必要
となり、手間がかかる。また、目視観察により、低倍率
観察系と高倍率観察系との切換えを行っているため、作
業者の目に負担がかかり、作業能率も悪くなる。更に、
X−Yステージ上に更にXステージが必要であるため、
顕微鏡の構成が複雑になると共に、部品点数も多くな
り、コスト的にも不利な構成である。
【0007】また、引例2の顕微鏡は、高倍率レンズ群
を備えた鏡筒側にハーフミラーを設けるためには、少な
くとも倍率5×の対物レンズが作動可能な距離を確保す
る必要がある。従って、この顕微鏡において、低倍率観
察は、倍率5×が限界で、それ以上の極低倍率観察がで
きなくなるといった不具合を有している。
【0008】また、落射観察について考慮していない
点、及び、対物レンズ系の交換あるいは倍率チェンジを
考慮していない点で、顕微鏡としては不完全と言わざる
を得ない。
【0009】本発明は、このような弊害を除去するため
になされ、その目的は、高倍率と極低倍率との切換が簡
単且つ効率的に行え、且つ、被検査物の観察部位を極低
倍観察系の観察視野内に位置付けておくだけで、高精度
に、高倍率観察を行うことができる顕微鏡を提供するこ
とにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、高倍から極低倍観察用顕微鏡に設
けられており、
【0011】観察光軸上に配置可能で、一端にレボルバ
に螺合可能な螺合部を有し、且つ、他端に前記観察光軸
に沿って導光された光に所定の光学的特性を与える光学
材料を有した第1の光学ユニットと、前記顕微鏡に着脱
可能で、前記光学材料を介して導光された前記光を受光
して、極低倍観察を行う第2の光学ユニットと、を備え
ている。
【0012】
【作用】観察光軸を導光された被検査物からの観察画像
は、第1の光学ユニットに導光され、光学材料で所定の
光学的特性が与えられる。光学的特性を有した観察画像
は、第2の光学ユニットに導光され、被検査物の極低倍
観察が行われる。そして、レボルバに取付けられた高倍
率対物レンズに切り換えることによって、高倍率観察が
行われる。
【0013】
【実施例】以下、本発明の一実施例に係る高倍から極低
倍観察用顕微鏡について、図1ないし図3を参照して説
明する。
【0014】図1及び図2には、本実施例の顕微鏡の全
体の構成が概略的に示されており、回転式レボルバー2
には、複数の高倍率用対物レンズ4、6、8、10と共
に、第1の光学ユニット12が装着されている。
【0015】第1の光学ユニット12は、レボルバー2
に設けられたねじ部14に螺合可能な螺合部16と、顕
微鏡ステージ18(図2参照)上に載置された被検査物
20からの光の一部を第2の光学ユニット22に導光さ
せるハーフミラー24と、を備えている。
【0016】第2の光学ユニット22は、例えば、顕微
鏡の鏡筒26に着脱自在に構成されており、ハーフミラ
ー24を介して導光される光を反射する反射ミラー28
と、この反射ミラー28で反射された光をCCD30に
導光させる極低倍率レンズ32と、を備えている。以
下、このような構成を有する顕微鏡で観察を行うための
方法について説明する。まず、レボルバー2を回転して
観察光軸上に第1の光学ユニット12を配置する。そし
て、落射照明用光源34を発光させる。
【0017】この結果、落射照明用光源34から出射さ
れた照明光は、集光レンズ36、開口絞り38、視野絞
り40及び投光レンズ42を介して落射照明用ハーフミ
ラー44に照射される。このハーフミラー44に照射さ
れた照明光は、レボルバー2に装着された第1の光学ユ
ニット12方向に案内され、ハーフミラー24を透過す
る。そして、このハーフミラー24を透過した照明光
は、ステージ18(図2参照)上に載置された被検査物
20に照射される。
【0018】この被検査物20から反射した照明光は、
第1の光学ユニット12のハーフミラー24で、その一
部が、第2の光学ユニット22に導光され、残りは、落
射照明用ハーフミラー44、結像レンズ46、プリズム
48を介して接眼レンズ50又はCCD52に結像され
る。
【0019】第2の光学ユニット22に導光された照明
光は、反射ミラー28で極低倍率レンズ32方向に反射
され、この極低倍率レンズ32を介してCCD30に結
像される。この結果、被検査物20の極低倍率での観察
が行われる。
【0020】この極低倍率観察中に、特に高倍率で観察
したい部位を極低倍系の観察光軸上に配置させた後、レ
ボルバー2(図2参照)を回転して所望の倍率の対物レ
ンズ4、6、8、10を観察光軸上にセットする。この
結果、自動的に、CCD52に被検査物20の像が結像
され、高倍率観察を行うことができる。
【0021】また、本実施例の顕微鏡において、照野を
大きくし、且つ、照明光のNAを大きくするための工夫
としては、図3の(a)、(b)、(c)に示すような
デフューザを第1の光学ユニット12に配置させる方法
がある。
【0022】図3の(a)に示された第1の光学ユニッ
ト12には、ハーフミラー24の他に、螺合部16側に
ガラス板54をスリガラス状にしたものが配置されてい
る。図3の(b)に示された第1の光学ユニット12に
は、ハーフミラー24の代りに三角プリズム56が配置
されており、その被検査物20(図1及び図2参照)側
の面に半透過膜58が設けられ、その螺合部16側の面
60がスリガラス状に加工されている。図3の(c)に
示された第1の光学ユニット12には、ハーフミラー2
4の他に、螺合部16側に照明光のNAを大きくさせる
レンズ62が配置されている。
【0023】このようデフューザを配置させることによ
って、光量低下はあるものの、照野は広くなり、照明光
のNAが大きくなることから、像のギラツキがなくなり
解像度も向上する。
【0024】本実施例の顕微鏡は、極低倍系と高倍系の
観察光軸は、同軸であるため、観察部位の位置ずれも生
じることなく、高精度に、極低倍率と高倍率との切換え
を行うことができる。また、従来の顕微鏡に取り付け可
能な簡単な構造であるため、顕微鏡の製造コストの低減
を達成することができる。
【0025】なお、本発明は、上述した実施例の構成に
限定されることはなく、例えば、第2の光学ユニット
は、レボルバー2以外の顕微鏡の固定部材であればいず
れの部分にも取り付け可能である。
【0026】また、実体顕微鏡の光学系のズーム光学系
を、極低倍レンズの代りに使用することができる。即
ち、極低倍レンズをズームにしてもよく、そのズーム光
学系として、実体顕微鏡の光学系が使用できるのであ
る。この場合、0.5×〜5×程度の倍率変更が可能で
ある。
【0027】また、上述した実施例では落射観察の場合
を説明したが、これに限定されることはなく、透過観察
を行う場合にも適用可能であることは言うまでもない。
なお、透過観察のみの場合には、第1の光学ユニット1
2のハーフミラー24の代りにたんなるミラーを配置さ
せることもできる。この場合、比較的明るい像が得られ
る。
【0028】
【発明の効果】本発明によれば、高倍率と極低倍率との
切換が簡単且つ効率的に行え、且つ、被検査物の観察部
位を極低倍観察系の観察視野内に位置付けておくだけ
で、高精度に、高倍率観察を行うことができる。
【0029】また、第1及び第2の光学ユニットは、既
成の顕微鏡に取り付け可能であるため、顕微鏡の製造コ
ストの低減が達成される。また、本発明では、顕微鏡の
照明装置がそのまま使用できるため、別照明の費用を必
要としないため、製造コストの低減が達成される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る高倍から極低倍観察用
顕微鏡の全体の構成を概略的に示す図。
【図2】本発明の一実施例に係る高倍から極低倍観察用
顕微鏡の全体の構成を概略的に示す正面図。
【図3】(a)は、螺合部側にガラス板をスリガラス状
にしたものが配置された第1の光学ユニットの断面図、
(b)は、半透過膜とスリガラス状部分とを備えた三角
プリズム56が配置された第1の光学ユニットの断面
図、(c)は、照明光のNAを大きくさせるレンズが配
置された第1の光学ユニットの断面図。
【符号の説明】
2…レボルバー、12…第1の光学ユニット、16…螺
合部、22…第2の光学ユニット、24…ハーフミラ
ー、30…CCD。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高倍から極低倍観察用顕微鏡に設けられ
    ており、 観察光軸上に配置可能で、一端にレボルバーに螺合可能
    な螺合部を有し、且つ、他端に前記観察光軸に沿って導
    光された光に所定の光学的特性を与える光学材料を有し
    た第1の光学ユニットと、 前記顕微鏡に着脱可能で、前記光学材料を介して導光さ
    れた前記光を受光して、極低倍観察を行う第2の光学ユ
    ニットと、を備えていることを特徴とする高倍から極低
    倍観察用顕微鏡。
JP00667792A 1992-01-17 1992-01-17 高倍から極低倍観察用顕微鏡 Expired - Fee Related JP3204712B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004535600A (ja) * 2001-07-19 2004-11-25 カール ツアイス マイクロエレクトロニック システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 顕微鏡対物レンズおよびこの顕微鏡対物レンズの顕微鏡における使用

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004535600A (ja) * 2001-07-19 2004-11-25 カール ツアイス マイクロエレクトロニック システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 顕微鏡対物レンズおよびこの顕微鏡対物レンズの顕微鏡における使用

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